ITMI992429A1 - Apparato e metodo per misurare la grammatura o lo spessore di materiali in film nastri e simili per la contemporanea ispezione superficiale - Google Patents
Apparato e metodo per misurare la grammatura o lo spessore di materiali in film nastri e simili per la contemporanea ispezione superficiale Download PDFInfo
- Publication number
- ITMI992429A1 ITMI992429A1 IT1999MI002429A ITMI992429A ITMI992429A1 IT MI992429 A1 ITMI992429 A1 IT MI992429A1 IT 1999MI002429 A IT1999MI002429 A IT 1999MI002429A IT MI992429 A ITMI992429 A IT MI992429A IT MI992429 A1 ITMI992429 A1 IT MI992429A1
- Authority
- IT
- Italy
- Prior art keywords
- intensity
- elementary area
- weight
- single elementary
- thickness
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 17
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims description 16
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 13
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- 230000005250 beta ray Effects 0.000 description 4
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G17/00—Apparatus for or methods of weighing material of special form or property
- G01G17/02—Apparatus for or methods of weighing material of special form or property for weighing material of filamentary or sheet form
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0691—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of objects while moving
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
- G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G9/00—Methods of, or apparatus for, the determination of weight, not provided for in groups G01G1/00 - G01G7/00
- G01G9/005—Methods of, or apparatus for, the determination of weight, not provided for in groups G01G1/00 - G01G7/00 using radiations, e.g. radioactive
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
APPARATO E METODO PER MISURARE LA GRAMMATURA O LO SPESSORE DI MATERIALI IN FILM, NASTRI E SIMILI E PER LA CONTEMPORANEA ISPEZIONE SUPERFICIALE
Forma oggetto del presente trovato un apparato ed un metodo per la misurazione dello spessore o della grammatura di materiali in film, nastri e simili, in particolare film di tessuto non tessuto (c.d. non wovens), e per la contemporanea ispezione superficiale del film stesso.
Dalla domanda di brevetto MI 96 A 001610 delia medesima richiedente è nota una apparecchiatura, ed un metodo, per misurare il profilo trasversale di grammatura o di spessore di materiali in film o nastro in movimento.
In dettaglio tale tecnica anteriore prevede di eseguire una misurazione in continuo del nastro, in direzione trasversale alla direzione di movimento del nastro, utilizzando sorgenti di raggi β (o raggi IR), disposte su un lato dello spazio di passaggio del nastro, che irradiano una regione di piano compresa fra due rette parallele ortogonali alla direzione di movimento del nastro ed una pluralità di sensori β (o IR) statici disposti sul lato opposto dello spazio di passaggio del nastro, in modo da ricevere la radiazione trasmessa o diffusa attraverso la porzione del nastro in movimento irradiata.
Per ottenere una misurazione affidabile i sensori devono essere disposti a breve distanza dal nastro, tipicamente ad una distanza di 1-2 cm, per ottenere massimizzare l’efficienza geometrica.
Tale tecnica anteriore prevede inoltre la presenza di almeno una testa di scansione, anch'essa a raggi β, la cui funzione è unicamente quella di calibrare periodicamente i sensori dei raggi β o IR.
Il sistema di misurazione oggetto della domanda MI 96 A001610 consente di ricostruire il profilo delia sezione trasversale del materiale in tempi più brevi rispetto ai misuratori a scansione.
Inoltre esso permette di discriminare gli errori trasversali da quelli longitudinali consentendo quindi una regolazione più efficace e veloce del processo produttivo del materiale in film.
La tecnica anteriore poc’anzi descrìtta presenta per altro svariati problemi ed inconvenienti.
La notevole vicinanza dei sensori al film favorisce il deposito di impurità (la cui natura dipende in particolare dal tipo di processo di produzione e dalle condizioni atmosferiche di utilizzo) sulle finestre di copertura sui sensori stessi, con conseguente disturbo del funzionamento dei sensori stessi.
Inoltre se il materiale in film presenta temperature elevate questo calore può modificare le condizioni termiche locali di misura o, addirittura, surriscaldare i sensori stessi, con conseguente disturbo o alterazioni dei segnali di risposta dei sensori stessi.
Ancora, considerato il fatto che per un buon controllo dello spessore o della grammatura del materiale è necessaria una risoluzione spaziale minima nell'ordine di pochi millimetri e considerato il fatto che i materiali in film, quali i tessuti non tessuti, sono prodotti in larghezze nell'ordine dei metri si deduce che per realizzare una apparecchiatura come quella oggetto della domanda di brevetto MI 96 A 001610 è necessario utilizzare centinaia di sensori a raggi β.
L’elevato quantitativo di sensori a raggi β necessario e l'elevata risoluzione spaziale richiesta per i sensori stessi influisce pesantemente sui costi di realizzazione di tali apparati.
Per altro utilizzare un quantitativo così elevato di sensori comporta anche notevoli complicazioni progettuali e realizzative.
Si pensi, in particolare, ai problemi di allineamento meccanico dei sensori, alla gestione dei sistemi di comunicazione e trasmissione dati, alla progettazione e realizzazione dell’elettronica di formazione dei segnali provenienti dai sensori stessi e alla elaborazione dei dati.
Inoltre anche affiancando i sensori a raggi β rimane sempre, a cavallo fra i sensori contigui, una zona d'ombra, percentualmente rilevante quando la risoluzione spaziale dei sensori è di pochi millimetri.
Un ulteriore inconveniente dell'apparato e del metodo descritto nella domanda di brevetto MI 96 A 001610 è che non tutti i difetti di produzione sono rilevabili, ma solo quelli legati ad una variazione di grammatura o spessore.
Non è invece possibile rilevare difetti legati al cambiamento di tonalità del colore, alla presenza di impurità superficiali, tagli, abrasioni o altri danneggiamenti della superficie.
Scopo del presente trovato è quindi quello di trovare una soluzione ad almeno una parte dei problemi sopraelencati.
Tale scopo è conseguito mediante una apparecchiatura conforme con il dettato della rivendicazione 1 e con un metodo conforme al dettato della rivendicazione 6.
Ulteriori possibili forme di realizzazione dell’apparato e ulteriori possibili forme di esecuzione del metodo possono essere eseguite in accordo con il dettato delle rivendicazioni dipendenti.
il lettore esperto del ramo comprenderà immediatamente i vantaggi che il presente apparato conferisce, in particolare la notevole affidabilità nel tempo e la possibilità di ricostruire il profilo trasversale di spessore o grammatura e ispezionare visivamente lo stato superficiale del materiale con elevata definizione spaziale e in tempo reale.
Conseguenza immediata della applicazione del presente trovato su impianti produttivi di materiali del tipo precedentemente descritto è la conseguente riduzione dei tempi di regolazione del processo e di scarto del materiale; in effetti con tale trovato è possibile raggiungere le condizioni produttive ottimali in tempi estremamente brevi.
Una possibile forma di realizzazione dell'apparato e del metodo oggetto del presente trovato sono ora descritti qui di seguito con riferimento ai disegni allegati in cui:
- la fig. 1 mostra, schematicamente, una possibile forma di realizzazione dell'apparato;
> la fig. 2 mostra una porzione dei film oggetto di misurazione evidenziando la suddivisione delle aree elementari di lettura;
- la fig. 3 mostra un esempio di distribuzione statistica dei livelli di grigio - da 0 a 255 - misurati sul film in corrispondenza di un'area elementare di lettura del misuratore continuo per un tempo prefissato; - la fig. 4 mostra la distribuzione statistica dei valori di spessore o grammatura - in g/m2-misurati in corrispondenza dal misuratore a scansione sul medesimo tratto longitudinale del film su cui è avvenuta la misurazione di cui alla figura 3;
- la fig. 5 mostra una possibile curva di taratura, per ogni area elementare di lettura della luminosità, che lega l'intensità luminosa al valore di grammatura o spessore.
Con riferimento alle tavole allegate si illustra un apparato per misurare senza
contatto in continuo il profilo di grammatura di un materiale in film 1, in movimento, lungo una direzione O ortogonale alla direzione L di movimento del materiale in film.
Tale apparato comprende mezzi 2 atti ad irradiare una regione di piano P compresa fra due
rette parallele r1, 3⁄4 e mezzi 3 atti a rivelare, ciclicamente, l'intensità delle radiazioni che attraversano aree elementari a1, a2, a3 ... an di detta regione di piano P compresa fra dette due rette parallele rt, r2, le aree elementari a1 ( a2, a3 ... an sono allineate parallelamente alle due rette parallele n, r2.
I mezzi 2 atti ad irradiare ed i mezzi 3 atti a rivelare l’intensità delle radiazioni sono disposti in modo da definire uno spazio atto a consentire il passaggio, nella regione di piano P compresa fra dette due rette parallele r1, r2 del film in direzione ortogonale a dette due rette parallele, sicché l'intensità della radiazione che attraversa ogni singola area elementare a1, a2, a3 ... an è funzione dello spessore, (o della grammatura) della porzione di materiale in film 1 che attraversa la regione di piano P.
L’apparato prevede inoltre mezzi 4 atti a trattare il segnale dell'intensità rivelata, ciclicamente, in corrispondenza di ogni singola area elementare a1 , a2, a3 ... an per ottenere una immagine rappresentativa dello stato
superficiale del materiale in fase di produzione, della eventuale presenza di difetti superficiali del materiale in film che attraversa ogni singola area elementare a1, a2, a3 ... an .
Una caratteristica dell’apparato è data dal fatto che i mezzi 3 atti a rilevare l’intensità delle radiazioni che attraversano ogni singola area elementare ai sono costituiti da una telecamera lineare allo stato solido 3, ad esempio del tipo CCD o TD1.
Questa caratteristica consente di tenere i mezzi 3 a notevole distanza dal film (tipicamente 1 -2 metri) evitando quindi i fastidiosi fenomeni di accumulo di impurità, di surriscaldamento dei sistemi di misura o alterazioni dovute alle variazioni delle condizioni ambientali di misura.
Inoltre questa caratteristica consente di contenere i costi dell’apparato pur fornendo una elevata risoluzione spaziale e si è rivelata particolarmente vantaggiosa nel misurare lo spessore o la grammatura di film di tessuto non tessuto.
In una possibile forma di realizzazione preferita si dispongono una o più telecamere lineari lungo la direzione ortogonale alla direzione di movimento del materiale in film in modo che il rapporto tra il numero totale di pixel e la larghezza del materiale sia inferiore al valore di risoluzione spaziale desiderato; se la risoluzione spaziale desiderata è di 2.0 mm su un materiale avente una larghezza pari a 200 cm è indispensabile utilizzare un numero di telecamere lineari (ed un ottica adeguata) tale per cui il numero di pixel totale è maggiore o uguale a 1000.
La luminosità di ogni pixel è definita in genere da 2<8 >livelli di grigio.
Nella forma di realizzazione descritta i mezzi 2 emettono radiazione visibile, pertanto nel proseguo della descrizione si farà continuamente esplicito riferimento alle radiazioni visibili.
Tuttavia la persona esperta del ramo potrà anche prevedere l’uso di radiazioni IR, UV o X a seconda della natura del materiale da misurare.
Lavorando con radiazione visibile si utilizzano quindi telecamere lineari sensibili nel visibile (intervallo di lunghezze d'onda comprese tra circa 400 nm e circa 800 nm) a 1024 pixel) con tempo di scansione di linea compre» tra 20 e 50 μsec.
Dimensionata opportunamente l’ottica in modo tale che le telecamere lineari (o la telecamera lineare) ispezionino completamente la sezione trasversale di materiale), ipotizzando una velocità di avanzamento del materiale pari a 240 m/min (4 m/s), una larghezza di sezione pari a 200 cm ed un tempo di scansione di linea pari a 40 ps, si ottiene una dimensione delle aree elementari a1, a2, a3 ... an pari a 2.0 x 0.16 mm<2>; con risoluzione trasversale pari a 2.0 mm e risoluzione longitudinale pari a 0.16 mm.
Rimane inteso che se si preferisce aumentare le dimensioni delle singole aree di lettura i pixel della telecamera lineare potranno essere riuniti in gruppi.
Benché la forma di realizzazione preferita faccia uso di telecamere lineari (a persona esperta del ramo non avrà alcuna difficoltà nel comprendere che le telecamere lineari potranno essere sostituite con telecamere a matrice.
E’ evidente che la persona esperta del ramo non avrà difficoltà nel comprendere che tale apparato può trovare impiego non solo sul tessuto nor tessuto ma anche con materiali di differente natura e spessore purché siane in grado di trasmettere le radiazione utilizzate.
Preferibilmente l’apparato prevede mezzi 5 atti a trattare i segnali relativ all’intensità rilevata ciclicamente in corrispondenza di ogni singola area elementare a1, a2, a3 ... an per ottenere una immagine dì una porzione di uno dei due lati del film.
Questa caratteristica consente, vantaggiosamente, di poter eseguire, contemporaneamente alla misurazione di grammatura o di spessore , dettagliate ispezioni dello stato superficiale del materiale.
Nella forma di realizzazione preferita l’apparato include mezzi 6 (non mostrati) atti a definire una curva di taratura che lega i valori di intensità della radiazione che attraversa ogni singola area elementare a1, a2, a3 ... an ad un valore di grammatura o di spessore; il cui funzionamento viene chiarito meglio più avanti.
Il sistema di misura a scansione effettua una normalizzazione periodica della curva di taratura di ogni singola area elementare a;.
La normalizzazione periodica delle curve di taratura consente di eliminare gli errori dovuti alia non uniformità di distribuzione dell'intensità luminosa o a variazioni temporali dell'intensità luminosa, e gli errori dovuti alla variazione, nelle caratteristiche chimico - fisiche del composto base, di tipologia produttiva, del colore del materiale in film.
Per eseguire tale normalizzazione periodica l’apparato include una testa di scansione 7, atta a misurare direttamente la grammatura (o lo spessore) del materiale in filmi , che è in grado di allinearsi geometricamente secondo la direzione di movimento L del materiale 1 in film 1, con ogni singola area elementare a1, a2, a3 ... an .
La natura della testa di scansione 7 dipende dal tipo di materiale misurato; ad esempio misurando tessuto non tessuto essa sarà, preferibilmente, tipo a raggi β.
Prima di effettuare la misura, il sistema a scansione deve essere tarato, di norma le operazioni di taratura del sistema a scansione vengono effettuate in laboratorio o sull’impianto produttivo con una serie di campioni di materiale di riferimento aventi spessore differente.
I mezzi 6 sono atti a calcolare la media Mi e la varianza σ i dei valori di intensità luminosità (in termini di livelli di grigio) rivelati su un tratto campione S in corrispondenza di una singola area elementare a i e opportuni mezzi atti a calcolare la media Mg e la varianza σ9 dei valori di grammatura del medesimo tratto campione S quando questi passa sotto il misuratore di grammatura o spessore.
La conoscenza di queste variabili statistiche consente di costruire la curva di taratura che lega il valore dell'intensità rivelata in corrispondenza di ogni area elementare ai con il valore di grammatura o di spessore del materiale in film. La curva così calcolata è valida in un intorno ben definito del punto di lavoro; qualora si abbia un cambiamento sostanziale nel valore medio di spessore (o grammatura) del materiale da produrre è indispensabile tarare nuovamente le curve di taratura di ogni singola area elementare ai.
II funzionamento dell’apparato è il seguente: il materiale in film 1 in movimento è illuminato nella regione di piano P compresa fra le due rette parallele r1, r2 ortogonali alla direzione di movimento L del materiale in film 1. Ciclicamente l'intensità della luce che attraversa le aree elementari di lettura a1, a2, a3 ... an è misurata e da tale valore è ricavata una informazione rappresentativa della grammatura (o spessore) in corrispondenza di ogni singola area elementare a1, a2, a3 ... an.
A tale scopo ad ogni area elementare a1, a2, a3 ... an . è associata una curva di taratura che consente di ottenere la relazione tra l’intensità luminosa e la grammatura o lo spessore.
Inoltre i valori dei livelli di grigio rilevati dalla telecamera lineare misurati ciclicamente sono trattati per ottenere l’immagine di uno dei due lati del materiale in film 1.
La ricostruzione periodica della curva di taratura di ogni singola area elementare a1, a2, a3 ... an prevede una sequenza di misurazioni dell’intensità luminosa in corrispondenza della singola area elementare di lettura ai per un tempo T non superiore al tempo necessario perché il nastro avanzi dì un tratto uguale alla distanza fra la singola area elementare di lettura ai e l'area di lettura della testa di scansione 7.
Successivamente la testa di scansione 7, geometricamente allineata con l'area di lettura ai, esegue una sequenza di misurazioni della grammatura (o dello spessore) sul medesimo tratto S campione del film precedentemente sottoposto alla misurazione dell'intensità luminosa.
Da queste misurazioni si ricavano quindi le medie e le varianze secondo le seguenti formule:
dove N = numero aree elementari di lettura;
cj = luminosità in livelli di grigio misurata in corrispondenza della area elementare j-esima;
gj = grammatura misurata in corrispondenza dell’area elementare j-esima. Queste variabili statistiche consentono quindi di definire la curva di taratura secondo una soluzione preferita la curva di taratura è costituita da un segmento rettilineo passante per il punto (Mg, Mi) ed avente coefficiente angolare (σβ/ σι). (Fig.5).
Claims (11)
- RIVENDICAZIONI Apparato per misurare senza contatto in continuo il profilo di grammatura o spessore di un materiale in film, nastri e simili, in movimento lungo una direzione ortogonale alla direzione di movimento del nastro comprendente - mezzi (2) atti ad irradiare una regione di piano (P) compresa fra due rette parallele (r1 , r2); - mezzi (3) atti a rivelare, ciclicamente, l’intensità delle radiazioni che attraversano aree elementari ( a1, a2, a3 ... an ) di detta regione di piano (P) compresa fra dette due rette parallele (rh r2), dette aree elementari ( a1, a2, a3 ... an ) essendo allineate geometricamente parallelamente a dette due rette parallele (n, r2); - detti mezzi (2) atti ad irradiare e detti mezzi (3) atti a rivelare l’intensità delle radiazioni essendo disposti in modo da definire uno spazio atto a consentire il movimento, in detta regione di piano compresa fra dette due rette parallele, di un materiale in film (1) in direzione ortogonale a dette due rette parallele (r1t r2), in modo che l’intensità della radiazione che attraversa ogni singola area elementare (ai) è funzione della grammatura, 0 dello spessore, del materiale; - mezzi (4) atti a trattare il segnale dell'intensità rivelata, ciclicamente, ir corrispondenza di ogni singola area elementare (a i) per ottenere una informazione rappresentativa della grammatura o dello spessore de materiale in film che attraversa ogni singola area elementare ( ai); caratterizzato dal fatto che - detti mezzi (3) atti a rilevare l’intensità delle radiazioni che attraversano ogni singola area elementare (a,) sono costituiti da una telecamera lineare o a matrice allo stato solido_(3).
- 2. Apparato, secondo la rivendicazione 1 in cui sono previsti inoltre mezzi (5) atti a trattare i segnali dell’intensità rilevata ciclicamente in corrispondenza di ogni singola area elementare (ai) per ottenere una immagine di una delle due superfici del materiale in film.
- 3. Apparato, secondo la curva 1 o 2, comprendente inoltre mezzi (6) atti a definire una curva di taratura che lega la misura di intensità della radiazione misurata in ogni singola area elementare (ai) ad un valore di grammatura o spessore.
- 4. Apparato, secondo la rivendicazione 3, in cui detti mezzi (6) comprendono - una testa di scansione (7) atta ad allinearsi geometricamente, secondo la direzione di movimento del materiale in film, con ogni singola area elementare (a i); mezzi (8) atti a calcolare la media Mi e la varianza σ i dei valori di <' >intensità della radiazione misurata; - mezzi (9) atti a calcolare la media Mg e la varianza σ9 dei valori di grammatura o spessore.
- 5. Apparato, secondo la rivendicazione 4, in cui detti mezzi 2 emettono radiazione visibile.
- 6. Metodo per misurare senza contatto in continuo il profilo di grammatura di un materiale in film, in particolare tessuto non tessuto, in movimento lungo una direzione ortogonale alla direzione di movimento del materiale in film comprendente i passi di: - irradiare il materiale in film (1) in movimento in una regione di piano (P) compresa fra due rette parallele (r1 , r2) ortogonali alla direzione di movimento del film; - rivelare ciclicamente l’intensità della radiazione che attraversa aree elementari (a1 p a2, a3, .... an) di detta regione di piano (P) allineate parallelamente a dette due rette parallele (n, r2); - trattare l'informazione sull’intensità misurata in ogni singola area elementare (ai) per ottenere una informazione rappresentativa della grammatura in corrispondenza di ogni singola area elementare (ai) in funzione della curva di taratura di ogni singola area elementare (a i).
- 7. Metodo, secondo la rivendicazione 6, che prevede inoltre il passo di trattare i segnali dell'intensità della radiazione passante attraverso ogni singola area elementare (ai) rivelata ciclicamente per ottenere una immagine di una delle due superfici del materiale in film (1).
- 8. Metodo, secondo la rivendicazione 6 o 7, comprendente inoltre il passo di ricostruire periodicamente la curva di taratura di ogni singola area elementare ( ai) .
- 9. Metodo, secondo la rivendicazione 7 o 8, in cui la ricostruzione della curva di taratura di ogni singola area elementare (ai) prevede i passi di: - allineare, con riferimento alla direzione di movimento del film, una testa di scansione (7) campione di misura delia grammatura o dello spessore; - eseguire una sequenza di misurazioni in corrispondenza della singola area elementare per un tempo T non superiore al tempo necessario perché il nastro avanzi di un tratto uguale alla distanza fra la singola area elementare (ai)e l’area di lettura della testa di scansione (7); - eseguire una sequenza di misurazioni della grammatura o dello spessore sul tratto del film precedentemente sottoposto alla misurazione dell’intensità; - calcolare la media Mi e la varianza σ i delle misurazioni dell’intensità radiante; - calcolare la media Mg e la varianza σ9 dei valori di grammatura o spessore; - ricavare la curva di taratura in funzione dei valori medi Mi e Mg e delle varianze σ i e σ9.
- 10. Metodo, secondo la rivendicazione 9, in cui detta curva di taratura è una retta passante per il punto di coordinate (Mi , Mg) ed avente coefficiente angolare (σ i e σ9).
- 11. Metodo, secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti, in cui il film è irradiato con radiazione visibile..
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT1999MI002429A IT1314075B1 (it) | 1999-11-19 | 1999-11-19 | Apparato e metodo per misurare la grammatura o lo spessore dimateriali in film,nastri e simili per la contemporanea ispezione |
| EP00124723A EP1103783B1 (en) | 1999-11-19 | 2000-11-13 | Equipment and method for measuring the basic weight and thickness of the materials in films, ribbons and the like, while simultaneously inspecting their surface |
| DE60004000T DE60004000T2 (de) | 1999-11-19 | 2000-11-13 | Vorrichtung und Verfahren zur Messung des Flächengewichts und der Dicke von Materialien in Filmen, Bändern oder ähnlichem, unter gleichzeitiger Inspektion von deren Oberfläche |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT1999MI002429A IT1314075B1 (it) | 1999-11-19 | 1999-11-19 | Apparato e metodo per misurare la grammatura o lo spessore dimateriali in film,nastri e simili per la contemporanea ispezione |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ITMI992429A0 ITMI992429A0 (it) | 1999-11-19 |
| ITMI992429A1 true ITMI992429A1 (it) | 2001-05-19 |
| IT1314075B1 IT1314075B1 (it) | 2002-12-04 |
Family
ID=11383993
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| IT1999MI002429A IT1314075B1 (it) | 1999-11-19 | 1999-11-19 | Apparato e metodo per misurare la grammatura o lo spessore dimateriali in film,nastri e simili per la contemporanea ispezione |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP1103783B1 (it) |
| DE (1) | DE60004000T2 (it) |
| IT (1) | IT1314075B1 (it) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10214584B4 (de) * | 2002-03-01 | 2004-07-08 | Mahlo Gmbh & Co Kg | Verfahren zur Kompensation des Einflusses physikalisch-chemischer, das Resultat einer Flächengewichtsmessung verfälschender Änderungen des Absorptionsvermögens einer Umgebungsatmosphäre in der Nähe geförderter Materialien |
| JP6592281B2 (ja) * | 2015-06-11 | 2019-10-16 | 住友化学株式会社 | 目付量測定方法、積層フィルム製造方法、及び目付量測定装置 |
| CN105510360B (zh) * | 2015-12-31 | 2019-04-09 | 安徽元琛环保科技股份有限公司 | 一种非织造材料在线检测装置及其检测方法 |
| CN113008170B (zh) * | 2021-03-19 | 2022-08-19 | 长江存储科技有限责任公司 | 一种厚度测量方法和系统 |
| CN117490812B (zh) * | 2023-12-29 | 2024-04-02 | 常州宏大智慧科技有限公司 | 一种织物幅向克重偏差在线检测方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4720808A (en) * | 1985-05-15 | 1988-01-19 | Josef Repsch | Method and apparatus for measuring sheet products |
| GB8601176D0 (en) * | 1986-01-17 | 1986-02-19 | Infrared Eng Ltd | Sensing |
| US5118940A (en) * | 1991-02-25 | 1992-06-02 | Jefferson Smurfit Corporation | Paper basis weight detector |
| DE4325590A1 (de) * | 1993-07-30 | 1995-02-02 | Bodenseewerk Geraetetech | Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von mit einer dünnen Schicht versehenen Trägerfolien |
| IT1283347B1 (it) * | 1996-07-29 | 1998-04-17 | Electronic Systems Spa | Metodo ed apperecchiatura per misurare con precisione un film che avanza,su tutta la sua superficie |
| US5715051A (en) * | 1996-10-21 | 1998-02-03 | Medar, Inc. | Method and system for detecting defects in optically transmissive coatings formed on optical media substrates |
| WO1999002941A1 (de) * | 1997-07-07 | 1999-01-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und vorrichtung zur ermittlung der dicke von papier oder pappe durch messung an einer laufenden materialbahn |
-
1999
- 1999-11-19 IT IT1999MI002429A patent/IT1314075B1/it active
-
2000
- 2000-11-13 EP EP00124723A patent/EP1103783B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-11-13 DE DE60004000T patent/DE60004000T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1103783A1 (en) | 2001-05-30 |
| ITMI992429A0 (it) | 1999-11-19 |
| EP1103783B1 (en) | 2003-07-23 |
| IT1314075B1 (it) | 2002-12-04 |
| DE60004000D1 (de) | 2003-08-28 |
| DE60004000T2 (de) | 2004-05-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5726749A (en) | Method and apparatus for inspection and evaluation of angular deviation and distortion defects for transparent sheets | |
| KR960010674B1 (ko) | 물체의 직선상의 위치의 비접촉 측정방법 및 그 장치 | |
| KR900005612B1 (ko) | 웨브(web)재의 분석방법 및 그 장치 | |
| EP0903572A3 (en) | Window contamination detector | |
| KR20200012915A (ko) | 글레이징 품질의 분석을 위한 광학 디바이스의 교정 및 관련 방법 | |
| DE68900508D1 (de) | Messverfahren und vorrichtung. | |
| EP2530443A2 (de) | Bildgebendes Messsystem und Messverfahren zur Messung einer Wärmeabgabe an einem Zielobjekt | |
| US6242755B1 (en) | Method and device for the contactless measuring of strand-like textile material | |
| FI98757C (fi) | Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi | |
| CN106918597A (zh) | 薄膜质量检测方法和薄膜质量检测系统 | |
| ITMI992429A1 (it) | Apparato e metodo per misurare la grammatura o lo spessore di materiali in film nastri e simili per la contemporanea ispezione superficiale | |
| EP0402244A3 (fr) | Procédé d'étalonnage d'un système radiologique et de mesure de l'épaisseur équivalente d'un objet | |
| ATE161206T1 (de) | Verfahren zur zerstörungsfreien on-line-messung einer charakteristik eines kontinuierlich hergestellten produktes und entsprechende vorrichtung | |
| ITBZ970020A1 (it) | Dispositivo per misurare le dimensioni di un oggetto molto esteso lon- gitudinalmente e con sezione trasversale a contorno curvo. | |
| US6621915B1 (en) | Method and system inspecting on-line cotton web homogeneity by digital image processing | |
| US7971461B2 (en) | Method of and apparatus for manufacturing a metal strip | |
| US3322024A (en) | Optical method for the inspection of a transparent object for deffects including comparing light energy at two stations | |
| JP2000081328A (ja) | 走行シート状物用測定方法 | |
| JPH0663848B2 (ja) | 物体の表面温度測定方法 | |
| JP2972511B2 (ja) | レーザーによる発泡ポリエチレンシートの厚さ測定方法 | |
| JP2001272341A (ja) | 金属板の光沢むら測定方法 | |
| DE102018132103A1 (de) | Sensorvorrichtung für ein Kraftfahrzeug sowie ein Verfahren zum Betrieb einer solchen Sensorvorrichtung | |
| KR102164115B1 (ko) | 표면 측정 장치, 이를 포함하는 소둔설비 및 표면 측정 방법 | |
| JPH04248451A (ja) | 欠陥検出方法 | |
| JPS6011124A (ja) | 赤外線放射温度測定方法 |