WO2019043323A1 - Module de stockage d'une éprouvette micrographique - Google Patents

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WO2019043323A1
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module
notches
rods
sample
micrographic
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PCT/FR2018/052098
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Inventor
Christophe POUET
Yann CHEYNET
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Sncf Mobilités
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    • B01L9/52—Supports specially adapted for flat sample carriers, e.g. for plates, slides, chips
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B01L3/50—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes
    • B01L3/508—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes rigid containers not provided for above
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    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/34—Microscope slides, e.g. mounting specimens on microscope slides

Definitions

  • the invention relates to the storage, storage and preservation of micrographic test pieces for micrographic examinations of material.
  • a micrographic test specimen is a container, at least in part transparent, for accommodating a sample of a sample material for examination by an instrument, such as a microscope.
  • sampling involves several steps among which a sampling step as such, a step of coating the material with a suitable resin, a polishing step of the sample, and a metallographic etching step by application of a chemical reagent to reveal the metallurgical structure of the alloy to be analyzed.
  • the sample is stored in its micrographic test tube without particular constraints. It is common that the specimens are stored on top of each other on laboratory shelves. Also, when such a sample needs to be analyzed again, it is in it is necessary to resume sample preparation in order to perform a new examination of the sample. In particular, the current storage of micrographic specimens degrades the samples and / or specimens that house the samples and no longer allows quality observation during a new examination.
  • the inventors have therefore sought to provide a device which makes it possible to improve the preservation of the micrographic specimens.
  • the aim of the invention is to provide a storage module for a micrographic test specimen which overcomes at least some of the disadvantages of the known solutions.
  • the invention aims in particular to provide, in at least one embodiment, a storage module of a micrographic test specimen which makes it possible to preserve the integrity of the sample for possible subsequent examinations.
  • the invention also aims to provide, in at least one embodiment, a storage module of a micrographic specimen which, when combined with other storage modules, limits the storage space of the specimens. while maintaining the integrity of the samples.
  • the invention also aims to provide, in at least one embodiment, a storage module of a micrographic test specimen which makes it possible to identify the sample housed in the micrographic test specimen.
  • the invention also aims to provide, in at least one embodiment, a storage module of a micrographic test specimen which makes it possible to quickly identify the sample housed in the micrographic test specimen. 4. Presentation of the invention
  • the invention relates to a storage module of a micrographic test specimen for housing a sample of material and comprising a flat observation bottom wall.
  • annular base forming a support for said specimen which leaves free from any mechanical contact at least a portion of said bottom wall of observation of said specimen
  • a module according to the invention is therefore stackable and also allows to receive a micrographic test piece and keep it in position without, however, risking damage to the viewing surface of the test specimen, since the annular receiving base leaves it free from any mechanical contact. at least a portion of this observation surface. Since the observation surface of a test piece according to the invention is not affected by the preservation of the test piece, it is possible to reuse the micrographic test specimen according to the invention and the sample it contains to proceed to a new test piece. examination of the sample without the need for further sample preparation. When a module according to the invention is stacked on another identical module, the free space between two specimens stored in the modules is determined by the thickness of the annular base.
  • An annular base is a base which is perforated at its center and carries ⁇ specimen only at its peripheral portion.
  • a base does not necessarily have a ring shape as such.
  • such an annular base may be square, rectangular and generally may have any shape compatible with the shape of the specimen it is intended to receive from the moment when the central space of the base is devoid of of material not to create a mechanical contact area between the base and the underside of the test piece.
  • a module according to the invention is stackable and thus allows a plurality of samples to be stored together in a plurality of modules without, however, altering the quality of the samples. This functionality is enabled by the presence of connecting notches on the annular base which cooperate with the side rods of a lower module.
  • the operation of housing the test piece in the module is facilitated by the presence of lateral rods which delimits a receiving chamber of the micrographic specimen while leaving free access to the side walls of the test piece (c '). ie the space between the side rods), which facilitates the manipulation of the test piece by an operator to position the test specimen in the module.
  • said notches and said rods are arranged relative to each other forming two planes of symmetry perpendicular to each other.
  • a module according to this advantageous variant facilitates the manufacturing operations and use of the module.
  • a module according to the invention comprises four rods and four notches and the distance between two notches arranged on one side of the first plane of symmetry is different from the distance between two notches arranged on one side of the second plane of symmetry, but equal to the distance between two rods arranged on one side of the second plane of symmetry, so that said module can be stacked on another identical module only after rotation of a quarter turn of the upper module relative to said lower module.
  • This advantageous variant forms, two by two, pairs of rods and pairs of notches arranged so that a pair of notches is intended to cooperate with a pair of rods shifted a quarter turn relative to the pair notches.
  • each rod has an oval cross section whose main axis extends in a direction substantially parallel to the tangent to the curvature of the annular base at which said rod is arranged.
  • This variant makes it possible to maximize the area of contact between a rod and the side wall of the micrographic head, which contributes to maintaining the test piece in the module.
  • other forms of the side rods can be used without modifying the effect provided by the invention.
  • a module according to the invention further comprises an identification tab of the module which extends laterally of said annular base so as to be able to identify the sample of material housed in said micrographic head test, including when said module is stacked among several identical modules.
  • This advantageous variant makes it possible to identify the sample housed in the test tube and its reading is facilitated by its lateral extension with respect to the annular base.
  • said identification tab extends between two notches.
  • the tongues are then shifted by a quarter turn from one stage to another, which facilitates the reading of the identification tabs, especially when the test pieces have a low height.
  • a module according to the invention is formed of a plastic material.
  • the manufacture of a module in plastic material reduces costs and manufacturing time.
  • the manufacture of such a module can for example be obtained by the implementation of a 3D printer.
  • a module according to the invention is formed of a material whose color is representative of the type of sample of material housed in said specimen according to a predetermined abacus.
  • This advantageous variant makes it possible to quickly identify, by a simple access to a color code of the module to the type of sample that it contains.
  • the invention also relates to a module characterized in combination by all or some of the characteristics mentioned above or below.
  • FIG. 1 is a schematic perspective view of a module according to one embodiment of the invention.
  • FIG. 2 is a schematic view from above of the module according to the embodiment of FIG. 1,
  • FIG. 3 is a schematic perspective view of two modules stacked one on top of the other and each housing a specimen micrographic
  • FIG. 4 is a schematic perspective view of a micrographic specimen intended to be housed in a module according to one embodiment of the invention and in which a sample of material is housed.
  • each element of the storage module of a micrographic specimen is described as it is arranged when the module is placed horizontally to receive a micrographic test specimen. This arrangement is shown in FIG. 1.
  • the vertical term is used with reference to the vertical direction which is the direction defined by gravity.
  • the terms upper and lower are used with respect to this vertical direction.
  • a test piece 20 intended to be housed in a module 10 generally comprises a bottom wall 21 of transparent observation intended to allow the observation of a sample 24 of material housed in the test tube by means of an instrument such as a microscope.
  • the test piece 20 also comprises an opaque upper wall 22 arranged facing the observation bottom wall 21 and a peripheral side wall 25 extending between the observation bottom wall 21 and the upper wall 22.
  • a stacking module 10 for storing a micrographic sample 20 intended to house a sample 24 of material comprises an annular base 12 forming a support for the specimen 20 which leaves the wall free of any mechanical contact. lower 21 observation of the specimen 20.
  • the module 10 also comprises four rods 11a, 11b, 11c, 11d extending perpendicular to the annular base 12 and delimiting with it an enclosure 13 for receiving and holding the test piece 20.
  • the module 10 comprises four notches 14a, 14b, 14c, 14d extending laterally from the annular base 12 and each formed at the cross section of the rods 11a, 11b, 11c, 11d.
  • the notches 14a, 14b, 14c, 14d are thus shaped and combined with the rods 11a, 11b, 11c, 11d so that the module 10 can be stacked on another identical module and that during this stack, the notches 14a, 14b, 14c 14d of the upper module encased the rods 11a, 11b, 11c, 11d lateral of the lower module. Once the upper module stacked on the lower module, the notches 14a, 14b, 14c, 14d come into mechanical abutment against the rods, thus limiting the lateral movements of the upper module relative to the lower module.
  • each notch is shaped with a single rod so that the stack of an upper module on a lower module can be done only by the association a notch with its conjugate wand.
  • the notches 14a, 14b, 14c, 14d and the rods 11a, 11b, 11c, 11d are arranged relative to one another by forming two perpendicular PI, P2 plane symmetry relative to one another. to the other. These planes PI, P2 symmetry appear in Figure 2 which is a top view of the module 10 according to the embodiment of the figures.
  • the distance between two notches arranged on one side of the first plane PI of symmetry is different from the distance between two notches arranged on one side of the second plane P2 symmetry, but equal to the distance between two rods arranged to a side of the second plane P2 of symmetry.
  • the distance between the notches 14a and 14b is different from the distance between the notches 14a and 14d, but equal to the distance between the rods 11a and 11d and the distance between the rods 11b and 11c.
  • the distance between the notches 14a and 14d is equal to the distance between the rods 11a and 11b and between the rods 11c and 11d.
  • the notches and the rods are all equidistant from each other so as to stack a module on another whatever the orientation of the first module relative to the second.
  • the module according to the embodiment of the figures further comprises a tab 16 for identifying the module which extends laterally from the annular base 12 so as to identify the sample 24 of material housed in the micrographic test 20 it lodges, even when the module 10 is stacked among several identical modules.
  • a module according to the invention is intended for storing and preserving micrographic specimens. However, it could also be used to keep other fragile parts, such as bearings and other mechanisms.

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Abstract

L'invention concerne un module (10) de stockage d'une éprouvette (20) micrographique destinée à loger un échantillon (24) de matériau et comprenant une paroi inférieure (21) plane d'observation, ledit module (10) étant caractérisé en ce qu'il comprend : une base, dite base (12) annulaire, formant un support de ladite éprouvette (20) qui laisse libre de tout contact mécanique au moins une portion de ladite paroi inférieure (21) d'observation de ladite éprouvette (20); une pluralité de baguettes (11a, 11b, 11c, 11d) latérales s'étendant perpendiculairement à ladite base (12) annulaire et délimitant avec cette dernière, une enceinte (13) de réception et de maintien de ladite éprouvette (20); une pluralité d'encoches (14a, 14b, 14c, 14d) s'étendant latéralement de ladite base (12) annulaire et conformées chacune à la section droite desdites baguettes (11a, 11b, 11c, 11d) latérales de sorte que lorsque ledit module (10) est empilé sur un autre module identique, lesdites encoches (14a, 14b, 14c, 14d) de liaison du 20 module supérieur viennent enchâsser les baguettes (11a, 11b, 11c, 11d) latérales du module inférieur.

Description

MODULE DE STOCKAGE D'UNE EPROUVETTE MICROGRAPHIQUE
1. Domaine technique de l'invention
L'invention concerne le rangement, le stockage et la conservation des éprouvettes micrographiques destinées aux examens micrographiques de matériau.
2. Arrière-plan technologique
Une éprouvette micrographique est un récipient, au moins en partie transparent, qui permet de loger un échantillon d'un matériau prélevé en vue de lui faire subir un examen au moyen d'un instrument, tel qu'un microscope.
Par exemple, dans le domaine ferroviaire, il est fréquent de réaliser des examens d'échantillons de matière prélevés sur certaines pièces métalliques critiques pour vérifier notamment la qualité de fabrication de la pièce, pour déterminer l'évolution des caractéristiques de la pièce au cours de son cycle d'exploitation, pour rechercher la présence d'éventuels défauts structurels au sein de la pièce ou pour identifier l'origine d'un défaut détecté.
Le prélèvement d'un échantillon de matériau est une opération fastidieuse et complexe. En effet, ce prélèvement implique plusieurs étapes parmi lesquelles une étape de prélèvement en tant que tel, une étape d'enrobage du matériau par une résine adaptée, une étape de polissage de l'échantillon, et une étape d'attaque métallographique par application d'un réactif chimique pour révéler la structure métallurgique de l'alliage à analyser.
En outre, une fois l'examen pratiqué sur l'échantillon, il est nécessaire de conserver l'échantillon dans un bon état pour pouvoir éventuellement le réexaminer ultérieurement.
A l'heure actuelle, une fois l'échantillon analysé, il est stocké dans son éprouvette micrographique sans contraintes particulières. Il est fréquent que les éprouvettes soient stockées les unes sur les autres sur des étagères des laboratoires. Aussi, lorsqu'un tel échantillon doit être analysé à nouveau, il est en général nécessaire de reprendre la préparation de l'échantillon pour pouvoir effectuer un nouvel examen de l'échantillon. En particulier, le stockage actuel des éprouvettes micrographiques dégrade les échantillons et/ou les éprouvettes qui logent les échantillons et ne permet plus une observation de qualité lors d'un nouvel examen.
Les inventeurs ont donc cherché à proposer un dispositif qui permet d'améliorer la conservation des éprouvettes micrographiques.
3. Objectifs de l'invention
L'invention vise à fournir un module de stockage d'une éprouvette micrographique qui pallie au moins certains des inconvénients des solutions connues.
L'invention vise en particulier à fournir, dans au moins un mode de réalisation, un module de stockage d'une éprouvette micrographique qui permet de conserver l'intégrité de l'échantillon pour d'éventuels examens ultérieurs.
L'invention vise également à fournir, dans au moins un mode de réalisation, un module de stockage d'une éprouvette micrographique qui, lorsqu'il est combiné avec d'autres modules de stockage, permet de limiter l'espace de stockage des éprouvettes tout en maintenant l'intégrité des échantillons.
L'invention vise également à fournir, dans au moins un mode de réalisation, un module de stockage d'une éprouvette micrographique qui permet d'identifier l'échantillon logé dans l'éprouvette micrographique.
L'invention vise également à fournir, dans au moins un mode de réalisation, un module de stockage d'une éprouvette micrographique qui permet d'identifier rapidement l'échantillon logé dans l'éprouvette micrographique. 4. Exposé de l'invention
Pour ce faire, l'invention concerne un module de stockage d'une éprouvette micrographique destinée à loger un échantillon de matériau et comprenant une paroi inférieure plane d'observation.
Un module selon l'invention est caractérisé en ce qu'il comprend :
- une base, dite base annulaire, formant un support de ladite éprouvette qui laisse libre de tout contact mécanique au moins une portion de ladite paroi inférieure d'observation de ladite éprouvette,
- une pluralité de baguettes latérales s 'étendant perpendiculairement à ladite base annulaire et délimitant avec cette dernière, une enceinte de réception et de maintien de ladite éprouvette,
- une pluralité d'encoches s 'étendant latéralement de ladite base annulaire et conformées chacune à au moins une portion de la section droite desdites baguettes latérales de sorte que lorsque ledit module est empilé sur un autre module identique, lesdites encoches du module supérieur viennent enchâsser les baguettes latérales du module inférieur.
Un module selon l'invention est donc empilable et permet aussi de recevoir une éprouvette micrographique et la maintenir en position sans néanmoins risquer d' abîmer la surface d'observation de Γ éprouvette étant donné que la base annulaire de réception laisser libre de tout contact mécanique au moins une portion de cette surface d'observation. La surface d'observation d'une éprouvette selon l'invention n'étant pas altérée par la conservation de Γ éprouvette, il est possible de réutiliser Γ éprouvette micrographique selon l'invention et l'échantillon qu'elle contient pour procéder à un nouvel examen de l'échantillon sans nécessiter une nouvelle préparation de l'échantillon. Lorsqu'un module selon l'invention est empilé sur un autre module identique, l'espace libre entre deux éprouvettes stockées dans les modules est déterminé par l'épaisseur de la base annulaire.
Une base annulaire est une base qui est ajourée en son centre et qui porte Γ éprouvette uniquement au niveau de sa portion périphérique. Une telle base ne présente pas nécessairement une forme d'anneau en tant que tel. Par exemple une telle base annulaire peut être carrée, rectangulaire et d'une manière générale peut présenter toute forme compatible avec la forme de l'éprouvette qu'il est destiné à recevoir à partir du moment où l'espace centrale de la base est dépourvu de matière pour ne pas créer de zone de contact mécanique entre la base et la face inférieure de l'éprouvette. Un module selon l'invention est empilable et permet donc de conserver ensemble une pluralité d'échantillons dans une pluralité de modules sans néanmoins altérer la qualité des échantillons. Cette fonctionnalité est permise par la présence d'encoches de liaison sur la base annulaire qui coopèrent avec les baguettes latérales d'un module inférieur. Il est donc simple d'empiler plusieurs modules selon l'invention les uns sur les autres pour conserver une pluralité d'éprouvettes micrographiques. En outre, cet empilement est facilité par la possibilité de faire coulisser le module supérieur sur le module inférieur étant donné que les encoches sont conformées à au moins une portion de la section droite des baguettes. Une fois le module inférieur posé et logeant une première éprouvette, il est possible de faire coulisser un module supérieur sur le module inférieur en insérant les baguettes du module inférieur dans les encoches du module supérieur jusqu'à ce que le module supérieur vienne en butée contre la paroi supérieure de l'éprouvette logée dans le module inférieur. Il est alors possible d'agencer l'éprouvette du module supérieur. Une fois cette éprouvette logée dans le module supérieur, la face inférieure de l'éprouvette du module supérieur n'est pas en contact avec la face supérieure de l'éprouvette du module inférieur étant donné que la base annulaire du module supérieur forme un espace libre de tout contact mécanique entre les deux éprouvettes.
Une fois les modules empilés l'un sur l'autre, les encoches du module supérieur qui enchâssent les baguettes latérales sont en butées contre les baguettes latérales, ce qui empêche tout déplacement latéral d'un module par rapport à l'autre.
En outre, l'opération de logement de l'éprouvette dans le module est facilitée par la présence de baguettes latérales qui délimite une enceinte de réception de l'éprouvette micrographique tout en laissant libre un accès aux parois latérales de l'éprouvette (c'est à dire l'espace entre les baguettes latérales), ce qui facilite les manipulations de l'éprouvette par un opérateur pour positionner l'éprouvette dans le module.
Avantageusement et selon l'invention, lesdites encoches et lesdites baguettes sont agencées les unes par rapport aux autres en formant deux plans de symétrie perpendiculaires l'un par rapport à l'autre.
Un module selon cette variante avantageuse facilite les opérations de fabrication et d'utilisation du module.
Avantageusement, un module selon l'invention comprend quatre baguettes et quatre encoches et la distance entre deux encoches agencées d'un côté du premier plan de symétrie est différente de la distance entre deux encoches agencées d'un côté du deuxième plan de symétrie, mais égale à la distance entre deux baguettes agencées d'un côté du second plan de symétrie, de sorte que ledit module peut être empilé sur un autre module identique uniquement après une rotation d'un quart de tour du module supérieur par rapport audit module inférieur.
Cette variante avantageuse forme, deux à deux, des paires de baguettes et des paires d'encoches agencées de sorte qu'une paire d'encoches est destinée à coopérer avec une paire de baguettes décalées d'un quart de tour par rapport à la paire d'encoches.
Avantageusement et selon l'invention, chaque baguette présente une section droite ovale dont l'axe principal s'étend selon une direction sensiblement parallèle à la tangente à la courbure de la base annulaire au niveau où est agencée ladite baguette.
Cette variante permet de maximiser la surface de contact entre une baguette et la paroi latérale de Γ éprouve tte micrographique, ce qui contribue au maintien de l'éprouvette dans le module. Bien entendu, d'autres formes des baguettes latérales peuvent être utilisées sans modifier l'effet procuré par l'invention.
Avantageusement, un module selon l'invention comprend en outre une languette d'identification du module qui s'étend latéralement de ladite base annulaire de manière à pouvoir identifier l'échantillon de matériau logé dans ladite éprouve tte micrographique, y compris lorsque ledit module est empilé parmi plusieurs modules identiques.
Cette variante avantageuse permet d'identifier l'échantillon logé dans l'éprouvette et sa lecture est facilitée par son extension latérale par rapport à la base annulaire.
Avantageusement et selon cette variante, ladite languette d'identification s'étend entre deux encoches.
Dans le cas où les encoches et les baguettes sont agencées les unes par rapport aux autres de sorte que l'empilement d'une module sur l'autre nécessite une rotation d'un quart de tour de l'un par rapport à l'autre, les languettes sont alors décalées d'un quart de tour d'un étage à l'autre, ce qui facilite la lecture des languettes d'identification, en particulier lorsque les éprouvettes présentent une hauteur faible.
Avantageusement, un module selon l'invention est formé en un matériau plastique.
La fabrication d'un module en matériau plastique permet de réduire les coûts et les temps de fabrication. La fabrication d'un tel module peut par exemple être obtenue par la mise en œuvre d'une imprimante 3D.
Avantageusement, un module selon l'invention est formé en un matériau dont la couleur est représentative du type d'échantillon de matériau logé dans ladite éprouvette selon un abaque prédéterminé.
Cette variante avantageuse permet d'identifier rapidement, par un simple accès à un code couleur du module au type d'échantillon qu'il contient.
L'invention concerne également un module caractérisé en combinaison par tout ou partie des caractéristiques mentionnées ci-dessus ou ci-après.
5. Liste des figures
D'autres buts, caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à la lecture de la description suivante donnée à titre uniquement non limitatif et qui se réfère aux figures annexées dans lesquelles :
- la figure 1 est une vue schématique en perspective d'un module selon un mode de réalisation de l'invention,
- la figure 2 est une vue schématique de dessus du module selon le mode de réalisation de la figure 1 ,
- la figure 3 est une vue schématique en perspective de deux modules empilés l'un sur l'autre et logeant chacun une éprouvette micrographique,
- la figure 4 est une vue schématique en perspective d'une éprouvette micrographique destinée à être logée dans un module selon un mode de réalisation de l'invention et dans laquelle un échantillon de matériau est logé.
6. Description détaillée d'un mode de réalisation de l'invention
Sur les figures, les échelles et les proportions ne sont pas strictement respectées et ce, à des fins d'illustration et de clarté. Dans toute la description détaillée qui suit en référence aux figures, sauf indication contraire, chaque élément du module de stockage d'une éprouvette micrographique est décrit tel qu'il est agencé lorsque le module est posé à l'horizontal pour recevoir une éprouvette micrographique. Cet agencement est représenté sur la figure 1. Le terme vertical est utilisé en référence à la direction verticale qui est la direction définie par la gravité. Les termes supérieur et inférieur sont utilisés par rapport à cette direction verticale.
Une éprouvette 20 destinée à être logée dans un module 10 selon l'invention comprend en général une paroi inférieure 21 d'observation transparente destinée à permettre l'observation d'un échantillon 24 de matière logé dans l'éprouvette au moyen d'un instrument tel qu'un microscope. L'éprouvette 20 comprend également une paroi supérieure 22 opaque agencée en regard de la paroi inférieure 21 d'observation et une paroi latérale 25 périphérique qui s'étend entre la paroi inférieure 21 d'observation et la paroi supérieure 22.
Tel que représenté sur la figure 1 , un module 10 empilable de stockage d'une éprouvette 20 micrographique destinée à loger un échantillon 24 de matériau comprend une base 12 annulaire formant un support de l'éprouvette 20 qui laisse libre de tout contact mécanique la paroi inférieure 21 d'observation de l'éprouvette 20.
Le module 10 comprend également quatre baguettes l ia, 11b, 11c, l ld s 'étendant perpendiculairement à la base 12 annulaire et délimitant avec elle une enceinte 13 de réception et de maintien de l'éprouvette 20.
Enfin, le module 10 comprend quatre encoches 14a, 14b, 14c, 14d s 'étendant latéralement de la base 12 annulaire et conformées chacune à la section droite des baguettes lia, 11b, 11c, lld.
Les encoches 14a, 14b, 14c, 14d sont donc conformées et conjuguées aux baguettes lia, 11b, 11c, lld pour que le module 10 puisse être empilé sur un autre module identique et que lors de cet empilement, les encoches 14a, 14b, 14c, 14d du module supérieur viennent enchâssées les baguettes lia, 11b, 11c, lld latérales du module inférieur. Une fois le module supérieur empilé sur le module inférieur, les encoches 14a, 14b, 14c, 14d viennent en butée mécanique contre les baguettes, limitant ainsi les déplacements latéraux du module supérieur par rapport au module inférieur.
Selon le mode de réalisation des figures, les encoches sont toutes identiques et les baguettes sont toutes identiques, ce qui facilite les opérations d'empilement des modules. Cela étant, selon d'autres modes de réalisation non représentés sur les figures, chaque encoche est conformée avec une seule et unique baguette de sorte que l'empilement d'un module supérieur sur un module inférieur ne peut se faire que par l'association d'une encoche avec sa baguette conjuguée.
Selon le mode de réalisation des figures, les encoches 14a, 14b, 14c, 14d et les baguettes lia, 11b, 11c, lld sont agencées les unes par rapport aux autres en formant deux plans PI, P2 de symétrie perpendiculaires l'un par rapport à l'autre. Ces plans PI, P2 de symétrie apparaissent sur la figure 2 qui est une vue de dessus du module 10 selon le mode de réalisation des figures.
En outre, la distance entre deux encoches agencées d'un côté du premier plan PI de symétrie est différente de la distance entre deux encoches agencées d'un côté du second plan P2 de symétrie, mais égale à la distance entre deux baguettes agencées d'un côté du second plan P2 de symétrie.
Par exemple, la distance entre les encoches 14a et 14b est différente de la distance entre les encoches 14a et 14d, mais égale à la distance entre les baguettes lia et lld et à la distance entre les baguettes 11b et 11c. La distance entre les encoches 14a et 14d est égale à la distance entre les baguettes lia et 11b et entre les baguettes 11c et lld. Cette configuration permet de faire en sorte qu'un module ne peut être empilé sur un autre module identique uniquement après une rotation d'un quart de tour du module supérieur par rapport audit module inférieur. Cette configuration est représentée sur la figure 3.
Selon un autre mode de réalisation non représenté sur les figures, les encoches et les baguettes sont toutes équidistantes les unes des autres de manière à pouvoir empiler un module sur un autre quelque que soit l'orientation du premier module par rapport au second.
Le module selon le mode de réalisation des figures comprend en outre une languette 16 d'identification du module qui s'étend latéralement depuis la base annulaire 12 de manière à pouvoir identifier l'échantillon 24 de matériau logé dans Γ éprouve tte 20 micrographique qu'il loge, y compris lorsque le module 10 est empilé parmi plusieurs modules identiques.
Un module selon l'invention est destiné à stocker et à conserver des éprouvettes micrographiques. Cela étant, il pourrait aussi être utilisé pour conserver d'autres pièces fragiles, tel que des roulements et autres mécanismes.

Claims

REVENDICATIONS
1. Module (10) de stockage d'une éprouvette (20) micrographique destinée à loger un échantillon (24) de matériau et comprenant une paroi inférieure (21) plane d'observation, ledit module (10) étant caractérisé en ce qu'il comprend :
une base, dite base (12) annulaire, formant un support de ladite éprouvette (20) qui laisse libre de tout contact mécanique au moins une portion de ladite paroi inférieure (21) d'observation de ladite éprouvette (20),
une pluralité de baguettes (l ia, 11b, 11c, l ld) latérales s'étendant perpendiculairement à ladite base (12) annulaire et délimitant avec cette dernière, une enceinte (13) de réception et de maintien de ladite éprouvette (20),
une pluralité d'encoches (14a, 14b, 14c, 14d) s'étendant latéralement de ladite base (12) annulaire et conformées chacune à au moins une portion de la section droite desdites baguettes latérales de sorte que lorsque ledit module (10) est empilé sur un autre module identique, lesdites encoches (14a, 14b, 14c, 14d) du module supérieur viennent enchâsser les baguettes latérales du module inférieur.
2. Module (10) selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdites encoches (14a, 14b, 14c, 14d) et lesdites baguettes (l ia, 11b, 11c, l ld) sont agencées les unes par rapport aux autres en formant deux plans (PI, P2) de symétrie perpendiculaires l'un par rapport à l'autre.
3. Module (10) selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'il comprend quatre baguettes (l ia, 1 lb, 11c, l ld) et quatre encoches (14a, 14b, 14c, 14d) et en ce que la distance entre deux encoches agencées d'un côté du premier plan de symétrie est différent de la distance entre deux encoches agencées d'un côté du second plan de symétrie, mais égale à la distance entre deux baguettes agencées d'un côté du second plan de symétrie, de sorte que ledit module peut être empilé sur un autre module identique uniquement après une rotation d'un quart de tour du module supérieur par rapport audit module inférieur.
4. Module (10) selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que chaque baguette (l ia, 11b, 11c, 11) présente une section droite ovale dont l'axe principal s'étend selon une direction sensiblement parallèle à la tangente à la courbure de la base (12) annulaire au niveau où est agencé ladite baguette.
5. Module (10) selon l'une des revendications 1 à 4, caractérisé en ce qu'il comprend en outre une languette (16) d'identification du module qui s'étend latéralement de ladite base (12) annulaire de manière à pouvoir identifier l'échantillon (24) de matériau logé dans ladite éprouvette (20) micrographique, y compris lorsque ledit module est empilé parmi plusieurs modules identiques.
6. Module (10) selon la revendication 5, caractérisé en ce que ladite languette (16) d'identification s'étend entre deux encoches (14a, 14d).
7. Module (10) selon l'une des revendications 1 à 6, caractérisé en ce qu'il est formé en un matériau plastique.
8. Module (10) selon l'une des revendications 1 à 7, caractérisé en ce qu'il est formé en un matériau dont la couleur est représentative du type d'échantillon (24) de matériau logé dans ladite éprouvette (20) selon un abaque prédéterminé.
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