FR2551210A1 - Procede de controle d'un reseau - Google Patents

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FR2551210A1
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FR8407389A
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Matsunosuke Masuda
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61228302A (ja) * 1985-04-01 1986-10-11 Yanmar Diesel Engine Co Ltd 探知装置
JPS62180250A (ja) * 1986-02-05 1987-08-07 Omron Tateisi Electronics Co 部品実装基板の検査方法
JPS63191041A (ja) * 1987-02-03 1988-08-08 Komori Printing Mach Co Ltd 濃度測定位置合わせ方法
FR2676392A1 (fr) * 1991-05-04 1992-11-20 Heidelberger Druckmasch Ag Dispositif et procede pour controler la qualite d'impression de produits imprimes d'une machine d'impression.
US6529621B1 (en) * 1998-12-17 2003-03-04 Kla-Tencor Mechanisms for making and inspecting reticles
GB2485337A (en) * 2010-11-01 2012-05-16 Plastic Logic Ltd Method for providing device-specific markings on devices

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3645626A (en) * 1970-06-15 1972-02-29 Ibm Apparatus for detecting defects by optical scanning

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3969577A (en) * 1974-10-15 1976-07-13 Westinghouse Electric Corporation System for evaluating similar objects
JPS5413750A (en) * 1977-07-02 1979-02-01 Hokuriku Elect Ind Function voltage divider using resistors

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3645626A (en) * 1970-06-15 1972-02-29 Ibm Apparatus for detecting defects by optical scanning

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
IBM TECHNICAL DISCLOSURE BULLETIN, vol. 25, no. 12, mai 1983, page 6350, New York, US; C.D. ABBOTT et al.: "Templates for substrate inspections" *

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Publication number Publication date
JPS59206705A (ja) 1984-11-22
DE3416919C2 (enrdf_load_stackoverflow) 1987-07-02
DE3416919A1 (de) 1984-11-29
GB2139754B (en) 1986-10-15
GB2139754A (en) 1984-11-14
GB8411625D0 (en) 1984-06-13
JPH033884B2 (enrdf_load_stackoverflow) 1991-01-21

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