FI86120C - A/d- eller d/a-omvandlare, a/d- eller d/a-omvandlarsystem samt kalibreringsfoerfarande foer dessa. - Google Patents

Description

1 86120 A/D- tai D/A-muunnin, A/D- ja D/A-muunninjär j es telinä sekä niiden kai ibroint imene telinä

Esillä oleva keksintö liittyy A/D- ja D/A-muunti-5 miin ja -muunninjärjestelmiin sekä niiden kalibrointi-menetelmiin.

Digitaali-analogia (D/A) -muuntimia ja analogia-digitaali (A/D) -muuntimia käytetään yleisesti elektroniikassa, etenkin tietokoneliitännöissä, muuntamaan analo-10 giasignaali digitaaliseen numeromuotoon ja päinvastoin. Nopeissa ja tarkoissa muuntimissa käytetään yleensä binääristä punnusjärjestelmää, jossa kantalukuna on 2: (1) U = (C + B12*1 + B22'2 + ... + Bn2_n)E, 15 missä U on analogiasignaalin arvo, E on muuntimessa käytettävä referenssijännite ja Bx ... Bn ovat binääriarvoja (0,1), C on vakio ja n on muuntimen bittien/punnuksien lukumäärä.

20 Muuntimien binääripunnukset 2~k toteutetaan yleensä punnus- eli referenssielementeillä, jotka muodostavat ns. punnitusverkon. Käytännössä punnitusverkko ja punnusele-mentit toteutetaan useimmiten vastuksilla, kondensaattoreilla ja transistoreilla. Tällöin muuntimen tarkkuus 25 riippuu siitä, miten tarkasti punnuselementtien arvot ovat toisiinsa nähden oikeassa suhteessa. Tämä asettaa hyvin korkeat vaatimukset muuntimien valmistustekniikalle, ja usein tarvitaankin muuntimien jälkikäteen tapahtuvaa virittämistä. Lisäksi punnuselementtien arvojen muuttuminen 30 ajan mukana (ryömintä) asettaa yleensä muuntimien tark-kuusrajaksi noin 12 bittiä. Sitä tarkemmat muuntimet täy-. . tyy ajoittain virittää tai kalibroida uudelleen käytön aikana.

Muuntimien kalibrointi joudutaan yleensä suoritta-35 maan säätämällä punnuselementtien arvoja sekä referenssi- 2 86120 jännitteitä.

Lisäksi pyrittäessä suureen nopeuteen ja tarkkuuteen tulee ongelmaksi myös muuntimen vaatima asettumisaika vaadittuun tarkkuuteen. Täten tarkimmat tavanomaiset muun-5 timet ovat yleensä myös hitaita.

Esillä olevan keksinnön päämääränä on aikaansaada uudentyyppinen A/D- tai D/A-muunnin, joka on aikaisempaa tarkempi, helpommin kalibroitava ja joka asettaa alhaisemmat vaatimukset valmistusteknologialle.

10 Tämä saavutetaan A/D- tai D/A-muuntimellä, jolle on keksinnön mukaisesti tunnusomaista, että muuntimessa käytetyn lukujärjestelmän kantaluku on pienempi kuin 2.

Keksintö perustuu hakijan havaintoon, että käyttämällä muuntimessa binäärijärjestelmän sijasta lukujärjes-15 telmää, jonka kantaluku on pienempi kuin 2, saadaan muunnin, jossa on lukualueita, joissa sama luku syntyy erilaisilla bittikombinaatioilla. Tämän ansiosta voidaan punnuksille sallia hajontaa ilman että muuntimen lukualueeseen jää aukkoja. Punnuksen todellinen tarkka arvo voidaan mää-20 rittää laskennallisesti tai ohjelmallisesti tietyllä it-sekalibrointiproseduurilla ja korjata jokainen muunnostu-los näiden todellisten punnusten mukaan. Esimerkiksi punnitsevan A/D-muuntimen komparaattoreiden offset ja kohina eivät synnytä virhettä muunnokseen, koska komparaattorien 25 kynnysarvokohdissa sama jännitearvo voidaan esittää kahdella erilaisella bittisarjalla keksinnön mukaisessa luku-järjestelmässä. Normaalissa binäärijärjestelmässä punnuksen epätarkkuus aiheuttaa muuntimen lukualueeseen aukon, jonka aiheuttamaa virhettä on mahdoton korjata.

']1. 30 Keksinnön ansiosta muuntimen punnuksille ja muille parametreille, kuten vastusten ja kondensaattorien arvot, • : vahvistimen offset, vahvistus, nousuaika, ym. sallia melko I./ suuri hajonta tietyissä rajoissa. Muuntimen rakenteessa päästään yksinkertaisiin ratkaisuihin, joissa valmistus-35 teknologialta ei vaadita suurta tarkkuutta, mikä puoles- • # * 1 · * · • · Λ • » • 1 1 3 86120 taan johtaa pienempiin kustannuksiin.

A/D-muunnin saadaan nopeudeltaan suuremmaksi kuin aikaisemmin, koska näytteenottotaajuuden ollessa vakio ei vahvistimen tarvitse ehtiä asettua lopputilaan ennen muun-5 nosta, sillä nämä asettumisaikavirheet korjautuvat kalibroinnissa.

Muuntimien kalibrointi (punnusarvojen mittaus) voidaan hoitaa ohjelmallisesti halutuilla hetkillä. Tämän jälkeen muunnoksissa esiintyvät virheet ovat pelkästään 10 kohinan ja häiriöiden aiheuttamia. Muuntimen bittimäärä voidaan kasvattaa aina kohinarajalle asti. Kalibroinnissa voidaan tietyillä menetelmillä päästä kohinarajan alapuolelle.

Keksinnön kohteena on lisäksi patenttivaatimuksen 9 15 mukainen menetelmä keksinnön mukaisen A/D-muuntimen kalib-roimiseksi.

Keksinnön kohteena on myös patenttivaatimuksen 12 mukainen A/D- ja D/A-järjestelmä, joka käsittää keksinnön mukaisen A/D-muuntimen ja D/A-muuntimen.

20 Keksinnön kohteena on edelleen myös menetelmä pa tenttivaatimuksen 12 mukaisen muunninjärjestelmän kali-broimiseksi.

Keksintöä selitetään nyt yksityiskohtaisemmin viitaten oheisiin kuvioon, joka esittää erään keksinnön mu-25 kaisesta A/D- ja D/A-muunninjärjestelmän lohkokaavion.

\· Keksinnön mukaisissa muuntimissa A/D-muuntimen si- : sääntulojännite U tai D/A-muuntimen ulostulojännite nou- dattaa seuraavaa kaavaa: 30 (2) U - (Bj*! + B2x2 + ... + Bnxn + C) E, . . missä Xj ... xn ovat muuntimen punnusarvoja, Bj ... Bn ovat "·// bittejä, joiden arvo on 0 tai 1, ja C on vakio, joka si- ’·' sältää muuntimen offset-arvot.

·:·*: 35 Jotta muuntimen lukualue olisi kauttaaltaan jatku- • · * · * * 86120 va, on muuntimen punnuksille xk asetettava seuraava ehto: n (3) Σ Xp ;> Xk - Xn, k = 0,----n-1 5 p=k+l

Yhtälö (4) asettaa ehdon, että kutakin punnusta edeltävien punnusten arvojen summan on oltava suurempi kuin kyseisen punnuksen arvo.

10 1 (4) Xp ------- Xp.!? Δρ > 0 2-Δρ Tämä ehto täytetään keksinnön mukaisesti käyttämäl-15 lä binäärisen lukujärjestelmän sijasta, jossa kantaluku on 2, toista lukujärjestelmää, jossa kantaluku on pienempi kuin 2, jolloin yhtälö (2) saa seuraavan muodon: (5) U = [C + Βι(2-Δ)'1 + Β2(2-Δ)'2+. . .+Bn( 2-Δ )n] E, 20 missä (2-Δ) on lukujärjestelmän kantaluku, jossa Δ on edullisesti alueella 0,01-0,1. Tällöin lukujärjestelmän kantaluku on vastaavasti alueella 1,90-1,99. Keksinnön mukaista lukujärjestelmää tullaan tämän jälkeen nimittä-25 mään (2-A)-jätjestelmäksi. Luku Δ voi myös hieman vaihdella samassa muuntimessa punnuksesta toiseen.

Kuviossa on esitetty erään keksinnön mukaisen muun-ninjärjestelmän lohkokaavio. Järjestelmä käsittää analo-gia-digitaalimuuntimen 1 (ADC), jossa käytetään lukujär-30 jestelmää (2-Δ1). Järjestelmä sisältää lisäksi D/A-muunti-*.! men 2 (DAC), joka käyttää lukujärjestelmää (2-Δ2). Luvut Δχ ja Δ2 ovat erilaiset, minkä seurauksena muuntimien 1 ja 2 lukujärjestelmien kantaluvut ovat erilaiset, koska kalib-*.**: rointi myöhemmin selostettavalla menetelmällä 3 ei onnis- V : 35 tuisi, jos kantaluvut olisivat yhtäsuuret. Muuntimen 1 ....: kantaluku (2-Δ!) ja muuntimen 2 kantaluku (2-Δζ) voi vaih- • · tl · - · 5 86120 della muuntimen sisällä punnuksesta toiseen tietyllä tole-ranssialueella, mutta eri muuntimien kantalukujen keskiarvojen tulee erota toisistaan.

Muuntimet 1 ja 2 on liitetty niitä ohjaavaan oh-5 jausyksikköön 3, joka on edullisesti tietokone, dataväy-lien 5 ja 6 sekä yhteisen ohjausväylän 7 kautta. Keksinnön ensisijaisessa suoritusmuodossa dataväylällä 5 siirrettävä data on lukujärjestelmässä (2-Δ!) ja dataväylällä 6 siirrettävä data on lukujärjestelmässä (2-Δ2). Ohjausyksikkö 3 10 on edelleen yhteydessä ulkopuolisiin järjestelmiin ohjaus-väylän 9 ja binäärisen dataväylän 8 kautta.

A/D-muuntimen 1 analogiasisääntulo 12 on kytkettävissä vaihtokytkimellä SI analogiseen sisääntulojännitteeseen UIN, muuntimen lukualueen suurinta arvoa vastaavaan 15 referenssijännitteeseen E, muuntimen lukualueen nolla-arvoa vastaavaan toiseen referenssijännitteeseen (esim. 0 V), jännitegeneraattorin 4 ulostuloon tai D/A-muuntimen 2 analogiaulostuloon 13. D/A-muuntimen 2 analogiaulostulo 13 on vaihtokytkimellä S2 kytkettävissä muunninjärjestelmän 20 analogiaulostuloon UOUT tai A/D-muuntimen 1 analogiasisään-tuloon 12. Ohjausyksikkö 3 ohjaa kytkimien SI ja S2 sekä jännitegeneraattorin 4 toimintaa, kuten on havainnollistettu katkoviivoilla 10 ja 11.

Keksinnön mukainen muunninj ärj estelmä itsensä auto-25 maattisesti ohjelmallisesti itsekalibroiva. Normaalissa käytössä A/D-muuntimen 1 analogiasisääntulo on kytketty järjestelmän analogiasisääntuloon U1N ja vastaavasti D/A-muuntimen 2 analogiaulostulo 13 on kytketty järjestelmän analogiaulostuloon UOTT. A/D-muunnin 1 suorittaa analogia-30 digitaalimuunnoksen ja syöttää (2-Δ,) -lukujärjestelmässä olevat digitaaliluvut dataväylän 5 kautta ohjausyksikölle 3, joka korjaa muunnostulokset ennalta määrätyn kalibroin-, tiproseduurin mukaisesti lasketuilla kalibrointiparamet- reilla ja muuntaa korjatut tulokset binäärijärjestelmään.

* - 35 Vastaavasti ohjausyksikkö 3 korjaa D/A-muuntimelle 2 mene- 6 86120 vät ohjaussanat tälle muuntimelle lasketuilla kalibroin-tiparametreilla ja syöttää ohjaussanat dataväylän 6 kautta muuntimelle 2. Toisin sanoen esillä olevassa keksinnössä tunnetaan tarkasti muuntimien 1 ja 2 punnuksien epätarkat 5 arvot ja korjataan jokainen A/D-muuntimelta 1 tuleva muun-nostulos automaattisesti oikeaksi ja vastaavasti jokainen D/A-muuntimelle 2 menevä ohjaussana sellaiseksi, että muunnoksen tuloksena saatava analogiajännite on tarkasti oikea.

10 Ohjausyksikkö 3 voi vaihtoehtoisesti sisältää haku- taulukkotyyppi sen muistin, johon on kalibrointivaiheessa tallennettu A/D-muuntimen 1 syöttämää bittikuviota vastaava korjattu arvo. Vastaavasti ohjausyksikössä 3 voi olla toinen hakutaulukko, jossa on jokaista D/A-muuntimelle 2 15 tarkoitettua ohjaussanaa kohti tallennettuna korjattu ohjaussana, joka syötetään muuntimelle 2. Nämä hakutaulukot voivat suorittaa myös muunnokset binäärijärjestelmään ja siitä pois. Ohjausyksikön 3 toiminnot voivat myös olla osittain tai kokonaan integroituna muuntimiin 1 ja 2.

20 Seuraavassa selostetaan A/D-muuntimen 1 kalibroin tia. Muuntimen 1 sisääntulojännite U1N saadaan seuraavasta yhtälöstä: nl 25 (6) Uin/E = Cx + E BkXk k-1

Cx on vakio, joka sisältää muuntimen 1 offset-jännitteet. A/D-muunnin 1 voidaan kalibroida useilla tavoilla ' 30 referenssijännitteiden E ja 0 V sekä jännitegeneraattorin 4 ja D/A-muuntimen 2 avulla.

1, Kalibrointi referenssijännitteillä 0 V ja E

Kun A/D-muunnin 1 on syklinen 1-bittinen muunnin, se voidaan kalibroida kytkemällä sisääntulo 13 vuoronpe-: : : 35 rään referenssi jännitteisiin 0 V ja E, jolloin yhtälön (6) avulla saadaan yhtälöryhmä 7 86120 nl (7) 1 = Cl + Σ BlkXk k=l 5 nl (8) 0 * Cl + Σ B0kXk k=l 10 missä Xk=Xk. Yhtälöistä (7) ja (8) ratkaistaan Cl ja xk, joita käytetään kalibrointiparametreina. Kun muuntimen 1 punnukset xk tunnetaan tarkasti, voidaan muuntimen 1 antamista biteistä laskea sisääntulo jännite UIIf yhtälön (6) avulla.

15 2. Kalibrointi länniteoeneraattorilla 4 Tämän kalibrointimenetelmän perusajatuksena on, että A/D-muuntimen 1 punnukset Xk voidaan mitata käyttämällä kalibrointigeneraattoria 4, jonka ulostulojännite Uf muuttuu ajan mukana tunnetun funktion mukaan, joka myös 20 voidaan mitata. Yleisesti funktio Uf on (9) Uf = Ef(n,a), missä n=0,1,2, ...,max; a=parametrivektori = ( alr a2, . . ., ap). 25 Käytännössä funktio Uf voi olla esimerkiksi (10) Uf * E (1-αχη + α2η2+α3η3).

Kytkemällä muuntimen 1 sisääntulo vuoron perään - 30 sekä referenssiJännitteeseen 0 V että kalibrointigeneraat- torille 4 ja tallentamalla mittaustulokset saadaan yhtälöryhmä , . nl

35 (11) f (n, α) = Σ BnkXk+C

k=l • ♦ « * » • · · 8 86120 nl (12) O = Σ DkXk k=l 5 missä n = 0, 1,..., max;Dk={0, l};Bk={0,1}.

Tästä yhtälöryhmästä voidaan ratkaista C, X ja a. Sisääntulojännitteiden lukumäärän (max) on oltava suurempi kuin punnusten xk lukumäärä nx. Mikään muuntimen 1 ulostulon bitti ei saa pysyä muuttumattomana kalibroinnin aika-10 na, mikä varmistetaan suurella sisääntulojännitteiden määrällä. Lisäksi kohina saadaan osittain kompensoitua suurella yhtälömäärällä.

3. Kalibrointi D/A-muuntimen 2 avulla Tässä menetelmässä käytetään kalibrointigeneraatto-15 rin 4 sijasta D/A-muunninta 2. D/A-muuntimen 2 ulostulo-jännite UOUT saadaan seuraavasti: n2 (13) U00T/E - Σ + C2 20 k=l missä Dk = muuntimen 2 ohjausbitti = 1 tai 0; Yk = muunti- men 2 punnus = - Yk C2 = vakio.

25 2-Ak A/D-muuntimen 1 sisääntulo kytketään ensin refe-. renssijännitteisiin E ja 0 V ja tämän jälkeen D/A-muunti- men 2 ulostuloon 13. Ohjausyksikkö 3 syöttää muuntimelle 2 joukon lukuja, joille suoritetaan D/A-muunnos muuntimella -30 2 ja tämän jälkeen A/D-muunnos muuntimella 1. Saadut mit taustulokset tallennetaan. Muuntimelle 2 syötettävät luvut voivat olla ennalta määrättyjä tai vaihtoehtoisesti satunnaisesti generoituja. Mittauksella saadaan yhtälöryhmä : 35 nl (14) 1 = Cl + Σ BlkXk :T: k=l «. · • « « * · 9 86120 nl (15) O = Cl + Σ BokXk k=l 5 nl (16) C2 = Cl + Σ B2kXk k=l 10 n2 nl (17) C2 + Σ DjkYk = Cl + Σ BjkXk k=l k=l 15 missä j=3,4,5,.., max. Yhtälöryhmästä ratkaistaan mittaustulosten avulla Cl, C2, Yk ja xk. D/A-muunnin 2 voidaan kalibroida myös erikseen A/D-muuntimen 1 kautta, kun muunnin 1 on ensin kalibroitu menetelmän 1 tai 2 avulla. Kun D/A-muuntimen 2 punnukset yk tunnetaan tarkasti, voi-20 daan tiettyä ulostulo jännitettä UOOT vastaavat muuntimen 2 ohjausbitit Dk laskea yhtälöstä (13) ohjausyksikössä 3.

Jokainen muuntimilla 1 ja 2 suoritettava muunnos vaatii siten ohjausyksiköltä 3 yhtälön (6) tai (13) mukaisen laskennan. Ohjausyksikölle 3 (esim. tietokone) aiheu-25 tuvaa kuormitusta voidaan vähentää sijoittamalla muunti-miin 1 ja 2 korjausmuisti ja kyseiset yhtälöt toteuttava . laskentapiiri. Ohjausyksikkö 3 suorittaa tällöin edelleen kalibroinnin, mutta tallentaa lasketut kalibrointiparamet-; rit muuntimien korjausmuisteihin.

30 Vaihtoehtoisesti voidaan kalibroinnin avulla mää rittää muuntimen punnusten oletettujen arvojen ja todel-listen arvojen väliset erotukset, joita käytetään kalib-rointiparametereina muunnostuloksia korjattaessa.

Koska kalibrointimenetelmät 2 ja 3 ovat laskennal-:'· | 35 lisesti hyvin raskaita menetelmiä, ne ovat suhteellisen harvoin suoritettavia peruskalibrointeja. Koska muuntimen komponenttiarvojen suhteet muuttuvat ajan mukana suhteel- 10 861 20 lisen hitaasti, voidaan nopeammat, esim. ryöminnästä tai lämpötilan muutoksista johtuvat muuntimen kaikkiin punnuksiin samalla tavoin vaikuttavat offsetit kalibroida useammin nopeilla (noin 1000 kertaa nopeampia) ja laskennalli-5 sesti kevyillä välikalibrointimenetelmillä.

Eräässä välikalibrointimenetelmässä A/D-muuntimen 1 analogiasisääntulo 12 kytketään peräkkäin edellä mainittuihin referenssijännitteisiin E ja 0V. Kun punnuksiin tarvittavaa offset-korjausta merkitään kalibrointiparamet- 10 rilla Z, saadaan mittausten perusteella yhtälöryhmä nl

(18) 1 = Cl = + Z Σ BlkXk; U1H - E

k=l 15 nl (19) 0 = Cl = + Z Σ BokXk; UIN = 0 k=l 20 Tässä Xk ovat samat kuin aikaisemmin kalibroidut arvot. Yhtälöistä ratkaistaan Cl ja Z. Tämän jälkeen arvoja Xk korjataan nyt lasketulla lisäparametrillä Z seuraavasti: Xk=ZXk.

Tämän jälkeen voidaan D/A-muuntimelle 2 tehdä vas- 25 taava nopea kalibrointi ohjaamalla se muodostamaan ulostuloonsa 13 vuorotellen pieni (Dk=0) ja suuri jännite ja mittaamalla ne A/D-muuntimella 1.

Edellä esitetyt yhtälöt pätevät tapauksissa, jossa piirien epälineaarisuudet voidaan jättää huomioimatta.

30 Epälineaarisuudet huomioitaessa yhtiöt ja laskenta hieman monimutkaistuvat ilman että kuitenkaan poiketaan keksinnön perusajatuksesta.

Oheinen kuvio ja siihen liittyvä selitys on tarkoi-' tettu ainoastaan havainnollistamaan esillä olevaa keksin- V : 35 töä. Yksityiskohdiltaan keksinnön mukainen muunnin, muun- ninjärjestelmä ja kalibrointimenetelmät voivat vaihdella oheisten patenttivaatimusten mukaisesti.

Claims (15)

11 80120

1. Analogia-digitaali- tai digitaali-analogiamuun-nin (1,2), tunnettu siitä, että muuntimessa (1,2) 5 käytetyn lukujärjestelmän kantaluku on pienempi kuin 2.

2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen muunnin, tunnettu siitä, että mainittu kantaluku on 2-Δ, missä Δ on edullisesti alueella 0,01-0,1.

3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen muunnin, 10 tunnettu siitä, että muuntimen (1,2) eri pun- nuselementtien kantaluvuilla 2-δ on toisistaan poikkeavia arvoja.

4. Patenttivaatimuksen 2 tai 3 mukainen analogia-digitaalimuunnin (1), tunnettu siitä, että muun- 15 timeen liittyy korjainvälineet (3) muuntimen 2-Δ lukujärjestelmässä olevien muunnostulosten korjaamiseksi tai korvaamiseksi kalibrointiparametreillä, jotka on laskettu ennalta määrätyn kalibrointiproseduurin avulla.

5. Patenttivaatimuksen 2, 3 tai 4 mukainen ana-20 logia-digitaalimuunnin, tunnettu siitä, että muun- timeen (1) liittyy välineet (3) muunnostulosten, jotka ovat 2-Δ lukujärjestelmässä, muuttamiseksi binäärijärjestelmään .

6. Patenttivaatimuksen 2 tai 3 mukainen digitaali- : 25 analogiamuunnin (2), tunnettu siitä, että muunti- meen liittyy korjainvälineet muunnettavien digitaaliluku-jen, jotka ovat 2-Δ tai binäärijärjestelmän lukuja, korjaamiseksi tai korvaamiseksi ennen muunnosta kalibrointiparametreillä, jotka on laskettu ennalta määrätyn kalib-30 rointiproseduurin avulla.

7. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen muunnin, tunnettu siitä, että korjainvälineet sisältyvät muuntimen digitaalipuolelle kytkettyyn tietoko- V neeseen (3). ____; 35 8. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen i2 86120 muunnin, tunnettu siitä, että muunnin on pipeline- tyyppinen muunnin.

9. Menetelmä patenttivaatimuksien 1-4 mukaisen ana-logia-digitaalimuuntimen kalibroimiseksi, tunnettu 5 siitä, että menetelmä käsittää muuntimen (1) analogiasisääntulon (12) kytkemisen vuoroperään muuntimen lukualueen nolla-arvoa vastaavaan referenssijännitteeseen (OV) ja lukualueen suurinta arvoa vastaavaan referenssijännitteeseen (E), 10 saatujen muunnostulosten tallentamisen, ja muuntimen punnusten todellisten arvojen tai kalib-rointiarvojen laskemisen tunnettujen referenssijännitear-vojen ja niitä vastaavien tallennettujen muunnostulosten avulla.

10. Menetelmä patenttivaatimuksien 1-4 mukaisen analogia-digitaalimuuntimen kalibroimiseksi, tunnet-t u siitä, että menetelmä käsittää muuntimen (1) analogiasisääntulon kytkemisen tunnetun funktion mukaisesti ajan mukana muuttuvan, muuntimen 20 lukualueen kattavan jännitteen syöttävään jännitelähteeseen (4) sekä muuntimen (1) lukualueen nolla-arvoa vastaavaan referenssijännitteeseen (OV), saatujen muunnostulosten tallentamisen, ja muuntimen punnusten todellisten arvojen tai kalib-25 rointiarvojen laskemisen mainitun tunnetun jännitefunk- tion, referenssijännitteen ja niitä vastaavien tallennettujen muunnostulosten avulla.

11. Patenttivaatimuksen 9 tai 10 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että menetelmä laskee muunti- 30 men punnusten oletettujen arvojen ja todellisten arvojen väliset erotukset, joita käytetään kalibrointiparametreinä ; muunnostuloksia korjattaessa.

12. A/D- ja D/A-muunninjärjestelmä, joka käsittää A/D-muuntimen (1) ja D/A-muuntimen (2), joiden analogia- *". 35 puolet (12,13) on kytkettävissä toisiinsa ainakin D/A- i3 861 20 muuntimen kalibrointia varten, tunnettu siitä, että muuntimissa (1,2) käytettyjen lukujärjestelmien kanta-luvut ovat keskenään erilaiset ja pienempiä kuin 2.

13. Patenttivaatimuksen 12 mukainen muunninjärjes-5 telmä, tunnettu siitä, että A/D-muuntimen (1) lukujärjestelmän kantaluku voi vaihdella ensimmäisellä tole-ranssialueella ja D/A-muuntimen (2) lukujärjestelmän kantaluku voi vaihdella toisella toleranssialueella siten, että muuntimien kantalukujen keskiarvot ovat erilaiset.

14. Menetelmä patenttivaatimuksen 12 mukaisen muun nin järjestelmän kalibroimiseksi, tunnettu siitä, että menetelmä käsittää A/D-muuntimen (1) analogiasisääntulon (12) kytkemisen vuoronperään muuntimen lukualueen nolla-arvoa vas-15 taavaan referenssijännitteeseen (0V), lukualueen suurinta arvoa vastaavaan referenssijännitteeseen (E) sekä D/A-muuntimen (2) analogiaulostuloon (13 ), digitaalisten ohjausarvojen syöttämisen D/A-muun-timelle sen ollessa kytkettynä A/D-muuntimeen, 20 saatujen muunnostulosten tallentamisen, ja A/D- ja D/A-muuntimien punnuksien todellisten arvojen tai kalibrointiarvojen laskemisen, kun molemmat muuntimet ovat kalibroimattomia, tai vain D/A-muuntimen punnuksien todellisten arvojen tai kalibrointiarvojen las-25 kemisen, kun A/D-muunnin on ennalta kalibroitu, tunnettu- " ' jen referenssijännitearvojen, tallennettujen muunnostulos ten ja D/A-muuntimen ohjausarvojen perusteella.

15. Patenttivaatimuksen 14 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että D/A-muuntimen (2) ohjausarvot 30 ovat ennalta määrättyjä ohjausarvoja tai generoidaan sa- : tunnaisesti. 14 861 20