ITMI20060162A1 - Apparecchio e procedimento per misurare il profilo di almeno una grandezza fisica di un materiale in forma di film - Google Patents

Description

APPARECCHIO E PROCEDIMENTO PER MISURARE IL PROFILO DI ALMENO UNA

GRANDEZZA FISICA DI UN MATERIALE IN FORMA DI FILM

Si descrive qui di seguito un apparecchio ed un procedimento per misurare il profilo di almeno una grandezza fisica di un materiale in movimento in forma di film, nastro, foglio o simili.

È noto che nel processo produttivo di un materiale in forma di film entrano in gioco variabili indipendenti fra loro che possono influenzare o il profilo trasversale o il profilo longitudinale delle caratteristiche fisiche del materiale stesso.

Ad esempio l’eccentricità dei rulli delle calandre o dei rulli di spalmatura è causa di variazioni, con andamento periodico, del profilo di spessore o di grammatura in senso longitudinale.

Variazioni di spessore o di grammatura in senso longitudinale possono essere causate anche da un’alimentazione irregolare del materiale nelle teste di estrusione.

Errori di parallelismo fra i rulli delle calandre sono, invece, una delle cause delle variazioni del profilo di spessore o di grammatura in senso trasversale.

Per ottenere una regolazione rapida ed accurata delle proprietà di un materiale in film è quindi importante discriminare la componente longitudinale della variazione di profilo della grandezza misurata (vale a dire la variazione di profilo della grandezza fisica misurata in direzione parallela alla direzione di avanzamento del materiale in film ovvero in direzione macchina) dalla componente ortogonale alla direzione di movimentazione del film della grandezza misurata.

A tale scopo sono noti apparecchi per misurare il profilo di almeno una grandezza fisica di un materiale in forma di film che avanza, aventi due dispositivi di misurazione che misurano contemporaneamente una o più grandezze fisiche del materiale in forma di film in produzione.

Ad esempio il brevetto EP-B1-0 546 362, della stessa richiedente, divulga un apparecchio a scansione con due dispositivi di misurazione di spessore di un film in movimento, ubicati su due coppie di guide parallele.

Uno dei dispositivi di misurazione è mantenuto fermo in una posizione scelta a piacere, per esegu la lettura lungo una direttrice parallela alla direzione di movimentazione del materiale in film (ottenendo così direttamente la variazione di profilo di spessore in senso longitudinale) mentre l’altro dispositivo di misurazione scansiona ripetutamente il materiale in movimento in senso ortogonale alla direzione di movimentazione dello stesso (ottenendo così la variazione del profilo su una traiettoria a zig-zag sul materiale, che corrisponde alla combinazione delle variazioni in senso longitudinale ed in senso trasversale).

Il profilo longitudinale è noto direttamente dal dispositivo di misurazione in posizione fissa mentre per ogni scansione il profilo trasversale può essere ricavato calcolando la differenza dei profili rilevati dai due dispositivi di misurazione e sommando a questa il valore medio del profilo misurato dal sensore in posizione fìssa.

L’apparecchio descritto in EP-B1-0 546362 presenta però svariati inconvenienti.

Innanzitutto l’apparecchio in questa modalità di misura ha una velocità di scansione uguale a quella di un misuratore a scansione a testa singola, ovvero pari alla metà di quella di un apparecchio con due misuratori in movimento, proprio perché uno dei due dispositivi di misurazione rimane fermo.

Inoltre tale apparecchio presenta notevoli problemi di affidabilità per il fatto che l’andamento in senso longitudinale del profilo proviene da una misura fatta su un’unica coordinata trasversale.

Infatti la posizione scelta per effettuare la misura in punto fisso, può cadere su una zona del profilo trasversale di spessore in corrispondenza della quale è presente una differenza sistematica di spessore di larghezza di qualche centimetro, che produce sul materiale un solco o un cordone.

A causa degli inevitabili sbandamenti laterali del materiale in film la misurazione del misuratore fisso segnala continue e repentine variazioni di spessore che non dipendono da una reale variazione dello spessore in quel punto ma dallo sbandamento.

Questo disturbo sulla misurazione in senso longitudinale si trasmette poi nell’algoritmo di discriminazione del profilo in senso trasversale.

Oltre agli inconvenienti di misura sopra esposti un altro aspetto da non sottovalutare è la presenza di due coppie di guide parallele di traslazione dei misuratori che determinano un maggiore costo ed ingombro dell’apparecchio.

In EP-B1- 0 127 279 sono descritte alcune forme di realizzazione di un apparecchio a raggi X, per misurare il profilo di spessore di un materiale in forma di film in movimento, comprendente due sensori in movimento su linee di ispezione allineate o parallele.

In tutte le forme di realizzazione mostrate in EP-B1- 0 127 279 i sensori sono azionati dallo stesso motore e dal medesimo sistema di trasmissione, per cui c’è una mutua relazione fra il moto dei due sensori.

EP-B1- 0 127 279 non fornisce alcun chiarimento in merito alle modalità di trattamento delle informazioni ricevute dai due sensori mobili.

Tuttavia, come meglio spiegato più avanti, l’apparecchio descritto EP-B1- 0 127 279 non è grado di discriminare in maniera soddisfacente le variazioni di profilo della grandezza misurata in senso longitudinale dalle variazioni di profilo in senso trasversale.

Inoltre gli apparecchi di misurazione della tecnica nota sopra decritti richiedono soluzioni complesse e costose per eseguire la calibrazione dei singoli misuratori.

Nel caso degli apparecchi a scansione noti, le procedure di calibrazione dei sensori di misurazione prevedono che le misure degli stessi siano allineate direttamente sul materiale.

Questa condizione implica che l’apparecchio, fino a quando non ha completato le procedure di calibrazione, non è disponibile all’utilizzo.

Un ulteriore problema che si osserva con gli apparecchi ed i procedimenti di misurazione a scansione della tecnica nota è il fatto che il transitorio necessario per regolare la planarità del materiale, ad ogni avviamento dell’impianto, è piuttosto lungo.

Di conseguenza, ad ogni avviamento dell’impianto per la produzione di materiale in film si possono creare notevoli scarti di materiale a causa della non disponibilità del misuratore.

Ad esempio negli impianti per la calandratura di gomma per pneumatici il transitorio può arrivare anche a 15 minuti circa e la quantità di materiale scartato è dell’ordine di 100 - 200 metri circa.

Obiettivo degli inventori e quello di risolvere, almeno in parte, i problemi della tecnica nota e, in particolare, i problemi sopra indicati.

Tale obiettivo viene ottenuto mediante un apparecchio conforme al dettato delle rivendicazioni 1, 7, 13 e mediante un procedimento conforme al dettato della rivendicazione 18.

Ulteriori vantaggi sono conseguiti mediante le caratteristiche supplementari delle rivendicazioni dipendenti.

Alcune possibili forme di realizzazione dell’apparecchio e del procedimento proposte sono invece descritte nelle seguenti figure allegate in cui:

la figura 1 è una vista prospettica che mostra, schematicamente, una prima forma di realizzazione di un apparecchio a scansione avente due misuratori di almeno una grandezza fisica di un materiale in forma di film;

la figura 2 è una vista frontale, parzialmente in sezione, dell’apparecchio di figura 1 ; la figura 3 è una vista laterale, parzialmente in sezione, dell’apparecchio di figura 1; la figura 4 è una vista prospettica che mostra, schematicamente, una seconda forma di realizzazione di un apparecchio a scansione avente due misuratori di spessore di un materiale non metallico in forma di film;

la figura 5 è una vista frontale, parzialmente in sezione, dell’apparecchio di figura 4; la figura 6 è una vista laterale, parzialmente in sezione, dell’apparecchio di figura 4; la figura 7 mostra le traiettorie dei punti di ispezione dei misuratori degli apparecchi di figura 1 e 4 durante la fase di avviamento di un impianto per la produzione di un materiale in film; e la figura 8 mostra una possibile traiettoria dei punti di ispezione dei misuratori degli apparecchi di figura 1 e 4 sul materiale che scorre (in cui ogni misuratore scansiona una porzione dell 'intera larghezza dello spazio attraversato dal materiale in film).

Per una migliore comprensione dei vantaggi ottenuti con gli apparecchi ed il procedimento descritti e rivendicati nelle figure 9, 10 e 11 si illustra un esempio, in cui l’informazione ottenuta con due teste di scansione (di un apparecchio della tecnica nota) non consente di discriminare l’origine della variazione di profilo.

Con riferimento alla numerazione adottata nelle tavole di disegno le figure 1, 2 e 3 mostrano un apparecchio 1 per misurare il profilo di almeno una caratteristica fisica - ad esempio la grammatura - di un materiale in forma di film 2 che scorre in una direzione di avanzamento L attraversando uno spazio 50.

L’apparecchio 1 comprende primi e secondi mezzi di misurazione 6, 7 per misurare almeno una caratteristica fisica di un materiale in film 2 che attraversa lo spazio 50 lungo una direzione di avanzamento L.

I primi mezzi di misurazione 6 comprendono almeno un’unità di trasmissione 6a - ad esempio un trasmettitore di raggi β, di raggi IR o di raggi X - ed almeno un’unità di ricezione 6b della radiazione emessa dall’unità di trasmissione 6a.

L’unità di trasmissione 6a e l’unità di ricezione 6b dei primi mezzi di misurazione 6 sono disposte su lati opposti dello spazio 50.

Anche i secondi mezzi di misurazione 7 comprendono almeno un’unità di trasmissione 7a (del medesimo tipo dell’unità di trasmissione 6a) ed almeno un’unità di ricezione 7b (del medesimo tipo dell’unità di ricezione 6b) disposte su lati opposti dello spazio 50.

I primi ed i secondi mezzi 6, 7 di misurazione di almeno una caratteristica fisica del materiale in film 2 sono atti a scansionare rispettivamente un primo segmento di ispezione T1 ed un secondo segmento di ispezione T2, disposti trasversalmente rispetto alla direzione di avanzamento L ed allineati fra loro.

È da notare che i primi e secondi mezzi misuratori 6, 7 - del materiale in film 2 che attraversa lo spazio 50 - sono movimentabili selettivamente.

A tale scopo sono previsti mezzi motori 71, 72 distinti e mezzi di trasmissione distinti, per movimentare selettivamente i mezzi misuratori 6 ed i mezzi misuratori 7.

Pertanto è possibile regolare indipendentemente il moto di ciascun mezzo misuratore 6, 7 durante l’esecuzione di un ciclo completo di scansione.

Come spiegato più in avanti questa caratteristica può essere sfruttata per discriminare meglio la componente trasversale e la componente longitudinale del profilo della grandezza misurata (o delle grandezze misurate).

Inoltre, in caso di guasto al motore o alla trasmissione di uno dei due mezzi misuratori è possibile continuare ad utilizzare l’apparecchio di misurazione in modo tradizionale (vale a dire con un solo misuratore che scansiona l’intera larghezza dello spazio 50 attraversato dal materiale in film).

Preferibilmente le unità di ricezione 6b, 7b dei primi e secondi mezzi di misurazione 6, 7 sono mobili su una singola guida 61, disposta su un lato dello spazio 50 atto ad essere attraversato in una direzione di avanzamento L dal materiale in film 2.

Ancora più preferibilmente le unità di trasmissione 6a, 7a e le unità di ricezione 6b, 7b dei primi e secondi mezzi di misurazione 6, 7 sono mobili su due guide parallele 61, 62 disposte su lati opposti dello spazio 50 atto ad essere attraversato in una direzione di avanzamento L dal materiale in film 2.

Nelle forme di realizzazione con singola guida 61 - o con due guide parallele 61, 62 disposte su lati opposti dello spazio 50 - la calibrazione dei mezzi di misurazione 6, 7 può essere fatta con una singola stazione di calibrazione 120, la quale è allineata con il primo e secondo segmento di ispezione T1, T2 ed è disposta lateralmente rispetto allo spazio 50 attraversato dal materiale in film 2.

All 'occorrenza i primi e secondi mezzi 6, 7 misuratori di almeno una grandezza fisica sono portati, selettivamente, in corrispondenza della stazione di calibrazione 120.

Preferibilmente i primi e secondi mezzi di misurazione 6, 7 sono atti ad operare su segmenti di ispezione T1, T2 parzialmente o completamente sovrapposti.

In una forma di realizzazione modificata (ma esternamente sostanzialmente identica) i primi mezzi di misurazione 6 comprendono una coppia di misuratori di distanza 6a, 6b di una superficie, disposti su lati opposti dello spazio 50, operanti in regioni sostanzialmente coassiali.

Analogamente i secondi mezzi di misurazione 7 comprendendo una coppia di misuratori di distanza 7a, 7b di una superficie, disposti su lati opposti dello spazio 50, operanti in regioni sostanzialmente coassiali.

In questo caso i mezzi di misurazione 6, 7 misurano le distanze delle superfici opposte del materiale in film 2 e lo spessore del film viene calcolato come differenza fra la distanza della coppia di misuratori 6a, 6b; 7a, 7b e le distanze rilevate dai misuratori.

I primi e secondi mezzi 6, 7 per misurare lo spessore del materiale in film 2 che attraversa lo spazio 50 possono essere dispositivi fluidici a riflessione, come quelli descritti nel brevetto EP 0 811 826 della medesima richiedente, oppure dispositivi convenzionali di tipo ottico.

In una seconda forma di realizzazione (figure 4, 5 e 6), destinata a misurare il profilo di spessore di un materiale non metallico in forma di film o simili 2, l’apparecchio comprende uno spazio 50, destinato ad essere attraversato da un film 2, ed una superficie di riferimento metallica 30, disposta su un primo lato dello spazio 50, atta a consentire lo scorrimento di un materiale in film 2 lungo una direzione di avanzamento L.

L’apparecchio comprende i primi mezzi 16 e i secondi mezzi 17 per misurare lo spessore di un materiale non metallico in forma di film 2, che attraversa lo spazio 50 scorrendo lungo la direzione di avanzamento L su detta superficie di riferimento metallica 30.

I primi mezzi 16 per misurare lo spessore del materiale in film 2 sono disposti su un secondo lato di detto spazio 50 e comprendendo un primo misuratore induttivo (non mostrato), per misurare la distanza della superfìcie metallica di riferimento 30 (e quindi del lato inferiore del materiale in film 2 mentre scorre su detta superficie metallica di riferimento), e primi mezzi (non mostrati) per misurare la distanza della superficie in vista (ovvero della superficie superiore) del materiale in film 2.

Il primo misuratore induttivo e i primi mezzi per misurare la distanza della superficie in vista del materiale in film 2 sono solidali fra loro ed operano in regioni spaziali sostanzialmente coassiali.

Analogamente i secondi mezzi 17 per misurare lo spessore di un materiale in film 2 sono disposti sul medesimo lato dello spazio 50 su cui si trovano i primi mezzi 16 per misurare lo spessore del materiale in film 2.

Anche il secondo misuratore 17 comprende un secondo misuratore induttivo (non mostrato), per misurare la distanza di detta superficie metallica di riferimento 30 (e quindi del lato inferiore del materiale in film mentre scorre sulla superficie metallica di riferimento 30), e secondi mezzi (non mostrati) per misurare la distanza della superficie in vista (ovvero opposta a quella a contatto con la superficie di riferimento) del materiale in film 2.

Il secondo misuratore induttivo e i secondi mezzi per misurare la distanza della superficie in vista del materiale in film 2 sono solidali fra loro ed operano in regioni spaziali sostanzialmente coassiali.

Dispositivi per misurare, su un medesimo asse, la distanza delle superfici opposte di un film non metallico sono descritti, ad esempio, nel brevetto EP 0 811 826 della stessa richiedente in cui la distanza della superficie in vista del materiale in film è rilevata mediante dispositivi fluidici a riflessione.

Alternativamente la distanza della superficie in vista del film 2 può essere rilevata con convenzionali dispositivi a funzionamento ottico.

I primi e secondi mezzi 16, 17 per misurare lo spessore del materiale in film 2 che attraversa lo spazio 50 sono atti a scansionare rispettivamente un primo segmento di ispezione T1 ed un secondo segmento di ispezione T2, allineati fra loro e disposti trasversalmente rispetto alla direzione di avanzamento L del film 2.

Anche in questa forma di esecuzione dell’apparecchio i primi e secondi mezzi 16, 17 per misurare lo spessore del materiale in film 2 sono movimentabili selettivamente, in modo da regolare indipendentemente il moto di ciascun mezzo misuratore 16, 17 durante l’esecuzione di un ciclo completo di scansione.

A tale scopo sono previsti mezzi motori distinti 71, 72 e mezzi di trasmissione distinti per movimentare i primi e secondi mezzi 16, 17 misuratori di spessore.

Questa caratteristica può essere sfruttata per discriminare meglio la componente trasversale e la componente longitudinale del profilo della grandezza misurata (o delle grandezze misurate).

Inoltre, in caso di guasto al motore o alla trasmissione di uno dei due mezzi misuratori, è possibile continuare ad utilizzare l’apparecchio di misurazione in modo tradizionale (vale a dire con un solo misuratore che scansione l’intera larghezza dello spazio 50 attraversato dal materiale in film).

Preferibilmente i primi e secondi mezzi 16, 17 per misurare lo spessore del materiale non metallico in film 2 sono mobili su una singola guida 61, disposta su un lato dello spazio 50 attraversato in una direzione di avanzamento L dal materiale in film 2.

In questo modo la calibrazione dei primi e secondi mezzi 16, 17 per misurare lo spessore del materiale può essere eseguita con una singola stazione di calibrazione 120 allineata con il primo ed il secondo segmento di ispezione Tl, T2 e disposta lateralmente rispetto allo spazio 50 attraversato dal materiale in film 2.

All’ occorrenza i primi e secondi mezzi 16, 17 misuratori di spessore del materiale non metallico in forma di film sono portati, selettivamente, in corrispondenza della stazione di calibrazione 120.

La superficie metallica di riferimento 30 può essere costituita da un rullo folle in metallo, o comunque avente una superficie metallica.

I primi e secondo mezzi 16, 17 per misurare lo spessore del materiale in film 2 sono atti ad operare su segmenti di ispezione Tl, T2 parzialmente o completamente sovrapposti.

Naturalmente gli apparecchi sopra descritti comprendono anche mezzi di calcolo per gestire leinformazioni rilevate dai mezzi di misurazione 6, 7; 16, 17.

La possibilità di movimentare indipendentemente i mezzi di misurazione 6, 7; 16, 17 degli apparecchi sopra descritti può essere sfruttata per ottenere una più rapida regolazione del profilo trasversale delle caratteristiche del materiale in film 2 ad ogni avviamento dell’impianto.

Infatti, all’avviamento dell’impianto, è possibile eseguire una regolazione rapida del profilo trasversale della grammatura o dello spessore del materiale in film 2 in movimento, avente un asse di simmetria longitudinale X, che comprende i passi di:

posizionare primi mezzi misuratori 6 in corrispondenza di un primo punto di ispezione P1, compreso in un primo segmento S1 trasversale rispetto alla direzione di avanzamento L del materiale in film 2; posizionare secondi mezzi misuratori di almeno una grandezza fisica 7 in corrispondenza di un secondo punto di ispezione P2 compreso in un secondo segmento S2 trasversale rispetto alla direzione di avanzamento L del materiale in film 2, in cui il primo e secondo segmento S1, S2 sono disposti su lati opposti rispetto all’asse di simmetria longitudinale X del materiale in film 2;

far scorrere il materiale in film 2 lungo una direzione di avanzamento L,

e ripetere periodicamente i passi di:

misurare almeno una grandezza fisica del materiale in film 2 in corrispondenza del primo punto di ispezione P1;

misurare almeno una grandezza fisica di detto materiale in film 2 in corrispondenza del secondo punto di ispezione P2;

calcolare il valor medio della almeno una grandezza fisica in senso trasversale;

calcolare il profilo della almeno una grandezza fisica in senso trasversale con l’approssimazione che il profilo trasversale sia una retta (l’approssimazione è ragionevole nelle prime fasi di regolazione della planarità del profilo, quando si devono correggere velocemente gli errori più grossolani).

I punti di ispezione P1, P2 sono ad una distanza, rispetto all’asse di simmetria longitudinale X, preferibilmente compresa fra 1/8 e 3/8 della larghezza complessiva del materiale in film 2 e, ancora più preferibilmente, sono simmetrici rispetto all’asse di simmetria longitudinale X del film.

L’utilizzo di una sola guida 61, ovvero di due guide parallele 61, 62 disposte su lati opposti dello spazio 50, consente di ridurre notevolmente gli ingombri dell’apparecchio, il suo peso (che grava sulla struttura dell’impianto di produzione del materiale in film) ed anche i costi realizzativi.

La possibilità di eseguire la calibrazione di entrambi i misuratori 6, 7; 16, 17 su una singola stazione di calibrazione 120, oltre a ridurre i costi complessivi, consente di “allineare” i misuratori 6, 7; 16, 17 minimizzando le differenze di comportamento fra i misuratori stessi.

Ciò è importante perché, per ottenere un profilo trasversale completo, si devono combinare le misurazioni di entrambi i misuratori.

Se ci sono differenze di comportamento tra i due misuratori si generano errori nella rilevazione del profilo complessivo.

Un ulteriore vantaggio che deriva dalla presenza della stazione di calibrazione 120, è che essa permette l’allineamento delle due misure anche quando il materiale è fermo, cioè prima dell’inizio della produzione.

Ciò consente di essere pronti per la misura fin dai primi istanti di produzione, quando le informazioni dei misuratori sono più preziose per portare l’impianto a regime nel più breve tempo possibile.

È da notare che mediante gli apparecchi sopra descritti è possibile attuare un procedimento per misurare il profilo di almeno una caratteristica fisica di un materiale in film 2 avente un asse di simmetria longitudinale X, comprendente i passi di:

far scorrere detto materiale in film 2 lungo una direzione di avanzamento L;

eseguire un ciclo di scansione misurando, con cadenza prestabilita, almeno una grandezza fisica del materiale in film 2 lungo una prima pluralità di punti di misurazione (Al, ..An) di una prima traiettoria di misurazione (path 1);

eseguire un ciclo di scansione misurando, con cadenza prestabilita, almeno una grandezza fisica del materiale in film 2 lungo una seconda pluralità di punti di misurazione (B1, ...Bn) di una seconda traiettoria di misurazione (path 2),

in cui, per ogni coppia di punti di misurazione Ai (x1, y*) e Bi (x2, y*) aventi medesima coordinata longitudinale y* (vale a dire nella direzione di movimentazione del materiale), esiste almeno un’altra coppia di punti di misurazione Aj1 (xl, y3) e Bj (x2, y4) aventi le stesse coordinate trasversali dei punti precedenti Ai, Bi ma coordinate longitudinali differenti tra loro (y3 diverso da y4).

Ad esempio in una possibile forma di funzionamento le due traiettorie di misurazione (path 1 , path2) sono conformate in modo tale da essere una (path 1; path 2) la rappresentazione ribaltata, sia rispetto alla direzione di movimentazione (L) sia rispetto alla direzione ortogonale alla direzione di movimentazione (L), dell’altra (path 2; path 1).

Eseguendo le misurazioni su punti aventi la stessa coordinata longitudinale (ovvero parallela alla direzione di movimentazione) ma differente coordinata trasversale è possibile discriminare completamente le variazioni della grandezza fisica misurata in senso macchina (Machine Direction) dalle variazioni in senso trasversale (Cross Direction).

In questo modo si evitano situazioni di incertezza tipiche della tecnica nota, come quella esemplificata nelle figure 9-11 dove la misurazione, pur permettendo di rilevare una variazione del profilo di spessore, non permette di comprendere se tale variazione sia imputabile ad una variazione in senso longitudinale od in senso trasversale.

Inoltre, poiché entrambe le teste si muovono, si elimina il rischio di disturbi provocati dalle oscillazioni o dagli sbandamenti a cui è soggetto il materiale in film in movimento.

Con gli apparecchi descritti è possibile eseguire, a parità di velocità di movimentazione degli apparecchi di misurazione, la scansione del film ad una velocità doppia rispetto a EP 0546 362, vale a dire che i profili trasversali sono completati con cadenza doppia.

Nel caso di guasto ad un sensore o ad una delle due trasmissioni si può comunque ottenere il profilo trasversale completo, riducendo l’entità della componente longitudinale attraverso opportuni filtraggi del profilo trasversale.

Claims (1)

1. RIVENDICAZIONI 1. Apparecchio (1) per misurare il profilo di almeno una carateristica fisica di un materiale in forma di film o simili (2), che scorre in una direzione di avanzamento (L) attraversando uno spazio (50), comprendente: primi mezzi di misurazione (6) per misurare almeno una carateristica fisica di un materiale in film (2) che attraversa lo spazio (50) lungo una direzione di avanzamento (L), deti primi mezzi di misurazione (6) comprendenti almeno un’unità di trasmissione (6a) ed almeno un’unità di ricezione (6b) disposte sui lati opposti di deto spazio (50); secondi mezzi di misurazione (7) per misurare almeno una carateristica fisica di un materiale in film (2) che atraversa lo spazio (50) lungo una direzione di avanzamento (L), deti secondi mezzi di misurazione (7) comprendenti almeno un’unità di trasmissione (7a) ed almeno un’unità di ricezione (7b) disposte sui lati opposti di deto spazio (50); deti primi e secondi mezzi (6, 7) di misurazione di almeno una carateristica fisica di un materiale in film (2) essendo ati a scansionare rispetivamente un primo segmento di ispezione (Tl) ed un secondo segmento di ispezione (T2), allineati fra loro e disposti trasversalmente rispeto a deta direzione di avanzamento (L), caraterizzato per il fato che deti primi e secondi mezzi misuratori (6, 7) sono movimentabili seletivamente, in modo da regolare indipendentemente il moto di ciascun mezzo misuratore (6, 7) durante l’esecuzione di un ciclo completo di scansione. Apparecchio, secondo la rivendicazione 1, in cui dete unità di ricezione (6b, 7b) di deti primi e secondi mezzi di misurazione (6, 7) sono mobili su una singola guida (61) disposta su un lato di deto spazio (50) ato ad essere attraversato in una direzione di avanzamento (L) da un materiale in film (2). 3. Apparecchio, secondo la rivendicazione 1, in cui dete unità di trasmissione (6a, 6b) e dete unità di ricezione (6b, 7b) di deti primi e secondi mezzi di misurazione (6, 7) sono mobili su due guide (61, 62) disposte su lati opposti di deto spazio (50) ato ad essere attraversato in una direzione di avanzamento (L) da un materiale in film (2). 4. Apparecchio, secondo la rivendicazione 2 o 3, comprendente inoltre una stazione di calibraziene-(120) di detti primi e secondi mezzi di misurazione (6, 7), detta stazione di calibrazione (120) essendo allineata con detti primo e secondo segmenti di ispezione (Tl, T2) in modo che detti primi e secondi mezzi (6, 7) misuratori di almeno una grandezza fisica possano essere portati, selettivamente, in corrispondenza di detta stazione di calibrazione (120). 5. Apparecchio, secondo una delle rivendicazioni precedenti, in cui detti primo e secondo mezzi di misurazione (6, 7) sono atti ad operare su segmenti di ispezione (Tl, T2) parzialmente sovrapposti. 6. Apparecchio, secondo una delle rivendicazioni da 1 a 4, in cui detti primo e secondo mezzi di misurazione (6, 7) sono atti ad operare su segmenti di ispezione (Tl, T2) completamente sovrapposti. 7. Apparecchio (21) per misurare il profilo di spessore di un materiale non metallico in forma di film o simili (2), che scorre in una direzione di avanzamento (L) attraversando uno spazio (50), comprendente: una superficie di riferimento metallica (30), disposta su un primo lato di detto spazio (50), atta a consentire lo scorrimento di un materiale in film (2) lungo una direzione di avanzamento (L); primi mezzi (16) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) che attraversa detto spazio (50) scorrendo lungo detta direzione di avanzamento (L) su detta superficie di riferimento metallica (30), detti primi mezzi (16) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) essendo disposti su un secondo lato di detto spazio (50) e comprendendo un primo misuratore induttivo, per misurare la distanza di detta superficie metallica di riferimento (30), e primi mezzi per misurare la distanza della superficie in vista di un materiale in film (2) che scorre su detta superficie metallica di riferimento (30), detti primo misuratore induttivo e detti primi mezzi per misurare la distanza della superficie in vista di un materiale in film (2) essendo solidali fra loro ed operando in regioni spaziali sostanzialmente coassiali; secondi mezzi (17) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) che attraversa detto spazio (50) scorrendo lungo detta direzione di avanzamento (L) su detta superficie di riferimento metallica (30), detti secondi mezzi (17) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) essendo disposti su un secondo lato di detto spazio (50) e comprendendo un secondo misuratore induttivo, per misurare la distanza di detta superficie metallica di riferimento (30), e secondi mezzi per misurare la distanza della superficie in vista di un materiale in film (2) che scorre su detta superficie metallica di riferimento (30), detti secondo misuratore induttivo e detti secondi mezzi per misurare la distanza della superficie in vista di un materiale in film (2) essendo solidali fra loro ed operando in regioni spaziali sostanzialmente coassiali; detti primi e secondi mezzi (16, 17) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) che attraversa uno spazio (50) essendo atti a scansionare rispettivamente un primo segmento di ispezione (T1) ed un secondo segmento di ispezione (T2), trasversalmente rispetto a detta direzione di avanzamento (L), caratterizzato per il fatto che detti primi e secondi mezzi (16, 17) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) sono movimentabili selettivamente, in modo da regolare indipendentemente il moto di ciascun mezzo misuratore (16, 17) durante l’esecuzione di un ciclo completo di scansione. 8. Apparecchio, secondo la rivendicazione 7, in cui detti primi e secondi mezzi (16, 17) per misurare lo spessore di un materiale non metallico in film (2) sono mobili su una singola guida (61) disposta su un lato di detto spazio (50) atto ad essere attraversato in una direzione di avanzamento (L) da un materiale in film (2). 9. Apparecchio, secondo la rivendicazione 8, comprendente inoltre una stazione di calibrazione (120) di detti primi e secondi mezzi (16, 17) per misurare lo spessore di un materiale non metallico in forma di film, detta stazione di calibrazione (120) essendo allineata con detti primo e secondo segmento di ispezione (T1, T2) in modo che detti primi e secondi mezzi (16, 17) misuratori di spessore di un materiale non metallico in forma di film possano essere portati, selettivamente, in corrispondenza di detta stazione di calibrazione (120). 10. Apparecchio, secondo la rivendicazione 7, 8 o 9, in cui detta superficie metallica di riferimento (30) è costituita da un rullo. 11. Apparecchio, secondo una delle rivendicazioni da 7 a 10, in cui detti primi e secondo mezzi (16, 17) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) sono atti ad operare su segmenti di ispezione (T1, T2) parzialmente sovrapposti. 12. Apparecchio, secondo una delle rivendicazioni da 7 a 10, in cui detti primi e secondo mezzi (16, 17) per misurare lo spessore dì un materiale in film (2) sono atti ad operare su segmenti di ispezione (T1, T2) completamente sovrapposti. 13. Apparecchio (31) per misurare il profilo di spessore di un materiale in forma di film o simili (2), che scorre in una direzione di avanzamento (L) attraversando uno spazio (50) comprendente: primi mezzi (6) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) che attraversa detto spazio (50) scorrendo lungo detta direzione di avanzamento (50), detti primi mezzi (6) comprendendo una coppia di misuratori di distanza (6a, 6b) di una superficie, disposti su lati opposti di detto spazio (50) ed operanti in regioni sostanzialmente coassiali; secondi mezzi (7) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) che attraversa detto spazio (50) scorrendo lungo detta direzione di avanzamento (50), detti secondi mezzi (7) comprendendo una coppia di misuratori di distanza (7a, 7b) di una superficie, disposti su lati opposti di detto spazio (50) ed operanti in regioni sostanzialmente coassiali; detti primi e secondi mezzi (6, 7) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) che attraversa uno spazio (50) essendo atti a scansionare rispettivamente un primo segmento di ispezione (Tl) ed un secondo segmento di ispezione (T2), trasversalmente rispetto a detta direzione di avanzamento (L), caratterizzato per il fatto che detti primi e secondi mezzi (16, 17) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) sono movimentabili selettivamente, in modo da regolare indipendentemente il moto di ciascun mezzo misuratore (16, 17) durante l’esecuzione di un ciclo completo di scansione. 14. Apparecchio, secondo la rivendicazione 13, in cui detti primi e secondi mezzi (6, 7) per misurare lo spessore di un materiale in forma di film (2) sono mobili su due guide (61, 62) disposte su lati opposti di detto spazio (50) atto ad essere attraversato in una direzione di avanzamento (L) da un materiale in film (2). 15. Apparecchio, secondo la rivendicazione 14, comprendente inoltre una stazione di calibrazione (120) di detti primi e secondi mezzi (6, 7) per misurare lo spessore di un materiale in forma di film, detta stazione di calibrazione (120) essendo allineata con detti primo e secondo segmento di ispezione (T1, T2) in modo che detti primi e secondi mezzi (6, 7) misuratori di spessore di un materiale in forma di film (2) possano essere portati, selettivamente, in corrispondenza di detta stazione di calibrazione (120). 16. Apparecchio, secondo una delle rivendicazioni da 13 a 15, in cui detti primi e secondo mezzi (6, 7) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) sono atti ad operare su segmenti di ispezione (Tl, T2) parzialmente sovrapposti. 17. Apparecchio, secondo una delle rivendicazioni da 13 a 15, in cui detti primi e secondo mezzi (6, 7) per misurare lo spessore di un materiale in film (2) sono atti ad operare su segmenti di ispezione (Tl, T2) completamente sovrapposti. 18. Procedimento per misurare il profilo di almeno una caratteristica fisica di un materiale in film (2) avente un asse di simmetria longitudinale (X), comprendente i passi di: far scorrere detto materiale in film (2) lungo una direzione di avanzamento (L); eseguire un ciclo di scansione misurando, con cadenza prestabilita, almeno una grandezza fisica del materiale in film (2) lungo una prima pluralità di punti di misurazione (Al, .... An) una prima traiettoria di misurazione (path 1); eseguire un ciclo di scansione misurando, con cadenza prestabilita, almeno una grandezza fìsica del materiale in film (2) lungo una seconda pluralità di punti di misurazione (Bl, ....Bn) di una seconda traiettoria di misurazione (path 2), in cui, per ogni coppia di punti di misurazione Ai (xl, y*) e Bi (x2, y*) aventi medesima coordinata longitudinale y*, esiste almeno un’altra coppia di punti di misurazione Aj (xl, y3) e Bj (x2, y4), aventi le stesse coordinate trasversali dei punti precedenti Ai, Bi, ma coordinate longitudinali differenti tra loro.