KR101007405B1 - 열상 검출기의 화소 보정 장치 및 방법 - Google Patents
열상 검출기의 화소 보정 장치 및 방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 열상 검출기의 소프트 결함 화소 보정 방법을 나타낸 순서도.
Claims (10)
- 열상 검출기의 화소 보정 장치에 있어서,
피사체를 촬영하는 촬영부와,
상기 피사체를 촬영한 다수의 프레임들을 저장하는 저장부와,
상기 저장된 다수의 프레임들의 동일 위치에 존재하는 임의 화소의 평균과 표준 편차를 계산하고, 상기 다수의 프레임들의 동일 위치에 존재하는 모든 화소의 표준편차의 평균을 계산하는 계산부와,
상기 계산된 임의 화소의 표준 편차와 상기 표준 편차의 평균을 비교하여 불량 화소를 판단하고 보정하는 제어부를 포함하는 열상 검출기의 화소 보정 장치.
- 제1 항에 있어서, 상기 제어부는
상기 계산된 임의 화소의 표준 편차가 상기 표준 편차의 평균에 임의의 상수를 곱한 값 이상이면, 상기 임의 화소를 불량 화소로 판단하는 열상 검출기의 화소 보정 장치.
- 제1 항에 있어서, 상기 제어부는
상기 계산된 임의 화소의 표준 편차가 상기 표준 편차의 평균에 임의의 상수를 곱한 값보다 미만이면, 상기 임의 화소를 정상 화소로 판단하는 열상 검출기의 화소 보정 장치.
- 열상 검출기의 화소 보정 방법에 있어서,
피사체를 촬영하는 과정과,
상기 피사체를 촬영한 다수의 프레임들을 저장하는 과정과,
상기 저장된 다수의 프레임들의 동일 위치에 존재하는 임의 화소의 평균과 표준 편차를 계산하고, 상기 다수의 프레임들의 동일 위치에 존재하는 모든 화소의 표준편차의 평균을 계산하는 과정과,
상기 계산된 임의 화소의 표준 편차와 상기 표준 편차의 평균을 비교하여 불량 화소를 판단하고 보정하는 과정을 포함하는 열상 검출기의 화소 보정 방법.
- 제6 항에 있어서, 상기 판단 과정은
상기 계산된 임의 화소의 표준 편차가 상기 표준 편차의 평균에 임의의 상수를 곱한 값 이상이면, 상기 임의 화소를 불량 화소로 판단함을 특징으로 하는 열상 검출기의 화소 보정 방법.
- 제6 항에 있어서, 상기 판단 과정은
상기 계산된 임의 화소의 표준 편차가 상기 표준 편차의 평균에 임의의 상수를 곱한 값보다 미만이면, 상기 임의 화소를 정상 화소로 판단함을 특징으로 하는 열상 검출기의 화소 보정 방법.
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KR1020100049348A KR101007405B1 (ko) | 2010-05-26 | 2010-05-26 | 열상 검출기의 화소 보정 장치 및 방법 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101840837B1 (ko) * | 2017-12-06 | 2018-03-21 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 적외선 검출기의 온도에 따른 불량화소 검출장치 및 방법 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000018762A (ko) * | 1998-09-04 | 2000-04-06 | 최동환 | 적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법 |
KR20030067216A (ko) * | 2002-02-07 | 2003-08-14 | 삼성탈레스 주식회사 | 적외선 열상장비의 시변결점 보상방법 및 장치 |
-
2010
- 2010-05-26 KR KR1020100049348A patent/KR101007405B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000018762A (ko) * | 1998-09-04 | 2000-04-06 | 최동환 | 적외선검출기의 디지탈 보정 장치 및 방법 |
KR20030067216A (ko) * | 2002-02-07 | 2003-08-14 | 삼성탈레스 주식회사 | 적외선 열상장비의 시변결점 보상방법 및 장치 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101840837B1 (ko) * | 2017-12-06 | 2018-03-21 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 적외선 검출기의 온도에 따른 불량화소 검출장치 및 방법 |
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