FR3115351B1 - Procédé de détection d'une défaillance dans une source lumineuse à semi-conducteurs d'un dispositif d'éclairage automobile et agencement automobile - Google Patents

Procédé de détection d'une défaillance dans une source lumineuse à semi-conducteurs d'un dispositif d'éclairage automobile et agencement automobile Download PDF

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Abstract

Cette invention fournit un procédé de détection de défaut d’une source lumineuse à semi-conducteurs d'un dispositif d'éclairage automobile. Ce procédé comprend les étapes consistant à fournir un profil de température estimé pour le dispositif d'éclairage, à mesurer un profil de température réel du dispositif d'éclairage et à comparer le profil de température estimé avec le profil de température réel afin de détecter une différence entre eux.Figure pour l'abrégé : figure 1
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