JP2000074674A - 角速度センサの振動子特性検査方法 - Google Patents
角速度センサの振動子特性検査方法Info
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Abstract
子単体で実機と同様に、振動子特性の検査を行なえるよ
うにする。 【解決手段】 振動子1に設けられた振動子1を駆動す
るための駆動電極11、12、駆動状態をモニタし自励
発振させるため帰還用のモニタ電極13、14及び角速
度出力を取り出す為のパット電極17、18に、駆動振
動の振動周波数以上の共振周波数を有する検査用プロー
ブP1〜P7を接触させ、これらプローブP1〜P7を
介して、振動子1の駆動または検出振動の各振動状態を
電気信号として測定することにより、オフセット電圧等
の振動子特性を検査する。
Description
では車両制御・ナビゲーション等、家電分野ではビデオ
の手ぶれ防止等に用いられる振動子を有する角速度セン
サの振動子特性検査方法に関する。
は、振動子を組付けた状態、つまり実機状態にて行なわ
れていた。その一例を図8に示す。例えば一対のアーム
4、5を有する音叉形状の振動子1が、支持部材(サポ
ータ)3を介して、制御回路と接続された配線部材Tを
有する基板2に固定されている。
(図8では切欠され一部のみ示す)101に覆われ、セ
ンサ部を構成する。このセンサ部は、例えば柱状のゴム
等からなる防振部材102にネジ103により締結さ
れ、この防振部材102を介して、車両等の被測定体へ
の取り付け用のハウジング104に固定されている。そ
して、振動子1に設けられた電極等からなる振動子1の
駆動及び検出手段(図8中、斜線ハッチング部分)は、
ワイヤボンディング等による信号入出力用ワイヤ(リー
ド線)Wにより、上記配線部材Tを介してセンサの制御
回路に電気的に接続される。
動子特性が検査される。振動子1は、通常、上記制御回
路から上記駆動及び検出手段を介して振動子1に信号を
入出力することにより、アーム4、5を図8のy軸方向
に励振させる即ち駆動振動を行い、この駆動振動方向に
直交する図8のx軸方向のアーム4、5の振動を検出振
動として検出し、この検出振動の状態から所定軸(図8
のz軸)回りの角速度を検出する。
で、駆動振動中に振動子1に角速度が加わったときに発
生するコリオリ力による駆動振動と直角方向へのアーム
4、5の振動である。そして、振動子1から検出振動に
対応した大きさの電圧が発生し、この電圧を角速度信号
として検出する。よって、角速度が0のときに、振動子
1に検出振動の方向に不要な振動が発生してしまうと、
オフセット電圧として検出誤差を生じる。
ない状態で発生するオフセット電圧は、周囲温度が変化
したときに出力変化する。この出力変化はオフセット電
圧温度ドリフトといわれ、角速度換算した値、即ち、出
力電圧の変化を角速度に対するセンサ感度で、除したも
の(すなわち、単位は、°/S(秒)となる)で示され
る。オフセット電圧温度ドリフトは、センサの誤出力と
なるので小さい方が、望ましい。
のようなオフセット電圧、オフセット電圧温度ドリフ
ト、また、角速度を出力電圧の感度、更にはこの感度の
温度特性等が検査されることになる。
おいては、実機の状態で振動子特性を検査していたた
め、上記信号入出力用ワイヤ(リード線)Wの組み付け
工程が必要となる。そのため、検査の結果、振動子特性
に不具合があった場合等、わざわざ振動子1を実装状態
からとりはずさなければならない等、生産の効率性が良
くないという問題点があった。
有する角速度センサにおいて、振動子単体で実機と同様
に、振動子特性の検査を行なえるようにすることを目的
とする。
め、請求項1記載の発明においては、振動子(1)に設
けられた駆動手段(11〜14)及び検出手段(17〜
22)に、駆動振動の振動周波数以上の共振周波数を有
する検査用プローブ(P1〜P7)を接触させ、この検
査用プローブ(P1〜P7)を介して、振動子(1)に
おける駆動または検出振動の各振動状態を電気信号とし
て測定することにより、振動子特性を検査することを特
徴としている。
(W)で接続することなく、センサの振動子特性を振動
子単体の状態で検査できる。また、本発明者等の検討に
よれば、検査用プローブ(P1〜P7)の共振周波数が
駆動振動の振動周波数以下の場合、検査用プローブ(P
1〜P7)が振動して接触、非接触する、いわばハンチ
ングを起こす。
数を駆動振動の振動周波数以上に設定し、ハンチングを
防止することで、検査用プローブ(P1〜P7)の良好
な接触を維持でき、実機に近い状態で、精度良く振動子
特性を検査できる。よって、リード線(W)の組み付け
工程の必要無く、振動子単体で実機と同様に、振動子特
性の検査を行なうことができる。
は、振動子特性の検査をより安定して行なうべく、検査
条件等について検討した結果に基づきなされたものであ
る。即ち、請求項2記載の発明では、検査用プローブ
(P1〜P7)から駆動手段及び検出手段(11〜1
4、17〜22)を介して振動子(1)に加わる応力
を、実機においてリード線(W)により加わる応力の1
00倍以下とすることを特徴としている。
らの応力が、リード線(W)による応力の100倍以上
であると、検査可能ではあるが、振動子(1)の振動が
抑制され、正常な振動子特性を検査するには好ましくな
いためである。ここで、検査用プローブ(P1〜P7)
の材質としては、請求項3記載の発明のように、銅、ア
ルミニウム、金、タングステンのいずれかよりなるもの
を用いることができる。
(1)を検査台(S1)に固定するとともに、振動子
(1)の固定部分をGND電圧に接地して振動子特性を
検査することを特徴としており、振動子特性への外部ノ
イズの影響を低減でき、精度良く振動子特性の検査が行
なえる。また、請求項5記載の発明は、振動子(1)
が、くびれ部(3a)を有する支持部(3)によって支
持されている角速度センサに関してなされたものであ
る。ここで、支持部(3)がくびれ部(3a)を有する
のは、振動子(1)の振動を絶縁するためである。そし
て、このような構成においては、振動子(1)の振動に
より、支持部(3)のくびれ部(3a)にてねじれ振動
が起こる。
(3)を介して振動子(1)を検査台(S1)に固定す
るときに、支持部(3)においてくびれ部(3a)より
も検査台(S1)側の部位にて固定するようにしている
から、くびれ部(3a)が固定されない。従って、上記
ねじれ振動の抑制による振動子の振動抑制を防止でき
る。また、請求項6記載の発明によれば、請求項5記載
の発明において、支持部(3)の検査台(S1)への固
定を締結により行うようにし、この固定強度を1kg・
cm以上とすることを特徴としており、確実な固定によ
り振動子の振動状態を安定させ、より精度良く振動子特
性を検査することができる。
実施形態記載の具体的手段との対応関係を示すものであ
る。
について説明する。本実施形態は、本発明を、音叉型振
動子をくびれ部を有する支持部で支持した形の角速度セ
ンサの振動子特性検査に適用したものとして説明する。
図1に、本実施形態に係る角速度センサ100における
センサ部構成の斜視図を示す。この角速度センサ100
は、例えば、自動車の姿勢制御やカーナビゲーションシ
ステム等に利用される角速度センサとして使用される。
1と、振動子1を支持するための支持部(サポータ)3
と、振動子1および支持部3が取り付けられる基板2と
から構成されている。振動子1は、一対の四角柱状のア
ーム(振動部)4、5と、各アーム4、5の一端を連結
する連結部6とを有する音叉形状に形成された圧電体
(例えば、PZT等)から形成されている。
エポキシ系の接着剤で支持部3に接合されており、この
支持部3によって支持されている。支持部3は、例えば
42N(42アロイ)の様な金属粉を焼結させたものか
ら成り、くびれ部3aを有して略エ字型を呈している。
支持部3は、基板2に溶接などにより接合されている。
また、基板2に形成された凹部2aにより、振動子1は
基板2と非接触の状態で略平行に浮遊した形となってい
る。
一平面を形成し対向する略コ字形状の一対の面のうち、
基板2とは反対側の面をX1面、X1面と対向する他方
の面をX2面(図2参照)とする。また、振動子1の外
周に位置し且つアーム4、5の配列方向であるy軸と略
直交する面のうち、アーム4側をY1面、アーム5側を
Y2面(図2参照)とする。
向をx軸として、上記y軸およびアーム4、5の長手方
向と平行なz軸とともに、図1に示すxyz直交座標系
が構成される。以下、本実施形態において、このxyz
直交座標を用いて説明する。また、以下、x軸方向とい
うのは、x軸と平行な方向であることを意味し、y軸、
z軸方向についても同様である。そして、例えば、車両
等にはz軸方向を上下として搭載される。
めの複数の電極が形成されているが、次に、その電極構
成について説明する。図2は、振動子1の外周面上に形
成された各電極11〜27の構成を、振動子1の前後、
左右から展開して見た説明図である。(a)はX1面、
(b)はX2面、(c)はY1面、(d)はY2面上の
電極構成を示すものである。
動電極11、12、駆動状態をモニタし自励発振(自励
振動)させるため帰還用のモニタ電極13、14、基準
電位に接地された仮GND電極15、16と、角速度出
力を取り出す為のパット電極17、18が形成されてい
る。一方、Y1、Y2面には、コリオリ力によって発生
する電荷を取出し、振動子1に入力された角速度を検出
するための角速度検出電極19、20、角速度検出電極
19、20から出力をパット電極17、18に引き出す
為の引出し電極21、22及び、X2面に形成され基準
電位に接地された共通電極23とX1面の仮GND電極
15、16とを短絡する為の仮GND短絡電極24、2
5が形成されている。
が駆動手段、パット、角速度検出及び引出しの各電極1
7〜22が検出手段に相当する。また、仮GND、共通
及び仮GND短絡の各電極15、16、23〜25は基
準電位に接地される。なお、角速度検出電極21は、ア
ーム4においてY1面と対向する面、角速度検出電極2
2は、アーム5においてY2面と対向する面にあっても
よい。また、検出電極は、Y1面またはY2面のどちら
か一方のみにあってもよい。一方のみの場合、検出電極
がある側のアームの検知振動から角速度検出がなされ
る。
すように、X1、X2面に直交するx軸方向に分極処理
されている。振動子1とセンサに備えられた図示しない
駆動・検出回路(制御手段)との信号の入出力は、例え
ば、基板2上に絶縁、構成されたターミナル(配線部
材)Tと振動子1上の各電極を、ワイヤボンディングや
はんだ付け等により接続されたワイヤ(リード線)Wに
て結線することにより行う。
部は、振動子1が支持部3を介して基板2に固定され、
且つ上記ワイヤWによる配線が行なわれた形態として構
成される。そして、このセンサ部は、上記図8に示した
のと同様に、防振部材(図示せず)を介して、車両等の
被測定体への取り付けるためのハウジング(図示せず)
に組付けられ、角速度センサ100として構成される。
は、上記駆動・検出回路により、次のように作動する。
まず、X1面、X2面に形成された駆動電極11と共通
電極23間、駆動電極12と共通電極23間に、互い1
80°反転した交流電圧(駆動電圧)を印加することに
より、振動子1をy軸方向に共振(駆動振動)させる。
このとき、モニタ電極13、14からの出力(電流)を
電圧に変換してモニタ信号とする。温度が変わってもモ
ニタ信号が一定となる様に、駆動電圧を制御して自励制
御発振を行う。
Ωzが入力されたとき発生するコリオリ力により、振動
子1はx軸方向に角速度Ωzに比例した振幅の振動(検
出振動)を発生する。このとき、Y1面、Y2面に形成
された角速度検出電極19、20から角速度に比例した
出力(電流)が発生し、これをパット電極17、18を
介して上記回路に出力される。
理される。各角速度検出電極19、20からの出力を電
圧に変換し、差動増幅する。差動増幅された電圧を、バ
ンドパスフィルタ等を通し、振動子の共振周波数以外の
成分を取り除き、モニタ信号を基準に同期検波処理を行
う。次に、ローパスフィルタ等を通し、直流電圧として
角速度検出信号を出力する。以上が、角速度検出の基本
動作である。
100の振動子特性の検査方法について、図3及び図4
を参照して述べる。ここで、図3は本実施形態に係る検
査装置の要部を示す説明図、図4は検査の評価系構成を
示すブロック図である。従来は、上記図8のようにセン
サ部が上記ハウジングに組付けられた状態で、振動子特
性を検査していた。ここでいう振動子特性とは、上述し
た様なオフセット電圧、オフセット電圧温度ドリフト、
感度、感度温度特性などが含まれる。
査を行う。つまり、図3に示す各プローブ(検査用プロ
ーブ)P1〜P7を、振動子1のX1面上の各電極に接
触させることにより信号の入出力を行う。なお、本例で
は、振動子を駆動、検出する為に必要なプローブ数は7
本だが、振動子構造や電極パターンの違いにより本数は
異なる。
パット電極17、18に接触し、仮GND用プローブP
3は、仮GND電極15、16のどちらか一方(本例で
は仮GND電極16)に接触する。また、2本のモニタ
用プローブP4、P5は、各々モニタ電極13、14に
接触し、2本の駆動用プローブP6、P7は、各々駆動
電極11、12に接触する。
3中、7本)M1に接続され、各金属棒M1は、上下・
左右に可変可能なXYZステージ(検査台)S1に固定
されている。各金属棒M1と検査用駆動回路50は、リ
ード線(図3中、7本)R1により接続を行う。また、
振動子1は、振動子1に接合された支持部3において、
XYZステージS1の固定台S2にネジN1にて締結固
定される。
路50との信号伝達が可能になり、検査用駆動回路50
から、図4に示す評価系を構成することにより振動子特
性を評価することが可能となる。よって、振動子1をリ
ード線(ワイヤW)で接続することなく、振動子特性を
振動子単体の状態で検査できる。更に、振動子特性にお
いて、オフセット電圧温度ドリフトの評価は振動子1を
恒温槽に入れることにより可能であり、感度(角速度出
力)評価は振動子1を回転テーブルに乗せることにより
可能であり、感度の温度特性評価は振動子1を回転テー
ブルに乗せ、それを恒温槽に入れることにより可能とな
る。
について、オフセット電圧の検査を例にとって述べる。
仮GND用プローブP3は、検査用駆動回路50を介し
て接地され基準電位となっている。また、ネジN1で固
定された支持部3はXYZステージS1の固定台S2を
介してGND電位に接地されている。ここにおいて、検
査用駆動回路50は、基本的に上記振動子1における自
励制御発振を行う。
駆動電極11、12から上記駆動電圧(図4中、Vd)
を印加し、振動子1を上記駆動振動させる。モニタ電極
13、14からモニタ用プローブP4、P5を介して上
記モニタ信号(図4中、VR)をモニターし、温度が変
わってもモニタ信号VRが一定となる様に自励制御発振
を行う。
に、振動子1のノイズ信号を検査すべく、検査用駆動回
路50は、パット電極17、18及び検知用プローブP
1、P2を介して角速度検出電極19、20からの出力
(電流)を電圧に変換する。ここで、角速度検出電極1
9(パット電極17)からの電圧を第1Vs信号、角速
度検出電極20(パット電極18)からの電圧を第2V
s信号とする。そして、両電圧を差動増幅し合成Vs信
号とするようになっている。
0を作動させる為の電源である。また、52は検査用駆
動回路50から発振される駆動電圧Vdに異常がないか
確認するためのマルチメータである。例えば、駆動用プ
ローブP6、P7もしくはモニタ用プローブP4、P5
のうち、いずれか1本が接触していなかった場合に、通
常の駆動電圧値であると振動子1のモニタ信号VRは半
分となる。
号VRを一定にすべく、駆動電圧Vdを約2倍とする様
に制御する。そのため、駆動電圧検査用のマルチメータ
52をモニタすることで、駆動電圧Vdが約2倍となっ
たとき、駆動用プローブP6、P7・モニタ用プローブ
P4、P5の接触不良が判別できる。また、53は、第
1及び第2Vs信号を検出する検知用プローブP1、P
2が、各パット電極17、18に接触しているか確認を
するためのオシロスコープである。
していないと、オシロスコープ53に出力される第1、
第2Vs信号の波形にノイズがのったり、接触状態が悪
いと各Vs信号の波形が歪む為、接触状態の確認を行な
うことができる。また、オシロスコープ53は、モニタ
信号VR及び合成Vs信号(例えば、第2Vs信号から
第1Vs信号を引いたもの)をモニタする。
るのは、検査用駆動回路50が正常に作動しているかど
うか、つまりモニタ信号VRが一定に制御されているか
どうかの確認を行なうためである。また、合成Vs信号
をモニタするのは、検査用駆動回路50において正常に
差動増幅が行われているか否かの確認を行なうためであ
る。
駆動電圧Vdも、このオシロスコープ53でモニタして
も問題無い。そして、55は、ロックインアンプ54に
より同期検波した後のオフセット電圧をモニタするため
のオフセット電圧検査用のマルチメータである。以上の
評価系にて検査されるオフセット電圧の検査手順を述べ
る。まず、オシロスコープ53で、第1及び第2Vs信
号、合成Vs信号、及びモニタ信号VRが正常に出力さ
れているか確認する。次に、合成Vs信号及びモニタ信
号VRをロックインアンプ54に入力し、同期検波後の
オフセット電圧を、マルチメータ55で検査する。
る。なお、オフセット電圧温度ドリフトの評価は振動子
1の周囲温度を変化させて、上記同様にオフセット電圧
を測定することで検査できる。また、感度(角速度出
力)評価は振動子1を回転テーブルに乗せ、回転テーブ
ルを回転させて振動子1に角速度を入力させ、オフセッ
ト電圧と同様に検査を行うことで感度を検査できる。ま
た、感度の温度特性評価は、感度評価において振動子1
の周囲温度を変化させることで検査できる。
の検査において、検査をより安定して行なうべく、検査
条件等について検討した。その検討の結果、精度良く特
性評価するため、重要となる要因が、プローブによる
振動子への応力、プローブの共振周波数、支持部
(サポータ)の固定方法、の3つであることを見いだし
た。
ンサにおいて、センサの振動部(振動子)から信号の入
出力を行っている角速度センサ全て適用される。まず、
要因について述べる。上記振動特性の検査において、
各プローブP1〜P7により振動子1に応力がかかり過
ぎると、振動子1の振動状態が変化する為、精度良く特
性を測定できない問題が発生する。
P1)による振動子1にかかる応力(以下、プローブ荷
重という)と上記オフセット電圧との関係を検討し、好
ましいプローブ荷重の範囲を求めた。検討結果の一例を
図5に示す。プローブ荷重の水準としては、2.76
×10-4(N)、27.4×10 -4(N)、222
×10-4(N)の3水準とし、プローブ荷重はプローブ
材質、形状、たわみ量から計算で求めた。
られた実装状態、つまり実機(完成品)の角速度センサ
100についても調べた。実機では、ワイヤWはアルミ
ニウムのワイヤボンディングであり、ワイヤWによって
振動子1にかかる応力は、0.122×10-4(N)で
あった。これら実機及び上記3水準の各プローブ構成に
つき、プローブ荷重(×10-4N)とオフセット電圧
(°/s)との関係を調べた結果が、図5である。
A3を用い、各プローブにおけるオフセット電圧の値か
ら、実機におけるオフセット電圧の値を差し引いた値を
オフセット電圧変化(°/s)とし、このオフセット電
圧変化とプローブ荷重との関係を示したものである。図
5から分かるように、プローブによる応力(プローブ荷
重)が大きいほど、オフセット電圧変化即ち実機との誤
差が大きくなり、荷重222×10-4(N)では振動子
1の振動を抑制する為、発振停止する。そこでプローブ
により振動子1にかかる応力の低減が必要となる。荷重
2.76×10-4(N)のプローブでは、実機との誤差
は0に近く実用的に問題ないが、荷重φ27.4×10
-4(N)のプローブでは誤差が大きくなっている。従っ
て、図5に基づけば、プローブ荷重を2.76(×10
-4N)以下とすることでオフセット電圧の測定誤差を減
少できる。
信号を取り出すワイヤ(リード線)Wにより発生する応
力と同じ値が最良となるが、本発明者等の検討によれ
ば、実用上はワイヤWにより加わる応力の100倍以下
とすることが好ましい。また、この応力は、プローブの
材質、線径、長さ、たわみ量等によって決まるが、実用
上の下限としては、ワイヤWにより加わる応力の1/1
00倍以上である。
波数についての検討結果の一例を示す。要因に関して
は、検知用プローブP1、P2の共振周波数と、オフセ
ット電圧の基本波形となる合成Vs信号との関係を図6
に示す。プローブP1、P2は、共振周波数が670H
zのもの、及び、共振周波数が5.5kHzのものを用
意した。
周波数が駆動周波数よりも低いものと高いものとを用意
した。ここで、振動子1の駆動振動の周波数(駆動周波
数fD)は、3.25kHz±150Hzである。図6
は、モニタ信号VR及び合成Vs信号のオシロスコープ
53による波形を示し、(a)は共振周波数が670H
zのプローブ、(b)は共振周波数が5.5kHzのプ
ローブを示す。
波数よりプローブP1、P2の共振周波数が低い場合、
角速度検出電極19、20及びパット電極17、18か
ら出力される合成Vs信号はハンチングし、波形にノイ
ズがのり、精度良く測定することが不可能な状態とな
る。しかし、図6(b)に示す様に、共振周波数が、振
動子の駆動周波数より高い場合、合成Vs信号はハンチ
ングせず、測定可能となる。
が、振動子1の駆動周波数より低い場合、振動子1の駆
動振動時に、プローブP1、P2と振動子上のパット電
極17、18との間に非接触状態が発生することにより
信号がハンチングするものと推定される。これらのこと
から、プローブP1、P2だけでなく、各プローブP1
〜P7全ての共振周波数が、振動子1の駆動周波数以上
であることが好ましいといえる。
法については、くびれ部3aで固定せずに、くびれ部3
aよりも検査台であるXYZステージS1側の部位にて
固定することが好ましい。ここで、支持部3がくびれ部
3aを有するのは、振動子1の振動を絶縁するためであ
る。そして、このような構成においては、振動子1の振
動により、支持部3のくびれ部3aにてねじれ振動が起
こる。
ZステージS1に固定するときに、くびれ部3aで固定
してしまうと、上記ねじれ振動が抑制され、それに伴っ
て振動子1の振動も抑制されてしまうため、正確なオフ
セット電圧、及び感度測定ができなくなる。そこで、支
持部3の固定において、支持部3においてくびれ部3a
よりもXYZステージS1側の部位にて固定することに
より、くびれ部3aが固定されず、振動子1の振動抑制
を行なわないため、正確なオフセット電圧、感度測定が
可能となる。
締結部材であるネジN1により行なっている。本発明者
等は、このネジN1による固定強度についても検討を行
い、好ましい固定強度を求めた。検討の一例を図7に示
す。ネジ(本例ではM3)N1による固定強度を、2k
gf・cm、4kgf・cm、6kgf・cmの3水準
とした。また、上記実機も比較のために検討した。
ついて、各固定強度におけるオフセット電圧の値から、
実機におけるオフセット電圧の値を差し引いた値をオフ
セット電圧差(°/s)とし、このオフセット電圧差と
固定強度との関係を示したものである。図7から分かる
ように、各固定強度において、オフセット電圧差即ち実
機とのオフセット電圧の誤差は、50°/s以内であ
り、実用上問題無い誤差とできる。これらの検討に基づ
き、支持部3の固定は、くびれ部3aより下部(検査台
S1側)で行い、締結により固定する場合の固定強度
は、1kg・cm以上のトルクで良いことがわかった。
なお、この値より小さい固定強度でも、特性評価は可能
であるが、振動子の固定が不安定となり振動も不安定と
なってしまうため、実機との誤差が大きくなるので、好
ましくない。
く振動子特性を検査する為の条件をまとめておく。要因
については、検査用プローブP1〜P7の応力は、実
際に使用されるリード線又はワイヤボンディングにより
かかる実際の応力もしくはその近辺にすることが必要と
なる。本発明者等の検討によれば、上記実際の応力の1
/100〜100倍であることが実用上好ましい。な
お、測定精度は悪化するが、本例のように圧電体で振動
子1を構成したバルク振動子の場合は、ワイヤボンディ
ングの応力の500倍程度まで評価可能である。
P7の共振周波数を振動子1の駆動周波数以上にする。
なお、本要因において共振周波数の上限は無いが、共
振周波数を上げるためにはプローブの剛性を上げる必要
があり、それによりプローブによる振動子への応力が大
きくなる為、要因との関係から限界がある。要因に
ついては、支持部3のくびれ部3aよりも検査台(本例
ではXYZステージS1)側で行い、その固定強度は、
1kg・cm以上のトルクで固定する。なお、上限は無
いが、支持部3に傷が付かない程度が好ましい。
度、感度の温度特性も、基本的にはオフセット電圧の検
査手順に準じて行なわれる。従って、上記の検査条件
は、本実施形態における振動子特性の検査一般に適用さ
れる。また、各プローブP1〜P7から検査用駆動回路
50までの配線に工夫をすることも必要である。
大小あり、駆動電圧Vd(駆動信号)及びモニタ信号V
R(参照用信号)は大きく、それに比べて角速度検出電
極19、20からの検知信号(オフセット電圧含む)は
小となっている。従って、プローブから駆動回路50ま
での距離が長すぎたり、検知信号と駆動・参照用信号と
の配線距離の条件によっては、駆動・参照信号のノイズ
が検知信号に乗り、精度良く測定できない場合がある。
をリード線(本例ではワイヤW)で接続することなく、
センサの振動子特性を振動子単体の状態で検査できる。
また、本実施形態によれば、検査用プローブP1〜P7
の共振周波数を駆動振動の振動周波数以上に設定し、ハ
ンチングを防止することで、検査用プローブP1〜P7
の良好な接触を維持でき、実機に近い状態で、精度良く
振動子特性を検査できる。よって、本実施形態によれ
ば、リード線の組み付け工程の必要無く、振動子単体で
実機と同様に、振動子特性の検査を行なうことができ
る。
ブP1〜P7から各電極を介して振動子1に加わる応力
を、実装状態においてリード線(本例ではワイヤW)に
より加わる応力の100倍以下としているから、振動子
1の振動が抑制されず、正常な振動子特性を検査するこ
とができる。なお、検査用プローブP1〜P7の応力は
プローブの形状や材質等から決まってくるが、材質とし
ては、銅、アルミニウム、金、タングステンのいずれか
よりなるものを用いることができる。
YZステージS1に固定するとともに、ネジN1で固定
された支持部3もXYZステージS1の固定台S2を介
してGND電位に接地されている。そのため、振動子1
の固定部分をGND電圧にすることができ、外部ノイズ
の影響を低減でき、精度良く振動子特性の検査が行なえ
る。
して振動子1をXYZステージS1に固定するときに、
支持部3においてくびれ部3aよりもXYZステージS
1側の部位にて固定するようにしているから、くびれ部
3aが固定されない。従って、くびれ部3aにおけるね
じれ振動が抑制されず、振動子の振動も抑制されないた
め、正確なオフセット電圧・感度測定が可能となる。
YZステージS1への固定を締結により行うようにし、
この固定強度を1Kg・cm以上としているから、確実
な固定により振動子1の振動状態を安定させ、正常な振
動特性を検査することができる。 (他の実施形態)なお、上記図2に示した振動子1上の
電極の配置は、一例であり、これに限定されるものでは
なく、適宜設計変更してもよい。また、振動子特性検査
において、電極配置に応じて検査用プローブを適宜用意
することは勿論である。
限定されるものではなく、例えば、従来知られているよ
うな一本の角柱形状または櫛形状のものであってもよ
い。また、支持部もくびれ部を有しないものであっても
よい。また、振動子は、PZT(チタン酸ジルコン鉛)
または水晶等の圧電体で形成されたものでなくともよ
く、金属等から形成されたものであってもよい。この場
合、振動子に圧電素子を張り付け、これを駆動及び検出
手段とする。このように、本発明は、振動子更には支持
部の構成について限定せず、適用可能である。
明の検査方法の要部は、振動子に設けられた駆動手段及
び検出手段に、駆動周波数以上の共振周波数を有する検
査用プローブを接触させ、この検査用プローブを介し
て、駆動または検出の各振動状態を電気信号として測定
することにより、振動子特性を検査することにある。従
って、検査の評価系の各装置等は適宜変更してよいこと
は勿論である。
部構成を示す斜視図である。
の構成を示す説明図である。
図である。
ロック図である。
例を示す図である。
の検討例を示す図である。
検討例を示す図である。
ある(実機状態)。
1、12…駆動電極、13、14…モニタ電極、17、
18…パット電極、19、20…角速度検出電極、2
1、22…引出し電極、100…角速度センサ、P1、
P2…検知用プローブ、P3…仮GND用プローブ、P
4、P5…モニタ用プローブ、P6、P7…駆動用プロ
ーブ、S1…XYZステージ、W…ワイヤ。
Claims (6)
- 【請求項1】 振動子(1)と、 この振動子に設けられ前記振動子を励振させることによ
り駆動振動させるための駆動手段(11〜14)と、 前記振動子に設けられ前記駆動振動方向に直交する方向
の前記振動子の振動を検出振動として検出し該検出振動
の状態から所定軸回りの角速度を検出するための検出手
段(17〜22)とを備え、 前記駆動および検出手段をリード線(W)によって制御
回路に接続するようにした角速度センサ(100)にお
ける振動子特性を検査する検査方法であって、 前記駆動手段及び検出手段に、前記駆動振動の振動周波
数以上の共振周波数を有する検査用プローブ(P1〜P
7)を接触させ、 この検査用プローブを介して、前記振動子における前記
駆動または検出の各振動状態を電気信号として測定する
ことにより、前記振動子特性を検査することを特徴とす
る角速度センサの振動子特性検査方法。 - 【請求項2】 前記検査用プローブ(P1〜P7)から
前記駆動手段及び検出手段(11〜14、17〜22)
を介して前記振動子(1)に加わる応力を、前記リード
線(W)により加わる応力の100倍以下とすることを
特徴とする請求項1に記載の角速度センサの振動子特性
検査方法。 - 【請求項3】 前記検査用プローブ(P1〜P7)とし
て、銅、アルミニウム、金、タングステンのいずれかよ
りなるものを用いることを特徴とする請求項1または2
に記載の角速度センサの振動子特性検査方法。 - 【請求項4】 前記振動子(1)を検査台(S1)に固
定するとともに、前記振動子の固定部分を基準電圧に接
地して前記振動子特性を検査することを特徴とする請求
項1ないし3のいずれか1つに記載の角速度センサの振
動子特性検査方法。 - 【請求項5】 前記振動子(1)は、くびれ部(3a)
を有する支持部(3)によって支持され、この支持部を
介して検査台(S1)に固定されるものであり、 前記支持部を、前記支持部のうち前記くびれ部よりも前
記検査台側の部位にて固定することを特徴とする請求項
1ないし3のいずれか1つに記載の角速度センサの振動
子特性検査方法。 - 【請求項6】 前記支持部(3)の前記検査台(S1)
への固定を締結により行い、この固定強度が1kg・c
m以上であることを特徴とする請求項5に記載の角速度
センサの振動子特性検査方法。
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JP24370198A JP4421689B2 (ja) | 1998-08-28 | 1998-08-28 | 角速度センサの振動子特性検査方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005331479A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-02 | Seiko Epson Corp | 圧電振動ジャイロ素子の振動特性検査方法及び製造方法 |
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US8087296B2 (en) | 2006-03-15 | 2012-01-03 | Panasonic Corporation | Angular velocity sensor |
-
1998
- 1998-08-28 JP JP24370198A patent/JP4421689B2/ja not_active Expired - Fee Related
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