FR2811429A1 - Procede et appareil pour evaluer un signal de test par courant de foucault - Google Patents

Procede et appareil pour evaluer un signal de test par courant de foucault Download PDF

Info

Publication number
FR2811429A1
FR2811429A1 FR0103089A FR0103089A FR2811429A1 FR 2811429 A1 FR2811429 A1 FR 2811429A1 FR 0103089 A FR0103089 A FR 0103089A FR 0103089 A FR0103089 A FR 0103089A FR 2811429 A1 FR2811429 A1 FR 2811429A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
eddy current
current test
test signal
value
characteristic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR0103089A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2811429B1 (fr
Inventor
Kayoko Kawata
Masaaki Kurokawa
Yoshihiro Asada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Publication of FR2811429A1 publication Critical patent/FR2811429A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2811429B1 publication Critical patent/FR2811429B1/fr
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

Un procédé pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault est proposé. Le procédé inclut les étapes consistant à générer une valeur de caractéristique (3) sur la base d'un signal de test par courant de Foucault échantillon obtenu en mesurant un spécimen standard, la valeur de caractéristique incluant une caractéristique qui est hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre qu'une profondeur du défaut et qui affecte la forme d'onde du signal; à générer un paramètre d'évaluation (I) en utilisant la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport à des données de réponse correcte pour le signal de test par courant de Foucault échantillon et à estimer la profondeur d'un défaut, exprimée au moyen d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle, en utilisant le paramètre d'évaluation.

Description

ARRIÈRE-PLAN DE L'INVENTION
Domaine de l'invention La présente invention concerne un procédé et un appareil permettant l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault (ou ECT). De façon davantage spécifique, la présente invention concerne les procédé et appareil de ce type qui sont utiles lorsqu'ils sont appliqués à la détection d'un défaut en utilisant un capteur de test par courant de Foucault sur un système à multiples bobines ou multibobine, sur un
système de rotation ou sur un système de balayage bidimensionnel (ci-
après appelé système multibobine ou similaire).
Description de l'art antérieur
Le test par courant de Foucault est connu en tant que procédé pour un test non destructeur d'un métal. Ce procédé met en jeu la génération d'un courant de Foucault dans un élément destiné à être mesuré, au moyen d'un flux magnétique qui est généré par une bobine qui reçoit en application un courant d'excitation, et l'obtention d'un signal de test par courant de Foucault sur la base d'un flux magnétique qui est généré par le courant de Foucault en tant que signal de sortie depuis la bobine. Le signal de test par courant de Foucault reflète l'emplacement, la forme. la profondeur etc... d'un défaut qui existe dans l'élément destiné à être mesuré. Sur la base de ce signal de test par courant de Foucault, I'élément destiné à être mesuré qui est un métal (matériau
magnétique) peut être inspecté de façon non destructive.
Afin de tester par exemple un tube d'échangeur thermique quant à un défaut au moyen du procédé de test par courant de Foucault, une bobine qui est un capteur de test par courant de Foucault est insérée à l'intérieur du tube d'échangeur thermique afin d'obtenir un signal de test par courant de Foucault. Un tel signal qui représente un défaut varie non seulement du point de vue de l'amplitude mais également du point de vue de la phase. Par conséquent, l'observation du signal de test par courant de Foucault selon une seule dimension ne suffit pas et son observation en deux dimensions est nécessaire. Il s'ensuit que le test par courant de Foucault du tube d'échangeur thermique utilise un appareil de test par courant de Foucault qui génère une sortie bidimensionnelle qui apparaît suivant un axe X et suivant un axe Y. Un signal de test par courant de Foucault qui est exprimé sur un plan de tension prend la
forme d'une courbe de Lissajous, comme représenté sur la figure 7.
Une telle courbe de Lissajous est caractérisée par sa dimension et par sa pente par rapport à l'axe X. C'est-à-dire que la dimension de la courbe de Lissajous est proportionnelle au volume du défaut et sa pente par rapport à l'axe X correspond à la profondeur du défaut. Lors du test par courant de Foucault d'un tube d'échangeur thermique, la profondeur du défaut est une information importante. Par conséquent, une détection du défaut est réalisée d'une manière prédéterminée sur la base de la phase du signal de test par courant de Foucault. De façon davantage détaillée, I'angle de phase du signal de test par courant de Foucault (une valeur en tant que nombre complexe) qui représente un défaut est mesuré. L'angle de phase mesuré est cartographié sur une courbe de caractéristique (préparée au préalable), comme représenté sur la figure 8, laquelle courbe de caractéristique illustre la relation entre l'angle de phase du signal de test par courant de Foucault et la profondeur d'un défaut. Sur la base d'une lecture réalisée à partir de la courbe de
caractéristique, la profondeur du défaut est estimée.
Comme décrit ci-avant, un test par courant de Foucault conformément aux technologies antérieures mesure l'angle de phase du signal de test par courant de Foucault et cartographie la valeur mesurée sur la courbe de caractéristique préparée qui illustre la relation qui lie l'angle de phase du signal de test par courant de Foucault et la profondeur du défaut, afin d'estimer la profondeur du défaut. Cependant, l'angle de phase et la profondeur du défaut ne sont pas nécessairement corrélés exactement et la précision de la détection du défaut peut être dans la pratique insuffisante. Ceci est dû au fait que, une profondeur du défaut étant donnée, I'angle de phase peut varier en fonction de divers facteurs tels que la forme du défaut (par exemple la longueur, la largeur) et la relation de positions relatives entre le défaut et la bobine. Plus particulièrement, dans le cas d'un défaut interne (un défaut sur une surface périphérique interne d'un tube d'échangeur thermique) qui présente un taux de variation faible du point de vue de la profondeur du défaut par comparaison avec le taux de variation de l'angle de phase du signal de test par courant de Foucault, la précision de la détection du
défaut peut souvent être problématique.
RÉSUMÉ DE L'INVENTION
La présente invention a été élaborée à la lumière des problèmes rencontrés avec les technologies antérieures. Un objet de la présente invention consiste a proposer un procédé et un appareil permettant l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, le procédé et l'appareil permettant d'améliorer la précision de l'évaluation de la profondeur d'un défaut détecté au moyen d'un test par courant de Foucault et permettant d'augmenter la précision de l'évaluation de la valeur d'une diminution de l'épaisseur de paroi d'un élément destiné à
être mesuré de même que la précision de discernement d'un signal faux.
Afin d'atteindre l'objet mentionné ci-avant, I'invention est caractérisée par les aspects qui suivent: 1) un procédé permettant de générer une valeur de caractéristique à partir d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: la génération de la valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault qui est obtenu en mesurant un élément destiné à être mesuré, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault hautement corrélé à une profondeur d'un défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte une forme d'onde du
signal de test par courant de Foucault.
Conformément à cet aspect, des signaux autour d'une crête du signal de test par courant de Foucault peuvent être incorporés à l'intérieur de la valeur de caractéristique. Ceci rend possible de quantifier une influence que des éléments qui affectent l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, c'est-à-dire des éléments qui deviennent la cause d'un bruit lorsque la profondeur d'un défaut est évaluée au moyen de l'utilisation de l'angle de phase et de l'amplitude seuls, exercent sur l'évaluation de la profondeur du défaut. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet de fournir des données pour une évaluation davantage précise de la profondeur d'un défaut sur la base d'un signal de test par
courant de Foucault.
2) un procédé pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: la génération d'une valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une profondeur connue d'un défaut, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon hautement corrélé à la profondeur du défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la profondeur du défaut du spécimen standard; la génération d'une valeur de caractéristique similaire à celle obtenue à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; et la génération de données qui représentent la profondeur du défaut sur la base de la valeur de caractéristique basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et du paramètre
d'évaluation correspondant à la valeur de caractéristique.
Conformément à cet aspect, une valeur de caractéristique en tant qu'expression numérique de caractéristique efficace pour l'évaluation de la profondeur d'un défaut est traitée de façon statistique afin de générer un unique paramètre d'évaluation. L'utilisation d'un tel unique paramètre d'évaluation permet d'évaluer la profondeur du défaut sur la base d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation par comparaison avec une appréciation de la profondeur du défaut basée seulement sur l'angle de phase et sur l'amplitude du
signal de test par courant de Foucault de mesure réelle.
3) le procédé pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault comme décrit en 2) comprenant: la classification d'un type du défaut tel qu'un défaut externe ou qu'un défaut interne sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon, et la génération d'une valeur de caractéristique similaire et d'un paramètre d'évaluation similaire conformément au type classifié; et la classification d'un type du défaut sur la base du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault de l'élément destiné à être mesuré et la réalisation de la génération d'une valeur de caractéristique conformément au type classifié et de la génération de données qui représentent la profondeur du défaut sur la base du paramètre
d'évaluation conformément au type classifié.
Conformément à cet aspect, le procédé pour l'évaluation décrit en 2) peut être réalisé conformément au type d'un défaut. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'évaluer la profondeur du défaut de
façon davantage précise que l'aspect de l'invention 2).
4) un procédé pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: la génération de valeurs de caractéristique sur la base d'une pluralité de signaux de test par courant de Foucault échantillons obtenus en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une valeur connue de diminution d'épaisseur de paroi, au moyen d'un capteur de test par courant de Foucault pour obtenir des données en de nombreux emplacements qui sont distribués en deux dimensions tel qu'un capteur du système multibobine comportant de nombreuses bobines, les valeurs de caractéristique étant des expressions numériques non seulement des angles de phase des signaux de test par courant de Foucault échantillons corrélés a la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et des amplitudes des signaux de test par courant de Foucault échantillons mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et qui affecte des formes d'onde des signaux de test par courant de Foucault échantillons; le tri des valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons conformément à des standards prédéterminés tels qu'une séquence de phase; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide des valeurs de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi du spécimen standard; la génération de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons au moyen de l'utilisation de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle qui sont obtenus au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; et la génération de données qui représentent la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base des valeurs de caractéristique basées sur les signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle et du
paramètres d'évaluation correspondant aux valeurs de caractéristique.
Conformément à cet aspect, des valeurs de caractéristique en tant qu'expressions numériques de caractéristique efficace pour l'évaluation de la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sont traitées de façon statistique afin de générer un unique paramètre d'évaluation. L'utilisation d'un tel paramètre d'évaluation permet d'évaluer la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation par comparaison avec une appréciation de la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi basée seulement sur les angles de phase et sur les amplitudes des signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle. 5) un procédé pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: la génération d'une valeur de caractéristique sur la base d'un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré qui présente un défaut connu ou qui a formé un pseudo-facteur autre qu'un défaut en tant que cause d'un signal de test par courant de Foucault faux, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon hautement corrélé à un défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec des données de réponse correcte connues en tant que signal d'état qui représente le défaut ou le pseudo-facteur du spécimen standard; la génération d'une valeur de caractéristique similaire à celle obtenue à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; et la génération d'un signal d'état qui représente le défaut ou le pseudo-facteur sur la base de la valeur de caractéristique basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et du paramètre
d'évaluation respectif correspondant à la valeurs de caractéristique.
Conformément à cet aspect, une valeur de caractéristique en tant qu'expression numérique de caractéristique efficace pour évaluer si oui
ou non l'état en cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo-
facteur est traitée de façon statistique afin de générer un unique paramètre d'évaluation L'utilisation d'un tel paramètre d'évaluation rend possible d'évaluer si oui ou non l'état en cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo-facteur. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation par comparaison avec l'appréciation, basée seulement sur l'angle de phase et sur l'amplitude, de si oui ou non l'état en cours d'évaluation est un
défaut ou un autre pseudo-facteur.
6) un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: un moyen de génération de valeur de caractéristique pour recevoir un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et d'une profondeur connue d'un défaut et pour générer une valeur de caractéristique qui est une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon hautement corrélé à la profondeur du défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; un moyen d'application de données de réponse correcte pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la profondeur du défaut du spécimen standard; un moyen d'apprentissage pour recevoir la valeur de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage en utilisant la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte; un moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer une valeur de caractéristique similaire à celle obtenue à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon au moyen de I'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; et un moyen de génération de résultats d'évaluation pour générer des données qui représentent la profondeur du défaut sur la base de la valeur de caractéristique basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et du paramètre d'évaluation correspondant à
la valeur de caractéristique.
Conformément à cet aspect, une valeur de caractéristique en tant qu'expression numérique de caractéristique efficace pour l'évaluation de la profondeur du défaut est traitée de façon statistique afin de générer un unique paramètre d'évaluation L'utilisation d'un tel paramètre d'évaluation permet d'évaluer la profondeur du défaut sur la base d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation par comparaison avec une appréciation de la profondeur du défaut qui est basée seulement sur l'angle de phase et sur l'amplitude
du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle.
Il est difficile pour une personne d'évaluer la profondeur d'un défaut moyennant l'utilisation d'un élément de caractéristique autre que l'angle de phase. Conformément à l'aspect mentionné ci-avant, par ailleurs, divers éléments de caractéristique autres qu'un angle de phase sont traités de façon statistique afin de générer un paramètre d'évaluation. Il s'ensuit qu'un signal de test par courant de Foucault peut être apprécié globalement de telle sorte que la précision de l'évaluation
peut être améliorée.
7) I'appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault comme décrit en 6), incluant: un moyen de classification pour classifier un type de défaut tel qu'un défaut externe ou qu'un défaut interne sur la base du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault de l'élément destiné à être mesuré; un moyen de génération de paramètre d'évaluation qui est adapté pour classifier le type du défaut sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour générer la valeur de caractéristique et le paramètre d'évaluation conformément au type classifié, le moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer la valeur de caractéristique basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle étant adapté pour générer la valeur de caractéristique conformément à une classification qui est réalisée par le moyen de classification; et le moyen de génération de résultats d'évaluation étant adapté pour générer les données qui représentent la profondeur du défaut sur la base de la valeur de caractéristique et du paramètre d'évaluation
générés conformément à la classification.
Conformément à cet aspect, le procédé pour l'évaluation décrit en 6) peut être réalisé conformément au type d'un défaut. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'évaluer la profondeur d'un défaut de façon
davantage précise que l'aspect de l'invention 6).
8) un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: un moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer des valeurs de caractéristique sur la base d'une pluralité de signaux de test par courant de Foucault échantillons qui sont obtenus en mesurant un spécimen standard, en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une valeur connue de diminution d'épaisseur de paroi, au moyen d'un capteur de test par courant de Foucault pour obtenir des données en de nombreux emplacements qui sont distribués en deux dimensions, tel qu'un capteur du système multibobine qui comporte de nombreuses bobines, les valeurs de caractéristique étant des expressions numériques non seulement des angles de phase des signaux de test par courant de Foucault échantillons hautement corrélés à la valeur de diminution d'épaisseur de paroi et d'amplitudes des signaux de test par courant de Foucault échantillons mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et qui affecte des formes d'onde des signaux de test par courant de Foucault échantillons; un moyen de tri pour trier les valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons conformément à des standards prédéterminés tels qu'une séquence de phase de telle sorte qu'une efficacité de l'apprentissage qui suit soit améliorée; un moyen d'application de données de réponse correcte pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi du spécimen standard; un moyen d'apprentissage pour recevoir les valeurs de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide des valeurs de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte; un moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer des valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons au moyen de l'utilisation des signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle qui sont obtenus au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; et un moyen de génération de résultats d'évaluation pour générer des données qui représentent une valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base des valeurs de caractéristique basées sur les signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle et du paramètre
d'évaluation correspondant aux valeurs de caractéristique.
Conformément à cet aspect, des valeurs de caractéristique en tant qu'expressions numériques de caractéristique efficace pour l'évaluation de la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sont traitées de façon statistique afin de générer un unique paramètre d'évaluation. L'utilisation d'un tel paramètre d'évaluation permet d'évaluer la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de I'évaluation par comparaison avec une appréciation de la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi basée seulement sur les angles de phase et sur les amplitudes des signaux de test par courant de Foucault
de mesure réelle.
Il est difficile pour une personne d'évaluer la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi moyennant l'utilisation d'un élément de caractéristique autre qu'un angle de phase. Conformément à cet aspect de l'invention, par ailleurs, divers éléments de caractéristique autres qu'un angle de phase sont traités de façon statistique afin de générer un paramètre d'évaluation. Il s'ensuit qu'un signal de test par courant de Foucault peut être apprécié globalement de telle sorte que la précision
de l'évaluation peut être améliorée.
9) un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: un moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer une valeur de caractéristique sur la base d'un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré, qui présente un défaut connu ou qui a formé un pseudo-facteur autre qu'un défaut en tant que cause d'un signal de test par courant de Foucault faux, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon hautement corrélé à un défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; un moyen d'application de données de réponse correcte pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que signal d'état généré en réponse au défaut ou au pseudo-facteur du spécimen standard et exprimant ce même défaut ou ce même pseudo-facteur du spécimen standard; un moyen d'apprentissage pour recevoir la valeur de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur présentant une valeur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte; un moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer une valeur de caractéristique similaire à celle obtenue à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; et un moyen de génération de résultats d'évaluation pour générer un signal d'état qui représente undéfaut ou un pseudo-facteur sur la base de la valeur de caractéristique basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et du paramètre d'évaluation
correspondant à la valeur de caractéristique.
Conformément à cet aspect, une valeur de caractéristique en tant qu'expression numérique de caractéristique efficace pour évaluer si oui ou non l'état en cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo- facteur est traitée de façon statistique afin de générer un unique paramètre d'évaluation. L'utilisation d'un tel paramètre d'évaluation rend possible d'évaluer si oui ou non l'état en cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo-facteur. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation par comparaison avec une appréciation, basée seulement sur l'angle de phase et sur l'amplitude, de si l'état en cours d'évaluation est un défaut
ou un autre pseudo-facteur.
Il est difficile pour une personne d'évaluer, moyennant l'utilisation d'un élément de caractéristique autre qu'un angle de phase, si l'état en
cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo-facteur.
Conformément à l'aspect mentionné ci-avant de l'invention, par ailleurs, divers éléments de caractéristique autres qu'un angle de phase sont traités de façon statistique afin de générer un paramètre d'évaluation. Il s'ensuit qu'un signal de test par courant de Foucault peut être apprécié globalement de telle sorte que la précision de l'évaluation peut être améliorée. ) un procédé pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: la génération d'une valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une profondeur connue d'un défaut, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon hautement corrélé à la profondeur du défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour aboutir à des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la profondeur du défaut du spécimen standard; la répétition des opérations pour la génération de la valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour la génération du paramètre d'évaluation, tandis qu'une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique est modifiée, afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; la génération d'une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle qui sont obtenus au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; la génération de données qui représentent les profondeurs du défaut pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur les signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et la comparaison des données respectives qui représentent les profondeurs du défaut et lorsque les profondeurs du défaut qui sont représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, I'adoption de la profondeur du défaut sur la base
de la plage prédéterminée en tant que valeur estimée.
Conformément à cet aspect, une pluralité de valeurs de caractéristique en tant qu'expressions numériques de caractéristique efficace pour l'évaluation de la profondeur de défaut sont traitées de façon statistique afin de générer une pluralité de paramètres tels paramètres d'évaluation permet d'évaluer la profondeur du défaut
sur la base d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle.
Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation par comparaison avec une appréciation de la profondeur du défaut basée seulement sur l'angle de phase et sur l'amplitude du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle. Puisque les plusieurs valeurs de caractéristique et les plusieurs paramètres d'évaluation sont utilisés, en outre, une évaluation davantage précise qu'avec l'utilisation d'une unique valeur de
caractéristique et d'un unique paramètre d'évaluation peut être réalisée.
11) le procédé pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault comme décrit en 10), comprenant: la classification d'un type du défaut tel qu'un défaut externe ou qu'un défaut interne, sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et la réalisation d'une génération similaire de valeurs de caractéristique et de paramètres d'évaluation conformément au type classifié; et la classification d'un type du défaut sur la base du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault de l'élément destiné à être mesuré et la réalisation de la génération des valeurs de caractéristique conformément au type classifié et de la génération des données qui représentent la profondeur du défaut sur la base des valeurs de caractéristique et de
paramètres d'évaluation conformément au type classifié.
Conformément à cet aspect, le procédé pour l'évaluation décrit en ) peut être réalisé conformément au type d'un défaut. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'évaluer la profondeur du défaut de façon davantage précise que l'aspect de l'invention 10). Puisque les valeurs de la pluralité de valeurs de caractéristique et les paramètres de la pluralité de paramètres d'évaluation sont utilisés, en outre, il est possible de réaliser une évaluation davantage précise qu'à l'aide de l'utilisation d'une unique valeur de caractéristique et d'un unique
paramètre d'évaluation.
12) un procédé pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: la génération de valeurs de caractéristique sur la base d'une pluralité de signaux de test par courant de Foucault échantillons obtenus en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une valeur connue de diminution d'épaisseur de paroi, au moyen d'un capteur de test par courant de Foucault pour obtenir des données en de nombreux emplacements qui sont distribués en deux dimensions tel qu'un capteur du système multibobine comportant de nombreuses bobines, les valeurs de caractéristique étant des expressions numériques non seulement des angles de phase des signaux de test par courant de Foucault échantillons hautement corrélés à la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et des amplitudes des signaux de test par courant de Foucault échantillons mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et qui affecte des formes d'onde des signaux de test par courant de Foucault échantillons; le tri des valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons conformément à des standards prédéterminés tels qu'une séquence de phase de façon à ce qu'une efficacité de l'apprentissage qui suit soit améliorée; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide des valeurs de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi du spécimen standard; la répétition des opérations pour la génération des valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons, pour le tri et pour la génération du paramètre d'évaluation, tout en modifiant une combinaison d'éléments de la valeur de tout en modifiant une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique et les standards pour le tri, afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; la génération d'une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle qui sont obtenus au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; la génération de données qui représentent les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur les signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et la comparaison des données respectives qui représentent les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi et lorsque les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi qui sont représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, I'adoption de la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base de la plage
prédéterminée en tant que valeur estimée.
Conformément à cet aspect, les valeurs d'une pluralité de valeurs de caractéristique en tant qu'expressions numériques de caractéristique efficace pour l'évaluation de la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sont traitées de façon statistique afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation. L'utilisation de tels paramètres d'évaluation permet d'évaluer la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation par comparaison avec une appréciation de la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi basée seulement sur les angles de phase et sur les amplitudes des signaux de valeurs de caractéristique et les plusieurs paramètres d'évaluation sont utilisés, en outre, une évaluation davantage précise qu'avec l'utilisation d'une unique valeur de caractéristique et d'un unique paramètre
d'évaluation peut être réalisée.
13) un procédé pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: la génération d'une valeur de caractéristique sur la base d'un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré qui présente un défaut connu ou qui a formé un pseudo-facteur autre qu'un défaut en tant que cause d'un signal de test par courant de Foucault faux, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon hautement corrélé à un défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec des données de réponse correcte connues en tant que signal d'état qui représente le défaut ou le pseudo-facteur du spécimen standard; la répétition des opérations pour la génération de la valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour la génération du paramètre d'évaluation, tout en modifiant une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; la génération d'une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation d'un signal de test par valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; la génération de signaux d'état qui représentent un défaut ou un pseudo-facteur pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et la comparaison des signaux d'état respectifs afin de discerner, sur la base d'une coïncidence en termes de contenu des signaux d'état, si le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle est un
signal qui représente un défaut ou un signal faux.
Conformément à cet aspect, plusieurs valeurs de caractéristique en tant qu'expressions numériques de caractéristique efficace pour l'évaluation de si oui ou non l'état en cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo-facteur sont traitées de façon statistique afin de générer plusieurs paramètres d'évaluation. L'utilisation de tels paramètres d'évaluation rend possible d'évaluer si l'état en cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo-facteur. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation, par comparaison avec une appréciation basée seulement sur l'angle de phase et sur l'amplitude, de si l'état en cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo-facteur. Puisque les plusieurs valeurs de caractéristique et les plusieurs paramètres d'évaluation sont utilisés, en outre, une évaluation davantage précise qu'avec l'utilisation d'une unique valeur de caractéristique et d'un unique paramètre d'évaluation
peut être réalisée.
14) un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: un moyen de génération de valeur de caractéristique pour recevoir un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à générer une valeur de caractéristique qui est une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon hautement corrélé à la profondeur du défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; un moyen d'application de données de réponse correcte pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la profondeur du défaut du spécimen standard; un moyen d'apprentissage pour recevoir la valeur de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec les données de réponse correcte; un moyen de génération de paramètre d'évaluation pour répéter les opérations pour la génération de la valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour la génération du paramètre d'évaluation tandis qu'une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique est modifiée, afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; un moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; un moyen de génération de résultats d'évaluation pour générer des données qui représentent les profondeurs d'un défaut pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur le signal de test par courant de caractéristique respectives basées sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et un moyen de vérification pour comparer des données respectives qui représentent les profondeurs du défaut qui ont été obtenues en tant que signaux de sortie en provenance du moyen de génération de résultats d'évaluation et lorsque les profondeurs du défaut représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, pour adopter la profondeur du défaut sur la base de la
plage prédéterminée en tant que valeur estimée.
Conformément à cet aspect, plusieurs valeurs de caractéristique en tant qu'expressions numériques de caractéristique efficace pour l'évaluation de la profondeur du défaut sont traitées de façon statistique afin de générer plusieurs paramètres d'évaluation. L'utilisation de ces paramètres d'évaluation permet d'évaluer la profondeur du défaut sur la base d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation par comparaison avec une appréciation de la profondeur du défaut basée seulement sur l'angle de phase et sur l'amplitude du signal de test par courant de Foucault de
mesure réelle.
Il est difficile pour une personne d'évaluer la profondeur d'un défaut moyennant l'utilisation concomitante d'un élément de caractéristique autre qu'un angle de phase. Conformément à cet aspect de l'invention, par ailleurs, divers éléments de caractéristique autres qu'un angle de phase sont traités de façon statistique afin de générer un paramètre d'évaluation. Il s'ensuit qu'un signal de test par courant de Foucault peut être apprécié globalement de telle sorte que la précision de l'évaluation peut être améliorée. Puisque les plusieurs valeurs de caractéristique et les plusieurs paramètres d'évaluation sont utilisés, en outre, une évaluation davantage précise que lors de l'utilisation d'une unique valeur de caractéristique et d'un unique paramètre d'évaluation
peut être réalisée.
) I'appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault comme décrit en 14), incluant: un moyen de classification pour classifier un type de défaut tel qu'un défaut externe ou qu'un défaut interne sur la base du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault de l'élément destiné à être mesuré, le moyen de génération de paramètre d'évaluation étant adapté pour classifier le type du défaut sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour générer la valeur de caractéristique et le paramètre d'évaluation conformément au type classifié, le moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer la valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle étant adapté pour générer la valeur de caractéristique conformément à une classification qui est réalisée par le moyen de classification; et le moyen de génération de résultats d'évaluation étant adapté pour générer les données qui représentent la profondeur du défaut sur la base de la valeur de caractéristique et du paramètre d'évaluation
générés conformément à la classification.
Conformément à cet aspect, le procédé pour l'évaluation décrit en 14) peut être réalisé conformément au type d'un défaut. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'évaluer la profondeur du défaut de façon davantage précise que l'aspect de l'invention 14). Puisque les plusieurs valeurs de caractéristique et les plusieurs paramètres d'évaluation sont utilisés, en outre, une évaluation davantage précise qu'à l'aide de l'utilisation d'une unique valeur de caractéristique et d'un
unique paramètre d'évaluation peut être réalisée.
16) un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: un moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer des valeurs de caractéristique sur la base d'une pluralité de signaux de test par courant de Foucault échantillons qui sont obtenus en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une valeur connue de diminution d'épaisseur de paroi, au moyen d'un capteur de test par courant de Foucault pour obtenir des données en de nombreux emplacements qui sont distribués en deux dimensions, tel qu'un capteur du système multibobine comportant de nombreuses bobines, les valeurs de caractéristique étant des expressions numériques non seulement des angles de phase des signaux de test par courant de Foucault échantillons hautement corrélés à la valeur de diminution d'épaisseur de paroi et d'amplitudes des signaux de test par courant de Foucault échantillons mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et qui affecte des formes d'onde des signaux de test par courant de Foucault échantillons; un moyen de tri pour trier les valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons conformément à des standards prédéterminés tels qu'une séquence de phase de telle sorte qu'une efficacité de l'apprentissage qui suit soit améliorée; un moyen d'application de données de réponse correcte pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi du spécimen standard; un moyen d'apprentissage pour recevoir les valeurs de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide des valeurs de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec les données de réponse correcte; un moyen de génération de paramètre d'évaluation pour répéter les opérations pour la génération des valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons, pour le tri et pour la génération du paramètre d'évaluation tout en modifiant une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique et les standards pour le tri afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; un moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle qui sont obtenus au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; un moyen de génération de résultats d'évaluation pour générer des données qui représentent les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur les signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et un moyen de vérification pour comparer les données respectives qui représentent les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi qui ont été obtenues en tant que signaux de sortie à partir du moyen de génération de résultats d'évaluation et lorsque les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, pour adopter la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base de la plage
prédéterminée en tant que valeur estimée.
Conformément à cet aspect, plusieurs valeurs de caractéristique en tant qu'expressions numériques de caractéristique efficace pour évaluer la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sont traitées de
façon statistique afin de générer plusieurs paramètres d'évaluation.
L'utilisation de tels paramètres d'évaluation permet d'évaluer la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation par comparaison avec une appréciation de la valeur de l'épaisseur de paroi basée seulement sur les angles de phase et sur les amplitudes des signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle. Lors de la réalisation d'une évaluation, une personne trouve une certaine difficulté à évaluer la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi moyennant l'utilisation concomitante d'un élément de caractéristique autre qu'un angle de phase. Conformément à l'aspect mentionné ci-avant de l'invention, par ailleurs, divers éléments de caractéristique autres qu'un angle de phase sont traités de façon statistique afin de générer un paramètre d'évaluation. Il s'ensuit qu'un signal de test par courant de Foucault peut être apprécié globalement de telle sorte que la précision de l'évaluation peut être améliorée. Puisque les plusieurs valeurs de caractéristique et les plusieurs paramètres d'évaluation sont utilisés, en outre, une évaluation davantage précise que lors de l'utilisation d'une unique valeur de caractéristique et d'un
unique paramètre d'évaluation peut être réalisée.
17) un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault, comprenant: un moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer une valeur de caractéristique sur la base d'un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré qui présente un défaut connu ou qui a formé un pseudo-facteur autre qu'un défaut en tant que cause d'un signal de test par courant de Foucault faux, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon hautement corrélé à un défaut et d'une amplitude du signal de test par courant deFoucault échantillon mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; un moyen d'application de données de réponse correcte pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que signal d'état généré en réponse au défaut ou au pseudo-facteur du spécimen standard et représentant ce même défaut ou ce même pseudo-facteur du spécimen standard; un moyen d'apprentissage pour recevoir la valeur de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte; un moyen de génération de paramètre d'évaluation pour répéter des opérations pour la génération des valeurs de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour la génération du paramètre d'évaluation tout en modifiant une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; un moyen de génération de valeur de caractéristique pour générer une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; un moyen de génération de résultats d'évaluation pour générer des signaux d'état qui représentent un défaut ou un pseudo-facteur pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et un moyen de vérification pour comparer les signaux d'état respectifs qui ont été obtenus en tant que signaux de sortie à partir du moyen de génération de résultats d'évaluation et lorsque des états qui sont représentés par les signaux d'état respectifs sont cohérents, pour
identifier les états comme étant un défaut ou un pseudo-facteur.
Conformément à cet aspect, plusieurs valeurs de caractéristique en tant qu'expressions numériques de caractéristique efficace pour l'évaluation de si oui ou non l'état en cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo-facteur sont traitées de façon statistique afin de générer plusieurs paramètres d'évaluation. L'utilisation de ces paramètres d'évaluation rend possible d'évaluer si l'état en cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo-facteur. Par conséquent, cet aspect de l'invention permet d'améliorer de façon notable la précision de l'évaluation par comparaison avec une appréciation, basée seulement sur l'angle de phase et sur l'amplitude, de si l'état en cours d'évaluation
est un défaut ou un autre pseudo-facteur.
Lors l'évaluation de si l'état en cours d'évaluation est un défaut ou un autre pseudo-facteur, une personne trouve difficile de réaliser l'évaluation moyennant l'utilisation concomitante d'un élément de caractéristique autre qu'un angle de phase. Conformément à l'aspect mentionné ci-avant de l'invention, par ailleurs, divers éléments de caractéristique autres qu'un angle de phase sont traités de façon statistique afin de générer un paramètre d'évaluation. Il s'ensuit qu'un signal de test par courant de Foucault peut être apprécié globalement de telle sorte que la précision de l'évaluation peut être améliorée. Puisque les plusieurs valeurs de caractéristique et les plusieurs paramètres d'évaluation sont utilisés, en outre, une évaluation davantage précise qu'avec l'utilisation d'une unique valeur de caractéristique et d'un unique
paramètre d'évaluation peut être réalisée.
BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS
La présente invention sera maintenant davantage pleinement
comprise au vu de la description détaillée qui est présentée ci-après et
au vu des dessins annexés qui sont présentés à titre d'illustration seulement et qui ne sont par conséquent pas limitatifs pour la présente invention, et parmi ces dessins: la figure 1 est un schéma fonctionnel d'un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault conformément à un premier mode de réalisation de la présente invention; la figure 2 est un schéma explicatif qui représente une procédure permettant de traiter une information dans l'appareil de la figure 1; la figure 3 est un schéma fonctionnel d'un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault conformément à un second mode de réalisation de la présente invention; la figure 4 est un schéma explicatif qui représente une procédure permettant de traiter une information dans l'appareil de la figure 3; la figure 5 est un schéma fonctionnel d'un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault conformément à un troisième mode de réalisation de la présente invention; la figure 6 est un schéma explicatif qui représente une procédure permettant de traiter une information dans l'appareil de la figure 5; la figure 7 est une vue de forme d'onde qui représente un exemple d'une courbe de Lissajous qui est formée sur la base d'un défaut lorsqu'un signal de test par courant de Foucault obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault est exprimé sur un plan de tension; et la figure 8 est une vue de caractéristique qui représente la relation qui lie la profondeur d'un défaut et un angle de phase utilisé pour déterminer la profondeur du défaut sur la base de la vue de forme d'onde
qui est représentée sur la figure 7.
DESCRIPTION DES MODES DE RÉALISATION PRÉFÉRÉS
Des modes de réalisation de la présente invention seront
maintenant décrits en détail par report aux dessins annexes.
<Premier mode de réalisation> La figure 1 est un schéma fonctionnel d'un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault conformément à un premier mode de réalisation de la présente invention. Ce mode de réalisation est orienté vers un appareil dans lequel un capteur de test par courant de Foucault est inséré à l'intérieur d'un tube d'échangeur thermique afin de réaliser un test de défaut, et la profondeur d'un défaut est évaluée sur la base d'un signal de test par courant de Foucault qui est obtenu au moyen du test. Le capteur de test par courant de Foucault permettant d'obtenir le signal de test par courant de Foucault est un capteur du type système à multiples bobines ou multibobine qui comprend de nombreuses bobines qui sont agencées suivant une
direction circonférentielle selon la forme d'un anneau ou d'une bague.
Sur la base des pas entre les bobines adjacentes, ce capteur permet d'obtenir un signal de test par courant de Foucault qui représente l'état d'une surface périphérique interne du tube d'échangeur thermique. Un signal de test par courant de Foucault similaire peut être obtenu au moyen d'un capteur de test par courant de Foucault dans lequel une unique bobine est déplacée axialement tandis qu'elle est tournée suivant la direction circonférentielle. Inutile de dire qu'un élément destiné à être
mesuré n'a pas besoin d'être limité à un tube d'échangeur thermique.
Comme représenté sur la figure 1, une borne d'entrée 1 reçoit en application un signal de test par courant de Foucault échantillon SI qui est obtenu en mesurant un spécimen standard qui est un élément
destiné à être mesuré et qui présente une profondeur de défaut connue.
Le spécimen standard peut par exemple être un élément destiné à être mesuré dans lequel un défaut interne ou un défaut externe est formé et ses états tels que la profondeur de défaut (par exemple 10%, 20%,...;
en termes de pourcentage de l'épaisseur totale de paroi) sont connus.
En tant que signal de test par courant de Foucault échantillon S1, de nombreux types d'échantillons correspondant aux états du défaut sont
disponibles et sont appliqués séquentiellement sur la borne d'entrée 1.
Le signal de test par courant de Foucault échantillon S. est appliqué sur un moyen de génération de valeur de caractéristique 3 après qu'un bruit est réduit par un filtre 2 conformément à un procédé connu, si on le souhaite. Le moyen de génération de valeur de caractéristique 3 génère une valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon SI, la valeur de caractéristique étant une expression numérique de non seulement I'angle de phase du signal hautement corrélé à la profondeur du défaut et de l'amplitude du signal mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte la forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon S1. Des exemples du facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte la forme d'onde d'un signal de test par courant de Foucault sont la forme de distribution du signal de test par courant de Foucault (la longueur et la largeur de la distribution), la forme d'onde du signal de test par courant de Foucault, une forme d'onde de signal à proximité d'une crête de l'amplitude du signal de test par courant de Foucault et une corrélation entre des signaux présentant différentes fréquences d'excitation. C'est-à-dire que des signaux au voisinage de la crête du signal de test par courant de Foucault sont incorporés à l'intérieur de la valeur de caractéristique afin d'extraire une valeur qui contribue à une amélioration de la précision du test par courant de Foucault. De façon davantage concrète, l'accent est placé sur un angle de phase 01 qui est obtenu moyennant l'utilisation d'un courant d'excitation d'une certaine fréquence f1. Une amplitude A1 à la fréquence f1, un angle de phase 02 qui est obtenu moyennant l'utilisation d'un courant d'excitation d'une autre fréquence f2, une amplitude A2 à la fréquence f2, le rapport des amplitudes (A1/A2) aux fréquences f1 et f2, la largeur W du défaut et la longueur L du défaut sont utilisés en tant qu'éléments de caractéristique en plus de l'angle de phase 01 en tant qu'élément central. De cette manière, une valeur de caractéristique qui convient pour atteindre les buts visés peut être
constituée de façon arbitraire.
Un moyen d'application de données de réponse correcte 4 applique des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la profondeur du défaut du spécimen standard. Les données de réponse correcte sont des données qui représentent des réponses correctes pour les valeurs des profondeurs de défaut sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon S1 qui correspondent au signal de test par courant de Foucault échantillon Sl. Un moyen d'apprentissage 5 reçoit la valeur de caractéristique et les données de réponse correcte et génère un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte. De façon concrète, l'action du moyen d'apprentissage consiste à réaliser une opération pour déterminer, par apprentissage, un paramètre d'évaluation, par exemple un facteur de poids ou de pondération destiné à être appliqué à la valeur de caractéristique pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport à la valeur qui est représentée au moyen des données de réponse correcte. Le procédé d'apprentissage n'a pas besoin d'être limité mais il peut s'agir par exemple d'un procédé qui utilise un réseau neural, une analyse par multiples régressions ou le procédé par distance généralisée de Mahalanobis. C'est-à-dire que ce moyen d'apprentissage utilise divers signaux de test par courant de Foucault échantillons S, afin d'obtenir des standards d'évaluation à partir des signaux de test par
courant de Foucault échantillons S1, de façon statistique.
Un moyen de génération de paramètre d'évaluation I comprend le filtre 2, le moyen de génération de valeur de caractéristique 3, le moyen d'application de données de réponse correcte 4 et le moyen d'apprentissage 5, comme décrit ci-avant. Au niveau du moyen de génération de paramètre d'évaluation 1, des opérations pour générer les valeurs de caractéristique et les paramètres d'évaluation sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons S, sont répétées, tandis que la combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique est modifiée, afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation. La combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique fait référence ici à une combinaison de caractéristiques incluant le facteur secondaire mentionné ci-avant, centrée sur l'angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon S, ou une combinaison de caractéristiques incluant le facteur secondaire mentionné ci-avant centrée sur l'amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon S.. Brièvement, une combinaison appropriée de l'élément de base différent et d'une autre caractéristique est utilisée. Selon le présent
mode de réalisation, deux types de combinaisons sont disponibles.
Cependant, le nombre des combinaisons n'est pas ainsi limité.
Qui plus est, les paramètres d'évaluation sont générés pour chaque type différent de défauts. Les types de défauts se réfèrent ici à un défaut interne, à un défaut externe, à un défaut axial et à un défaut circonférentiel. Le défaut axial et le défaut circonférentiel peuvent être discernés sur la base de l'angle de phase du signal de test par courant
de Foucault.
Une borne d'entrée 6 reçoit en application un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2 qui est obtenu en mesurant un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré. Le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2 est appliqué sur un moyen de classification 8 après qu'un bruit est réduit par un filtre 7 conformément à un procédé connu, si on le souhaite. Le moyen de classification 8 discerne le type d'un défaut sur la base du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2. Ceci a pour but d'évaluer le signal au moyen de l'utilisation de paramètres d'évaluation en fonction des types
de défauts, ce qui permet d'améliorer la précision de l'évaluation.
Un moyen de génération de valeur de caractéristique 9 génère une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon S1 pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2. Un moyen de génération de résultats d'évaluation 10 génère des données qui représentent la profondeur du défaut pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2, et les paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives. De façon concrète, les valeurs de caractéristique respectives sont traitées en utilisant les paramètres d'évaluation. Par exemple, des données correspondant aux données de réponse correcte sont générées au moyen du même traitement que celui pour aboutir aux données de réponse correcte sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon S1, par exemple une multiplication de l'élément de
caractéristique par le paramètre.
Un moyen de vérification 11 compare les données respectives qui représentent les profondeurs du défaut qui ont été obtenues en tant que signaux de sortie à partir du moyen de génération de résultats d'évaluation 10. Lorsque les profondeurs du défaut représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, le moyen de vérification 11 adopte la profondeur du défaut sur la base de
cette plage en tant que valeur estimée.
Un procédé d'évaluation qui utilise l'appareil mentionné ci-avant pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault sera décrit en détail moyennant une référence supplémentaire à la figure 2. Tout d'abord, un signal de test par courant de Foucault échantillon S, est entré (étape S1). Après qu'un traitement de filtrage prédéterminé (étape
S2) est réalisé, une valeur de caractéristique est générée (étape S3).
Puis il est fait référence à des données de réponse correcte (étape S1), et un paramètre d'évaluation, soit un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte, est généré en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique (étape S4). En tant que résultat, un type de paramètre d'évaluation, soit A, est généré. Les traitements des étapes S1 à S4 sont répétés afin de générer un autre type de paramètre d'évaluation, soit B. Les paramètres d'évaluation A et B sont
générés pour différents types de défauts.
Puis un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2 est entré (étape S5). Après qu'un traitement de filtrage prédéterminé
(étape S6) est réalisé, le type d'un défaut est classifié (étape S7).
Conformément à cette classification, la même valeur de caractéristique que celle résultant du signal de test par courant de Foucault échantillon Si est générée (étape S8). En outre, des données qui représentent la profondeur du défaut sont générées sur la base de la valeur de caractéristique basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2 et sur la base du paramètre d'évaluation A qui correspond à la valeur de caractéristique (étapes S9 et S10). Ces traitements sont réalisés pour le paramètre d'évaluation B. Des données respectives qui représentent les profondeurs du défaut, qui ont été obtenues au moyen du traitement mentionné ci-avant, sont comparées pour une vérification (étape Sl 1). Lorsque les profondeurs du défaut qui sont représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, la profondeur du défaut basée sur cette
plage est adoptée en tant que valeur estimée (étape S12).
<Second mode de réalisation> La figure 3 est un schéma fonctionnel d'un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault conformément à un second mode de réalisation de la présente invention. Ce mode de réalisation est orienté vers l'évaluation d'une diminution de l'épaisseur de paroi d'un élément destiné à être mesuré, en lieu et place de la
profondeur du défaut évaluée au niveau du premier mode de réalisation.
Le présent appareil est constitué de la même manière que l'est l'appareil du premier mode de réalisation à l'exception du fait qu'un moyen de tri 12 est ajouté. Cependant, les fonctions des parties respectives diffèrent quelque peu. Par conséquent, le présent appareil sera décrit essentiellement en ce qui concerne le moyen de tri 12 et en ce qui concerne les différences par rapport au premier mode de réalisation. La diminution de l'épaisseur de paroi de l'élément destiné à être mesuré est prédétectée au moyen de n'importe quel procédé et un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2 concernant cet élément est obtenu. Un capteur de test par courant de Foucault permettant d'obtenir un signal de test par courant de Foucault est le même que selon le
premier mode de réalisation.
Comme représenté sur la figure 3, une borne d'entrée 1 reçoit en application un signal de test par courant de Foucault échantillon S, qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré, lequel présente une valeur de diminution connue d'épaisseur de paroi. Le signal de test par courant de Foucault échantillon S, est appliqué sur un moyen de génération de valeur de caractéristique 23 après qu'un bruit est réduit au moyen d'un filtre 2 conformément à un procédé connu, si on le souhaite. Le moyen de génération de valeur de caractéristique 23 génère une valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon S1, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement de l'angle de phase du signal qui est hautement corrélé à la valeur de diminution d'épaisseur de paroi et de l'amplitude du signal mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la valeur de diminution d'épaisseur de paroi et qui affecte la forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon S1. Des exemples du facteur secondaire qui est autre que la valeur de diminution d'épaisseur de paroi et qui affecte la forme d'onde du signal de test par courant de Foucault peuvent être les mêmes que ceux pour la profondeur du défaut selon le premier mode de réalisation. C'est-à-dire que des éléments de caractéristique sélectionnés de façon appropriée sont combinés afin de générer une
valeur de caractéristique souhaitée.
Le moyen de tri 12 existe au niveau du présent mode de réalisation. Le moyen de tri 12 réalise un traitement pour trier les valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons respectifs S, conformément à des standards prédéterminés tels qu'une séquence de phase de telle sorte qu'une efficacité d'un apprentissage ultérieur soit améliorée. Un exemple du traitement peut être un procédé de tri tel que le tri des valeurs de caractéristique selon l'ordre des valeurs de phase décroissantes ou selon l'ordre des amplitudes décroissantes, dans les signaux de test par courant de Foucault échantillons S1 qui sont des signaux en provenance des bobines respectives du capteur de test par courant de Foucault à
multiples bobines ou multibobine.
Un moyen d'application de données de réponse correcte 24 applique des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi du spécimen standard. Un moyen d'apprentissage 25 est fondamentalement le même
que le moyen d'apprentissage 5 qui est représenté sur la figure 1. C'est-
à-dire que le moyen d'apprentissage 25 reçoit les valeurs de caractéristique et les données de réponse correcte et génère un paramètre d'évaluation moyennant l'utilisation des valeurs de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible
par rapport aux données de réponse correcte.
Un moyen de génération de paramètre d'évaluation Il comprend le filtre 2, le moyen de génération de valeur de caractéristique 23, le moyen de tri 12, le moyen d'application de données de réponse correcte 24 et le moyen d'apprentissage 25, comme décrit ci-avant. Au niveau du moyen de génération de paramètre d'évaluation 11, des opérations pour la génération des valeurs de caractéristique, pour le tri et pour la génération des paramètres d'évaluation, sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons S1 sont répétées tandis que la combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique est modifiée, afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation. La combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique peut ici être la même que celle
selon le premier mode de réalisation.
Un moyen de génération de valeur de caractéristique 29 génère une pluralité de valeurs de caractéristique qui sont similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons S, pour différentes combinaisons d'éléments de caractéristique au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2 qui est obtenu au moyen du test par
courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré.
Un moyen de génération de résultats d'évaluation 30 génère des données qui représentent la valeur de diminution d'épaisseur de paroi pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives qui sont basées sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2, et les paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives. Un moyen de vérification 31 compare les données respectives qui représentent les valeurs de diminution d'épaisseur de paroi qui ont été obtenues en tant que signaux de sortie à partir du moyen de génération de résultats d'évaluation 30. Lorsque les valeurs de diminution d'épaisseur de paroi qui sont représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, le moyen de vérification 31 adopte la valeur de diminution d'épaisseur de paroi basée sur cette
plage en tant que valeur estimée.
Un procédé d'évaluation qui utilise l'appareil mentionné ci-avant pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault sera décrit en détail par référence supplémentaire à la figure 4. Tout d'abord, un signal de test par courant de Foucault échantillon S1 est entré (étape S21). Après qu'un traitement de filtrage prédéterminé (étape S22) est réalisé, une valeur de caractéristique est générée (étape S23). Puis des éléments de caractéristique qui constituent la valeur de caractéristique
sont triés conformément à des standards prédéterminés (étape S24).
Puis il est fait référence à des données de réponse correcte (étape S21) et un paramètre d'évaluation, soit un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte, est généré au moyen d'un apprentissage moyennant l'utilisation des valeurs de caractéristique après tri (étape S25). En tant que résultat, un type de paramètre d'évaluation, soit C, est généré. Les traitements des étapes S21 à S25 sont répétés afin de générer un autre type de paramètre d'évaluation, soit D. Puis un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2 est entré (étape S26). Après qu'un traitement de filtrage prédéterminé (étape S27) est réalisé, une valeur de caractéristique similaire à celle obtenue à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon S, est générée (étape S28), cette génération étant suivie par la réalisation d'un tri prédéterminé (étape S29). En outre, des données qui représentent les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi sont générées sur la base de la valeur de caractéristique qui est basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2 et sur la base du paramètre d'évaluation C qui correspond à la valeur de caractéristique (étapes S30 et S31). Ces traitements sont réalisés pour le paramètre d'évaluation D. Des données respectives qui représentent les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi, qui ont été obtenues au moyen des traitements mentionnés ci-avant,sont comparées pour une vérification (étape S32). Lorsque les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi qui sont représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi qui est basée sur cette plage est adoptée en tant
que valeur estimée (étape S33).
<Troisième mode de réalisation> La figure 5 est un schéma fonctionnel d'un appareil pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault conformément à un troisième mode de réalisation de la présente invention. Ce mode de réalisation est conçu pour évaluer si le signal de test par courant de Foucault est considéré comme étant un défaut d'un élément destiné à
être mesuré ou est attribué à un pseudo-facteur autre qu'un défaut.
Comme représenté sur la figure 5, une borne d'entrée 1 reçoit en application un signal de test par courant de Foucault échantillon SI qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément
destiné à être mesuré, lequel présente un défaut connu ou un pseudo-
facteur autre qu'un défaut en tant que cause d'un signal de défaut faux.
Le signal de test par courant de Foucault échantillon S1 est appliqué sur un moyen de génération de valeur de caractéristique 43 après qu'un bruit est réduit au moyen d'un filtre 2 conformément à un procédé connu, si on le souhaite. Le moyen de génération de valeur de caractéristique 43 génère une valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon SI, la valeur de caractéristique étant une expression numérique de non seulement l'angle de phase du signal hautement corrélé au défaut et de l'amplitude du signal mais également d'une caractéristique hautement corrélée à un facteur secondaire qui est autre qu'un défaut et qui affecte la forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon SI. Des exemples du facteur secondaire qui est autre qu'un défaut et qui affecte la forme d'onde du signal de test par courant de Foucault peuvent être les mêmes que ceux pour la profondeur du défaut selon le premier mode de réalisation. C'est-à-dire que des éléments de caractéristique sélectionnés de façon appropriée
sont combinés afin de générer une valeur de caractéristique souhaitée.
Un moyen d'application de données de réponse correcte 44 applique des données de réponse correcte connues en tant que signal d'état qui est généré en réponse au défaut ou au pseudo-facteur du spécimen standard et qui représente ce même défaut ou ce même pseudo-facteur du spécimen standard. Un moyen d'apprentissage 45 est fondamentalement le même que le moyen d'apprentissage 5 qui est représenté sur la figure 1. C'est-à-dire que le moyen d'apprentissage reçoit les valeurs de caractéristique et les données de réponse correcte et génère un paramètre d'évaluation moyennant l'utilisation des valeurs de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible
par rapport aux données de réponse correcte.
Un moyen de génération de paramètre d'évaluation III comprend le filtre 2, le moyen de génération de valeur de caractéristique 43, le moyen d'application de données de réponse correcte 44 et le moyen d'apprentissage 45, comme décrit ci-avant. Au niveau du moyen de génération de paramètre d'évaluation III, des opérations pour la génération des valeurs de caractéristique et des paramètres d'évaluation, sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons S1, sont répétées, tandis que la combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique est modifiée, afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation. La combinaison des éléments de caractéristique peut ici être la même que celle selon le premier mode de réalisation. Un moyen de génération de valeur de caractéristique 49 génère une pluralité de valeurs de caractéristique qui sont similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons SI pour différentes combinaisons d'éléments de caractéristique au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2 qui est obtenu au moyen du test par
courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné a être mesuré.
Un moyen de génération de résultats d'évaluation 50 génère des signaux d'état qui représentent un défaut ou un pseudo-facteur pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives qui sont basées sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2, et les paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives. Un moyen de vérification 51 compare les signaux d'état respectifs qui ont été obtenus en tant que signaux de sortie à partir du moyen de génération de résultats d'évaluation 50. Lorsque les états qui sont représentés par les signaux d'état respectifs sont cohérents, le moyen de
vérification 51 identifie l'état en tant que défaut ou en tant que pseudo-
facteur. Un procédé d'évaluation qui utilise l'appareil mentionné ciavant pour l'évaluation d'un signal de test par courant de Foucault sera décrit en détail par référence supplémentaire à la figure 6. Tout d'abord, un signal de test par courant de Foucault échantillon S, est entré (étape S51). Après qu'un traitement de filtrage prédéterminé (étape S52) est réalisé, une valeur de caractéristique est générée (étape S53). Puis il est fait référence à des données de réponse correcte (étape S51) et un paramètre d'évaluation, soit un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte, est généré en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique (étape S54). En tant que résultat, un type de paramètre d'évaluation, soit E, est généré. Les traitements des étapes S51 à S54 sont répétés afin de générer un autre type de paramètre d'évaluation, soit F. Les paramètres E et F sont générés
conformément aux types de défauts.
Puis un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2 est entré (étape S55). Après qu'un traitement de filtrage prédéterminé (étape S56) est réalisé, la même valeur de caractéristique que celle obtenue à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon S, est générée (étape S57). En outre, un signal qui représente un défaut ou un pseudo-facteur est généré sur la base de la valeur de caractéristique qui est basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle S2, et sur la base du paramètre d'évaluation E qui correspond à la valeur de caractéristique (étapes S58 et S59). Ces traitements sont réalisés pour le paramètre d'évaluation F. Des données respectives qui représentent un défaut ou autre, qui ont été obtenues au moyen des traitements mentionnés ci-avant, sont comparées pour une vérification
(étape S60). Lorsque les données respectives sont cohérentes (c'est-à-
dire lorsqu'elles se correspondent), les résultats de vérification qui
* représentent un défaut ou autre sont produits (étape S61).
Selon les premier à troisième modes de réalisation, des explications ont été proposées pour deux valeurs de caractéristique et deux paramètres d'évaluation. Cependant, ces nombres ne sont pas ainsi restrictifs. Bien entendu, plus ces nombres sont importants, plus la précision de l'évaluation est élevée. Il n'est pas nécessairement requis de générer les valeurs de caractéristique et les paramètres d'évaluation selon des nombres pluriels. Un seul type de valeur de caractéristique et un seul type de paramètre d'évaluation sont inclus dans le concept technique de la présente invention bien qu'ils puissent aboutir à une précision de l'évaluation légèrement faible. Même dans ce cas, la précision de l'évaluation peut être améliorée de façon notable par
comparaison avec des technologies antérieures.
Bien que la présente invention ait été décrite de la façon présentée ciavant, il doit être bien compris que l'invention n'est pas ainsi limitée mais qu'elle peut être modifiée selon de nombreuses autres façons. Ces variantes ne sont pas à considérer comme s'écartant de l'esprit et du cadre de l'invention et toutes ces modifications, comme il apparaîtra de façon évidente à l'homme de l'art, sont destinées à être
incluses à l'intérieur du cadre des revendications annexées.

Claims (17)

REVENDICATIONS
1. Procédé pour générer une valeur de caractéristique à partir d'un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: la génération de la valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault qui est obtenu en mesurant un élément destiné à être mesuré, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault corrélé à une profondeur d'un défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte une forme d'onde du signal de test
par courant de Foucault.
2. Procédé pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: la génération d'une valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une profondeur connue d'un défaut, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon corrélé à la profondeur du défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la profondeur du défaut du spécimen standard; la génération d'une valeur de caractéristique similaire à celle obtenue à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; et la génération de données qui représentent la profondeur du défaut sur la base de la valeur de caractéristique basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et du paramètre
d'évaluation correspondant à la valeur de caractéristique.
3. Procédé pour évaluer un signal de test par courant de Foucault selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'il comprend en outre: la classification d'un type du défaut tel qu'un défaut externe ou qu'un défaut interne sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon, et la génération d'une valeur de caractéristique similaire et d'un paramètre d'évaluation similaire conformément au type classifié; et la classification d'un type du défaut sur la base du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault de l'élément destiné à être mesuré et la réalisation de la génération d'une valeur de caractéristique conformément au type classifié et de la génération de données qui représentent la profondeur du défaut sur la base du paramètre
d'évaluation conformément au type classifié.
4. Procédé pour évaluer un signal de test par courant de Foucault caractérisé en ce qu'il comprend: la génération de valeurs de caractéristique sur la base d'une pluralité de signaux de test par courant de Foucault échantillons qui sont obtenus en mesurant un spécimen standard, en tant qu'élément destiné à être mesuré et moyennant une valeur connue de diminution au niveau d'une épaisseur de paroi, au moyen d'un capteur de test par courant de Foucault pour obtenir des données au niveau d'une pluralité d'emplacements qui sont distribués en deux dimensions tel qu'un capteur du système multibobine comportant de nombreuses bobines, les valeurs de caractéristique étant des expressions numériques non seulement des angles de phase des signaux de test par courant de Foucault échantillons corrélés à la valeur de diminution d'épaisseur de paroi et d'amplitudes des signaux de test par courant de Foucault échantillons mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et qui affecte les formes d'onde des signaux de test par courant de Foucault échantillons; le tri des valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons conformément à des standards prédéterminés tels qu'une séquence de phase; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide des valeurs de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi du spécimen standard; la génération de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons en utilisant des signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle qui sont obtenus au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément destiné à être mesuré; et la génération de données qui représentent la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base des valeurs de caractéristique basées sur les signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle et du
paramètre d'évaluation correspondant aux valeurs de caractéristique.
5. Procédé pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: la génération d'une valeur de caractéristique sur la base d'un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré, qui présente un défaut connu ou qui a formé un pseudo-facteur autre qu'un défaut en tant que cause d'un signal de test par courant de Foucault faux, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon corrélé à un défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport à des données de réponse correcte connues en tant que signal d'état qui représente le défaut ou le pseudo-facteur du spécimen standard; la génération d'une valeur de caractéristique similaire à celle obtenue à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément destiné à être mesuré; et la génération d'un signal d'état qui représente le défaut ou le pseudo-facteur sur la base de la valeur de caractéristique basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et du paramètre
d'évaluation correspondant à la valeur de caractéristique.
6. Appareil pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: un moyen de génération de valeur de caractéristique (3) pour recevoir un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et d'une profondeur connue d'un défaut et pour générer une valeur de caractéristique qui est une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon corrélé à la profondeur du défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; un moyen d'application de données de réponse correcte (4) pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la profondeur du défaut du spécimen standard; un moyen d'apprentissage (5) pour recevoir la valeur de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage en utilisant la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte; un moyen de génération de valeur de caractéristique (9) pour générer une valeur de caractéristique similaire à celle obtenue à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; et un moyen de génération de résultats d'évaluation (10) pour générer des données qui représentent la profondeur du défaut sur la base de la valeur de caractéristique basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et du paramètre d'évaluation
correspondant à la valeur de caractéristique.
7. Appareil pour évaluer un signal de test par courant de Foucault selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'il comprend en outre: un moyen de classification (8) pour classifier un type de défaut tel qu'un défaut externe ou qu'un défaut interne sur la base du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault de l'élément destiné à être mesuré; un moyen de génération de paramètre d'évaluation (I) qui est adapté pour classifier le type du défaut sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour générer la valeur de caractéristique et le paramètre d'évaluation conformément au type classifié, dans lequel le moyen de génération de valeur de caractéristique est adapté pour générer la valeur de caractéristique conformément à une classification qui est réalisée par le moyen de classification (8); et le moyen de génération de résultats d'évaluation (10) est adapté pour générer les données qui représentent la profondeur du défaut sur la base de la valeur de caractéristique et du paramètre d'évaluation
générés conformément à la classification.
8. Appareil pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: un moyen de génération de valeur de caractéristique (23) pour générer des valeurs de caractéristique sur la base d'une pluralité de signaux de test par courant de Foucault échantillons qui sont obtenus en mesurant un spécimen standard, en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une valeur connue de diminution d'épaisseur de paroi, au moyen d'un capteur de test par courant de Foucault pour obtenir des données en de nombreux emplacements qui sont distribués en deux dimensions, tel qu'un capteur du système multibobine qui comporte de nombreuses bobines, les valeurs de caractéristique étant des expressions numériques non seulement des angles de phase des signaux de test par courant de Foucault échantillons corrélés à la valeur de diminution d'épaisseur de paroi et d'amplitudes des signaux de test par courant de Foucault échantillons mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et qui affecte des formes d'onde des signaux de test par courant de Foucault échantillons; un moyen de tri (12) pour trier les valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons conformément à des standards prédéterminés tels qu'une séquence de phase; un moyen d'application de données de réponse correcte (24) pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi du spécimen standard; un moyen d'apprentissage (25) pour recevoir les valeurs de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide des valeurs de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte; un moyen de génération de valeur de caractéristique (29) pour générer des valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons au moyen de l'utilisation des signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle qui sont obtenus au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; et un moyen de génération de résultats d'évaluation (30) pour générer des données qui représentent une valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base des valeurs de caractéristique basées sur les signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle et du
paramètre d'évaluation correspondant aux valeurs de caractéristique.
9. Appareil pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: un moyen de génération de valeur de caractéristique (43) pour générer une valeur de caractéristique sur la base d'un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré, qui présente un défaut connu ou qui a formé un pseudo-facteur autre qu'un défaut en tant que cause d'un signal de test par courant de Foucault faux, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon corrélé à un défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; un moyen d'application de données de réponse correcte (44) pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que signal d'état généré en réponse au défaut ou au pseudo-facteur du
spécimen standard et exprimant ce même défaut ou ce même pseudo-
facteur du spécimen standard; un moyen d'apprentissage (45) pour recevoir la valeur de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur présentant une valeur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte; un moyen de génération de valeur de caractéristique (49) pour générer une valeur de caractéristique similaire à celle obtenue à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon au moyen de I'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; et un moyen de génération de résultats d'évaluation (50) pour générer un signal d'état qui représente un défaut ou un pseudo-facteur sur la base de la valeur de caractéristique basée sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et du paramètre d'évaluation
correspondant à la valeur de caractéristique.
10. Procédé pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: la génération d'une valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une profondeur connue d'un défaut, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon corrélé à la profondeur du défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour aboutir à des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la profondeur du défaut du spécimen standard; la répétition des opérations pour la génération de la valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour la génération du paramètre d'évaluation, tandis qu'une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique est modifiée, afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; la génération d'une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle qui sont obtenus au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesure; la génération de données qui représentent les profondeurs du défaut pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur les signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et la comparaison des données respectives qui représentent les profondeurs du défaut et lorsque les profondeurs du défaut qui sont représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, l'adoption de la profondeur du défaut sur la base
de la plage prédéterminée en tant que valeur estimée.
11. Procédé pour évaluer un signal de test par courant de Foucault selon la revendication 10, caractérisé en ce qu'il comprend en outre: la classification d'un type du défaut tel qu'un défaut externe ou qu'un défaut interne, sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et la réalisation d'une génération similaire de valeurs de caractéristique et de paramètres d'évaluation conformément au type classifié; et la classification d'un type du défaut sur la base du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault de l'élément destiné à être mesuré et la réalisation de la génération des valeurs de caractéristique conformément au type classifié et de la génération des données qui représentent la profondeur du défaut sur la base des valeurs de caractéristique et de
paramètres d'évaluation conformément au type classifié.
12. Procédé pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: la génération de valeurs de caractéristique sur la base d'une pluralité de signaux de test par courant de Foucault échantillons obtenus en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné a être mesuré et présentant une valeur connue de diminution d'épaisseur de paroi, au moyen d'un capteur de test par courant de Foucault pour obtenir des données en de nombreux emplacements qui sont distribués en deux dimensions tel qu'un capteur du système multibobine comportant de nombreuses bobines, les valeurs de caractéristique étant des expressions numériques non seulement des angles de phase des signaux de test par courant de Foucault échantillons corrélés à la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et des amplitudes des signaux de test par courant de Foucault échantillons mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et qui affecte des formes d'onde des signaux de test par courant de Foucault échantillons; le tri des valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons conformément à des standards prédéterminés tels qu'une séquence de phase; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide des valeurs de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi du spécimen standard; la répétition des opérations pour la génération des valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons, pour le tri et pour la génération du paramètre d'évaluation, tout en modifiant une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique et les standards pour le tri, afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; la génération d'une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle qui sont obtenus au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesure; la génération de données qui représentent les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur les signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et la comparaison des données respectives qui représentent les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi et lorsque les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi qui sont représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, l'adoption de la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base de la plage
prédéterminée en tant que valeur estimée.
13. Procédé pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: la génération d'une valeur de caractéristique sur la base d'un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré qui présente un défaut connu ou qui a formé un pseudo-facteur autre qu'un défaut en tant que cause d'un signal de test par courant de Foucault faux, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon corrélé à un défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; la génération d'un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec des données de réponse correcte connues en tant que signal d'état qui représente le défaut ou le pseudo-facteur du spécimen standard; la répétition des opérations pour la génération de la valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour la génération du paramètre d'évaluation, tout en modifiant une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; la génération d'une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesure; la génération de signaux d'état qui représentent un défaut ou un pseudo-facteur pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et la comparaison des signaux d'état respectifs afin de discerner, sur la base d'une coïncidence en termes de contenu des signaux d'état, si le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle est un
signal qui représente un défaut ou un signal faux.
14. Appareil pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: un moyen de génération de valeur de caractéristique (3) pour recevoir un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une profondeur connue d'un défaut, et pour générer une valeur de caractéristique qui est une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon corrélé à la profondeur du défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la profondeur du défaut et qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; un moyen d'application de données de réponse correcte (4) pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la profondeur du défaut du spécimen standard; un moyen d'apprentissage (5) pour recevoir la valeur de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec les données de réponse correcte; un moyen de génération de paramètre d'évaluation (I) pour répéter les opérations pour la génération de la valeur de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour la génération du paramètre d'évaluation tandis qu'une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique est modifiée, afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; un moyen de génération de valeur de caractéristique (9) pour générer une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucaultd'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; un moyen de génération de résultats d'évaluation (10) pour générer des données qui représentent les profondeurs d'un défaut pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et un moyen de vérification (11) pour comparer des données respectives qui représentent les profondeurs du défaut qui ont été obtenues en tant que signaux de sortie en provenance du moyen de génération de résultats d'évaluation (10) et lorsque les profondeurs du défaut représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, pour adopter la profondeur du défaut sur la
base de la plage prédéterminée en tant que valeur estimée.
15. Appareil pour évaluer un signal de test par courant de Foucault selon la revendication 14, caractérisé en ce qu'il comprend en outre: un moyen de classification (8) pour classifier un type de défaut tel qu'un défaut externe ou qu'un défaut interne sur la base du signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault de l'élément destiné à être mesuré, dans lequel le moyen de génération de paramètre d'évaluation (I) est adapté pour classifier le type du défaut sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour générer la valeur de caractéristique et le paramètre d'évaluation conformément au type classifié, dans lequel le moyen de génération de valeur de caractéristique (9) est adapté pour générer la valeur de caractéristique conformément à une classification qui est réalisée par le moyen de classification (8); et le moyen de génération de résultats d'évaluation (10) est adapté pour générer les données qui représentent la profondeur du défaut sur la base de la valeur de caractéristique et du paramètre d'évaluation
générés conformément à la classification.
16. Appareil pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: un moyen de génération de valeur de caractéristique (23) pour générer des valeurs de caractéristique sur la base d'une pluralité de signaux de test par courant de Foucault échantillons qui sont obtenus en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré et présentant une valeur connue de diminution d'épaisseur de paroi, au moyen d'un capteur de test par courant de Foucault pour obtenir des données en de nombreux emplacements qui sont distribués en deux dimensions, tel qu'un capteur du système multibobine comportant de nombreuses bobines, les valeurs de caractéristique étant des expressions numériques non seulement des angles de phase des signaux de test par courant de Foucault échantillons corrélés à la valeur de diminution d'épaisseur de paroi et d'amplitudes des signaux de test par courant de Foucault échantillons mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui est autre que la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi et qui affecte des formes d'onde des signaux de test par courant de Foucault échantillons; un moyen de tri (12) pour trier les valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons conformément à des standards prédéterminés tels qu'une séquence de phase; un moyen d'application de données de réponse correcte (24) pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que valeur qui exprime la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi du spécimen standard; un moyen d'apprentissage (25) pour recevoir les valeurs de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide des valeurs de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible en relation avec les données de réponse correcte; un moyen de génération de paramètre d'évaluation (Il) pour répéter les opérations pour la génération des valeurs de caractéristique sur la base des signaux de test par courant de Foucault échantillons, pour le tri et pour la génération du paramètre d'évaluation tout en modifiant une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique et les standards pour le tri afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; un moyen de génération de valeur de caractéristique (29) pour générer une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir des signaux de test par courant de Foucault échantillons pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation de signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle qui sont obtenus au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; un moyen de génération de résultats d'évaluation (30) pour générer des données qui représentent les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur les signaux de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et un moyen de vérification (31) pour comparer les données respectives qui représentent les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi qui ont été obtenues en tant que signaux de sortie à partir du moyen de génération de résultats d'évaluation (30) et lorsque les valeurs de diminution de l'épaisseur de paroi représentées par les données respectives tombent à l'intérieur d'une plage prédéterminée, pour adopter la valeur de diminution de l'épaisseur de paroi sur la base de la plage prédéterminée en tant que valeur estimée.
17. Appareil pour évaluer un signal de test par courant de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend: un moyen de génération de valeur de caractéristique (43) pour générer une valeur de caractéristique sur la base d'un signal de test par courant de Foucault échantillon qui est obtenu en mesurant un spécimen standard en tant qu'élément destiné à être mesuré qui présente un défaut connu ou qui a formé un pseudo-facteur autre qu'un défaut en tant que cause d'un signal de test par courant de Foucault faux, la valeur de caractéristique étant une expression numérique non seulement d'un angle de phase du signal de test par courant de Foucault échantillon corrélé à un défaut et d'une amplitude du signal de test par courant de Foucault échantillon mais également d'une caractéristique corrélée à un facteur secondaire qui affecte une forme d'onde du signal de test par courant de Foucault échantillon; un moyen d'application de données de réponse correcte (44) pour appliquer des données de réponse correcte connues en tant que signal d'état généré en réponse au défaut ou au pseudo-facteur du spécimen standard et représentant ce même défaut ou ce même pseudo-facteur du spécimen standard; un moyen d'apprentissage (45) pour recevoir la valeur de caractéristique et les données de réponse correcte et pour générer un paramètre d'évaluation en réalisant un apprentissage à l'aide de la valeur de caractéristique, le paramètre d'évaluation étant un paramètre pour émettre en sortie une valeur présentant une erreur suffisamment faible par rapport aux données de réponse correcte; un moyen de génération de paramètre d'évaluation (111) pour répéter des opérations pour la génération des valeurs de caractéristique sur la base du signal de test par courant de Foucault échantillon et pour la génération du paramètre d'évaluation tout en modifiant une combinaison d'éléments de la valeur de caractéristique afin de générer une pluralité de paramètres d'évaluation; un moyen de génération de valeur de caractéristique (49) pour générer une pluralité de valeurs de caractéristique similaires à celles obtenues à partir du signal de test par courant de Foucault échantillon pour différentes combinaisons d'éléments de la valeur de caractéristique au moyen de l'utilisation d'un signal de test par courant de Foucault de mesure réelle qui est obtenu au moyen d'un test par courant de Foucault d'un élément en tant qu'objet destiné à être mesuré; un moyen de génération de résultats d'évaluation (50) pour
générer des signaux d'état qui représentent un défaut ou un pseudo-
facteur pour les paramètres d'évaluation respectifs sur la base des valeurs de caractéristique respectives basées sur le signal de test par courant de Foucault de mesure réelle et des paramètres d'évaluation respectifs correspondant aux valeurs de caractéristique respectives; et un moyen de vérification (51) pour comparer les signaux d'état respectifs qui ont été obtenus en tant que signaux de sortie à partir du moyen de génération de résultats d'évaluation (50) et lorsque des états qui sont représentés par les signaux d'état respectifs sont cohérents,
pour identifier les états comme étant un défaut ou un pseudo-facteur.
FR0103089A 2000-07-06 2001-03-07 Procede et appareil pour evaluer un signal de test par courant de foucault Expired - Lifetime FR2811429B1 (fr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000204665A JP2002022708A (ja) 2000-07-06 2000-07-06 渦流探傷信号の評価方法及びその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2811429A1 true FR2811429A1 (fr) 2002-01-11
FR2811429B1 FR2811429B1 (fr) 2005-04-29

Family

ID=18701896

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR0103089A Expired - Lifetime FR2811429B1 (fr) 2000-07-06 2001-03-07 Procede et appareil pour evaluer un signal de test par courant de foucault

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6424151B2 (fr)
JP (1) JP2002022708A (fr)
CA (1) CA2337294C (fr)
FR (1) FR2811429B1 (fr)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070188168A1 (en) * 1999-08-26 2007-08-16 Stanley James G Magnetic sensor
US7514917B2 (en) * 2003-09-19 2009-04-07 Automotive Systems Laboratory, Inc. Magnetic crash sensor
US7388370B2 (en) 2005-07-29 2008-06-17 Automotive Systems Laboratory Systems, Inc. Magnetic crash sensor
DE10045715A1 (de) * 2000-09-15 2002-03-28 Busch Dieter & Co Prueftech Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Werkstücks mittels Wirbelströmen
US6670808B2 (en) * 2001-08-27 2003-12-30 General Electric Company Self reference eddy current probe, measurement system, and measurement method
US6563309B2 (en) * 2001-09-28 2003-05-13 The Boeing Company Use of eddy current to non-destructively measure crack depth
JP2003240761A (ja) * 2002-02-15 2003-08-27 Jfe Steel Kk 磁性金属被検体の表層欠陥又は表面欠陥の検出方法及び装置
EP1663732A2 (fr) * 2003-09-19 2006-06-07 Automotive Systems Laboratory Inc. Procede magnetique pour detecter un impact
EP1663707A4 (fr) * 2003-09-19 2007-03-14 Automotive Systems Lab Detecteur de chocs magnetique
US7463987B2 (en) 2003-09-19 2008-12-09 Takata Holdings, Inc. Magnetic sensing system and method
EP1743156A4 (fr) * 2003-12-21 2010-08-04 Automotive Systems Lab Detecteur magnetique
JP4875382B2 (ja) * 2006-02-27 2012-02-15 三菱重工業株式会社 渦流探傷信号の評価方法及び装置
US7389206B2 (en) * 2006-08-10 2008-06-17 General Electric Company Inspection systems and methods of operation
JP4885068B2 (ja) * 2007-06-13 2012-02-29 三菱重工業株式会社 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法
US7948233B2 (en) * 2008-10-07 2011-05-24 General Electric Company Omnidirectional eddy current array probes and methods of use
JP2010156617A (ja) * 2008-12-26 2010-07-15 Marktec Corp 渦電流探傷方法と渦電流探傷装置
US8386404B2 (en) * 2009-01-19 2013-02-26 Zetec, Inc. Methods for automated eddy current non-destructive testing analysis
US9177678B2 (en) * 2009-07-23 2015-11-03 Westinghouse Electric Company Llc Method of processing steam generator tubes of nuclear power plant
US8387444B2 (en) * 2009-11-12 2013-03-05 Westinghouse Electric Company Llc Method of modeling steam generator and processing steam generator tube data of nuclear power plant
JP5562629B2 (ja) * 2009-12-22 2014-07-30 三菱重工業株式会社 探傷装置及び探傷方法
CN103760232A (zh) * 2014-01-22 2014-04-30 中国人民解放军国防科学技术大学 一种圆形周期结构的柔性阵列式电涡流传感器
RU2656115C1 (ru) * 2016-12-07 2018-05-31 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет" Способ вихретокового контроля толщины стенки металлических немагнитных труб
CN108445075A (zh) * 2018-03-06 2018-08-24 苏州热工研究院有限公司 一种换热管涡流检测管壁损伤的评价方法
JP6950664B2 (ja) * 2018-10-31 2021-10-13 Ｊｆｅスチール株式会社 欠陥判定方法、欠陥判定装置、鋼板の製造方法、欠陥判定モデルの学習方法、及び欠陥判定モデル
CN111351838B (zh) * 2018-12-20 2023-08-18 核动力运行研究所 一种构造具有特定缺陷的涡流信号的方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3588682A (en) * 1967-11-28 1971-06-28 Forster F M O System for inspecting a welded seam with means for generating a signal which is a function of the welding temperature
US5144565A (en) * 1990-03-26 1992-09-01 K. J. Law Engineers, Inc. Measurement of metallurgical properties in ferromagnetic test parts
DE4201502A1 (de) * 1992-01-21 1993-07-22 Siemens Ag Verfahren und anordnung zur elektrischen wirbelstrompruefung
US5537334A (en) * 1992-10-07 1996-07-16 Commissariat A L'energie Atomique Process for processing signals collected by an eddy current absolute point transducer
EP0833150A2 (fr) * 1996-09-27 1998-04-01 Wilfried Dr.-Ing. Reimche Méthode et appareil pour la mesure des caractéristiques de matériaux semi-fini et des pièces des machines

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4213183A (en) * 1979-03-22 1980-07-15 Adaptronics, Inc. System for nondestructive evaluation of material flaw characteristics
FR2627862A1 (fr) * 1988-02-26 1989-09-01 Commissariat Energie Atomique Procede de controle par courants de foucault impulsionnels et dispositif de mise en oeuvre
US5339256A (en) * 1991-11-27 1994-08-16 The United States Of Americas As Represented By The United States Department Of Energy Expert system for analyzing eddy current measurements
US5737445A (en) * 1995-04-20 1998-04-07 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Automated feature detection and identification in digital point-ordered signals
JPH112626A (ja) * 1997-06-13 1999-01-06 Hitachi Cable Ltd 探傷傷種別の自動判定方法
US6115674A (en) * 1998-06-30 2000-09-05 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Automated detection and location of indications in eddy current signals

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3588682A (en) * 1967-11-28 1971-06-28 Forster F M O System for inspecting a welded seam with means for generating a signal which is a function of the welding temperature
US5144565A (en) * 1990-03-26 1992-09-01 K. J. Law Engineers, Inc. Measurement of metallurgical properties in ferromagnetic test parts
DE4201502A1 (de) * 1992-01-21 1993-07-22 Siemens Ag Verfahren und anordnung zur elektrischen wirbelstrompruefung
US5537334A (en) * 1992-10-07 1996-07-16 Commissariat A L'energie Atomique Process for processing signals collected by an eddy current absolute point transducer
EP0833150A2 (fr) * 1996-09-27 1998-04-01 Wilfried Dr.-Ing. Reimche Méthode et appareil pour la mesure des caractéristiques de matériaux semi-fini et des pièces des machines

Also Published As

Publication number Publication date
US20020003421A1 (en) 2002-01-10
US6424151B2 (en) 2002-07-23
CA2337294A1 (fr) 2002-01-06
FR2811429B1 (fr) 2005-04-29
CA2337294C (fr) 2004-04-13
JP2002022708A (ja) 2002-01-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FR2811429A1 (fr) Procede et appareil pour evaluer un signal de test par courant de foucault
CA2585846C (fr) Mesure des epaisseurs de paroi, notamment d&#39;aube, par courants de foucault
EP3224611B1 (fr) Procédé de détection et de caractérisation par ultrasons de défauts dans un matériau hétérogène
FR2917500A1 (fr) Compensation automatique d&#39;eloignement pour inspection par courants de foucault pulses
CA3205122A1 (fr) Procede, dispositif et programme de detection par ultrasons de defauts dans un materiau
CA3177340A1 (fr) Methode de detection de la presence d&#39;un agent pathogene dans un liquide biologique par spectroscopie raman exaltee de surface
EP3847450B1 (fr) Procede de detection et de caracterisation par ultrasons de defauts dans un materiau heterogene
EP3009836B1 (fr) Procédé et ensemble de vérification de la calibration d&#39;un système de contrôle non destructif de pièces
EP3259608A1 (fr) Procede de caracterisation d&#39;un defaut non franc dans un cable
WO2022038159A1 (fr) Procédé de caractérisation d&#39;une pièce par contrôle non destructif
FR2767943A1 (fr) Appareil de classification utilisant une combinaison de methodes statistiques et de reseaux neuronaux, destine notamment a la reconnaissance d&#39;odeurs
EP3054284A1 (fr) Procédé de correction d&#39;un signal rétrodiffusé par un échantillon et dispositif associé
EP3087444B9 (fr) Procédé d&#39;estimation quantitative du colmatage des plaques d&#39;un générateur de vapeur
FR3057357A1 (fr) Procede et dispositif de detection et de caracterisation d&#39;un element reflecteur dans un objet
WO2021099727A1 (fr) Procédé de détection de défaut par focalisation d&#39;ondes ultrasonores générés par impulsion laser
FR2846089A1 (fr) Dispositif et procede de test acoustique et vibratoire de de pieces mecaniques
EP4300095B1 (fr) Procédé d&#39;identification automatique d&#39;une source acoustique a partir d&#39;un signal acoustique produit
CA2187943A1 (fr) Procede de suivi et de controle du fonctionnement d&#39;un analyseur et d&#39;une unite de fabrication a laquelle il est raccorde
FR2733596A1 (fr) Procede et dispositif d&#39;identification de particules
FR2911685A1 (fr) Procede et dispositif pour le controle non destructif de soudures realisees par laser sur des toles en acier.
FR3124265A1 (fr) Dispositif et procédé d’imagerie térahertz
WO1991019194A1 (fr) Procede de determination de l&#39;angle du fil du bois par ultrasons et dispositif pour la mise en ×uvre du procede
EP4350366A1 (fr) Méthode d&#39;évaluation d&#39;une ligne de transmission par analyse automatique d&#39;un réflectogramme
EP4053553A1 (fr) Procédé de détection de fissures dans une pièce en alliage d&#39;aluminium réalisée par fabrication additive
FR3130973A1 (fr) Dispositif de contrôle de qualité et de classification d’un bouchon en liège et procédé associé

Legal Events

Date Code Title Description
PLFP Fee payment

Year of fee payment: 16

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 17

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 18

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 20