JP2000102780A

JP2000102780A - 生ゴミ処理機

Info

Publication number: JP2000102780A
Application number: JP10274862A
Authority: JP
Inventors: Satoru Okamoto; 知岡本
Original assignee: JSK KK; Mitsuboshi Co Ltd
Current assignee: JSK KK; Mitsuboshi Co Ltd
Priority date: 1998-09-29
Filing date: 1998-09-29
Publication date: 2000-04-11

Abstract

(57)【要約】【課題】タンクの外側からでも安定的且つ高精度にタ
ンク内の被処理物の水分量を検出し得るようにした生ゴ
ミ処理機を提供すること。【解決手段】タンク１５内の被処理物２５との間に非
導電性隔壁（基材２またはタンク壁１５ａなど）を隔て
て配設された検出電極３と第二電極４、及び前記検出電
極３に対し適当距離を隔てて配設された接地電極２４を
備え、前記検出電極３に抵抗を介して矩形波電圧を印荷
したときの、前記抵抗、被処理物２５、及び接地電極２
４を経由するＲＣ回路による前記検出電極３での矩形波
電圧の立ち上がり立ち下がりの時間的遅れに基づいて水
分検出信号を出力し、前記第二電極４は、前記検出電極
３に印荷される矩形波電圧と同位相且つ同周波数の矩形
波電圧を印荷されるもので、この第二電極４の電位によ
り、前記隔壁（タンク壁１５ａなど）に沿って層状に存
在する水などの誘電体層２６を経由するＲＣ回路を遮断
する構成。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、タンク内で菌床に
生ゴミを加えた被処理物を攪拌する方式の生ゴミ処理機
に関する。さらに詳しくは、前記タンク内の被処理物の
水分量を検出する装置を備えた、一般に微生物分解型や
発酵分解型と称される生ゴミ処理機に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】近年、環境問題から一般家庭や食堂、レ
ストラン、食品加工工場などから廃出される生ゴミを焼
却処分や埋め立て処分にすることに制限が加えられつつ
ある。一方、生ゴミを発生源で処分する方式が種々検討
され、実用化されつつある。

【０００３】それらの一つに発酵菌を利用して生ゴミを
炭酸ガスと水分などに分解する方式が知られている。こ
の方式は一般に、内部に被処理物の攪拌機を備え、空気
の吸入口と排出口を備えた温度制御が可能なタンク内
に、菌床と称される木粉、ポーラスセラミック粉、籾殻
などを投入し、これに生ゴミを加えて攪拌することによ
り、生ゴミを炭酸ガスと水分などに分解しようとするも
のである。しかして、この方式による生ゴミの分解性能
は、タンク内の温度及び水分、即ち、菌床に生ゴミが加
えられた被処理物の温度の含水量、さらにタンク内に送
り込まれる外気の風量などの条件に依存するが、特に、
発酵菌を活発に機能させるために、タンク内の温度と風
量（酸素量）及び被処理物の含水量の制御が極めて重要
である。このバランスが崩れると、生ゴミは分解されず
に腐敗して悪臭を放ったり、乾燥し過ぎて菌床が粉砕さ
れるようになる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記のタンク内の温度
と風量（酸素量）及び被処理物の含水量の制御の内、温
度と風量の制御は比較的容易であるが、被処理物の含水
量を的確に制御することは、被処理物の含水量を高精度
に検出することが困難であるところから、非常に難し
い。

【０００５】即ち、生ゴミ処理機のタンクに収容される
被処理物（菌床に生ゴミを加えたもの）の含水量を計測
する方法としては、加熱手段によりタンク内を加熱した
際の温度上昇が被処理物の含水量に関係することを応用
したセンサーを使用する方法（特開平８−１７８８７９
号）や、一対の電極を利用して当該電極間に存在する被
処理物の電気抵抗を計測する方法（特開平８−５７４６
０号）などが知られているが、何れもタンク内にセンサ
ーなどの計測手段が装備されるタイプである。従って、
生ゴミが発酵分解する際に発生する微量のアンモニア、
亜硫酸ガス、各種有機酸の影響により、センサー機能が
低下する問題点があった。このような問題点を解消する
ために、タンクの外側から静電容量的にタンク内の被処
理物の含水量を計測する方法の採用も考えられるが、タ
ンク壁内面の結露や汚れなどの水分により、被処理物の
含水量を精度良く安定的に検出することができないとい
う問題点がある。

【０００６】換言すれば、生ゴミの発酵分解時にタンク
内部で発生する微量生成物の影響を受けることなく、そ
してまた、タンク壁内面の結露や汚れなどの水分による
影響を受けることなく、被処理物の含水量を高精度に検
出することができ、この水分検出信号に基づいてタンク
内の被処理物の含水量をコントロールすることにより、
生ゴミの発酵分解を良好に行わせることのできる生ゴミ
処理機の開発は、市場の要請である。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は上記のような市
場の要請に鑑み、生ゴミ処理機のタンク外部からタンク
内の被処理物の水分を安定的に且つ高精度に検出し得る
水分検出装置を備えた生ゴミ処理機を開発提供するもの
であって、その手段を後述する実施形態の参照符号を付
して示すと、タンク１５内で菌床に生ゴミを加えた被処
理物２５を攪拌する方式の生ゴミ処理機であって、水分
検出装置を備え、当該水分検出装置は、タンク１５内の
被処理物２５との間に非導電性隔壁（タンク壁１５ａな
ど）を隔てて配設された検出電極３と第二電極４、及び
前記検出電極３に対し適当距離を隔てて配設された接地
電極２４を備え、前記検出電極３に抵抗７を介して矩形
波電圧を印荷したときの、前記抵抗７、被処理物２５、
及び接地電極２４を経由するＲＣ回路による前記検出電
極３での矩形波電圧の立ち上がり立ち下がりの時間的遅
れに基づいて水分検出信号を出力し、前記第二電極４
は、前記検出電極３に印荷される矩形波電圧と同位相且
つ同周波数の矩形波電圧を印荷されるもので、この第二
電極４の電位により、前記隔壁（タンク壁１５ａなど）
に沿って層状に存在する水などの誘電体を経由するＲＣ
回路を遮断する構成となっている。

【０００８】上記構成の本発明装置を実施するについ
て、前記タンク１５の壁１５ａが非導電性材料から構成
されている場合、当該タンク１５の壁１５ａを前記検出
電極３及び第二電極４とタンク１５内の被処理物２５と
の間の非導電性隔壁とするように、前記検出電極３及び
第二電極４をタンク壁１５ａの外側に密接して配設する
ことができる。

【０００９】また、タンク１５内の被処理物２５を攪拌
する攪拌手段（攪拌翼１６）が金属製である場合、この
金属製攪拌手段（攪拌翼１６）を前記接地電極２４に兼
用させることができる。

【００１０】さらに、前記検出電極３における矩形波電
圧の立ち上がり立ち下がりの時間的遅れを判定するため
の比較回路１１に抵抗器（可変抵抗器１０）を介して基
準矩形波電圧を供給するようにし、前記抵抗器（可変抵
抗器１０）を経由した後の矩形波電圧を利用して前記第
二電極４に印荷する矩形波電圧を得るように構成するこ
とができる。

【００１１】また、前記タンク１５内の温度、風量を制
御する手段（ヒーター２０、送気フアン１９、排気フア
ン２１）を設け、当該手段を前記水分検出装置により出
力される水分検出信号に基づいて制御することにより、
タンク１５内の被処理物２５の含水率を略一定に保つよ
うに構成することができる。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下に本発明の好適実施形態を添
付図に基づいて説明すると、図１及び図４において、１
は検出器であって、非導電性材料から成る基材２の片面
に検出電極３と第二電極４とが、検出電極３を中央にし
てその外周を無端リング状の第二電極４が取り囲むよう
に、例えばプリント配線方法などにより形成されてい
る。

【００１３】図１に示すように、前記検出器１の検出電
極３は、矩形波電圧発生回路６の互いに逆位相の矩形波
電圧を出力する２つの出力端子の内の一方の出力端子６
ａに抵抗器７を介して接続されるとともに、位相反転／
波形整形回路８の入力端子８ａに接続されている。前記
矩形波電圧発生回路６の他方の出力端子６ｂは、位相反
転／波形整形回路９の入力端子９ａに可変抵抗器１０を
介して接続され、当該位相反転／波形整形回路９の出力
端子９ｂは、比較回路１１の３つの入力端子１１ａ〜１
１ｃの内、入力端子１１ａに接続されて、当該比較回路
１１に基準矩形波電圧を印荷する。

【００１４】比較回路１１は、３つの入力端子１１ａ〜
１１ｃの電位が全てＬレベルになっている間のみ、出力
端子１１ｄの電位がＨレベルからＬレベルに切り替わる
ように、ダイオードマトリックス回路で構成されたもの
で、その入力端子１１ｂにおいて前記位相反転／波形整
形回路８の出力端子８ｂと接続されるとともに、入力端
子１１ｃにおいて前記矩形波電圧発生回路６の出力端子
６ａに接続され、位相反転／波形整形回路９から与えら
れる基準矩形波電圧と位相反転／波形整形回路８から与
えられる矩形波電圧とを比較して、前記検出電極３にお
ける矩形波電圧の立ち上がり立ち下がりの時間遅れを検
出し、その出力端子１１ｄに時間遅れ検出信号を出力す
る。１２は、前記比較回路１１の出力端子１１ｄに接続
される入力端子１２ａと、次段の出力回路１３の入力端
子１３ａに接続される出力端子１２ｂとを備えたオンオ
フ信号発生回路であって、前記比較回路１１からの時間
遅れ検出信号に基づいてオンオフ信号を次段の出力回路
１３に供給する。出力回路１３は、前記オンオフ信号発
生回路１２からのオンオフ信号に基づいて外部出力端子
１３ｂの電位を切り換えるもので、接地端子１３ｃとの
間に所定の直流電圧が印荷される電源端子１３ｄを備え
ている。

【００１５】第二電極４には、位相反転／波形整形回路
１４の出力端子１４ｂが接続され、この位相反転／波形
整形回路１４の入力端子１４ａは、前記位相反転／波形
整形回路９の入力端子９ａに接続され、可変抵抗器１０
の影響を受けた矩形波電圧が印荷されるようになってい
る。

【００１６】図２は、生ゴミ処理機の構成を模式的に示
すもので、適当な菌床に生ゴミを加えた被処理物を収容
するタンク１５は、合成樹脂などの非導電性材料から構
成されたもので、内部に被処理物攪拌用の金属製攪拌翼
１６が金属製の回転駆動軸１６ａを介して支承され、開
閉自在な蓋１７と水分調整手段１８とを備えている。こ
の水分調整手段１８としては、タンク１５内へ外気を送
入する送気フアン１９、タンク１５内へ送入される外気
を加熱するヒーター２０、タンク１５内から排気する排
気フアン２１などが設けられるが、必要に応じてタンク
１５内を加湿する加湿器２２を併用することもできる。
また、図示していないが、タンク１５の外側に加熱用ヒ
ーターを配設し、このヒーターのオンオフ制御により、
タンク１５内の被処理物の温度を制御することにより、
当該被処理物の水分量を調整することも可能である。

【００１７】２３は、前記のような各種の水分調整手段
１８を制御するコントローラーであって、水分過多の信
号が入力されることにより、例えば排気フアン２１、送
気フアン１９、ヒーター２０などを作動させ、水分不足
の信号が入力されることにより、例えば排気フアン２
１、送気フアン１９、ヒーター２０などを停止させるこ
とになる。

【００１８】上記構成の生ゴミ処理機に対し、図２及び
図４に示すように、検出器１を前記タンク１５の壁１５
ａの外面に基材２を貼付するなどの適当な方法で装着す
る。勿論、タンク壁１５ａが非導電性材料から構成され
ているので、このタンク壁１５ａを基材２に兼用させる
ように、各電極３，４をタンク壁１５ａの外面に直接貼
付して、検出器１をタンク壁１５ａと一体化することも
可能である。一方、金属製攪拌翼１６を金属製回転駆動
軸１６ａを介して接地し、接地電極２４とする。また、
図３に示すように、生ゴミ処理機が金属製攪拌翼１６を
備えていない場合には、図３に仮想線で示すように、タ
ンク１５内に専用の接地電極２４を設けることもできる
が、前記検出器１との間でタンク内の被処理物（菌床に
生ゴミが加えられたもの、以下同じ）２５を隔てて対向
し得る位置のタンク壁（被処理物収容空間を形成する囲
壁）の一部を金属板で構成し、この金属製タンク壁部分
を前記接地電極２４に兼用させることも可能であるし、
さらに、図３に実線で示すように、前記検出器１との間
でタンク内の被処理物２５を隔てて対向し得る位置のタ
ンク壁（被処理物収容空間を形成する囲壁）の外側に接
地電極２４を装着することもできる。

【００１９】図５及び図６は、上記使用状態での各回路
の出力乃至は入力の電圧波形を示すもので、図５−列
(1) は、タンク１５内で検出電極３と接地電極２４との
間に存在する被処理物（被検出誘電体）２５の水分量が
設定値より少ない場合、図５−列(2) は、前記被処理物
２５の水分量が設定値より多い場合、図６は、前記被処
理物２５の水分量が設定値より少なく且つ図４に示すよ
うに検出電極３に隣接するタンク壁１５ａの内面に水垢
や生ゴミなどの付着汚れや結露、氷結などによる誘電体
層２６が形成されている場合を示している。

【００２０】しかして検出電極３には、矩形波電圧発生
回路６の出力端子６ａから、図５−行Ａに示す矩形波電
圧が抵抗器７を介して印荷される。一方、矩形波電圧発
生回路６の出力端子６ｂから、図５−行Ｂに示すように
前記検出電極３に印荷される矩形波電圧（図５−行Ａ）
に対し１８０度位相が異なった同周波数の矩形波電圧が
出力され、これが可変抵抗器１０を経由することによ
り、図５−行Ｄに示すように立ち上がり立ち下がりに若
干の時間を要した状態で、位相反転／波形整形回路９の
入力端子９ａに供給される。従って、当該位相反転／波
形整形回路９の出力端子９ｂ（比較回路１１の入力端子
１１ａ）での矩形波電圧の波形は、図５−行Ｆに示すよ
うに、位相が１８０度反転されて、図５−行Ａに示す矩
形波電圧発生回路６の出力端子６ａの出力波形（検出電
極３に印荷される矩形波電圧の波形）と同位相になる
が、当該図５−行Ａに示す矩形波電圧よりも立ち上がり
立ち下がりが時間ｔだけ遅れた矩形波となる。

【００２１】可変抵抗器１０を経由した矩形波電圧は、
前記位相反転／波形整形回路９と同一の働きをする位相
反転／波形整形回路１４にも供給されるので、第二電極
４に印荷される矩形波電圧、即ち、位相反転／波形整形
回路１４の出力端子１４ｂでの矩形波電圧の波形は、比
較回路１１の入力端子１１ａに入力される矩形波電圧
（図５−行Ｆ）と同一の波形になる。このことから明ら
かなように、位相反転／波形整形回路９の出力端子９ｂ
と第二電極４とを接続して、前記位相反転／波形整形回
路１４を省くことも可能である。

【００２２】以上の回路構成から明らかなように、検出
電極３に印荷される矩形波電圧に対して、周囲の第二電
極４には同位相で同周波数の矩形波電圧が印荷されてい
る。このとき、タンク１５内に被処理物２５が収容され
ていない場合は、検出電極３と接地電極２４とが高周波
回路的に閉成されないので、検出電極３に印荷される矩
形波電圧により接地電極２４との間に高周波電流が流れ
ることはない。即ち、図５−列(1) 行Ｅに示すように、
比較回路１１の入力端子１１ｂには、単に、矩形波電圧
発生回路６の出力端子６ａにおける矩形波電圧（図３−
列(1) 行Ｃ）の逆位相の矩形波電圧が供給されることに
なり、その立ち上がり立ち下がりに時間的遅れは生じて
いない。従って、比較回路１１の入力端子１１ｃに供給
される矩形波電圧（図５−列(1) 行Ｂ）に基づいて、入
力端子１１ａに供給される矩形波電圧（図５−列(1) 行
Ｆ）と入力端子１１ｂに供給される矩形波電圧（図５−
列(1) 行Ｅ）とを比較回路１１において比較した結果、
３入力の全ての矩形波電圧が何れもＬレベルになること
はないので、その出力端子１１ｄの電位は、図５−列
(1) 行Ｉに示すようにＨレベルのままであり、出力回路
１３の入力端子１３ａ（オンオフ信号発生回路１２の出
力端子１２ｂ）及び外部出力端子１３ｂの電位は、図５
−列(1) 行Ｊ，行Ｋに示すようにＨレベルのままであ
る。

【００２３】これに対して、タンク１５内に被処理物２
５が、検出電極３と接地電極２４との間の検出レベルを
越えるレベルまで収容されているときは、第二電極４の
有無に関係なく、検出電極３に印荷される矩形波電圧に
より、抵抗器７、検出電極３、被処理物２５、及び接地
電極２４を経由して高周波電流が流れるので、図５−列
(2) 行Ｃに示すように、位相反転／波形整形回路８の入
力端子８ａにおける矩形波電圧（検出電極３における矩
形波電圧）は、その立ち上がり立ち下がり時に時間Ｔの
遅れが発生する。

【００２４】従って、比較回路１１の入力端子１１ｂに
は、時間Ｔだけ立ち上がり立ち下がりが遅れた矩形波電
圧（図５−列(2) 行Ｅ）が供給されるので、この時間遅
れＴが、先に説明した可変抵抗器１０による遅れ時間ｔ
よりも大きい場合、図５−列(2) 行Ａ，行Ｅ，行Ｆの矩
形波電圧波形から明らかなように、比較回路１１の入力
端子１１ａの矩形波電圧の立ち下がりから入力端子１１
ｂの矩形波電圧の立ち上がりまでの間、比較回路１１の
３入力の全ての矩形波電圧が何れもＬレベルになり、そ
の間だけ出力端子１１ｄの電位は、図５−列(2) 行Ｉに
示すようにＬレベルとなり、パルス信号が出力される。
この結果、オンオフ信号発生回路１２の出力端子１２ｂ
（出力回路１３の入力端子１３ａ）及び外部出力端子１
３ｂの電位は、図５−列(2) 行Ｊ，行Ｋに示すように、
前記パルス信号の立ち上がり時点でＨレベルからＬレベ
ルに切り換えられる。

【００２５】換言すれば、図２または図３に示す生ゴミ
処理機において、収容される被処理物２５の水分量が、
腐敗などさせないで所期通りに発酵させるために必要な
水分量よりも多い水分過剰な状態にあるとき、前記比較
回路１１の出力端子１１ｄにパルス信号が出力されて外
部出力端子１３ｂの電位が切り換えられるように、可変
抵抗器１０の抵抗値を調整設定して、位相反転／波形整
形回路９の出力端子９ｂ（比較回路１１の入力端子１１
ａ）の矩形波電圧の立ち上がり立ち下がりの遅れ時間ｔ
を調整しておけば、タンク１５内に収容されて処理され
る被処理物２５の水分量が設定値以下であるときには、
図５−列(1) に示すように外部出力端子１３ｂの電位は
変化せず、タンク１５内に収容されて処理される被処理
物２５の水分量が設定値を越えたときのみ、図５−列
(2) に示すように、これを検出して外部出力端子１３ｂ
の電位を切り換えることができる。

【００２６】次に、図４に示すように、タンク壁１５ａ
の内面に水垢などの汚れや結露、氷結などによる誘電体
層２６が形成され且つ当該誘電体層２６が高周波回路的
に接地されている場合を説明すると、この誘電体層２６
は厚さが最大数ミリメートルと薄いので、第二電極４の
電位の影響を確実に受けることになり、検出電極３の周
囲に、当該検出電極３と同位相の電位に付勢された領域
を形成して、検出電極が前記誘電体層２６を介して対地
間で高周波回路的につながるのを抑制する。

【００２７】即ち、図６−行Ｃに示すように、前記誘電
体層２６を通じて検出電極３が対地間で高周波回路的に
接続されるので、抵抗器７、検出電極３、及び誘電体層
２６を通じて高周波電流が流れて、検出電極３に印荷さ
れる矩形波電圧（位相反転／波形整形回路８の入力端子
８ａの矩形波電圧）には、その立ち上がり立ち下がりに
時間遅れが発生するが、第二電極４に印荷される同位相
の矩形波電圧（図６−行Ｇ）の電位で誘電体層２６が付
勢される結果、検出電極３における矩形波電圧（図６−
行Ｃ）の立ち上がり立ち下がりの時間遅れが、第二電極
４に印荷される同位相の矩形波電圧（図６−行Ｇ）の立
ち上がり立ち下がり時点で強制的に解消され、同時点で
検出電極３における矩形波電圧（図６−行Ｃ）の立ち上
がり立ち下がりが完了する。

【００２８】従って、比較回路１１の入力端子１１ｂに
供給される矩形波電圧（図６−行Ｅ）には、その立ち上
がり立ち下がりに若干の時間遅れが生じるが、この遅れ
時間は、第二電極４に印荷される矩形波電圧（図６−行
Ｇ）の立ち上がり立ち下がりに生じている遅れ時間、即
ち、比較回路１１の入力端子１１ａに供給される矩形波
電圧（図６−行Ｆ）の立ち上がり立ち下がりに生じる、
可変抵抗器１０による遅れ時間ｔと等しいため、結果的
には、図６−行Ａ，行Ｅ，行Ｆに示すように、比較回路
１１における３入力の全てがＬレベルになることはな
く、検出電極３の検出レベルに被処理物２５が存在しな
いかまたは、当該被処理物２５の水分量が設定値以下で
あるときと同様に、出力回路１３の外部出力端子１３ｂ
の電位が切り換えられることはない。即ち、誘電体層２
６の存在により、被処理物２５の水分量が設定値以上で
あると誤認して検出信号が出力されることはない。

【００２９】出力回路１３の外部出力端子１３ｂの電位
の変化は、制御出力として図１及び図２に示すコントロ
ーラー２３に与えられ、当該コントローラー２３を介し
て水分調整手段１８が自動制御される。即ち、被処理物
２５の水分過多が検出されて出力回路１３の外部出力端
子１３ｂから制御出力が生じると、水分調整手段１８が
タンク１５内の水分を減少させるように作動する。例え
ば、送気フアン１９、ヒーター２０、排気フアン２１な
どが設けられているときはこれらを作動させ、加湿器２
２が設けられているときはこれを停止させる。そして、
被処理物２５の水分量が設定値以下になって、出力回路
１３の外部出力端子１３ｂからの制御出力がなくなる
と、作動させていた送気フアン１９、ヒーター２０、排
気フアン２１などが停止され、加湿器２２が設けられて
いるときは、必要に応じてこれを作動させることができ
る。

【００３０】なお、被検出物が収容されるタンク１５が
金属などの導電性材料から構成される場合には、例え
ば、図７及び図８に示すような差し込み型の検出器２９
を使用することができる。この検出器２９は、合成樹脂
やガラスなどの非導電性材料から成る円柱体３０（電極
に対する配線空間を提供する中空状のものが好ましい）
の先端に前記検出電極３と第二電極４とを形成し、これ
ら電極３，４の外側を合成樹脂やガラスなどの非導電性
材料から成る被覆層３１で被覆し、円柱体３０の基部に
は、タンク壁１５ａに設けられた貫通ねじ孔３２に螺嵌
する螺軸部３３と、タンク壁１５ａの外側に突出する頭
部３４とを形成したものである。前記電極３，４は円柱
体３０の周面に形成することもできる。各電極３，４に
対する配線は、円柱体３０の内部を経由して頭部３４か
ら外に導き出される。また、この頭部３４に、各回路部
品が内装されるケーシング３５を連設して、検出器２９
を一体に備えた検出装置とすることもできる。

【００３１】なお、第二電極４は、検出電極３の周囲を
取り囲む環状のものである必要はあるが、完全に閉じた
環状である必要はなく、一部分が分断されたＣの字形の
ものであっても良い。また、被処理物の発酵条件などか
らタンク内の水分量の上限が決まる場合には、前記可変
抵抗器１０に代えて、固定抵抗器を使用することもでき
る。

【００３２】また、上記実施形態では、被処理物の水分
量が設定値より多いか少ないかを検出して出力回路１３
の外部出力端子１３ｂの電位を切り換え、制御対象の水
分調整手段１８をオンオフ制御しているが、例えば比較
回路１１の出力端子１１ｄに生じるパルス信号の時間長
さ（図５−列(2) 行Ｉ）に基づいて被処理物の水分量そ
のものを検出することも可能である。この場合、検出し
た被処理物の水分量が設定値より多いか少ないかを比較
させ、この比較結果に応じて水分調整手段１８をオンオ
フ制御することができるが、検出した被処理物の水分量
そのものに応じて水分調整手段１８の送気フアン１９や
排気フアン２１の風量を制御したり、ヒーター２０の熱
量を制御したり、加湿器２２の加湿強さを制御すること
も可能である。

【００３３】

【発明の効果】以上のように実施し得る本発明の水分検
出装置を備えた生ゴミ処理機によれば、抵抗と検出電極
とタンク内の被処理物（適当な菌床に生ゴミを加えたも
の）を経由するＲＣ回路を流れる高周波電流を利用して
前記被処理物の水分を検出することができるのである
が、前記検出電極に印荷される矩形波電圧と同位相且つ
同周波数の矩形波電圧を印荷される第二電極の電位によ
り、前記被処理物と検出電極とを区画する非導電性隔壁
の内面の汚れなどの誘電体層を経由するＲＣ回路を遮断
することができるので、前記非導電性隔壁内面に形成さ
れる汚れなどの誘電体層を検出電極により検出してしま
うことがない。

【００３４】即ち、本発明の生ゴミ処理機によれば、タ
ンク内の被処理物と検出電極とを区画する非導電性隔壁
の外側から内部の被検出物の水分を検出することができ
るので、水分検出用の検出電極の耐久性が被処理物の性
状や雰囲気ガスによって劣化する恐れは皆無であり、し
かも、前記非導電性隔壁内面の汚れや結露、氷結などに
より誤動作することなく、タンク内の被処理物の水分を
精度良く検出することができる。従って、その検出結果
に基づいてタンク内の被処理物の水分量を的確に調整し
て、所期の発酵分解作用を良好に行わせることができ
る。

【００３５】なお、請求項２に記載の構成によれば、タ
ンク内の被処理物と検出電極とを区画するのに必要な非
導電性隔壁をタンク壁で兼用させることができ、当該タ
ンク壁の外側に検出電極及び第二電極を貼付するなどの
簡単な方法で本発明を実施することができる。また、請
求項３に記載の構成によれば、水分検出専用の特別な接
地電極を配設しなければならない場合と比較して、安価
に実施し得る。

【００３６】さらに、請求項４に記載の構成によれば、
検出電極における矩形波電圧の立ち上がり立ち下がりの
時間的遅れを判定するための比較回路に抵抗器、例えば
可変抵抗器を介して基準矩形波電圧を供給するのである
から、被処理物の検出すべき水分量の上限値を調整する
ために前記抵抗器の抵抗値が調整されても、第二電極に
印荷される矩形波電圧の立ち上がり立ち下がりのタイミ
ングを、検出電極における矩形波電圧の立ち上がり立ち
下がりの時間的遅れを判定するタイミングに同期させる
ことができるので、汚れなどの誘電体層を検出させない
という第二電極の所期の機能を常に精度良く発揮させる
ことができる。

【００３７】また、請求項５に記載の構成によれば、検
出された被処理物の水分量に応じて前記タンク内の温
度、風量を制御する手段を自動制御し、タンク内の被処
理物の含水率を自動的に略一定に保って所期の発酵分解
作用を良好に遂行させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】水分検出装置全体の回路図である。

【図２】金属製攪拌手段を備えた生ゴミ処理機に水分
検出装置を組み合わせた場合の構成を説明する模式図で
ある。

【図３】金属製攪拌手段を備えていない生ゴミ処理機
に水分検出装置を組み合わせる場合の接地電極の構成を
説明する模式図である。

【図４】水分検出部を説明する縦断側面図である。

【図５】被処理物が無いかまたは、その水分量が設定
値以下である場合と、被処理物の水分量が設定値以上で
ある場合の、各端子の電圧波形を説明する図である。

【図６】被処理物が無いかまたは、その水分量が設定
値以下であって、且つタンク壁内面に汚れなどの誘電体
層が有る状態での、各端子の電圧波形を説明する図であ
る。

【図７】差し込み型検出器の使用状態を示す一部縦断
側面図である。

【図８】同検出器の正面図である。

【符号の説明】

１平板状の検出器２非導電性材料から成る基材３検出電極４第二電極６矩形波電圧発生回路７抵抗器８位相反転／波形整形回路９位相反転／波形整形回路１０可変抵抗器１１比較回路１２オンオフ信号発生回路１３出力回路１４位相反転／波形整形回路１５非導電性材料から構成されたタンク１６金属製攪拌翼（金属製攪拌手段）１８水分調整手段１９送気フアン２０ヒーター２１排気フアン２２加湿器２３コントローラー２４接地電極２５菌床に生ゴミを加えた被処理物２６汚れなどの誘電体層２９差し込み型検出器３１非導電性被覆層

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続きＦターム(参考） 4D059 AA07 BA27 BA56 BA60 BJ01 BJ14 BK30 CB30 EA01 EA06 EB01 EB06 EB13 EB15 EB20 4H061 AA03 CC55 EE66 GG10 GG43 GG48

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】タンク内で菌床に生ゴミを加えた被処理物
を攪拌する方式の生ゴミ処理機であって、水分検出装置
を備え、当該水分検出装置は、タンク内の被処理物との
間に非導電性隔壁を隔てて配設された検出電極と第二電
極、及び前記検出電極に対し適当距離を隔てて配設され
た接地電極を備え、前記検出電極に抵抗を介して矩形波
電圧を印荷したときの、前記抵抗、被処理物、及び接地
電極を経由するＲＣ回路による前記検出電極での矩形波
電圧の立ち上がり立ち下がりの時間的遅れに基づいて水
分検出信号を出力し、前記第二電極は、前記検出電極に
印荷される矩形波電圧と同位相且つ同周波数の矩形波電
圧を印荷されるもので、この第二電極の電位により、前
記隔壁に沿って層状に存在する水などの誘電体を経由す
るＲＣ回路を遮断するようにした、生ゴミ処理機。
【請求項２】前記タンクの壁が非導電性材料から構成さ
れ、当該タンクの外側に前記検出電極及び第二電極が密
接して配設されている、請求項１に記載の生ゴミ処理
機。
【請求項３】前記接地電極が、タンク内の被処理物を攪
拌する金属製攪拌手段で兼用されている、請求項１また
は２に記載の水分検出装置。
【請求項４】前記水分検出装置が、前記矩形波電圧の立
ち上がり立ち下がりの時間的遅れを判定するための比較
回路に抵抗器を介して基準矩形波電圧を供給するように
したもので、前記抵抗器を経由した後の矩形波電圧を利
用して前記第二電極に印荷する矩形波電圧を得るように
した、請求項１〜３の何れかに記載の生ゴミ処理機。
【請求項５】前記タンク内の温度、風量を制御する手段
を備え、当該手段を前記水分検出装置により出力される
水分検出信号に基づいて制御することにより、タンク内
の被処理物の含水率を略一定に保つようにした、請求項
１〜４の何れかに記載の生ゴミ処理機。