SE440407B - Gasanalysator - Google Patents

Gasanalysator

Info

Publication number
SE440407B
SE440407B SE7907265A SE7907265A SE440407B SE 440407 B SE440407 B SE 440407B SE 7907265 A SE7907265 A SE 7907265A SE 7907265 A SE7907265 A SE 7907265A SE 440407 B SE440407 B SE 440407B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
reference chamber
measuring
attenuation
gas
signal
Prior art date
Application number
SE7907265A
Other languages
English (en)
Other versions
SE7907265L (sv
Inventor
H Ahjopalo
J J Auvinen
Original Assignee
Instrumentarium Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Instrumentarium Oy filed Critical Instrumentarium Oy
Publication of SE7907265L publication Critical patent/SE7907265L/sv
Publication of SE440407B publication Critical patent/SE440407B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/37Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using pneumatic detection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

7907265-8 Härigenomxleder den ytterligare dämpning, som förorsakas av omgivningen i referensstrålningen, till en förstärknings- ändring, som kompenserar för omgivningens dämpning av mät- stràlen.
Det är fördelaktigt vid de mätområden, som normalt före- kommer vid C02-analysatorer, om dämpningen genom dämpningsski- van är av storleksordningen 8%.
Ett utföringsexempel av uppfinningen förklaras utför- ligare i det följande med hänvisning till bifogade ritningar.
Fig. 1 visar en gasanalysator enligt uppfinningen, del- vis som blockschema och delvis i snitt, och fig. 2 visar absorptionskurvan för infrarödstrålning- en avsatt mot CO-innehållet.
En motor 2, som är fäst vid stativplattan 1, roterar en hâlskiva 3 med en följd av hål 5 för klippning av mätstrå- len 7 och en följd hål 6 för klippning av referensstrålen 8 på sådant sätt, att strålarna 7 och 8 alternerar. Strålarna 7 och 8 utsändes av en infrarödljuskälla 9, och mätstrålen 7 går genom mätkammaren 10, medan referensstrâlen 8 går genom referenskammaren 11. Vid det visade utföringsexemplet skall analysatorn beskrivas såsom en C02-analysator. Genom mätkam- maren 10 ledes den gas, vars C02-innehåll mätes. I referens- kammaren 11 är innesluten en gas, från vilken C02 tages ut.
Ett filter 12 kvarlämnar av strålningen endast det våglängds- område, inom vilket C02 har den kraftigaste absorptionen. Se- dan mät- och referensstrålarna 7 och 8 i följd träffat detek- torn 14, följer en mörk period, som begagnas för att med den automatiska förstärkningsregleringen, som beskrives nedan, hålla skillnaden mellan mörkersignalen och den signal 8, som alstras av referenskammaren 11, konstant. Den av tre element sammansattasignalen(mätsignalen plus referenssignalen plus mörkersignalen), som sålunda bildas vid detektorn, går genom en förförstärkare 15 till en växelströmförstärkare 16, vars operationspunkt styres av en krets 22 för automatisk förstärk- ningsreglering.
För att göra de tre signalerna (mät-, referens- och mörkersignalen) identifierbara och inbördes särskiljbara har hålskivan 3 tre serier synkroniseringshål 4, genom vilka syn- 7907265-8 kroniserande ljuspulser överföres från en LED-enhet 16, vilka pulser mottages i ljusmottagaren och synkroniseringssignalsän- darenheten 18. Lägena för hålen 4 i skivan 3 är så valda, att signalen A sammanfaller med den mätsignal, som mottages av de- tektorn 14, signalen B med referenssignalen och signalen C med mörkersignalen. Med hjälp av dessa synkroniseringssigna- ler A, B och C regleras den synkroniserings- och mätskillnads- signalbildande enheten 20 av tidsstyrningsenheten 19. Enheten 20 har till uppgift att bilda analog- och skillnadssignalerna mellan de tre olika signalfaser, som kommer från enheten 16.
Först alstras däri en referensspänning genom mätning av skill- naden mellan referenssignalen och mörkersignalen. Denna spän- ningsskillnad övervakas av den automatiska förstärkningsreg- leringskretsen 22 för att hålla den vid ett på förhand bestämt värde. Reglerkretsen 22 styr växelströmförstärkaren 16 för hål- lande av den på förhand bestämda referensspänningen.
För det andra bildas i enheten 20 själva mätsignalen.
Denna signal erhålles såsom skillnaden mellan den signal, som mottages genom mätkammaren 10, och den signal, som mottages genom referenskammaren 11. Denna analoga skillnadssignal till- föres likströmsförstärkaren 23 och går därefter via lineari- serings- och mätkretsarna 24 till indikeringsinstrumentet 25, på vilket C02-innehållet kan avläsas. Lineariseringsprocessen sker i kretsen 24 och kompenserar för det icke-linjära för- hållandet mellan absorptionen och C02-innehållet i mätkamma- ren 10, fig. 2.
Den ovan beskrivna konstruktionsprincipen och arbets- sättet för analysatorn är kända. Det är oundvikligt, att mät- strålen 7 delvis går genom omgivningsgasen. Härigenom inför det icke-linjära förhållandet mellan absorption och CO2-inne- håll, fig. 2, den effekten, att ytterligare absorption föror- sakas av omgivningens CO-innehållvariationer, redan vid jäm- förelsevis låga koncentrationer, som i kurvans svagt lutande del är tillräckligt stora för att ge upphov till ett avsevärt fel i det innehåll, som är föremål för mätning.
Föreliggande uppfinning kompenserar i anmärkningsvärd mån för detta fel genom att framför referenskammaren 11 pla- ceras en dämpningsskiva 13, som inom det av filtret 12 valda _7,9Û7265-8 våglängdsområdet har tillräckligt stor dämpningsförmåga för att bringa den automatiska förstärkningsregleringskretsen 22 att förskjuta växelströmsförstärkarens 16 operationspunkt till den grunda delen av den i fig. 2 visade kurvan. Såsom framgår av fig. 2 är en lämplig absorption för dämpningsski- van vid en C02-analysator ungefär 8%. I detta fall är den yt- terligare dämpningen till följd av omgivningen tillräcklig även vid referensnivân för att en sådan ändring i förstärk- ningen skall erhållas, att denna ändring kompenserar för en avsevärd del av den dämpningsstörning, som mätstrålen under- kastas till följd av omgivningen.
Denna kompenserande effekt belyses nedan i exempel.
Vid de båda utförda försöken var omgivningens C02-innehåll först 0,0 och därefter 0,3 volymsprocent. Längden av ljus- strålens väg genom omgivningsluften var 4 mm och vägen i mät- kammaren 4 mm. Den analyserade gasen hade i båda fallen ett innehåll av C02 av 8 volymsprocent. 1. Utan dämpningsskiva Omgiv- Mätkam- Omgiv- Total Total Ekvi- Totalt ningsin- mar- nings- dämpning dämpning valent fel, nehâll, dämpning dämpning i refe- i mätkam- med C02-% % C02 renskam- maren C02-% maren 9,2 0 O 9,2 8 0 0,3 9,2 0,5 0,5 9,65 9,2 1,2 2. Med dämpningsskiva Dämpningsskivans absorption är 8%.
Omgiv- Mätkam- Omgiv- Dämp- Total Total Ekvi- Fel, ningsin- mar- nings- nings- dämp~ dämp- valent C02-% nehåll, dämp- dämp- skiva, % ning i ning i med % C02 ning ning refe- mätkam- C02-% rens- maren kamma- ren 9,2 0 8 8,0 9,2 8 0,3 9,2 0,5 8 8,46 9,65 8,2 0,2 Av det ovanstående framgår, att användandet av en dämp- ningsskiva 13 enligt uppfinningen innebär ett enkelt och bil- 7997265-8 ligt sätt att avsevärt förbättra analysatorns mätnoggrannhet genom åstadkommande av en referensnivåförskjutning, som för- flyttar analysatorns operationspunkt in i den svagt lutande delen av absorptionskurvan, varigenom effekten av den inkre- mentella dämpningen till följd av omgivningen ger en till- räcklig ändring i förstärkarens förstärkning för kompensa- tion i avsevärd mån för den inkrementella dämpningen av mät- strålen till följd av omgivningen.
Uppfinningen har ovan beskrivits med avseende på en C02-analysator men är tillämplig på alla typer av gasanalysa- torer. Uppfinningen har bl.a. prövats i en syrgasanalysator och har även där befunnits eliminera omgivningsstörningseffek- terna i anmärkningsvärd mån.

Claims (4)

7907265-8 PATENTKRAV
1. Gasanalysator, särskilt en C02-analysator, innefattande en mätkammare (10) för den gas, som skall undersökas, en referenskammare (ll), från vilken den gas som skall mätas tages ut, en ljuskälla (9) och en hålskiva (3), vilken klipper ljusstrålen (7, 8) så att strålen alternerande passerar genom mät- och referenskammaren, samt en automatisk förstärknings- reglering (22) som håller skillnaden mellan mörkersignalen och signalen från referenskammaren konstant, k ä n n e t e c k~ n a d av att i vägen för ljusstrålen (8), som går genom referenskammaren är anordnat ett dämpningselement (l3L vars dämpningsförmåga i det använda våglängdsområdet har utvalts för att förorsaka en förskjutning av förstärkningsreglerkret- sens (22, 16) operationspunkt på så sätt, att en linearise~ ringsförstärkare (24) är verksamt i det område, som motsvarar absorptionskurvans svagt lutande del.
2. C02-anlysator enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d av att dämpningselementets (13) dämpning är av storleksordningen 8%.
3. Gasanalysator enligt krav l eller 2, k ä n n e t e c k- n a d av att dämpningselementet (13) är anordnat mellan referenskammaren (ll) och hålskivan (3).
4. Gasanalysator enligt krav 3, k ä n n e t e c k n a d av att dämpningselementet utgöres av en dämpningsskiva (13), som är fäst vid referenskammarens (ll) yta. ~ W:
SE7907265A 1978-09-01 1979-08-31 Gasanalysator SE440407B (sv)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI782692A FI56902C (fi) 1978-09-01 1978-09-01 Gasanalysator

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE7907265L SE7907265L (sv) 1980-03-02
SE440407B true SE440407B (sv) 1985-07-29

Family

ID=8511976

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE7907265A SE440407B (sv) 1978-09-01 1979-08-31 Gasanalysator

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4266131A (sv)
JP (1) JPS5554432A (sv)
DE (1) DE2935509A1 (sv)
FI (1) FI56902C (sv)
FR (1) FR2435030A1 (sv)
GB (1) GB2031146B (sv)
NL (1) NL7906551A (sv)
SE (1) SE440407B (sv)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4370553A (en) * 1980-07-02 1983-01-25 Sensors, Inc. Contaminated sample gas analyzer and gas cell therefor
US4413427A (en) * 1981-07-29 1983-11-08 Aer Corporation Fuel control system for dryer
US4499377A (en) * 1982-09-29 1985-02-12 Acme Engineering Products Ltd. Detection and control system based on ambient air quality
FI67625C (fi) * 1983-04-06 1985-04-10 Instrumentarium Oy Foerfarande foer eliminering av maetningsfel vid fotometeranalys
JPH0432601Y2 (sv) * 1985-12-20 1992-08-05
DE3627232C2 (de) * 1986-08-11 1995-11-16 Leybold Ag Fotometer
US4817013A (en) * 1986-10-17 1989-03-28 Nellcor, Inc. Multichannel gas analyzer and method of use
US4907166A (en) * 1986-10-17 1990-03-06 Nellcor, Inc. Multichannel gas analyzer and method of use
US5510269A (en) * 1992-11-20 1996-04-23 Sensors, Inc. Infrared method and apparatus for measuring gas concentration including electronic calibration
DE4342246C2 (de) * 1993-12-10 1997-03-20 Karl Stefan Riener Charakteristische Absorption
US5464983A (en) * 1994-04-05 1995-11-07 Industrial Scientific Corporation Method and apparatus for determining the concentration of a gas
US5870185A (en) * 1996-10-21 1999-02-09 C.F.C. Technology, Inc. Apparatus and method for fluid analysis
US5925831A (en) 1997-10-18 1999-07-20 Cardiopulmonary Technologies, Inc. Respiratory air flow sensor
US6809807B1 (en) 1999-03-09 2004-10-26 Integ, Inc. Body fluid analyte measurement
WO2006017782A1 (en) * 2004-08-05 2006-02-16 Acton Reserch Corporation A self-referencing instrument and method thereof for measuring electromagnetic properties
US11204378B2 (en) * 2019-12-30 2021-12-21 Texas Instruments Incorporated Background suppression for MM-wave spectroscopy
US11652455B2 (en) * 2021-02-11 2023-05-16 Cirrus Logic, Inc. Chop tone management for a current sensor or a voltage sensor

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3116413A (en) * 1959-07-04 1963-12-31 Hartmann & Braun Ag Apparatus for the analysis of gas mixtures by absorption of radiation
US3193676A (en) * 1961-12-15 1965-07-06 Parsons & Co Sir Howard G Infra-red gas analysers
US3560736A (en) * 1968-10-09 1971-02-02 Mine Safety Appliances Co Non-dispersive infrared gas analyzer with unbalanced operation
US3790797A (en) * 1971-09-07 1974-02-05 S Sternberg Method and system for the infrared analysis of gases
US4008394A (en) * 1973-06-28 1977-02-15 Sensors, Inc. Gas analyzing
US4087690A (en) * 1976-06-22 1978-05-02 E. I. Du Pont De Nemours And Company Spurious radiation compensation in infrared analyzers
GB1560613A (en) * 1977-03-24 1980-02-06 Yokogawa Electric Works Ltd Infrared gas analyzer

Also Published As

Publication number Publication date
FI56902C (fi) 1980-04-10
FI56902B (fi) 1979-12-31
NL7906551A (nl) 1980-03-04
FR2435030A1 (fr) 1980-03-28
DE2935509A1 (de) 1980-03-13
JPS5554432A (en) 1980-04-21
US4266131A (en) 1981-05-05
GB2031146B (en) 1983-01-06
FR2435030B1 (sv) 1984-06-29
SE7907265L (sv) 1980-03-02
GB2031146A (en) 1980-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE440407B (sv) Gasanalysator
US4249244A (en) Electro-optical system and method and apparatus for providing automatically-compensating, traceable calibration and zeroing for light scattering devices
US4346296A (en) Non-dispersive infrared gas analyzer
US5071771A (en) Identification of wood species
US3694086A (en) Correlation spectrometer
US4596931A (en) Method of eliminating measuring errors in photometric analysis
EP0022789B1 (en) Gas analyzer and gaz analyzing method
US4723438A (en) Spark spectroscopic high-pressure gas analyzer
SE469701B (sv) Spektrofotometrisk metod och spektrofotometer foer att utfoera metoden
Jones et al. A fast response atmospheric CO2 sensor for eddy correlation flux measurements
CA1164248A (en) Stable infrared analyzer
US3946229A (en) Gain control for a quadrupole mass spectrometer
US4737652A (en) Method for the periodic determination of a quantity to be measured, using a reference signal
US3193676A (en) Infra-red gas analysers
JPS5826250A (ja) プラスチツク製品の老化状態を決定する方法および装置
US3470381A (en) Photoelectric scanning system for ultracentrifuges having periodic calibration means
JPH06249779A (ja) ガス分析計
JP3964572B2 (ja) 光学濃度の測定方法
US4297577A (en) Radiation detection of gas compositions
US6960770B2 (en) Method and device for determining any fluid mixture composition and for measuring material quantity
DK156785B (da) Ioniseringsbranddetektor
Lougheed et al. Ethylene analyses by automatic gas chromatography
EP0094706A2 (en) Gas analyser
GB2035552A (en) Radiation detection of gas compositions
RU2196013C1 (ru) Способ сепарации минералов

Legal Events

Date Code Title Description
NAL Patent in force

Ref document number: 7907265-8

Format of ref document f/p: F

NUG Patent has lapsed

Ref document number: 7907265-8

Format of ref document f/p: F

NUG Patent has lapsed

Ref document number: 7907265-8

Format of ref document f/p: F