FI56902C - Gasanalysator - Google Patents
Gasanalysator Download PDFInfo
- Publication number
- FI56902C FI56902C FI782692A FI782692A FI56902C FI 56902 C FI56902 C FI 56902C FI 782692 A FI782692 A FI 782692A FI 782692 A FI782692 A FI 782692A FI 56902 C FI56902 C FI 56902C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- gas
- attenuation
- signal
- plate
- analyzer
- Prior art date
Links
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 12
- 238000013016 damping Methods 0.000 claims description 10
- VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N tetrachloromethane Chemical compound ClC(Cl)(Cl)Cl VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 26
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 16
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/37—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
RSrTl ΓΒ1 mvKUULUTUSjULKAISU rRqn9 jjBTa lBJ (11) UTLÄGGN INGSSKRIFT OO^U i.
C (45) Patentti myönnetty 10 04 1930 &£A0*J Patent oeddelat T (51) Kv.ik.'/int.ci.* G 01 N 21/24 SUOMI — FINLAND (21) p»wnttlh«k«muI — Ptt*nt*n*öltn!ng 782692 (22) H«k«mitpilvi — Ans5kning*dag 01.09· 78 ^^ (23) AlkupUvi — GlMgheudag 01.09.78 (41) Tullut |ulkiselal — Bllvlt affmtlig
Patentti· ia rekisterihallitus .. , , . .
• (44) Nihtlvlkslpanon ja kuuLjulkalaun pvm. —
Patent- och registerstyrelsen ' An*ökan utltgd och uil.»krlft«n publkend 31.12.79 (32)(33)(31) tyydyty atuolkaua— Begird priorittt (71) Instrumentarium Oy, Elimäenkatu 22, 00510 Helsinki 51» Suomi-Finland(Fl) (72) Hannu Ahjopalo, Vantaa, Jorma Auvinen, Nummela, Suomi-Finland(Fl) (7*0 Ieitzinger Oy (5^) Kaasuanalysaattori - Gasanalysator
Keksinnön kohteena on kaasuanalysaattori, esimerkiksi C02-analysaat-tori, jossa on mittauskammio tutkittavaa kaasua varten, referenssi-kammio, josta mitattava kaasu on imetty pois, valonlähde sekä chop-perilevy, joka katkoo valonsädettä siten, että se kulkee vuoroin mittaus- ja referenssikammioiden läpi ja että välillä on jakso, jolloin valo ei pääse lainkaan läpi, sekä automaattinen vahvistuksen säätö, joka pitää "pimeän" signaalin ja referenssikammion antaman signaalin erotuksen vakiona.
Tämän tyyppisissä tunnetuissa kaasuanalysaattoreissa on ongelmana se, että valon joutuessa kulkemaan jonkin matkaa ympäristökaasun läpi ai-neuttaa ympäristökaasussa olevan mitattavan kaasun pitoisuuden vaihtelu virheen. Virheen suuruus on riippuvainen ympäristön pitoisuudesta, matkasta, jonka valonsäde, kulkee ympäristössä ja mitattavan kaasun pitoisuudesta. Esim. C02-analysaattorissa, jossa mittaava valonsäde kulkee osan matkaa ympäristön C02-pitoisuudessa, aiheuttaa ympäristön hiilidioksidipitoisuuden vaihtelu virheen. Erityisesti C02~ana-lysaattoreissa tämä ongelma korostuu siitä syystä, että infrapunasä-teilyn absorptio C02-pitoisuuden funktiona on voimakkaasti epälineaarinen. Ympäristön hiilidioksidi aiheuttaa saman suuruisen vaimennuksen sekä mittaus- että referenssisäteeseen. Koska C02~pitoisuuden kas- 2 56902 väessä sen aiheuttama absorptio kasvaa suhteellisesti hitaammin, eli pitoisuuden funktiona piirretty absorptiokäyrä tulee yläpäässä loivemmaksi, aiheuttaa pieni lisäabsorptio suuren virheen. Ympäristön referenssisäteeseen aiheuttaman vaimennuksen aiheuttama vahvistuksen muutos korjaa tätä vain vähän.
Keksinnön tarkoituksena on parantaa mainituntyyppistä kaasuanalysaat-toria siten, että edellä esitettyä virhevaikutusta voidaan huomattavasti pienentää.
Tämä tarkoitus saavutetaan keksinnön mukaisesti siten, että referens-sikammion kautta kulkevan valonsäteen kulkutielle on asetettu vai-mennuslevy, jonka vaimennus käytetyllä aallonpituusalueella on riittävän suuri aiheuttamaan vahvistuksensäätöpiirin toimintapisteen siirtymisen siten, että linearisointivahvistin toimii abosrptiokäy-rän loivaa osaa vastaavalla alueella.
CC^-analysaattoreissa normaalisti kyseeseen tulevilla mittausalueilla on edullista, että vaimennuslevyn vaimennus on suuruusluokkaa 8 %.
Seuraavassa keksinnön erästä suoritusesimerkkiä selostetaan lähemmin viittaamalla oheisiin piirustuksiin, joissa kuvio 1 esittää keksinnön mukaista kaasuanalysaattoria osaksi lohko-kaaviona ja osaksi rakenteellisena leikkauskuvantona.
Kuvio 2 esittää infrapunasäteilyn absorptiokäyrää CO2-pitoisuuden funktiona.
Runkolevyyn 1 kiinnitetty moottori 2 pyörittää chopperilevyä 3, jossa on reikärivi 5 mittasäteen 7 katkomiseksi ja reikärivi 6 referenssi-säteen 8 katkomiseksi siten, että säteet 7 ja 8 vuorottelevat. Säteet 7 ja 8 lähetetään infrapunavalonlähteellä 9 ja mittasäde 7 kulkee mit-takammion 10 läpi ja referenssisäde 8 referenssikammion 11 läpi. Tässä esimerkkitapauksessa laitetta selostetaan C02~analysaattorina. Mit-takammion 10 läpi johdetaan kaasua, jonka C02~pitoisuutta mitataan. Referenssikammioon 11 on suljettu kaasua, josta CO2 on imetty pois. Suodattimena 12 jätetään säteilystä jäljelle vain se aallonpituusalue, jolla C02:n absorptio on voimakkain. Sen jälkeen kun mitta- ja 3 56902 referenssisäde 7 ja 8 ovat saapuneet peräkkäin detektorille 14, seuraa pimeä jakso, jota käytetään myöhemmin selostettavaan automaattiseen vahvistuksensäätöön pitämällä pimeän signaalin ja referenssikam-mion 11 antaman signaalin 8 erotus vakiona. Detektorilta 14 täten muodostettu kolmiosainen signaali (mittasignaali, referenssisignaali ja pimeä signaali) johdetaan esivahvistimen 15 kautta AC-vahvistimel-le 16, jonka toimintapistettä ohjataan automaattisella vahvistuksen-säätöpiirillä 22.
Jotta mainitut kolme signaalia (mitta-, referenssi- ja pimeä signaali) voidaan tunnistaa ja erottaa toisistaan, on chopperilevyyn 3 tehty kolme tahdistusreikäriviä 4, joiden läpi lähetetään LED-yksiköllä 17 tahdistusvalopulssit, jotka vastaanotetaan valon vastaanotin- ja tah-distussignaalin lähetinyksikössä 18. Reikien 4 sijainti choppejrile-vyssä 3 on valittu siten, että signaali A osuu detektorin 14 vastaanottaman mittasignaalin kohdalle, signaali B osuu referenssisignaalin kohdalle ja signaali C osuu pimeän signaalin kohdalle. Näiden tahdis-tussignaalien A, B ja C avulla ajoituksenohjausyksikkö 19 ohjaa synkronointi- ja mittauserosignaalin muodostusyksikköä 20. Yksikön 20 tehtävänä on muodostaa yksiköltä 16 tulevan signaalin kolmen eri vaiheen väliset analogia- ja erosignaalit. Ensinnäkin siinä synnytetään referenssijännite mittaamalla referenssisignaalin ja pimeäsignaalin erotus. Tätä erojännitettä tunnustellaan automaattisella vahvistuksen-säätöpiirillä 22 sen pitämiseksi ennalta määrätyssä vakioarvossa. Säätöpiiri 22 ohjaa AC-vahvistinta 16 mainitun ennalta määrätyn referenssi jännitteen ylläpitämiseksi.
Toiseksi yksikössä 20 muodostetaan varsinainen mittasignaali. Tämä signaali saadaan mittakammion 10 läpi saadun signaalin ja referenssikam-mion 11 läpi saadun signaalin välisenä erotuksena. Tämä analoginen erosignaali johdetaan DC-vahvistimelle 23 ja sieltä edelleen linearisointi- ja mittapiirien 24 kautta näyttölaitteeseen 25, josta C02-pi-toisuus voidaan lukea. Piirissä 24 suoritettavan linearisoinnin tarkoituksena on kompensoida kuviossa 2 näkyvä absorption epälineaarinen riippuvuus mittakammiossa 10 olevan C02:n pitoisuudesta.
Edellä selostettu analysaattorin rakenne- ja toimintaperiaate ovat ennestään tunnetut. Mittasäde 7 joutuu pakostakin kulkemaan osan matkasta ympäristökaasussa. Tällöin kuviossa 2 näkyvä absorption epälineaarinen riippuvuus C02~pitoisuudesta aiheuttaa sen, että ympäristön C02~pitoisuuden vaihtelut aiheuttavat jo suhteellisen pienellä pitoi- 4 56902 suudella lisäabsorption, joka käyrän loivalla osalla on riittävän suuri aiheuttamaan huomattavan virheen mitattavaan pitoisuuteen.
Keksinnössä tätä virhettä on onnistuttu huomattavassa määrin kompensoimaan sijoittamalla referenssikammion 11 eteen vaimennuslevy 13, jonka vaimennus suodattimen 12 valitsemalla aallonpituusalueella on riittävän suuri aiheuttamaan sen, että automaattinen vahvistuksen-säätöpiiri 22 siirtää AC-vahvistimen 16 toimintapisteen kuviossa 2 näkyvän käyrän loivalle osalle. Kuten kuviossa 2 voidaan nähdä, on CC^-analysaattorissa vaimennuslevyn sopiva absorptio esim. noin 8 %. Tällöin ympäristön aiheuttama lisävaimennus on myös referenssitasolla riittävä saamaan aikaan sellainen vahvistuksenmuutos, joka kompensoi olennaisen osan siitä häiriövaimennuksesta, jonka ympäristö aiheuttaa mittasäteeseen.
Tätä kompensointivaikutusta havainnollistetaan seuraavien koe-esimerk-kien avulla. Molemmissa suoritetuissa kokeissa ympäristön C02~pitoi-suus oli ensin 0,0 ja sitten 0,3 tilavuusprosenttia. Valonsäteen ympäristössä kulkema matka oli 4 mm ja mittauskammiossa kulkema matka 4 mm. Mitattavan kaasun pitoisuus oli molemmissa tapauksissa 8 tilavuusprosenttia C02:ta.
1. Ilman vaimennuslevyä
Ympäristön Mittakanmion Ympäristön Ref .kammion Mittakanmion Vastaa Kokonais-pit. % 002 vaimennus vaimennus kokonais- kokonais- 002% virhe vaimennus vaimennus OC>2 % 0 9,2 0 0 9,2 8 0 0,3 9,2 0,5 0,5 9,65 9,2 1,2 2. Vaimennuslevyn kanssa Vaimennuslevyn absorptio on 8 %
Ymp.pit. Mittak. Υϊηρ. Vaimennus- Ref .kammion Mittak. Vastaa Virhe % OC>2 vaim % Vaim.% levy % kokon.vaim. kokon. C02 % 002 % vaim.
0 9,2 0 8 8,0 9,2 8 0 0,3 9,2 0,5 8 8,46 9,65 8,2 0,2 5 66902
Edellä olevasta voidaan todeta, että käyttämällä keksinnön mukaista vaimennuslevyä 13 on yksinkertaisella ja halvalla tavalla onnistuttu olennaisesti parantamaan analysaattorin mittaustarkkuutta siirtämällä referenssitasoa siten, että analysaattorin toiminta siirtyy absorptio-käyrän loivalle osalle, jolloin ympäristön lisäabsorption vaikutus referenssisignaalissa saa aikaan riittävän vahvistuksen muutoksen, jotta ympäristön mittasäteeseen aiheuttama lisävaimennus tulee olennaisesti kompensoiduksi.
Vaikka keksintöä on edellä selostettu CC^-analysaattorin yhteydessä on selvää, että se soveltuu kaikenlaisiin kaasuanalysaattoreihin.
Mm. happianalysaattorissa keksintöä on kokeiltu ja sen on havaittu myös siinä eliminoivan huomattavassa määrin ympäristön häiriövaikutusta.
Claims (3)
1. Kaasuanalysaattori, erityisesti CC^-analysaattori, jossa on mittauskairanio (10) tutkittavaa kaasua varten, referenssikammio (11), josta mitattava kaasu on imetty pois, valonlähde (9) sekä chopperilevy (3), joka katkoo valonsädettä (7, 8) siten, että se kulkee vuoroin mittaus- ja referenssikammioiden läpi ja että välillä on jakso, jolloin valo ei pääse lainkaan läpi, detektori (14), vahvistinketju (15, 16, 23, 24), sekä automaattinen vah-vistuksensäätö (22), joka pitää pimeän signaalin ja referenssi-kammion (11) antaman signaalin erotuksen vakiona, tunnettu siitä, että referenssikammion (11) kautta kulkevan valonsäteen (8) kulkutielle on asetettu vaimennuslevy (13) , jonka vaimennus käytetyllä aallonpituusalueella on riittävän suuri aiheuttamaan vahvistuksensäätöpiirin (22, 16) toimintapisteen siirtymisen siten, että linearisointivahvistin (24) toimii absorptiokäyrän (Fig 2) loivaa osaa vastaavalla alueella.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen CC^-analysaattori, tunnet- t u siitä, että vaimennuslevyn (13) vaimennus on suuruusluokkaa 8 %.
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen kaasuanalysaattori, tunnettu siitä, että vaimennuslevy (13) on sijoitettu referenssikammion (11) ja chopperilevyn (3) väliin.
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI782692A FI56902C (fi) | 1978-09-01 | 1978-09-01 | Gasanalysator |
| FR7921949A FR2435030A1 (fr) | 1978-09-01 | 1979-08-31 | Analyseur de gaz avec element d'attenuation |
| US06/071,564 US4266131A (en) | 1978-09-01 | 1979-08-31 | Gas analyzer |
| GB7930187A GB2031146B (en) | 1978-09-01 | 1979-08-31 | Gasanalyzer |
| NL7906551A NL7906551A (nl) | 1978-09-01 | 1979-08-31 | Gasanalyse-inrichting. |
| SE7907265A SE440407B (sv) | 1978-09-01 | 1979-08-31 | Gasanalysator |
| JP11233779A JPS5554432A (en) | 1978-09-01 | 1979-09-01 | Gas analyzer |
| DE19792935509 DE2935509A1 (de) | 1978-09-01 | 1979-09-03 | Gasanalysegeraet |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI782692A FI56902C (fi) | 1978-09-01 | 1978-09-01 | Gasanalysator |
| FI782692 | 1978-09-01 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI56902B FI56902B (fi) | 1979-12-31 |
| FI56902C true FI56902C (fi) | 1980-04-10 |
Family
ID=8511976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI782692A FI56902C (fi) | 1978-09-01 | 1978-09-01 | Gasanalysator |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4266131A (fi) |
| JP (1) | JPS5554432A (fi) |
| DE (1) | DE2935509A1 (fi) |
| FI (1) | FI56902C (fi) |
| FR (1) | FR2435030A1 (fi) |
| GB (1) | GB2031146B (fi) |
| NL (1) | NL7906551A (fi) |
| SE (1) | SE440407B (fi) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4370553A (en) * | 1980-07-02 | 1983-01-25 | Sensors, Inc. | Contaminated sample gas analyzer and gas cell therefor |
| US4413427A (en) * | 1981-07-29 | 1983-11-08 | Aer Corporation | Fuel control system for dryer |
| US4499377A (en) * | 1982-09-29 | 1985-02-12 | Acme Engineering Products Ltd. | Detection and control system based on ambient air quality |
| FI67625C (fi) * | 1983-04-06 | 1985-04-10 | Instrumentarium Oy | Foerfarande foer eliminering av maetningsfel vid fotometeranalys |
| JPH0432601Y2 (fi) * | 1985-12-20 | 1992-08-05 | ||
| DE3627232C2 (de) * | 1986-08-11 | 1995-11-16 | Leybold Ag | Fotometer |
| US4817013A (en) * | 1986-10-17 | 1989-03-28 | Nellcor, Inc. | Multichannel gas analyzer and method of use |
| US4907166A (en) * | 1986-10-17 | 1990-03-06 | Nellcor, Inc. | Multichannel gas analyzer and method of use |
| US5510269A (en) * | 1992-11-20 | 1996-04-23 | Sensors, Inc. | Infrared method and apparatus for measuring gas concentration including electronic calibration |
| DE4342246C2 (de) * | 1993-12-10 | 1997-03-20 | Karl Stefan Riener | Charakteristische Absorption |
| US5464983A (en) * | 1994-04-05 | 1995-11-07 | Industrial Scientific Corporation | Method and apparatus for determining the concentration of a gas |
| US5870185A (en) * | 1996-10-21 | 1999-02-09 | C.F.C. Technology, Inc. | Apparatus and method for fluid analysis |
| US5925831A (en) | 1997-10-18 | 1999-07-20 | Cardiopulmonary Technologies, Inc. | Respiratory air flow sensor |
| US6809807B1 (en) | 1999-03-09 | 2004-10-26 | Integ, Inc. | Body fluid analyte measurement |
| US7321424B2 (en) * | 2004-08-05 | 2008-01-22 | Acton Research Corp. | Self-referencing instrument and method thereof for measuring electromagnetic properties |
| US11204378B2 (en) * | 2019-12-30 | 2021-12-21 | Texas Instruments Incorporated | Background suppression for MM-wave spectroscopy |
| US11652455B2 (en) * | 2021-02-11 | 2023-05-16 | Cirrus Logic, Inc. | Chop tone management for a current sensor or a voltage sensor |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3116413A (en) * | 1959-07-04 | 1963-12-31 | Hartmann & Braun Ag | Apparatus for the analysis of gas mixtures by absorption of radiation |
| US3193676A (en) * | 1961-12-15 | 1965-07-06 | Parsons & Co Sir Howard G | Infra-red gas analysers |
| US3560736A (en) * | 1968-10-09 | 1971-02-02 | Mine Safety Appliances Co | Non-dispersive infrared gas analyzer with unbalanced operation |
| US3790797A (en) * | 1971-09-07 | 1974-02-05 | S Sternberg | Method and system for the infrared analysis of gases |
| US4008394A (en) * | 1973-06-28 | 1977-02-15 | Sensors, Inc. | Gas analyzing |
| US4087690A (en) * | 1976-06-22 | 1978-05-02 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Spurious radiation compensation in infrared analyzers |
| GB1560613A (en) * | 1977-03-24 | 1980-02-06 | Yokogawa Electric Works Ltd | Infrared gas analyzer |
-
1978
- 1978-09-01 FI FI782692A patent/FI56902C/fi not_active IP Right Cessation
-
1979
- 1979-08-31 SE SE7907265A patent/SE440407B/sv not_active IP Right Cessation
- 1979-08-31 GB GB7930187A patent/GB2031146B/en not_active Expired
- 1979-08-31 US US06/071,564 patent/US4266131A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-08-31 NL NL7906551A patent/NL7906551A/nl active Search and Examination
- 1979-08-31 FR FR7921949A patent/FR2435030A1/fr active Granted
- 1979-09-01 JP JP11233779A patent/JPS5554432A/ja active Pending
- 1979-09-03 DE DE19792935509 patent/DE2935509A1/de not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2435030A1 (fr) | 1980-03-28 |
| GB2031146A (en) | 1980-04-16 |
| DE2935509A1 (de) | 1980-03-13 |
| US4266131A (en) | 1981-05-05 |
| JPS5554432A (en) | 1980-04-21 |
| NL7906551A (nl) | 1980-03-04 |
| FR2435030B1 (fi) | 1984-06-29 |
| GB2031146B (en) | 1983-01-06 |
| SE440407B (sv) | 1985-07-29 |
| SE7907265L (sv) | 1980-03-02 |
| FI56902B (fi) | 1979-12-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI56902C (fi) | Gasanalysator | |
| US6157033A (en) | Leak detection system | |
| US6107631A (en) | Self-calibration approach for tunable laser spectral absorption sensors | |
| KR101454007B1 (ko) | 누출 검출 시스템 및 방법 | |
| EP0283289A3 (en) | Excitation and detection apparatus for remote sensor connected by optical fiber | |
| Lamers et al. | Ultracentrifuge studies with absorption optics: 3. A split-beam photoelectric, scanning absorption system | |
| DK1549932T3 (da) | Fremgangsmåde og apparat til gasdetektering | |
| KR850001585A (ko) | 연기 탐지장치 | |
| US20130005047A1 (en) | Luminescence lifetime based analyte sensing instruments and calibration technique | |
| EP0383912A4 (en) | Method and apparatus for optically measuring concentration of material | |
| US4425503A (en) | Method for detecting the presence of a gas in an atmosphere | |
| US3675019A (en) | Apparatus for measuring the amount of a substance that is associated with a base material | |
| WO2013188914A1 (en) | Sensitive rapid response optical sensor and method | |
| ATE323280T1 (de) | Analysegerät | |
| FI954632A (fi) | T¦rmäyslevenemän korjaus kaasujen ei-dispersiivisessä absorptiomittauksessa | |
| FI893789A0 (fi) | Määritysmenetelmä ja materiaalisarja nesteessä olevan entsyymin määrittämiseksi | |
| AU1898802A (en) | Device and method for optically measuring the concentration of a substance | |
| NO772253L (no) | Innretning til plassering av en kuvette i et optisk analyseapparat | |
| US4737652A (en) | Method for the periodic determination of a quantity to be measured, using a reference signal | |
| WO1997043609A1 (en) | An environmentally insensitive optical sensor with improved noise cancellation | |
| US6960770B2 (en) | Method and device for determining any fluid mixture composition and for measuring material quantity | |
| GB2024417A (en) | Non-dispersive infrared gas analyser | |
| KR880006665A (ko) | 정보기록 및 판독장치 | |
| JPS5630724A (en) | Inspecting device of substrate surface | |
| JPS58103646A (ja) | 放射測定の較正のための方法および装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MA | Patent expired | ||
| MA | Patent expired |
Owner name: INSTRUMENTARIUM OY |