JP2000061767A - Pallet for ingot carriage and wafer manufacturing system using pallet for ingot carriage - Google Patents

Pallet for ingot carriage and wafer manufacturing system using pallet for ingot carriage

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JP2000061767A
JP2000061767A JP10230740A JP23074098A JP2000061767A JP 2000061767 A JP2000061767 A JP 2000061767A JP 10230740 A JP10230740 A JP 10230740A JP 23074098 A JP23074098 A JP 23074098A JP 2000061767 A JP2000061767 A JP 2000061767A
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JP
Japan
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ingot
pallet
mounting plate
transfer
wafer
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JP10230740A
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Japanese (ja)
Inventor
Susumu Sawafuji
進 沢藤
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pallet for ingot carriage capable of carrying ingot of different shapes and a wafer manufacturing system using the pallet for ingot carriage. SOLUTION: An ingot support base 14 and a mounting plate support base 16 are installed and constituted on a pallet main body 12. Single ingot In is carried in a state where it is placed on the ingot support base 14. Additionally, the ingot In in a state where it is adhered to a mounting plate M or slide wafer is carried in a state where it is suspended by the mounting plate M by installing both end parts of the mounting plate M on the mounting plate support base 16.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はインゴット搬送用パ
レット及びそのインゴット搬送用パレットを用いたウェ
ーハ製造システムに係り、特にインゴット単体、マウン
ティングプレートに接着された状態のインゴット及びマ
ウンティングプレートに接着された状態のスライスドウ
ェーハをそれぞれ搬送するインゴット搬送用パレット及
びそのインゴット搬送用パレットを用いたウェーハ製造
システムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ingot transfer pallet and a wafer manufacturing system using the ingot transfer pallet, and particularly to an ingot alone, an ingot adhered to a mounting plate, and a state adhered to a mounting plate. The present invention relates to an ingot transfer pallet for transferring the sliced wafers, and a wafer manufacturing system using the ingot transfer pallet.

【0002】[0002]

【従来の技術】ワイヤソーを用いたウェーハ製造システ
ムでは、次の処理の流れに従ってウェーハの製造を行っ
ている。まず、インゴットストッカーに格納されている
インゴットをインゴットマウント装置に搬送し、インゴ
ットにマウンティングプレートを接着する。次に、マウ
ンティングプレートが接着されたインゴットをワイヤソ
ーに搬送し、多数枚のウェーハに切断する。次に、ワイ
ヤソーで切断されたスライスドウェーハを剥離・洗浄装
置に搬送し、スライスドウェーハを一枚ずつスライスベ
ースから剥離して枚葉化したのち、洗浄してカセットに
収納する。
2. Description of the Related Art In a wafer manufacturing system using a wire saw, wafers are manufactured according to the following process flow. First, the ingot stored in the ingot stocker is conveyed to the ingot mount device, and the mounting plate is adhered to the ingot. Next, the ingot to which the mounting plate is attached is conveyed to a wire saw and cut into a large number of wafers. Next, the sliced wafers cut by the wire saw are conveyed to a peeling / cleaning apparatus, and the sliced wafers are peeled from the slice base one by one to be separated into single wafers, which are then cleaned and stored in a cassette.

【0003】以上がワイヤソーを用いたウェーハ製造シ
ステムにおける一連の処理の流れである。ところで、こ
のウェーハ製造システムでは、各装置間におけるインゴ
ットの搬送をオペレータが手動で行うようにしている。
この際、オペレータは専用の搬送手段を用いてインゴッ
トを搬送するようにしているが、各装置間においてイン
ゴットの形態が異なるため、同一の搬送手段を用いて搬
送することができないという欠点があった。
The above is the flow of a series of processes in the wafer manufacturing system using the wire saw. By the way, in this wafer manufacturing system, the operator manually carries the ingot between the respective devices.
At this time, the operator tries to carry the ingot by using a dedicated carrying means, but there is a disadvantage that the same carrying means cannot be used because the ingot forms are different between the respective devices. .

【0004】すなわち、インゴットストッカーからイン
ゴットマウント装置にインゴットを搬送する場合は、イ
ンゴットが円柱形状をしているので、そのままの状態で
は搬送台車に載せることができず、このためインゴット
を布等で包み搬送台車にぶら下げた状態で搬送するよう
にしている。一方、インゴットマウント装置からワイヤ
ソーにインゴットを搬送する場合や、スライスドウェー
ハをワイヤソーから剥離・洗浄装置に搬送する場合は、
インゴット又はスライスドウェーハをマウンティングプ
レートが接着されているので、そのマウンティングプレ
ートの部分を搬送台車の上に載せて搬送するようにして
いる。
That is, when the ingot is transported from the ingot stocker to the ingot mount device, the ingot has a columnar shape, so that the ingot cannot be placed on the transport carriage as it is. Therefore, the ingot is wrapped with cloth or the like. It is designed to be hung on a carrier. On the other hand, when transferring the ingot from the ingot mount device to the wire saw, or when transferring the sliced wafer from the wire saw to the peeling / cleaning device,
Since the mounting plate is adhered to the ingot or the sliced wafer, the mounting plate portion is placed on a carrier truck and transported.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ように各装置間を個別の搬送手段を用いてインゴットを
搬送するようにすると、設備コストがかかるという欠点
がある。また、オペレータが手動でインゴットを搬送す
るシステムでは、効率的にウェーハを製造することがで
きないという欠点がある。
However, if the ingot is transferred between the respective devices by using the individual transfer means as described above, there is a drawback that the equipment cost is increased. Further, a system in which an operator manually conveys an ingot has a drawback that a wafer cannot be efficiently manufactured.

【0006】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、異なる形態のインゴットを搬送することがで
きるインゴット搬送用パレット及びそのインゴット搬送
用パレットを使用したウェーハ製造システムを提供する
ことを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide an ingot transfer pallet capable of transferring ingots of different forms and a wafer manufacturing system using the ingot transfer pallet. To aim.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
前記目的を達成するために、インゴット単体、マウンテ
ィングプレートに接着された状態のインゴット及びマウ
ンティングプレートに接着された状態のスライスドウェ
ーハをそれぞれ搬送するインゴット搬送用パレットにお
いて、パレット本体と、前記パレット本体に設けられ、
前記単体のインゴットが載置されることにより、該単体
のインゴットを水平に支持するインゴット支持台と、前
記インゴット支持台を挟むように配置され、前記マウン
ティングプレートの両端部が載置されることにより、前
記インゴット又は前記スライスドウェーハを前記インゴ
ット支持台の上方に吊り下げた状態で支持する一対のマ
ウンティングプレート支持部材と、から成ることを特徴
とする。
The invention according to claim 1 is
In order to achieve the above purpose, ingot transport pallet for transporting the ingot alone, the ingot adhered to the mounting plate and the sliced wafer adhered to the mounting plate, respectively, in the pallet body and the pallet body, Is provided,
By placing the single ingot, the ingot support for horizontally supporting the single ingot and the ingot support are arranged so as to sandwich the ingot, and both ends of the mounting plate are placed. , A pair of mounting plate support members that support the ingot or the sliced wafer in a state of being suspended above the ingot support base.

【0008】本発明によれば、単体のインゴットはイン
ゴット支持台上に載置された状態で搬送される。また、
マウンティングプレートに接着された状態のインゴット
及びマウンティングプレートに接着された状態のスライ
スドウェーハは、そのマウンティングプレートの両端部
を一対のマウンティングプレート支持部材上に載置する
ことにより、インゴット又はスライスドウェーハを吊り
下げた状態で支持して搬送する。
According to the present invention, a single ingot is transported while being placed on the ingot support base. Also,
The sliced wafer in the state of being adhered to the mounting plate and the state of being adhered to the mounting plate is placed on both ends of the mounting plate on the pair of mounting plate supporting members, so that the ingot or the sliced wafer is It is supported and transported while suspended.

【0009】また、請求項10に係る発明は、前記目的
を達成するために、多数のインゴットがストックされる
インゴットストック装置と、インゴットにスライスベー
スを介してマウンティングプレートを接着するインゴッ
トマウント装置と、マウンティングプレートに接着され
たインゴットを走行するワイヤ列に押し当てて多数枚の
ウェーハに切断するワイヤソー切断装置と、前記ワイヤ
ソー切断装置で切断されたスライスドウェーハをスライ
スベースから剥離して洗浄する剥離・洗浄装置と、前記
インゴットストック装置にストックされた単体のインゴ
ット、前記インゴットマウント装置でマウンティングプ
レートが接着されたインゴット及び前記ワイヤソー切断
装置で切断されたスライスドウェーハをそれぞれ搬送す
る請求項1記載のインゴット搬送用パレットと、前記各
装置間を移動して前記インゴット搬送用パレットを前記
各装置間に搬送する搬送台車と、から構成され、前記イ
ンゴットストック装置にストックされた単体のインゴッ
トを前記インゴット搬送用パレットに載せ、該インゴッ
ト搬送用パレットを前記搬送台車で前記インゴットマウ
ント装置に搬送し、該インゴットマウント装置で前記単
体のインゴットにスライスベースを介してマウンティン
グプレートを接着し、該マウンティングプレートに接着
されたインゴットを再び前記インゴット搬送用パレット
に載せ、該インゴット搬送用パレットを前記搬送台車で
前記ワイヤソー切断装置に搬送し、該ワイヤソー切断装
置で前記マウンティングプレートに接着されたインゴッ
トを多数枚のウェーハに切断し、該ワイヤソー切断装置
で切断されたスライスドウェーハを前記インゴット搬送
用パレットに載せ、該インゴット搬送用パレットを前記
搬送台車で前記剥離・洗浄装置に搬送し、該剥離・洗浄
装置で前記スライスドウェーハをスライスベースから剥
離して洗浄することを特徴とする。
In order to achieve the above-mentioned object, the invention according to claim 10 is an ingot stock device in which a large number of ingots are stocked, and an ingot mount device for adhering a mounting plate to the ingot via a slice base, A wire saw cutting device that presses the ingot adhered to the mounting plate against the traveling wire row to cut into a large number of wafers, and a peeling / cleaning process that peels the sliced wafer cut by the wire saw cutting device from the slice base. A cleaning device, a single ingot stocked in the ingot stock device, an ingot to which a mounting plate is adhered by the ingot mount device, and a sliced wafer cut by the wire saw cutting device are respectively conveyed. A pallet for transferring ingots, and a carrier for moving the pallets for transferring ingots between the respective devices to transfer the pallets for transferring ingots between the respective devices, and the single ingot stocked in the ingot stock device is transferred into the ingot. Placed on a pallet for transporting, the pallet for transporting the ingot is transported to the ingot mount device by the transport carriage, and the mounting plate is bonded to the single ingot by the ingot mount device via the slice base, and is bonded to the mounting plate. Place the ingot again on the pallet for ingot transport, transport the pallet for ingot transport to the wire saw cutting device by the transport carriage, and cut the ingot adhered to the mounting plate into a large number of wafers by the wire saw cutting device. And the A sliced wafer cut by an ear saw cutting device is placed on the ingot transfer pallet, the ingot transfer pallet is transferred to the peeling / cleaning device by the transfer carriage, and the sliced wafer is sliced by the peeling / cleaning device. It is characterized by being peeled off from the base and washed.

【0010】本発明によれば、請求項1記載のインゴッ
ト搬送用パレットを用いてウェーハ製造システムの各装
置間におけるインゴットの搬送を行う。すなわち、単体
のインゴットをインゴット搬送用パレットに載せて搬送
台車でインゴットストック装置にストックからインゴッ
トマウント装置に搬送する。また、マウンティングプレ
ートが接着されたインゴットをインゴット搬送用パレッ
トに載せて搬送台車でインゴットマウント装置からワイ
ヤソー切断装置に搬送する。また、ワイヤソー切断装置
で切断されたスライスドウェーハをインゴット搬送用パ
レットに載せて搬送台車で剥離・洗浄装置に搬送する。
このように、請求項1記載のインゴット搬送用パレット
を用いることにより、搬送手段の共通化を図ることがで
きる。
According to the present invention, the ingot transfer pallet according to claim 1 is used to transfer the ingot between the respective devices of the wafer manufacturing system. That is, a single ingot is placed on an ingot transport pallet and is transported by a transport vehicle from the stock to the ingot mount device to the ingot stock device. Further, the ingot to which the mounting plate is adhered is placed on an ingot transport pallet and is transported by the transport carriage from the ingot mount device to the wire saw cutting device. Further, the sliced wafer cut by the wire saw cutting device is placed on an ingot transfer pallet and transferred to a peeling / cleaning device by a transfer carriage.
As described above, by using the ingot transfer pallet according to the first aspect, the transfer means can be shared.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、添付図面に従って本発明に
係るインゴット搬送用パレット及びそのインゴット搬送
用パレットを使用したウェーハ製造システムの実施の形
態について詳説する。図1、図2及び図3は、それぞれ
本発明に係るインゴット搬送用パレットの実施の形態の
正面図、側面図及び平面図である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of an ingot carrying pallet and a wafer manufacturing system using the ingot carrying pallet according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. 1, 2, and 3 are a front view, a side view, and a plan view, respectively, of an embodiment of an ingot carrying pallet according to the present invention.

【0012】同図に示すように、本実施の形態のインゴ
ット搬送用パレット10は、矩形状に形成されたパレッ
ト本体12を有しており、そのパレット本体12上に単
体のインゴットInを支持するインゴット支持台14
と、マウンティングプレートMを支持するマウンティン
グプレート支持台16が設置されて構成されている。イ
ンゴット支持台14は、パレット本体12の中央部に配
置されており、ベース部14A、脚部14B、14B及
びインゴット支持部14C、14Cから構成されてい
る。ベース部14Aは長方形の板状に形成されており、
前記パレット本体12に固定されている。脚部14B、
14Bはベース部14Aの両側部に垂直に立設されてい
る。インゴット支持部14C、14Cは、脚部14B、
14Bの上端を外側に向けて所定角度折り曲げることに
より形成されており、全体としてV字を成すように形成
されている。インゴットInは、このインゴット支持部
14C、14Cの上に載置される。
As shown in the figure, the ingot carrying pallet 10 of this embodiment has a pallet body 12 formed in a rectangular shape, and a single ingot In is supported on the pallet body 12. Ingot support 14
And a mounting plate support 16 for supporting the mounting plate M is installed and configured. The ingot support base 14 is arranged at the center of the pallet body 12 and is composed of a base portion 14A, legs 14B and 14B, and ingot support portions 14C and 14C. The base portion 14A is formed in a rectangular plate shape,
It is fixed to the pallet body 12. Legs 14B,
14B are erected vertically on both sides of the base portion 14A. The ingot support portions 14C and 14C are the leg portions 14B,
It is formed by bending the upper end of 14B outward by a predetermined angle, and is formed so as to form a V shape as a whole. The ingot In is placed on the ingot support portions 14C and 14C.

【0013】なお、インゴット支持台14はSUS等の
金属で形成されるが、インゴットInが載置されるイン
ゴット支持部14C、14Cには、その上面にシリコン
等の樹脂製のプレート14D、14Dが貼付され、イン
ゴットInが直接金属部に接触しないようにされてい
る。マウンティングプレート支持台16は、前記インゴ
ット支持台14を挟んで左右対称位置に配置された一対
のインゴット支持ブラケット16A、16Aによって構
成されている。この一対のインゴット支持ブラケット1
6A、16Aは、図2に示すように、それぞれ二枚一組
の板部材16a、16aによって構成されており、該板
部材16a、16aは、パレット本体12上に所定間隔
をもって垂直に立設されている。
The ingot support base 14 is made of metal such as SUS. The ingot support parts 14C and 14C on which the ingot In is placed have resin plates 14D and 14D made of resin such as silicon on their upper surfaces. It is attached so that the ingot In does not directly contact the metal part. The mounting plate support base 16 is composed of a pair of ingot support brackets 16A, 16A arranged symmetrically with respect to the ingot support base 14. This pair of ingot support brackets 1
As shown in FIG. 2, 6A and 16A are each composed of a pair of plate members 16a and 16a, and the plate members 16a and 16a are erected vertically on the pallet body 12 with a predetermined interval. ing.

【0014】また、この一対のインゴット支持ブラケッ
ト16A、16Aには、それぞれ二個一組のマウンティ
ングプレート支持金具16B、16Bが、それぞれの板
部材16a、16a上に固着されており、このマウンテ
ィングプレート支持金具16B、16B上に、マウンテ
ィングプレートMの両端部を載置することにより、マウ
ンティングプレートMが水平に支持される。
Also, a pair of mounting plate support fittings 16B and 16B are fixed to the pair of ingot support brackets 16A and 16A on the plate members 16a and 16a, respectively. By mounting both ends of the mounting plate M on the metal fittings 16B and 16B, the mounting plate M is horizontally supported.

【0015】ところで、このマウンティングプレート支
持台16で支持するマウンティングプレートMには、そ
の両端隅部に凹部Ma、Ma、…が形成されている。こ
の凹部Ma、Ma、…は、図4に示すように、マウンテ
ィングプレートMがマウンティングプレート支持金具1
6B、16B、…上に載置されると、そのマウンティン
グプレート支持金具16B、16B、…と嵌合してマウ
ンティングプレートMを所定位置に位置決めする。
By the way, the mounting plate M supported by the mounting plate support 16 has recesses Ma, Ma, ... As shown in FIG. 4, the mounting plate M of the recesses Ma, Ma, ...
When mounted on 6B, 16B, ..., The mounting plate support fittings 16B, 16B, ... Are fitted to position the mounting plate M at a predetermined position.

【0016】また、前記一対のインゴット支持ブラケッ
ト16A、16Aは、相互に三本のリブ16C、16
C、16Cによって連結されており、台全体の剛性を高
めている。また、この三本のリブ16C、16C、16
Cは、同時にスライスベースSから落下したウェーハW
がパレット本体12から放出するのを防止している。す
なわち、スライスベースSから落下したウェーハWは、
インゴット支持台14上に受けられ、かつ、横方向の移
動がこのリブ16C、16C、16Cによって規制され
る。これにより、ウェーハWがパレット本体12外から
放出するのを防止している。
Further, the pair of ingot support brackets 16A, 16A are mutually provided with three ribs 16C, 16A.
Connected by C and 16C, the rigidity of the whole stand is enhanced. In addition, these three ribs 16C, 16C, 16
C is a wafer W that has dropped from the slice base S at the same time.
Are prevented from being discharged from the pallet body 12. That is, the wafer W dropped from the slice base S is
The ribs 16C, 16C and 16C receive the ribs on the ingot support base 14 and restrict the lateral movement thereof. This prevents the wafer W from being discharged from the outside of the pallet body 12.

【0017】なお、この3本のリブ16C、16C、1
6Cは、その周面がシリコン等の樹脂製のカバーで被覆
されており、ウェーハWが接触しても欠け等が生じない
ようにされている。本実施の形態のインゴット搬送用パ
レット10の主要部の構成は、以上の通りである。
The three ribs 16C, 16C, 1
The peripheral surface of 6C is covered with a cover made of resin such as silicon, so that even if the wafer W comes into contact with it, chipping or the like does not occur. The configuration of the main part of the ingot transport pallet 10 of the present embodiment is as described above.

【0018】ところで、上記のインゴット搬送用パレッ
ト10は、搬送機に載置して搬送することができ、この
場合、安定した状態でインゴット搬送用パレット10が
搬送できるようにする必要がある。このため、パレット
本体12には一対の搬送機用ロケート部材20、20が
設けられている。この搬送機用ロケート部材20、20
は、それぞれ搬送機に設けられたロケートピンが挿入で
きる搬送機用ロケート用穴20A、20Aが設けられて
おり、インゴット搬送用パレット10を搬送機上に載置
する際は、この搬送機用ロケート穴20、20に前記ロ
ケートピンを挿入して搬送機上に載置する。
By the way, the ingot transfer pallet 10 can be placed on a transfer device and transferred. In this case, it is necessary to allow the ingot transfer pallet 10 to be transferred in a stable state. Therefore, the pallet body 12 is provided with a pair of locating members 20, 20 for the carrier. Locating members 20, 20 for the carrier
Are provided with locating holes 20A, 20A for the transporting machine, into which the locating pins provided in the transporting machine can be inserted. When the ingot transporting pallet 10 is placed on the transporting machine, the locating holes for the transporting machine are used. The locating pin is inserted into 20, 20 and placed on the carrier.

【0019】これにより、インゴット搬送用パレット1
0は、搬送機上の所定の位置に位置決めされるとともに
水平方向の移動が規制され、安定した状態で搬送を行う
ことができる。また、上記のインゴット搬送用パレット
10にオペレータではなく搬出入機を用いてインゴット
Inの搬出入を行う場合、インゴット搬送用パレット1
0が搬出入機に対して所定の位置に位置決めされている
必要がある。
Thus, the ingot transfer pallet 1
No. 0 is positioned at a predetermined position on the carrier and its movement in the horizontal direction is restricted, so that the carrier can be carried in a stable state. When the ingot In is carried in and out of the ingot carrying pallet 10 by using a carrying in / out machine instead of the operator, the ingot carrying pallet 1
It is necessary that 0 is positioned at a predetermined position with respect to the carry-in / carry-out device.

【0020】このため、マウンティングプレート支持台
16を構成する一対のマウンティングプレート支持ブラ
ケット16A、16Aには一対の位置決め部材22、2
2が設けられている。この一対の位置決め部材22、2
2は、搬出入機に設けられたロケートピンが挿入される
搬出入機用ロケート用穴22A、22Aを有しており、
搬出入機を用いてインゴットInを搬出入する場合は、
この搬出入機用ロケート穴22A、22Aに前記搬出入
機のロケートピンを挿入する。
For this reason, the pair of positioning members 22, 2 are provided on the pair of mounting plate support brackets 16A, 16A constituting the mounting plate support base 16.
Two are provided. This pair of positioning members 22, 2
Reference numeral 2 has locating holes 22A, 22A for the unloading machine into which the locating pin provided in the unloading machine is inserted,
When carrying in and out the ingot In using the carry-in / carry-out machine,
The locate pin of the carry-in / carry-out machine is inserted into the carry-in / carry-out machine locate holes 22A, 22A.

【0021】これにより、インゴット搬送用パレット1
0が、搬出入機に対して所定の位置に位置決めされると
ともに水平方向の移動が規制される。なお、ロケートピ
ンの先端をテーパ状とし、搬出入機用ロケート用穴22
A、22Aの形状もテーパ状にすることにより、ロケー
トピンの挿入が容易になり、位置決めが容易になる。
As a result, the ingot transfer pallet 1
0 is positioned at a predetermined position with respect to the carry-in / carry-out device, and horizontal movement is restricted. In addition, the locating pin has a tapered tip, and the locating hole 22 for the loading / unloading machine
By making the shapes of A and 22A also tapered, the locating pin can be easily inserted and the positioning is facilitated.

【0022】前記のごとく構成された本実施の形態のイ
ンゴット搬送用パレット10の作用は次の通りである。
単体のインゴットInを支持する場合は、図5に示すよ
うに、インゴットInをインゴット支持台14の上に載
置して支持する。この際、インゴットInはV字を成す
ように配置された一対のインゴット支持部14C、14
Cで支持するので、様々な径のインゴットInを安定し
た状態で支持することができる。
The operation of the ingot transfer pallet 10 of the present embodiment configured as described above is as follows.
When supporting a single ingot In, as shown in FIG. 5, the ingot In is placed and supported on the ingot support base 14. At this time, the ingot In has a pair of ingot support portions 14C, 14 arranged to form a V shape.
Since it is supported by C, ingots of various diameters can be supported in a stable state.

【0023】また、マウンティングプレートMに接着さ
れた状態のインゴットInを支持する場合は、図1及び
図2に示すように(二点破線で図示)、マウンティング
プレートMの部分をマウンティングプレート支持台16
の上に載置して支持する。この際、マウンティングプレ
ートMは、その両端隅部に形成さている凹部Ma、M
a、…をマウンティングプレート支持金具16B、16
B、…に嵌め込むようにして、そのマウンティングプレ
ート支持金具16B、16B、…上に載置する。これに
より、マウンティングプレートMは、所定の位置に位置
決めされるとともに水平方向の移動が規制され、安定し
た状態で支持することができる。
When supporting the ingot In in a state of being adhered to the mounting plate M, as shown in FIGS. 1 and 2 (shown by a two-dot chain line), the mounting plate M is mounted on the mounting plate support 16 as shown in FIG.
Place on top of and support. At this time, the mounting plate M has recesses Ma, M formed at the corners of both ends thereof.
a, ... are mounting plate support fittings 16B, 16
.. so as to fit on the mounting plate support fittings 16B, 16B ,. As a result, the mounting plate M is positioned at a predetermined position, its movement in the horizontal direction is restricted, and it can be supported in a stable state.

【0024】マウンティングプレートMに接着された状
態のウェーハ(以下、『スライスドウェーハSW』とい
う。)を支持する場合も同様であり、図6に示すよう
に、マウンティングプレートMの部分をマウンティング
プレート支持台16の上に載置して支持する。なお、こ
の場合、マウンティングプレートMからウェーハWが落
下した場合であっても、その落下したウェーハWはイン
ゴット支持台14に受けられ、かつ、横方向の移動がリ
ブ16Cによって規制されるため、パレット本体12か
ら放出するようなことはない。
The same applies to the case where a wafer adhered to the mounting plate M (hereinafter referred to as "sliced wafer SW") is supported. As shown in FIG. 6, the mounting plate M is supported by the mounting plate M. It is placed on and supported by the table 16. In this case, even if the wafer W is dropped from the mounting plate M, the dropped wafer W is received by the ingot support base 14 and its lateral movement is restricted by the rib 16C, so that the pallet is moved. It will not be released from the body 12.

【0025】このように、本実施の形態のインゴット搬
送用パレット10は、単体のインゴットIn、マウンテ
ィングプレートMに接着された状態のインゴットIn及
びマウンティングプレートMに接着された状態のスライ
スドウェーハSWをそれぞれ支持することができる。し
たがって、本実施の形態のインゴット搬送用パレット1
0をウェーハ製造システムの搬送手段として用いれば、
各装置間におけるインゴットInの搬送手段の共通化を
図ることができる。
As described above, in the ingot transfer pallet 10 of this embodiment, the single ingot In, the ingot In adhered to the mounting plate M, and the sliced wafer SW adhered to the mounting plate M are included. Each can be supported. Therefore, the ingot transfer pallet 1 of the present embodiment
If 0 is used as the transfer means of the wafer manufacturing system,
It is possible to share the ingot transporting means between the respective devices.

【0026】なお、本実施の形態のインゴット搬送用パ
レット10において、インゴットInの搬出入はオペレ
ータが自ら行ってもよいし、図7に示すようなインゴッ
ト搬出入機1を使用してもよい。このインゴット搬出入
機1は、ガイドレール2上を走行する走行体3と、その
走行体3に設けられた昇降移動自在なスライド体4と、
スライド体4の下端部に設けられたインゴットチャック
装置5とから構成されている。そして、インゴットチャ
ック装置5は、チャック装置本体6と、そのチャック装
置本体6上を移動自在に設けられた一対の把持爪7、7
とから構成されており、この一対の把持爪7、7でイン
ゴットInの両端部を把持することにより、インゴット
InをチャックしてインゴットInの搬出入を行う。ま
た同様に、この一対の把持爪7、7でマウンティングプ
レートMの両端部を把持することにより、マウンティン
グプレートMをチャックしてインゴットIn及びスライ
スドウェーハSWの搬出入を行う。
In addition, in the ingot carrying pallet 10 of the present embodiment, the operator may carry in and out the ingot In, or the ingot carrying-in / out machine 1 as shown in FIG. 7 may be used. The ingot carrying-in / out machine 1 includes a traveling body 3 traveling on a guide rail 2, a slide body 4 provided on the traveling body 3 and movable up and down.
It comprises an ingot chuck device 5 provided at the lower end of the slide body 4. The ingot chuck device 5 includes a chuck device body 6 and a pair of gripping claws 7, 7 movably provided on the chuck device body 6.
By holding both ends of the ingot In with the pair of gripping claws 7, 7, the ingot In is chucked and the ingot In is carried in and out. Similarly, by gripping both ends of the mounting plate M with the pair of gripping claws 7, 7, the mounting plate M is chucked and the ingot In and the sliced wafer SW are carried in and out.

【0027】また、ワイヤソーで切断した直後のスライ
スドウェーハSWは、切断時に供給したスラリが表面に
付着しているため、そのスラリがパレット本体12上に
滴下して溜まる。このため図8に示すように、パレット
本体12に排液穴24を形成し、この排液穴24から溜
まったスラリを排出するようにしてもよい。なお、この
排液穴24は常時開口させておいてもよいし、同時に示
すように不使用時はキャップ26によって閉じるように
してもよい。
Further, since the slurry supplied at the time of cutting adheres to the surface of the sliced wafer SW immediately after being cut by the wire saw, the slurry is dripped and accumulated on the pallet body 12. Therefore, as shown in FIG. 8, a drainage hole 24 may be formed in the pallet body 12 and the slurry accumulated through the drainage hole 24 may be discharged. The drain hole 24 may be opened at all times, or may be closed by the cap 26 when not in use, as shown at the same time.

【0028】しかし、上記のようにスライスドウェーハ
SWから滴下したスラリをそのままパレット本体12で
回収した場合、パレット本体12が汚れてしまうという
欠点がある。このため、図8に示すように、インゴット
支持台14上に専用のスラリ受皿28を装着し、このス
ラリ受皿28でスラリを回収するようにしてもよい。こ
のスラリ受皿28は底部がV字状に形成されており、そ
の傾斜面28A、28Aは前記インゴット支持台14の
インゴット支持部14C、14Cと同じ傾斜角度に設定
されている。したがって、インゴット支持台14に装着
するときは、その傾斜面28A、28Aをインゴット支
持台14のインゴット支持部14C、14Cの上に載せ
るだけで固定することができるので、簡単に取り付け、
取り外しを行うことができる。
However, when the slurry dropped from the sliced wafer SW is directly recovered by the pallet body 12 as described above, there is a drawback that the pallet body 12 becomes dirty. Therefore, as shown in FIG. 8, a dedicated slurry tray 28 may be mounted on the ingot support base 14 and the slurry may be collected by the slurry tray 28. The bottom of this slurry tray 28 is formed in a V shape, and its inclined surfaces 28A, 28A are set at the same inclination angle as the ingot support portions 14C, 14C of the ingot support base 14. Therefore, when it is mounted on the ingot support base 14, it can be fixed simply by placing the inclined surfaces 28A, 28A on the ingot support parts 14C, 14C of the ingot support base 14, so that it can be easily mounted,
Can be removed.

【0029】また、上述した実施の形態では、インゴッ
ト支持台14とマウンティングプレート支持台16とが
それぞれ1台ずつ備えられているが、パレット本体12
上に複数のインゴット支持台14と複数のマウンティン
グプレート支持台16を配置し、複数本のインゴットI
n又はスライスドウェーハSWを支持できる構成として
もよい。これにより、一度に多数本のインゴットIn又
はスライスドウェーハSWを搬送することができる。
In addition, in the above-described embodiment, one ingot support base 14 and one mounting plate support base 16 are provided.
A plurality of ingot support bases 14 and a plurality of mounting plate support bases 16 are arranged on the upper surface of the plurality of ingot I supports.
n or the sliced wafer SW may be supported. As a result, a large number of ingots In or sliced wafers SW can be transported at one time.

【0030】また、各インゴットInには、その長さや
直径、結晶方位、スライスすべき厚さや枚数といった固
有のデータがあるので、このインゴット固有のデータを
インゴット搬送用パレット10に記録させることができ
るようにしてもよい。たとえば、図2に示すように、イ
ンゴット固有のデータをバーコードによりコード化し、
そのバーコードを印刷したプレート30をマウンティン
グプレート支持ブラケット16Aに設けられたバーコー
ドホルダー32に保持させることにより、インゴット固
有のデータをインゴット搬送用パレット10に記録させ
るようにしてもよい。この場合、ウェーハ製造システム
における各装置は、このインゴット搬送用パレット10
に記録されているバーコードをバーコードリーダーで読
み取り、読み取ったデータに基づいて各処理を行うよう
にする。これにより、人手を一切不要とした全自動によ
るウェーハの製造が可能になる。
Since each ingot In has unique data such as its length, diameter, crystal orientation, thickness to be sliced, and number of sheets, this ingot-specific data can be recorded in the ingot transport pallet 10. You may do it. For example, as shown in Fig. 2, ingot-specific data is encoded by a bar code,
The ingot-specific data may be recorded on the ingot transport pallet 10 by holding the plate 30 on which the barcode is printed on the barcode holder 32 provided on the mounting plate support bracket 16A. In this case, each device in the wafer manufacturing system uses the ingot transfer pallet 10
The bar code recorded in is read by the bar code reader, and each process is performed based on the read data. As a result, it becomes possible to manufacture wafers in a fully automatic manner without requiring any manpower.

【0031】なお、インゴットのデータを記録する手段
はバーコードに限らず、IC等に記録するようにしても
よい。また、本実施の形態のインゴット搬送用パレット
10では、搬出入機に設けられたロケートピンを位置決
め部材22、22に形成された搬出入機用ロケート用穴
22A、22Aに挿入することにより、インゴット搬送
用パレット10を搬出入機に対して所定位置に位置決め
するように構成しているが、位置決め部材22、22の
構成は、これに限定されるものではない。たとえば、複
数個のガイドローラを同心円上に等間隔に配置し、その
中心部にロケートピンを挿入することにより、ガイドロ
ーラでロケートピンの移動を規制して位置決めするよう
にしてもよい。
The means for recording the ingot data is not limited to the bar code, but it may be recorded on an IC or the like. Further, in the ingot transfer pallet 10 of the present embodiment, by inserting the locate pin provided in the carry-in / out machine into the carry-in / out machine locate holes 22A, 22A formed in the positioning members 22, 22, the ingot carry is carried. The pallet 10 is configured to be positioned at a predetermined position with respect to the carry-in / out machine, but the configuration of the positioning members 22, 22 is not limited to this. For example, a plurality of guide rollers may be arranged on a concentric circle at equal intervals, and a locate pin may be inserted into the center of the guide rollers so that the guide rollers regulate the movement of the locate pin to position the guide rollers.

【0032】次に、本実施の形態のインゴット搬送用パ
レット10を用いたウェーハ製造システムについて説明
する。図9は、本実施の形態のウェーハ製造システムの
全体構成図である。同図に示すように、本実施の形態の
ウェーハ製造システム100は、インゴットストッカー
110、インゴットマウンター120、ワイヤソー14
0A、140B、剥離・洗浄装置160及びインゴット
搬送機180から構成されている。
Next, a wafer manufacturing system using the ingot transfer pallet 10 of the present embodiment will be described. FIG. 9 is an overall configuration diagram of the wafer manufacturing system of the present embodiment. As shown in the figure, the wafer manufacturing system 100 according to the present embodiment includes an ingot stocker 110, an ingot mounter 120, and a wire saw 14.
0A, 140B, a peeling / cleaning device 160, and an ingot carrier 180.

【0033】インゴットストッカー110は、ワイヤソ
ー140A、140Bで切断するインゴットInをスト
ックしておく装置であり、図10に示すように、多数の
インゴット収納室112a、112a、…を有するイン
ゴット収納棚112と、そのインゴット収納棚112に
収納されているインゴットInを取り出して、所定の荷
受け台114上に搬送する自走台車126とから構成さ
れている。
The ingot stocker 110 is a device for stocking ingots In to be cut by the wire saws 140A and 140B, and as shown in FIG. 10, an ingot storage rack 112 having a large number of ingot storage chambers 112a, 112a ,. The self-propelled carriage 126 that takes out the ingot In stored in the ingot storage rack 112 and conveys the ingot In onto the predetermined cargo receiving base 114.

【0034】なお、インゴットInは、上述したインゴ
ット搬送用パレット10に支持された状態でインゴット
収納棚112に収納されている。インゴットマウンター
120は、インゴットInにスライスベースSを介して
マウンティングプレートMを接着する装置である。この
インゴットマウンター120には、インゴットInの結
晶方位に関係なく単にインゴットInの周面にスライス
ベースSを介してマウンティングプレートMを接着する
タイプのものと、インゴットInの結晶方位に基づいて
インゴットInの周面にスライスベースSを介してマウ
ンティングプレートMを接着するタイプのものがある。
The ingot In is stored in the ingot storage rack 112 while being supported by the ingot transport pallet 10 described above. The ingot mounter 120 is a device that adheres the mounting plate M to the ingot In via the slice base S. The ingot mounter 120 is of a type in which the mounting plate M is simply attached to the peripheral surface of the ingot In via the slice base S regardless of the crystal orientation of the ingot In, and the type of the ingot In based on the crystal orientation of the ingot In. There is a type in which a mounting plate M is adhered to the peripheral surface via a slice base S.

【0035】インゴットInの結晶方位に基づいてマウ
ンティングプレートMを接着するタイプのインゴットマ
ウンター120は、次のようにしてインゴットInにマ
ウンティングプレートMを接着する。図12に示すよう
に、まず、搬出入部121に搬入されたインゴットIn
をトランスファー装置122によって測定搬送装置12
4上に搬送する。そして、その測定搬送装置124によ
って所定の結晶方位測定位置に搬送する。
The ingot mounter 120 of the type in which the mounting plate M is adhered based on the crystal orientation of the ingot In adheres the mounting plate M to the ingot In as follows. As shown in FIG. 12, first, the ingot In carried in the carry-in / out section 121
Transfer device 122 for measuring and conveying device 12
4 above. Then, it is conveyed to a predetermined crystal orientation measuring position by the measuring and conveying device 124.

【0036】次に、結晶方位測定位置に搬送されたイン
ゴットInを結晶方位測定装置126によって結晶方位
を測定する。次に、インゴットInを測定用搬送装置1
24によって所定のスライスベース接着位置に搬送す
る。そして、結晶方位の測定結果に基づいてインゴット
Inをインゴット軸回りに所定角度回転させ、そのイン
ゴットInの結晶軸を水平面上に位置させる。なお、こ
のインゴット軸回りの回転は、測定用搬送装置124に
よって与える。
Next, the crystal orientation of the ingot In conveyed to the crystal orientation measuring position is measured by the crystal orientation measuring device 126. Next, the ingot In is transferred to the measuring conveyance device 1
It is conveyed by 24 to a predetermined slice base bonding position. Then, the ingot In is rotated around the ingot axis by a predetermined angle based on the measurement result of the crystal orientation, and the crystal axis of the ingot In is positioned on the horizontal plane. The rotation around the ingot axis is given by the measuring transport device 124.

【0037】次に、インゴットInの結晶軸を水平面上
に位置させた状態でインゴットInの周面にスライスベ
ース接着装置128によってスライスベースSを接着す
る。次に、スライスベースSが接着されたインゴットI
nをトランスファー装置122によってマウンティング
プレート接着用搬送装置130上に搬送し、そのマウン
ティングプレート接着用搬送装置130によって所定の
マウンティングプレート接着位置に搬送する。そして、
マウンティングプレートMをインゴットInの結晶軸と
平行になるように所定角度水平方向に傾斜させ、この状
態でマウンティングプレート接着装置132によってマ
ウンティングプレートMをスライスベースSに接着す
る。
Next, the slice base S is adhered to the peripheral surface of the ingot In by the slice base adhering device 128 with the crystal axis of the ingot In being located on the horizontal plane. Next, the ingot I to which the slice base S is adhered
n is conveyed by the transfer device 122 onto the mounting plate adhering conveying device 130, and is conveyed to a predetermined mounting plate adhering position by the mounting plate adhering conveying device 130. And
The mounting plate M is tilted in a horizontal direction at a predetermined angle so as to be parallel to the crystal axis of the ingot In, and in this state, the mounting plate M is bonded to the slice base S by the mounting plate bonding device 132.

【0038】マウンティングプレートMが接着されたイ
ンゴットInは、トランスファー装置122によって搬
出入部121に搬送される。上記のようにしてインゴッ
トInにマウンティングプレートMを接着すると、ワイ
ヤソー140A、140Bで切断する際に、改めて結晶
方位の調整を行う必要がなくなる。この点、インゴット
Inの結晶方位に関係なく単にスライスベースSを介し
てマウンティングプレートMを接着したインゴットIn
は、ワイヤソーのワークテーブルに装着したあと、その
ワークテーブルに備えられたチルチング装置で所定の結
晶方位で切断されるように位置決めする必要がある。
The ingot In to which the mounting plate M is adhered is carried to the carry-in / carry-out section 121 by the transfer device 122. When the mounting plate M is adhered to the ingot In as described above, it becomes unnecessary to adjust the crystal orientation again when cutting with the wire saws 140A and 140B. In this regard, regardless of the crystal orientation of the ingot In, the ingot In in which the mounting plate M is simply bonded via the slice base S
After being mounted on the work table of the wire saw, it is necessary to position it so that it is cut in a predetermined crystal orientation by a chilling device provided on the work table.

【0039】ワイヤソー140A、140Bは、高速走
行するワイヤ列142にインゴットInを押し当てなが
ら、そのインゴットInとワイヤ列142との接触部に
スラリを供給することにより、インゴットInを多数枚
のウェーハに同時に切断する装置である。インゴットI
nを切断するワイヤ列142は、図12に示すように、
ワイヤ144を3本のグルーブローラ146、146、
146に巻き掛けて形成する。そして、そのワイヤ14
4を供給側のワイヤリール148から供給し、図示しな
い巻取側のワイヤリールで巻き取ることにより高速走行
させる。
The wire saws 140A, 140B press the ingot In against the wire train 142 traveling at a high speed and supply the slurry to the contact portion between the ingot In and the wire train 142, so that the ingot In is formed into a large number of wafers. It is a device that cuts at the same time. Ingot I
The wire row 142 for cutting n is, as shown in FIG.
The wire 144 is connected to three groove rollers 146, 146,
It is formed by winding it around 146. And the wire 14
4 is supplied from the supply-side wire reel 148, and is wound on a winding-side wire reel (not shown) to run at high speed.

【0040】インゴットInはワイヤ列142の上方に
設置されたワークテーブル150に装着し、このワーク
テーブル150をワイヤ列142に向けて下降させるこ
とによりワイヤ列142に押し当てる。ワイヤ列142
とインゴットInとの接触部には図示しないノズルから
スラリが供給され、このスラリのラッピング作用によっ
てインゴットInが多数枚のウェーハに同時に切断され
る。
The ingot In is mounted on the work table 150 installed above the wire row 142, and the work table 150 is lowered toward the wire row 142 to be pressed against the wire row 142. Wire row 142
Slurry is supplied from a nozzle (not shown) to the contact portion between the ingot In and the ingot In, and the ingot In is simultaneously cut into a large number of wafers by the lapping action of this slurry.

【0041】ところで、ワイヤソー140A、140B
で切断されるウェーハは全てスライスベースSに接着さ
れた状態にある。したがって、まず、このワイヤソー1
40A、140Bで切断されたスライスドウェーハSW
をスライスベースSから剥離して枚葉化する必要があ
る。また、ワイヤソー140A、140Bで切断された
直後のスライスドウェーハSWは、切断時に供給された
スラリが表面に付着している。このため、スライスベー
スSから剥離したウェーハWは洗浄する必要がある。
By the way, wire saws 140A, 140B
All the wafers cut in step 1 are in a state of being bonded to the slice base S. Therefore, first, this wire saw 1
Sliced wafer SW cut by 40A, 140B
Need to be separated from the slice base S to be single-wafered. The sliced wafer SW immediately after being cut by the wire saws 140A and 140B has the slurry supplied at the time of cutting attached to the surface thereof. Therefore, the wafer W separated from the slice base S needs to be cleaned.

【0042】剥離・洗浄装置160は、このワイヤソー
140A、140Bで切断されたスライスドウェーハS
WをスライスベースSから剥離して枚葉化し、洗浄した
のちカセットに収納する装置である。ワイヤソー140
A、140Bで切断されたスライスドウェーハSWは、
まず、搬入部にセットされる(図示せず)。次いで、図
13に示すように、粗洗浄部162に搬送され、ここで
シャワー洗浄されることにより、表面に付着しているス
ラリの粗洗浄がなされる。
The peeling / cleaning device 160 is a sliced wafer S cut by the wire saws 140A and 140B.
It is an apparatus for separating W from the slice base S to form a single wafer, cleaning it, and then storing it in a cassette. Wire saw 140
The sliced wafer SW cut by A and 140B is
First, it is set in the carry-in section (not shown). Next, as shown in FIG. 13, the slurry is conveyed to the rough cleaning section 162 and is shower-cleaned there, whereby the slurry adhering to the surface is roughly cleaned.

【0043】次に、スライスドウェーハSWは、ウェー
ハ剥離枚葉部164に搬送され、ここでスライスベース
Sから一枚ずつ剥離される。なお、ここでの剥離方法
は、スライスドウェーハSWが接着されているスライス
ベースSの部分を熱水中に浸漬させ、この状態でウェー
ハWの端面を吸着パッドで吸着保持して揺動を与える。
ウェーハWとスライスベースSとの接着部は、熱水中に
浸漬させることにより熱軟化しているため、揺動を与え
ることにより容易に剥離することができる。
Next, the sliced wafers SW are conveyed to the wafer peeling sheet unit 164, where they are peeled from the slice base S one by one. In the peeling method here, the portion of the slice base S to which the sliced wafer SW is bonded is immersed in hot water, and in this state, the end face of the wafer W is suction-held by a suction pad to give a swing. .
Since the bonded portion between the wafer W and the slice base S is thermally softened by immersing it in hot water, it can be easily peeled off by shaking.

【0044】スライスベースSから剥離されたウェーハ
Wはコンベア166に移載され、このコンベア166に
よって洗浄部168に搬送される。そして、その洗浄部
168においてブラシ洗浄される。洗浄部168で洗浄
されたウェーハWは、回収ステージ170に移載された
のち、回収ロボット172によってウェーハ回収部17
4、174にセットされたカセットに一枚ずつ収納され
る。
The wafer W separated from the slice base S is transferred to the conveyor 166 and is conveyed to the cleaning section 168 by the conveyor 166. Then, the cleaning unit 168 performs brush cleaning. The wafer W cleaned by the cleaning unit 168 is transferred to the recovery stage 170, and then the wafer W is recovered by the recovery robot 172.
The sheets are stored one by one in the cassettes set at 4, 174.

【0045】インゴット搬送機180は、図9に示す搬
送路182に沿って自走し、各装置間におけるインゴッ
トInの搬送を行う。このインゴット搬送機180は、
図14に示すように、その上部にインゴット搬送用パレ
ット10の載置部184が形成されており、この載置部
184にインゴット搬送用パレット10をセットして搬
送する。
The ingot carrier 180 is self-propelled along the carrier path 182 shown in FIG. 9 and carries the ingot In between the devices. This ingot carrier 180 is
As shown in FIG. 14, a placing portion 184 of the ingot conveying pallet 10 is formed on the upper portion thereof, and the ingot conveying pallet 10 is set on the placing portion 184 and conveyed.

【0046】なお、載置部184にはロケートピン18
6、186が設けられており、インゴット搬送用パレッ
ト10を載置部184にセットする場合は、インゴット
搬送用パレット10に形成された搬送機用ロケート用穴
20A、20Aにロケートピン186、186を嵌め込
む。これにより、常に一定位置にインゴット搬送用パレ
ット10を位置決めすることができる。
The placing pin 184 is attached to the mounting portion 184.
6 and 186 are provided, and when the ingot transfer pallet 10 is set on the mounting portion 184, the locate pins 186 and 186 are fitted into the transfer device locate holes 20A and 20A formed in the ingot transfer pallet 10. Put in. As a result, the ingot transfer pallet 10 can always be positioned at a fixed position.

【0047】前記のごとく構成された本実施の形態のウ
ェーハ製造システム100の作用は次の通りである。ま
ず、インゴットストッカー110の所定のインゴット収
納室112aに収納されているインゴットInを自走台
車116によって取り出す。ここで、取り出されたイン
ゴットInは、すでにインゴット搬送用パレット10に
支持された状態にあるので、オペレータは、そのままイ
ンゴット搬送用パレット10をインゴット搬送機180
上にセットする。
The operation of the wafer manufacturing system 100 of the present embodiment configured as described above is as follows. First, the self-propelled carriage 116 takes out the ingot In stored in the predetermined ingot storage chamber 112a of the ingot stocker 110. Here, since the taken out ingot In is already supported by the ingot carrying pallet 10, the operator directly holds the ingot carrying pallet 10 by the ingot carrying machine 180.
Set on top.

【0048】次に、インゴット搬送機180によってイ
ンゴット搬送用パレット10をインゴットマウンター1
20に搬送する。そして、オペレータはインゴット搬送
用パレット10からインゴットInを取り出し、インゴ
ットマウンター120の搬出入部121にセットする。
搬出入部121にセットされたインゴットInは、自動
的に結晶方位が測定され、その測定結果に基づいてスラ
イスベースSを介してマウンティングプレートMが接着
される。
Next, the ingot transporting machine 180 is used to load the ingot transporting pallet 10 into the ingot mounter 1.
Transport to 20. Then, the operator takes out the ingot In from the ingot transport pallet 10 and sets it in the carry-in / out section 121 of the ingot mounter 120.
The crystal orientation of the ingot In set in the carry-in / out section 121 is automatically measured, and the mounting plate M is bonded via the slice base S based on the measurement result.

【0049】マウンティングプレートMが接着されたイ
ンゴットInは、搬出入部121に搬送されるので、オ
ペレータは、その搬出入部121からマウンティングプ
レートMが接着されたインゴットInを取り出し、再び
インゴット搬送用パレット10に載置する。この際、イ
ンゴットInにはマウンティングプレートMが接着され
ているので、このマウンティングプレートMの両端部を
マウンティングプレート支持台16の上に載置すること
により、インゴットInをインゴット搬送用パレット1
0上に支持させる。このとき、インゴットInはマウン
ティングプレートMに吊り下げられた状態で支持され
る。
Since the ingot In having the mounting plate M adhered thereto is conveyed to the carry-in / carry-out section 121, the operator takes out the ingot In having the mounting plate M adhered from the carry-in / carry-out section 121 and places it again on the ingot carrying pallet 10. Place it. At this time, since the mounting plate M is adhered to the ingot In, by mounting both ends of the mounting plate M on the mounting plate support 16, the ingot In is transferred to the ingot transfer pallet 1.
0 support. At this time, the ingot In is supported by being suspended from the mounting plate M.

【0050】次に、オペレータはインゴット搬送用パレ
ット10をインゴット搬送機180上にセットする。そ
して、そのインゴット搬送機180によってインゴット
搬送用パレット10をワイヤソー140A、140Bに
搬送する。ここで、ワイヤソーは2台設置されているの
で、切断が行われていない方のワイヤソーに搬送する。
ここでは、図9において右側のワイヤソー140Aに搬
送する。
Next, the operator sets the ingot transfer pallet 10 on the ingot transfer machine 180. Then, the ingot transfer machine 180 transfers the ingot transfer pallet 10 to the wire saws 140A and 140B. Here, since two wire saws are installed, the wire saw is transported to the wire saw that has not been cut.
Here, it is conveyed to the wire saw 140A on the right side in FIG.

【0051】インゴット搬送用パレット10がワイヤソ
ー140Aに搬送されると、オペレータは、インゴット
搬送用パレット10からインゴットInを取り出し、ワ
イヤソー140Aのワークテーブル150にインゴット
Inを装着する。この際、インゴットInは、そのマウ
ンティングプレートMの部分をワークテーブル150に
支持させることにより、ワークテーブル150に装着す
る。
When the ingot transfer pallet 10 is transferred to the wire saw 140A, the operator takes out the ingot In from the ingot transfer pallet 10 and mounts the ingot In on the work table 150 of the wire saw 140A. At this time, the ingot In is mounted on the work table 150 by supporting the part of the mounting plate M on the work table 150.

【0052】ワークテーブル150に装着されたインゴ
ットInは、走行するワイヤ列142に押し当てられな
がらスラリを供給されることにより、多数枚のウェーハ
に同時に切断される。ワイヤソー140Aによる切断が
終了すると、オペレータはワークテーブル150からス
ライスドウェーハSWを取り外し、再びインゴット搬送
用パレット10に載置する。
The ingot In mounted on the work table 150 is cut into a large number of wafers at the same time by being supplied with the slurry while being pressed against the traveling wire array 142. When the cutting by the wire saw 140A is completed, the operator removes the sliced wafer SW from the work table 150 and places it on the ingot transfer pallet 10 again.

【0053】この際、スライスドウェーハSWはマウン
ティングプレートMに接着された状態にあるので、この
マウンティングプレートMの両端部をマウンティングプ
レート支持台16の上に載置することにより、スライス
ドウェーハSWをインゴット搬送用パレット10上に支
持させる。このとき、スライスドウェーハSWはマウン
ティングプレートMに吊り下げられた状態で支持され
る。
At this time, since the sliced wafer SW is adhered to the mounting plate M, both ends of the mounting plate M are placed on the mounting plate support 16 so that the sliced wafer SW is It is supported on the ingot transfer pallet 10. At this time, the sliced wafer SW is supported by being suspended from the mounting plate M.

【0054】ここで、、ワイヤソー140Aで切断した
直後のスライスドウェーハSWには、スラリが付着して
いるので、このスライスドウェーハSWから滴下するス
ラリを回収するために、インゴット搬送用パレット10
のインゴット支持台14の上には、あらかじめスラリ受
皿28を装着しておき、このスラリ受皿28でスラリを
回収するようにする。
Here, since the slurry has adhered to the sliced wafer SW immediately after being cut by the wire saw 140A, in order to collect the slurry dropped from the sliced wafer SW, the ingot transfer pallet 10 is collected.
A slurry tray 28 is mounted on the ingot support base 14 in advance, and the slurry is collected by the slurry tray 28.

【0055】次に、オペレータはインゴット搬送用パレ
ット10をインゴット搬送機180上にセットする。そ
して、そのインゴット搬送機180によってインゴット
搬送用パレット10を剥離・洗浄装置160に搬送す
る。インゴット搬送用パレット10が剥離・洗浄装置1
60に搬送されると、オペレータは、インゴット搬送用
パレット10からスライスドウェーハSWを取り出し、
剥離・洗浄装置160の搬入部にセットする。搬入部に
セットされたスライスドウェーハSWは、粗洗浄された
のち、一枚ずつスライスベースSから剥離されて枚葉化
される。そして、枚葉化されたウェーハは、その後、ブ
ラシで精洗浄されたのちカセットに一枚ずつ収納されて
回収される。
Next, the operator sets the ingot transfer pallet 10 on the ingot transfer machine 180. Then, the ingot transfer pallet 10 is transferred to the peeling / cleaning device 160 by the ingot transfer device 180. Ingot transfer pallet 10 is a peeling / cleaning device 1
When transported to 60, the operator takes out the sliced wafer SW from the ingot transport pallet 10,
It is set in the carry-in section of the peeling / cleaning device 160. The sliced wafers SW set in the carry-in section are roughly cleaned, and then separated from the slice base S one by one to be separated into individual sheets. Then, the separated wafers are cleaned precisely with a brush and then stored and collected one by one in a cassette.

【0056】以上が本実施の形態のウェーハ製造システ
ム100における一連のウェーハ製造工程である。な
お、スライスドウェーハSWを剥離・洗浄装置160に
搬送したインゴット搬送用パレット10は、インゴット
搬送機180によりインゴットストッカー110に搬送
し、元のインゴット収納室112aに戻す。このよう
に、本実施の形態のウェーハ製造システム100によれ
ば、各装置間におけるインゴットIn又はスライスドウ
ェーハSWの搬送手段を共通化することにより、設備コ
ストの低減を図ることができる。また、インゴット搬送
用パレット10を共通化することにより、パレットの管
理が容易になるとともに、保守点検工数を削減すること
もできる。
The above is a series of wafer manufacturing steps in the wafer manufacturing system 100 of the present embodiment. The ingot transfer pallet 10 that has transferred the sliced wafer SW to the peeling / cleaning device 160 is transferred to the ingot stocker 110 by the ingot transfer device 180 and returned to the original ingot storage chamber 112a. As described above, according to the wafer manufacturing system 100 of the present embodiment, it is possible to reduce the equipment cost by sharing the transportation means of the ingot In or the sliced wafer SW between the respective devices. Further, by making the pallet 10 for ingot transportation common, it becomes possible to easily manage the pallet and reduce the number of maintenance and inspection steps.

【0057】なお、本実施の形態ではインゴット搬送用
パレット10からインゴットIn又はスライスドウェー
ハSWを取り出し、各装置へセッティングするのをオペ
レータが行うようにしているが、各装置にインゴットI
n又はスライスドウェーハSWの搬出入機を設け、自動
的にセッティングするように構成してもよい。これによ
り、ウェーハの製造ラインを自動化することができる。
In the present embodiment, the operator takes out the ingot In or the sliced wafer SW from the ingot transfer pallet 10 and sets it in each device.
An n or sliced wafer SW carry-in / out machine may be provided and automatically set. As a result, the wafer manufacturing line can be automated.

【0058】この際、インゴット固有のデータをバーコ
ードでコード化し、このバーコードを印刷したプレート
30をバーコードホルダー32に保持させる。そして、
ウェーハ製造システム100の各装置には、このバーコ
ードを読み取るバーコードリーダーを設け、このバーコ
ードリーダーで読み取ったデータに基づいてインゴット
InやスライスドウェーハSWの処理を行うようにす
る。これにより、誤切断や次工程への誤データの伝達を
防止することができ、高精度なウェーハを自動で製造す
ることができるようになる。
At this time, the data unique to the ingot is coded by a bar code, and the plate 30 on which the bar code is printed is held by the bar code holder 32. And
Each device of the wafer manufacturing system 100 is provided with a bar code reader for reading the bar code, and the ingot In and the sliced wafer SW are processed based on the data read by the bar code reader. As a result, erroneous cutting and transmission of erroneous data to the next process can be prevented, and a highly accurate wafer can be automatically manufactured.

【0059】また、本実施の形態では、インゴットIn
が予めインゴット搬送用パレット10に支持された状態
でインゴットストッカー110にストックされている
が、インゴットInのみをインゴットストッカー110
にストックしておき、搬送時にインゴット搬送用パレッ
ト10に載置して搬送するようにしてもよい。この場
合、インゴット搬送用パレット10は少なくとも1台あ
ればインゴットInの搬送を行うことができる。
In the present embodiment, the ingot In
Are stocked in the ingot stocker 110 while being previously supported by the ingot transport pallet 10, but only the ingot In is stored in the ingot stocker 110.
It may be stocked in advance and placed on the ingot transfer pallet 10 for transfer. In this case, if there is at least one ingot transfer pallet 10, the ingot In can be transferred.

【0060】また、上述した本実施の形態のウェーハ製
造システム100では、1台のインゴット搬送機180
でインゴット搬送用パレット10の搬送を行うようにし
ているが、複数台のインゴット搬送機180を用いて搬
送するようにしてもよい。また、図15に示すように、
インゴットストッカー110−インゴットマウンター1
20間及びインゴットマウンター120−ワイヤソー1
40A、140B間に用いるインゴット搬送用パレット
10Aと、ワイヤソー140A、140B−剥離・洗浄
装置160間に用いるインゴット搬送用パレット10B
を分けて使用することにより、インゴット搬送用パレッ
ト10Aで搬送するインゴットInの汚れを有効に防止
することができる。
Further, in the above-described wafer manufacturing system 100 of the present embodiment, one ingot carrier 180 is used.
Although the ingot transfer pallet 10 is transferred by the above method, it may be transferred by using a plurality of ingot transfer machines 180. Also, as shown in FIG.
Ingot Stocker 110-Ingot Mounter 1
Between 20 and ingot mounter 120-wire saw 1
Ingot transfer pallet 10A used between 40A and 140B, and ingot transfer pallet 10B used between wire saws 140A and 140B and peeling / cleaning device 160.
By separately using the ingots, it is possible to effectively prevent the ingot In transported on the ingot transport pallet 10A from being contaminated.

【0061】すなわち、インゴット搬送用パレット10
は、ワイヤソー140A、140Bで切断されたスライ
スドウェーハSWを搬送することにより汚れ、この汚れ
たインゴット搬送用パレット10を用いてインゴットI
nを搬送することによりインゴットInが汚れる。した
がって、上記のように分けて使用することにより、イン
ゴットストッカー110−インゴットマウンター120
間及びインゴットマウンター120−ワイヤソー140
A、140B間は、常に汚れていないインゴット搬送用
パレット10AでインゴットInを搬送することがで
き、インゴットInの汚れを防止することができる。ま
た、これにより、インゴットマウンター120等の汚れ
を嫌う装置においても、装置を汚さずにウェーハの製造
を行うことができる。
That is, the ingot transfer pallet 10
Is contaminated by transporting the sliced wafer SW cut by the wire saws 140A and 140B, and the ingot I is transported using the contaminated ingot transport pallet 10.
The ingot In becomes dirty by transporting n. Therefore, the ingot stocker 110 and the ingot mounter 120 are separately used as described above.
Between and ingot mounter 120-wire saw 140
The ingot In can be transported by the ingot transport pallet 10A that is always clean between A and 140B, and the contamination of the ingot In can be prevented. Further, in this way, even in a device such as the ingot mounter 120 which does not like to be contaminated, the wafer can be manufactured without contaminating the device.

【0062】なお、同図においては、インゴット搬送用
パレット10Aを搬送するインゴット搬送機180A
と、インゴット搬送用パレット10Bの搬送するインゴ
ット搬送機180Bとを別々にしているが、1台のイン
ゴット搬送機180で搬送するようにしてもよい。ま
た、同図に示すように、ウェーハ製造システム100に
汚れたインゴット搬送用パレット10を洗浄するパレッ
ト洗浄装置190を組み込んでもよい。このようなパレ
ット洗浄装置190をウェーハ製造システム100に組
み込むことにより、インゴットInが予めインゴット搬
送用パレット10に支持された状態でインゴットストッ
カー110にストックされているタイプのウェーハ製造
システム100においても、インゴット搬送用パレット
10を洗浄した状態でインゴットストッカー110に戻
すことができる。これにより、インゴットストッカー1
10の汚れを防止することができる。
In the figure, an ingot carrier 180A for carrying the ingot carrying pallet 10A.
Although the ingot carrier 180B for carrying the ingot carrying pallet 10B is separate, it may be carried by one ingot carrier 180. Further, as shown in the figure, a pallet cleaning device 190 for cleaning the dirty ingot transport pallet 10 may be incorporated in the wafer manufacturing system 100. By incorporating such a pallet cleaning device 190 into the wafer manufacturing system 100, even in the wafer manufacturing system 100 of the type in which the ingot In is stocked in the ingot stocker 110 while being supported by the ingot transfer pallet 10 in advance. The transfer pallet 10 can be returned to the ingot stocker 110 in a cleaned state. As a result, the ingot stocker 1
It is possible to prevent the stain of 10.

【0063】ところで、上述のようにワイヤソー140
A、140Bを用いたウェーハ製造システム100で
は、そのワイヤソー140A、140Bで使用するワイ
ヤ144が磨耗した場合、ワイヤ144をワイヤリール
148ごと交換する必要がある。また、ワイヤ列142
を形成するグルーブローラ146が磨耗した場合も、そ
のグルーブローラ146を交換する必要がある。
By the way, as described above, the wire saw 140
In the wafer manufacturing system 100 using A and 140B, when the wire 144 used in the wire saw 140A and 140B is worn, the wire 144 needs to be replaced together with the wire reel 148. Also, the wire row 142
Even when the groove roller 146 forming the groove is worn, it is necessary to replace the groove roller 146.

【0064】従来、ワイヤリールを交換する場合は、ワ
イヤリールストッカーに格納されているワイヤリールを
専用の搬送機でワイヤソーまで搬送して交換するように
している。グルーブローラを交換する場合も同様であ
り、グルーブローラストッカーに格納されているグルー
ブローラを専用の搬送機でワイヤソーまで搬送して交換
するようにしている。
Conventionally, when replacing the wire reel, the wire reel stored in the wire reel stocker is carried to a wire saw by a dedicated carrier machine and replaced. The same applies to the case of exchanging the groove roller, and the groove roller stored in the groove roller stocker is conveyed to the wire saw by a dedicated conveying machine and is exchanged.

【0065】しかしながら、上記のウェーハ製造システ
ム100では、このワイヤリールやグルーブローラの搬
送もインゴット搬送パレット10と同じインゴット搬送
機180で搬送できれば極めて有用である。図16、図
17、図18は、このワイヤリールとグルーブローラと
をインゴット搬送機180を用いて搬送するためのワイ
ヤリール搬送用パレット200の構成を示す正面図、側
面図及び平面図である。
However, in the above wafer manufacturing system 100, it is extremely useful if the wire reels and groove rollers can be carried by the same ingot carrier 180 as the ingot carrier pallet 10. 16, 17, and 18 are a front view, a side view, and a plan view showing the configuration of a wire reel carrying pallet 200 for carrying the wire reel and the groove roller by using the ingot carrying machine 180.

【0066】同図に示すように、ワイヤリール搬送用パ
レット200は、上述したインゴット搬送用パレット1
0と同様に矩形状に形成されたパレット本体202を有
しており、そのパレット本体202上にワイヤリール1
48を支持するワイヤリール用ガイド204と、グルー
ブローラ146を支持するグルーブローラ支持台206
が設置されて構成されている。
As shown in the figure, the wire reel carrying pallet 200 is the ingot carrying pallet 1 described above.
It has a pallet body 202 formed in a rectangular shape like 0, and the wire reel 1 is mounted on the pallet body 202.
A guide 204 for the wire reel that supports the groove 48 and a groove roller support base 206 that supports the groove roller 146.
Is installed and configured.

【0067】ワイヤリール用ガイド204は、ワイヤリ
ール148の内径とほぼ同径の円柱状に形成されてお
り、パレット本体202のほぼ中央部に立設されてい
る。ワイヤリール148は、その内径部をこのワイヤリ
ール用ガイド204に挿入してパレット本体202上に
載置することにより、パレット本体202上に支持され
る。
The wire reel guide 204 is formed in a columnar shape having substantially the same diameter as the inner diameter of the wire reel 148, and is erected at substantially the center of the pallet body 202. The wire reel 148 is supported on the pallet body 202 by inserting its inner diameter portion into the wire reel guide 204 and placing it on the pallet body 202.

【0068】グルーブローラ支持台206は、前記ワイ
ヤリール用ガイド204を挟んで左右対称位置に配置さ
れた一対のグルーブローラ支持ブラケット204A、2
04Aを有している。この一対のインゴット支持ブラケ
ット204A、204Aの内側面には、V字状に形成さ
れたホルダー204B、204B、204Bが三箇所に
配設されており、このホルダー204B、204B、2
04Bにグルーブローラ146の軸芯部を載置すること
により、グルーブローラ146がパレット本体202上
に支持される。
The groove roller support base 206 includes a pair of groove roller support brackets 204A and 2A arranged in symmetrical positions with the wire reel guide 204 interposed therebetween.
It has 04A. V-shaped holders 204B, 204B, 204B are arranged at three positions on the inner side surfaces of the pair of ingot support brackets 204A, 204A.
By placing the shaft core of the groove roller 146 on 04B, the groove roller 146 is supported on the pallet body 202.

【0069】なお、図16において、番号208、20
8は、搬送機用ロケート用穴であり、番号210、21
0は、搬出入機用の位置決め部材である。図19は、上
記のワイヤリール搬送用パレット200を使用してワイ
ヤリール及びグルーブローラの交換を行うウェーハ製造
システム220の全体構成図である。
In FIG. 16, the numbers 208 and 20 are used.
Numeral 8 is a locating hole for a carrier, and is numbered 210 and 21.
Reference numeral 0 is a positioning member for carrying in and out. FIG. 19 is an overall configuration diagram of a wafer manufacturing system 220 in which the wire reel and groove rollers are exchanged using the wire reel transfer pallet 200 described above.

【0070】同図に示すように、このウェーハ製造シス
テム220は上述したウェーハ製造システム100にワ
イヤリールストッカー230とグルーブローラストッカ
ー240が組み込まれている。ワイヤリールの交換を行
う場合は、まず、インゴット搬送機180をワイヤリー
ルストッカー230に移動させる。次いで、そのインゴ
ット搬送機180にワイヤリール搬送用パレット200
をセットし、そのワイヤリール搬送用パレット200に
ワイヤリールを載置する。そして、インゴット搬送機1
80によってワイヤリール搬送用パレット200をワイ
ヤソー140Aに搬送する。
As shown in the figure, in the wafer manufacturing system 220, a wire reel stocker 230 and a groove roller stocker 240 are incorporated in the wafer manufacturing system 100 described above. When replacing the wire reel, first, the ingot carrier 180 is moved to the wire reel stocker 230. Then, the wire reel transfer pallet 200 is attached to the ingot transfer machine 180.
Is set, and the wire reel is placed on the wire reel transfer pallet 200. And the ingot carrier 1
The wire reel carrying pallet 200 is carried by 80 to the wire saw 140A.

【0071】オペレータは、ワイヤソー140Aに搬送
されたワイヤリール搬送用パレット200からワイヤリ
ールを降ろし、ワイヤリールの交換を行う。そして、交
換したワイヤリールを再びワイヤリール搬送用パレット
200に載置し、インゴット搬送機180でワイヤリー
ルストッカー230に搬送する。グルーブローラの交換
を行う場合は、まず、インゴット搬送機180をグルー
ブローラストッカー240に移動させる。次いで、その
インゴット搬送機180にワイヤリール搬送用パレット
200をセットし、そのワイヤリール搬送用パレット2
00にグルーブローラを載置する。そして、インゴット
搬送機180によってワイヤリール搬送用パレット20
0をワイヤソー140Aに搬送する。
The operator lowers the wire reel from the wire reel carrying pallet 200 carried to the wire saw 140A and replaces the wire reel. Then, the exchanged wire reel is placed on the wire reel transfer pallet 200 again, and is transferred to the wire reel stocker 230 by the ingot transfer machine 180. When replacing the groove rollers, first, the ingot carrier 180 is moved to the groove roller stocker 240. Next, the wire reel transfer pallet 200 is set on the ingot transfer machine 180, and the wire reel transfer pallet 2 is set.
The groove roller is placed at 00. Then, the pallet 20 for carrying the wire reel is carried out by the ingot carrying machine 180.
0 is conveyed to the wire saw 140A.

【0072】オペレータは、ワイヤソー140Aに搬送
されたワイヤリール搬送用パレット200からグルーブ
ローラを降ろし、グルーブローラの交換を行う。そし
て、交換したグルーブローラを再びワイヤリール搬送用
パレット200に載置し、インゴット搬送機180でグ
ルーブローラストッカー240に搬送する。このよう
に、上記のワイヤリール搬送用パレット200を用いる
ことにより、インゴット搬送用パレット10を搬送する
インゴット搬送機180を用いてワイヤリール及びグル
ーブローラの搬送を行うことができる。
The operator lowers the groove roller from the wire reel carrying pallet 200 carried to the wire saw 140A and replaces the groove roller. Then, the replaced groove roller is placed on the wire reel transfer pallet 200 again, and is transferred to the groove roller stocker 240 by the ingot transfer device 180. As described above, by using the wire reel transfer pallet 200 described above, the wire reel and the groove roller can be transferred using the ingot transfer device 180 that transfers the ingot transfer pallet 10.

【0073】[0073]

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るイン
ゴット搬送用パレットによれば、異なる形態のインゴッ
トを搬送することができる。そして、このインゴット搬
送用パレットをウェーハ製造システムの搬送手段として
用いることにより、搬送手段の共通化を図ることがで
き、設備コストの低減を図ることができる。
As described above, according to the ingot carrying pallet of the present invention, it is possible to carry different forms of ingots. By using this ingot transfer pallet as the transfer means of the wafer manufacturing system, the transfer means can be made common and the facility cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】インゴット搬送用パレットの正面図FIG. 1 is a front view of an ingot transfer pallet.

【図2】インゴット搬送用パレットの側面図FIG. 2 is a side view of an ingot transfer pallet.

【図3】インゴット搬送用パレットの平面図FIG. 3 is a plan view of a pallet for ingot transportation.

【図4】インゴット搬送用パレットの要部を拡大した斜
視図
FIG. 4 is an enlarged perspective view of a main part of an ingot transfer pallet.

【図5】インゴット搬送用パレットの作用を説明する側
面断面図
FIG. 5 is a side sectional view for explaining the action of the ingot transfer pallet.

【図6】インゴット搬送用パレットの作用を説明する正
面断面図
FIG. 6 is a front sectional view for explaining the operation of the ingot transfer pallet.

【図7】インゴット搬出入機の構成を示す正面図FIG. 7 is a front view showing the configuration of an ingot carry-in / out machine.

【図8】インゴット搬送用パレットの他の実施の形態の
構成を示す側面断面図
FIG. 8 is a side sectional view showing the structure of another embodiment of the ingot transport pallet.

【図9】ウェーハ製造システムの全体構成図FIG. 9 is an overall configuration diagram of a wafer manufacturing system.

【図10】インゴットストッカーの構成を示す斜視図FIG. 10 is a perspective view showing the structure of an ingot stocker.

【図11】インゴットマウンターの構成を示す正面図FIG. 11 is a front view showing the structure of an ingot mounter.

【図12】ワイヤソーの構成を示す斜視図FIG. 12 is a perspective view showing the configuration of a wire saw.

【図13】剥離・洗浄装置の構成を平面図FIG. 13 is a plan view showing the configuration of a peeling / cleaning device.

【図14】インゴット搬送機の構成を示す斜視図FIG. 14 is a perspective view showing a configuration of an ingot carrier.

【図15】ウェーハ製造システムの他の実施の形態の全
体構成図
FIG. 15 is an overall configuration diagram of another embodiment of a wafer manufacturing system.

【図16】ワイヤリール搬送用パレットの構成を示す正
面図
FIG. 16 is a front view showing the configuration of a wire reel carrying pallet.

【図17】ワイヤリール搬送用パレットの構成を示す側
面図
FIG. 17 is a side view showing a configuration of a wire reel carrying pallet.

【図18】ワイヤリール搬送用パレットの構成を示す平
面図
FIG. 18 is a plan view showing the configuration of a wire reel carrying pallet.

【図19】ウェーハ製造システムの他の実施の形態の全
体構成図
FIG. 19 is an overall configuration diagram of another embodiment of a wafer manufacturing system.

【符号の説明】 10…インゴット搬送用パレット 12…パレット本体 14…インゴット支持台 16…マウンティングプレート支持台 22…位置決め部材 100…ウェーハ製造システム 110…インゴットストッカー 120…インゴットマウンター 140A、140B…ワイヤソー 160…剥離・洗浄装置 In…インゴット SW…スライスドウェーハ M…マウンティングプレート S…スライスベース[Explanation of symbols] 10 ... Ingot transport pallet 12 ... Pallet body 14 ... Ingot support 16 ... Mounting plate support 22 ... Positioning member 100 ... Wafer manufacturing system 110 ... Ingot stocker 120 ... Ingot mounter 140A, 140B ... Wire saw 160 ... Peeling / cleaning device In ... Ingot SW ... Sliced wafer M ... Mounting plate S ... Slice base

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 インゴット単体、マウンティングプレー
トに接着された状態のインゴット及びマウンティングプ
レートに接着された状態のスライスドウェーハをそれぞ
れ搬送するインゴット搬送用パレットにおいて、 パレット本体と、 前記パレット本体に設けられ、前記単体のインゴットが
載置されることにより、該単体のインゴットを水平に支
持するインゴット支持台と、 前記インゴット支持台を挟むように配置され、前記マウ
ンティングプレートの両端部が載置されることにより、
前記インゴット又は前記スライスドウェーハを前記イン
ゴット支持台の上方に吊り下げた状態で支持する一対の
マウンティングプレート支持部材と、から成ることを特
徴とするインゴット搬送用パレット。
1. An ingot transport pallet for transporting a single ingot, an ingot adhered to a mounting plate, and a sliced wafer adhered to a mounting plate, wherein a pallet body and a pallet body are provided, By mounting the single ingot, the ingot support for horizontally supporting the single ingot, the ingot support is arranged so as to sandwich the ingot, by mounting both ends of the mounting plate. ,
An ingot transfer pallet comprising: a pair of mounting plate support members that support the ingot or the sliced wafer in a state of being suspended above the ingot support base.
【請求項2】 前記パレット本体に複数の前記インゴッ
ト支持台と複数の前記マウンティングプレート支持部材
とを備え、複数の単体のインゴット、複数のマウンティ
ングプレートに接着された状態のインゴット、及び複数
のマウンティングプレートに接着された状態のスライス
ドウェーハを搬送可能としたことを特徴とする請求項1
記載のインゴット搬送用パレット。
2. The pallet body includes a plurality of the ingot supports and a plurality of the mounting plate support members, a plurality of single ingots, an ingot adhered to the plurality of mounting plates, and a plurality of mounting plates. The sliced wafer adhered to the substrate can be transported.
Pallet for ingot transportation described.
【請求項3】 前記マウンティングプレート支持部材に
は、前記マウンティングプレートに形成された凹部に嵌
合する凸部が形成されており、前記凹部を前記凸部に嵌
合させて前記マウンティングプレートを前記マウンティ
ングプレート支持部材に載置することにより、前記マウ
ンティングプレートを所定の位置に位置決めして支持す
ることを特徴とする請求項1又は2記載のインゴット搬
送用パレット。
3. The mounting plate support member is formed with a convex portion that fits into a concave portion formed in the mounting plate, and the concave portion is fitted into the convex portion to mount the mounting plate to the mounting plate. The pallet for ingot transport according to claim 1 or 2, wherein the mounting plate is positioned and supported at a predetermined position by being mounted on a plate support member.
【請求項4】 前記インゴット支持台は、前記パレット
本体の上方に所定の間隔をもって水平に配設された一対
のインゴット支持部材から成り、該インゴット支持部材
に前記単体のインゴットを載置することにより、該イン
ゴットを支持することを特徴とする請求項1、2又は3
記載のインゴット搬送用パレット。
4. The ingot support base comprises a pair of ingot support members arranged horizontally above the pallet body at a predetermined interval, and by placing the single ingot on the ingot support member. , Supporting the ingot.
Pallet for ingot transportation described.
【請求項5】 前記インゴット支持部材は、載置される
インゴットとの接触部に樹脂が被覆されていることを特
徴とする請求項4記載のインゴット搬送用パレット。
5. The ingot transport pallet according to claim 4, wherein the ingot support member has a contact portion with a placed ingot coated with resin.
【請求項6】 前記パレット本体には、前記スライスド
ウェーハから落下したスラリを排出するための開閉自在
な排出口が設けられていることを特徴とする請求項1又
は2記載のインゴット搬送用パレット。
6. The pallet for ingot transportation according to claim 1, wherein the pallet body is provided with an openable / closable discharge port for discharging the slurry dropped from the sliced wafer. .
【請求項7】 前記インゴット支持台には、前記スライ
スドウェーハから落下するスラリを受けるためのスラリ
受皿が着脱自在に装着されることを特徴とする請求項1
又は2記載のインゴット搬送用パレット。
7. The slurry tray for receiving slurry falling from the sliced wafer is detachably attached to the ingot support base.
Alternatively, the pallet for ingot transportation described in 2.
【請求項8】 前記インゴット搬送用パレットにインゴ
ット又はスライスドウェーハを搬出入する搬出入手段に
位置決めピンを設けるとともに、前記インゴット搬送用
パレットに前記位置決めピンが挿入される位置決め部材
を設け、前記位置決めピンを前記位置決め部材に挿入す
ることにより、前記インゴット搬送用パレットを前記搬
出入手段に対して所定位置に位置決めすることを特徴と
する請求項1又は2記載のインゴット搬送用パレット。
8. A positioning pin is provided on a loading / unloading means for loading / unloading an ingot or a sliced wafer to / from the ingot transport pallet, and a positioning member is provided on the ingot transport pallet to insert the positioning pin. 3. The pallet for ingot transportation according to claim 1, wherein the pallet for ingot transportation is positioned at a predetermined position with respect to the loading / unloading means by inserting a pin into the positioning member.
【請求項9】 搬送するインゴットの情報が記録された
記録手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2記載
のインゴット搬送用パレット。
9. The pallet for carrying an ingot according to claim 1, further comprising recording means for recording information of the ingot to be carried.
【請求項10】 多数のインゴットがストックされるイ
ンゴットストック装置と、 インゴットにスライスベースを介してマウンティングプ
レートを接着するインゴットマウント装置と、 マウンティングプレートに接着されたインゴットを走行
するワイヤ列に押し当てて多数枚のウェーハに切断する
ワイヤソー切断装置と、 前記ワイヤソー切断装置で切断されたスライスドウェー
ハをスライスベースから剥離して洗浄する剥離・洗浄装
置と、 前記インゴットストック装置にストックされた単体のイ
ンゴット、前記インゴットマウント装置でマウンティン
グプレートが接着されたインゴット及び前記ワイヤソー
切断装置で切断されたスライスドウェーハをそれぞれ搬
送する請求項1記載のインゴット搬送用パレットと、 前記各装置間を移動して前記インゴット搬送用パレット
を前記各装置間に搬送する搬送台車と、から構成され、
前記インゴットストック装置にストックされた単体のイ
ンゴットを前記インゴット搬送用パレットに載せ、該イ
ンゴット搬送用パレットを前記搬送台車で前記インゴッ
トマウント装置に搬送し、該インゴットマウント装置で
前記単体のインゴットにスライスベースを介してマウン
ティングプレートを接着し、該マウンティングプレート
に接着されたインゴットを再び前記インゴット搬送用パ
レットに載せ、該インゴット搬送用パレットを前記搬送
台車で前記ワイヤソー切断装置に搬送し、該ワイヤソー
切断装置で前記マウンティングプレートに接着されたイ
ンゴットを多数枚のウェーハに切断し、該ワイヤソー切
断装置で切断されたスライスドウェーハを前記インゴッ
ト搬送用パレットに載せ、該インゴット搬送用パレット
を前記搬送台車で前記剥離・洗浄装置に搬送し、該剥離
・洗浄装置で前記スライスドウェーハをスライスベース
から剥離して洗浄することを特徴とするウェーハ製造シ
ステム。
10. An ingot stock device in which a large number of ingots are stocked, an ingot mount device for adhering a mounting plate to the ingot via a slice base, and an ingot adhered to the mounting plate is pressed against a traveling wire row. A wire saw cutting device for cutting into a large number of wafers, a peeling / cleaning device for peeling and cleaning a sliced wafer cut by the wire saw cutting device from a slice base, and a single ingot stocked in the ingot stock device, The pallet for ingot transport according to claim 1, which transports an ingot to which a mounting plate is adhered by the ingot mount device and a sliced wafer sliced by the wire saw cutting device, respectively, and is moved between the devices. A transport carriage for transporting the serial ingot conveying pallet between the respective devices, is composed of,
A single ingot stocked in the ingot stock device is placed on the ingot transport pallet, the ingot transport pallet is transported to the ingot mount device by the transport carriage, and the ingot mount device slices the single ingot on the slice base. The mounting plate is adhered via, and the ingot adhered to the mounting plate is placed on the ingot transfer pallet again, and the ingot transfer pallet is transferred to the wire saw cutting device by the transfer carriage, and the wire saw cutting device The ingot adhered to the mounting plate is cut into a large number of wafers, the sliced wafer cut by the wire saw cutting device is placed on the ingot transfer pallet, and the ingot transfer pallet is transferred by the transfer carriage. Wafer fabrication system characterized by serial transported to the peeling and cleaning device, for cleaning by peeling the sliced wafer from the slice base in the release-cleaning device.
【請求項11】 多数のインゴットがストックされるイ
ンゴットストック装置と、 インゴットにスライスベースを介してマウンティングプ
レートを接着するインゴットマウント装置と、 マウンティングプレートに接着されたインゴットを走行
するワイヤ列に押し当てて多数枚のウェーハに切断する
ワイヤソー切断装置と、 前記ワイヤソー切断装置で切断されたスライスドウェー
ハをスライスベースから剥離して枚葉化し、洗浄したの
ちカセットに収納する剥離・洗浄装置と、 前記インゴットストック装置にストックされた単体のイ
ンゴット及び前記インゴットマウント装置でマウンティ
ングプレートが接着されたインゴットをそれぞれ搬送す
る請求項1記載の第1インゴット搬送用パレットと、 前記インゴットストック装置、前記インゴットマウント
装置及び前記ワイヤソー切断装置の間を移動して前記第
1インゴット搬送用パレットを当該各装置間に搬送する
第1搬送台車と、 前記ワイヤソー切断装置で切断されたスライスドウェー
ハを搬送する請求項1記載の第2インゴット搬送用パレ
ットと、 前記ワイヤソー切断装置及び前記剥離・洗浄装置の間を
移動して前記第2インゴット搬送用パレットを当該各装
置間に搬送する第2搬送台車と、から構成され、前記イ
ンゴットストック装置にストックされた単体のインゴッ
トを前記第1インゴット搬送用パレットに載せ、該第1
インゴット搬送用パレットを前記第1搬送台車で前記イ
ンゴットマウント装置に搬送し、該インゴットマウント
装置で前記単体のインゴットにスライスベースを介して
マウンティングプレートを接着し、該マウンティングプ
レートに接着されたインゴットを再び前記第1インゴッ
ト搬送用パレットに載せ、該第1インゴット搬送用パレ
ットを前記第1搬送台車で前記ワイヤソー切断装置に搬
送し、該ワイヤソー切断装置で前記マウンティングプレ
ートに接着されたインゴットを多数枚のウェーハに切断
し、該ワイヤソー切断装置で切断されたスライスドウェ
ーハを前記第2インゴット搬送用パレットに載せ、該第
2インゴット搬送用パレットを前記第2搬送台車で前記
剥離・洗浄装置に搬送し、該剥離・洗浄装置で前記スラ
イスドウェーハをスライスベースから剥離して洗浄する
ことを特徴とするウェーハ製造システム。
11. An ingot stock device in which a large number of ingots are stocked, an ingot mount device for adhering a mounting plate to the ingot via a slice base, and an ingot adhered to the mounting plate is pressed against a traveling wire row. A wire saw cutting device that cuts into a large number of wafers, a sliced wafer cut by the wire saw cutting device is separated from the slice base into single wafers, and a peeling / cleaning device that stores them in a cassette after cleaning, and the ingot stock The first ingot transport pallet according to claim 1, which transports a single ingot stocked in the device and an ingot to which a mounting plate is adhered by the ingot mount device, the ingot stock device, the ingot. A first transfer carriage that moves between a mounting device and the wire saw cutting device to transfer the first ingot transfer pallet between the devices, and a sliced wafer cut by the wire saw cutting device. 2. A second ingot transport pallet according to 1, and a second transport carriage that moves between the wire saw cutting device and the peeling / cleaning device to transport the second ingot transport pallet between the devices. The single ingot stocked in the ingot stock device is placed on the first ingot transfer pallet,
The ingot transfer pallet is transferred to the ingot mount device by the first transfer carriage, the mounting plate is bonded to the single ingot by the ingot mount device via the slice base, and the ingot bonded to the mounting plate is again mounted. The wafer is placed on the first ingot transfer pallet, the first ingot transfer pallet is transferred to the wire saw cutting device by the first transfer carriage, and the ingot bonded to the mounting plate by the wire saw cutting device is a large number of wafers. The sliced wafer cut by the wire saw cutting device is placed on the second ingot transfer pallet, and the second ingot transfer pallet is transferred to the peeling / cleaning device by the second transfer carriage, Remove the sliced wafer with a peeling / cleaning device Wafer fabrication system characterized by washing peeled from rice-based.
【請求項12】 前記インゴット搬送用パレットは、搬
送するインゴット又はスライスドウェーハの情報が記録
された記録手段を備え、前記各装置は記録手段に記録さ
れた情報に基づいて運転されることを特徴とする請求項
10又は11記載のウェーハ製造システム。
12. The ingot transfer pallet comprises a recording unit in which information of an ingot or sliced wafer to be transferred is recorded, and each of the devices is operated based on the information recorded in the recording unit. The wafer manufacturing system according to claim 10 or 11.
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