JP2000040308A - 光記録媒体の欠陥領域管理方法 - Google Patents
光記録媒体の欠陥領域管理方法Info
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- JP2000040308A JP2000040308A JP11192751A JP19275199A JP2000040308A JP 2000040308 A JP2000040308 A JP 2000040308A JP 11192751 A JP11192751 A JP 11192751A JP 19275199 A JP19275199 A JP 19275199A JP 2000040308 A JP2000040308 A JP 2000040308A
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B2220/00—Record carriers by type
- G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
Abstract
(57)【要約】
【課題】 既存の方式と互換性を維持しながら、フォー
マッティング後、スペア領域の欠陥ブロックがユーザー
領域に含まれて発生していたエラーを防止できるように
した、光記録媒体の欠陥領域を管理する欠陥領域管理方
法を提供する。 【解決手段】 検証なしでＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リス
トに変換する再フォーマッティング時にＳＤＬに登録さ
れていた欠陥ブロックと推測された欠陥ブロックとをＰ
ＤＬに変換するときに、ＳＤＬでスペア領域の欠陥ブロ
ックを推測できる場合には、オーバーフローが発生する
と、スリップによってユーザー領域に含まれることにな
る交替欠陥ブロックの情報を新たなＳＤＬエントリに格
納する。また、検証の過程を経る部分フォーマッティン
グ時にオーバーフローが発生すると、ユーザー領域に含
まれる交替欠陥ブロックの情報と使用するスペア領域の
欠陥ブロックの情報を新たなＳＤＬエントリに格納す
る。
マッティング後、スペア領域の欠陥ブロックがユーザー
領域に含まれて発生していたエラーを防止できるように
した、光記録媒体の欠陥領域を管理する欠陥領域管理方
法を提供する。 【解決手段】 検証なしでＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リス
トに変換する再フォーマッティング時にＳＤＬに登録さ
れていた欠陥ブロックと推測された欠陥ブロックとをＰ
ＤＬに変換するときに、ＳＤＬでスペア領域の欠陥ブロ
ックを推測できる場合には、オーバーフローが発生する
と、スリップによってユーザー領域に含まれることにな
る交替欠陥ブロックの情報を新たなＳＤＬエントリに格
納する。また、検証の過程を経る部分フォーマッティン
グ時にオーバーフローが発生すると、ユーザー領域に含
まれる交替欠陥ブロックの情報と使用するスペア領域の
欠陥ブロックの情報を新たなＳＤＬエントリに格納す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は書換え可能な光記録
媒体に関するもので、特に、欠陥領域を管理できる光記
録媒体の欠陥領域管理方法に関するものである。
媒体に関するもので、特に、欠陥領域を管理できる光記
録媒体の欠陥領域管理方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般的に、繰り返して再記録できるディ
スクとしては、書換え可能コンパクトディスク（Rewrit
able Compact Disc ：ＣＤ−ＲＭ）と書換え可能ディジ
タル多機能ディスク(Rewritable Digital Versatile Di
sc：ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ＋ＲＷ）な
どがある。
スクとしては、書換え可能コンパクトディスク（Rewrit
able Compact Disc ：ＣＤ−ＲＭ）と書換え可能ディジ
タル多機能ディスク(Rewritable Digital Versatile Di
sc：ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ＋ＲＷ）な
どがある。
【０００３】このような書換え可能型光ディスの場合
は、情報の記録／再生作業が繰り返して行われるが、こ
れによって光ディスクに情報記録のために形成された記
録層を構成する混合物の混合比率が、初期の混合比率と
異なるようになり、その特性が悪くなり情報の記録／再
生時に間違いが発生することがある。
は、情報の記録／再生作業が繰り返して行われるが、こ
れによって光ディスクに情報記録のために形成された記
録層を構成する混合物の混合比率が、初期の混合比率と
異なるようになり、その特性が悪くなり情報の記録／再
生時に間違いが発生することがある。
【０００４】このような現象を劣化というが、この劣化
した領域は、光ディスクのフォーマット、記録、再生命
令遂行時に欠陥領域（Defect Area)とされる。また、書
換え可能な型光ディスクの欠陥領域は、劣化現象以外に
も表面のキズ、塵などの微塵、製作時のミスなどによっ
て発生する。したがって、前記のような欠陥領域にデー
タを記録／再生することを防止するためには、その欠陥
領域の管理が必要である。
した領域は、光ディスクのフォーマット、記録、再生命
令遂行時に欠陥領域（Defect Area)とされる。また、書
換え可能な型光ディスクの欠陥領域は、劣化現象以外に
も表面のキズ、塵などの微塵、製作時のミスなどによっ
て発生する。したがって、前記のような欠陥領域にデー
タを記録／再生することを防止するためには、その欠陥
領域の管理が必要である。
【０００５】そのために、図１に示すように、光ディス
ク（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ）のリードーイン領域とリ
ードアウト領域に欠陥管理領域(Defect Management Are
a：以下ＤＭＡ）を備え、光ディスクの欠陥領域を管理
している。また、データ領域はグループ別に分けて管理
するが、各グループは実際のデータが記録されるユーザ
ー領域とユーザー領域に欠陥が発生したときに用いるた
めのスペア領域とに分かれている。
ク（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ）のリードーイン領域とリ
ードアウト領域に欠陥管理領域(Defect Management Are
a：以下ＤＭＡ）を備え、光ディスクの欠陥領域を管理
している。また、データ領域はグループ別に分けて管理
するが、各グループは実際のデータが記録されるユーザ
ー領域とユーザー領域に欠陥が発生したときに用いるた
めのスペア領域とに分かれている。
【０００６】一般的に一つのディスク（例えば、ＤＶＤ
−ＲＡＭ）には、四つのＤＭＡが存在するが、二つのＤ
ＭＡはリードーイン領域に存在し、残り二つのＤＭＡは
リードーアウト領域に存在する。欠陥領域の管理は重要
であるので、データ保護のために四つのＤＭＡに同一の
内容が繰り返して記録されている。ここで、各ＤＭＡは
二つのブロックからなり、全体で３２セクタからなる。
すなわち、一つのブロックは１６セクタからなる。そし
て、各ＤＭＡの第１ブロック（ＤＤＳ／ＰＤＬブロック
という）はＤＤＳ（Disc Definition Structure)とＰＤ
Ｌ(Primary Defect List）とを含み、各ＤＭＡの第２ブ
ロック（ＳＤＬブロックという）はＳＤＬ(Secondary D
efect List)を含む。この際、ＰＤＬは主欠陥（初期欠
陥）データ格納部を意味し、ＳＤＬは２次欠陥データ格
納部を意味する。
−ＲＡＭ）には、四つのＤＭＡが存在するが、二つのＤ
ＭＡはリードーイン領域に存在し、残り二つのＤＭＡは
リードーアウト領域に存在する。欠陥領域の管理は重要
であるので、データ保護のために四つのＤＭＡに同一の
内容が繰り返して記録されている。ここで、各ＤＭＡは
二つのブロックからなり、全体で３２セクタからなる。
すなわち、一つのブロックは１６セクタからなる。そし
て、各ＤＭＡの第１ブロック（ＤＤＳ／ＰＤＬブロック
という）はＤＤＳ（Disc Definition Structure)とＰＤ
Ｌ(Primary Defect List）とを含み、各ＤＭＡの第２ブ
ロック（ＳＤＬブロックという）はＳＤＬ(Secondary D
efect List)を含む。この際、ＰＤＬは主欠陥（初期欠
陥）データ格納部を意味し、ＳＤＬは２次欠陥データ格
納部を意味する。
【０００７】一般的に、ＰＤＬはディスク製作過程で生
じた欠陥、そして、ディスクをフォーマット、すなわ
ち、最初のフォーマッティングと再フォーマッティング
時に確認されるすべての欠陥セクタのエントリを格納す
る。ここで、各エントリは図２ａに示すように、エント
リタイプと欠陥セクタに対応するセクタ番号とで構成さ
れている。セクタ番号は上がり順番でリストされる。そ
して、エントリタイプは欠陥セクタの発生原因ごとにリ
スとされるが、一例としてはＰ−リスト、Ｇ１−リス
ト、Ｇ２−リストに分類される。すなわち、ディスク製
造業者で生じた欠陥セクタ、例えば、ディスク製作過程
で生じた欠陥セクタはＰ−リストに格納し、ディスクの
フォーマット時、検証過程（Certification process)の
間に発見された欠陥セクタはＧ１−リストに格納し、検
証せずにＳＤＬから変換された欠陥セクタはＧ２−リス
トに格納する。
じた欠陥、そして、ディスクをフォーマット、すなわ
ち、最初のフォーマッティングと再フォーマッティング
時に確認されるすべての欠陥セクタのエントリを格納す
る。ここで、各エントリは図２ａに示すように、エント
リタイプと欠陥セクタに対応するセクタ番号とで構成さ
れている。セクタ番号は上がり順番でリストされる。そ
して、エントリタイプは欠陥セクタの発生原因ごとにリ
スとされるが、一例としてはＰ−リスト、Ｇ１−リス
ト、Ｇ２−リストに分類される。すなわち、ディスク製
造業者で生じた欠陥セクタ、例えば、ディスク製作過程
で生じた欠陥セクタはＰ−リストに格納し、ディスクの
フォーマット時、検証過程（Certification process)の
間に発見された欠陥セクタはＧ１−リストに格納し、検
証せずにＳＤＬから変換された欠陥セクタはＧ２−リス
トに格納する。
【０００８】一方、ＳＤＬはブロック単位でリストさ
れ、フォーマットの後に発生する欠陥領域やフォーマッ
トの間にＰＤＬに格納できなかった欠陥領域のエントリ
を格納する。各ＳＤＬエントリは、図２ｂに示すよう
に、欠陥セクタが発生したブロックの第１セクタのセク
タ番号と、それと交替する交替ブロックの第１セクタの
セクタ番号とを格納する。また、ＦＲＭのための１ビッ
トが割り当てられている。その値が０であれば、交替ブ
ロックが割り当てられ欠陥のないことを意味し、１であ
れば、交替ブロックが割り当てられていないかまたは割
り当ての交替ブロックに欠陥があることを意味する。
れ、フォーマットの後に発生する欠陥領域やフォーマッ
トの間にＰＤＬに格納できなかった欠陥領域のエントリ
を格納する。各ＳＤＬエントリは、図２ｂに示すよう
に、欠陥セクタが発生したブロックの第１セクタのセク
タ番号と、それと交替する交替ブロックの第１セクタの
セクタ番号とを格納する。また、ＦＲＭのための１ビッ
トが割り当てられている。その値が０であれば、交替ブ
ロックが割り当てられ欠陥のないことを意味し、１であ
れば、交替ブロックが割り当てられていないかまたは割
り当ての交替ブロックに欠陥があることを意味する。
【０００９】ディスクを初期化する方法としては、初期
フォーマッティングと再フォーマッティングとで分かれ
るが、一例で、再フォーマッティングはまた初期フォー
マッティングのような全体のフォーマッティングと、部
分的に初期化を行う部分フォーマッティングと、フォー
マット時間の短縮のために、検証なしでＳＤＬをＰＤＬ
のＧ２−リストに移すフォーマッティング（ conversio
n ofＳＤＬ to Ｇ２-リスト）が知られている。Ｐ−リ
ストはどのようなフォーマッティング後にも変化せず、
ＳＤＬの欠陥ブロックはＧ２−リストに欠陥セクタとし
て格納される。したがって、検証されていないのでＧ２
リストには正常セクタも含まれ得る。
フォーマッティングと再フォーマッティングとで分かれ
るが、一例で、再フォーマッティングはまた初期フォー
マッティングのような全体のフォーマッティングと、部
分的に初期化を行う部分フォーマッティングと、フォー
マット時間の短縮のために、検証なしでＳＤＬをＰＤＬ
のＧ２−リストに移すフォーマッティング（ conversio
n ofＳＤＬ to Ｇ２-リスト）が知られている。Ｐ−リ
ストはどのようなフォーマッティング後にも変化せず、
ＳＤＬの欠陥ブロックはＧ２−リストに欠陥セクタとし
て格納される。したがって、検証されていないのでＧ２
リストには正常セクタも含まれ得る。
【００１０】また、部分フォーマッティングは一例で、
図３ａに示すように、フォーマット前のＰ−リストとＧ
１-リストのセクタはフォーマット後にもそのままＰ−
リストとＧ１−リストに残るが、フォーマット前の旧Ｇ
２−リストと旧ＳＤＬにリストされた欠陥ブロックは検
証の過程を経る。そして、Ｇ２−リストとＳＤＬ内のエ
ントリをすべて消した後、検証過程で発見された欠陥セ
クタをＧ１−リストに登録する。これは、Ｇ２−リスト
やＳＤＬにある欠陥ブロックには、欠陥のないセクタも
含まれているからである。
図３ａに示すように、フォーマット前のＰ−リストとＧ
１-リストのセクタはフォーマット後にもそのままＰ−
リストとＧ１−リストに残るが、フォーマット前の旧Ｇ
２−リストと旧ＳＤＬにリストされた欠陥ブロックは検
証の過程を経る。そして、Ｇ２−リストとＳＤＬ内のエ
ントリをすべて消した後、検証過程で発見された欠陥セ
クタをＧ１−リストに登録する。これは、Ｇ２−リスト
やＳＤＬにある欠陥ブロックには、欠陥のないセクタも
含まれているからである。
【００１１】この際、Ｇ１−リストにオーバーフローが
発生すると、入りきれなかった残りはまた新たなＳＤＬ
にリストされ、Ｇ２−リストにはナルデータが挿入され
る。オーバーフローが発生するのは、ＤＭＡでは、ＰＤ
Ｌが１５セクタで構成されるので、ＰＤＬに登録され得
るエントリの数が限られているからである。
発生すると、入りきれなかった残りはまた新たなＳＤＬ
にリストされ、Ｇ２−リストにはナルデータが挿入され
る。オーバーフローが発生するのは、ＤＭＡでは、ＰＤ
Ｌが１５セクタで構成されるので、ＰＤＬに登録され得
るエントリの数が限られているからである。
【００１２】また、検証せずにＳＤＬをＧ２−リストに
変換するフォーマットは、図３ｂに示すように、フォー
マット前のＰ−リストとＧ１−リスト、Ｇ２−リスト内
のセクタはフォーマット後にもそのままＰ１−リストと
Ｇ１−リスト、Ｇ２−リストに維持される。一方、ＳＤ
Ｌエントリは１６ＰＤＬエントリに変換した後、Ｇ２−
リストに登録する。このとき、Ｇ２−リストにオーバー
フローが発生すると、Ｇ２−リストに登録されなかった
ＳＤＬの残りのエントリは新たなＳＤＬに残る。
変換するフォーマットは、図３ｂに示すように、フォー
マット前のＰ−リストとＧ１−リスト、Ｇ２−リスト内
のセクタはフォーマット後にもそのままＰ１−リストと
Ｇ１−リスト、Ｇ２−リストに維持される。一方、ＳＤ
Ｌエントリは１６ＰＤＬエントリに変換した後、Ｇ２−
リストに登録する。このとき、Ｇ２−リストにオーバー
フローが発生すると、Ｇ２−リストに登録されなかった
ＳＤＬの残りのエントリは新たなＳＤＬに残る。
【００１３】一方、データ領域内の欠陥領域（すなわ
ち、欠陥セクタまたは欠陥ブロック）は正常な領域に交
替されるが、交替方法としては、スリップ交替とリニア
交替がある。スリップ交替方法は、欠陥領域がＰＤＬに
登録されている場合に適用される方法で、図４ａに示し
たように、実際のデータが記録されるユーザー領域に欠
陥セクタが存在すると、その欠陥セクタを飛ばし、その
欠陥セクタの次の正常なセクタにデータを記録する。従
って、データが記録されるユーザー領域は、飛ばした欠
陥セクタだけスペア領域に入り込む。たとえば、ＰＤＬ
のＰ−リストやＧ１−リストに二つの欠陥セクタが記録
されてあれば、データはスペア領域へ２セクタだけ押し
込まれて記録される。
ち、欠陥セクタまたは欠陥ブロック）は正常な領域に交
替されるが、交替方法としては、スリップ交替とリニア
交替がある。スリップ交替方法は、欠陥領域がＰＤＬに
登録されている場合に適用される方法で、図４ａに示し
たように、実際のデータが記録されるユーザー領域に欠
陥セクタが存在すると、その欠陥セクタを飛ばし、その
欠陥セクタの次の正常なセクタにデータを記録する。従
って、データが記録されるユーザー領域は、飛ばした欠
陥セクタだけスペア領域に入り込む。たとえば、ＰＤＬ
のＰ−リストやＧ１−リストに二つの欠陥セクタが記録
されてあれば、データはスペア領域へ２セクタだけ押し
込まれて記録される。
【００１４】リニア交替方法は、欠陥領域がＳＤＬに登
録されている場合に適用される方法で、図４ｂに示すよ
うに、ユーザー領域に欠陥ブロックが存在すると、スペ
ア領域に割り当てられたブロック単位の交替領域に交替
されデータを記録する。もし、ＳＤＬに記録された交替
ブロックが後で欠陥と判断されると、ダイレクトポイン
タ方法（Direct pointer method)がＳＤＬ登録に適用さ
れる。すなわち、ダイレクトポイント方法により欠陥交
替ブロックは新たな交替ブロックに変わり、欠陥交替ブ
ロックが登録されたＳＤＬエントリは新しく変わった交
替ブロックの第１セクタのセクタ番号に修正される。
録されている場合に適用される方法で、図４ｂに示すよ
うに、ユーザー領域に欠陥ブロックが存在すると、スペ
ア領域に割り当てられたブロック単位の交替領域に交替
されデータを記録する。もし、ＳＤＬに記録された交替
ブロックが後で欠陥と判断されると、ダイレクトポイン
タ方法（Direct pointer method)がＳＤＬ登録に適用さ
れる。すなわち、ダイレクトポイント方法により欠陥交
替ブロックは新たな交替ブロックに変わり、欠陥交替ブ
ロックが登録されたＳＤＬエントリは新しく変わった交
替ブロックの第１セクタのセクタ番号に修正される。
【００１５】図５、６はこのような過程を示した光ディ
スクの構造であって、図５ａはディスク上に現れられる
欠陥領域および管理状態を示しており、図５ｂないし図
６ｉは図５ａに表れた各状態説明のために示されてい
る。すなわち、図５ｂは図５ａのディスクがブロック
（＝１６セクタ）単位でモデリングされていることを意
味し、図５ｃは欠陥が発生した１セクタがＰＤＬのＰ−
リストまたはＧ１−リストに記録されていることを意味
する。図５ｄは欠陥が発生した１ブロックの１６セクタ
すべてがＰＤＬのＧ２−リストに記録されたのを意味す
る。図５ｅは欠陥のあるセクタが発見され、そのブロッ
クがＳＤＬに記録されたていることことを意味する。こ
こで、（１，ｓｂｌｋＡ，０）は、図２ｂのようなＳＤ
Ｌエントリを表すが、ＦＲＭ、欠陥ブロックの第１セク
タのセクタ番号、交替ブロックの第１セクタのセクタ番
号を順次に表している。
スクの構造であって、図５ａはディスク上に現れられる
欠陥領域および管理状態を示しており、図５ｂないし図
６ｉは図５ａに表れた各状態説明のために示されてい
る。すなわち、図５ｂは図５ａのディスクがブロック
（＝１６セクタ）単位でモデリングされていることを意
味し、図５ｃは欠陥が発生した１セクタがＰＤＬのＰ−
リストまたはＧ１−リストに記録されていることを意味
する。図５ｄは欠陥が発生した１ブロックの１６セクタ
すべてがＰＤＬのＧ２−リストに記録されたのを意味す
る。図５ｅは欠陥のあるセクタが発見され、そのブロッ
クがＳＤＬに記録されたていることことを意味する。こ
こで、（１，ｓｂｌｋＡ，０）は、図２ｂのようなＳＤ
Ｌエントリを表すが、ＦＲＭ、欠陥ブロックの第１セク
タのセクタ番号、交替ブロックの第１セクタのセクタ番
号を順次に表している。
【００１６】図６ｆは、欠陥が発生したデータ領域の１
ブロックをスペア領域の他のブロックに交替し、これを
ＳＤＬエントリに記録した状態を表す。例えば、（０，
ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ）は欠陥のない交替ブロックが
割り当てられており、ユーザ領域の欠陥ブロック（ｓｂ
ｌｋＢ）に記録されるデータがスペア領域の交替ブロッ
ク（ｓｂｌｋＤ）に交替され記録されることを意味す
る。
ブロックをスペア領域の他のブロックに交替し、これを
ＳＤＬエントリに記録した状態を表す。例えば、（０，
ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ）は欠陥のない交替ブロックが
割り当てられており、ユーザ領域の欠陥ブロック（ｓｂ
ｌｋＢ）に記録されるデータがスペア領域の交替ブロッ
ク（ｓｂｌｋＤ）に交替され記録されることを意味す
る。
【００１７】図６ｇはユーザー領域の欠陥ブロック（ｓ
ｂｌｋＡ）を交替したスペア領域の交替ブロック（ｓｂ
ｌｋＣ）に欠陥が発見されたときのＳＤＬエントリを示
す。従って、このときには、ダイレクトポインタ方法を
使用してスペア領域の欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）
を新たな交替ブロック（ｓｂｌｋＥ）に変えて新たな交
替ブロック（ｓｂｌｋＥ）に対する情報でＳＤＬエント
リを修正する。図５ｈはこの過程を表している。そのと
き、スペア領域で発見された欠陥ブロックの（ｓｂｌｋ
Ｃ）に対する情報は保管せずに捨てる。すなわち、ＳＤ
Ｌに残っている情報は（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＥ）
と（０，ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ）になる。
ｂｌｋＡ）を交替したスペア領域の交替ブロック（ｓｂ
ｌｋＣ）に欠陥が発見されたときのＳＤＬエントリを示
す。従って、このときには、ダイレクトポインタ方法を
使用してスペア領域の欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）
を新たな交替ブロック（ｓｂｌｋＥ）に変えて新たな交
替ブロック（ｓｂｌｋＥ）に対する情報でＳＤＬエント
リを修正する。図５ｈはこの過程を表している。そのと
き、スペア領域で発見された欠陥ブロックの（ｓｂｌｋ
Ｃ）に対する情報は保管せずに捨てる。すなわち、ＳＤ
Ｌに残っている情報は（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＥ）
と（０，ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ）になる。
【００１８】また、ディスクの論理セクタの数は決めら
れているため、これを考慮してディスクを再フォーマッ
ティングするとき、特に、部分フォーマッティングまた
はＳＤＬをＧ２−リストへ移すフォーマッティング過程
においてスリップによってスペア領域がユーザー領域に
割り当てられ得る。例えば、５ａのように、データが記
録されたディスクにＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リストに変
える再フォーマッティングを行うとき、スペア領域の欠
陥ブロックに対する情報がないので、スペア領域の欠陥
ブロックと関係なく決められた論理セクタの数のみを考
慮してユーザー領域の欠陥領域、たとえばＰＤＬに新た
に登録されるユーザー領域の欠陥セクタや欠陥ブロック
だけスペア領域にスリップされてユーザー領域が図６ｉ
のように割り当てられる。すなわち、スペア領域のブロ
ック（ｓｂｌｋＣ）が欠陥ブロックであるにもかかわら
ず、ＳＤＬエントリに情報がないため、ユーザー領域の
正常ブロックに含まれる。
れているため、これを考慮してディスクを再フォーマッ
ティングするとき、特に、部分フォーマッティングまた
はＳＤＬをＧ２−リストへ移すフォーマッティング過程
においてスリップによってスペア領域がユーザー領域に
割り当てられ得る。例えば、５ａのように、データが記
録されたディスクにＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リストに変
える再フォーマッティングを行うとき、スペア領域の欠
陥ブロックに対する情報がないので、スペア領域の欠陥
ブロックと関係なく決められた論理セクタの数のみを考
慮してユーザー領域の欠陥領域、たとえばＰＤＬに新た
に登録されるユーザー領域の欠陥セクタや欠陥ブロック
だけスペア領域にスリップされてユーザー領域が図６ｉ
のように割り当てられる。すなわち、スペア領域のブロ
ック（ｓｂｌｋＣ）が欠陥ブロックであるにもかかわら
ず、ＳＤＬエントリに情報がないため、ユーザー領域の
正常ブロックに含まれる。
【００１９】一方、Ａ／Ｖ用のように実時間記録が必要
な場合に対する欠陥領域管理方法が最近提案されてい
る。そのうちの一つがＳＤＬを使用するとき、リニア交
替方法を使用しないで、スリップ交替方法と類似なスキ
ッピング方式を使用することがある。すなわち、ＳＤＬ
使用時に入力されるデータが実時間記録を必要としない
場合には、図７ａのようにリニア交替方法を使用し、実
時間記録を必要とする場合には、図７ｃのようにスキッ
ピング方法を使用する。
な場合に対する欠陥領域管理方法が最近提案されてい
る。そのうちの一つがＳＤＬを使用するとき、リニア交
替方法を使用しないで、スリップ交替方法と類似なスキ
ッピング方式を使用することがある。すなわち、ＳＤＬ
使用時に入力されるデータが実時間記録を必要としない
場合には、図７ａのようにリニア交替方法を使用し、実
時間記録を必要とする場合には、図７ｃのようにスキッ
ピング方法を使用する。
【００２０】このとき、図７ａのようにユーザー領域の
ブロック（ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＢ）が欠陥ブロックで
あり、その欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＢ）の
交替ブロックであったスペア領域のブロック（ｓｂｌｋ
Ｃ、ｓｂｌｋＥ）が欠陥ブロックであって、ユーザ領域
のブロック（ｓｂｌｋＡ）がスペア領域のブロック（ｓ
ｂｌｋＦ）にさらに交替され、ユーザー領域の（ｓｂｌ
ｋＢ）がスペア領域のブロック（ｓｂｌｋＤ）にさらに
交替されたと仮定すると、残りのＳＤＬは図７ｂのよう
に（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＦ）と（０，ｓｂｌｋ
Ｂ、ｓｂｌｋＤ）になる。すなわち、スペア領域で発見
された欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）の
情報は保管せずに無くしてしまう。
ブロック（ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＢ）が欠陥ブロックで
あり、その欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＢ）の
交替ブロックであったスペア領域のブロック（ｓｂｌｋ
Ｃ、ｓｂｌｋＥ）が欠陥ブロックであって、ユーザ領域
のブロック（ｓｂｌｋＡ）がスペア領域のブロック（ｓ
ｂｌｋＦ）にさらに交替され、ユーザー領域の（ｓｂｌ
ｋＢ）がスペア領域のブロック（ｓｂｌｋＤ）にさらに
交替されたと仮定すると、残りのＳＤＬは図７ｂのよう
に（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＦ）と（０，ｓｂｌｋ
Ｂ、ｓｂｌｋＤ）になる。すなわち、スペア領域で発見
された欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）の
情報は保管せずに無くしてしまう。
【００２１】そして、７ａのようなディスク状態で、再
フォーマッティングせずに実時間記録のため図７ｃのよ
うにスキッピング方式でデータを再記録すれば、スペア
領域の交替ブロックに対する情報（例えば、ｓｂｌｋ
Ｄ、ｓｂｌｋＦ）はＳＤＬエントリで必要なくなる。ま
た、スキッピング方式で記録されたデータを再生する場
合にはスキッピング方式でしなければならない。この際
にもＳＤＬエントリにスペア領域の交替ブロックに対す
る情報が残るようになれば、リニア交替方法のような方
式でデータが再生されて間違った再生が行われるので、
スペア領域の交替ブロックに対する情報はＳＤＬエント
リから無くなるべきである。
フォーマッティングせずに実時間記録のため図７ｃのよ
うにスキッピング方式でデータを再記録すれば、スペア
領域の交替ブロックに対する情報（例えば、ｓｂｌｋ
Ｄ、ｓｂｌｋＦ）はＳＤＬエントリで必要なくなる。ま
た、スキッピング方式で記録されたデータを再生する場
合にはスキッピング方式でしなければならない。この際
にもＳＤＬエントリにスペア領域の交替ブロックに対す
る情報が残るようになれば、リニア交替方法のような方
式でデータが再生されて間違った再生が行われるので、
スペア領域の交替ブロックに対する情報はＳＤＬエント
リから無くなるべきである。
【００２２】従って、図７ｃのようにデータが記録され
たディスクにＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リストに変えるフ
ォーマッティングを行うと、スペア領域に対する情報が
ないため、スペア領域の欠陥ブロックとは関係なく、ユ
ーザー領域の欠陥ブロックだけスペア領域にスリップさ
れてユーザー領域が図７ｄのように割り当てられる。同
様に、スペア領域のブロック（ｓｂｌｋＣ）が欠陥ブロ
ックであるにもかかわらず、ＳＤＬエントリに情報がな
いため、ユーザー領域の正常ブロックに含まれる。
たディスクにＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リストに変えるフ
ォーマッティングを行うと、スペア領域に対する情報が
ないため、スペア領域の欠陥ブロックとは関係なく、ユ
ーザー領域の欠陥ブロックだけスペア領域にスリップさ
れてユーザー領域が図７ｄのように割り当てられる。同
様に、スペア領域のブロック（ｓｂｌｋＣ）が欠陥ブロ
ックであるにもかかわらず、ＳＤＬエントリに情報がな
いため、ユーザー領域の正常ブロックに含まれる。
【００２３】従って、前記のように再フォーマッティン
グされたディスクにスキッピングまたはリニア交替でデ
ータを検証しないで記録すれば、欠陥ブロック（ｓｂｌ
ｋＣ）がユーザー領域の正常的なブロックに拡張されて
いるので、一応データが記録される。ここで、検証せず
にデータのみを記録する場合には、記録時にＳＤＬが作
られなく、記録後のデータ再生時にＳＤＬが作られる。
これは、データ再生時にエラーが発生する。すなわち、
既にデータが記録されたブロック（ｓｂｌｋＣ）が欠陥
ブロックであるので、データの再生時、このブロック
（ｓｂｌｋＣ）でデータがリードされない確率は非常に
大きく、もし、データがリードされなければ、そのブロ
ックに記録されたデータを無くしてしまうことになる。
特に、その欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）にファイルシス
テム情報のような重要な情報が記録されておれば、この
情報を無くしてしまい、使用者に致命的であり得る。
グされたディスクにスキッピングまたはリニア交替でデ
ータを検証しないで記録すれば、欠陥ブロック（ｓｂｌ
ｋＣ）がユーザー領域の正常的なブロックに拡張されて
いるので、一応データが記録される。ここで、検証せず
にデータのみを記録する場合には、記録時にＳＤＬが作
られなく、記録後のデータ再生時にＳＤＬが作られる。
これは、データ再生時にエラーが発生する。すなわち、
既にデータが記録されたブロック（ｓｂｌｋＣ）が欠陥
ブロックであるので、データの再生時、このブロック
（ｓｂｌｋＣ）でデータがリードされない確率は非常に
大きく、もし、データがリードされなければ、そのブロ
ックに記録されたデータを無くしてしまうことになる。
特に、その欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）にファイルシス
テム情報のような重要な情報が記録されておれば、この
情報を無くしてしまい、使用者に致命的であり得る。
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前記のような
問題を解決するためのもので、本発明の目的は次のよう
である。 （１）スペア領域で発見される欠陥ブロックの情報をＤ
ＭＡに格納して、再フォーマット後に発生するエラーを
防止する光記録媒体の欠陥領域管理方法を提供する。 （２）再フォーマッティング時にユーザ領域に含まれた
交替欠陥ブロックの情報をＤＭＡに登録させ、再フォー
マット後に発生するエラーを防止する光記録媒体の欠陥
領域管理方法を提供する。 （３）スペア領域で発見される欠陥ブロックの情報を再
フォーマット前にＳＤＬエントリにすべて登録させ、再
フォーマット後に発生するエラーを防止する光記録媒体
の欠陥領域管理方法を提供する。
問題を解決するためのもので、本発明の目的は次のよう
である。 （１）スペア領域で発見される欠陥ブロックの情報をＤ
ＭＡに格納して、再フォーマット後に発生するエラーを
防止する光記録媒体の欠陥領域管理方法を提供する。 （２）再フォーマッティング時にユーザ領域に含まれた
交替欠陥ブロックの情報をＤＭＡに登録させ、再フォー
マット後に発生するエラーを防止する光記録媒体の欠陥
領域管理方法を提供する。 （３）スペア領域で発見される欠陥ブロックの情報を再
フォーマット前にＳＤＬエントリにすべて登録させ、再
フォーマット後に発生するエラーを防止する光記録媒体
の欠陥領域管理方法を提供する。
【００２５】
【課題を解決するための手段】上記のような目的を達成
するための本発明による光記録媒体の欠陥領域管理方法
は、フォーマッティング時、ユーザー領域の欠陥ブロッ
クの情報やスリップによる拡張によりユーザー領域に含
まれることになる交替欠陥ブロックの情報を欠陥管理領
域（ＤＭＡ）に格納することを特徴とする。
するための本発明による光記録媒体の欠陥領域管理方法
は、フォーマッティング時、ユーザー領域の欠陥ブロッ
クの情報やスリップによる拡張によりユーザー領域に含
まれることになる交替欠陥ブロックの情報を欠陥管理領
域（ＤＭＡ）に格納することを特徴とする。
【００２６】ＤＭＡにオーバーフローが発生しないと、
スリップによる拡張により、ユーザー領域に含まれる交
替欠陥ブロックの情報はすべてＰＤＬに格納することが
望ましい。ＤＭＡにオーバーフローが発生すると、スリ
ップによる拡張により、ユーザー領域に含まれる交替欠
陥ブロックの情報のうち、ＰＤＬに格納されてない情報
はＳＤＬに格納することが望ましい。
スリップによる拡張により、ユーザー領域に含まれる交
替欠陥ブロックの情報はすべてＰＤＬに格納することが
望ましい。ＤＭＡにオーバーフローが発生すると、スリ
ップによる拡張により、ユーザー領域に含まれる交替欠
陥ブロックの情報のうち、ＰＤＬに格納されてない情報
はＳＤＬに格納することが望ましい。
【００２７】ユーザー領域の欠陥ブロックの情報はＳＤ
Ｌに登録され、交替欠陥ブロックの情報は前記ＳＤＬに
登録された交替ブロックから推測が可能であることが望
ましい。
Ｌに登録され、交替欠陥ブロックの情報は前記ＳＤＬに
登録された交替ブロックから推測が可能であることが望
ましい。
【００２８】ユーザー領域内の欠陥ブロックの情報をＤ
ＭＡ内のＰＤＬに変換した後、交替領域内の欠陥ブロッ
クの情報を前記ＰＤＬに変換することが望ましい。交替
領域内の欠陥ブロックの情報をまず、ＤＭＡ内のＰＤＬ
に変換した後、 ユーザ領域内の欠陥ブロックの情報を前
記ＰＤＬに変換することが望ましい。ユーザー領域内の
欠陥ブロックの情報と交替領域内の欠陥ブロックの情報
とを交互にＤＭＡ内のＰＤＬに変換することが望まし
い。
ＭＡ内のＰＤＬに変換した後、交替領域内の欠陥ブロッ
クの情報を前記ＰＤＬに変換することが望ましい。交替
領域内の欠陥ブロックの情報をまず、ＤＭＡ内のＰＤＬ
に変換した後、 ユーザ領域内の欠陥ブロックの情報を前
記ＰＤＬに変換することが望ましい。ユーザー領域内の
欠陥ブロックの情報と交替領域内の欠陥ブロックの情報
とを交互にＤＭＡ内のＰＤＬに変換することが望まし
い。
【００２９】オーバーフローはフォーマッティング時、
ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックだけで
はなく、交替領域の推測された欠陥ブロックに対する情
報をすべてＰＤＬに格納できない場合に発生するもので
ある。
ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックだけで
はなく、交替領域の推測された欠陥ブロックに対する情
報をすべてＰＤＬに格納できない場合に発生するもので
ある。
【００３０】検証なしでＳＤＬの欠陥ブロックをＰＤＬ
に変換するフォーマッティング時、ＰＤＬにオーバーフ
ローが発生すると、交替領域に存在する欠陥ブロックの
情報は格納しないことが望ましい。検証によりＳＤＬの
欠陥ブロックをＰＤＬに変換するフォーマッティング
時、ＰＤＬにオーバーフローが発生すると、スリップに
よって新たにブロック境界が指定された交替領域のう
ち、未使用交替領域に含まれた欠陥ブロックの位置情報
を新たなＳＤＬに格納することが望ましい。
に変換するフォーマッティング時、ＰＤＬにオーバーフ
ローが発生すると、交替領域に存在する欠陥ブロックの
情報は格納しないことが望ましい。検証によりＳＤＬの
欠陥ブロックをＰＤＬに変換するフォーマッティング
時、ＰＤＬにオーバーフローが発生すると、スリップに
よって新たにブロック境界が指定された交替領域のう
ち、未使用交替領域に含まれた欠陥ブロックの位置情報
を新たなＳＤＬに格納することが望ましい。
【００３１】ＰＤＬにオーバーフローが発生すると、ス
リップによって新たにブロック境界が指定された交替領
域のうち、新たなＳＤＬに登録された交替領域に含まれ
た欠陥ブロックの位置情報は格納しないことが望まし
い。
リップによって新たにブロック境界が指定された交替領
域のうち、新たなＳＤＬに登録された交替領域に含まれ
た欠陥ブロックの位置情報は格納しないことが望まし
い。
【００３２】検証によるフォーマッティング時、交替領
域は欠陥のあるブロックに対してのみ検証することが望
ましい。
域は欠陥のあるブロックに対してのみ検証することが望
ましい。
【００３３】データ記録時に交替されたブロックの欠陥
の可否を確認して、交替ブロックに欠陥が発生するとき
は、その交替ブロックの情報をＳＤＬに格納し、フォー
マッティング時にＰＤＬに変換することが望ましい。
の可否を確認して、交替ブロックに欠陥が発生するとき
は、その交替ブロックの情報をＳＤＬに格納し、フォー
マッティング時にＰＤＬに変換することが望ましい。
【００３４】データの記録時、欠陥の発生した交替ブロ
ックの情報のみをＳＤＬに格納し、新たに交替させるブ
ロックの情報は格納しないことが望ましい。
ックの情報のみをＳＤＬに格納し、新たに交替させるブ
ロックの情報は格納しないことが望ましい。
【００３５】本発明による光記録媒体の欠陥領域管理方
法は、フォーマッティング時にＳＤＬに登録された欠陥
ブロックの情報をＰＤＬに格納するステップと、ＳＤＬ
に登録された交替ブロックから推測された交替領域の欠
陥ブロックの情報のうち、スリップによる拡張でユーザ
ー領域に含まれる交替欠陥ブロックの情報をＰＤＬに格
納するステップとを含むことを特徴とする。
法は、フォーマッティング時にＳＤＬに登録された欠陥
ブロックの情報をＰＤＬに格納するステップと、ＳＤＬ
に登録された交替ブロックから推測された交替領域の欠
陥ブロックの情報のうち、スリップによる拡張でユーザ
ー領域に含まれる交替欠陥ブロックの情報をＰＤＬに格
納するステップとを含むことを特徴とする。
【００３６】ＰＤＬにオーバーフローが発生すると、ス
リップによる拡張でユーザー領域に含まれる交替欠陥ブ
ロックの情報のうち、ＰＤＬに登録されてない欠陥ブロ
ックの情報は、新たなＳＤＬに格納することが望まし
い。
リップによる拡張でユーザー領域に含まれる交替欠陥ブ
ロックの情報のうち、ＰＤＬに登録されてない欠陥ブロ
ックの情報は、新たなＳＤＬに格納することが望まし
い。
【００３７】本発明による光記録媒体の欠陥領域管理方
法は、交替ブロックの欠陥の可否を確認するステップ
と、交替ブロックに欠陥が発生するときは、欠陥情報を
ＳＤＬに格納するステップと、フォーマッティング時に
ＳＤＬに格納された欠陥ブロックの情報をＰＤＬに格納
するステップとからなることを特徴とする。
法は、交替ブロックの欠陥の可否を確認するステップ
と、交替ブロックに欠陥が発生するときは、欠陥情報を
ＳＤＬに格納するステップと、フォーマッティング時に
ＳＤＬに格納された欠陥ブロックの情報をＰＤＬに格納
するステップとからなることを特徴とする。
【００３８】フォーマッティングステップでオーバーフ
ローが発生すると、ＰＤＬに変換されてない欠陥ブロッ
クの情報は新たなＳＤＬに格納することが望ましい。
ローが発生すると、ＰＤＬに変換されてない欠陥ブロッ
クの情報は新たなＳＤＬに格納することが望ましい。
【００３９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施形態
を添付の図面に基づいて詳細に説明する。本発明の目的
はスペア領域で発見される欠陥ブロックの情報をＤＭＡ
に格納することにあり、そのＤＭＡに格納する過程を第
１ないし第３実施形態それぞれについて説明する。
を添付の図面に基づいて詳細に説明する。本発明の目的
はスペア領域で発見される欠陥ブロックの情報をＤＭＡ
に格納することにあり、そのＤＭＡに格納する過程を第
１ないし第３実施形態それぞれについて説明する。
【００４０】（第１実施形態）リニア交替アルゴリズム
によるデータの記録時、欠陥ブロックが発見されると、
ＳＤＬにスペア領域が順次登録される。ＳＬＤに登録さ
れた最後の交替ブロックの前にＳＤＬに登録されていな
いブロックがあれば、これを欠陥ブロックと推測する。
によるデータの記録時、欠陥ブロックが発見されると、
ＳＤＬにスペア領域が順次登録される。ＳＬＤに登録さ
れた最後の交替ブロックの前にＳＤＬに登録されていな
いブロックがあれば、これを欠陥ブロックと推測する。
【００４１】従って、本発明の第１実施形態は、ＳＤＬ
をＧ２−リストに変換する再フォーマッティング時、旧
ＳＤＬに登録されていたユーザー領域の欠陥ブロックだ
けではなく、スペア領域の推測された欠陥ブロックもＰ
ＤＬのＧ２−リストに変換する。その際、ＰＤＬのＧ２
−リストにオーバーフローが発生すると、ユーザー領域
に含まれる交替欠陥ブロックに対する情報のみを新たな
ＳＤＬエントリに登録させる。すなわち、再フォーマッ
ティングの後、ユーザー領域に含まれないスペア領域の
欠陥ブロックは新たなＳＤＬエントリにより推測できる
ので格納しない。ここで、オーバーフローとは、ＳＤＬ
に登録されたユーザー領域のエントリだけではなく、Ｓ
ＤＬを用いて推測できるスペア領域の欠陥ブロックに対
するエントリまでＰＤＬに変換できない場合を言う。
をＧ２−リストに変換する再フォーマッティング時、旧
ＳＤＬに登録されていたユーザー領域の欠陥ブロックだ
けではなく、スペア領域の推測された欠陥ブロックもＰ
ＤＬのＧ２−リストに変換する。その際、ＰＤＬのＧ２
−リストにオーバーフローが発生すると、ユーザー領域
に含まれる交替欠陥ブロックに対する情報のみを新たな
ＳＤＬエントリに登録させる。すなわち、再フォーマッ
ティングの後、ユーザー領域に含まれないスペア領域の
欠陥ブロックは新たなＳＤＬエントリにより推測できる
ので格納しない。ここで、オーバーフローとは、ＳＤＬ
に登録されたユーザー領域のエントリだけではなく、Ｓ
ＤＬを用いて推測できるスペア領域の欠陥ブロックに対
するエントリまでＰＤＬに変換できない場合を言う。
【００４２】図８はこのような本発明の第１実施形態に
よる欠陥領域管理方法の流れ図であり、図９はユーザー
領域で多数の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ〜ｓｂｌｋＧ）
が発生し、この欠陥ブロックがスペア領域の欠陥のない
交替ブロックに割り当てられる過程を示す。図１０はこ
のときのＳＤＬエントリを示している。ここで、ユーザ
ー領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）の交替ブロック
（ｓｂｌｋＨ）が欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ）の交替ブ
ロック（ｓｂｌｋＩ）より早い理由は、ｓｂｌｋＣで先
に欠陥が発見され交替ブロックが割り当てられた後に、
ｓｂｌｋＡで欠陥が発見され交替ブロックが割り当てら
れたからである。または、割り当てられた交替ブロック
に欠陥が発生してダイレクトポインタ方法により新たな
交替ブロックが再割り当てられた場合も同様に後にな
る。残りのブロックも同様に適用される。
よる欠陥領域管理方法の流れ図であり、図９はユーザー
領域で多数の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ〜ｓｂｌｋＧ）
が発生し、この欠陥ブロックがスペア領域の欠陥のない
交替ブロックに割り当てられる過程を示す。図１０はこ
のときのＳＤＬエントリを示している。ここで、ユーザ
ー領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）の交替ブロック
（ｓｂｌｋＨ）が欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ）の交替ブ
ロック（ｓｂｌｋＩ）より早い理由は、ｓｂｌｋＣで先
に欠陥が発見され交替ブロックが割り当てられた後に、
ｓｂｌｋＡで欠陥が発見され交替ブロックが割り当てら
れたからである。または、割り当てられた交替ブロック
に欠陥が発生してダイレクトポインタ方法により新たな
交替ブロックが再割り当てられた場合も同様に後にな
る。残りのブロックも同様に適用される。
【００４３】この際、ユーザー領域で七つの欠陥ブロッ
クが発生し、ＳＤＬエントリにユーザー領域の欠陥ブロ
ックとスペア領域の欠陥のない交替ブロックとの情報が
図１０のように登録されているので、図１０のＳＤＬエ
ントリを用いてスペア領域における欠陥ブロックを図１
１のように推測できる。すなわち、スペア領域の最後の
交替ブロックはｓｂｌｋＳであるので、そのブロックの
前にＳＤＬエントリに登録されている交替ブロックを除
くと、交替欠陥ブロックが求められる。ここで、図１１
は推測だけであり、ＳＤＬには登録されていない。そし
て、ブロックｓｂｌｋＳの次が、再ホーマッティングの
後第１に使用可能なスペア領域になる。
クが発生し、ＳＤＬエントリにユーザー領域の欠陥ブロ
ックとスペア領域の欠陥のない交替ブロックとの情報が
図１０のように登録されているので、図１０のＳＤＬエ
ントリを用いてスペア領域における欠陥ブロックを図１
１のように推測できる。すなわち、スペア領域の最後の
交替ブロックはｓｂｌｋＳであるので、そのブロックの
前にＳＤＬエントリに登録されている交替ブロックを除
くと、交替欠陥ブロックが求められる。ここで、図１１
は推測だけであり、ＳＤＬには登録されていない。そし
て、ブロックｓｂｌｋＳの次が、再ホーマッティングの
後第１に使用可能なスペア領域になる。
【００４４】このような状態で検証なしでＳＤＬをＧ２
−リストに変換する再フォーマッティングを行う場合、
まず、ＰＤＬとＳＤＬとがある旧ＤＭＡ情報を読み込む
（ステップ１０１）。そして、図１０のような旧ＳＤＬ
エントリを１６ＰＤＬエントリに変換した後、これをＰ
ＤＬのＧ２−リストに登録する（ステップ１０２）。同
時に図１１のように推測されたスペア領域の欠陥ブロッ
クの各セクタも１６ＰＤＬエントリに変換した後、これ
をＰＤＬのＧ２−リストに登録する（ステップ１０
３）。
−リストに変換する再フォーマッティングを行う場合、
まず、ＰＤＬとＳＤＬとがある旧ＤＭＡ情報を読み込む
（ステップ１０１）。そして、図１０のような旧ＳＤＬ
エントリを１６ＰＤＬエントリに変換した後、これをＰ
ＤＬのＧ２−リストに登録する（ステップ１０２）。同
時に図１１のように推測されたスペア領域の欠陥ブロッ
クの各セクタも１６ＰＤＬエントリに変換した後、これ
をＰＤＬのＧ２−リストに登録する（ステップ１０
３）。
【００４５】この際、旧ＳＤＬに登録された欠陥ブロッ
クとスペア領域の推測された欠陥ブロックとをＰＤＬの
Ｇ２−リストに登録する順序は多様であり、これは設計
者による。例えば、旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域
の欠陥ブロックから順番にＰＤＬのＧ２−リストに登録
した後、推測されたスペア領域の欠陥ブロックを登録す
ることもでき、推測されたスペア領域の欠陥ブロックか
ら順番にＧ２−リストに登録した後、旧ＳＤＬに登録さ
れたユーザー領域の欠陥ブロックを登録することもでき
る。または、スペア領域の推測された欠陥ブロックと旧
ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとを見
ながら同時にＰＤＬのＧ２−リストに登録することもで
き、スペア領域の推測された欠陥ブロックと旧ＳＤＬに
登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとを交互に登録
することもできる。
クとスペア領域の推測された欠陥ブロックとをＰＤＬの
Ｇ２−リストに登録する順序は多様であり、これは設計
者による。例えば、旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域
の欠陥ブロックから順番にＰＤＬのＧ２−リストに登録
した後、推測されたスペア領域の欠陥ブロックを登録す
ることもでき、推測されたスペア領域の欠陥ブロックか
ら順番にＧ２−リストに登録した後、旧ＳＤＬに登録さ
れたユーザー領域の欠陥ブロックを登録することもでき
る。または、スペア領域の推測された欠陥ブロックと旧
ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとを見
ながら同時にＰＤＬのＧ２−リストに登録することもで
き、スペア領域の推測された欠陥ブロックと旧ＳＤＬに
登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとを交互に登録
することもできる。
【００４６】本発明では、実施形態として旧ＳＤＬに登
録されたユーザー領域の欠陥ブロックから順番にＰＤＬ
のＧ２−リストに登録した後、スペア領域の推測された
欠陥ブロックを登録するとして説明している。この際、
ＰＤＬのＧ２−リストに登録できるエントリの数は制限
されるので、オーバーフローが発生し得る（ステップ１
０４）。ここで、オーバーフローとは図１０のようにＳ
ＤＬに登録されたエントリだけではなく、図１１のよう
にスペア領域の推測された欠陥ブロックに対するエント
リまでの全てをＰＤＬのＧ２−リストに変換できない場
合をいう。もし、オーバーフローが発生したならば、旧
ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとスペ
ア領域の推測された欠陥ブロックとのうち、一部だけが
ＰＤＬのＧ２−リストに変換される。
録されたユーザー領域の欠陥ブロックから順番にＰＤＬ
のＧ２−リストに登録した後、スペア領域の推測された
欠陥ブロックを登録するとして説明している。この際、
ＰＤＬのＧ２−リストに登録できるエントリの数は制限
されるので、オーバーフローが発生し得る（ステップ１
０４）。ここで、オーバーフローとは図１０のようにＳ
ＤＬに登録されたエントリだけではなく、図１１のよう
にスペア領域の推測された欠陥ブロックに対するエント
リまでの全てをＰＤＬのＧ２−リストに変換できない場
合をいう。もし、オーバーフローが発生したならば、旧
ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとスペ
ア領域の推測された欠陥ブロックとのうち、一部だけが
ＰＤＬのＧ２−リストに変換される。
【００４７】例えば、オーバーフローにより図１０のよ
うな旧ＳＤＬで三つのエントリのみをＰＤＬのＧ２−リ
ストに変換する場合、再フォーマッティングが完了する
と、スリップによって図１２のようにスペア領域のｓｂ
ｌｋＬまでがユーザー領域に含まれる。ここで、ブロッ
クｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫは既に知られている欠陥ブロ
ック、すなわち、スペア領域の推測された欠陥ブロック
であるので、スリップ時にユーザー領域に割り当てられ
ない。
うな旧ＳＤＬで三つのエントリのみをＰＤＬのＧ２−リ
ストに変換する場合、再フォーマッティングが完了する
と、スリップによって図１２のようにスペア領域のｓｂ
ｌｋＬまでがユーザー領域に含まれる。ここで、ブロッ
クｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫは既に知られている欠陥ブロ
ック、すなわち、スペア領域の推測された欠陥ブロック
であるので、スリップ時にユーザー領域に割り当てられ
ない。
【００４８】従って、旧ＳＤＬに残っているエントリ例
えば、ｓｂｌｋＤ〜ｓｂｌｋＧは新たなＳＤＬエントリ
に残っているべきである。この際、スペア領域のスター
トブロック位置がｓｂｌｋＮに変わったので、ユーザー
領域の欠陥ブロックに対するスペア領域の交替ブロック
は、図１２のように新たに割り当てるべきである。ここ
でも、ブロックｓｂｌｋＭはすでに知られている欠陥ブ
ロックすなわち、スペア領域の推測された欠陥ブロック
であるので、スペア領域のスタートブロックの位置と指
定されない。
えば、ｓｂｌｋＤ〜ｓｂｌｋＧは新たなＳＤＬエントリ
に残っているべきである。この際、スペア領域のスター
トブロック位置がｓｂｌｋＮに変わったので、ユーザー
領域の欠陥ブロックに対するスペア領域の交替ブロック
は、図１２のように新たに割り当てるべきである。ここ
でも、ブロックｓｂｌｋＭはすでに知られている欠陥ブ
ロックすなわち、スペア領域の推測された欠陥ブロック
であるので、スペア領域のスタートブロックの位置と指
定されない。
【００４９】新たなＳＤＬエントリは（（０，ｓｂｌｋ
Ｄ、ｓｂｌｋＮ）（０、ｓｂｌｋＥ、ｓｂｌｋＯ）
（０，ｓｂｌｋＦ、ｓｂｌｋＱ）（０，ｓｂｌｋＧ、ｓ
ｂｌｋＳ））である。この際、前記のように、登録され
たＳＤＬエントリのみを用いてユーザー領域にデータを
検証過程なしで記録すれば、欠陥ブロック（ｓｂｌｋ
Ｊ、ｓｂｌｋＫ）がユーザー領域の正常なブロックとし
て割り当てられているので、一応データが記録される。
ここで、検証なしでデータを記録する場合には、記録時
にＳＤＬが作られず、記録後のデータ再生時にＳＤＬが
作られる。従って、従来技術の問題が同様に発生するこ
とができる。すなわち、既にデータが記録されたブロッ
ク（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）が欠陥ブロックであるた
め、データの記録時、このブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂ
ｌｋＫ）でデータがリードされない確率は非常に大き
く、もし、データがリードされないと、そのブロックに
記録されたデータを無くしてしまう。
Ｄ、ｓｂｌｋＮ）（０、ｓｂｌｋＥ、ｓｂｌｋＯ）
（０，ｓｂｌｋＦ、ｓｂｌｋＱ）（０，ｓｂｌｋＧ、ｓ
ｂｌｋＳ））である。この際、前記のように、登録され
たＳＤＬエントリのみを用いてユーザー領域にデータを
検証過程なしで記録すれば、欠陥ブロック（ｓｂｌｋ
Ｊ、ｓｂｌｋＫ）がユーザー領域の正常なブロックとし
て割り当てられているので、一応データが記録される。
ここで、検証なしでデータを記録する場合には、記録時
にＳＤＬが作られず、記録後のデータ再生時にＳＤＬが
作られる。従って、従来技術の問題が同様に発生するこ
とができる。すなわち、既にデータが記録されたブロッ
ク（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）が欠陥ブロックであるた
め、データの記録時、このブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂ
ｌｋＫ）でデータがリードされない確率は非常に大き
く、もし、データがリードされないと、そのブロックに
記録されたデータを無くしてしまう。
【００５０】従って、本発明はユーザー領域に含まれた
欠陥交替ブロックの情報もフォーマッティングの後ＳＤ
Ｌエントリに登録する（ステップ１０６）。すなわち、
図１２のようにユーザー領域に含まれた欠陥交替ブロッ
クｓｂｌｋＪはスペア領域の交替ブロックｓｂｌｋＴに
交替し、欠陥交替ブロックｓｂｌｋＫはスペア領域の交
替ブロックｓｂｌｋＵに交替し、この状態を図１３のＳ
ＤＬエントリに（０，ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＴ）、
（０，ｓｂｌｋＫ、ｓｂｌｋＵ）として追加登録する。
欠陥交替ブロックの情報もフォーマッティングの後ＳＤ
Ｌエントリに登録する（ステップ１０６）。すなわち、
図１２のようにユーザー領域に含まれた欠陥交替ブロッ
クｓｂｌｋＪはスペア領域の交替ブロックｓｂｌｋＴに
交替し、欠陥交替ブロックｓｂｌｋＫはスペア領域の交
替ブロックｓｂｌｋＵに交替し、この状態を図１３のＳ
ＤＬエントリに（０，ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＴ）、
（０，ｓｂｌｋＫ、ｓｂｌｋＵ）として追加登録する。
【００５１】そして、前記のような過程でＳＤＬに欠陥
ブロックの情報を登録した後、データを検証なしで記録
する場合、ブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）はＳＤ
Ｌに登録されているので、欠陥ブロック（ｓｂｌｋＪ、
ｓｂｌｋＫ）にデータを記録せず各交替ブロック（ｓｂ
ｌｋＴ、ｓｂｌｋＵ）に交替されてデータを記録したり
（非実時間記録用データである場合）、それとも、次に
来る正常ブロックにスキップしてデータを記録する（実
時間記録用データである場合）。従って、再生時に欠陥
ブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）の情報を読むこと
がないので、エラーが発生しない。
ブロックの情報を登録した後、データを検証なしで記録
する場合、ブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）はＳＤ
Ｌに登録されているので、欠陥ブロック（ｓｂｌｋＪ、
ｓｂｌｋＫ）にデータを記録せず各交替ブロック（ｓｂ
ｌｋＴ、ｓｂｌｋＵ）に交替されてデータを記録したり
（非実時間記録用データである場合）、それとも、次に
来る正常ブロックにスキップしてデータを記録する（実
時間記録用データである場合）。従って、再生時に欠陥
ブロック（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ）の情報を読むこと
がないので、エラーが発生しない。
【００５２】この際、再フォーマッティングにより新し
く指定されたスペア領域に含まれる欠陥ブロック（ｓｂ
ｌｋＭ、ｓｂｌｋＰ、ｓｂｌｋＲ）に対する情報は、Ｓ
ＤＬに記録しない。同様に、図１３のような新たなＳＤ
Ｌエントリを用いると、スペア領域の欠陥ブロックを推
測できるためである。
く指定されたスペア領域に含まれる欠陥ブロック（ｓｂ
ｌｋＭ、ｓｂｌｋＰ、ｓｂｌｋＲ）に対する情報は、Ｓ
ＤＬに記録しない。同様に、図１３のような新たなＳＤ
Ｌエントリを用いると、スペア領域の欠陥ブロックを推
測できるためである。
【００５３】一方、図１０のような旧ＳＤＬエントリは
すべてＰＤＬのＧ２−リストに変換されたが、オーバー
フローにより、図１１のようにスペア領域の推測された
欠陥ブロックのうち、一つの欠陥ブロックのみをＰＤＬ
のＧ２−リストに変換する場合、再フォーマットが完了
すると、スペア領域のｓｂｌｋＴまでがユーザー領域に
含まれる。従って、この場合にもフォーマッティングが
完了すると、ユーザー領域に含まれた欠陥交替ブロック
（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ、ｓｂｌｋＭ、ｓｂｌｋＰ、
ｓｂｌｋＲ）とこれを交替する交替ブロック（ｓｂｌｋ
Ｔ、ｓｂｌｋＵ、ｓｂｌｋＶ、ｓｂｌｋＷ、ｓｂｌｋ
Ｘ）とを新たなＳＤＬエントリに図１４のように登録す
る。
すべてＰＤＬのＧ２−リストに変換されたが、オーバー
フローにより、図１１のようにスペア領域の推測された
欠陥ブロックのうち、一つの欠陥ブロックのみをＰＤＬ
のＧ２−リストに変換する場合、再フォーマットが完了
すると、スペア領域のｓｂｌｋＴまでがユーザー領域に
含まれる。従って、この場合にもフォーマッティングが
完了すると、ユーザー領域に含まれた欠陥交替ブロック
（ｓｂｌｋＪ、ｓｂｌｋＫ、ｓｂｌｋＭ、ｓｂｌｋＰ、
ｓｂｌｋＲ）とこれを交替する交替ブロック（ｓｂｌｋ
Ｔ、ｓｂｌｋＵ、ｓｂｌｋＶ、ｓｂｌｋＷ、ｓｂｌｋ
Ｘ）とを新たなＳＤＬエントリに図１４のように登録す
る。
【００５４】もし、ステップ１０４でオーバーフローが
発生しなかったら、旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域
の欠陥ブロックおよびスペア領域の推測された欠陥ブロ
ックがすべてＰＤＬのＧ２−リストに変換されるので、
再フォーマッティングの後スペア領域の欠陥ブロックが
ユーザ領域に割り当てられることはない。
発生しなかったら、旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域
の欠陥ブロックおよびスペア領域の推測された欠陥ブロ
ックがすべてＰＤＬのＧ２−リストに変換されるので、
再フォーマッティングの後スペア領域の欠陥ブロックが
ユーザ領域に割り当てられることはない。
【００５５】（第２実施形態）本発明の第２実施形態
は、部分フォーマッティング過程でオーバーフローが発
生すると、ユーザー領域に含まれた交替欠陥ブロックま
たは使用するスペア領域の欠陥ブロックを新たなＳＤＬ
エントリに登録する例である。このとき、新たなＳＤＬ
により使用されたスペア領域内の欠陥ブロックに対する
情報は新たなＳＤＬエントリにより推測が可能であるの
で、格納しない。すなわち、部分フォーマッティング時
のスペア領域の欠陥ブロックは次の三つのうちのある一
つに含まれる。例えば、ユーザー領域に含まれることも
でき、新たなＳＤＬ領域に含まれることもできる。ま
た、以前のＳＤＬでは使用されたが、新たなＳＤＬエン
トリで用いられてない使用可能なスペア領域に含まれる
こともできる。
は、部分フォーマッティング過程でオーバーフローが発
生すると、ユーザー領域に含まれた交替欠陥ブロックま
たは使用するスペア領域の欠陥ブロックを新たなＳＤＬ
エントリに登録する例である。このとき、新たなＳＤＬ
により使用されたスペア領域内の欠陥ブロックに対する
情報は新たなＳＤＬエントリにより推測が可能であるの
で、格納しない。すなわち、部分フォーマッティング時
のスペア領域の欠陥ブロックは次の三つのうちのある一
つに含まれる。例えば、ユーザー領域に含まれることも
でき、新たなＳＤＬ領域に含まれることもできる。ま
た、以前のＳＤＬでは使用されたが、新たなＳＤＬエン
トリで用いられてない使用可能なスペア領域に含まれる
こともできる。
【００５６】図１５は本発明の第２実施形態による欠陥
領域管理方法の流れ図であり、図１６はユーザー領域で
多数の欠陥ブロックが発生し、その欠陥ブロックがスペ
ア領域の欠陥のない交替ブロックに割り当てられる過程
をフォーマット前とフォーマット後で表している。すな
わち、ＰＤＬのＧ２−リストとＳＤＬとに対して検証の
過程を経る部分フォーマッティングを行う場合、まず、
ＰＤＬとＳＤＬのある旧ＤＭＡ情報を読む（ステップ２
０１）。
領域管理方法の流れ図であり、図１６はユーザー領域で
多数の欠陥ブロックが発生し、その欠陥ブロックがスペ
ア領域の欠陥のない交替ブロックに割り当てられる過程
をフォーマット前とフォーマット後で表している。すな
わち、ＰＤＬのＧ２−リストとＳＤＬとに対して検証の
過程を経る部分フォーマッティングを行う場合、まず、
ＰＤＬとＳＤＬのある旧ＤＭＡ情報を読む（ステップ２
０１）。
【００５７】そして、旧ＳＤＬとＧ２−リストとに登録
された欠陥ブロックを検証する（ステップ２０２）。同
時に、スペア領域も検証するが、フォーマット時間の短
縮のために、スペア領域は欠陥ブロックに対してのみ検
証の過程を経る（ステップ２０３）。この際にもスペア
領域の欠陥ブロックは、旧ＳＤＬを利用すると推測でき
る。
された欠陥ブロックを検証する（ステップ２０２）。同
時に、スペア領域も検証するが、フォーマット時間の短
縮のために、スペア領域は欠陥ブロックに対してのみ検
証の過程を経る（ステップ２０３）。この際にもスペア
領域の欠陥ブロックは、旧ＳＤＬを利用すると推測でき
る。
【００５８】次にＰＤＬのＧ２−リストのエントリと旧
ＳＤＬのエントリを消去した後、検証過程の間に発見さ
れる欠陥セクタのみをＰＤＬのＧ１−リストに登録する
（ステップ２０４）。ここには、スペア領域の推測され
た欠陥ブロックに含まれた欠陥セクタもＰＤＬのＧ１−
リストに登録される。この際、ＰＤＬのＧ１−リストに
登録できるエントリの数も制限されるので、オーバーフ
ローが発生する（ステップ２０５）。ここで、オーバー
フローとはフォーマット過程で旧ＳＤＬに登録されたエ
ントリのみならず、スペア領域の推測された欠陥ブロッ
クに対するエントリのすべてをＰＤＬのＧ１−リストに
変換できない場合を意味する。
ＳＤＬのエントリを消去した後、検証過程の間に発見さ
れる欠陥セクタのみをＰＤＬのＧ１−リストに登録する
（ステップ２０４）。ここには、スペア領域の推測され
た欠陥ブロックに含まれた欠陥セクタもＰＤＬのＧ１−
リストに登録される。この際、ＰＤＬのＧ１−リストに
登録できるエントリの数も制限されるので、オーバーフ
ローが発生する（ステップ２０５）。ここで、オーバー
フローとはフォーマット過程で旧ＳＤＬに登録されたエ
ントリのみならず、スペア領域の推測された欠陥ブロッ
クに対するエントリのすべてをＰＤＬのＧ１−リストに
変換できない場合を意味する。
【００５９】従って、オーバーフローが発生しなかった
ら、旧ＳＤＬと旧ＰＤＬのＧ２−リストに登録されたユ
ーザー領域の欠陥ブロックおよびＳＤＬに登録されてい
ないすなわち、スペア領域の推測された欠陥ブロックが
すべてＰＤＬのＧ１−リストに変換される。
ら、旧ＳＤＬと旧ＰＤＬのＧ２−リストに登録されたユ
ーザー領域の欠陥ブロックおよびＳＤＬに登録されてい
ないすなわち、スペア領域の推測された欠陥ブロックが
すべてＰＤＬのＧ１−リストに変換される。
【００６０】一方、オーバーフローが発生したならば、
旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとス
ペア領域の推測された欠陥ブロックのうちの一部のみが
ＰＤＬのＧ１−リストに変換される。このとき、旧ＳＤ
Ｌに残っているエントリは新たなＳＤＬエントリに登録
するが（ステップ２０６）、フォーマッティングにより
スペア領域のスタート位置およびブロック境界が新しく
変わったので、ユーザー領域の欠陥ブロックに対するス
ペア領域の交替ブロックは新たに割り当てられる。この
部分フォーマッティングは、旧ＳＤＬやスペア領域の欠
陥ブロックに含まれた欠陥セクタのみがＧ１−リストに
変換されるので、フォーマッティング後にユーザー領域
に含まれるスペア領域はセクタ単位となる。
旧ＳＤＬに登録されたユーザー領域の欠陥ブロックとス
ペア領域の推測された欠陥ブロックのうちの一部のみが
ＰＤＬのＧ１−リストに変換される。このとき、旧ＳＤ
Ｌに残っているエントリは新たなＳＤＬエントリに登録
するが（ステップ２０６）、フォーマッティングにより
スペア領域のスタート位置およびブロック境界が新しく
変わったので、ユーザー領域の欠陥ブロックに対するス
ペア領域の交替ブロックは新たに割り当てられる。この
部分フォーマッティングは、旧ＳＤＬやスペア領域の欠
陥ブロックに含まれた欠陥セクタのみがＧ１−リストに
変換されるので、フォーマッティング後にユーザー領域
に含まれるスペア領域はセクタ単位となる。
【００６１】もし、オーバーフローにより二つのセクタ
のみをＰＤＬのＧ１−リストに変換でき、二つのＳＤＬ
エントリでそれぞれ一つずつ欠陥セクタが発見されたと
仮定すると、部分フォーマッティングが完了されると、
スリップによりユーザー領域はスペア領域の２セクタま
で拡張される。この際、スペア領域のスタートブロック
が欠陥ブロックであり、この欠陥ブロックの第１セクタ
や２番目のセクタで欠陥があったら、拡張されたユーザ
ー領域の最後のブロックは欠陥のあるブロックになる。
すなわち、ユーザー領域に交替欠陥ブロックが含まれ
る。そして、部分フォーマッティングによりスペア領域
に拡張したユーザー領域がセクタ単位であるので、フォ
ーマッティングが完了すると、スペア領域のブロック境
界は図１６の（ｃ）のようにセクタ単位、例えば、２セ
クタずつスリップされて新しく指定される。
のみをＰＤＬのＧ１−リストに変換でき、二つのＳＤＬ
エントリでそれぞれ一つずつ欠陥セクタが発見されたと
仮定すると、部分フォーマッティングが完了されると、
スリップによりユーザー領域はスペア領域の２セクタま
で拡張される。この際、スペア領域のスタートブロック
が欠陥ブロックであり、この欠陥ブロックの第１セクタ
や２番目のセクタで欠陥があったら、拡張されたユーザ
ー領域の最後のブロックは欠陥のあるブロックになる。
すなわち、ユーザー領域に交替欠陥ブロックが含まれ
る。そして、部分フォーマッティングによりスペア領域
に拡張したユーザー領域がセクタ単位であるので、フォ
ーマッティングが完了すると、スペア領域のブロック境
界は図１６の（ｃ）のようにセクタ単位、例えば、２セ
クタずつスリップされて新しく指定される。
【００６２】従って、部分フォーマットが完了すると、
旧ＳＤＬに残っているエントリ例えば、ｓｂｌｋＣ〜ｓ
ｂｌｋＧは新たなＳＤＬエントリに残るべきだが、この
際、スペア領域のスタート位置およびブロック境界が再
び指定されたので、ユーザー領域の欠陥ブロックに対す
るスペア領域の交替ブロックは、図１６の（ｃ）のよう
に新しく割り当てられる。
旧ＳＤＬに残っているエントリ例えば、ｓｂｌｋＣ〜ｓ
ｂｌｋＧは新たなＳＤＬエントリに残るべきだが、この
際、スペア領域のスタート位置およびブロック境界が再
び指定されたので、ユーザー領域の欠陥ブロックに対す
るスペア領域の交替ブロックは、図１６の（ｃ）のよう
に新しく割り当てられる。
【００６３】この際にも同様に、ユーザー領域にデータ
を検証過程なしで記録すれば、フォーマット前のスペア
領域の欠陥ブロックが、フォーマット後にユーザー領域
の正常ブロックに割り当てられているので、このブロッ
クに一応データが記録される。従って、後でデータを再
生する場合、既に欠陥ブロックにデータが記録されてい
る状態なので、このブロックからデータがリードされな
い確率は非常に大きく、もし、データがリードされない
と、そのブロックに記録されたデータを無くしてしまう
ことになる。
を検証過程なしで記録すれば、フォーマット前のスペア
領域の欠陥ブロックが、フォーマット後にユーザー領域
の正常ブロックに割り当てられているので、このブロッ
クに一応データが記録される。従って、後でデータを再
生する場合、既に欠陥ブロックにデータが記録されてい
る状態なので、このブロックからデータがリードされな
い確率は非常に大きく、もし、データがリードされない
と、そのブロックに記録されたデータを無くしてしまう
ことになる。
【００６４】従って、この場合にも、部分フォーマット
によりユーザー領域に含まれた欠陥交替ブロックの位置
情報のうち、ＰＤＬのＧ１−リストに変換してない情報
はフォーマッティング後に新たなＳＤＬエントリに登録
する（ステップ２０７）。すると、前記のような部分フ
ォーマッティングによりデータを検証なしで記録する場
合、ＳＤＬに登録された欠陥ブロックにはデータを記録
せず交替ブロックに交替されてデータを記録したり（非
実時間記録用データである場合）、又は、次に来る正常
ブロックに飛ばしてデータを記録する（実時間記録用デ
ータである場合）ので、再生時に欠陥ブロックの情報を
読み込む必要がなく、エラーが発生しない。
によりユーザー領域に含まれた欠陥交替ブロックの位置
情報のうち、ＰＤＬのＧ１−リストに変換してない情報
はフォーマッティング後に新たなＳＤＬエントリに登録
する（ステップ２０７）。すると、前記のような部分フ
ォーマッティングによりデータを検証なしで記録する場
合、ＳＤＬに登録された欠陥ブロックにはデータを記録
せず交替ブロックに交替されてデータを記録したり（非
実時間記録用データである場合）、又は、次に来る正常
ブロックに飛ばしてデータを記録する（実時間記録用デ
ータである場合）ので、再生時に欠陥ブロックの情報を
読み込む必要がなく、エラーが発生しない。
【００６５】また、フォーマット後に、ユーザー領域に
含まれないスペア領域の欠陥ブロックの第１セクタと２
番目セクタではない所で、図１６の（ｂ）のように欠陥
セクタが発見されたならば、フォーマット後のスペア領
域のブロックは図１６の（ｃ）のように再割り当てられ
る。すなわち、フォーマット前の欠陥ブロックの先頭部
分と重なるフォーマット後のスペア領域のブロックは欠
陥のないブロックになる。もし、重なる部分に欠陥セク
タが存在したなら、そのブロックは欠陥のあるブロック
になる。これは一つのセクタでのみ欠陥が発見されても
そのブロック全体を欠陥のあるブロックとして見るため
である。例えば、部分フォーマッティング過程でスペア
領域の欠陥ブロックに対する検証が終わると、欠陥ブロ
ックを組み合わせることも分離することもできるが、通
常欠陥ブロックの数は少なくなる。
含まれないスペア領域の欠陥ブロックの第１セクタと２
番目セクタではない所で、図１６の（ｂ）のように欠陥
セクタが発見されたならば、フォーマット後のスペア領
域のブロックは図１６の（ｃ）のように再割り当てられ
る。すなわち、フォーマット前の欠陥ブロックの先頭部
分と重なるフォーマット後のスペア領域のブロックは欠
陥のないブロックになる。もし、重なる部分に欠陥セク
タが存在したなら、そのブロックは欠陥のあるブロック
になる。これは一つのセクタでのみ欠陥が発見されても
そのブロック全体を欠陥のあるブロックとして見るため
である。例えば、部分フォーマッティング過程でスペア
領域の欠陥ブロックに対する検証が終わると、欠陥ブロ
ックを組み合わせることも分離することもできるが、通
常欠陥ブロックの数は少なくなる。
【００６６】従って、フォーマット前には使用されてい
たスペア領域が、フォーマット後にユーザー領域の欠陥
ブロックがすべて交替されても、使用するスペア領域、
すなわち、未使用スペア領域として残ることができる。
すなわち、新たなＳＤＬエントリの交替ブロックの最も
大きな値が旧ＳＤＬエントリの交替ブロックの最も大き
な値より小さくできる。例えば、図１６の（ｃ）を見る
と、使用するスペア領域に欠陥ブロックが含まれている
ことが分かる。この際には、新たなＳＤＬに登録された
最後の交替ブロック以後で欠陥が発生したため、新たな
ＳＤＬを見て前記欠陥ブロックを推測することはできな
い。従って、検証なしでデータを記録する場合は、前記
で言及された問題が一様に発生する。
たスペア領域が、フォーマット後にユーザー領域の欠陥
ブロックがすべて交替されても、使用するスペア領域、
すなわち、未使用スペア領域として残ることができる。
すなわち、新たなＳＤＬエントリの交替ブロックの最も
大きな値が旧ＳＤＬエントリの交替ブロックの最も大き
な値より小さくできる。例えば、図１６の（ｃ）を見る
と、使用するスペア領域に欠陥ブロックが含まれている
ことが分かる。この際には、新たなＳＤＬに登録された
最後の交替ブロック以後で欠陥が発生したため、新たな
ＳＤＬを見て前記欠陥ブロックを推測することはできな
い。従って、検証なしでデータを記録する場合は、前記
で言及された問題が一様に発生する。
【００６７】従って、この場合も欠陥ブロックにデータ
を記録できないように、新たなＳＤＬエントリに欠陥ブ
ロックに対する情報を登録させる（ステップ２０８）。
登録させる方法としては、欠陥状態のみを登録させるこ
ともでき、欠陥ブロックと交替ブロックとを一緒に登録
させることもできる。また、この際にも既に新たなＳＤ
Ｌで使用されたスペア領域内の欠陥ブロックは新たなＳ
ＤＬを利用して推測できるので、この時の欠陥ブロック
に対する情報はＳＤＬに格納しない。
を記録できないように、新たなＳＤＬエントリに欠陥ブ
ロックに対する情報を登録させる（ステップ２０８）。
登録させる方法としては、欠陥状態のみを登録させるこ
ともでき、欠陥ブロックと交替ブロックとを一緒に登録
させることもできる。また、この際にも既に新たなＳＤ
Ｌで使用されたスペア領域内の欠陥ブロックは新たなＳ
ＤＬを利用して推測できるので、この時の欠陥ブロック
に対する情報はＳＤＬに格納しない。
【００６８】（第３実施形態）本発明の第３実施形態は
スペア領域の欠陥のある交替ブロックに対する情報をフ
ォーマット前にＳＤＬエントリに全て記録する。した
後、その欠陥のある交替ブロックに対する情報を登録し
たＳＤＬを再フォーマッティング時にＰＤＬのＧ２−リ
ストに変換する。この際、従来と互換性を維持するのが
非常に重要であるので、欠陥のある交替ブロックに対す
る情報をＳＤＬに登録する。
スペア領域の欠陥のある交替ブロックに対する情報をフ
ォーマット前にＳＤＬエントリに全て記録する。した
後、その欠陥のある交替ブロックに対する情報を登録し
たＳＤＬを再フォーマッティング時にＰＤＬのＧ２−リ
ストに変換する。この際、従来と互換性を維持するのが
非常に重要であるので、欠陥のある交替ブロックに対す
る情報をＳＤＬに登録する。
【００６９】このような本発明の第３実施形態は、スペ
ア領域に対する情報を無くしてしまったり、残っていな
い状態、例えば、スキッピング方式により実時間記録さ
れた光ディスクを再フォーマッティングするとき効果的
である。特に、旧ＳＤＬからスペア領域の欠陥ブロック
を推測できない場合に効果的である。
ア領域に対する情報を無くしてしまったり、残っていな
い状態、例えば、スキッピング方式により実時間記録さ
れた光ディスクを再フォーマッティングするとき効果的
である。特に、旧ＳＤＬからスペア領域の欠陥ブロック
を推測できない場合に効果的である。
【００７０】そのために、まず、リニア交替アルゴリズ
ムを用いてデータを記録するうちに、前記した図６ｇの
ようにユーザー領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ）を交
替したスペア領域の交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）に欠陥
が発見されると、図１７ａのように、欠陥交替ブロック
（ｓｂｌｋＣ）を新たな交替ブロック（ｓｂｌｋＥ）に
変えた後、新たな交替ブロックに対する情報でＳＤＬエ
ントリ（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＥ）を修正しなが
ら、欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）に対する情報も別
のＳＤＬエントリ（一例で、１，ｓｂｌｋＣ、０）に登
録する。前記ＳＤＬエントリの（１，ｓｂｌｋＣ、０）
のうち、１は交替ブロックが割り当ててないことを意味
する。すなわち、スペア領域で発見された欠陥ブロック
の（ｓｂｌｋＣ）に対する情報も登録するので、ＳＤＬ
に残っている情報は（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＥ）
と、（０，ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ）と、（１，ｓｂｌ
ｋＣ、０）とになる。
ムを用いてデータを記録するうちに、前記した図６ｇの
ようにユーザー領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ）を交
替したスペア領域の交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）に欠陥
が発見されると、図１７ａのように、欠陥交替ブロック
（ｓｂｌｋＣ）を新たな交替ブロック（ｓｂｌｋＥ）に
変えた後、新たな交替ブロックに対する情報でＳＤＬエ
ントリ（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＥ）を修正しなが
ら、欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ）に対する情報も別
のＳＤＬエントリ（一例で、１，ｓｂｌｋＣ、０）に登
録する。前記ＳＤＬエントリの（１，ｓｂｌｋＣ、０）
のうち、１は交替ブロックが割り当ててないことを意味
する。すなわち、スペア領域で発見された欠陥ブロック
の（ｓｂｌｋＣ）に対する情報も登録するので、ＳＤＬ
に残っている情報は（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＥ）
と、（０，ｓｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ）と、（１，ｓｂｌ
ｋＣ、０）とになる。
【００７１】従って、ＳＤＬを検証なしでＰＤＬのＧ２
−リストに移す再フォーマッティング時、ユーザー領域
の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＢ）のみなら
ず、スペア領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）の情報も
移す。故に、再フォーマッティング後にスリップにより
割り当てられるユーザー領域は、決められた論理セクタ
の数を考慮して、図１７ｂに示すように、スペア領域の
ブロック（ｓｂｌｋＥ）までになる、すなわち、スペア
領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）は欠陥領域としてＰ
ＤＬに登録されるので、スリップ時、ユーザー領域に割
り当てられない。もし、ＰＤＬのＧ２−リストにオーバ
ーフローが発生すると、スペア領域の欠陥ブロックの情
報を含む旧ＳＤＬに残っているエントリは、新たなＳＤ
Ｌに交替ブロックが再割り当てられ登録される。
−リストに移す再フォーマッティング時、ユーザー領域
の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＢ）のみなら
ず、スペア領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）の情報も
移す。故に、再フォーマッティング後にスリップにより
割り当てられるユーザー領域は、決められた論理セクタ
の数を考慮して、図１７ｂに示すように、スペア領域の
ブロック（ｓｂｌｋＥ）までになる、すなわち、スペア
領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）は欠陥領域としてＰ
ＤＬに登録されるので、スリップ時、ユーザー領域に割
り当てられない。もし、ＰＤＬのＧ２−リストにオーバ
ーフローが発生すると、スペア領域の欠陥ブロックの情
報を含む旧ＳＤＬに残っているエントリは、新たなＳＤ
Ｌに交替ブロックが再割り当てられ登録される。
【００７２】そして、前記のような過程で再フォーマッ
ティングした後、データを検証なしで記録する場合、ブ
ロック（ｓｂｌｋＣ）はＰＤＬのＧ２−リストに記録さ
れているので、ブロック（ｓｂｌｋＣ）にデータを記録
せずに、次に来る正常ブロックにスキッピングしてデー
タを記録する。従って、再生時にもそのＰＤＬ情報によ
って欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）ではデータを読まない
ので、このブロック（ｓｂｌｋＣ）により発生するエラ
ーはない。
ティングした後、データを検証なしで記録する場合、ブ
ロック（ｓｂｌｋＣ）はＰＤＬのＧ２−リストに記録さ
れているので、ブロック（ｓｂｌｋＣ）にデータを記録
せずに、次に来る正常ブロックにスキッピングしてデー
タを記録する。従って、再生時にもそのＰＤＬ情報によ
って欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ）ではデータを読まない
ので、このブロック（ｓｂｌｋＣ）により発生するエラ
ーはない。
【００７３】一方、Ａ／Ｖ用のように実時間記録が必要
であってＳＤＬを使用するときにスキッピング方式でデ
ータを記録する場合にも同一に適用される。すなわち、
図７ａのようにユーザ領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋ
Ａ、ｓｂｌｋＢ）を交替したスペア領域の交替ブロック
（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）に欠陥が発見されると、図
１８ａにように、欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋ
Ｅ）を新たな交替ブロック（ｓｂｌｋＦ、ｓｂｌｋＤ）
に変えた後、新たな交替ブロックに対する情報でＳＤＬ
エントリ（（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＦ）、（０，ｓ
ｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ））を各々修正しながら欠陥ブロ
ック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）に対する情報も捨てず
に別のＳＤＬエントリ（一例で、（１，ｓｂｌｋＣ、
０）、（１，ｓｂｌｋＥ、０））に登録する。
であってＳＤＬを使用するときにスキッピング方式でデ
ータを記録する場合にも同一に適用される。すなわち、
図７ａのようにユーザ領域の欠陥ブロック（ｓｂｌｋ
Ａ、ｓｂｌｋＢ）を交替したスペア領域の交替ブロック
（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）に欠陥が発見されると、図
１８ａにように、欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋ
Ｅ）を新たな交替ブロック（ｓｂｌｋＦ、ｓｂｌｋＤ）
に変えた後、新たな交替ブロックに対する情報でＳＤＬ
エントリ（（０，ｓｂｌｋＡ、ｓｂｌｋＦ）、（０，ｓ
ｂｌｋＢ、ｓｂｌｋＤ））を各々修正しながら欠陥ブロ
ック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）に対する情報も捨てず
に別のＳＤＬエントリ（一例で、（１，ｓｂｌｋＣ、
０）、（１，ｓｂｌｋＥ、０））に登録する。
【００７４】それから、図７ａのようなディスク状態で
再フォーマッティングなしで実時間記録のため、図７ｃ
のようにスキッピング方式でデータを再記録する場合、
スペア領域の交替ブロックに対する情報（例えば、ｓｂ
ｌｋＤ、ｓｂｌｋＦ）はスキッピング方法による再生な
どのためにＳＤＬエントリで無くし、スペア領域の欠陥
交替ブロックに対する情報（例えばｓｂｌｋＣ、ｓｂｌ
ｋＥ）はそのまま維持させる。一例としては、ＳＤＬエ
ントリには（１、ｓｂｌｋＡ、０）、（1、ｓｂｌｋ
Ｂ、０）、（１，ｓｂｌｋＣ、０）、（１、ｓｂｌｋ
Ｅ、０）が残るようになる。
再フォーマッティングなしで実時間記録のため、図７ｃ
のようにスキッピング方式でデータを再記録する場合、
スペア領域の交替ブロックに対する情報（例えば、ｓｂ
ｌｋＤ、ｓｂｌｋＦ）はスキッピング方法による再生な
どのためにＳＤＬエントリで無くし、スペア領域の欠陥
交替ブロックに対する情報（例えばｓｂｌｋＣ、ｓｂｌ
ｋＥ）はそのまま維持させる。一例としては、ＳＤＬエ
ントリには（１、ｓｂｌｋＡ、０）、（1、ｓｂｌｋ
Ｂ、０）、（１，ｓｂｌｋＣ、０）、（１、ｓｂｌｋ
Ｅ、０）が残るようになる。
【００７５】従って、ＳＤＬを検証なしで、ＰＤＬのＧ
２−リストに移す再フォーマッティング時、ユーザー領
域の欠陥ブロック（ｓｂｋｌＡ、ｓｂｌｋＢ）のみなら
ず、スペア領域の欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂ
ｌｋＥ）の情報も移すので、再フォーマッティング後に
スリップにより割り当てられるユーザー領域は、図１８
ｂに示すように、既に決められる論理セクタの数を考慮
してスペア領域のブロック（ｓｂｌｋＦ）までになる。
すなわち、スペア領域の欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋ
Ｃ、ｓｂｌｋＥ）が欠陥セクタとしてＰＤＬに登録され
るので、スリップ時にユーザー領域に割り当てられな
い。
２−リストに移す再フォーマッティング時、ユーザー領
域の欠陥ブロック（ｓｂｋｌＡ、ｓｂｌｋＢ）のみなら
ず、スペア領域の欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂ
ｌｋＥ）の情報も移すので、再フォーマッティング後に
スリップにより割り当てられるユーザー領域は、図１８
ｂに示すように、既に決められる論理セクタの数を考慮
してスペア領域のブロック（ｓｂｌｋＦ）までになる。
すなわち、スペア領域の欠陥交替ブロック（ｓｂｌｋ
Ｃ、ｓｂｌｋＥ）が欠陥セクタとしてＰＤＬに登録され
るので、スリップ時にユーザー領域に割り当てられな
い。
【００７６】そして、前記のような過程で再ファーマッ
ティングした後、データを検証なしで記録する場合、ブ
ロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）の位置情報はＰＤＬ
のＧ２−リストに登録されているので、ブロック（ｓｂ
ｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）にデータを記録せず、次に来る正
常ブロック（ｓｂｌｋＤ、ｓｂｌｋＦ）にスキッピング
してデータを記録する。従って、再生時にもＰＤＬ情報
によって欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）では
データを読まないので、このブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓ
ｂｌｋＥ）により発生するエラーはない。
ティングした後、データを検証なしで記録する場合、ブ
ロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）の位置情報はＰＤＬ
のＧ２−リストに登録されているので、ブロック（ｓｂ
ｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）にデータを記録せず、次に来る正
常ブロック（ｓｂｌｋＤ、ｓｂｌｋＦ）にスキッピング
してデータを記録する。従って、再生時にもＰＤＬ情報
によって欠陥ブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓｂｌｋＥ）では
データを読まないので、このブロック（ｓｂｌｋＣ、ｓ
ｂｌｋＥ）により発生するエラーはない。
【００７７】このように、本発明の第３実施形態は、ス
ペア領域の情報がＳＤＬエントリに残っていない場合、
フォーマット前にスペア領域の欠陥ブロックに対する情
報をＳＤＬエントリにすべて記録することで、再フォー
マッティング時に前記スペア領域の欠陥ブロックがユー
ザー領域の正常ブロックに割り当てられる問題を防止す
る。
ペア領域の情報がＳＤＬエントリに残っていない場合、
フォーマット前にスペア領域の欠陥ブロックに対する情
報をＳＤＬエントリにすべて記録することで、再フォー
マッティング時に前記スペア領域の欠陥ブロックがユー
ザー領域の正常ブロックに割り当てられる問題を防止す
る。
【００７８】
【発明の効果】上述したように、本発明による光記録媒
体の欠陥領域管理方法によれば、ＳＤＬからスペア領域
の欠陥ブロックに対して推測が可能な場合には、検証な
しでＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リストに変換する再フォー
マッティング時に旧ＳＤＬに登録された欠陥ブロックと
スペア領域の推測された欠陥ブロックとをＰＤＬに変換
するときに、オーバーフローが発生すると、スリップに
よってユーザー領域に含まれる交替欠陥ブロックのう
ち、ＰＤＬに登録されてない情報を新たなＳＤＬエント
リに格納する。また、検証の過程を経る部分フォーマッ
ティング時にオーバーフローが発生すると、ユーザー領
域に含まれる交替欠陥ブロックの情報のうちＧ１−リス
トに変換されてない情報と使用するスペア領域の欠陥ブ
ロックの情報とを新たなＳＤＬエントリに格納すること
で、フォーマッティング後、スペア領域の欠陥ブロック
がユーザー領域に含まれて発生していたエラーを防止す
ることができる。
体の欠陥領域管理方法によれば、ＳＤＬからスペア領域
の欠陥ブロックに対して推測が可能な場合には、検証な
しでＳＤＬをＰＤＬのＧ２−リストに変換する再フォー
マッティング時に旧ＳＤＬに登録された欠陥ブロックと
スペア領域の推測された欠陥ブロックとをＰＤＬに変換
するときに、オーバーフローが発生すると、スリップに
よってユーザー領域に含まれる交替欠陥ブロックのう
ち、ＰＤＬに登録されてない情報を新たなＳＤＬエント
リに格納する。また、検証の過程を経る部分フォーマッ
ティング時にオーバーフローが発生すると、ユーザー領
域に含まれる交替欠陥ブロックの情報のうちＧ１−リス
トに変換されてない情報と使用するスペア領域の欠陥ブ
ロックの情報とを新たなＳＤＬエントリに格納すること
で、フォーマッティング後、スペア領域の欠陥ブロック
がユーザー領域に含まれて発生していたエラーを防止す
ることができる。
【００７９】また、ＳＤＬからスペア領域の欠陥ブロッ
クに対する推測が不可能な場合には、データ記録時、ス
ペア領域の欠陥ブロックに対する情報をＳＤＬに別に登
録し、再フォーマッティング過程で欠陥ブロックに対す
る情報もＰＤＬに記録することで、既存の方式と互換性
を維持しながら、フォーマッティング後、スペア領域の
欠陥ブロックがユーザー領域に含まれて発生していたエ
ラーを防止できる。特に、スペア領域の欠陥ブロックに
対する情報を推測できない場合に有効である。
クに対する推測が不可能な場合には、データ記録時、ス
ペア領域の欠陥ブロックに対する情報をＳＤＬに別に登
録し、再フォーマッティング過程で欠陥ブロックに対す
る情報もＰＤＬに記録することで、既存の方式と互換性
を維持しながら、フォーマッティング後、スペア領域の
欠陥ブロックがユーザー領域に含まれて発生していたエ
ラーを防止できる。特に、スペア領域の欠陥ブロックに
対する情報を推測できない場合に有効である。
【００８０】以上で説明した内容から、当業者ならば本
発明の技術思想を越えない範囲で多様な変更および修正
が可能であることが分かるだろう。従って、本発明の技
術的範囲は、実施形態に記載の内容に限られるのでな
く、特許請求の範囲により決められるべきである。
発明の技術思想を越えない範囲で多様な変更および修正
が可能であることが分かるだろう。従って、本発明の技
術的範囲は、実施形態に記載の内容に限られるのでな
く、特許請求の範囲により決められるべきである。
【図１】 一般的な光ディスクのデータ領域を示す
図。
図。
【図２】 一般的なＰＤＬエントリ（ａ）と、ＳＤＬエ
ントリ（ｂ）の構造を示す図。
ントリ（ｂ）の構造を示す図。
【図３】 一般的なフォーマッティング方法のうち、部
分フォーマッティング方法を示す図（ａ）と、検証なし
でＳＤＬリストをＧ２−リストに変換する方法を示す図
（ｂ）。
分フォーマッティング方法を示す図（ａ）と、検証なし
でＳＤＬリストをＧ２−リストに変換する方法を示す図
（ｂ）。
【図４】 一般的なスリップ交替方法（ａ）と、リニア
交替方法（ｂ）を示す図。
交替方法（ｂ）を示す図。
【図５】 一般的な光ディスクで表す欠陥領域の管理や
再フォーマッティング時のディスクの状態を示す図。
再フォーマッティング時のディスクの状態を示す図。
【図６】 一般的な光ディスクで表す欠陥領域の管理や
再フォーマッティング時のディスクの状態を示す図。
再フォーマッティング時のディスクの状態を示す図。
【図７】 実時間記録のためのデータ記録時の欠陥領域
の管理や再フォーマッティング時のディスクの状態を示
す図。
の管理や再フォーマッティング時のディスクの状態を示
す図。
【図８】 本発明の第１実施形態による光記録媒体の欠
陥領域管理方法を示す流れ図。
陥領域管理方法を示す流れ図。
【図９】 図８でユーザー領域の欠陥ブロックがスペア
領域の交替ブロックに交替される過程をディスク上で示
す図。
領域の交替ブロックに交替される過程をディスク上で示
す図。
【図１０】 図９の交替過程でＳＤＬエントリに残る情
報の一例を示す図。
報の一例を示す図。
【図１１】 図９の交替過程においてＳＤＬエントリを
用いてスペア領域の推測された欠陥ブロックの情報に対
するエントリの一例を示す図。
用いてスペア領域の推測された欠陥ブロックの情報に対
するエントリの一例を示す図。
【図１２】 図７で再フォーマッティングによってユー
ザー領域が拡張し、オーバーフロー時にユーザー領域の
欠陥ブロックが新たな交替ブロックに再割り当てられる
例をディスク上で示す図。
ザー領域が拡張し、オーバーフロー時にユーザー領域の
欠陥ブロックが新たな交替ブロックに再割り当てられる
例をディスク上で示す図。
【図１３】 図１２の再フォーマッティング後、新たな
ＳＤＬエントリに登録される情報の一例を示す図。
ＳＤＬエントリに登録される情報の一例を示す図。
【図１４】 図１２の再フォーマッティング後、新たな
ＳＤＬエントリに登録される情報の他の例を示す図。
ＳＤＬエントリに登録される情報の他の例を示す図。
【図１５】 本発明の第２実施形態による光記録媒体の
欠陥領域管理方法を示す流れ図。
欠陥領域管理方法を示す流れ図。
【図１６】 図１５で再フォーマッティングによってユ
ーザー領域が拡張し、オーバーフロー時にユーザー領域
の欠陥ブロックが新たな交替ブロックに再割り当てられ
る例をディスク上で示す図。
ーザー領域が拡張し、オーバーフロー時にユーザー領域
の欠陥ブロックが新たな交替ブロックに再割り当てられ
る例をディスク上で示す図。
【図１７】 本発明の第３実施形態による光記録媒体の
欠陥領域管理方法によってＳＤＬエントリに残る情報の
一例（ａ）と、その（ａ）による光記録媒体の欠陥領域
管理方法によって再フォーマッティングされたディスク
状態の一例（ｂ）を示す図。
欠陥領域管理方法によってＳＤＬエントリに残る情報の
一例（ａ）と、その（ａ）による光記録媒体の欠陥領域
管理方法によって再フォーマッティングされたディスク
状態の一例（ｂ）を示す図。
【図１８】 本発明の第３実施形態による光記録媒体の
欠陥領域管理方法によってＳＤＬエントリに残る情報の
他の例（ａ）と、その（ａ）による光記録媒体の欠陥領
域管理方法によって再フォーマッティングされたディス
ク状態の他の例（ｂ）を示す図。
欠陥領域管理方法によってＳＤＬエントリに残る情報の
他の例（ａ）と、その（ａ）による光記録媒体の欠陥領
域管理方法によって再フォーマッティングされたディス
ク状態の他の例（ｂ）を示す図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ミョン・グ・イ 大韓民国・キョンキ−ド・アンヤン−シ・ ドンアン−ク・ピョンチョン−ドン・（番 地なし）・クムマウル ヒョンダイ アパ ートメント 601−104 (72)発明者 ジョン・イン・シン 大韓民国・キョンキ−ド・アンヤン−シ・ マンアン−ク・アンヤン−ドン・830−26 (72)発明者 キュ・ハ・ジョン 大韓民国・キョンキ−ド・ゴヤン−シ・ド クヤン−ク・ソンサ−ドン・（番地な し）・シンオンダン アパートメント 701−1101
Claims (16)
- 【請求項１】 欠陥領域の発生時、交替領域のブロック
に交替してデータを記録し、主欠陥データ格納部（ＰＤ
Ｌ）と２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）とを含む欠陥管
理領域（ＤＭＡ）を用いて光記録媒体の欠陥領域を管理
する方法において、 フォーマッティング時、ユーザー領域の欠陥ブロックの
情報やスリップによる拡張でユーザー領域に含まれるこ
とになる交替欠陥ブロックの情報を欠陥管理領域（ＤＭ
Ａ）に格納することを特徴とする光記録媒体の欠陥領域
管理方法。 - 【請求項２】 前記欠陥管理領域（ＤＭＡ）にオーバー
フローが発生しないと、スリップによる拡張でユーザー
領域に含まれることになる交替欠陥ブロックの情報はす
べて主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に格納することを特
徴とする請求項１に記載の光記録媒体の欠陥領域管理方
法。 - 【請求項３】 前記欠陥管理領域（ＤＭＡ）にオーバー
フローが発生すると、スリップによる拡張でユーザー領
域に含まれることになる交替欠陥ブロックの情報のう
ち、主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に格納されていない
情報を２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に格納すること
を特徴とする請求項１に記載の光記録媒体の欠陥領域管
理方法。 - 【請求項４】 前記ユーザー領域の欠陥ブロックの情報
は２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録されており、
交替欠陥ブロックの情報は前記２次欠陥データ格納部
（ＳＤＬ）に登録された交替ブロックから推測できるこ
とを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体の欠陥領域
管理方法。 - 【請求項５】 前記ユーザー領域内の欠陥ブロックの情
報を、まず、欠陥管理領域（ＤＭＡ）内の主欠陥データ
格納部（ＰＤＬ）に変換した後、交替領域内の欠陥ブロ
ックの情報を前記主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に変換
することを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体の欠
陥領域管理方法。 - 【請求項６】 前記交替領域内の欠陥ブロックの情報を
まず、欠陥管理領域（ＤＭＡ）内の主欠陥データ格納部
（ＰＤＬ）に変換した後、ユーザー領域内の欠陥ブロッ
クの情報を前記主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に変換す
ることを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体の欠陥
領域管理方法。 - 【請求項７】 前記ユーザー領域内の欠陥ブロックの情
報と交替領域内の欠陥ブロックの情報とを交互に欠陥管
理領域（ＤＭＡ）内の主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に
変換することを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体
の欠陥領域管理方法。 - 【請求項８】 前記オーバーフローは、フォーマッティ
ング時に２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に登録された
ユーザー領域の欠陥ブロックだけではなく、推測された
交替領域の欠陥ブロックに対する情報をすべて主欠陥デ
ータ格納部（ＰＤＬ）に格納できない場合に発生するこ
とを特徴とする請求項２または３に記載の光記録媒体の
欠陥領域管理方法。 - 【請求項９】 検証なしで２次欠陥データ格納部（ＳＤ
Ｌ）の欠陥ブロックを主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に
変換するフォーマッティング時、主欠陥データ格納部
（ＰＤＬ）にオーバーフローが発生すると、交替領域に
存在する欠陥ブロックの情報は格納しないことを特徴と
する請求項８に記載の光記録媒体の欠陥領域管理方法。 - 【請求項１０】 検証により２次欠陥データ格納部（Ｓ
ＤＬ）の欠陥ブロックを主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）
に変換するフォーマッティング時に主欠陥データ格納部
（ＰＤＬ）にオーバーフローが発生すると、スリップに
よって新たにフロック警戒が指定された交替領域のう
ち、未使用交替領域に含まれた欠陥ブロックの位置情報
を新たな２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に格納するこ
とを特徴とする請求項８に記載の光記録媒体の欠陥領域
管理方法。 - 【請求項１１】 前記主欠陥データ格納部（ＰＤＬ）に
オーバーフローが発生すると、スリップによって新たに
ブロック境界が指定された交替領域のうち、新たなＳＤ
Ｌに登録された交替領域に含まれた欠陥ブロックの位置
情報は格納しないことを特徴とする請求項１０に記載の
光記録媒体の欠陥領域管理方法。 - 【請求項１２】 前記検証によるフォーマッティング
時、交替領域は欠陥のあるブロックに対してのみ検証す
ることを特徴とする請求項１０に記載の光記録媒体の欠
陥領域管理方法。 - 【請求項１３】 データ記録時、交替ブロックの欠陥可
否を確認して、前記交替ブロックに欠陥が発生するとき
は、その交替ブロックの情報を２次欠陥データ格納部
（ＳＤＬ）に格納し、フォーマッティング時に主欠陥デ
ータ格納部（ＰＤＬ）に変換することを特徴とする請求
項１に記載の光記録媒体の欠陥領域管理方法。 - 【請求項１４】 データ記録時、欠陥が発生した交替ブ
ロックの情報のみを２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に
格納し、新たに交替させるブロックの情報は格納しない
ことを特徴とする請求項１３に記載の光記録媒体の欠陥
領域管理方法。 - 【請求項１５】 欠陥領域の発生時、交替領域のブロッ
クに交替してデータを記録し、主欠陥データ格納部（Ｐ
ＤＬ）と２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）とを用いて光
記録媒体の欠陥領域を管理する方法において、 交替されたブロックの欠陥可否を確認するステップと、
前記交替ブロックに欠陥が発生するときは、欠陥情報を
２次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に格納するステップ
と、 フォーマッティング時、前記２次欠陥データ格納部（Ｓ
ＤＬ）に格納された欠陥ブロックの情報を主欠陥データ
格納部（ＰＤＬ）に格納するステップとからなることを
特徴とする光記録媒体の欠陥領域管理方法。 - 【請求項１６】 前記フォーマッティングステップでオ
ーバーフローが発生すると、主欠陥データ格納部（ＰＤ
Ｌ）に変換されてない欠陥ブロックの情報は、新たな２
次欠陥データ格納部（ＳＤＬ）に格納することを特徴と
する請求項１５に記載の光記録媒体の欠陥領域管理方
法。
Applications Claiming Priority (4)
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|---|---|---|---|
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| KR10-1998-0033173A KR100437756B1 (ko) | 1998-07-14 | 1998-08-10 | 광기록매체및그결함영역관리방법과그포맷팅방법 |
| KR28374/1998 | 1998-08-10 | ||
| KR33173/1998 | 1998-08-10 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003111493A Division JP3923922B2 (ja) | 1998-07-14 | 2003-04-16 | 光記録媒体の欠陥領域管理方法 |
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|---|---|
| JP2000040308A true JP2000040308A (ja) | 2000-02-08 |
| JP3542744B2 JP3542744B2 (ja) | 2004-07-14 |
Family
ID=26633914
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19275199A Expired - Fee Related JP3542744B2 (ja) | 1998-07-14 | 1999-07-07 | 光記録媒体の欠陥領域管理方法 |
| JP2003111493A Expired - Fee Related JP3923922B2 (ja) | 1998-07-14 | 2003-04-16 | 光記録媒体の欠陥領域管理方法 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003111493A Expired - Fee Related JP3923922B2 (ja) | 1998-07-14 | 2003-04-16 | 光記録媒体の欠陥領域管理方法 |
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| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6526522B1 (ja) |
| JP (2) | JP3542744B2 (ja) |
| KR (1) | KR100437756B1 (ja) |
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| KR100421844B1 (ko) * | 1998-09-24 | 2004-04-17 | 엘지전자 주식회사 | 정보기록매체의결함영역관리방법 |
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