IT201800005962A1

IT201800005962A1 - Sistema ottico per l'identificazione di difetti

Info

Publication number: IT201800005962A1
Application number: IT102018000005962A
Authority: IT
Priority date: 2018-06-01
Filing date: 2018-06-01
Publication date: 2019-12-01

Description

Descrizione di Brevetto per Invenzione Industriale avente per titolo: “SISTEMA OTTICO PER L’IDENTIFICAZIONE DI DIFETTI”.

DESCRIZIONE

La presente invenzione si riferisce ad un sistema ottico per l’individuazione di difetti.

Sono noti svariati sistemi ottici per l’individuazione di difetti largamente impiegati da moltissime aziende operanti in diversi settori industriali al fine di verificare, in modo rapido ed automatizzato, la presenza di difetti sui prodotti realizzati all’interno dell’azienda o sui prodotti forniti da terzi. In particolare, questi sistemi hanno lo scopo di identificare la presenza di eventuali difetti, ad esempio come difetti di produzione di carattere tecnicostrutturale e/o estetico, sulle superfici del prodotto analizzato.

Infatti, i sistemi di tipo noto comprendono generalmente una sorgente ottica configurata per emettere una radiazione luminosa atta ad illuminare il prodotto ed un sensore ottico configurato per acquisire una o più immagini delle superfici del prodotto così illuminate.

Inoltre, i sistemi di tipo noto prevedono di modificare la configurazione dei parametri di acquisizione dell’immagine del sensore ottico, ad esempio come il tempo di esposizione, l’apertura e/o la sensibilità dispetto alla radiazione luminosa, in modo da individuare con chiarezza difetti di tipo differente.

Infatti, i difetti che generalmente sono presenti sui prodotti da analizzare si distinguono in diversi tipi, ciascuno dei quali presenta diverse caratteristiche in funzione di svariati fattori, ad esempio come i materiali ed il processo produttivo impiegati per la realizzazione del prodotto e/o la forma del prodotto stesso.

Di conseguenza, i difetti di diversi tipi sono più o meno identificabili a seconda delle caratteristiche della radiazione luminosa emessa dalla sorgente ottica e dalla configurazione dei parametri di acquisizione dell’immagine del sensore ottico.

Tuttavia, questi sistemi presentano alcuni inconvenienti legati al rilevamento di defetti di diverso tipo.

Infatti, la configurazione dei parametri di acquisizione dell’immagine del sensore ottico deve essere effettuata più volte in funzione del tipo di difetto che si desidera identificare.

Tale soluzione, tuttavia, comporta lunghi tempi di esecuzione delle operazioni di rilevamento a causa delle operazioni di configurazione dei parametri di acquisizione dell’immagine del sensore ottico che devono essere eseguite da un operatore specializzato ogni volta si desidera rilevare un difetto di tipo differente e/o ogni volta che si desidera analizzare un prodotto differente.

Il compito principale della presente invenzione è quello di escogitare un sistema ottico per l’identificazione di difetti che consenta di ridurre i tempi di esecuzione delle operazioni di identificazione di difetti di vario tipo. Altro scopo del presente trovato è quello di escogitare un sistema ottico per l’identificazione di difetti che consenta di superare i menzionati inconvenienti della tecnica nota nell’ambito di una soluzione semplice, razionale, di facile ed efficace impiego e dal costo contenuto.

Gli scopi sopra esposti sono raggiunti dal presente un sistema ottico per l’identificazione di difetti avente le caratteristiche di rivendicazione 1.

Inoltre, gli scopi sopra esposti sono raggiunti dal presente metodo per l’identificazione di difetti avente le caratteristiche di rivendicazione 5.

Altre caratteristiche e vantaggi della presente invenzione risulteranno maggiormente evidenti dalla descrizione di una forma di esecuzione preferita, ma non esclusiva, di un sistema ottico per l’identificazione di difetti e di un metodo per l’identificazione di difetti, illustrati a titolo indicativo, ma non limitativo, nelle unite tavole di disegni in cui:

la figura 1 è una vista schematica frontale del sistema secondo il trovato; la figura 2 è una vista schematica in assonometria del sistema secondo il trovato.

Con particolare riferimento a tali figure, si è indicato globalmente con 1 un sistema ottico per l’identificazione di difetti.

Il sistema ottico 1 per l’identificazione di difetti comprende:

- almeno una sorgente ottica 2 di emissione di almeno una radiazione 3 incidente su almeno un oggetto 4 lungo una direzione di incidenza A predefinita ed atta all’identificazione di difetti sull’oggetto 4;

- un primo sensore ottico 5 di acquisizione di almeno una prima immagine configurato per percepire e ricevere almeno parte della radiazione 3 riflessa dall’oggetto 4 ed avente un primo tempo di esposizione ed una prima sensibilità di valore predefinito.

Nel prosieguo della trattazione, con il termine “tempo di esposizione” impiegato con riferimento ad un sensore ottico si intende indicare il tempo durante il quale il sensore è esposto alla radiazione 3, ovvero il tempo durante il quale il sensore rileva la radiazione 3.

Con il termine “sensibilità”, invece, si intende indicare la sensibilità di un sensore ottico rispetto alla radiazione 3, ovvero, in campo digitale, il gain del sensore ottico stesso.

Infatti, sempre con riferimento al campo digitale, il sensore ottico che percepisce una radiazione 3 converte quest’ultima in un segnale elettrico impiegato per elaborare un immagine digitale.

Il segnale elettrico generato in questo modo è amplificato di un fattore predefinito e generalmente regolabile che definisce il gain del sensore ottico.

Convenientemente, il primo sensore ottico 5 è un sensore ottico di tipo digitale ed è disposto in prossimità dell’oggetto 4.

In particolare, l’oggetto 4 è disposto in appoggio su una piano di lavoro 6 sostanzialmente orizzontale ed è posizionato inferiormente rispetto al primo sensore ottico 5.

Nello specifico, secondo la forma di realizzazione mostrata nelle figure, l’oggetto 4 è posizionato sotto il primo sensore ottico 5 rispetto al quale è allineato lungo un asse di centraggio B disposto sostanzialmente ortogonale al piano di lavoro 6.

Vantaggiosamente, anche la sorgente ottica 2 è disposta superiormente all’oggetto 4, illuminandolo in modo sostanzialmente uniforme con la radiazione 3.

Inoltre, la sorgente ottica 2 è del tipo di un illuminatore a LED (light emitting diode) configurato per emettere la radiazione 3.

Preferibilmente, la radiazione 3 è del tipo di una radiazione luminosa avente una prima lunghezza d’onda predefinita.

Vantaggiosamente, il sistema 1 comprende:

- almeno un secondo sensore ottico 7 di acquisizione di almeno una seconda immagine dell’oggetto 4 configurato per percepire e ricevere almeno parte della radiazione 3 riflessa dall’oggetto 4 ed avente un secondo tempo di esposizione ed una seconda sensibilità di valore prestabilito, almeno uno tra il valore del primo tempo di esposizione e della prima sensibilità essendo differente rispetto ad almeno uno tra il valore del secondo tempo di esposizione e della seconda sensibilità; - mezzi ottici 11 di divisione della radiazione 3 riflessa dall’oggetto 4 in almeno un primo ed un secondo raggio 3a, 3b distinti tra loro, di cui il primo raggio 3a è diretto verso il primo sensore ottico 5 e di cui il secondo raggio 3b è diretto verso il secondo sensore ottico 7, i mezzi ottici 11 essendo disposti tra la radiazione 3 riflessa dall’oggetto 4 ed il primo ed il secondo sensore ottico 5, 7.

In particolare, i mezzi ottici 11 comprendono almeno un elemento ottico 8 disposto lungo l’asse di centraggio B in corrispondenza di una posizione intermedia tra l’oggetto 4 ed il primo sensore ottico 5.

Inoltre, l’elemento ottico 8 comprende almeno una superficie di incidenza 9 in corrispondenza della quale incide la radiazione 3 riflessa dall’oggetto 4. In dettaglio, secondo la forma di realizzazione mostrata nelle figure, l’elemento ottico 8 è del tipo di un beam splitter.

Vantaggiosamente, il secondo sensore ottico 7 è posizionato lungo un asse trasversale C disposto sostanzialmente trasversale all’asse di centraggio e lungo il quale è posizionato anche l’elemento ottico 8.

In particolare, l’asse trasversale è disposto sostanzialmente ortogonale all’asse di centraggio B, come mostrato in figura 1.

Convenientemente, il sistema ottico 1 comprende almeno una sorgente ottica ausiliaria 10 di emissione di almeno una radiazione 3 incidente sull’oggetto 4 lungo una direzione di battuta D ed avente una lunghezza d’onda diversa dalla lunghezza d’onda della radiazione 3 emessa dalla sorgente ottica 2.

Preferibilmente, analogamente a quanto descritto con riferimento alla sorgente ottica 2, anche la sorgente ottica ausiliaria 10 è del tipo di un illuminatore a LED configurato per emettere la corrispondente radiazione 3.

Secondo la forma di realizzazione mostrata nelle figure, il sistema 1 comprende una sorgente ottica 2 e due sorgenti ottiche ausiliarie 10.

In particolare, ogni sorgente ottica ausiliaria 10 emette una radiazione 3 lungo una corrispondente direzione di battuta D, come mostrato in figura 1. Non si escludono, tuttavia, alternative forme di realizzazione del sistema 1, ad esempio in cui siano presenti tre o quattro sorgenti ottiche 2, ciascuna delle quali è configurata per emettere una corrispondente radiazione 3 lungo una diversa direzione di battuta D.

Vantaggiosamente, ciascuna radiazione 3 emessa da una corrispondente sorgente ottica ausiliaria 10 ha una lunghezza d’onda differente dalle altre. Preferibilmente, il sistema 1 comprende mezzi di controllo della lunghezza d’onda della radiazione 3 emessa da almeno una tra la sorgente ottica 2 e la sorgente ottica ausiliaria 10.

In particolare, i mezzi di controllo sono configurati per variare la lunghezza d’onda di ciascuna delle radiazioni 3 emesse dalla sorgente ottica 2 e dalla sorgente ottica ausiliaria 10.

Preferibilmente, il sistema 1 comprende mezzi di accensione/spegnimento di almeno una tra la sorgente ottica 2 e la sorgente ottica ausiliaria 10 configurati per attivare/disattivare l’emissione della radiazione 3 emessa da almeno una tra la sorgente ottica 2 e la sorgente ottica ausiliaria 10.

Inoltre, il sistema 1 comprende mezzi di settaggio del primo e del secondo sensore ottico 5, 7 configurati per variare il valore di almeno uno tra il primo tempo di esposizione, la prima sensibilità, il secondo tempo di esposizione e la seconda sensibilità.

In particolare, i mezzi di settaggio sono del tipo di un computer collegato operativamente al primo ed al secondo sensore ottico 5, 7.

Per di più, il sistema 1 comprende mezzi di individuazione dei difetti collegati operativamente al primo ed al secondo sensore ottico 5, 7 e configurati per identificare i difetti in funzione della prima e della seconda immagine.

Preferibilmente, i mezzi di individuazione sono del tipo di un dispositivo di visualizzazione, ad esempio come uno schermo, che permette di visualizzare/analizzare la prima e la seconda immagine dell’oggetto 4 in modo da rilevare i difetti che possono trovarsi su quest’ultimo.

Vantaggiosamente, i mezzi di individuazione coincidono con i mezzi di settaggio del primo e del secondo sensore 5, 7.

Non si escludono, tuttavia, alternative forme di realizzazione del sistema 1, ad esempio in cui i mezzi di individuazione ed i mezzi di settaggio coincidano anche con i mezzi di controllo della lunghezza d’onda della radiazione 3 emessa dalla sorgente ottica 2 e della sorgente ottica ausiliaria 10.

Il presente trovato riguarda anche un metodo per l’identificazione di difetti. Il metodo per l’identificazione di difetti comprende almeno i passi di:

- illuminazione di almeno un oggetto 4 tramite almeno una radiazione 3 incidente sull’oggetto 4 lungo una direzione di incidenza A ed emessa da almeno una sorgente ottica 2;

- ottenimento di almeno un immagine dell’oggetto 4 per identificarne i difetti.

In particolare, il passo di illuminazione dell’oggetto 4 comprende almeno un passo di predisposizione dell’oggetto 4 su almeno un piano di lavoro 6. Vantaggiosamente, il metodo di identificazione di difetti comprende almeno un passo di divisione della radiazione 3 riflessa dall’oggetto 4 in almeno un primo ed un secondo raggio 3a, 3b distinti tra loro tramite almeno un elemento ottico 8, e l’ottenimento comprende almeno le fasi di: - acquisizione di almeno una prima immagine dell’oggetto 4 tramite almeno un primo sensore ottico 5 ricevente il primo raggio 3a ed avente un primo tempo di esposizione ed una prima sensibilità di valore predefinito;

- acquisizione di almeno una seconda immagine dell’oggetto 4 tramite almeno un secondo sensore ottico 7 ricevente il secondo raggio 3b ed avente un secondo tempo di esposizione ed una seconda sensibilità di valore predefinito, almeno uno tra il valore del primo tempo di esposizione e della prima sensibilità essendo differente rispetto ad almeno uno tra il valore del secondo tempo di esposizione e della seconda sensibilità.

In particolare, la fase di divisione comprende almeno le sotto-fasi di:

- trasmissione di almeno una parte della radiazione 3 verso il primo sensore ottico 5, la parte di radiazione 3 trasmessa definendo il primo raggio 3a; e

- riflessione di almeno un parte della radiazione 3 verso il secondo sensore ottico 7, la parte di radiazione 3 riflessa definendo il secondo raggio 3b.

Vantaggiosamente, il metodo per l’identificazione di difetti comprende almeno un passo di illuminazione dell’oggetto 4 tramite una radiazione 3 incidente sull’oggetto 4 lungo una direzione di battuta D, emessa da una sorgente ottica ausiliaria 10 ed avente una lunghezza d’onda differente rispetto alla radiazione 3 emessa dalla sorgente ottica 2.

Inoltre, il metodo per l’identificazione di difetti comprende almeno un passo di regolazione dell’illuminazione dell’oggetto 4.

In particolare, il passo di regolazione comprende almeno una fase di attivazione/disattivazione dell’illuminazione realizzata tramite almeno una tra la radiazione 3 emessa dalla sorgente ottica 2 e la radiazione 3 emessa dalla sorgente ottica ausiliaria 10, l’attivazione/disattivazione essendo realizzata tramite i mezzi di accensione/spegnimento di almeno una tra la sorgente ottica 2 e la sorgente ottica ausiliaria 10.

Vantaggiosamente, la regolazione è eseguita tra l’acquisizione della prima immagine e l’acquisizione della seconda immagine.

In questo modo, la regolazione varia le condizioni di illuminazione dell’oggetto 4 a seconda delle caratteristiche, quali il tempo di esposizione e la sensibilità, del primo e del secondo sensore 5, 7, i quali acquisiscono rispettivamente la prima e la seconda immagine senza la necessità di spostare l’oggetto 4.

Infatti, se non fosse prevista la divisione, l’oggetto 4 dovrebbe essere spostato in un primo momento di fronte al primo sensore ottico 5 ed in un secondo momento di fronte al secondo sensore ottico 7.

Non si escludono, tuttavia, alternative forme di esecuzione del metodo di per l’identificazione dei difetti, ad esempio in cui l’acquisizione della prima immagine e l’acquisizione della seconda immagine siano eseguite nello stesso istante ed in cui siano eseguite successivamente all’esecuzione di ogni nuovo passo di regolazione dell’illuminazione.

Convenientemente, il metodo per l’identificazione di difetti può comprendere una pluralità di passi di ottenimento dell’immagine alternati tra loro da altrettanti passi di regolazione.

Preferibilmente, ogni passo di regolazione è eseguito tramite l’esecuzione di una combinazione di fasi di variazione e di fasi di attivazione/disattivazione, le quali hanno lo scopo di illuminare l’oggetto 4 in modo differente a seconda del tipo di difetto che si desidera individuare ed a seconda delle caratteristiche del primo e del secondo sensore ottico 5, 7, ad esempio a seconda del tempo di esposizione e/o della sensibilità di quest’ultimi.

In particolare, il numero di possibili illuminazioni dell’oggetto 4 varia a seconda del numero di sorgenti ottiche 2 e di sorgenti ottiche ausiliarie 10 impiegate per eseguire le fasi di variazione e le fasi di attivazione/disattivazione.

Convenientemente, il metodo per l’identificazione di difetti appena descritto può essere eseguito tramite il sistema ottico 1 descritto precedentemente.

In particolare, il funzionamento del sistema ottico 1 in accordo con l’esecuzione del metodo secondo il trovato è il seguente.

Inizialmente, l’oggetto 4 è disposto da un operatore specializzato sulla piano di lavoro 6 in corrispondenza dell’asse di centraggio B ed al di sotto dei mezzi ottici 11, come mostrato in figura 1.

Preferibilmente, il metodo per l’identificazione di difetti comprende un passo di configurazione di almeno uno tra il primo ed il secondo sensore ottico tramite mezzi di settaggio configurati per variare almeno uno tra il valore del primo tempo di esposizione e della prima sensibilità ed almeno uno tra il valore del secondo tempo di esposizione e della seconda sensibilità.

Successivamente, l’operatore illumina l’oggetto 4, ovvero aziona/disattiva a seconda delle esigenze la sorgente ottica 2 e le sorgente ottica ausiliaria 10, regolando in questo modo la radiazione 3 che incide sull’oggetto 4. Raggiunta questa configurazione, almeno parte della radiazione 3 che incide sull’oggetto 4 lungo almeno uno tra l’asse di incidenza A e la direzione di battuta D è riflessa dall’oggetto stesso verso i mezzi ottici 11. In particolare, la radiazione 3 riflessa dall’oggetto 4 raggiunge la superficie di incidenza 9, la quale divide la radiazione stessa nel primo raggio 3a e nel secondo raggio 3b.

In questo modo, il primo sensore ottico 5 ed il secondo sensore ottico 7 sono illuminati rispettivamente dal primo e dal secondo raggio 3a, 3b.

Raggiunta questa configurazione, il primo sensore ottico 5 acquisisce la prima immagine.

Successivamente, l’operatore procede alla regolazione dell’illuminazione dell’oggetto 4, ovvero aziona/disattiva la sorgente ottica 2 e le due sorgenti ottiche ausiliarie 10, regolando in modo differente dal precedente la radiazione 3 che incide sull’oggetto 4.

Preferibilmente, tali operazioni di attivazione/disattivazione sono eseguite tramite mezzi di controllo automatico configurabili dall’operatore.

Inoltre, la regolazione può comprendere anche una fase di controllo della lunghezza d’onda della radiazione 3 emessa da almeno una tra la sorgente ottica 2 e la sorgente ottica ausiliaria 10 tramite i mezzi di controllo della lunghezza d’onda della radiazione 3 emessa da almeno una tra la sorgente ottica 2 e la sorgente ottica ausiliaria 10.

Vantaggiosamente, la fase di controllo della lunghezza d’onda è eseguita tramite i mezzi di controllo automatico.

Una volta terminata la regolazione dell’illuminazione, il secondo sensore ottico 7 acquisisce la seconda immagine.

Convenientemente, il metodo per l’identificazione di difetti prevede una pluralità di fasi di regolazione e di acquisizione eseguite in successione tra loro in modo da permettere l’acquisizione di una pluralità di immagini dello stesso oggetto 4 illuminato in modo differente.

Preferibilmente, il metodo per l’identificazione di difetti comprende una fase di individuazione dei difetti.

In particolare, l’individuazione prevede di visualizzare la prima e la seconda immagine tramite il visualizzatore, il quale permette all’operatore di analizzare le immagini acquisite ed individuare i difetti.

Non si escludono tuttavia alternative forme di realizzazione del metodo per l’individuazione di difetto in cui l’analisi delle immagini acquisiti sia effettuata automaticamente da un software.

È importante notare, inoltre, che il sistema 1 ed il metodo per l’identificazione di difetti appena descritti permetto l’acquisizione della prima e della seconda immagine dell’oggetto 4 anche nel caso in cui quest’ultimo sia in movimento.

In particolare, non si escludono alternative forme di realizzazione del sistema 1 ed alternative forma di esecuzione del metodo per l’identificazione di difetti in cui il piano di lavoro 6 sia di tipo mobile, ad esempio come un nastro trasportatore, e sia atto a movimentare l’oggetto 4 lungo un percorso prestabilito passante in corrispondenza dell’asse di centraggio B, ovvero di fronte ai mezzi ottici 11 ed al primo sensore ottico 5.

Si è in pratica constatato come l’invenzione descritta raggiunga gli scopi proposti.

In particolare si sottolinea il fatto che l’impiego dei mezzi ottici permette di acquisire due immagini della stessa porzione dell’oggetto da analizzare tramite il prima ed il secondo sensore ottico senza che l’oggetto stesso debba essere movimentato.

Inoltre, l’impiego di una sorgente ottica e di una o più sorgenti ottiche ausiliarie permette di variare in modo agevole e veloce le condizioni di illuminazione dell’oggetto da analizzare in funzione delle caratteristiche del primo e del secondo sensore ottico.

Infatti, l’impiego del primo e di un secondo sensore ottico aventi parametri di acquisizione dell’immagine differenti in concomitanza con l’impiego delle sorgenti ottiche e delle sorgente ottiche ausiliarie permette di acquisire immagini differenti a seconda del tipo di defetto da individuare sull’oggetto da analizzare.

Claims

RIVENDICAZIONI 1) Sistema ottico (1) per l’identificazione di difetti, comprendente: - almeno una sorgente ottica (2) di emissione di almeno una radiazione (3) incidente su almeno un oggetto (4) lungo una direzione di incidenza (A) predefinita ed atta all’identificazione di difetti su detto oggetto (4); - un primo sensore ottico (5) di acquisizione di almeno una prima immagine configurato per percepire e ricevere almeno parte della radiazione (3) riflessa da detto oggetto (4) ed avente un primo tempo di esposizione ed una prima sensibilità di valore predefinito; caratterizzato dal fatto che comprende: - almeno un secondo sensore ottico (7) di acquisizione di almeno una seconda immagine di detto oggetto (4) configurato per percepire e ricevere almeno parte della radiazione (3) riflessa da detto oggetto (4) ed avente un secondo tempo di esposizione ed una seconda sensibilità di valore prestabilito, almeno uno tra il valore di detto primo tempo di esposizione e detta prima sensibilità essendo differente rispetto ad almeno uno tra il valore di detto secondo tempo di esposizione e detta seconda sensibilità; - mezzi ottici (11) di divisione della radiazione (3) riflessa da detto oggetto (4) in almeno un primo ed un secondo raggio (3a, 3b) distinti tra loro, di cui detto primo raggio (3a) è diretto verso detto primo sensore ottico (5) e di cui detto secondo raggio (3b) è diretto verso detto secondo sensore ottico (7), detti mezzi ottici (11) essendo disposti tra la radiazione (3) riflessa da detto oggetto (4) e detto primo e detto secondo sensore ottico (5, 7).
2) Sistema ottico (1) secondo la rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che comprende almeno una sorgente ottica ausiliaria (10) di emissione di almeno una radiazione (3) incidente su detto oggetto (4) lungo una direzione di battuta (D) ed avente una lunghezza d’onda diversa dalla lunghezza d’onda della radiazione (3) emessa da detta sorgente ottica (2).
3) Sistema ottico (1) secondo una o più delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che comprende mezzi di accensione/spegnimento di almeno una tra detta sorgente ottica (2) e detta sorgente ottica ausiliaria (10) configurati per attivare/disattivare l’emissione della radiazione (3) emessa da almeno una tra detta sorgente ottica (2) e detta sorgente ottica ausiliaria (10).
4) Sistema ottico (1) secondo una o più delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che detto elemento ottico (8) è del tipo di un beam splitter.
5) Metodo per l’identificazione di difetti comprendente almeno i passi di: - illuminazione di almeno un oggetto (4) tramite almeno una radiazione (3) incidente su detto oggetto (4) lungo una direzione di incidenza (A) ed emessa da almeno una sorgente ottica (2); - ottenimento di almeno un immagine di detto oggetto (4) per identificarne i difetti; caratterizzato dal fatto che comprende almeno un passo di divisione della radiazione (3) riflessa da detto oggetto (4) in almeno un primo ed un secondo raggio (3a, 3b) distinti tra loto tramite mezzi ottici (11) di divisione della radiazione (3) e caratterizzato dal fatto che detto ottenimento comprende almeno le fasi di: - acquisizione di almeno una prima immagine di detto oggetto (4) tramite almeno un primo sensore ottico (5) ricevente detto primo raggio (3a) ed avente un primo tempo di esposizione ed una prima sensibilità di valore predefinito; - acquisizione di almeno una seconda immagine di detto oggetto (4) tramite almeno un secondo sensore ottico (7) ricevente detto secondo raggio (3b) ed avente un secondo tempo di esposizione ed una seconda sensibilità di valore predefinito, almeno uno tra il valore di detto primo tempo di esposizione e di detta prima sensibilità essendo differente rispetto ad almeno uno tra il valore di detto secondo tempo di esposizione e di detta seconda sensibilità.
6) Metodo per l’identificazione di defetti secondo la rivendicazione 5, caratterizzato dal fatto che detta fase di divisione comprende almeno le sotto-fasi di: - trasmissione di almeno una parte della radiazione (3) riflessa da detto oggetto (4) verso detto primo sensore ottico (5), la parte trasmessa della radiazione (3) definendo detto primo raggio (3a); e - riflessione di almeno una parte della radiazione (3) verso detto secondo sensore ottico (7), la parte riflessa della radiazione (3) definendo detto secondo raggio (3b).
7) Metodo per l’identificazione di difetti secondo una o più delle rivendicazioni da 5 a 6, caratterizzato dal fatto che comprende almeno un passo di illuminazione di detto oggetto (4) tramite una radiazione (3) incidente su detto oggetto (4) lungo una direzione di battuta (D), emessa da una sorgente ottica ausiliaria (10) ed avente una lunghezza d’onda differente rispetto alla radiazione (3) emessa da detta sorgente ottica (2).
8) Metodo per l’identificazione di difetti secondo una o più delle rivendicazioni da 5 a 7, caratterizzato dal fatto che comprende almeno un passo di regolazione dell’illuminazione di detto oggetto (4).
9) Metodo per l’identificazione di difetti secondo la rivendicazione 8, caratterizzato dal fatto che detta regolazione comprendente almeno una fase di attivazione/disattivazione dell’illuminazione realizzata tramite almeno una tra la radiazione (3) emessa da detta sorgente ottica (2) e la radiazione (3) emessa da sorgente ottica ausiliaria (10), detta attivazione/disattivazione essendo eseguita tramite mezzi di accensione/spegnimento di almeno una tra detta sorgente ottica (2) e detta sorgente ottica ausiliaria (10).
10) Metodo per l’identificazione di difetti secondo una o più delle rivendicazioni da 8 a 9, caratterizzato dal fatto che detta regolazione è eseguita tra detta acquisizione di detta prima immagine e detta acquisizione di detta seconda immagine.
11) Metodo per l’identificazione di difetti secondo una o più delle rivendicazioni da 5 a 10, caratterizzato dal fatto che è eseguito tramite un sistema ottico (1) secondo le rivendicazioni da 1 a 4.