JP2000065687A - 光ファイバ線路監視システム - Google Patents

光ファイバ線路監視システム

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JP2000065687A
JP2000065687A JP10238707A JP23870798A JP2000065687A JP 2000065687 A JP2000065687 A JP 2000065687A JP 10238707 A JP10238707 A JP 10238707A JP 23870798 A JP23870798 A JP 23870798A JP 2000065687 A JP2000065687 A JP 2000065687A
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JP
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optical
light
test
optical fiber
fiber line
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JP10238707A
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English (en)
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Takeo Komiya
健雄 小宮
Hiroshi Kouda
浩 耕田
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ファイバ線路の微細な障害等をも精度良く
検出することができる光ファイバ線路監視システムを提
供する。 【解決手段】 光ファイバ線路監視システム10は、試
験光を出力する試験装置12と、複数の光ファイバ線路
2のそれぞれに設けられ、各光ファイバ線路2に試験光
を導入するための光カプラ14と、上記光カプラ14の
うちのいずれかを選択し、当該選択された光カプラ14
と試験装置12との間の光路を選択的に確立する光スイ
ッチ22、24、26、28、30、32、34、3
6、38と、上記各光スイッチにより選択される光カプ
ラ14によらず、当該選択された光カプラ14と試験装
置12との間の光路における光損失がほぼ一定値となる
ように、当該光路の光損失を調整する光減衰器15とを
主に備えて構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバ線路を
監視する光ファイバ線路監視システムに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】昨今の高速・大容量データ通信の要請に
応えるべく、光ファイバを伝送媒体とする光ファイバ通
信網が広く普及してきている。かかる光ファイバ通信網
を構成する複数の光ファイバ線路の障害等を監視するた
め、例えば、特開平5−196543号公報に開示され
ているような光ファイバ線路監視システムが知られてい
る。上記光ファイバ線路監視システムは、試験装置と、
各光ファイバ線路毎に設けられた光カプラと、試験装置
と各光カプラとの光路を選択的に確立する数段の光スイ
ッチとから構成され、試験装置から出力される試験光を
被監視対象である光ファイバ線路に選択的に導入し、当
該試験光の後方散乱光等を検出することで、光ファイバ
線路の監視が行われる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記光ファイ
バ線路監視システムにおいては、光スイッチによって確
立される光路毎に光損失のばらつきが生ずる。特に、光
スイッチを多段構成にした場合は、光損失のばらつきが
累積される。その結果、検出したい光損失量に対して、
試験装置の測定レンジを大きくせざるを得ず、微細な光
損失の変動、すなわち、光ファイバ線路の微細な障害、
あるいは、比較的初期の障害を検出することが困難であ
る。
【0004】そこで本発明は、光ファイバ線路の微細な
障害等をも精度良く検出することができる光ファイバ線
路監視システムを提供することを課題とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の光ファイバ線路監視システムは、複数の光
ファイバ線路それぞれを監視する光ファイバ線路監視シ
ステムであって、試験光を出力する試験装置と、複数の
光ファイバ線路それぞれに設けられ、試験光を複数の光
ファイバ線路それぞれに導入する複数の光カプラと、複
数の光カプラのうちのいずれかを選択し、当該選択され
た光カプラと試験装置との間の光路を選択的に確立する
光路切り替え手段と、光路切り替え手段により選択され
る光カプラによらず、当該選択された光カプラと試験装
置との間の光路における光損失がほぼ一定値となるよう
に、当該光路の光損失を調整する光損失調整手段とを備
えたことを特徴としている。
【0006】上記光損失調整手段を設けることで、光路
切り替え手段により選択される光カプラによらず、当該
選択された光カプラと試験装置との間の光路における光
損失をほぼ一定値とすることができる。従って、光切り
替え手段によって確立される光路毎の光損失のばらつき
を低減することができる。
【0007】本発明の光ファイバ線路監視システムは、
光路切り替え手段が、試験装置側に接続される1または
複数の第1ポートと光ファイバ線路側に接続される複数
の第2ポートとを有するとともに、第1ポートのうちい
ずれかと第2ポートのうちいずれかとを選択的に光接続
する光スイッチを、1または複数備えて構成されること
を特徴としてもよい。
【0008】光路切り替え手段として光スイッチを用い
る場合であっても、光損失調整手段を備えることで、光
スイッチにより確立される光路毎の光損失のばらつきを
低減することができる。さらに、複数の光スイッチを用
いて光路切り替え手段を構成する場合であっても同様
に、各光スイッチにより確立される光路毎の光損失のば
らつきを低減することができる。
【0009】本発明の光ファイバ線路監視システムは、
光損失調整手段が、光スイッチによって接続される第1
ポートと第2ポートとの間における光損失に基づいて、
選択された光カプラと試験装置との間の光路における光
損失を調整することを特徴としてもよい。
【0010】光スイッチにより確立される光路毎の光損
失のばらつきは、主として当該光スイッチ部分に起因す
るため、光スイッチの第1ポートと第2ポートとの間に
おける光損失に基づいて、選択された光カプラと試験装
置との間の光路における光損失を調整することで、光ス
イッチによって確立される光路毎の光損失のばらつきを
効率よく低減することができる。
【0011】本発明の光ファイバ線路監視システムは、
光スイッチによって接続される第1ポートと第2ポート
との間における光損失に関する情報を格納する格納手段
をさらに有し、光損失調整手段が、格納手段に格納され
た情報に基づいて、選択された光カプラと試験装置との
間の光路における光損失を調整することを特徴としても
よい。
【0012】光損失に関する情報を格納手段に格納して
おくことで、必要に応じてかかる情報を容易に読み出
し、更新することが可能となり、かかる情報を効率よく
利用することができる。
【0013】本発明の光ファイバ線路監視システムは、
光路切り替え手段が、光スイッチを複数備え、光損失調
整手段が、光スイッチ毎に定められた、第1ポートと第
2ポートとの間における光損失の代表値に基づいて、選
択された光カプラと試験装置との間の光路における光損
失を調整することを特徴としてもよい。
【0014】同一の光スイッチ内における各ポート間の
光損失のばらつきは、比較的小さい場合も多く、上記代
表値に基づいて、選択された光カプラと試験装置との間
の光路における光損失を調整することで、複数の光スイ
ッチ間で発生する光損失のばらつきを簡易かつ効率よく
低減することができる。
【0015】本発明の光ファイバ線路監視システムは、
代表値が、光スイッチの第2ポートのうちいずれかと試
験装置との間に確立された光路において測定された光損
失に基づいて決定されることを特徴としてもよい。
【0016】光損失の測定によって上記代表値を決定す
ることで、設置環境等を考慮した適切な代表値を定める
ことが可能となる。
【0017】本発明の光ファイバ線路監視システムは、
試験装置が、試験光を出力する光源と、試験光を検出す
る光検出器とを有し、光スイッチが、第2ポートのうち
いずれか2つを光接続する接続光路を有し、代表値が、
光源から出力され、接続光路を介して光検出器に入力さ
れる試験光の強度に基づいて決定されることを特徴とし
てもよい。
【0018】また、本発明の光ファイバ線路監視システ
ムは、試験装置が、試験光を出力する光源と、試験光を
検出する光検出器とを有し、光スイッチが、第2ポート
のうちいずれかに設けられ、第2ポートから出射された
光を反射させて該第2ポートに入射させる反射手段を有
し、代表値が、光源から出力され、反射手段によって反
射されて光検出器に入力される試験光の強度に基づいて
決定されることを特徴としてもよい。
【0019】また、本発明の光ファイバ線路監視システ
ムは、試験装置が、試験光を出力する光源と、試験光の
後方散乱光を検出する後方散乱光検出器とを有し、光ス
イッチが、第2ポートのうちいずれかに接続された後方
散乱光発生用光ファイバを有し、代表値が、光スイッチ
の第2ポートのうちいずれかと試験装置との間に確立さ
れた光路内及び後方散乱光発生用光ファイバ内で発生
し、後方散乱光検出器に入力される、光源から出力され
た試験光の後方散乱光強度の時間変化に基づいて決定さ
れることを特徴としてもよい。
【0020】本発明の光ファイバ線路監視システムは、
代表値に関する情報を格納する格納手段をさらに有し、
光損失調整手段は、格納手段に格納された情報に基づい
て、選択された光カプラと試験装置との間の光路におけ
る光損失を調整することを特徴としてもよい。
【0021】代表値に関する情報を格納手段に格納して
おくことで、必要に応じてかかる情報を容易に読み出
し、更新することが可能となり、かかる情報を効率よく
利用することができる。
【0022】本発明の光ファイバ線路監視システムは、
試験装置が、試験光を出力する光源と、試験光を検出す
る光検出器とを有し、光カプラが、試験光を光検出器に
戻すための内部光路を有し、光損失調整手段が、光源か
ら出力され、内部光路を介して光検出器に入力される試
験光の強度に基づいて、選択された光カプラと試験装置
との間の光路における光損失を調整することを特徴とし
てもよい。
【0023】選択された光カプラから試験装置に戻され
る試験光の強度に基づいて、当該光カプラと試験装置と
の間の光路における光損失を調整することで、試験装置
と各光カプラとの間の光路の光損失を極めて精度良く調
整することが可能となる。
【0024】
【発明の実施の形態】はじめに、本発明の第1の実施形
態に係る光ファイバ線路監視システムについて、図面を
参照して説明する。まず、本実施形態に係る光ファイバ
線路監視システムの構成について説明する。図1は、本
実施形態に係る光ファイバ線路監視システムの構成図で
ある。
【0025】本実施形態に係る光ファイバ線路監視シス
テム10は、試験光を出力する試験装置12と、複数の
光ファイバ線路2のそれぞれに設けられ、各光ファイバ
線路2に試験光を導入するための光カプラ14と、上記
光カプラ14のうちのいずれかを選択し、当該選択され
た光カプラ14と試験装置12との間の光路を選択的に
確立する光スイッチ群(光路切り替え手段)と、当該光
スイッチ群により選択される光カプラ14によらず、当
該選択された光カプラ14と試験装置12との間の光路
における光損失がほぼ一定値となるように、当該光路の
光損失を調整する光減衰器15(光損失調整手段)とを
主に備えて構成される。
【0026】試験装置12は、OTDR試験装置16、
パワーメータ18等の光試験ユニット、および、試験光
を独立して出力することができる光源20を備えて構成
される。OTDR試験装置16は、試験光を出力するパ
ルス光源と、当該試験光の後方散乱光を検出する光検出
器(後方散乱光検出器)とを有し、上記光源から出力さ
れた試験光の後方散乱光強度の時間変化を測定すること
によって、試験光が伝搬する光路における光損失分布を
検出する。パワーメータ18は、試験光を出力する光源
と、光スイッチ群あるいは光ファイバ線路2の途上に設
けられた反射ポート等によって反射された当該試験光の
反射光を検出する光検出器とを有し、上記光源から出力
された試験光の反射光強度を測定することによって、試
験光が伝搬する光路における光損失を検出する。また、
各光スイッチあるいは光カプラ14までの2つの光路を
確立して、当該光スイッチあるいは光カプラ14におい
て当該2つの光路を接続し、光源20から出力され、一
方の光路を当該光スイッチあるいは光カプラ14まで伝
搬した試験光を、他方の光路を介してパワーメータ18
内の光検出器で受光させ、当該光検出器で受光される試
験光の強度を測定することによって、試験光が伝搬する
光路における光損失を検出することも可能である。
【0027】上記光スイッチ群は、多段に接続された複
数の光スイッチから構成され、各光スイッチは、試験装
置12側に接続される複数の第1ポートと光ファイバ線
路2側に接続される複数の第2ポートとを有するととも
に、第1ポートのうちいずれかと第2ポートのうちいず
れかとを選択的に光接続することが可能となっている。
光スイッチ群は、具体的には、3つの第1ポート22
a及び4つの第2ポート22bとを有する(以下3×4
という)第1段光スイッチ22、2つの2×1600第
2段光スイッチ24,26、5つの2×1600第3段
光スイッチ28,30,32,34,36、及び、2×
1600第4段光スイッチ38とを備えて構成される。
また、各光スイッチは、それぞれ第1ポートと第2ポー
トとの間における光損失に関する情報を格納する記憶部
22c,24c,26c,28c,30c,32c,3
4c,36c,38c(格納手段)をそれぞれ有してい
る(図2参照)。より具体的には、各記憶部には、第1
ポートのいずれかと第2ポートのいずれかとを接続した
場合の当該接続された第1ポートと第2ポートとの間の
光損失量が、全ての第1ポートと第2ポートとの組み合
わせについて格納されている。かかる光損失量として
は、例えば各光スイッチの出荷時に測定される試験値を
用いればよい。
【0028】第1段光スイッチ22の3つの第1ポート
22aは、光ファイバ40を介して、それぞれ試験装置
12のOTDR試験装置16、パワーメータ18及び光
源20に光接続されている。また、4つの第2ポート2
2bのうち2つは、光ファイバ40及び光コネクタ42
を介して、第2段光スイッチ24の各第1ポート24a
に光接続され、他の2つは、第2段光スイッチ26の各
第1ポート26aに光接続されている。
【0029】同様に、第2段光スイッチ24の第2ポー
ト24bと第3段光スイッチ28、30の第1ポート2
8a,30aとがそれぞれ光接続され、第2段光スイッ
チ26の第2ポート26bと第3段光スイッチ32,3
4,36の第1ポート32a,34a,36aとがそれ
ぞれ光接続され、第3段光スイッチ36の第2ポート3
6bと第4段光スイッチ38の第1ポート38aとがそ
れぞれ光接続されており、多段の光スイッチが構成され
ている。
【0030】また、各光スイッチの第2ポートのうち、
後段の光スイッチと接続されていないものは、2つ1組
として各光ファイバ線路2に設けられた光カプラ14に
光接続されている。
【0031】ここで、第2段光スイッチ24と第3段光
スイッチ28,30とは、1つのケーブル収容架44に
収容されており、第2段光スイッチ26と第3段光スイ
ッチ32,34,36とは、他の1つのケーブル収容架
46に収容されている。また、第4段光スイッチ38
は、ケーブル収容架46とは離れた位置に設置されたケ
ーブル収容架48内に収容されており、光ファイバ40
及び光コネクタ42を介して第3段光スイッチ36と接
続されている。
【0032】第1段光スイッチ22の第2ポート22b
と第2段光スイッチ24,26の各第1ポート24a,
26aとを結ぶ光路上には、光減衰器15が設けられて
いる。光減衰器15は、各光スイッチによって特定の光
路が確立された際に、各光スイッチの記憶部に格納され
ている第1ポートと第2ポートとの間の光損失量を読み
出し、係る光スイッチにおける光損失量と当該光減衰器
15における光損失量との和が、ほぼ一定値となるよう
に、当該光減衰器15における光減衰量を調節すること
ができるようになっている。
【0033】続いて、本実施形態に係る光ファイバ線路
監視システムの作用について説明する。図2は、光ファ
イバ線路監視システムの制御系統図である。試験対象の
光ファイバ線路2が特定されると、管理コンピュータ5
0により、試験装置12から試験対象の光ファイバ線路
2に設けられている光カプラ14までの光路を確立する
ための各光スイッチの動作が決定され、動作指示S1と
して、予め配置されている制御線を介し、電気信号とし
て各光スイッチに伝送される。
【0034】各光スイッチに動作指示S1が伝送される
と、各光スイッチは動作指示に基づいて動作し、試験装
置12から試験対象の光ファイバ線路2に設けられてい
る光カプラ14までの光路が確立される。この際、各光
スイッチにおいて接続された第1ポートと第2ポートと
の間の光損失量が各光スイッチの記憶部から読み出さ
れ、光損失情報S2として、予め配置されている制御線
を介し、電気信号として光減衰器15に伝送される。
【0035】光減衰器15に光損失情報S2が伝送され
ると、各光スイッチにおける光損失量と当該光減衰器1
5における光損失量との和が、ほぼ一定値となるよう
に、当該光減衰器15における光減衰量が調節され、試
験装置12による光ファイバ線路2の試験が可能とな
る。
【0036】その後、管理コンピュータ50から試験装
置12への試験指示S3に基づいて、試験対象の光ファ
イバ線路2の試験が行われ、その試験結果S4は管理コ
ンピュータ50に伝送される。
【0037】続いて、本実施形態に係る光ファイバ線路
監視システムの効果について説明する。本実施形態に係
る光ファイバ線路監視システム10は、光減衰器15を
設けることで、光スイッチ群によっていずれの光カプラ
14が選択された場合であっても、当該選択された光カ
プラ14と試験装置12との間の光路における光損失を
ほぼ一定値とすることができる。従って、光スイッチに
よって確立される光路毎の光損失のばらつきを低減する
ことができる。従って、測定レンジを絞ることができ、
試験対象である光ファイバ線路の障害等に基づく光損失
量の変化を精度良く検出することが可能となる。その結
果、光ファイバ線路の微細な障害等をも精度良く検出す
ることが可能となる。
【0038】尚、本実施形態に係る光ファイバ線路監視
システム10は、各光スイッチにおける光損失量のばら
つきが累積される多段構成の光スイッチを用いた場合で
あっても、各光スイッチにおける光損失量のばらつきを
効果的に除去することができ、単段の光スイッチを用い
た場合と同様に、測定レンジを絞ることができる。その
結果、光スイッチが多段構成であっても、試験対象であ
る光ファイバ線路の障害等に基づく光損失量の変化を精
度良く検出することが可能となる。
【0039】また、光スイッチ群により確立される光路
毎の光損失のばらつきは、各光スイッチ等を接続するコ
ネクタ42等にも起因するが、主として光スイッチ部分
に大きく起因する。従って、本実施形態に係る光ファイ
バ線路監視システム10の如く、各光スイッチの第1ポ
ートと第2ポートとの間における光損失に基づいて、光
減衰器15における光減衰量を調節することで、簡易か
つ効率よく光スイッチによって確立される光路毎の光損
失のばらつきを低減することができ、高精度の障害検出
が実現する。
【0040】ここで、各光スイッチ、光コネクタ内にお
ける光損失量、各光スイッチ、光コネクタ内における光
損失量のばらつき、試験装置12から当該光スイッチ、
各光コネクタまでの光路における光損失量の累積ばらつ
きの関係を以下の表に示す。ここで、表1は、従来技術
に係る光ファイバ線路監視システムに関するもの、表2
は、従来技術に係る光ファイバ線路監視システムに関す
るものであって、光損失量のばらつきの少ない光スイッ
チ、光コネクタを用いたもの(いわゆる高性能品)、表
3は、本実施形態に係る光ファイバ線路監視システム1
0に関するものである。
【0041】
【表1】
【0042】
【表2】
【0043】
【表3】
【0044】表1及び表2からわかるように、従来技術
に係る光ファイバ線路監視システムおいては、各光スイ
ッチ及び各光コネクタにおける光損失量のばらつきが累
積し、試験装置12から第4段光スイッチまでの光路に
おける光損失量のばらつきは極めて大きくなるのに対し
て、表3からわかるように、本実施形態に係る光ファイ
バ線路監視システム10おいては、各光スイッチ内にお
ける光損失量のばらつきは光減衰器15によって相殺さ
れるため、光コネクタにおける光損失量のばらつきのみ
が累積される。従って、試験装置12から第4段光スイ
ッチまでの光路における光損失量のばらつきを極めて小
さくすることが可能となる。
【0045】さらに、本実施形態に係る光ファイバ線路
監視システム10は、光損失に関する情報を各光スイッ
チに設けられた記憶部に格納しておくことで、必要に応
じてかかる情報を容易に読み出し、更新することが可能
となり、かかる情報を効率よく利用することができる。
【0046】続いて、本発明の第2の実施形態に係る光
ファイバ線路監視システムについて、図面を参照して説
明する。本実施形態に係る光ファイバ線路監視システム
60が上記第1の実施形態に係る光ファイバ線路監視シ
ステム10と異なる点は以下の通りである。すなわち、
第1の実施形態に係る光ファイバ線路監視システム10
においては、各光スイッチによって特定の光路が確立さ
れた際の各光スイッチの第1ポートと第2ポートとの間
の光損失量に基づいて、当該光減衰器15における光減
衰量を調節していたが、本実施形態に係る光ファイバ線
路監視システム60は、各光スイッチのいずれの第1ポ
ートといずれの第2ポートとが接続されているかによら
ず、各光スイッチ毎に定められた第1ポートと第2ポー
トとの間における光損失の代表値に基づいて、光減衰器
15における光減衰量を調節する点である。以下、第1
の実施形態に係る光ファイバ10と異なる点について詳
細に説明する。
【0047】本実施形態に係る光ファイバ線路監視シス
テム60は、図3に示すように、第2ポートのうちいず
れかに接続された定反射ポート22d、24d、26
d、28d、30d、32d、34d、36d、38d
を各光スイッチが備えている。上記各定反射ポートは、
当該定反射ポートが接続される第2ポートから出射され
た光を反射させ、当該該第2ポートに入射させる機能を
有している。
【0048】また、各光スイッチ毎には記憶部が設けら
れておらず、管理コンピュータ50内に記憶部50aが
設けられ(図4参照)、当該記憶部50aに、上記各光
スイッチ毎に定められた第1ポートと第2ポートとの間
における光損失の代表値が格納されている。
【0049】上記各光スイッチ毎に定められた第1ポー
トと第2ポートとの間における光損失の代表値は、以下
のように定められる。すなわち、管理コンピュータ50
からの動作指示S1によって各光スイッチを動作させ、
上記代表値を求めたい光スイッチ内の定反射ポートが接
続された第2ポートと試験装置12との光路を確立す
る。その後、試験装置12内のパワーメータ18を用い
て、パワーメータ18から出力されて上記定反射ポート
で反射され、パワーメータ18に戻る試験光強度を測定
する。当該光スイッチにおける第1ポートと第2ポート
との間における光損失の代表値は、パワーメータ18に
よって検出される上記試験光の損失量によって与えられ
る。
【0050】尚、光スイッチが多段構成になっている場
合は、まず前段の光スイッチにおける上記代表値を決定
し、その後、かかる前段の光スイッチにおける上記代表
値、及び、パワーメータ18によって検出される試験光
の損失量に基づいて、後段の光スイッチの上記代表値を
決定すればよい。
【0051】図4は、光ファイバ線路監視システム60
の制御系統図であり、光ファイバ線路監視システム60
は、以下のように動作する。各光スイッチにおける第1
ポートと第2ポートとの間における光損失の代表値は、
上述の方法により予め決定され、管理コンピュータ50
内の記憶部50aに格納されている。
【0052】試験対象の光ファイバ線路2が特定される
と、管理コンピュータ50により、試験装置12から試
験対象の光ファイバ線路2に設けられている光カプラ1
4までの光路を確立するための各光スイッチの動作が決
定され、動作指示S1として各光スイッチに伝送され、
試験装置12から試験対象の光ファイバ線路2に設けら
れている光カプラ14までの光路が確立される。
【0053】これと同時に、試験装置12から試験対象
の光ファイバ線路2までの光路中に介在する光スイッチ
の、第1ポートと第2ポートとの間における光損失の代
表値が、管理コンピュータ50の記憶部50aから読み
出され、光損失情報S2として光減衰器15に伝送され
る。
【0054】光減衰器15に光損失情報S2が伝送され
ると、各光スイッチにおける光損失量と当該光減衰器1
5における光損失量との和が、ほぼ一定値となるよう
に、当該光減衰器15における光減衰量が調節され、試
験装置12による光ファイバ線路2の試験が可能とな
る。
【0055】その後、管理コンピュータ50から試験装
置12への試験指示S3に基づいて、試験対象の光ファ
イバ線路2の試験が行われ、その試験結果S4は管理コ
ンピュータ50に伝送される。
【0056】本実施形態に係る光ファイバ線路監視シス
テム60においては、各光スイッチにおける第1ポート
と第2ポートとの間における光損失の代表値を用いて光
減衰器15における光減衰量が調節されるため、単一の
光スイッチ内における光損失量のばらつきを低減するこ
とは困難である。しかし、同一の光スイッチ内における
光損失のばらつきが、複数の光スイッチ間の光損失量の
ばらつきと比較して小さく、試験装置12と光カプラ1
4との間に確立される光路における光損失量のばらつき
のほとんどが、上記複数の光スイッチ間の光損失量のば
らつきに起因する場合も少なくない。従って、かかる場
合は、上記代表値に基づいて光損失を調整することで、
複数の光スイッチ間で発生する光損失のばらつきを簡易
かつ効率よく低減でき、また、試験装置12と光カプラ
14との間に確立される光路における光損失量のばらつ
きをも簡易かつ効率よく低減することが可能となる。
【0057】ここで、本実施形態に係る光ファイバ線路
監視システム60おける、各光スイッチ、光コネクタ内
における光損失量、各光スイッチ、光コネクタ内におけ
る光損失量のばらつき、試験装置12から当該光スイッ
チ、各光コネクタまでの光路における光損失量の累積ば
らつきの関係を表4に示す。
【0058】
【表4】
【0059】表4からわかるように、本実施形態に係る
光ファイバ線路監視システム60においては、各光スイ
ッチの光損失量の代表値に基づいて、各光スイッチ間の
光損失量をなくすように、光減衰器15における光損失
量が調節される。従って、各光スイッチ内の光損失量の
ばらつき(0.6dB)は残存するが、このばらつき
は、光スイッチが多段構成となっても累積されない。従
って、試験装置12から第4段光スイッチまでの光路に
おける光損失量のばらつきを極めて小さくすることが可
能となる。尚、ここで、各光コネクタにおける光損失量
のばらつきが累積されていないのは、上記代表値のを決
定すべく試験光の強度測定を行う際に、各光コネクタに
おける光損失量のばらつきをも吸収した状態で、上記試
験光の強度測定が行われるためである。
【0060】さらに、本実施形態に係る光ファイバ線路
監視システム60は、上記代表値を管理コンピュータ5
0内の記憶部50aに格納しておくことで、上記代表値
を一括管理することができるとともに、必要に応じて上
記代表値を容易に読み出し、更新することが可能とな
り、上記代表値を効率よく利用することができる。
【0061】上記第2の実施形態に係る光ファイバ線路
監視システム60においては、パワーメータ18と定反
射ポートを用いて、上記代表値を決定したが、これは以
下のようにしても良い。例えば、図5に示すように、第
2段光スイッチ24(他の光スイッチについても同様)
の第2ポート24bの1つに後方散乱光発生用光ファイ
バ24eを接続し、試験装置12と当該第2ポート24
bとの光路を確立した上で、OTDR試験装置16を用
いて、試験装置12と第2段光スイッチ24の当該第2
ポート24bとの間、及び、後方散乱光発生用光ファイ
バ24e内で発生する後方散乱光強度を測定し、かかる
後方散乱光強度の時間変化から光損失量を決定して上記
代表値としても良い。
【0062】また、例えば図6に示すように、第2段光
スイッチ24(他の光スイッチについても同様)の第2
ポート24bのいずれか2つを接続用光ファイバ24f
(接続光路)で接続し、試験装置12内の光源20とパ
ワーメータ18とをこれらの2つの第2ポート24bの
それぞれと接続する光路を確立した上で、光源20から
出力され、接続用光ファイバ24fを介してパワーメー
タ18に入力される試験光の強度を測定し、かかる試験
光強度から光損失量を決定して上記代表値としても良
い。
【0063】さらに、上記変形態様においては、各スイ
ッチ内で試験光を折り返すための光路(接続用光ファイ
バ24f)を設け、当該光路によって折り返された試験
光強度から各スイッチの光損失量の代表値を決定し、こ
の代表値に基づいて、試験装置12と光カプラ14とを
結ぶ光路の光損失量を調整していたが、これは、図7に
示すような光カプラ14を用いても良い。すなわち、各
光カプラ14内に、試験光をパワーメータ18に戻すた
めの内部光路14aを設け、光源20から出力され、内
部光路14aを介してパワーメータ18に入力される試
験光の強度を測定し、光カプラ14と試験装置12との
間に確立される各光路における光損失量を決定する。そ
の後、光減衰器15は、各光路毎に決定された上記光損
失量に基づいて、光減衰量を調節する。
【0064】かかる構成をとることで、光スイッチ群に
よって確立される光カプラ14と試験装置12との間の
全ての光路について、光路上に介在する光コネクタ等に
おける光損失をも考慮した光損失量の調整が可能とな
り、光ファイバ線路の障害等を検出する際に、極めて精
度の高い検出が可能となる。
【0065】ここで、上記構成とした場合の、各光スイ
ッチ、光コネクタ内における光損失量、各光スイッチ、
光コネクタ内における光損失量のばらつき、試験装置1
2から当該光スイッチ、各光コネクタまでの光路におけ
る光損失量の累積ばらつきの関係を表5に示す。
【0066】
【表5】
【0067】表5からわかるように、上記構成において
は、試験装置12から光カプラ14までの光路全体にお
ける光損失量のばらつきを光減衰器15によって相殺す
る。従って、各光スイッチ、各光コネクタ、さらには試
験装置12と光カプラ14とを結ぶ光フィアバ40にお
ける光損失量のばらつきをも除去することが可能とな
る。従って、試験装置12から光コネクタまでの光路に
おける光損失量のばらつきを極めて小さくすることが可
能となる。
【0068】上記各実施形態に係る光ファイバ線路監視
システムにおいて、光スイッチ群は、1つの第1〜第4
段光スイッチによって構成されていたが、これは任意の
構成とすることができる。単段の光スイッチであっても
良いし、第5段、第6段の光スイッチを備えるものであ
っても良い。また、各段の光スイッチの数も任意であ
る。
【0069】また、上記各実施形態に係る光ファイバ線
路監視システムにおいて、光減衰器15は、第1段光ス
イッチ22と第2段光スイッチ24、26との間に挿入
されていたが、これはこの位置でなくても良い。第1段
光スイッチ22と試験装置12との間に挿入しても良い
し、各光スイッチの前段にそれぞれ設けることも可能で
ある。
【0070】
【発明の効果】本発明の光ファイバ線路監視システム
は、光損失調整手段を設けることで、光路切り替え手段
により選択される光カプラによらず、当該選択された光
カプラと試験装置との間の光路における光損失をほぼ一
定値とすることができる。従って、光切り替え手段によ
って確立される光路毎の光損失のばらつきを低減するこ
とができる。その結果、光ファイバ線路の微細な障害等
をも精度良く検出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】光ファイバ線路監視システムの構成図である。
【図2】光ファイバ線路監視システムの制御系統図であ
る。
【図3】光ファイバ線路監視システムの構成図である。
【図4】光ファイバ線路監視システムの制御構成図であ
る。
【図5】光スイッチの構成図である。
【図6】光スイッチの構成図である。
【図7】光カプラの構成図である。
【符号の説明】
10、60…光ファイバ線路監視システム、12…試験
装置、14…光カプラ、15…光減衰器、16…OTD
R試験装置、18…パワーメータ、20…光源、22…
第1段光スイッチ、24、26…第2段光スイッチ、2
8、30、32、34、36…第3段光スイッチ、38
…第4段光スイッチ、40…光ファイバ、42…光コネ
クタ、44、46、48…ケーブル収容架、50…管理
コンピュータ

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の光ファイバ線路それぞれを監視す
    る光ファイバ線路監視システムにおいて、 試験光を出力する試験装置と、 前記複数の光ファイバ線路それぞれに設けられ、前記試
    験光を前記複数の光ファイバ線路それぞれに導入する複
    数の光カプラと、 前記複数の光カプラのうちのいずれかを選択し、当該選
    択された光カプラと前記試験装置との間の光路を選択的
    に確立する光路切り替え手段と、 前記光路切り替え手段により選択される光カプラによら
    ず、当該選択された光カプラと前記試験装置との間の光
    路における光損失がほぼ一定値となるように、当該光路
    の光損失を調整する光損失調整手段とを備えたことを特
    徴とする光ファイバ線路監視システム。
  2. 【請求項2】 前記光路切り替え手段は、 前記試験装置側に接続される1または複数の第1ポート
    と前記光ファイバ線路側に接続される複数の第2ポート
    とを有するとともに、前記第1ポートのうちいずれかと
    前記第2ポートのうちいずれかとを選択的に光接続する
    光スイッチを、1または複数備えて構成されることを特
    徴とする請求項1に記載の光ファイバ線路監視システ
    ム。
  3. 【請求項3】 前記光損失調整手段は、 前記光スイッチによって接続される前記第1ポートと前
    記第2ポートとの間における光損失に基づいて、前記選
    択された光カプラと前記試験装置との間の光路における
    光損失を調整することを特徴とする請求項2に記載の光
    ファイバ線路監視システム。
  4. 【請求項4】 前記光スイッチによって接続される前記
    第1ポートと前記第2ポートとの間における光損失に関
    する情報を格納する格納手段をさらに有し、 前記光損失調整手段は、 前記格納手段に格納された前記情報に基づいて、前記選
    択された光カプラと前記試験装置との間の光路における
    光損失を調整することを特徴とする請求項3に記載の光
    ファイバ線路監視システム。
  5. 【請求項5】 前記光路切り替え手段は、 前記光スイッチを複数備え、 前記光損失調整手段は、 前記光スイッチ毎に定められた、前記第1ポートと前記
    第2ポートとの間における光損失の代表値に基づいて、 前記選択された光カプラと前記試験装置との間の光路に
    おける光損失を調整することを特徴とする請求項2に記
    載の光ファイバ線路監視システム。
  6. 【請求項6】 前記代表値は、 前記光スイッチの前記第2ポートのうちいずれかと前記
    試験装置との間に確立された光路において測定された光
    損失に基づいて決定されることを特徴とする請求項5に
    記載の光ファイバ線路監視システム。
  7. 【請求項7】 前記試験装置は、 前記試験光を出力する光源と、前記試験光を検出する光
    検出器とを有し、 前記光スイッチは、 前記第2ポートのうちいずれか2つを光接続する接続光
    路を有し、 前記代表値は、 前記光源から出力され、前記接続光路を介して前記光検
    出器に入力される前記試験光の強度に基づいて決定され
    ることを特徴とする請求項6に記載の光ファイバ線路監
    視システム。
  8. 【請求項8】 前記試験装置は、 前記試験光を出力する光源と、前記試験光を検出する光
    検出器とを有し、 前記光スイッチは、 前記第2ポートのうちいずれかに設けられ、前記第2ポ
    ートから出射された光を反射させて該第2ポートに入射
    させる反射手段を有し、 前記代表値は、 前記光源から出力され、前記反射手段によって反射され
    て前記光検出器に入力される前記試験光の強度に基づい
    て決定されることを特徴とする請求項6に記載の光ファ
    イバ線路監視システム。
  9. 【請求項9】 前記試験装置は、 前記試験光を出力する光源と、前記試験光の後方散乱光
    を検出する後方散乱光検出器とを有し、 前記光スイッチは、 前記第2ポートのうちいずれかに接続された後方散乱光
    発生用光ファイバを有し、 前記代表値は、 前記光スイッチの前記第2ポートのうちいずれかと前記
    試験装置との間に確立された光路内及び前記後方散乱光
    発生用光ファイバ内で発生し、前記後方散乱光検出器に
    入力される、前記光源から出力された試験光の後方散乱
    光強度の時間変化に基づいて決定されることを特徴とす
    る請求項6に記載の光ファイバ線路監視システム。
  10. 【請求項10】 前記代表値に関する情報を格納する格
    納手段をさらに有し、 前記光損失調整手段は、 前記格納手段に格納された前記情報に基づいて、前記選
    択された光カプラと前記試験装置との間の光路における
    光損失を調整することを特徴とする請求項5に記載の光
    ファイバ線路監視システム。
  11. 【請求項11】 前記試験装置は、 前記試験光を出力する光源と、前記試験光を検出する光
    検出器とを有し、 前記光カプラは、 前記試験光を前記光検出器に戻すための内部光路を有
    し、 前記光損失調整手段は、 前記光源から出力され、前記内部光路を介して前記光検
    出器に入力される前記試験光の強度に基づいて、前記選
    択された光カプラと前記試験装置との間の光路における
    光損失を調整することを特徴とする請求項2に記載の光
    ファイバ線路監視システム。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013002811A (ja) * 2011-06-10 2013-01-07 Fujikura Ltd 光線路試験システム

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