JP2000082788A - マイクロストリップ線路、スパイラルインダクタ、電子装置およびその製造方法 - Google Patents

マイクロストリップ線路、スパイラルインダクタ、電子装置およびその製造方法

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JP2000082788A
JP2000082788A JP11281085A JP28108599A JP2000082788A JP 2000082788 A JP2000082788 A JP 2000082788A JP 11281085 A JP11281085 A JP 11281085A JP 28108599 A JP28108599 A JP 28108599A JP 2000082788 A JP2000082788 A JP 2000082788A
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spiral
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Tadayoshi Nakatsuka
忠良 中塚
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 マイクロ波増幅装置の小型化及び低コスト化
を実現できるようにする。 【解決手段】 FET101は入力整合回路106及び
出力整合回路107によって入力側及び出力側の回路又
は伝送線路との整合を行っている。入力整合回路106
はスパイラル状の入力側インダクタ102及び入力側D
C遮断用結合キャパシタ104により構成され、入力側
DC遮断用結合キャパシタ104は入力側インダクタ1
02の中心部に形成されている。出力整合回路107は
スパイラル状の出力側インダクタ103及び出力側DC
遮断用結合キャパシタ105により構成され、出力側D
C遮断用結合キャパシタ105は出力側インダクタ10
3の中心部に形成されている。入力整合回路106及び
出力整合回路107をそれぞれ単一のインダクタにより
構成するため、誘電率が120であるチタン酸ストロン
チウムよりなるスパイラルインダクタを用いた1/4波
長線路108により電源を高インピーダンス化してい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロストリッ
プ線路、スパイラルインダクタ、マイクロ波増幅回路及
びマイクロ波増幅装置に関し、特に、マイクロ波増幅装
置の小型化及び高性能化を図る技術に関する。
【0002】
【従来の技術】携帯用の通信用無線機器の急速な普及に
伴い、通信用無線機器の小型化及び低コスト化に対する
要求が強まってきており、従来集積化が困難であったマ
イクロ波増幅装置においても小型化及び低コスト化は重
要な課題である。
【0003】以下、マイクロ波増幅回路の一例である集
積化マイクロ波IC(以下、MMICと呼ぶ。)の従来
例について図面を参照しながら説明する。
【0004】図6は従来のMMIC増幅器の回路図を示
している。図6に示すように、電界効果トランジスタ
(以下、FETと呼ぶ。)601は、入力整合回路62
0及び出力整合回路621によって入力側及び出力側の
回路又は伝送線路との整合を行っており、通常は50Ω
の特性インピーダンスに対して整合されている。入力整
合回路620及び出力整合回路621は、いずれも複数
のインダクタの組み合わせにより構成されており、入力
整合回路620は直列インダクタ602と並列インダク
タ603との組み合わせよりなり、出力整合回路621
は並列インダクタ604と直列インダクタ605との組
み合わせよりなる。
【0005】FET601をDC的に外部と分離するた
め、FET601の入力側には入力側DC遮断用結合キ
ャパシタ606が挿入され、FET601の出力側には
出力側DC遮断用結合キャパシタ607が挿入されてい
る。FET601の電流はゲート電圧制御端子614か
らゲート電圧を制御することにより調整されており、高
周波信号への影響を抑えるためバイアス抵抗608が挿
入されている。尚、図6において、611は入力端子、
612は出力端子、613は電源端子、615は接地端
子である。
【0006】図7は、図6に示したMMIC増幅装置の
半導体チップパターンを示している。図7においては、
図6と同一の部材については同一の符号を付すことによ
り説明は省略する。半導体チップ600としては高周波
特性に優れるGaAs基板が用いられており、該半導体
チップ600上に、前述したFET601、直列及び並
列インダクタ602〜605、入力側及び出力側のDC
遮断用結合キャパシタ606,607並びにバイアス抵
抗608が形成されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のMM
IC増幅器においては、入力整合回路620及び出力整
合回路621を構成する直列及び並列インダクタ602
〜605や入力側及び出力側のDC遮断用結合キャパシ
タ606,607が半導体チップ600上において大き
な面積を占めるため、半導体チップ600の面積が大き
くなり、その結果、マイクロ波増幅装置を構成するパッ
ケージサイズの大型化及び価格の上昇を招くという問題
を有していた。
【0008】前記に鑑み、本発明は、マイクロ波増幅装
置の小型化及び低コスト化を実現できるようにすること
を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、本発明に係るマイクロストリップ線路は、絶縁体上
に形成された接地電極と、該接地電極上に形成された誘
電体薄膜と、該誘電体薄膜上に形成された線状の金属薄
膜とからなるマイクロストリップ線路を対象とし、前記
誘電体薄膜は誘電率が50以上である高誘電体よりな
り、前記金属薄膜の抵抗成分によって特性インピーダン
スが制御される構成である。
【0010】本発明に係るスパイラルインダクタは、絶
縁体上に形成された接地電極と、該接地電極上に形成さ
れた誘電率が50以上である高誘電体よりなる誘電体薄
膜と、該誘電体薄膜上に形成された線状の金属薄膜とか
らなり、前記金属薄膜の抵抗成分によって特性インピー
ダンスが制御されるスパイラル状のマイクロストリップ
線路によって構成されており、該マイクロストリップ線
路のスパイラル部の隣り合う線路同士の間の前記誘電体
薄膜は除去されている構成である。
【0011】本発明に係るスパイラルインダクタにおい
て、スパイラルインダクタの中心部付近に形成されてお
り、前記高誘電体よりなる層間膜を有するMIMキャパ
シタを備え、両端子間が直流的に分離されていることが
好ましい。
【0012】本発明に係るマイクロ波増幅回路は、電源
端子と、ソース電極が前記電源端子に接続されており電
流の増幅を行なう電界効果型トランジスタと、前記電源
端子と前記ソース電極との間に直列に単一で接続された
本発明に係るスパイラルインダクタとからなる構成であ
る。
【0013】本発明に係るマイクロ波増幅装置は、入力
端子と、出力端子と、電源端子と、ソース電極が前記電
源端子に接続されており電流の増幅を行なう電界効果型
トランジスタと、前記電源端子と前記ソース電極との間
に直列に単一で接続された本発明に係るスパイラルイン
ダクタと、単一のインダクタからなり前記入力端子と前
記電界効果型トランジスタとのインピーダンス整合を行
なう入力側整合回路と、単一のインダクタからなり前記
出力端子と前記電界効果型トランジスタとのインピーダ
ンス整合を行なう出力側整合回路とが1つの半導体基板
上に形成されている構成である。
【0014】
【作用】本発明に係るマイクロストリップ線路による
と、誘電体薄膜は誘電率が50以上である高誘電体より
なるため、同一周波数における電気長が著しく長くなる
ので、同一周波数におけるマイクロストリップ線路の線
路長を大きく短縮することができる。この場合、マイク
ロストリップ線路の線路長が短縮されることに伴う抵抗
値の減少は、金属薄膜の抵抗成分によってマイクロスト
リップ線路の特性インピーダンスを制御することによっ
て補われる。
【0015】本発明に係るスパイラルインダクタによる
と、マイクロストリップ線路のスパイラル部の隣り合う
線路同士の間の誘電体薄膜が除去されているため、線間
容量による自己共振周波数の低下が防止されているの
で、同一周波数におけるインダクタンス値を増大するこ
とができる。
【0016】本発明に係るスパイラルインダクタが、ス
パイラルインダクタの中心部付近に高誘電体よりなる層
間膜を有するMIMキャパシタを備えていると、キャパ
シタの占有面積を削減できる。つまり、スパイラルイン
ダクタのインダクタンス値は主として外周部のスパイラ
ル部により定まるため、中心部のスパイラル部を減らし
てもインダクタンス値は殆ど影響を受けないので、イン
ダクタンス値に影響を与えることなくキャパシタを設け
ることができる。このため、キャパシタの占有面積を削
減できるのである。また、スパイラルインダクタの両端
子間が直流的に分離されているため、該スパイラルイン
ダクタを電界効果型トランジスタの入力側又は出力側に
接続することにより、電界効果型トランジスタを外部と
直流的に分離することができる。
【0017】本発明に係るマイクロ波増幅回路による
と、電源端子と、電流の増幅を行なう電界効果型トラン
ジスタのソース電極との間に本発明に係るスパイラルイ
ンダクタが直列に単一で接続されているため、電界効果
型トランジスタの電源が高インピーダンス化されている
ので、電界効果型トランジスタとその入力側又は出力側
との整合を行なう入力側整合回路及び出力側整合回路を
それぞれ単一のインダクタにより構成することができ
る。
【0018】本発明に係るマイクロ波増幅装置による
と、本発明に係るマイクロ波増幅回路を組み込んでいる
ため、電界効果型トランジスタ、本発明に係るスパイラ
ルインダクタ、入力側整合回路及び出力側整合回路を1
つの半導体基板上に形成することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態に係る
マイクロ波増幅回路について図1〜図5を参照しながら
説明する。
【0020】図1は、本発明の一実施形態に係るマイク
ロ波増幅回路の一例であるMMICの回路図を示してい
る。図1に示すように、FET101は、入力整合回路
106及び出力整合回路107によって入力側及び出力
側の回路又は伝送線路との整合を行っており、50Ωの
特性インピーダンスに対して整合されている。
【0021】本実施形態においては、入力整合回路10
6は入力側インダクタ102及び入力側DC遮断用結合
キャパシタ104により構成され、出力整合回路107
は出力側インダクタ103及び出力側DC遮断用結合キ
ャパシタ105により構成されている。そして、入力整
合回路106及び出力整合回路107をそれぞれ単一の
インダクタにより構成するため、スパイラルインダクタ
を用いた1/4波長線路108により電源を高インピー
ダンス化している。FET101の電流は、ゲート電圧
制御端子113からゲート電圧を制御することにより調
整されており、高周波信号への影響を抑えるため、バイ
アス抵抗109が挿入されている。尚、図1において、
110は入力端子、111は出力端子、112は電源端
子、113はゲート電圧制御端子、114は接地端子で
ある。
【0022】図2は、前記MMICの回路を実現するチ
ップパターンを示している。図2においては、図1と同
一の部材については同一の符号を付すことにより説明は
省略する。本実施形態のMMICは、GaAs基板10
0上に2層配線プロセスを用いて形成されており、FE
T101としてはMESFETが用いられている。
【0023】図2に示すように、入力側DC遮断用結合
キャパシタ104及び出力側DC遮断用結合キャパシタ
105は入力側インダクタ102及び出力側インダクタ
103のそれぞれ中心部に形成されており、占有面積の
低減が図られている。一般的にスパイラルインダクタの
インダクタンス値は、主として外周部のスパイラルが支
配的であり、中心部のスパイラル数を減らしても影響は
小さい。
【0024】入力整合回路106、出力整合回路107
及び1/4波長線路108に用いられる高誘電体にはチ
タン酸ストロンチウム(以下、TiSrO3 と呼ぶ。)
を用い、白金電極上にTiSrO3 をスパッタ法により
300nmの厚さに堆積した後、イオンミリング法によ
るパターニングを行なうことにより形成する。TiSr
3 の誘電率は120である。また、入力側インダクタ
102、出力側インダクタ103及び1/4波長線路1
08の各スパイラル部における隣接するマイクロストリ
ップ線路同士の間のTiSrO3 薄膜はイオンミリング
時に除去されており、これにより、線間容量による自己
共振周波数の低下が防止されている。抵抗109として
は金属薄膜抵抗が用いられている。
【0025】図3は、図2におけるA−A’線の断面構
造を示している。図3に示すように、GaAs基板10
0上に第1層配線金属302を堆積した後、容量形成部
分に白金を蒸着する。その後、第1層配線金属302上
にTiSrO3 層304を堆積した後、該TiSrO3
層304上に第2層配線金属303を蒸着する。
【0026】1/4波長線路108における第1層配線
金属302と第2層配線金属303との接続はコンタク
ト部305により行なわれている。一方、出力整合回路
107においては、中心部の配線金属面積を拡大し、コ
ンタクトを設けることなく、TiSrO3 層304を第
1層配線金属302と第2層配線金属303とで挟むこ
とによりMIM(metal insulater m
etal)キャパシタ105を構成している。
【0027】図4(a),(b)は前記MMICの入力
端子110の入力インピーダンスを示すスミスチャート
である。
【0028】図4(a)は、入力側インダクタ102の
線幅が10μmであり、抵抗値が十分に低い場合の結果
を示している。401は誘電体としてTiSrO3 (誘
電率120)を用いた場合を示し、402は誘電体とし
てGaAs基板(誘電率12)を用いた場合を示してい
る。図4(a)から明らかなように、誘電体としてTi
SrO3 を用いることにより同一周波数における電気長
が約10倍長くなっている。従って、1/4波長線路1
08の長さを1/10にすることができる。
【0029】図4(b)は入力側インダクタ102の線
幅を1μmであり、20Ωの抵抗成分を持つときの入力
端子110の入力インピーダンスを示している。図4
(b)より、6GHzにおける入力インピーダンスが5
0Ωに整合されており、単一のインダクタにより整合回
路を構成できていることが分かる。出力整合は、出力側
インダクタ103を前記と同様の方法により50Ωに整
合させている。
【0030】図5は、前記のMMICを半導体リードフ
レーム上に実装し、樹脂パッケージに封入した状態を示
している。図5(a)において、100は半導体チッ
プ、502はリードフレーム、503はAuワイヤーで
ある。また、図5(b)において、505は封止樹脂、
506はICピンである。図5(a),(b)に示すよ
うに半導体チップ100をパッケージに実装することに
より、扱い易くて低コストのMMICを提供することが
できる。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るマイ
クロストリップ線路によると、誘電体薄膜は誘電率が5
0以上である高誘電体よりなるため、同一周波数におけ
る電気長が著しく長くなるので、同一周波数におけるマ
イクロストリップ線路の線路長を大きく短縮することが
でき、これにより、基板の面積を縮小することができ
る。従って、本発明に係るマイクロストリップ線路を用
いるマイクロ波増幅装置の小型化及び低コスト化を実現
できる。
【0032】本発明に係るスパイラルインダクタによる
と、誘電体薄膜は誘電率が50以上である高誘電体より
なるため同一周波数における電気長が著しく長くなるの
で、同一周波数におけるマイクロストリップ線路の線路
長を大きく短縮できる共に、マイクロストリップ線路の
スパイラル部の隣り合う線路同士の間の誘電体薄膜が除
去されているため線間容量による自己共振周波数の低下
が防止され、同一周波数におけるインダクタンス値を増
大できるので、基板上の占有面積を縮小することができ
る。従って、本発明に係るスパイラルインダクタを用い
るマイクロ波増幅装置の小型化及び低コスト化を実現で
きる。
【0033】本発明に係るスパイラルインダクタが、ス
パイラルインダクタの中心部付近に高誘電体よりなる層
間膜を有するMIMキャパシタを備えていると、インダ
クタンス値に影響を与えることなくキャパシタを設ける
ことができるため、キャパシタの占有面積を削減でき
る。従って、本発明に係るスパイラルインダクタを用い
るマイクロ波増幅装置の一層の小型化及び低コスト化を
実現できる。
【0034】本発明に係るマイクロ波増幅回路による
と、電源端子と電流の増幅を行なう電界効果型トランジ
スタのソース電極との間に本発明に係るスパイラルイン
ダクタが直列に単一で接続されているため、電界効果型
トランジスタの電源が高インピーダンス化されているの
で、電界効果型トランジスタとその入力側又は出力側と
の整合を行なう入力側整合回路及び出力側整合回路をそ
れぞれ単一のインダクタにより構成することができる。
従って、本発明に係るマイクロ波増幅回路によると、電
源端子側に1つのスパイラルインダクタを設けることに
より、入力側整合回路及び出力側整合回路をそれぞれ単
一のインダクタにより構成することができるので、該マ
イクロ波増幅回路を組み込んだマイクロ波増幅装置の小
型化及び低コスト化を実現できる。
【0035】本発明に係るマイクロ波増幅装置による
と、本発明に係るマイクロ波増幅回路を組み込んでいる
ため、電界効果型トランジスタ、本発明に係るスパイラ
ルインダクタ、入力側整合回路及び出力側整合回路を1
つの半導体基板上に形成できるので、大幅な小型化及び
低コスト化を実現することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係るMMICの回路図で
ある。
【図2】本発明の一実施形態に係るMMICのチップパ
ターン図である。
【図3】図2のA−A´線の断面図である。
【図4】本発明の一実施形態に係るMMICの入力イン
ピーダンス特性を示す図であって、(a)は配線抵抗値
が低い場合の特性を示し、(b)は配線抵抗値を最適化
した場合の特性を示している。
【図5】(a)は本発明の一実施形態に係るMMICの
実装状態を示す平面図であり、(b)は本発明の一実施
形態に係るMMICのパッケージの外観図である。
【図6】従来のMMICの回路図である。
【図7】従来のMMICのチップパターン図である。
【符号の説明】
100 GaAs基板 101 電界効果型トランジスタ 102 入力側インダクタ 103 出力側インダクタ 104 入力側DC遮断用結合キャパシタ 105 出力側DC遮断用結合キャパシタ 106 入力整合回路 107 出力整合回路 108 1/4波長線路(マイクロストリップ線路、ス
パイラルインダクタ) 109 バイアス抵抗 110 入力端子 111 出力端子 112 電源端子 113 ゲート電圧制御端子 302 第1層配線金属 303 第2層配線金属 304 高誘電体薄膜 305 コンタクト部 401 TiSrO3 を用いた場合の入力インピーダン
ス 402 GaAs基板を用いた場合の入力インピーダン
ス 403 配線金属抵抗が20Ωの場合の入力インピーダ
ンス 502 リードフレーム 503 Auワイヤー 505 封止樹脂 506 ICピン 600 GaAs基板 601 電界効果型トランジスタ 602 直列インダクタ 603 並列インダクタ 604 並列インダクタ 605 直列インダクタ 606 入力側DC遮断用結合キャパシタ 607 出力側DC遮断用結合キャパシタ 608 バイアス抵抗 614 ゲート電圧制御端子 620 入力整合回路 621 出力整合回路

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上の白金電極と、 前記白金電極上の誘電体薄膜と、 前記誘電体薄膜上に形成された線状の金属薄膜とを設け
    たマイクロストリップ線路。
  2. 【請求項2】 基板上の下部電極と、 前記下部電極を囲むように設けられた前記基板上の電極
    と、 前記電極および前記下部電極上の誘電体薄膜と、 前記電極上方に設けられたスパイラル部およびスパイラ
    ル中心付近の前記下部電極上方に設けられた金属面積拡
    大部とを有する前記誘電体薄膜上のスパイラル状金属薄
    膜とを設けたスパイラルインダクタ。
  3. 【請求項3】 前記スパイラル状金属薄膜の前記スパイ
    ラル部と前記金属面積拡大部との間に前記誘電体薄膜の
    除去部を設けた請求項2記載のスパイラルインダクタ。
  4. 【請求項4】 基板と、 前記基板上の下部電極および電極と、 前記下部電極および前記電極上の誘電体薄膜と、 前記誘電体薄膜上に設けられたスパイラル部および前記
    スパイラル部の中心付近の金属面積拡大部とを有するス
    パイラル状金属薄膜と、 前記スパイラル状金属薄膜の前記スパイラル部と前記金
    属面積拡大部との間に設けられた前記誘電体薄膜の除去
    部と、 前記基板上に配置されたトランジスタとを設けた電子装
    置。
  5. 【請求項5】 前記スパイラル状金属薄膜の一端を端子
    とした請求項4記載の電子装置。
  6. 【請求項6】 前記基板をリードフレームに載置した請
    求項4記載の電子装置。
  7. 【請求項7】 前記基板と前記リードフレームとをワイ
    ヤー接続した請求項4記載の電子装置。
  8. 【請求項8】 前記基板と前記リードフレームとを樹脂
    パッケージに封入した請求項6記載の電子装置。
  9. 【請求項9】 基板上に第1層配線金属より形成された
    下部電極および電極を設ける工程と、 前記下部電極上および前記電極上に誘電体薄膜を設ける
    工程と、 前記誘電体薄膜上に第2層配線金属を設ける工程とを備
    えた電子装置の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記第1層配線金属上の少なくとも前
    記誘電体薄膜の容量形成部に白金電極を設ける工程を備
    えた請求項9記載の電子装置の製造方法。
  11. 【請求項11】 前記誘電体薄膜を設ける工程は、スパ
    ッタ法によりチタン酸ストロンチウムを設ける工程であ
    る請求項9記載の電子装置の製造方法。
  12. 【請求項12】 前記第2層配線金属を設ける工程は、
    前記第2層配線金属をスパイラル状に設け、その中心部
    付近の配線金属面積を拡大する工程を含む請求項9記載
    の電子装置の製造方法。
  13. 【請求項13】 前記第2層配線金属間に前記誘電体薄
    膜の除去部を設ける工程を備えた請求項9記載の電子装
    置の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記誘電体薄膜をイオンミリングでパ
    ターニングする工程を備えた請求項9記載の電子装置の
    製造方法。
  15. 【請求項15】 基板上の第1層配線金属を設ける工程
    と、 前記第1層配線金属上に誘電体薄膜を設ける工程と、 前記誘電体薄膜をパターニングする工程と、 前記誘電体薄膜上に第2層配線金属を設ける工程とを備
    えた電子装置の製造方法。
  16. 【請求項16】 前記第1層配線金属上の少なくとも前
    記誘電体薄膜の容量形成部に白金電極を設ける工程を備
    えた請求項15記載の電子装置の製造方法。
  17. 【請求項17】 前記誘電体薄膜をパターニングする工
    程は、イオンミリングで前記誘電体薄膜の除去部を設け
    ることにより前記誘電体薄膜をパターニングする工程を
    含む請求項15記載の電子装置の製造方法。
  18. 【請求項18】 前記第2層配線金属を設ける工程は、
    前記第2層配線金属をスパイラル状に設ける工程を含む
    請求項15記載の電子装置の製造方法。
  19. 【請求項19】 前記第2層配線金属のスパイラル間の
    前記誘電体薄膜を除去する工程を備えた請求項18記載
    の電子装置の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007129537A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Mitsubishi Electric Corp 増幅回路
JP2008054122A (ja) * 2006-08-25 2008-03-06 Fdk Corp 積層チップ部品

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