JP2000068445A - 積層型半導体装置のスタック構造 - Google Patents

積層型半導体装置のスタック構造

Info

Publication number
JP2000068445A
JP2000068445A JP24653998A JP24653998A JP2000068445A JP 2000068445 A JP2000068445 A JP 2000068445A JP 24653998 A JP24653998 A JP 24653998A JP 24653998 A JP24653998 A JP 24653998A JP 2000068445 A JP2000068445 A JP 2000068445A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
bare chip
control signal
interposer
single module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP24653998A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3166722B2 (ja
Inventor
Masahiro Shimizu
雅裕 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP24653998A priority Critical patent/JP3166722B2/ja
Publication of JP2000068445A publication Critical patent/JP2000068445A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3166722B2 publication Critical patent/JP3166722B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • H01L2924/15192Resurf arrangement of the internal vias
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1532Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/15321Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1532Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/1533Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/15331Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate being a ball array, e.g. BGA

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 実装されるマザーボードに対する出力信号の
出力タイミングのずれを小さくして、安定した動作を確
保することのできる積層型半導体装置のスタック構造を
提供することを目的とする。 【解決手段】 最下層のインターポーザ2に、出力制御
信号入力端子(4)と出力端子(4)とを設け、上下に
位置する外部端子4間を電気的に接続することにより、
前記出力制御信号入力端子から最上部に位置させられた
インターポーザを経て各ベアチップ1へ至る制御信号伝
搬路Aと、各ベアチップと出力端子とを最短距離で接続
する出力信号伝搬路Bを形成してなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のベアチップ
を多層状に実装して構成される積層型半導体装置のスタ
ック構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】積層型半導体素子のスタック構造の一構
造例を図9および図10に示す。従来は、ベアチップ1
をインターポーザ2の一面に入出力端子3を介して搭載
したシングルモジュールを、インターポーザ2の両側部
に設けたパッド5間を外部端子4を介して多層状に接続
した単純な積層体であり、この従来例におけるマザーボ
ード6からの出力制御信号、および、ベアチップ1から
の出力信号は、各段のベアチップ1とマザーボード6と
の最短距離に設定された信号伝送経路によって直接伝搬
させられるようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来の技術においては、前述のように、マザーボード6
からの出力制御信号、および、ベアチップ1からの出力
信号は、各段のベアチップ1とマザーボード6との最短
距離に設定された信号伝搬経路によって直接伝搬させら
れるようになっていることから、図11に矢印で示すよ
うに、各ベアチップ1に対応して設けられている信号伝
搬経路長が異なり、これに起因して、各ベアチップ1に
おける入出力信号に時間的な差が発生し、高速高周波動
作において出力タイミングがずれてしまうことにより、
誤動作を生じさせてしまうことが想定されるといった問
題点を有している。
【0004】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたもので、実装されるマザーボードに対する出
力信号の出力タイミングのずれを小さくして、安定した
動作を確保することのできる積層型半導体装置のスタッ
ク構造を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
の積層型半導体装置のスタック構造は、前述した目的を
達成するために、ベアチップを、入出力端子を介してイ
ンターポーザに搭載してシングルモジュールを形成し、
このシングルモジュールの複数を多層状に積層するとと
もに、それぞれのインターポーザに設けられた外部端子
を介して相互に電気的に接続してなる積層型半導体装置
のスタック構造であって、最下層のインターポーザに、
各シングルモジュールに搭載されているベアチップへ出
力制御信号を入力する出力制御信号入力端子と、各ベア
チップから出力される出力信号を出力する出力端子とを
設け、上下に位置する外部端子間を電気的に接続するこ
とにより、前記出力制御信号入力端子から最上層に位置
させられたインターポーザを経て各ベアチップへ至る制
御信号伝搬路と、各ベアチップと出力端子とを最短距離
で接続する出力信号伝搬路を形成してなることを特徴と
する。本発明の請求項2に記載の積層型半導体装置のス
タック構造は、請求項1に記載の前記外部端子を、ベア
チップの実装高さよりも高く形成したことを特徴とす
る。本発明の請求項3に記載の積層型半導体装置のスタ
ック構造は、請求項1に記載の前記ベアチップをインタ
ーポーザの両面に搭載してシングルモジュールを形成し
てなることを特徴とする。本発明の請求項4に記載の積
層型半導体装置のスタック構造は、請求項3に記載の前
記各シングルモジュールの同一面側に搭載されているベ
アチップどうしを同時作動させるようにしたことを特徴
とする。また、本発明の請求項5に記載の積層型半導体
装置のスタック構造は、請求項3または請求項4に記載
の前記外部端子をシングルモジュールの実装高さよりも
高く形成してなることを特徴とする。さらに、本発明の
請求項6に記載の積層型半導体装置のスタック構造は、
請求項1ないし請求項5の何れかに記載の前記出力制御
信号入力端子および出力端子を介してマザーボードに接
続するようにしたことを特徴とする。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態につい
て、図1ないし図6に基づき説明する。なお、以下の説
明中、従来と共通する部分については同一符号を用いて
説明を簡略化する。
【0007】本実施形態は、4段のスタックモジュール
に本発明を適用した例を示すもので、図1および図2に
示すように、ベアチップ1とインターポーザ2とチップ
入出力端子3と外部端子4とからなるシングルモジュー
ルを4段重ねた構造で、最下段のシングルモジュールの
外部端子4がスタックモジュール全体としての外部端子
になり、その一部が各シングルモジュールに搭載されて
いるベアチップへ出力制御信号を入力する出力制御信号
入力端子となされ、また、他の一部が各ベアチップから
出力される出力信号を出力する出力端子となされてお
り、それ以外のシングルモジュールの外部端子4は上下
段との接続に使用される。
【0008】図3および図4に前述のシングルモジュー
ルの構成を示す。各段のシングルモジュールは、ベアチ
ップ1上にインターポーザ2との接続のためのチップ入
出力端子3を形成し、このベアチップ1をインターポー
ザ2の一方の面に搭載し、このインターポーザ2の周辺
部に設置したパッド5上にベアチップ1の実装高さより
大径の外部端子4を搭載してなる。
【0009】各シングルモジュールの外部端子4は各イ
ンターポーザ上のベアチップ1に繋がる信号のみ配線し
てあり、それ以外の外部端子4については単に裏面側の
パッド5と繋がっているだけである。各ベアチップへの
出力制御信号用の外部端子4は最下段のシングルモジュ
ールを除いて1信号当たり2個の端子を有するが、各イ
ンターポーザ2上でベアチップ1と結線されているのは
多くともその内1個の端子だけであり、残りの端子は上
下段のシングルモジュールとの接続のみに使用されてい
る。また、最上段のシングルモジュールは、図5に示す
ように、下段のシングルモジュールから外部端子4によ
って伝わってきた下段のシングルモジュール用出力制御
信号を再び下段のシングルモジュールに伝えるための配
線と外部端子4を有している。
【0010】そして、各外部端子4は、前述した接続形
態により、図6に示すように、前記出力制御信号入力端
子および出力端子としての最下層の外部端子4と各ベア
チップ1とを接続して、出力制御信号入力端子(4)か
ら最上層に位置させられたインターポーザ2を経て各ベ
アチップ1へ至る制御信号伝搬路Aと、各ベアチップ1
と出力端子(4)とを最短距離で接続する出力信号伝搬
路Bを形成しており、このようにして形成された各層に
対する制御信号伝搬路Aと出力信号伝搬路Bは、その和
が等しく設定される。
【0011】ついで、このように構成された本実施形態
の作用について説明する。マザーボード6からスタック
モジュール内の各ベアチップ1への全出力制御信号は、
まず、制御信号伝搬路Aにより、各段のシングルモジュ
ールの外部端子4を経て最上層のシングルモジュールに
伝わり、この最上層のインターポーザ2の配線を通過
後、再び各シングルモジュールへ伝わる。
【0012】そして、各インターポーザ2の配線によっ
て各ベアチップ1に出力制御信号が入力されると、各ベ
アチップ1がデータ信号を出力する。この出力信号は、
各インターポーザ2の配線と各シングルモジュールの外
部端子4によって形成された出力信号伝搬路Bにより、
最下層のシングルモジュールの外部端子4、つまり、ス
タックモジュールの出力端子である外部端子4に伝わ
る。
【0013】このような信号伝搬に際して、本実施形態
においては、制御信号伝搬路Aと出力信号伝搬路Bとの
和が、各層間において等しくなされていることから、マ
ザーボード6から各ベアチップ1へ出力制御信号が出力
されてから、各ベアチップ1から出力される出力信号が
マザーボード6へ入力されるまでの時間が、一定に保持
される。
【0014】一方、図7および図8は、本発明の第2の
実施形態を示すもので、インターポーザ2の両面にベア
チップ1を搭載したシングルモジュールを4段重ねたス
タックモジュールを示す。本実施形態においては、ベア
チップ1の同一機能端子の位置がインターポーザ2の表
裏で異なるために8個のベアチップ1からの出力を同タ
イミングでスタックモジュールの外部端子4に出力させ
るには、インターポーザ2内に冗長配線が必要となる
が、同時には動作しない2組のベアチップ1をそれぞれ
インターポーザ2の表裏に分けて搭載することで、冗長
配線無しで4個ずつの出力を同タイミングでスタックモ
ジュールの外部端子4から得ることができる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項1
ないし請求項6の何れかに記載の積層型半導体装置のス
タック構造によれば、各シングルモジュールからの出力
データが全て同じタイミングでスタックモジュールの外
部端子から出力され、この結果、半導体装置の誤動作を
防止することができるとともに、特に、高速高周波動作
装置の動作タイミング設計が容易になることである。ま
た、スタックモジュール内における出力制御信号の配線
長とベアチップ1らの出力信号の配線長の和がスタック
モジュール内での層に関係なく一定であり、また各層の
ベアチップが全て同一デバイスである限りにおいては、
各ベアチップが出力制御信号を受けてからデータを出力
するまでの時間も同じであるので、スタックモジュール
の制御信号入力端子に出力制御信号が入力されてから出
力信号が出力端子に出力されるまでの時間も、層に関係
無くすべて同じになる。つまり、スタック構造による出
力信号のタイミングのずれを考慮することなく、装置設
計を行う事が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を示す外観斜視図である。
【図2】本発明の一実施形態を示す縦断面図である。
【図3】本発明の一実施形態を示すもので、シングルモ
ジュールの分解斜視図である。
【図4】本発明の一実施形態を示すもので、シングルモ
ジュールの縦断面図である。
【図5】本発明の一実施形態を示すもので、各層におけ
るインターポーザの一部の裏面図である。
【図6】本発明の一実施形態を示すもので、信号伝搬経
路を説明するための概略図である。
【図7】本発明の第2の実施形態を示す外観斜視図であ
る。
【図8】本発明の第2の実施形態を示す縦断面図であ
る。
【図9】一従来例を示す外観斜視図である。
【図10】一従来例を示す縦断面図である。
【図11】一従来例における信号伝搬経路を説明するた
めの概略図である。
【符号の説明】
1 ベアチップ 2 インターポーザ 3 入出力端子 4 外部端子 5 バッド 6 マザーボード A 制御信号伝搬路 B 出力信号伝搬路

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ベアチップを、入出力端子を介してイン
    ターポーザに搭載してシングルモジュールを形成し、こ
    のシングルモジュールの複数を多層状に積層するととも
    に、それぞれのインターポーザに設けられた外部端子を
    介して相互に電気的に接続してなる積層型半導体装置の
    スタック構造であって、最下層のインターポーザに、各
    シングルモジュールに搭載されているベアチップへ出力
    制御信号を入力する出力制御信号入力端子と、各ベアチ
    ップから出力される出力信号を出力する出力端子とを設
    け、上下に位置する外部端子間を電気的に接続すること
    により、前記出力制御信号入力端子から最上層に位置さ
    せられたインターポーザを経て各ベアチップへ至る制御
    信号伝搬路と、各ベアチップと出力端子とを最短距離で
    接続する出力信号伝搬路を形成してなることを特徴とす
    る積層型半導体装置のスタック構造。
  2. 【請求項2】 前記外部端子を、ベアチップの実装高さ
    よりも高く形成したことを特徴とする請求項1に記載の
    積層型半導体装置のスタック構造。
  3. 【請求項3】 前記ベアチップをインターポーザの両面
    に搭載してシングルモジュールを形成してなることを特
    徴とする請求項1に記載の積層型半導体装置のスタック
    構造。
  4. 【請求項4】 前記各シングルモジュールの同一面側に
    搭載されているベアチップどうしを同時作動させるよう
    にしたことを特徴とする請求項3に記載の積層型半導体
    装置のスタック構造。
  5. 【請求項5】 前記外部端子をシングルモジュールの実
    装高さよりも高く形成してなることを特徴とする請求項
    3または請求項4に記載の積層型半導体装置のスタック
    構造。
  6. 【請求項6】 前記出力制御信号入力端子および出力端
    子を介してマザーボードに接続するようにしたことを特
    徴とする請求項1ないし請求項5の何れかに記載の積層
    型半導体装置のスタック構造。
JP24653998A 1998-08-18 1998-08-18 積層型半導体装置のスタック構造 Expired - Fee Related JP3166722B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24653998A JP3166722B2 (ja) 1998-08-18 1998-08-18 積層型半導体装置のスタック構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24653998A JP3166722B2 (ja) 1998-08-18 1998-08-18 積層型半導体装置のスタック構造

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000068445A true JP2000068445A (ja) 2000-03-03
JP3166722B2 JP3166722B2 (ja) 2001-05-14

Family

ID=17149923

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24653998A Expired - Fee Related JP3166722B2 (ja) 1998-08-18 1998-08-18 積層型半導体装置のスタック構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3166722B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002110901A (ja) * 2000-10-03 2002-04-12 Sony Corp 積層型半導体装置及びその製造方法
KR100368003B1 (ko) * 2000-09-06 2003-01-14 학교법인 서강대학교 3차원 적층형 전자회로장치 및 그의 제작방법
US6717251B2 (en) * 2000-09-28 2004-04-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Stacked type semiconductor device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100368003B1 (ko) * 2000-09-06 2003-01-14 학교법인 서강대학교 3차원 적층형 전자회로장치 및 그의 제작방법
US6717251B2 (en) * 2000-09-28 2004-04-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Stacked type semiconductor device
JP2002110901A (ja) * 2000-10-03 2002-04-12 Sony Corp 積層型半導体装置及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3166722B2 (ja) 2001-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5426566A (en) Multichip integrated circuit packages and systems
US6410983B1 (en) Semiconductor device having a plurality of multi-chip modules interconnected by a wiring board having an interface LSI chip
JP4237160B2 (ja) 積層型半導体装置
JP3012555B2 (ja) 多面体icパッケージ
US7989265B2 (en) Process for making a semiconductor system having devices that have contacts on top and bottom surfaces of each device
JP2008515203A (ja) 積層されたダイモジュール
US20070090534A1 (en) Semiconductor module including a plurality of IC chips therein
JPH09186289A (ja) 多層積層化集積回路チップ組立体
JPH04229645A (ja) 電子回路パッケージ・モジュール
JP2009038112A (ja) プリント配線板構造および電子機器
US8378481B2 (en) Semiconductor module with micro-buffers
US20110317372A1 (en) Semiconductor device
WO2007088959A1 (ja) 光モジュール
US6396967B1 (en) Optoelectronic integrated circuit device
JP3166722B2 (ja) 積層型半導体装置のスタック構造
JP2008182062A (ja) 半導体装置
TW200306140A (en) Optimized conductor routing for multiple components on a printed circuit board
US6586825B1 (en) Dual chip in package with a wire bonded die mounted to a substrate
KR100895812B1 (ko) 적층 반도체 패키지
JP3166721B2 (ja) 積層型半導体装置のスタック構造
JPH11186492A (ja) 半導体パッケージ及び半導体パッケージの実装構造
TWI708336B (zh) 包含球形陣列封裝之堆疊的3d電子模組
JP2009038111A (ja) 半導体パッケージ、プリント配線板構造および電子機器
JP7439719B2 (ja) マルチチップモジュールおよび電子制御装置
JP2005063448A (ja) 積層型メモリモジュールおよびメモリシステム

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees