FI98564C - Menetelmä liikkuvan arkkimateriaalin ominaisuuksien havaitsemiseksi poikkisuunnassa - Google Patents
Menetelmä liikkuvan arkkimateriaalin ominaisuuksien havaitsemiseksi poikkisuunnassa Download PDFInfo
- Publication number
- FI98564C FI98564C FI894524A FI894524A FI98564C FI 98564 C FI98564 C FI 98564C FI 894524 A FI894524 A FI 894524A FI 894524 A FI894524 A FI 894524A FI 98564 C FI98564 C FI 98564C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- sheet
- measurements
- points
- strip
- property
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D21—PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
- D21G—CALENDERS; ACCESSORIES FOR PAPER-MAKING MACHINES
- D21G9/00—Other accessories for paper-making machines
- D21G9/0009—Paper-making control systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Paper (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Controlling Rewinding, Feeding, Winding, Or Abnormalities Of Webs (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Controlling Sheets Or Webs (AREA)
Description
98564
Menetelmä liikkuvan arkkimateriaalin ominaisuuksien havaitsemiseksi poikkisuunnassa 5 Esillä oleva keksintö liittyy yleisesti arkin valmistusjär jestelmiin ja erityisesti arkin valmistuksen valvontajärjestelmiin, joissa mittauslaitteet pyyhkäisevät liikkuvien arkkien yli valmistuksen aikana.
10 Arkkimateriaalien ominaisuuksien suoramittaus valmistuksen aikana on hyvin tunnettu. Suoramittausten tarkoitus on yleisesti ottaen mahdollistaa täsmällinen arkinvalmistusprosessi-en valvonta ja siten korottaa arkin laatua ja samalla vähentää sen vakiolaatua huonomman arkkimateriaalin määrää, joka 15 valmistuu ennen, kuin ei-toivotut valmistusolosuhteet on kor jattu. Käytännössä useimmat arkinvalmistuskoneet on varustettu suorailmaisimilla. Esimerkiksi paperinvalmistustekniikassa havaitsevat suorailmaisimet valmistuksen aikana sellaiset muuttujat, kuten arkkien neliömassan, kosteuspitoisuuden ja 2 0 paksuuden.
Suoramittauksia on kuitenkin vaikea tehdä tarkasti arkinval-mistuksen aikana. Yksi suoramittauksiin vaikuttava tekijä on se, että monet arkinvalmistuskoneet ovat isokokoisia ja toi-25 mivat suurilla nopeuksilla. Jotkut paperinvalmistuskoneet esimerkiksi tuottavat jopa kymmenen metrin levyisiä arkkeja jopa 30 m:n sekuntivauhdilla. Toinen suoramittauksiin vaikuttava tekijä on se, että arkkimateriaalien fyysiset ominaisuudet vaihtelevat tavallisesti arkin leveyden osalta ja ne 30 saattavat olla erilaiset kone-suunnassa, kuin poikkisuunnas sa. (Arkinvalmistustekniikassa termi "konesuunta" viittaa arkin kulkusuuntaan valmistuksen aikana, ja termi "poikki-suunta" viittaa arkin pinnan poikittaiseen suuntaan, joka on kohtisuorassa konesuuntaa vasten.) 35
Arkkien poikkisuuntaisten muutosten havaitsemiseksi käytetään suorapyyhkäisyilmaisimia, jotka kulkevat jaksottaisesti edestakaisin arkinvalmistuskoneen yli poikkisuunnassa. Tavallisesti kunkin pyyhkäisyilmaisimen antamat mittaustie- 2 98564 dot kootaan havaitun arkin ominaisuuden "profiiliksi" jokaista pyyhkäisyä varten. Toisin sanoen jokainen profiili muodostuu sarjasta arkin ominaisuuksia, jotka on otettu vierekkäisistä paikoista, jotka ulottuvat tavallisesti 5 poikkisuunnassa. Profiilimittauksiin perustuen voidaan ha vaita arkin ominaisuuksien poikkisuuntaiset vaihtelut ja tehdä asianmukaiset säädöt, joiden tavoitteena on saada yhtenäiset, poikkisuuntaiset profiilit, toisin sanoen profiilit, joiden poikkisuuntainen amplitudi on vakio.
10
Vaikka pyyhkäisyilmaisimet kulkevat nopeasti arkinvalmis-tuskoneiden yli poikkisuunnassa, eivät peräkkäiset mittauspisteet ole käytännössä aivan poikkisuunnassa; toisin sanoen ne varsinaiset pisteet, joissa pyyhkäisyilmaisimet 15 tekevät mittauksia, eivät ole tarkalleen kohtisuorassa linjassa mitattavan arkin reunaan nähden, vaan arkin nopeuden takia pyyhkäisyilmaisimet itse asiassa kulkevat vinottain liikkuvan arkin pinnan yli sillä tuloksella, että peräkkäiset pyyhkäisyradat noudattavat ristiin rastiin kulkevaa 20 kaavaa. Siksi niissä profiileissa, jotka perustuvat pyyh-käisyilmaisimien ottamiin mittauksiin polvittelevia ratoja pitkin, on joitakin konesuuntaisia vaihteluja. Tästä seuraa, että kun vertaillaan peräkkäisiä poikkisuuntaisia profiileja tai kun jotain profiilin kohtaa vertaillaan johon-25 kin toiseen kohtaan, voidaan konesuuntaiset vaihtelut sekoittaa poikkisuuntaisiin vaihteluihin. Arkinvalmistusteol-lisuudessa tällaisia konesuuntaisten ja poikkisuuntaisten mittausten yhdistelmää kutsutaan MD/CD-kytkennäksi. MD/CD-kytkennän tuloksena ne säätöjärjestelmät, joiden pitäisi 30 säätää poikkisuuntaisia vaihteluja, panevat joskus alkuun keinotekoisia säätöhäiriöitä, jotka pahentavat, eivätkä suinkaan paranna, arkin poikkisuuntaista tasaisuutta.
Nykyiset arkinvalmistuksen säätöjärjestelmät eivät joko 35 kompensoi MD/CD-kytkentöjä tai niissä on suodattimet, jotka tasoittavat virheet. Tällainen suodattaminen ei ole täysin tyydyttävää useista syistä, muun muassa siksi, että suodattaminen ilman muuta hävittää muutoin hyödylliset mittaus-tiedot .
98564 3
Yleisesti ottaen esillä oleva keksintö antaa menetelmän sellaisten mittojen, kuten liikkuvan paperiarkin neliömassan ja paksuuden, määrittämiseksi valmistuksen aikana. Keksinnölle on tunnusomaista, että arvioidaan arkin ominaisuuden mitatut 5 arvot valituilla liuskoilla vertailukohtia vastaavissa koh dissa mittausten perusteella, jotka todellisuudessa on suoritettu liuskoilla kohdissa, jotka eivät sijaitse säännöllisin välein koneen suunnassa. Alkuvaiheessa pyyhkäisyilmaisin kulkee toistuvasti arkin yli ja jokaisen ylityksen aikana teh-10 dään mittauksia useissa linjakohdissa. Seuraavaksi valitaan sarja vertailukohtia, jotka sijaitsevat pienin välein arkin pinnalla konesuunnassa ja sitten valituille linjoille arvioidaan mittausarvot, jotka perustuvat todellisiin, valituilla linjoilla olevissa kohdissa tehtyihin mittauksiin. Etusijalla 15 olevassa suoritusmuodossa määritetään tavallisesti suoravii vaiset suhteet ainakin kahden mittauksen välille, jotka on todellisesti tehty jokaisella linjalla ja sitten arvioidaan interpoloinnin ja ekstrapoloinnin avulla mittausarvot, jotka perustuvat suoraviivaisiin suhteisiin.
20
Kuvio 1 on yleinen kaavamainen kuva arkinvalmistuskoneesta; kuvio 2A esittää esimerkin radasta, jota pyyhkäisyilmaisin noudattaa liikkuvalla arkilla; kuvio 2B on graafinen kaavio, joka esittää kuvion 2A pyyhkäi- 25 syradan arkin ominaisuuksien mitatut ja arvioidut arvot; kuvio 3 on graafinen kaavio, joka esittää arkin yhden ominai-« suuden todelliset sekä mitatut arvot tietyllä arkin linjalla; kuvio 4 on graafinen kaavio, joka vastaa kuviota 3 ja joka näyttää arkin ominaisuuksien todellisten ja mitattujen arvo-30 jen väliset poikkeamat.
Kuvio 1 esittää yleisesti tyypillisen arkinvalmistuskoneen, jolla valmistetaan yhtenäistä arkkimateriaalia, esim. paperia tai muovia. Kuvatussa suoritusmuodossa arkinvalmistuskone kä-35 sittää syöttösuppilon 10, joka on asennettu syöttämään raaka- ainetta tukikankaalle 13, joka on sidottu telojen 14 ja 15 väliin. Arkinvalmistuskone käsittää myös käsittelyvaiheet; esim. höyrynjakorasia 20 sekä kalanterointilaite 21 käsittelevät raaka-ainetta ja tuottavat valmiin arkin 18, jonka rul-40 la 22 kokoaa.
4 98564
Tulee ymmärtää, että jokainen tällainen käsittelyvaihe käsittää laitteet, joita kutsutaan profiiliohjaimiksi ja jotka säätävät ominaisuuksia arkin 18 poikkisuunnassa. Käytännössä profiiliohjaimet tekevät tavallisesti erillisiä sää-5 töjä vierekkäisissä poikkisuuntaisissa kohdissa, joita tavallisesti kutsutaan "linjoiksi”. Höyrynjakorasia 20 käsittää esimerkiksi profiiliohjaimet, jotka säätävät höyryn määrää, joka lasketaan arkille 18 eri Iinjakohdissa. Ka-lanterointivaihe 21 käsittää myös profiiliohjaimet, jotka 10 säätävät painetta, joka kohdistetaan arkille 18 eri linja-kohdissa .
Jotta profiiliohjaimet saisivat säätötietoja, on arkinval-mistuskoneessa ainakin yksi pyyhkäisyilmaisin 30, joka mit-15 taa valitun arkin ominaisuuden, esim. paksuuden tai neliö-massan paperinvalmistuksen ollessa kyseessä. Kuvatussa suoritusmuodossa on tukitelineeseen 31 asennettu pyyhkäisyilmaisin 30, joka voidaan panna kulkemaan jaksottaisesti ar-kinvalmistuskoneen yli poikkisuunnassa. Normaalisti pyyh-20 käisyilmaisin liikkuu jaksottaisesti arkkikoneen yli, mutta käytännössä pyyhkäisyaikaväli voi olla hieman epäsäännöllinen. Pyyhkäisyilmaisin 30 on edelleen yhdistetty profii-lianalysaattoriin 33, kuten viiva 32 ilmaisee, toimittamaan tälle signaaleja, jotka ilmaisevat mitatun arkin ominaisuu-25 den. Säätösignaalit menevät profiilianalysaattorista 33 profiiliohjaimiin yhdessä tai useammassa käsittelyvaiheessa; linja 35 vie esimerkiksi säätösignaaleja profiilinaly-saattorista 33 syöttösuppilossa 10 oleviin profiiliohjai-miin 23.
30
Arkin 18 nopeuden takia pyyhkäisyilmaisin 30 ei mittaa valittua arkin ominaisuutta kohdissa, jotka ovat tarkalleen kohtisuorassa linjassa arkin 18 pinnalla arkin pitkittäis-reunaa vasten (toisin sanoen todellisessa poikkisuunnassa), 35 vaan kuten edellä on mainittu, todelliset poikkisuuntaiset mittauskohdat sijaitsevat pitkin niitä arkin pinnalla olevia ratoja, jotka ovat vinoja siihen suuntaan nähden, joka on täsmälleen kohtisuorassa arkin reunaa vasten.
5 98564
Kuvio 2A esittää esimerkin poikkisuuntaisten mittauspisteiden kaavasta arkin 18 pinnalla. Polvitteleva, yhtenäinen viiva kuviossa 2A esittää nimenomaan mittauspisteiden todellisen kaavan, jota pyyhkäisyilmaisin 30 seuraisi arkin 5 18 pinnalla muodostaen edestakaisia perättäisiä pyyhkäisy- ratoja Sj_, S2 ja S3 jne. arkin 18 kulkiessa konesuunnassa (MD). Voidaan ymmärtää, että jokaisen todellisen pyyhkäisy-radan kulman suhde todelliseen poikkisuuntaan (CD) riippuu pyyhkäisyilmaisimen 30 poikkisuuntaisesta nopeudesta sekä 10 arkin 18 konesuuntaisesta nopeudesta. (Jokaisen arkin 18 yli kulkevan pyyhkäisyradan kulma riippuu myös telineen 31 suuntauksesta arkinvalmistuskoneen suhteen; käytännössä telineen suuntaus ei kuitenkaan ole muutettavissa normaalien arkinvalmistustoimintojen aikana.) Ihanteellisessa 15 tapauksessa poikkisuuntaiset mittaukset tehtäisiin arkilla silmänräpäyksellisesti ja pyyhkäisyradat olisivat yhdensuuntaisia linjoja todellisessa poikkisuunnassa (toisin sanoen tarkalleen kohtisuorassa arkin reunaa vasten). Käytännössä todellisilla pyyhkäisyradoilla on kuitenkin ku-20 viossa 2A esitetty polvitteleva kaava ja silloin tällöin sattuu lisäksi viiveitä välissä, jossa ilmaisin on saavuttanut arkin reunan ja ennen kuin paluupyyhkäisy on alkanut.
Selityksen vuoksi kuvion 2A arkki 18 esitetään jaetuksi 25 sarjaksi pitkittäin ulottuvia yhdensuuntaisia kaistaleita, joita edellä on kutsuttu linjoiksi. Voidaan olettaa, että linja SL25 on arkin reunojen puolessa välissä, että linja SL38 on lähellä arkin 18 ulointa reunaa ja että SL12 on lähellä lähintä reunaa. Keskilinjalla SL25 olevat pisteet 30 c±, c2, c3 jne. osoittavat tämän esimerkin tarkoitusperiä varten ne pisteet, joissa pyyhkäisyilmaisin 30 tekee mittauksia, kun se kulkee arkin 18 yli säännöllisesti edestakaisin tavallisesti tasaisella nopeudella. Pisteet m^, m2, m3 jne. osoittavat ne pisteet, joissa pyyhkäisyilmaisin 30 35 tekee mittauksia, kun se kulkee linjan SL38 yli· Kuvion 2A esimerkissä on edelleen aikaviiveet siinä välissä, kun pyyhkäisyilmaisin on saavuttanut arkin 18 reunan ja ennen, kuin paluupyyhkäisy alkaa.
6 98564
Kuten kuvio 2A selvästi ilmaisee, sijaitsevat keskilinjalla SL25 olevat mittauspisteet , c2 jne. tasaisin välein konesuunnassa, mutta epäkeskisellä linjalla SL3g olevat mittauspisteet mlf m2 jne. eivät sijaitse tasaisin välein.
5 Sama pätee kaikkiin epäkeskisiin linjoihin, siten epäkes-kisillä linjoilla otettavat mittaukset tehdään joko ennen keskilinjalla otettavia mittauksia tai niiden jälkeen. Kuviossa 2A mittauspisteiden ja cx välistä pitkittäistä etäisyyttä edustaa etäisyys , mittauspisteiden m2 ja c2 10 välistä pitkittäistä etäisyyttä edustaa etäisyys D2 ja niin edelleen. Kun pyyhkäisyilmaisin 30 kulkee arkin yli vakio-nopeudella molempiin suuntiin ilman viiveitä arkin reunoissa, ® D2 = D3 ja niin edelleen.
15 Kuvio 3 on graafinen kaavio mitattavan arkin ominaisuuden, esim. neliömassan suureesta eri kohdissa arkin 18 pituutta epäkeskisellä linjalla, esim. linjalla SL33. (Toisin sanoen kuvion 3 pystysuora akseli edustaa mitattavan arkin ominaisuuden suuretta ja vaakasuora akseli edustaa paikkoja 20 arkilla konesuunnassa.) Kuvion 3 kaaviossa on arkin 18 pituus jaettu säännöllisin välein asetetuilla viivoilla S^*, S2* jne. Nämä samansuuntaiset viivat osoittavat todellisten tai silmänräpäyksellisten poikkisuuntaisten pyyhkäisy-jen paikan, joista jokainen ulottuu tarkalleen kohtisuoraan 25 arkin 18 reunaa vasten. Kuvion 2A mukaan ilmoitettuna voidaan ymmärtää kuvion 3 samansuuntaisten viivojen S^*, S2* jne. vastaavan konesuuntaisia paikkoja, joissa vastaavat mittauspisteet c^, C2, C3 jne. sijaitsevat.
30 Jotta voitaisiin keskustella kuviosta 3, täytyy olettaa, että siinä on mitattava arkin ominaisuus, jonka suuretta osoittaa katkoviivoitettu kaari ja että tämä arkin ominaisuus vaihtelee sinimuotoisesti konesuunnassa, mutta on poikkisuunnassa vakio. Toisin sanoen oletettaisiin, että 35 millä tahansa linjalla mitattua arkin ominaisuutta edustaisi sama käyrä, joka liittyy pyyhkäisyihin S·^, S2* jne. Eli toisin sanoen oletettaisiin, että annetun arkin ominaisuuden poikkisuuntaiset profiilit ovat vakio joka linjalla.
7 98564
Kuviossa 3 osoittavat pisteet b3, b2 jne. mitatun arkin ominaisuuden tiettyjä arvoja vastaavilla pyyhkäisyillä S^, S2*, S3* jne. (Toisin sanoen alaspäin suunnattu nuoli kuviossa 3 osoittaa, että pyyhkäisyn suunta on arkin 18 lähem-5 pänä olevaa reunaa kohti ja ylöspäin suunnattu nuoli osoittaa, että pyyhkäisysuunta on arkin kauempana olevaa reunaa kohti.) Pisteet b^*, b2*, b3* jne. kuviossa 3 osoittavat niiden todellisten mittausten suureen, jotka on saatu epä-keskisellä linjalla, esim. linjalla SL38 pyyhkäisyilmaisi-10 mella 30 pyyhkäisyjen aikana, jotka vastaavat S^ra, S2*:a jne. Koska pyyhkäisyiImaisin 30 ei itse asiassa tee mittauksia linjalla SL38 ennen, kuin se on tehnyt mittaukset keskilinjalla SL25 tai sen jälkeen, sijoittuvat mittaukset b]^*, b2* jne. konesuunnassa joko ennen todellista, 15 poikkisuuntaista apupisteiden b3, b2 jne. sijaintia tai sen jälkeen. Siirtymien takia eroaa lisäksi jokaisen todellisesti mitatun arvon b^*, b2* jne. suuruus jokaisesta vastaavasta arvosta b^, b2 jne., jotka saataisiin todellisille poikkisuuntaisille pyyhkäisyilie. (Käytännöllisistä syistä 20 yhdistävät yhtenäiset viivat mittauspisteitä bj*, b2* jne. kuviossa 3.)
Lisäksi osoittaa E3 kuviossa 3 pyyhkäisyn arvon b3 ja todellisesti mitatun arvon b3* välisen eron tai poikkeaman^ 25 Samalla tavalla arvon b2 ja todellisesti mitatun pyyhkäisyn S2 arvon b2* välisen poikkeaman osoittaa E2 ja niin edelleen.
Kuvio 4 esittää kuvion 3 linjan SL38 poikkeamien E1# E2 30 jne. suuruusluokkaa, joka on esitetty graafisesti pyyhkäisyn sijainnin funktiona. Katkoviiva kuviossa 4 osoittaa jonkun toisen linjakohdan mitattujen ja todellisten arkin ominaisuuksien väliset poikkeamat. Kuvio 4 osoittaa siten, että mittauspoikkeamat voivat vaihdella linjasta toiseen, 35 vaikka linjojen väliset poikkisuuntaiset profiilit ovat vakioita. Käytännössä mittauspoikkeamien välinen vaihesiir-tymä ei ole välttämättä säännöllinen, kuten esitetään kuviossa 3. Itse asiassa sekä mittauspoikkeamien suuruusluokka että taajuus voivat vaihdella. Joissakin tapauksissa 8 98564 xnittauspoikkeamat vaihtelevat hitaammin, kuin varsinaiset konesuuntaiset vaihtelut ja siksi mittauspoikkeamia ei voi eliminoida taajussuodattamalla. Lisäksi poikkeamien keskimäärän määrääminen profiilista toiseen tällaisissa tapauk-5 sissa ei välttämättä vähennä poikkeamien vaikutusta.
Nyt kuvataan menetelmä niiden profiilimittausten poikkeamien pienentämiseksi pienimpään mahdolliseen, jotka kootaan pyyhkäisyilmaisimen 30 kulkiessa arkin 18 yli. Kuvataan 10 nimenomaan menetelmä, jossa profiilimittauspoikkeamat minimoidaan arvioimalla mittaukset, jotka tehtäisiin säännöllisin välein ihanteellisilla (eli silmänräpäyksellisillä) pyyhkäisyillä poikkisuunnassa. Käytännössä sellaiset linjaukset tehdään tavallisesti niiden mittausten yhteydessä, 15 jotka otetaan arkin keskilinjaa pitkin, koska nämä mittauk set sijoittuvat normaalisti säännöllisin välein konesuun-taan.
Kuvio 2B kuvaa yhden esimerkin menetelmästä, jolla asete-20 taan jonkin epäkeskisen linjaalin esim. SL38:n poikkisuun- taiset mittaukset suoraan linjaan vastaavien, keskilinjassa SL25 otettujen mittausten kanssa. Kuviossa 2B edustavat pystysuoralla akselilla olevat arvot mitatun arkin ominaisuuden suuretta ja vaakasuoralla akselilla olevat arvot 25 edustavat sitä konesuuntaista sijaintia arkilla 18, jossa mittaukset tehdään. Tässä esimerkkimenetelmässä kohdista m^ ja m2 otettujen mittausten arvot t^* ja b2*, ekstrapoloidaan suoraviivaisesti vetämällä arvojen b^ ja b2* väliin suora viiva, joka päätyy arvioituun arvoon a2, joka 30 lähestyy (eli arvioi) sitä mittausarvoa, joka saataisiin linjalla SL38 mittauspisteen c2 konesuuntaisessa sijainnissa. Mittauksen a2 arvioitua suuruusluokkaa voidaan kutsua "Iinjausarvoksi", koska se edustaa arvioidun mittauksen arvoa sellaisessa pisteessä, joka on suorassa linjassa to-35 dellisessa poikkisuunnassa keskilinjan mittauspisteen c2 konesuuntaisen sijainnin kanssa.
Jos halutaan samalla tavalla määrittää suorassa linjassa oleva mittaus a3 pyyhkäisylle S3, interpoloidaan kohdissa 9 98564 m2 ja m3 otettujen mittausten arvot b2* ja b3* suoraviivaisesti ulottamalla suora viiva arvojen b2* ja b3* väliin. Määritetään interpolaatioviivan ja pyyhkäisyn S3 keskilin-jaalin mittauspisteessä c3 olevan konesuuntaisen koordinaa-5 tin leikkauskohta ja sille annetaan arvo a3.
Edellä kuvattu menetelmä voidaan suorittaa myös kuviossa 3 esitetyillä arvoilla. Kuviosta 3 voidaan siis havaita, että arvioidut mittaukset a2, a3, a4 jne. ovat yleensä paljon 10 lähempänä todellisia arkin profiiliarvoja b2, b3 jne., kuin varsinaiset mitatut arvot b2*, b3* jne. Siten edellä kuvattu Iinjausmenetelmä suurentaa oleellisesti poikkisuuntais-ten profiilien tarkkuutta.
15 Käytännössä profiilimittausten arvioidut arvot lasketaan jokaisella linjalla mikroprosessoriin perustuvalla säätö-laitteistolla. Käytettäessä laitteistoa määritetään jokaisen linjatun pisteen konesuuntainen koordinaatti sen nopeuden perusteella, jolla arkki kulkee ja jolla pyyhkäisyil-20 maisin kulkee arkin yli. Arkin ja pyyhkäisyilmaisimen nopeuden arvot voidaan määrittää helposti tavanomaisilla no-peusilmaisimilla.
Todettakoon, että vaikka esillä oleva keksintö on kuvattu 25 ja selitetty etusijalla olevan suoritusmuodon mukaan, niin muunnelmia ja muutoksia voidaan tehdä poikkeamatta oheisissa patenttivaatimuksissa tiedoksi annetusta keksinnöstä. Edeltävä keskustelu esimerkiksi kohdistui kahden todellisen mittausarvon käyttämiseen laskettaessa kutakin arvioitua 30 arvoa; kolmea tai useampaa mittausarvoa voidaan kuitenkin käyttää perustana arvioitaessa profiiliarvoja. Vaikka on helpompaa tehdä suoraviivaisia ekstrapolaatioita ja inter-polaatioita, voidaan arvioidut arvot laskea myös ei-suora-viivaisten arviointifunktioiden perusteella.
35
Claims (14)
1. Menetelmä liikkuvan arkkimateriaalin ominaisuuden mittausten määrittämiseksi valmistuksen aikana viemällä toistuvasti pyyhkäisyilmaisin (30) liikkuvan arkin (18) poikki ja 5 suorittamalla kunkin poikkikulun aikana arkin (18) ominaisuu den mittaukset (m,, ir^, 1%, mj valituissa liuskakohdissa (SL25, SL3J , joka menetelmä käsittää vaiheet, joissa valitaan kone-suunnassa säännöllisin välein sijaitsevat vertailukohdat (C,f C2, C3, C4) , jotka ovat välimatkan päässä aikaisemmin vali-10 tuista konesuunnan kohdista, tunnettu siitä, että arvioidaan arkin ominaisuuden mitatut arvot (a2, a3, a4) valituilla liuskoilla vertailukohtia vastaavissa kohdissa mittausten (m,, m2, 1%, 1¾) perusteella, jotka todellisuudessa on suoritettu liuskoilla (SL25, SL3J kohdissa, jotka eivät sijaitse säännöllisin 15 välein koneen suunnassa.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että arviointivaiheeseen kuuluu: kunkin valitutun liuskan osalta määritetään yleensä lineaari-20 nen suhde ainakin kahden liuskassa (SL3g) todellisuudessa teh dyn mittauksen (mj, mj, m3, mj välillä ja arvioidaan mittausarvo mainitun yleensä lineaarisen suhteen perusteella valitun vertailukohdan (Ct, C2, C3, CJ osalta.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu sii tä, että mitattava ominaisuus (mlf m2, m3, 11¾) on arkin (18) neliömassa.
4. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu sii- 30 tä, että mitattava ominaisuus (m,, 11½, 1113, 1¾) on arkin (18) kosteuspitoisuus.
5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitattava ominaisuus (m,, m2, m3, mj on arkin (18) 35 paksuus.
6. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu sii tä, että arkin (18) materiaalina on paperi. 11 98564
7. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että arkin (18) materiaalina on muovi.
8. Jonkin patenttivaatimuksista 1 ja 3-7 mukainen menetel- 5 mä, tunnettu siitä, että vertailukohdat (Clf C2, C3, C4) si jaitsevat tasaisin välein toisistaan koneen suunnassa (MD) arkin pintaa (18) pitkin; ja valittujen liuskojen (SL3g) osalta mittausarvot (mlf m2, r%, 1¾) sijaitsevat valittujen liuskojen (SL3g) kohdissa, jotka eivät 10 sijaitse erillään koneen suunnassa (MD) samoin välein kuin vertailukohdat (Clf C2, C3, C4) .
9. Patenttivaatimuksen 8 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että arviointivaihe käsittää mittauksen (a2, a3) arvioin- 15 nin valitun liuskan (SL3g) osalta liuskan (SL3g) todellisten mittausten (m,, n^, m3) perusteella, jotka on suoritettu liuskan (SL38) kahden pyyhkäisyn aikana.
10. Patenttivaatimuksen 9 mukainen menetelmä, tunnettu sii- 20 tä, että mittaukset (m,, 1¾) , jotka on suoritettu peräkkäisten pyyhkäisyjen aikana, ekstrapoloidaan lineaarisesti arvioitujen mittausten (a2) määrittämiseksi.
10 98564
11. Patenttivaatimuksen 9 mukainen menetelmä, tunnettu sii- 25 tä, että mittaukset (rt^, m3) , jotka on suoritettu peräkkäisten pyyhkäisyjen aikana, interpoloidaan lineaarisesti todellisen mittauksen (a3) määrittämiseksi.
12. Patenttivaatimuksen 8 mukainen menetelmä, tunnettu sii- 30 tä, että arviointivaiheeseen kuuluu: kunkin valitun liuskan osalta määritetään yleensä lineaarinen suhde ainakin kahden liuskassa (Sl^g) todellisuudessa tehdyn mittauksen (mlt 1¾) tai (m3, m,) välillä ja 35 arvioidaan mittausarvo (a2, a3) mainitun yleensä lineaarisen suhteen perusteella valitun vertailukohdan (C2 tai C3) osalta. 12 98564
13. Patenttivaatimuksen 12 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittaukset (m,, mj) , jotka on suoritettu peräkkäisten edestakaisten pyyhkäisyjen aikana, ekstrapoloidaan lineaarisesti arvioitujen mittausten (a2) määrittämiseksi. 5
14. Patenttivaatimuksen 12 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että se käsittää myös vaiheen, jossa lineaarisesti inter-poloidaan mittaukset (mj, mg) , jotka on suoritettu peräkkäisten pyyhkäisyjen aikana arvioidun mittauksen (a3) määrittämi- 10 seksi.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US24961788 | 1988-09-26 | ||
US07/249,617 US4903528A (en) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | System and process for detecting properties of travelling sheets in the cross direction |
Publications (4)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI894524A0 FI894524A0 (fi) | 1989-09-25 |
FI894524A FI894524A (fi) | 1990-03-27 |
FI98564B FI98564B (fi) | 1997-03-27 |
FI98564C true FI98564C (fi) | 1997-07-10 |
Family
ID=22944282
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI894524A FI98564C (fi) | 1988-09-26 | 1989-09-25 | Menetelmä liikkuvan arkkimateriaalin ominaisuuksien havaitsemiseksi poikkisuunnassa |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4903528A (fi) |
EP (1) | EP0362036B1 (fi) |
JP (1) | JP2730989B2 (fi) |
KR (1) | KR900005170A (fi) |
CA (1) | CA1326074C (fi) |
DE (1) | DE68924898T2 (fi) |
FI (1) | FI98564C (fi) |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8808846D0 (en) * | 1988-04-14 | 1988-05-18 | Courtaulds Plc | Monitoring fabric properties |
JPH02169119A (ja) * | 1988-12-22 | 1990-06-29 | Toshiba Corp | 板平坦度制御方法 |
US5150175A (en) * | 1991-03-13 | 1992-09-22 | American Research Corporation Of Virginia | Optical imaging system for fabric seam detection |
US5539634A (en) * | 1993-09-03 | 1996-07-23 | Measurex Corporation | Sheetmaking system identification using synthetic measurement produced from redundant noisy measurements |
US5400258A (en) * | 1993-09-03 | 1995-03-21 | Measurex Corporation | Automatic cross-directional control zone alignment for sheetmaking systems |
DE59404333D1 (de) * | 1993-10-08 | 1997-11-20 | Elpatronic Ag | Verfahren zum Ausscheiden von Mehrwegflaschen aus dem Mehrwegumlauf |
US5583782A (en) * | 1994-11-10 | 1996-12-10 | Measurex Devron Inc. | Caliper profile control system for paper machine providing reduced start up times |
DE4442746C1 (de) * | 1994-12-01 | 1996-05-02 | Voith Sulzer Finishing Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Behandeln einer Materialbahn |
US5636126A (en) * | 1995-07-24 | 1997-06-03 | Measurex Devron, Inc. | Process for transforming a high resolution profile to a control profile by filtering and decimating data |
US5658432A (en) * | 1995-08-24 | 1997-08-19 | Measurex Devron Inc. | Apparatus and method of determining sheet shrinkage or expansion characteristics |
US5771174A (en) * | 1995-12-21 | 1998-06-23 | Measurex Corporation | Distributed intelligence actuator controller with peer-to-peer actuator communication |
US5815198A (en) * | 1996-05-31 | 1998-09-29 | Vachtsevanos; George J. | Method and apparatus for analyzing an image to detect and identify defects |
US6341522B1 (en) | 1996-12-13 | 2002-01-29 | Measurex Corporation | Water weight sensor array imbedded in a sheetmaking machine roll |
US6087837A (en) * | 1996-12-13 | 2000-07-11 | Honeywell-Measurex | Compact high resolution under wire water weight sensor array |
US5928475A (en) * | 1996-12-13 | 1999-07-27 | Honeywell-Measurex, Corporation | High resolution system and method for measurement of traveling web |
US6072309A (en) * | 1996-12-13 | 2000-06-06 | Honeywell-Measurex Corporation, Inc. | Paper stock zeta potential measurement and control |
US5960374A (en) * | 1997-02-14 | 1999-09-28 | International Paper Company | System for time synchronous monitoring of product quality variable |
US6343240B1 (en) * | 1997-12-29 | 2002-01-29 | Neles Paper Automation Oy | Method for identifying plural relations in a sheet manufacturing process |
US5944955A (en) * | 1998-01-15 | 1999-08-31 | Honeywell-Measurex Corporation | Fast basis weight control for papermaking machine |
US6076022A (en) * | 1998-01-26 | 2000-06-13 | Honeywell-Measurex Corporation | Paper stock shear and formation control |
US6092003A (en) * | 1998-01-26 | 2000-07-18 | Honeywell-Measurex Corporation | Paper stock shear and formation control |
US6080278A (en) * | 1998-01-27 | 2000-06-27 | Honeywell-Measurex Corporation | Fast CD and MD control in a sheetmaking machine |
FI108884B (fi) * | 1998-02-26 | 2002-04-15 | Metso Paper Automation Oy | Menetelmä ja laitteisto paperin paksuuden mittaamiseksi |
US6149770A (en) * | 1998-04-14 | 2000-11-21 | Honeywell-Measurex Corporation | Underwire water weight turbulence sensor |
US6168687B1 (en) * | 1998-04-24 | 2001-01-02 | Honeywell-Measurex Corporation | System and method for sheet measurement and control in papermaking machine |
US6006602A (en) * | 1998-04-30 | 1999-12-28 | Honeywell-Measurex Corporation | Weight measurement and measurement standardization sensor |
US6086716A (en) * | 1998-05-11 | 2000-07-11 | Honeywell-Measurex Corporation | Wet end control for papermaking machine |
US6053040A (en) * | 1998-08-03 | 2000-04-25 | Callender; Anne | System for the detection and control of paper machine profiles |
US6441904B1 (en) | 1999-03-04 | 2002-08-27 | Metso Paper Automation Oy | Method and apparatus for measuring properties of a moving fiber web |
US6567720B1 (en) | 2001-04-20 | 2003-05-20 | Kerry D. Figiel | Method and apparatus for time synchronized measurement correction of multidimensional periodic effects on a moving web |
US6850857B2 (en) | 2001-07-13 | 2005-02-01 | Honeywell International Inc. | Data fusion of stationary array sensor and scanning sensor measurements |
DE10300374B4 (de) * | 2003-01-06 | 2010-12-23 | Windmöller & Hölscher Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Regelung der Dicke extrudierter Folie |
US7459060B2 (en) * | 2005-08-22 | 2008-12-02 | Honeywell Asca Inc. | Reverse bump test for closed-loop identification of CD controller alignment |
US9540769B2 (en) | 2013-03-11 | 2017-01-10 | International Paper Company | Method and apparatus for measuring and removing rotational variability from a nip pressure profile of a covered roll of a nip press |
JP5938729B2 (ja) * | 2013-05-24 | 2016-06-22 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | シート製造装置、繊維径測定装置、および、繊維径測定方法 |
US9804044B2 (en) | 2014-05-02 | 2017-10-31 | International Paper Company | Method and system associated with a sensing roll and a mating roll for collecting data including first and second sensor arrays |
US10378980B2 (en) | 2014-05-02 | 2019-08-13 | International Paper Company | Method and system associated with a sensing roll and a mating roll for collecting roll data |
US9797788B2 (en) | 2014-05-02 | 2017-10-24 | International Paper Company | Method and system associated with a sensing roll including pluralities of sensors and a mating roll for collecting roll data |
US9863827B2 (en) | 2015-06-10 | 2018-01-09 | International Paper Company | Monitoring machine wires and felts |
US9677225B2 (en) | 2015-06-10 | 2017-06-13 | International Paper Company | Monitoring applicator rods |
US10370795B2 (en) | 2015-06-10 | 2019-08-06 | International Paper Company | Monitoring applicator rods and applicator rod nips |
US9534970B1 (en) | 2015-06-10 | 2017-01-03 | International Paper Company | Monitoring oscillating components |
US9816232B2 (en) | 2015-06-10 | 2017-11-14 | International Paper Company | Monitoring upstream machine wires and felts |
US9696226B2 (en) | 2015-06-10 | 2017-07-04 | International Paper Company | Count-based monitoring machine wires and felts |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3000438A (en) * | 1957-11-08 | 1961-09-19 | Industrial Nucleonics Corp | Measuring and controlling system |
US2909660A (en) * | 1957-11-26 | 1959-10-20 | Industrial Nucleonics Corp | Measuring and controlling system |
US3332279A (en) * | 1964-04-02 | 1967-07-25 | Industrial Nucleonics Corp | Automatic sheet moisture probe positioner |
US3508035A (en) * | 1966-11-08 | 1970-04-21 | Industrial Nucleonics Corp | Roll average computing method and apparatus |
US3536258A (en) * | 1967-10-06 | 1970-10-27 | Industrial Nucleonics Corp | Moisture measuring apparatus |
US3552203A (en) * | 1967-11-13 | 1971-01-05 | Industrial Nucleonics Corp | System for and method of measuring sheet properties |
US3612839A (en) * | 1967-11-13 | 1971-10-12 | Industrial Nucleonics Corp | Variance partitioning |
US3666621A (en) * | 1968-02-16 | 1972-05-30 | Industrial Nucleonics Corp | Process and apparatus for moisture and fiber content control in a papermaking machine |
US3562500A (en) * | 1968-02-16 | 1971-02-09 | Industrial Nucleonics Corp | Composite profile apparatus and method |
US3610899A (en) * | 1969-02-17 | 1971-10-05 | Measurex Corp | Method of obtaining variances of a characteristic of a sheet material |
US3687802A (en) * | 1970-06-22 | 1972-08-29 | Owens Illinois Inc | Controlling the moisture,mullen and basis weight of paper |
US3840302A (en) * | 1971-06-01 | 1974-10-08 | D Brunton | Oscilloscope presentation of sheet profile from a scanning gage |
US3769829A (en) * | 1972-06-12 | 1973-11-06 | J Fleming | Web sampling method and apparatus |
US3936665A (en) * | 1972-06-12 | 1976-02-03 | Industrial Nucleonics Corporation | Sheet material characteristic measuring, monitoring and controlling method and apparatus using data profile generated and evaluated by computer means |
US3914585A (en) * | 1974-02-13 | 1975-10-21 | Industrial Nucleonics Corp | Sheet moving average filter controller |
US4000402A (en) * | 1974-06-10 | 1976-12-28 | Measurex Corporation | Scanning gauge control for sheet processing apparatus |
SE454365B (sv) * | 1980-06-02 | 1988-04-25 | Svenska Traeforskningsinst | Sett for styrning av en pappersbanas egenskaper tvers matningsriktningen i en pappersmaskin |
US4476717A (en) * | 1981-05-22 | 1984-10-16 | Murphy Richard F | Scanning gauge apparatus |
US4453404A (en) * | 1982-11-22 | 1984-06-12 | The Mead Corporation | Method and apparatus for determining statistical characteristics of sheet material |
US4707779A (en) * | 1984-11-20 | 1987-11-17 | Measurex Corporation | Process for controlling a parameter based upon filtered data |
US4748400A (en) * | 1987-01-20 | 1988-05-31 | Impact Systems, Inc. | Method for controlling the amount of moisture associated with a web of moving material |
-
1988
- 1988-09-26 US US07/249,617 patent/US4903528A/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-06-23 CA CA000603721A patent/CA1326074C/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-08-28 JP JP1218746A patent/JP2730989B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-09-22 EP EP89402610A patent/EP0362036B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-09-22 DE DE68924898T patent/DE68924898T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-09-25 FI FI894524A patent/FI98564C/fi active IP Right Grant
- 1989-09-25 KR KR1019890013770A patent/KR900005170A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FI894524A (fi) | 1990-03-27 |
JPH02126141A (ja) | 1990-05-15 |
DE68924898D1 (de) | 1996-01-04 |
EP0362036A2 (en) | 1990-04-04 |
EP0362036A3 (en) | 1991-09-11 |
US4903528A (en) | 1990-02-27 |
JP2730989B2 (ja) | 1998-03-25 |
CA1326074C (en) | 1994-01-11 |
KR900005170A (ko) | 1990-04-13 |
FI894524A0 (fi) | 1989-09-25 |
DE68924898T2 (de) | 1996-08-01 |
EP0362036B1 (en) | 1995-11-22 |
FI98564B (fi) | 1997-03-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI98564C (fi) | Menetelmä liikkuvan arkkimateriaalin ominaisuuksien havaitsemiseksi poikkisuunnassa | |
US4947684A (en) | System and process for detecting properties of travelling sheets in the machine direction | |
US5400258A (en) | Automatic cross-directional control zone alignment for sheetmaking systems | |
KR101912647B1 (ko) | 측정 물체들에 대한 두께 측정을 위한 방법 및 상기 방법을 적용하기 위한 장치 | |
US8117891B2 (en) | Method for calibration of measuring equipment and measuring equipment | |
US5960374A (en) | System for time synchronous monitoring of product quality variable | |
EP2837484B1 (en) | Apparatus for automatically analyzing extruded films | |
FI93901C (fi) | Mittauslaite paperiradan poikkiprofiilin mittaamiseksi ja sen käyttö | |
US4939929A (en) | Measurement of the properties of a web in paper production | |
JPH01152306A (ja) | 形状測定方法およびその装置 | |
JP6867357B2 (ja) | 塗工量の計測方法 | |
US6264793B1 (en) | Method and apparatus for measuring caliper of paper | |
CA2081581A1 (en) | Apparatus and method for the on-line control of the filler content of a paper product | |
FI114570B (fi) | Menetelmä ja mittauskone paperirainan analysoimista varten | |
CA2062019A1 (en) | Device for positioning the cutting edges of circular blade pairs of a paper web slitter | |
CA2300115C (en) | Method for operating a traversing sensor apparatus | |
GB2540772A (en) | Flute inspection apparatus and method | |
JPH0438418A (ja) | 高さ測定装置 | |
CN100482366C (zh) | 轧制过程中测量并调整轧辊表面不平度缺陷的方法 | |
JP2675662B2 (ja) | 自動板厚測定装置 | |
JP2925735B2 (ja) | ファイバ配向センサ | |
JPH0682046B2 (ja) | 自動板厚測定装置 | |
ITMI20002451A1 (it) | Metodo per misurare il profilo di spessore di un film tubolare appiattito | |
JPH04155208A (ja) | 板状ワークの良否判別方法 | |
JPH01155204A (ja) | 厚さ測定装置の校正方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
BB | Publication of examined application | ||
FG | Patent granted |
Owner name: MEASUREX CORPORATION |