FR2528988A1 - Appareil de reglage de la brillance pour systeme de reflexion d'images dans un microscope - Google Patents
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Abstract
L'APPAREIL COMPREND UNE SOURCE D'ILLUMINATION D'UN RETICULE, UN RETICULE ET DES MOYENS POUR PROJETER UNE IMAGE DU RETICULE DANS LA VOIE OPTIQUE D'UN MICROSCOPE. DES MOYENS DE REGLAGE ADAPTES A REGLER L'INTENSITE DE LA LUMIERE PROVENANT DE LADITE SOURCE D'ILLUMINATION DU RETICULE COMPRENNENT UNE CELLULE PHOTOELECTRIQUE 40 ADAPTEE A ENGENDRER UN SIGNAL REPRESENTATIF DE LA BRILLANCE MESUREE DE L'IMAGE MICROSCOPIQUE ET UN CIRCUIT DE REGLAGE DE L'ALIMENTATION ELECTRIQUE DE LADITE SOURCE D'ILLUMINATION 26 DUDIT RETICULE EN REPONSE AUDIT SIGNAL, GRACE A QUOI LA BRILLANCE RELATIVE DU RETICULE DEMEURE CONSTANTE.
Description
La présente invention concerne un appareil permettant d'adapter la
brillance de marquages qui sont réfléchis dans la voie du faisceau d'un microscope, à la brillance de
l'image microscopique.
On sait réfléchir divers symboles, mires, échelles,
etc dans la voie du faisceau formant l'image d'un micro-
scope Les images sont habituellement réfléchies au moyen de miroirs diviseurs ou de prismes diviseurs Les symboles ou marquages sont des zones transparentes prévues sur des plaques opaques et qui sont rétroilluminées au moyen d'une source de lumière En conséquence, elles apparaissent en brillant dans l'image sur un fond qui peut -être clair ou
foncé selon la technique de microscopie utilisée.
Le fond est clair si l'on utilise un éclairage à fond clair, il est de teinte moyenne si l'on travaille en contraste de phase ou en contraste interférentiel, et il est sombre, au moins en partie, si l'on utilise un éclairage par lumière polarisée, un éclairage à fond sombre ou un
éclairage par fluorescence.
Du fait que le fond peut varier depuis une teinte très claire à une teinte très foncée, que ce soit dans l'oculaire ou sur une photographie o est conservée l'image microscopique, il est souhaitable d'adapter au fond la brillance des marquages réfléchis de manière, d'une part, à voir clairement ces marquages par suite de leur brillance appropriée et, d'autre part, à éviter que ces marquages soient éblouissants et gênent la visibilité de '1 image microscopique. Dans le passé, l'adaptation de la brillance a été obtenue par un règlage manuel de l'intensité de la lumière provenant de la source lumineuse illuminant les marquages devant être réfléchis, en utilisant, par exemple, un potentiomètre Du fait que la brillance du fond peut souvent changer, il est commode de pouvoir continuellement
réajuster l'intensité de la lumière de la source lumineuse.
Un but de la présente invention est d'apporter une solution à ce problème et de fournir un appareil dans lequel -2- la brillance d'une image, qui est réfléchie dans un microscope, est automatiquement adaptée à la brillance de
l 'image microscopique.
Ainsi, l'invention apporte un appareil pour adapter'la brillance de marquages qui sont réfléchis dans un microscope à la brillance de l'image microscopique et qui comprend une source d'illumination du marquage, un élément de marquage et des moyens pour projeter une image depuis ledit élément de marquage dans la voie optique du microscope, des moyens de réglage pour régler l'intensité de la lumière provenant de ladite source d'illumination du marquage, lesdits moyens de réglage comprenant une cellule photo-électrique adaptée à mesurer la brillance de l'image microscopique et un circuit de réglage adapté à régler l'alimentation en courant électrique de ladite source d'illumination du marquage en fonction de la brillance mesurée, grâce à quoi le rapport de brillance peut être maintenu constant sur toute la gamme de réglage. Le circuit de réglage comprend, de préférence, un amplificateur non linéaire, un poste d'adaptation et un poste de sortie d'alimentation pour la source d'illumination du marquage Il est possible de prévoir-, dans le poste d'adaptation, un dispositif d'ajustage aux fins de fixer une valeur demeurant constante sur toute la gamme de réglage et qui doit être ajoutée à la brillance de la source d'illumination, cette brillance dépendant de la valeur de brillance mesurée Il est également possible de prévoir un dispositif d'ajustage aux fins de fixer un facteur demeurant constant sur toute la gamme de réglage, lequel facteur est multiplié par la brillance qui dépend de la valeur de la brillance mesurée Dans les deux cas, le dispositif
d'ajustage peut être actionné de l'extérieur.
Dans le premier cas, 'on prend soin de s'assurer que les marquages, qui sont réfléchis, soient visibles même si l'image est totalement sombre, tandis que dans le second cas, il est possible de régler le rapport entre la brillance
des marquages réfléchis et la bri lîance du fond.
Le circuit petit également comprendre un micro-proces-
3- seur ayant un programme de conversion potur atteindre un
résultat similaire.
D' autres avantages, détails et caractéristiques de
I 'invention ressortiront de la description qui va suivre
faite en r'éfér(ence aux dessins annexes représentant une forme d'exécution préférée et dans lesquels: la figure I est une représentation schématique d'une disposition pour réfléchir des marquages dans la voie du faisceau d'un microscope, avec mise au point à des fins photographiques et la figure 2 est un schema d'un circuit utilisé en
conjonction avec l'appareil de la figure 1.
Si l 'on se réfère à la figure 1, on voit un faisceau de lumière 10 provenant de l'objet 12 qui est divisé en une voie de faisceau 16 pour observation directe et en une voie de faisceau 18 pour photographie, au moyen d'une surface diviseuse de faisceau 14 La voie de faisceau pour observation directe 16 subit une réflexion totale sur la surface horizontale inférieure 20 du prisme 22 qui constitue
également la surface diviseuse de faisceau 14.
La voie d'un faisceau de marquage est désignée par 24, cette voie allant d'une source d'illumination de marquage 26 au diviseur de faisceau 14 via une lentille collectrice 28, une mire 30 (ou un autre réticule), et une lentille formatrice d'images 32 Un appareil photographique 34 est pourvu d'une lentille 36 Ce dispositif est décrit dans le brevet français n 7407530 Le plan film de l 'appareil photographhique 34 est disposé dans un plan coordonné avec la mir'e 30 tel que des images de cette mire sont formées s O imuiltanément dans le plan d'observation directe et le plan du film aut moyen de la lentille formatrice d'images et du divisel,' de faisceau I 1 est ainsi possible d'utiliser la mire rétro-ill Iaminée pour effectuer la mise atu point de la photographie Simultanément, comme il est décrit dans le brevet francçais n' 7407530, la brillance de la source lumineuse est r(glée manuellement et adaptée au fond à I ' aide d'un potent i omèt 're L'image microscopique et 'image de la mire sont -4réfléchies au moyen d'un miroir 38 qui peut être basculé dans ou hors de la voie du faisceau 18 utilisée pour la *photographie Lorsque le -miroir est dans la position représentée sur le dessin, il réfléchit le faisceau vers une cellule photo-électrique non représentée La mire n'a pratiquement pas d'effet dérangeant sur la mesure car, bien qu'elle soit plus brillante que l'image microscopique, elle
ne couvre qu'une très petite zone.
La cellule photoélectrique, désignée par 40 à la figure
2, émet un signal de sortie en direction du poste d'adap-
tation 42, ce signal correspondant à la brillance mesurée.
Le poste d'adaptation 42 émet à son tour un signal de sortie vers un amplificateur non linéaire 44 dans lequel le signal de sortie provenant de la cellule photoélectrique 40 est transformé selon une fonction définie (par exemple élevé à la puissance 4) de manière à régler l'alimentation 46 qui règle directement la brillance de la source d'illumination 26 Le règlage est tel que la brillance de la source d'illumination 26 change d'une façon qui, en termes subjectifs, est approximativement proportionnelle à la brillance de l'image microscopique, grâce à quoi il est possible de fixer à la fois le rapport de brillance et la brillance de référence de la source dd'illumination 26 dans le poste d'adaptation 42, le rapport de brillance étant
constant sur toute la gamme de réglage, le poste d'adapta-
tion 42 pouvant inclure des composants classiques-tel qu'un
amplificateur différentiel ou un autre comparateur c-lassi-
que L'amplificateur non linéaire 44 peut comprendre des
dispositifs classiques tels que des amplificateurs log-anti-
log, des amplificateurs multiplicateurs, ou même être convertis en un signal numérique qui est ensuit-e transformé en une fonction de puissance et reconverti en un signal analogique. L'invention peut également être appliquée à d'autres dispositifs pour combiner des images, par exemple à des systèmes pour combiner des images dans des oculaires, à des fins de mesure, ou dans des systèmes pour combiner des images sur des photographies à des fins de documentation En -
outre, il est également possible d'utiliser un micro-proces-
seur, avec un programme de transformation, au lieu d'une
unité amplificatrice non linéaire.
Dans le cas décrit ci-dessus, le miroir 38 et la cellule photoélectrique 40 sont, par exemple, également utilisé S pour régler le temps d'exposition de l'appareil photographique Dans d'autres cas, en particulier dans les cas qui ne comprennent pas l'utilisation d'un appareil photographique, il pourrait être utilisé une cellule
photoélectrique séparée.
6 -
Claims (4)
1 Appareil pour adapter la brillance de marquages qui sont surperposés à une image microscopique, à la brillance
de cette image microscopique, comprenant une source d'illu-
mination d'un réticule, un réticule, et des moyens pour projeter une image du réticule dans la voie optique d'un
microscope, des moyens de réglage adaptés à régler l'inten-
sité de la lumière provenant de ladite source d'illumination du réticule, caractérisé en ce que lesdits moyens de réglage comprennent une cellule photoélectrique ( 40) adaptée à engendrer un signal représentatif de la brillance mesurée de
l'image microscopique et un circuit de réglage de l'alimen-
tation électrique de ladite source d'illumination ( 26) dudit réticule ( 30) en réponse audit signal, grâce à quoi la
brillance-relative du réticule demeure constante.
2 Appareil selon la revendication 1, caractérisé en ce que ledit circuit comprend un amplificateur non linéaire ( 44), un poste d'adaptation ( 42) et un poste de sortie d'alimentation ( 46) pour la source d'illumination ( 26) du
réticule ( 30).
3 Appareil selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'il comprend un dispositif d'ajustage dans le poste d'adaptation ( 42) pour fixer une valeur choisie qui est constante dans toute la gammne de réglage et qui est à ajouter à la brillance de la source d'illumination ( 2 b) du réticule ( 30), cette brillance dépendant de la valeur de brillance telle que mesurée par la cellule photoélectrique
( 40).
4 Appareil selon la revendication 2, caractérisé en ce qu' il comprend un disposit if d' ajustage dans le poste d'adaptation ( 42) pour fixer un facteur qui est constant sur toute la ganmme de réglage et qui est a multiplier par la bri 1 lance de I a source d ' i 1 lum i nat ion ( 26) du rt i cul e ( 30), cette brillance dépendant de la valeur de brillance telle
que mesurée par la cellule photoélectrique ( 40).
Appa'reil selon la revendication 1 caractérisée en ce que le circuit comprend un microprocesseur avec un programme
de conversion.
Applications Claiming Priority (1)
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DE19823222915 DE3222915C1 (de) | 1982-06-18 | 1982-06-18 | Helligkeitsregelung fuer Mikroskopieeinspiegelung |
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FR2528988A1 true FR2528988A1 (fr) | 1983-12-23 |
Family
ID=6166352
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FR8309958A Withdrawn FR2528988A1 (fr) | 1982-06-18 | 1983-06-16 | Appareil de reglage de la brillance pour systeme de reflexion d'images dans un microscope |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS595219A (fr) |
DE (1) | DE3222915C1 (fr) |
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