FI72608C - Foerfarande och anordning foer instaellning av droppformningspunkten i sprutvaetskan hos en elektrostatisk sorteringsanordning. - Google Patents
Foerfarande och anordning foer instaellning av droppformningspunkten i sprutvaetskan hos en elektrostatisk sorteringsanordning. Download PDFInfo
- Publication number
- FI72608C FI72608C FI802617A FI802617A FI72608C FI 72608 C FI72608 C FI 72608C FI 802617 A FI802617 A FI 802617A FI 802617 A FI802617 A FI 802617A FI 72608 C FI72608 C FI 72608C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- flow
- point
- sensing
- radiant energy
- output signal
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 32
- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims description 13
- 239000007921 spray Substances 0.000 title claims description 7
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 58
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 26
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 24
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 description 24
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 206010011878 Deafness Diseases 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N helium neon Chemical compound [He].[Ne] CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- 241001635598 Enicostema Species 0.000 description 1
- 206010027626 Milia Diseases 0.000 description 1
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 1
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 210000003850 cellular structure Anatomy 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 230000001143 conditioned effect Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 210000003041 ligament Anatomy 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 210000004962 mammalian cell Anatomy 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1404—Handling flow, e.g. hydrodynamic focusing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/149—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry specially adapted for sorting particles, e.g. by their size or optical properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1404—Handling flow, e.g. hydrodynamic focusing
- G01N2015/1406—Control of droplet point
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S209/00—Classifying, separating, and assorting solids
- Y10S209/906—Pneumatic or liquid stream feeding item
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
- Electrostatic Separation (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Liquid Developers In Electrophotography (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
ΓΒ1 KUULUTUSJULKAISU β Β UTLÄGG N I N G SSKRI FT / O U O
2¾¾ c Line tty ®Π ^ t r ' t r · ,-i 1 , ' Λ 1 -, *- ^ - j 1 O,° 7 (51) Kv.lk,4/lnt,CI.4 G 01 N 1 5/14 SUOMI —FINLAND (21) Patenttihakemus — Patentansöknlng 80261 7 (22) Hakemispäivä — Ansökningsdag 19.08.80 (23) Alkupäivä — Glltighetsdag 19.08.80 (41) Tullut julkiseksi — Blivit offentlig 21 02 8 1
Patentti- ja rekisterihallitus Nähtäväkslpanon ja kuul.julkaisun pvm. - 77 n7 o7
Patent- och registerstyrelsen V ' Ansökan utlagd ooh utl.skriften publicerad ·υζ·°/ (86) Kv. hakemus — Int. ansökan (32)(33)(31) Pyydetty etuoikeus — Begärd prioritet 20.08.79 USA(US) 068113 Toteennäytetty-Styrkt (71) Ortho Diagnostics, Inc., US Route 202, Raritan, New Jersey, USA(US) (72) Igino Lombardo, Sharon, Massachusetts, W. Feter Hansen, Middleboro, Massachusetts, USA(US) (7^) Oy Koister Ab (5^) Menetelmä ja laite pisaranmuodostuskohdan säätämiseksi elektrostaatti-sen 1 ajittelu1 aitteen suihkunesteessä - Förfarande och anordning för installning av droppformningspunkten i sprutvätskan hos en elektrosta-tisk sorteringsanordning
Esillä oleva keksintö liittyy laitteeseen pisaranmuodostus-kohdan säätämiseksi elektrostaattisen lajittelulaitteen suihkunes-teessä, lajittelulaitteen käsittäessä: a) virtauslaitteen jatkuvan hiukkasia sisältävän virtauksen synnyttämiseksi virtauksen käsittäessä ainakin hiukkasia sisältävän sydänvirtaosan ja ympäröivän vaippavirtaosan, hiukkasten tunnustelupisteen ollessa määritelty virtauksen varrella; b) hiukkasten tunnustelulaitteen hiukkasten ilmaisemiseksi optisesti ainakin hiukkasten tunnustelupisteessä; c) häiriölaitteen virtauksen häiritsemiseksi ainakin yhdellä ennalta valitulla taajuudella ja amplitudilla virtauksen saamiseksi muodostamaan katkeamispiste, jossa virtaus muuttuu erillisten pisaroiden sarjaksi; d) pisaranvarauslaitteen valikoitujen pisaroiden varaamiseksi suhteellisesti, kun ne muodostuvat katkeamispisteessä; ja e) tahdistuslaitteen suhteellisen varauksen ajoittamiseksi siten, että valikoidut pisarat sisältävät ainakin valikoituja hiukkasia, jotka optinen ilmaisulaite on ilmaissut. Esillä oleva keksintö liittyy edelleen menetelmään pisaranmuodostuskohdan säätämiseksi elektrostaattisen lajittelulaitteen suihkunesteessä, menetelmän käsittäessä seuraavat vaiheet: a) jatkuvan hiukkasia sisältävän virtauksen muo- 2 72608 dostamisen käsittäen ainakin hiukkasia sisältävän sydänvirtaosan ja ympäröivän vaippavirtaosan hiukkasten tunnustelupisteen ollessa määritelty virtauksen varrelle; b) hiukkasten ilmaisemisen optisesti ainakin hiukkasten tunnustelupisteessä; c) virtauksen häiritsemisen aikana yhdellä ennalta valitulla taajuudella ja amplitudilla saaden virtauksen muodostamaan katkeamispisteen, jossa virtaus muuttuu erillisten pisaroiden sarjaksi; d) valikoitujen pisaroiden varaamisen suhteellisesti, kun ne ovat muodostuneet katkeamispisteessä; ja e) suhteellisen varaamisen tahdistamisen siten, että valikoidut pisarat sisältävät ainakin valikoituja hiukkasia, jotka on ilmaistu optisessa ilmaisuvaiheessa.
Esillä oleva keksintö kuuluu yleisesti sähköstaattisten vir-tauslajittelijoiden piiriin ja yksityiskohtaisemmin niiden lajittelijoiden, joita sovelletaan tunnistamaan hiukkasten olemassaolo ja/ tai ominaisuus laminaarisessa virtauksessa ja valikoivasti lajittelemaan näitä hiukkasia katkaisemalla virtaus lukuisiksi erillisiksi pisaroiksi ja lajittelemalla nuo pisarat, jotka sisältävät tällaisia ennalta valittuja hiukkasia. Tällaisia lajittelijoita käytetään tunnetusti tiettyjen biologisten näytteiden solurakenteiden lajittelussa ja analysoinnissa, kuten esimerkiksi tietyn verinäytteen solutyyppien laskennassa/analyysissä.
Tällaisessa yleistyyppisessä laitteessa laminaarinen virtaus synnytetään alueella, jolta valonsironta-, fluoresenssi- tai tila-vuusmittaus suoritetaan. Kun mielenkiinnon kohteena oleva solu on tunnistettu, aktivoidaan tavallisesti elektroninen aikaviive sen pituiseksi ajaksi, jonka solu tarvitsee kulkeakseen matkan solunil-maisupisteestä pisaranmuodostuspisteeseen. Pisaranmuodostus voidaan suorittaa täristämällä virtauskammiota tai -suutinta, jonka kautta virtaus kulkee pisaranmuodostukseen riittävällä, tavallisesti noin 40 000 Hz luokkaa olevalla taajuudella. Kun mielenkiinnon kohteena oleva solu saapuu pisaranmuodostuspisteeseen, voidaan siihen syöttää varauspulssi pisaran varaamiseksi (plus, miinus tai neutraali) siten, että tarkasteltavan pisaran saapuessa seuraavaksi tasavirta-kenttään, se voidaan poikkeuttaa keräilyä varten halutulla tavalla. Tämä tekniikan yleiskatsaus on esitetty artikkelissa "Laservirtaus-mikrofotometria nisäkkäiden solujen nopeaa analyysiä ja lajittelua varten", Mullaney ym., Annals New York Academy of Sciences, Voi.
197, sivut 176-190 (ks. erityisesti sivu 180 ja kuviot 3 ja 4).
3 72608 Tällaisia hiukkaslajittelijoita on myös esitetty US-patenteis-sa nro 3 710 933 (Fulwyler, ym.) ja 3 380 584 (Fulwyler) ja 4 148 718 (Fulwyler). Näissä patenteissa lajittelu suoritetaan valittujen parametrien mukaan, joita voivat olla koko, tilavuus, radioaktiivisuus, väri, fluoresenssi, valon absorptio tai mikä tahansa ominaisuus, joka voidaan muuttaa sähköiseksi suureeksi. Nämä patentit esittävät lisäksi yksi- tai moniparametrimittaukset tällaisen lajittelun suorittamiseksi .
Lajitellakseen valikoivasti tuollaiset erityisen mielenkiinnon kohteeksi määrättyjä soluja sisältävät pisarat, tämä yleistyvppinen laite yleensä riippuu erityisiä soluja sisältävän nesteen virtausnopeuden arviosta. Tätä virtausnopeusarviota käytetään arvioitaessa aikaa solun havaitsemisesta pisarankatkeamispisteeseen, jossa lajiteltavan pisaran valikoiva varaaminen tapahtuu. Kuten US-patentissa nro 3 710 933 on esitetty, tällaiset järjestelmät tavallisesti keskitetään ja säädetään ennen solumittausten suorittamista. Erityisesti pisaranmuodostus tarkistetaan tavallisesti valaisemalla esiin syöksyvä nestesuihku lähellä virtauskammiota stroboskooppivalolla tai vastaavalla valon lähteellä. Stroboskooppivalo tahdistetaan os-killaattoritaajuuden suhteen. Pisaranmuodostusta voidaan sitten tarkastella käyttäen mikroskooppia ja virtausta säätelevään muuttimeen syötettävää jännitettä ja taajuutta vaihtelemalla pisaranmuodostus voidaan säätää tietylle suuttimen halkaisijalle ja virtausnopeudelle. Ks. US-patenttia nro 3 710 933, sarake 11, rivit 14-49.
Kuten US-patentissa nro 3 710 933 (Fulwyler ym.) on kuvailtu, paineistamalla eri säiliöitä tietyillä paineilla, voidaan virtausnopeudet arvioida ja solujen virtausnopeus säätää muuttamalla suhteellisia paineita virtaukseen syöttävien eri säiliöiden kesken. Likimääräinen aikaviive solun tunnistuksen ja pisaranmuodostuksen välillä (jonka on Fulwyler ym:n julkaisussa arvioitu olevan 1 400 mikrosekunnin luokkaa) voidaan arvioida siten, että sopiva pisaran-varausgeneraattori toimii yhdessä pulssinkorkeusanalysaattorin ja solunerotuslogiikan kanssa varaten valitun solun sisältävät pisarat myöhempää sähköstaattista lajittelua varten.
Lukuisat tekijät vaikuttavat määrätyn laitteen kykyyn valikoivasti lajitella yhden tai useamman tyyppisiä kohdesoluja jatkuvasta soluvirrasta. Jopa olettamalla, että jokaisen lajiteltavan 4 72608 solun tunnistamiseen tarvittava ilmaisulaitteisto on 100 %:n tarkka, erot virtausnopeudessa, lämpötilassa,nesteen viskositeetissa ja muuttimen suorituskyvyssä voivat vaikuttaa toivottujen kohdesoluja sisältävien pisaroiden viiveaikaan tai sijaintiin katkeamispisteessä, joka on piste, jossa varauspulssi täytyy lisätä varmistamaan, että kohdesolu myöhemmin lajitellaan sähköstaattisesta.
Näihin asti eräs tällaisen lajittelulaitteen säätämiseen käytetyistä menetelmistä käsittää näytejoukon ajamisen tuon laitteen kautta laitteen ollessa asetettu tai ohjelmoitu lajittelemaan yhtä tai useampaa helpommin tunnistettavaa solutyyppiä. Tämän menettelyn mukaisesti aikaviive asetellaan käsin, kunnes niiden pisaroiden, jotka valikoidaan virtauksesta, havaitaan sisältävän toivotun määrän kohdesoluja. Samalla, kun tämä menetelmä yksin tai yhdessä edellä esitetyn stroboskooppimenetelmän kanssa on saavuttanut jonkin verran menestystä tässä tekniikassa, se on altis tietyn asteiselle virheelle erityisesti koneen pitkäaikaisten käyttöjaksojen ja/tai muuttuvien käyttöolosuhteiden aikana, kuten esimerkiksi näytteiden viskositeettien ja/tai lämpötilojen muuttuessa.
US-patentissa nro 2 826 364 (Bonner ym.) on esitetty hiukkasten lajittelumenetelmää ja -kone, jossa koaksiaalinen virtaus purkautuu värähtelevän suuttimen kautta. Virtauksen tarkastus (kysely) yhdellä tai useammalla soluntunnistuslaitteella virtauksen solujen • tunnistamiseksi tapahtuu välittömästi suuttimesta myötävirtaan. Bonnerin ym:n laitteessa varauspulssit syötetään sopivilla hetkillä pisaroiden kunnolliseksi erottamiseksi käyttämällä viiveyksiköitä, jotka säädetään antamaan tarvittava aikaviive hiukkasen kulkuajalle hiukkassironnan ilmaisupisteestä pisteeseen, jossa virtaus hajoaa pisaroiksi. Bonner toteaa: "Nykyisellä järjestelyllä aikaviive hiukkasen havaitsemiseen ja sen erottavan pisaran sieppauksen välillä on ennustettavissa kolmen pisaranvälin ajan. Tällainen suuri ennustettavuus johtuu ensisijaisesti koaksiaalisen virtaussuihkun sisemmän hiukkasia sisältävän virtauksen 12A tasaisesta nopeudesta. Tämä merkitsee, että sisemmän virtauksen 12A poikkileikkauksessa virtausnopeus on käytännöllisesti katsoen tasainen, jolloin hiukkaset kaikkialla sisemmän virtauksen poikkileikkauksen alueella kulkevat samalla nopeudella havaintopisteestä virtauksen pisaranerotuspistee-seen." US-patentti nro 3 826 364, sarake 7, rivit 22-32.
5 72608
Kuten edelleen Bonnerin ym:n esityksessä selostetaan, varaus-pulssin kesto sekä syöttöhetki on kriittinen ainakin lajiteltavan kohdehiukkasen sisältävän pisaran erottamiselle. Selostettuaan ensisijaista varauspulssia, joka varaa ainakin kolme pisaraa, Bonner ym. toteaa: "Ilmeisesti, jos välineiden toleranssit, vaihtelut, poikkeamat ja vastaavat sallisivat, niin voitaisiin käyttää pisaranva-rausaikaa, joka olisi riittävä varaamaan ainoastaan kaksi peräkkäistä pisaraa tai yksittäisen pisaran". US-patentti nro 3 826 364, sarake 8, rivit 2-6.
Kuten Bonner ym. myös huomauttavat, pisaran katkaisu määrätystä virtauksestakuljettaa mukanaan varauksen, joka on verrannollinen potentiaaliin pisaravirran ja ympäröivien elektrodien tai va-rauspintojen välillä hetkellä, jolloin pisara eroaa virrasta. Jos pisara irtoaa suihkusta pisaranvarauspulssin muutoshetkellä, joko pulssin etu- tai takareunalla, kohdepisara voi saada jonkin väliar-von nollan ja toivotun täyden varauksen väliltä. Bonnerin ym:n laitteessa pisaranvarauspulssien päälle/pois-muutokset tahdistetaan pi-saranmuodostuslaitteiden avulla, jolloin varauspulssien muutokset voidaan tahdistaa esiintymään vain pisaroiden muodostumisen väliaikoina eikä silloin, kun pisarat erottuvat virtauksesta. Bonnerin laitteessa tämä on tehty mahdolliseksi varustamalla se säädettävällä vaiheen ohjausyksiköllä, joka sisältyy muuttimen ohjauspiiriin ja jolla asetellaan pisaranmuodostuksen oikea ajoitus pisaranvarauspulssin nähden. Mitä yllä esitettyihin Fulwylerin laitteisiin tulee, virtauksen stroboskooppinen valaisu sallii virtauksen tarkastelun sopivan mikroskoopin avulla pisaranvarauspulssien tahdistaessa stroboskooppivalaisun siten, että virtaus ja yksityiskohtaisemmin poikkeutetut pisarat voidaan valaista varmistuttaessa, että poikkeutetut pisarat sisältävät lajiteltaviksi toivottuja hiukkasia.
Aivan äskettäin on ehdotettu erilaisia laitteita ja menetelmiä varauspulssin syötön ajoittamiseksi siten, että lajiteltavia hiukkasia sisältävät pisarat voidaan valikoivasti varata. US-patentissä nro 3 936 606 (Hogg) on esitetty hiukkaserotin hiukkasten erottamiseksi nesteessä määrättyjen hiukkasominaisuuksien perusteella. Hoggin laite sisältää välineen sähköisen viiveen asettelemiseksi samaksi kuin aika hiukkasen ilmestymisestä suihkeenmuodostusaukosta katkeamispisteeseen. Hogg esittää siirrettävän mitta-asteikon käyttöä 6 72608 aiemman tekniikan mukaisen projektiomikroskoopin objektilasin paikalla tämän mitta-asteikon ollessa yhdistetty RC-oskillaattorin potentiometriin oskillaattorin taajuuden säätämiseksi. Toinen potentiometri on kello-oskillaattorin taajuuden säätämiseksi kytketty aukon korkeudensäätöelimeen; tätä taajuutta käytetään kellopulssina viiveensiirtorekistereissä siten, että varauspulssit voidaan helposti saada esiintymään sopivalla hetkellä pisaranmuododstusgeneraatto-rin paineen, nopeuden, amplitudin ja taajuuden muutoksista huolimatta. Ks. US-patentti nro 3 963 606 (Hogg), sarake 2, rivit 23-36.
Sen mukaisesti Hogg esittää edellä selostetun stroboskooppisen pro-jektiomikroskooppitekniikan automatisoidumman muunnoksen.
Häiriöllisen virtauksen pisaranmuodostusominaisuuksia on myös käsitelty mustesuihkukirjoitustekniikan yhteydessä. Mustesuihkukir-joitintekniikassa, missä mustesuihkuvirrasta muodostuneet erilliset mustepisarat ohjataan sähköstaattisesti tallennuspinnalle, on erityistä huomiota kiinnitetty yhtenäisten pisaranmuodostuksen ja va-rausominaisuuksien aikaansaamiseen. Koska kullekin määrätylle pisaralle annettu varaus on verrannollinen sen pinnan alaan, so. tuon pisaran muotoon katkeamispisteessä, ja koska jopa vähäiset varauksen vaihtelut voivat synnyttää virheellisiä poikkeutusominaisuuksia, mustesuihkukirjoitinteknikot ovat esittäneet erilaisia järjestelmiä tuottamaan mustesuihkuvirta, joka sisältää yhdenmuotoisia ja yhtä lailla varattuja pisaroita, joilla on ennustettavissa oleva poikkeu-tuskäyttäytyminen myötävirrassa. Näitä ongelmia mutkistaa häiriöllisen virtauksen taipumus muodostaa "satelliitteja", jotka eivät ainoastaan vaikuta edellisille ja seuraaville pisaroille annettavaan varaukseen, vaan muuttavat myös noiden pisaroiden kokoa siten vastaavasti vaikuttaen kirjoituksen yhdenmukaisuuteen.
Suihkumustekirjoitustekniikassa on esitetty lukuisia järjestelmiä häirityn mustesuihkuvirran ominaisuuksien tunnistamiseksi joko tuon virtauksen katkeamispisteen ylä- tai alapuolella. US-patentti nro 3 907 429 (Kuhn ym.) esittää menetelmän ja laitteen nestevirras-ta muodostuneiden pisaroiden nopeuden ilmaisemiseksi. Tämän esityksen mukaan erilliset pisarat ohjataan aukkoparin ja valonlähteen väliin, joka valonlähde välähtelee valitulla taajuudella ja suuntautuu kohti aukkoja. Ilmaisemalla aikaväli hetkestä, jolloin virtauksen pisara sulkee ensimmäisen aukon välähdyksen aikana valon katkeamisen 7 72608 osoittamisena, hetkeen, jolloin toinen pisara sulkee toisen aukon valonlähdettä luettaessa, pisaroiden nopeus voidaan mitata ja nopeuden korjaus tehdä muuttamalla nestevirtaa syöttävän putkiston painetta. US-patentissa nro 3 769 627 (Stone) on esitetty pisaroiden ionivarausta käyttävä mustesuihkukirjoitusjärjestelmä, jossa käytetään häirityn virtauksen katkeamispisteestä myötävirtaan sijaitsevaa valonlähdettä ja valokennoa tunnistamaan erillisten pisaroiden ohikulku ja ajoittamaan niihin myöhemmin syötettävät viivästetyt varaukset. Stone toteaa: "Valikoiva pisaranvaraus käsittää varausten johtamisen ympäröivän varatun elektrodin muodostamaan pisaraan. Indusoitunut varaus vaihtelee induktiojännitteen mukaisesti siihen ajankohtaan asti, kun pisara fyysisesti eroaa virtauksesta. Tuosta hetkestä lähtien indusoitunut varaus jää pysyvästi pisaraan. Sen tähden on ilmaistä, että varaustapahtuma täytyy huolellisesti tahdistaa pisaran katkeamisen ajoituksen kanssa. Tämä tuo mukanaan mutkikkaiden vaiheensäätötuntoelimien ja -silmukoiden käytön. Tämä puolestaan lisää laitteiston kustannuksia.
Tämän keksinnön tavoitteena on esittää mustepisaroiden varausjärjestelmä, joka ei riipu varauksen tahdistuksesta katkeamis-hetken kanssa.
Tämän keksinnön toinen tavoite on tuottaa mustepisaroiden varausjärjestelmä, joka varaa pisarat sen jälkeen, kun ne eroavat mustesuihkuvirrasta." US-patentti nro 3 769 627 (Stone), sarake 1, rivit 18-35.
Tämä menetelmä on toteutettu käyttämällä yllä kuvattua valo-kenno järjestelyä syötettävien varausten laskemiseen ja tahdistamiseen erillisten pisaroiden ohittaessa useat erilliset varausasemat, jotka reagoivat koodattuun tietoon, joka syötetään kullekin asemalle tahdistettuna kunkin pisaran ohikulkuun.
Kuten US-patentissa nro 4 047 183 (Taub) on esitetty, on myös yritetty ohjata mustesuihkuvirran pisaroiden muodostusta ja muotoa tunnustelemalla virtauksen jatkuvan osan (vastavirtaan katkeamispisteestä) pinta-aallon muotoa valaisemalla tuota virtauksen osaa säteilyenergian lähteellä, kuten esimerkiksi laserilla. Virtauksen valaisun synnyttämän pinta-aallon muotoa tunnustellaan, sen perus-ja harmonisten taajuuskomponenttien selville saamiseksi ja häiriön ohjaussignaali, jonka amplitudi ja suhteellinen vaihe on tunnustel- 8 72608 tujen taajuuskomponenttien funktio, saadaan pisaroiden muodostuksen ja muodon ohjaamiseksi. Selostettuaan katkeamisgeometrian ohjaamisen eduista ja vaikeuksista, erityisesti mitä tulee satelliittimuo-dostelmien valaisemiseen, Taub esittää, että käytännössä on toivottavaa mitata mustesuihkuvirta mieluummin pisarankatkeamispisteen ylä- kuin alapuolelta: "Ihanteellinen hetki mustesuihkuvirran taa-. juus-, vaihe- ja amplitudikomponenttien tunnistamiselle pisaran-katkeamisominaisuuksien määrittämiseksi on täsmälleen hetki, jolloin pisarat muodostuvat. Tätä on tavallisesti kuitenkin mahdotonta saavuttaa, koska pisarat muodostuvat normaalisti varatun elektrodin sisällä. Sen tähden esillä olevan keksinnön mukaisesti pisarankat-keamisominaisuudet määrätään tunnustelemalla virtausta katkeamispisteen yläpuolelta pikemmin kuin alapuolelta, kuten aikaisempi tekniikka opettaa. Jatkuvaa osaa, ts. osaa juuri ennen virtauksen katkeamista tunnustellaan katkeamisominaisuuksien määrittämiseksi. Tunnusteltujen ominaisuuksien vasteena saadaan pietsosähköinen ohjaussignaali, joka ohjaa pisaranmuodostusta ja niin ollen antaa lisääntyneen pisaranvarauskyvyn." US-patentti nro 4 047 143 (Taub), sarake 4, rivit 53-68.
Taub esittää järjestelmän, jossa mustesuihkuputkisto siinä olevina häiriölaitteineen, kuten esimerkiksi pietsosähköinen kide, lähettää häirityn mustesuihkuvirran varauselektrodirakenteisiin, joita impulsoidaan "sinänsä tunnetulla tavalla" varauksen syöttämiseksi valikoivasti pisaroihin. Säteilyenergian lähde, joka voi käsittää helium-neonlaserin, lähettää säteilyenergiaa kohdistettuna suihkun jatkuvaan osaan "juuri ennen kuin suihku saapuu varauselek-trodirakenteeseen". "Koska muste on läpikuultamatonta, muodostuu varjo", joka kuvautuu linssin kautta alustalle, jolle on muodostettu rako. Siten muodostunut varjo esittää suihkun pinta-aallon muotoa, joka on perus- ja harmonisten taajuuksien vastaavien amplitudien ja suhteellisten vaiheiden kuvaus. Taub toteaa: "Valon kulkemiseen raon 44 kautta vaikuttaa aalto, joka kulkee määrätyn pisteen ohi suihkun kehällä ja niin ollen se on suihkun taajuuskomponenttien kuvaus sekä ilmaisee määrätyn pisaran muodon, kun se irtoaa myötävirrassa.
On välttämätöntä tehdä tämä rako jonkin verran suuremmaksi kuin suurin mitattava läpimitta, tyypillisesti pisaran halkaisija, siten että aaltomuodon leikkautumista ei esiinny sekä ehkäisten väärien 9 72608 diffraktiovaikutusten syntymisen. Kapeakaistaista päästösuodatinta 48, jonka päästökaista on luokkaa 100 A (100 nm) keskittyneenä laserin aallonpituudelle, käytetään, jotta mittaukset voidaan tehdä huoneen valossa. Suodattimen 48 läpäisemä valo johdetaan valomonistinputkel-le 50, joka mittaa valon voimakkuuden. Sen tähden valomonistinput-ken 50 lähtöjännite on verrannollinen raon sulkevan suihkun halkaisijaan, mikä tarkoittaa suihkun halkaisijaa mittauspisteessä... On annettava arvoa sille, että signaalin lähtö... voidaan syöttää analysointilaitteeseen 80 toisella ajoituslaitteella, kuten esimerkiksi askelmoottorilla tai vaihtoehtoisesti se voidaan syöttää samanaikaisesti laitteiden 82, 84 ja 86 tuloihin mieluummin kuin kuvatussa peräkkäisjärjestyksessä." US-patentti nro 4 047 183. Ks. sarake 6, rivit 27-68, sarake 7, rivit 1-26.
Taubin ensisijaisessa suoritusmuodossa näin saatu lähtösig-naali on ehdollistettu ohjaamaan pietsosähköiseen häiriölaitteeseen syötettäviä perus- ja harmonisia taajuuksia pisaranmuodostuksen ja mustesuihkuvirran tuottamien pisaroiden muodon säätämiseksi.
Muiden optista tuntoelintä käyttävien mustesuihkukirjoitus-järjestelmien esittelyiden suhteen ks. IBM Technical Disclosure Bulletin Volume 16, No 12, toukokuu 1974, sivut 3877-8, otsikkona "Feedback For Synchronized Pressure Jet Using Optical Sensor" (Optista tuntoelintä käyttävän tahdistetun painesuihkun takaisinkytkentä) ; ja IBM Technical Disclosure Bulletin, Voi. 16, No. 3, elokuu 1973, sivu 880, otsikkona "Phase Detection On Ink Jet Droplets" (Mustesuihkupisaroiden vaiheenilmaisu).
Erilaisiin mustesuihkukirjoituslaitteiden tahdistusjärjestelmiin liittyvien muiden esitysten suhteen pyydetään tutustumaan US-patentteihin nro 4 025 926 (Fujimoto ym.) nimeltään "Phase Synchronization For Ink Jet System Printer" (mustesuihkujärjestelmä-kirjoittimen vaiheentahdistus); nro 4 045 770 (Arnold ym.) nimeltään "Method and Apparatus For Adjusting The Velocity Of Ink Drops In An Ink Jet Printer" (Menetelmä ja laite mustepisaroiden nopeuden säätämiseksi mustesuihkukirjoittimessa); nro 3 953 860 (Fujimoto ym.) nimeltään "Charge Amplitude Detection For Ink Jet System Printer" (Mustesuihkujärjestelmäkirjoittimen varausamplitudin ilmaisu); nro 3 761 941 (Robertson) nimeltään "Phase Control For A Drop Generating and Cherging System" (Pisaranmuodostus- ja varausjärjestelmän vaiheen 10 72608 ohjaus); nro 3 836 912 (Ghougasian ym.) nimeltään "Drop Charge Sensing Apparatus For Ink Jet Printing System" (Mustesuihkukirjoi-tusjärjestelmän pisaranvarauksen tuntolaite); nro 3 982 251 (Hochberg) nimeltään "Method And Apparatus For Recording Information On A Recording Medium" (Menetelmä ja laite tiedon tallentamiseksi tallennusvälineelle); nro 3 878 519 (Eaton) nimeltään "Methond And Apparatus For Synchronizing Droplet Formation In A Liquid Stream" (Menetelmä ja laite pisaranmuodostuksen tahdistamiseksi nestevir-rassa).
Muiden hiukkas- tai virtauslajittelujärjestelmiä esittelevien patenttien suhteen pyydetään katsomaan US-patentit nro 3 941 479 (Whitehead) nimeltään (Use Of Modulated Stimulus To Improve Detection Sensitivity For Signals From Particles In A Flow Chamber" (Moduloidun ärsykkeen käyttö virtauskammion hiukkasista saatavien signaalien ilmaisuherkkyyden parantamiseki); nro 3 851 169 (Faxvog) nimeltään "Apparatus For Measuring Aerosol Particles" (Laite aerosolihiukkasten mittaamiseksi); nro 3 910 702 (Corll) nimeltään "Apparatus For Detecting Particles Employing Apertured Light Emitting Device" (Aukkomaista valonsäteilylaitetta käyttävä laite hiukkasten ilmaisemiseksi).
Esillä oleva keksintö esittää uuden menetelmän ja laitteen sähköstaattisen hiukkasiajittelulaitteen laminaarivirtauksen katkeamispisteen tarkaksi muodostamiseksi ja kohdistamiseksi. Säätämällä tarkasti tämän järjestelmän katkeamispistettä muut tekijät, kuten muuttuva pintajännitys, viskositeetti, lämpötilat jne., jotka voisivat muuten häiritä hiukkasen sisältävien pisaroiden sopivaa varautumista, eivät häiritse pisaranvarauksen tahdistusta.
Keksinnön mukaiselle laitteelle on tunnusomaista, että tah-distuslaite käsittää säteilyenergian sironnan tunnustelulaitteen sä-teilyenergian kohdistamiseksi virtaan vaipan tunnustelupisteessä häiriön jälkeen ja vaippavirran vaipan tunnustelupisteessä siroa-man säteilyenergian tunnustelemiseksi sellaisessa kohdassa, että suhteelliset erot vaippavirran sironnassa aiheuttavat niihin verrannolliset erot säteilyenergian sironnan tunnustelulaitteen ulostulossa, joka ulostulo edustaa pinnan ominaislähtösignaalia; pinta-ominaisuuksien analyysilaitteen synnyttämään lähtösignaali, joka riippuu pinnan ominaislähtösignaalista, ja amplitudin säätölait- 11 72608 teen, joka reagoi pinnan ominaisuuksien analyysilaitteeseen häiriön amplitudin säätämistä varten katkeamispisteen muodostamiseksi ja säilyttämiseksi vaipan tunnustelupisteessä.
Keksinnön mukaiselle menetelmälle on tunnusomaista vaatimuksen 6 tunnusmerkkiosassa esitetyt seikat.
Ensisijaisessa suoritusmuodossa vaipan tunnustelulaite käsittää säteilyenergian lähteen kohdistettuna virtaukseen sen tai yksityiskohtaisemmin virtauksen vaippaosan mittaamiseksi. Vaipan tunnustelulaite tuottaa näin ollen pinnan ominaiskähtösignaalin, joka on verrannollinen virtauksen pinnan ominaisuuteen. Ensisijaisen suoritusmuodon mukaisesti häirittyjen laminaaristen virtausten on havaittu antavan oleellisesti erilaiset ja eroteltavissa olevat lähtösignaalit, kun niitä tunnustellaan katkeamispisteissä tai niiden ylä- tai alapuolella. Niin ollen vertailemalla tosiaikaisia aaltomuoto-ominaisuuksia vertailuaaltomuodon ominaisuusasetusten kanssa, voidaan synnyttää virhesignaali muuttamaan muuttimen amplitudia, kunnes katkeamispiste on muodostunut ja säilyy vaipan tunnustelupisteessä. Siis olettamalla virtausnopeus kiinteäksi, määrätty ajoitusviive sallii lajittelua varten ylävirrassa tunnistettuja hiukkaisa sisältävien pisaroiden tarkan varaamisen.
Näin ollen esillä olevan keksinnön ensisijainen tavoite on esittää parannettu sähköstaattinen hiukkaslajittelulaite, jossa häirityn laminaarisen virtauksen katkeamispiste muodostetaan ja säilytetään kiinteässä paikassa. Tämä ja muut esillä olevan keksinnön tavoitteet käyvät ilmi seuraavasta yksityiskohtaisemmasta kuvauksesta.
Piirustuksissa:
Kuvio 1 on esillä olevan keksinnön ensisijaisen suoritusmuodon mukaisen laitteen graafinen hybridilohkoesitys;
Kuvio 2 on laminaarisen virtauksen katkeamispistealueella muodostunutta pinnan ominaislähtösignaalia esittävä aaltomuoto;
Kuvio 3 on pinnan ominaislähtösignaalin aaltomuoto, kun vaipan tunnustelupiste sijaitsee häirityn laminaarisen virtauksen katkeamispisteen alapuolella; 12 72608
Kuvio 4 on pinnan ominaislähtösignaalin aaltomuoto, joka syntyy, kun vaipan tunnustelupiste sijaitsee häirityn laminaarisen virtauksen katkeamispisteen yläpuolella.
Vaikka havainnollistamista varten piirustuksiin on valittu keksinnön erikoisia muotoja ja seuraava kuvaus on tehty erikoiskä-sittein näiden keksinnön erikoisten muotojen kuvaamista varten, tämä kuvaus ei ole tarkoitettu rajoittamaan keksinnön suojapiiriä, joka on määritelty oheisissa patenttivaatimuksissa.
Esillä oleva keksintö on tarkoitettu käytettäväksi sähköstaattisessa hiukkaslajittelulaitteessa, jossa nesteeseen liettynyt hiuk-kasryhmä johdetaan vaippavirtauksen 12 sisään muodostamaan laminaa-rinen virtaus 14. Tämä virtaus pannaan sitten virtaamaan laminaari-virtauskammion kautta, jonka sisällä optinen ilmaisulaite ilmaisee hiukkaset ainakin hiukkasten tunnustelupisteessä ja erottaa, mitkä noista hiukkasista on lajiteltava virtauksesta. Tämä optinen ilmaisu voi käsittää laminaarivirtauskammiossa laminaariseen virtaukseen 14 kohdistetun helium-neonlaserin käytön. Käyttämällä erilaisia valo-optisia ilmaisimia yhdessä erilaisten sydänvirtaan johdettujen väriaineiden kanssa hiukkasten tunnustelupisteessä tunnusteltujen hiukkasten sironta-, absorbtio-, fluoresenssi- tai muut ominaisuudet voivat identifioida nuo hiukkaset myöhempää lajittelua varten.
Hiukkasilmaisimen lähde 16 voi olla valonlähde, hohtodiodi, helium-neonlaser tai laserdiodi. Yksi tai useampia hiukkasilmaisimen vastaanottimia 18 voi olla suunnattu yhteen tai useampaan paikkaan virtaukseen nähden riippuen ilmaistavan energian erityisestä tyypistä ja sijainnista. Siinä tapauksessa, että lajittelua varten valikoitu hiukkanen on tunnistettu, pisaranvarauspiirin 22 liipaisua varten säädetty sopiva ajoitusviivepiiri 20 aiheuttaa ennalta valitun hiukkasen sisältävän pisaran suhteellisen varautumisen täsmälleen hetkellä, jolloin tuo pisara muodostuu katkeamispisteessä 26. Toivotun hiukkasen ilmaisun jälkeen hiukkasten tunnustelupisteessä 30 laminaarinen virtaus tulee esiin suuttimesta 28, jota muutin 32 ja muuttimen ohjain 34 häiritsevät. Häirityn laminaarivirtauksen 36 häiriöt kasvavat vähitellen kooltaan tai amplitudiltaan suihkutus-nesteen pintajännityksen johdosta. Esillä olevan keksinnön ensisijaisen suoritusmuodon mukaisesti häiriölaite, joka käsittää muuttimen 32, muuttimen ohjaimen 34 ja säädettävän amplitudioskillaattorin 38, 13 72608 häiritsee virtausta ainakin ennalta valitulla taajuudella ja amplitudilla saaden virtauksen muodostamaan katkeamispisteen, jota yleisesti merkitään viitenumerolla 26.
Esillä olevan keksinnön tahdistuslaite käsittää vaipan tunnus-telulaitteen virtauksen valonsironta- ja imeytymisominaisuuden tun-nustelemiseksi vaipan tunnustelupisteessä häirinnän jälkeen ja siihen verrannollisen pinnan ominaislähtösignaalin tuottamiseksi. Kuten kuviossa 1 on esitetty, vaipan tunnustelupiste ja katkeamispiste ovat yhdenmukaiset katkeamispisteen säilyessä automaattisesti vaipan tunnustelupisteessä, kuten jäljempänä täydellisemmin kuvataan. Vaipan tunnustelulaite käsittää vaipan ilmaisimen lähteen 24, joka on säteilyenergian lähde, jonka suhteen vaippavirtaosa on oleellisesti läpikuultava. Ensisijaisessa suoritusmuodossa vaipan ilmaisimen lähde voi olla helium-neonlaser, hohtodiodi, laserdiodi tai tavanomainen valonlähde. Vaipan ilmaisimen lähde on kohdistettu virtaukseen. Sopiva optiikka on varattava säteilyenergian kohdistamiseksi virtaukseen. Kaksi sylinterilinssiä käsittävän linssistön on havaittu olevan sopiva tähän tarkoitukseen kummankin linssin akselin ollessa suunnattu kohtisuoraan tulevan valon akseliin nähden sekä kohtisuoraan toistensa suhteen. On todettu sopivaksi käyttää etummaista sylinterilinssiä, jonka polttoväli on noin 6 mm ja takimmaista linssiä, jonka polttoväli on noin 11 cm. Ensisijainen vaipanil-maisimen vastaanotin on valodiodi, mutta se voi olla myös valomonis-tin. Yllä määritellyistä linsseistä etummainen linssi pyrkii kohdis--amaan säteilyenergian virtaukseen, kun taas takimmainen linssi keskittää tulevan energian kohti diodia. On todettu sopivaksi käyttää tavanomaista FC200 Ortho Instrumentsin linssistöä tähän tarkoitukseen. Tämä linssistö voidaan esimerkiksi asettaa noin 1/4 tuuman päähän virtauksesta ja valodiodi sijoittaa virtauksen vastakkaiselle puolelle noin 1 tuuma linssistön polttopisteen taakse salliakseen valodiodin poimia oleellisen osan valosta, jota virtaus ei ole sirottanut eikä tukahduttanut, mutta ei niin paljon, että se sallisi ilmaisimen kyllästymisen.
Virtauksen suhteellisen valonsironnan ja -imeytymisen mittaamiseksi vaipanilmaisupisteessä vaipanilmaisun vastaanotin 40 sijaitsee virtauksen vastakkaisella puolella sellaisessa paikassa, että vaippavirtauksen sironnan suhteelliset erot aiheuttavat verrannolliset 14 72608 erot vaipan ilmaisimen vastaanottimen lähdössä, joka esittää pinnan ominaislähtösignaalia. Ensisijaisessa suoritusmuodossa vaipan ilmaisimen vastaanotin on valodiodi tai vähemmän suositeltavana valomonis-tin.
Pinnan ominaislähtösignaali otetaan vastaan aaltomuodon ominaisuuksien ilmaisingeneraattorilla 41, joka analysoi virtauksen pinnan ominaisuuden ja synnyttää oman lähtösignaalinsa, jota verrataan vertailuaaltomuodon ominaisuuksien asetuksen 42 signaaliin virhesignaaligeneraattorin 44 kautta virhesignaalin synnyttämiseksi siinä tapauksessa, että pisarankatkeamispisteen ei havaita olevan vaipan tunnustelupisteessä. Tämä virhesignaali lisää tai vähentää muuttimen laminaariseen virtaukseen syöttämän häirinnän amplitudia vaikuttamalla edellä mainitun säädettävän amplitudioskillaattorin 38 ja muuttimen ohjaimen 34 kautta. Tällä tavalla viitenumerolla 26 yleisesti merkitty pisarankatkeamispiste paikantuu jälleen automaattisesti vaipan tunnustelupisteeseen ja säilyy tuossa paikassa jopa siinä tapauksessa, että muut tekijät, kuten esimerkiksi pintajännitys, viskositeetti, virtausnopeus, lämpötila, suuttimen halkaisija jne. vaihtelevat laitteen toiminnan aikana. Ensisijaisessa suoritusmuodossa määrätylle laminaariselle virtaukselle vaipan tunnustelu-pisteen tulee sijaita siten, että normaaliolosuhteissa muuttimen amplitudi on asetettu noin 30 %:ksi sen maksimiamplitudista sallien näin amplitudin oleellisen säädön edellä selostettujen vaikutusten kumoamiseksi.
Viitaten nyt kuvioihin 2, 3 ja 4, on niissä esitetty vastaavasti tyypilliset aaltomuodot laminaariselle virtaukselle katkeamispisteessä sekä sen ala- ja yläpuolella. Vaipan tunnustelulaitteen havaitsema todellinen aika etenee vasemmalta oikealle, kun taas vaipan ilmaisimen vastaanottimen tunnustelema valomäärä kasvaa pystysuunnassa. Viitaten ensin kuvioon 4, joka on tyypillinen häirityn laminaarivirtauksen 36 jälki, kun vaipan tunnustelupiste sijaitsee oleellisesti katkeamispisteen yläpuolella, nähdään pinnan ominais-lähtösignaalin olevan käytännöllisesti katsoen sinimuotoinen. Huiput 100 ja 102 vastaavat häirityn virtauksen suhteellisesti ohuempia osia, joissa merkittävästi pienemmät suhteelliset osuudet vaipan ilmaisimen lähteen 24 lähettämästä säteilyenergiasta ovat joutuneet siroamaan ja täten vaipan ilmaisimen vastaanotin 40 ottaa vas- 15 72 60 8 taan oleellisesti suuremmat osuudet tuosta energiasta. Käänteisesti aallonpohjat 104 ja 106 vastaavat "pullistumia" tai suhteellisesti suuremman amplitudin alueita häirityssä laminaarivirtauksessa 36 ja ne vastaavasti saavat oleellisesti suuremmat osuudet vaipan ilmaisimen lähteen 24 säteilyenergiasta siroamaan eikä niitä täten vastaanoteta vaipan ilmaisimen vastaanottimella 40. Viitaten nyt kuvioon 3, joka on pinnan ominaislähtösignaali, kun vaipan tunnustelupiste sijaitsee oleellisesti katkeamispisteen alapuolella, so. kun erilliset pisarat ovat jo muodostuneet, molemmat aallonpohjat 110 ja 112 vastaavat erillisiä pisaroita, pienet allonpohjat 114 ja 116 pieniä välisatelliitteja ja aaltomuodon loppuosa, 118 ja 120, vastaa pisaroiden (ja/tai satelliittien) välisiä taukoja, kun vaipan ilmaisimen vastaanotin ottaa vastaan valon huippumääriä. Kuviossa 2 esitetty erikoinen aaltomuoto on pinnan ominaislähtösignaalin aaltomuoto, kun vaipan tunnustelupiste ja katkeamispisteen alue ovat yhteneväiset. Tauot pisaroiden 122, 124 ja 126 välillä esittävät hetkiä, jolloin valodiodivaipan ilmaisimen vastaanotin 40 kerää maksimimäärät valoa. Syvimmät aallonpohjat, merkittyinä yleisesti viitenumeroilla 128, 130 ja 132, esittävät muodostettavan pisaran maksimipullistu-maa. Pieniä väreitä 134 nähdään muodostuvan pullistumassa ja ne voivat olla tulos muuttimen taajuuden yliaalloista tai muuten voivat luonnollisella tavalla johtua pisaroiden käyttäytymisestä katkeamispisteessä, jota käyttäytymistä ei vielä täysin tunneta. Pullistumaa seuraten, mutta vielä siihen yhdistyneenä, on sidososia, jotka esittävät pullistuman hännän nopeaa venymistä sidokseksi, jonka keskusta on pienempi kuin päät. Tämä sidoksen koko ja geometria estää valoa vain noin puolet siitä mitä pisaran suurin osa. Tämä sidososa on katkennut edellisestä pisarasta ja täten jyrkät sidosluiskat 142, 144 ja 146 johtavat ilmeisesti vapaisiin ilmaväleihin, kuten esimerkiksi 124 ja 125, pisaroiden välillä. Kuvion 2 aaltomuodosta havaitaan, että kolme amplitudiltaan merkitsevää erikoisen jyrkkää luiskaa muodostaa aaltomuodon katkeamispisteessä. Ensiksikin negatiiviset pisaranmuodostusluiskat 148, 150 ja 152, positiiviset pisara/si-dosluiskat 154, 156 ja 158 ja positiiviset sidoksen päättymisluiskat 142, 144, 146. Tätä voidaan verrata kuvioissa 3 ja 4 havainnollistettujen aaltomuotojen esittämiin luiskiin, joissa kuvioissa havaitaan parilliset määrät positiivisia ja negatiivisia luiskia.
16 72608
Esillä olevan keksinnön ensisijaisen suoritusmuodon mukaisesti vaipan vastaanottoilmaisin voi myös kerätä tietyn määrän ympäröivää valoa ja niin ollen aallonpohjat 110, 112, 104 ja 106 hieman litistyvät sen sijaan, että ne kauttaaltaan pyöristyisivät, kuten olisi odotettavissa, jos ympäröivä valo suljettaisiin pois järjestelmästä. Lisäksi on todettu, että katkeamispisteen aaltomuodon kuviossa 2 ei tarvitse olla yhtä hyvin määritelty kuin tuossa kuviossa, mutta melko selvät katkeamispisteen aaltomuodot voidaan sittenkin johtaa, vaikka sallitaan vaipan vastaanottimen lähteen vähäinen poikkeaminen polttopisteestä ja siten estetään pienten väreiden ilmaisu, kuten esimerkiksi väreet 134 ja/tai jotkut sidosmuotojen erityisistä yksityiskohdista, kuten on havainnollistettu kohdissa 136, 138 ja 140.
Kuten jokainen tähän tekniikkaan vakinaisesti perehtynyt havaitsee, pienet satelliitit, kuten esimerkiksi kuvion 3 pisteissä 114 ja 116 esiintyvät, ovat äärimmäisen epästabiileja mahdollisesti osittain sen johdosta, että ne kulkevat paljon suurempien pallomaisten kohteiden vanavedessä ja/tai vierekkäisten varausten väliin indusoituneiden differentiaalivarausten aiheuttaman muun käyttäytymisen johdosta. On teoretisoitu, että ilmavirran muoto suurehkon pallomaisen kohteen ympärillä pyrkii siirtämään satelliittipisaroita joko ylös- tai alaspäin riippuen pisaravirran koosta, aallonpituudesta ja virtausnopeudesta. Niin ollen aaltomuodon kuviossa 3 odotettaisiin muodostuvan likimain kolmen aallon pituuden päässä katkeamispisteestä. Kun vaipan ilmaisupistettä siirretään alaspäin, vastuksen ja virtauksen vaikutukset pallon ympärillä tulevat ilmeisemmiksi ja satelliitit erottuvat joko "nopeina" tai "hitaina" satelliitteina. Esimerkiksi siinä tapauksessa, että satelliitti 116 on "nopea" satelliitti, se pyrkisi sulautumaan edelliseen pisaraan ja niin ollen sen nähtäisiin siirtyvän kohti pisaraa 110, kunnes se sulautuisi siihen. Samoin, jos satelliitti 116 olisi "hidas" satelliitti, sen paikka pyrkisi siirtymään suhteessa kohti pisaraa 112, kunnes se sulautuisi ja imeytyisi pisaraan 112, joka on seuraava pisara tuon satelliitin suhteen.
Esillä olevan keksinnön ensisijaisen suoritusmuodon mukaisesti aaltomuodon ominaisuuksien ilmaisingeneraattori analysoi pinnan ominaislähtösignaalia päättääkseen, onko signaalin vertailu suotuisa 17 72608 vertailuaaltomuodon ominaisuuksien asetussignaalin kanssa. Samalla, kun jokainen tähän tekniikkaan vakituisesti perehtynyt havaitsee, että on useita parametrejä, joita voitaisiin käyttää erottamaan kuvion 2 mukainen aaltomuoto kuvioiden 3 ja 4 vastaavista, uskotaan tällä hetkellä, että Richard A. Dussaultin ja Ingino Lombardon tähän liittyvässä patenttihakemuksessa nimeltään "A Servo System To Control The Spatial Position Of Droplet Formation Of A Fluid Jet In A Cell Sorting Apparatus" (Servojärjestelmä nestesuihkun pisaran-muodostuksen avaruuspaikan ohjaamiseksi solulajittelulaitteessa) esitetty tekniikka on paras tapa tämän analyysin suorittamiseksi. Kuten tässä aiheeseen liittyvässä patenttihakemuksessa on täydellisemmin kuvattu, diffirentioimalla pinnan ominaislähtösignaali, syntyy pariton määrä piikkejä, jotka vastaavat kolmea jyrkkää, amplitudiltaan merkittävää katkeamispisteen piikkiä, kun vaipan tunnustelu-piste sijaitsee katkeamispisteessä, jota vastoin tällaisia piikkejä syntyy parillinen määrä jaksoa kohti, jos vaipan tunnustelupiste sijaitsee joko katkeamispisteen ylä- tai alapuolella. Kummassakin jälkimmäisessä tapauksessa virhesignaaligeneraattori synnyttää virhe-signaalin muuttamaan säädettävää amplitudioskillaattoria ja täten se vaikuttaa muuttimen ohjaimen 34, muuttimen 32 ja suuttimen 28 kautta muuttaen häirityn laminaarivirtauksen 36 häiriöamplitudia. Tämä puolestaan siirtää häirityn laminaarivirtauksen katkeamispistettä, kunnes tuo katkeamispiste vastaa vaipan tunnustelupistettä, jolloin ei virhesignaalia eikä täten muuttimen amplitudin muutosta enää tarvitse pitää yllä. Olettamalla virtausnopeus vakioksi ajoi-tusviiveen 20 synnyttämä kiinteä aikaviive saa aikaan pisaranvarau-tumisen pisaranvarauspiirin 22 kautta siten, että katkeamispisteessä varatut pisarat voidaan lajitella poikkeutuslevyjen 200 ja 202 synnyttämän sähkökentän käytöllä siten, että valittaviksi halutut hiukkaset voidaan kerätä yhteen näytteenkeruuastiaan 204, 206 tai 208.
Yllä olevasta nähdään, että äärimmäisen yksinkertainen, mutta silti tehokas menetelmä ja laite on esitetty häirityn laminaarivirtauksen katkeamispisteen täsmälliseksi määrittämiseksi ja ylläpitämiseksi kiinteän etäisyyden päässä hiukkasilmaisupisteestä. Olettamalla virtausnopeus kiinteäksi, sopiva kiinteä ajoitusviive takaa niin ollen lajiteltavia hiukkasia sisältävien pisaroiden tarkan pi-saranvarauksen.
18 72608
On ymmärrettävä, että tekniikkaan perehtyneet voivat tehdä erilaisia muutoksia yksityiskohtiin, materiaaleihin ja osien järjestelyyn, joita on tässä kuvattu ja havainnollistettu tämän keksinnön luonteen selittämiseksi, keksinnön periaatteen ja suojapiirin puitteissa, jotka on ilmaistu seuraavissa patenttivaatimuksissa. Tässä käytettyinä "häirityn" tai "häiriön" tarkoitetaan sisältävän ei ainoastaan mekaanisia/värähteleviä menetelmiä epäjatkuvuuksien synnyttämiseksi virtaukseen, vaan myös epäjatkuvuuksia, jotka aiheutetaan muilla menetelmillä, kuten virtauksen pintajännityksen muuttamisella esimerkiksi sähkö-, lämpö- tai optisen laitteen avulla. Samaten jaksolliset ja jaksottomat häiriöt on tarkoitettu sisältyvän mukaan.
Claims (10)
1. Laite pisaranmuodostuskohdan säätämiseksi elektrostaatti-sen lajittelulaitteen suihkunesteessä, lajittelulaitteen käsittäessä : a) virtauslaitteen jatkuvan hiukkasia sisältävän virtauksen (14) synnyttämiseksi virtauksen käsittäessä ainakin hiukkasia sisältävän sydänvirtaosan (10) ja ympäröivän vaippavirtaosan (12), hiukkasten tunnustelupisteen (30) ollessa määritelty virtauksen (14) varrella; b) hiukkasten tunnustelulaitteen (16, 18) hiukkasten ilmaisemiseksi ainakin hiukkasten tunnustelupisteessä (30); c) häiriölaitteen (32, 34) virtauksen (14) häiritsemiseksi ainakin yhdellä ennalta valitulla taajuudella ja amplitudilla virtauksen (14) saamiseksi muodostamaan katkeamispiste (26), jossa virtaus (14) muuttuu erillisten pisaroiden sarjaksi; d) pisaranvarauslaitteen (22) valikoitujen pisaroiden varaamiseksi suhteellisesti, kun ne muodostuvat katkeamispisteessä (26); ja e) tahdistuslaitteen suhteellisen varauksen ajoittamiseksi siten, että valikoidut pisarat sisältävät ainakin valikoituja hiukkasia, jotka hiukkasten tunnustelulaite (16, 18) on ilmaissut, tunnettu siitä, että tahdistuslaite käsittää: i) säteilyenergian sironnan tunnustelulaitteen (24, 40) sä-teilyenergian kohdistamiseksi virtaan (14) vaipan tunnustelupisteessä häiriön jälkeen ja vaippavirran (12) vaipan tunnustelupisteessä siroaman säteilyenergian tunnustelemiseksi sellaisessa kohdassa, että suhteelliset erot vaippavirran (12) sironnassa aiheuttavat niihin verrannolliset erot säteilyenergian sironnan tunnustelulaitteen (24, 40) ulostulossa, joka ulostulo edustaa pinnan ominaislähtösignaalia; ii) pintaominaisuuksien analyysilaitteen (41, 42, 44) synnyttämään lähtösignaali, joka riippuu pinnan ominaislähtösignaalis-ta; ja iii) amplitudin säätölaitteen (38), joka reagoi pinnan ominaisuuksien analyysilaitteeseen (41, 42, 44) häiriön amplitudin säätämistä varten katkeamispisteen (26) muodostamiseksi ja säilyttämiseksi vaipan tunnustelupisteessä. 72608 20
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että amplitudin säätölaite käsittää edelleen muuttimen (32), muuttimen ohjaimen (34) ja säädettävän amplitudioskillaattorilait-teen (38) muuttimeen (32) vaikuttamiseksi muuttimen ohjaimen (34) kautta virtaukseen (14) syötetyn häiriön amplitudin valikoivaa muuttamista varten.
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen laite, tunnet-t u siitä, että pinnan ominiasuuksien analyysilaite käsittää aaltomuodon ominaisuuksien ilmaisingeneraattorin (41) , vertailuaalto-muodon ominaisuuksien asettelulaitteen (42) pinnan ominaislähtösig-naalin toivotun aaltomuodon ominaisuuksia vastaavan lähtösignaalin synnyttämiseksi, kun vaipan tunnustelupiste sijaitsee katkeamispisteessä (26); ja virhesignaaligeneraattorin (44) vertailuaaltomuodon ominaisuuksien asettelulaitteen (42) ja aaltomuodon ominaisuuksien ilmaisingeneraattorin (41) lähtöjen vertailemiseksi, virhesignaali-generattorin (44) käsittäessä laitteen verrannollisen virhesignaa-lin synnyttämiseksi vastauksena signaalien välisiin vertailueroihin.
4. Patenttivaatimuksien 1-3 mukainen laite, tunnettu siitä, että säteilyenergian sironnan tunnustelulaite käsittää sätei-lyenergian lähteen (24), jonka suhteen vaippavirtaosa (12) on oleellisesti läpikuultava ja säteilyenergian vastaanottimen (40) säteily-energian sironnan mittaamiseksi vaippavirtaosan luona ja siihen verrannollisen lähtösignaalin tuottamiseksi.
5. Patenttivaatimuksien 1-4 mukainen laite, tunnettu siitä, että hiukkasen tunnustelulaite (16, 18) käsittää laitteen (18) hiukkasten ilmaisemiseksi optisesti.
6. Menetelmä pisaranmuodostuskohdan säätämiseksi elektro-staattisen lajittelulaitteen suihkunesteessä, menetelmän käsittäessä seuraavat vaiheet: a) jatkuvan hiukkasia sisältävän virtauksen muodostamisen käsittäen ainakin hiukkasia sisältävän sydänvirtaosan ja ympäröivän vaippavirtaosan hiukkasten tunnustelupisteen ollessa määritelty virtauksen varrelle; b) hiukkasten ilmaisemisen ainakin hiukkasten tunnustelu-pisteessä; c) virtauksen häiritsemisen ainakin yhdellä ennalta valitulla taajuudella ja amplitudilla saaden virtauksen muodostamaan katkeamispisteen, jossa virtaus muuttuu erillisten pisaroiden sarjaksi; 21 72 60 8 d) valikoitujen pisaroiden varaamisen suhteellisesti, kun ne ovat muodostuneet katkeamispisteessä; ja e) suhteellisen varaamisen tahdistamisen siten, että valikoidut pisarat sisältävät ainakin valikoituja hiukkasia, jotka on ilmaistu ilmaisuvaiheessa; tunnettu siitä, että tahdistus-vaihe käsittää seuraavat vaiheet: i) säteilyenergian kohdistamisen virtaukseen vaipan tunnus-telupisteessä myötävirtaan häiriöstä ja ulostulon tuottamisen, joka ulostulo on saatu tunnustelemalla virtauksen siroamaa säteilyener-giaa vaipan tunnustelupisteessä sellaisessa kohdassa, että suhteelliset erot vaippavirran sironnassa aiheuttavat niihin verrannolliset erot ulostulossa, joka ulostulo edustaa pinnan ominaislähtösig-naalia; ii) pinnan ominaislähtösignaalin analysoimisen lähtösignaa-lin synnyttämiseksi, joka signaali riippuu pinnan ominaislähtösig-naalista ja iii) ennalta valitun amplitudin säätämisen häiritsemisvai-heessa vasteena valikoivasti reagoivalle lähtösignaalille katkeamispisteen muodostamiseksi ja säilyttämiseksi vaipan tunnustelu-pisteessä.
7. Patenttivaatimuksen 6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että pinnan ominaislähtösignaalin analysointivaihe käsittää vaiheinaan jatkuvan pintaominaisuuksien lähtöaaltomuodon synnyttämisen, vertailuaaltomuodon asetuksen synnyttämisen vastaamaan pinnan ominaislähtösignaalin toivottua aaltomuoto-ominaisuutta, kun vaipan tunnustelupiste sijaitsee katkeamispisteessä, ja aaltomuotojen vertailemisen niiden välisiin vertailueroihin verrannollisen virhesignaalin synnyttämiseksi.
8. Patenttivaatimuksen 6 tai 7 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että patenttivaatimuksen 6 vaihe i) käsittää vaiheinaan sellaisen säteilyenergialähteen valinnan, jonka suhteen ainakin vaippavirtaosa on oleellisesti läpikuultava, säteilyenergialähteen kohdistamisen ainakin vaippavirtaosaan vaipan tunnustelu-pisteessä ja vaippavirtaosan aiheuttaman säteilyenergian sironnan mittaamisen vaipan tunnustelupisteessä pinnan ominaislähtösignaalin synnyttämiseksi. 22 72608
9. Jonkin patenttivaatimuksista 6-8 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että säteilyenergialähteen valintavaihe käsittää valonlähteen valintavaiheen, jonka lähteen suhteen vaippa-virtaosa on oleellisesti läpikuultava.
10. Jonkin patenttivaatimuksista 6-9 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että hiukkasten ilmaiseminen suoritetaan optisesti. « 72608
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US6811379 | 1979-08-20 | ||
| US06/068,113 US4318480A (en) | 1979-08-20 | 1979-08-20 | Method and apparatus for positioning the point of droplet formation in the jetting fluid of an electrostatic sorting device |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI802617A FI802617A (fi) | 1981-02-21 |
| FI72608B FI72608B (fi) | 1987-02-27 |
| FI72608C true FI72608C (fi) | 1987-06-08 |
Family
ID=22080491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI802617A FI72608C (fi) | 1979-08-20 | 1980-08-19 | Foerfarande och anordning foer instaellning av droppformningspunkten i sprutvaetskan hos en elektrostatisk sorteringsanordning. |
Country Status (12)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4318480A (fi) |
| EP (1) | EP0025296B1 (fi) |
| JP (1) | JPS5633052A (fi) |
| CA (1) | CA1145714A (fi) |
| DE (1) | DE3070644D1 (fi) |
| DK (1) | DK357180A (fi) |
| EG (1) | EG14710A (fi) |
| FI (1) | FI72608C (fi) |
| IE (1) | IE50110B1 (fi) |
| IL (1) | IL60853A0 (fi) |
| NO (1) | NO802464L (fi) |
| ZA (1) | ZA805093B (fi) |
Families Citing this family (59)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4691829A (en) * | 1980-11-03 | 1987-09-08 | Coulter Corporation | Method of and apparatus for detecting change in the breakoff point in a droplet generation system |
| US4487320A (en) * | 1980-11-03 | 1984-12-11 | Coulter Corporation | Method of and apparatus for detecting change in the breakoff point in a droplet generation system |
| JPS5787966A (en) * | 1980-11-25 | 1982-06-01 | Ricoh Co Ltd | Ink jet recorder |
| CA1206559A (en) * | 1983-03-04 | 1986-06-24 | Robert E. Auer | Method of and apparatus for detecting change in the breakoff point of a droplet generation system |
| JPS6080764A (ja) * | 1983-10-12 | 1985-05-08 | Agency Of Ind Science & Technol | 微小粒子を識別する方法及びその装置 |
| US4538733A (en) * | 1983-10-14 | 1985-09-03 | Becton, Dickinson And Company | Particle sorter with neutralized collection wells and method of using same |
| US4638325A (en) * | 1985-09-09 | 1987-01-20 | Eastman Kodak Company | Ink jet filament length and stimulation amplitude assessment system |
| US5204884A (en) * | 1991-03-18 | 1993-04-20 | University Of Rochester | System for high-speed measurement and sorting of particles |
| US5199576A (en) * | 1991-04-05 | 1993-04-06 | University Of Rochester | System for flexibly sorting particles |
| JPH081521U (ja) * | 1992-12-25 | 1996-10-22 | 大平洋特殊鋳造株式会社 | 厚肉ステンレス鋼管用管継手 |
| EP0786078B1 (en) * | 1994-10-14 | 2004-01-07 | University of Washington | System and method for high speed flow cytometer droplet formation |
| US5602349A (en) * | 1994-10-14 | 1997-02-11 | The University Of Washington | Sample introduction system for a flow cytometer |
| US5602039A (en) * | 1994-10-14 | 1997-02-11 | The University Of Washington | Flow cytometer jet monitor system |
| US6861265B1 (en) | 1994-10-14 | 2005-03-01 | University Of Washington | Flow cytometer droplet formation system |
| US5643796A (en) * | 1994-10-14 | 1997-07-01 | University Of Washington | System for sensing droplet formation time delay in a flow cytometer |
| US5507439A (en) * | 1994-11-10 | 1996-04-16 | Kerr-Mcgee Chemical Corporation | Method for milling a powder |
| DE19549015C1 (de) * | 1995-12-28 | 1997-04-03 | Siemens Ag | Verfahren und Anordnung zur Überwachung eines abreißenden Flüssigkeitstrahls |
| US5649576A (en) * | 1996-02-26 | 1997-07-22 | Pharmacopeia, Inc. | Partitioning device |
| JP4323571B2 (ja) | 1997-01-31 | 2009-09-02 | エックスワイ， インコーポレイテッド | 光学装置 |
| US6149867A (en) | 1997-12-31 | 2000-11-21 | Xy, Inc. | Sheath fluids and collection systems for sex-specific cytometer sorting of sperm |
| US6071689A (en) | 1997-12-31 | 2000-06-06 | Xy, Inc. | System for improving yield of sexed embryos in mammals |
| US6248590B1 (en) | 1998-02-27 | 2001-06-19 | Cytomation, Inc. | Method and apparatus for flow cytometry |
| US6079836A (en) * | 1998-07-20 | 2000-06-27 | Coulter International Corp. | Flow cytometer droplet break-off location adjustment mechanism |
| EP2283848A1 (en) | 1998-07-30 | 2011-02-16 | Xy, Llc | Equine system for non-surgical articificial insemination |
| US6372506B1 (en) * | 1999-07-02 | 2002-04-16 | Becton, Dickinson And Company | Apparatus and method for verifying drop delay in a flow cytometer |
| US7024316B1 (en) | 1999-10-21 | 2006-04-04 | Dakocytomation Colorado, Inc. | Transiently dynamic flow cytometer analysis system |
| US7208265B1 (en) | 1999-11-24 | 2007-04-24 | Xy, Inc. | Method of cryopreserving selected sperm cells |
| HUP0302232A2 (hu) * | 2000-05-09 | 2003-10-28 | Xy, Inc. | Berendezés és eljárás X-kromoszómát hordozó hímivarsejtek és Y-kromoszómát hordozó hímivarsejtek szétválogatására, eljárás részecskék megkülönböztetésére és részecskeosztályozó berendezés |
| EP1294293A4 (en) * | 2000-06-12 | 2009-11-04 | Xy Inc | INTEGRATED FLUID MANAGEMENT SYSTEM USING ISOLATED POPULATIONS OF X- AND Y-CHROMOSOME-CARRYING SPERMATOZOES |
| US20040031071A1 (en) * | 2000-10-05 | 2004-02-12 | Xy, Inc. | System of hysteroscopic insemination of mares |
| AU2002220018A1 (en) * | 2000-11-29 | 2002-06-11 | Colorado State University | System for in-vitro fertilization with spermatozoa separated into x-chromosome and y-chromosome bearing populations |
| US7713687B2 (en) | 2000-11-29 | 2010-05-11 | Xy, Inc. | System to separate frozen-thawed spermatozoa into x-chromosome bearing and y-chromosome bearing populations |
| US20040171163A1 (en) * | 2000-12-15 | 2004-09-02 | Lopez Peter A. | Electrical conductive containment system |
| WO2002092247A1 (en) | 2001-05-17 | 2002-11-21 | Cytomation, Inc. | Flow cytometer with active automated optical alignment system |
| US20030211009A1 (en) * | 2001-05-18 | 2003-11-13 | Buchanan Kris S. | Rapid multi-material sample input system |
| US8486618B2 (en) | 2002-08-01 | 2013-07-16 | Xy, Llc | Heterogeneous inseminate system |
| MX337304B (es) | 2002-08-01 | 2016-02-24 | Xy Llc | Sistema de separacion de baja presion para celulas de esperma. |
| WO2004017041A2 (en) * | 2002-08-15 | 2004-02-26 | Xy, Inc. | High resolution flow cytometer |
| US7169548B2 (en) | 2002-09-13 | 2007-01-30 | Xy, Inc. | Sperm cell processing and preservation systems |
| EP2306174B1 (en) | 2003-03-28 | 2016-05-11 | Inguran, LLC | Flow cytometry nozzle for orienting particles and corresponding method |
| NZ544103A (en) | 2003-05-15 | 2010-10-29 | Xy Llc | Efficient haploid cell sorting for flow cytometer systems |
| CN104974983A (zh) | 2004-03-29 | 2015-10-14 | 英格朗公司 | 用于授精的精子悬浮液 |
| AU2005266930B2 (en) | 2004-07-22 | 2010-09-16 | Inguran, Llc | Process for enriching a population of sperm cells |
| EP2884258B1 (en) * | 2004-07-27 | 2016-10-12 | Beckman Coulter, Inc. | Enhancing flow cytometry discrimination with computer-implemented geometric transformation |
| US7618770B2 (en) * | 2005-07-29 | 2009-11-17 | Xy, Inc. | Methods and apparatus for reducing protein content in sperm cell extenders |
| JP4918771B2 (ja) * | 2005-09-26 | 2012-04-18 | 住友電気工業株式会社 | 粒子分級装置およびその装置により分級された粒子を含有する接着剤 |
| US8589851B2 (en) * | 2009-12-15 | 2013-11-19 | Memoir Systems, Inc. | Intelligent memory system compiler |
| WO2011154042A1 (en) * | 2010-06-10 | 2011-12-15 | Albert-Ludwigs-Universität Freiburg | Apparatus and method for dispensing cells or particles confined in a free flying droplet |
| US9897530B2 (en) * | 2011-08-25 | 2018-02-20 | Sony Corporation | Compensation of motion-related error in a stream of moving micro-entities |
| JP5994337B2 (ja) | 2012-03-30 | 2016-09-21 | ソニー株式会社 | 微小粒子分取装置及びディレイタイム決定方法 |
| JP5924077B2 (ja) | 2012-03-30 | 2016-05-25 | ソニー株式会社 | 微小粒子分取装置及び微小粒子分取装置における軌道方向判定方法 |
| JP5601424B2 (ja) | 2012-03-30 | 2014-10-08 | ソニー株式会社 | 微小粒子分取装置及び該装置における流体ストリーム最適化方法 |
| EP2950079B1 (en) | 2013-01-28 | 2021-06-16 | Sony Corporation | Fine particle fractionation device, fine particle fractionation method and program |
| JP6554100B2 (ja) * | 2013-08-16 | 2019-07-31 | バイオ−ラッド・ラボラトリーズ・インコーポレーテッド | フローサイトメーターにおいて流体ストリームから液滴を分離及び／又は帯電させるタイミング及び／又は位相の調整 |
| EP3035030B1 (en) | 2013-10-16 | 2019-07-10 | Sony Corporation | Particle fractionation device, particle fractionation method, and program |
| JP6136843B2 (ja) * | 2013-10-17 | 2017-05-31 | ソニー株式会社 | 粒子分取装置、粒子分取方法及びプログラム |
| EP3106857B1 (en) | 2014-02-13 | 2020-04-22 | Sony Corporation | Particle sorting apparatus, particle sorting method, program, and particle sorting system |
| JP6657625B2 (ja) | 2014-09-05 | 2020-03-04 | ソニー株式会社 | 液滴分取装置、液滴分取方法及びプログラム |
| CN108139312B (zh) | 2015-10-19 | 2021-02-05 | 索尼公司 | 图像处理设备、微粒分选设备和图像处理方法 |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3380584A (en) * | 1965-06-04 | 1968-04-30 | Atomic Energy Commission Usa | Particle separator |
| BE793185A (fr) * | 1971-12-23 | 1973-04-16 | Atomic Energy Commission | Appareil pour analyser et trier rapidement des particules telles que des cellules biologiques |
| US3826364A (en) * | 1972-05-22 | 1974-07-30 | Univ Leland Stanford Junior | Particle sorting method and apparatus |
| DE2239108A1 (de) * | 1972-08-09 | 1974-02-21 | Bayer Ag | Anthrachinonfarbstoffe |
| US3761941A (en) * | 1972-10-13 | 1973-09-25 | Mead Corp | Phase control for a drop generating and charging system |
| US3836912A (en) * | 1972-12-11 | 1974-09-17 | Ibm | Drop charge sensing apparatus for an ink jet printing system |
| US3769627A (en) * | 1972-12-13 | 1973-10-30 | Dick Co Ab | Ink jet printing system using ion charging of droplets |
| US4025926A (en) * | 1973-01-17 | 1977-05-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Phase synchronization for ink jet system printer |
| JPS5421093B2 (fi) * | 1973-03-12 | 1979-07-27 | ||
| US3851169A (en) * | 1973-11-23 | 1974-11-26 | Gen Motors Corp | Apparatus for measuring aerosol particles |
| US3878519A (en) * | 1974-01-31 | 1975-04-15 | Ibm | Method and apparatus for synchronizing droplet formation in a liquid stream |
| US3963606A (en) * | 1974-06-03 | 1976-06-15 | Coulter Electronics, Inc. | Semi-automatic adjusting delay for an electronic particle separator |
| US3907429A (en) * | 1974-08-08 | 1975-09-23 | Ibm | Method and device for detecting the velocity of droplets formed from a liquid stream |
| US3982251A (en) * | 1974-08-23 | 1976-09-21 | Ibm Corporation | Method and apparatus for recording information on a recording medium |
| US3941479A (en) * | 1974-09-26 | 1976-03-02 | G. D. Searle & Co. | Use of modulated stimulus to improve detection sensitivity for signals from particles in a flow chamber |
| US3990797A (en) * | 1975-05-27 | 1976-11-09 | Xerox Corporation | Diffraction monitoring of Rayleigh mode jets |
| GB1563856A (en) * | 1976-06-10 | 1980-04-02 | Coulter Electronics | Methods and apparatus for delectively separating small particles suspended in a liquid |
| US4047183A (en) * | 1976-11-04 | 1977-09-06 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for controlling the formation and shape of droplets in an ink jet stream |
| US4045770A (en) * | 1976-11-11 | 1977-08-30 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for adjusting the velocity of ink drops in an ink jet printer |
-
1979
- 1979-08-20 US US06/068,113 patent/US4318480A/en not_active Expired - Lifetime
-
1980
- 1980-08-15 JP JP11185380A patent/JPS5633052A/ja active Pending
- 1980-08-18 IL IL60853A patent/IL60853A0/xx unknown
- 1980-08-18 CA CA000358490A patent/CA1145714A/en not_active Expired
- 1980-08-19 FI FI802617A patent/FI72608C/fi not_active IP Right Cessation
- 1980-08-19 EG EG505/80A patent/EG14710A/xx active
- 1980-08-19 DK DK357180A patent/DK357180A/da not_active Application Discontinuation
- 1980-08-19 DE DE8080302869T patent/DE3070644D1/de not_active Expired
- 1980-08-19 EP EP80302869A patent/EP0025296B1/en not_active Expired
- 1980-08-19 ZA ZA00805093A patent/ZA805093B/xx unknown
- 1980-08-19 IE IE1749/80A patent/IE50110B1/en unknown
- 1980-08-19 NO NO802464A patent/NO802464L/no unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FI72608B (fi) | 1987-02-27 |
| NO802464L (no) | 1981-02-23 |
| DE3070644D1 (en) | 1985-06-20 |
| FI802617A (fi) | 1981-02-21 |
| JPS5633052A (en) | 1981-04-03 |
| EP0025296A3 (en) | 1981-11-04 |
| CA1145714A (en) | 1983-05-03 |
| EP0025296B1 (en) | 1985-05-15 |
| EG14710A (en) | 1986-09-30 |
| US4318480A (en) | 1982-03-09 |
| EP0025296A2 (en) | 1981-03-18 |
| ZA805093B (en) | 1982-03-31 |
| IE801749L (en) | 1981-02-20 |
| IL60853A0 (en) | 1980-10-26 |
| DK357180A (da) | 1981-02-21 |
| IE50110B1 (en) | 1986-02-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI72608C (fi) | Foerfarande och anordning foer instaellning av droppformningspunkten i sprutvaetskan hos en elektrostatisk sorteringsanordning. | |
| US4325483A (en) | Method for detecting and controlling flow rates of the droplet forming stream of an electrostatic particle sorting apparatus | |
| US4318483A (en) | Automatic relative droplet charging time delay system for an electrostatic particle sorting system using a relatively moveable stream surface sensing system | |
| US4318481A (en) | Method for automatically setting the correct phase of the charge pulses in an electrostatic flow sorter | |
| US4318482A (en) | Method for measuring the velocity of a perturbed jetting fluid in an electrostatic particle sorting system | |
| US4347935A (en) | Method and apparatus for electrostatically sorting biological cells | |
| US4317520A (en) | Servo system to control the spatial position of droplet formation of a fluid jet in a cell sorting apparatus | |
| US6372506B1 (en) | Apparatus and method for verifying drop delay in a flow cytometer | |
| US4487320A (en) | Method of and apparatus for detecting change in the breakoff point in a droplet generation system | |
| US3960449A (en) | Measurement of angular dependence of scattered light in a flowing stream | |
| US9696257B2 (en) | Automated and accurate drop delay for flow cytometry | |
| AU649028B2 (en) | Electro-optical apparatus for high speed, multivariate measurement of individual entities in fiber or other samples | |
| US5275787A (en) | Apparatus for separating or measuring particles to be examined in a sample fluid | |
| US4691829A (en) | Method of and apparatus for detecting change in the breakoff point in a droplet generation system | |
| EP0214769B1 (en) | Aerosol particle charge and size analyzer | |
| US3984307A (en) | Combined particle sorter and segregation indicator | |
| US20060180517A1 (en) | Methods and apparatus for sorting particles hydraulically | |
| WO2005100985A2 (en) | Multiple sorter monitor and control subsystem for flow cytometer | |
| JPH0225133B2 (fi) | ||
| CA1206559A (en) | Method of and apparatus for detecting change in the breakoff point of a droplet generation system | |
| EP0421406A2 (en) | Apparatus and method for separating or measuring particles to be examined in a sample fluid | |
| JPS6420431A (en) | Method and device for measuring fine particles | |
| JPS63172943A (ja) | 微小粒子分析分取装置 | |
| JPS61223650A (ja) | 生物試料の構成要素の分取装置 | |
| Hess | Characteristics of a miniaturized probe employing the pulse displacement technique |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM | Patent lapsed |
Owner name: ORTHO DIAGNOSTICS, INC. |