JP2000009662A - コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents

コンピュータ断層撮影装置

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JP2000009662A JP10179977A JP17997798A JP2000009662A JP 2000009662 A JP2000009662 A JP 2000009662A JP 10179977 A JP10179977 A JP 10179977A JP 17997798 A JP17997798 A JP 17997798A JP 2000009662 A JP2000009662 A JP 2000009662A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】複数のX線検出器の間隔を狭くすることなく断
層像の空間分解能を向上する。 【解決手段】被検体14は、X線源1と多数のX線検出
器8との間に配置する。回転テーブル3上にある被検体
14の一横断面における断層像の再構成は、回転テーブ
ル3を回転しながら、X線源1からのX線を被検体14
に当てる。被検体14を透過したX線は、多数のX線検
出器8にて検出される。X線検出器8からの検出信号
は、計算機19に入力される。回転テーブル3の一回転
後に、回転テーブル3の回転中心の位置をずらし、被検
体14の同じ横断面に対してX線を照射し、再度、回転
テーブル3を回転させる。そして、被検体14を透過し
たX線を多数のX線検出器8で検出する。計算機19
は、回転テーブル3の二回転の間に多数のX線検出器8
で検出された検出信号を用いて、一横断面に対する断層
像を再構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータ断層
撮影装置に係り、特にX線を用い被検体の断層像を撮影
するのに好適なコンピュータ断層撮影装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】X線を用いたコンピュータ断層撮影装置
(X線CT装置)は、被検体の断層像を撮影する装置で
あって、X線を発生するX線源,X線を検出する検出装
置、及び断層像を作成するコンピュータを備える。特
に、検出装置は多数個のX線検出器を一列に配列したア
レイ検出器を使用することが多い。アレイ検出器を構成
する個々のX線検出器は、1つのX線源からのX線を検
出するように構成される。このようなX線CT装置、特
に第三世代方式と呼ばれる撮影方法を適用したX線CT
装置では、断層像の空間分解能を高めるために、アレイ
検出器を構成する各X線検出器の配列間隔を狭くするこ
とが必要である。
【0003】しかしながら、アレイ検出器を構成する各
X線検出器はある有限の大きさを持つために、各X線検
出器の配列間隔を小さくするには限界がある。例えば、
X線検出器の横幅が1mmであるときには、アレイ検出器
を構成する各X線検出器の間隔はこの横幅である1mm以
下にすることはできない。従って、アレイ検出器を構成
する各X線検出器の配列間隔を狭くすることなく、断層
像の空間分解能を高める装置ないしは撮影方法が望まれ
ている。
【0004】特開昭62―116238号公報に記載されたX線
CT装置は、X線源とアレイ検出器の相対的位置関係
を、アレイ検出器を構成するX線検出器間隔の範囲内で
可変にしている。これにより、X線検出器の配列間隔を
物理的に狭くすることなく、断層像の空間分解能を高め
ることができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、アレイ
検出器を構成する個々のX線検出器の前面(X線源側)
に、X線が通過するスリットを有するコリメータを設け
たX線CT装置の場合、上記公開公報記載の技術を適用
することはできない。何故ならば、X線検出器の前面に
設けたスリットは1つのX線源を睨むように配置されて
いるので、このときX線源とX線検出器の相対的位置関
係をずらすと、X線検出器にX線が入射しなくなるから
である。
【0006】本発明の目的は、断層像の空間分解能を向
上できるを図れるコンピュータ断層撮影装置を提供する
ことにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する第1
発明の特徴は、被検体に放射線を照射する放射線源と、
前記被検体を取り付けて前記被検体を回転させる回転手
段と、前記被検体を透過した前記放射線を通過させる複
数の貫通孔を有するコリメータと、前記貫通孔にそれぞ
れ対向して配置され、前記貫通孔を通過した前記放射線
を検出する放射線検出器と、前記被検体の一横断面に対
してずらした前記回転手段の回転の中心位置毎に前記被
検体を回転させて得られた前記複数の放射線検出器の各
検出信号を用いて、前記一横断面に対する断層像を再構
成する断層像再構成手段とを備えたことにある。
【0008】第1発明は、被検体の一横断面に対してず
らした回転手段の回転中心位置毎に回転手段を回転させ
て得られた複数の放射線検出器の各検出信号を用いて、
その一横断面に対する断層像を再構成する断層像再構成
手段を、備えているので、被検体の一横断面に対する断
層像の再構成に、複数の放射線検出器の配列ピッチより
も実質的に狭い間隔で検出したことになる複数の放射線
検出器の各検出信号を用いることができる。このため、
放射線検出器の配列間隔を狭くすることなく、断層像の
空間分解能を向上できる。
【0009】上記目的を達成する第2発明の特徴は、旋
回台車と、前記旋回台車に設けられ、被検体に放射線を
照射する放射線源と、前記旋回台車の内側に配置され、
被検体を取り付けるテーブルと、前記被検体を透過した
前記放射線を通過させる複数の貫通孔を有し、前記旋回
台車に設けられたコリメータと、前記旋回台車に設けら
れて前記貫通孔にそれぞれ対向して配置され、前記貫通
孔を通過した前記放射線を検出する放射線検出器と、前
記被検体の一横断面に対して前記テーブルの軸心の第1
位置と相対的にずれた前記放射線源、前記コリメータ及
び前記複数の放射線検出器の複数の第2位置毎に前記旋
回台車を回転させて得られた前記複数の放射線検出器の
各検出信号を用いて、前記一横断面に対する断層像を再
構成する断層像再構成手段とを備えたことにある。
【0010】第2発明は、被検体の一横断面に対してテ
ーブルの軸心の第1位置と相対的にずれた放射線源、コ
リメータ及び複数の放射線検出器の複数の第2位置毎に
旋回台車を回転させて得られた複数の放射線検出器の各
検出信号を用いて、その一横断面に対する断層像を再構
成する断層像再構成手段を、備えているので、被検体の
一横断面に対する断層像の再構成に、複数の放射線検出
器の配列ピッチよりも実質的に狭い間隔で検出したこと
になる複数の放射線検出器の各検出信号を用いることが
できる。このため、放射線検出器の配列間隔を狭くする
ことなく、断層像の空間分解能を向上できる。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の好適な一実施例であるX
線CT装置は、被検体の着目断面を断層像として撮影す
る装置である。CTとはComputed Tomography の略であ
る。このX線CT装置は、歴史的な開発経緯から、第一
世代から始まり、第二世代,第三世代,第四世代と呼ば
れるものがある。
【0012】第三世代のX線CT装置は、図6及び図7
に示すように、被検体14をX線源1とアレイ検出器6
の間に配置し、被検体14を回転させて走査をすること
によって計測データを収集する。このときX線源1から
発生するX線は、被検体14の撮影断面の大きさを完全
に覆うように発生することが必要であり、かつアレイ検
出器6はこのように発生したX線を検出するように配
置,構成する必要がある。アレイ検出器6は、配列間隔
を狭くした多数の各X線検出器8を備える。コリメータ
5がアレイ検出器6のX線源1側に配置される。図6に
おいて、明確に図示されていないが、コリメータ5に
は、X線検出器8の数だけX線が通過するスリット5A
が設けられる。1つのX線検出器8が1つのスリット5
Aに対向して配置されている。このX線CT装置は、計
測データの収集に要する時間が短いのが特徴であるが、
一方、空間分解能を自由に変えることができない欠点が
ある。断層像の空間分解能を高くするには、アレイ検出
器6を構成する各X線検出器8の配列間隔を小さくする
ことで達成できる。各X線検出器8の配列間隔が狭い
と、被検体14を透過するX線を細かくサンプリングす
ることができ、断層像の空間分解能が向上する。被検体
14を取り付ける回転テーブル3は360度回転するの
で、1つのX線検出器8に着目すると、そのX線検出器
8は回転テーブル3の回転中心を中心とする1つの円に
接するX線を検出していることになる。このX線はその
円上を移動する被検体14の部分を透過するので、その
X線検出器8は被検体14のその部分を透過するX線を
検出することになる。結局、アレイ検出器6を構成する
各X線検出器8に対して回転テーブル3の回転中心を中
心とする同心円が形成でき、これらの同心円の1つ1つ
に接するX線を各X線検出器8は検出する。そして、こ
れらの同心円の間隔が小さい程、断層像の空間分解能は
高くなる。
【0013】本発明の原理を図8に基づいて以下に説明
する。図8は、図6と同様な第三世代のX線CT装置で
ある。各X線検出器8は、図9に示すようにX線源1に
対して角度α(ラジアン)の角度ピッチで配列されてお
り、また回転テーブル3の回転中心とX線源1との距離
をD(mm)とする。このようなX線CT装置の構成で、
アレイ検出器6の各X線検出器8に対して形成されるつ
くる同心円の間隔が最も小さくかつ均等になる条件は、
回転テーブル3の回転中心Oの位置が図8に示す位置に
あるときである。すなわち、回転中心Oは、番号(1)の
X線検出器8とX線源1とを結ぶ直線と、そのX線検出
器8に隣接する番号(2)のX線検出器8とX線源1とを
結ぶ直線との間に位置し、その位置は角度αの角度ピッ
チを1:4に内分する位置である。図8に示した番号
(i)の各X線検出器8に対応する同心円の半径R(i)
は、番号iが奇数のX線検出器8であれば、 R(i)=D×sin(α/4+j×α) …(数1) であり、番号iが偶数のX線検出器8であれば、 R(i)=D×sin(3×α/4+j×α) …(数2) となる。ここでjは(i−1)/2の整数部分である。
図8には番号(15),(14),(13)及び(12)
がつくる同心円が描かれている。同心円同士の間隔の最
大値は番号(1)のX線検出器8に対する円と番号(2)
のX線検出器8に対する円との間である。その間隔ΔR
1は、 ΔR1=D×{sin(3×α/4)−sin(α/4)} …(数3) である。αが1に比べ十分小さいときには、 ΔR1=D×α/2 …(数4) と近似できる。断層像の空間分解能を高めるには、アレ
イ検出器6でつくられる同心円の間隔を小さくすればよ
いのであるから、(数4)から角度αを小さくするか、
X線源1と回転テーブル3の回転中心の距離Dを小さく
すればよい。しかしながら、角度αを小さくすること
は、アレイ検出器6を構成する個々のX線検出器8の物
理的大きさにより制限がある。またX線源1と回転テー
ブル3の回転中心Oの距離Dを小さくすると、放射状の
X線に覆われる被検体14の大きさが小さくなる。
【0014】そこで、撮影できる被検体14の大きさを
小さくせずに、断層像の空間分解能を高める撮影方法
を、以下に述べる。上述した撮影方法は一枚の断層像を
撮影するのに回転テーブル3を一回転させている。そこ
で、回転テーブル3を二回転することで一枚の断層像を
撮影することを考える。このとき一回転目と二回転目で
は回転テーブル3の回転中心Oの位置を変える。具体的
には、一回転目の回転中心Oの位置は、角度αを1:7
に内分する位置であり、二回転目の回転中心Oの位置
は、角度αの角度ピッチを3:5に内分する位置とす
る。このとき、一回転目でアレイ検出器6がつくる同心
円の半径R1(i)は、番号iが奇数のX線検出器8に
対しては、 R1(i)=D×sin(α/8+j×α) …(数5) である。番号iが偶数のX線検出器8に対しては、 R1(i)=D×sin(7×α/8+j×α) …(数6) となる。ここで、jは(i−1)/2の整数部分であ
る。この同心円を図10に示す。また二回転目でアレイ
検出器6がつくる同心円の半径R2(i)は、番号iが
奇数のX線検出器8に対しては、 R2(i)=D×sin(3×α/8+j×α) …(数7) である。番号iが偶数のX線検出器8に対しては、 R2(i)=D×sin(5×α/8+j×α) …(数8) となる。ここでjは(i−1)/2の整数部分である。
この同心円を図11に示す。
【0015】一回目の回転で得た同心円と二回目の回転
で得た同心円を重ねると図12に示す同心円が得られ
る。この同心円に対して、同心円の間隔が最も大きくな
るのは一回転目の番号1のX線検出器8に対してつくら
れる円と二回転目の番号1のX線検出器8に対してつく
られる円の間隔である。その間隔ΔR2は ΔR2=D×{sin(3×α/8)−sin(α/8)} …(数9) であり、αが1に比べ十分小さいときには、 ΔR2=D×α/4 …(数10) と近似できる。(数10)によって得られる同心円を(数
4)によって得られる同心円と比べると、(数10)によ
る同心円の間隔は(数4)によるそれの1/2倍となって
いる。
【0016】同じような考えを三回転,四回転等々に適
用できる。N回転(Nは2以上の整数)で一枚の断層像
を撮影する場合、各回転での回転中心Oの位置は、角度
αの角度ピッチを1:(4N−1),3:(4N−
3),5:(4N−5)等々で内分する位置となる。こ
のときN回の回転で得られるアレイ検出器6がつくる同
心円の間隔は、1回転のときに比べ1/N倍となる。こ
のように1つの横断面における断層像の撮影に際して、
複数回、被検体を回転させ、この回転毎に回転中心Oの
位置をX線検出器の配列方向にずらすので、X線検出器
の配列間隔を狭くすることなく、断層像の空間分解能を
高くすることが可能となる。
【0017】本発明の好適な一実施例を図1,図2及び
図3を用いて説明する。本実施例の構成は、X線源装置
15,プリコリメータ2,回転テーブル3,並進装置
4,コリメータ5,アレイ検出器6,回転テーブル上下
装置7,X線源制御装置16,回転・並進・上下機構制
御装置17,検出回路18,計算機19,入力装置2
0,表示装置21からなる。
【0018】X線源装置15はX線を発生するX線源1
を有し、X線源装置15からのX線の出射及び停止はX
線源制御装置16を用いて制御される。X線源装置15
はX線源1として例えばX線管または電子線形加速器を
用いる。プリコリメータ2は、鉛及びタングステン等の
X線の遮蔽能力の高い材質でつくられており、X線がフ
ァンビーム状(扇形状)になるような窓2Aを有してい
る。
【0019】アレイ検出器6は、多数のX線検出器8を
一列に配列した構成を有する。X線検出器8としては、
シンチレータとフォトダイオードを組み合わせたX線検
出器、及び半導体検出器等等がある。アレイ検出器6の
X線源装置15側に配置されるコリメータ5は、鉛及び
タングステン等のX線の遮蔽能力の高い材質で作られて
いる。多数のスリット5Aがコリメータ5に設けられ
る。各X線検出器8は該当するスリット5Aに対向して
配置される。コリメータ5は、被検体14により散乱し
た散乱X線が各X線検出器8に入射するのを防いでい
る。各スリット5Aは、全てX線源1の方向を向いてお
り、X線検出器8に入射するX線の方向を決定してい
る。
【0020】回転テーブル3は、被検体14を設置する
テーブルであり、テーブルを回転させる駆動装置を有す
る。回転テーブル3が回転されることで被検体14の撮
影を実施する。並進装置4は、回転テーブル3をX方向
に移動させるための装置である。回転テーブル上下装置
7は、並進装置4を上下に移動させる装置である。具体
的には、回転テーブル上下装置7はモーターによって回
転される4本の上下方向に延びる回転ネジ7Aを有して
おり、これらの回転ネジ7Aが並進装置4のテーブルと
噛み合っている。回転テーブル3,並進装置4及び回転
テーブル上下装置7は、回転・並進・上下機構制御装置
17から出力される制御信号によって駆動が制御され
る。回転・並進・上下機構制御装置17は、回転テーブ
ル3が回転すると、回転テーブル3の設定された回転角
毎にパルスを発生する。このパルスは、X線発生のトリ
ガー信号、及び検出回路18が各X線検出器8からの検
出信号を取り込むためのゲート信号となる。X線発生の
トリガー信号となる上記パルスは、回転・並進・上下機
構制御装置17からX線源制御装置16に伝えられる。
各X線検出器8からの検出信号を取り込むためのゲート
信号となる上記パルスは、回転・並進・上下機構制御装
置17から検出回路18に伝えられる。
【0021】検出回路18は、各X線検出器8から出力
された検出信号を、増幅した後にアナログディジタル変
換を行い、計算機19に出力する。計算機19は、入力
した検出信号に基づいて、所定の処理により断層像を作
成する。得られた断層像は、表示装置21に表示され、
適宜、プリンタ(図示せず)によりプリントすることがで
きる。
【0022】本実施例で実行される断層像の撮影方法
を、図3のフローチャートを用いて説明する。このフロ
ーチャートは、被検体14の一横断面における断層像
を、回転テーブル3を二回転させて撮影する方法に対す
るものである。被検体14の撮影横断面の高さは、回転
テーブル3から100mmの位置であるとする。被検体1
4の撮影に必要な各種のパラメータを設定する(ステッ
プ30)。パラメータは、撮影横断面の高さ位置(本例
では100mm),一横断面を撮影するのに要する回転数
(本例では二回転)である。これらのパラメータはオペ
レータが入力装置20を用いて計算機19に入力する。
計算機19は、ステップ30で設定されたパラメータを
用いて、一回転目における回転テーブル3の回転中心位
置、及び二回転目におけるその回転中心位置を計算する
(ステップ31)。回転テーブル3の回転中心位置は、
前述したように、一回転目の回転中心の位置は、角度α
の角度ピッチを1:7に内分する位置であり、二回転目
の回転中心の位置は、角度αの角度ピッチを3:5に内
分する位置である。計算機19は、設定された撮影横断
面の高さ位置、及びステップ31で計算した一回転目及
び二回転目の回転中心位置を、回転・並進・上下機構制
御装置17に出力する(ステップ32)。
【0023】回転・並進・上下機構制御装置17は、一
回転目の回転中心位置に基づいて並進装置4を制御し、
並進装置4の駆動により回転テーブル3を一回転目の回
転中心位置に移動させる(ステップ33)。ステップ3
3において、回転・並進・上下機構制御装置17は、回
転テーブル上下装置7を制御(具体的にはそのモータ
ー)を制御し、回転ネジ7Aを回転させて被検体14の
撮影横断面が設定された高さ位置になるように回転テー
ブル3を上下方向に移動する。
【0024】その後、回転テーブル3を一回転させて、
計測が行われ、検出回路18による検出信号の収集が実
施される(ステップ34)。この計測は、具体的には以
下のようにして行われる。回転・並進・上下機構制御装
置17は、制御信号を出力して回転テーブル3を回転さ
せる。回転・並進・上下機構制御装置17は、回転テー
ブル3が回転すると、回転テーブル3の設定された回転
角毎にパルスを発生する。このパルスは、X線発生のト
リガー信号としてX線源制御装置16に伝えられる。X
線源制御装置16は、トリガー信号の入力によりX線源
1からX線を出射する。X線は、被検体14の設定され
た高さ位置の横断面を透過し、各X線検出器8によって
検出される。各X線検出器8は検出信号をそれぞれ出力
する。上記パルスは、検出信号を取り込むゲート信号と
して回転・並進・上下機構制御装置17から検出回路1
8に伝えられる。検出回路18は、ゲート信号の入力に
より、各X線検出器8から出力された検出信号を入力す
る。検出回路18は、これらの検出信号を増幅した後に
アナログディジタル変換を行い、計算機19に出力す
る。以上の操作が回転テーブル3が一回転するまで繰返
される。回転テーブル3が一回転したときに、被検体1
4の一回転目の計測が終了する。設定された回転角毎に
発生するパルスにより、X線源1からのX線の出射と検
出回路18による検出信号の収集との同期を取っている
ので、被検体14を透過するX線の検出信号を効率良く
収集できる。また、X線の出射を設定された回転角毎に
発生するパルス(トリガ信号)により制御しているの
で、無駄なX線の出射を避けることができる。
【0025】一回転目の計測終了後に、回転・並進・上
下機構制御装置17は、二回転目の回転中心位置に基づ
いて、ステップ33と同様に、回転テーブル3を二回転
目の回転中心位置に移動させる(ステップ35)。二回
転目の被検体14の撮影横断面の高さ位置は、一回転目
のそれと同じであるので、ステップ34で撮影横断面の
高さ位置を合わせる制御は行われない。回転テーブル3
を一回転させて、ステップ34と同様に、検出回路18
による検出信号の収集が実施され、この検出信号が計算
機19に入力される(ステップ36)。
【0026】計算機19は、ステップ34及び36にお
いて入力した、X線検出器8からの検出信号(増幅処理
及びアナログディジタル変換処理実施)のディジタル信
号に基づいて、1つの設定された高さ位置での被検体1
4の撮影横断面に対する断層像の再構成の処理を実行す
る(ステップ37)。計算機19は断層像の再構成を行
う手段でもある。再構成で得られた断層像が計算機19
から表示装置21に出力される(ステップ38)。以上
の断層像の撮影が、被検体14の断層像が必要な複数の
高さにおいて繰返される。
【0027】ステップ37及び38の処理は、被検体1
4の複数の高さに対してステップ30からステップ36
の処理が終了した後に、実施してもよい。これによって
も、被検体14の各横断面に対する断層像を得ることが
できる。
【0028】本実施例は、被検体14の一横断面に対し
て回転中心位置をずらして回転テーブル3を回転させる
ので、複数回転(本実施例は二回転)で得られた各X線
検出器8の出力である検出信号を用いて、被検体14の
その一横断面における断層像の再構成行っている。従っ
て、本実施例によれば、第三世代のX線CT装置におい
て、従来よりもX線検出器8の配列間隔を狭くすること
なく、断層像の空間分解能を向上できる。
【0029】本発明の他の実施例であるX線CT装置
を、図4及び図5を用いて説明する。本実施例は、被検
体14を回転させないで、X線源装置15,コリメータ
5及びアレイ検出器6を被検体14の周囲を旋回させる
構成を有する。
【0030】車輪を有する旋回台車22は、上面に並進
装置25及び26を設置している。並進装置25と並進
装置26は、180°ずらして設置されている。並進装
置25によって並進移動される移動台車23は、X線源
装置15及びプリコリメータ2を設置している。並進装
置26によって並進移動される移動台車24は、コリメ
ータ5及びアレイ検出器6を設置している。長尺テーブ
ル27上に固定テーブル3Aが設けられる。固定テーブ
ル3Aは、旋回台車22の旋回の中心に位置する。被検
体14は、固定テーブル3A上に取り付けられる。テー
ブル上下装置7Bはモーターによって回転される4本の
上下方向に延びる回転ネジ7Aを有しており、これらの
回転ネジ7Aが長尺テーブル27と噛み合っている。
【0031】図示されていないが、本実施例も図1の実
施例と同様にX線源制御装置16,回転・並進・上下機
構制御装置17,検出回路18,計算機19,入力装置
20及び表示装置21を備える。本実施例は、旋回台車
22を旋回することによって被検体14の横断面の断層
像を撮影する。本実施例において、回転・並進・上下機
構制御装置17は、旋回台車22,並進装置25及び2
6を制御する。
【0032】本実施例も、図3のフローチャトに示す手
順で被検体14の断層像の撮影が実施される。本実施例
では、被検体14の一横断面における断層像を、旋回台
車22を二回転させて撮影する。本実施例は図3のフロ
ーチャートの回転テーブル3を、旋回台車22に替えた
ものである。ステップ31で計算機19は、ステップ3
0で入力したパラメータ(撮影横断面の高さ位置(本例
では100mm),一横断面を撮影するのに要する旋回台
車22の回転数(本例では二回転))を用いて、移動台
車23及び24の、旋回台車22の一回転目及び二回転
目における位置を計算する。これは、実質的に、その一
回転目及び二回転目における、X線源装置15及びプリ
コリメータ2と、コリメータ5及びアレイ検出器6との
位置を計算することになる。この位置は、長尺テーブル
の長手方向(X方向)における位置であり、固定テーブ
ル3Aの軸心の位置との相対位置である。一回転目にお
ける移動台車23及び24の位置は固定テーブル3Aの
軸心の位置が角度αの角度ピッチを1:7に内分する位
置にくるような位置であり、二回転目におけるそれらの
位置は固定テーブル3Aの軸心の位置が角度αの角度ピ
ッチを3:5に内分する位置にくるような位置である。
回転・並進・上下機構制御装置17は、ステップ32に
て入力した一回転目に対する移動台車23及び24の位
置に基づいて並進装置25及び26を制御し、移動台車
23及び24を一回転目の位置に移動させる(ステップ
33)。ステップ33では、テーブル上下装置7Bによ
り被検体14の撮影横断面が設定された高さ位置になる
ように固定テーブル3Aを上下方向に移動する。その
後、ステップ34において、旋回台車22を回転させ、
検出回路18による検出信号の収集が実施される。ステ
ップ34において、トリガー信号を入力したX線源制御
装置16はX線源1からX線を出射し、ゲート信号を入
力した検出回路18は各X線検出器8からの検出信号の
収集を実施する。旋回台車22の二回転目に対してステ
ップ35及び36が実行され、更にステップ37及び3
8が実行される。
【0033】本実施例も、(数1)から(数10)で示
される概念が適用できる。しかしながら、(数1)から
(数10)の説明で述べた「回転テーブル3の回転中心
の位置」は、長尺テーブル27の長手方向における、固
定テーブル3Aの軸心の位置に対する移動台車23及び
24の位置、すなわちX線源1からのX線の出射位置と
なる。
【0034】本実施例は、被検体14の一横断面に対
し、固定テーブル3Aの軸心の位置に対して移動台車2
3及び24の位置をずらして旋回台車22を回転させる
ので、旋回台車22の複数回転(本実施例は二回転)で
得られた各X線検出器8の出力である検出信号を用い
て、被検体14のその一横断面における断層像の再構成
を行っている。従って、本実施例によれば、第三世代の
X線CT装置において、従来よりもX線検出器8の配列
間隔を狭くすることなく、断層像の空間分解能を向上で
きる。
【0035】
【発明の効果】第1及び第2発明によれば、放射線検出
器の配列間隔を狭くすることなく、断層像の空間分解能
を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の好適な一実施例であるX線CT装置の
構成図である。
【図2】図1の縦断面図である。
【図3】図1の実施例で行われる断層像の撮影の処理手
順を示すフローチャートである。
【図4】本発明の他の実施例であるX線CT装置の構成
図である。
【図5】図2の縦断面図である。
【図6】従来の第三世代X線CT装置の構成図である。
【図7】図6の縦断面図である。
【図8】本発明の原理を説明する図である。
【図9】図8のIX部の拡大図である。
【図10】回転テーブルの一回転目においてアレイ検出
器がつくる同心円を示す図である。
【図11】回転テーブルの二回転目においてアレイ検出
器がつくる同心円を示す図である。
【図12】図10と図11に示す同心円を重ね合わせて
得られる同心円を示す図である。
【従来の技術】1…X線源、3…回転テーブル、3A…
固定テーブル、4,25,26…並進装置、5…コリメ
ータ、5A…スリット、6…アレイ検出器、7…回転テ
ーブル上下装置、7A…回転ネジ、8…X線検出器、1
5…X線源装置、16…X線源制御装置、17…回転・
並進・上下機構制御装置、18…検出回路、19…計算
機、21…表示装置、22…旋回台車、23,24…移
動台車、27…長尺テーブル。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G001 AA01 BA11 CA01 DA07 DA08 GA13 HA08 HA14 JA07 JA08 JA12 JA13 KA03 PA11 PA12 PA14 SA02

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検体に放射線を照射する放射線源と、前
    記被検体を取り付けて前記被検体を回転させる回転手段
    と、前記被検体を透過した前記放射線を通過させる複数
    の貫通孔を有するコリメータと、前記貫通孔にそれぞれ
    対向して配置され、前記貫通孔を通過した前記放射線を
    検出する放射線検出器と、前記被検体の一横断面に対し
    てずらした前記回転手段の回転の中心位置毎に前記被検
    体を回転させて得られた前記複数の放射線検出器の各検
    出信号を用いて、前記一横断面に対する断層像を再構成
    する断層像再構成手段とを備えたことを特徴とするコン
    ピュータ断層撮影装置。
  2. 【請求項2】前記回転手段の回転の中心位置が、前記一
    横断面に対して、前記放射線検出器の配列角度ピッチの
    角度内の複数の位置にずらされる請求項1のコンピュー
    タ断層撮影装置。
  3. 【請求項3】旋回台車と、前記旋回台車に設けられ、被
    検体に放射線を照射する放射線源と、前記旋回台車の内
    側に配置され、被検体を取り付けるテーブルと、前記被
    検体を透過した前記放射線を通過させる複数の貫通孔を
    有し、前記旋回台車に設けられたコリメータと、前記旋
    回台車に設けられて前記貫通孔にそれぞれ対向して配置
    され、前記貫通孔を通過した前記放射線を検出する放射
    線検出器と、前記被検体の一横断面に対して前記テーブ
    ルの軸心の第1位置と相対的にずれた前記放射線源、前
    記コリメータ及び前記複数の放射線検出器の複数の第2
    位置毎に前記旋回台車を回転させて得られた前記複数の
    放射線検出器の各検出信号を用いて、前記一横断面に対
    する断層像を再構成する断層像再構成手段とを備えたこ
    とを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
  4. 【請求項4】前記第1位置が、前記一横断面に対して、
    前記放射線検出器の配列角度ピッチの角度内の複数の位
    置に相対的にずらされる請求項3のコンピュータ断層撮
    影装置。
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