FI98564C - A method for detecting properties of a sheet material moving in the transverse direction - Google Patents

A method for detecting properties of a sheet material moving in the transverse direction Download PDF

Info

Publication number
FI98564C
FI98564C FI894524A FI894524A FI98564C FI 98564 C FI98564 C FI 98564C FI 894524 A FI894524 A FI 894524A FI 894524 A FI894524 A FI 894524A FI 98564 C FI98564 C FI 98564C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
sheet
measurements
points
strip
property
Prior art date
Application number
FI894524A
Other languages
Finnish (fi)
Swedish (sv)
Other versions
FI894524A (en
FI894524A0 (en
FI98564B (en
Inventor
Gurcan Aral
Ramesh Balakrishnan
Original Assignee
Measurex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Measurex Corp filed Critical Measurex Corp
Publication of FI894524A0 publication Critical patent/FI894524A0/en
Publication of FI894524A publication Critical patent/FI894524A/en
Publication of FI98564B publication Critical patent/FI98564B/en
Application granted granted Critical
Publication of FI98564C publication Critical patent/FI98564C/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • DTEXTILES; PAPER
    • D21PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
    • D21GCALENDERS; ACCESSORIES FOR PAPER-MAKING MACHINES
    • D21G9/00Other accessories for paper-making machines
    • D21G9/0009Paper-making control systems

Description

9856498564

Menetelmä liikkuvan arkkimateriaalin ominaisuuksien havaitsemiseksi poikkisuunnassa 5 Esillä oleva keksintö liittyy yleisesti arkin valmistusjär jestelmiin ja erityisesti arkin valmistuksen valvontajärjestelmiin, joissa mittauslaitteet pyyhkäisevät liikkuvien arkkien yli valmistuksen aikana.The present invention relates generally to sheet manufacturing systems, and more particularly to sheet fabrication control systems in which measuring devices sweep over moving sheets during fabrication.

10 Arkkimateriaalien ominaisuuksien suoramittaus valmistuksen aikana on hyvin tunnettu. Suoramittausten tarkoitus on yleisesti ottaen mahdollistaa täsmällinen arkinvalmistusprosessi-en valvonta ja siten korottaa arkin laatua ja samalla vähentää sen vakiolaatua huonomman arkkimateriaalin määrää, joka 15 valmistuu ennen, kuin ei-toivotut valmistusolosuhteet on kor jattu. Käytännössä useimmat arkinvalmistuskoneet on varustettu suorailmaisimilla. Esimerkiksi paperinvalmistustekniikassa havaitsevat suorailmaisimet valmistuksen aikana sellaiset muuttujat, kuten arkkien neliömassan, kosteuspitoisuuden ja 2 0 paksuuden.10 Direct measurement of the properties of sheet materials during manufacture is well known. The purpose of direct measurements is generally to allow accurate control of the sheet manufacturing processes and thus increase the quality of the sheet while reducing the amount of substandard sheet material that is finished before the undesired manufacturing conditions are remedied. In practice, most sheet making machines are equipped with direct detectors. For example, in papermaking technology, direct detectors detect variables such as basis weight, moisture content, and thickness of the sheets during manufacture.

Suoramittauksia on kuitenkin vaikea tehdä tarkasti arkinval-mistuksen aikana. Yksi suoramittauksiin vaikuttava tekijä on se, että monet arkinvalmistuskoneet ovat isokokoisia ja toi-25 mivat suurilla nopeuksilla. Jotkut paperinvalmistuskoneet esimerkiksi tuottavat jopa kymmenen metrin levyisiä arkkeja jopa 30 m:n sekuntivauhdilla. Toinen suoramittauksiin vaikuttava tekijä on se, että arkkimateriaalien fyysiset ominaisuudet vaihtelevat tavallisesti arkin leveyden osalta ja ne 30 saattavat olla erilaiset kone-suunnassa, kuin poikkisuunnas sa. (Arkinvalmistustekniikassa termi "konesuunta" viittaa arkin kulkusuuntaan valmistuksen aikana, ja termi "poikki-suunta" viittaa arkin pinnan poikittaiseen suuntaan, joka on kohtisuorassa konesuuntaa vasten.) 35However, direct measurements are difficult to make accurately during sheet production. One factor influencing direct measurements is that many sheet making machines are large in size and operate at high speeds. For example, some papermaking machines produce sheets up to ten meters wide at a rate of up to 30 m per second. Another factor affecting direct measurements is that the physical properties of the sheet materials usually vary with respect to the width of the sheet and may be different in the machine direction than in the transverse direction. (In sheet-making techniques, the term "machine direction" refers to the direction of travel of the sheet during manufacture, and the term "transverse direction" refers to the transverse direction of the sheet surface that is perpendicular to the machine direction.) 35

Arkkien poikkisuuntaisten muutosten havaitsemiseksi käytetään suorapyyhkäisyilmaisimia, jotka kulkevat jaksottaisesti edestakaisin arkinvalmistuskoneen yli poikkisuunnassa. Tavallisesti kunkin pyyhkäisyilmaisimen antamat mittaustie- 2 98564 dot kootaan havaitun arkin ominaisuuden "profiiliksi" jokaista pyyhkäisyä varten. Toisin sanoen jokainen profiili muodostuu sarjasta arkin ominaisuuksia, jotka on otettu vierekkäisistä paikoista, jotka ulottuvat tavallisesti 5 poikkisuunnassa. Profiilimittauksiin perustuen voidaan ha vaita arkin ominaisuuksien poikkisuuntaiset vaihtelut ja tehdä asianmukaiset säädöt, joiden tavoitteena on saada yhtenäiset, poikkisuuntaiset profiilit, toisin sanoen profiilit, joiden poikkisuuntainen amplitudi on vakio.To detect transverse changes in the sheets, direct scan detectors are used that periodically reciprocate over the sheet making machine in the transverse direction. Typically, the measurement data provided by each scan detector is compiled into a "profile" of the detected sheet property for each scan. That is, each profile consists of a set of sheet properties taken from adjacent locations, usually extending in 5 transverse directions. Based on the profile measurements, the transverse variations of the sheet properties can be detected and appropriate adjustments made to obtain uniform, transverse profiles, i.e., profiles with a constant transverse amplitude.

1010

Vaikka pyyhkäisyilmaisimet kulkevat nopeasti arkinvalmis-tuskoneiden yli poikkisuunnassa, eivät peräkkäiset mittauspisteet ole käytännössä aivan poikkisuunnassa; toisin sanoen ne varsinaiset pisteet, joissa pyyhkäisyilmaisimet 15 tekevät mittauksia, eivät ole tarkalleen kohtisuorassa linjassa mitattavan arkin reunaan nähden, vaan arkin nopeuden takia pyyhkäisyilmaisimet itse asiassa kulkevat vinottain liikkuvan arkin pinnan yli sillä tuloksella, että peräkkäiset pyyhkäisyradat noudattavat ristiin rastiin kulkevaa 20 kaavaa. Siksi niissä profiileissa, jotka perustuvat pyyh-käisyilmaisimien ottamiin mittauksiin polvittelevia ratoja pitkin, on joitakin konesuuntaisia vaihteluja. Tästä seuraa, että kun vertaillaan peräkkäisiä poikkisuuntaisia profiileja tai kun jotain profiilin kohtaa vertaillaan johon-25 kin toiseen kohtaan, voidaan konesuuntaiset vaihtelut sekoittaa poikkisuuntaisiin vaihteluihin. Arkinvalmistusteol-lisuudessa tällaisia konesuuntaisten ja poikkisuuntaisten mittausten yhdistelmää kutsutaan MD/CD-kytkennäksi. MD/CD-kytkennän tuloksena ne säätöjärjestelmät, joiden pitäisi 30 säätää poikkisuuntaisia vaihteluja, panevat joskus alkuun keinotekoisia säätöhäiriöitä, jotka pahentavat, eivätkä suinkaan paranna, arkin poikkisuuntaista tasaisuutta.Although the sweep detectors pass rapidly over the sheet-making machines in the transverse direction, the successive measuring points are practically not exactly transverse; that is, the actual points at which the sweep detectors 15 make measurements are not exactly perpendicular to the edge of the sheet being measured, but because of the speed of the sheet the sweep detectors actually pass diagonally over the surface of the moving sheet with the result that successive sweep paths intersect. Therefore, there are some machine direction variations in the profiles based on the measurements taken by the sweep detectors along the kneeling tracks. It follows that when comparing successive transverse profiles or when comparing some point of a profile to another point, the machine direction variations can be confused with the transverse variations. In the sheet making industry, such a combination of machine direction and cross direction measurements is called MD / CD coupling. As a result of the MD / CD coupling, those adjustment systems that should adjust the transverse variations sometimes initiate artificial adjustment disturbances that exacerbate, by no means improve, the transverse smoothness of the sheet.

Nykyiset arkinvalmistuksen säätöjärjestelmät eivät joko 35 kompensoi MD/CD-kytkentöjä tai niissä on suodattimet, jotka tasoittavat virheet. Tällainen suodattaminen ei ole täysin tyydyttävää useista syistä, muun muassa siksi, että suodattaminen ilman muuta hävittää muutoin hyödylliset mittaus-tiedot .Current sheet production control systems either do not compensate for MD / CD connections or have filters that smooth out errors. Such filtering is not entirely satisfactory for a number of reasons, including the fact that filtering automatically destroys otherwise useful measurement data.

98564 398564 3

Yleisesti ottaen esillä oleva keksintö antaa menetelmän sellaisten mittojen, kuten liikkuvan paperiarkin neliömassan ja paksuuden, määrittämiseksi valmistuksen aikana. Keksinnölle on tunnusomaista, että arvioidaan arkin ominaisuuden mitatut 5 arvot valituilla liuskoilla vertailukohtia vastaavissa koh dissa mittausten perusteella, jotka todellisuudessa on suoritettu liuskoilla kohdissa, jotka eivät sijaitse säännöllisin välein koneen suunnassa. Alkuvaiheessa pyyhkäisyilmaisin kulkee toistuvasti arkin yli ja jokaisen ylityksen aikana teh-10 dään mittauksia useissa linjakohdissa. Seuraavaksi valitaan sarja vertailukohtia, jotka sijaitsevat pienin välein arkin pinnalla konesuunnassa ja sitten valituille linjoille arvioidaan mittausarvot, jotka perustuvat todellisiin, valituilla linjoilla olevissa kohdissa tehtyihin mittauksiin. Etusijalla 15 olevassa suoritusmuodossa määritetään tavallisesti suoravii vaiset suhteet ainakin kahden mittauksen välille, jotka on todellisesti tehty jokaisella linjalla ja sitten arvioidaan interpoloinnin ja ekstrapoloinnin avulla mittausarvot, jotka perustuvat suoraviivaisiin suhteisiin.In general, the present invention provides a method for determining dimensions such as the basis weight and thickness of a moving paper sheet during manufacture. The invention is characterized in that the measured values of the sheet property are evaluated with selected strips at points corresponding to the reference points on the basis of measurements actually performed on the strips at points not located at regular intervals in the machine direction. In the initial phase, the scan detector passes repeatedly over the sheet, and during each crossing, measurements are made at several line points. Next, a series of reference points are selected that are located at small intervals on the surface of the sheet in the machine direction, and then the measured values are evaluated for the selected lines based on the actual measurements made at the points on the selected lines. In the preferred embodiment 15, usually linear relationships are determined between at least two measurements actually made on each line, and then measurement values based on linear relationships are evaluated by interpolation and extrapolation.

2020

Kuvio 1 on yleinen kaavamainen kuva arkinvalmistuskoneesta; kuvio 2A esittää esimerkin radasta, jota pyyhkäisyilmaisin noudattaa liikkuvalla arkilla; kuvio 2B on graafinen kaavio, joka esittää kuvion 2A pyyhkäi- 25 syradan arkin ominaisuuksien mitatut ja arvioidut arvot; kuvio 3 on graafinen kaavio, joka esittää arkin yhden ominai-« suuden todelliset sekä mitatut arvot tietyllä arkin linjalla; kuvio 4 on graafinen kaavio, joka vastaa kuviota 3 ja joka näyttää arkin ominaisuuksien todellisten ja mitattujen arvo-30 jen väliset poikkeamat.Figure 1 is a general schematic view of a sheet making machine; Fig. 2A shows an example of the path followed by the scan detector on a moving sheet; Fig. 2B is a graph showing the measured and estimated values of the sheet properties of the scan path of Fig. 2A; Fig. 3 is a graph showing the actual and measured values of one property of a sheet on a particular sheet line; Fig. 4 is a graphical diagram corresponding to Fig. 3 showing deviations between actual and measured values of the sheet properties.

Kuvio 1 esittää yleisesti tyypillisen arkinvalmistuskoneen, jolla valmistetaan yhtenäistä arkkimateriaalia, esim. paperia tai muovia. Kuvatussa suoritusmuodossa arkinvalmistuskone kä-35 sittää syöttösuppilon 10, joka on asennettu syöttämään raaka- ainetta tukikankaalle 13, joka on sidottu telojen 14 ja 15 väliin. Arkinvalmistuskone käsittää myös käsittelyvaiheet; esim. höyrynjakorasia 20 sekä kalanterointilaite 21 käsittelevät raaka-ainetta ja tuottavat valmiin arkin 18, jonka rul-40 la 22 kokoaa.Figure 1 shows a generally typical sheet making machine for producing a uniform sheet material, e.g. paper or plastic. In the illustrated embodiment, the sheet making machine 35 includes a feed hopper 10 mounted to feed raw material to a support fabric 13 bonded between rollers 14 and 15. The sheet making machine also comprises processing steps; e.g., the steam distribution box 20 and the calendering device 21 process the raw material and produce a finished sheet 18 which is assembled by the roll-40 la 22.

4 985644,98564

Tulee ymmärtää, että jokainen tällainen käsittelyvaihe käsittää laitteet, joita kutsutaan profiiliohjaimiksi ja jotka säätävät ominaisuuksia arkin 18 poikkisuunnassa. Käytännössä profiiliohjaimet tekevät tavallisesti erillisiä sää-5 töjä vierekkäisissä poikkisuuntaisissa kohdissa, joita tavallisesti kutsutaan "linjoiksi”. Höyrynjakorasia 20 käsittää esimerkiksi profiiliohjaimet, jotka säätävät höyryn määrää, joka lasketaan arkille 18 eri Iinjakohdissa. Ka-lanterointivaihe 21 käsittää myös profiiliohjaimet, jotka 10 säätävät painetta, joka kohdistetaan arkille 18 eri linja-kohdissa .It is to be understood that each such processing step comprises devices called profile guides which adjust the properties in the transverse direction of the sheet 18. In practice, the profile guides usually make separate adjustments at adjacent transverse locations, commonly referred to as “lines.” The steam distribution box 20 includes, for example, profile guides that adjust the amount of steam counted on the sheet 18 at various line locations. , which is applied to the sheet at 18 different line points.

Jotta profiiliohjaimet saisivat säätötietoja, on arkinval-mistuskoneessa ainakin yksi pyyhkäisyilmaisin 30, joka mit-15 taa valitun arkin ominaisuuden, esim. paksuuden tai neliö-massan paperinvalmistuksen ollessa kyseessä. Kuvatussa suoritusmuodossa on tukitelineeseen 31 asennettu pyyhkäisyilmaisin 30, joka voidaan panna kulkemaan jaksottaisesti ar-kinvalmistuskoneen yli poikkisuunnassa. Normaalisti pyyh-20 käisyilmaisin liikkuu jaksottaisesti arkkikoneen yli, mutta käytännössä pyyhkäisyaikaväli voi olla hieman epäsäännöllinen. Pyyhkäisyilmaisin 30 on edelleen yhdistetty profii-lianalysaattoriin 33, kuten viiva 32 ilmaisee, toimittamaan tälle signaaleja, jotka ilmaisevat mitatun arkin ominaisuu-25 den. Säätösignaalit menevät profiilianalysaattorista 33 profiiliohjaimiin yhdessä tai useammassa käsittelyvaiheessa; linja 35 vie esimerkiksi säätösignaaleja profiilinaly-saattorista 33 syöttösuppilossa 10 oleviin profiiliohjai-miin 23.In order for the profile guides to receive control information, the sheet making machine has at least one sweep detector 30 which measures the property of the selected sheet, e.g. thickness or basis weight in the case of papermaking. In the illustrated embodiment, a sweep detector 30 is mounted on the support bracket 31, which can be made to pass periodically over the sheet making machine in the transverse direction. Normally, the wipe-20 motion detector moves periodically over the sheet machine, but in practice, the sweep interval may be slightly irregular. The scan detector 30 is further connected to the profile analyzer 33, as indicated by line 32, to provide it with signals indicating the characteristics of the measured sheet. The control signals go from the profile analyzer 33 to the profile controllers in one or more processing steps; for example, line 35 supplies control signals from the profile analyzer 33 to the profile controllers 23 in the hopper 10.

3030

Arkin 18 nopeuden takia pyyhkäisyilmaisin 30 ei mittaa valittua arkin ominaisuutta kohdissa, jotka ovat tarkalleen kohtisuorassa linjassa arkin 18 pinnalla arkin pitkittäis-reunaa vasten (toisin sanoen todellisessa poikkisuunnassa), 35 vaan kuten edellä on mainittu, todelliset poikkisuuntaiset mittauskohdat sijaitsevat pitkin niitä arkin pinnalla olevia ratoja, jotka ovat vinoja siihen suuntaan nähden, joka on täsmälleen kohtisuorassa arkin reunaa vasten.Due to the speed of the sheet 18, the scan detector 30 does not measure the selected sheet property at points exactly perpendicular to the surface of the sheet 18 against the longitudinal edge of the sheet (i.e. in the true transverse direction), but as mentioned above, the actual transverse measurement points are located along the lines , which are inclined with respect to a direction exactly perpendicular to the edge of the sheet.

5 985645,98564

Kuvio 2A esittää esimerkin poikkisuuntaisten mittauspisteiden kaavasta arkin 18 pinnalla. Polvitteleva, yhtenäinen viiva kuviossa 2A esittää nimenomaan mittauspisteiden todellisen kaavan, jota pyyhkäisyilmaisin 30 seuraisi arkin 5 18 pinnalla muodostaen edestakaisia perättäisiä pyyhkäisy- ratoja Sj_, S2 ja S3 jne. arkin 18 kulkiessa konesuunnassa (MD). Voidaan ymmärtää, että jokaisen todellisen pyyhkäisy-radan kulman suhde todelliseen poikkisuuntaan (CD) riippuu pyyhkäisyilmaisimen 30 poikkisuuntaisesta nopeudesta sekä 10 arkin 18 konesuuntaisesta nopeudesta. (Jokaisen arkin 18 yli kulkevan pyyhkäisyradan kulma riippuu myös telineen 31 suuntauksesta arkinvalmistuskoneen suhteen; käytännössä telineen suuntaus ei kuitenkaan ole muutettavissa normaalien arkinvalmistustoimintojen aikana.) Ihanteellisessa 15 tapauksessa poikkisuuntaiset mittaukset tehtäisiin arkilla silmänräpäyksellisesti ja pyyhkäisyradat olisivat yhdensuuntaisia linjoja todellisessa poikkisuunnassa (toisin sanoen tarkalleen kohtisuorassa arkin reunaa vasten). Käytännössä todellisilla pyyhkäisyradoilla on kuitenkin ku-20 viossa 2A esitetty polvitteleva kaava ja silloin tällöin sattuu lisäksi viiveitä välissä, jossa ilmaisin on saavuttanut arkin reunan ja ennen kuin paluupyyhkäisy on alkanut.Figure 2A shows an example of a formula for transverse measurement points on the surface of a sheet 18. The kneeling, solid line in Fig. 2A specifically shows the actual pattern of measurement points that the scan detector 30 would follow on the surface of the sheet 5 18, forming reciprocal successive scan paths S1, S2 and S3, etc. as the sheet 18 travels in the machine direction (MD). It will be appreciated that the ratio of the angle of each actual scan path to the true transverse direction (CD) will depend on the transverse speed of the scan detector 30 as well as the machine direction speed of the 10 sheets 18. (The angle of each scan path over sheet 18 also depends on the orientation of the rack 31 relative to the sheet making machine; in practice, the orientation of the rack cannot be changed during normal sheet making operations.) Ideally, against). In practice, however, the actual scan paths have the kneeling pattern shown in Figure 2A, and occasionally there are additional delays between the time the detector has reached the edge of the sheet and before the return scan has begun.

Selityksen vuoksi kuvion 2A arkki 18 esitetään jaetuksi 25 sarjaksi pitkittäin ulottuvia yhdensuuntaisia kaistaleita, joita edellä on kutsuttu linjoiksi. Voidaan olettaa, että linja SL25 on arkin reunojen puolessa välissä, että linja SL38 on lähellä arkin 18 ulointa reunaa ja että SL12 on lähellä lähintä reunaa. Keskilinjalla SL25 olevat pisteet 30 c±, c2, c3 jne. osoittavat tämän esimerkin tarkoitusperiä varten ne pisteet, joissa pyyhkäisyilmaisin 30 tekee mittauksia, kun se kulkee arkin 18 yli säännöllisesti edestakaisin tavallisesti tasaisella nopeudella. Pisteet m^, m2, m3 jne. osoittavat ne pisteet, joissa pyyhkäisyilmaisin 30 35 tekee mittauksia, kun se kulkee linjan SL38 yli· Kuvion 2A esimerkissä on edelleen aikaviiveet siinä välissä, kun pyyhkäisyilmaisin on saavuttanut arkin 18 reunan ja ennen, kuin paluupyyhkäisy alkaa.For purposes of explanation, the sheet 18 of Figure 2A is shown as a divided 25 series of longitudinally extending parallel strips, referred to above as lines. It can be assumed that the line SL25 is halfway between the edges of the sheet, that the line SL38 is close to the outermost edge of the sheet 18 and that the line SL12 is close to the nearest edge. The points 30 c ±, c2, c3, etc. on the centerline SL25 indicate, for the purposes of this example, the points at which the sweep detector 30 makes measurements as it passes regularly back and forth over the sheet 18 at a generally constant speed. The points m ^, m2, m3, etc. indicate the points at which the sweep detector 30 35 makes measurements as it crosses the line SL38 · In the example of Figure 2A, there are still time delays between the sweep detector reaching the edge of the sheet 18 and before the reverse sweep begins.

6 985646,98564

Kuten kuvio 2A selvästi ilmaisee, sijaitsevat keskilinjalla SL25 olevat mittauspisteet , c2 jne. tasaisin välein konesuunnassa, mutta epäkeskisellä linjalla SL3g olevat mittauspisteet mlf m2 jne. eivät sijaitse tasaisin välein.As clearly shown in Fig. 2A, the measuring points c2, etc. on the center line SL25 are evenly spaced in the machine direction, but the measuring points mlf m2, etc. on the eccentric line SL3g are not evenly spaced.

5 Sama pätee kaikkiin epäkeskisiin linjoihin, siten epäkes-kisillä linjoilla otettavat mittaukset tehdään joko ennen keskilinjalla otettavia mittauksia tai niiden jälkeen. Kuviossa 2A mittauspisteiden ja cx välistä pitkittäistä etäisyyttä edustaa etäisyys , mittauspisteiden m2 ja c2 10 välistä pitkittäistä etäisyyttä edustaa etäisyys D2 ja niin edelleen. Kun pyyhkäisyilmaisin 30 kulkee arkin yli vakio-nopeudella molempiin suuntiin ilman viiveitä arkin reunoissa, ® D2 = D3 ja niin edelleen.5 The same applies to all eccentric lines, so measurements taken on eccentric lines are made either before or after center line measurements. In Fig. 2A, the longitudinal distance between the measuring points and cx is represented by the distance, the longitudinal distance between the measuring points m2 and c2 is represented by the distance D2, and so on. When the sweep detector 30 passes over the sheet at a constant speed in both directions without delays at the edges of the sheet, ® D2 = D3 and so on.

15 Kuvio 3 on graafinen kaavio mitattavan arkin ominaisuuden, esim. neliömassan suureesta eri kohdissa arkin 18 pituutta epäkeskisellä linjalla, esim. linjalla SL33. (Toisin sanoen kuvion 3 pystysuora akseli edustaa mitattavan arkin ominaisuuden suuretta ja vaakasuora akseli edustaa paikkoja 20 arkilla konesuunnassa.) Kuvion 3 kaaviossa on arkin 18 pituus jaettu säännöllisin välein asetetuilla viivoilla S^*, S2* jne. Nämä samansuuntaiset viivat osoittavat todellisten tai silmänräpäyksellisten poikkisuuntaisten pyyhkäisy-jen paikan, joista jokainen ulottuu tarkalleen kohtisuoraan 25 arkin 18 reunaa vasten. Kuvion 2A mukaan ilmoitettuna voidaan ymmärtää kuvion 3 samansuuntaisten viivojen S^*, S2* jne. vastaavan konesuuntaisia paikkoja, joissa vastaavat mittauspisteet c^, C2, C3 jne. sijaitsevat.Fig. 3 is a graphical diagram of the magnitude of a characteristic of a sheet to be measured, e.g., the mass per square meter at various points along the length of the sheet 18, on an eccentric line, e.g. (That is, the vertical axis of Figure 3 represents the magnitude of the sheet property to be measured and the horizontal axis represents locations of 20 sheets in the machine direction.) In the diagram of Figure 3, the length of sheet 18 is divided by regularly spaced lines S1 *, S2 *, etc. These parallel lines indicate real or the location of the sweeps, each of which extends exactly perpendicular to the edge 18 of the sheet 25. As indicated in Fig. 2A, it can be understood that the parallel lines S1 *, S2 *, etc. of Fig. 3 correspond to the machine direction locations where the respective measurement points c1, C2, C3, etc. are located.

30 Jotta voitaisiin keskustella kuviosta 3, täytyy olettaa, että siinä on mitattava arkin ominaisuus, jonka suuretta osoittaa katkoviivoitettu kaari ja että tämä arkin ominaisuus vaihtelee sinimuotoisesti konesuunnassa, mutta on poikkisuunnassa vakio. Toisin sanoen oletettaisiin, että 35 millä tahansa linjalla mitattua arkin ominaisuutta edustaisi sama käyrä, joka liittyy pyyhkäisyihin S·^, S2* jne. Eli toisin sanoen oletettaisiin, että annetun arkin ominaisuuden poikkisuuntaiset profiilit ovat vakio joka linjalla.30 In order to discuss Figure 3, it must be assumed that it has a measurable sheet property, the magnitude of which is indicated by the dashed arc, and that this sheet property varies sinusoidally in the machine direction but is constant in the transverse direction. In other words, it would be assumed that the sheet property measured on any line would be represented by the same curve associated with the sweeps S · ^, S2 *, etc. That is, it would be assumed that the transverse profiles of a given sheet property are constant on each line.

7 985647 98564

Kuviossa 3 osoittavat pisteet b3, b2 jne. mitatun arkin ominaisuuden tiettyjä arvoja vastaavilla pyyhkäisyillä S^, S2*, S3* jne. (Toisin sanoen alaspäin suunnattu nuoli kuviossa 3 osoittaa, että pyyhkäisyn suunta on arkin 18 lähem-5 pänä olevaa reunaa kohti ja ylöspäin suunnattu nuoli osoittaa, että pyyhkäisysuunta on arkin kauempana olevaa reunaa kohti.) Pisteet b^*, b2*, b3* jne. kuviossa 3 osoittavat niiden todellisten mittausten suureen, jotka on saatu epä-keskisellä linjalla, esim. linjalla SL38 pyyhkäisyilmaisi-10 mella 30 pyyhkäisyjen aikana, jotka vastaavat S^ra, S2*:a jne. Koska pyyhkäisyiImaisin 30 ei itse asiassa tee mittauksia linjalla SL38 ennen, kuin se on tehnyt mittaukset keskilinjalla SL25 tai sen jälkeen, sijoittuvat mittaukset b]^*, b2* jne. konesuunnassa joko ennen todellista, 15 poikkisuuntaista apupisteiden b3, b2 jne. sijaintia tai sen jälkeen. Siirtymien takia eroaa lisäksi jokaisen todellisesti mitatun arvon b^*, b2* jne. suuruus jokaisesta vastaavasta arvosta b^, b2 jne., jotka saataisiin todellisille poikkisuuntaisille pyyhkäisyilie. (Käytännöllisistä syistä 20 yhdistävät yhtenäiset viivat mittauspisteitä bj*, b2* jne. kuviossa 3.)In Fig. 3, the points b3, b2, etc. indicate the measured values of the measured sheet property with sweeps S1, S2 *, S3 *, etc. (that is, the downward arrow in Fig. 3 indicates that the sweep direction is toward the near-edge of the sheet 18 and an upward arrow indicates that the scanning direction is toward the distal edge of the sheet.) The points b ^ *, b2 *, b3 *, etc. in Figure 3 indicate the magnitude of the actual measurements obtained on the eccentric line, e.g., line SL38 scan indicator-10 30 during sweeps corresponding to S1ra, S2 *, etc. Because the sweep sensor 30 does not actually make measurements on line SL38 before or after measurements on line SL25, the measurements are b1 ^ *, b2 *, etc. in the machine direction either before or after the actual 15 transverse position of the auxiliary points b3, b2, etc. In addition, due to the offsets, the magnitude of each actually measured value b ^ *, b2 *, etc. differs from each corresponding value b ^, b2, etc., which would be obtained for the actual transverse sweeps. (For practical reasons, 20 solid lines connect the measuring points bj *, b2 *, etc. in Figure 3.)

Lisäksi osoittaa E3 kuviossa 3 pyyhkäisyn arvon b3 ja todellisesti mitatun arvon b3* välisen eron tai poikkeaman^ 25 Samalla tavalla arvon b2 ja todellisesti mitatun pyyhkäisyn S2 arvon b2* välisen poikkeaman osoittaa E2 ja niin edelleen.In addition, E3 in Fig. 3 shows the difference or deviation between the sweep value b3 and the actually measured value b3 *. Similarly, the deviation between the value b2 and the actually measured sweep S2 value b2 * is indicated by E2 and so on.

Kuvio 4 esittää kuvion 3 linjan SL38 poikkeamien E1# E2 30 jne. suuruusluokkaa, joka on esitetty graafisesti pyyhkäisyn sijainnin funktiona. Katkoviiva kuviossa 4 osoittaa jonkun toisen linjakohdan mitattujen ja todellisten arkin ominaisuuksien väliset poikkeamat. Kuvio 4 osoittaa siten, että mittauspoikkeamat voivat vaihdella linjasta toiseen, 35 vaikka linjojen väliset poikkisuuntaiset profiilit ovat vakioita. Käytännössä mittauspoikkeamien välinen vaihesiir-tymä ei ole välttämättä säännöllinen, kuten esitetään kuviossa 3. Itse asiassa sekä mittauspoikkeamien suuruusluokka että taajuus voivat vaihdella. Joissakin tapauksissa 8 98564 xnittauspoikkeamat vaihtelevat hitaammin, kuin varsinaiset konesuuntaiset vaihtelut ja siksi mittauspoikkeamia ei voi eliminoida taajussuodattamalla. Lisäksi poikkeamien keskimäärän määrääminen profiilista toiseen tällaisissa tapauk-5 sissa ei välttämättä vähennä poikkeamien vaikutusta.Fig. 4 shows the order of magnitude of the deviations E1 # E2 30, etc. of the line SL38 of Fig. 3, shown graphically as a function of the position of the sweep. The dashed line in Figure 4 shows the deviations between the measured and actual sheet properties of another line point. Figure 4 thus shows that the measurement deviations can vary from line to line, although the transverse profiles between the lines are constant. In practice, the phase shift between measurement deviations is not necessarily regular, as shown in Figure 3. In fact, both the magnitude and frequency of the measurement deviations can vary. In some cases, 8 98564 x measurement deviations vary more slowly than the actual machine direction variations and therefore measurement deviations cannot be eliminated by frequency filtering. In addition, determining the average of the deviations from one profile to another in such cases does not necessarily reduce the effect of the deviations.

Nyt kuvataan menetelmä niiden profiilimittausten poikkeamien pienentämiseksi pienimpään mahdolliseen, jotka kootaan pyyhkäisyilmaisimen 30 kulkiessa arkin 18 yli. Kuvataan 10 nimenomaan menetelmä, jossa profiilimittauspoikkeamat minimoidaan arvioimalla mittaukset, jotka tehtäisiin säännöllisin välein ihanteellisilla (eli silmänräpäyksellisillä) pyyhkäisyillä poikkisuunnassa. Käytännössä sellaiset linjaukset tehdään tavallisesti niiden mittausten yhteydessä, 15 jotka otetaan arkin keskilinjaa pitkin, koska nämä mittauk set sijoittuvat normaalisti säännöllisin välein konesuun-taan.A method of reducing the deviations of the profile measurements collected as the sweep detector 30 passes over the sheet 18 will now be described. Specifically, a method is described in which profile measurement deviations are minimized by evaluating measurements that would be made at regular intervals with ideal (i.e., blinking) sweeps in the transverse direction. In practice, such alignments are usually made in connection with measurements taken along the center line of the sheet, since these measurements are normally located at regular intervals in the machine direction.

Kuvio 2B kuvaa yhden esimerkin menetelmästä, jolla asete-20 taan jonkin epäkeskisen linjaalin esim. SL38:n poikkisuun- taiset mittaukset suoraan linjaan vastaavien, keskilinjassa SL25 otettujen mittausten kanssa. Kuviossa 2B edustavat pystysuoralla akselilla olevat arvot mitatun arkin ominaisuuden suuretta ja vaakasuoralla akselilla olevat arvot 25 edustavat sitä konesuuntaista sijaintia arkilla 18, jossa mittaukset tehdään. Tässä esimerkkimenetelmässä kohdista m^ ja m2 otettujen mittausten arvot t^* ja b2*, ekstrapoloidaan suoraviivaisesti vetämällä arvojen b^ ja b2* väliin suora viiva, joka päätyy arvioituun arvoon a2, joka 30 lähestyy (eli arvioi) sitä mittausarvoa, joka saataisiin linjalla SL38 mittauspisteen c2 konesuuntaisessa sijainnissa. Mittauksen a2 arvioitua suuruusluokkaa voidaan kutsua "Iinjausarvoksi", koska se edustaa arvioidun mittauksen arvoa sellaisessa pisteessä, joka on suorassa linjassa to-35 dellisessa poikkisuunnassa keskilinjan mittauspisteen c2 konesuuntaisen sijainnin kanssa.Fig. 2B illustrates one example of a method for setting transverse measurements of an eccentric line, e.g. SL38, directly in line with corresponding measurements taken on the centerline SL25. In Figure 2B, the values on the vertical axis represent the magnitude of the property of the measured sheet and the values on the horizontal axis represent the machine direction position on the sheet 18 where the measurements are made. In this example method, the values t ^ * and b2 * of the measurements taken at m ^ and m2 are extrapolated in a straight line by drawing a straight line between b ^ and b2 * which ends at the estimated value a2 approaching (i.e. estimating) the measurement value obtained on line SL38 at the machine direction of measuring point c2. The estimated magnitude of the measurement a2 can be called the "Alignment value" because it represents the value of the estimated measurement at a point in a straight line in the true transverse direction with the machine direction position of the centerline measurement point c2.

Jos halutaan samalla tavalla määrittää suorassa linjassa oleva mittaus a3 pyyhkäisylle S3, interpoloidaan kohdissa 9 98564 m2 ja m3 otettujen mittausten arvot b2* ja b3* suoraviivaisesti ulottamalla suora viiva arvojen b2* ja b3* väliin. Määritetään interpolaatioviivan ja pyyhkäisyn S3 keskilin-jaalin mittauspisteessä c3 olevan konesuuntaisen koordinaa-5 tin leikkauskohta ja sille annetaan arvo a3.If it is desired to determine the measurement a3 in a straight line for the sweep S3 in the same way, the values b2 * and b3 * of the measurements taken at 9 98564 m2 and m3 are interpolated in a straight line by extending a straight line between the values b2 * and b3 *. The point of intersection of the machine direction coordinate at the measuring point c3 of the center line of the interpolation line and the sweep S3 is determined and given the value a3.

Edellä kuvattu menetelmä voidaan suorittaa myös kuviossa 3 esitetyillä arvoilla. Kuviosta 3 voidaan siis havaita, että arvioidut mittaukset a2, a3, a4 jne. ovat yleensä paljon 10 lähempänä todellisia arkin profiiliarvoja b2, b3 jne., kuin varsinaiset mitatut arvot b2*, b3* jne. Siten edellä kuvattu Iinjausmenetelmä suurentaa oleellisesti poikkisuuntais-ten profiilien tarkkuutta.The method described above can also be performed with the values shown in Fig. 3. Thus, it can be seen from Figure 3 that the estimated measurements a2, a3, a4, etc. are generally much closer to the actual sheet profile values b2, b3, etc. than the actual measured values b2 *, b3 *, etc. accuracy of profiles.

15 Käytännössä profiilimittausten arvioidut arvot lasketaan jokaisella linjalla mikroprosessoriin perustuvalla säätö-laitteistolla. Käytettäessä laitteistoa määritetään jokaisen linjatun pisteen konesuuntainen koordinaatti sen nopeuden perusteella, jolla arkki kulkee ja jolla pyyhkäisyil-20 maisin kulkee arkin yli. Arkin ja pyyhkäisyilmaisimen nopeuden arvot voidaan määrittää helposti tavanomaisilla no-peusilmaisimilla.15 In practice, the estimated values of the profile measurements are calculated on each line with microprocessor-based control equipment. When using the apparatus, the machine direction coordinate of each aligned point is determined based on the speed at which the sheet travels and at which the sweep air 20 passes over the sheet. The speed values of the sheet and the sweep detector can be easily determined with conventional speed detectors.

Todettakoon, että vaikka esillä oleva keksintö on kuvattu 25 ja selitetty etusijalla olevan suoritusmuodon mukaan, niin muunnelmia ja muutoksia voidaan tehdä poikkeamatta oheisissa patenttivaatimuksissa tiedoksi annetusta keksinnöstä. Edeltävä keskustelu esimerkiksi kohdistui kahden todellisen mittausarvon käyttämiseen laskettaessa kutakin arvioitua 30 arvoa; kolmea tai useampaa mittausarvoa voidaan kuitenkin käyttää perustana arvioitaessa profiiliarvoja. Vaikka on helpompaa tehdä suoraviivaisia ekstrapolaatioita ja inter-polaatioita, voidaan arvioidut arvot laskea myös ei-suora-viivaisten arviointifunktioiden perusteella.It should be noted that although the present invention has been described and described in accordance with a preferred embodiment, variations and modifications may be made without departing from the invention disclosed in the appended claims. For example, the previous discussion focused on the use of two actual measured values in calculating each of the estimated 30 values; however, three or more measured values can be used as a basis for evaluating profile values. Although it is easier to make straight-line extrapolations and interpolations, the estimated values can also be calculated from non-straight-line estimation functions.

3535

Claims (14)

1. Menetelmä liikkuvan arkkimateriaalin ominaisuuden mittausten määrittämiseksi valmistuksen aikana viemällä toistuvasti pyyhkäisyilmaisin (30) liikkuvan arkin (18) poikki ja 5 suorittamalla kunkin poikkikulun aikana arkin (18) ominaisuu den mittaukset (m,, ir^, 1%, mj valituissa liuskakohdissa (SL25, SL3J , joka menetelmä käsittää vaiheet, joissa valitaan kone-suunnassa säännöllisin välein sijaitsevat vertailukohdat (C,f C2, C3, C4) , jotka ovat välimatkan päässä aikaisemmin vali-10 tuista konesuunnan kohdista, tunnettu siitä, että arvioidaan arkin ominaisuuden mitatut arvot (a2, a3, a4) valituilla liuskoilla vertailukohtia vastaavissa kohdissa mittausten (m,, m2, 1%, 1¾) perusteella, jotka todellisuudessa on suoritettu liuskoilla (SL25, SL3J kohdissa, jotka eivät sijaitse säännöllisin 15 välein koneen suunnassa.A method for determining measurements of the property of a moving sheet material during manufacture by repeatedly passing a sweep detector (30) across the moving sheet (18) and performing measurements of the property of the sheet (18) at selected crossing points during each crossing (SL25 , SL3J, which method comprises the steps of selecting reference points (C, f C2, C3, C4) at regular intervals in the machine direction at a distance from previously selected machine direction points, characterized by evaluating the measured values of the sheet property ( a2, a3, a4) on selected strips at points corresponding to the reference points on the basis of measurements (m ,, m2, 1%, 1¾) actually carried out on the strips (SL25, SL3J at points not located at regular intervals in the machine direction). 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että arviointivaiheeseen kuuluu: kunkin valitutun liuskan osalta määritetään yleensä lineaari-20 nen suhde ainakin kahden liuskassa (SL3g) todellisuudessa teh dyn mittauksen (mj, mj, m3, mj välillä ja arvioidaan mittausarvo mainitun yleensä lineaarisen suhteen perusteella valitun vertailukohdan (Ct, C2, C3, CJ osalta.A method according to claim 1, characterized in that the evaluating step comprises: for each selected strip, generally determining a linear relationship between at least two measurements (mj, mj, m3, mj) actually made on the strip (SL3g) and estimating the measured value from said generally linear strip; for the reference point selected on the basis of the ratio (Ct, C2, C3, CJ. 3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu sii tä, että mitattava ominaisuus (mlf m2, m3, 11¾) on arkin (18) neliömassa.Method according to Claim 1, characterized in that the property to be measured (mlf m2, m3, 11¾) is the basis weight of the sheet (18). 4. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu sii- 30 tä, että mitattava ominaisuus (m,, 11½, 1113, 1¾) on arkin (18) kosteuspitoisuus.Method according to Claim 1, characterized in that the property to be measured (m, 11½, 1113, 1¾) is the moisture content of the sheet (18). 5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitattava ominaisuus (m,, m2, m3, mj on arkin (18) 35 paksuus.Method according to Claim 1, characterized in that the property to be measured (m ,, m2, m3, mj is the thickness of the sheet (18) 35. 6. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu sii tä, että arkin (18) materiaalina on paperi. 11 98564Method according to claim 1, characterized in that the material of the sheet (18) is paper. 11 98564 7. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että arkin (18) materiaalina on muovi.Method according to Claim 1, characterized in that the material of the sheet (18) is plastic. 8. Jonkin patenttivaatimuksista 1 ja 3-7 mukainen menetel- 5 mä, tunnettu siitä, että vertailukohdat (Clf C2, C3, C4) si jaitsevat tasaisin välein toisistaan koneen suunnassa (MD) arkin pintaa (18) pitkin; ja valittujen liuskojen (SL3g) osalta mittausarvot (mlf m2, r%, 1¾) sijaitsevat valittujen liuskojen (SL3g) kohdissa, jotka eivät 10 sijaitse erillään koneen suunnassa (MD) samoin välein kuin vertailukohdat (Clf C2, C3, C4) .Method according to one of Claims 1 and 3 to 7, characterized in that the reference points (Clf C2, C3, C4) are evenly spaced in the machine direction (MD) along the surface (18) of the sheet; and for the selected strips (SL3g), the measured values (mlf m2, r%, 1¾) are located at the selected strips (SL3g) at locations not separated in the machine direction (MD) at the same intervals as the reference points (Clf C2, C3, C4). 9. Patenttivaatimuksen 8 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että arviointivaihe käsittää mittauksen (a2, a3) arvioin- 15 nin valitun liuskan (SL3g) osalta liuskan (SL3g) todellisten mittausten (m,, n^, m3) perusteella, jotka on suoritettu liuskan (SL38) kahden pyyhkäisyn aikana.A method according to claim 8, characterized in that the estimating step comprises evaluating the measurement (a2, a3) for the selected strip (SL3g) on the basis of the actual measurements (m1, n3, m3) of the strip (SL3g) performed on the strip (SL38) during two sweeps. 10. Patenttivaatimuksen 9 mukainen menetelmä, tunnettu sii- 20 tä, että mittaukset (m,, 1¾) , jotka on suoritettu peräkkäisten pyyhkäisyjen aikana, ekstrapoloidaan lineaarisesti arvioitujen mittausten (a2) määrittämiseksi.Method according to Claim 9, characterized in that the measurements (m, 1¾) taken during successive sweeps are extrapolated linearly to determine the estimated measurements (a2). 10 9856410 98564 11. Patenttivaatimuksen 9 mukainen menetelmä, tunnettu sii- 25 tä, että mittaukset (rt^, m3) , jotka on suoritettu peräkkäisten pyyhkäisyjen aikana, interpoloidaan lineaarisesti todellisen mittauksen (a3) määrittämiseksi.Method according to Claim 9, characterized in that the measurements (rt ^, m3) taken during successive sweeps are interpolated linearly to determine the actual measurement (a3). 12. Patenttivaatimuksen 8 mukainen menetelmä, tunnettu sii- 30 tä, että arviointivaiheeseen kuuluu: kunkin valitun liuskan osalta määritetään yleensä lineaarinen suhde ainakin kahden liuskassa (Sl^g) todellisuudessa tehdyn mittauksen (mlt 1¾) tai (m3, m,) välillä ja 35 arvioidaan mittausarvo (a2, a3) mainitun yleensä lineaarisen suhteen perusteella valitun vertailukohdan (C2 tai C3) osalta. 12 98564A method according to claim 8, characterized in that the evaluating step comprises: for each selected strip, a generally linear relationship is determined between at least two measurements (mlt 1¾) or (m3, m,) actually made on the strip (S1 g) and estimating the measured value (a2, a3) for the reference point (C2 or C3) selected on the basis of said generally linear relationship. 12 98564 13. Patenttivaatimuksen 12 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittaukset (m,, mj) , jotka on suoritettu peräkkäisten edestakaisten pyyhkäisyjen aikana, ekstrapoloidaan lineaarisesti arvioitujen mittausten (a2) määrittämiseksi. 5Method according to Claim 12, characterized in that the measurements (m i, mj) taken during successive reciprocal sweeps are extrapolated to determine the linearly estimated measurements (a2). 5 14. Patenttivaatimuksen 12 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että se käsittää myös vaiheen, jossa lineaarisesti inter-poloidaan mittaukset (mj, mg) , jotka on suoritettu peräkkäisten pyyhkäisyjen aikana arvioidun mittauksen (a3) määrittämi- 10 seksi.A method according to claim 12, characterized in that it further comprises the step of linearly interpolating the measurements (mj, mg) performed during successive sweeps to determine the estimated measurement (a3).
FI894524A 1988-09-26 1989-09-25 A method for detecting properties of a sheet material moving in the transverse direction FI98564C (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/249,617 US4903528A (en) 1988-09-26 1988-09-26 System and process for detecting properties of travelling sheets in the cross direction
US24961788 1988-09-26

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI894524A0 FI894524A0 (en) 1989-09-25
FI894524A FI894524A (en) 1990-03-27
FI98564B FI98564B (en) 1997-03-27
FI98564C true FI98564C (en) 1997-07-10

Family

ID=22944282

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI894524A FI98564C (en) 1988-09-26 1989-09-25 A method for detecting properties of a sheet material moving in the transverse direction

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4903528A (en)
EP (1) EP0362036B1 (en)
JP (1) JP2730989B2 (en)
KR (1) KR900005170A (en)
CA (1) CA1326074C (en)
DE (1) DE68924898T2 (en)
FI (1) FI98564C (en)

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8808846D0 (en) * 1988-04-14 1988-05-18 Courtaulds Plc Monitoring fabric properties
JPH02169119A (en) * 1988-12-22 1990-06-29 Toshiba Corp Method for controlling plate flatness
US5150175A (en) * 1991-03-13 1992-09-22 American Research Corporation Of Virginia Optical imaging system for fabric seam detection
US5539634A (en) * 1993-09-03 1996-07-23 Measurex Corporation Sheetmaking system identification using synthetic measurement produced from redundant noisy measurements
US5400258A (en) * 1993-09-03 1995-03-21 Measurex Corporation Automatic cross-directional control zone alignment for sheetmaking systems
ATE159193T1 (en) * 1993-10-08 1997-11-15 Elpatronic Ag METHOD FOR REMOVING REUSABLE BOTTLES FROM THE REUSABLE CIRCULATION
US5583782A (en) * 1994-11-10 1996-12-10 Measurex Devron Inc. Caliper profile control system for paper machine providing reduced start up times
DE4442746C1 (en) * 1994-12-01 1996-05-02 Voith Sulzer Finishing Gmbh Method and device for treating a material web
US5636126A (en) * 1995-07-24 1997-06-03 Measurex Devron, Inc. Process for transforming a high resolution profile to a control profile by filtering and decimating data
US5658432A (en) * 1995-08-24 1997-08-19 Measurex Devron Inc. Apparatus and method of determining sheet shrinkage or expansion characteristics
US5771174A (en) * 1995-12-21 1998-06-23 Measurex Corporation Distributed intelligence actuator controller with peer-to-peer actuator communication
US5815198A (en) * 1996-05-31 1998-09-29 Vachtsevanos; George J. Method and apparatus for analyzing an image to detect and identify defects
US6341522B1 (en) 1996-12-13 2002-01-29 Measurex Corporation Water weight sensor array imbedded in a sheetmaking machine roll
US5928475A (en) * 1996-12-13 1999-07-27 Honeywell-Measurex, Corporation High resolution system and method for measurement of traveling web
US6072309A (en) * 1996-12-13 2000-06-06 Honeywell-Measurex Corporation, Inc. Paper stock zeta potential measurement and control
US6087837A (en) * 1996-12-13 2000-07-11 Honeywell-Measurex Compact high resolution under wire water weight sensor array
US5960374A (en) * 1997-02-14 1999-09-28 International Paper Company System for time synchronous monitoring of product quality variable
US6343240B1 (en) * 1997-12-29 2002-01-29 Neles Paper Automation Oy Method for identifying plural relations in a sheet manufacturing process
US5944955A (en) * 1998-01-15 1999-08-31 Honeywell-Measurex Corporation Fast basis weight control for papermaking machine
US6092003A (en) * 1998-01-26 2000-07-18 Honeywell-Measurex Corporation Paper stock shear and formation control
US6076022A (en) * 1998-01-26 2000-06-13 Honeywell-Measurex Corporation Paper stock shear and formation control
US6080278A (en) * 1998-01-27 2000-06-27 Honeywell-Measurex Corporation Fast CD and MD control in a sheetmaking machine
FI108884B (en) * 1998-02-26 2002-04-15 Metso Paper Automation Oy Method and apparatus for measuring paper thickness
US6149770A (en) * 1998-04-14 2000-11-21 Honeywell-Measurex Corporation Underwire water weight turbulence sensor
US6168687B1 (en) * 1998-04-24 2001-01-02 Honeywell-Measurex Corporation System and method for sheet measurement and control in papermaking machine
US6006602A (en) * 1998-04-30 1999-12-28 Honeywell-Measurex Corporation Weight measurement and measurement standardization sensor
US6086716A (en) * 1998-05-11 2000-07-11 Honeywell-Measurex Corporation Wet end control for papermaking machine
US6053040A (en) * 1998-08-03 2000-04-25 Callender; Anne System for the detection and control of paper machine profiles
US6441904B1 (en) 1999-03-04 2002-08-27 Metso Paper Automation Oy Method and apparatus for measuring properties of a moving fiber web
US6567720B1 (en) 2001-04-20 2003-05-20 Kerry D. Figiel Method and apparatus for time synchronized measurement correction of multidimensional periodic effects on a moving web
US6850857B2 (en) 2001-07-13 2005-02-01 Honeywell International Inc. Data fusion of stationary array sensor and scanning sensor measurements
DE10300374B4 (en) * 2003-01-06 2010-12-23 Windmöller & Hölscher Kg Method and device for controlling the thickness of extruded film
US7459060B2 (en) * 2005-08-22 2008-12-02 Honeywell Asca Inc. Reverse bump test for closed-loop identification of CD controller alignment
US9540769B2 (en) 2013-03-11 2017-01-10 International Paper Company Method and apparatus for measuring and removing rotational variability from a nip pressure profile of a covered roll of a nip press
JP5938729B2 (en) * 2013-05-24 2016-06-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 Sheet manufacturing apparatus, fiber diameter measuring apparatus, and fiber diameter measuring method
US9804044B2 (en) 2014-05-02 2017-10-31 International Paper Company Method and system associated with a sensing roll and a mating roll for collecting data including first and second sensor arrays
US10378980B2 (en) 2014-05-02 2019-08-13 International Paper Company Method and system associated with a sensing roll and a mating roll for collecting roll data
US9797788B2 (en) 2014-05-02 2017-10-24 International Paper Company Method and system associated with a sensing roll including pluralities of sensors and a mating roll for collecting roll data
US10370795B2 (en) 2015-06-10 2019-08-06 International Paper Company Monitoring applicator rods and applicator rod nips
US9816232B2 (en) 2015-06-10 2017-11-14 International Paper Company Monitoring upstream machine wires and felts
US9677225B2 (en) 2015-06-10 2017-06-13 International Paper Company Monitoring applicator rods
US9534970B1 (en) 2015-06-10 2017-01-03 International Paper Company Monitoring oscillating components
US9696226B2 (en) 2015-06-10 2017-07-04 International Paper Company Count-based monitoring machine wires and felts
US9863827B2 (en) 2015-06-10 2018-01-09 International Paper Company Monitoring machine wires and felts

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3000438A (en) * 1957-11-08 1961-09-19 Industrial Nucleonics Corp Measuring and controlling system
US2909660A (en) * 1957-11-26 1959-10-20 Industrial Nucleonics Corp Measuring and controlling system
US3332279A (en) * 1964-04-02 1967-07-25 Industrial Nucleonics Corp Automatic sheet moisture probe positioner
US3508035A (en) * 1966-11-08 1970-04-21 Industrial Nucleonics Corp Roll average computing method and apparatus
US3536258A (en) * 1967-10-06 1970-10-27 Industrial Nucleonics Corp Moisture measuring apparatus
US3612839A (en) * 1967-11-13 1971-10-12 Industrial Nucleonics Corp Variance partitioning
US3552203A (en) * 1967-11-13 1971-01-05 Industrial Nucleonics Corp System for and method of measuring sheet properties
US3666621A (en) * 1968-02-16 1972-05-30 Industrial Nucleonics Corp Process and apparatus for moisture and fiber content control in a papermaking machine
US3562500A (en) * 1968-02-16 1971-02-09 Industrial Nucleonics Corp Composite profile apparatus and method
US3610899A (en) * 1969-02-17 1971-10-05 Measurex Corp Method of obtaining variances of a characteristic of a sheet material
US3687802A (en) * 1970-06-22 1972-08-29 Owens Illinois Inc Controlling the moisture,mullen and basis weight of paper
US3840302A (en) * 1971-06-01 1974-10-08 D Brunton Oscilloscope presentation of sheet profile from a scanning gage
US3769829A (en) * 1972-06-12 1973-11-06 J Fleming Web sampling method and apparatus
US3936665A (en) * 1972-06-12 1976-02-03 Industrial Nucleonics Corporation Sheet material characteristic measuring, monitoring and controlling method and apparatus using data profile generated and evaluated by computer means
US3914585A (en) * 1974-02-13 1975-10-21 Industrial Nucleonics Corp Sheet moving average filter controller
US4000402A (en) * 1974-06-10 1976-12-28 Measurex Corporation Scanning gauge control for sheet processing apparatus
SE454365B (en) * 1980-06-02 1988-04-25 Svenska Traeforskningsinst SET FOR MANAGING A PAPER PATH FEATURES TWO FEEDING DIRECTION IN A PAPER MACHINE
US4476717A (en) * 1981-05-22 1984-10-16 Murphy Richard F Scanning gauge apparatus
US4453404A (en) * 1982-11-22 1984-06-12 The Mead Corporation Method and apparatus for determining statistical characteristics of sheet material
US4707779A (en) * 1984-11-20 1987-11-17 Measurex Corporation Process for controlling a parameter based upon filtered data
US4748400A (en) * 1987-01-20 1988-05-31 Impact Systems, Inc. Method for controlling the amount of moisture associated with a web of moving material

Also Published As

Publication number Publication date
JPH02126141A (en) 1990-05-15
EP0362036A2 (en) 1990-04-04
US4903528A (en) 1990-02-27
EP0362036B1 (en) 1995-11-22
CA1326074C (en) 1994-01-11
DE68924898D1 (en) 1996-01-04
DE68924898T2 (en) 1996-08-01
FI894524A (en) 1990-03-27
FI894524A0 (en) 1989-09-25
FI98564B (en) 1997-03-27
EP0362036A3 (en) 1991-09-11
KR900005170A (en) 1990-04-13
JP2730989B2 (en) 1998-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI98564C (en) A method for detecting properties of a sheet material moving in the transverse direction
US4947684A (en) System and process for detecting properties of travelling sheets in the machine direction
US5400258A (en) Automatic cross-directional control zone alignment for sheetmaking systems
KR101912647B1 (en) Method for thickness measurement on measurement objects and device for applying the method
US8117891B2 (en) Method for calibration of measuring equipment and measuring equipment
US5960374A (en) System for time synchronous monitoring of product quality variable
FI100831B (en) Determination of response signal and response area for control cell in track chair machines
EP2837484B1 (en) Apparatus for automatically analyzing extruded films
JPH02500971A (en) Adjustment control system for webs with variable repeat length sections
US5298122A (en) Measuring device and method for measuring the crosswise profile of a paper web
US5773714A (en) Scanner beam dynamic deflection measurement system and method
US4939929A (en) Measurement of the properties of a web in paper production
CA2081581A1 (en) Apparatus and method for the on-line control of the filler content of a paper product
EP1058815A1 (en) Method and apparatus for measuring caliper of paper
FI114570B (en) Method and apparatus for analyzing a paper web
CA2300115C (en) Method for operating a traversing sensor apparatus
WO2017017399A1 (en) Flute inspection apparatus, corrugator and method of fault detection in a corrugator
JPH0438418A (en) Apparatus for measuring height
CN100482366C (en) Method for measuring and regulating roller surface unevenness defect during rolling process
JP2925735B2 (en) Fiber orientation sensor
JPH0682046B2 (en) Automatic plate thickness measuring device
ITMI20002451A1 (en) METHOD FOR MEASURING THE THICKNESS PROFILE OF A FLAT TUBULAR FILM
JPH04155208A (en) Discrimination on acceptability of platelike work
FI94779C (en) Method and apparatus for controlling the variation of the transverse stress of a web
JPH01155204A (en) Method for calibrating thickness measuring device

Legal Events

Date Code Title Description
BB Publication of examined application
FG Patent granted

Owner name: MEASUREX CORPORATION