JP2000049189A - ボンディング法 - Google Patents
ボンディング法Info
- Publication number
- JP2000049189A JP2000049189A JP11198984A JP19898499A JP2000049189A JP 2000049189 A JP2000049189 A JP 2000049189A JP 11198984 A JP11198984 A JP 11198984A JP 19898499 A JP19898499 A JP 19898499A JP 2000049189 A JP2000049189 A JP 2000049189A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bond
- ball
- wedge
- wire
- fixed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
- H01R43/02—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for soldered or welded connections
- H01R43/0207—Ultrasonic-, H.F.-, cold- or impact welding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54473—Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0555—Shape
- H01L2224/05552—Shape in top view
- H01L2224/05554—Shape in top view being square
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/05599—Material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48464—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area also being a ball bond, i.e. ball-to-ball
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49175—Parallel arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85009—Pre-treatment of the connector or the bonding area
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/852—Applying energy for connecting
- H01L2224/85201—Compression bonding
- H01L2224/85205—Ultrasonic bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/8538—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/85399—Material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01068—Erbium [Er]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01074—Tungsten [W]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01075—Rhenium [Re]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01078—Platinum [Pt]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49147—Assembling terminal to base
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49147—Assembling terminal to base
- Y10T29/49149—Assembling terminal to base by metal fusion bonding
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49169—Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
のエレメント支持体1との間でワイヤボンディング7を
形成するために、エレメント2上及び接触面4上でのワ
イヤボンディング7の終端位置を確定し、次いでエレメ
ント2及び接触面4の実際の位置を規定し、次いでボー
ル位置及びウエッジ位置5,6の位置対を計算し、次い
でワイヤボンディングを形成し、ワイヤボンディング
に、ボール・及びウエッジ位置10,11を有する固定
ボンドを備える方法において、少なくとも1つのワイヤ
ボンディング7の終端位置に、少なくとも1つのスペー
サ値12を対応付けし、固定ボンドのボール位置及びウ
エッジ位置10、11を計算し、次いで計算されたボー
ル・及びウエッジ位置に従って、ワイヤボンディングに
固定ボンドを配置する。 【効果】 固定ボンドの種々異なる実施例を呼び出すこ
とができる融通性のある製造方法が得られる。
Description
電気的なエレメントと、接触面を有するエレメント支持
体との間でワイヤボンディングを形成するための方法で
あって、エレメント上及び接触面上におけるワイヤボン
ディングの終端位置を確定し、その際に、次のステップ
で、少なくとも1つの電気的なエレメント及び接触面の
実際の位置を規定し、それに基づいてボール位置及びウ
エッジ位置の位置対(1対を成す位置)を計算し、さら
に別のステップでワイヤボンディングを形成し、少なく
とも1つのワイヤボンディングに、ボール位置及びウエ
ッジ位置を有する固定ボンドを備える方法に関する。
特許出願第19823623.9号明細書によれば、付
加的な固定ボンドが設けられているボール・ウエッジ法
が公知である。この場合、固定ボンドは、ワイヤボンデ
ィングのウエッジ接触を強化し、それ自体が、固定ボン
ドのためのボール位置を成す強化されたウエッジ位置と
別のウエッジ位置との間で、さらに別のワイヤボンディ
ングを形成するか、又は固定ボンドが選択的に特別な実
施例でワイヤボンディングのウエッジ位置上にだけ固定
されることになる。従来では、固定ボンドの位置は、本
来のワイヤボンディングのボール・ウエッジ位置を与え
るのと同じような形式で、ボール・ウエッジ位置を与え
るだけで規定される。固定ボンドは、ワイヤボンディン
グと同様に処理される。つまり、固定ボンドのワイヤボ
ンディングの位置値は、微分(Differenzierung)される
ことなしに例えば電子メモリー内に記憶される。この方
法は、製造ロットから製造ロットに移る際に必要な固定
ボンドの数が変化する時に、融通性がないということが
分かった。何故ならば、各ロットのためのそれぞれのワ
イヤボンディングのための固定ボンドの対応付け(Zuord
nung)のための誤った情報の故に、すべての位置データ
を有する完全なプログラムを記憶しなければならないか
らである。
は、以上のような従来技術における欠点を避けることが
できるような方法を提供することである。
明の方法によれば、少なくとも1つのワイヤボンディン
グの終端位置に、選択可能な少なくとも1つのスペーサ
値を対応付けして、固定ボンドのボール位置及びウエッ
ジ位置を計算し、次のステップで、計算されたボール位
置及びウエッジ位置に従って、少なくとも1つのワイヤ
ボンディングに固定ボンド(Sicherungsbond)を配置する
ようにした。
ングに対する固定ボンドの対応付けを選択的に作動若し
くは非作動することによって、固定ボンドの種々異なる
実施例(種類及び数)を呼び出すことができる融通性の
ある製造方法が得られたという利点を有している。ボタ
ンを押す毎に、ボンディング装置を制御するソフトウエ
アプログラムのメニュー内で、全体的に又は部分的に固
定ボンドを設ける作業を選択的に作動接続又は遮断接続
することができる。これによって、エレメント支持体と
このエレメント支持体上に存在するエレメントとの間で
形成しようとするワイヤボンディングに関連した別の要
求を有する製造ロットに切り換える際に、短い準備時間
が得られる。この場合、ワイヤボンディングに対する固
定ボンドの対応付けは、有利な形式で固定ボンドをその
形状及び空間的な位置に関連してキャラクタライズする
スペーサ値(間隔値)を対応付けすることによって行わ
れる。スペーサ値を対応付けすることによって、ワイヤ
ボンディングと所属の固定ボンドとは1つのユニットと
して見なされるので、全体的にワイヤボンディングを正
しく製造する際の高い確実性が得られる。何故ならば、
プログラムが中断した後でこの方法が続いて行われる場
合に、固定ボンドを「忘れる」可能性が小さくなるから
である。さらにまた、固定ボンドを、それぞれのエレメ
ント及びエレメント支持体例えばプリント基板の相対位
置に応じて自動的に調整及び整列させることができると
いう利点が得られる。この場合、このダイナミックな位
置合致は、エレメントの実際の位置に及びプリント基板
上の接触面に関連して、また入力されたスペーサ値に関
連して、固定ボンドの実際の座標を計算することによっ
て行われる。これによて、固定ボンドは、前もって形成
されたボール・ウエッジワイヤ結合の実際の位置決めに
従って整列される。これによって固定ボンドの反復可能
性が得られ、エレメント支持体上のIC設置位置の製造
上のばらつきとは無関係に常に同品質が得られる。さら
にまた、簡単かつ反復可能な形式で、固定ボンド間でル
ープ(Loop)なしのボール・ウエッジ組合せを形成する、
固定ボンドの特別な実施例が可能である。しかしながら
このような固定ボンド(ボール位置及びウエッジ位置が
両方共、ワイヤボンディングのウエッジ領域内に存在す
る)においては、高品質のワイヤボンディングのため
に、ワイヤボンディングの整列に対して相対的に固定ボ
ンドの正確な位置決めが必要である。
製造パラメータの選択可能な組合せを配置することは特
に有利であることが分かった。これによって、エレメン
ト若しくは接触面上に最適な製造パラメータを使用する
ことができる。特に、ワイヤボンディング及びその所属
の固定ボンドのために種々異なる製造パラメータを設け
ることができる。特に固定ボンドのためのボールは、本
来のワイヤボンディングのためのボールよりも大きい。
また固定ボンドは、温度及び超音波をワイヤボンディン
グにおけるよりも短い時間だけ加えることによって、よ
り迅速に形成することができる。この関連性において、
製造パラメータは、例えば使用された力、力の作用が加
えられる時間、並びに超音波出力、温度及び前記フリー
・エアー・ボール(Free-Air-Ball)直径である。これに
よって、同じ製造パラメータを使用するのに対して、製
造時間は、固定ボンドを備えたワイヤボンディングの4
0%及びそれ以上短縮される。
ープにまとめることによって、グループ形式の対応付け
が得られる。何故ならば一般的には、エレメントと接触
面との規定された対若しくは組合せのためには、それぞ
れのワイヤボンディング(固定ボンド有り又は無し)の
ために同じ製造パラメータが使用されるからである。
示した実施例を用いて詳しく説明する。
ト支持体1の表面の部分の平面図が概略的に示されてい
る。プリント基板1上には、エレメント2が固定されて
いる。プリント基板1は接触面4を有している。エレメ
ント2上の接続箇所3と接触面4との間にはワイヤボン
ディング7が配置されており、この場合、一方の端部は
接続箇所3上でボールボンディング8によって形成され
ていて、他方の端部は、接触面4上でウエッジボンディ
ング9によって形成されている。接続箇所3上にはボー
ル位置5が形成されていて、接触面4上にはウエッジ位
置6が形成されている。接続箇所3上にはボール位置5
が、また接触面4上にはウエッジ位置6が×(ばつ)印
で記されている。さらにまた、接触面4上には固定ボン
ド(Sicherungsbond)の第1の終端位置10及び第2の終
端位置11が×印で記されている。第1の終端位置10
と第2の終端位置11との間の間隔はスペーサ値(間隔
値)12によって与えられる(図1に示した×印は仮想
のマーキングであって、具体的なマーキングではな
い)。
レメント支持体との間の一般的なボール・ウエッジボン
ディングである。この場合、付加的にウエッジボンディ
ングに固定ボンドを設けることができる。図1には、ウ
エッジボンディング9上の、このような固定ボンドのボ
ール位置10とウエッジ位置11とが記されている。固
定ボンド自体は、図1の概略図には示されていない。図
示のボール位置10及びウエッジ位置11は、ドイツ連
邦共和国特許出願第19823623.9号明細書に記
載されているように、固定ボンドの終端位置を示してい
る。
グの製造方法のフローチャート(工程図)が示されてい
る。スタート100後に、まずパラメータの入力120
が行われる。次いで、パターン識別130と、それに続
くステップで実際の座標の計算140が行われる。次い
で、ワイヤボンディングの製造150が行われる。問い
合わせ160で、製造されたワイヤボンディングに対し
てスペーサ値が存在するかどうかについで問い合わせら
れる。ノー(165)の場合には、次のワイヤボンディ
ングが製造される。そうでない場合には、ワイヤボンデ
ィングに配属された固定ボンドの座標の別の計算170
が行われる。次いで、固定ボンドの配置180が行われ
る。別の問い合わせ190で、ワイヤボンディングが設
けられているかどうかが問い合わせられる。イエス(1
95)の場合には、次のワイヤボンディングの製造に移
行する。そうでなければ、別の問い合わせ200で、別
のエレメント支持体を処理するべきかどうかが問い合わ
せられる。イエス(205)の場合には、パターン識別
130に戻る。そうでない場合にはプログラムが終了さ
れる(210)。
イヤボンディングのボール位置及びウエッジ位置が記憶
される(入力120)。この場合、ボール位置とウエッ
ジ位置よの対に、場合によっては、ワイヤボンディング
に配属された固定ボンドをキャラクタライズ(特徴化)
するスペーサ値が与えられる。この場合、スペーサ値
は、固定ボンドのボール位置とウエッジ位置との間の間
隔を示す。さらに、ボール位置とウエッジ位置との各対
及びスペーサ値には、製造パラメータを対応付けするこ
とができる。この製造パラメータは、例えば、ボールの
大きさ、ボールをエレメント上に被着させるための力若
しくはウエッジボンディングを形成する際の力、力が作
用する時間、温度、超音波出力その他である。この場
合、ワイヤボンディング及び所属の固定ボンドの製造パ
ラメータは、互いに異なっており、特に固定ボンドのた
めのボールは、ワイヤボンディングのためのボールより
も大きく選定することができる。ワイヤボンディングに
おいてはエレメント上のボールは比較的小さく選定しな
ければならない。この入力ステップ120は、値がプロ
グラムのスタート前に既にコンピュータに入力されてい
る場合には、省略される。ボンディング装置内に挿入さ
れたエレメント支持体(このエレメント支持体上にエレ
メントが既に存在している)は、パターン識別(13
0)される。このパターン識別によって、エレメント及
びエレメント支持体の実際の位置と、その互いの相対位
置とが確認される。次のステップ140で、パターン識
別の基本位置及び、ステップ120で与えられたボール
・ウエッジ位置の基本位置上での、ワイヤボンディング
のボール・ウエッジ位置の実際の座標の計算が行われ
る。次いで、エレメント支持体上でのエレメントと接触
面4との間の第1のワイヤボンディングの製造150が
行われる。スペーサ値がワイヤボンディングに対応付け
されていない場合(問い合わせ160)には、レーン1
65を介して次のワイヤボンディングの製造150に移
行する。そうでない場合には、次の計算170で、設け
られている固定ボンドのボール位置及びウエッジ位置
が、製造されたワイヤボンディングのボール・ウエッジ
位置及び所属のスペーサ値の実際の座標から計算され
る。固定ボンドのボール位置とウエッジ位置との実際の
座標に関連した、ワイヤボンディングのウエッジ位置の
座標の計算によって、既に製造されたワイヤボンディン
グの空間的な配置に関する、これから製造しようとする
固定ボンドの正確な整列が保証される。この場合、スペ
ーサ値は、固定ボンドのボール位置とウエッジ位置との
間の間隔を示す。固定ボンドのボール・ウエッジ位置
は、その接続ラインが、ワイヤボンディングのボール・
ウエッジ位置間の接続ライン上に位置するように、設計
されている。この場合、ワイヤボンディングのウエッジ
位置は、例えば固定ボンドのウエッジ位置とボール位置
との間の中央に位置している。計算170後に、最終的
にボンディング装置によって固定ボンドが被着される
(ステップ180)。別のワイヤボンディングが設けら
れている場合には(問い合わせ190)、レーン195
を介して次のワイヤボンディングの製造に移行する(ス
テップ150)。そうでなければ、別の基板を処理する
べきかどうか(問い合わせ200)が、検査される。そ
うである場合には(レーン(205)、新たにパターン
識別130が作動され、第1の基板と同様の方法が実施
される。そうでなければプログラムは終了する(ステッ
プ210)。
れる場合には、ワイヤボンディングの終端位置の各対に
対して、製造パラメータの可変な組合せが対応付けされ
る。この場合、終端位置の対は、グループにまとめら
れ、このグループに製造パラメータの同じ組合せが対応
付けされる。これによって、ワイヤボンディングの位置
があらかじめほぼ入力されている、製造方法の別のスタ
ート100の際に、実際にボンディングしようとする製
造ロットのためのボンディング若しくは製造パラメータ
の選択が簡略化される。次いで、ボンディング装置の制
御プログラムのメニューで、簡単な形式で、設けようと
するワイヤボンディングのすべてのグループのためのパ
ラメータ組合せを変えることができる。さらにまた、設
けようとするワイヤボンディングのためのボール位置と
ウエッジ位置との対に通し番号が付けられ、最も大きい
番号が、設けようとするワイヤボンディングの全数に相
当する。ボール、ループ及びウエッジから成るワイヤボ
ンディングのために、固定ボンドが設けられており、こ
の場合、固定ボンドのそれぞれの対応付けは、当該のワ
イヤボンディングに対するスペーサ値の対応付けを介し
て行われる。これによって、制御プログラムで、選択的
に入力された、固定ボンドのためのスペーサ値を考慮す
べきかどうかのメニューを設けることができる。これ
も、個別のワイヤボンディングのためにも、またワイヤ
ボンディングのグループのためにも設けることができる
ので、簡単な形式で、ワイヤボンディングのすべての座
標を新たに入力することなしに、各チャージ(装入時)
において固定ボンドを設けるか、またどの程度設けるか
の選択ができる。
ール・ウエッジ位置の計算は、当該のワイヤボンディン
グの製造後にそれぞれ直接行うことができる。選択的
に、十分大きいコンピュータメモリーにおいて、ボンデ
ィングの開始前でパターン識別の直後に、ワイヤボンデ
ィングのボール・ウエッジ位置の実際の座標の計算と共
に、すべての固定ボンドのボール・ウエッジ位置の計算
も行うことができる。図2に示した実施例に対して選択
的に、まずすべてのワイヤボンディングを製造し、次い
で次のステップですべての固定ボンドを配置してもよ
い。
置及び所属のスペーサ値に関連した、固定ボンドのボー
ル・及びウエッジ位置のための計算規定は、例えば別の
ステップ120で与えられるパラメータから得られる。
このパラメータは、ループを有する一般的な固定ボン
ド、つまり独自のワイヤボンディングのように構成され
た固定ボンドに関するものかどうか、又はドイツ連邦共
和国特許出願第19823623.9号明細書に記載さ
れているような固定ボンドの特別な実施例に関するもの
かどうかを規定する。このドイツ連邦共和国特許出願第
19823623.9号明細書に記載されているような
固定ボンドの場合、計算規定は例えば簡単に、「ワイヤ
ボンディングの想定ボール位置とウエッジ位置とを結合
し、この結合した線を、ウエッジ位置を越えて延長し
て、固定ボンドのボール位置及びウエッジ位置を前記直
線上に固定して、ワイヤボンディングのウエッジ位置に
対して同じ間隔(スペース)を保ち、固定ボンドのボー
ル位置とウエッジ位置との互いの間隔が丁度入力された
スペーサ値に相当するようにする。」ようになってい
る。固定ボンドのボール位置及びウエッジ位置のための
別の計算形式も本発明の枠内で考えられる。例えば、ワ
イヤボンディングのボール位置とウエッジ位置との想定
結合ラインと、固定ボンドのボール位置とウエッジ位置
との想定結合ラインとの間に角度を設けることも考えら
れる。同様に、固定ボンドのボール位置とウエッジ位置
との間のでワイヤボンディングを、前記方法に従って成
形することも、本発明の枠内である。また同様に、ワイ
ヤボンディングの機械的及び/又は電気的な特性をさら
に改良するために若しくは影響を与えるために、各ワイ
ヤボンディング毎に多数の固定ボンドを設けることも、
本発明の考え方に入っている。重要なことは、いずれの
場合でも、エレメント支持体上の接触面4に対して相対
的なエレメント上の接続箇所3の相対位置を考慮するこ
とである。
る。
所、 4 接触面、 5ボール位置、 6 ウエッジ位
置、 7 ワイヤボンディング、 8 ボールボンディ
ング、 9 ウエッジボンディング、 10 第1の終
端位置、 11第2の終端位置、 12 スペーサ値、
100 スタート、 120 入力、入力ステップ、
130 パターン識別、 140 計算、 150
製造、160 問い合わせ、 165 レーン、 17
0 計算、 180 配置、190,200 問い合わ
せ、 195,205 イエス、 210 プログラム
終了
Claims (4)
- 【請求項1】 少なくとも1つの電気的なエレメント
(2)と、接触面(4)を有するエレメント支持体
(1)との間でワイヤボンディング(7)を形成するた
めの方法であって、エレメント(2)上及び接触面
(4)上におけるワイヤボンディング(7)の終端位置
を確定し、その際に、次のステップで、少なくとも1つ
の電気的なエレメント(2)及び接触面(4)の実際の
位置を規定し、それに基づいてボール位置及びウエッジ
位置(5,6)の位置対を計算し、さらに次のステップ
でワイヤボンディングを形成し、少なくとも1つのワイ
ヤボンディングに、ボール位置及びウエッジ位置(1
0,11)を有する固定ボンドを備える方法において、 少なくとも1つのワイヤボンディング(7)の終端位置
に、選択可能な少なくとも1つのスペーサ値(12)を
対応付けして、固定ボンドのボール位置及びウエッジ位
置(10若しくは11)を計算し、次のステップで、計
算されたボール位置及びウエッジ位置に従って、少なく
とも1つのワイヤボンディングに固定ボンドを配置する
ことを特徴とする、ボンディング法。 - 【請求項2】 ワイヤボンディングの終端位置の各対
に、ある対から別の対に変えられる製造パラメータの組
合せを対応付けし、この製造パラメータに従って各ワイ
ヤボンディングを形成する、請求項1記載の方法。 - 【請求項3】 終端位置の多数の対を少なくとも1つの
グループにまとめ、このグループに製造パラメータの組
合せを対応付けする、請求項2記載の方法。 - 【請求項4】 少なくとも1つのワイヤボンディング
(7)のための第1のステップで、ボール・ウエッジ位
置(5,6)の位置対を確定し、第2のステップで各位
置対(5,6)に製造パラメータを対応付けし、次のス
テップで前記位置対にスペーサ値(12)を対応付け
し、さらに次のステップで各スペーサ値(12)に固定
ボンド・製造パラメータを対応付けし、さらに次のステ
ップで、少なくとも1つの電気的なエレメント(2)の
位置及び接触面(4)の位置を認識し、さらに次のステ
ップでボール・ウエッジ位置の実際の座標を計算し、さ
らに次のステップで、スペーサ値が対応付けされてい
る、位置対のボール・ウエッジ位置の実際の座標と、対
応付けされたスペーサ値とから、設けられた固定ボンド
のためのボール位置及びウエッジ位置のための固定ボン
ド・座標を計算し、少なくとも1つのワイヤボンディン
グを実際の座標から形成し、この際に、少なくとも1つ
のワイヤボンディングに、計算された固定ボンド・座標
に従って固定ボンドを備える、請求項2又は3記載のボ
ンディング法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19831550.3 | 1998-07-14 | ||
DE19831550A DE19831550B4 (de) | 1998-07-14 | 1998-07-14 | Bondverfahren |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000049189A true JP2000049189A (ja) | 2000-02-18 |
JP4908663B2 JP4908663B2 (ja) | 2012-04-04 |
Family
ID=7874020
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19898499A Expired - Lifetime JP4908663B2 (ja) | 1998-07-14 | 1999-07-13 | ボンディング法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6134777A (ja) |
JP (1) | JP4908663B2 (ja) |
DE (1) | DE19831550B4 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61280626A (ja) * | 1985-05-08 | 1986-12-11 | Sanyo Electric Co Ltd | ワイヤボンデイング方法 |
JPS6457725A (en) * | 1987-08-28 | 1989-03-06 | Taiyo Yuden Kk | Wire bonding method |
JP2002517092A (ja) * | 1998-05-27 | 2002-06-11 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 電気的な接続部を形成するための方法およびコンタクト部 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3623649A (en) * | 1969-06-09 | 1971-11-30 | Gen Motors Corp | Wedge bonding tool for the attachment of semiconductor leads |
US3641660A (en) * | 1969-06-30 | 1972-02-15 | Texas Instruments Inc | The method of ball bonding with an automatic semiconductor bonding machine |
US3812581A (en) * | 1969-11-24 | 1974-05-28 | Wells Electronics | Method for forming electrical joints between intermediate parts of an elongated conductor and selected conductive elements on an electrical assembly |
US3689983A (en) * | 1970-05-11 | 1972-09-12 | Gen Motors Corp | Method of bonding |
-
1998
- 1998-07-14 DE DE19831550A patent/DE19831550B4/de not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-07-13 JP JP19898499A patent/JP4908663B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1999-07-14 US US09/353,220 patent/US6134777A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61280626A (ja) * | 1985-05-08 | 1986-12-11 | Sanyo Electric Co Ltd | ワイヤボンデイング方法 |
JPS6457725A (en) * | 1987-08-28 | 1989-03-06 | Taiyo Yuden Kk | Wire bonding method |
JP2002517092A (ja) * | 1998-05-27 | 2002-06-11 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 電気的な接続部を形成するための方法およびコンタクト部 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6134777A (en) | 2000-10-24 |
JP4908663B2 (ja) | 2012-04-04 |
DE19831550B4 (de) | 2013-08-14 |
DE19831550A1 (de) | 2000-01-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4466183A (en) | Integrated circuit packaging process | |
JP2810547B2 (ja) | チップカード製造方法およびチップカード | |
EP0478116A1 (en) | Method of centering bond positions | |
JP2003122414A (ja) | スマートカードの製造方法およびシステム | |
CN109530840A (zh) | 一种焊接材料设置方法、焊锡机控制装置和存储介质 | |
JP2000049189A (ja) | ボンディング法 | |
JP2598192B2 (ja) | 半導体製造装置 | |
WO2016194543A1 (ja) | 位置検出センサ及び位置検出センサの製法 | |
US6572001B2 (en) | Bonding system | |
JP3801300B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
US5350106A (en) | Semiconductor wire bonding method | |
US20010007084A1 (en) | Automatic wire bonder and method for implementing thereof | |
US20060097911A1 (en) | Wire positioning and mechanical attachment for a radio-frequency indentification device | |
JPS62194634A (ja) | 半導体チツプのダイボンデイング位置確認方法 | |
US5899375A (en) | Bump bonder with a discard bonding area | |
TW200810051A (en) | Wire-bonding apparatus and wire-bonding method thereof | |
JPS5826664B2 (ja) | 自動ワイヤボンデイング方法 | |
JP2858873B2 (ja) | 基板の識別方法 | |
JPH04262543A (ja) | ダイボンディング装置 | |
JPH07326642A (ja) | ボンディングヘッド構造 | |
JP3119582B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH08153745A (ja) | ボンディング位置設定装置とその設定方法 | |
JP2001118043A (ja) | Idタグの製造方法 | |
JP3395645B2 (ja) | ワイヤボンディング方法 | |
JP2001250845A (ja) | 半導体チップ実装方法及び実装装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060712 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090608 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090611 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090910 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090915 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20091009 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20091015 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20091111 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20091116 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091127 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100108 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100510 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20100519 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20100611 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20101227 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110525 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110530 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110624 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110629 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110725 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110728 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20111017 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111102 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150120 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4908663 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |