FI128736B - Menetelmä ja mittauslaite suspension mittaamiseksi - Google Patents

Menetelmä ja mittauslaite suspension mittaamiseksi Download PDF

Info

Publication number
FI128736B
FI128736B FI20185221A FI20185221A FI128736B FI 128736 B FI128736 B FI 128736B FI 20185221 A FI20185221 A FI 20185221A FI 20185221 A FI20185221 A FI 20185221A FI 128736 B FI128736 B FI 128736B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
optical
suspension
intensity
consistency
wavelength
Prior art date
Application number
FI20185221A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI20185221A1 (fi
Inventor
Pasi Kärki
Matti Törmänen
Mikko Haapalainen
Original Assignee
Valmet Automation Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Valmet Automation Oy filed Critical Valmet Automation Oy
Priority to FI20185221A priority Critical patent/FI128736B/fi
Priority to SE1950243A priority patent/SE542895C2/en
Priority to CA3035947A priority patent/CA3035947C/en
Priority to ATA50177/2019A priority patent/AT521003B1/de
Priority to DE102019105668.3A priority patent/DE102019105668B4/de
Priority to CN201910172975.5A priority patent/CN110243774B/zh
Publication of FI20185221A1 publication Critical patent/FI20185221A1/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI128736B publication Critical patent/FI128736B/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • DTEXTILES; PAPER
    • D21PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
    • D21GCALENDERS; ACCESSORIES FOR PAPER-MAKING MACHINES
    • D21G9/00Other accessories for paper-making machines
    • D21G9/0009Paper-making control systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/34Paper
    • G01N33/343Paper pulp
    • DTEXTILES; PAPER
    • D21PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
    • D21CPRODUCTION OF CELLULOSE BY REMOVING NON-CELLULOSE SUBSTANCES FROM CELLULOSE-CONTAINING MATERIALS; REGENERATION OF PULPING LIQUORS; APPARATUS THEREFOR
    • D21C7/00Digesters
    • D21C7/12Devices for regulating or controlling
    • DTEXTILES; PAPER
    • D21PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
    • D21CPRODUCTION OF CELLULOSE BY REMOVING NON-CELLULOSE SUBSTANCES FROM CELLULOSE-CONTAINING MATERIALS; REGENERATION OF PULPING LIQUORS; APPARATUS THEREFOR
    • D21C9/00After-treatment of cellulose pulp, e.g. of wood pulp, or cotton linters ; Treatment of dilute or dewatered pulp or process improvement taking place after obtaining the raw cellulosic material and not provided for elsewhere
    • D21C9/10Bleaching ; Apparatus therefor
    • DTEXTILES; PAPER
    • D21PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
    • D21HPULP COMPOSITIONS; PREPARATION THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASSES D21C OR D21D; IMPREGNATING OR COATING OF PAPER; TREATMENT OF FINISHED PAPER NOT COVERED BY CLASS B31 OR SUBCLASS D21G; PAPER NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • D21H23/00Processes or apparatus for adding material to the pulp or to the paper
    • D21H23/78Controlling or regulating not limited to any particular process or apparatus
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/33Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using ultraviolet light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G01N21/51Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/0003Software-defined radio [SDR] systems, i.e. systems wherein components typically implemented in hardware, e.g. filters or modulators/demodulators, are implented using software, e.g. by involving an AD or DA conversion stage such that at least part of the signal processing is performed in the digital domain
    • H04B1/0028Software-defined radio [SDR] systems, i.e. systems wherein components typically implemented in hardware, e.g. filters or modulators/demodulators, are implented using software, e.g. by involving an AD or DA conversion stage such that at least part of the signal processing is performed in the digital domain wherein the AD/DA conversion occurs at baseband stage
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/06Receivers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N2021/3196Correlating located peaks in spectrum with reference data, e.g. fingerprint data
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • G01N2021/4742Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres comprising optical fibres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N2021/4764Special kinds of physical applications
    • G01N2021/4769Fluid samples, e.g. slurries, granulates; Compressible powdery of fibrous samples
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N2021/8405Application to two-phase or mixed materials, e.g. gas dissolved in liquids
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N2021/8411Application to online plant, process monitoring
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N2021/8444Fibrous material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/06Receivers
    • H04B1/16Circuits
    • H04B1/30Circuits for homodyne or synchrodyne receivers
    • H04B2001/305Circuits for homodyne or synchrodyne receivers using dc offset compensation techniques

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Keksinnön kohteena on menetelmä puukuituja sisältävän suspension mittaamista varten. Suspension sakeutta muutetaan (100) sakeusalueella. Optinen säteily, joka käyttää ensimmäistä optista aallonpituutta ja toista optista aallonpituutta, suunnataan (102) suspensioon Ensimmäinen ensimmäiseen optiseen aallonpituuteen liittyvä voimakkuusarvo ja toinen toiseen optiseen aallonpituuteen liittyvä toinen voimakkuusarvo määritellään (104) ainakin yhdellä annetulla sakeutusarvolla. Ensimmäisen ja toisen voimakkuusarvon suhde määritellään (106). Suspension kappaluku määritellään (108). Saadaan (110) raaka-arvo hekseeniuronihapolle, HexA, soveltamalla ennalta määriteltyjä tekijöitä ensimmäisen ja toisen voimakkuusarvon suhteeseen. HexAn pitoisuus suspensiossa määritellään (112) kertomalla määritelty suhde kappaluvulla.

Claims (17)

Patenttivaatimukset
1. Puukuituja sisältävän suspension mittaamiseen tarkoitettu menetelmä, menetelmä käsittää: suspension sakeuden muuttamisen (100) sakeusalueella; optisen — säteilyn ohjaamisen (102) suspensioon käyttämällä ensimmäistä optista aallonpituutta ja toista optista aallonpituutta ; optisen säteilyn ensimmäisen voimakkuusarvon mittaamisen ja määrittämisen (104) ensimmäiseen optiseen aallonpituuteen (liittyvällä sakeutusalueella, ja toisen voimakkuusarvon, joka liittyy toiseen optiseen — aallonpituuteen, ainakin yhdellä annetulla sakeutusarvolla; ja ensimmäisen ja toisen voimakkuusarvon suhteen määrittelyn (106); suspension kappaluvun määrittelemisen (108), tunnettu siitä, että saadaan (110) raaka-arvo hekseeniuronihapolle, HexA, soveltamalla ennalta määriteltyjä tekijöitä ensimmäisen ja toisen voimakkuusarvon suhteeseen; ja määritellään (112) hekseeniuronihapon, HexA, pitoisuus suspensiossa kertomalla raaka-arvo kappaluvulla.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, joka käsittää lisäksi: optisen — säteilyn suuntaamisen suspensioon optisen säteilyn tehonlähdettä käyttäen; ja suspensioon vaikuttaneen optisen säteilyn voimakkuuden mittaamisen yhdellä tai usealla optisella mittausanturilla, joilla on tietty pinta-ala, numeerinen aukko ja etäisyys optisen säteilyn tehonlähteestä.
=
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, jolloin N ensimmäinen optinen aallonpituus ja toinen optinen aallonpituus ovat S ultravioletin säteilyn aallonpituusalueella.
N E 30
4. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 1-3 mukainen = menetelmä, jolloin ensimmäinen optinen aallonpituus on 235 nm + 50 nm ja toinen N optinen aallonpituus on 280 nm + 50 nm. ©
N
5. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 1-4 mukainen menetelmä, joka käsittää lisäksi: suspension sakeuden muuttamisen siten, että sakeus käy läpi yhtenäisesti kaikki sakeusarvot sakeusalueen sisällä, suspensioon vaikuttaneen optisen säteilyn voimakkuuden mittaamisen — sakeusalueen eri sakeuksilla; ensimmäiseen aallonpituuteen ja toiseen optiseen aallonpituuteen liittyvän optisen säteilyn maksimivoimakkuuden määrittelemisen; ja ensimmäiseen aallonpituuteen liittyvän optisen säteilyn maksimivoimakkuuden suhteen määrittelemisen toiseen optiseen aallonpituuteen — liittyvän optisen säteilyn maksimivoimakkuuteen.
6. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 1-5 mukainen menetelmä, joka käsittää lisäksi: näytteen ottamisen suspensiosta mittausta varten paineistamattomaan —mittauskammioon.
7. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 1-6 mukainen menetelmä, joka käsittää lisäksi: optisen säteilyn suuntaamisen suspensioon käyttämällä ensimmäistä — optista kuitua, jolla on tietty halkaisija ja numeerinen aukko ja suspensioon vaikuttaneen optisen säteilyn voimakkuuden mittaamisen ilmaisimella, joka on yhdistetty joukkoon optisia kuituja, jokaisella kuidulla on tietty halkaisija, ja optisten kuitujen päät on asetettu lähelle ensimmäisen optisen kuidun päätä samalle tietylle etäisyydelle ensimmäisestä optisesta kuidusta.
o 8. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 1-7 mukainen 5 menetelmä, joka käsittää lisäksi: N optisen säteilyn suuntaamisen suspensioon yhden tai useamman ? valonlähteen = avulla, joka on sijoitettu mittauskammion ulkopuolelle N 30 —mittauskammion seinämässä olevan ikkunan taakse; ja E suspensioon vaikuttaneen optisen säteilyn voimakkuuden mittaamisen — ilmaisimen = avulla, joka on € sijoitettu —mittauskammion = ulkopuolelle N mittauskammion seinämässä olevan ikkunan taakse, jolla ilmaisimella on tietty = halkaisija ja se on sijoitettu tietylle etäisyydelle yhdestä tai useammasta N 35 — valonlähteestä.
9. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 1-8 mukainen menetelmä, joka käsittää lisäksi: suspensioon vaikuttaneen optisen säteilyn voimakkuuden mittaamisen sakeusalueen eri sakeuksilla käyttämällä ensimmäistä optista aallonpituutta ja — toista optista aallonpituutta; HexALabin ja KappaLabin saamisen, jotka ilmaisevat suspension HexA- arvon ja kappaluvun samoilla laboratoriossa määritellyillä sakeuksilla; funktion määrittelyn, joka yhdistää mitatun ensimmäisen ja toisen voimakkuusarvon HexALabin ja KappaLabin suhteeseen; ennalta määriteltyjen tekijöiden määrittelemisen funktion perusteella.
10. Puukuituja sisältävän suspension mittaamista varten tarkoitettu mittauslaite, joka mittauslaite käsittää yhden tai useamman optisen säteilyn tehonlähteen (300) optisen säteilyn suuntaamiseksi suspensioon ja ainakin yhden — optisen mittausanturin (302) suspensioon vaikuttaneen optisen säteilyn mittaamiseksi, joka mittauslaite on järjestetty muuttamaan (100) suspension sakeutta sakeusalueella; suuntaamaan (102) optinen säteily suspensioon käyttämällä ensimmäistä optista aallonpituutta ja toista optista aallonpituutta ; mittaamaan ja määrittelemään (104) optisen säteilyn ensimmäinen voimakkuusarvo ensimmäiseen optiseen aallonpituuteen liittyvällä sakeutusalueella, ja toinen voimakkuusarvo, joka liittyy toiseen optiseen aallonpituuteen, ainakin yhdellä annetulla sakeutusarvolla; määrittelemään (106) ensimmäisen ja toisen voimakkuusarvon suhde; määrittelemään (108) suspension kappaluku; tunnettu siitä, että o mittauslaitteisto on lisäksi järjestetty 5 saamaan (110) raaka-arvo hekseeniuronihapolle, HexA, soveltamalla N ennalta määriteltyjä tekijöitä ensimmäisen ja toisen voimakkuusarvon suhteeseen; <Q ja N 30 määrittelemään (112) hekseeniuronihapon, HexA, pitoisuus E suspensiossa kertomalla raaka-arvo kappaluvulla. N
11. Patenttivaatimuksen 10 mukainen laite, jossa: = ainakin yhdellä mittausanturilla on tietty pinta-ala, numeerinen aukko N 35 ja etäisyys yhdestä tai useammasta optisen säteilyn tehonlähteestä, joka tietty pinta-ala ja etäisyys on valittu sakeusalueen ja toivotun voimakkuuden perusteella.
12. Kumman tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 10-11 mukainen laite, jolloin yksi tai useampi optinen teholähde on konfiguroitu lähettämään ensimmäistä optista aallonpituutta ja toista optista aallonpituutta, jotka ovat — ultraviolettisäteilyn aallonpituusalueella.
13. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 10-12 mukainen laite, jolloin yksi tai useampi optinen teholähde on konfiguroitu lähettämään ensimmäistä optista aallonpituutta, jonka arvo on 235 nm + 20 nm, ja toista optista — aallonpituutta, jonka arvo on280 nm + 20 nm.
14. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 10-13 mukainen laite, joka on lisäksi konfiguroitu muuttamaan suspension sakeutta niin, että sakeus käy läpi yhtenäisesti kaikki sakeusarvot sakeusalueen sisällä, mittaamaan suspensioon vaikuttaneen optisen säteilyn voimakkuus sakeusalueen eri sakeuksilla; määrittelemään ensimmäiseen aallonpituuteen ja toiseen optiseen aallonpituuteen liittyvän optisen säteilyn maksimivoimakkuus; ja määrittelemään ensimmäiseen aallonpituuteen liittyvän optisen säteilyn maksimivoimakkuuden suhde toiseen optiseen aallonpituuteen liittyvän optisen säteilyn maksimivoimakkuuteen.
15. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 10-14 mukainen — laite, joka käsittää lisäksi o ensimmäisen optisen kuidun (306), joka on järjestetty suuntaamaan S optinen säteily suspensioon, jonka kuidun ensimmäinen pää on yhdistetty optiseen os valonlähteeseen (300) ja kuidun toinen pää on mittauskammiossa; ja ? yhden tai usean ilmaisimen (302) suspensioon vaikuttaneen optisen N 30 — säteilyn voimakkuuden mittaamista varten, jokainen ilmaisin on yhdistetty E joukkoon optisia kuituja (308), jokaisella optisella kuidulla on tietty halkaisija, ja — optisten kuitujen päät on asetettu lähelle ensimmäisen optisen kuidun toista päätä N samalle tietylle etäisyydelle ensimmäisestä optisesta kuidusta (306), tietty = halkaisija ja etäisyys on valittu sakeusalueen ja toivotun voimakkuuden N 35 — perusteella.
16. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 10-14 mukainen laite, joka käsittää lisäksi mittauskammion seinämässä olevan ikkunan (230), optisen säteilyn tehonlähde on sijoitettu mittauskammion (208) ulkopuolelle seinämässä olevan ikkunan taakse optisen säteilyn suuntaamiseksi suspensioon; ja yhden tai usean ilmaisimen (302) suspensioon vaikuttaneen optisen säteilyn voimakkuuden mittaamiseksi, ilmaisimet on sijoitettu mittauskammion ulkopuolelle mittauskammion seinämässä olevan ikkunan (230) taakse, jokaisella ilmaisimella on tietty halkaisija ja se on sijoitettu tietylle etäisyydelle optisen — säteilyn tehonlähteestä (300), tietty pinta-ala ja etäisyys valitaan sakeusalueen ja toivotun voimakkuuden perusteella.
17. Minkä tahansa edeltävän patenttivaatimuksen 10-16 mukainen laite, joka käsittää lisäksi suspensioon vaikuttaneen optisen säteilyn —voimakkuuden mittaamisen sakeusalueen eri sakeuksilla käyttämällä ensimmäistä optista aallonpituutta ja toista optista aallonpituutta; HexALabin ja KappaLabin saamisen, jotka ilmaisevat suspension HexA- arvon ja kappaluvun samoilla laboratoriossa määritellyillä sakeuksilla; funktion määrittelyn, joka yhdistää mitatun ensimmäisen ja toisen —voimakkuusarvon HexALabin ja KappaLabin suhteeseen; ennalta määriteltyjen tekijöiden määrittelemisen funktion perusteella. o
O
N 0
I
N
I a a
N
N
LO 00
O
N
FI20185221A 2018-03-09 2018-03-09 Menetelmä ja mittauslaite suspension mittaamiseksi FI128736B (fi)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20185221A FI128736B (fi) 2018-03-09 2018-03-09 Menetelmä ja mittauslaite suspension mittaamiseksi
SE1950243A SE542895C2 (en) 2018-03-09 2019-02-26 Method and measurement apparatus for measuring suspension
CA3035947A CA3035947C (en) 2018-03-09 2019-03-05 Method and measurement apparatus for measuring suspension
ATA50177/2019A AT521003B1 (de) 2018-03-09 2019-03-06 Verfahren und Messgerät zum Messen einer Suspension
DE102019105668.3A DE102019105668B4 (de) 2018-03-09 2019-03-06 Verfahren und messgerät zum messen einer suspension
CN201910172975.5A CN110243774B (zh) 2018-03-09 2019-03-07 用于测量悬浮液的方法和测量设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20185221A FI128736B (fi) 2018-03-09 2018-03-09 Menetelmä ja mittauslaite suspension mittaamiseksi

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FI20185221A1 FI20185221A1 (fi) 2019-09-10
FI128736B true FI128736B (fi) 2020-11-13

Family

ID=67701413

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20185221A FI128736B (fi) 2018-03-09 2018-03-09 Menetelmä ja mittauslaite suspension mittaamiseksi

Country Status (6)

Country Link
CN (1) CN110243774B (fi)
AT (1) AT521003B1 (fi)
CA (1) CA3035947C (fi)
DE (1) DE102019105668B4 (fi)
FI (1) FI128736B (fi)
SE (1) SE542895C2 (fi)

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2435457A1 (fr) * 1978-06-29 1980-04-04 Ugine Kuhlmann Hexahydro-1,2,3,4,4a, 9a anthracene-dione-9,10, sa preparation et son application a la delignification des materiaux lignocellulosiques
US5500735A (en) * 1994-07-18 1996-03-19 Pulp And Paper Research Institute Of Canada Method and apparatus for on-line measurement of pulp fiber surface development
FI102301B (fi) * 1994-10-13 1998-11-13 Andritz Oy Menetelmä selluloosamassojen käsittelemiseksi
US5953111A (en) * 1997-12-11 1999-09-14 Honeywell Inc. Continuous in-line kappa measurement system
US6069688A (en) * 1997-12-11 2000-05-30 Honeywell International Inc. Method for producing continuous in-like kappa measurements for papermaking pulps
US6551451B2 (en) * 1999-12-23 2003-04-22 Pulp And Paper Research Institute Of Canada Method for determining liquid content in chemical pulps using ramen spectrometry
FI116699B (fi) * 2000-01-21 2006-01-31 Metso Automation Oy Menetelmä ja mittalaite mitata suspensiota
SE516232C2 (sv) 2000-04-14 2001-12-03 Stora Kopparbergs Bergslags Ab Sätt vid framställning av massa samt produkt av sättet
SE516090C2 (sv) * 2000-05-31 2001-11-19 Kvaerner Pulping Tech Förfarande för reglering av en process för tillverkning av pappersmassa genom optisk mätning av mängden hexenuronsyra
WO2006086873A1 (en) * 2005-02-16 2006-08-24 Fpinnovations Method for determining native wood constituents using visible-light raman spectrometry
JP2008532021A (ja) * 2005-03-04 2008-08-14 エフピーイノベイションズ 可視・近赤外分光測定法により化学パルプのカッパー価を測定する方法
US8295371B2 (en) * 2006-07-14 2012-10-23 Qualcomm Incorporated Multi-carrier receiver for wireless communication
JP5285896B2 (ja) * 2007-12-05 2013-09-11 大王製紙株式会社 漂白アルカリ化学パルプの製造方法
FI123789B (fi) * 2010-11-30 2013-10-31 Metso Automation Oy Suspension kiinteän aineen määrän mittaus
TWI553190B (zh) * 2011-07-25 2016-10-11 王子控股股份有限公司 非塗覆紙及塗覆紙
FI123926B (fi) * 2012-04-03 2013-12-13 Upm Kymmene Corp Menetelmä sellun valkaisemiseksi
CN104977339A (zh) * 2014-04-04 2015-10-14 浙江海洋学院 一种用于检测大田软海绵酸的基于磁性纳米粒子修饰的酶传感器及制备方法
CN104452394A (zh) * 2014-10-28 2015-03-25 广西大学 一种通过生物酶预处理减少蔗渣浆中己烯糖醛酸的方法
CN104987379B (zh) * 2015-07-08 2018-08-03 武汉市畜牧兽医科学研究所 一种奶牛早期妊娠阶段血清中的差异蛋白及其用途
FI127260B (fi) 2016-12-08 2018-02-15 Valmet Automation Oy Menetelmä ja mittauslaite suspension mittaamiseksi

Also Published As

Publication number Publication date
CN110243774A (zh) 2019-09-17
DE102019105668A1 (de) 2019-09-12
DE102019105668B4 (de) 2022-07-14
AT521003B1 (de) 2020-03-15
SE1950243A1 (en) 2019-09-10
SE542895C2 (en) 2020-08-18
CN110243774B (zh) 2021-12-31
CA3035947A1 (en) 2019-09-09
FI20185221A1 (fi) 2019-09-10
CA3035947C (en) 2021-06-01
AT521003A1 (de) 2019-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0786082B1 (en) A method of determining the organic content in pulp and paper mill effluents
Fardim et al. Multivariate calibration for quantitative analysis of eucalypt kraft pulp by NIR spectrometry
US6551451B2 (en) Method for determining liquid content in chemical pulps using ramen spectrometry
CA2986361C (en) Method and measurement apparatus for measuring suspension
CA2392292C (en) Determination of kappa number in chemical pulps by raman spectrometry
CA2398232C (en) Method and measurement device for measuring suspension
FI128736B (fi) Menetelmä ja mittauslaite suspension mittaamiseksi
BR112019026809A2 (pt) monitoramento de qualidadade da polpa
Khaliliyan et al. Strategies for multivariate characterization and classification of pulps and papers by near-infrared spectroscopy
CN106644969A (zh) 一种原位测定化学浆冷碱浸渍过程碳水化合物溶出量方法
Jeffers et al. Performance characteristics of fiber optic lignin concentration sensor

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 128736

Country of ref document: FI

Kind code of ref document: B