FR2533731A1 - Dispositif de memoire thermomagneto-optique et son milieu d'enregistrement - Google Patents

Abstract

DISPOSITIF DE MEMOIRE THERMOMAGNETO-OPTIQUE, COMPORTANT UN MILIEU D'ENREGISTREMENT 1 PRESENTANT UN SUBSTRAT 15 SUPPORTANT UNE COUCHE MAGNETO-OPTIQUE ACTIVE 16 QUI EST APPLIQUEE ENTRE UNE SOURCE LASER 3 ET UNE COUCHE 18 REFLECHISSANT LE RAYONNEMENT 19 DE LASOURCE LASER 3, DES MOYENS 5-6 POUR FOCALISER LE RAYONNEMENT DE LA SOURCE LASER 3 AUX ENDROITS SELECTIONNES DU MILIEU D'ENREGISTREMENT 1 ET DES MOYENS DE DETECTION MAGNETO-OPTIQUES 7, 11, 13 INSERES DANS LE TRAJET DU RAYONNEMENT REVENANT DE LA COUCHE MAGNETO-OPTIQUE ACTIVE 16. LA COUCHE MAGNETO-OPTIQUE ACTIVE 16 CONTIENT UN MATERIAU POLYCRISTALLIN OXYDIQUE A BASE DE FE PRESENTANT UNE STRUCTURE DE SPINELLE ET UNE EPAISSEUR D POUR LAQUELLE, POUR LE RAYONNEMENT DE LA SOURCE LASER 3, SE PRODUIT UNE INTERFERENCE DESTRUCTIVE ENTRE LE RAYONNEMENT POLARISE LINEAIREMENT 19A REVENANT DE LA SURFACE DE LA COUCHE ET LE RAYONNEMENT 20, 21, 22 REVENANT DE LA COUCHE REFLECTRICE AYANT TRAVERSE DEUX FOIS LA COUCHE ACTIVE.

Description

-1 "Dispositif de mémoire thermomagnéto-optique et son milieu

d'enregistrement".

L'invention concerne un dispositif de mémoire thermomagné-

to-optique, comportant un milieu d'enregistrement présentant un subs-

trat supportant une couche active magnéto-optique, une source de

rayonnement laser, des moyens servant à focaliser du rayonnement pro-

venant de la source laser aux endroits sélectionnés du milieu d'enre-

gistrement, et des moyens de détection magnéto-optiques disposés dans

le trajet du rayonnement revenant de la couche magnéto-optique acti-

ve, comprenant une optique de polarisation et un détecteur photo-é-

lectrique L'invention est également relative à un milieu d'enregis-

trement pour un tel dispositif.

Il est connu de pouvoir utiliser pour un milieu d'enregis-

trement, comme un disque magnéto-optique, destiné à un système d'en-

registrement optique, des matériaux comme Mn Bi, Mn Al Ge, Gd Fe, Tb Fe et

Gd Co D'une façon générale, ces matériaux sont appliqués par évapora-

tion sous vide ou par pulvérisation sur un substrat en verre, une plaque en silicium ou autres, en vue de fournir un film mince pour un milieu d'enregistrement magnéto-optique Des milieux d'enregistrement magnétooptiques ont en commun les propriétés suivantes: 1 l'axe d'aimantation facile est perpendiculaire à la surface du film, et 2 leurs températures de transition magnétique (température de Curie

ou température de compensation) sont assez basses.

Du fait que l'axe d'aimantation facile s'étend perpendicu-

lairement à la surface du film, l'information binaire sous forme de

" 1 " et de " O " peut être enregistrée à l'aide de la magnétisation as-

cendante et la magnétisation descendante de la magnétisation perpen-

diculaire du film au substrat-et, par conséquent, le dispositif peut

être utilisé comme mémoire numérique Un procédé pour l'enregistre-

ment thermomagnétique d'information, est le suivant En premier lieu, tout le film est magnétisé dans une direction descendante ou établie

à " O " Pour enregistrer l'information " 1 ", un faisceau laser est di-

rigé à la région o doit être réalisé l'enregistrement avec applica-

tion simultanée d'un champ magnétique extérieur dirigé vers le haut (direction " 1 ") Après que la température de la région rayonnée soit portée à une température située dans la proximité de la température -2Curie par énergie laser, la magnétisation du champ extérieur est "captée" pendant le refroidissement et sa direction est prise, de

sorte que l'information " 1 " est enregistrée Lorsqu'il faut enregis-

ter l'information "O", le faisceau laser n'est pas utilisé du fait que l'état initial est " O " Lorsqu'une région non rayonnée par un

faisceau laser est maintenue à une température située de façon suf-

fisante au-dessous de la température de Curie ou qui présente une

force coercitive suffisamment élevée Hc, sa direction de magnétisa-

tion ne sera pas inversée par application d'un champ magnétique exté-

rieur, de sorte que la magnétisation -descendante (information " O "),

est maintenue.

Pour la lecture de l'information emmagasinée, on utilise un faisceau lumineux polarisé (linéairement) assurant le balayage du fluide d'enregistrement, de façon que le faisceau réfléchi subisse une rotation du plan de polarisation dans une direction ou l'autre (lecture dite magnéto-optique), suivant que la magnétisation à un endroit de bit lu est "haut" ou "bas" Pour que l'utilisation technique des présents systèmes d'enregistrement thermomagnétiques à lecture magnéto-optique soit intéressante, il faut satisfaire à certaines conditions, tant pour en

ce qui-concerne l'enregistrement que la lecture.

Pour atteindre un rapport signal-bruit suffisant, il faut que le coefficient de qualité magnéto-optique contenant l'angle de rotation magnéto-optique et le coefficient d'absorption soient aussi élevés que possible Toutefois, dans le cas d'application desdits matériaux magnétooptiques métalliques en réflexion, le coefficient de qualité magnétooptique est assez faible, du fait que la rotation magnéto-optique en réflexion est assez faible (rotation dite de Kerr) et dans le cas d'application de transmission elle est faible du

fait que l'absorption est élevée.

Un coefficient de qualité magnéto-optique plus élevé peut être réalisé par application de matériaux magnéto-optiques à base de grenat, qui présentent en transmission une rotation de Faraday très élevée dans une certaine gamme de longueurs d'onde, en combinaison avec une faible absorption Toutefois, c'est précisément par suite de

la faible absorption que ce genre de matériaux présente des désavan-

tages pendant le processus d'enregistrement Par suite de la faible

25337,3

-3- absorption, l'introduction de la lumière dans le film est mauvaise,

ce qui veut dire que la transmission d'énergie est faible Pour por-

ter la couche à la température de Curie, il faut ainsi notablement

plus de puissance laser que dans le-cas de couches métalliques d'é-

paisseur comparable L'introduction peut être augmentée par utilisa-

tion d'une couche plus épaisse, il est vrai, mais dans des couches épaisses ne peuvent pas être enregistrés de très petits bits Dans ce

cas, la densité d'enregistrement n'est pas optimale.

L'invention est basée sur l'idée de fournir un dispositif

du genre mentionné dans le préambule, dans lequel un rapport signal-

bruit suffisamment élevé pendant le processus de lecture est combiné

avec une densité d'enregistrement suffisamment élevée pendant le pro-

cessus d'enregistrement, qui doit être suffisamment efficace en soi.

Conformément à l'invention, ce but est atteint du fait que dans un dispositif du genre mentionné dans le préambules la couche magnétooptique active se trouve entre la source laser et une couche assurant la réflexion du rayonnement provenant de la source laser, qu'il contient un matériau polycristallin oxydique à base de Fe 3 + présentant la structure de spinelle et une épaisseur pour laquelle,

pour le rayonnement de la source laser, il se produit une interféren-

ce destructive entre le rayonnement polarisé linéairement provenant de la surface de la couche et revenant de la couche réflectrice et

ayant traversé deux fois la couche active.

Bien que des couches en matériau ferromagnétique oxydique à base de fer présentant une structure de spinelle, comme la magnétite

(Fe 304) et notamment la ferrite de cobalt (Co Fe 3-0 j 4) -

portant éventuellement des substituants ne présentent en soi pas d'effet de Kerr ou de Faraday magnéto-optique particulièrement élevé, de sorte qu'ils ne semblent pas entrer en ligne de compte lorsqu'on veut augmenter le rapport signal-bruit -d'un système magnéto-optique, étant donné le coefficient d'absorption spécifique dans une gamme de longueurs d'onde spécifiques, il s'est avéré possble de projeter, avec ces couches, un système de couches optique, dont les propriétés de lecture dépassent nettement celles de systèmes à films métalliques et dont les propriétés d'enregistrement dépassent nettement celles de

systèmes à films de grenat.

L'épaisseur de la couche magnéto-optique active en un maté-

-4- riau polycristallin oxydique à base de fer entre la source lumineuse

et une couche réflectrice doit être choisie de façon qu'il se podui-

se l'interférence destructive pour la longueur d'onde qu'émet la -

source lumineuse Cela implique que le rayon lumineu réfléchi de fa-

çon directe à la face avant (directe) est en opposition de phase avec

le rayon lmineux revenant de la couche réflectrice à travers la cou-

che Cet effet se produit pour un nombre d'épaisseurs spécifiques pour le matériau de la couche magnéto-optique active Toutefois, la rotation magnéto-optique augmente avec la valeur de ces épaisseurs, mais la réflexion diminue Cela implique qu'un compromis détermine l'épaisseur des couches à utiliser dans un système D'un côté, le processus d'enregistrement demande une introduction aussi efficace

que possible de la lumière, donc une réflexion aussi faible que pos-

sible D'autre part, le processus de lecture demande un signal pas trop faible, ce qui pose une limite inférieure tributaire du système à la réflexion Pour un cas pratique, cette limite inférieure est par

exemple de 10 %.

Un laser actuellement disponible et convenant par excellen-

ce à la présente application est le laser de Al Ga As, qui émet du rayonnement dans la-gamme de longueurs d'onde comprise entre 730 et

870 nm Eventuellement, un laser de He-Ne, qui est actif dans la ré-

gion située autour de 680 nm, entre en ligne de compte.

De par leur coefficient d'absorption favorable, la susdite

optimalisation est réalisable dans la région de longueurs d'onde com-

prise entre 400 et 900 nm avec les matériaux oxydiques à base de Fe 3 + présentant la structure de spinelle, comme ladite magnétite et

ladite ferrite de cobalt, mais non avec les matériaux à base de gre-

nat, dont l'absorption est trop faible à cet effet et pas non plus avec les matériaux métalliques présentant une absorption trop élevée

à ce sujet.

La couche réflectrice peut être un diélectrique-multicouche

(réflecteur dichroîque) qui est constitué par des couches X 1/4 d'on-

des présentant alternativement un indice de réfraction élevé et un indice de réfraction bas, ou une couche métallique (par exemple en Ag, Al ou en Au) Dans le cas d'une couche réflectrice métallique, la conduction thermique vers et à travers la couche métallique pendant l'enregistrement thermo-magnétique peut empêcher l'enregistrement de -5- bits suffisamment petits de puissance suffisamment faible Une forme de réalisation préférentielle du dispositif conforme à l'invention

est caractérisée en ce qu'une couche thermo-isolante de matériau dié-

lectrique transparent pour le rayonnement de la source laser d'une

épaisseur optique nd = N/2 x À-est appliquée entre la couche magnéto-

optique active et la couche réflectrice, N étant un nombre entier, 4 la longueur d'onde de la source laser, N l'indice de réfraction du matériau de la couche réflectrice et d l'épaisseur L'épaisseur de la

couche thermo-isolante, par conséquent la couche augmentant la sensi-

bilité d'enregistrement est telle que l'interférence destructive pro-

voquée par la couche magnéto-optique active ne soit pas perturbée.

L'essentiel des susdites dispositions est que dans le cas d'utilisation d'une seule source laser, une longueur d'onde pour tant le processus d'enregistrement que le processus de lecture, augmentent non seulement le signal de lecture, mais également la sensibilité

d'enregistrement par rapport aux systèmes magnéto-optiques conven-

tionnels. Abstraction faite d'un rôle pour le régime de chaleur, une couche intermédiaire diélectrique peut également servir à augmenter la qualité optique du système de couches En effet, lorsque la couche

magnéto-optique active polycristalline présente une structure granu-

leuse (cas qui se présente plutôt dans le cas d'application de la couche par une méthode de pulvérisation que dans le cas d'application par une processus de pulvérisation), l'application d'une couche dié lectrique lisse (de préférence une couche présentant pratiquement le

même indice de réfraction), peut-assurer éventuellement la suppres-

sion du bruit se produisant par suite de la granulosité.

Par suite de l'application d'un matériau diélectrique pré-

sentant une tensio-activité appropriée par un processus de centrifu-

gation sur la-couche magnéto-optique active, la face supérieure de cette couche sur laquelle est appliquée la couche réflectrice dans un

stade suivant peut être très lisse Ainsi, les phénomènes de disper-

sion à la couche réflectrice sont évités autant que possible Des matériaux appropriés du point de vue de la centrifugation pour la couche intermédiaire sont-des substances synthétiques polymérisées,

comme des résines époxy, des résines phénoliques, des résines de po-

lycarbonate, des résines de polyimide et des résines de polyacrylate.

-6- Lorsque l'indice de réfraction du matériau diélectrique est autant que possible égal à celui du matériau magnéto-optique actif, la surface "rugueuse" de la couche magnéto-optique active ne présente

guère de réflexion Ainsi, le bruit est également supprimé En combi-

naison avec une couche magnéto-optique active en ferrite de cobalt (n J 2, 7), du point de vue de l'indice de réfraction approprié, ce sont par exemple Ce O (né' 2,7) et Zn S (n't,2,4) qui entrent en ligne de compte pour être utilisés comme matériau pour la couche intermédiaire diélectrique. L'invention concerne notamment un dispositif de mémoire

thermomagnéto-optique comme décrit présentant un milieu d'enregistre-

ment sous forme d'un disque rotatif.

La description ci-après, en se référant aux dessins an-

nexés, le tout donné à titre d'exemple non limitatif, fera bien com-

prendre comment l'invention peut être réalisée.

La figure 1 montre schématiquement un système d'enregistre-

ment thermomagnéto-optique.

La figure 2 montre en coupe transversale un milieu d'enre-

gistrement pour un système d'enregistrement thermomagnéto-optique

conforme à l'invention.

Les figures 3 et 4 montrent la rotation magnéto-optique

double 26) (en 0) et le coefficient de réfraction R (en %) d'un mi-

lieu d'enregistrement du genre selon la figure 2 en fonction de l'é-

paisseur de la couche magnéto-optique active pour diverses composi-

tions.

La figure 5 montre le spectre de réflexion et la figure 6 le spectre de rotation d'un milieu d'enregistrement optimalisé pour

la combinaison avec une source laser de 680 nm.

La figure 7 montre le spectre de réflexion et la figure 8 le spectre de rotation d'un milieu d'enregistrement optimalisé pour

la combinaison avec une source laser de 680 nm.

La figure 1 montre un système d'enregistrement thermo-

magnéto-optique présentant un milieu d'enregistrement 1, qui est représenté ici de façon à pouvoir tourner autour d'un axe 2 Une source laser 3 est prévue à quelque distance au-dessus de la surface 4 du milieu d'enregistrement 1 La source laser est par exemple un laser à diode de Al Ga As pouvant émettre des ondes lumineuses d'une

W 3 73 Â

-7- longueur d'onde comprise dans la gamme entre 730 et 870 nm, Une longueur d'onde caractéristique est de 780 nmr De tels lasers sont petits et appropriés pour être disposés de façon mobile (par exemple

dans la direction radiale) par rapport au milieu d'enregistrement.

La lumière de la source laser 1 est focalisée à l'aide d'un

système de lentilles 5,6 au point P du milieu d'enregistrement 1.

Dans le trajet lumineux est prévu (au moins pendant le processus de lecture) un polariseur 7, ainsi qu'un réflecteur semitransparent 8 (T= 90 %), afin d'envoyer une partie de la lumière, après réflexion,

vers un dispositif de détection 9 pour contrôler la focalisation re-

quise et un réflecteur semitransparent 10 (T = 75 %) pour envoyer une

partie de la lumière après réflexion par 1 'intermédiaire d'un analy-

seur 11 et d'une lentille 12 vers un détecteur photoélectrique 13

(par exemple un détecteur à avalanche au Si) Lors du processus d'en-

registrement, le rayonnement focalisé de la source laser 3 est utili-

sé pour porter un endroit d'information sélectionné dans la couche

magnéto-optique active 16 (voir la figure 2) du milieu d'enregistre-

ment 1, qui est préalablement prémagnétisé dans la direction M, à une température située dans la proximité de sa température de Curie La

température de Curie de la ferrite de cobalt ne portant pas de subs-

tituants est d'environ 5200 C Cette augmentation de la température,

associé à l'excitation de la bobine 14 permettant d'engendrer un con-

trechamp M' de l'ordre de 1000 Oe, suffit pour inverser la magnétisa-

tion de l'endroit d'information rayonné pendant le refroidissement.

Le processus de lecture s'effectue à l'aide de la même

source laser 3, de puissance réduite en réflexion Le plan de polari-

sation du faisceau lumineux polarisé linéairement atteignant le mi-

lieu d'enregistrement 1 est tourné d'un angle déterminé après ré-

flexion Cette rotation est tributaire de la présence d'un " 10 " 1 ou d'un "'1 " en une différence d'intensité à l'aide de l'analyseur 11

prévu devant la photodiode 13 Pour obtenir une combinaison d'un pou-

voir d'enregistrement faible et d'un effet magnéto-optique maximal, le milieu d'enregistrement 1 conforme à l'invention est composé d'une

couche magnéto-optique active présentant une composition très spéci-

fique et une épaisseur qui est combinée avec une couche réflectrice.

Sur un substrat non magnétique 15, qui peut être en Si O 2 amorphe, est appliquée une couche magnéto-optique active 16 Dans le cadre de la présente invention, la couche 16 est réalisée en matériau

oxydique polycristallin à base de Fe, présentant la structure de spi-

nelle, comme Fe 304 ou Cox Fe 3 x O 4 Dans ce qui suit, il sera question, à titre d'exemple, de matériaux du genre Cox Fe 3 x 4 (ferrite de cobalt) Les présents matériaux polycristallins peuvent être appliqués notamment à l'aide d'un processus de projection, avec une anisotropie magnétique perpendiculaire suffisamment élevée sur une surface suffisamment grande pour la présente application, ceci

contrairement aux matériaux de grenat (mronocristallins) par exemple.

De plus, leur absorption aux longueurs d'onde en question ( 730 à 870 nm) est très avantageuse, tant pour en ce qui concerne le processus d'enregistrement que le processus de lecture L'épaisseur d de la

couche 16 est adaptée rigoureusement à la longueur d'onde de la sour-

ce laser utilisée 3 et l'absorption du matériau de la couche 16 en vue d'obtenir la différence destructive du faisceau réfléchi 19 a à l'interface 16/15 avec les faisceaux 20, 21, 22 etc revenant après réflexion par une couche réflectrice (métallique) 18 Par suite de l'absorption dans la couche 16, la réflexion $ 1 à la couche 18 et

la réflexion à l'interface 15/16, les intensités des faisceaux-lumi-

neux diminuent de plus en pluso Entre les couches 16 et 18 est pré-

sente une couche diélectrique theriioisolante 17, qui est transparente à la longueur d'onde utilisée et qui présente une épaisseur d' qui ne

perturbe par l'interférence destructive.

Dans la structure illustrée, la lumière atteint la couche

magnéto-optique active 16 par l'intermédiaire du substrat 15 Toute-

fois, la structure peut être également telle que la lumière atteint la couche magnéto-optique active de façon directe Dans ee cas, la

couche réflectrice se trouve entre le substrat et la couche magnéto-

optique active.

Pour la ferrite de cobalt ne portant pas de substituants et

présentant une longueur d'onde X = 780 nm du faisceau lumineux inci-

dent, d doit être de préférence environ 0,22/un La raison s' ex-

plique à l'aide de la figure 3 Elle montre que dans le cas d'un sys-

tême de couches, comme celui selon la figure o la couche 16 est en

Co Fe 204, la rotation magnétique optique double 2 6 est très for-

tement tributaire de l'épaisseur d, ce qui veut dire la grandeur de d est telle qu'il se produit une interférence destructive ou non Dans -9- le cas d'une grandeur de d de 0,22/um, il se produit en effet une interférence destructive et non seulement un "pliage" du faisceau

lumineux, ce qui ressort du fait que dans le cas de pliage, la rota-

tion ne peut pas être notablement supérieure à 2 x la rotation de Fa-

raday, c'est-à-dire 1,6 pour une épaisseur de couche de 0,22/um.

Toutefois, férence destructive, on mesure une rotation de 3,8 Une valeur extrème 2 e = 3,8 se produit à d = 0,22/um, et une valeur extrême 2 e = 8 se produit dans le cas de d = 0,37/um Ces maxima de la rotation s'accompagnent de minima de réflexion Pour d = 0,22/um, le coefficient de réflexion R est de 20 %, pour d = 0,37/um R est de 6 % Il s'avère que le compromis le plus avantageux se présente lorsque, dans le présent cas, la couche 16 présente une épaisseur d'environ 0,22/umo La figure 3 montre donc que, suivant le coefficient de réflexion requis, on peut choisir l'épaisseur pour laquelle la rotation est d'au maximum 2 9 o Pour un matériau présentant d'autres constantes optiques

que la ferrite de cobalt ne portant pas de substituants utilisée ci-

dessus à titre d'exemple, la situation est toute autre La figure 4 montre que pour un système de couches présentant une couche de la composition Co Fe 1 4 Al 0,604 (A 13 + est un substituant pour

Fe 3 + pour réduire la température de Curie) comme couche magnéto-op-

tique active, il se produit des maxima de rotation pour des épais-

seurs d = 0,24/um ( 2 e = 1,85)0 et = d = 0,41/um ( 2 e = 3,20).

Des minima de réflexion correspondants sont respectivement de 40 et

de 20 %.

Avec référence à la figure 2, il y a lieu de noter que dans

le cas d'application d'une couche réflectrice 18 en matériau métalli-

que (comme Al, Ag ou Au), la présence d'une couche intermédiaire thermoisolante diélectrique 17 réduit le pouvoir d'enregistrement

nécessaire pour enregister des spots d'environ l/um f avee un la-

ser L'épaisseur d' de la couche thermo-isolante 17 doit être telle que l'interférence destructive entre les rayons 19 a, 20, 21 et 22 ne soit pas perturbée Lorsque la couche 17 en Si 02, dans le susdit exemple de nombres (composition de la couche 16: ferrite de cobalt ne

portant pas de substituant, = 780 nm, d = 0,22/um) d' est d'en-

viron 0,26/um ou un multiple de cette valeur L'épaisseur de la couche réflectrice (métallique 18) est d'au moins 500 A. couche réflectrice (métallique 18) est d'au moins 500 A. -

L'application par centrifugation à partir de la phase liqui-

de d'une couche 17 sur la couche 16 peut être avantageuse pour obte-

nir une surface lisse 19 sur laquelle peut être appliquée la couche réflectrice 18, même dans le cas o la couche 18 ne constitue pas de

réflecteur métallique, mais un réflecteur diélectrique et l'importan-

ce d'une couche intermédiaire thermo-isolante est donc moins grande.

Il se produit moins de bruit à mesure que la surface 19 est plus lis-

se.

Eventuellement en combinaison avec l'application par cen-

trifugation de la couche 17, pour la couche 17 peut être choisi un matériau présentant un indice de réfraction N qui correspond autant que possible à celui du matériau de la couche 16 (ferrite de cobalt

présentant par exemple un indice de réfraction N e J 2,7 pour une lon-

gueur d'onde X = 800 nm.

La figure 5 montre un exemple du spectre de réflexion et la figure 6 du spectre de rotation d'un système de couches présentant une couche en Co Fe 2 04 pour l'épaisseur de la couche en Co Fe O

2 4 2-

4 est optimalisée pour une longueur d'onde > = 780 nm Il en res-

sort nettement que tant le spectre de réflexion (minimum) que le spectre de rotation (maximum) présente une crête à X ( 780 nm) Si un tel système était combiné donc avec une source laser émettant de la lumière d'une longueur d'onde différente de 780 nm, il ne serait pas question d'optimalisation Les spectres furent mesurés dans le cas d'une incidence directe de la lumière sur la couche magnéto-optique active 16 Comme le montre la figure 5, le réflecteur 18 est prévu

entre le substrat 15 et la couche 16.

La figure 7 montre un exemple du spectre de réflexion et la figure 8 un exemple du spectre de rotation d'un système de couches présentant une couche en Co Fe O dont l'épaisseur est optimalisée 2 > 4

pour une longueur d'onde A = 680 nm Il en ressort également nette-

ment la structure de crête des spectres, qui furent également mesurés

pour une incidence directe de la lumière sur la couche magnéto-opti-

que active 16.

Il y a lieu de noter que pour les ions Fe 3 + de Cox Fe-

3-x 04 peuvent être choisis comme substituants A ce sujet entrent

en ligne de compte par exemple A 13 +, Rh 3 +, Mn 3 + et Cr 3 + Tou-

tefois, lorsque la température de Curie diminue, il en est de même a 533731 pour la magnétisation et, de ce fait, la rotation à la température

ambiante normale Si cela n'est pas désirable, il est possible d'u-

tiliser comm substituant (Co 2 + + X), D: étant un ion métallique qua-

drivalent ou pentavalent (par exemple Ti, Sn>, Ir+ 91 V 5).

La magnétisation à la température ambiante normale diminue également, il est vrai, mais l'effet désavantageux en est limité du fait que la

rotation augmente légèrement.

-12-

Claims (8)

REVENDICATIONS:

1 Dispositif de mémoire thermomagnéto-optique, comportant un milieu d'enregistrement présentant un substrat supportant ue couche active magnéto-optique, une source de rayonnement laser, des moyens servant à focaliser du rayonnement provenant de la source laser aux endroits sélectionnés du milieu d'enregistrement, et des moyens de détection magnéto-optiques disposés dans le trajet du rayonnement revenant de la couche magnéto-optique active, comprenant une optique de polarisation et un détecteur photo-électrique, caractérisé en ce que la couche magnétooptique active ( 16) se trouve entre la source laser ( 3) et une couche ( 18) assurant la réflexion du rayonnement ( 19) provenant de la source laser ( 3), qu'il contient un matériau polycristallin oxydique à base de Fe 3 + présentant la structure de spinelle et une épaisseur (d) pour laquelle, pour le rayonnement de la source laser, il se produit une interférence destructive entre le rayonnement polarisé linéairement ( 19 a) provenant de la surface de la couche ( 16) et le rayonnement ( 20, 21, 22) revenant de la couche

réflectrice ( 18) et ayant traversé deux fois la couche active ( 16).

2 Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce

qu'une couche thermo-isolante ( 17) de matériau diélectrique transpa-

rent pour le rayonnement ( 19) de la source laser ( 3) d'une épaisseur optique nd = N/2 x À est appliquée entre la couche magnéto-optique active ( 16) et la couche réflectrice ( 18), N étant un nombre entier, À la longueur d'onde de la source laser ( 3), N l'indice de

réfraction du matériau de la couche réflectrice et d l'épaisseur.

3 Dispositif selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce

que la couche ( 17) de matériau diélectrique est appliquée par centri-

fugation à partir de la phase liquidé et présente une surface lisse

sur laquelle est appliquée la couche réflectrice ( 18).

4 Dispositif selon la revendication 3, caractérisé en ce que

le matériau diélectrique est une matière synthétique polymérisée.

Dispositif selon la revendication 2, caractérisé en ce que

la couche ( 17) de matériau diélectrique présente un indice de réfrac-

tion qui est adapté à celui du matériau magnéto-optique actif.

6 Dispositif selon l'une des revendications précédentes ca-

ractérisé en ce que le matériau oxydique à base de Fe 3 présentant

la structure de spinelle est de la ferrite de cobalt.

-13-

7 Dispositif selon l'une des revendications précédentes ca-

ractérisé en ce que la source laser ( 3) produit du rayonnement pré-

sentant une longueur d'onde comprise entre 730 et 870 nm.

8 Dispositif selon l'une des revendications précédentes, ca-

ratérisé en ce que le milieu d'enregistrement ( 1) est un disque rota-

tif. 9 Milieu d'enregistrement pour un dispositif selon l'une des

revendications précédentes.

Milieu d'enregistrement selon la revendication 9, présen-

tant une couche magnéto-optique active ( 16) contenant un matériau oxydique polycristallin à base de Fe 3 + présentant la structure de

spinelle d'une épaisseur (d) comprise entre 50 et 500 nm.

11 Milieu d'enregistrement selon la revendication 10, caracté-

risé en ce que l'épaisseur (d) est d'environ 220 nm -