JP2000113923A - Adapter device and circuit board inspecting device - Google Patents

Adapter device and circuit board inspecting device

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JP2000113923A
JP2000113923A JP10286726A JP28672698A JP2000113923A JP 2000113923 A JP2000113923 A JP 2000113923A JP 10286726 A JP10286726 A JP 10286726A JP 28672698 A JP28672698 A JP 28672698A JP 2000113923 A JP2000113923 A JP 2000113923A
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JP
Japan
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electrode
electrodes
relay
adapter
conductive
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JP10286726A
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Japanese (ja)
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Kiyoshi Kimura
潔 木村
Sugiro Shimoda
杉郎 下田
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Original Assignee
JSR Corp
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Publication date
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  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an adapter device produced at a low cost for facilitating electrical connection between a locally high density connecting electrode and a terminal electrode dispersed over a wide range. SOLUTION: An adapter device having an insulative layer layered on the upper face of a connector plate 11 is provided with an anisotropic conductive elastomer layer 30 and an adapter main body 10 having a connecting electrode 26 on the upper face and a terminal electrode 12 on the lower face. On the upper face of the connector plate 11, the area of the connector plate 11 is divided so as to be formed into a plurality of functional areas, and the respective functional areas are provided with mutually corresponding relay electrodes 15 arranged in lattice point positions. At least one of the functional areas is provided with an auxiliary relay electrode 16 corresponding to the relay electrode 15 in another adjacent functional area, and the auxiliary relay electrode 16 is electrically connected to the corresponding relay electrode 15 in another functional area, while the relay electrode 15 is electrically connected to the terminal electrode 12. The connecting electrode 26 is electrically connected to the relay electrode 15 or the auxiliary relay electrode 16, while the anisotropic conductive elastomer layer 30 is provided with a conductive part arranged on the connecting electrode and an insulating part insulating the connecting electrode and the conductive part from each other.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント回路基板
などの回路基板の電気的検査などに好適に用いることの
できるアダプター装置および回路基板の検査装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an adapter device and a circuit board inspection apparatus which can be suitably used for electrical inspection of a circuit board such as a printed circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に集積回路、その他の電子部品など
を搭載する回路基板については、電子部品などを搭載す
る以前に、当該回路基板の配線パターンが所期の性能を
有することを確認するためにその電気的特性を検査する
ことが必要である。従来、この回路基板の検査を実行す
る方法としては、(イ)被検査回路基板の被検査電極の
配置パターンに応じて配置された検査電極を有し、この
検査電極をワイア配線によりテスターの検査回路に電気
的に接続してなる個別対応型の検査電極装置を用いる方
法、並びに(ロ)ユニバーサル型と称される縦横に並ぶ
標準格子点位置に検査電極が形成されてなる検査電極装
置を、被検査回路基板の被検査電極とこの検査電極装置
の検査電極とを電気的に接続するアダプターと組合せて
用いる方法などが知られている。この(ロ)の方法にお
いて用いられるアダプターは、一面に被検査回路基板の
被検査電極に対応するパターンに従って配置された複数
の接続用電極を有し、他面に標準格子点位置に配置され
た複数の端子電極を有する多層配線板よりなるものであ
る。
2. Description of the Related Art Generally, for a circuit board on which an integrated circuit or other electronic components are mounted, it is necessary to confirm that a wiring pattern of the circuit board has an expected performance before mounting the electronic components. It is necessary to inspect its electrical characteristics. Conventionally, as a method for executing the inspection of the circuit board, (a) an inspection electrode arranged according to the arrangement pattern of the electrodes to be inspected on the circuit board to be inspected is used, and the inspection electrode is inspected by a wire wiring using a tester. A method using an individually corresponding inspection electrode device electrically connected to a circuit; and (b) an inspection electrode device in which inspection electrodes are formed at standard lattice points arranged in rows and columns called a universal type. There is known a method in which an electrode to be inspected on a circuit board to be inspected and an inspection electrode of the inspection electrode device are used in combination with an adapter for electrically connecting the electrode and the inspection electrode. The adapter used in the method (b) has a plurality of connection electrodes arranged on one surface in accordance with a pattern corresponding to the electrodes to be inspected on the circuit substrate to be inspected, and is arranged at a standard lattice point position on the other surface. It consists of a multilayer wiring board having a plurality of terminal electrodes.

【0003】現在、集積回路においては、その高機能
化、高容量化に伴って電極数が増加し、電極の配置ピッ
チすなわち隣接する電極の中心間距離が小さくなって高
密度化が一層推進される傾向にある。例えば、CSP
(Chip Scale Package)型の半導体
集積回路においては、0.5mmの配置ピッチで表面電
極が形成されており、FC(Flip Chip)型の
半導体集積回路においては、0.25mmの配置ピッチ
で表面電極が形成されている。これらの半導体集積回路
は、フェースダウンボンディングによって回路基板に実
装されるため、当該半導体集積回路を搭載するための回
路基板においても、小さい配置ピッチで電極が形成され
る。従って、このような回路基板を検査するための検査
装置においても、検査電極の高密度化が必要とされてい
る。
At present, in an integrated circuit, the number of electrodes increases as the function and capacity of the integrated circuit increase, and the pitch at which the electrodes are arranged, that is, the center-to-center distance between adjacent electrodes, is reduced, and the density is further promoted. Tend to be. For example, CSP
In a (Chip Scale Package) type semiconductor integrated circuit, surface electrodes are formed at an arrangement pitch of 0.5 mm, and in a FC (Flip Chip) type semiconductor integrated circuit, surface electrodes are formed at an arrangement pitch of 0.25 mm. Is formed. Since these semiconductor integrated circuits are mounted on a circuit board by face-down bonding, electrodes are formed at a small arrangement pitch even on a circuit board on which the semiconductor integrated circuit is mounted. Therefore, even in such an inspection apparatus for inspecting a circuit board, it is necessary to increase the density of the inspection electrodes.

【0004】しかしながら、個別対応型の検査電極装置
においては、被検査回路基板の被検査電極に対応するパ
ターンの検査電極が必要であるため、検査回路をユニバ
ーサル型に比較して効率的に利用することができる利点
がある反面、結局、スプリングプローブなどを用いて被
検査電極と同様に高密度化された検査電極を形成しなけ
ればならず、従って当該検査電極装置の製作が困難であ
り、コストが非常に高いものとなる問題点がある。
However, in the individually-adapted inspection electrode device, an inspection electrode having a pattern corresponding to the electrode to be inspected on the circuit substrate to be inspected is required, so that the inspection circuit is used more efficiently than the universal type. On the other hand, although it has the advantage that it can be performed, after all, it is necessary to form a high-density test electrode in the same manner as the test target electrode by using a spring probe or the like. Is very high.

【0005】また、ユニバーサル型の検査電極装置にお
いては、テスターの検査回路と対をなす検査電極の隣接
するもの相互間における距離が一定とされており、高密
度化された被検査電極を有する被検査回路基板の検査の
ためには、アダプターによって、一部の被検査電極につ
いては検査電極装置における最も接近した位置の検査電
極に対して電気的な接続を達成すればよい。しかしなが
ら、他の一部の被検査電極については、検査電極装置に
おける相当に離隔した位置の検査電極に電気的に接続さ
せることが必要となる場合が多い。これは、被検査回路
基板における被検査電極領域の一部の個所、具体的には
CPS型或いはFC型の半導体集積回路が実装される個
所において、被検査電極の密度が検査電極装置における
検査電極の密度より相当に高いからである。
In a universal type test electrode device, the distance between adjacent test electrodes paired with a test circuit of a tester is constant, and the test electrode having a high-density test electrode. In order to inspect the inspection circuit board, an electrical connection may be made to the inspection electrode at the closest position in the inspection electrode device for some of the electrodes to be inspected by the adapter. However, it is often necessary to electrically connect some of the other electrodes to be inspected to the inspection electrodes at a considerably separated position in the inspection electrode device. This is because the density of the electrodes to be inspected at a part of the electrode area to be inspected on the circuit board to be inspected, specifically, at the point where the CPS type or FC type semiconductor integrated circuit is mounted, is lower than the inspection electrode Because it is considerably higher than the density of

【0006】従って、用いられるアダプターにおいて
は、被検査回路基板の被検査電極に対応したパターンす
なわちピッチが小さくて高密度で配置された接続用電極
を、検査電極装置の検査電極に対応したパターン、すな
わち広い領域に分散された状態で配置された端子電極に
電気的に接続することが必要であることから、当該アダ
プターの配線設計に要する時間が多大なものとなると共
に、当該アダプターを層数が相当に多い多層配線板によ
り構成しなければならず、そのため、アダプターの製造
に要する時間が多大なものとなる。また、このようなア
ダプターは、検査すべき被検査回路基板に応じて個別的
に作製されるものであるため、大量生産されるものでは
ない。従って、アダプターの製造コストが極めて高いも
のとなり、延いては被検査回路基板の検査コストの増大
を招く、という問題がある。
Therefore, in the adapter to be used, a pattern corresponding to the electrode to be inspected on the circuit board to be inspected, that is, a connection electrode having a small pitch and arranged at a high density is replaced with a pattern corresponding to the inspection electrode of the inspection electrode device, That is, since it is necessary to electrically connect to the terminal electrodes arranged in a state of being dispersed over a wide area, the time required for wiring design of the adapter becomes large, and the number of layers of the adapter is reduced. It has to be constituted by a considerably large number of multilayer wiring boards, and therefore, the time required for manufacturing the adapter is enormous. In addition, since such an adapter is individually manufactured according to a circuit board to be inspected, it is not mass-produced. Therefore, there is a problem in that the manufacturing cost of the adapter becomes extremely high, which leads to an increase in the inspection cost of the circuit board to be inspected.

【0007】このような問題を解決するため、検査電極
装置の検査電極の配置ピッチを小さくして高密度化する
手段も考えられるが、以下のような理由により、検査電
極の高密度化にも限界がある。アダプターと検査電極装
置との間には、被検査回路基板の搬送機構を収容するス
ペースを確保するために、当該アダプターの端子電極と
当該検査電極装置の検査電極とを電気的に接続する、格
子点位置に配列された多数の導電ピンを有する仲介ピン
装置が配置されている。そして、検査電極装置における
検査電極の配置ピッチが小さくなると、それに応じて仲
介ピン装置の導電ピンを小さいピッチで配列することが
必要となるが、そのためには、径の小さい導電ピンを用
いなければならず、その結果、当該導電ピンに必要な強
度が得られず、所要の検査を実行することができない。
In order to solve such a problem, it is conceivable to increase the density of the inspection electrodes by reducing the arrangement pitch of the inspection electrodes in the inspection electrode device. There is a limit. A grid for electrically connecting the terminal electrodes of the adapter and the test electrodes of the test electrode device between the adapter and the test electrode device to secure a space for accommodating the transport mechanism of the circuit board to be tested. An intermediate pin device having a large number of conductive pins arranged at point positions is arranged. Then, when the arrangement pitch of the inspection electrodes in the inspection electrode device becomes small, it is necessary to arrange the conductive pins of the mediating pin device at a small pitch accordingly, but for that purpose, a conductive pin having a small diameter must be used. As a result, the required strength of the conductive pin cannot be obtained, and a required inspection cannot be performed.

【0008】一方、アダプターの接続用電極を被検査回
路基板における被検査電極に電気的に接続する際には、
当該接続用電極と被検査電極との安定な電気的接続状態
を確実に達成するため、或いは、接続用電極が接触する
ことによって被検査電極が損傷されることを回避するた
め、一般に、アダプターと被検査回路基板との間に異方
導電性エラストマーシートを介在させることが行われて
いる。この異方導電性エラストマーシートは、厚さ方向
にのみ導電性を示すもの、あるいは加圧されたときに厚
さ方向にのみ導電性を示す多数の加圧導電性導電部を有
するものであり、種々の構造のものが例えば特公昭56
−48951号公報、特開昭51−93393号公報、
特開昭53−147772号公報、特開昭54−146
873号公報などにより、知られている。そして、配置
ピッチの小さい被検査電極を有する被検査回路基板に対
しては、当該被検査回路基板の被検査電極に対応するパ
ターンの導電部を有する異方導電性エラストマーシート
が、高い接続信頼性が得られる点で好ましい。
On the other hand, when electrically connecting the connection electrodes of the adapter to the electrodes to be inspected on the circuit board to be inspected,
In order to reliably achieve a stable electrical connection state between the connection electrode and the electrode to be inspected, or to prevent the electrode to be inspected from being damaged by the contact of the connection electrode, an adapter is generally used. An anisotropic conductive elastomer sheet is interposed between a circuit board to be inspected and a circuit board to be inspected. This anisotropic conductive elastomer sheet has conductivity only in the thickness direction, or has a large number of pressurized conductive conductive portions that show conductivity only in the thickness direction when pressed, Various structures are known, for example,
-48951, JP-A-51-93393,
JP-A-53-147772, JP-A-54-146
This is known from, for example, Japanese Patent Publication No. 873. For an inspection target circuit board having an inspection target electrode with a small arrangement pitch, an anisotropic conductive elastomer sheet having a conductive portion having a pattern corresponding to the inspection target electrode of the inspection target circuit board has high connection reliability. Is preferred in that the following is obtained.

【0009】然るに、上記の異方導電性エラストマーシ
ートは、それ自体が単独の製品として製造され、また単
独で取り扱われるものであって、電気的接続作業におい
ては回路基板に対して特定の位置関係をもって保持固定
することが必要である。しかしながら、独立した異方導
電性エラストマーシートを利用して被検査回路基板の電
気的接続を達成する手段においては、被検査回路基板に
おける被検査電極の配置ピッチが小さくなるに従って異
方導電性エラストマーシートの位置合わせおよび保持固
定が困難となる、という問題点がある。
However, the above-mentioned anisotropic conductive elastomer sheet is manufactured as a single product itself and is handled independently, and has a specific positional relationship with respect to a circuit board in an electrical connection operation. It is necessary to hold and fix with. However, in the means for achieving the electrical connection of the circuit board to be inspected using the independent anisotropic conductive elastomer sheet, the anisotropic conductive elastomer sheet becomes smaller as the arrangement pitch of the electrodes to be inspected on the circuit board to be inspected becomes smaller. There is a problem that it is difficult to align and hold and fix the position.

【0010】また、一旦は所望の位置合わせおよび保持
固定が実現された場合においても、温度変化による熱履
歴を受けた場合などには、熱膨張および熱収縮による応
力の程度が、検検査回路基板を構成する材料と異方導電
性エラストマーシートを構成する材料との間で異なるた
め、電気的接続状態が変化して安定な接続状態が維持さ
れない、という問題点がある。
[0010] Even if the desired alignment and holding and fixing have been achieved, the degree of stress due to thermal expansion and thermal contraction may be reduced when thermal history due to temperature change is received. Is different from the material forming the anisotropic conductive elastomer sheet, and therefore, there is a problem that the electrical connection state changes and a stable connection state is not maintained.

【0011】そして、従来、以上のような問題を解決す
るために、上面に検査対象回路装置の被検査電極に対応
するパターンに従って配置された接続用電極を有し、下
面に標準格子点上に配置された端子電極を有するアダプ
ター本体と、このアダプター本体の上面上に一体的に設
けられた異方導電性エラストマー層とよりなるアダプタ
ー装置が提案されている。
Conventionally, in order to solve the above problems, connection electrodes arranged on the upper surface in accordance with a pattern corresponding to the electrode to be inspected of the circuit device to be inspected are provided, and the lower surface is provided on the standard grid point. There has been proposed an adapter device including an adapter main body having terminal electrodes arranged thereon and an anisotropic conductive elastomer layer integrally provided on an upper surface of the adapter main body.

【0012】このようなアダプター装置によれば、検検
査回路基板の被検査電極が、その配置ピッチが微小であ
り、かつ微細で高密度の複雑なパターンのものである場
合にも、当該被検査回路基板について所要の電気的接続
を確実に達成することができ、また温度変化による熱履
歴などの環境の変化に対しても良好な電気的接続状態が
安定に維持され、従って高い接続信頼性が得られる。
According to such an adapter device, even when the electrodes to be inspected on the inspection and inspection circuit board have a minute arrangement pitch and a fine and high-density complex pattern, the electrodes to be inspected can be used. The required electrical connection of the circuit board can be reliably achieved, and a good electrical connection state is stably maintained against environmental changes such as heat history due to temperature changes, and thus high connection reliability is achieved. can get.

【0013】しかしながら、上記のアダプター装置を使
用して配置ピッチが極めて小さい被検査電極を有する被
検査回路基板の電気的検査を行う場合には、以下のよう
な問題がある。従来、アダプター装置の製造において、
異方導電性エラストマー層の形成は例えば次のようにし
て行われる。先ず、図15に示すように、アダプター本
体90の上面に、硬化されて弾性高分子物質となる高分
子物質形成材料中に導電性磁性体粒子が分散されてなる
エラストマー用材料層95Aを形成する。
However, when an electrical inspection of a circuit board to be inspected having electrodes to be inspected having extremely small arrangement pitches is performed by using the above-mentioned adapter device, there are the following problems. Conventionally, in the manufacture of adapter devices,
The formation of the anisotropic conductive elastomer layer is performed, for example, as follows. First, as shown in FIG. 15, on the upper surface of the adapter main body 90, an elastomer material layer 95A in which conductive magnetic particles are dispersed in a polymer material forming material that is cured to become an elastic polymer material is formed. .

【0014】次いで、図16に示すように、例えば被検
査回路基板の被検査電極と同一のパターンに従って強磁
性体部分81が配置されると共に、当該強磁性体部分8
1以外の部分に非磁性体部分82が配置されてなる一方
の型(以下、「上型」という。)80と、被検査回路基
板の被検査電極と対掌のパターンに従って強磁性体部分
86が配置されると共に、当該強磁性体部分86以外の
部分に非磁性体部分87が配置されてなる他方の型(以
下、「下型」という。)85とを用い、上型80と下型
85との間に、エラストマー用材料層95Aが形成され
たアダプター本体90を、その接続用電極91が当該上
型80の強磁性体部分81と下型85の強磁性体部分8
6との間に位置するよう配置し、更に、上型80の上面
および下型85の下面に一対の電磁石83,88を配置
する。
Next, as shown in FIG. 16, for example, the ferromagnetic portion 81 is arranged in accordance with the same pattern as the electrode to be inspected on the circuit to be inspected, and the ferromagnetic portion 8
One of the molds 80 (hereinafter, referred to as an “upper mold”) in which a nonmagnetic material portion 82 is disposed in a portion other than the first portion 1 and a ferromagnetic material portion 86 according to a pattern opposite to an electrode to be inspected of a circuit substrate to be inspected. And the other die (hereinafter, referred to as a “lower die”) 85 in which a non-magnetic portion 87 is disposed in a portion other than the ferromagnetic portion 86, using an upper die 80 and a lower die 80. The adapter body 90 having the elastomer material layer 95A formed between the ferromagnetic part 81 of the upper die 80 and the ferromagnetic part 8 of the lower die 85
6, and a pair of electromagnets 83 and 88 are disposed on the upper surface of the upper die 80 and the lower surface of the lower die 85.

【0015】そして、電磁石83,88を作動させるこ
とにより、上型80の強磁性体部分81からこれに対応
する下型85の強磁性体部分86に向かう方向に平行磁
場を作用させる。その結果、エラストマー用材料層95
Aにおいては、当該エラストマー用材料層95A中に分
散されていた導電性磁性体粒子が、上型80の強磁性体
部分81と下型85の強磁性体部分86との間に位置す
る部分すなわちアダプター本体90の接続用電極91上
に位置する部分に集合し、更に厚み方向に並ぶよう配向
する。この状態で、エラストマー用材料層95Aに対し
て例えば加熱による硬化処理を行うことにより、図17
に示すように、厚み方向に伸びる多数の導電部96とこ
れらを相互に絶縁する絶縁部97とよりなる異方導電性
エラストマー層95が、当該導電部96が接続用電極9
1上に配置された状態でアダプター本体90の上面に一
体的に形成される。
By operating the electromagnets 83 and 88, a parallel magnetic field is applied in a direction from the ferromagnetic portion 81 of the upper die 80 to the corresponding ferromagnetic portion 86 of the lower die 85. As a result, the material layer 95 for the elastomer
In A, the conductive magnetic particles dispersed in the elastomer material layer 95A are located between the ferromagnetic portion 81 of the upper die 80 and the ferromagnetic portion 86 of the lower die 85, ie, It gathers at the portion of the adapter body 90 located on the connection electrode 91, and is further oriented in the thickness direction. In this state, the material layer 95A for elastomer is subjected to, for example, a hardening treatment by heating, whereby the material layer 95A shown in FIG.
As shown in FIG. 7, an anisotropic conductive elastomer layer 95 composed of a number of conductive portions 96 extending in the thickness direction and insulating portions 97 for mutually insulating the conductive portions 96 is formed by connecting the conductive portions 96 to the connection electrodes 9.
1 and is integrally formed on the upper surface of the adapter main body 90 in a state where the adapter body 90 is disposed on the upper surface.

【0016】而して、極めて小さい配置ピッチで被検査
電極が配置された被検査回路基板に対応する異方導電性
エラストマー層95を形成する場合には、当然のことな
がら強磁性体部分81,86が極めて小さいピッチで配
置された上型80および下型85を用いることが必要で
ある。然るに、このような上型80および下型85を用
い、上述のようにして異方導電性エラストマー層95を
形成する場合には、図18に示すように、上型80およ
び下型85の各々において、或る強磁性体部分81a,
86aとこれに隣接する強磁性体部分81b,86bと
の離間距離が小さく、しかも、アダプター本体90が存
在することにより、その厚みによって上型80および下
型85の間隔が相当に大きいものとなるため、上型80
の強磁性体部分81aからこれに対応する下型85の強
磁性体部分86aに向かう方向(矢印Xで示す)のみな
らず、例えば上型80の強磁性体部分81aからこれに
対応する下型85の強磁性体部分86aに隣接する強磁
性体部分86bに向かう方向(矢印Yで示す)にも磁場
が作用することとなる。そのため、エラストマー用材料
層95Aにおいて、導電性磁性体粒子を、上型80の強
磁性体部分81aとこれに対応する下型85の強磁性体
部分86aとの間に位置する部分に集合させることが困
難となり、上型80の強磁性体部分81aと下型85の
強磁性体部分86bとの間に位置する部分にも導電性磁
性体粒子が集合してしまい、また、導電性磁性体粒子を
エラストマー用材料層95Aの厚み方向に十分に配向さ
せることが困難となり、その結果、所期の導電部および
絶縁部を有する異方導電性エラストマー層が得られな
い。
When forming the anisotropic conductive elastomer layer 95 corresponding to the circuit board to be inspected on which the electrodes to be inspected are arranged at an extremely small arrangement pitch, the ferromagnetic portions 81 and It is necessary to use the upper die 80 and the lower die 85 in which the 86s are arranged at an extremely small pitch. However, when forming the anisotropic conductive elastomer layer 95 as described above using the upper mold 80 and the lower mold 85, as shown in FIG. In one of the ferromagnetic portions 81a,
86a and the ferromagnetic portions 81b and 86b adjacent thereto have a small separation distance, and the presence of the adapter body 90 makes the distance between the upper die 80 and the lower die 85 considerably large depending on the thickness thereof. Therefore, the upper die 80
Not only from the ferromagnetic portion 81a of the upper die 80 to the corresponding ferromagnetic portion 86a of the lower die 85 (indicated by the arrow X), but also from the ferromagnetic portion 81a of the upper die 80 to the corresponding lower die. The magnetic field also acts in a direction (indicated by an arrow Y) toward the ferromagnetic portion 86b adjacent to the ferromagnetic portion 86a of FIG. Therefore, in the material layer 95A for the elastomer, the conductive magnetic particles are aggregated in a portion located between the ferromagnetic portion 81a of the upper die 80 and the corresponding ferromagnetic portion 86a of the lower die 85. And the conductive magnetic particles also aggregate in a portion located between the ferromagnetic portion 81a of the upper die 80 and the ferromagnetic portion 86b of the lower die 85. It is difficult to orient the layer sufficiently in the thickness direction of the elastomer material layer 95A, and as a result, an anisotropic conductive elastomer layer having a desired conductive portion and insulating portion cannot be obtained.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上のよう
な事情に基づいてなされたものである。本発明の第1の
目的は、接続すべき回路基板の電極が局所的に高密度で
配置されてなるものであっても、当該電極に対応したパ
ターンの接続用電極を、広い領域に分散された状態で配
置された端子電極に容易に電気的に接続することができ
ると共に、小さいコストで製造することのできるアダプ
ター装置を提供することにある。本発明の第2の目的
は、温度変化による熱履歴などの環境の変化に対しても
良好な電気的接続状態が安定に維持され、従って接続信
頼性の高いアダプター装置を提供することにある。本発
明の第3の目的は、接続すべき回路基板の電極が、その
配置ピッチが微小であり、かつ微細で高密度の複雑なパ
ターンのものである場合にも、当該回路基板について所
要の電気的接続を確実に達成することができるアダプタ
ー装置を提供することにある。本発明の第4の目的は、
検査すべき回路基板の被検査電極が局所的に高密度に配
置されてなるものであっても、当該回路基板の電気的検
査を小さいコストで実行することのできる回路基板の検
査装置を提供することにある。本発明の第5の目的は、
高密度で配置された被検査電極を有する回路基板につい
て、テスターの検査回路に対する電気的な接続を高い効
率で容易に達成することができ、十分に高い信頼性をも
って所要の電気的検査を行うことのできる回路基板の検
査装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made based on the above circumstances. A first object of the present invention is to disperse connection electrodes of a pattern corresponding to the electrodes in a wide area even if the electrodes of a circuit board to be connected are locally arranged at a high density. It is an object of the present invention to provide an adapter device which can be easily electrically connected to terminal electrodes arranged in a state where the adapter is placed, and which can be manufactured at low cost. A second object of the present invention is to provide an adapter device in which a good electrical connection state is stably maintained even in a change in environment such as a heat history due to a temperature change, and therefore, the connection reliability is high. A third object of the present invention is to provide a circuit board to be connected to even if the arrangement pitch of the electrodes is minute, and the electrodes are of a fine and high-density complicated pattern, the required electric power for the circuit board is required. An object of the present invention is to provide an adapter device that can reliably achieve a dynamic connection. A fourth object of the present invention is to
Provided is a circuit board inspection apparatus capable of performing an electrical inspection of a circuit board at a low cost even if electrodes to be inspected of the circuit board to be inspected are locally arranged at high density. It is in. A fifth object of the present invention is to
For a circuit board having electrodes to be inspected arranged at high density, electrical connection to the test circuit of the tester can be easily achieved with high efficiency, and the required electrical inspection is performed with sufficiently high reliability. It is an object of the present invention to provide a circuit board inspection apparatus which can be used.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】本発明のアダプター装置
は、コネクター板およびその上面に一体的に積層された
少なくとも一層の絶縁層を有し、最上層の絶縁層の上面
に接続すべき回路基板の電極に対応するパターンに従っ
て配置された複数の接続用電極を有すると共に、コネク
ター板の下面に格子点位置に配置された複数の端子電極
を有するアダプター本体と、このアダプター本体の上面
に一体的に設けられた異方導電性エラストマー層とを具
えてなり、前記アダプター本体におけるコネクター板の
上面には、当該上面の領域が分割されて複数の機能領域
が形成され、当該機能領域の各々は、格子点位置に配置
された、互いに対応する複数の中継電極を有し、これら
の機能領域のうち少なくとも一つは、これに隣接する他
の機能領域における中継電極に対応して配置された複数
の副中継電極を有し、当該副中継電極の各々は、これに
対応する他の機能領域における中継電極に電気的に接続
されており、前記コネクター板における中継電極の各々
は、前記端子電極に電気的に接続され、前記接続用電極
の各々は、前記コネクター板における中継電極または副
中継電極に電気的に接続されており、前記異方導電性エ
ラストマー層は、前記アダプター本体の接続用電極上に
配置された、弾性高分子物質中に導電性粒子が充填され
てなる複数の導電部と、これらの導電部を相互に絶縁す
る絶縁部とを有してなることを特徴とする。
The adapter device of the present invention has a connector plate and at least one insulating layer integrally laminated on the upper surface thereof, and a circuit board to be connected to the upper surface of the uppermost insulating layer. An adapter body having a plurality of connection electrodes arranged in accordance with a pattern corresponding to the electrode, and having a plurality of terminal electrodes arranged at lattice points on the lower surface of the connector plate; and A plurality of functional regions formed on the upper surface of the connector plate of the adapter body by dividing the region of the upper surface, and each of the functional regions includes a grid. It has a plurality of relay electrodes corresponding to each other and arranged at point positions, and at least one of these functional regions is located in another functional region adjacent thereto. It has a plurality of sub-relay electrodes arranged corresponding to the relay electrodes, each of the sub-relay electrodes is electrically connected to a relay electrode in another corresponding functional area, and the Each of the relay electrodes is electrically connected to the terminal electrode, and each of the connection electrodes is electrically connected to a relay electrode or a sub-relay electrode of the connector plate, and the anisotropic conductive elastomer layer Has a plurality of conductive portions arranged on the connection electrodes of the adapter body, conductive particles filled in an elastic polymer material, and an insulating portion for insulating these conductive portions from each other. It is characterized by becoming.

【0019】本発明のアダプター装置においては、アダ
プター本体のコネクター板には、それぞれ副中継電極を
有する二つ以上の機能領域が連続して形成されているこ
とが好ましい。また、副中継電極を有する機能領域にお
ける中継電極および副中継電極の合計密度が端子電極の
密度の2〜64倍であることが好ましい。また、アダプ
ター本体の接続用電極の少なくとも一部が磁性体により
構成されていることが好ましい。
In the adapter device of the present invention, it is preferable that two or more functional regions each having a sub-relay electrode are continuously formed on the connector plate of the adapter body. Further, it is preferable that the total density of the relay electrode and the sub-relay electrode in the functional region having the sub-relay electrode is 2 to 64 times the density of the terminal electrode. Further, it is preferable that at least a part of the connection electrode of the adapter body is made of a magnetic material.

【0020】本発明の回路基板の検査装置は、上記のア
ダプター装置と、上面に、前記アダプター装置における
アダプター本体の端子電極に電気的に接続された、当該
端子電極と同一のピッチの格子点位置に配置された複数
の検査電極を有する検査電極板装置とを具えてなること
を特徴とする。また、本発明の回路基板の検査装置にお
いては、前記検査電極板装置は、その上面の領域が分割
されて互いに同一の検査電極配置を有する複数の機能領
域が形成されてなり、これらの機能領域の各々における
検査電極が、互いに対応する位置に配置された他の機能
領域における検査電極と相互に電気的に接続されている
ことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided an inspection apparatus for a circuit board, comprising: the above-mentioned adapter device; And a test electrode plate device having a plurality of test electrodes arranged in the same manner. Further, in the circuit board inspection device of the present invention, the inspection electrode plate device has a plurality of functional regions having the same inspection electrode arrangement formed by dividing an upper surface region thereof. Is electrically connected to test electrodes in other functional regions arranged at positions corresponding to each other.

【0021】[0021]

【作用】(1)アダプター本体において、或る接続用電
極を、これに接近した機能領域における副中継電極に電
気的に接続すると、当該接続用電極は、当該機能領域に
隣接する他の機能領域における中継電極にも電気的に接
続された状態となる。このように、接続用電極が、これ
に接近した位置の機能領域における副中継電極に対して
電気的に接続されることにより、これと同時に当該接続
用電極から離間した位置の機能領域における中継電極に
も電気的に接続された状態が達成される。従って、被検
査基板が局所的に高密度に配置された被検査電極を有す
るものであっても、当該被検査電極に対応したパターン
の接続用電極を、広い領域に分散された状態で配置され
た端子電極に容易に電気的に接続することができる。ま
た、接続用電極を、これに接近した位置の中継電極また
は副中継電極に電気的に接続すればよいため、コネクタ
ー板上に形成される絶縁層の数を少なくすることがで
き、しかも、コネクター板は、異なるパターンの接続用
電極を有するアダプター本体についても同様の構成のも
のを使用することができるために量産化が可能である。
その結果、小さいコストでアダプター装置を製造するこ
とができる。
(1) In the adapter body, when a certain connection electrode is electrically connected to the sub-relay electrode in the function area close to the connection electrode, the connection electrode is connected to another function area adjacent to the function area. Is also electrically connected to the relay electrode in the above. In this manner, the connection electrode is electrically connected to the sub-relay electrode in the functional region at a position close to the connection electrode, and at the same time, the relay electrode in the functional region at a position separated from the connection electrode. Also, an electrically connected state is achieved. Therefore, even if the substrate to be inspected has electrodes to be inspected which are locally arranged at high density, the connection electrodes of the pattern corresponding to the electrodes to be inspected are arranged in a state of being dispersed in a wide area. Can easily be electrically connected to the terminal electrode. Further, since the connection electrode may be electrically connected to the relay electrode or the sub-relay electrode at a position close to the connection electrode, the number of insulating layers formed on the connector plate can be reduced, and the connector The plate can be mass-produced because the same configuration can be used for an adapter body having connection electrodes of different patterns.
As a result, the adapter device can be manufactured at low cost.

【0022】(2)アダプター本体おける接続用電極の
少なくとも一部を磁性体により構成することにより、当
該アダプター本体の上面に異方導電性エラストマー層を
形成する際に、厚み方向に平行磁場を作用させたときに
は、接続用電極を構成する磁性体が磁石として作用する
ため、当該接続用電極の上方位置には、それ以外の位置
より相当に大きい磁力線が集中して発生する。これによ
り、接続用電極の配置ピッチが極めて小さいものであっ
ても、当該接続用電極の上方位置に導電性粒子が集合
し、更に厚み方向に配向するので、接続用電極上に配置
され、かつ互いに絶縁部によって絶縁された複数の導電
部を有する所期の異方導電性エラストマー層を形成する
ことができる。従って、接続すべき回路基板の電極が、
その配置ピッチが微小であり、かつ微細で高密度の複雑
なパターンのものである場合にも、当該回路基板につい
て所要の電気的接続を確実に達成することができる。
(2) By forming at least a part of the connection electrode in the adapter body from a magnetic material, a parallel magnetic field acts in the thickness direction when forming the anisotropic conductive elastomer layer on the upper surface of the adapter body. When this is done, the magnetic material constituting the connection electrode acts as a magnet, so that lines of magnetic force considerably larger than other positions are concentrated on the position above the connection electrode. Thereby, even if the arrangement pitch of the connection electrodes is extremely small, the conductive particles gather at positions above the connection electrodes and are further oriented in the thickness direction, so that they are arranged on the connection electrodes, and An intended anisotropic conductive elastomer layer having a plurality of conductive portions insulated from each other by an insulating portion can be formed. Therefore, the electrodes of the circuit board to be connected are
Even in the case where the arrangement pitch is minute and the pattern has a fine and high-density complex pattern, required electric connection can be reliably achieved for the circuit board.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。 〈アダプター装置〉図1は、本発明に係るアダプター装
置の一例における構成を一部を破断して示す説明図であ
り、図2は、図1に示すアダプター装置を構成するアダ
プター本体におけるコネクター板の説明図である。この
アダプター装置は、例えば回路基板の電気的検査に用い
られるものであって、多層配線板よりなるコネクター板
11と、このコネクター板11の上面に一体的に積層さ
れた第1の絶縁層20および第2の絶縁層25とにより
構成されたアダプター本体10を有し、このアダプター
本体10の上面には、異方導電性エラストマー層30が
一体的に設けられている。アダプター本体10の下面す
なわちコネクター板11の下面には、格子点位置に従っ
て複数の端子電極12が配置されており、当該アダプタ
ー本体の上面すなわち最上層の第2の絶縁層25の上面
には、検査対象である回路基板の被検査電極に対応する
パターンに従って複数の接続用電極26が配置されてい
る。
Embodiments of the present invention will be described below. <Adapter Device> FIG. 1 is an explanatory view showing a configuration of an example of the adapter device according to the present invention, with a part thereof cut away. FIG. FIG. The adapter device is used, for example, for electrical inspection of a circuit board, and includes a connector plate 11 made of a multilayer wiring board, a first insulating layer 20 integrally laminated on an upper surface of the connector plate 11, and The adapter body 10 includes the second insulating layer 25, and an anisotropic conductive elastomer layer 30 is integrally provided on the upper surface of the adapter body 10. A plurality of terminal electrodes 12 are arranged on the lower surface of the adapter body 10, that is, on the lower surface of the connector plate 11 in accordance with the lattice point positions, and the upper surface of the adapter body, that is, the upper surface of the uppermost second insulating layer 25, A plurality of connection electrodes 26 are arranged according to a pattern corresponding to an electrode to be inspected on a circuit board to be inspected.

【0024】図3にも示すように、コネクター板11の
上面には、当該上面の領域が一点鎖線で示すように縦方
向(図3で上下方向)において4分割されて互いに等し
い矩形の4つの機能領域A,B,C,Dが、一側(図1
〜図3で左側)から他側に向かって並ぶよう形成されて
いる。機能領域A,B,C,Dの各々には、互いに対応
する複数の中継電極(図3において「○」で示す)15
が、縦j行、横k列で並ぶ格子点位置に従って配置され
ている。図3においては、各機能領域における中継電極
15の各々を特定するために、機能領域A,B,C,D
の各々における第j行第k列の位置にある中継電極15
が「(j,k)」の記号で表示され、さらに機能領域ま
でを特定するために、記号「(j,k)」の先頭に機能
領域を示す記号A〜Dが付されている。なお、この例に
おける中継電極15の配置ピッチは、端子電極12の配
置ピッチと同一であるが、端子電極12の配置ピッチと
異なる配置ピッチであってもよい。
As shown in FIG. 3, on the upper surface of the connector plate 11, the area of the upper surface is divided into four in the vertical direction (vertical direction in FIG. The functional areas A, B, C, and D are on one side (FIG. 1).
3 to the left side in FIG. 3). In each of the functional areas A, B, C, and D, a plurality of relay electrodes (indicated by “○” in FIG. 3) 15
Are arranged in accordance with grid point positions arranged in vertical j rows and horizontal k columns. In FIG. 3, in order to identify each of the relay electrodes 15 in each functional area, the functional areas A, B, C, D
Relay electrode 15 at the position of the j-th row and the k-th column in each of
Are indicated by the symbol “(j, k)”, and symbols “A” to “D” indicating the functional area are added to the head of the symbol “(j, k)” to further specify the functional area. The arrangement pitch of the relay electrodes 15 in this example is the same as the arrangement pitch of the terminal electrodes 12, but may be different from the arrangement pitch of the terminal electrodes 12.

【0025】4つの機能領域のうち、一側から数えて1
番目、2番目および3番目の機能領域A,B,Cには、
その他側に隣接する機能領域B,C,Dにおける中継電
極15に対応する複数の副中継電極(図3において
「●」で示す)16が、格子点位置に従ってかつ中継電
極15の各々と互いに等間隔となる状態で配置されてい
る。そして、機能領域A,B,Cの各々における副中継
電極16は、当該機能領域の他側に隣接する機能領域
B,C,Dの各々における対応する中継電極15に配線
路13によって電気的に接続されている。このように互
いに電気的に接続された電極の組をこの明細書において
「共通化電極」という。すなわち、この例においては、
機能領域A,B,Cの各々における副中継電極16と、
これに隣接する他の機能領域B,C,Dの各々における
中継電極15との組よりなる共通化電極が形成されてい
る。
Of the four functional areas, one counted from one side
The second and third functional areas A, B, C
A plurality of sub-relay electrodes (indicated by “●” in FIG. 3) 16 corresponding to the relay electrodes 15 in the functional areas B, C, and D adjacent to the other side are arranged in accordance with the lattice point positions and mutually equal to each of the relay electrodes 15. They are arranged at intervals. The sub relay electrode 16 in each of the functional areas A, B, and C is electrically connected to the corresponding relay electrode 15 in each of the functional areas B, C, and D adjacent to the other side of the functional area by the wiring path 13. It is connected. Such a set of electrodes electrically connected to each other is referred to as a “common electrode” in this specification. That is, in this example,
A sub-relay electrode 16 in each of the functional areas A, B, and C;
A common electrode composed of a set with the relay electrode 15 in each of the other functional regions B, C, and D adjacent thereto is formed.

【0026】以上において、副中継電極16を有する機
能領域A,B,Cにおける中継電極15および副中継電
極16の合計密度は、端子電極12の密度の2〜64
倍、すなわち中継電極15と副中継電極16との配置ピ
ッチL1が端子電極12の配置ピッチL2の2
-1/2(0.71)〜64-1/2(0.125)倍であるこ
とが好ましい。中継電極15および副中継電極16の合
計密度が過小である場合には、当該中継電極15または
副中継電極16に接続用電極26を電気的に接続するた
めに、コネクター板11上に相当な数の絶縁層を形成す
ることが必要となる結果、製造コストの小さい積層型コ
ネクター装置を得ることが困難となることがある。一
方、中継電極15および副中継電極16の合計密度が過
大である場合には、当該コネクター板11を層数の相当
に大きい多層配線板により構成することが必要となるた
め、コネクター板11の製造コストが高くなり、また、
コネクター板11それ自体の製造が困難となることがあ
る。
In the above, the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 in the functional areas A, B, and C having the sub-relay electrode 16 is 2 to 64 times the density of the terminal electrode 12.
That is, the arrangement pitch L1 between the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is two times the arrangement pitch L2 of the terminal electrode 12.
It is preferably from -1/2 (0.71) to 64 -1/2 (0.125) times. When the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is too small, a considerable number of the connection electrodes 26 are electrically connected to the relay electrode 15 or the sub-relay electrode 16 on the connector plate 11. As a result, it may be difficult to obtain a laminated connector device with low manufacturing cost. On the other hand, if the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is excessively large, the connector plate 11 must be formed of a multilayer wiring board having a considerably large number of layers. Costs are high,
It may be difficult to manufacture the connector plate 11 itself.

【0027】端子電極12の配置ピッチと、中継電極1
5と副中継電極16との配線ピッチとの好ましい組合せ
を示すと、例えば端子電極12の配列ピッチが2.54
mmである場合には、中継電極15と副中継電極16と
の配列ピッチが1.27mm(中継電極15および副中
継電極16の合計密度が端子電極12の密度の4倍)で
あり、端子電極12の配列ピッチが1.80mmである
場合には、中継電極15と副中継電極16との配列ピッ
チが1.27mm(中継電極15および副中継電極16
の合計密度が端子電極12の密度の2倍)または0.9
0mm(中継電極15および副中継電極16の合計密度
が端子電極12の密度の4倍)であり、端子電極12の
配列ピッチが1.5mmである場合には、中継電極15
と副中継電極16との配列ピッチが1.06mm(中継
電極15および副中継電極16の合計密度が端子電極1
2の密度の2倍)または0.75mm(中継電極15お
よび副中継電極16の合計密度が端子電極12の密度の
4倍)であり、端子電極12の配列ピッチが1.27m
mである場合には、中継電極15と副中継電極16との
配列ピッチが0.90mm(中継電極15および副中継
電極16の合計密度が端子電極12の密度の2倍)また
は0.635mm(中継電極15および副中継電極16
の合計密度が端子電極12の密度の4倍)であり、端子
電極12の配列ピッチが1.06mmである場合には、
中継電極15と副中継電極16との配列ピッチが0.7
5mm(中継電極15および副中継電極16の合計密度
が端子電極12の密度の2倍)または0.53mm(中
継電極15および副中継電極16の合計密度が端子電極
12の密度の4倍)であり、端子電極12の配列ピッチ
が0.90mmである場合には、中継電極15と副中継
電極16との配列ピッチが0.635mm(中継電極1
5および副中継電極16の合計密度が端子電極12の密
度の2倍)または0.45mm(中継電極15および副
中継電極16の合計密度が端子電極12の密度の4倍)
であり、端子電極12の配列ピッチが0.75mmであ
る場合には、中継電極15と副中継電極16との配列ピ
ッチが0.53mm(中継電極15および副中継電極1
6の合計密度が端子電極12の密度の2倍)または0.
375mm(中継電極15および副中継電極16の合計
密度が端子電極12の密度の4倍)であり、端子電極1
2の配列ピッチが0.53mmである場合には、中継電
極15と副中継電極16との配列ピッチが0.375m
m(中継電極15および副中継電極16の合計密度が端
子電極12の密度の2倍)または0.265mm(中継
電極15および副中継電極16の合計密度が端子電極1
2の密度の4倍)である。
The arrangement pitch of the terminal electrodes 12 and the relay electrode 1
A preferred combination of the terminal electrode 12 and the wiring pitch of the sub relay electrode 16 is, for example, 2.54.
mm, the arrangement pitch between the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is 1.27 mm (the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is four times the density of the terminal electrode 12). 12 is 1.80 mm, the arrangement pitch between the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is 1.27 mm (the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16).
Is twice the density of the terminal electrode 12) or 0.9.
0 mm (the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is four times the density of the terminal electrode 12), and when the arrangement pitch of the terminal electrodes 12 is 1.5 mm, the relay electrode 15
The arrangement pitch between the sub-relay electrode 16 and the sub-relay electrode 16 is 1.06 mm (the total density of the
2) or 0.75 mm (the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is four times the density of the terminal electrode 12), and the arrangement pitch of the terminal electrodes 12 is 1.27 m.
m, the arrangement pitch between the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is 0.90 mm (the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is twice the density of the terminal electrode 12) or 0.635 mm ( Relay electrode 15 and sub-relay electrode 16
Is four times the density of the terminal electrodes 12) and the arrangement pitch of the terminal electrodes 12 is 1.06 mm,
The arrangement pitch between the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is 0.7
5 mm (the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is twice the density of the terminal electrode 12) or 0.53 mm (the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is four times the density of the terminal electrode 12) When the arrangement pitch of the terminal electrodes 12 is 0.90 mm, the arrangement pitch of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is 0.635 mm (relay electrode 1).
5 and the sub relay electrode 16 have a total density of twice the density of the terminal electrode 12) or 0.45 mm (the total density of the relay electrode 15 and the sub relay electrode 16 is four times the density of the terminal electrode 12).
When the arrangement pitch of the terminal electrodes 12 is 0.75 mm, the arrangement pitch of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is 0.53 mm (the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 1).
6 is twice the density of the terminal electrode 12) or 0.
375 mm (the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is four times the density of the terminal electrode 12).
2 is 0.53 mm, the arrangement pitch between the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is 0.375 m.
m (the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is twice the density of the terminal electrode 12) or 0.265 mm (the total density of the relay electrode 15 and the sub-relay electrode 16 is the terminal electrode 1)
4 times the density of 2).

【0028】また、後述する検査装置において、所要の
強度を有する外径の大きい導電ピンを用いることができ
る点で、コネクター板11の端子電極12の配置ピッチ
は、0.53mm以上であることが好ましく、例えば
2.54mm、1.80mm、1.50mm、1.27
mmである。
Further, in an inspection apparatus described later, the arrangement pitch of the terminal electrodes 12 of the connector plate 11 is preferably 0.53 mm or more, since conductive pins having a required strength and a large outer diameter can be used. Preferably, for example, 2.54 mm, 1.80 mm, 1.50 mm, 1.27
mm.

【0029】第1の絶縁層20の上面には、適宜のパタ
ーンに従って配線部21が形成されており、この配線部
21は、当該第1の絶縁層20をその厚み方向に貫通し
て伸びる短絡部22によって、コネクター板11の中継
電極15または副中継電極16に電気的に接続されてい
る。また、第2の絶縁層25の上面には、検査すべき被
検査回路基板の被検査電極に対応するパターンに従って
複数の接続用電極26が形成されており、この接続用電
極26の各々は、当該第2の絶縁層25をその厚み方向
に貫通して伸びる短絡部27によって、第1の絶縁層2
0の上面に形成された配線部21に電気的に接続されて
いる。なお、配線部21は、図1において、紙面と交わ
る方向に伸びる状態に形成され得ることは勿論であっ
て、このような配線部を介して、全ての接続用電極26
がコネクター板11の中継電極15または副中継電極1
6に電気的に接続されている。
A wiring section 21 is formed on the upper surface of the first insulating layer 20 according to an appropriate pattern, and the wiring section 21 is formed by a short-circuit extending through the first insulating layer 20 in its thickness direction. The portion 22 is electrically connected to the relay electrode 15 or the sub-relay electrode 16 of the connector plate 11. Further, on the upper surface of the second insulating layer 25, a plurality of connection electrodes 26 are formed in accordance with a pattern corresponding to the electrodes to be inspected on the circuit board to be inspected, and each of the connection electrodes 26 is The first insulating layer 2 is formed by the short-circuit portion 27 extending through the second insulating layer 25 in the thickness direction.
0 is electrically connected to the wiring portion 21 formed on the upper surface of the first wiring. Note that the wiring portion 21 can be formed to extend in a direction intersecting with the paper surface in FIG. 1, and all the connection electrodes 26 can be formed through such a wiring portion.
Is the relay electrode 15 or the auxiliary relay electrode 1 of the connector plate 11
6 are electrically connected.

【0030】以上のように、接続用電極26は、第2の
絶縁層25の短絡部27、配線部21、第1の絶縁層2
0の短絡部22、中継電極15若しくは副中継電極16
および配線路13を介して、端子電極12に電気的に接
続されている。
As described above, the connection electrode 26 is formed by the short-circuit portion 27 of the second insulating layer 25, the wiring portion 21, and the first insulating layer 2.
0 short-circuit portion 22, relay electrode 15 or sub-relay electrode 16
In addition, it is electrically connected to the terminal electrode 12 via the wiring path 13.

【0031】この例における接続用電極26は、少なく
ともその一部が磁性体により構成されている。具体的に
は、図4に示すように、接続用電極26は、例えば銅、
金、銀などよりなる基層部分26Aと、磁性体よりなる
表層部分26Bとの多層構造により構成されている。但
し、接続用電極26を多層構造とすることは、本発明に
おいて必須のことではなく、例えば接続用電極26全体
が磁性体により構成されていてもよい。表層部分26B
を構成する磁性体としては、ニッケル、鉄、コバルトお
よびこれらの元素を含む合金などを用いることができ
る。また、磁性体よりなる表層部分26Bの厚みは、例
えば10〜500μmである。
At least a part of the connection electrode 26 in this example is made of a magnetic material. Specifically, as shown in FIG. 4, the connection electrode 26 is made of, for example, copper,
It has a multilayer structure of a base layer portion 26A made of gold, silver or the like and a surface layer portion 26B made of a magnetic material. However, it is not essential for the present invention that the connection electrode 26 has a multilayer structure. For example, the entire connection electrode 26 may be made of a magnetic material. Surface part 26B
As the magnetic material constituting, nickel, iron, cobalt and alloys containing these elements can be used. The thickness of the surface portion 26B made of a magnetic material is, for example, 10 to 500 μm.

【0032】このような接続用電極26を形成する方法
としては、特に限定されるものではないが、基層部分2
6Aを銅により構成し、表層部分26Bをニッケルや鉄
などにより構成する場合には、第2の絶縁層25の上面
に、銅薄層を形成した後、フォトリソグラフィーおよび
エッチング処理を施すことにより、基層部分26Aを形
成し、次いで、基層部分26Aが形成された第2の絶縁
層25の上面に、フォトリソグラフィーや、ニッケル、
鉄などのメッキ処理などを施すことにより、表層部分2
6Bを形成する方法を利用することができる。
The method of forming the connection electrode 26 is not particularly limited, but the base layer 2 may be formed.
When 6A is made of copper and the surface portion 26B is made of nickel, iron, or the like, a thin copper layer is formed on the upper surface of the second insulating layer 25, and then photolithography and etching are performed. A base layer portion 26A is formed, and then photolithography, nickel, or the like is formed on the upper surface of the second insulating layer 25 on which the base layer portion 26A is formed.
By applying a plating treatment of iron or the like, the surface layer 2
The method of forming 6B can be used.

【0033】このようなアダプター本体10の上面に
は、異方導電性エラストマー層30が一体的に接着乃至
密着した状態で形成されている。この異方導電性エラス
トマー層30は、図5に示すように、絶縁性の弾性高分
子物質E中に導電性粒子Pが密に充填されてなる多数の
導電部31がアダプター本体10の接続用電極26上に
位置された状態で、かつ、隣接する導電部31が相互に
絶縁部32によって絶縁された状態とされている。各導
電部31においては、導電性粒子Pが厚さ方向に並ぶよ
う配向されており、厚さ方向に伸びる導電路が形成され
ている。この導電部31は、厚さ方向に加圧されて圧縮
されたときに抵抗値が減少して導電路が形成される、加
圧導電部であってもよい。これに対して、絶縁部32
は、加圧されたときにも厚さ方向に導電路が形成されな
いものである。
An anisotropic conductive elastomer layer 30 is formed on the upper surface of the adapter body 10 in a state of being integrally adhered or adhered thereto. As shown in FIG. 5, the anisotropic conductive elastomer layer 30 has a large number of conductive portions 31 in which conductive particles P are densely filled in an insulating elastic polymer substance E for connecting the adapter body 10. The conductive portions 31 are positioned on the electrodes 26 and are insulated from each other by the insulating portions 32. In each conductive portion 31, the conductive particles P are oriented so as to be arranged in the thickness direction, and a conductive path extending in the thickness direction is formed. The conductive portion 31 may be a pressurized conductive portion in which a conductive path is formed by reducing a resistance value when compressed in a thickness direction and compressed. On the other hand, the insulating part 32
No conductive path is formed in the thickness direction even when pressed.

【0034】図示の例においては、異方導電性エラスト
マー層30の外面において、導電部31が絶縁部32の
表面から突出する突出部を形成している。このような例
によれば、加圧による圧縮の程度が絶縁部32より導電
部31において大きいために十分に抵抗値の低い導電路
が確実に導電部31に形成され、これにより、加圧力の
変化乃至変動に対して抵抗値の変化を小さくすることが
でき、その結果、異方導電性エラストマー層30に作用
される加圧力が不均一であっても、各導電部31間にお
ける導電性のバラツキの発生を防止することができる。
In the illustrated example, on the outer surface of the anisotropic conductive elastomer layer 30, the conductive portion 31 forms a protruding portion protruding from the surface of the insulating portion 32. According to such an example, since the degree of compression by pressurization is larger in the conductive portion 31 than in the insulating portion 32, a conductive path having a sufficiently low resistance value is reliably formed in the conductive portion 31, and thereby, the pressing force It is possible to reduce the change in the resistance value with respect to the change or fluctuation, and as a result, even if the pressing force applied to the anisotropic conductive elastomer layer 30 is not uniform, the conductivity between the conductive portions 31 is not changed. Variation can be prevented.

【0035】このように導電部31が突出部を形成する
場合には、当該突出部の突出高さhは、異方導電性エラ
ストマー層40の全厚t(t=h+d、dは絶縁部32
の厚さである。)の8%以上であることが好ましい。ま
た、異方導電性エラストマー層30の全厚tは、接続用
電極26の配置ピッチpの300%以下、すなわちt≦
3pであることが好ましい。このような条件が充足され
ることにより、異方導電性エラストマー層30に作用さ
れる加圧力が変化した場合にも、それによる導電部31
の導電性の変化が十分に小さく抑制されるからである。
When the conductive portion 31 forms a protrusion as described above, the protrusion height h of the protrusion is determined by the total thickness t of the anisotropic conductive elastomer layer 40 (t = h + d, and d is the insulating portion 32).
Is the thickness. ) Is preferably 8% or more. Further, the total thickness t of the anisotropic conductive elastomer layer 30 is 300% or less of the arrangement pitch p of the connection electrodes 26, that is, t ≦
It is preferably 3p. By satisfying such conditions, even if the pressure applied to the anisotropic conductive elastomer layer 30 changes, the conductive portion 31
This is because the change in conductivity of the substrate is suppressed to a sufficiently small value.

【0036】導電部31が突出部を形成する場合におい
ては、突出部の平面における全体が導電性を有すること
は必ずしも必要ではなく、例えば突出部の周縁には、配
置ピッチの20%以下の導電路非形成部分が存在してい
てもよい。また、隣接する導電部31間の離間距離rの
最小値は、当該導電部31の幅Rの10%以上であるこ
とが好ましい。このような条件が満足されることによ
り、加圧されて突出部が変形したときの横方向の変位が
原因となって隣接する導電部31同士が電気的に接触す
るおそれを十分に回避することができる。以上におい
て、導電部31の平面形状は接続用電極26と等しい幅
の矩形状とすることができるが、必要な面積を有する円
形、その他の適宜の形状とすることができる。また、異
方導電性エラストマー層30の外面において、導電部3
1が絶縁部32の表面から突出する構成は、本発明にお
いて必須のことではなく、例えば絶縁部32が導電部3
1の表面から突出する構成(導電部31の位置に凹部が
形成された構成)、異方導電性エラストマー層30の外
面が平面である構成であってもよい。
In the case where the conductive portion 31 forms a protrusion, it is not always necessary that the entire surface of the protrusion has conductivity. Road non-forming portions may be present. Further, it is preferable that the minimum value of the separation distance r between the adjacent conductive portions 31 is 10% or more of the width R of the conductive portion 31. By satisfying such conditions, it is possible to sufficiently avoid the possibility that the adjacent conductive portions 31 electrically contact each other due to lateral displacement when the protrusion is deformed by being pressed. Can be. In the above, the planar shape of the conductive portion 31 can be a rectangular shape having the same width as the connection electrode 26, but can be a circular shape having a necessary area, or any other appropriate shape. Further, on the outer surface of the anisotropic conductive elastomer layer 30, the conductive portion 3
The configuration in which 1 protrudes from the surface of the insulating section 32 is not essential in the present invention.
1 (a configuration in which a recess is formed at the position of the conductive portion 31), or a configuration in which the outer surface of the anisotropic conductive elastomer layer 30 is flat.

【0037】導電部31を構成する絶縁性の弾性高分子
物質としては、架橋構造を有する高分子物質が好まし
い。架橋高分子物質を得るために用いることのできる硬
化性の高分子物質用材料としては、種々のものを用いる
ことができ、その具体例としては、ポリブタジエンゴ
ム、天然ゴム、ポリイソプレンゴム、スチレン−ブタジ
エン共重合体ゴム、アクリロニトリル−ブタジエン共重
合体ゴムなどの共役ジエン系ゴムおよびこれらの水素添
加物、スチレン−ブタジエン−ジエンブロック共重合体
ゴム、スチレン−イソプレンブロック共重合体などのブ
ロック共重合体ゴムおよびこれらの水素添加物、クロロ
プレン、ウレタンゴム、ポリエステル系ゴム、エピクロ
ルヒドリンゴム、シリコーンゴム、エチレン−プロピレ
ン共重合体ゴム、エチレン−プロピレン−ジエン共重合
体ゴムなどが挙げられる。以上において、得られる異方
導電性エラストマー層30に耐候性が要求される場合に
は、共役ジエン系ゴム以外のものを用いることが好まし
く、特に、成形加工性および電気特性の観点から、シリ
コーンゴムを用いることが好ましい。
As the insulating elastic high molecular substance constituting the conductive portion 31, a high molecular substance having a crosslinked structure is preferable. Various materials can be used as the curable polymer material that can be used to obtain the crosslinked polymer material, and specific examples thereof include polybutadiene rubber, natural rubber, polyisoprene rubber, and styrene- Conjugated diene rubbers such as butadiene copolymer rubber and acrylonitrile-butadiene copolymer rubber and hydrogenated products thereof, and block copolymers such as styrene-butadiene-diene block copolymer rubber and styrene-isoprene block copolymer Rubber and hydrogenated products thereof, chloroprene, urethane rubber, polyester rubber, epichlorohydrin rubber, silicone rubber, ethylene-propylene copolymer rubber, ethylene-propylene-diene copolymer rubber, and the like can be given. In the above, when the obtained anisotropic conductive elastomer layer 30 is required to have weather resistance, it is preferable to use a material other than the conjugated diene-based rubber. It is preferable to use

【0038】シリコーンゴムとしては、液状シリコーン
ゴムを架橋または縮合したものが好ましい。液状シリコ
ーンゴムは、その粘度が歪速度10-1secで105
アズ以下のものが好ましく、縮合型のもの、付加型のも
の、ビニル基やヒドロキシル基を含有するものなどのい
ずれであってもよい。具体的には、ジメチルシリコーン
生ゴム、メチルビニルシリコーン生ゴム、メチルフェニ
ルビニルシリコーン生ゴムなどを挙げることができる。
As the silicone rubber, those obtained by crosslinking or condensing a liquid silicone rubber are preferable. The liquid silicone rubber preferably has a viscosity of 10 5 poise or less at a strain rate of 10 −1 sec, and may be any of condensation type, addition type, and those containing a vinyl group or a hydroxyl group. Good. Specifically, dimethylsilicone raw rubber, methylvinylsilicone raw rubber, methylphenylvinylsilicone raw rubber and the like can be mentioned.

【0039】これらの中で、ビニル基を含有する液状シ
リコーンゴム(ビニル基含有ポリジメチルシロキサン)
は、通常、ジメチルジクロロシランまたはジメチルジア
ルコキシシランを、ジメチルビニルクロロシランまたは
ジメチルビニルアルコキシシランの存在下において、加
水分解および縮合反応させ、例えば引続き溶解−沈殿の
繰り返しによる分別を行うことにより得られる。また、
ビニル基を両末端に含有する液状シリコーンゴムは、オ
クタメチルシクロテトラシロキサンのような環状シロキ
サンを触媒の存在下においてアニオン重合し、重合停止
剤として例えばジメチルジビニルシロキサンを用い、そ
の他の反応条件(例えば、環状シロキサンの量および重
合停止剤の量)を適宜選択することにより得られる。こ
こで、アニオン重合の触媒としては、水酸化テトラメチ
ルアンモニウムおよび水酸化n−ブチルホスホニウムな
どのアルカリまたはこれらのシラノレート溶液などを用
いることができ、反応温度は、例えば80〜130℃で
ある。このようなビニル基含有ポリジメチルシロキサン
は、その分子量Mw(標準ポリスチレン換算重量平均分
子量をいう。以下同じ。)が10000〜40000の
ものであることが好ましい。また、得られる導電路素子
の耐熱性の観点から、分子量分布指数(標準ポリスチレ
ン換算重量平均分子量Mwと標準ポリスチレン換算数平
均分子量Mnとの比Mw/Mnの値をいう。以下同
じ。)が2.0以下のものが好ましい。
Among these, liquid group-containing silicone rubber (vinyl group-containing polydimethylsiloxane)
Is usually obtained by subjecting dimethyldichlorosilane or dimethyldialkoxysilane to hydrolysis and condensation reaction in the presence of dimethylvinylchlorosilane or dimethylvinylalkoxysilane, for example, followed by fractionation by repeated dissolution-precipitation. Also,
A liquid silicone rubber containing vinyl groups at both ends is anionically polymerized with a cyclic siloxane such as octamethylcyclotetrasiloxane in the presence of a catalyst, and uses, for example, dimethyldivinylsiloxane as a polymerization terminator and other reaction conditions (for example, , The amount of cyclic siloxane and the amount of polymerization terminator). Here, as a catalyst for the anionic polymerization, an alkali such as tetramethylammonium hydroxide and n-butylphosphonium hydroxide or a silanolate solution thereof can be used. The reaction temperature is, for example, 80 to 130 ° C. Such a vinyl group-containing polydimethylsiloxane preferably has a molecular weight Mw (weight average molecular weight in terms of standard polystyrene; the same applies hereinafter) of 10,000 to 40,000. In addition, from the viewpoint of heat resistance of the obtained conductive path element, the molecular weight distribution index (the value of the ratio Mw / Mn between the standard polystyrene equivalent weight average molecular weight Mw and the standard polystyrene equivalent number average molecular weight Mn; the same applies hereinafter) is 2. 0.0 or less is preferable.

【0040】一方、ヒドロキシル基を含有する液状シリ
コーンゴム(ヒドロキシル基含有ポリジメチルシロキサ
ン)は、通常、ジメチルジクロロシランまたはジメチル
ジアルコキシシランを、ジメチルヒドロクロロシランま
たはジメチルヒドロアルコキシシランの存在下におい
て、加水分解および縮合反応させ、例えば引続き溶解−
沈殿の繰り返しによる分別を行うことにより得られる。
また、環状シロキサンを触媒の存在下においてアニオン
重合し、重合停止剤として、例えばジメチルヒドロクロ
ロシラン、メチルジヒドロクロロシランまたはジメチル
ヒドロアルコキシシランなどを用い、その他の反応条件
(例えば、環状シロキサンの量および重合停止剤の量)
を適宜選択することによっても得られる。ここで、アニ
オン重合の触媒としては、水酸化テトラメチルアンモニ
ウムおよび水酸化n−ブチルホスホニウムなどのアルカ
リまたはこれらのシラノレート溶液などを用いることが
でき、反応温度は、例えば80〜130℃である。この
ようなヒドロキシル基含有ポリジメチルシロキサンは、
その分子量Mwが10000〜40000のものである
ことが好ましい。また、得られる導電路素子の耐熱性の
観点から、分子量分布指数が2.0以下のものが好まし
い。本発明においては、上記のビニル基含有ポリジメチ
ルシロキサンおよびヒドロキシル基含有ポリジメチルシ
ロキサンのいずれか一方を用いることもでき、両者を併
用することもできる。
On the other hand, a liquid silicone rubber containing hydroxyl groups (hydroxyl group-containing polydimethylsiloxane) is usually prepared by hydrolyzing dimethyldichlorosilane or dimethyldialkoxysilane in the presence of dimethylhydrochlorosilane or dimethylhydroalkoxysilane. And condensation reaction, for example,
It is obtained by performing fractionation by repeating precipitation.
The cyclic siloxane is anionically polymerized in the presence of a catalyst, and a polymerization terminator such as dimethylhydrochlorosilane, methyldihydrochlorosilane or dimethylhydroalkoxysilane is used. Other reaction conditions (for example, the amount of the cyclic siloxane and the polymerization termination) Amount of agent)
Can also be obtained by appropriately selecting Here, as a catalyst for the anionic polymerization, an alkali such as tetramethylammonium hydroxide and n-butylphosphonium hydroxide or a silanolate solution thereof can be used. The reaction temperature is, for example, 80 to 130 ° C. Such hydroxyl group-containing polydimethylsiloxane is,
It is preferable that the molecular weight Mw is 10,000 to 40,000. Further, from the viewpoint of heat resistance of the obtained conductive path element, those having a molecular weight distribution index of 2.0 or less are preferable. In the present invention, either one of the above-mentioned vinyl group-containing polydimethylsiloxane and hydroxyl group-containing polydimethylsiloxane can be used, or both can be used in combination.

【0041】上記のような高分子物質用材料を硬化させ
るためには、硬化触媒を用いることができる。このよう
な硬化触媒としては、有機過酸化物、脂肪酸アゾ化合
物、ヒドロシリル化触媒などを用いることができる。硬
化触媒として用いられる有機過酸化物の具体例として
は、過酸化ベンゾイル、過酸化ビスジシクロベンゾイ
ル、過酸化ジクミル、過酸化ジターシャリーブチルなど
が挙げられる。硬化触媒として用いられる脂肪酸アゾ化
合物の具体例としては、アゾビスイソブチロニトリルな
どが挙げられる。ヒドロシリル化反応の触媒として使用
し得るものの具体例としては、塩化白金酸およびその
塩、白金−不飽和基含有シロキサンコンプレックス、ビ
ニルシロキサンと白金とのコンプレックス、白金と1,
3−ジビニルテトラメチルジシロキサンとのコンプレッ
クス、トリオルガノホスフィンあるいはホスファイトと
白金とのコンプレックス、アセチルアセテート白金キレ
ート、環状ジエンと白金とのコンプレックスなどの公知
のものが挙げられる。硬化触媒の使用量は、高分子物質
形成材料の種類、硬化触媒の種類、その他の硬化処理条
件を考慮して適宜選択されるが、通常、高分子物質形成
材料100重量部に対して3〜15重量部である。
In order to cure the above-mentioned polymer material, a curing catalyst can be used. As such a curing catalyst, an organic peroxide, a fatty acid azo compound, a hydrosilylation catalyst, or the like can be used. Specific examples of the organic peroxide used as the curing catalyst include benzoyl peroxide, bisdicyclobenzoyl peroxide, dicumyl peroxide, and ditertiary butyl peroxide. Specific examples of the fatty acid azo compound used as the curing catalyst include azobisisobutyronitrile and the like. Specific examples of those which can be used as a catalyst for the hydrosilylation reaction include chloroplatinic acid and salts thereof, a platinum-unsaturated group-containing siloxane complex, a complex of vinylsiloxane and platinum, and platinum and 1,1.
Known examples include a complex with 3-divinyltetramethyldisiloxane, a complex of triorganophosphine or phosphite and platinum, an acetylacetate platinum chelate, and a complex of cyclic diene and platinum. The amount of the curing catalyst used is appropriately selected in consideration of the type of the polymer substance-forming material, the type of the curing catalyst, and other curing treatment conditions. 15 parts by weight.

【0042】導電部31を構成する導電性粒子として
は、後述する異方導電性エラストマー層の形成方法によ
り当該粒子を容易に配向させることができる観点から、
導電性磁性体粒子を用いることが好ましい。この導電性
磁性体粒子の具体例としては、鉄、コバルトなどの磁性
を示す金属の粒子若しくはこれらの合金の粒子またはこ
れらの金属を含有する粒子、またはこれらの粒子を芯粒
子とし、当該芯粒子の表面に金、銀、パラジウム、ロジ
ウムなどの導電性の良好な金属のメッキを施したもの、
あるいは非磁性金属粒子若しくはガラスビーズなどの無
機物質粒子またはポリマー粒子を芯粒子とし、当該芯粒
子の表面に、ニッケル、コバルトなどの導電性磁性体の
メッキを施したもの、あるいは芯粒子に、導電性磁性体
および導電性の良好な金属の両方を被覆したものなどが
挙げられる。これらの中では、ニッケル粒子を芯粒子と
し、その表面に金や銀などの導電性の良好な金属のメッ
キを施したものを用いることが好ましく、特に、金およ
び銀の両方が被覆されているものが好ましい。芯粒子の
表面に導電性金属を被覆する手段としては、特に限定さ
れるものではないが、例えば化学メッキまたは無電解メ
ッキにより行うことができる。
As the conductive particles constituting the conductive portion 31, from the viewpoint that the particles can be easily oriented by a method for forming an anisotropic conductive elastomer layer described later.
It is preferable to use conductive magnetic particles. Specific examples of the conductive magnetic particles include particles of a metal exhibiting magnetism such as iron and cobalt, or particles of an alloy thereof, or particles containing these metals, or these particles as core particles. The surface of which is plated with a metal with good conductivity such as gold, silver, palladium, rhodium,
Alternatively, inorganic particles or polymer particles such as non-magnetic metal particles or glass beads are used as core particles, and the surface of the core particles is plated with a conductive magnetic material such as nickel or cobalt. One coated with both a conductive magnetic material and a metal having good conductivity. Among them, it is preferable to use nickel particles as core particles, and to use those obtained by plating the surface with a metal having good conductivity such as gold or silver, and in particular, both gold and silver are coated. Are preferred. Means for coating the surface of the core particles with the conductive metal is not particularly limited, but may be, for example, chemical plating or electroless plating.

【0043】導電性粒子として、芯粒子の表面に導電性
金属が被覆されてなるものを用いる場合には、良好な導
電性が得られる観点から、粒子表面における導電性金属
の被覆率(芯粒子の表面積に対する導電性金属の被覆面
積の割合)が40%以上であることが好ましく、さらに
好ましくは45%以上、特に好ましくは47〜95%で
ある。また、導電性金属の被覆量は、芯粒子の2.5〜
50重量%であることが好ましく、より好ましくは3〜
30重量%、さらに好ましくは3.5〜25重量%、特
に好ましくは4〜20重量%である。被覆される導電性
金属が金である場合には、その被覆量は、芯粒子の3〜
30重量%であることが好ましく、より好ましくは3〜
20重量%、さらに好ましくは3.5〜15重量%、特
に好ましくは4.5〜10重量%である。また、被覆さ
れる導電性金属が銀である場合には、その被覆量は、芯
粒子の3〜30重量%であることが好ましく、より好ま
しくは4〜25重量%、さらに好ましくは5〜23重量
%、特に好ましくは6〜20重量%である。更に、被覆
される導電性金属として金と銀の両方を用いる場合に
は、金の被覆量は、芯粒子の0.1〜5重量%であるこ
とが好ましく、より好ましくは0.2〜4重量%、さら
に好ましくは0.5〜3重量%であり、銀の被覆量は、
芯粒子の3〜30重量%であることが好ましく、より好
ましくは4〜25重量%、さらに好ましくは5〜20重
量%である。
When the conductive particles are formed by coating the surface of a core particle with a conductive metal, the coverage of the conductive metal on the particle surface (from the viewpoint of obtaining good conductivity) Is preferably 40% or more, more preferably 45% or more, and particularly preferably 47 to 95%. Moreover, the coating amount of the conductive metal is 2.5 to
It is preferably 50% by weight, more preferably 3 to
It is 30% by weight, more preferably 3.5 to 25% by weight, particularly preferably 4 to 20% by weight. When the conductive metal to be coated is gold, the coating amount is 3 to
It is preferably 30% by weight, more preferably 3 to
It is 20% by weight, more preferably 3.5 to 15% by weight, particularly preferably 4.5 to 10% by weight. When the conductive metal to be coated is silver, the coating amount is preferably 3 to 30% by weight of the core particles, more preferably 4 to 25% by weight, and further preferably 5 to 23% by weight. %, Particularly preferably from 6 to 20% by weight. Further, when both gold and silver are used as the conductive metal to be coated, the coating amount of gold is preferably 0.1 to 5% by weight of the core particles, more preferably 0.2 to 4% by weight. % By weight, more preferably 0.5 to 3% by weight.
It is preferably 3 to 30% by weight of the core particles, more preferably 4 to 25% by weight, and still more preferably 5 to 20% by weight.

【0044】また、導電性粒子の粒子径は、1〜100
0μmであることが好ましく、より好ましくは2〜50
0μm、さらに好ましくは5〜300μm、特に好まし
くは10〜200μmである。また、導電性粒子の粒子
径分布(Dw/Dn)は、1〜10であることが好まし
く、より好ましくは1.01〜7、さらに好ましくは
1.05〜5、特に好ましくは1.1〜4である。この
ような条件を満足する導電性粒子を用いることにより、
得られる導電部31は、加圧変形が容易なものとなり、
また、当該導電部31において導電性粒子間に十分な電
気的接触が得られる。また、導電性粒子の形状は、特に
限定されるものではないが、高分子物質用材料中に容易
に分散させることができる点で、球状のもの、星形状の
ものあるいはこれらが凝集した2次粒子による塊状のも
のであることが好ましい。
The conductive particles have a particle size of 1 to 100.
0 μm, more preferably 2 to 50 μm.
0 μm, more preferably 5 to 300 μm, particularly preferably 10 to 200 μm. The particle size distribution (Dw / Dn) of the conductive particles is preferably 1 to 10, more preferably 1.01 to 7, further preferably 1.05 to 5, and particularly preferably 1.1 to 1. 4. By using conductive particles that satisfy such conditions,
The obtained conductive portion 31 is easily deformed under pressure,
Further, sufficient electrical contact between the conductive particles in the conductive portion 31 is obtained. Further, the shape of the conductive particles is not particularly limited, but is spherical, star-shaped, or a secondary particle in which these are aggregated because they can be easily dispersed in the polymer material. It is preferably in the form of a lump of particles.

【0045】また、導電性粒子の含水率は、5%以下で
あることが好ましく、より好ましくは3%以下、さらに
好ましくは2%以下、とくに好ましくは1%以下であ
る。このような条件を満足する導電性粒子を用いること
により、後述する異方導電性エラストマー層の形成にお
いて、導電部形成用材料層を硬化処理する際に、当該導
電部形成用材料層内に気泡が生ずることが防止または抑
制される。
The water content of the conductive particles is preferably at most 5%, more preferably at most 3%, further preferably at most 2%, particularly preferably at most 1%. By using the conductive particles satisfying such conditions, in the formation of an anisotropic conductive elastomer layer to be described later, when the conductive portion forming material layer is cured, bubbles are generated in the conductive portion forming material layer. Is prevented or suppressed.

【0046】また、導電性粒子の表面がシランカップリ
ング剤などのカップリング剤で処理されたものを適宜用
いることができる。導電性粒子の表面がカップリング剤
で処理されることにより、当該導電性粒子と弾性高分子
物質との接着性が高くなり、その結果、得られる導電部
31は、繰り返しの使用における耐久性が高いものとな
る。カップリング剤の使用量は、導電性粒子の導電性に
影響を与えない範囲で適宜選択されるが、導電性粒子表
面におけるカップリング剤の被覆率(導電性芯粒子の表
面積に対するカップリング剤の被覆面積の割合)が5%
以上となる量であることが好ましく、より好ましくは上
記被覆率が7〜100%、さらに好ましくは10〜10
0%、特に好ましくは20〜100%となる量である。
Further, a conductive particle whose surface has been treated with a coupling agent such as a silane coupling agent can be used as appropriate. By treating the surface of the conductive particles with the coupling agent, the adhesion between the conductive particles and the elastic polymer material is increased, and as a result, the obtained conductive portion 31 has durability in repeated use. It will be expensive. The amount of the coupling agent used is appropriately selected within a range that does not affect the conductivity of the conductive particles. However, the coverage of the coupling agent on the surface of the conductive particles (the amount of the coupling agent with respect to the surface area of the conductive core particles). 5%
It is preferable that the amount is not less than the above, more preferably the above-mentioned coverage is 7 to 100%, and still more preferably 10 to 10%.
The amount is 0%, particularly preferably 20 to 100%.

【0047】このような導電性粒子は、高分子物質用材
料に対して体積分率で30〜60%、好ましくは35〜
50%となる割合で用いられることが好ましい。この割
合が30%未満の場合には、十分に電気抵抗値の小さい
導電部が得られないことがある。一方、この割合が60
%を超える場合には、得られる導電部は脆弱なものとな
りやすく、導電部として必要な弾性が得られないことが
ある。
The conductive particles have a volume fraction of 30 to 60%, preferably 35 to 60% with respect to the polymer material.
It is preferable to use it at a ratio of 50%. If this ratio is less than 30%, a conductive portion having a sufficiently low electric resistance may not be obtained. On the other hand, this ratio is 60
%, The obtained conductive part tends to be fragile, and the elasticity required for the conductive part may not be obtained.

【0048】導電部を形成するための導電部形成用材料
中には、必要に応じて、通常のシリカ粉、コロイダルシ
リカ、エアロゲルシリカ、アルミナなどの無機充填材を
含有させることができる。このような無機充填材を含有
させることにより、当該導電部形成用材料のチクソトロ
ピー性が確保され、その粘度が高くなり、しかも、導電
性粒子の分散安定性が向上すると共に、硬化処理されて
得られる導電部の強度が高くなる。このような無機充填
材の使用量は、特に限定されるものではないが、あまり
多量に使用すると、後述する異方導電性エラストマー層
の形成方法において、磁場による導電性粒子の配向を十
分に達成することができなくなるため、好ましくない。
The material for forming the conductive portion for forming the conductive portion may contain, if necessary, an inorganic filler such as ordinary silica powder, colloidal silica, airgel silica, and alumina. By including such an inorganic filler, the thixotropic property of the material for forming the conductive portion is ensured, the viscosity thereof is increased, and the dispersion stability of the conductive particles is improved, and the obtained material is cured. The strength of the conductive portion to be formed is increased. The use amount of such an inorganic filler is not particularly limited, but when used in an excessively large amount, in the method of forming an anisotropic conductive elastomer layer described later, the orientation of the conductive particles by the magnetic field is sufficiently achieved. It is not preferable because it becomes impossible to perform the operation.

【0049】絶縁部32を構成する材料としては、導電
部31を構成する高分子物質と同一のものまたは異なる
ものを用いることができるが、同様に硬化処理後にアダ
プター本体10と密着状態または接着状態を保持してア
ダプター本体10と一体となるものを用いることが好ま
しい。
As the material for forming the insulating portion 32, the same or different material as the polymer material for forming the conductive portion 31 can be used. It is preferable to use one that holds the adapter and is integrated with the adapter body 10.

【0050】このような異方導電性エラストマー層30
を形成する方法としては、特に限定されるものではない
が、例えば以下の第1の方法および第2の方法を好まし
い方法として挙げることができる。
Such an anisotropic conductive elastomer layer 30
The method for forming is not particularly limited, but for example, the following first method and second method can be mentioned as preferable methods.

【0051】〔第1の方法〕この第1の方法において
は、硬化処理によって絶縁性の弾性高分子物質となる高
分子物質用材料中に導電性磁性体粒子が分散された流動
性の混合物よりなるエラストマー用材料を調製する。こ
のエラストマー用用材料の粘度は、温度25℃において
100000〜1000000cpの範囲内であること
が好ましい。そして、エラストマー用材料を、図6に示
すように、アダプター本体10の上面に塗布することに
より、当該アダプター本体10の上面上にエラストマー
用材料層30Aを形成する。
[First Method] In the first method, a fluid mixture in which conductive magnetic particles are dispersed in a polymer material which becomes an insulating elastic polymer by curing treatment is used. A material for an elastomer is prepared. The viscosity of this elastomer material is preferably in the range of 100,000 to 1,000,000 cp at a temperature of 25 ° C. Then, the elastomer material is applied to the upper surface of the adapter body 10 as shown in FIG. 6 to form the elastomer material layer 30A on the upper surface of the adapter body 10.

【0052】次いで、図7に示すように、被検査回路基
板の被検査電極と同一のパターンに従って強磁性体部分
Mが配置されると共に、当該強磁性体部分M以外の部分
に非磁性体部分Nが配置されてなる一方の型(以下、
「上型」という。)36と、被検査回路基板の被検査電
極と対掌のパターンに従って強磁性体部分Mが配置され
ると共に、当該強磁性体部分M以外の部分に非磁性体部
分Nが配置されてなる他方の型(以下、「下型」とい
う。)37とを用い、上型36と下型37との間に、エ
ラストマー用材料層30Aが形成されたアダプター本体
10を、その接続用電極26が当該上型36の強磁性体
部分Mと下型37の強磁性体部分Mとの間に位置するよ
う配置し、更に、上型36の上面および下型37の下面
に一対の電磁石38,39を配置する。このとき、上型
36の下面がエラストマー用材料層30Aから離間され
て間隙が形成された状態とする。
Next, as shown in FIG. 7, a ferromagnetic material portion M is arranged according to the same pattern as the electrode to be inspected of the circuit substrate to be inspected, and a non-magnetic material portion is provided in a portion other than the ferromagnetic material portion M. N type (hereinafter, referred to as N type)
"Upper type". And 36) a ferromagnetic portion M is arranged according to a pattern opposite to the electrode to be inspected on the circuit substrate to be inspected, and a non-magnetic portion N is arranged in a portion other than the ferromagnetic portion M. (Hereinafter, referred to as “lower mold”) 37, the adapter body 10 having the elastomer material layer 30A formed between the upper mold 36 and the lower mold 37, and the connection electrode 26 thereof It is arranged so as to be located between the ferromagnetic portion M of the upper die 36 and the ferromagnetic portion M of the lower die 37, and a pair of electromagnets 38 and 39 are provided on the upper surface of the upper die 36 and the lower surface of the lower die 37. Deploy. At this time, the lower surface of the upper mold 36 is separated from the elastomer material layer 30A to form a gap.

【0053】そして、電磁石38,39を作動させるこ
とにより、上型36の強磁性体部分Mからこれに対応す
る下型37の強磁性体部分Mに向かう方向に平行磁場を
作用させる。このとき、接続用電極26の少なくとも一
部が磁性体により構成されている場合、この例では、接
続用電極26が磁性体よりなる表層部分26Bを有する
場合には、当該表層部分26Bが磁石として作用するた
め、当該接続用電極26の上方位置には、それ以外の位
置より相当に大きい磁力線が集中して発生する結果、図
8に示すように、エラストマー用材料層30Aにおいて
は、当該エラストマー用材料層30A中に分散されてい
た導電性磁性体粒子が、上型36の強磁性体部分Mとア
ダプター本体10の接続用電極26との間に位置する部
分に集合し、更に厚み方向に並ぶよう配向する。
By operating the electromagnets 38 and 39, a parallel magnetic field is applied in a direction from the ferromagnetic portion M of the upper die 36 to the corresponding ferromagnetic portion M of the lower die 37. At this time, when at least a part of the connection electrode 26 is made of a magnetic material, in this example, when the connection electrode 26 has a surface portion 26B made of a magnetic material, the surface portion 26B is used as a magnet As a result, considerably larger lines of magnetic force are generated at positions above the connection electrodes 26 than at other positions. As a result, as shown in FIG. The conductive magnetic particles dispersed in the material layer 30A gather at a portion located between the ferromagnetic portion M of the upper die 36 and the connection electrode 26 of the adapter main body 10, and are further arranged in the thickness direction. Orientation.

【0054】然るに、このとき、エラストマー用材料層
30Aの表面側には間隙が存在するため、導電性磁性体
粒子の移動集合によって高分子物質用材料も同様に移動
する結果、接続用電極26上に位置する部分の高分子物
質用材料表面が隆起し、突出した状態となる。そして、
平行磁場を作用させたまま、あるいは平行磁場を除いた
後、エラストマー用材料層30Aに対して硬化処理を行
うことにより、図1に示すような、厚み方向に伸びる多
数の導電部31とこれらを相互に絶縁する絶縁部32と
よりなる異方導電性エラストマー層30が、当該導電部
31が接続用電極26上に配置された状態でアダプター
本体10の上面に一体的に形成される。
However, at this time, since there is a gap on the surface side of the elastomer material layer 30A, the polymer material is similarly moved by the moving and gathering of the conductive magnetic particles. The surface of the material for a polymer substance in the portion located at the position is raised and protruded. And
After the parallel magnetic field is applied or after the parallel magnetic field is removed, a curing process is performed on the elastomer material layer 30A to form a plurality of conductive portions 31 extending in the thickness direction as shown in FIG. An anisotropic conductive elastomer layer 30 composed of insulating portions 32 mutually insulated is integrally formed on the upper surface of the adapter main body 10 in a state where the conductive portions 31 are arranged on the connection electrodes 26.

【0055】以上において、エラストマー用材料層30
Aに作用される平行磁場の強度は、平均で200〜10
000ガウスとなる大きさが好ましい。また、エラスト
マー用材料層30Aの硬化処理は、使用される材料によ
って適宜選定されるが、通常、加熱処理によって行われ
る。加熱によりエラストマー用材料層30Aの硬化処理
を行う場合には、電磁石38,39にヒーターを設けれ
ばよい。具体的な加熱温度および加熱時間は、エラスト
マー用材料層30Aを構成する高分子物質用材料などの
種類、導電性磁性体粒子の移動に要する時間などを考慮
して適宜選定される。
In the above, the material layer for elastomer 30
The intensity of the parallel magnetic field applied to A is 200 to 10 on average.
A size of 000 gauss is preferred. The curing treatment of the elastomer material layer 30A is appropriately selected depending on the material to be used, but is usually performed by heat treatment. When the elastomer material layer 30A is cured by heating, the electromagnets 38 and 39 may be provided with heaters. The specific heating temperature and heating time are appropriately selected in consideration of the type of the material for the polymer substance constituting the elastomer material layer 30A, the time required for the movement of the conductive magnetic particles, and the like.

【0056】〔第2の方法〕この第2の方法において
は、硬化処理によって絶縁性の弾性高分子物質となる高
分子物質用材料中に導電性磁性体粒子が分散された流動
性の混合物よりなる導電部形成用材料を調製する。この
導電部形成用材料の粘度は、温度25℃において100
000〜1000000cpの範囲内であることが好ま
しい。一方、アダフター本体の上面に、硬化処理によっ
て絶縁性の弾性高分子物質となる高分子物質用材料を塗
布し、これを硬化処理することにより、図9(イ)に示
すように、アダフター本体10の上面上に絶縁部用シー
ト体32Aを一体的に形成する。次いで、絶縁部用シー
ト体32Aにおける接続用電極26上に位置する部分
に、例えばレーザーによる穴加工を施すことにより、図
9(ロ)に示すように、当該絶縁部用シート体32Aを
その厚み方向に貫通する導電部用孔31Hを形成する。
そして、絶縁部用シート体32Aに導電部形成用材料を
塗布することにより、図9(ハ)に示すように、絶縁部
用シート体32Aの導電部用孔31H内に導電部形成用
材料31Aを形成する。
[Second Method] In the second method, a fluid mixture in which conductive magnetic particles are dispersed in a polymer material which becomes an insulating elastic polymer by curing treatment is used. A conductive part forming material is prepared. The viscosity of the conductive part forming material is 100 at 25 ° C.
It is preferably in the range of 000 to 1,000,000 cp. On the other hand, a polymer material which becomes an insulating elastic polymer material by a curing process is applied to the upper surface of the adapter body, and the material is cured, as shown in FIG. Is integrally formed on the upper surface of the sheet. Next, a portion of the insulating portion sheet body 32A located on the connection electrode 26 is subjected to, for example, laser drilling, so that the insulating portion sheet body 32A has a thickness as shown in FIG. A conductive portion hole 31H penetrating in the direction is formed.
Then, by applying the conductive part forming material to the insulating part sheet 32A, as shown in FIG. 9C, the conductive part forming material 31A is formed in the conductive part hole 31H of the insulating part sheet 32A. To form

【0057】以上において、導電部形成用材料を塗布す
る手段としては、ロール塗布、ブレード塗布、スクリー
ン印刷などの印刷による手段などを用いることができ
る。また、導電部形成用材料層31Aの形成において
は、例えば1×10-3atm以下、好ましくは1×10
-4〜1×10-5atmに減圧された雰囲気下において、
絶縁部用シート体32Aに導電部形成用材料を塗布した
後、雰囲気圧を上昇させて例えば常圧にすることによ
り、導電部形成用材料層31Aを形成することが好まし
い。このような方法によれば、雰囲気圧を上昇させるこ
とにより、導電部用孔31H内の圧力との差により、導
電部形成用材料層31A中に気泡が生ずることを防止す
ることができる。
In the above, as a means for applying the material for forming the conductive portion, means by printing such as roll coating, blade coating, screen printing and the like can be used. In the formation of the conductive layer forming material layer 31A, for example, 1 × 10 −3 atm or less, preferably 1 × 10 −3 atm or less.
Under an atmosphere reduced to -4 to 1 × 10 -5 atm,
After applying the conductive part forming material to the insulating part sheet 32A, it is preferable to form the conductive part forming material layer 31A by increasing the atmospheric pressure to, for example, normal pressure. According to such a method, by increasing the atmospheric pressure, it is possible to prevent bubbles from being generated in the conductive portion forming material layer 31A due to a difference from the pressure in the conductive portion hole 31H.

【0058】次いで、図10に示すように、前述の上型
36と、下型37とを用い、上型36と下型37との間
に、絶縁部用シート体32Aおよび導電部形成用材料層
31Aが形成されたアダプター本体10を、その接続用
電極26が当該上型36の強磁性体部分Mと下型37の
強磁性体部分Mとの間に位置するよう配置し、更に、上
型36の上面および下型37の下面に一対の電磁石3
8,39を配置する。
Next, as shown in FIG. 10, the upper mold 36 and the lower mold 37 are used, and between the upper mold 36 and the lower mold 37, the insulating body sheet 32A and the material for forming the conductive part are formed. The adapter main body 10 on which the layer 31A is formed is arranged such that the connection electrode 26 is located between the ferromagnetic portion M of the upper die 36 and the ferromagnetic portion M of the lower die 37. A pair of electromagnets 3 are provided on the upper surface of the mold 36 and the lower surface of the lower mold 37.
8, 39 are arranged.

【0059】そして、電磁石38,39を作動させるこ
とにより、上型36の強磁性体部分Mからこれに対応す
る下型37の強磁性体部分Mに向かう方向に平行磁場を
作用させる。このとき、磁性体により構成された接続用
電極26の表層部分26Bが磁石として作用するため、
当該接続用電極26の上方位置には、それ以外の位置よ
り相当に大きい磁力線が集中して発生する結果、図11
に示すように、導電部形成用材料層31Aにおいては、
当該導電部形成用材料層31A中に分散されていた導電
性磁性体粒子が厚み方向に並ぶよう配向する。この状態
で、導電部形成用材料層31Aに対して例えば加熱によ
る硬化処理を行うことにより導電部が形成され、以て、
図1に示すような、厚み方向に伸びる多数の導電部31
とこれらを相互に絶縁する絶縁部32とよりなる異方導
電性エラストマー層30が、当該導電部31が接続用電
極26上に配置された状態でアダプター本体10の上面
に一体的に形成される。
By operating the electromagnets 38 and 39, a parallel magnetic field is applied in a direction from the ferromagnetic portion M of the upper die 36 to the corresponding ferromagnetic portion M of the lower die 37. At this time, since the surface portion 26B of the connection electrode 26 made of a magnetic material acts as a magnet,
As a result, magnetic field lines considerably larger than the other positions are concentrated at the position above the connection electrode 26, and as a result, FIG.
As shown in the figure, in the conductive part forming material layer 31A,
The conductive magnetic particles dispersed in the conductive portion forming material layer 31A are oriented so as to be arranged in the thickness direction. In this state, the conductive portion is formed by, for example, performing a curing process by heating the conductive portion forming material layer 31A.
Many conductive parts 31 extending in the thickness direction as shown in FIG.
And an insulating portion 32 that insulates them from each other, an anisotropic conductive elastomer layer 30 is integrally formed on the upper surface of the adapter body 10 with the conductive portion 31 disposed on the connection electrode 26. .

【0060】以上において、導電部形成用材料層31A
に作用される平行磁場の強度、導電部形成用材料層31
Aの硬化処理条件は、第1の方法におけるエラストマー
用材料層と同様である。
In the above, the conductive portion forming material layer 31A
Of the parallel magnetic field applied to the conductive layer, the conductive layer forming material layer 31
The curing treatment conditions for A are the same as those for the elastomer material layer in the first method.

【0061】以上のアダプター装置においては、以下に
説明するように、アダプター本体10において、局所的
に高密度に配置された接続用電極26を、広い領域に分
散された端子電極12に容易に電気的に接続することが
できる。例えばコネクター板11の一側から数えて1番
目の機能領域Aの上方に配置された或る接続用電極26
を、第2絶縁層30の短絡部27、第1絶縁層20の配
線部21および短絡部22によって、当該機能領域Aに
おける適宜の位置の副中継電極16に電気的に接続した
とする。この機能領域Aにおける副中継電極16は、そ
の他側に隣接する機能領域Bにおける中継電極15と共
通化電極を形成しているため、当該機能領域Bにおける
中継電極15に、機能領域Aの上方に配置された接続用
電極26が電気的に接続された状態となる。
In the above-described adapter device, as will be described below, in the adapter main body 10, the connection electrodes 26 arranged locally at high density are easily electrically connected to the terminal electrodes 12 dispersed over a wide area. Can be connected. For example, a certain connection electrode 26 arranged above the first functional area A counted from one side of the connector plate 11
Is electrically connected to the sub-relay electrode 16 at an appropriate position in the functional area A by the short-circuit portion 27 of the second insulating layer 30 and the wiring portion 21 and the short-circuit portion 22 of the first insulating layer 20. Since the sub-relay electrode 16 in the functional area A forms a common electrode with the relay electrode 15 in the functional area B adjacent to the other side, the sub-relay electrode 16 in the functional area B is provided above the functional area A. The placed connection electrodes 26 are electrically connected.

【0062】また、コネクター板11の一側から数えて
2番目の機能領域Bの上方に配置された或る接続用電極
26を、第2絶縁層30の短絡部27、第1絶縁層20
の配線部21および短絡部22によって、当該機能領域
Bにおける適宜の位置の副中継電極16に電気的に接続
したとする。この機能領域Bにおける副中継電極16
は、その他側に隣接する機能領域Cにおける中継電極1
5と共通化電極を形成しているため、当該機能領域Cに
おける中継電極15に、機能領域Bの上方に配置された
接続用電極26が電気的に接続された状態となる。
Further, a certain connection electrode 26 disposed above the second functional area B counted from one side of the connector plate 11 is connected to the short-circuit portion 27 of the second insulating layer 30 and the first insulating layer 20.
It is assumed that the wiring section 21 and the short-circuit section 22 electrically connect to the sub-relay electrode 16 at an appropriate position in the functional area B. The sub relay electrode 16 in this functional area B
Is the relay electrode 1 in the functional area C adjacent to the other side.
5, the connection electrode 26 disposed above the functional area B is electrically connected to the relay electrode 15 in the functional area C.

【0063】以上のように、或る接続用電極26が、こ
れに接近した位置の機能領域における副中継電極16に
対して電気的に接続されることにより、これと同時に当
該接続用電極26から離間した位置の機能領域における
中継電極15にも電気的に接続された状態が達成され
る。
As described above, a certain connection electrode 26 is electrically connected to the sub-relay electrode 16 in the functional area at a position close to the connection electrode 26, and at the same time, the connection electrode 26 A state where the relay electrode 15 is electrically connected to the functional region at the separated position is achieved.

【0064】このようなアダプター装置によれば、その
アダプター本体10の製造において、接続用電極26
を、これに接近した位置の機能領域における副中継電極
16に電気的に接続することにより、当該接続用電極2
6にそれから離間した位置の機能領域における中継電極
15にも電気的に接続した状態が達成されるので、被検
査基板が局所的に高密度に配置された被検査電極を有す
るものであっても、当該被検査電極に対応したパターン
すなわち局所的に高密度に配置された接続用電極26
を、広い領域に分散された状態で配置された端子電極1
2に容易に電気的に接続することができる。
According to such an adapter device, in the manufacture of the adapter body 10, the connection electrode 26
Is electrically connected to the sub-relay electrode 16 in the functional area at a position close to this, so that the connection electrode 2
6 is electrically connected to the relay electrode 15 in the functional region at a position separated therefrom, so that even if the substrate to be inspected has electrodes to be inspected locally densely arranged. A pattern corresponding to the electrode to be inspected, that is, the connection electrodes 26 locally densely arranged.
, Terminal electrodes 1 arranged in a state of being dispersed in a wide area
2 can be easily electrically connected.

【0065】また、接続用電極26を、これに接近した
位置の中継電極15または副中継電極16に電気的に接
続すればよいため、コネクター板11上に形成される絶
縁層の数を少なくすることができ、しかも、コネクター
板11は、異なるパターンの接続用電極を有するアダプ
ター本体についても同様の構成のものを使用することが
できるために量産化が可能である。従って、小さいコス
トでアダプター装置を製造することができる。
Further, since the connection electrode 26 may be electrically connected to the relay electrode 15 or the sub-relay electrode 16 at a position close to the connection electrode 26, the number of insulating layers formed on the connector plate 11 is reduced. In addition, the connector plate 11 can be mass-produced because the same configuration can be used for an adapter body having connection electrodes of different patterns. Therefore, the adapter device can be manufactured at low cost.

【0066】また、図示の例のように、副中継電極16
を有する機能領域A,B,Cが連続して形成されること
により、接続用電極26が、互いに離間した複数の個所
例えば機能領域Aの直上の個所および機能領域Bの直上
の個所において高密度に配置される場合でも、これらの
複数の個所の各々における接続用電極26を、広い領域
に分散された状態で配置された端子電極12に容易に電
気的に接続することができる。
Further, as shown in the illustrated example, the auxiliary relay electrode 16
Are formed continuously, the connection electrode 26 has a high density at a plurality of locations separated from each other, for example, a location immediately above the functional area A and a location immediately above the functional area B. In this case, the connection electrodes 26 at each of the plurality of locations can be easily electrically connected to the terminal electrodes 12 arranged in a state of being distributed over a wide area.

【0067】また、アダプター本体10の上面に異方導
電性エラストマー層30が一体的に形成されており、し
かもアダプター本体10の接続用電極26上に異方導電
性エラストマー層30の導電部31が配置されているた
め、電気的接続作業時に異方導電性エラストマー層30
の位置合わせおよび保持固定を行うことが全く不要であ
り、従って検検査回路装置の被検査電極の配置ピッチが
微小である場合にも、所要の電気的接続を確実に達成す
ることができる。
Further, an anisotropic conductive elastomer layer 30 is integrally formed on the upper surface of the adapter body 10, and the conductive portion 31 of the anisotropic conductive elastomer layer 30 is formed on the connection electrode 26 of the adapter body 10. Because of this arrangement, the anisotropic conductive elastomer layer 30
It is completely unnecessary to perform the alignment and the holding and fixing of the electrodes, so that even when the arrangement pitch of the electrodes to be inspected in the inspection and inspection circuit device is minute, the required electrical connection can be reliably achieved.

【0068】更に、異方導電性エラストマー層40はア
ダプター本体10と一体であるため、温度変化による熱
履歴などの環境の変化に対しても、良好な電気的接続状
態が安定に維持され、従って常に高い接続信頼性を得る
ことができる。
Furthermore, since the anisotropic conductive elastomer layer 40 is integral with the adapter body 10, a good electrical connection state can be stably maintained even with environmental changes such as heat history due to temperature changes. High connection reliability can always be obtained.

【0069】また、アダプター本体10における接続用
電極26の表層部分26Bが磁性体により構成されてい
ることにより、当該アダプター本体10の上面に異方導
電性エラストマー層30を形成する際に、厚み方向に平
行磁場を作用させたときには、磁性体により構成された
接続用電極26の表層部分26Bが磁石として作用する
ため、当該接続用電極26の上方位置には、それ以外の
位置より相当に大きい磁力線が集中して発生する。これ
により、接続用電極26の配置ピッチが極めて小さいも
のであっても、当該接続用電極26の上方位置に導電性
粒子が集合し、更に厚み方向に配向するので、接続用電
極26上に配置され、かつ互いに絶縁部32によって絶
縁された複数の導電部31を有する所期の異方導電性エ
ラストマー層30を形成することができる。従って、被
検査回路基板の被検査電極が、その配置ピッチが微小で
あり、かつ微細で高密度の複雑なパターンのものである
場合にも、当該回路基板について所要の電気的接続を確
実に達成することができる。
Further, since the surface portion 26B of the connection electrode 26 in the adapter body 10 is made of a magnetic material, the thickness direction in forming the anisotropic conductive elastomer layer 30 on the upper surface of the adapter body 10 is reduced. When a parallel magnetic field acts on the surface of the connection electrode 26 made of a magnetic material, the surface layer portion 26B acts as a magnet. Occurs in a concentrated manner. Accordingly, even if the arrangement pitch of the connection electrodes 26 is extremely small, the conductive particles gather at positions above the connection electrodes 26 and are further oriented in the thickness direction. Thus, the desired anisotropic conductive elastomer layer 30 having the plurality of conductive portions 31 insulated from each other by the insulating portions 32 can be formed. Therefore, even when the electrodes to be inspected of the circuit board to be inspected have a minute arrangement pitch and a fine and high-density complicated pattern, the required electrical connection for the circuit board is reliably achieved. can do.

【0070】以上のアダプター装置は、アダプター本体
10におけるコネクター板11の上面の領域が4分割さ
れて4つの機能領域が形成された例であるが、本発明に
おいて、コネクター板の上面に形成される機能領域の数
は4つに限定されず、2つ若しくは3つまたは5つ以上
であってもよい。また、コネクター板の上面の分割され
る方向は同一の方向のみに限定されず、例えばコネクタ
ー板の上面が縦方向およびこれと垂直な横方向の各々に
おいて分割されて複数の機能領域が形成されていてもよ
い。
The above-described adapter device is an example in which the region on the upper surface of the connector plate 11 in the adapter body 10 is divided into four to form four functional regions. In the present invention, the functional device is formed on the upper surface of the connector plate. The number of functional regions is not limited to four, but may be two, three, or five or more. The direction in which the upper surface of the connector plate is divided is not limited to the same direction. For example, the upper surface of the connector plate is divided in the vertical direction and the horizontal direction perpendicular thereto, so that a plurality of functional regions are formed. You may.

【0071】図12は、コネクター板の他の例における
中継電極および副中継電極の配置状態並びに機能領域を
示す説明図である。このコネクター板11の上面には、
当該上面の領域が一点鎖線で示すように縦方向(図12
で上下方向)において4分割されると共に横方向(図1
2で左右方向)において2分割されて互いに等しい矩形
の合計8つの機能領域A1,B1,C1,D1,A2,
B2,C2,D2が、一側(図12で左側)から他側に
向かって2列に並ぶよう形成されている。
FIG. 12 is an explanatory view showing the arrangement of the relay electrodes and the sub-relay electrodes and the functional areas in another example of the connector plate. On the upper surface of this connector plate 11,
The area on the upper surface is in the vertical direction as shown by a dashed line (FIG. 12).
1 in the up-down direction and the horizontal direction (FIG. 1).
2 in the left-right direction) and a total of eight functional areas A1, B1, C1, D1, A2,
B2, C2, and D2 are formed in two rows from one side (the left side in FIG. 12) to the other side.

【0072】機能領域A1〜D1,A2〜D2の各々に
は、互いに対応する複数の中継電極(図12において
「○」で示す)15が、縦j行、横k列で並ぶ格子点位
置に従って配置されている。図12においては、各機能
領域における中継電極15の各々を特定するために、機
能領域A1〜D1,A2〜D2の各々における第j行第
k列の位置にある中継電極15が「(j,k)」の記号
で表示され、さらに機能領域までを特定するために、記
号「(j,k)」の先頭に機能領域を示す記号A1〜D
1,A2〜D2が付されている。また、この例のコネク
ター板11においては、例えは中継電極の15の総数が
下面に形成された端子電極(図示省略)の総数の2倍と
され、中継電極15の密度が端子電極の密度の2倍とさ
れている。そして、縦方向に互いに隣接する機能領域
間、すなわち、機能領域A1および機能領域A2間、機
能領域B1および機能領域B2間、機能領域C1および
機能領域C2間並びに機能領域D1および機能領域D2
間の各々において、それぞれ対応する中継電極15同士
が電気的に接続されて共通化電極が形成されている。具
体的には、例えば中継電極A1(i,j)と中継電極A
2(i,j)とが電気的に接続されてこれらの中継電極
の組よりなる共通化電極が形成されている。この2つの
中継電極15の組よりなる共通化電極は、一つの端子電
極に電気的に接続されている。
In each of the functional areas A1 to D1 and A2 to D2, a plurality of relay electrodes (indicated by “○” in FIG. 12) 15 corresponding to each other are arranged in accordance with grid point positions arranged in vertical j rows and horizontal k columns. Are located. In FIG. 12, in order to specify each of the relay electrodes 15 in each functional area, the relay electrode 15 at the position of the j-th row and the k-th column in each of the functional areas A1 to D1 and A2 to D2 is set to “(j, k)), and in order to further specify the functional area, symbols A1 to D indicating the functional area at the beginning of the symbol “(j, k)”
1, A2 to D2 are attached. In the connector plate 11 of this example, for example, the total number of the relay electrodes 15 is twice the total number of the terminal electrodes (not shown) formed on the lower surface, and the density of the relay electrodes 15 is smaller than the density of the terminal electrodes. It is doubled. Then, between the functional areas adjacent to each other in the vertical direction, that is, between the functional areas A1 and A2, between the functional areas B1 and B2, between the functional areas C1 and C2, and between the functional areas D1 and D2.
In each of the spaces, the corresponding relay electrodes 15 are electrically connected to each other to form a common electrode. Specifically, for example, the relay electrode A1 (i, j) and the relay electrode A
2 (i, j) are electrically connected to form a common electrode composed of a set of these relay electrodes. The common electrode composed of the pair of two relay electrodes 15 is electrically connected to one terminal electrode.

【0073】8つの機能領域のうち、1列目(図12に
おいて上の列)の一側(図12において左側)から数え
て1番目、2番目および3番目の機能領域A1,B1,
C1および2列目の一側(図12において左側)から数
えて1番目、2番目および3番目の機能領域A2,B
2,C2には、中継電極15と同数の副中継電極(図1
2において「●」で示す)16が、格子点位置に従って
かつ中継電極15の各々と互いに等間隔となる状態で配
置されている。そして、機能領域A1,B1,C1,A
2,B2,C2の各々における副中継電極16は、当該
機能領域の他側に隣接する他の機能領域B1,C1,D
1,B2,C2,D2における対応する中継電極15に
電気的に接続され、これにより、或る機能領域における
副中継電極16と、隣接する他の機能領域における中継
電極15との組よりなる共通化電極が形成されている。
Of the eight functional areas, the first, second and third functional areas A1, B1, and B1, counting from one side (the left side in FIG. 12) of the first row (the upper row in FIG. 12).
C1, and the first, second, and third functional areas A2, B counted from one side (the left side in FIG. 12) of the second column
2 and C2, the same number of sub-relay electrodes as the relay electrode 15 (FIG. 1)
2 (indicated by “●”) are arranged in accordance with the lattice point positions and at equal intervals from each of the relay electrodes 15. Then, the functional areas A1, B1, C1, A
2, B2, and C2 are connected to the other functional regions B1, C1, and D adjacent to the other side of the functional region.
1, B2, C2, and D2, which are electrically connected to the corresponding relay electrodes 15 so that a common set of a sub-relay electrode 16 in one functional area and a relay electrode 15 in another adjacent functional area is formed. Electrode is formed.

【0074】以上のコネクター板11を有するアダプタ
ー本体においては、例えばコネクター板11の1列目の
一側から数えて1番目の機能領域A1の上方に配置され
た或る接続用電極を、当該機能領域A1における適宜の
位置の副中継電極16に電気的に接続することにより、
この機能領域A1における副中継電極16は、その他側
に隣接する機能領域B1における中継電極15と共通化
電極を形成しているため、当該機能領域B1における中
継電極15に、機能領域A1の上方に配置された接続用
電極が電気的に接続された状態となる。
In the adapter body having the connector plate 11 described above, for example, a certain connection electrode arranged above the first functional area A1 counted from one side of the first row of the connector plate 11 is connected to the corresponding function. By electrically connecting to the sub relay electrode 16 at an appropriate position in the region A1,
Since the sub-relay electrode 16 in the functional area A1 forms a common electrode with the relay electrode 15 in the functional area B1 adjacent to the other side, the sub-relay electrode 16 is provided on the relay electrode 15 in the functional area B1 above the functional area A1. The placed connection electrodes are electrically connected.

【0075】また、コネクター板11の2列目の一側か
ら数えて1番目の機能領域A2の上方に配置された或る
接続用電極を、当該機能領域A2における適宜の位置の
副中継電極16に電気的に接続することにより、この機
能領域A2における副中継電極16は、その他側に隣接
する機能領域B2における中継電極15と共通化電極を
形成しているため、当該機能領域B2における中継電極
15に、機能領域A1の上方に配置された接続用電極が
電気的に接続された状態となる。
Further, a certain connection electrode arranged above the first functional area A2 counted from one side of the second row of the connector plate 11 is connected to the sub relay electrode 16 at an appropriate position in the functional area A2. The sub-relay electrode 16 in the functional area A2 forms a common electrode with the relay electrode 15 in the functional area B2 adjacent to the other side by electrically connecting to the relay electrode in the functional area B2. In FIG. 15, the connection electrode disposed above the functional area A1 is in a state of being electrically connected.

【0076】このようなアダプター本体を有するアダプ
ター装置によれば、図1に示すアダプター装置と同様
に、複数の個所に被検査基板が局所的に高密度に配置さ
れた被検査電極を有するものであっても、当該被検査電
極に対応したパターンすなわち局所的に高密度に配置さ
れた接続用電極を、広い領域に分散された状態で配置さ
れた端子電極に容易に電気的に接続することができると
共に、当該アダプター装置を小さいコストで製造するこ
とができる。
According to the adapter device having such an adapter main body, similarly to the adapter device shown in FIG. 1, the electrodes to be inspected have the substrates to be inspected arranged at a plurality of locations locally at high density. Even so, it is possible to easily electrically connect the pattern corresponding to the electrode to be inspected, that is, the connection electrodes locally arranged at high density to the terminal electrodes arranged in a state of being dispersed in a wide area. In addition, the adapter device can be manufactured at low cost.

【0077】〈回路基板の検査装置〉図13は、本発明
に係る回路基板の検査装置の一例における構成を示す説
明図である。図13において、1は検査すべき被検査回
路基板であって、その両面に被検査電極2,3が形成さ
れている。そして、この被検査回路基板1の下方には、
図1に示すような構成の下部側アダプター装置40a、
第1の異方導電性シート41a、下部側仲介ピン装置4
5aおよび下部側検査ヘッド50aが上からこの順で配
置され、被検査回路基板1の上方には、図1に示すよう
な構成の上部側アダプター装置40b、第1の異方導電
性シート41b、上部側仲介ピン装置45bおよび上部
側検査ヘッド50bが下からこの順で配置されている。
ここで、第1の異方導電性シート41a,41bは、い
ずれもその厚み方向にのみ導電路を形成する導電路形成
部が形成されてなるものである。このような第1の異方
導電性シート41a,41bとしては、各導電路形成部
が少なくとも一面において厚み方向に突出するよう形成
されているものが、高い電気的な接触安定性を発揮する
点で好ましい。
<Circuit Board Inspection Apparatus> FIG. 13 is an explanatory view showing the structure of an example of the circuit board inspection apparatus according to the present invention. In FIG. 13, reference numeral 1 denotes a circuit board to be inspected, and electrodes 2 and 3 to be inspected are formed on both surfaces thereof. Then, below the circuit board 1 to be inspected,
A lower-side adapter device 40a having a configuration as shown in FIG.
First anisotropic conductive sheet 41a, lower intermediate pin device 4
5a and a lower inspection head 50a are arranged in this order from the top, and an upper adapter device 40b, a first anisotropic conductive sheet 41b having a configuration as shown in FIG. The upper mediating pin device 45b and the upper inspection head 50b are arranged in this order from below.
Here, each of the first anisotropic conductive sheets 41a and 41b has a conductive path forming portion that forms a conductive path only in the thickness direction thereof. As such first anisotropic conductive sheets 41a and 41b, those in which each conductive path forming portion is formed so as to protrude in at least one surface in the thickness direction exhibit high electrical contact stability. Is preferred.

【0078】下部側仲介ピン装置45aは、多数の導電
ピン46aと、これら多数の導電ピン46aの各々を、
アダプター装置40aの端子電極12に対応する格子点
位置に配列された状態で上下方向に伸びるよう支持する
ための導電ピン支持機構47aとにより構成されてい
る。導電ピン支持機構47aにおいては、各導電ピン4
6aをその下側の基端部分において挿通支持する水平な
基端側支持板48aが設けられ、この基端側支持板48
aの上方には、各導電ピン46aをその中央部分におい
て挿通支持する水平な中央支持板49aが設けられてい
る。
The lower intermediate pin device 45a is configured to connect a number of conductive pins 46a and each of the plurality of conductive pins 46a to each other.
A conductive pin support mechanism 47a for supporting the adapter device 40a so as to extend in the up-down direction while being arranged at lattice points corresponding to the terminal electrodes 12 of the adapter device 40a. In the conductive pin support mechanism 47a, each conductive pin 4
A horizontal base-side support plate 48a for inserting and supporting the base 6a at a lower base portion thereof is provided.
Above a, a horizontal center support plate 49a that inserts and supports each conductive pin 46a at the center thereof is provided.

【0079】下部側検査ヘッド50aは、多層配線板よ
りなる検査電極板装置51aと、この検査電極板装置5
1aの上面に配置された弾性を有する第2の異方導電性
シート55aとにより構成されており、検査電極板装置
51aの上面には、アダプター装置40aの端子電極1
2と同一の配置ピッチの格子点位置に複数の検査電極5
2aが形成されている。第2の異方導電性シート55a
は、その厚み方向にのみ導電路を形成する導電路形成部
が形成されてなるものであり、第1の異方導電性シート
41aと同様に、導電路形成部が少なくともその一面に
おいて厚み方向に突出するよう形成されていることが好
ましい。
The lower inspection head 50a includes an inspection electrode plate device 51a composed of a multilayer wiring board and the inspection electrode plate device 5a.
And a second anisotropic conductive sheet 55a having elasticity disposed on the upper surface of the test electrode plate device 51a.
2 and a plurality of test electrodes 5 at grid point positions having the same arrangement pitch
2a is formed. Second anisotropic conductive sheet 55a
Is formed with a conductive path forming portion that forms a conductive path only in the thickness direction thereof. Like the first anisotropic conductive sheet 41a, the conductive path forming portion is formed in at least one surface thereof in the thickness direction. Preferably, it is formed so as to protrude.

【0080】検査電極板装置51aにおいては、図14
に示すように、検査電極52aが形成された上面の領域
が例えば縦方向および横方向の各々において2分割され
て互いに同一の検査電極配置を有する4つの機能領域
F,G,H,Iが形成されており、機能領域F,G,
H,Iの各々においては、互いに対応する複数の検査電
極52aが、縦m行、横n列で並ぶ格子点位置に従って
配置されている。ここで、機能領域F,G,H,Iの各
々において、縦m行、横n列で並ぶ検査電極52aの特
定の位置にあるものを特定するために、第m行第n列の
位置にある検査電極52aの番地表示を(m,n)と
し、さらに機能領域までを特定する場合には、当該番地
表示の先頭に機能領域を示す記号F,G,H,Iを付し
て表わすこととする。例えば、機能領域Fにおける第1
行第1列にある検査電極52aはF(1,1)で表わさ
れる。
In the inspection electrode plate device 51a, FIG.
As shown in FIG. 5, the region on the upper surface where the test electrode 52a is formed is divided into, for example, two in the vertical direction and the horizontal direction to form four functional regions F, G, H, and I having the same test electrode arrangement. And the functional areas F, G,
In each of H and I, a plurality of inspection electrodes 52a corresponding to each other are arranged according to lattice point positions arranged in m rows and n columns. Here, in each of the functional regions F, G, H, and I, in order to specify a specific position of the inspection electrode 52a arranged in m rows and n columns, the position of the mth row and nth column is determined. When the address display of a certain inspection electrode 52a is (m, n), and when the function area is further specified, the address display is indicated with symbols F, G, H, and I indicating the functional area. And For example, the first in the functional area F
The inspection electrode 52a in the first row is represented by F (1,1).

【0081】そして、機能領域F,G,H,Iの各々に
おける対応関係にある検査電極52aは互いに電気的に
接続されて共通化電極が形成されている。すなわち、同
一の番地表示(m,n)を有する検査電極52aは機能
領域F,G,H,Iの各々にあって合計4つ存在する
が、これら同一の番地表示を有する4つの検査電極52
aを互いに電気的に接続させるのである。従って、図示
の例では、或る共通化電極は、電気的に接続されている
4つの分岐された端子としての検査電極F(m,n)、
G(m,n)、H(m,n)およびG(m,n)よりな
るものとなる。
The inspection electrodes 52a corresponding to each other in the functional regions F, G, H, and I are electrically connected to each other to form a common electrode. That is, there are a total of four test electrodes 52a having the same address indication (m, n) in each of the functional areas F, G, H, and I. However, four test electrodes 52 having the same address indication are provided.
a are electrically connected to each other. Therefore, in the illustrated example, one common electrode is a test electrode F (m, n) as four branched terminals that are electrically connected,
G (m, n), H (m, n) and G (m, n).

【0082】以上の同一の番地表示(m,n)を有する
検査電極52aは、当該検査電極板装置50aを構成す
る多層配線板に形成された適宜のパターンの配線路53
a(破線で示す)によって互いに電気的に接続されてい
る。また、配線路53aの端部によって、検査電極板装
置50aの下面における一側(図13で左側)に、外部
引出し端子部54aが形成されており、この外部引出し
端子部54aは、着脱自在に接続されたコネクター56
aにより、テスターの検査回路60に電気的に接続され
ている。
The inspection electrodes 52a having the same address indication (m, n) are connected to the wiring paths 53 of an appropriate pattern formed on the multilayer wiring board constituting the inspection electrode plate device 50a.
a (shown by broken lines). Further, an external lead terminal 54a is formed on one side (left side in FIG. 13) of the lower surface of the inspection electrode plate device 50a by an end of the wiring path 53a, and the external lead terminal 54a is detachably attached. Connected connector 56
By a, it is electrically connected to the test circuit 60 of the tester.

【0083】上部側仲介ピン装置45bは、多数の導電
ピン46bと、これら多数の導電ピン46bの各々を、
アダプター装置40bの端子電極12に対応する格子点
位置に配列された状態で上下方向に伸びるよう支持する
ための導電ピン支持機構47bとにより構成され、導電
ピン支持機構47bは、各導電ピン46bをその上側の
基端部分において挿通支持する水平な基端側支持板48
bと、各導電ピン46bをその中央部分において挿通支
持する水平な中央支持板49bとにより構成されてい
る。これらは、下部側仲介ピン装置45aにおける導電
ピン46aおよび導電ピン支持機構47aに対応するも
のである。
The upper mediating pin device 45b includes a plurality of conductive pins 46b and each of the plurality of conductive pins 46b.
A conductive pin support mechanism 47b for supporting the adapter device 40b so as to extend vertically in a state where the conductive pins are arranged at grid points corresponding to the terminal electrodes 12 of the adapter device 40b. A horizontal proximal support plate 48 that is inserted and supported at the upper proximal portion thereof.
b and a horizontal center support plate 49b for inserting and supporting each conductive pin 46b at the center thereof. These correspond to the conductive pin 46a and the conductive pin support mechanism 47a in the lower intermediate pin device 45a.

【0084】上部側検査ヘッド50bは、下面にアダプ
ター装置41bの端子電極12と同一の配置ピッチの格
子点位置に形成された複数の検査電極52aを有する、
多層配線板よりなる検査電極板装置51bと、この検査
電極板装置51bの下面に配置された弾性を有する第2
の異方導電性シート55bとにより構成されている。こ
れらは、下部側検査ヘッド50aにおける検査電極板装
置51aおよび第2の異方導電性シート55aに対応す
るものである。すなわち、検査電極板装置51bにおい
ては、検査電極52bが形成された下面の領域が分割さ
れて互いに同一の検査電極配置を有する複数の機能領域
が形成されており、これらの機能領域の各々における対
応位置にある検査電極52bは、適宜のパターンの配線
路53b(破線で示す)によって互いに電気的に接続さ
れて共通化電極が形成されている。また、配線路53b
の端部によって、検査電極板装置50bの上面における
一側に、外部引出し端子部54bが形成されており、こ
の外部引出し端子部54bは、着脱自在に接続されたコ
ネクター56bにより、テスターの検査回路60に電気
的に接続されている。
The upper inspection head 50b has a plurality of inspection electrodes 52a formed on the lower surface at lattice points having the same arrangement pitch as the terminal electrodes 12 of the adapter device 41b.
An inspection electrode plate device 51b made of a multilayer wiring board, and a second elastic electrode disposed on the lower surface of the inspection electrode plate device 51b.
And an anisotropic conductive sheet 55b. These correspond to the inspection electrode plate device 51a and the second anisotropic conductive sheet 55a in the lower inspection head 50a. That is, in the test electrode plate device 51b, a plurality of functional regions having the same test electrode arrangement are formed by dividing the lower surface region where the test electrodes 52b are formed. The inspection electrodes 52b at the positions are electrically connected to each other by wiring paths 53b (shown by broken lines) of an appropriate pattern to form a common electrode. Also, the wiring path 53b
An external lead-out terminal 54b is formed on one side of the upper surface of the test electrode plate device 50b by the end of the test electrode plate device 50b. 60 is electrically connected.

【0085】このような回路基板の検査装置において
は、検査すべき被検査回路基板1が適宜の手段によっ
て、下部側アダプター装置40aと上部側アダプター装
置40bとの間に配置される。そして、押圧板65によ
って下部側検査ヘッド50aの検査電極板装置51aが
上方に押圧されることにより、下部側アダプター装置4
0a、第1の異方導電性シート41a、下部側仲介ピン
装置45aおよび下部側検査ヘッド50aの全体が上昇
し、これにより、被検査回路基板1が下部側アダプター
装置40aと上部側アダプター装置40bとによって挟
圧される。
In such a circuit board inspection apparatus, the circuit board 1 to be inspected is disposed between the lower adapter device 40a and the upper adapter device 40b by appropriate means. When the test electrode plate device 51a of the lower test head 50a is pressed upward by the pressing plate 65, the lower adapter device 4 is pressed.
0a, the first anisotropic conductive sheet 41a, the lower intermediary pin device 45a, and the lower inspection head 50a as a whole rise, whereby the circuit board 1 to be inspected is moved to the lower adapter device 40a and the upper adapter device 40b. And it is pinched.

【0086】この状態においては、被検査回路基板1の
下面における被検査電極2は、下部側アダプター装置4
0aの接続用電極26に、当該異方導電性エラストマー
層の導電部31を介して電気的に接続され、この下部側
アダプター装置40aの端子電極12は、第1の異方導
電性シート41aを介して、下部側仲介ピン装置45a
における導電ピン46aの先端に電気的に接続され、こ
の導電ピン46aの基端は、第2の異方導電性シート5
5aを介して、検査電極板装置51aの検査電極52a
に電気的に接続されている。一方、被検査回路基板1の
上面における被検査電極3は、上部側アダプター装置4
0bの接続用電極26に、当該異方導電性エラストマー
層の導電部31を介して電気的に接続され、この下部側
アダプター装置40bの端子電極12は、第1の異方導
電性シート41bを介して、上部側仲介ピン装置45b
における導電ピン46bの先端に電気的に接続され、こ
の導電ピン46bの基端は、第2の異方導電性シート5
5bを介して、検査電極板装置51bの検査電極52b
に電気的に接続されている。
In this state, the electrode 2 to be inspected on the lower surface of the circuit board 1 to be inspected is
0a is electrically connected to the connection electrode 26a via the conductive portion 31 of the anisotropic conductive elastomer layer. The terminal electrode 12 of the lower adapter device 40a is connected to the first anisotropic conductive sheet 41a. Via the lower intermediate pin device 45a
Is electrically connected to the distal end of the conductive pin 46a, and the proximal end of the conductive pin 46a is connected to the second anisotropic conductive sheet 5
5a, the inspection electrode 52a of the inspection electrode plate device 51a
Is electrically connected to On the other hand, the electrode 3 to be inspected on the upper surface of the circuit board 1 to be inspected is
0b is electrically connected to the connection electrode 26 via the conductive portion 31 of the anisotropic conductive elastomer layer. The terminal electrode 12 of the lower adapter device 40b is connected to the first anisotropic conductive sheet 41b. Through the upper intermediate pin device 45b
Is electrically connected to the distal end of the conductive pin 46b, and the proximal end of the conductive pin 46b is connected to the second anisotropic conductive sheet 5.
5b, the test electrode 52b of the test electrode plate device 51b
Is electrically connected to

【0087】このようにして、被検査回路基板1の下面
および上面の両方の被検査電極2,3の各々が、下部側
検査ヘッド50aにおける検査電極板装置51aの検査
電極52aおよび上部側検査ヘッド50bにおける検査
電極板装置51bの検査電極52bと電気的に接続され
ることにより、テスターの検査回路60に電気的に接続
された状態が達成され、この状態で所要の電気的検査が
行われる。
In this manner, each of the electrodes 2 and 3 on the lower and upper surfaces of the circuit board 1 to be inspected is connected to the inspection electrode 52a and the upper inspection head of the inspection electrode plate device 51a in the lower inspection head 50a. By being electrically connected to the test electrode 52b of the test electrode plate device 51b at 50b, a state of being electrically connected to the test circuit 60 of the tester is achieved, and a required electrical test is performed in this state.

【0088】上記の回路基板の検査装置によれば、本発
明に係る下部側アダプター装置40aおよび上部側アダ
プター装置40bを有するため、被検査回路基板1の被
検査電極2,3が高密度で配置されてなるものであって
も、当該被検査回路基板1の電気的検査を小さいコスト
で実行することができる。また、電気的接続作業時に異
方導電性エラストマー層30の位置合わせおよび保持固
定を行うことが全く不要であり、従って検検査回路装置
の被検査電極の配置ピッチが微小である場合にも、所要
の電気的接続を確実に達成することができる。更に、温
度変化による熱履歴などの環境の変化に対しても、良好
な電気的接続状態が安定に維持され、従って常に高い接
続信頼性を得ることができる。
According to the circuit board inspection device described above, since the lower adapter device 40a and the upper adapter device 40b according to the present invention are provided, the electrodes 2 and 3 of the circuit board 1 to be inspected are arranged at a high density. However, the electrical inspection of the circuit board under test 1 can be performed at low cost. Further, it is not necessary to perform positioning and holding and fixing of the anisotropic conductive elastomer layer 30 at the time of the electrical connection operation. Can be reliably achieved. Further, even in a change in environment such as a heat history due to a temperature change, a good electrical connection state is stably maintained, and therefore, high connection reliability can always be obtained.

【0089】また、下部側検査ヘッド50aおよび上部
側検査ヘッド50bの検査電極板装置51a,51bに
おいて、その複数の機能領域において同一の配置状態で
検査電極52a,52bが形成されていると共に、各機
能領域における対応する位置にある検査電極52a,5
2bが配線路53a,53bによって互いに電気的に接
続されて共通化電極とされているため、被検査回路基板
1における或る被検査電極2,3と導通する検査電極5
2a,52bが各機能領域のいずれにも存在する。従っ
て、被検査回路基板1における被検査電極2,3とテス
ターの検査回路60との電気的接続を大きな自由度で行
うことができると共に、テスターの検査回路60に接続
すべき端子数は、共通化電極の数でよいから、検査電極
52a,52bの総数に比して大幅に減少する。その結
果、被検査回路基板1上の被検査電極2,3が特定の個
所に非常に高密度化された状態に形成されたものであっ
ても、当該個所とは離隔した機能領域の共通化電極を利
用して、すなわち、いわば当該共通化電極によって分散
された位置の検査電極52a,52bを利用することに
より、所要の電気的な接続を容易に達成することができ
ると共に、高い信頼性の検査を実行することができる。
In the inspection electrode plate devices 51a and 51b of the lower inspection head 50a and the upper inspection head 50b, the inspection electrodes 52a and 52b are formed in the same arrangement state in a plurality of functional areas. Inspection electrodes 52a, 5 at corresponding positions in the functional area
2b is electrically connected to each other by the wiring paths 53a and 53b to form a common electrode, so that the test electrode 5 electrically connected to certain test electrodes 2 and 3 on the circuit board 1 to be tested.
2a and 52b are present in each of the functional areas. Therefore, the electrodes 2 and 3 to be inspected on the circuit board 1 to be inspected can be electrically connected to the test circuit 60 of the tester with a large degree of freedom, and the number of terminals to be connected to the test circuit 60 of the tester is common. Since the number of test electrodes 52 may be sufficient, the number of test electrodes 52a and 52b is greatly reduced. As a result, even if the electrodes 2 and 3 to be inspected on the circuit board 1 to be inspected are formed in a highly densified state at a specific location, a common functional region separated from the location is shared. By using the electrodes, that is, by using the inspection electrodes 52a and 52b at positions dispersed by the common electrode, necessary electrical connection can be easily achieved, and high reliability can be achieved. An inspection can be performed.

【0090】また、検査電極板装置51a,51bにお
いて、各機能領域における検査電極52a,52bを共
通化電極とすることにより、検査電極板装置51a,5
1b全体の検査電極52a,52bの利用効率が高くな
るため、無駄な検査電極が大幅に減少し、極めて高い効
率で検査を実施することができる。
In the inspection electrode plate devices 51a and 51b, the inspection electrodes 52a and 52b in each functional area are used as common electrodes, so that the inspection electrode plate devices 51a and 51b are used.
Since the utilization efficiency of the inspection electrodes 52a and 52b of the entire 1b is increased, unnecessary inspection electrodes are significantly reduced, and the inspection can be performed with extremely high efficiency.

【0091】以上、本発明のアダプター装置およびこれ
を具えた回路基板の検査装置について説明したが、本発
明のアダプター装置は、回路基板の検査用のものに限定
されず、種々の用途に使用することができる。
The adapter device of the present invention and the inspection device for a circuit board provided with the adapter device have been described above. However, the adapter device of the present invention is not limited to an inspection device for a circuit board, but may be used for various purposes. be able to.

【0092】[0092]

【発明の効果】本発明のアダプター装置によれば、接続
すべき回路基板の電極が局所的に高密度で配置されてな
るものであっても、当該電極に対応したパターンの接続
用電極を、広い領域に分散された状態で配置された端子
電極に容易に電気的に接続することができると共に、当
該アダプター装置を小さいコストで製造することができ
る。また、温度変化による熱履歴などの環境の変化に対
しても良好な電気的接続状態が安定に維持され、従って
高い接続信頼性が得られる。更に、接続用電極の一部を
磁性体により構成することにより、接続すべき回路基板
の電極が、その配置ピッチが微小であり、かつ微細で高
密度の複雑なパターンのものである場合にも、当該回路
基板について所要の電気的接続を確実に達成することが
できる。
According to the adapter device of the present invention, even if the electrodes of the circuit board to be connected are locally arranged at a high density, the connection electrodes having a pattern corresponding to the electrodes are used. The adapter device can be easily and electrically connected to the terminal electrodes arranged in a state of being dispersed in a wide area, and the adapter device can be manufactured at low cost. In addition, a good electrical connection state is stably maintained even with a change in the environment such as a heat history due to a temperature change, and thus a high connection reliability is obtained. Furthermore, by forming a part of the connection electrode from a magnetic material, the electrode of the circuit board to be connected may have a minute arrangement pitch, and may have a fine and high-density complicated pattern. As a result, the required electrical connection can be reliably achieved for the circuit board.

【0093】本発明の回路基板の検査装置によれば、検
査すべき回路基板の被検査電極が高密度に配置されてな
るものであっても、当該回路基板の電気的検査を小さい
コストで実行することができる。また、本発明の回路基
板の検査装置によれば、高密度で配置された被検査電極
を有する回路基板について、テスターの検査回路に対す
る電気的な接続を高い効率で容易に達成することがで
き、十分に高い信頼性をもって所要の電気的検査を行う
ことができる。
According to the circuit board inspection apparatus of the present invention, even if the electrodes to be inspected of the circuit board to be inspected are arranged at a high density, the electrical inspection of the circuit board can be performed at low cost. can do. Further, according to the circuit board inspection apparatus of the present invention, for a circuit board having electrodes to be inspected arranged at high density, electrical connection of the tester to the inspection circuit can be easily achieved with high efficiency, The required electrical inspection can be performed with sufficiently high reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るアダプター装置の一例における構
成を一部を破断して示す説明図である。
FIG. 1 is an explanatory view showing a configuration of an example of an adapter device according to the present invention with a part thereof cut away.

【図2】アダプター本体におけるコネクター板の構成を
示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a configuration of a connector plate in an adapter body.

【図3】アダプター本体におけるコネクター板の中継電
極および副中継電極の配置状態並びに機能領域を示す説
明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an arrangement state and functional areas of a relay electrode and a sub-relay electrode of a connector plate in an adapter body.

【図4】接続用電極を拡大して示す説明用断面図であ
る。
FIG. 4 is an explanatory sectional view showing a connection electrode in an enlarged manner.

【図5】異方導電性エラストマー層の一部を拡大して示
す説明用断面図である。
FIG. 5 is an explanatory cross-sectional view showing an enlarged part of an anisotropic conductive elastomer layer.

【図6】アダプター本体の上面上にエラストマー用材料
層が形成された状態を示す説明用断面図である。
FIG. 6 is an explanatory sectional view showing a state in which a material layer for elastomer is formed on an upper surface of an adapter body.

【図7】エラストマー用材料層が形成されたアダプター
本体が一方の型および他方の型の間に配置された状態を
示す説明用断面図である。
FIG. 7 is an explanatory cross-sectional view showing a state in which an adapter main body on which an elastomer material layer is formed is arranged between one mold and the other mold.

【図8】エラストマー用材料層に平行磁場を作用させた
状態を示す説明用断面図である。
FIG. 8 is an explanatory cross-sectional view showing a state where a parallel magnetic field is applied to the elastomer material layer.

【図9】アダプター本体の上面上に絶縁部用シート体お
よび導電部形成用材料層を形成する工程を示す説明図で
ある。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing a step of forming an insulating portion sheet and a conductive portion forming material layer on the upper surface of the adapter body.

【図10】絶縁部用シート体および導電部形成用材料層
が形成されたアダプター本体が一方の型および他方の型
の間に配置された状態を示す説明用断面図である。
FIG. 10 is an explanatory cross-sectional view showing a state in which the adapter body on which the insulating body sheet and the conductive part forming material layer are formed is disposed between one mold and the other mold.

【図11】導電部形成用材料層に平行磁場を作用させた
状態を示す説明用断面図である。
FIG. 11 is an explanatory cross-sectional view showing a state where a parallel magnetic field is applied to a conductive part forming material layer.

【図12】コネクター板の他の例における中継電極およ
び副中継電極の配置状態並びに機能領域を示す説明図で
ある。
FIG. 12 is an explanatory view showing an arrangement state and functional regions of a relay electrode and a sub-relay electrode in another example of the connector plate.

【図13】本発明に係る回路基板の検査装置の一例にお
ける構成を示す説明図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram showing a configuration of an example of a circuit board inspection apparatus according to the present invention.

【図14】検査電極板装置における検査電極の配置状態
および機能領域を示す説明図である。
FIG. 14 is an explanatory diagram showing an arrangement state and a functional region of an inspection electrode in the inspection electrode plate device.

【図15】従来のアダプター装置の製造において、アダ
プター本体の上面上にエラストマー用材料層が形成され
た状態を示す説明用断面図である。
FIG. 15 is an explanatory cross-sectional view showing a state in which a material layer for elastomer is formed on an upper surface of an adapter body in manufacturing a conventional adapter device.

【図16】エラストマー用材料層が形成されたアダプタ
ー本体が一方の型および他方の型の間に配置された状態
を示す説明用断面図である。
FIG. 16 is an explanatory cross-sectional view showing a state in which an adapter body on which an elastomer material layer is formed is disposed between one mold and the other mold.

【図17】アダプター本体の上面上に異方導電性エラス
トマー層が形成されてアダプター装置が製造された状態
を示す説明用断面図である。
FIG. 17 is an explanatory sectional view showing a state in which an adapter device is manufactured by forming an anisotropic conductive elastomer layer on the upper surface of an adapter body.

【図18】従来のアダプター装置の製造において、エラ
ストマー用材料層に作用される磁場の方向を示す説明用
断面図である。
FIG. 18 is an explanatory cross-sectional view showing a direction of a magnetic field applied to a material layer for elastomer in manufacturing a conventional adapter device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 被検査回路基板 2,3 被検査電極 10 アダプター本体 11 コネクター板 12 端子電極 13 配線路 15 中継電極 16 副中継電極 20 第1の絶縁層 21 配線部 22 短絡部 25 第2の絶縁層 26 接続用電極 26A 基層部分 26B 表層部分 27 短絡部 30 異方導電性エラストマー層 30A エラストマー用材料層 31 導電部 A,B,C,D 機能領域 A1,B1,C1,D1,A2,B2,C2,D2 機
能領域 L1 中継電極と副中継電極との配置ピッチ L2 端子電極の配置ピッチ 31A 導電部形成用材料層 E 弾性高分子物質 P 導電性粒子 31H 導電部用孔 32 絶縁部 32A 絶縁部用シート体 36 一方の型(上型) 37 他方の型(下型) 38,39 電磁石 40a 下部側アダプター装置 40b 上部側アダプター装置 41a,41b 第1の異方導電性シート 45a 下部側仲介ピン装置 45b 上部側仲介ピン装置 46a,46b 導電ピン 47a,47b 導電ピン支持機構 48a,48b 基端側支持板 49a,49b 中央支持板 50a 下部側検査ヘッド 50b 下部側検査ヘッド 51a,51b 検査電極板装置 52a,52b 検査電極 53a,53b 配線路 54a,54b 外部引出し端子部 55a,55b 第2の異方導電性シート 56a,56b コネクター 60 押圧板 65 受け板 F,G,H,I 機能領域
REFERENCE SIGNS LIST 1 circuit board to be inspected 2, 3 electrode to be inspected 10 adapter body 11 connector plate 12 terminal electrode 13 wiring path 15 relay electrode 16 sub-relay electrode 20 first insulating layer 21 wiring section 22 short-circuit section 25 second insulating layer 26 connection Electrode 26A Base layer part 26B Surface part 27 Short circuit part 30 Anisotropic conductive elastomer layer 30A Elastomer material layer 31 Conductive part A, B, C, D Functional area A1, B1, C1, D1, A2, B2, C2, D2 Functional area L1 Arrangement pitch of relay electrode and sub-relay electrode L2 Arrangement pitch of terminal electrode 31A Conductive part forming material layer E Elastic polymer substance P Conductive particle 31H Conductive part hole 32 Insulating part 32A Insulating part sheet 36 One mold (upper mold) 37 The other mold (lower mold) 38, 39 Electromagnet 40a Lower adapter unit 40b Upper adapter Device 41a, 41b First anisotropic conductive sheet 45a Lower intermediate pin device 45b Upper intermediate pin device 46a, 46b Conductive pin 47a, 47b Conductive pin support mechanism 48a, 48b Base end support plate 49a, 49b Central support Plate 50a Lower inspection head 50b Lower inspection head 51a, 51b Inspection electrode plate device 52a, 52b Inspection electrode 53a, 53b Wiring path 54a, 54b External lead-out terminal portion 55a, 55b Second anisotropic conductive sheet 56a, 56b Connector 60 pressure plate 65 receiving plate F, G, H, I functional area

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G011 AA16 AA21 AB06 AB08 AC14 AE01 AE03 AF04 2G014 AA01 AB51 AB59 AC09 AC10 5E023 AA04 AA05 AA16 AA26 BB22 BB28 CC22 EE18 FF07 HH05 HH06 HH08 HH16 HH25 HH28 HH30  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2G011 AA16 AA21 AB06 AB08 AC14 AE01 AE03 AF04 2G014 AA01 AB51 AB59 AC09 AC10 5E023 AA04 AA05 AA16 AA26 BB22 BB28 CC22 EE18 FF07 HH05 HH06 HH08 HH16 HH25H

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 コネクター板およびその上面に一体的に
積層された少なくとも一層の絶縁層を有し、最上層の絶
縁層の上面に接続すべき回路基板の電極に対応するパタ
ーンに従って配置された複数の接続用電極を有すると共
に、コネクター板の下面に格子点位置に配置された複数
の端子電極を有するアダプター本体と、このアダプター
本体の上面に一体的に設けられた異方導電性エラストマ
ー層とを具えてなり、 前記アダプター本体におけるコネクター板の上面には、
当該上面の領域が分割されて複数の機能領域が形成さ
れ、当該機能領域の各々は、格子点位置に配置された、
互いに対応する複数の中継電極を有し、 これらの機能領域のうち少なくとも一つは、これに隣接
する他の機能領域における中継電極に対応して配置され
た複数の副中継電極を有し、当該副中継電極の各々は、
これに対応する他の機能領域における中継電極に電気的
に接続されており、 前記コネクター板における中継電極の各々は、前記端子
電極に電気的に接続され、前記接続用電極の各々は、前
記コネクター板における中継電極または副中継電極に電
気的に接続されており、 前記異方導電性エラストマー層は、前記アダプター本体
の接続用電極上に配置された、弾性高分子物質中に導電
性粒子が充填されてなる複数の導電部と、これらの導電
部を相互に絶縁する絶縁部とを有してなることを特徴と
するアダプター装置。
1. A connector board comprising: a connector plate and at least one insulating layer integrally laminated on an upper surface thereof, and a plurality of insulating layers arranged in accordance with a pattern corresponding to an electrode of a circuit board to be connected to the upper surface of the uppermost insulating layer An adapter body having a plurality of terminal electrodes arranged at lattice points on the lower surface of the connector plate, and an anisotropic conductive elastomer layer integrally provided on the upper surface of the adapter body. On the upper surface of the connector plate in the adapter body,
A plurality of functional regions are formed by dividing the region on the upper surface, and each of the functional regions is arranged at a lattice point position.
It has a plurality of relay electrodes corresponding to each other, at least one of these functional areas has a plurality of sub-relay electrodes arranged corresponding to the relay electrodes in another functional area adjacent thereto, Each of the sub relay electrodes is
Each of the relay electrodes on the connector plate is electrically connected to the terminal electrode, and each of the connection electrodes is connected to the connector. The anisotropic conductive elastomer layer is electrically connected to a relay electrode or a sub-relay electrode on the plate, and the anisotropic conductive elastomer layer is disposed on the connection electrode of the adapter body and is filled with conductive particles in an elastic polymer material. An adapter device, comprising: a plurality of conductive portions formed as described above; and an insulating portion that insulates the conductive portions from each other.
【請求項2】 アダプター本体のコネクター板には、そ
れぞれ副中継電極を有する二つ以上の機能領域が連続し
て形成されていることを特徴とする請求項1に記載のア
ダプター装置。
2. The adapter device according to claim 1, wherein two or more functional areas each having a sub-relay electrode are continuously formed on a connector plate of the adapter body.
【請求項3】 副中継電極を有する機能領域における中
継電極および副中継電極の合計密度が端子電極の密度の
2〜64倍であることを特徴とする請求項1または請求
項2に記載のアダプター装置。
3. The adapter according to claim 1, wherein the total density of the relay electrode and the sub-relay electrode in the functional region having the sub-relay electrode is 2 to 64 times the density of the terminal electrode. apparatus.
【請求項4】 アダプター本体の接続用電極の少なくと
も一部が磁性体により構成されていることを特徴とする
請求項1乃至請求項3のいずれか一に記載のアダプター
装置。
4. The adapter device according to claim 1, wherein at least a part of the connection electrode of the adapter body is made of a magnetic material.
【請求項5】 請求項1乃至請求項4のいずれか一に記
載のアダプター装置と、 上面に、前記アダプター装置におけるアダプター本体の
端子電極に電気的に接続された、当該端子電極と同一の
ピッチの格子点位置に配置された複数の検査電極を有す
る検査電極板装置とを具えてなることを特徴とする回路
基板の検査装置。
5. The adapter device according to claim 1, further comprising: a same pitch as the terminal electrode, the upper surface being electrically connected to a terminal electrode of the adapter main body in the adapter device. And a test electrode plate device having a plurality of test electrodes arranged at the grid point positions.
【請求項6】 検査電極板装置は、その上面の領域が分
割されて互いに同一の検査電極配置を有する複数の機能
領域が形成されてなり、これらの機能領域の各々におけ
る検査電極が、互いに対応する位置に配置された他の機
能領域における検査電極と相互に電気的に接続されてい
ることを特徴とする請求項5に記載の回路基板の検査装
置。
6. The test electrode plate device has a plurality of functional regions having the same test electrode arrangement formed by dividing an upper surface region thereof, and the test electrodes in each of the functional regions correspond to each other. The inspection apparatus for a circuit board according to claim 5, wherein the inspection apparatus is electrically connected to inspection electrodes in other functional regions arranged at positions where the inspection is performed.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7465491B2 (en) 2002-03-20 2008-12-16 J.S.T. Mfg. Co., Ltd. Anisotropic conductive sheet and its manufacturing method

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