JP2000021703A - 処理液送給方法および装置 - Google Patents

処理液送給方法および装置

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JP2000021703A
JP2000021703A JP10187484A JP18748498A JP2000021703A JP 2000021703 A JP2000021703 A JP 2000021703A JP 10187484 A JP10187484 A JP 10187484A JP 18748498 A JP18748498 A JP 18748498A JP 2000021703 A JP2000021703 A JP 2000021703A
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supply
tank
processing
liquid
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Masaki Iwami
優樹 岩見
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 タンクの容量を少なくした処理液送給方法お
よび装置を提供する。 【解決手段】 タンクT1への処理液供給中に処理液供
給源30にトラブルが発生した場合、タンクT1内の処
理液が所定の供給停止ラインに到達することなく、処理
液供給が中断される。そして、一定時間内にタンクT1
内の処理液が供給停止ラインに達していないことをセン
サS1が検出すると、制御部CRは処理液供給源30か
らの処理液供給が中断または所定の限度以下に供給速度
が低下したものと判断してアラームを出すとともに、加
圧バルブ41および送給バルブ51を開放してタンクT
1から液処理部に向けた処理液送給を開始させる。この
ときには、加圧バルブ42および送給バルブ52も開放
した状態とするため、タンクT2からの処理液送給を続
行しつつ、タンクT1からの処理液送給を開始すること
となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のタンクから
の処理液送給を切り替えて、半導体基板、液晶表示装置
用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク
用基板等(以下、単に「基板」と称する)に現像処理等
の処理を行う基板処理部に処理液を送給する処理液送給
方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、上記のような基板に対しては、
レジスト塗布処理、現像処理およびそれらに付随する熱
処理を順次行わせることにより一連の基板処理を達成し
ている。これら諸処理のうち、レジスト塗布処理、現像
処理等(以下、これらを総称して「液処理」とする)
は、基板にフォトレジストや現像液等の処理液を吐出す
ることによって行われている。そして、基板に処理液を
吐出して現像処理等の液処理を行う液処理部には、基板
処理装置内に設けられた処理液送給部から液処理に必要
な処理液が送給されるように構成されている。
【0003】図6は、従来の処理液送給部を説明するた
めの図である。従来より、基板処理装置に適用される処
理液送給部は、常に安定して処理液を送給できるように
2つのタンクT11、T12を備えている。以下、その
動作について簡単に説明する。
【0004】処理液送給部が通常の動作を行っていると
きには、2つのタンクT11、T12のうちのいずれか
一方から液処理部に処理液の送給を行うとともに、他方
には処理液の供給(補充)を行い、これを交互に切り替
えることによって処理液の送給および供給を連続して行
えるようにしている。ここでは、タンクT11から液処
理部に処理液送給が行われている状態から説明を始め
る。
【0005】タンクT11から液処理部に処理液送給が
行われているときには、図外の処理液供給源からタンク
T12に処理液供給が行われ、タンクT12内の処理液
が供給停止ラインULに達するまで処理液供給は続けら
れる。やがて、タンクT11内の処理液が供給開始ライ
ンLLまで減少すると、バルブ(図示省略)を切り替え
てタンクT11からの送給を停止するとともに、タンク
T12から液処理部に向けた処理液送給が開始される。
そして、タンクT11には上記処理液供給源から処理液
供給が行われ、タンクT11内の処理液が供給停止ライ
ンULに達するまで処理液供給は続けられる。
【0006】以降、同様の動作が繰り返されて、処理液
送給部からの連続した処理液送給が行われるのである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、何らか
の原因によって工場の処理液供給源にトラブルが発生
し、タンクへの処理液供給が中断することがある。ここ
で、タンクT11への処理液供給中に処理液供給が中断
したとする。この場合、タンクT11内の処理液が供給
停止ラインULに達することがないため、基板処理装置
はアラームを出すのであるが、即時に装置全体の基板処
理を停止すると、一連の処理中の基板が不良基板とな
る。すなわち、半導体基板等の基板の処理は、温度、時
間等の処理条件が厳密に定められており、処理が中断し
た処理途中の基板に対してトラブル復旧後に処理を再開
したとしても、当該基板は通常に処理の行われた基板と
は全く異なる処理条件で処理されることとなり、品質が
大幅に劣化した不良基板となるのである。また、基板の
処理は通常50枚1組のロット単位で管理されており、
そのうちの1枚が不良基板となってもロット全体が不良
ロットとして扱われるのである。
【0008】以上のような事情により、基板処理工程に
おいては、一連の処理途中にある基板の処理を中断する
ことは絶対に回避しなければならないのである。
【0009】このため、従来より、タンクT11への処
理液供給中に処理液供給が中断したとしても、一連の処
理途中にある基板については、タンクT12の供給開始
ラインLL以下に貯留されている処理液を使用した処理
液送給を続行することによって、当該一連の処理が滞る
ことのないようにされている。なお、このときに、未処
理基板の新たな処理開始を停止することは勿論である。
【0010】したがって、両タンクT11、T12の供
給開始ラインLL以下には、処理液供給が中断したとき
に装置内に存在する処理途中の基板の処理に十分な量の
処理液が常に貯留されている。そして、この量は、基板
の処理シーケンスによっては多量に必要なことも多く、
タンクT11、T12の大きさも相当に大きなものとな
っていた。その一方で、タンクT11、T12の供給開
始ラインLL以下の部分は通常処理時には、使用される
ことのない部分である。
【0011】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、タンクの容量を少なくした処理液送給方法およ
び装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、第1のタンクからの処理液送給
と第2のタンクからの処理液送給とを切り替えて処理液
を所定の基板処理部に送給する処理液送給方法であっ
て、(a)前記第1のタンク内の処理液残量が所定量以下
となったときに、前記第1のタンクからの処理液送給を
停止する第1タンク送給停止工程と、(b)前記第2のタ
ンクからの処理液送給を開始する第2タンク送給開始工
程と、(c)前記第1のタンクへの処理液供給を開始する
第1タンク供給開始工程と、(d)前記第1のタンクへの
前記処理液供給が中断したときに、前記第2タンクから
の処理液送給を続行しつつ、前記第1のタンクからの処
理液送給を開始する協働送給工程と、を備えている。
【0013】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
に係る処理液送給方法において、前記協働送給工程に、
前記第1のタンクへの前記処理液供給が所定の限度以下
に低速化したときにも、前記第2のタンクからの処理液
送給を続行しつつ、前記第1のタンクからの処理液送給
を開始する工程を含ませている。
【0014】また、請求項3の発明は、処理液を貯留す
る第1のタンクと第2のタンクとを備え前記第1のタン
クからの処理液送給と前記第2のタンクからの処理液送
給とを切り替えて前記処理液を所定の基板処理部に送給
する処理液送給装置であって、(a)前記第1のタンクお
よび前記第2のタンクのそれぞれから独立に前記処理液
送給を行う送給手段と、(b)前記第1のタンクおよび前
記第2のタンクへの処理液供給をそれぞれ独立に行う供
給手段と、(c)前記第1のタンク内の処理液残量が所定
量以下となったときに前記第1のタンクからの処理液送
給を停止するとともに前記第2のタンクからの処理液送
給を開始した後、前記第1のタンクへの処理液供給を開
始するように前記送給手段および前記供給手段を制御す
る制御手段と、を備え、前記第1のタンクへの前記処理
液供給が中断したときに、前記制御手段に、前記第2の
タンクからの処理液送給を続行しつつ、前記第1のタン
クからの処理液送給を開始するように前記送給手段を制
御させている。
【0015】また、請求項4の発明は、請求項3の発明
に係る処理液送給装置において、前記制御手段に、前記
第1のタンクへの前記処理液供給が所定の限度以下に低
速化したときにも、前記第2のタンクからの処理液送給
を続行しつつ、前記第1のタンクからの処理液送給を開
始するように前記送給手段を制御させている。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
【0017】<1.基板処理装置の全体構成>まず、本
発明に係る処理液送給装置を組み込んだ基板処理装置の
全体構成について説明する。図1は、本発明に係る処理
液送給装置を組み込んだ基板処理装置の全体構成を示す
図である。図1(a)は、基板処理装置の平面図であ
り、図1(b)は、基板処理装置の正面図である。な
お、図1には、その方向関係を明確にするためXYZ直
交座標系を付している。ここでは、床面に平行な水平面
をXY面とし、鉛直方向をZ方向としている。
【0018】図1に示すように、本実施の形態において
は、基板処理装置は、基板の搬出入を行うインデクサI
Dと、基板に処理を行う複数の処理部および各処理部に
基板を搬送する基板搬送手段が配置されるユニット配置
部MPと、図示しない露光装置とユニット配置部MPと
の間で基板の搬入/搬出を行うために設けられているイ
ンターフェイスIFとから構成されている。
【0019】ユニット配置部MPは、最下部に、本発明
に係る処理液送給装置たる処理液送給部を収納するケミ
カルキャビネット11を備え、この上側であってその4
隅には、基板に液処理を施す液処理部として、基板を回
転させつつレジスト塗布処理を行う塗布処理部SC1、
SC2(スピンコータ)と、露光後の基板の現像処理を
行う現像処理部SD1、SD2(スピンデベロッパ)と
が配置されている。さらに、これらの液処理部の上側に
は、基板に熱処理を行う多段熱処理部20が装置の前部
及び後部に配置されている。なお、装置の前側(Y方向
の負の向き側)であって両塗布処理部SC1、SC2の
間には、基板処理部として、基板に純水等の洗浄液を供
給して基板を回転洗浄する洗浄処理部SS(スピンスク
ラバ)が配置されている。
【0020】塗布処理部SC1、SC2や現像処理部S
D1、SD2に挟まれた装置中央部には、周囲の全処理
部にアクセスしてこれらとの間で基板の受け渡しを行う
ための基板搬送手段として、搬送ロボットTR1が配置
されている。この搬送ロボットTR1は、鉛直方向に移
動可能であるとともに中心の鉛直軸回りに回転可能とな
っている。
【0021】なお、ユニット配置部MPの最上部には、
クリーンエアのダウンフローを形成するフィルタファン
ユニットFFUが設置されている。多段熱処理部20の
直下にも、液処理部側にクリーンエアのダウンフローを
形成するフィルタファンユニットFFUが設置されてい
る。
【0022】次に、図2は、図1の処理部の配置構成を
説明する図である。塗布処理部SC1の上方には、多段
熱処理部20として、6段構成の熱処理部が配置されて
いる。これらのうち、最下段より数えて1段目の位置に
は基板の冷却処理を行うクールプレート部CP1が設け
られており、2段目,3段目についても同様にクールプ
レート部CP2,CP3が設けられている。そして、4
段目には、基板に対して密着強化処理を行う密着強化部
AHが設けられ、5段目と6段目の位置には、基板の加
熱処理を行うホットプレート部HP1,HP2が設けら
れている。
【0023】塗布処理部SC2の上方にも、多段熱処理
部20として、6段構成の熱処理部が配置されている。
これらのうち、最下段より1段目から3段目の位置には
クールプレート部CP4〜CP6が設けられており、4
段目から6段目の位置にはホットプレート部HP3〜H
P5が設けられている。
【0024】現像処理部SD1の上方にも、多段熱処理
部20として、4段構成の熱処理部が配置されている。
このうち、最下段より1段目,2段目の位置にはクール
プレート部CP7,CP8が設けられており、3段目,
4段目の位置にはホットプレート部HP6,HP7が設
けられている。なお、最上段側の2段は、本実施形態の
装置の場合、空状態となっているが、用途及び目的に応
じてホットプレート部やクールプレート部、又はその他
の熱処理部を組み込むことができる。
【0025】現像処理部SD2の上方にも、多段熱処理
部20として、2段構成の熱処理部が配置されている。
このうち、最下段より1段目の位置には、クールプレー
ト部CP9が設けられており、2段目の位置には、基板
に対して露光後のベーキング処理を行う露光後ベークプ
レート部PEBが設けられている。この場合も、露光後
ベークプレート部PEBより上段側は空状態となってい
るが、用途及び目的に応じてホットプレート部やクール
プレート部、又はその他の熱処理部を組み込むことがで
きる。
【0026】そして、上記の液処理部や熱処理部間をユ
ニット配置部MPの中央部に設けられた搬送ロボットT
R1が順次に搬送することによって基板に対して所定の
処理を施すことができる。
【0027】なお、インターフェイスIFは、ユニット
配置部MPにおいてレジストの塗布が終了した基板を露
光装置側に渡したり露光後の基板を露光装置側から受け
取るべく、かかる基板を一時的にストックする機能を有
し、図示を省略しているが、搬送ロボットTR1との間
で基板を受け渡すロボットと、基板を載置するバッファ
カセットとを備えている。また、インデクサIDは、複
数の基板を収容可能なカセットを載置する載置部と、そ
のカセットと搬送ロボットTR1との間で基板の受け渡
しを行う移載ロボット(図示省略)とを備えており、未
処理基板をカセットから搬送ロボットTR1に払い出す
とともに、処理済み基板を搬送ロボットTR1から受け
取ってカセットに収納する機能を有する。
【0028】この基板処理装置における基板処理の一例
を以下の表1に示す。
【0029】
【表1】
【0030】この処理順序によれば、未処理基板はイン
デクサIDから払い出されて、レジスト塗布処理および
それに付随する熱処理が施された後、インターフェイス
IFを介して露光装置に渡され、露光処理に供される
(処理手順1〜7)。その後、露光済みの基板はインタ
ーフェイスIFを介してユニット配置部MPに戻され、
現像処理およびそれに付随する熱処理が施された後、処
理済み基板として再びインデクサIDに戻される(処理
手順7〜13)。
【0031】<2.処理液送給部の構成および動作>次
に、ケミカルキャビネット11に収納されている処理液
送給部の構成について説明する。図3は、処理液送給部
の構成について説明するための図である。この処理液送
給部は、現像処理部SD1、SD2に対して現像液の送
給を行うものである。なお、同図においては、実線にて
液体または気体の通る経路を示し、点線にて電気的な接
続を示している。
【0032】処理液送給部は、処理液を貯留する2つの
タンクT1、T2および制御部CRを備えている。2つ
のタンクT1、T2のそれぞれは、配管を介して基板処
理装置外部の処理液供給源30と接続され、また基板処
理装置外部(または内部)の窒素加圧機構40と接続さ
れている。
【0033】処理液供給源30からタンクT1、T2へ
の処理液(ここでは現像液)供給は、供給バルブ31、
32の開閉によってそれぞれ独立に行われる。すなわ
ち、供給バルブ31を開放することによってタンクT1
への処理液供給が行われ、供給バルブ32を開放するこ
とによってタンクT2への処理液供給が行われる。
【0034】一方、タンクT1、T2から現像処理部S
D1、SD2への処理液送給は、窒素加圧機構40から
の窒素加圧によって行われ、具体的には加圧バルブ4
1、42および送給バルブ51、52の開閉によってそ
れぞれ独立に実行される。すなわち、加圧バルブ41お
よび送給バルブ51を開放することによって窒素圧によ
るタンクT1からの処理液送給が行われる。また、同様
に、加圧バルブ42および送給バルブ52を開放するこ
とによって窒素圧によるタンクT2からの処理液送給が
行われる。
【0035】タンクT1、T2には、タンク内に貯留さ
れている液量(液面レベル)を検出するためのセンサS
1、S2がそれぞれ付設されている。なお、センサS
1、S2としては、タンクの重量を測定するもの、静電
容量により測定するもの、光の屈折を利用するものなど
任意の液量検出用センサを適用することが可能である。
【0036】上記の供給バルブ31、32、加圧バルブ
41、42、送給バルブ51、52およびセンサS1、
S2は全て制御部CRに電気的に接続されており、当該
制御部CRによってその動作を制御されている。したが
って、制御部CRがセンサS1、S2の検出結果に基づ
いてタンクT1およびタンクT2からの処理液送給を切
り替えたり、タンクT1およびタンクT2への適当な量
の処理液供給を行わせることが可能である。
【0037】なお、本実施形態においては、供給バルブ
31、32が供給手段に相当し、加圧バルブ41、42
および送給バルブ51、52が送給手段に相当する。
【0038】図4は、2つのタンクT1、T2を説明す
るための概念図である。上述のように、制御部CRがセ
ンサS1、S2の検出結果に基づいて処理液送給、処理
液供給を制御するのであるが、このときにはタンクT
1、T2内の処理液量と所定の基準値との比較結果に応
じて制御を行う。具体的には、タンクT1、T2内に供
給開始ラインLLと供給停止ラインULとが設定されて
おり、センサS1、S2によって検出された処理液の液
面とそれらとの比較結果に応じて制御を行うのである。
【0039】次に、上記処理液送給部の動作について説
明する。まず、処理液送給部が通常の動作を行っている
場合について簡単に説明する。
【0040】タンクT1から液処理部(ここでは、現像
処理部SD1、SD2)に処理液送給が行われていると
きには、処理液供給源30からタンクT2に処理液供給
が行われ、タンクT2内の処理液が供給停止ラインUL
に達するまで処理液供給は続けられる。やがて、タンク
T1内の処理液量が供給開始ラインLLまで減少する
と、加圧バルブ41および送給バルブ51を閉鎖してタ
ンクT1からの処理液送給を停止するとともに加圧バル
ブ42および送給バルブ52を開放し、タンクT2から
液処理部に向けた処理液送給が開始される。すなわち、
タンクT1による処理液送給からタンクT2による処理
液送給に切り替えられる。そして、供給バルブ31が開
放され、タンクT1に処理液供給源30からの処理液供
給が開始され、当該処理液供給はタンクT1内の処理液
が供給停止ラインULに達するまで続けられる。
【0041】タンクT2から液処理部に向けた処理液送
給が行われるにつれて、タンクT2内の処理液量が供給
停止ラインULから減少し、やがて、供給開始ラインL
Lまで減少すると、加圧バルブ42および送給バルブ5
2を閉鎖してタンクT2からの処理液送給を停止すると
ともに加圧バルブ41および送給バルブ51を開放し、
タンクT1から液処理部に向けた処理液送給が開始され
る。すなわち、タンクT2による処理液送給からタンク
T1による処理液送給に切り替えられる。そして、供給
バルブ32が開放され、タンクT2に処理液供給源30
からの処理液供給が開始される。以上のような動作が繰
り返されることにより、現像処理部SD1、SD2への
安定した処理液供給が連続して行われる。
【0042】ところが、既述した如く、基板処理装置外
部の処理液供給源30にトラブルが発生し、処理液供給
が中断することがある。この場合に、基板処理装置を即
時停止できないことも既に述べたとおりである。そこ
で、本実施形態の処理液送給部は、処理液供給が中断し
たときに以下のような動作を実行するのである。図5
は、処理液供給が中断したときの処理液送給部の動作を
説明する図である。
【0043】まず、タンクT1内の処理液量が供給開始
ラインLLまで減少すると、加圧バルブ41および送給
バルブ51を閉鎖してタンクT1からの処理液送給を停
止するとともに加圧バルブ42および送給バルブ52を
開放し、タンクT2から液処理部に向けた処理液送給が
開始される。そして、供給バルブ31が開放され、タン
クT1に処理液供給源30からの処理液供給が開始され
るのである(図5(a)の状態)。なお、ここまでは上
記通常の動作と同じである。
【0044】ここで、タンクT1への処理液供給中に処
理液供給源30にトラブルが発生したとする。この場
合、タンクT1内の処理液が供給停止ラインULに到達
することなく、処理液供給が中断される(図5(b)の
状態)。そして、タンクT1への処理液供給開始時点か
ら所定時間内にタンクT1内の処理液が供給停止ライン
ULに達していないことをセンサS1が検出すると、制
御部CRは処理液供給源30からの処理液供給が中断ま
たは所定の限度以下に供給速度が低下したものと判断し
てアラームを出すとともに、加圧バルブ41および送給
バルブ51を開放してタンクT1から液処理部に向けた
処理液送給を開始させるのである。このときには、加圧
バルブ42および送給バルブ52も開放した状態とする
ため、タンクT2からの処理液送給を続行しつつ、タン
クT1からの処理液送給を開始することとなる(図5
(c)の状態)。換言すれば、処理液供給源30からの
処理液供給が中断または所定の限度以下に供給速度が低
下した後は、タンクT1およびタンクT2が協働して液
処理部に向けた処理液送給を行うのである。
【0045】タンクT1およびタンクT2が協働して処
理液送給を行うときには、両タンクの供給開始ラインL
Lよりも上に貯留されている処理液は勿論のこと、それ
よりも下に貯留されている処理液をも使用して液処理部
への処理液送給を行う(図5(d)の状態)。
【0046】なお、タンクT1およびタンクT2が協働
して処理液送給を開始した時点において、両タンク内の
液面レベルに差がある場合には、その液圧差によって高
い液面レベルを有するタンクからの送給が当然に優先し
て行われる。そして、両タンク内の液面レベルが等しく
なった後、両タンクからの同時送給が行われる。また、
上記における低速化判断における所定の許容限度は、上
記所定時間内にタンクT1内の処理液が供給停止ライン
ULに達するか否かという基準に相当する。
【0047】ところで、処理液供給源30からの処理液
供給が中断した後もタンクT1およびタンクT2に協働
して処理液送給を行わせるのは、一連の処理途中にある
基板について当該一連の処理の中断を回避(それら基板
を救済)するためである。ここで、本実施形態におい
て、「一連の処理」とは上記表1における処理手順1〜
7または処理手順7〜13の連続した処理を示してい
る。
【0048】インデクサIDまたはインターフェイスI
Fからユニット配置部MPに払い出された基板について
は、ユニット配置部MPにおける処理が中断した後トラ
ブル復旧後にその処理を再開したとしても、当該基板は
通常に処理の行われた基板とは全く異なる処理条件で処
理されることとなり、品質が大幅に劣化した不良基板と
なる。これに対して、インデクサIDおよびインターフ
ェイスIFにある基板については、予定時間よりも長く
インデクサIDまたはインターフェイスIFに存在して
いたとしても、基板の品質に影響することはなく、いわ
ばインデクサIDおよびインターフェイスIFは、基板
の待避位置としての役割も担っているのである。従っ
て、処理中断の回避対象となる基板(救済対象となる基
板)は、インデクサIDまたはインターフェイスIFか
らユニット配置部MPに払い出された基板であり、その
ような基板につきインデクサIDまたはインターフェイ
スIFまでの処理を行わせて待避させれば、不良基板の
発生を防止することができるのである。すなわち、「一
連の処理」とは、処理条件が変化すると基板の品質に影
響を与える連続した処理ということができ、本実施形態
の例では表1における処理手順1〜7または処理手順7
〜13の連続処理が相当するのである。
【0049】従って、処理液送給部が現像処理部SD
1、SD2に対して現像液の送給を行うものである場合
には、処理液供給中断後に処理手順7〜13の途中にあ
る基板についてインデクサID(処理手順13)までの
処理を行える十分な量の処理液を送給できればよい。そ
して、このためには、タンクT1およびタンクT2の供
給開始ラインLLよりも下に貯留されている処理液量の
和が上記「十分な量」以上となるように、供給開始ライ
ンLLを設定すればよいのである。なお、処理液供給が
中断または所定の限度以下に低速化した後においては、
インデクサIDまたはインターフェイスIFからユニッ
ト配置部MPへの新たな基板の払い出しが停止されるの
は勿論である。
【0050】一方、従来においては、両タンクのうちい
ずれか一方の供給開始ラインLLよりも下に貯留されて
いる処理液のみを使用して「一連の処理」途中にある基
板の処理を続行させるようにしていた。
【0051】これに対して、本実施形態においては、タ
ンクT1およびタンクT2の両方の供給開始ラインLL
よりも下に貯留されている処理液を使用して「一連の処
理」途中にある基板の処理を続行させるようにしている
ため、供給開始ラインLLよりも下の部分については従
来の1/2の容量で良いことになる。その結果、タンク
の容量を少なくすることができ、基板処理装置全体もコ
ンパクトなものとすることができる。逆に、従来と同様
の容量のタンクを上記処理液送給部に使用すれば処理液
供給中断後に現像処理部SD1、SD2に対して送給で
きる処理液量を増加させることができるのである。
【0052】なお、上記ではタンクT1への処理液供給
が中断または低速化した場合について説明したが、他方
のタンクT2への処理液供給が中断または低速化した場
合にも同様であり、この場合には上記の説明において
「タンクT1」と「タンクT2」とを相互に入れ替える
ように読み替えればよい。
【0053】<3.変形例>以上、本発明の実施の形態
について説明したが、この発明は上記の例に限定される
ものではない。例えば、上記実施形態においては、処理
液送給部を現像処理部SD1、SD2に対して現像液の
送給を行うものとしていたが、塗布処理部SC1、SC
2に対してフォトレジストの送給を行うものとしてもよ
い。この場合は、タンクT1およびタンクT2の供給開
始ラインLLよりも下に貯留されている処理液量の和
が、処理液供給中断後に処理手順1〜7の途中にある基
板についてインターフェイスIF(処理手順7)までの
処理を行える十分な量以上となるように供給開始ライン
LLを設定すればよい。
【0054】また、処理液送給部としては、上記以外に
も、2つのタンクを使用して液処理部に処理液を送給す
るもの、例えば洗浄処理部SSに洗浄水を送給するもの
であってもよい。
【0055】また、処理液送給部のタンク数は2つに限
定されるものではなく、3つ以上であっても良い。タン
ク数が例えば3つの場合には、それらタンクの供給開始
ラインLLよりも下の部分が従来の1/3の容量で良い
ことになる。すなわち、本発明に係る処理液送給装置
は、「一連の処理」途中にある基板の処理を続行できる
処理液を、装置が有する複数のタンクの供給開始ライン
LLよりも下の部分に分割して持たせているのである。
【0056】さらに、上記の実施の形態ではタンクへの
処理液供給が中断した場合と、供給速度が所定の限度以
下に低下した場合とのいずれにおいても2つのタンクか
らの協働送給を行うようにしているが、タンクからの処
理液供給トラブルとして供給中断だけを想定するだけで
足りる場合は、中断の場合だけの対策を採用することも
できる。この場合には、たとえば、タンクへの処理液供
給開始後、供給停止ラインULに達しない状態で液面レ
ベルの上昇がほぼゼロになると協働送給を開始するよう
にすればよい。
【0057】もっとも、上記実施の形態のように処理液
供給の中断および速度低下の双方に対応できるように構
成することにより、この発明の効果は特に顕著になる。
【0058】<4.実施例>本発明に係る処理液送給装
置のタンクの容量について数値を示しつつより具体的に
説明する。なお、上記実施形態の基板処理装置は基板に
レジスト塗布処理および現像処理を行う装置であった
が、以下の例では、図1および図2に示したユニット配
置部MPの4隅に現像処理部およびそれに付随する多段
熱処理部を配置した現像処理専用の装置であるとして説
明する。
【0059】処理液供給中断後に「一連の処理」の途中
にある基板の数は最大13枚である。すなわち、搬送ロ
ボットに1枚、4つの現像処理部に1枚ずつ存在すると
して4枚、4つの露光後ベークプレート部に1枚ずつ存
在するとして4枚および4つのクールプレート部に1枚
ずつ存在するとして4枚の計13枚が「一連の処理」の
途中にある基板の最大数である。
【0060】そして、基板1枚当たりの現像に必要な処
理液量は150ml/wf.である。従って、「一連の
処理」途中にある基板の処理を続行できる十分な処理液
量は150×13=1950mlである。
【0061】従来においては、両タンクのうちいずれか
一方の供給開始ラインLLよりも下に貯留されている処
理液のみを使用して「一連の処理」途中にある基板の処
理を続行させるようにしていたため、両タンクの供給開
始ラインLLよりも下の容量は約2000ml必要であ
る。
【0062】これに対して、本発明に係る処理液送給装
置では、両タンクの供給開始ラインLLよりも下に貯留
されている処理液を共に使用して「一連の処理」途中に
ある基板の処理を続行させるようにしているため、両タ
ンクの供給開始ラインLLよりも下の容量は約1000
mlで足りる。
【0063】一方、供給開始ラインLLよりも上(供給
停止ラインULより上の部分を含む)の容量は約100
0mlである。従って、従来の場合は、タンク1つ当た
りの総容量が3000ml必要であったのに対して、本
発明によれば2000mlで足りるのである。
【0064】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、第1のタンクへの処理液供給が中断したとき
に、第2タンクからの処理液送給を続行しつつ、第1の
タンクからの処理液送給を開始する協働送給工程を備え
ているため、基板処理部で必要な最低の処理液として確
保すべき処理液量を第1のタンクおよび第2のタンクに
分割して持たせることができ、個々のタンクの容量を少
なくすることができる。
【0065】また、請求項3の発明によれば、第1のタ
ンクへの処理液供給が中断したときに、制御手段は、第
2タンクからの処理液送給を続行しつつ、第1のタンク
からの処理液送給を開始するように送給手段を制御して
いるため、請求項1の発明と同様の効果を得ることがで
きる。
【0066】さらに、請求項2および請求項4の発明に
おいては、第1のタンクへの処理液供給が中断した場合
だけではなく、所定の限度以下に処理液供給速度が低下
した場合にも協働送給を行うようにしているため、たと
えば、タンクへの処理液送給ラインの一部が不完全に詰
まったようなトラブルにも対処可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る処理液送給装置を組み込んだ基板
処理装置の全体構成を示す図である。
【図2】図1の処理部の配置構成を説明する図である。
【図3】図1の装置に組み込まれた処理液送給部の構成
について説明するための図である。
【図4】2つのタンクに設定された基準値を説明するた
めの概念図である。
【図5】処理液供給が中断したときの処理液送給部の動
作を説明する図である。
【図6】従来の処理液送給部を説明するための図であ
る。
【符号の説明】
31、32 供給バルブ 41、42 加圧バルブ 51、52 送給バルブ CR 制御部 SD1、SD2 現像処理部 T1、T2 タンク

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1のタンクからの処理液送給と第2の
    タンクからの処理液送給とを切り替えて処理液を所定の
    基板処理部に送給する処理液送給方法であって、 (a) 前記第1のタンク内の処理液残量が所定量以下とな
    ったときに、前記第1のタンクからの処理液送給を停止
    する第1タンク送給停止工程と、 (b) 前記第2のタンクからの処理液送給を開始する第2
    タンク送給開始工程と、 (c) 前記第1のタンクへの処理液供給を開始する第1タ
    ンク供給開始工程と、 (d) 前記第1のタンクへの前記処理液供給が中断したと
    きに、前記第2タンクからの処理液送給を続行しつつ、
    前記第1のタンクからの処理液送給を開始する協働送給
    工程と、を備えることを特徴とする処理液送給方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の処理液送給方法におい
    て、 前記協働送給工程においては、前記第1のタンクへの前
    記処理液供給が所定の限度以下に低速化したときにも、
    前記第2のタンクからの処理液送給を続行しつつ、前記
    第1のタンクからの処理液送給を開始することを特徴と
    する処理液送給方法。
  3. 【請求項3】 処理液を貯留する第1のタンクと第2の
    タンクとを備え、前記第1のタンクからの処理液送給と
    前記第2のタンクからの処理液送給とを切り替えて前記
    処理液を所定の基板処理部に送給する処理液送給装置で
    あって、 (a) 前記第1のタンクおよび前記第2のタンクのそれぞ
    れから独立に前記処理液送給を行う送給手段と、 (b) 前記第1のタンクおよび前記第2のタンクへの処理
    液供給をそれぞれ独立に行う供給手段と、 (c) 前記第1のタンク内の処理液残量が所定量以下とな
    ったときに前記第1のタンクからの処理液送給を停止す
    るとともに前記第2のタンクからの処理液送給を開始し
    た後、前記第1のタンクへの処理液供給を開始するよう
    に前記送給手段および前記供給手段を制御する制御手段
    と、を備え、 前記第1のタンクへの前記処理液供給が中断したとき
    に、前記制御手段は、前記第2のタンクからの処理液送
    給を続行しつつ、前記第1のタンクからの処理液送給を
    開始するように前記送給手段を制御することを特徴とす
    る処理液送給装置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の処理液送給装置におい
    て、 前記制御手段は、前記第1のタンクへの前記処理液供給
    が所定の限度以下に低速化したときにも、前記第2のタ
    ンクからの処理液送給を続行しつつ、前記第1のタンク
    からの処理液送給を開始するように前記送給手段を制御
    することを特徴とする処理液送給装置。
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