FR2719413A1 - Procédé d'obtention d'une résistance de valeur déterminée. - Google Patents
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Abstract
L'invention concerne un procédé d'obtention d'une résistance de valeur déterminée: - on sélectionne une première résistance ayant une première valeur mesurée (r1 ) choisie parmi une première liste de valeurs de résistance, ladite première valeur étant inférieure 6 ladite valeur prédéterminée; - on sélectionne une deuxième résistance ayant une deuxième valeur mesurée (r2 ) choisie parmi une deuxième liste de valeurs de résistance, ladite deuxième valeur étant telle que la somme desdites première et deuxième valeurs soit supérieure à ladite valeur prédéterminée; - on connecte en série lesdites première et deuxième résistance; - on sélectionne une troisième résistance ayant une troisième valeur (r3 ) choisie parmi une troisième liste de valeurs de résistance, ladite troisième valeur étant telle que (CF DESSIN DANS BOPI) soit sensiblement égal à ladite valeur déterminée; et - on connecte ladite troisième résistance en parallèle sur ladite deuxième résistance.
Description
PROCEDE D'OBTENTION D'UNE RESISTANCE
DE VALEUR DETERMINEE
La présente invention concerne un procédé d'obtention d'une résistance de valeur déterminée. Il arrive que l'on ait à utiliser des résistances électriques de valeurs très précisément déterminées. Cette valeur peut notamment être le résultat d'un calcul, comme c'est le cas lors de l'étalonnage d'un pont de jauge de la manière décrite dans le document FR-A-2690524. La valeur obtenue est alors io totalement quelconque, de sorte que la résistance ne peut être extraite d'un lot
de résistances ayant des valeurs normalisées.
Une première solution à ce problème consiste à utiliser un potentiomètre, éventuellement en série avec une résistance fixe. C'est la solution la plus couramment utilisée, étant la plus facile à mettre en oeuvre. Elle présente toutefois l'inconvénient de ne pas pouvoir être mise en oeuvre en environnement sévère, et notamment en milieu à fort niveau de vibrations, o
l'usure rend ces dispositifs inutilisables.
Une autre solution réside dans le micro-usinage de résistances en couche épaisse. Il s'agit là de techniques utilisant des unités à faisceaux laser ou à micro-sablage, nécessitant de gros investissements. De surcroit, elles ne permettent pas de corrections, du fait qu'elles agissent par enlèvement de matière. La présente invention vise à pallier ces inconvénients. Elle a plus particulièrement pour but de fournir un procédé d'obtention d'une résistance de valeur déterminée qui soit fiable en environnement sévère et qui, néanmoins,
puisse être mise en oeuvre relativement simplement à des coûts raisonnables.
A cet effet, l'invention a pour objet un procédé d'obtention d'une résistance de valeur déterminée, caractérisé par le fait qu'il comprend les étapes consistant à: - sélectionner une première résistance ayant une première valeur mesurée (r,) choisie parmi une première liste de valeurs de résistance, ladite première valeur étant inférieure à ladite valeur prédéterminée; - sélectionner une deuxième résistance ayant une deuxième valeur mesurée (r,) choisie parmi une deuxième liste de valeurs de résistance, ladite deuxième valeur étant telle que la somme desdites première et deuxième valeurs soit supérieure à ladite valeur prédéterminée; - connecter en série lesdites première et deuxième résistances; - sélectionner une troisième résistance ayant une troisième valeur 1o (r3) choisie parmi une troisième liste de valeurs de résistance, ladite troisième valeur étant telle que r. xr3
r, +r.
soit sensiblement égal à ladite valeur déterminée; et - connecter ladite troisième résistance en parallèle sur ladite deuxième résistance. Dans un mode de mise en oeuvre particulier de l'invention, destiné à l'obtention d'une résistance d'une valeur déterminée environ comprise entre 500 2 et 200 k Q, ladite première liste de valeurs est sensiblement la suivante en ohms:
0, 243, 487, 715, 953, 1180, 1400, 1650, 1870, 2000, 2150, 2320,
2550, 2670, 2940, 3160, 3400, 3570, 3830, 4120, 4320, 4990, 6810, 8660,
10500, 12100, 13000, 14000, 15800, 17400, 18200, 20000, 21000, 22600,
24300, 26100, 27400, 28700, 30100, 31600, 33200, 34800, 36500, 37400,
39200, 40200, 42200, 43200, 45300, 46400, 47500, 49900, 51100, 56200,
57600, 59000, 60400, 61900, 64900, 68100, 71500, 75000, 80600, 86600,
90900, 95300, 100000, 105000, 110000, 115000, 118000, 121000, 124000,
127000, 130000, 133000, 137000, 140000, 143000, 147000, 150000, 154000,
158000, 162000, 165000, 169000,174000,178000, 200000.
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Egalement dans un mode de mise en oeuvre particulier de l'invention, ladite deuxième liste de valeurs est sensiblement la suivante en ohms:
487, 499, 511, 523, 536, 562, 590, 619, 649, 681, 715, 750, 1180,
1400, 1540, 1650, 1740, 1870, 2000, 2150, 2320, 2550, 2670, 2940, 3160,
3400, 3830, 4120, 4320, 4990, 6810, 8660,10500.
Egalement dans un mode de mise en oeuvre particulier de l'invention, ladite troisième liste de valeurs est sensiblement la suivante en ohms:
4990, 6810, 8660, 10500, 12100, 13000, 14000, 14700, 15000,
15800, 16200, 17400, 18200, 20000, 21000, 22600, 24300, 26100, 27400,
28700, 30100, 31600, 33200, 34800, 36500, 37400, 39200, 40200, 42200,
43200, 45300, 46400, 47500, 49900, 51100, 56200, 57600, 59000, 60400,
62900, 64900, 68100, 71500, 75000, 86600, 90000, 95300, 100000, 105000,
110000, 115000, 118000, 121000, 124000, 127000, 130000, 140000, 150000,
165000,178000, 200000.
L'invention a également pour objet une résistance électrique, formée d'une première résistance (R1) en série avec une deuxième résistance (R2), laquelle est elle-même en parallèle avec une troisième résistance (R3), caractérisée par le fait que les valeurs en ohms des première, deuxième et troisième résistances sont sélectionnées respectivement dans les trois listes suivantes: a) 0, 243, 487, 715, 953, 1180, 1400, 1650, 1870, 2000, 2150, 2320,
2550, 2670, 2940, 3160, 3400, 3570, 3830, 4120, 4320, 4990, 6810, 8660,
10500, 12100, 13000, 14000, 15800, 17400, 18200, 20000, 21000, 22600,
24300, 26100, 27400, 28700, 30100, 31600, 33200, 34800, 36500, 37400,
39200, 40200, 42200, 43200, 45300, 46400, 47500, 49900, 51100, 56200,
57600, 59000, 60400, 61900, 64900, 68100, 71500, 75000, 80600, 86600,
90900, 95300, 100000, 105000, 110000, 115000, 118000, 121000, 124000,
127000, 130000, 133000, 137000, 140000, 143000, 147000, 150000, 154000,
158000,162000,165000,169000,174000,178000, 200000.
b) 487, 499, 511, 523, 536, 562, 590, 619, 649, 681, 715, 750, 1180,
1400, 1540, 1650, 1740, 1870, 2000, 2150, 2320, 2550, 2670, 2940, 3160,
3400, 3830, 4120, 4320, 4990, 6810, 8660, 10500.
c) 4990, 6810, 8660, 10500, 12100, 13000, 14000, 14700, 15000,
15800, 16200, 17400, 18200, 20000, 21000, 22600, 24300, 26100, 27400,
28700, 30100, 31600, 33200, 34800, 36500, 37400, 39200, 40200, 42200,
43200, 45300, 46400, 47500, 49900, 51100, 56200, 57600, 59000, 60400,
62900, 64900, 68100, 71500, 75000, 86600, 90000, 95300, 100000, 105000,
110000, 115000, 118000, 121000, 124000, 127000, 130000, 140000, 150000,
o10 165000,178000, 200000.
On décrira maintenant, à titre d'exemple non limitatif, un mode de réalisation particulier de l'invention, en référence au dessin annexé dans lequel: - la figure 1 illustre le schéma électrique selon lequel sont montées i5 les résistances dans le procédé selon l'invention; et - la figure 2 est un schéma d'un banc d'étalonnage de capteur
mettant en oeuvre le procédé selon l'invention.
On voit sur la figure 1 que l'on peut obtenir une résistance d'une valeur déterminée quelconque r en disposant en série deux résistances R1 et R2 de valeurs respectives r. et r, et en plaçant en parallèle sur R2 une résistance R3 de valeur r3 sous réserve que:
r, xr.
r, + r.
La déposante a constaté que, d'une manière surprenante, il était possible de cette manière d'obtenir une résistance équivalente R d'une valeur r très précise tout en utilisant des résistances R1, R2 et R3 de précision bien inférieure, et tout en sélectionnant ces résistances R1, R2 et R3 dans des jeux
restreints de résistances.
Les jeux de résistances ci-dessus, de 89, 33 et 61 résistances, ne comprenant en fait que 103 valeurs de résistance distinctes, précises à 1%,
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pour respectivement R1, R2 et R3, permettent d'obtenir une résistance R d'une valeur quelconque comprise entre environ 500 Q et 200 k , à 0,1% près. Ces jeux ont été obtenus par approximations successives et testés sur un
programme de simulation numérique.
On voit sur la figure 2 un capteur 1 disposé sur un banc d'étalonnage 2 Ce banc comprend un emplacement 3 sur lequel les résistances R1, R2 et R3 peuvent être connectées comme montré à la figure 1, ainsi qu'une boîte à décades binaire 4 à 17 bits permettant de réaliser une gamme de valeurs de résistances allant de 0,25 ohms à 200 Kohms. La boîte à io décade affiche la valeur de résistance à obtenir pour étalonner le capteur 1,
valeur qui peut avoir été obtenue par tout moyen convenable.
La boîte à décade 4 est commandée par une unité de commande 5, laquelle est elle-même pilotée par un calculateur 6. Un multimètre 7 permet de mesurer les valeurs de résistance R1 et R2 obtenues sur le banc à I'emplacement de connexion 3, ainsi que le signal de sortie du capteur 1 muni
de sa résistance d'étalonnage.
Le calculateur est relié à l'unité de commande 5 et au multimètre 7.
L'essentiel de son programme, dans la mesure o il concerne la présente
invention, est reproduit en annexe, à la suite de la présente description. Ce
programme est écrit en langage Turbo Pascal et ne sera donc pas commenté plus en détail, compte tenu des commentaires qui l'accompagnent. On y comprend comment sont sélectionnées successivement les trois résistances
R1, R2 et R3, à partir des trois tableaux de valeurs énoncés ci-dessus.
Bien entendu, le procédé décrit ci-dessus ne doit pas être impérativement utilisé dans le cadre du banc d'étalonnage décrit ci- dessus. En particulier, il peut être mis en oeuvre manuellement, en utilisant uniquement les listes de valeurs de résistances indiquées ci- dessus, et le processus de
sélection de valeurs correspondant au programme ci-dessus.
- 6 - 2719413
A N N E Y -
program etalonnage; uses crt,s_resl$ var i:integer; { Pointeur de scrutation de la liste R1} j integer, { Pointeur de scrutation de la liste R2} k:lnteger; { Pointeur de scrutation de la liste R3} butee:integer; { Defini la fin du domaine de scrutation} RR.real, { Valeur calculée de R} R:real; { Valeur de R a obtenir} rrl:real; {Valeur de R1} rr2:realh {Valeur de R2} Pc1:real; procedure calcul_R; { Procedure de calcul de RR begin RR:=rrl+((rr2*r3(.k.))/(rr2+r3(.k.))); end; procedure recherche_Rl; { Procedure de recherche de R1} begin i:=0; if R<3416 then j:=1 else begin j:=14; { Si R >3416, positionne à 14 le pointeur deR2} i =9; { et à 9 le pointeur de R1} end; k:=trunc(r2(.j,2. )); { Positionne le pointeur de R3 au debut selon la} rr2:=r2(.j,1.); {valeur correspondante à R2(.J,2. )} repeat { Boucle de scrutation de R1} I:=i+1 { Increment du pointeur de scrutation} rrl:=rl (.i.); {Valeur de R1} calculr; pc1:=rrl/100; {Calcul de la dispersion sur R1 max} until ((rr+pcl)>R) or (i>89); { Arret de la boucle dès depassement de la} { consigne ou de la fin de la liste} i:=i-1; { Positionne le pointeur à la valeur precedente} rrl:=rl (.i.); { Memorise la valeur theorique de R1} end; procedure recherche_R2; { Procedure de recherche de R2} begin if R<3416 then j:=0 else j:=13; { Si R <3416, positionne à 0 le pointeur de R2} { Sinon,positionne le pointeur à 13} k:=trunc(r2(. j,2)); { Positionne le pointeur de R3 au debut selon} { la valeur correspondante à R2(.J,2.)} repeat { Boucle de scrutation de R2} j:=j+1; { Increment du pointeur de scrutation} k:=trunc(r2(.j,2.)); rr2:=r2(.j,1.); {Valeur de R2} calcul r; pcl:=r2(. j,1.)/100; {Calcul de la dispersion sur R2 max if i<48 then butee:=29 else butee:=33; { Positionne la butée de fin de liste en fonction} { de la valeur du pointeur de R1} until ((rr+pcl)> R) or (j>butee); { Arret de la boucle dès depassement de la} { consigne ou de la fin de la liste} j:=j-1; { Positionne le pointeur à la valeur precedente} rr2:=r2(.j,l.); { Memorise la valeur theorique de R2} end; procedure rechercheR3; { Procedure de recherche de R3 var difl,dif2:real; begin k:=trunc(r2(.j,2.)); calcul_r; repeat { Boucle de scrutation de R3} difl :=abs(rr-R); { Calcul de l'eccart pour k} k:=k+l { Increment du pointeur de scrutation} calculr; dif2:=abs(rr-R); { Calcul de l'eccart pour k+l} until (rr>R) or (k>61); { Arret de la boucle dès depassement de R ou} { de la fin de liste} if dif l<dif2 then k:=k-1; { Choix de k pour l'eccart mini} end; begin { Programme principal clrscr; write('lntroduire la valeur de R:'); { Introduction de R} readin(R); recherche_R1; { Determination de R1} writeln('Cabler Rl:',rrl:8:2,' '); { Cablage de R1} wnte('lntroduire la valeur réelle de RI:'); { Analyse de R1} readln(rrl); recherche_R2; { Deduction de R2} writeln('Cabler R2:',rr2:8:2,'_'); { Cablage de R2} wnrite('lntroduire la valeur réelle de R2:'); { Analyse de R2} readln(rr2); recherche_R3; { Deduction de R3} writeln('Cabler R3:',r3(.k.):8:2,'_'); { Cablage de R3} calcul_R; writeln('Valeur genérée:',rr:9:2); readIn; end. { Fin de l'etalonnage} unit sres1; { Unite declarant les constantes utilis,es dans la serie de resistances} interface const { Liste des resistances possibles pour R1} R1:array(.1..89.) of real= (0,243,487,715,953,1180,1400,1650,1870.2000. 2150,2320,2550,
2670,2940,3160,3400,3570.3830,4120,4320,4990,6810,8660,10500
12100,13000,14000,15800.17400,18200,20000,21000,22600,24300,
26100,27400,28700,30100,31600.33200,34800,36500,37400,39200,
40200,42200,43200,45300,46400,47500,49900,51100,56200,57600,
59000,60400,61900,64900,68100,71500,75000,80600,86600,90900,
95300,100000,105000,110000,115000,118000,121000,124000,127000,
130000,133000,137000,140000,143000,147000,150000,154000,
158000,162000,165000,169000,174000,178000,200000);
{ Liste des resistances possibles pour R2} R2:array(.1..33,1..2.) of real=((487,5),(499,3),(511,4),(523,4),(536,4),(562,2),
(590,2),(619,2),(649,3),(681,3), (715,3),(750,3),
(1180,8),(1400,8),(1540,4),(1650,10),(1740,14),
(1870,11),(2000,13),(2150,13),(2320,13),(2550,12),
(2670,20),(2940,13),(3160,19),(3400,20),(3830.14),
(4120,23),(4320,24),(4990,13),(6810,9),(8660,16),(10500,20));
{ Liste des resistances possibles pour R3} R3:array(.1..61.) of real =(4990,6810,8660,10500,12100.13000,14000,14700,15000,15800,16200,
17400,18200,20000,21000.22600,24300,26100,27400,28700,30100,31600
33200,34800,36500,37400,39200,40200,42200,43200,45300,46400,
47500,49900,51100,56200,57600.59000.60400,61900,64900,68100,
715000,75000,86600,90900,95300,100000,105000,110000,115000,
118000,121000,124000,127000,130000,140000,150000,165000,178000
200000);
implementation begin end.
Claims (5)
1. Procédé d'obtention d'une résistance de valeur déterminée, caractérisé par le fait qu'il comprend les étapes consistant à: - sélectionner une première résistance ayant une première valeur mesurée (r) choisie parmi une première liste de valeurs de résistance, ladite première valeur étant inférieure à ladite valeur prédéterminée: - sélectionner une deuxième résistance ayant une deuxième valeur mesurée (r:) choisie parmi une deuxième liste de valeurs de résistance, ladite io deuxième valeur étant telle que la somme desdites première et deuxième valeurs soit supérieure à ladite valeur prédéterminée; - connecter en série lesdites première et deuxième résistance; - sélectionner une troisième résistance ayant une troisième valeur (r3) choisie parmi une troisième liste de valeurs de résistance, ladite troisième valeur étant telle que r. r r. r soit sensiblement égal à ladite valeur déterminée: et - connecter ladite troisième résistance en parallèle sur ladite
deuxième résistance.
2. Procédé selon la revendication 1 dans lequel, pour l'obtention d'une résistance d'une valeur déterminée environ comprise entre 500 2 et kQ, ladite première liste de valeurs est sensiblement la suivante en ohms:
0, 243, 487, 715, 953, 1180, 1400, 1650, 1870, 2000, 2150, 2320,
2550, 2670, 2940, 3160, 3400, 3570. 3830, 4120, 4320, 4990, 6810, 8660,
10500, 12100, 13000, 14000, 15800, 17400, 18200, 20000, 21000, 22600,
24300, 26100, 27400, 28700, 30100, 31600, 33200, 34800, 36500, 37400,
39200, 40200, 42200, 43200, 45300, 46400, 47500, 49900, 51100, 56200,
57600, 59000, 60400, 61900, 64900, 68100. 71500, 75000, 80600, 86600,
90900, 95300, 100000, 105000, 110000, 115000, 118000, 121000, 124000,
127000, 130000, 133000, 137000, 140000, 143000, 147000, 150000, 154000,
158000, 162000, 165000, 169000, 174000, 178000, 200000.
3. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 et 2 dans
lequel ladite deuxième liste de valeurs est sensiblement la suivante en ohms:
487, 499, 511, 523, 536, 562, 590, 619, 649, 681. 715, 750, 1180,
1400, 1540, 1650, 1740, 1870, 2000, 2150. 2320, 2550, 2670, 2940, 3160,
3400, 3830, 4120, 4320, 4990, 6810. 8660, 10500.
4. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3 dans
lequel ladite troisième liste de valeurs est sensiblement la suivante en ohms:
4990, 6810, 8660, 10500, 12100, 13000, 14000, 14700, 15000,
15800, 16200, 17400, 18200, 20000, 21000, 22600, 24300, 26100, 27400,
28700, 30100, 31600, 33200, 34800, 36500, 37400. 39200, 40200, 42200,
i5 43200, 45300, 46400, 47500, 49900, 51100, 56200, 57600, 59000, 60400,
62900, 64900, 68100, 71500, 75000, 86600, 90000, 95300. 100000, 105000,
110000, 115000, 118000, 121000, 124000. 127000, 130000, 140000, 150000,
165000,178000, 200000.
5. Résistance électrique, formée d'une première résistance (R1) en série avec une deuxième résistance (R2), laquelle est elle-même en parallèle avec une troisième résistance (R3), caractérisée par le fait que les valeurs en ohms des première, deuxième et troisième résistances sont sélectionnées respectivement dans les trois listes suivantes: a) 0, 243, 487,715, 953, 1180. 1400, 1650, 1870, 2000, 2150, 2320,
2550, 2670, 2940, 3160, 3400, 3570, 3830, 4120, 4320, 4990, 6810, 8660,
10500, 12100, 13000, 14000, 15800, 17400, 18200, 20000, 21000, 22600,
24300, 26100, 27400, 28700, 30100, 31600, 33200, 34800, 36500, 37400,
39200, 40200, 42200, 43200, 45300, 46400, 47500, 49900, 51100, 56200,
57600, 59000, 60400, 61900, 64900, 68100, 71500, 75000, 80600, 86600,
90900, 95300, 100000, 105000, 110000, 115000, 118000, 121000, 124000,
127000,130000,133000, 137000,140000,143000,147000,150000,154000,
158000,162000,165000,169000,174000,178000,200000.
b) 487, 499, 511, 523, 536, 562, 590, 619, 649, 681, 715, 750, 1180,
1400, 1540, 1650, 1740, 1870, 2000, 2150, 2320, 2550, 2670, 2940, 3160,
3400,3830,4120,4320,4990,6810,8660. 10500.
c) 4990, 6810, 8660, 10500, 12100, 13000, 14000, 14700, 15000,
15800, 16200, 17400, 18200, 20000, 21000, 22600, 24300, 26100, 27400,
28700, 30100, 31600, 33200, 34800, 36500. 37400. 39200, 40200, 42200,
43200, 45300, 46400, 47500, 49900, 51100. 56200, 57600, 59000, 60400,
io 62900, 64900, 68100, 71500, 75000. 86600. 90000, 95300, 100000, 105000,
110000, 115000, 118000, 121000. 124000, 127000, 130000, 140000, 150000,
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4782320A (en) * | 1986-11-03 | 1988-11-01 | Vtc Incorporated | Mesh network for laser-trimmed integrated circuit resistors |
JPH04133401A (ja) * | 1990-09-26 | 1992-05-07 | Aisin Seiki Co Ltd | 歪ゲージおよび該歪ゲージの出力調整方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1386700A (en) * | 1972-05-11 | 1975-03-12 | Standard Telephones Cables Ltd | Voice frequency signaling arrangement for telephone subset |
JP2891274B2 (ja) * | 1992-10-05 | 1999-05-17 | 富士通株式会社 | 可変信号減衰装置 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4782320A (en) * | 1986-11-03 | 1988-11-01 | Vtc Incorporated | Mesh network for laser-trimmed integrated circuit resistors |
JPH04133401A (ja) * | 1990-09-26 | 1992-05-07 | Aisin Seiki Co Ltd | 歪ゲージおよび該歪ゲージの出力調整方法 |
FR2690524A1 (fr) * | 1992-04-24 | 1993-10-29 | Sextant Avionique | Procédé de compensation en température d'un pont de jauges de mesure de pression. |
US5293148A (en) * | 1992-07-13 | 1994-03-08 | Honeywell Inc. | High resolution resistor ladder network with reduced number of resistor elements |
Non-Patent Citations (1)
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---|
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 16, no. 401 (E - 1253) 25 August 1992 (1992-08-25) * |
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GB2289131B (en) | 1997-12-24 |
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