FR3047633A1 - Circuit integre avec broches auxiliaires d'alimentation electrique - Google Patents
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Abstract
La présente invention a pour objet un circuit intégré (1) comprenant deux bornes (2a, 2b) d'alimentation électrique respectivement positive et de masse faisant partie d'un premier système d'alimentation (2) électrique interne au circuit intégré et assurant son alimentation électrique à partir d'une source d'alimentation électrique extérieure au circuit intégré, caractérisé en ce qu'il comprend deux broches (3a, 3b) respectivement positive et de masse faisant partie d'un deuxième système d'alimentation (3) électrique et assurant une connexion électrique auxiliaire du circuit intégré avec l'extérieur, le deuxième système d'alimentation étant en parallèle du premier système d'alimentation, le premier système d'alimentation étant ouvert quand le deuxième système d'alimentation est fermé et réciproquement.
Description
La présente invention concerne un composant électronique s’apparentant à un circuit intégré, notamment mais pas forcément un circuit intégré de type ASIC, dénommé aussi circuit intégré développé pour un client ou circuit intégré pour application spécifique, cette dernière appellation étant la traduction de l’acronyme ASIC signifiant « Application-Specific Integrated Circuit >>. Dans une application préférentielle de l’invention, le composant électronique est soudé sur une carte électronique et subit un contrôle de vérification sans qu’il soit dessoudé de la carte.
Classiquement, un tel circuit intégré comprend deux bornes d’alimentation électrique respectivement positive et de masse faisant partie d’un premier système d’alimentation électrique assurant la connexion avec une alimentation électrique extérieure principale du circuit intégré.
Dans le cas spécifique et non limitatif d’un circuit intégré pour application spécifique, un circuit intégré de ce type permet une personnalisation de son fonctionnement selon l’utilisation que souhaite un client en regroupant un grand nombre de fonctionnalités uniques et/ou sur mesures. Il se différencie ainsi des circuits intégrés standards et figés qui peuvent être proposés par des fabricants sans personnalisation préalable aux souhaits du client.
Il est de pratique courante qu’un circuit intégré subisse un diagnostic préalablement à sa mise en fonction. Ceci se fait fréquemment quand ce circuit est intégré dans une carte électronique. L’intégration d’un tel circuit sur une carte se fait usuellement par soudage des extrémités de connexion électrique ou bornes du circuit sur une source d’alimentation électrique extérieure au circuit.
Ainsi, il peut être proposé de soumettre le circuit intégré à un test de vérification de son bon fonctionnement. Le déroulement du test impose d’utiliser ses connexions électriques pour transmettre des impulsions de stimulation émises à partir d’un appareil de test comprenant un générateur d’impulsions de stimulation apte à stimuler le circuit en envoyant au circuit intégré des impulsions successives selon un cycle prédéterminé. Le dispositif de test comprend des moyens de recueillement des réponses du circuit intégré au cycle d’impulsions prédéterminé.
Les moyens de recueillement des réponses du circuit intégré au cycle d’impulsions prédéterminé permettent de s’assurer que le circuit intégré répond correctement dans un délai de temps acceptable aux impulsions transmises au circuit par le générateur d’impulsions de simulation.
Selon l’état de la technique actuel, pour tester le fonctionnement d’un circuit intégré, il est nécessaire de dessouder ses bornes de contact électrique avec la source d’alimentation extérieure pour les connecter au générateur d’impulsions. Ceci est une opération difficile qui peut endommager le circuit intégré ou rendre déficientes ses connexions électriques qui doivent être à nouveau soudées. L’opération de dessoudage est rendue difficile du fait de la proximité de plusieurs autres broches de contact et des nombreuses pistes du circuit intégré ou d’autres éléments portés par la carte électronique. Il est souvent utilisé des pastilles de liaison et ces pastilles peuvent être arrachées lors du dessoudage des bornes de connexion électrique.
Par exemple, lors d’une opération de dessoudage classique, il peut être prévu d’effectuer le sectionnement du câble reliant chaque borne à une source d’alimentation extérieure au circuit intégré afin de dégager un plus grand espace de travail. Il est possible qu’un bout de câble reste soudé à la borne. Dans ce cas, ce bout de câble est désolidarisé de la borne par dessoudage tout en opérant une traction sur ce bout. Le possible reste de soudure sur chaque borne doit ensuite être enlevé pour dégager au mieux cette borne.
Dans le pire des cas, un dessoudage d’un circuit intégré sur une carte électronique peut conduire à l’endommagement de ce circuit intégré.
Un nouveau soudage des bornes peut aussi conduire à une connexion électrique déficiente entre les bornes et la source d’alimentation extérieure au circuit intégré.
Le problème à la base de la présente invention est de pouvoir tester un circuit intégré solidarisé par soudage à une source d’alimentation électrique extérieure sans avoir besoin de dessouder ses connexions d’alimentation électrique avec la source extérieure. A cet effet, la présente invention porte sur un circuit intégré comprenant deux bornes d’alimentation électrique, respectivement positive et de masse, faisant partie d’un premier système d’alimentation électrique interne au circuit intégré et assurant son alimentation électrique à partir d’une source d’alimentation électrique extérieure au circuit intégré, remarquable en ce qu’il comprend deux broches respectivement positive et de masse faisant partie d’un deuxième système d’alimentation électrique assurant une connexion électrique auxiliaire du circuit avec l’extérieur, le deuxième système étant en parallèle du premier système, le premier système étant ouvert quand le deuxième système est fermé et réciproquement. L’effet technique de par principalement l’ajout de deux broches sur un circuit intégré est l’obtention d’un deuxième système d’alimentation du circuit intégré isolé du premier système d’alimentation servant à l’alimentation du circuit. Dans l’application préférentielle de la présente invention qui prévoit l’utilisation du deuxième système d’alimentation pour effectuer un diagnostic du circuit intégré par l’envoi au circuit, via le deuxième système et ses broches, d’impulsions de stimulation référencées, il est évité les problèmes liés à l’environnement du circuit intégré, étant donné que le deuxième système d’alimentation est alors spécifiquement dédié au diagnostic.
Il n’est plus besoin de déconnecter les bornes du premier système d’alimentation de la source extérieure d’alimentation du circuit intégré pour les mettre en contact avec l’appareil de test. Ceci représente un gain de temps car une telle déconnexion est difficile à réaliser. Ceci permet aussi d’éviter que le circuit intégré et notamment ses bornes d’alimentation puissent être endommagés lors de cette déconnexion et que la connexion à rétablir après diagnostic puisse alors être déficiente.
Avantageusement, chaque borne ou broche des premier et deuxième systèmes est reliée par un raccordement électrique respectif comportant un microinterrupteur au reste des premier et deuxième systèmes, les micro-interrupteurs du premier système étant en position d’ouverture quand les micro-interrupteurs du deuxième système sont en position fermée et réciproquement.
Avantageusement, le circuit intégré est muni de moyens de détection d’une tension aux broches du deuxième système d’alimentation électrique, de moyens de mise en position ouverte des micro-interrupteurs du premier système d’alimentation électrique et de moyens de mise en position fermée des micro-interrupteurs du deuxième système d’alimentation électrique dès qu’une tension aux broches du deuxième système d’alimentation électrique est détectée.
Avantageusement, le circuit intégré est muni de moyens de détection d’une tension aux bornes du premier système d’alimentation électrique, de moyens de mise en position ouverte des micro-interrupteurs du deuxième système d’alimentation électrique et de moyens de mise en position fermée des micro-interrupteurs du premier système d’alimentation électrique dès qu’une tension aux bornes du premier système d’alimentation électrique est détectée. L’invention concerne aussi une carte électronique, remarquable en ce qu’elle comprend au moins un tel circuit intégré. L’invention concerne également un procédé de test d’un tel circuit intégré ou d’un circuit intégré logé dans une telle carte électronique, des impulsions de stimulation de test étant envoyées par un appareil de test au circuit intégré, l’appareil de test étant connecté électriquement au circuit intégré pendant le test, remarquable en ce que l’appareil de test est connecté électriquement au circuit intégré par le deuxième système d’alimentation parallèlement au premier système d’alimentation, le premier système d’alimentation étant maintenu en position ouverte.
Dans la forme préférée de réalisation, le procédé comprend avantageusement les étapes suivantes : • connexion d’un appareil de test aux broches respectivement positive et de masse du deuxième système d’alimentation électrique, • ouverture du premier système d’alimentation électrique et fermeture du deuxième système d’alimentation électrique dès que cette connexion est réalisée, • mise en oeuvre du test par l’envoi d’impulsions de stimulation de l’appareil de test vers le circuit intégré via le deuxième système d’alimentation électrique, • après complétion du test, ouverture du deuxième système d’alimentation électrique, • déconnexion de l’appareil de test des broches respectivement positive et de masse du deuxième système d’alimentation électrique, et • fermeture du premier système d’alimentation électrique. L’invention concerne aussi un dispositif de test pour la mise en œuvre d’un tel procédé, le dispositif comprenant un générateur d’impulsions de stimulation envoyant les impulsions de stimulation vers le circuit intégré, des moyens de réception des réponses du circuit intégré suite aux impulsions de stimulation, remarquable en ce qu’il comprend des moyens de contact électrique avec chaque broche du deuxième système d’alimentation électrique du circuit intégré et référencé sur une alimentation de test.
Avantageusement, les moyens de contact électrique sont sous la forme d’un organe de contact porté par l’appareil se positionnant sur chaque broche ou d’un fil soudé à chaque borne et raccordé au générateur d’impulsions.
Avantageusement, chaque organe de contact est sous la forme d’une pince munie de deux mâchoires intercalant entre elles une broche respective du deuxième système d’alimentation électrique du circuit intégré. D’autres caractéristiques, buts et avantages de la présente invention apparaîtront à la lecture de la description détaillée qui va suivre et au regard des dessins annexés donnés à titre d’exemples non limitatifs et sur lesquels : - la figure 1 est une représentation schématique d’un circuit intégré selon l’état de la technique, l’alimentation électrique à partir de l’extérieur de ce circuit intégré devant être dessoudée en vue de tester le circuit intégré préalablement à sa mise en service, - la figure 2 est une représentation schématique d’un circuit intégré selon un mode de réalisation non limitatif de la présente invention, l’alimentation électrique du circuit intégré et son alimentation électrique destinée à être connectée à un appareil de test étant différentes et placées en parallèle dans le circuit intégré, l’alimentation électrique étant suspendue lors du déroulement d’un test et inversement l’alimentation électrique connectée à l’appareil de test étant suspendue en fonctionnement normal du circuit intégré, - la figure 3 représente un logigramme détaillant les diverses étapes d’un procédé de test d’un circuit intégré selon la présente invention.
En se référant aux figures 1 et 2 pour les caractéristiques qui sont communes aux circuits intégrés selon l’état de la technique et la présente invention, un circuit intégré 1 comprend deux bornes 2a, 2b d’alimentation électrique respectivement positive et de masse faisant partie d’un premier système d’alimentation 2 électrique interne au circuit intégré 1 et assurant l’alimentation électrique principale du circuit intégré 1 à partir d’une source d’alimentation électrique extérieure au circuit intégré 1.
La source d’alimentation électrique extérieure peut être une batterie. Selon le circuit intégré 1 à alimenter, cette batterie peut être choisie pour délivrer une tension spécifique, par exemple de 5 ou 3,3 Volts. Un tel circuit intégré 1 fait le plus souvent partie d’une carte électronique en étant soudé à celle-ci pour ses connexions, notamment pour ses connexions d’alimentation électrique.
Aux figures 1 et 2, il est montré un branchement extérieur 9 principal d’alimentation électrique au circuit intégré 1, ce branchement 9 étant raccordé aux deux bornes 2a, 2b d’alimentation électrique du premier système d’alimentation 2 du circuit intégré 1. Le branchement 9 comprend une connexion entre le pôle + d’une batterie, en tant que source d’alimentation extérieure au circuit intégré, avec la borne positive 2a du premier système d’alimentation 2 électrique et une connexion entre la borne de masse 2b du premier système d’alimentation 2 électrique avec la terre référencée T aux figures.
Les deux connexions du branchement extérieur 9 principal comprennent des moyens de contact 9a, 9b respectivement avec la borne positive 2a et la borne de masse 2b du premier système d’alimentation 2 électrique. De manière usuelle, ces moyens de contact 9a, 9b sont sous la forme de soudures.
Le circuit intégré 1 comprend des entrées 6 et des sorties 7 pour sa connexion avec d’autres éléments portés par une carte électronique ou à l’extérieur d’une carte électronique. Aux figures, il est montré trois entrées 6 et trois sorties 7, ce qui n’est pas limitatif.
Comme précédemment mentionné, l’invention a notamment pour but de tester un composant de type circuit intégré 1, notamment mais pas limitativement, un circuit intégré 1 développé pour un client, directement sur sa carte d’origine sans avoir à le retirer donc en évitant de la chauffer lors du dessoudage et en isolant le circuit intégré 1 du reste de la carte électronique. Cette carte d’origine peut comporter d’autres éléments que le circuit intégré.
En se référant à la figure 2, selon l’invention, le circuit intégré 1 comprend deux broches 3a, 3b respectivement positive et de masse faisant partie d’un deuxième système d’alimentation 3 électrique assurant une connexion électrique auxiliaire du circuit avec l’extérieur.
Un branchement extérieur auxiliaire 10 est raccordé aux deux broches 3a, 3b faisant partie du deuxième système d’alimentation 3 électrique, interne au circuit intégré 1, les broches 3a, 3b étant disposées sur le pourtour du circuit intégré 1.
Le branchement extérieur auxiliaire 10 sert principalement mais pas uniquement à la mise en œuvre d’une opération de diagnostic ou test du circuit intégré. Dans ce cas, le deuxième système d’alimentation 3 électrique est avantageusement relié à un générateur d’impulsions de stimulation envoyant les impulsions de stimulation vers le circuit intégré 1 via le deuxième système d’alimentation 3 électrique pour effectuer un test du circuit intégré 1. Ceci sera ultérieurement mieux décrit.
Si les deux bornes 2a, 2b d’alimentation électrique du premier système d’alimentation 2 du circuit intégré 1 sont physiquement connectées sur une carte électronique logeant le circuit intégré 1, les deux broches 3a, 3b faisant partie du deuxième système d’alimentation 3 électrique ne sont pas nécessairement physiquement connectées sur la carte électronique mais peuvent l’être de manière indirecte comme par exemple sous forme de plots ou disposition équivalente.
Le deuxième système d’alimentation 3 électrique est monté en parallèle du premier système d’alimentation 2 et en opposition, c’est-à-dire que le premier système d’alimentation 2 est ouvert en ne laissant passer aucun courant quand le deuxième système d’alimentation 3 est fermé en laissant passer un courant et réciproquement. A la figure 2, le deuxième système d’alimentation 3 électrique est connecté à un branchement extérieur auxiliaire 10. C’est ce deuxième système d’alimentation 3 électrique qui peut être destiné à être connecté à un appareil de test émettant des impulsions de stimulation vers le circuit intégré 1. Lors du test, l’alimentation électrique principale du circuit intégré 1 n’est pas activée, le premier système d’alimentation 2 électrique étant ouvert alors que le deuxième système d’alimentation 3 est fermé et reçoit les impulsions de stimulation émises par l’appareil de test.
Le circuit extérieur auxiliaire 10 fait donc préférentiellement partie de l’appareil de test en connectant le circuit intégré 1 à un générateur d’impulsions de stimulation. Il est à considérer cependant que ce circuit extérieur auxiliaire 10 peut être autre, par exemple être un circuit extérieur de secours pour l’alimentation du circuit intégré 1.
De manière générale, chaque borne ou broche des premier et deuxième systèmes d’alimentation 2, 3 électrique peut être reliée au reste du système auquel elle appartient par un raccordement électrique respectif comportant un microinterrupteur 4a, 4b ; 5a, 5b.
Comme les systèmes d’alimentation 2, 3 électrique ne restent pas ouverts ou fermés simultanément, les micro-interrupteurs 4a, 4b du premier système 2 sont en position d’ouverture quand les micro-interrupteurs 5a, 5b du deuxième système 3 sont en position fermée et réciproquement.
Pour déclencher l’ouverture et la fermeture des micro interrupteurs 4a, 4b ; 5a, 5b, le circuit intégré 1 présente des moyens de détection lui permettant d’identifier si le circuit intégré 1 est en test, auquel cas le deuxième système d’alimentation 3 électrique est fermé par fermeture de ses micro-interrupteurs 5a, 5b et le premier système 1 est ouvert par ouverture de ses micro-interrupteurs 4a, 4b.
Les moyens de détection peuvent détecter un fonctionnement normal du circuit intégré 1 avec dans ce cas le premier système d’alimentation 2 électrique fermé par fermeture de ses micro-interrupteurs 4a, 4b et le deuxième système 3 ouvert par ouverture de ses micro-interrupteurs 5a, 5b.
Dans un mode de réalisation préféré de la présente invention, le circuit intégré 1 peut être muni de moyens de détection d’une tension aux broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique. Il est alors aussi muni de moyens de mise en position ouverte des micro-interrupteurs 4a, 4b du premier système d’alimentation 2 électrique dès qu’une tension aux broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique est détectée.
Il en va inversement pour les micro-interrupteurs 5a, 5b du second système d’alimentation 3 ouverts dès qu’une absence de contact électrique au second système d’alimentation 3 est détectée et fermés dès qu’un contact au second système d’alimentation 3 est détecté. Une telle tension aux broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique signifie qu’un test du circuit intégré 1 va avoir lieu.
Dans un autre mode de réalisation préféré de la présente invention qui peut être combiné avec le premier mode, le circuit intégré 1 peut être muni de moyens de détection d’une tension aux bornes 2a, 2b du premier système d’alimentation 2 électrique, de moyens de mise en position ouverte des micro-interrupteurs 5a, 5b du deuxième système d’alimentation 3 électrique et de moyens de mise en position fermée des microinterrupteurs 4a, 4b du premier système d’alimentation 2 électrique dès qu’une tension aux bornes 2a, 2b du premier système d’alimentation 2 électrique est détectée. L’invention concerne aussi une carte électronique, remarquable en ce qu’elle comprend au moins un tel circuit intégré 1. Cette carte électronique peut porter d’autres éléments électroniques que le circuit intégré 1. Afin d'éviter des connections d'alimentations non souhaitées entre l'alimentation électrique de test et l'alimentation électrique de la carte électronique, l’alimentation électrique de la carte électronique intégrant le circuit intégré avantageusement soudé sur elle, peut être déconnectée de son système d'alimentation quand la carte est hors tension. En effet, sans cette mesure de déconnexion, une connexion entre alimentations de test et de la carte pourrait rester possible par l’intermédiaire d’un ou de divers composants passifs pouvant être présents sur la carte.
Dans une carte électronique intégrant un tel circuit intégré 1, il aurait été aussi possible de placer des micro-interrupteurs 4a, 4b ; 5a, 5b à l’extérieur du circuit intégré 1 dans les branchements électriques avant les bornes 2a, 2b ou les broches 3a, 3b respectives des premier et deuxième systèmes d’alimentation 2, 3 électrique. Ceci n’est cependant pas préféré.
Dans ce cas, les moyens de détection d’une tension aux broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique et les moyens de mise en position ouverte des micro-interrupteurs 4a, 4b du premier système d’alimentation 2 électrique du premier mode préférentiel décrit précédemment peuvent être extérieurs au circuit intégré 1. Il en va de même pour les moyens de détection d’un contact électrique aux broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique et des moyens de mise en position des micro-interrupteurs 5a, 5b du deuxième système d’alimentation 3 électrique pour fermer ces micro-interrupteurs 5a, 5b.
Le but de l’équipement d’un circuit intégré 1 d’un deuxième système d’alimentation 3 électrique est essentiellement de pouvoir pratiquer un test sur le circuit intégré 1 sans avoir à utiliser le premier système d’alimentation 2, ce qui nécessiterait par exemple le dessoudage de son alimentation électrique extérieure de fonctionnement normal pour effectuer le raccordement à un appareil de test lui envoyant des impulsions de stimulation.
Il va maintenant être détaillé les étapes d’un procédé de test d’un circuit intégré en se référant plus particulièrement à la figure 3 tout en considérant les figures 1 et 2 pour les références numériques non illustrées à la figure 3. L’étape référencée 11 symbolise le départ de l’utilisation d’un circuit intégré 1. En fonctionnement normal, donc sans mise en œuvre d’un processus de test, les deux bornes 2a, 2b d’alimentation électrique respectivement positive et de masse faisant partie d’un premier système d’alimentation 2 sont alimentées électriquement à partir d’une source d’alimentation électrique extérieure au circuit intégré 1, étant donné que leurs micro-interrupteurs 4a, 4b associés sont fermés. Ceci est montré à l’étape 12. Simultanément, les micro-interrupteurs 5a, 5b du deuxième système d’alimentation 3 électrique sont en position ouverte. Ceci est montré à l’étape 13.
Si aucune tension aux broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique n’est détectée, ce qui est symbolisé par la branche N, la fermeture des microinterrupteurs 4a, 4b du premier système d’alimentation 2 et l’ouverture des micro interrupteurs 5a, 5b du deuxième système d’alimentation 3 sont maintenues.
Par contre, dès qu’une tension aux broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique est détectée, ce qui est symbolisé par la réponse O signifiant oui à ce questionnement 14, il est procédé à l’ouverture des micro-interrupteurs 4a, 4b du premier système d’alimentation 2 selon l’étape 15 et à la fermeture des micro interrupteurs 5a, 5b du deuxième système d’alimentation 3 électrique selon l’étape 16.
Si une tension est détectée aux bornes 2a, 2b du premier système d’alimentation électrique 2, ce qui est symbolisé par la branche 0 partant du questionnement 17, il est procédé au renouvellement des étapes 12 et 13, c’est-à-dire à la fermeture des micro-interrupteurs 4a, 4b du premier système d’alimentation 2 et à l’ouverture des micro-interrupteurs 5a, 5b du deuxième système d’alimentation 3.
Tant qu’une tension n’est pas détectée aux bornes 2a, 2b du premier système d’alimentation 2 électrique, ce qui est symbolisé par la branche N partant du questionnement 17, la fermeture des micro-interrupteurs 5a, 5b du deuxième système d’alimentation 3 et, en conséquence, l’ouverture des micro-interrupteurs 4a, 4b premier système d’alimentation 2 perdurent.
Ensuite, au questionnement 18, si la réponse est oui O à savoir si une tension aux broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique est détectée, cela sous-entend que le test est toujours en cours et il est procédé à la répétition des étapes 15 et 16.
Comme il est possible que les broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique soient alimentées par des impulsions électriques laissant un intervalle de temps entre elles, il est possible de considérer un temps de latence en dessous duquel une détection d’une tension nulle aux broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 n’est pas prise en considération. A ce questionnement 18, si la réponse est non N, à savoir qu’aucune tension aux broches 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique n’est détectée, cela signifie que l’opération de test est finie. Il est alors procédé à la fin du procédé de test d’un circuit intégré 1 symbolisée par 19.
Selon un procédé de test d’un tel circuit intégré 1 ou d’un circuit intégré 1 logé dans une carte électronique conforme à la présente invention, des impulsions de stimulation de test sont envoyées par un appareil de test au circuit intégré 1. Pour ce faire, l’appareil de test est connecté électriquement au circuit intégré 1 pendant le test, ceci par le deuxième système d’alimentation 3 électrique maintenu en position fermée parallèlement au premier système d’alimentation 2, le premier système d’alimentation 2 étant ouvert pendant le test.
Dans une forme avantageuse de réalisation, le procédé comprend l’étape de connexion d’un appareil de test aux broches 3a, 3b respectivement positive et de masse du deuxième système d’alimentation 3 électrique. Simultanément, il est procédé à l’ouverture du premier système d’alimentation 2 électrique et à la fermeture du deuxième système d’alimentation 3 électrique dès que cette connexion est réalisée.
Le procédé comprend ensuite l’étape de mise en œuvre du test par l’envoi d’impulsions de stimulation de l’appareil de test vers le circuit intégré 1 via le deuxième système d’alimentation 3 électrique. Ceci réalise le test proprement dit pour savoir si le circuit intégré 1 fonctionne correctement.
Après complétion du test, il est procédé à l’ouverture du deuxième système d’alimentation 3 électrique et à la fermeture du premier système d’alimentation 2 électrique, ceci se faisant soit simultanément, soit antérieurement ou postérieurement à la déconnexion de l’appareil de test des broches 3a, 3b respectivement positive et de masse du deuxième système d’alimentation 3 électrique. Une fermeture du premier système d’alimentation 2 postérieure à la déconnexion de l’appareil de test des broches 3a, 3b est préférée. L’invention concerne aussi un dispositif de test pour la mise en œuvre d’un tel procédé. De manière classique, le dispositif de test comprend un générateur d’impulsions de stimulation envoyant les impulsions de stimulation vers le circuit intégré 1, des moyens de réception des réponses du circuit intégré 1 suite aux impulsions de stimulation et des moyens de contact électrique 10a, 10b avec chaque borne 3a, 3b du deuxième système d’alimentation 3 électrique du circuit intégré et référencé sur une alimentation de test.
Les moyens de contact électrique 10a, 10b peuvent être sous la forme d’un organe de contact aisément amovible porté par l’appareil se positionnant sur chaque broche 3a, 3b. En effet, dans un mode de réalisation préférentielle de l’invention, le contact entre le deuxième système d’alimentation 3 électrique et le branchement extérieur auxiliaire 10 est seulement temporaire, par exemple ne durant que le temps d’un test du circuit intégré. Il est donc avantageux que les moyens de contact électrique 10a, 10b soient aisément amovibles.
Préférentiellement, chaque organe de contact peut être sous la forme d’une pince munie de deux mâchoires intercalant entre elles une broche 3a, 3b respective du deuxième système d’alimentation 3 électrique du circuit intégré 1. En alternative, les moyens de contact électrique 10a, 10b peuvent être sous la forme d’un fil soudé à chaque broche 3a, 3b et raccordé au générateur d’impulsions.
Claims (10)
- REVENDICATIONS1. Circuit intégré (1) comprenant deux bornes (2a, 2b) d’alimentation électrique respectivement positive et de masse faisant partie d’un premier système d’alimentation (2) électrique interne au circuit intégré (1) et assurant son alimentation électrique à partir d’une source d’alimentation électrique extérieure au circuit intégré (1), caractérisé en ce qu’il comprend deux broches (3a, 3b) respectivement positive et de masse faisant partie d’un deuxième système d’alimentation (3) électrique et assurant une connexion électrique auxiliaire du circuit intégré (1) avec l’extérieur, le deuxième système d’alimentation (3) étant en parallèle du premier système d’alimentation (2), le premier système d’alimentation (2) étant ouvert quand le deuxième système d’alimentation (3) est fermé et réciproquement.
- 2. Circuit intégré (1) selon la revendication précédente, dans lequel chaque borne (2a, 2b) ou broche (3a, 3b) des premier et deuxième systèmes d’alimentation (2, 3) est reliée au reste du système (2, 3) par un raccordement électrique respectif comportant un micro-interrupteur (4a, 4b ; 5a, 5b), les micro-interrupteurs (4a, 4b) du premier système d’alimentation (2) étant en position d’ouverture quand les micro-interrupteurs (5a, 5b) du deuxième système d’alimentation (3) sont en position fermée et réciproquement.
- 3. Circuit intégré (1) selon la revendication précédente, lequel est muni de moyens de détection d’une tension aux broches (3a, 3b) du deuxième système d’alimentation (3) électrique, de moyens de mise en position ouverte des microinterrupteurs (4a, 4b) du premier système d’alimentation (2) électrique et de moyens de mise en position fermée des micro-interrupteurs (5a, 5b) du deuxième système d’alimentation (3) électrique dès qu’une tension aux broches (3a, 3b) du deuxième système d’alimentation (3) électrique est détectée.
- 4. Circuit intégré (1) selon la revendication 2 ou 3, lequel est muni de moyens de détection d’une tension aux bornes (2a, 2b) du premier système d’alimentation (2) électrique, de moyens de mise en position ouverte des micro-interrupteurs (5a, 5b) du deuxième système d’alimentation (3) électrique et de moyens de mise en position fermée des micro-interrupteurs (4a, 4b) du premier système d’alimentation (2) électrique dès qu’une tension aux bornes (2a, 2b) du premier système d’alimentation (2) électrique est détectée.
- 5. Carte électronique, caractérisée en ce qu’elle comprend au moins un circuit intégré (1) selon l’une quelconque des revendications précédentes.
- 6. Procédé de test d’un circuit intégré (1) selon l’une quelconque des revendications 1 à 4 ou d’un circuit intégré (1) logé dans une carte électronique selon la revendication 5, des impulsions de stimulation de test étant envoyées par un appareil de test au circuit intégré (1), l’appareil de test étant connecté électriquement au circuit intégré (1) pendant le test, caractérisé en ce que l’appareil de test est connecté électriquement au circuit intégré (1) par le deuxième système d’alimentation (3) parallèlement au premier système d’alimentation (2), le premier système d’alimentation (2) étant maintenu en position ouverte.
- 7. Procédé selon la revendication précédente, lequel comprend les étapes suivantes : • connexion d’un appareil de test aux broches (3a, 3b) respectivement positive et de masse du deuxième système d’alimentation (3) électrique, • ouverture du premier système d’alimentation (2) électrique et fermeture du deuxième système d’alimentation (3) électrique dès que cette connexion est réalisée, • mise en œuvre du test par l’envoi d’impulsions de stimulation de l’appareil de test vers le circuit intégré (1) via le deuxième système d’alimentation (3) électrique, • après complétion du test, ouverture du deuxième système d’alimentation (3) électrique, • déconnexion de l’appareil de test des broches (3a, 3b) respectivement positive et de masse du deuxième système d’alimentation (3) électrique, et • fermeture du premier système d’alimentation (2) électrique.
- 8. Dispositif de test pour la mise en œuvre du procédé selon la revendication précédente, le dispositif comprenant un générateur d’impulsions de stimulation envoyant les impulsions de stimulation vers le circuit intégré (1), des moyens de réception des réponses du circuit intégré (1) suite aux impulsions de stimulation, caractérisé en ce qu’il comprend des moyens de contact électrique (10a, 10b) avec chaque broche (3a, 3b) du deuxième système d’alimentation (3) électrique du circuit intégré (1) et référencés sur une alimentation de test.
- 9. Dispositif de test selon la revendication précédente, dans lequel les moyens de contact électrique (10a, 10b) sont sous la forme d’un organe de contact porté par l’appareil se positionnant sur chaque broche (3a, 3b) ou d’un fil soudé à chaque broche (3a, 3b) et raccordé au générateur d’impulsions.
- 10. Dispositif de test selon la revendication précédente, dans lequel chaque organe de contact (10a, 10b) est sous la forme d’une pince munie de deux mâchoires intercalant entre elles une broche (3a, 3b) respective du deuxième système d’alimentation (3) électrique du circuit intégré (1).
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