JP2000081582A - マルチビ―ム走査方法・マルチビ―ム走査装置・マルチビ―ム光源装置および画像形成装置 - Google Patents

マルチビ―ム走査方法・マルチビ―ム走査装置・マルチビ―ム光源装置および画像形成装置

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JP2000081582A
JP2000081582A JP11183497A JP18349799A JP2000081582A JP 2000081582 A JP2000081582 A JP 2000081582A JP 11183497 A JP11183497 A JP 11183497A JP 18349799 A JP18349799 A JP 18349799A JP 2000081582 A JP2000081582 A JP 2000081582A
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light emitting
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Masakane Aoki
真金 青木
Koji Sakai
浩司 酒井
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Ricoh Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】マルチビーム走査において、低コストで実現で
きる発光点ピッチの大きい半導体レーザアレイを、発光
点配列方向を副走査方向にして使用し、所望の走査線ピ
ッチを容易に実現できるようにする。 【解決手段】間隔:pで副走査方向に1列配列したm個
の発光点を有する半導体レーザアレイ111,112を
用い、各発光点から放射されるビームを、半導体レーザ
アレイごとに設けたカップリングレンズ113,114
でカップリングし、カップリングされた各ビームを合成
してK本のビームを得、これらK本のビームを同時に偏
向させ、互いに副走査方向に分離したビームスポットと
して被走査面20上に集光させるようにし、m個の発光
点と被走査面との間に配備され、各発光点からのビーム
を被走査面上に集光させる結像光学系における副走査方
向の横倍率をβ、同時に走査されるK本の走査線の走査
線ピッチをLとするとき、p、n、K、β、Lを、{p
×|β|/L}が{K/m}の略約数となるように設定し
てマルチビーム走査を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はマルチビーム走査
方法・マルチビーム走査装置およびマルチビーム光源装
置および画像形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】複数ビームを、被走査面上に、互いに副
走査方向に分離した複数のビームスポットとして集光
し、被走査面上で複数走査線を同時走査するマルチビー
ム走査方法の光源として半導体レーザアレイの使用が提
案されている。半導体レーザアレイは、複数の発光点
(レーザ光射出部)を1列方向に配列したモノリシック
な半導体レーザアレイチップを有するユニット化された
光源素子である。
【0003】例えば特開平3−107910号公報に
は、2つの発光点が互いに100μm程度離れて配列さ
れた半導体レーザアレイの使用が提案されている。発光
点間隔:100μmは、光源から被走査面に至る光路に
配備される光学系の結像倍率を考慮すると大きすぎ、2
つの発光点を副走査方向(光源から被走査面に至る光路
上で、被走査面上の副走査方向に対応する方向を言う)
に配列したのでは、同時走査される複数走査線の走査線
ピッチが大き過ぎてしまう。
【0004】このため、上記公報記載の発明では、半導
体レーザアレイにおける発光点の配列方向を、主走査方
向(光源から被走査面に至る光路上で、被走査面上の主
走査方向に対応する方向を言う)に対して僅かに傾ける
ことにより、所望の走査線ピッチを実現している。
【0005】光走査装置では通常、光偏向器における面
倒れを補正するため、光源と被走査面との間に配備され
る光学系の結像倍率は、一般に主走査方向と副走査方向
とで異なり、光源装置において「半導体レーザアレイの
発光点配列方向が主走査方向に対してなす角」と、被走
査面上において「ビームスポット配列方向が主走査方向
となす角」とが互いに異なることになる。このため半導
体レーザアレイの傾き角を「所望の走査線ピッチを実現
するように調整する」のが極めて面倒になる。このよう
な観点からすると、半導体レーザアレイは「発光点配列
方向を副走査方向にして使用できる」ことが好ましい。
【0006】これを実現する方策として、半導体レーザ
アレイにおける発光点の配列間隔、即ち、発光点間隔を
小さくすることが考えられる。例えば、発光点間隔が5
〜7μm程度の半導体レーザアレイを用いれば、発光点
の配列方向を副走査方向にしても十分に細かい走査線ピ
ッチを実現できる。
【0007】しかし「発光点間隔の小さい半導体レーザ
アレイ」は製造方法が複雑で、製造コストが高く、これ
を用いることによりマルチビーム走査装置自体もコスト
の高いものになってしまう。
【0008】発光点間隔が10μm程度になれば、半導
体レーザアレイの製造は比較的容易で、比較的低コスト
で製造可能である。しかしこの程度の発光点ピッチのも
のでも、発光点配列方向を副走査方向にした場合、被走
査面上での走査線ピッチは、特に走査密度の高いマルチ
ビーム走査に対しては、やはり大きすぎ、所謂「飛び越
し走査」でなければ使用できない。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、マルチビ
ーム走査において、低コストで実現できる発光点ピッチ
の大きい半導体レーザアレイを、発光点配列方向を副走
査方向にして使用し、なおかつ所望の走査線ピッチを容
易に実現できるようにすることを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明のマ
ルチビーム走査方法は、複数ビームを、被走査面上に、
互いに副走査方向に分離した複数のビームスポットとし
て集光し、被走査面上で複数走査線を同時走査するマル
チビーム走査方法であって、以下の如き特徴を有する。
【0011】即ち、間隔:pで副走査方向に1列配列し
たm(≧2)個の発光点を有する半導体レーザアレイを
n(≧2)個用い、各発光点から放射されるビームを、
半導体レーザアレイごとに設けたn個のカップリングレ
ンズでカップリングし、カップリングされた各ビームを
合成してK(=m×n)本のビームを得、これらK本の
ビームを同時に偏向させ、互いに副走査方向に分離した
ビームスポットとして被走査面上に集光させるようにす
る。
【0012】m個の発光点と被走査面との間に配備さ
れ、各発光点からのビームを被走査面上に集光させる結
像光学系における副走査方向の横倍率をβ、被走査面上
で同時に走査されるK本の走査線の走査線ピッチをLと
するとき、半導体レーザアレイにおける発光点間隔:
p、半導体レーザアレイ数:n、ビーム数:K、横倍
率:β、走査線ピッチ:Lを、{p×|β|/L}が{K
/m}の略約数となるように設定してマルチビーム走査
を行う。
【0013】上記において、m=2とし、n=2または
3または4または5または6とすることができ(請求項
2)、また、n=2とし、m=3または4または5また
は6とすることができ(請求項3)、さらに、n=3と
し、m=4とすることができる(請求項4)。
【0014】この発明のマルチビーム光源装置は、請求
項1記載のマルチビーム走査方法の実施に用いられるマ
ルチビーム光源装置である。
【0015】請求項5記載のマルチビーム光源装置は、
間隔:pで副走査方向に1列配列したm(≧2)個の発
光点を有する半導体レーザアレイをn(≧2)個と、該
n個の半導体レーザアレイの個々に1対1で対応するn
個のカップリングレンズとを一体化してなり、各カップ
リングレンズによりカップリングされた各半導体レーザ
アレイからのビームが「主走査方向において交叉する」
ように、各カップリングレンズと半導体レーザアレイの
位置関係が調整される。
【0016】また、請求項6記載のマルチビーム走査装
置は、間隔:pで副走査方向に1列配列したm(≧2)
個の発光点を有する半導体レーザアレイをn(≧2)個
と、該n個の半導体レーザアレイの個々に1対1で対応
するn個のカップリングレンズと、各カップリングレン
ズによりカップリングされたビームを、各ビームの偏光
状態の違いを利用して合成するビーム合成手段とを一体
化してなる。
【0017】この発明のマルチビーム走査装置は、マル
チビーム光源装置から合成されて放射する複数ビーム
を、共通の線像結像光学系により、互いに副走査方向に
分離した主走査方向に長い線像に結像させ、これら線像
の結像位置近傍に偏向反射面を持つ光偏向器により同時
に偏向させ、これら偏向光束を共通の走査結像光学系に
より被走査面上に集光させることにより、互いに副走査
方向に分離した複数のビームスポットを得、これら複数
のビームスポットにより複数走査線の同時走査を行うマ
ルチビーム走査装置であって、マルチビーム光源装置と
して請求項5または6に記載のものを用い、請求項1〜
4の任意の1に記載のマルチビーム走査方法を実施する
ものである(請求項7)。
【0018】請求項8記載のマルチビーム走査方法は、
複数ビームを、被走査面上に、互いに副走査方向に分離
した複数のビームスポットとして集光し、被走査面上で
複数走査線を同時走査するマルチビーム走査方法であっ
て、以下の点を特徴とする。m(≧2)個の発光点を有
する半導体レーザアレイをn(≧2)個用い、各発光点
から放射されるビームをカップリングする。
【0019】そして、カップリングされたビームをビー
ム合成手段により合成してK(=m×n)本のビームを
得、これらK本のビームを同時に偏向させて、被走査面
上で実質的に同時走査する。
【0020】この請求項8記載のマルチビーム走査方法
において、半導体レーザアレイの個数:nをn=2と
し、発光点の数:mをm=2または3または4または5
または6とすることができ(請求項9)、あるいは、各
半導体レーザアレイにおける発光点の数:mをm=2と
し、半導体レーザアレイの数:nをn=2または3また
は4または5または6とすることもできる(請求項1
0)。
【0021】請求項11記載のマルチビーム走査装置
は、m(≧2)個の発光点を有するn(≧2)個の半導
体レーザアレイと、これら半導体レーザアレイからのビ
ームをカップリングする少なくとも1個のカップリング
レンズと、カップリングされたビームを合成してK(=
m×n)本のビームを得るビーム合成手段と、これらK
本のビームを同時に偏向させて、被走査面上で実質的に
同時走査するための光偏向器とを有する。
【0022】この請求項11記載のマルチビーム走査装
置において、半導体レーザアレイの数:nをn=2と
し、発光点の数:mをm=2または3または4または5
または6とすることができ(請求項12)、逆に、m=
2とし、n=2または3または4または5または6とす
ることもできる(請求項13)。
【0023】上記請求項11記載のマルチビーム走査装
置においては「少なくとも2つの発光点を持ち、これら
少なくとも2つの発光点が互いに分離して副走査方向に
配列された半導体レーザアレイ」を少なくとも2つ有す
ることができ(請求項14)、この場合、各発光点から
放射されるビームをカップリングするための複数のカッ
プリングレンズを有することができ(請求項15)、こ
れら複数のカップリングレンズの個々が、少なくとも2
つの半導体レーザアレイの個々と対応するように構成で
きる(請求項16)。
【0024】また、上記請求項11記載のマルチビーム
走査装置は、それぞれが少なくとも2つの発光点を持つ
半導体レーザアレイを少なくとも2つ有することがで
き、これら少なくとも2つの半導体レーザアレイが、副
走査方向に関して同一直線上にない配置とすることがで
きる(請求項17)。
【0025】上記請求項11記載のマルチビーム走査装
置はまた「少なくとも2つの発光点と被走査面との間に
配備されて、上記発光点からのビームを、被走査面上
に、互いに副走査方向に分離したビームスポットとして
集光させる結像系」を有することができる(請求項1
8)。
【0026】この場合において、結像系の副走査方向の
横倍率をβ、被走査面上で同時に走査されるK本の走査
線の走査線ピッチをL、各半導体レーザアレイにおける
発光点間隔をp、半導体レーザアレイの個数をnとする
とき、{p×|β|/L}が個数:nの略約数となるよう
に設定することができる(請求項19)。
【0027】この請求項19記載のマルチビーム走査装
置においては、n=2とし、{p×|β|/L}を1また
は2とすることもできるし(請求項20)、n=3と
し、{p×|β|/L}を1または3とすることもでき
(請求項21)、n=4とし、{p×|β|/L}を1ま
たは2または4とすることも(請求項22)、n=6と
し、{p×|β|/L}を1または2または3または6と
することもできる(請求項23)。
【0028】上記請求項11記載のマルチビーム走査装
置は、n個の半導体レーザアレイと、n個のカップリン
グレンズとを有することができる。この場合「複数の半
導体レーザアレイから放射される複数ビームが、複数の
カップリングレンズでカップリングされたのち、互いに
主走査方向において交わる」ように、n個の半導体レー
ザアレイとカップリングレンズとの相対的な位置関係を
定めて互いに一体化することができる(請求項24)。
【0029】請求項11記載のマルチビーム走査装置に
おいて、ビーム合成手段は「少なくとも1つのカップリ
ングレンズでカップリングされたビームを、各ビームの
偏光状態の差を利用してビーム合成するもの」であるこ
とができる(請求項25)。また、上記請求項18記載
のマルチビーム走査装置においては「被走査面上で隣接
するビームスポットを形成する発光点間距離を、走査線
ピッチ:Lよりも小さくし」てもよい(請求項26)。
【0030】請求項27記載の発明の「画像形成装置」
は、m(≧2)個の発光点を有するn(≧2)個の半導
体レーザアレイと、これら半導体レーザアレイからのビ
ームをカップリングする少なくとも1個のカップリング
レンズと、カップリングされたビームを合成してK(=
m×n)本のビームを得るビーム合成手段と、これらK
本のビームを同時に偏向させて、被走査面上で実質的に
同時走査するための光偏向器とを有し、K本のビームに
よる実質的な同時走査により画像書込を行うものであ
る。
【0031】この画像形成装置において、n=2とし、
m=2または3または4または5または6とすることが
でき(請求項28)、m=2とし、n=2または3また
は4または5または6とすることもできる(請求項2
9)。
【0032】請求項27記載の画像形成装置は「少なく
とも2つの発光点を持ち、これら少なくとも2つの発光
点が、互いに分離して、副走査方向に配列された半導体
レーザアレイを少なくとも2つ」有することができる
(請求項30)。この場合「それぞれが少なくとも2つ
の発光点を持つ半導体レーザアレイを少なくとも2つ有
し、これら少なくとも2つの半導体レーザアレイが、副
走査方向に関して同一直線上にない配置とする」ことが
できる(請求項31)。
【0033】上記請求項27〜31の任意の1に記載の
画像形成装置は「K本のビームにより潜像担持体を同時
走査して潜像を形成し、形成された潜像を現像して画像
を形成する画像形成装置」であることができる(請求項
32)、この場合、潜像担持体として光導電性の感光体
を用い、潜像担持体を均一に帯電したのちK本のビーム
による光走査で静電潜像を形成し、形成された静電潜像
を現像してトナー画像を得、このトナー画像を記録媒体
上に定着して画像を形成するように構成することができ
る。
【0034】このような画像形成装置としては、デジタ
ル複写装置、レーザプリンタやレーザプロッタ、レーザ
製版装置等として実施することができる。
【0035】
【発明の実施の形態】図1(a)は「マルチビーム走査
装置」の実施の1形態を説明図的に示している。このマ
ルチビーム走査装置は、1度に4本の走査線を同時走査
するものである。
【0036】マルチビーム光源装置10から合成されて
放射する4本のビーム(各々がカップリングレンズによ
りカップリングされて「平行ビーム」もしくは「弱い発
散性もしくは弱い集束性のビーム」となっている)は、
「共通の線像結像光学系」であるシリンダレンズ12に
より各々が副走査方向に集束され、互いに副走査方向に
分離した「主走査方向に長い4つの線像」に結像する。
「光偏向器」であるポリゴンミラー14は、上記4つの
線像の結像位置近傍に偏向反射面を持ち、4ビームを同
時に等角速度的に偏向させる。これら偏向ビームは「共
通の走査結像光学系」をなすレンズ16A,16Bによ
り「被走査面」の実体をなす光導電性の感光体20の感
光面上に互いに副走査方向に分離した4つのビームスポ
ットとして集光し、感光面20を4走査線同時に走査す
る。なお、偏向ビームの光路はレンズ16A,16Bの
間で、折り返しミラー18により屈曲されている。ま
た、走査開始位置へ向かって偏向する偏向ビームは、ミ
ラー22により受光素子24へ向けて反射される。受光
素子24はビームを受光すると受光信号を発し、図示さ
れない制御手段はこの受光信号に応じて走査開始の同期
信号を生成し、この同期信号に従って書込みが開始され
る。
【0037】図1(b)は「マルチビーム光源装置」を
説明図的に示している。
【0038】このマルチビーム光源装置は、請求項5記
載の発明の実施の1形態をなすものである。2個の半導
体レーザアレイ111,112と、これらと1対1で対
応する2個のカップリングレンズ113,114とは、
ケーシング115により一体化されている。
【0039】図1(c)を参照すると、この図は、カッ
プリングレンズ113,114の光軸方向から半導体レ
ーザアレイ111,112を見た状態を示している。図
の上下方向が副走査方向、左右方向が主走査方向であ
る。半導体レーザアレイ111,112は同一規格のも
ので、発光点間隔は「p」である。
【0040】半導体レーザアレイ111は2つの発光点
A1,A2を有し、半導体レーザアレイ112は2つの
発光点A3,A4を有する。半導体レーザアレイ111
において発光点A1,A2は副走査方向に配列され、半
導体レーザアレイ112において発光点A3,A4は副
走査方向に配列されている。
【0041】半導体レーザ111,112の中心(発光
点の配列中心)は、主走査方向に関してはカップリング
レンズ113,114の中心(光軸)よりも互いに遠ざ
かるように配備されている。このため、図1(b)に示
すように、半導体レーザ111,112から放射され、
カップリングレンズ113,114でカップリングされ
たビームL1,L2,L3,L4は「主走査方向(図の
上下方向)において互いに交叉する」ように合成されて
射出する。交叉位置:Pを、ポリゴンミラー14におけ
る偏向反射面近傍に設定することにより、偏向反射面を
小さくでき、ポリゴンミラー14をコンパクト化でき
る。
【0042】図1(c)に示すように、半導体レーザア
レイ111,112の中心は、副走査方向においても互
いにずれており、このため、各発光点から射出したビー
ムは「被走査面上において副走査方向に互いに分離した
ビームスポット」として集光する。
【0043】即ち、図1(b),(c)に実施形態を示
すマルチビーム光源装置は、間隔:pで副走査方向に1
列配列したm(=2)個の発光点A1,A2(A3,A
4)を有する半導体レーザアレイをn(=2)個と、該
n個の半導体レーザアレイの個々に1対1で対応するn
個のカップリングレンズ113,114とを一体化して
なり、各カップリングレンズによりカップリングされた
各半導体レーザアレイからのビームL1,L2,L3,
L4が、主走査方向において交叉するように、各カップ
リングレンズ113,114と半導体レーザアレイ11
1,112の位置関係が調整されたものである(請求項
5)。
【0044】図1(a)に示すマルチビーム走査装置
は、マルチビーム光源装置10から合成されて放射する
複数ビームを、共通の線像結像光学系12により、互い
に副走査方向に分離した主走査方向に長い線像に結像さ
せ、これら線像の結像位置近傍に偏向反射面を持つ光偏
向器14により同時に偏向させ、これら偏向光束を共通
の走査結像光学系16A,16Bにより被走査面20上
に集光させることにより、互いに副走査方向に分離した
複数のビームスポットを得、これら複数のビームスポッ
トにより複数走査線の同時走査を行うマルチビーム走査
装置であって、マルチビーム光源装置10として請求項
5に記載のものを用いるものである。そして後述するよ
うに、請求項1〜4の任意の1に記載のマルチビーム走
査方法を実施するものである(請求項7)。
【0045】図2は、請求項5記載のマルチビーム光源
装置の実施の別形態を説明図的に示している。繁雑を避
けるため、混同の虞れが無いと思われるものについて
は、図2以下においても図1におけると同一の符号を用
いる。
【0046】図2に示す実施の形態では、2個の半導体
レーザアレイ111,112と、これらと1対1で対応
する2個のカップリングレンズ113,114は、ケー
シング116により一体化されている。
【0047】カップリングレンズ113,114の光軸
は、主走査方向において、光偏向器の偏向反射面近傍で
互いに交わるように角をなし、半導体レーザアレイ11
1,112の中心は、主走査方向に関しては、対応する
カップリングレンズの光軸と一致し、副走査方向に関し
ては互いにずれている。
【0048】図3は、請求項6記載のマルチビーム光源
装置の実施の1形態を示している。半導体レーザアレイ
111,112、カップリングレンズ113,114、
1/2波長板117、ビーム合成プリズム118は、同
一ケーシング120内に配備一体化されている。図3
(b)に示すように、半導体レーザ111は、間隔:p
で1列配列した2個の発光点A1,A2の配列方向を副
走査方向に合致させ、中心をカップリングレンズ113
の光軸に対して副走査方向へ若干ずらして配備されてい
る。同様に、半導体レーザ112は、間隔:pで1列配
列した2個の発光点A3,A4の配列方向を副走査方向
に合致させ、中心をカップリングレンズ114の光軸に
対して副走査方向へ若干ずらして配備されている。
【0049】半導体レーザ111の各発光点から放射さ
れたビームは、カップリングレンズ113によりカップ
リングされ、1/2波長板117により偏光面を90度
旋回され、ビーム合成プリズム118の反射面で反射さ
れたのち偏光分離膜119により反射されてビーム合成
プリズム118から射出する。半導体レーザ112の各
発光点から放射されたビームは、カップリングレンズ1
14によりカップリングされ、偏光分離膜119を透過
してビーム合成プリズム118から射出する。このよう
にして、4本のビームを合成することができる。合成さ
れた4本のビームは、副走査方向には互いに角をなして
分離するが、主走査方向に関しては同一面内にある。な
お、これら合成された4ビームの偏光状態を1/4波長
板を用いて、円偏光状態に揃えるようにしても良い。
【0050】即ち、図3に実施の形態を示すマルチビー
ム光源装置は、間隔:pで副走査方向に1列配列したm
(=2)個の発光点を有するn(=2)個の半導体レー
ザアレイ111,112と、該n個の半導体レーザアレ
イの個々に1対1で対応するn個のカップリングレンズ
113,114と、各カップリングレンズによりカップ
リングされたビームを、各ビームの偏光状態の違いを利
用して合成するビーム合成手段117,118とを一体
化してなるマルチビーム光源装置(請求項6)である。
このようなマルチビーム光源装置を、図1(a)に示す
マルチビーム走査装置のマルチビーム光源装置として用
い得ることは言うまでもない。
【0051】上には、半導体レーザアレイとして発光点
数:2のものを2個用いたマルチビーム光源装置を説明
したが、上の実施の形態において、半導体レーザアレイ
として発光点数が3以上のものを用いれば6本以上のビ
ームを合成できる。また、発光点数が2以上の半導体レ
ーザアレイを3個以上用い、これら半導体レーザアレイ
からの6本以上のビームを合成して射出させるようにし
たマルチビーム光源装置も勿論可能である。
【0052】図1に即して説明したマルチビーム走査装
置では、m(=2)個の発光点を有する半導体レーザア
レイをn(=2)個用い、各発光点から放射されるビー
ムをカップリングし、カップリングされたビームをビー
ム合成手段(半導体レーザアレイ111,112とカッ
プリングレンズ113,114との相対的な位置関係に
より構成されている)により合成してK(=4)本のビ
ームを得、これらK本のビームを同時に偏向させて、被
走査面20上で実質的に同時走査するマルチビーム走査
方法(請求項8)が実施される。
【0053】また、図1に実施の形態を示したマルチビ
ーム走査装置は、m(=2)個の発光点を有するn(=
2)個の半導体レーザアレイ111,112と、これら
半導体レーザアレイからのビームをカップリングする少
なくとも1個のカップリングレンズ113,114と、
カップリングされたビームを合成してK(=4)本のビ
ームを得るビーム合成手段(半導体レーザアレイ11
1,112とカップリングレンズ113,114との相
対的な位置関係により構成されている)と、これらK本
のビームを同時に偏向させて、被走査面上で実質的に同
時走査するための光偏向器14とを有するものであり
(請求項11)、少なくとも2つの発光点を持ち、これ
ら少なくとも2つの発光点が、互いに分離して副走査方
向に配列された半導体レーザアレイ111,112を有
するものであり(請求項14)、各発光点から放射され
るビームをカップリングするための複数のカップリング
レンズ113,114を有し(請求項15)、複数のカ
ップリングレンズ113,114の個々は、2つの半導
体レーザアレイ111,112の個々と対応し(請求項
16)、2つの半導体レーザアレイ111,112は、
副走査方向に関して同一直線上にない配置となっている
(請求項17)。
【0054】また、少なくとも2つの発光点と被走査面
との間に配備されて、発光点からのビームを、被走査面
上に、互いに副走査方向に分離したビームスポットとし
て集光させる結像系113,114,16A,16Bを
有する(請求項18)。
【0055】上記図1に実施の形態を示したマルチビー
ム走査装置および、この実施の形態における光源部とし
て用いうる図2の光源装置は、n(=2)個の半導体レ
ーザアレイ111,112と、n個のカップリングレン
ズ113,114とを有し、半導体レーザアレイ11
1,112から放射される複数ビームが、カップリング
レンズ113,114でカップリングされたのち、互い
に主走査方向において交わるように、n個の半導体レー
ザアレイとカップリングレンズとが、相対的な位置関係
を定められて互いに一体化されたものであり(請求項2
4)、また、図3に示す光源装置は、「ビーム合成手
段」として、カップリングレンズ113,114でカッ
プリングされたビームを、各ビームの偏光状態の差を利
用してビーム合成するものを用いている(請求項2
5)。
【0056】図1に示した、光導電性の感光体20は、
図示されない帯電手段(帯電ローラやコロナ帯電器)で
均一に帯電されたのち、4本のビームによる同時走査に
よる光書込で画像書込され、静電潜像(ネガ潜像)を形
成される。この静電潜像は、図示されない現像装置で反
転現像され、トナー画像として可視化される。このよう
に得られたトナー画像は、転写紙やOHPシート(オー
バヘッドプロジェクタ用のプラスチックシート)のよう
なシート状の記録媒体に直接もしくは、中間転写ベルト
等の中間転写媒体を介して転写され、図示されない定着
装置により記録媒体上に定着される。このようにして所
望の画像が形成される。
【0057】即ち、図1に示す実施の形態は、画像形成
装置としては、m(=2)個の発光点を有するn(=
2)個の半導体レーザアレイ111,112と、これら
半導体レーザアレイからのビームをカップリングする少
なくとも1個のカップリングレンズ113,114と、
カップリングされたビームを合成してK(=4)本のビ
ームを得るビーム合成手段(半導体レーザアレイ11
1,112とカップリングレンズ113,114との相
対的な位置関係により構成されている)と、これらK本
のビームを同時に偏向させて、被走査面20上で実質的
に同時走査するための光偏向器14とを有し、K本のビ
ームによる実質的な同時走査により画像書込を行うもの
であり(請求項27)、2つの発光点を持ち、これら2
つの発光点が、互いに分離して、副走査方向に配列され
た半導体レーザアレイ111,112を有し(請求項3
0)、2つの半導体レーザアレイ111,112は、副
走査方向に関して同一直線上にない配置である(請求項
31)。
【0058】そしてまた上記実施の形態の画像形成装置
は、K(=4)本のビームにより潜像担持体20を同時
走査して潜像を形成し、形成された潜像を現像して画像
を形成する画像形成装置で(請求項32)、潜像担持体
20として光導電性の感光体を用い、潜像担持体を均一
に帯電したのちK本のビームによる光走査で静電潜像を
形成し、形成された静電潜像を現像してトナー画像を
得、このトナー画像を記録媒体上に定着して画像を形成
する画像形成装置である(請求項33)。
【0059】
【実施例】上述の、図1の実施の形態は、4本の走査線
を同時走査するものである。マルチビーム光源装置10
に設けられた2個の半導体レーザアレイは、それぞれ2
個の発光点を有し、これら2個の発光点は、発光点間
隔:pで副走査方向に配列している。従って、マルチビ
ーム光源装置10からはK=4本のビームが合成されて
射出する。これら4本のビームを被走査面上にビームス
ポットとして集光させるのに、図4に示す2通りの方法
がある。
【0060】同時走査される4本の走査線を走査線S1
〜S4とし、走査線ピッチをLとする。各発光点と被走
査面との間に配備される結像光学系(説明中の例では、
カップリングレンズ113,114、シリンダレンズ1
2、走査結像光学系16A,16Bにより構成される)
の副走査方向の横倍率をβとする。
【0061】発光点A1〜A4から放射された各ビーム
により形成されたビームスポットを、それぞれB1〜B
4とする。
【0062】図4の左側の場合(各半導体レーザアレイ
の2ビームが互いに隣接するビームスポットを形成す
る)、発光点間隔:pと走査線ピッチ:Lの関係は、p
×|β|=Lであるから{p×|β|/L}=1である。
図の右側の場合(各半導体レーザアレイの2ビームが、
走査線ピッチ:Lの2倍だけ副走査方向に分離する)
は、p×|β|=2Lであるから{p×|β|/L}=2
である。そして、K=4でありm=2であるから、(K
/m)=2である。すると、図4に示された2つの場合
において、{p×|β|/L}は{K/m}の約数であ
る。
【0063】具体的な数値で説明する。
【0064】実施例1 4ビームの隣接走査(副走査方向に隣接したビームスポ
ットが隣接した走査線を走査し、飛び越し走査を行わな
い場合)により、副走査方向に600dpiの走査密度
を得る場合。
【0065】L=25.4mm/600=0.0423
である。|β|=3.0とする。
【0066】この場合、図4の左側の例では、p×|β
|=Lであるから、半導体レーザアレイにおける発光点
の間隔:pは、p=0.0423/3.0=0.014
1mmとなり、発光点間隔:pが約14μmの「比較的
安価に製造できる半導体レーザアレイ」を用いることが
できる。
【0067】図4の右側の例では、p×|β|=2Lで
あるから、p=2L/|β|により、p=2×0.042
3/3.0=0.0282mmとなり、発光点間隔:p
が約28μmの「より安価に製造できる半導体レーザア
レイ」を使用することが可能になる。この実施例の場
合、走査密度が600dpiと比較的に低いので、発光
点間隔:pが約14μmの半導体レーザアレイを、発光
点を副走査方向に配列させて用いても、所望の走査線ピ
ッチを実現できる。
【0068】即ち、半導体レーザアレイにおける発光点
間隔:p、半導体レーザアレイ数:n、ビーム数:K、
横倍率:β、走査線ピッチ:Lを、{p×|β|/L}が
{K/m}の約数となるように設定することにより、一
般に発光点間隔の大きい「安価に製造できる半導体レー
ザアレイ」の使用が可能になる。実際には、横倍率:β
は、主走査方向における書込み位置により±15%程度
変動し、その程度の変動は画像形成上許容されるので、
上記{p×|β|/L}は{K/m}の厳密な約数である
必要は無く、約数に近い値、即ち「略約数」であればよ
い。どの程度を持って略約数とすべきかは、画像形成で
どの程度まで許容されるかに応じて定まるものである。
【0069】図5には、6ビームで6走査線を同時走査
する場合の、被走査面上におけるビームスポットの配列
状態を示す。図4と同様、横線は走査線であり、上下方
向が副走査方向で「黒丸」はビームスポットを表す。
「縦線で結ばれた黒丸」は、同一の半導体レーザアレイ
から放射されたビームによるビームスポットである。
【0070】n=2,m=3に対しては、図の左側の2
つの場合、即ち、p×|β|=Lおよびp×|β|=2
Lが可能であり、n=3,m=2に対しては、図の右側
の2つの場合、即ち、p×|β|=Lおよびp×|β|
=3Lが可能である。
【0071】n=2,m=3の場合、半導体レーザアレ
イとして発光点間隔:pが14μmあるいは28μmの
低製造コストのものを使用できる。また、n=3,m=
2の場合は、半導体レーザアレイとして、発光点間隔:
pが14μmあるいは42μmの低製造コストのものを
使用できる。
【0072】図6には、8ビームで8走査線を同時走査
する場合の被走査面上におけるビームスポットの状態を
図5に倣って示す。
【0073】n=2,m=4に対しては図の左側の2つ
の場合、即ち、p×|β|=Lおよびp×|β|=2L
が可能であり、n=4,m=2に対しては、図の右側の
3つの場合、即ち、p×|β|=L,p×|β|=2L
およびp×|β|=4Lが可能である。
【0074】n=2,m=4の場合、半導体レーザアレ
イとして発光点間隔:pが14μmあるいは28μmの
低製造コストのものを使用できる。また、n=4,m=
2の場合は、半導体レーザアレイとして、発光点間隔:
pが14μmあるいは28μmまたは56μmの低製造
コストのものを使用できる。
【0075】図7は、10ビームで10走査線を同時走
査する場合の、被走査面上におけるビームスポットの配
列状態を図5に倣って示す。
【0076】n=2,m=5に対しては、図の左側の2
つの場合、即ち、p×|β|=Lおよびp×|β|=2
Lが可能であり、n=5,m=2に対しては、図の右側
の2つの場合、即ち、p×|β|=L,p×|β|=5
Lが可能である。
【0077】図8には、12ビームで12走査線を同時
走査する場合の、被走査面上におけるビームスポットの
配列状態を図5に倣って示す。
【0078】n=2,m=6に対しては、上の図の左側
の2つの場合、即ち、p×|β|=Lおよびp×|β|
=2Lが可能であり、n=3,m=4に対しては、上の
図の中の2つの場合、即ち、p×|β|=L,p×|β
|=3Lが可能であり、n=4,m=3に対しては、上
の図の右の3つの場合、即ち、p×|β|=L,p×|
β|=2Lとp×|β|=4Lが可能であり、n=6,
m=2に対しては、下の図の4つの場合、即ち、p×|
β|=L,p×|β|=2L,p×|β|=3Lおよび
p×|β|=6Lが可能である。
【0079】実施例2 図6に示した8ビームによるマルチビーム走査で、12
00dpiの隣接走査を行う場合、|β|=3.0とす
ると、L=25.4mm/1200=0.0212mm
であり、発光点数:4の半導体レーザアレイを2つ用い
れば、p=L/|β|とp=2L/|β|を選ぶことが
でき、p=L/|β|ではp=0.0212/3.0=
0.00707より、約7μmの発光点間隔を有する半
導体レーザアレイが必要となるが、p=2L/|β|を
選べば、p=2×0.0212/3.0=0.0141
より、約14μmの「より低コストで製造可能」な半導
体レーザアレイを使用できる。また、発光点2つの半導
体レーザアレイを4つ用いれば、p=L/|β|とp=
2L/|β|とp=4L/|β|を選ぶことができ、最
も広い発光点間隔としてはp=4L/|β|を選択でき
る。
【0080】走査密度が1200dpiと高いので、p
=L/|β|では、p=0.0212/3.0=0.0
0707mmより、約7μmの発光点間隔を有する半導
体レーザアレイが必要となるが、p=4L/|β|では
p=4×0.0212/3.0=0.0282mmより
発光点間隔が略28μmの、また、p=2L/|β|で
は、発光点間隔が略14μmの、低コストで製造可能な
半導体レーザアレイを使用できる。
【0081】図7に示した10ビームによるマルチビー
ム走査で、1200dpiの隣接走査を行う場合、|β
|=3.0とすると、L=25.4mm/1200=
0.0212mmであり、発光点数:5の半導体レーザ
アレイを2つ用いれば、p=L/|β|とp=2L/|
β|を選ぶことができ、p=L/|β|ではp=0.0
212/3.0=0.00707より、約7μmの発光
点間隔を有する半導体レーザアレイが必要となるが、p
=2L/|β|を選べば、p=2×0.0212/3.
0=0.0141より、約14μmの「より低コストで
製造可能」な半導体レーザアレイを使用できる。また、
発光点2つの半導体レーザアレイを5つ用いれば、p=
L/|β|とp=5L/|β|を選ぶことができ、最も
広い発光点間隔としてはp=5L/|β|を選択でき
る。この場合、p=L/|β|では、約7μmの発光点
間隔を有する半導体レーザアレイが必要となるが、p=
5L/|β|では発光点間隔が略35μmの、低コスト
で製造可能な半導体レーザアレイを使用できる。
【0082】図8に示した12ビームによるマルチビー
ム走査で、1200dpiの隣接走査を行う場合、|β
|=3.0とすると、L=25.4mm/1200=
0.0212mmであり、発光点数:6の半導体レーザ
アレイを2つ用いれば、p=L/|β|とp=2L/|
β|が可能であり、p=2L/|β|を選べば、発光点
間隔が約14μmの半導体レーザアレイを使用できる。
また、発光点4つの半導体レーザアレイを3つ用いれ
ば、p=L/|β|とp=3L/|β|が可能で、p=
3L/|β|を選択すれば、発光点間隔が21μmの半
導体レーザアレイが使用可能であり、m=3,n=4の
場合には、p=L/|β|、p=2L/|β|、p=4
L/|β|が可能で、p=2L/|β|では発光点間隔
が14μm、p=4L/|β|では発光点間隔が略28
μmの半導体レーザアレイを使用できる。さらに、m=
2,n=6の場合には、p=L/|β|、p=2L/|
β|、p=3L/|β|とp=6L/|β|が可能で、
p=2L/|β|を選べば、発光点間隔が約14μmの
半導体レーザアレイを使用でき、p=3L/|β|を選
べば、発光点間隔が約21μmの半導体レーザアレイを
使用でき、p=6L/|β|を選べば発光点間隔が42
μmの半導体レーザアレイを使用できる。
【0083】また「飛び越し走査」の場合には、同じ副
走査記録密度であっても、同時走査する走査線ピッチ:
Lを更に広げることができるので、より発光点間隔の大
きい半導体レーザアレイが使用でき、更に安いコストで
つくることができる。
【0084】実施例3 8ビームによるマルチビーム走査を、1200dpiの
走査密度で飛び越し次数:3の飛び越し走査を行う場
合、|β|=3.0とすると、L=(25.4mm/1
200)×3=0.0635mmとなるから、p=1L
/|β|ではp=0.0635/3.0=0.0212
mmより、発光点間隔が約21μmで、発光点を副走査
方向に配列した半導体レーザアレイを使用でき、p=4
L/|β|ではp=4×0.0635/3.0=0.0
847mmより、約85μmの発光点間隔の半導体レー
ザアレイを使用できる。
【0085】いずれの場合も、従来に比べ、半導体レー
ザアレイの発光点間隔が広くなりその製法も簡単になり
安いコストで製造できる。
【0086】実施例4 8ビームによるマルチビーム走査を、1200dpiの
走査密度で飛び越し次数:9の飛び越し走査を行う場
合、|β|=3.0とすると、L=(25.4mm/1
200)×9=0.1905mmとなるから、p=L/
|β|では、p=0.1905/3.0=0.0635
mmより、約63.5μmの間隔で発光点を副走査方向
に配列した半導体レーザアレイを使用でき、p=4L/
|β|ではp=4×0.1905/3.0=0.254
mmより、約254μmの間隔で発光点を副走査方向に
配列した半導体レーザアレイを使用できる。
【0087】いずれの場合も、従来に比べ、半導体レー
ザアレイの発光点間隔が広くなりその製法も簡単になり
安いコストで製造できる。
【0088】上に挙げた具体的な数値例は例示であり、
この発明は、上記以外の場合にも適用可能であって、上
記例に限定されるものでないことは言うまでもない。
【0089】
【発明の効果】以上に説明したように、この発明によれ
ば、従来にない新規なマルチビーム走査方法・マルチビ
ーム走査装置およびマルチビーム光源装置を実現でき
る。この発明においてはマルチビーム走査の光源とし
て、低コストで実現できる発光点間隔の大きい半導体レ
ーザアレイを使用できるので、マルチビーム光源装置、
ひいてはマルチビーム走査装置の低コスト化が可能であ
る。また、個々の半導体レーザアレイは、発光点配列方
向を副走査方向にして使用するので位置調整が容易であ
る。また、所望の走査線ピッチを容易に実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明のマルチビーム走査装置の実施の1形
態を説明するための図である。
【図2】この発明のマルチビーム光源装置の実施の1形
態を説明するための図である。
【図3】この発明のマルチビーム光源装置の実施の別形
態を説明するための図である。
【図4】この発明のマルチビーム走査方法を説明するた
めの図である。
【図5】この発明のマルチビーム走査方法を説明するた
めの図である。
【図6】この発明のマルチビーム走査方法を説明するた
めの図である。
【図7】この発明のマルチビーム走査方法を説明するた
めの図である。
【図8】この発明のマルチビーム走査方法を説明するた
めの図である。
【符号の説明】
10 マルチビーム光源装置 111,112 半導体レーザアレイ 113,114 カップリングレンズ A1〜A4 発光点

Claims (33)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数ビームを、被走査面上に、互いに副走
    査方向に分離した複数のビームスポットとして集光し、
    被走査面上で複数走査線を同時走査するマルチビーム走
    査方法において、 間隔:pで副走査方向に1列配列したm(≧2)個の発
    光点を有する半導体レーザアレイをn(≧2)個用い、
    各発光点から放射されるビームを、半導体レーザアレイ
    ごとに設けたn個のカップリングレンズでカップリング
    し、カップリングされた各ビームを合成してK(=m×
    n)本のビームを得、これらK本のビームを同時に偏向
    させ、互いに副走査方向に分離したビームスポットとし
    て被走査面上に集光させるようにし、 上記m個の発光点と被走査面との間に配備され、各発光
    点からのビームを被走査面上に集光させる結像光学系に
    おける副走査方向の横倍率をβ、被走査面上で同時に走
    査されるK本の走査線の走査線ピッチをLとするとき、 半導体レーザアレイにおける発光点間隔:p、半導体レ
    ーザアレイ数:n、ビーム数:K、横倍率:β、走査線
    ピッチ:Lを、{p×|β|/L}が{K/m}の略約数
    となるように設定してマルチビーム走査を行うことを特
    徴とするマルチビーム走査方法。
  2. 【請求項2】請求項1記載のマルチビーム走査方法にお
    いて、 m=2で、n=2または3または4または5または6で
    あることを特徴とするマルチビーム走査方法。
  3. 【請求項3】請求項1記載のマルチビーム走査方法にお
    いて、 n=2で、m=3または4または5または6であること
    を特徴とするマルチビーム走査方法。
  4. 【請求項4】請求項1記載のマルチビーム走査方法にお
    いて、 n=3で、m=4であることを特徴とするマルチビーム
    走査方法。
  5. 【請求項5】請求項1記載のマルチビーム走査方法の実
    施に用いられるマルチビーム光源装置であって、 間隔:pで副走査方向に1列配列したm(≧2)個の発
    光点を有する半導体レーザアレイをn(≧2)個と、 該n個の半導体レーザアレイの個々に1対1で対応する
    n個のカップリングレンズとを一体化してなり、 各カップリングレンズによりカップリングされた各半導
    体レーザアレイからのビームが主走査方向において交叉
    するように、各カップリングレンズと半導体レーザアレ
    イの位置関係が調整されたことを特徴とするマルチビー
    ム光源装置。
  6. 【請求項6】請求項1記載のマルチビーム走査方法の実
    施に用いられるマルチビーム光源装置であって、 間隔:pで副走査方向に1列配列したm(≧2)個の発
    光点を有する半導体レーザアレイをn(≧2)個と、 該n個の半導体レーザアレイの個々に1対1で対応する
    n個のカップリングレンズと、 各カップリングレンズによりカップリングされたビーム
    を、各ビームの偏光状態の違いを利用して合成するビー
    ム合成手段とを一体化してなるマルチビーム光源装置。
  7. 【請求項7】マルチビーム光源装置から合成されて放射
    する複数ビームを、共通の線像結像光学系により互いに
    副走査方向に分離した主走査方向に長い線像に結像さ
    せ、これら線像の結像位置近傍に偏向反射面を持つ光偏
    向器により同時に偏向させ、これら偏向光束を共通の走
    査結像光学系により被走査面上に集光させることによ
    り、互いに副走査方向に分離した複数のビームスポット
    を得、これら複数のビームスポットにより複数走査線の
    同時走査を行うマルチビーム走査装置であって、マルチ
    ビーム光源装置として請求項5または6に記載のものを
    用い、請求項1〜4の任意の1に記載のマルチビーム走
    査方法を実施するものであることを特徴とするマルチビ
    ーム走査装置。
  8. 【請求項8】複数ビームを、被走査面上に、互いに副走
    査方向に分離した複数のビームスポットとして集光し、
    被走査面上で複数走査線を同時走査するマルチビーム走
    査方法において、 m(≧2)個の発光点を有する半導体レーザアレイをn
    (≧2)個用い、 各発光点から放射されるビームをカップリングし、 カップリングされたビームをビーム合成手段により合成
    してK(=m×n)本のビームを得、 これらK本のビームを同時に偏向させて、被走査面上で
    実質的に同時走査することを特徴とするマルチビーム走
    査方法。
  9. 【請求項9】請求項8記載のマルチビーム走査方法にお
    いて、 n=2であり、m=2または3または4または5または
    6であることを特徴とするマルチビーム走査方法。
  10. 【請求項10】請求項8記載のマルチビーム走査方法に
    おいて、 m=2であり、n=2または3または4または5または
    6であることを特徴とするマルチビーム走査方法。
  11. 【請求項11】m(≧2)個の発光点を有するn(≧
    2)個の半導体レーザアレイと、 これら半導体レーザアレイからのビームをカップリング
    する少なくとも1個のカップリングレンズと、 カップリングされたビームを合成してK(=m×n)本
    のビームを得るビーム合成手段と、 これらK本のビームを同時に偏向させて、被走査面上で
    実質的に同時走査するための光偏向器とを有することを
    特徴とするマルチビーム走査装置。
  12. 【請求項12】請求項11記載のマルチビーム走査装置
    において、 n=2であり、m=2または3または4または5または
    6であることを特徴とするマルチビーム走査装置。
  13. 【請求項13】請求項11記載のマルチビーム走査装置
    において、 m=2であり、n=2または3または4または5または
    6であることを特徴とするマルチビーム走査装置。
  14. 【請求項14】請求項11記載のマルチビーム走査装置
    において、 少なくとも2つの発光点を持ち、これら少なくとも2つ
    の発光点が、互いに分離して副走査方向に配列された半
    導体レーザアレイを少なくとも2つ有することを特徴と
    するマルチビーム走査装置。
  15. 【請求項15】請求項14記載のマルチビーム走査装置
    において、 各発光点から放射されるビームをカップリングするため
    の複数のカップリングレンズを有することを特徴とする
    マルチビーム走査装置。
  16. 【請求項16】請求項15記載のマルチビーム走査装置
    において、 複数のカップリングレンズの個々が、少なくとも2つの
    半導体レーザアレイの個々と対応することを特徴とする
    マルチビーム走査装置。
  17. 【請求項17】請求項11記載のマルチビーム走査装置
    において、 それぞれが少なくとも2つの発光点を持つ半導体レーザ
    アレイを少なくとも2つ有し、これら少なくとも2つの
    半導体レーザアレイは、副走査方向に関して同一直線上
    にない配置となっていることを特徴とするマルチビーム
    走査装置。
  18. 【請求項18】請求項11記載のマルチビーム走査装置
    において、 少なくとも2つの発光点と被走査面との間に配備され
    て、上記発光点からのビームを、被走査面上に、互いに
    副走査方向に分離したビームスポットとして集光させる
    結像系を有することを特徴とするマルチビーム走査装
    置。
  19. 【請求項19】請求項18記載のマルチビーム走査装置
    において、 結像系の副走査方向の横倍率をβ、被走査面上で同時に
    走査されるK本の走査線の走査線ピッチをL、各半導体
    レーザアレイにおける発光点間隔をp、半導体レーザア
    レイの個数をnとするとき、{p×|β|/L}が上記個
    数:nの略約数となるように設定されたことを特徴とす
    るマルチビーム走査装置。
  20. 【請求項20】請求項19記載のマルチビーム走査装置
    において、 n=2で、{p×|β|/L}が1または2であることを
    特徴とするマルチビーム走査装置。
  21. 【請求項21】請求項19記載のマルチビーム走査装置
    において、 n=3で、{p×|β|/L}が1または3であることを
    特徴とするマルチビーム走査装置。
  22. 【請求項22】請求項19記載のマルチビーム走査装置
    において、 n=4で、{p×|β|/L}が1または2または4であ
    ることを特徴とするマルチビーム走査装置。
  23. 【請求項23】請求項19記載のマルチビーム走査装置
    において、 n=6で、{p×|β|/L}が1または2または3また
    は6であることを特徴とするマルチビーム走査装置。
  24. 【請求項24】請求項11記載のマルチビーム走査装置
    において、 n個の半導体レーザアレイと、n個のカップリングレン
    ズとを有し、 複数の半導体レーザアレイから放射される複数ビーム
    が、複数のカップリングレンズでカップリングされたの
    ち、互いに主走査方向において交わるように、上記n個
    の半導体レーザアレイとカップリングレンズとが、相対
    的な位置関係を定められて互いに一体化されていること
    を特徴とするマルチビーム走査装置。
  25. 【請求項25】請求項11記載のマルチビーム走査装置
    において、 ビーム合成手段は、少なくとも1つのカップリングレン
    ズでカップリングされたビームを、各ビームの偏光状態
    の差を利用してビーム合成するものであることを特徴と
    するマルチビーム走査装置。
  26. 【請求項26】請求項18記載のマルチビーム走査装置
    において、 被走査面上で隣接するビームスポットを形成する発光点
    間距離が、走査線ピッチ:Lよりも小さいことを特徴と
    するマルチビーム走査装置。
  27. 【請求項27】m(≧2)個の発光点を有するn(≧
    2)個の半導体レーザアレイと、 これら半導体レーザアレイからのビームをカップリング
    する少なくとも1個のカップリングレンズと、 カップリングされたビームを合成してK(=m×n)本
    のビームを得るビーム合成手段と、 これらK本のビームを同時に偏向させて、被走査面上で
    実質的に同時走査するための光偏向器とを有し、 上記K本のビームによる実質的な同時走査により画像書
    込を行うことを特徴とする画像形成装置。
  28. 【請求項28】請求項27記載の画像形成装置におい
    て、 n=2であり、m=2または3または4または5または
    6であることを特徴とする画像形成装置。
  29. 【請求項29】請求項27記載の画像形成装置におい
    て、 m=2であり、n=2または3または4または5または
    6であることを特徴とする画像形成装置。
  30. 【請求項30】請求項27記載の画像形成装置におい
    て、 少なくとも2つの発光点を持ち、これら少なくとも2つ
    の発光点が、互いに分離して、副走査方向に配列された
    半導体レーザアレイを少なくとも2つ有することを特徴
    とする画像形成装置。
  31. 【請求項31】請求項27記載の画像形成装置におい
    て、 それぞれが少なくとも2つの発光点を持つ半導体レーザ
    アレイを少なくとも2つ有し、これら少なくとも2つの
    半導体レーザアレイは、副走査方向に関して同一直線上
    にない配置であることを特徴とする画像形成装置。
  32. 【請求項32】請求項27〜31の任意の1に記載の画
    像形成装置において、 K本のビームにより潜像担持体を同時走査して潜像を形
    成し、形成された潜像を現像して画像を形成する画像形
    成装置であることを特徴とする画像形成装置。
  33. 【請求項33】請求項32記載の画像形成装置におい
    て、 潜像担持体として光導電性の感光体を用い、潜像担持体
    を均一に帯電したのちK本のビームによる光走査で静電
    潜像を形成し、形成された静電潜像を現像してトナー画
    像を得、このトナー画像を記録媒体上に定着して画像を
    形成することを特徴とする画像形成装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007206180A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Kyocera Mita Corp 光走査装置及び画像形成装置
JP2007206131A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Kyocera Mita Corp 光走査装置及び画像形成装置
JP2007225971A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Kyocera Mita Corp 光走査装置及び画像形成装置
JP2008171008A (ja) * 2001-03-07 2008-07-24 Ricoh Co Ltd マルチビーム走査装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008171008A (ja) * 2001-03-07 2008-07-24 Ricoh Co Ltd マルチビーム走査装置
JP2007206180A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Kyocera Mita Corp 光走査装置及び画像形成装置
JP2007206131A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Kyocera Mita Corp 光走査装置及び画像形成装置
JP4575307B2 (ja) * 2006-01-31 2010-11-04 京セラミタ株式会社 光走査装置及び画像形成装置
JP2007225971A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Kyocera Mita Corp 光走査装置及び画像形成装置

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