KR100606663B1 - 광기록매체와이의결함영역관리및포맷팅방법 - Google Patents

Abstract

재기록 가능한 광 기록매체의 결함영역 관리 및 포맷팅 방법에 관한 것으로서, 특히 데이터 기록/재생 중에 SDL에 등록안된 결함 블록이 발견되어 SDL에 상기 결함 블록을 새로이 등록시 상기 결함 블록내의 에러 크기(즉, PID 에러 섹터의 개수 또는 ECC 에러 로우의 개수)도 상기 SDL 엔트리의 미사용 영역에 함께 기록한 후 포맷팅시에 SDL에 등록된 결함 블록의 에러 크기가 일정값보다 작으면 상기 SDL에 등록된 결함 블록의 결함 섹터만을 검증을 통해 PDL의 G₁-리스트로 변환하고 일정값보다 크거나 같으면 PDL로 변환하지 않고 SDL에 그대로 유지시킴으로써, DMA 리스트를 효율적으로 관리하여 DMA의 오버플로우 발생 확률을 줄이므로 시스템의 성능을 높이는 효과가 있다. 특히, DMA 리스트 상태에 따라 상기 비교되는 개수를 조절하여 DMA 리스트의 활용도를 더욱 높인다.

Description

광기록매체의 결함 영역 관리 및 포맷팅 방법{Method for managing defect area and formating of optical recording medium}

본 발명은 재기록 가능한 광 기록매체의 결함 영역 관리 및 포맷팅 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 광기록매체는 반복 기록의 가능여부에 따라 읽기 전용의 롬(ROM)형과, 1회 기록가능한 웜(WORM)형 및 반복적으로 기록할 수 있는 재기록 가능형 등으로 크게 3종류로 나뉘어 진다.

여기서, 롬형 광기록매체는 컴팩트 디스크 롬(Compact Disc Read Only Memory ; CD-ROM)과 디지털 다기능 롬(Digital Versatile Disc Read Only Memory ; DVD-ROM) 등이 있으며, 웜형 광기록매체는 1회 기록가능한 컴펙트 디스크(Recordable Compact Disc ; CD-R)와 1회 기록가능한 디지털 다기능 디스크(Recordable Digital Versatile Disc ; DVD-R) 등이 있다.

또한, 자유롭게 반복적으로 재기록 가능한 디스크로는 재기록 가능한 컴펙트 디스크(Rewritable Compact Disc ; CD-RW)와 재기록 가능한 디지털 다기능 디스크(Rewritable Digital Versatile Disc ; DVD-RAM, DVD-RW) 등이 있다.

한편, 재기록 가능형 광기록 매체의 경우, 그 사용특성상 정보의 기록/재생 작업이 반복적으로 수행되는데, 이로인해 광기록매체에 정보 기록을 위해 형성된 기록층을 구성하는 혼합물의 혼합 비율이 초기의 혼합 비율과 달라지게 되어 그 특성을 잃어 버림으로써 정보의 기록/재생시 오류가 발생된다.

이러한 현상을 열화라고 하는데, 이 열화된 영역은 광기록매체의 포맷, 기록, 재생 명령 수행시 결함 영역(Defect Area)으로 나타나게 된다.

또한, 재기록 가능형 광기록매체의 결함 영역은 상기의 열화 현상 이외에도 표면의 긁힘, 먼지 등의 미진, 제작시의 오류 등에 의해 발생되기도 한다.

그러므로, 상기와 같은 원인으로 형성된 결함 영역에 데이터를 기록/재생하는 것을 방지하기 위하여 이 결함 영역의 관리가 필요하게 되었다.

이를 위해 도 1에 도시된 바와 같이 광기록매체의 리드-인 영역(lead-in area)과 리드-아웃 영역(lead-out area)에 결함 관리 영역(Defect Management Area ; 이하 DMA라 함)을 두어 광기록매체의 결함 영역을 관리하고 있다. 또한, 데이터 영역은 그룹별로 나누어 관리하는데, 각 그룹은 실제 데이터가 기록되는 유저 영역과 상기 유저 영역에 결함이 발생하였을 때 이용하기 위한 스페어(Spare) 영역으로 나뉘어진다.

그리고, 일반적으로 하나의 디스크에는 4개의 DMA가 존재하는데, 2개의 DMA는 리드-인 영역에 존재하고 나머지 2개의 DMA는 리드-아웃 영역에 존재한다. 각 DMA는 2개의 블록(block)으로 이루어지고, 총 32섹터들(sectors)로 이루어진다.

여기서, 각 DMA의 제 1 블록(DDS/PDL 블록이라 함)은 DDS(Disc Definition Structure)와 PDL(Primary Defect List)을 포함하고, 각 DMA의 제 2 블록(SDL 블록이라 함)은 SDL(Secondary Defect List)을 포함한다.

이때, PDL은 주결함 데이터 저장부를 의미하며, SDL은 부결함 데이터 저장부를 의미한다.

일반적으로 PDL은 디스크 제작 과정에서 생긴 결함 그리고, 디스크를 포맷 즉, 최초 포맷팅(Initialize)과 재포맷팅(Re-initialize)시 확인되는 모든 결함 섹터들의 엔트리들(Entries)을 저장한다. 여기서, 각 엔트리는 도 2a에 도시된 바와 같이 엔트리 타입과 결함 섹터에 대응하는 섹터 번호로 구성된다. 상기 섹터 번호는 올림차순으로 리스트된다. 그리고, 상기 엔트리 타입은 결함 섹터의 발생 원인(Origin)을 열거하는데, 일 예로 00b이면 P-리스트, 10b이면 G₁-리스트, 11b이면 G₂-리스트로 분류된다.

즉, 디스크 제조업자가 정의한 결함 섹터 예컨대, 디스크 제작 과정에서 생긴 결함 섹터들은 P-리스트로 저장하고, 디스크를 포맷할 때 검증 과정(Certification process) 동안 발견되는 결함 섹터들은 G₁-리스트로 저장하며, 검증 과정없이 SDL로부터 이전되는 결함 섹터들은 G₂-리스트에 저장한다.

한편, 상기 SDL은 블록 단위로 리스트되는데, 포맷 후에 발생하는 결함 영역들이나 포맷 동안 PDL에 저장할 수 없는 결함 영역들의 엔트리들을 저장한다. 상기 각 SDL 엔트리는 도 2b에 도시된 바와 같이 결함 섹터가 발생한 블록의 첫 번째 섹터의 섹터 번호를 저장하는 영역과 그것을 대체할 대체 블록의 첫 번째 섹터의 섹터 번호를 저장하는 영역 그리고, 미사용 영역(Reserved)으로 구성된다. 또한, 상기 각 엔트리에는 강제 재할당 마킹(Forced Reassignment Marking ; FRM)을 위해 1비트가 할당되어 있는데, 그 값이 0b이면 대체 블록이 할당되어(assigned) 있고 대체 블록에 결함이 없음을 의미하며, 1b이면 대체 블록이 할당되어 있지 않거나 또는 할당된 대체 블록에 결함이 있음을 의미한다.

그리고, 디스크를 초기화하는 방법으로는 최초 포맷팅(Initialize)과 재포맷팅(Re-initialize)으로 나누어지는데, 상기 재포맷팅은 다시 최초 포맷팅과 같은 풀(full) 포맷팅과, 부분적으로 초기화를 수행하는 부분 포맷팅(partial certification) 그리고, 포맷 시간의 단축을 위해 검증없이 SDL을 PDL의 G₂-리스트로 옮기는 포맷팅(conversion of SDL to G₂-리스트 ; 이하, 단순 포맷팅이라 칭함.)등이 있다. 여기서, 상기 P-리스트는 어떠한 포맷팅 후에도 변하지 않으며, G₂-리스트의 경우에는 SDL의 결함 블록이 그대로 결함 섹터로 저장되므로 이중에는 정상 섹터도 포함될 수 있으나 결함 섹터로 간주한다.

즉, 부분 포맷팅은 도 3a에 도시된 바와 같이, 포맷전의 P-리스트와 G₁-리스트의 섹터들은 포맷후에도 그대로 P-리스트와 G₁-리스트에 남게되나, 포맷전의 옛(old) G₂-리스트와 SDL에 리스트된 결함 블록들은 검증 과정을 거친다. 그리고, G₂-리스트와 SDL 내의 엔트리들은 모두 지운 후 상기 검증과정에서 발견되는 결함 섹터들만 G₁-리스트에 등록한다. 이는 G₂-리스트나 SDL에 있는 결함 블록에는 결함이 없는 섹터도 포함되어 있기 때문이다. 이때, G₁-리스트에 오버플로우(overflow)가 발생하면 그 나머지는 다시 새로운 SDL에 리스트되며, G₂-리스트에는 널(Null) 데이터가 삽입된다.

또한, 검증없이 SDL을 G₂-리스트로 변환하는 단순(simple or quick) 포맷은 도 3b에 도시된 바와 같이, 포맷전의 P-리스트와 G₁-리스트, G₂-리스트 내의 섹터들은 포맷후에도 그대로 P-리스트와 G₁-리스트, G₂-리스트에 유지된다. 그리고, 옛(old) SDL 엔트리들은 16 PDL 엔트리로 변환한 후 해당 SDL 엔트리를 삭제하고 G₂-리스트에 등록한다. 이때, G₂-리스트에 오버플로우가 발생하면 G₂-리스트에 등록되지 않은 SDL의 나머지 엔트리들은 새로운(new) SDL에 남는다.

여기서, 오버플로우가 발생하는 것은 다음의 수학식 1과 같은 조건에 의해 PDL에 등록될 수 있는 엔트리 수가 한정되기 때문이다.

여기서, S_PDL은 PDL 엔트리를 유지하기 위해 사용된 섹터의 개수, S_SDL은 SDL 엔트리를 유지하기 위해 사용된 섹터의 개수, E_PDL은 PDL 엔트리의 개수, E_SDL은 SDL 엔트리의 개수이다. 그리고, 는 P보다 크지않은 최대 정수를 표시한다.

즉, PDL과 SDL에 사용될 수 있는 전체 섹터의 개수는 16섹터를 넘을 수 없으며, PDL만으로 또는, SDL만으로는 15섹터를 넘어설 수 없다.

한편, 상기 데이터 영역내의 결함 영역(즉, 결함 섹터 또는 결함 블럭)들은 정상적인 영역으로 대체되어져야 하는데, 대체 방법으로는 슬리핑 대체(slipping replacement)방법과 리니어 대체(linear replacement)방법이 있다.

상기 슬리핑 대체방법은 결함 영역이 PDL에 등록되어 있는 경우에 적용되는 방법으로, 도 4a에 도시된 바와 같이 실제 데이터가 기록되는 유저 영역(user area)에 결함 섹터가 존재하면 그 결함 섹터를 건너뛰고 대신에 그 결함 섹터 다음에 오는 정상 섹터(Good sector)로 대체되어 데이터를 기록한다.

그러므로, 데이터가 기록되는 유저 영역은 밀리면서 결국 건너 뛴 결함 섹터 만큼 스페어 영역(spear area)을 차지하게 된다. 예컨대, PDL의 P-리스트나 G₁-리스트에 2개의 결함 섹터가 등록되어 있다면 데이터는 스페어 영역의 2섹터까지 밀려서 기록된다. 그리고, PDL의 G₂-리스트에 결함 섹터가 기록되어 있다면 데이터는 스페어 영역의 16 섹터(=1 블럭)까지 밀려서 기록된다.

또한, 리니어 대체 방법은 결함 영역이 SDL에 등록되어 있는 경우에 적용되는 방법으로, 도 4b에 도시된 바와 같이 유저 영역에 결함 블록(defect block)이 존재하면 스페어 영역에 할당된 블록 단위의 대체(replacement) 영역으로 대체되어 데이터를 기록한다.

도 5는 일반적인 광디스크 기록 장치의 일예를 나타낸 블록도로서, 광디스크에 데이터를 기록하고 재생하기 위한 광픽업, 상기 광 픽업을 이송시키는 픽업 이송부, 입력되는 데이터를 처리하여 상기 광 픽업으로 전송하는 데이터 처리부, 인터페이스, 이들을 제어하는 마이콤 등으로 구성되고, 광디스크 기록 장치의 인터페이스에는 호스트(host)가 연결되어 상호간에 명령어와 데이터가 전달되도록 구성된다.

이와 같이 구성되는 도 5에서 기록해야 할 데이터가 발생되면 호스트는 기록 명령을 광디스크 기록장치에 보낸다. 상기 기록 명령은 기록 위치를 지정하는 LBA(Logical Block Address)와 데이터의 크기를 알려주는 전송 길이(transfer length)를 포함한다.

이어서, 호스트는 기록할 데이터를 상기 광디스크 기록 장치로 보낸다. 상기 광디스크 기록 장치는 호스트로부터 광디스크에 기록할 데이터가 입력되면 이를 지정된 LBA부터 기록하기 시작한다.

이때, 상기 광디스크 기록장치는 광디스크의 결함을 표시하는 정보인 PDL과 SDL을 이용하여 결함이 있는 영역에는 데이터를 기록하지 않는다.

즉, PDL에 기록된 물리적 섹터(physical sector)는 슬리핑 대체 즉, 건너뛰면서 기록하고, SDL에 기록된 물리적 블록(physical block)은 리니어 대체 즉, 스페어 영역에 할당된 대체(replacement) 블록으로 대체해 가면서 기록하게 된다.

또한, 기록이나 재생시에 SDL에 리스트되어 있지 않은 결함 블록 또는 에러 소지가 많은 블록이 있으면 이 블록을 결함 블록으로 간주하고, 스페어 영역의 대체 블록을 찾아 상기 결함 블록의 데이터를 재기록한 후 상기 결함 블록의 첫 번째 섹터 번호와 대체 블록의 첫 번째 섹터 번호를 SDL 엔트리에 등록한다.

그러나, 상기된 리니어 대체 방법은 SDL에 기록된 결함 블록의 데이터를 스페어 영역에 할당된 대체 블록에 기록하기 위해 광 픽업을 스페어 영역으로 이송시켰다가 다시 유저 영역으로 이송시켜야 하므로, 이러한 과정이 계속 반복되면 시스템의 성능(performance)을 떨어뜨릴 수 있다.

따라서, 재포맷팅하는 이유중의 하나가 상기 SDL에 등록된 결함 섹터들을 PDL로 옮겨 계속적인 리니어 대체를 줄임으로써, 시스템의 성능을 높이기 위해서이다.

이때, 재포맷팅 방법에는 상기와 같이 여러 가지가 있을 수 있는데 포맷팅이 복잡하므로 SDL을 G₂-리스트로 검증없이 변환하는 단순 포맷 방법처럼 포맷 과정을 단순화하려는 경향이 있다.

그러나, SDL에 등록된 결함 블록에는 결함이 없는 섹터도 포함되어 있는데 상기된 검증없이 SDL을 G₂-리스트로 변환하는 단순 포맷은 SDL에 등록된 결함 블록의 모든 섹터들을 PDL의 G₂-리스트로 변환하므로 PDL이 상기된 수학식 1과 같은 조건에 빨리 가까워지고, 이로인해 DMA에 오버플로우가 쉽게 발생할 수 있게 된다. 예컨대, SDL 엔트리는 8바이트이고, PDL 엔트리는 4바이트이므로, 하나의 SDL 엔트리가 PDL의 G₂-리스트로 변환되면 PDL은 64(=4×16)바이트가 필요하게 된다.

이때, 오버플로우가 나게되면 디스크를 사용할 수 없는 경우도 발생하므로 상기된 단순 포맷 방법은 DMA의 활용도를 떨어뜨리는 문제가 있다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 결함 블록이 발견되어 SDL에 등록시 상기 SDL 엔트리의 미사용 영역에 결함 블록의 에러 크기도 함께 등록하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법을 제공함에 있다.

본 발명의 다른 목적은 재포맷팅시 SDL에 등록된 결함 블록의 에러 크기에 따라 상기 SDL에 등록된 결함 블록의 결함 섹터만을 검증을 통해 PDL의 G₁-리스트로 변환하거나 또는 PDL로 변환하지 않는 광 기록매체의 포맷팅 방법을 제공함에 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광 기록매체의 결함영역 관리방법은, 결함 블록이 발견되어 결함 블록의 위치 정보를 SDL에 등록시 상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보도 함께 상기 SDL에 등록하는 것을 특징으로 한다.

상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보는 PID 에러 섹터의 개수인 것을 특징으로 한다.

상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보는 ECC 에러 로우의 개수인 것을 특징으로 한다.

상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보는 상기 SDL의 미사용 영역에 등록하는 것을 특징으로 한다.

본 발명에 따른 광 기록매체의 포맷팅 방법은, SDL에 등록된 결함 블록의 에러 크기를 확인하는 단계와, 상기 결함 블록의 에러 크기가 기준값보다 작으면 검증에 의해 상기 결함 블록내의 결함 섹터만을 PDL의 G₁-리스트로 변환하는 단계와, 상기 결함 블록의 에러 크기가 기준 값보다 크거나 같으면 상기 결함 블록을 PDL로 변환하지 않는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.

상기 변환 단계의 기준값은 상기 PDL과 SDL의 리스트 상태에 따라 가변 가능한 것을 특징으로 한다.

본 발명의 다른 목적, 특징 및 잇점들은 첨부한 도면을 참조한 실시예들의 상세한 설명을 통해 명백해질 것이다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.

본 발명은 SDL을 PDL로 변환하는 포맷 방법을 개선한 것이다. 즉, 본 발명은 데이터 기록/재생 중에 SDL에 등록안된 결함 블록이 발견되어 SDL에 등록시 상기 결함 블록내의 에러 크기(예컨대, PID 에러 섹터의 개수 또는 ECC 에러 로우의 개수)도 도 6과 같이 상기 SDL 엔트리의 미사용 영역에 등록한 후 포맷팅시에 상기 결함 블록의 에러 크기에 따라 상기 SDL에 등록된 결함 블록의 결함 섹터만을 검증을 통해 G₁-리스트로 변환하거나 또는 SDL에 그대로 유지시킨다.

즉, DVD-RAM 규격에서는 일예로 하나의 ECC 블록에서 PID 에러 섹터가 1개 이상(PID 에러라 칭함), 또는 하나의 ECC 블록에서 에러 로우(error row)가 8개 이상이면(ECC 에러라 칭함) 그 블록은 SDL에 등록은 되어 있지 않지만 결함이 있다고 판별하고 상기 결함 블록을 SDL에 새로이 등록하고 스페어 영역의 대체 블록으로 리니어 대체를 수행한다. 이때, 하나의 ECC 블록은 172 바이트 × 192 로우(=172바이트 × 12 로우 × 16 데이터 유니트 1)로 되어 있다. 그리고, 172 컬럼 각각에는 16 바이트의 외부 패리티(PO)가 붙어있고 상기 PO를 포함한 208 로우 각각에는 10바이트의 내부 패리티(PI)가 붙어있다.

따라서, 상기 도 6과 같은 SDL 엔트리의 미사용 영역에는 PID 에러 섹터의 개수 대신 ECC 에러 로우의 개수를 등록할 수도 있다.

도 7은 도 6과 같은 SDL 엔트리 구조를 갖는 광 기록매체의 포맷팅 과정을 나타낸 본 발명의 흐름도로서, 포맷팅이 선택되면(단계 701), 옛 DMA 정보를 읽은 후 옛 PDL의 P-리스트에 등록된 결함 섹터들은 그대로 새로운 PDL의 P-리스트에 등록하고, 옛 PDL의 G₁-리스트에 등록된 결함 섹터들은 그대로 새로운 PDL의 G₁-리스트에 등록한다(단계 702).

또한, 옛 SDL에 등록된 결함 블록도 PDL로 변환하여야 하는데, 이때 상기 SDL 엔트리에 등록된 결함 블록의 에러 크기가 일정값 이하일 때만 PDL로 변환한다.

이를 위해 먼저, 옛 SDL에 등록된 결함 블록의 에러 크기를 확인한다(단계 703). 만일 SDL 엔트리의 등록시 PID 에러 섹터의 개수를 에러 크기로 등록하였다면 상기 SDL 엔트리에 등록된 결함 블록의 에러 섹터의 개수를 읽는다. 그리고, 상기 결함 블록의 에러 섹터의 개수가 미리 정한 기준값(N)보다 작은지를 비교한다(단계 704).

만일, 상기 에러 섹터의 개수가 기준값(N)보다 작다고 판별되면 검증(certification)을 통해 상기 옛 SDL의 결함 블록내 결함 섹터만을 새로운 PDL의 G₁-리스트에 등록하고 해당 SDL 엔트리를 삭제한다(단계 705). 즉, 상기 SDL 엔트리는 블록 단위로 데이터를 저장하므로 상기 결함 블록에는 에러가 아닌 정상 섹터도 포함되어 있을 수 있는데 상기 단계 705는 검증을 통해 결함 블록내의 정상 섹터는 결함 정보로부터 제외시킨다.

한편, 상기 에러 섹터의 개수가 기준값(N)보다 크거나 같다고 판별되면 상기 옛 SDL을 그대로 새로운 SDL로 변환한다(단계 706). 즉, 기존의 SDL을 그대로 유지한다.

여기서, 하나의 SDL 엔트리는 8바이트가 필요하고 하나의 PDL은 4바이트가 필요하므로, 한 블록내의 에러 섹터의 개수가 1개일 경우에는 옛 SDL을 PDL로 변환하는 것이 유리하다.

또한, 한 블록내의 에러 섹터의 개수가 2개일 경우에는 SDL과 PDL이 똑같이 8바이트를 필요로 하며, 한 블록내의 에러 섹터의 개수가 3개 이상일 때는 PDL로 변환하지 않고 SDL로 유지하는 것이 유리하다.

따라서, 호스트에서는 DMA 리스트 상태를 보고 상기 기준값(N)의 크기를 조절할 수 있다.

즉, DMA의 SDL과 PDL은 상기 수학식 1과 같은 조건을 만족하여야 하므로, PDL이 오버플로우가 되려고 하면 상기 기준값(N)을 작게하고, SDL이 오버플로우가 되려고 하면 상기 기준값(N)을 크게한다. 또한, DMA 리스트에 여유가 있으면 리니어 대체를 줄이기 위해 기준값(N)을 크게할 수도 있다.

그리고, 상기 SDL 엔트리의 미사용 영역에는 PID 에러 섹터의 개수 대신 ECC 에러 로우의 개수를 등록할 수 있다고 했는데, 만일 ECC 에러 로우의 개수가 등록되어 있다면 상기 기준값은 에러 섹터의 개수가 등록되어 있을 때와 다를 수 있으며, 이때에도 호스트에서 DMA 리스트 상태를 보고 상기 기준값(N)의 크기를 조절할 수 있다.

상기와 같은 과정이 모든 옛 PDL 엔트리와 SDL 엔트리에 적용되면 포맷팅 과정이 완료된다(단계 707).

그리고 나서, 데이터 재기록(또는 재생) 과정에서 PDL의 P-리스트나 G₁-리스트에 등록된 결함 섹터들을 만나면 슬리핑 대체 방법으로 데이터를 기록하거나 재생한다. 즉, 데이터 기록 중에 상기 PDL의 P-리스트나 G₁-리스트에 등록된 결함 섹터를 만나면 그 결함 섹터는 건너뛰고 대신 그 결함 섹터 다음에 오는 정상 섹터(Good sector)에 데이터를 기록한다.

또한, SDL에 등록된 결함 블록을 만나면 슬리핑 대체 방법으로 데이터를 기록하거나 재생한다. 즉, SDL 엔트리에 스페어 영역의 대체 블록이 할당되어 있으면 상기 결함 블록의 데이터를 스페어 영역의 대체 블록에 기록한다.

따라서, 본 발명은 옛 SDL에 등록된 결함 블록의 에러 크기에 따라 옛 SDL을 PDL로 변환하거나 또는, PDL로 변환하지 않도록 함으로써, 기존의 오버플로우 조건을 그대로 유지하면서도 DMA 리스트를 더욱 효율적으로 관리할 수 있게 된다.

이상에서와 같이 본 발명에 따른 광기록매체의 결함영역 관리 및 포맷팅 방법에 의하면, 데이터 기록/재생 중에 SDL에 등록안된 결함 블록이 발견되어 SDL에 새로이 등록시 상기 결함 블록내의 에러 크기(예컨대, PID 에러 섹터의 개수 또는 ECC 에러 로우의 개수)도 상기 SDL 엔트리의 미사용 영역에 기록한 후 포맷팅시에 SDL에 등록된 결함 블록의 에러 크기가 기준값보다 작으면 상기 SDL에 등록된 결함 블록의 결함 섹터만을 검증을 통해 PDL의 G₁-리스트로 변환하고 기준값보다 크거나 같으면 PDL로 변환하지 않고 SDL에 그대로 유지시킴으로써, DMA 리스트를 효율적으로 관리하여 DMA의 오버플로우 발생 확률을 줄이므로 시스템의 성능을 높이는 효과가 있다. 특히, DMA 리스트 상태에 따라 상기 비교되는 기준값을 조절할 수 있으므로 DMA 리스트의 활용도를 더욱 높일 수 있다.

도 1은 일반적인 광디스크의 구조를 보인 도면

도 2a는 일반적인 PDL 엔트리 구조를 보인 도면

도 2b는 일반적인 SDL 엔트리 구조를 보인 도면

도 3a는 일반적인 포맷팅 방법 중 부분 포맷팅 방법을 보여주는 도면

도 3b는 일반적인 포맷팅 방법 중 검증없이 SDL 리스트를 G₂-리스트로 변환하는 단순 포맷팅 방법을 보여주는 도면

도 4a는 일반적인 슬리핑 대체 방법을 보여주는 도면

도 4b는 일반적인 리니어 대체 방법을 보여주는 도면

도 5는 일반적인 광 디스크 기록 장치의 구성 블록도

도 6은 본 발명에 따른 SDL 엔트리 구조를 보인 도면

도 7은 본 발명에 따른 광 기록매체의 포맷팅 방법을 나타낸 흐름도

Claims (20)

1. 결함 영역 발생시 대체 영역으로 대체하여 데이터를 기록하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법에 있어서,

   결함 블록의 위치 정보와 함께 상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보를 결함관리 영역(DMA) 내에 등록하는 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법.
2. 제 1항에 있어서,

   상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보는 물리적 인식 번호(PID) 에러 섹터의 개수인 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법.
3. 제 1항에 있어서,

   상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보는 ECC 에러 로우의 개수인 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법.
4. 제 1항에 있어서,

   상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보는 결함 관리 영역내 부결함 데이터 저장부(SDL) 엔트리의 특정 영역을 이용하여 등록하는 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법.
5. 부결함 데이터 저장부(SDL)에 등록된 결함 정보를 주결함 데이터 저장부(PDL)로 변환하는 광 기록매체의 포맷팅 방법에 있어서,

   상기 부결함 데이터 저장부(SDL)에 등록된 결함 블록의 에러 크기를 확인하는 단계와,

   상기 결함 블록의 에러 크기가 기준값보다 작으면 검증에 의해 상기 결함 블록내의 결함 섹터만을 주결함 데이터 저장부(PDL)로 변환하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 포맷팅 방법.
6. 제 5항에 있어서,

   상기 변환 단계는

   상기 결함 블록의 에러 크기가 기준값보다 작으면 검증에 의해 상기 결함 블록내의 결함 섹터만을 주결함 데이터 저장부(PDL)의 G₁-리스트에 등록하는 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 포맷팅 방법.
7. 제 5항에 있어서,

   상기 변환 단계는

   상기 결함 블록의 에러 크기가 기준값보다 크거나 같으면 상기 결함 블록을 주결함 데이터 저장부(PDL)로 변환하지 않는 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 포맷팅 방법.
8. 제 5항에 있어서,

   상기 변환 단계의 기준값은

   상기 주결함 데이터 저장부(PDL)와 부결함 데이터 저장부(SDL)의 리스트 상태에 따라 가변 가능한 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 포맷팅 방법.
9. 결함 영역이 대체되는 대체 영역과 결함 영역을 관리하는 결함관리 영역(DMA)을 구비하되,

   상기 결함관리 영역은 결함 데이터 저장부를 포함하고,

   상기 결함 데이터 저장부에는 결함 블록의 위치 정보와 함께 상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보가 등록되는 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
10. 제 9항에 있어서, 상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보는 물리적 인식 번호(PID) 에러 섹터의 개수인 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
11. 제 9항에 있어서, 상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보는 ECC 에러 로우의 개수인 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
12. 제 9항에 있어서, 상기 결함 블록의 에러 크기에 대한 정보는 상기 결함 관리 영역내 부결함 데이터 저장부(SDL) 엔트리의 특정 영역을 이용하여 등록하는 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
13. 부결함 데이터 저장부(SDL)에 등록된 결함 정보를 주결함 데이터 저장부(PDL)로 변환하는 광 기록매체의 포맷팅시, 상기 부결함 데이터 저장부(SDL)에 등록된 결함 블록의 에러 크기를 확인하여, 상기 결함 블록의 에러 크기가 기준값보다 작으면 검증에 의해 상기 결함 블록내의 결함 섹터만을 주결함 데이터 저장부(PDL)로 변환하는 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
14. 제 13항에 있어서, 상기 결함 블록의 에러 크기가 기준값보다 작으면 검증에 의해 상기 결함 블록내의 결함 섹터만을 주결함 데이터 저장부(PDL)의 G1-리스트에 등록하는 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
15. 제 13항에 있어서, 상기 결함 블록의 에러 크기가 기준값보다 크거나 같으면 상기 결함 블록을 주결함 데이터 저장부(PDL)로 변환하지 않는 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
16. 제 13항에 있어서, 상기 기준값은 상기 주결함 데이터 저장부(PDL)와 부결함 데이터 저장부(SDL)의 리스트 상태에 따라 가변 가능한 것을 특징으로 하는 광 기록매체.
17. 결함 영역 발생시 대체 영역으로 대체하여 데이터를 기록하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법에 있어서,

    적어도 결함 영역의 크기를 나타내는 정보를 결함관리 영역(DMA) 내에 기록하는 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법.
18. 제 17항에 있어서, 상기 결함 영역의 에러 크기에 대한 정보는 물리적 인식 번호(PID) 에러 섹터의 개수인 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법.
19. 제 17항에 있어서,

    상기 결함 영역의 에러 크기에 대한 정보는 ECC 에러 로우의 개수인 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법.
20. 제 17항에 있어서,

    상기 결함 영역의 에러 크기에 대한 정보는 상기 결함 관리 영역내 제 2 결함 데이터 저장부에 기록하는 것을 특징으로 하는 광 기록매체의 결함영역 관리방법.