FR2835683A1 - Procede et dispositif de correction de defauts variant dans le temps dans un systeme d'imagerie thermique infrarouge - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 31
- 238000001931 thermography Methods 0.000 title claims description 19
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 69
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 41
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 31
- 238000012800 visualization Methods 0.000 claims description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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-
- H—ELECTRICITY
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- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/33—Transforming infrared radiation
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
- H04N25/683—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects by defect estimation performed on the scene signal, e.g. real time or on the fly detection
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
Un processeur d'image (30) reçoit des signaux vidéo numériques représentant une image, provenant d'un capteur infrarouge (10) et détermine si un premier pixel de l'image est probablement un défaut. Si c'est le cas, le nombre de déterminations de défaut pour le premier pixel est compté et la valeur de comptage est comparée à un nombre de seuil. Si la valeur de comptage est inférieure ou égale au nombre de seuil, le processeur d'image reçoit des signaux vidéo numériques représentant une image suivante et détermine si le premier pixel de l'image suivante est probablement un défaut. Si la valeur de comptage dépasse le nombre de seuil, le premier pixel est enregistré comme un défaut et est corrigé.
Description
des deux zones latérales. La présente invention concerne de façon générale
un système d'imagerie thermique infrarouge, et en particulier un procédé et un dispositif pour corriger un défaut variant dans le temps par la comparaison de corrélations entre des pixels dans un détecteur infrarouge. Un système d'imagerie thermique infrarouge détecte au moyen d'une caméra infrarouge une faible différence dans l'énergie infrarouge émise par un objet, convertit la différence en un signal électrique, et le représente sous la forme d'une image. La différence d'énergie infrarouge augmente proportionnellement à une différence de température dans l'objet. Ceci signifie que des objets de température différente peuvent être représentés sous la forme d' images thermiques. Le système d'imagerie thermique infrarouge est largement utilisé dans des applications industriel les tel les que la détect ion de pertes thermiques dans des immeubles, la mesure de la masse totale à l'intérieur d'une cuve de stockage, la détection de défauts dans des lignes de transmission, et la surveillance dans un but de sécurité. Ses utilisations ont été récemment étendues à l' inspection et l'analyse d'une carte de circuit imprimé, la prévision météorologique basoe sur des
satellites et des dispositifs médicaux.
Un détecteur infrarouge dans le système d'imagerie thermique infrarouge convertit des différences d'énergie infrarouges détectées par une caméra infrarouge en composantes de tension à chaque période d' image, et il fournit en sortie les composantes de tension sous la forme de signaux vidéo infrarouges analogiques. En général, le détecteur infrarouge présente des caractéristiques de sortie spatiales non uniformes et produit un signal de sortie légèrement différent à chaque pixel pour la même température d'entrée. En outre, le détecteur infrarouge peut ne produire aucun signal de sortie ou produire des signaux de sortie instables à certains pixels. Du fait de la dégradation de la qualité d' image résultante, le système d'imagerie thermique infrarouge corrige les signaux vidéo
infrarouges par un traitement de signal particulier.
On peut adopter deux procédés pour améliorer la qualité d' image dans le système d'imagerie thermique infrarouge, conformément à des instants de correction et à la continuité de correction. L'un des procédés consiste à corriger initialement des défauts une seule fois dans une correction de non-linéarité à un point et une correction de non-linéarité à deux points. L'autre procédé consiste à calculer des variations de gain et de décalage pour tous les pixels et à actualiser des valeurs de gain et de
décalage précédentes dans le détecteur infrarouge.
Conformément au premier procédé d'amélioration de qualité d' image, on calcule la non-linéarité d'un pixcl en utilisant des signaux vidéo acquis à partir d'un objet à température uniformément élevée (source de référence de température élevée) et d'un objet à température uniformément basse (source de référence de température basse). La figure 1 est une représentation graphique montrant la caractéristique de sortie du détecteur infrarouge à chaque pixel. Comme illustré sur la figure 1, le détecteur infrarouge a une courbe caractéristique de température - signal de sortie, à chaque pixel, qui présente une variation progressive. La courbe caractéristique température - signal de sortie peut être simplifice sous la forme d'une ligne en reliant un signal de sortie à la température moyenne de la source de référence de température basse, à un signal de sortie à la température moyenne de la source de référence de température élevée. L'inclinaison et l'ordonnée à l'origie de la ligne sont respectivement le gain et le décalage du pixel. Par conséquent, on peut corriger la non-linéarité de chaque image en multipliant les gains des pixels dans l' image par leurs niveaux de visualisation, et en
additionnant ensuite leurs décalages au produit.
Un pixel ayant une très faible différence entre les niveaux de visualisation à température élevée et à température basse, ou un pixel présentant un niveau de visualisation élevé à température basse et un faible niveau de visualisation à température élevée est défini comme un défaut. Le défaut est corrigé une seule fois à une correction de nonlinéarité initiale par un algorithme de correction de défaut particulier, du fait qu'il n'est pas
éliminé par la correction de non-linéarité ci-dessus.
Cependant, les caractéristiques de sortie du détecteur infrarouge peuvent varier au cours du temps et il en résulte que des pixels qui ne sont pas déterminés comme
étant des défauts au moment de la correction de non-
linéarité initiale deviennent des défauts au fur et à mesure que le temps passe. Ces défauts sont appelés des défauts variant dans le temps. Pour corriger les défauts variant dans le temps, il serait nécessaire d'établir de nouvelles sources de référence de température élevée et de
température basse, et d'actualiser le gain et le décalage.
L'autre procédé d'amélioration de qualité d' image consiste à actualiser le gain et le décalage en calculant le gain et le décalage de chaque image, en considérant que les caractéristiques de sortie du détecteur infrarouge varient au cours du temps. Bien que des défauts variant dans le temps puissent être corrigés dans une certaine mesure par ce procédé, l'actualisation du gain et du décalage à chaque image exige un grand volume de calcul, rend la réal i sat ion logique difficile et occas ionne un
phénomène de flou pour une image fixe.
Un but de la présente invention est donc de procurer un procédé et un dispositif pour corriger des
défauts variant dans le temps dans un détecteur infrarouge.
Un autre but de la présente invention est de procurer un procédé et un dispositif pour corriger des défauts variant dans le temps par la comparaison de
corrélations entre des pixcls dans un détecteur infrarouge.
Les buts de la présente invention indiqués ci dessus, ainsi que d'autres, sont atteints en proeurant un procédé de correction de défauts variant dans le temps dans un système d'imagerie thermique infrarouge. Conformément à un aspect de la présente invention, dans un procédé de correction de défauts variant dans le temps, des signaux vidéo numériques représentant une image sont requs et il est déterminé si un premier pixal de l' image est probablement un défaut. Si le premier pixel est probablement un défaut, le nombre de déterminations de défaut pour le premier pixel est compté et la valeur de comptage est comparée avec un nombre de seuil. Si la valeur de comptage est égale ou inférieure au nombre de seuil, des signaux vidéo numériques représentant une image suivante sont requs et il est déterminé si le premier pixel dans l' image suivante est probablement un défaut. Si la valeur de comptage dépasse le nombre de seuil, le premier pixel
est enregistré comme un défaut et est corrigé.
Selon un autre aspect de la présente invention, dans un procédé de correction de défauts variant dans le temps, des signaux vidéo numériques représentant une image sont requs et les valeurs de transition d'un premier pixel dans l' image sont calculées par rapport à au moins deux pixels adjacents au premier pixel. Si les valeurs de transition dépassent une valeur de transition de seuil, le niveau de visualisation moyen des pixals adjacents est calculé, et la différence entre le niveau de visualisation moyen calculé et le niveau de visualisation moyen des pixels adjacents dans une image précédente est calaulé. Si la différence dépasse une différence moyenne de seuil, le nombre de déterminations de défauts qui sont effectuées pour le premier pixel est compté. Si la valeur de comptage est égale ou inférieure à un nombre de seuil, des signaux vidéo numérique s repré sent ant une image suivant e sont requs et les valeurs de transition du premier pixel dans l' image suivante sont calculées par rapport à au moins deux des pixels adjacents au premier pixel. Si la valeur de comptage dépasse le nombre de seuil, le premier pixel est enregistré
comme un défaut et est corrigé.
Conformément à un but supplémentaire de la présente invention, dans un dispositif de correction de défauts variant dans le temps, une première mémoire reçoit des signaux vidéo numériques représentant une image, à chaque période d' image. Un processeur d' image détermine si un premier pixel provenant de l' image est probablement un défaut, compte le nombre de déterminations de défauts pour le premier pixel si le premier pixel est probablement un défaut, compare la valeur de comptage avec un nombre de seuil, repoit des signaux vidéo numériques représentant une image suivante et détermine si le premier pixel dans l' image suivante est probablement un défaut, si la valeur de comptage est égale ou inférieure au nombre de seuil, et enregistre le premier pixel comme un défaut et corrige le défaut, si la valeur de comptage dépasse le nombre de seuil. Une seconde mémoire stocke l 'emplacement du premier
pixel enregistré comme un défaut.
Les buts, caractéristiques et avantages de la présente invention indiqués ci-dessus, ainsi que d'autres,
ressortiront davantage de la description détaillée qui va
suivre, qui est à lire en se référant conjointement aux dessins annexés, dans lesquels: La figure 1 est une représentation graphique montrant une caractéristique de sortie à chaque pixcl dans un détecteur infrarouge; La figure 2 est un schéma synoptique d'un système d'imagerie thermique infrarouge auquel la présente invention est appliquée; La figure 3 est un organigramme illustrant une opération de correction de défauts variant dans le temps, conforme à un mode de réalisation de la présente invention; La figure 4 illustre un pixel détecté provenant d'une mémoire d' image, et ses pixels adJacents; et La figure S illustre la correction de pixels
enregistrés comme des défauts.
On va maintenant décrire ci-dessous un mode de réalisation préféré de la présente invention, en se
référant aux dessins annexés. Dans la description suivante,
des fonctions ou des structures bien connues ne sont pas décrites en détail, du fait qu'elles obscurciraient
l' invention par des détails inutiles.
La figure 2 est un schéma synoptique d'un systèe d'imagerie thermique infrarouge auquel la présente invention est appliquce. En se référant à la figure 2, on note qu'un capteur infrarouge 10 détecte au moyen d'une caméra infrarouge de la lumière infrarouge émise par un objet, et fournit en sortie des signaux vidéo infrarouges représentant les niveaux de visualisation de pixels conformément à la résolution. Les signaux vidéo infrarouge sont convertis dans un convertisseur analogique-numérique (CAN) 29 en signaux vidéo numériques ayant chacun un nombre
de bits prédéterminé à chaque période d' image.
Un processeur d' image 30 effectue un traitement de signal prédéterminé nécessaire pour visualiser les signaux vidéo numériques sous la forme d'une image. Un convertisseur numérique-analogique (CNA) 40 convertit les signaux vidéo numériques traités en signaux vido analogiques et il les fournit à un dispositif de visualisation 50 pour qu'il soient visualisés sous la forme
d'une image.
Pour le traitement de signal prédéterminé, le processeur d' image 30 calcule le gain et le décalage de chaque pixel. Les gains et les décalages sont stockés sous
la forme d'une liste dans une mémoire de gain/décalage 36.
Une mémoire d' image 38 stocke les signaux vidéo numériques reçus à partir du CAN 20, sur la base d'une image, et elle fournit ensuite au processeur d' image 30 les signaux vidéo numériques stockés. Le processeur d' image 30 détermine s'il y a des pixels défectueux (c'est-à- dire des défauts) dans l' image, pendant que le système d'imagerie thermique infrarouge fonctionne, et il enregistre les emplacements ou les adresses de pixels défectueux dans la mémoire de gain /
décalage 36.
De façon spécifique, le processeur d' image 30 lit des signaux vidéo numériques dans la mémoire d' image 38, en procédant image par image, et il traite les signaux vidéo numériques par correction de non-linéarité, correction de défaut, etc. Les niveaux de visualisation de pixel normaux sont multipliés par leurs gains et additionnés à leurs décalages, pour la correction de non-linéarité, tandis que des pixels défectueux sont corrigés par le procédé de
correction de défauts décrit ci-dessus.
Avant une description détaillée de la présente
invention, on décrira ci-dessous le principe de la
détection de défauts variant dans le temps.
Dans un système d'imagerie thermique infrarouge, un défaut s'exprime sous la forme d'un point isolé ayant un niveau de visualisation presque constant, indépendamment d'un changement de température dans un objet. Ce défaut a habituellement des composantes de transition dans toutes les directions, lorsqu'on le compare à huit pixels adjacents au pixel défectueux dans des directions verticale, horizontale et diagonale. Même si le niveau de visualisation des pixels adjacents varie, le niveau de visualisation du pixel défectueux est maintenu inchangé. On appelle ici composante de transition la différence entre les niveaux de visualisation du pixel défectueux et de son pixel adjacent. Si un pixel a certaines ou la totalité des valeurs de transition supérieures à une valeur de transition de seuil prédéterminée, on peut dire que le
pixel est probablement un défaut.
Dans le cas d'une image ayant un mouvement lent, un pixel normal peut être considéré comme un défaut dans le procédé ci-dessus, du fait qu'un objet exprimé sous la forme d'un point peut conserver la même position de pixel dans des images successives. Pour éviter une telle situation, on détermine finalement un pixel comme étant un défaut si le pixel a des valeurs de transition supérieures à la valeur de transition de seuil dans un nombre prédéterminé d' images successives, bien que le niveau de visualisation de ses pixels adjacents change. La figure 3 est un organigramme illustrant une opération de correction de défauts variant dans le temps
conforme à un mode de réalisation de la présente invention.
En se référant à la figure 3, on note que des signaux vidéo numériques reçus à partir du CAN 20 sont stockés dans -la mémoire d' image 38, image par image, à l'étape S110. Pour détecter un défaut variant dans le temps, le processeur d' image 30 lit un premier pixel dans l' image entière présente ou dans une zone prédétermince de l' image présente, à l'étape S120, et il calaule les valeurs de transition du premier pixel par rapport à ses pixels
adjacents, à l'étape S130.
La figure 4 illustre un pixel qui est lu dans la mémoire d' image 38 et ses pixels adjacents. En se référant à la figure 4, on note qu'un pixel b2 est adjacent à des pixels a2 et c2 dans une direction verticale, à des pixels bl et b3 dans une direction horizontale, et à des pixels al, c3, a3 et cl dans une direction diagonale. On suppose que les caractères de référence al à c3 désignent également les niveaux de visualisation des pixels correspondants. Les valeurs de transition verticale, horizontale et diagonale du pixel b2 sont alors respectivement: |2xb2-(a2+c2)|,
|2xb2-(bl+b3)1, et |2xb2-(al+c3)1 & |2xb2-(a3+cl)|.
Les valeurs de transition sont comparées avec une
valeur de transition de seuil prédéterminée à l'étape S140.
Si toutes les valeurs de transition dépassent la valeur de transition de seuil, on détermine que le pixel est probablement un défaut. On peut exprimer ceci sous la forme: |2xb2-(a2+c2)| > EDGE_THR |2xb2-(bl+b3)| > EDGE_THR |2xb2-(al+c3)| > EDGE_THR |2xb2-(a3+cl)| > EDGE_THR (1) dans laquelle al à c3 sont les niveaux de visualisation du premier pixel et de ses pixels adjacents, et EDGE_THR est la valeur de transition de seuil. On peut en outre envisager à titre d'autre mode de réalisation qu'on détermine qu'un pixel est probablement un défaut si deux au moins de ses valeurs de transition
dépassent la valeur de transition de seuil.
Si l'une au moins des valeurs de transition est inférieure ou égale à la valeur de transition de seuil, on détermine que le pixel est un pixel normal. Ensuite, le processeur d' image 30 prend un second pixel dans l' image présente, à l'étape S145, et il répète la procédure de
détection de défaut aux étapes S130 et S140.
Au contraire, si toutes les valeurs de transition dépassent la valeur de transition de seuil, le processeur d' image 30 calcule le niveau de visualisation moyen des pixels adjacents et la différence entre le niveau de visualisation moyen présent et la valeur de visualisation moyenne des pixels aux mêmes emplacements dans l' image précédente, à l'étape S150. La différence de niveau de visualisation moyen AVG_DIFF est calculée par: AVG DIF (al+a2+a3+bl+b3+cl+c2+c3) _ 8 _ (al'+a2'+a3'+bl'+b3'+cl'+c2'+c3') avec les notations suivantes: al, a2, a3, bl, b3, cl, c2 et c3 désignent les niveaux de visualisation des pixels adjacents dans l' image présente, et al', a2', a3', bl', b3', cl', c2' et c3' déaignent les niveaux de visualisation des pixels aux mêmes emplacements dans l' image précédente. Le niveau de visualisation moyen présent calaulé à l'étape S150 est stocké pour être utilisé dans la détection de
défaut suivante.
La différence de niveau de visualisation moyen est comparce avec une différence moyenne de seuil à l'étape S160. La différence moyenne de seuil est obtenue de façon empirique ou est fixée à une valeur arbitraire. Si la détection de défauts variant dans le temps est effectuce avant que le système d'imagerie thermique infrarouge soit mis sur le marché, la différence moyenne de seuil est fixce à une valeur relativement basse, et une image thermique est introduite à partir d'une source de référence ayant globalement une température uniforme. Dans le cas d'une image thermique relativement active, la différence moyenne de seuil est fixée à une valeur élevoe, tandis que dans le cas d'une image thermique relativement stationnaire, la différence moyenne de seuil est fixée à une valeur basse,
pour augmenter ainsi l'exactitude de détection de défauts.
Si la différence de niveau de visualisation moyenne est égale ou inférieure à la différence moyenne de seuil à l'étape S160, on détermine que le pixel est un pixel normal. Ensuite, le processeur d' image 30 prend le second pixel dans l' image présente à l'étape S145 et il répète la procédure de détermination de défaut aux étapes S130 à S160. Au contraire, si le niveau de visualisation moyen dépasse la différence moyenne de seuil à l'étape S160, le processeur d' image 30 enregistre le pixel comme étant un pseuJo-défaut et augmente d'une unité, à l'étape S170, une valeur de comptage indiquant le nombre de détections de défaut pour le pixel. L'enregistrement du pixel comme un pseudo-défaut signifie que l 'emplacement de pixel n'est pas réellement stocké dans la mémoire de gain / décalage 36, mais le nombre de détections de défaut pour le pixel est compté. La valeur de comptage est comparée avec un nombre de seuils CNT_THR à l'étape S180. Si la valeur de comptage est inférieure au nombre de seuil, le processeur d' image 30 reçoit des signaux vidéo numériques représentant l' image suivante et détecte le pixel dans la même position à l'étape S185, et il répète les étapes S120 à S180 afin de déterminer de façon plus exacte si le pixel est également
probablement un défaut.
Si la valeur de comptage est égale au nombre de seuil, le processeur d' image 30 détermine que le pixel est un défaut et il enregistre le pixel comme un défaut dans la mémoire de gain / décalage 36 et il corrige le défaut par
le procédé de correction de défaut, à l'étape S190.
Ensuite, le processeur d' image 30 remet à zéro la valeur de comptage, reçoit les signaux vidéo numériques de l' image suivante, et prend le second pixel dans l' image suivante à
l'étape S195, et il répète ensuite les étapes S120 à S190.
Il y a de nombreuses manières de corriger le défaut à l'étape S190. Par exemple, un pixel enregistré comme un défaut est corrigé en remplagant son niveau de visualisation par le niveau de visualisation de l'un de ses pixels adjacents. Dans le cas d'un seul défaut, le détaut est corrigé en remplagant son niveau de visual isat ion par le niveau de visual isation moyen des
pixels adjacents, comme illustré sur la figure 5.
En se référant à la figure 5, on note qu'un pixel ayant un niveau de visualisation très supérieur à ses pixels adjacents est appelé un défaut blanc, tandis qu'un pixel ayant un niveau de visualisation très inférieur à ses pixels adjacents est appelé un défaut noir. Si un n-ième pixel est enregistré comme un défaut blanc ou un défaut noir, le n-ième pixel est corrigé en remplagant son niveau de visualisation x[n] par le niveau de visualisation moyen
(x[n-1] x x[n+1]/2) de ses pixels adjacents horizontaux.
Ici, x[n-1] et x[n+1] sont les niveaux de visualisation des
pixels adjacents horizontaux.
Conformément à la présente invention décrite ci dessus, des défauts variant dans le temps sont effectivement détectés et corrigés dans un système dimagerie thermique infrarouge, ce qui améliore la qualité d' image et les performances du système. En outre, la mise en oeuvre logique est aisce et le volume de matériel est réduit. Il en résulte que le système d'imagerie thermique infrarouge peut être réalisé sous une petite taille, avec
des performances élevées et un faible coût.
Il va de soi que de nombreuses modifications peuvent être apportées au dispositif et au procédé décrits
et représentés, sans sortir du cadre de l'invention.
Claims (17)
1. Procédé de correction de défauts variant dans le temps dans un système d'imagerie thermique infrarouge, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes: (1) on reçoit (S110) des signaux vidéo numériques représentant une image; (2) on détermine si un premier pixel de l' image est probablement un défaut; (3) on compte (S170) le nombre de déterminations de défaut pour le premier pixel si le premier pixel est probablement un défaut; (4) on compare (S180) la valeur de comptage avec un nombre de seuil; (5) on reçoit (S185) des signaux vidéo numériques représentant une image suivante et on détermine si le premier pixel dans limage suivante est probablement un défaut, si la valeur de comptage est inférieure ou égale au nombre de seuil; et (6) on enregistre (S190) le premier pixel comme un défaut et on corrige le premier défaut, si la valeur de comptage
dépasse le nombre de seuil.
2. Procédé de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'étape (2) comprend les étapes suivantes: on calcule (S130) les valeurs de transition du premier pixel par rapport à au moins deux pixels adjacents au premier pixel; et on détermine (S140) que le premier pixel est probablement un défaut si les valeurs de transition
dépassent le nombre de seuil.
3. Procédé de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'étape (2) comprend les étapes suivantes: on calcule (S130) les valeurs de transition du premier pixcl par rapport à au moins deux pixels adjacents au premier pixel; on calcule le niveau de visual i sat ion moyen des pixel s adjacents si les valeurs de transition dépassent le nombre de seuil; on calaule (S150) la différence entre le niveau de visualisation moyen calculé et le niveau de visualisation moyen des pixels adjacents dans une image précédente; et on détermine (S160) que le premier pixel est probablement un défaut si la différence dépasse une
différence moyenne de seuil prédéterminée.
4. Procédé de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 2, caractérisé en ce que ls valeurs de transition du premier pixel par rapport aux deux pixels adjacents, au moins, sont calaulées par |2XA-(B+C)I, en désignant par A le niveau de visualisation du premier pixel et par B et C les niveaux de visualisation de pixels adjacents au premier pixcl dans une direction verticale,
horizontale ou diagonale.
5. Procédé de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 3, caractérisé en ce que les valeurs de transition du premier pixel par rapport aux deux pixels adjacents, au moins, sont calculées par |2XA-(B+C)I, en désignant par A le niveau de visualisation du premier pixel et par B et C les niveaux de visualisation de pixels adjacents au premier pixel dans une direction verticale,
horizontale ou diagonale.
6. Procédé de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 3, caractérisé en ce que la différence moyenne de seuil est fixée par un fabricant ou un utilisateur conformément à l'uniformité de température
et au dogré de mouvement d'une image thermique d'entrée.
7. Procédé de correction de défauts variant dans le
temps selon l'une quelconque des revendications 1, 2 et 3,
caractérisé en ce qu'il comprend en outre l'étape consistant à déterminer si un second pixel dans l' image est probablement un défaut, dans le cas o le premier pixel
nest pas probablement un défaut à l'étape (2).
8. Procédé de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on corrige le défaut en remplaçant le niveau de visualisation du premier pixel enregistré comme un défaut par le niveau
de visualisation moyen des pixels adjacents.
9. Procédé de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on corrige le défaut en remplaçant le niveau de vi sual i sat ion du pixel enregistré comme un défaut par le niveau de
visualisation de l'un des pixels adjacents.
10. Procédé de correction de défauts variant dans le temps dans un système d'imagerie thermique infrarouge, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes: on reçoit (S110) des signaux vidéo numériques représentant une image; on calcule (S130) les valeurs de transition d'un premier pixel dans l' image par rapport à au moins deux pixels adjacents au premier pixel; on compte (S170) le nombre de déterminations de défaut effectuées pour le premier pixel si les valeurs de transition dépassent une valeur de transition de seuil; on reçoit (S185) des signaux vidéo numériques représentant une image suivante et on calcule les valeurs de transition du premier pixel dans ltimage suivante par rapport à au moins deux des pixels adjacents au pixel, si la valeur de comptage est inférieure ou égale à un nombre de seuil; et on enregistre (S190) le premier pixel comme un défaut et on corrige le défaut, si
la valeur de comptage dépasse le nombre de seuil.
11. Procédé de correction de défauts variant dans le temps dans un système d'imagerie thermique infrarouge, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes: on reçoit (S110) des signaux vidéo numériques représentant une image; on calcule (S130) les valeurs de transition d'un premier pixel dans l' image par rapport à au moins deux des pixels adjacents au premier pixel; on caloule le niveau de visualisation moyen des pixels adjacents si les valeurs de transition dépassent une valeur de transition de seuil; on calcule (S150) la différence entre le niveau de visual isation moyen calculé et le niveau de visual isation moyen des pixcls adjacents dans une image précédente; on compte (S170) le nombre de déterminations de défaut effectuées pour le premier pixel si la différence dépasse une différence moyenne de seuil; on reçoit (S185) des signaux vidéo numériques représentant une image suivante et on calcule les valeurs de transition du premier pixel dans l' image suivante par rapport à au moins deux des pixels adjacents au premier pixel, si la valeur de comptage est inférieure ou égale à un nombre de seuil; et on enregistre (S190) le premier pixel comme un défaut et on corrige le défaut, si la valeur de comptage dépasse le nombre de seuil.
12. Dispositif de correction de défauts variant dans le temps dans un système d'imagerie thermique infrarouge, caractérisé en ce qu'il comprend: une première mémoire (38) pour recevoir des signaux vidéo numériques représentant une image à chaque période d' image; un processeur d' image (30) pour déterminer si un premier pixel provenant de l' image est probablement un défaut, compter le nombre de déterminations de défaut pour le premier pixel si le premier pixcl est probablement un défaut, comparer la valeur de comptage avec un nombre de seuil, recevoir des s ignaux vi déo numérique s représent ant une image suivante et déterminer si le premier pixel dans l' image suivante est probablement un défaut, dans le cas o la valeur de comptage est inférieure ou égale au nombre de seuil, et enregistrer le premier pixel comme un défaut et corriger le défaut, si la valeur de comptage dépasse le nombre de seuil; et une seconde mémoire pour stocker la position du
premier pixel enregistré comme un défaut.
13. Dispositif de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 12, caractérisé en ce que le processeur d' image (30) calcule les valeurs de transition du premier pixel par rapport à au moins deux des pixels adjacents au premier pixel, et détermine que le premier pixel est probablement un défaut si les valeurs de
transition dépassent le nombre de seuil.
14. Dispositif de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 12, caractérisé en ce que le processeur d' image (30) calaule les valeurs de transition du premier pixel par rapport à au moins deux des pixels adjacents au premier pixel, calcule le niveau de visualisation moyen des pixels adjacents si les valeurs de transition dépassent le nombre de seuil, calcule la di fférence entre le niveau de visual isat ion moyen calculé et le niveau de visualisation moyen des pixels adjacents dans une image précédente, et détermine que le premier pixel est probablement un défaut si la différence dépasse
une différence moyenne de seuil prédétermince.
15. Dispositif de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 14, caractérisé en ce que la différence moyenne de seuil est fixée par un fabricant ou un utilisateur conformément à l'uniformité de température et au degré de mouvement d'une image thermique d'entrée.
16. Dispositif de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 12, caractérisé en ce que le processeur d' image (30) corrige le défaut en remplagant le niveau de visualisation du premier pixel enregistré comme un défaut par le niveau de visualisation
moyen des pixels adjacents.
17. Dispositif de correction de défauts variant dans le temps selon la revendication 12, caractérisé en ce que le processeur d' image (30) corrige le défaut en remplaçant le niveau de visualisation du premier pixel enregistré comme un défaut par le niveau de visualisation
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0007107A KR100407158B1 (ko) | 2002-02-07 | 2002-02-07 | 적외선 열상장비의 시변결점 보상방법 및 장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2835683A1 true FR2835683A1 (fr) | 2003-08-08 |
| FR2835683B1 FR2835683B1 (fr) | 2005-03-04 |
Family
ID=19719164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR0206361A Expired - Fee Related FR2835683B1 (fr) | 2002-02-07 | 2002-05-24 | Procede et dispositif de correction de defauts variant dans le temps dans un systeme d'imagerie thermique infrarouge |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20030146975A1 (fr) |
| KR (1) | KR100407158B1 (fr) |
| FR (1) | FR2835683B1 (fr) |
| GB (1) | GB2385226B (fr) |
Families Citing this family (57)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2002-02-07 KR KR10-2002-0007107A patent/KR100407158B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2002-05-24 GB GB0211999A patent/GB2385226B/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-05-24 FR FR0206361A patent/FR2835683B1/fr not_active Expired - Fee Related
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| GB0211999D0 (en) | 2002-07-03 |
| KR100407158B1 (ko) | 2003-11-28 |
| GB2385226A (en) | 2003-08-13 |
| GB2385226B (en) | 2004-02-25 |
| FR2835683B1 (fr) | 2005-03-04 |
| KR20030067216A (ko) | 2003-08-14 |
| US20030146975A1 (en) | 2003-08-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| ST | Notification of lapse |
Effective date: 20090119 |