FR3070609B1 - Module de stockage d'une eprouvette micrographique - Google Patents

Abstract

L'invention concerne un module (10) de stockage d'une éprouvette (20) micrographique destinée à loger un échantillon (24) de matériau et comprenant une paroi inférieure (21) plane d'observation, ledit module (10) étant caractérisé en ce qu'il comprend : une base, dite base (12) annulaire, formant un support de ladite éprouvette (20) qui laisse libre de tout contact mécanique au moins une portion de ladite paroi inférieure (21) d'observation de ladite éprouvette (20) ; une pluralité de baguettes (11a, 11b, 11c, 11d) latérales s'étendant perpendiculairement à ladite base (12) annulaire et délimitant avec cette dernière, une enceinte (13) de réception et de maintien de ladite éprouvette (20) ; une pluralité d'encoches (14a, 14b, 14c, 14d) s'étendant latéralement de ladite base (12) annulaire et conformées chacune à la section droite desdites baguettes (11a, 11b, 11c, 11d) latérales de sorte que lorsque ledit module (10) est empilé sur un autre module identique, lesdites encoches (14a, 14b, 14c, 14d) de liaison du module supérieur viennent enchâsser les baguettes (11a, 11b, 11c, 11d) latérales du module inférieur.

Description

MODULE DE STOCKAGE D’UNE ÉPROUVETTE MICRO GRAPHIQUE 1. Domaine technique de l’invention L’invention concerne le rangement, le stockage et la conservation des éprouvettes micrographiques destinées aux examens micrographiques de matériau. 2. Arrière-plan technologique

Une éprouvette micrographique est un récipient, au moins en partie transparent, qui permet de loger un échantillon d’un matériau prélevé en vue de lui faire subir un examen au moyen d’un instrument, tel qu’un microscope.

Par exemple, dans le domaine ferroviaire, il est fréquent de réaliser des examens d’échantillons de matière prélevés sur certaines pièces métalliques critiques pour vérifier notamment la qualité de fabrication de la pièce, pour déterminer l’évolution des caractéristiques de la pièce au cours de son cycle d’exploitation, pour rechercher la présence d’éventuels défauts structurels au sein de la pièce ou pour identifier l’origine d’un défaut détecté.

Le prélèvement d’un échantillon de matériau est une opération fastidieuse et complexe. En effet, ce prélèvement implique plusieurs étapes parmi lesquelles une étape de prélèvement en tant que tel, une étape d’enrobage du matériau par une résine adaptée, une étape de polissage de l’échantillon, et une étape d’attaque métallographique par application d’un réactif chimique pour révéler la structure métallurgique de l’alliage à analyser.

En outre, une fois l’examen pratiqué sur l’échantillon, il est nécessaire de conserver l’échantillon dans un bon état pour pouvoir éventuellement le réexaminer ultérieurement. A l’heure actuelle, une fois l’échantillon analysé, il est stocké dans son éprouvette micrographique sans contraintes particulières. Il est fréquent que les éprouvettes soient stockées les unes sur les autres sur des étagères des laboratoires. Aussi, lorsqu’un tel échantillon doit être analysé à nouveau, il est en général nécessaire de reprendre la préparation de l’échantillon pour pouvoir effectuer un nouvel examen de l’échantillon. En particulier, le stockage actuel des éprouvettes micrographiques dégrade les échantillons et/ou les éprouvettes qui logent les échantillons et ne permet plus une observation de qualité lors d’un nouvel examen.

Les inventeurs ont donc cherché à proposer un dispositif qui permet d’améliorer la conservation des éprouvettes micrographiques. 3. Objectifs de l’invention L’invention vise à fournir un module de stockage d’une éprouvette micrographique qui pallie au moins certains des inconvénients des solutions connues. L’invention vise en particulier à fournir, dans au moins un mode de réalisation, un module de stockage d’une éprouvette micrographique qui permet de conserver l’intégrité de l’échantillon pour d’éventuels examens ultérieurs. L’invention vise également à fournir, dans au moins un mode de réalisation, un module de stockage d’une éprouvette micrographique qui, lorsqu’il est combiné avec d’autres modules de stockage, permet de limiter l’espace de stockage des éprouvettes tout en maintenant l’intégrité des échantillons. L’invention vise également à fournir, dans au moins un mode de réalisation, un module de stockage d’une éprouvette micrographique qui permet d’identifier l’échantillon logé dans l’éprouvette micrographique. L’invention vise également à fournir, dans au moins un mode de réalisation, un module de stockage d’une éprouvette micrographique qui permet d’identifier rapidement l’échantillon logé dans l’éprouvette micrographique. 4. Exposé de l’invention

Pour ce faire, l’invention concerne un module de stockage d’une éprouvette micrographique destinée à loger un échantillon de matériau et comprenant une paroi inférieure plane d’observation.

Un module selon l’invention est caractérisé en ce qu’il comprend : - une base, dite base annulaire, formant un support de ladite éprouvette qui laisse libre de tout contact mécanique au moins une portion de ladite paroi inférieure d’observation de ladite éprouvette, - une pluralité de baguettes latérales s’étendant perpendiculairement à ladite base annulaire et délimitant avec cette dernière, une enceinte de réception et de maintien de ladite éprouvette, - une pluralité d’encoches s’étendant latéralement de ladite base annulaire et conformées chacune à au moins une portion de la section droite desdites baguettes latérales de sorte que lorsque ledit module est empilé sur un autre module identique, lesdites encoches du module supérieur viennent enchâsser les baguettes latérales du module inférieur.

Un module selon l’invention est donc empilable et permet aussi de recevoir une éprouvette micrographique et la maintenir en position sans néanmoins risquer d’abimer la surface d’observation de l’éprouvette étant donné que la base annulaire de réception laisser libre de tout contact mécanique au moins une portion de cette surface d’observation. La surface d’observation d’une éprouvette selon l’invention n’étant pas altérée par la conservation de l’éprouvette, il est possible de réutiliser l’éprouvette micrographique selon l’invention et l’échantillon qu’elle contient pour procéder à un nouvel examen de l’échantillon sans nécessiter une nouvelle préparation de l’échantillon. Lorsqu’un module selon l’invention est empilé sur un autre module identique, l’espace libre entre deux éprouvettes stockées dans les modules est déterminé par l’épaisseur de la base annulaire.

Une base annulaire est une base qui est ajourée en son centre et qui porte l’éprouvette uniquement au niveau de sa portion périphérique. Une telle base ne présente pas nécessairement une forme d’anneau en tant que tel. Par exemple une telle base annulaire peut être carrée, rectangulaire et d’une manière générale peut présenter toute forme compatible avec la forme de l’éprouvette qu’il est destiné à recevoir à partir du moment où l’espace centrale de la base est dépourvu de matière pour ne pas créer de zone de contact mécanique entre la base et la face inférieure de l’éprouvette.

Un module selon l’invention est empilable et permet donc de conserver ensemble une pluralité d’échantillons dans une pluralité de modules sans néanmoins altérer la qualité des échantillons. Cette fonctionnalité est permise par la présence d’encoches de liaison sur la base annulaire qui coopèrent avec les baguettes latérales d’un module inférieur. Il est donc simple d’empiler plusieurs modules selon l’invention les uns sur les autres pour conserver une pluralité d’éprouvettes micrographiques. En outre, cet empilement est facilité par la possibilité de faire coulisser le module supérieur sur le module inférieur étant donné que les encoches sont conformées à au moins une portion de la section droite des baguettes. Une fois le module inférieur posé et logeant une première éprouvette, il est possible de faire coulisser un module supérieur sur le module inférieur en insérant les baguettes du module inférieur dans les encoches du module supérieur jusqu’à ce que le module supérieur vienne en butée contre la paroi supérieure de l’éprouvette logée dans le module inférieur. Il est alors possible d’agencer l’éprouvette du module supérieur. Une fois cette éprouvette logée dans le module supérieur, la face inférieure de l’éprouvette du module supérieur n’est pas en contact avec la face supérieure de l’éprouvette du module inférieur étant donné que la base annulaire du module supérieur forme un espace libre de tout contact mécanique entre les deux éprouvettes.

Une fois les modules empilés l’un sur l’autre, les encoches du module supérieur qui enchâssent les baguettes latérales sont en butées contre les baguettes latérales, ce qui empêche tout déplacement latéral d’un module par rapport à l’autre.

En outre, l’opération de logement de l’éprouvette dans le module est facilitée par la présence de baguettes latérales qui délimite une enceinte de réception de l’éprouvette micrographique tout en laissant libre un accès aux parois latérales de l’éprouvette (c’est à dire l’espace entre les baguettes latérales), ce qui facilite les manipulations de l’éprouvette par un opérateur pour positionner l’éprouvette dans le module.

Avantageusement et selon l’invention, lesdites encoches et lesdites baguettes sont agencées les unes par rapport aux autres en formant deux plans de symétrie perpendiculaires l’un par rapport à l’autre.

Un module selon cette variante avantageuse facilite les opérations de fabrication et d’utilisation du module.

Avantageusement, un module selon l’invention comprend quatre baguettes et quatre encoches et la distance entre deux encoches agencées d’un côté du premier plan de symétrie est différente de la distance entre deux encoches agencées d’un côté du deuxième plan de symétrie, mais égale à la distance entre deux baguettes agencées d’un côté du second plan de symétrie, de sorte que ledit module peut être empilé sur un autre module identique uniquement après une rotation d’un quart de tour du module supérieur par rapport audit module inférieur.

Cette variante avantageuse forme, deux à deux, des paires de baguettes et des paires d’encoches agencées de sorte qu’une paire d’encoches est destinée à coopérer avec une paire de baguettes décalées d’un quart de tour par rapport à la paire d’encoches.

Avantageusement et selon l’invention, chaque baguette présente une section droite ovale dont l’axe principal s’étend selon une direction sensiblement parallèle à la tangente à la courbure de la base annulaire au niveau où est agencée ladite baguette.

Cette variante permet de maximiser la surface de contact entre une baguette et la paroi latérale de l’éprouvette micrographique, ce qui contribue au maintien de l’éprouvette dans le module. Bien entendu, d’autres formes des baguettes latérales peuvent être utilisées sans modifier l’effet procuré par l’invention.

Avantageusement, un module selon l’invention comprend en outre une languette d’identification du module qui s’étend latéralement de ladite base annulaire de manière à pouvoir identifier l’échantillon de matériau logé dans ladite éprouvette micrographique, y compris lorsque ledit module est empilé parmi plusieurs modules identiques.

Cette variante avantageuse permet d’identifier l’échantillon logé dans l’éprouvette et sa lecture est facilitée par son extension latérale par rapport à la base annulaire.

Avantageusement et selon cette variante, ladite languette d’identification s’étend entre deux encoches.

Dans le cas où les encoches et les baguettes sont agencées les unes par rapport aux autres de sorte que l’empilement d’une module sur l’autre nécessite une rotation d’un quart de tour de l’un par rapport à l’autre, les languettes sont alors décalées d’un quart de tour d’un étage à l’autre, ce qui facilite la lecture des languettes d’identification, en particulier lorsque les éprouvettes présentent une hauteur faible.

Avantageusement, un module selon l’invention est formé en un matériau plastique.

La fabrication d’un module en matériau plastique permet de réduire les coûts et les temps de fabrication. La fabrication d’un tel module peut par exemple être obtenue par la mise en œuvre d’une imprimante 3D.

Avantageusement, un module selon l’invention est formé en un matériau dont la couleur est représentative du type d’échantillon de matériau logé dans ladite éprouvette selon un abaque prédéterminé.

Cette variante avantageuse permet d’identifier rapidement, par un simple accès à un code couleur du module au type d’échantillon qu’il contient. L'invention concerne également un module caractérisé en combinaison par tout ou partie des caractéristiques mentionnées ci-dessus ou ci-après. 5. Liste des figures D'autres buts, caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à la lecture de la description suivante donnée à titre uniquement non limitatif et qui se réfère aux figures annexées dans lesquelles : - la figure 1 est une vue schématique en perspective d’un module selon un mode de réalisation de l’invention, - la figure 2 est une vue schématique de dessus du module selon le mode de réalisation de la figure 1, - la figure 3 est une vue schématique en perspective de deux modules empilés l’un sur l’autre et logeant chacun une éprouvette micrographique, - la figure 4 est une vue schématique en perspective d’une éprouvette micrographique destinée à être logée dans un module selon un mode de réalisation de l’invention et dans laquelle un échantillon de matériau est logé. 6. Description détaillée d’un mode de réalisation de l’invention

Sur les figures, les échelles et les proportions ne sont pas strictement respectées et ce, à des fins d’illustration et de clarté. Dans toute la description détaillée qui suit en référence aux figures, sauf indication contraire, chaque élément du module de stockage d’une éprouvette micrographique est décrit tel qu’il est agencé lorsque le module est posé à l’horizontal pour recevoir une éprouvette micrographique. Cet agencement est représenté sur la figure 1. Le terme vertical est utilisé en référence à la direction verticale qui est la direction définie par la gravité. Les termes supérieur et inférieur sont utilisés par rapport à cette direction verticale.

Une éprouvette 20 destinée à être logée dans un module 10 selon l’invention comprend en général une paroi inférieure 21 d’observation transparente destinée à permettre l’observation d’un échantillon 24 de matière logé dans l’éprouvette au moyen d’un instrument tel qu’un microscope. L’éprouvette 20 comprend également une paroi supérieure 22 opaque agencée en regard de la paroi inférieure 21 d’observation et une paroi latérale 25 périphérique qui s’étend entre la paroi inférieure 21 d’observation et la paroi supérieure 22.

Tel que représenté sur la figure 1, un module 10 empilable de stockage d’une éprouvette 20 micrographique destinée à loger un échantillon 24 de matériau comprend une base 12 annulaire formant un support de l’éprouvette 20 qui laisse libre de tout contact mécanique la paroi inférieure 21 d’observation de l’éprouvette 20.

Le module 10 comprend également quatre baguettes lia, 11b, 11c, lld s’étendant perpendiculairement à la base 12 annulaire et délimitant avec elle une enceinte 13 de réception et de maintien de l’éprouvette 20.

Enfin, le module 10 comprend quatre encoches 14a, 14b, 14c, 14d s’étendant latéralement de la base 12 annulaire et conformées chacune à la section droite des baguettes lia, 11b, 11c, lld.

Les encoches 14a, 14b, 14c, 14d sont donc conformées et conjuguées aux baguettes lia, 11b, 11c, lld pour que le module 10 puisse être empilé sur un autre module identique et que lors de cet empilement, les encoches 14a, 14b, 14c, 14d du module supérieur viennent enchâssées les baguettes lia, 11b, 11c, lld latérales du module inférieur. Une fois le module supérieur empilé sur le module inférieur, les encoches 14a, 14b, 14c, 14d viennent en butée mécanique contre les baguettes, limitant ainsi les déplacements latéraux du module supérieur par rapport au module inférieur.

Selon le mode de réalisation des figures, les encoches sont toutes identiques et les baguettes sont toutes identiques, ce qui facilite les opérations d’empilement des modules. Cela étant, selon d’autres modes de réalisation non représentés sur les figures, chaque encoche est conformée avec une seule et unique baguette de sorte que l’empilement d’un module supérieur sur un module inférieur ne peut se faire que par l’association d’une encoche avec sa baguette conjuguée.

Selon le mode de réalisation des figures, les encoches 14a, 14b, 14c, 14d et les baguettes lia, 11b, 11c, lld sont agencées les unes par rapport aux autres en formant deux plans PI, P2 de symétrie perpendiculaires l’un par rapport à l’autre. Ces plans PI, P2 de symétrie apparaissent sur la figure 2 qui est une vue de dessus du module 10 selon le mode de réalisation des figures.

En outre, la distance entre deux encoches agencées d’un côté du premier plan PI de symétrie est différente de la distance entre deux encoches agencées d’un côté du second plan P2 de symétrie, mais égale à la distance entre deux baguettes agencées d’un côté du second plan P2 de symétrie.

Par exemple, la distance entre les encoches 14a et 14b est différente de la distance entre les encoches 14a et 14d, mais égale à la distance entre les baguettes lia et lld et à la distance entre les baguettes 11b et 11c. La distance entre les encoches 14a et 14d est égale à la distance entre les baguettes lia et 11b et entre les baguettes 11c et lld.

Cette configuration permet de faire en sorte qu’un module ne peut être empilé sur un autre module identique uniquement après une rotation d’un quart de tour du module supérieur par rapport audit module inférieur. Cette configuration est représentée sur la figure 3.

Selon un autre mode de réalisation non représenté sur les figures, les encoches et les baguettes sont toutes équidistantes les unes des autres de manière à pouvoir empiler un module sur un autre quelque que soit l’orientation du premier module par rapport au second.

Le module selon le mode de réalisation des figures comprend en outre une languette 16 d’identification du module qui s’étend latéralement depuis la base annulaire 12 de manière à pouvoir identifier l’échantillon 24 de matériau logé dans l’éprouvette 20 micrographique qu’il loge, y compris lorsque le module 10 est empilé parmi plusieurs modules identiques.

Un module selon l’invention est destiné à stocker et à conserver des éprouvettes micrographiques. Cela étant, il pourrait aussi être utilisé pour conserver d’autres pièces fragiles, tel que des roulements et autres mécanismes.

Claims (8)

1. REVENDICATIONS

   1. Module (10) de stockage d’une éprouvette (20) micrographique destinée à loger un échantillon (24) de matériau et comprenant une paroi inférieure (21) plane d’observation, ledit module (10) étant caractérisé en ce qu’il comprend : une base, dite base (12) annulaire, formant un support de ladite éprouvette (20) qui laisse libre de tout contact mécanique au moins une portion de ladite paroi inférieure (21) d’observation de ladite éprouvette (20), une pluralité de baguettes (lia, 11b, 11c, tld) latérales s’étendant perpendiculairement à ladite base (12) annulaire et délimitant avec cette dernière, une enceinte (13) de réception et de maintien de ladite éprouvette (20), une pluralité d’encoches (14a, 14b, 14c, 14d) s’étendant latéralement de ladite base (12) annulaire et conformées chacune à au moins une portion de la section droite desdites baguettes latérales de sorte que lorsque ledit module (10) est empilé sur un autre module identique, lesdites encoches (14a, 14b, 14c, 14d) du module supérieur viennent enchâsser les baguettes latérales du module inférieur.
2. 2. Module (10) selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdites encoches (14a, 14b, 14c, 14d) et lesdites baguettes (lia, 11b, 11c, lld) sont agencées les unes par rapport aux autres en formant deux plans (PI, P2) de symétrie perpendiculaires l’un par rapport à l’autre.
3. 3. Module (10) selon la revendication 2, caractérisé en ce qu’il comprend quatre baguettes (lia, 11b, 11c, lld) et quatre encoches (14a, 14b, 14c, 14d) et en ce que la distance entre deux encoches agencées d’un côté du premier plan de symétrie est différent de la distance entre deux encoches agencées d’un côté du second plan de symétrie, mais égale à la distance entre deux baguettes agencées d’un côté du second plan de symétrie, de sorte que ledit module peut être empilé sur un autre module identique uniquement après une rotation d’un quart de tour du module supérieur par rapport audit module inférieur.
4. 4. Module (10) selon Tune des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que chaque baguette (lia, 11b, 11c, 11) présente une section droite ovale dont Taxe principal s’étend selon une direction sensiblement parallèle à la tangente à la courbure de la base (12) annulaire au niveau où est agencé ladite baguette.
5. 5. Module (10) selon Tune des revendications 1 à 4, caractérisé en ce qu’il comprend en outre une languette (16) d’identification du module qui s’étend latéralement de ladite base (12) annulaire de manière à pouvoir identifier l’échantillon (24) de matériau logé dans ladite éprouvette (20) micrographique, y compris lorsque ledit module est empilé parmi plusieurs modules identiques.
6. 6. Module (10) selon la revendication 5, caractérisé en ce que ladite languette (16) d’identification s’étend entre deux encoches (14a, 14d).
7. 7. Module (10) selon Tune des revendications 1 à 6, caractérisé en ce qu’il est formé en un matériau plastique.
8. 8. Module (10) selon Tune des revendications 1 à 7, caractérisé en ce qu’il est formé en un matériau dont la couleur est représentative du type d’échantillon (24) de matériau logé dans ladite éprouvette (20) selon un abaque prédéterminé.