JP2000058329A - 積層インダクタ並びにその整列測定装置および整列測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 移動体通信機器等の高周波回路に実装される
積層インダクタにおいて、正規の位置に置かれる確率を
高めて生産性を上げる。 【解決手段】 電気絶縁層間で内部導体とセラミックス
を交互に重畳積層してコイル５を形成した直方体状の電
気絶縁体２を有し、この電気絶縁体２の表面に外部電極
を設ける。電気絶縁体２中に外部電極とそれぞれ接続す
る接続導体９、１０を設け、接続導体９、１０の位置を
示すマーカ８を電気絶縁体２の上下両面に付ける。マー
カ８をその電気絶縁体２のそれぞれの各長辺方向から見
て異なった形状とする。これにより、マーカ８が異形で
あるため、積層インダクタ１をそれぞれの各長辺方向か
ら見た場合の方向識別ができ、位置補正が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、移動体通信機器等
の高周波回路に実装される積層インダクタ並びにその整
列測定装置および整列測定方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図７は従来の積層インダクタの代表例を
示す斜視図であり、（ａ）はその上面のみにマーカを付
けた積層インダクタを示す図、（ｂ）はその上下両面に
マーカを付けた積層インダクタを示す図、図８は従来の
積層インダクタの画像認識方法を示す正面図である。

【０００３】従来この種の積層インダクタとしては、図
７に示すように、直方体状の電気絶縁体２の左右両端に
それぞれ外部電極（図示せず）を装着し、電気絶縁体２
内にコイル５をその積層方向が外部電極方向に直交する
ように埋設し、そのコイル５の両端にそれぞれ接続導体
９、１０を前記各外部電極に導通させて配設した構造を
有し、チップ断面が正方形である積層インダクタ１が知
られている。

【０００４】この積層インダクタ１では、基板（図示せ
ず）に対する配置パターン（置き方）によって磁界の分
布が異なり、Ｌ値が変わってしまう。そのため、図７
（ａ）に示すように、電気絶縁体２の上面の片側半分に
マーカ８を付けたり、図７（ｂ）に示すように、電気絶
縁体２の上下両面の片側半分にそれぞれマーカ８を付け
たりしておき、パーツフィーダ（図示せず）にて並べる
場合、そのマーカ８を同じ方向に揃える必要がある。

【０００５】そして、積層インダクタ１が正しく置かれ
ているか否かを判定するには、図８に示すように、積層
インダクタ１の上面の片側半分を画像認識装置３で観察
し、マーカ８が認識された場合には積層インダクタ１の
置き方が正しいと判定し、マーカ８が認識されない場合
には積層インダクタ１の置き方が正しくないと判定す
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、これでは積層
インダクタ１の配置パターンが８通り存在するので、積
層インダクタ１が正規の位置に置かれる確率は、電気絶
縁体２の上面のみにマーカ８を付けた場合（図７（ａ）
参照）は１／８、電気絶縁体２の上下両面にマーカ８を
付けた場合（図７（ｂ）参照）でも１／４と低く、それ
を修正するために生産性が落ちるという不都合があっ
た。

【０００７】本発明は、このような事情に鑑み、積層イ
ンダクタ１が正規の位置に置かれる確率を高めて生産性
を上げることが可能な積層インダクタ並びにその整列測
定装置および整列測定方法を提供することを目的とす
る。

【０００８】

【課題を解決するための手段】すなわち、請求項１に係
る本発明は、電気絶縁層間で内部導体とセラミックスを
交互に重畳積層してコイル（５）を形成した直方体状の
電気絶縁体（２）を有し、この電気絶縁体の表面に外部
電極を設け、前記電気絶縁体中に前記外部電極とそれぞ
れ接続する接続導体（９、１０）を設け、この接続導体
の位置を示すマーカ（８）を前記電気絶縁体の上下面の
双方または片方に付けた積層インダクタ（１）におい
て、前記マーカをその電気絶縁体のそれぞれの各長辺方
向から見て異なった形状として構成される。こうした構
成を採用することにより、マーカが異形であるため、積
層インダクタをそれぞれの各長辺方向から見た場合の方
向識別が容易となるように作用する。

【０００９】また、請求項２に係る本発明は、上記マー
カ（８）を各外部電極寄りに１つの面において２箇所配
置して構成される。かかる構成により、積層インダクタ
をそれぞれの各長辺方向から見た場合の方向識別が一層
容易となるように作用する。

【００１０】一方、請求項３に係る本発明は、上記積層
インダクタ（１）を整列測定する積層インダクタ整列測
定装置（１２）において、前記積層インダクタを供給す
るパーツフィーダ（１３）と前記積層インダクタを測定
する測定ステージ（１５）とを備え、前記パーツフィー
ダによって供給された積層インダクタを前記測定ステー
ジに搬送するガイドレール（１６）を設け、前記パーツ
フィーダによって供給された積層インダクタをその電気
絶縁体（２）の長辺方向から斜めに観察して画像認識す
る画像認識装置（３）を設け、この画像認識装置によっ
て画像認識された積層インダクタを前記パーツフィーダ
に戻すワーク除去装置（２０）を設けて構成される。こ
うした構成を採用することにより、電気絶縁体の２面の
情報を一度の画像認識で得ることが可能になると同時
に、積層インダクタの置き方が正しい場合は積層インダ
クタをガイドレールを経て測定ステージに搬送し、そう
でない場合には積層インダクタをパーツフィーダに戻す
ことができるように作用する。

【００１１】また、請求項４に係る本発明は、上記積層
インダクタ（１）を整列測定する積層インダクタ整列測
定装置（１２）において、前記積層インダクタを供給す
るパーツフィーダ（１３）と前記積層インダクタを測定
する測定ステージ（１５）とを備え、前記パーツフィー
ダによって供給された積層インダクタを前記測定ステー
ジに搬送する第１のガイドレール（１６）を設け、前記
パーツフィーダによって供給された積層インダクタをそ
の電気絶縁体（２）の長辺方向から斜めに観察して画像
認識する画像認識装置（３）を設け、この画像認識装置
によって画像認識された積層インダクタを前記パーツフ
ィーダに戻すワーク除去装置（２０）を設け、前記パー
ツフィーダによって供給された積層インダクタを９０°
だけ回転させて前記測定ステージに搬送する第２のガイ
ドレール（１７）を設け、前記画像認識装置によって画
像認識された積層インダクタを前記第２のガイドレール
に移送するワーク移送装置（２１）を設けて構成され
る。かかる構成により、電気絶縁体の２面の情報を一度
の画像認識で得ることが可能となると同時に、積層イン
ダクタの置き方が正しい場合は積層インダクタを第１の
ガイドレールを経て測定ステージに搬送し、そうでない
場合には、位置修正可能なときに積層インダクタを第２
のガイドレールを経て測定ステージに搬送し、位置修正
不可能なときに積層インダクタをパーツフィーダに戻す
ことができるように作用する。

【００１２】さらに、請求項５に係る本発明は、上記積
層インダクタ整列測定装置（１２）を用いて上記積層イ
ンダクタ（１）を整列測定する際に、パーツフィーダ
（１３）によって前記積層インダクタを斜めにして供給
し、この積層インダクタをその真上から画像認識装置
（３）によって画像認識し、その場で前記積層インダク
タの位置を正規の位置に補正する機構を設け、正規の位
置にできないものは排出する機構を設けて構成される。
かかる構成により、積層インダクタを画像認識した結果
に応じて斜めの積層インダクタを適当な方向に倒すこと
で、１個のガイドレールを使って積層インダクタの搬送
を実行し、位置修正不可能な場合はパーツフィーダに戻
すことができるように作用する。

【００１３】なお、括弧内の番号等は図面において対応
する要素を表わす便宜的なものであり、従って、本発明
は図面上の記載に限定拘束されるものではない。このこ
とは「特許請求の範囲」の欄についても同様である。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。

【００１５】図１は本発明に係る積層インダクタの一実
施形態を示す図であり、（ａ）は正規の位置に置かれた
状態を示す斜視図、（ｂ）は（ａ）の認識画像を示す
図、（ｃ）は正規の位置に置かれていない状態を示す斜
視図、（ｄ）は（ｃ）の認識画像を示す図、図２は本発
明に係る積層インダクタ整列測定装置の第１の実施形態
を示す平面図、図３は図２に示す積層インダクタ整列測
定装置のＡ部分の拡大図、図４は図１に示す積層インダ
クタの画像認識方法を示す正面図であり、（ａ）は画像
認識装置を傾ける方法を示す図、（ｂ）は積層インダク
タを傾ける方法を示す図、図５は本発明に係る積層イン
ダクタの様々なマーカ形状を示す平面図、図６は本発明
に係る積層インダクタ整列測定装置の第２の実施形態を
示す平面図である。

【００１６】本発明に係る積層インダクタ１は、図１
（ａ）に示すように、直方体状の電気絶縁体２を有して
おり、電気絶縁体２の左右両端にはそれぞれ外部電極
（図示せず）が付設されている。また、電気絶縁体２内
には、電気絶縁層間で内部導体とセラミックスを交互に
重畳積層したコイル５が埋設されており、このコイル５
の積層方向は外部電極方向に直交している。また、コイ
ル５の両端にはそれぞれ接続導体９、１０が配設されて
おり、各接続導体９、１０は前記各外部電極に導通して
いる。さらに、電気絶縁体２の上下両面の片側半分には
それぞれ黒色のマーカ８が付けられており、各マーカ８
は電気絶縁体２のそれぞれの各長辺方向から見て異形と
なっている。

【００１７】また、本発明に係る積層インダクタ整列測
定装置１２は、図２および図３に示すように、パーツフ
ィーダ１３および測定ステージ１５を有しており、これ
らパーツフィーダ１３、測定ステージ１５間には、第１
のガイドレール１６が設置されているとともに、第２の
ガイドレール１７が第１のガイドレール１６から分岐し
て測定ステージ１５に至る形で設置されている。第２の
ガイドレール１７の始点付近には、図３に示すように、
圧縮空気を吐出するワーク吹き飛ばし器２０が設置され
ており、ワーク吹き飛ばし器２０の手前には押し出しピ
ン２１が突出後退自在に設けられている。さらに、押し
出しピン２１の手前には、図３および図４（ａ）に示す
ように、ＣＣＤ（電荷結合素子）カメラ等の画像認識装
置３が鉛直方向に対して４５°ほど傾いて設置されてお
り、この画像認識装置３を用いて積層インダクタ１の斜
め上方からその２面（上面と側面）を同時に観察して画
像認識することができる。

【００１８】積層インダクタ１および積層インダクタ整
列測定装置１２は以上のような構成を有するので、積層
インダクタ整列測定装置１２を稼働すると、パーツフィ
ーダ１３内にある多数個の積層インダクタ１は、順次そ
の配置パターン（置き方）に応じて第１のガイドレール
１６または第２のガイドレール１７を経由して測定ステ
ージ１５に搬送される。すなわち、パーツフィーダ１３
から送り出された積層インダクタ１は、図３に示すよう
に、画像認識装置３によって観察され、図１（ａ）、
（ｂ）に示すように、積層インダクタ１の上面にマーカ
８が認識された場合には、積層インダクタ１が正しく置
かれているので、第１のガイドレール１６を経てそのま
ま測定ステージ１５に搬送される。他方、図１（ｃ）、
（ｄ）に示すように、積層インダクタ１の側面にマーカ
８が認識された場合には、積層インダクタ１を９０°だ
け捻ってマーカ８を上面に向ければ積層インダクタ１の
置き方が正しくなるので、押し出しピン２１で第２のガ
イドレール１７側に押し出され、第２のガイドレール１
７上を移動する途中で９０°だけ捻られた後、測定ステ
ージ１５に搬送される。また、これら以外の場合（層イ
ンダクタ１の上面にも側面にもマーカ８が認識されない
場合）は、積層インダクタ１の置き方が正しくないばか
りか、第２のガイドレール１７上で修正することもでき
ないため、ワーク吹き飛ばし器２０からの圧縮空気で吹
き飛ばされてパーツフィーダ１３の中に戻る。そして、
マーカ８は電気絶縁体２の上下両面に付けられているの
で、積層インダクタ１の８通りの配置パターンのうち４
通り（すなわち、半分）の配置パターンにおいて、積層
インダクタ１が測定ステージ１５上に正しく置かれた状
態となり、結局、積層インダクタ１が正規の位置に置か
れる確率は１／２となる。

【００１９】このように、パーツフィーダ１３から送り
出された積層インダクタ１の半分は正規の位置で測定ス
テージ１５に至るので、測定ステージ１５上の測定ポイ
ントへの供給が途絶えることは少なくなり、生産性が向
上する。この際、画像認識装置３による観察時において
は、上述したように、積層インダクタ１の２面の情報が
一度の画像認識で得られ、しかも積層インダクタ１のマ
ーカ８は異形であるため方向識別が容易となるので、積
層インダクタ１の画像認識作業ひいては整列測定作業を
短時間で効率的に行うことができる。

【００２０】なお、上述の実施形態においては、図４
（ａ）に示すように、画像認識装置３を傾斜させて積層
インダクタ１の２面を同時に観察した後、２本のガイド
レール１６、１７を使って積層インダクタ１を測定ステ
ージ１５に搬送する場合について説明したが、図４
（ｂ）に示すように、積層インダクタ１を傾斜させるよ
うにすれば、１個のガイドレール１６だけで積層インダ
クタ１の搬送を実行することができる。すなわち、ガイ
ドレール１６には、図６に示すように、画像認識装置３
が設置されているとともに、ワーク戻しピン２２が突出
後退自在に設けられている。さらに、ガイドレール１６
には、第１の押し倒しピン２３および第２の押し倒しピ
ン２４が突出後退自在に、かつ互いに対向する形で設け
られている。そして、ガイドレール１６上で傾斜した状
態の積層インダクタ１をその真上から画像認識装置３で
観察して画像認識し、その結果に基づいて、第１の押し
倒しピン２３または第２の押し倒しピン２４で積層イン
ダクタ１を適当な方向に押し倒して正規の置き方とする
か、或いはワーク戻しピン２２を突出させて積層インダ
クタ１をパーツフィーダ１３の中に戻す。この場合も、
積層インダクタ１が正規の位置に置かれる確率は１／２
となる。その上、第２のガイドレール１７が不要となる
ので、積層インダクタ整列測定装置１２を小型化するこ
とが可能となる。

【００２１】また、上述の実施形態においては、異形で
黒色のマーカ８を付けた場合について説明したが、マー
カ８の形状は異形である限り、どのような形状でもよ
い。例えば、図５（ａ）〜（ｆ）に示すように、種々の
形状をしたマーカ８を採用することができる。一方、マ
ーカ８の色は、下地の色とのコントラストによって画像
認識できるものである限り、何色でもよい。例えば、赤
色や緑色のマーカ８を採用することも可能である。

【００２２】さらに、上述の実施形態においては、電気
絶縁体２の上下両面にマーカ８を付けた積層インダクタ
１について説明したが、積層インダクタ１が正規の位置
に置かれる確率を１／４に落としてもよい場合には、電
気絶縁体２の上下いずれか片面にマーカ８を付ければ十
分であり、マーキングの手間を省くことができる。

【００２３】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１に係る本
発明によれば、電気絶縁層間で内部導体とセラミックス
を交互に重畳積層してコイル５を形成した直方体状の電
気絶縁体２を有し、この電気絶縁体２の表面に外部電極
を設け、前記電気絶縁体２中に前記外部電極とそれぞれ
接続する接続導体９、１０を設け、この接続導体９、１
０の位置を示すマーカ８を前記電気絶縁体２の上下面の
双方または片方に付けた積層インダクタ１において、前
記マーカ８をその電気絶縁体２のそれぞれの各長辺方向
から見て異なった形状として構成したので、マーカ８が
異形であるため、積層インダクタ１をそれぞれの各長辺
方向から見た場合の方向識別が容易となることから、積
層インダクタ１が正しく整列する確率が倍増し、生産性
が向上する。

【００２４】また、請求項２に係る本発明によれば、上
記マーカ８を各外部電極寄りに１つの面において２箇所
配置して構成したので、積層インダクタ１をそれぞれの
各長辺方向から見た場合の方向識別が一層容易となるこ
とから、積層インダクタ１の生産性がさらに向上する。

【００２５】一方、請求項３に係る本発明によれば、上
記積層インダクタ１を整列測定する積層インダクタ整列
測定装置１２において、前記積層インダクタ１を供給す
るパーツフィーダ１３と前記積層インダクタ１を測定す
る測定ステージ１５とを備え、前記パーツフィーダ１３
によって供給された積層インダクタ１を前記測定ステー
ジ１５に搬送するガイドレール１６を設け、前記パーツ
フィーダ１３によって供給された積層インダクタ１をそ
の電気絶縁体２の長辺方向から斜めに観察して画像認識
する画像認識装置３を設け、この画像認識装置３によっ
て画像認識された積層インダクタ１を前記パーツフィー
ダ１３に戻すワーク吹き飛ばし器２０等のワーク除去装
置を設けて構成したので、電気絶縁体２の２面の情報を
一度の画像認識で得ることが可能になると同時に、積層
インダクタ１の置き方が正しい場合は積層インダクタ１
をガイドレール１６を経て測定ステージ１５に搬送し、
そうでない場合には積層インダクタ１をパーツフィーダ
１３に戻すことができることから、積層インダクタ１が
正しく整列する確率が倍増し、生産性が向上する。

【００２６】また、請求項４に係る本発明によれば、上
記積層インダクタ１を整列測定する積層インダクタ整列
測定装置１２において、前記積層インダクタ１を供給す
るパーツフィーダ１３と前記積層インダクタ１を測定す
る測定ステージ１５とを備え、前記パーツフィーダ１３
によって供給された積層インダクタ１を前記測定ステー
ジ１５に搬送する第１のガイドレール１６を設け、前記
パーツフィーダ１３によって供給された積層インダクタ
１をその電気絶縁体２の長辺方向から斜めに観察して画
像認識する画像認識装置３を設け、この画像認識装置３
によって画像認識された積層インダクタ１を前記パーツ
フィーダ１３に戻すワーク吹き飛ばし器２０等のワーク
除去装置を設け、前記パーツフィーダ１３によって供給
された積層インダクタ１を９０°だけ回転させて前記測
定ステージ１５に搬送する第２のガイドレール１７を設
け、前記画像認識装置３によって画像認識された積層イ
ンダクタ１を前記第２のガイドレール１７に移送する押
し出しピン２１等のワーク移送装置を設けて構成したの
で、電気絶縁体２の２面の情報を一度の画像認識で得る
ことが可能となると同時に、積層インダクタ１の置き方
が正しい場合は積層インダクタ１を第１のガイドレール
１６を経て測定ステージ１５に搬送し、そうでない場合
には、位置修正可能なときに積層インダクタ１を第２の
ガイドレール１７を経て測定ステージ１５に搬送し、位
置修正不可能なときに積層インダクタ１をパーツフィー
ダ１３に戻すことができることから、積層インダクタ１
が正しく整列する確率が倍増し、生産性が向上する。

【００２７】さらに、請求項５に係る本発明によれば、
上記積層インダクタ整列測定装置１２を用いて上記積層
インダクタ１を整列測定する際に、パーツフィーダ１３
によって前記積層インダクタ１を斜めにして供給し、こ
の積層インダクタ１をその真上から画像認識装置３によ
って画像認識し、その場で前記積層インダクタ１の位置
を正規の位置に補正する機構を設け、正規の位置にでき
ないものは排出する機構を設けて構成したので、積層イ
ンダクタ１を画像認識した結果に応じて斜めの積層イン
ダクタ１を適当な方向に倒すことで、１個のガイドレー
ル１６を使って積層インダクタ１の搬送を実行し、位置
修正不可能な場合はパーツフィーダに戻すことができる
ことから、積層インダクタ整列測定装置１２を小型化す
ることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る積層インダクタの一実施形態を示
す図であり、（ａ）は正規の位置に置かれた状態を示す
斜視図、（ｂ）は（ａ）の認識画像を示す図、（ｃ）は
正規の位置に置かれていない状態を示す斜視図、（ｄ）
は（ｃ）の認識画像を示す図である。

【図２】本発明に係る積層インダクタ整列測定装置の第
１の実施形態を示す平面図である。

【図３】図２に示す積層インダクタ整列測定装置のＡ部
分の拡大図である。

【図４】図１に示す積層インダクタの画像認識方法を示
す正面図であり、（ａ）は画像認識装置を傾ける方法を
示す図、（ｂ）は積層インダクタを傾ける方法を示す図
である。

【図５】本発明に係る積層インダクタの様々なマーカ形
状を示す平面図である。

【図６】本発明に係る積層インダクタ整列測定装置の第
２の実施形態を示す平面図である。

【図７】従来の積層インダクタの代表例を示す斜視図で
あり、（ａ）はその上面のみにマーカを付けた積層イン
ダクタを示す図、（ｂ）はその上下両面にマーカを付け
た積層インダクタを示す図である。

【図８】従来の積層インダクタの画像認識方法を示す正
面図である。

【符号の説明】

１……積層インダクタ ２……電気絶縁体 ３……画像認識装置 ５……コイル ８……マーカ ９、１０……接続導体 １２……積層インダクタ整列測定装置 １３……パーツフィーダ １５……測定ステージ １６……第１のガイドレール １７……第２のガイドレール ２０……ワーク除去装置（ワーク吹き飛ばし器） ２１……ワーク移送装置（押し出しピン）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野寄 佳成 東京都港区新橋５丁目36番11号 富士電気 化学株式会社内 Ｆターム(参考） 5E070 AA01 AB01 BA01 BA12 CB01 CB13

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電気絶縁層間で内部導体とセラミックス
   を交互に重畳積層してコイル（５）を形成した直方体状
   の電気絶縁体（２）を有し、 この電気絶縁体の表面に外部電極を設け、 前記電気絶縁体中に前記外部電極とそれぞれ接続する接
   続導体（９、１０）を設け、 この接続導体の位置を示すマーカ（８）を前記電気絶縁
   体の上下面の双方または片方に付けた積層インダクタ
   （１）において、 前記マーカをその電気絶縁体のそれぞれの各長辺方向か
   ら見て異なった形状としたことを特徴とする積層インダ
   クタ。
2. 【請求項２】 マーカ（８）を各外部電極寄りに１つの
   面において２箇所配置したことを特徴とする請求項１に
   記載の積層インダクタ。
3. 【請求項３】 請求項１または請求項２に記載の積層イ
   ンダクタ（１）を整列測定する積層インダクタ整列測定
   装置（１２）において、 前記積層インダクタを供給するパーツフィーダ（１３）
   と前記積層インダクタを測定する測定ステージ（１５）
   とを備え、 前記パーツフィーダによって供給された積層インダクタ
   を前記測定ステージに搬送するガイドレール（１６）を
   設け、 前記パーツフィーダによって供給された積層インダクタ
   をその電気絶縁体（２）の長辺方向から斜めに観察して
   画像認識する画像認識装置（３）を設け、 この画像認識装置によって画像認識された積層インダク
   タを前記パーツフィーダに戻すワーク除去装置（２０）
   を設けたことを特徴とする積層インダクタ整列測定装
   置。
4. 【請求項４】 請求項１または請求項２に記載の積層イ
   ンダクタ（１）を整列測定する積層インダクタ整列測定
   装置（１２）において、 前記積層インダクタを供給するパーツフィーダ（１３）
   と前記積層インダクタを測定する測定ステージ（１５）
   とを備え、 前記パーツフィーダによって供給された積層インダクタ
   を前記測定ステージに搬送する第１のガイドレール（１
   ６）を設け、 前記パーツフィーダによって供給された積層インダクタ
   をその電気絶縁体（２）の長辺方向から斜めに観察して
   画像認識する画像認識装置（３）を設け、 この画像認識装置によって画像認識された積層インダク
   タを前記パーツフィーダに戻すワーク除去装置（２０）
   を設け、 前記パーツフィーダによって供給された積層インダクタ
   を９０°だけ回転させて前記測定ステージに搬送する第
   ２のガイドレール（１７）を設け、 前記画像認識装置によって画像認識された積層インダク
   タを前記第２のガイドレールに移送するワーク移送装置
   （２１）を設けたことを特徴とする積層インダクタ整列
   測定装置。
5. 【請求項５】 請求項３に記載の積層インダクタ整列測
   定装置（１２）を用いて請求項１または請求項２に記載
   の積層インダクタ（１）を整列測定する際に、 パーツフィーダ（１３）によって前記積層インダクタを
   斜めにして供給し、 この積層インダクタをその真上から画像認識装置（３）
   によって画像認識し、 その場で前記積層インダクタの位置を正規の位置に補正
   する機構を設け、 正規の位置にできないものは排出する機構を設けたこと
   を特徴とする積層インダクタ整列測定方法。