IT201900005568A1

IT201900005568A1 - Metodo per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti e relativo sistema

Info

Publication number: IT201900005568A1
Application number: IT102019000005568A
Authority: IT
Inventors: Chiara Corridori; Matteo Devilli; Leonardo Plotegher
Original assignee: Deltamax Automazione S R L
Priority date: 2019-04-10
Filing date: 2019-04-10
Publication date: 2020-10-10
Also published as: WO2020208577A1; US20220163458A1; EP3953692A1

Description

Descrizione di Brevetto per Invenzione Industriale avente per titolo:

“METODO PER L’IDENTIFICAZIONE DI DIFETTI DI LASTRE TRASPARENTI E RELATIVO SISTEMA”.

DESCRIZIONE

La presente invenzione si riferisce ad un metodo per l’identificazione di defetti di lastre trasparenti e relativo sistema.

Sono noti svariati metodi per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti impiegati con lo scopo di eseguire il controllo di qualità delle lastre prodotte.

Generalmente, i metodi di tipo noto sono eseguiti tramite l’impiego di appositi sistemi di identificazione dei difetti comprendenti mezzi di acquisizione di immagini della lastra e mezzi di identificazione delle immagini acquisite, configurati per identificare in modo automatizzato gli eventuali difetti di produzione presenti sulla lastra, ad esempio tramite l’esecuzione di processi di visione artificiale, image processing e simili. Inoltre, i sistemi di tipo noto sono generalmente provvisti di mezzi di movimentazione della lastra atti disporre quest’ultima frontalmente ai mezzi di acquisizione.

Questi accorgimenti permettono ai metodi di tipo noto ed ai relativi sistemi di acquisire delle immagini particolarmente nitide della lastra che, una volta elaborate, ne mettono in evidenza gli eventuali difetti.

Tuttavia, i metodi di tipo noto ed i relativi sistemi presentano alcuni inconvenienti legati all’elevato grado di incertezza nell’identificazione di alcune tipologie di difetti della lastra.

Infatti, durate il processo produttivo e di vendita delle lastre, le stesse sono frequentemente esposte a corpi estranei, generalmente di tipo corpuscolare, ad esempio come polveri e/o scarti di lavorazione, che si depositano sulla lastra e sono scambiati dai metodi e dai relativi sistemi di tipo noto per difetti delle lastre stesse.

Di conseguenza, questo tipo di metodi e di sistemi identificano un’ingente quantità di falsi positivi, ovvero di falsi difetti che in realtà non sono difetti produttivi della lastra, ma sono corpi estranei depositati su quest’ultima. Questo inconveniente rallenta significativamente l’esecuzione dei metodi di tipo noto a causa dei frequenti controlli di verifica necessari a distinguere i falsi positivi dai reali difetti produttivi della lastra, riflettendosi sul l’intero costo di esecuzione dell’intero metodo.

Per sopperire a questa problematica, i metodi di tipo noto prevedono una fase di lavaggio delle lastre eseguita precedentemente l’analisi delle stesse. In questo modo, i corpi estranei depositati sulla lastra sono quasi completamente eliminati, riducendo sensibilmente il rischio di individuare falsi positivi ed i tempi di esecuzione del metodo.

Tuttavia, la fase di lavaggio delle lastre non riduce significativamente i costi di esecuzione di questi metodi a causa di alcuni inconvenienti legati all’utilizzo dell’acqua e dei detergenti necessari per lavare le lastre.

Infatti, i sistemi di tipo noto devono prevedere un’ulteriore fase aggiuntiva di asciugatura delle lastre lavate con lo scopo di non rilevare falsi positivi a causa di eventuali residui d’acqua o aloni che restano sulla superficie delle lastre analizzate.

In aggiunta, questo tipo di metodi devono prevedere per legge alcune operazioni di disposizione delle acque reflue impiegate per il lavaggio delle lastre.

Tali operazioni rendono i metodi di tipo noto ed i relativi sistemi particolarmente costosi senza ridurre in modo apprezzabile i tempi di identificazione dei difetti.

Il compito principale della presente invenzione è quello di escogitare un metodo per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti ed un relativo sistema che consentano di ridurre sensibilmente il rischio di individuazione di falsi positivi senza la necessità di lavare le lastre precedentemente all’analisi delle stesse.

Uno scopo ulteriore della presente invenzione è quello di escogitare un metodo per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti ed un relativo sistema che consentano di ridurre considerevolmente i tempi di esecuzione del metodo stesso rispetto a quelli di tipo noto.

Altro scopo della presente invenzione è quello di escogitare un metodo per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti ed un relativo sistema che consentano di superare i menzionati inconvenienti della tecnica nota nell’ambito di una soluzione semplice, razionale, di facile ed efficace impiego e dal costo contenuto.

Gli scopi sopra esposti sono raggiunti dal presente metodo avente le caratteristiche di rivendicazione 1.

Inoltre, gli scopi sopra esposti sono raggiunti dal presente sistema avente le caratteristiche di rivendicazione 11.

Altre caratteristiche e vantaggi della presente invenzione risulteranno maggiormente evidenti dalla descrizione di una forma di esecuzione preferita, ma non esclusiva, di un metodo per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti ed un relativo sistema, illustrati a titolo indicativo, ma non limitativo, nelle unite tavole di disegni in cui:

la figura 1 è una vista schematica in assonometria del sistema secondo il trovato;

la figura 2 è una vista schematica della fase di emissione del metodo secondo il trovato;

la figura 3 è una vista schematica della fase di illuminazione del metodo secondo il trovato;

la figura 4 è una vista schematica della rappresentazione grafica della lastra elaborata dal metodo secondo il trovato;

la figura 5 è una vista schematica della riproduzione grafica della lastra sviluppata dal metodo secondo il trovato.

Con particolare riferimento a tali figure, si è indicato globalmente con 1 un metodo per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti.

Il metodo 1 per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti comprende almeno le fasi di:

- fornitura di almeno una lastra 2 trasparente da ispezionare;

- acquisizione di almeno un’immagine di almeno una porzione della lastra 2 lungo una linea di acquisizione A;

- identificazione di almeno un difetto 3 della lastra 2 in funzione di almeno un’immagine acquisita.

Preferibilmente, le lastre 2 ispezionate tramite l’esecuzione del metodo 1 sono realizzate in materiale vetroso.

Non si escludono, tuttavia, alternative forme di esecuzione del metodo 1, in cui le lastre 2 analizzate siano realizzate di materiale trasparente differente, ad esempio come Polimetilmetacrilato (Plexiglass) o altri materiali plastici trasparenti, semi trasparenti.

Vantaggiosamente, il metodo 1 comprende almeno una fase di emissione di almeno una radiazione luminosa 4 trasmessa all’interno della lastra 2 lungo una linea di emissione B sostanzialmente trasversale alla linea di acquisizione A ed atta ad incidere con almeno un difetto 3 della lastra 2 in modo da individuarne la posizione.

Preferibilmente, la radiazione luminosa 4 emessa all’interno della lastra 2 è del tipo di una radiazione unidirezionale e collimata, ad esempio come una radiazione laser.

In questo modo, la radiazione luminosa 4 emessa all’interno di una lastra 2 priva di difetti e/o imperfezioni è trasmessa attraverso il materiale di cui è composta quest’ultima senza subire alcuna particolare deviazione rispetto alla linea di emissione B.

Al contrario, la radiazione luminosa 4 incidente con il difetto 3 è diffusa da quest’ultimo almeno in parte all’esterno della lastra 2.

Infatti, i difetti 3 definiscono delle irregolarità strutturali del materiale di cui è composta la lastra 2, ad esempio come bolle, inclusioni e simili, le quali rappresentano un impedimento alla normale propagazione della luce che, incidendo sul difetto 3, è diffusa in modo irregolare intorno allo spazio circostante il difetto stesso.

Vantaggiosamente, tale diffusione è particolarmente localizzata nell’intorno del difetto 3 indicandone la posizione. Infatti, il materiale trasparente di cui è realizzata la lastra 2 rende il brillio generato dalla diffusione della radiazione luminosa 4 visivamente distinguibile dall’esterno della lastra stessa.

Preferibilmente, la lastra 2 comprende almeno una coppia di facce 5 disposte parallele e contrapposte tra loro e definenti la larghezza e l’altezza della lastra 2, ed almeno una superficie perimetrale 6 interposta tra le facce 5 a definire lo spessore della lastra 2.

Inoltre, secondo il metodo 1 rappresentato nelle figure, la linea di acquisizione A è incidente ad una delle facce 5, e la linea di emissione B è incidente alla superficie perimetrale 6 e sostanzialmente ortogonale alla linea di acquisizione A.

Preferibilmente, la lastra 2 impiegata per l’esecuzione del metodo 1 è del tipo di una lastra 2 di conformazione sostanzialmente rettangolare o quadrata il cui spessore è di dimensione sostanzialmente minore rispetto alla dimensione della larghezza e dell’altezza.

Non si esclude, tuttavia, che il metodo 1 possa essere eseguito per lastre 2 aventi conformazione differenti, ad esempio di forma circolare o irregolare. Convenientemente, la fase di acquisizione è eseguita contemporaneamente alla fase di emissione.

In questo modo, quando un difetto 3 è colpito dalla radiazione luminosa 4 emessa durante la fase di emissione, la fase di acquisizione permette di acquisire un’immagine in cui è rappresentato il brillio generato dalla diffusione della radiazione luminosa 4 all’esterno della lastra 2 a causa del difetto 3.

In particolare, come descritto precedentemente, in corrispondenza del punto di diffusione della radiazione luminosa 4 quest’ultima genera un brillio che è catturato dall’immagine acquisita, identificando univocamente la posizione del difetto 3 sulla lastra 2.

Vantaggiosamente, il metodo 1 comprende almeno una fase di illuminazione di almeno una porzione di una faccia 5 della lastra 2.

Preferibilmente, la fase di illuminazione prevede di illuminare almeno una porzione della faccia 5 lungo una linea di illuminazione C.

Inoltre, la fase di illuminazione prevede di retro illuminare la lastra 2, ovvero di illuminare la faccia 5 della lastra 2 contrapposta a quella di cui è acquisita l’immagine.

Vantaggiosamente, secondo il metodo 1 rappresentato nelle figure, la linea di illuminazione C è sostanzialmente parallela alla linea di acquisizione A. Inoltre, l’illuminazione si propaga attraverso la lastra 2, attraversandola da faccia 5 a faccia 5.

Tale accorgimento permette di illuminare qualsiasi difetto 3 della lastra 2 a prescindere dalla posizione del difetto 3 all’interno della lastra stessa.

Inoltre, la fase di acquisizione è eseguita contemporaneamente alla fase illuminazione.

In questo modo, analogamente a quanto descritto con riferimento alla fase di emissione, ogniqualvolta la lastra 2 è retro illuminata è eseguita una fase di acquisizione di almeno un’immagine.

Vantaggiosamente, secondo il metodo 1 rappresentato nelle figure, la fase di illuminazione prevede di illuminare la lastra 2 lungo la linea di illuminazione C a partire dalla faccia 5 contrapposta alla faccia 5 di cui è acquisita l’immagine.

Secondo il trovato, la fase di emissione e la fase di illuminazione permettono di acquisire rispettivamente almeno una prima immagine della lastra 2 percorsa dalla radiazione luminosa 4, in cui sono messe in risalto le posizioni di uno o più difetti 3, ed almeno una seconda immagine della lastra 2 retro illuminata, in cui è messa in risalto la conformazione e/o la forma dei difetti 3.

In questo modo, tramite la prima immagine, il metodo 1 permette di individuare con precisione la posizione dei difetti 3, distinguendoli da eventuali corpi estranei presenti sulle facce 5 della lastra 2.

Invece, tramite la seconda immagine, il metodo 1 permette di individuare con precisione la conformazione e/o la dimensione dei difetti 3, la cui posizione è stata precedentemente individuata tramite la prima immagine. Convenientemente, il metodo 1 comprende almeno una fase di movimentazione della lastra 2 di una distanza di avanzamento predefinita lungo una linea di lavoro D.

In particolare, il metodo 1 comprende il ripetere la fase di movimentazione. Inoltre, successivamente ad ogni fase di movimentazione è eseguita in modo alternato una tra la fase di emissione e la fase di illuminazione.

Ad esempio, ogniqualvolta la lastra 2 avanza di un multiplo pari della distanza di avanzamento, il metodo 1 prevede di eseguite una fase di emissione, ed ogniqualvolta la lastra 2 avanza di un multiplo dispari della distanza di avanzamento, il metodo 1 prevede di eseguire una fase di illuminazione.

Non si escludono, tuttavia, alternative forme di esecuzione del metodo 1 in cui, al contrario, ogniqualvolta la lastra 2 avanza di un multiplo dispari della distanza di avanzamento, il metodo 1 prevede di eseguite una fase di emissione, ed ogniqualvolta la lastra 2 avanza di un multiplo pari della distanza di avanzamento, il metodo 1 prevede di eseguire una fase di illuminazione.

Non si escludono, inoltre, alternative forme di esecuzione del metodo 1 in cui, la fase di emissione, la fase di illuminazione e la fase di acquisizione sono eseguite contemporaneamente.

Ad esempio non si esclude che a seguito di ogni fase di movimentazione, sono eseguite contemporaneamente la fase di emissione, la fase di illuminazione e la fase di acquisizione della prima e della seconda immagine.

Vantaggiosamente, la fase di acquisizione prevede di acquisire un’immagine di una porzione limitata della lastra 2, ossia solo della porzione attraversata dalla radiazione luminosa 4 emessa lungo la linea di emissione B o della porzione illuminata lungo la linea di illuminazione C. In particolare, la fase di acquisizione prevede di acquisire un’immagine di una porzione della faccia 5 della lastra 2.

Di conseguenza, secondo il trovato, la fase di movimentazione è ripetuta fino ad ottenere almeno un’immagine di ogni porzione della faccia 5 della lastra 2.

In questo modo, la fase di identificazione permette di analizzare la totalità della faccia 5 e di identificare tutti i difetti 3 della lastra 2.

Vantaggiosamente, la fase di identificazione comprende almeno i passi di: - elaborazione di almeno una rappresentazione grafica 20 della lastra 2 in funzione delle immagini acquisite durante la fase di emissione;

- individuazione della posizione di almeno un difetto 3 sulla lastra 2 in funzione della rappresentazione grafica 20 elaborata.

Preferibilmente, il passo di elaborazione prevede di elaborare una rappresentazione grafica 20 realizzata dalla combinazione di tutte le immagini acquisite durante la fase di emissione, in modo da realizzare un’unica immagine che rappresenta la totalità della lastra 2.

In altre parole, l’immagine realizzata in questo modo rappresenta un’immagine della lastra 2 in cui la stessa è attraversata per tutta la sua estensione dalla radiazione luminosa 4.

In particolare, la rappresentazione grafica 20 rappresenta la totalità della faccia 5 della lastra 2 di cui sono acquisite le immagini.

Convenientemente, la fase di individuazione prevede di individuare i punti in corrispondenza dei quali la rappresentazione grafica 20 presenta un brillio, ovvero in cui la radiazione luminosa 4 è diffusa.

In particolare, nel caso in cui la lastra 2 non presenti alcun difetto la rappresentazione grafica 20 elaborata non presenta alcun brillio e la radiazione luminosa 4 non è catturata dalle immagini acquisite.

Convenientemente, la fase di identificazione comprende almeno i passi di: - sviluppo di almeno una riproduzione grafica 21 della lastra 2 in funzione delle immagini acquisite durante la fase di illuminazione;

- determinazione di almeno una caratteristica del difetto scelta dall’elenco comprendente: lunghezza, larghezza, area, densità, posizione, orientazione, trasparenza/opacità.

Analogamente a quanto descritto precedentemente con riferimento al passo di elaborazione, il passo di sviluppo prevede di elaborare una riproduzione grafica 21 realizzata dalla combinazione di tutte le immagini acquisite durante la fase di illuminazione, in modo da realizzare un’unica immagine che rappresenta la totalità della lastra 2.

In altre parole, l’immagine realizzata in questo modo rappresenta un’immagine completa della lastra 2 in cui la stessa è illuminata per tutta la sua estensione, in modo da mettere in risalto alcune caratteristiche degli eventuali difetti 3 individuati, ad esempio come la loro dimensione.

In particolare, la riproduzione grafica 21 rappresenta la totalità della faccia 5 della lastra 2 di cui sono acquisite le immagini.

Convenientemente, il passo di determinazione prevede di individuare i punti in corrispondenza dei quali la riproduzione grafica 21 presenta una distorsione e/o un’anomalia dell’illuminazione, ad esempio come un’attenuazione dell’intensità luminosa, causata dalla presenza di un difetto 3. Preferibilmente, secondo una possibile forma di esecuzione del procedimento 1, la fase di identificazione prevede un passo di memorizzazione delle posizioni dei difetti 3 individuati. In questo modo, il passo di determinazione è eseguito in corrispondenza dei punti identificati. Vantaggiosamente, il passo di determinazione comprende almeno un passo intermedio di confronto della dimensione determinata con almeno una dimensione di riferimento prestabilita.

Inoltre, la fase di identificazione comprende almeno un passo di segnalazione del difetto eseguita quando la dimensione determinata del difetto 3 è maggiore o uguale alla dimensione di riferimento.

Non si escludono, tuttavia, ulteriori forme di esecuzione del metodo 1, in cui la fase di identificazione comprende:

- un passo di individuazione della posizione di almeno un difetto 3 sulla lastra 2 in funzione della riproduzione grafica 21 sviluppata;

- un passo di memorizzazione delle posizioni dei difetti 3 individuati; - un passo di confronto tra le posizioni individuate in funzione della rappresentazione grafica 20 e le posizioni individuate in funzione della riproduzione grafica 21.

In questo modo, è possibile distinguere i difetti individuati sia dalla riproduzione grafica 21 che dalla rappresentazione grafica 20 da quelli individuati solo da una di quest’ultime.

Un sistema 7 per l’esecuzione del metodo 1 secondo il trovato è descritto di seguito.

Il sistema 7 per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti comprende: - almeno un telaio di base 8a, 8b;

- mezzi di acquisizione 10 montati sul telaio di base 8a, 8b e configurati per acquisire, lungo una linea di acquisizione A, almeno un’immagine di almeno una porzione di almeno una lastra 2 movimentata lungo una linea di lavoro D da mezzi di movimentazione 9;

- mezzi di identificazione di almeno un difetto 3 della lastra 2, operativamente collegati ai mezzi di acquisizione 10 e configurati per identificare almeno un difetto 3 della lastra 2 in funzione di almeno un’immagine acquisita dai mezzi di acquisizione 10.

Preferibilmente, i mezzi di movimentazione 9 sono atti a movimentare la lastra 2 sostanzialmente orizzontale e parallela al suolo, come mostrato in figura 1.

Preferibilmente, il telaio di base 8a, 8b comprende almeno una coppia di supporti di appoggio 8a su una superficie stabile disposti lateralmente ai mezzi di movimentazione 9, ed almeno supporto sospeso 8b associato ai supporti di appoggio 8a e disposto sospeso al di sopra dei mezzi di movimentazione 9, come mostrato in figura 1.

In particolare, nel prosieguo della seguente trattazione, i termini sopra, sotto e affianco, impiegati come indicazioni spaziali della disposizione reciproca di uno o più componenti del sistema 7, sono da ritenersi validi nella configurazione di normale utilizzo del sistema 7 mostrata in figura 1, in cui il telaio di base 8a, 8b è disposto in appoggio al suolo e dove i termini sopraccitati indicano la quota relativa ad uno o più componenti misurata rispetto al suolo.

Secondo la forma di realizzazione del sistema 7 mostrato nelle figure, il telaio di base 8a, 8b può essere montato in corrispondenza di una grande varietà di mezzi di movimentazione 9 del tipo noto ad un esperto del settore, ad esempio come nastri trasportatori a cinghie, a rulli, a nastro e simili.

Inoltre, non si escludono, alternative forme di realizzazione del sistema 7 in cui i mezzi di movimentazione 9 siano atti a movimentare la lastra 2 mantenendola sostanzialmente verticale.

Convenientemente, i mezzi di acquisizione 10 sono associati alla struttura a ponte 8b del telaio di base 8a, 8b e sono disposti sospesi al di sopra dei mezzi di movimentazione 9, in modo da essere rivolti, in uso, verso la lastra 2 movimentata dai mezzi di movimentazione 9.

Inoltre, preferibilmente, la linea di acquisizione A è disposta, in uso, sostanzialmente ortogonale alla lastra 2.

Con riferimento alla particolare forma di realizzazione del sistema 7 mostrato nelle figure, i mezzi di acquisizione 10 sono rivolti sostanzialmente affacciati al suolo.

Vantaggiosamente, i mezzi di acquisizione 10 comprendono almeno un dispositivo di acquisizione 12a, 12b configurato per acquisire l’immagine lungo la linea di acquisizione A.

Preferibilmente, i mezzi di acquisizione 10 comprendono una pluralità di dispositivi di acquisizione 12a, 12b disposti affiancati tra loro lungo una linea di schieramento disposta sostanzialmente ortogonale rispetto alla linea di lavoro D.

In particolare, i mezzi di acquisizione 10 acquisiscono un’immagine di una superficie di dimensione sostanzialmente maggiore o uguale alla larghezza dei mezzi di movimentazione 9, ossia all’estensione di quest’ultimi lungo una direzione sostanzialmente ortogonale rispetto alla linea di lavoro D. In questo modo, l’immagine acquisita dai mezzi di acquisizione 10 raffigura tutta la porzione della lastra 2 disposta in appoggio sui mezzi di movimentazione 9 lungo una linea di giacitura sostanzialmente parallela alla linea di schieramento.

Inoltre, i dispositivi di acquisizione 12a, 12b sono preferibilmente del tipo di scelto dall’elenco comprendente telecamere, smart cameras, sensori lineari CMOS e simili.

Vantaggiosamente, i mezzi di acquisizione 10 sono configurati per eseguire la fase di acquisizione descritta precedentemente con riferimento al metodo 1 secondo il trovato.

Vantaggiosamente, il sistema 7 comprende mezzi di emissione 13 configurati per emettere almeno una radiazione luminosa 4 lungo una linea di emissione B sostanzialmente trasversale alla linea di acquisizione A ed atta ad incidere con almeno un difetto 3 della lastra 2 in modo da individuarne la posizione.

In particolare, la radiazione luminosa 4 incidente con il difetto 3 è diffusa da quest’ultimo almeno in parte all’esterno della lastra 2.

Preferibilmente, i mezzi di emissione 13 sono montati su almeno uno dei supporti di appoggio 8a del telaio di base 8a, 8b sostanzialmente alla stessa quota dei mezzi di movimentazione 9.

In questo modo, i mezzi di emissione 13 sono disposti, in uso, lateralmente alla lastra 2 movimentata lungo la linea di lavoro D dai mezzi di movimentazione 9.

Non si escludono, tuttavia, alternative forme di realizzazione del sistema 7 in cui i mezzi di emissione sono montati sui mezzi di movimentazione 9. Convenientemente, i mezzi di emissione 13 comprendono almeno un dispositivo emettitore 14 del tipo scelto dall’elenco comprendente: laser, LED, illuminatori a fibra ottica, lampade fluorescenti, alogene, ad arco, ad incandescenza.

In particolare, i mezzi di emissione 13 comprendono vantaggiosamente una pluralità di dispositivi emettitori 14 montati sui mezzi di movimentazione 9 ed affiancati lateralmente a quest’ultimi, come mostrato in figura 1.

Inoltre, i dispositivi emettitori 14 sono affiancati tra loro lungo una linea di disposizione sostanzialmente parallela alla linea di lavoro D.

Non si escludono, tuttavia, ulteriori forme di realizzazione del sistema 7 in cui i mezzi di emissione 13 comprendano una pluralità di dispositivi emettitori 14 disposti sostanzialmente contrapposti tra loro in corrispondenza di lati opposti dei mezzi di movimentazione 9.

In questo modo, i mezzi di emissione 13 comprendono un primo gruppo di dispositivi emettitori 14 disposti lateralmente lungo un primo lato dei mezzi di movimentazione 9, ed un secondo gruppo di dispositivi emettitori 14 disposti lateralmente lungo un secondo lato dei mezzi di movimentazione 9 disposto sostanzialmente contrapposto e parallelo al primo lato.

Secondo la particolare forma di realizzazione del sistema 7 rappresentato nelle figure la lastra 2 comprende:

- almeno una coppia di facce 5 disposte parallele e contrapposte tra loro e definenti la larghezza e l’altezza della lastra 2; ed

- almeno una superficie perimetrale 6 interposta tra le facce 5 a definire lo spessore della lastra 2.

Con particolare riferimento alla forma di realizzazione del sistema 7 mostrato nelle figure, la superficie perimetrale 6 è provvista di quattro bordi piani disposti a due a due paralleli e contrapposti tra loro ed associati sostanzialmente ortogonali gli uni agli altri a realizzare una superficie perimetrale 6 di conformazione sostanzialmente rettangolare.

Invece, le facce 5 sono sostanzialmente piane, di conformazione sostanzialmente rettangolare ed associate sostanzialmente ortogonali ai bordi piani a formare la lastra 2.

Vantaggiosamente, i mezzi di emissione 13 sono disposti, in uso, affacciati alla superficie perimetrale 6 della lastra 2 ed i mezzi di acquisizione 10 sono disposti, in uso, affacciati ad una faccia 5 della lastra 2.

In particolare, la linea di acquisizione A è sostanzialmente ortogonale alla linea di emissione B.

Con particolare riferimento alla forma di realizzazione del sistema 7 mostrato nelle figure, la lastra 2 è disposta in appoggio sui mezzi di movimentazione 9 in modo da disporre una coppia di bordi piani ad estendersi sostanzialmente paralleli alla linea di lavoro D, e l’altra coppia di bordi piani ad estendersi sostanzialmente ortogonali alla linea di lavoro D, come mostrato in figura 1.

Non si esclude, tuttavia, che il sistema 7 possa essere impiegato per l’identificazione di difetti di lastre aventi conformazioni differenti.

Infatti, una qualsiasi lastra trasparente disposta in appoggio sui mezzi di movimentazione 9 può essere analizzata dal sistema 7 o tramite il metodo 1.

Convenientemente, il sistema 7 comprende mezzi di illuminazione 15 montati disposti frontalmente ai mezzi di acquisizione 10 ed atti ad illuminare la lastra 2 lungo una linea di illuminazione C.

Preferibilmente, il telaio di base 8a, 8b comprende una traversa di supporto associata ai supporti di appoggio 8a e disposta al di sotto dei mezzi di movimentazione 9.

Inoltre, i mezzi di illuminazione 15 sono associati alla traversa di supporto ed affacciati, in uso, alla lastra 2 movimentata lungo la linea di lavoro D dai mezzi di movimentazione 9.

Vantaggiosamente, i mezzi di illuminazione 15 definiscono una finestra di illuminazione 17 di una porzione della lastra 2 in transito lungo i mezzi di movimentazione 9.

Vantaggiosamente, i mezzi di illuminazione 15 comprendono almeno un dispositivo illuminatore 16 del tipo scelto dall’elenco comprendente: laser, LED, illuminatori a fibra ottica, lampade fluorescenti, alogene, ad arco, ad incandescenza.

Preferibilmente, i mezzi di illuminazione 15 comprendono una pluralità di dispositivi illuminatori 16 disposti affiancati tra loro lungo una linea di ordinamento disposta sostanzialmente ortogonale rispetto alla linea di lavoro D e sostanzialmente parallela alla linea di schieramento.

Vantaggiosamente, i mezzi di illuminazione 15 sono configurati per eseguire la fase di illuminazione descritta precedentemente con riferimento al metodo 1 secondo il trovato.

In particolare, i mezzi di illuminazione 15 si estendono lungo la linea di ordinamento per una distanza sostanzialmente maggiore o uguale alla larghezza dei mezzi di movimentazione 9.

In questo modo, i mezzi di illuminazione 15 illuminano la totalità della porzione della lastra 2 affacciata alla finestra di illuminazione 17.

In particolare, i mezzi di acquisizione 10, i mezzi di emissione 13 ed i mezzi di illuminazione 15 giacciono sostanzialmente su un piano di giacitura E sostanzialmente ortogonale alla linea di lavoro D.

Infatti, la radiazione luminosa 4 emessa dai mezzi di emissione 13 e l’illuminazione eseguita dai mezzi di illuminazione 15 interessano sostanzialmente il medesimo volume della lastra 2, ossia la porzione della lastra 2 disposta in corrispondenza della finestra di illuminazione 17.

Inoltre, i mezzi di acquisizione 10 sono configurati per acquisire un’immagine della porzione della faccia 5 corrispondente al volume interessato dalla radiazione luminosa 4 e dall’illuminazione.

In altre parole, secondo la particolare forma di realizzazione del sistema 7 mostrata nelle figure, l’immagine acquisita dai mezzi di acquisizione 10 rappresenta unicamente una porzione longitudinale della faccia 5 corrispondente al volume interessato dalla radiazione luminosa 4 e dall’illuminazione, ossia una porzione della faccia 5 che si sviluppa lungo una linea di sviluppo sostanzialmente ortogonale alla linea di lavoro D. Vantaggiosamente, i mezzi di identificazione comprendono mezzi di elaborazione di almeno una raffigurazione grafica 20, 21 della lastra 2 in funzione di almeno un’immagine acquisita dai mezzi di acquisizione 10. Preferibilmente i mezzi di identificazione, non mostrati nelle figure, sono del tipo scelto dall’elenco comprendente: PC, Smart cameras, FPGA (Field Programmable Gate Array).

In particolare, i mezzi di elaborazione comprendono almeno un’unità di memoria configurata per memorizzare le immagini acquisite dai mezzi di acquisizione 10.

Infatti, come descritto con riferimento al metodo 1 secondo il trovato, i mezzi di acquisizione 10 sono configurati per acquisire una pluralità di immagini della lastra 2, dove ciascuna delle immagini acquisite rappresenta una differente porzione della faccia 5 affacciata ai mezzi di acquisizione 10.

In particolare, tali porzioni della faccia 5 sono disposte in corrispondenza della linea di acquisizione A dai mezzi di movimentazione 9.

Infatti, i mezzi di movimentazione 9 sono atti ad eseguire la fase di movimentazione descritta precedentemente con riferimento al metodo 1 secondo al trovato.

Inoltre, a seguito dell’acquisizione delle immagini di ogni porzione della faccia 5 della lastra 2 i mezzi di elaborazione sono configurati per eseguire il passo di elaborazione ed il passo di sviluppo.

In altre parole, i mezzi di elaborazione sono configurati per elaborare la raffigurazione grafica 20, 21, ossia la rappresentazione grafica 20 e la riproduzione grafica 21.

In questo modo, i mezzi di identificazione sono configurati per individuare almeno una tra la posizione e la dimensione del difetto 3 in funzione della raffigurazione grafica 20, 21.

Infatti, i mezzi di identificazione sono configurati per eseguire il passo di individuazione e determinazione descritti precedentemente con riferimento al metodo 1 secondo il trovato.

Vantaggiosamente, i mezzi di emissione 13 sono configurati per emettere la radiazione luminosa 4 avente almeno una prima lunghezza d’onda predefinita.

Inoltre, i mezzi di illuminazione 15 sono configurati per emettere almeno un flusso luminoso avente almeno una seconda lunghezza d’onda predefinita differente dalla prima lunghezza d’onda predefinita.

Vantaggiosamente, i mezzi di acquisizione 10 comprendono almeno un primo dispositivo di acquisizione 12a configurato per percepire la prima lunghezza d’onda predefinita ed almeno un secondo dispositivo di acquisizione 12b configurato per percepire la seconda lunghezza d’onda.

In questo modo, i mezzi di emissione 13 ed i mezzi di illuminazione 15 possono emettere contemporaneamente la radiazione luminosa 4 ed il flusso luminoso. Di conseguenza, il primo dispositivo di acquisizione 12a ed al secondo dispositivo 12b possono acquisire rispettivamente e nello stesso istante una prima immagine, in cui è mostrato l’effetto sulla lastra 2 di una sola tra la radiazione luminosa 4 ed il flusso luminoso è filtrato, ed una seconda immagine, in cui è mostrato l’effetto sulla lastra 2 solo dell’altra tra la radiazione luminosa 4 ed il flusso luminoso.

In particolare, il primo dispositivo 12a è provvisto di un primo filtro configurato per escludere dalla prima immagine una tra la radiazione luminosa 4 ed il flusso luminoso, ed il secondo dispositivo 12b è provvisto di un secondo filtro configurato per escludere dalla seconda immagine l’altra tra la radiazione luminosa 4 ed il flusso luminoso.

In questo modo, il sistema 7 è configurato per eseguire contemporaneamente la fase di emissione, la fase di illuminazione e la fase di acquisizione descritte in precedenza con riferimento al metodo 1 secondo il trovato.

Si è in pratica constatato come l’invenzione descritta raggiunga gli scopi proposti.

In particolare, la fase di emissione ed i mezzi di emissione permettono rispettivamente al metodo ed al sistema per l’identificazione dei difetti di ridurre sensibilmente il rischio di individuazione di falsi positivi senza la necessità di lavare le lastre precedentemente all’analisi delle stesse, permettono, inoltre, di ridurre particolarmente i tempi di esecuzione del metodo rispetto a quelli di tipo noto.

Claims

RIVENDICAZIONI 1) Metodo (1) per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti comprendente almeno le fasi di: - fornitura di almeno una lastra (2) trasparente da ispezionare; - acquisizione di almeno un’immagine di almeno una porzione di detta lastra (2) lungo una linea di acquisizione (A); - identificazione di almeno un difetto (3) di detta lastra (2) in funzione di detta almeno un’immagine acquisita; caratterizzato dal fatto che comprende almeno una fase di emissione di almeno una radiazione luminosa (4) trasmessa all’interno di detta lastra (2) lungo una linea di emissione (B) sostanzialmente trasversale a detta linea di acquisizione (A) ed atta ad incidere con almeno un difetto (3) di detta lastra (2) in modo da individuarne la posizione, detta radiazione luminosa (4) incidente con detto difetto (3) essendo diffusa da quest’ultimo almeno in parte all’esterno di detta lastra (2).
2) Metodo (1) secondo la rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che: - detta lastra comprende almeno una coppia di facce (5) disposte parallele e contrapposte tra loro e definenti la larghezza e l’altezza di detta lastra (2), ed almeno una superficie perimetrale (6) interposta tra dette facce (5) a definire lo spessore di detta lastra (2); - detta linea di acquisizione (A) è incidente ad una di dette facce (5); - detta linea di emissione (B) è incidente a detta superficie perimetrale (6) e sostanzialmente ortogonale a detta linea di acquisizione (A).
3) Metodo (1) secondo una o più delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che detta fase di acquisizione è eseguita contemporaneamente a detta fase di emissione.
4) Metodo (1) secondo una o più delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che comprende almeno una fase di illuminazione di almeno una porzione di una faccia (5) di detta lastra (2) lungo una linea di illuminazione (C).
5) Metodo (1) secondo una o più delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che detta linea di illuminazione (C) è sostanzialmente parallela a detta linea di acquisizione (A).
6) Metodo (1) secondo una o più delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che detta fase di acquisizione è eseguita contemporaneamente a detta fase illuminazione.
7) Metodo (1) secondo una o più delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che comprende almeno una fase di movimentazione di detta lastra (2) di una distanza di avanzamento predefinita lungo una linea di lavoro (D).
8) Metodo (1) secondo una o più delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che comprende il ripetere detta fase di movimentazione e dal fatto che successivamente ad ogni fase di movimentazione è eseguita in modo alternato una tra detta fase di emissione e detta fase di illuminazione.
9) Metodo (1) secondo una o più delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che detta fase di identificazione comprende almeno i passi di: - elaborazione di almeno una rappresentazione grafica (20) di detta lastra (2) in funzione di dette immagini acquisite durante detta fase di emissione; - individuazione dalla posizione di almeno un difetto (3) su detta lastra (2) in funzione di detta rappresentazione grafica (20) elaborata.
10) Metodo (1) secondo una o più delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che detta fase di identificazione comprende almeno i passi di: - sviluppo di almeno una riproduzione grafica (21) di detta lastra (2) in funzione di dette immagini acquisite durante detta fase di illuminazione; - determinazione della dimensione di almeno un difetto (3) su detta lastra (2) in funzione di detta riproduzione grafica (21) sviluppata.
11) Sistema (7) per l’identificazione di difetti di lastre trasparenti, comprendente: - almeno un telaio di base (8a, 8b); - mezzi di acquisizione (10) montati su detto telaio di base (8a, 8b) e configurati per acquisire lungo una linea di acquisizione (A) almeno un’immagine di almeno una porzione di almeno una lastra (2) movimentata lungo una linea di lavoro (D) da mezzi di movimentazione (9); - mezzi di identificazione di almeno un difetto (3) di detta lastra (2), operativamente collegati a detti mezzi di acquisizione (10) e configurati per identificare almeno un difetto (3) di detta lastra (2) in funzione di almeno un’immagine acquisita da detti mezzi di acquisizione (10); caratterizzato dal fatto che comprende mezzi di emissione (13) di almeno una radiazione luminosa (4) lungo una linea di emissione (B) sostanzialmente trasversale a detta linea di acquisizione (A) ed atta ad incidere con almeno un difetto (3) di detta lastra (2) in modo da individuarne la posizione, detta radiazione luminosa (4) incidente con detto difetto (3) essendo diffusa da quest’ultimo almeno in parte all’esterno di detta lastra (2).
12) Sistema (7) secondo la rivendicazione 11, caratterizzato dal fatto che: - detta lastra (2) comprende: - almeno una coppia di facce (5) disposte parallele e contrapposte tra loro e definenti la larghezza e l’altezza di detta lastra (2); ed - almeno una superficie perimetrale (6) interposta tra dette facce (5) a definire lo spessore di detta lastra (2); - detti mezzi di emissione (13) sono disposti, in uso, affacciati a detta superficie perimetrale (6); - detti mezzi di acquisizione sono disposti, in uso, affacciati a detta faccia (5); - detta linea di acquisizione (A) è sostanzialmente ortogonale a detta linea di emissione (B).
13) Sistema (7) secondo le rivendicazioni da 11 a 12, caratterizzato dal fatto che detti mezzi di emissione (13) comprendono almeno un dispositivo emettitore (14) del tipo scelto dall’elenco comprendente: laser, LED, illuminatori a fibra ottica, lampade fluorescenti, alogene, ad arco, ad incandescenza.
14) Sistema (7) secondo una o più delle rivendicazioni da 11 a 13, caratterizzato dal fatto che comprende mezzi di illuminazione (15) disposti frontalmente a detti mezzi di acquisizione (10) ed atti ad illuminare detta lastra (2).
15) Sistema (7) secondo una o più delle rivendicazioni da 11 a 14, caratterizzato dal fatto che detti mezzi di identificazione comprendono mezzi di elaborazione di almeno una raffigurazione grafica (20, 21) di detta lastra (2) in funzione di almeno un’immagine acquisita da detti mezzi di acquisizione (10).
16) Sistema (7) secondo una o più delle rivendicazioni da 11 a 15, caratterizzato dal fatto che detti mezzi di identificazione sono configurati per individuare almeno una tra la posizione e la dimensione di detto difetto (3) in funzione di detta raffigurazione grafica (20, 21).
17) Sistema (7) secondo una o più delle rivendicazioni da 11 a 16, caratterizzato dal fatto che: - detti mezzi di emissione (13) sono configurati per emettere detta radiazione luminosa (4) avente almeno una prima lunghezza d’onda predefinita; - detti mezzi di illuminazione (15) sono configurati per emettere almeno un flusso luminoso avente almeno una seconda lunghezza d’onda predefinita differente da detta prima lunghezza d’onda predefinita; e - detti mezzi di acquisizione (10) comprendono almeno un primo dispositivo di acquisizione (12a) configurato per percepire detta prima lunghezza d’onda predefinita ed almeno un secondo dispositivo di acquisizione (12b) configurato per percepire detta seconda lunghezza d’onda.