JP2000031211A - Bonding device and its method - Google Patents

Bonding device and its method

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JP2000031211A
JP2000031211A JP20156898A JP20156898A JP2000031211A JP 2000031211 A JP2000031211 A JP 2000031211A JP 20156898 A JP20156898 A JP 20156898A JP 20156898 A JP20156898 A JP 20156898A JP 2000031211 A JP2000031211 A JP 2000031211A
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bonding
axis table
edge
height
substrate
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JP20156898A
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Mitsumasa Mukaibo
光正 向坊
Koki Iwakawa
幸喜 岩川
Tadanobu Higashida
忠信 東田
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To avoid the dispersion of the height position of substrates in bonding for securing the high bonding precision. SOLUTION: The edge part of a glass substrate 17 loaded on a Q axis table 24 is supported by an under supporter 16 and in the case of bonding an electronic component 5 on this edge part, this edge level position of the loaded glass 17c is detected by a position detector 15 and then a Z axis table 23 elevating the θ axis table 24 according to the level detection result is controlled by a controller 30 so that the relative level of the underside of the glass plate 17c may be held in a specific value. Through these procedures, even if the thickness of a polarizer 17d is dispersed, the relative level positions of the glass plate 17c and the under supporter 16 in the bonding time may be held in a specific value.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ガラス基板などに
電子部品をボンディングするボンディング装置およびボ
ンディング方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bonding apparatus and a bonding method for bonding an electronic component to a glass substrate or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶パネルなどの表示パネルの製造工程
において、ガラス基板の縁部に半導体素子などの電子部
品がボンディングされる。このボンディング工程では、
ガラス基板の中央部を吸着テーブルによって吸着して保
持し、吸着テーブルを位置決め手段によって移動させる
ことにより、電子部品が実装される縁部を正しい位置に
保持することが行われる。そして電子部品のボンディン
グ時には、ガラス基板の縁部は下受け部材によって下受
けされボンディング時の圧着荷重を支持する。
2. Description of the Related Art In a manufacturing process of a display panel such as a liquid crystal panel, an electronic component such as a semiconductor element is bonded to an edge of a glass substrate. In this bonding process,
The central portion of the glass substrate is sucked and held by the suction table, and the suction table is moved by the positioning means, whereby the edge on which the electronic component is mounted is held at the correct position. Then, at the time of bonding of the electronic component, the edge of the glass substrate is received by the lower receiving member and supports the pressure load at the time of bonding.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、ガラス基板
の裏面には偏光板が貼着されており、ボンディング工程
では、ガラス基板はこの偏光板を介して吸着テーブルに
保持される。ところが偏光板の厚さは均一でなく数十ミ
クロン程度のばらつきがある。このばらつき量は、電子
部品のボンディング時に必要とされるボンディング面の
高さ位置精度(10ミクロン程度)より大きい。このた
め、吸着テーブル上に載置した状態ではガラス基板の下
面と下受け部材との相対的な高さ位置が正しく保たれ
ず、ボンディング時の押圧状態が一定とならないことに
よりボンディング精度が良好に保たれないという問題点
があった。
By the way, a polarizing plate is adhered to the back surface of the glass substrate, and in the bonding step, the glass substrate is held on the suction table via the polarizing plate. However, the thickness of the polarizing plate is not uniform and has a variation of about several tens of microns. This variation amount is larger than the height position accuracy (about 10 microns) of the bonding surface required when bonding electronic components. For this reason, when placed on the suction table, the relative height position between the lower surface of the glass substrate and the lower receiving member is not properly maintained, and the pressing state at the time of bonding is not constant, so that the bonding accuracy is improved. There was a problem that it could not be maintained.

【0004】そこで本発明は、ボンディング時の基板の
高さ位置のばらつきを排除し、ボンディング精度を良好
に保つことができるボンディング装置およびボンディン
グ方法を提供することを目的とする。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a bonding apparatus and a bonding method capable of eliminating variations in the height position of a substrate during bonding and maintaining good bonding accuracy.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】請求項1記載のボンディ
ング装置は、基板を載置する載置ステージを備えこの基
板を位置決めする位置決め部と、前記載置ステージを昇
降させる昇降手段と、前記載置ステージに載置された前
記基板の縁部に電子部品をボンディングするボンディン
グツールと、ボンディング時に前記縁部を下受けする下
受け部と、前記載置された基板の縁部の高さ位置を検出
する高さ検出手段と、この高さ検出結果に基づいて前記
昇降手段を制御する制御手段とを備えた。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a bonding apparatus comprising a mounting stage for mounting a substrate, a positioning portion for positioning the substrate, a lifting means for raising and lowering the mounting stage, A bonding tool for bonding an electronic component to an edge of the substrate placed on the mounting stage, a lower receiving portion for receiving the edge during bonding, and a height position of the edge of the substrate placed above. There is provided a height detecting means for detecting, and a control means for controlling the elevating means based on a result of the height detection.

【0006】請求項2記載のボンディング方法は、載置
ステージに載置された基板の縁部を下受け部によって下
受けし、この縁部に電子部品をボンディングするボンデ
ィング方法であって、前記載置された基板の縁部の高さ
位置を高さ検出手段によって検出し、この高さ検出結果
に基づいて前記載置ステージを昇降させる昇降手段を制
御することにより、ボンディング時の前記下受け部に対
する前記基板の下面の相対高さを一定に保つようにし
た。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a bonding method for receiving an edge of a substrate mounted on a mounting stage by a lower receiving portion and bonding an electronic component to the edge. The height position of the edge of the mounted substrate is detected by height detection means, and the lifting means for raising and lowering the mounting stage is controlled based on the height detection result. Relative to the lower surface of the substrate was kept constant.

【0007】各請求項記載の発明によれば、ボンディン
グ前に基板の高さ位置を検出し、この高さ検出結果に基
づいて基板の高さを制御することにより、ボンディング
時の基板と下受け部の相対的高さ位置を一定に保つこと
ができる。
According to the present invention, the height position of the substrate is detected before bonding, and the height of the substrate is controlled based on the height detection result. The relative height position of the parts can be kept constant.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態のボン
ディング装置の斜視図、図2は同ボンディング装置の部
分側面図、図3(a),(b),(c)は同ボンディン
グ方法の工程説明図である。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view of a bonding apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partial side view of the bonding apparatus, and FIGS. 3 (a), 3 (b) and 3 (c) are process explanatory views of the bonding method. is there.

【0009】まず図1を参照してボンディング装置の構
造を説明する。図1において、電子部品の供給部1の基
台2上には、2基のトレイホルダ3が配設される。トレ
イホルダ3上には、電子部品5が多数収納されたトレイ
4が保持されている。基台2に沿ってY軸テーブル6が
配設されており、Y軸テーブル6には移載ヘッド8を備
えたX軸テーブル7が装着されている。Y軸テーブル
6,X軸テーブル7を駆動することにより、移載ヘッド
8は水平移動し、トレイ4に収納された電子部品5をピ
ックアップする。
First, the structure of the bonding apparatus will be described with reference to FIG. In FIG. 1, two tray holders 3 are arranged on a base 2 of a supply unit 1 for electronic components. On the tray holder 3, a tray 4 in which a large number of electronic components 5 are stored is held. A Y-axis table 6 is provided along the base 2, and an X-axis table 7 having a transfer head 8 is mounted on the Y-axis table 6. By driving the Y-axis table 6 and the X-axis table 7, the transfer head 8 moves horizontally and picks up the electronic components 5 stored in the tray 4.

【0010】供給部1の側方には、電子部品の受渡し部
10が配設されている。受渡し部10は移動テーブル1
1上でX方向に移動する保持プレート12を備えてい
る。トレイ4から電子部品5をピックアップした移載ヘ
ッド8は、実線で示す保持プレート12上に移動し、ピ
ックアップした電子部品5を保持プレート12上に移載
する。電子部品5を受け取った保持プレート12は図中
の破線位置まで前進し、上方に配設された回転ヘッド1
3のボンディングツール14に電子部品5を渡す。
On the side of the supply section 1, a delivery section 10 for electronic components is provided. Delivery unit 10 is moving table 1
1 is provided with a holding plate 12 which moves in the X direction. The transfer head 8 picking up the electronic component 5 from the tray 4 moves onto the holding plate 12 indicated by a solid line, and transfers the picked up electronic component 5 onto the holding plate 12. The holding plate 12 that has received the electronic component 5 advances to the position indicated by the broken line in FIG.
The electronic component 5 is transferred to the third bonding tool 14.

【0011】回転ヘッド13には、90度等配位置に4
個のボンディングツール14が設けられており、受け渡
し部10から反対方向に離れた位置にあるボンディング
ツール14の下方はボンディング位置となっており、高
さ検出手段である位置検出器15を備えた下受け部材1
6が配設されている。下受け部材16上にボンディング
対象のガラス基板17の縁部を位置させた状態で、電子
部品5を保持したボンディングツール14を下降させる
ことにより、電子部品5はガラス基板17にボンディン
グされる。
The rotating head 13 has four 90 ° equidistant positions.
Bonding tools 14 are provided, and a bonding position is located below the bonding tool 14 at a position distant from the transfer unit 10 in the opposite direction, and is provided with a position detector 15 as height detecting means. Receiving member 1
6 are provided. The electronic component 5 is bonded to the glass substrate 17 by lowering the bonding tool 14 holding the electronic component 5 with the edge of the glass substrate 17 to be bonded positioned on the lower receiving member 16.

【0012】下受け部材16の側方には位置決め部20
が配設されている。位置決め部20は、X軸テーブル2
1、Y軸テーブル22、Z軸テーブル23およびθ軸テ
ーブル24を段積みして構成されている。θ軸テーブル
24の上面は、ガラス基板17を載置する載置ステージ
としての吸着テーブルとなっており、ガラス基板17を
吸着して保持する。X軸テーブル21、Y軸テーブル2
2を駆動することにより、ガラス基板17は水平移動
し、Z軸テーブル23を駆動することによりガラス基板
17は昇降する。すなわちZ軸テーブル23はガラス基
板17の昇降手段となっている。
A positioning portion 20 is provided beside the lower receiving member 16.
Are arranged. The positioning unit 20 is an X-axis table 2
1, a Y-axis table 22, a Z-axis table 23 and a θ-axis table 24 are stacked. The upper surface of the θ-axis table 24 is a suction table as a mounting stage on which the glass substrate 17 is mounted, and sucks and holds the glass substrate 17. X-axis table 21, Y-axis table 2
By driving the glass substrate 17, the glass substrate 17 moves horizontally, and by driving the Z-axis table 23, the glass substrate 17 moves up and down. That is, the Z-axis table 23 serves as a means for elevating the glass substrate 17.

【0013】図2に示すように、ガラス基板17は2枚
のガラス板17b,17cおよびガラス板17b,17
cの表面に貼付された偏光板17a,17dより成って
いる。ガラス基板17は偏光板17cを介してθ軸テー
ブル24の上面によって保持されており、X軸テーブル
21、Y軸テーブル22、Z軸テーブル23およびθ軸
テーブル24を駆動することにより、ガラス基板17の
ガラス板17bの縁部を下受け部材16上に位置させ
る。
As shown in FIG. 2, the glass substrate 17 has two glass plates 17b and 17c and two glass plates 17b and 17c.
It is composed of polarizing plates 17a and 17d attached to the surface of c. The glass substrate 17 is held by the upper surface of the θ-axis table 24 via the polarizing plate 17c, and the glass substrate 17 is driven by driving the X-axis table 21, the Y-axis table 22, the Z-axis table 23, and the θ-axis table 24. Is positioned on the lower receiving member 16.

【0014】下受け部材16は中央で分割されており、
分割部には位置検出器15が装着されている。位置検出
器15のプローブ15aにガラス板17bの下面が接触
することにより、位置検出器15はガラス板17bの高
さ位置を検出する。この高さ検出結果は制御手段として
の制御部30に送られる。制御部30は高さ検出結果に
基づいてZ軸テーブル23を制御することにより、偏光
板17cの厚さtがばらついている場合にあっても、ガ
ラス板17bの下面を下受け部材16の上面に正確に当
接させ、ガラス板17b上面の実装面Aの高さ位置を正
確に保つことができる。そしてこのように高さ位置が保
たれたガラス板17bの縁部には、異方性導電テープ1
8を介して電子部品5がボンディングされる。
The lower receiving member 16 is divided at the center,
A position detector 15 is mounted on the division part. When the lower surface of the glass plate 17b contacts the probe 15a of the position detector 15, the position detector 15 detects the height position of the glass plate 17b. This height detection result is sent to the control unit 30 as control means. The control unit 30 controls the Z-axis table 23 based on the height detection result, so that even when the thickness t of the polarizing plate 17c varies, the lower surface of the glass plate 17b can be positioned on the upper surface of the lower receiving member 16. And the height position of the mounting surface A on the upper surface of the glass plate 17b can be accurately maintained. Anisotropic conductive tape 1 is attached to the edge of glass plate 17b whose height is maintained in this manner.
The electronic component 5 is bonded via the reference numeral 8.

【0015】このボンディング装置は上記のように構成
されており、以下動作について図3を参照して説明す
る。図3(a)において、ガラス板17bの縁部のボン
ディング位置に異方性導電テープ18が予め貼付された
ガラス基板17は、偏光板17cを介してθ軸テーブル
24上に吸着されている。位置決め部20の各テーブル
を駆動することにより、ガラス基板17を下受け部16
に向って移動させ(矢印a)、縁部を下受け部16に正
しく位置合せした後に、Z軸テーブル23を駆動してガ
ラス基板17を下降させる(矢印b)。
This bonding apparatus is configured as described above, and its operation will be described below with reference to FIG. In FIG. 3A, a glass substrate 17 having an anisotropic conductive tape 18 previously bonded to a bonding position at an edge of a glass plate 17b is adsorbed on a θ-axis table 24 via a polarizing plate 17c. By driving each table of the positioning section 20, the glass substrate 17 is moved to the lower receiving section 16.
(Arrow a), and after the edge is correctly aligned with the lower receiving portion 16, the Z-axis table 23 is driven to lower the glass substrate 17 (arrow b).

【0016】この下降動作の途中に設定された計測高さ
位置にて、ガラス板17bの下面は位置検出器15のプ
ローブ15aに接触し、計測高さ位置におけるガラス板
17bの下面の高さが検出される。そしてこの高さ検出
結果は制御部30に送られる。制御部30は計測高さ位
置におけるガラス板17bの高さ検出結果から、偏光板
17cの厚さのばらつきに起因する高さ位置ずれを補正
するためのZ軸テーブル23の駆動量の補正量を算出
し、この補正量に基づいてZ軸テーブル23を制御す
る。これにより、図3(b)に示すように、ガラス板1
7bの下面は下受け部材16の上面に正確に当接する。
すなわち、偏光板17cに厚さのばらつきがある場合に
おいても、ガラス板17bは下受け部材16によって正
しく下受けされ、この結果、ガラス板17bのボンディ
ング面Aは常に一定の高さ位置に保たれる。
At the measurement height position set during the lowering operation, the lower surface of the glass plate 17b contacts the probe 15a of the position detector 15, and the height of the lower surface of the glass plate 17b at the measurement height position is increased. Is detected. The height detection result is sent to the control unit 30. The control unit 30 calculates the correction amount of the drive amount of the Z-axis table 23 for correcting the height position shift due to the variation in the thickness of the polarizing plate 17c from the height detection result of the glass plate 17b at the measurement height position. It calculates and controls the Z-axis table 23 based on this correction amount. As a result, as shown in FIG.
The lower surface of 7 b accurately contacts the upper surface of the lower receiving member 16.
That is, even when the thickness of the polarizing plate 17c varies, the glass plate 17b is correctly received by the lower receiving member 16, and as a result, the bonding surface A of the glass plate 17b is always kept at a constant height. It is.

【0017】次に、ガラス板17bの縁部に対し、電子
部品5を保持したボンディングツール14を下降させ
る。そして図3(c)に示すように電子部品5を異方性
導電テープ18を介してガラス板17bに押圧しながら
加熱する。この状態を所定時間保持することにより、電
子部品5はガラス基板17にボンディングされる。この
とき、ボンディング面の高さ位置が常に正しく保たれて
いるため、押圧時の押圧状態を均一にすることができ、
所定のボンディング荷重によって良好なボンディング精
度を得ることができる。
Next, the bonding tool 14 holding the electronic component 5 is lowered with respect to the edge of the glass plate 17b. Then, as shown in FIG. 3C, the electronic component 5 is heated while being pressed against the glass plate 17b via the anisotropic conductive tape 18. By holding this state for a predetermined time, the electronic component 5 is bonded to the glass substrate 17. At this time, since the height position of the bonding surface is always kept correct, the pressing state at the time of pressing can be made uniform,
Good bonding accuracy can be obtained with a predetermined bonding load.

【0018】なお本実施の形態においては、高さ検出手
段として接触式の位置検出器を用いた例を示している
が、これ以外にも、レーザ変位計など光学式の位置検出
器を用いてもよい。
In the present embodiment, an example is shown in which a contact type position detector is used as the height detecting means. In addition, an optical type position detector such as a laser displacement meter may be used. Is also good.

【0019】[0019]

【発明の効果】本発明によれば、ボンディング前に基板
の高さ位置を検出し、この高さ検出結果に基づいて基板
の高さを制御するようにしたので、ボンディング時の基
板と下受け部の相対的高さ位置を一定に保つことができ
る。したがって、ボンディング荷重を常に均一に保っ
て、良好なボンディング精度を得ることができる。
According to the present invention, the height position of the substrate is detected before bonding, and the height of the substrate is controlled based on the height detection result. The relative height position of the parts can be kept constant. Therefore, a good bonding accuracy can be obtained while keeping the bonding load uniform at all times.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態のボンディング装置の斜
視図
FIG. 1 is a perspective view of a bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施の形態のボンディング装置の部
分側面図
FIG. 2 is a partial side view of the bonding apparatus according to the embodiment of the present invention;

【図3】(a)本発明の一実施の形態のボンディング方
法の工程説明図 (b)本発明の一実施の形態のボンディング方法の工程
説明図 (c)本発明の一実施の形態のボンディング方法の工程
説明図
FIG. 3A is a diagram illustrating a process of a bonding method according to an embodiment of the present invention. FIG. 3B is a diagram illustrating a process of a bonding method according to an embodiment of the present invention. Process illustration of the method

【符号の説明】 5 電子部品 6 Y軸テーブル 7 X軸テーブル 8 移載ヘッド 15 位置検出器 16 下受け部材 17 ガラス基板 20 位置決め部 21 X軸テーブル 22 Y軸テーブル 23 Z軸テーブル 24 θ軸テーブル 30 制御部[Description of Signs] 5 Electronic component 6 Y-axis table 7 X-axis table 8 Transfer head 15 Position detector 16 Lower receiving member 17 Glass substrate 20 Positioning unit 21 X-axis table 22 Y-axis table 23 Z-axis table 24 θ-axis table 30 control unit

フロントページの続き (72)発明者 東田 忠信 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 4M105 AA06 BB09 EE17 EE18 Continued on the front page (72) Inventor Tadanobu Higashida 1006 Kadoma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. F-term (reference) 4M105 AA06 BB09 EE17 EE18

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板を載置する載置ステージを備えこの基
板を位置決めする位置決め部と、前記載置ステージを昇
降させる昇降手段と、前記載置ステージに載置された前
記基板の縁部に電子部品をボンディングするボンディン
グツールと、ボンディング時に前記縁部を下受けする下
受け部と、前記載置された基板の縁部の高さ位置を検出
する高さ検出手段と、この高さ検出結果に基づいて前記
昇降手段を制御する制御手段とを備えたことを特徴とす
るボンディング装置。
A positioning section for positioning the substrate, a lifting / lowering means for raising and lowering the mounting stage, and an edge of the substrate mounted on the mounting stage. A bonding tool for bonding an electronic component, a lower receiving portion for receiving the edge portion during bonding, height detecting means for detecting a height position of the edge portion of the substrate placed above, and a result of the height detection And a control means for controlling the lifting / lowering means on the basis of (1).
【請求項2】載置ステージに載置された基板の縁部を下
受け部によって下受けし、この縁部に電子部品をボンデ
ィングするボンディング方法であって、前記載置された
基板の縁部の高さ位置を高さ検出手段によって検出し、
この高さ検出結果に基づいて前記載置ステージを昇降さ
せる昇降手段を制御することにより、ボンディング時の
前記下受け部に対する前記基板の下面の相対高さを一定
に保つことを特徴とするボンディング方法。
2. A bonding method for receiving an edge of a substrate mounted on a mounting stage by a lower receiving portion and bonding an electronic component to the edge, wherein the edge of the substrate mounted on the mounting stage is provided. Height position is detected by height detection means,
A bonding method, wherein the height of the lower surface of the substrate with respect to the lower receiving portion at the time of bonding is kept constant by controlling the lifting means for lifting and lowering the mounting stage based on the height detection result. .
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