FI119080B - Metod och system för att fastställa en skarp panoramabild som är konstruerad från en grupp om projektionbilderna - Google Patents

Metod och system för att fastställa en skarp panoramabild som är konstruerad från en grupp om projektionbilderna Download PDF

Info

Publication number
FI119080B
FI119080B FI20060732A FI20060732A FI119080B FI 119080 B FI119080 B FI 119080B FI 20060732 A FI20060732 A FI 20060732A FI 20060732 A FI20060732 A FI 20060732A FI 119080 B FI119080 B FI 119080B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
function
panoramic image
images
sharp
thickness
Prior art date
Application number
FI20060732A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20060732A0 (sv
FI20060732L (sv
Inventor
Martti Kalke
Esa Suuronen
Henri Setaelae
Samuli Siltanen
Original Assignee
Palodex Group Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Palodex Group Oy filed Critical Palodex Group Oy
Publication of FI20060732A0 publication Critical patent/FI20060732A0/sv
Publication of FI20060732L publication Critical patent/FI20060732L/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI119080B publication Critical patent/FI119080B/sv

Links

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/50—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications
    • A61B6/51—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications for dentistry
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B37/00—Panoramic or wide-screen photography; Photographing extended surfaces, e.g. for surveying; Photographing internal surfaces, e.g. of pipe
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T3/00—Geometric image transformations in the plane of the image
    • G06T3/40—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
    • G06T3/4038—Image mosaicing, e.g. composing plane images from plane sub-images
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T5/00—Image enhancement or restoration
    • G06T5/50—Image enhancement or restoration using two or more images, e.g. averaging or subtraction
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/40—Analysis of texture
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10116—X-ray image
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/20—Special algorithmic details
    • G06T2207/20212—Image combination
    • G06T2207/20221—Image fusion; Image merging
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30004—Biomedical image processing
    • G06T2207/30036—Dental; Teeth

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Dentistry (AREA)
  • Oral & Maxillofacial Surgery (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Claims (46)

1. Förfarande för att definiera ett skarpt panoramabildskikt sammansatt av en • · · mängd projektionsbilder som innefattar ätminstone följande skeden: • · • * · - definiering av panoramabildens struktur med ätminstone tvä kritiska para-metrar, den första parametern gäller den centrala ytan S av det skarpa :***; 25 skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) hos det skarpa * . skiktet, • · ·:··: - användning av en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa alternativet ; för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera nämnda ] [i straffunktion F(S, t) över hela parameterrymden, varvid nämnda straffunk- 30 tion (F(S, t) är F3(S, t), och 119080
1. F3(S, t) beräknar först en panoramabild motsvarande valen S och t(S) som getts som argument och bestraffar lägfrekventa bilder av nämnda beräknade panoramabild mer än högfrekventa bilder.
2. Förfarande för att definiera ett skarpt panoramabildskikt sammansatt av en 5 mängd projektionsbilder som innefattar ätminstone följande skeden: - definiering av panoramabildens struktur med ätminstone tvä kritiska para-metrar, den första parametern gäller den centrala ytan S av det skarpa skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) hos det skarpa sklktet, 10. användning av straffunktionen F(S, t) för att erhälla det bästa altemativet för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera nämnda straffunktion F(S, t) över hela parameterrymden, varvid nämnda straffunk-tion (F(S, t) är summan av F1(S) och F3(S, t), varvid
1. F1 (S) bestraffar förändringar pä ytan S, och 15 2) F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa bilder mer än högfrekventa bilder av nämnda beräknade panoramabild. • · • · ♦ • ·· :·.·[ 3. Förfarande för att definiera ett skarpt panoramabildskikt sammansatt av en • · 20 mängd projektionsbilder som innefattar ätminstone följande skeden: • · * - definiering av panoramabildens struktur med ätminstone tvä kritiska para-metrar, den första parametern gäller den centrala ytan S av det skarpa skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) hos det skarpa ··· skiktet, ·· • ’** 25 - användning av en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa altemativet * · · för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera nämnda straffunktion F(S, t) över hela parametern, varvid nämnda straffunktion (F(S, t) är summan av F2(t) och F3(S, t), varvid • ·
1. F2(t) bestraffar för förändringar i tjockleksfunktionen t(S), och * 30 2) F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa bil- 119080 der mer än högfrekventa bilder av nämnda beräknade panorama-bild.
4. Förfarande för att definiera ett skarpt panoramabildskikt sammansatt av en mängd projektionsbilder, innefattande ätminstone följande skeden: 5. definiering av panoramabildens struktur med ätminstone tvä kritiska para- metrar, den första parametern gäller den centrala ytan S av det skarpa skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) hos det skarpa skiktet, - användning av en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa alternativet 10 för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera nämnda straffunktion F(S, t) över hela parameterrymden, varvid nämnda straffunktion (F(S, t) är summan av F1(S), F2(t) och F3(S, t), varvid
1. F1 (S) bestraffar förändringar pä ytan S,
2. F2(t) bestraffar för förändringar i tjockleksfunktionen t(S), 15 3) F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa bilder mer än högfrekventa bilder av nämnda beräknade panorama- .·. : bild. • · 9 9 99 9 : V 5. Förfarande enligt patentkrav 4, varvid panoramabilden är en röntgenbild av 9 9 : *·· 20 tand- och käkomrädet eller ätminstone av en del av omrädet. ··· • · • ·
6. Förfarande enligt patentkrav 4, varvid tjockleken t(s) varierar jämnt som en • * · "! funktion av s av S, varvid de typiska värdena är inom intervallen 2 mm - 30 mm. • · 999
7. Förfarande enligt patentkrav 4, varvid ytan S avbildas i parameterform: S(p1, p2, .... pN), varvid p1, p2, pN är sädana parametrar med realvärden, att 25 nämnda parametrar definierar formen av ytan S. ··· *:“Σ 8. Förfarande enligt patentkrav 7, varvid nämnda parametrar är koordinaterna ·:··: av en mängd kontrollpunkter (x1, y1, z1), (x2, y2, z2).....(xM, yM, zM) i en tredi- : mensionell rymd, och ytan S bestär av en spline-funktion som passerar genom XI kontrollpunkterna. • · 119080
9. Förfarande enligt patentkrav 7, varvid nämnda parametervärden företrädes-vis begränsats ovanifrän och nedifrän, sä att en motsvarande yta S kan utföras för alla möjliga parameteralternativ med en panoramaröntgenapparat, som används för att fä projektionsbilder. 5 10. Förfarande enligt patentkrav 4, varvid tjockleksfunktionen t(s) parametriseras tili parametriseringen av S: man skrivert(s1, s2,sK), varvid s1, s2,sK är en mängd punkter pä ytan S.
11. Förfarande enligt patentkrav 4, varvid nämnda straffunktion F(S, t) skrivs i formen F(p1, p2.....pN, s1, s2,.... sK). 10 12. Förfarande enligt patentkrav 4, varvid nämnda minimeringsproblem löses genom att använda Powerll & Brent- eller Gauss-metoden.
13. Förfarande enligt patentkrav 4, varvid nämnda yta S och sälunda ocksä pa-noramabildskiktet är anpassat att följa geometrin av en anatomisk kroppsbyggnad, säsom formen av tänder, käke eller käkben. 15 14. Förfarande enligt patentkrav 4, varvid nämnda yta S och sälunda ocksä pa- noramabildskiktet definieras pä en givet djup i riktningen t(s).
15. System för att definiera ett skarpt skikt sammansatt av en mängd projek- ;\t: tionsbilder, innefattande ätminstone följande: • · ·*·* - organ för definiering av panoramabildens struktur med ätminstone tvä Μι "·· 20 tiska parametrar, den första parametem gäller den centrala ytan S av det skarpa skiktet, och den andra parametem gäller tjockleken t(s) hos det skarpa skiktet, • · · • · · *** - organ för att använda en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa alter- .. nativet för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera • * 25 nämnda straffunktion F(S, t) över hela parameterrymden, varvid nämnda straffunktion (F(S, t) är F3(S, t), och •
1. F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa bil-der mer än högfrekventa bilder av nämnda beräknade panorama-·:··· 30 bild. 119080
16. System för att definiera ett skarpt skikt sammansatt av en mängd projek-tionsbilder, innefattande ätminstone följande: - organ för definiering av panoramabildens struktur med ätminstone tvä kri-tiska parametrar, den första parametern gäller den centrala ytan S av det 5 skarpa skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) hos det skarpa skiktet, - organ för att använda en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa alter-nativet för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera nämnda straffunktion F(S, t) över hela parameterrymden, varvid nämnda 10 straffunktion (F(S, t) är summan av F1 (S) och F3(S, t), varvid
1. F1(S) bestraffar förändringar i ytan S, och
2. F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa bil-der mer än högfrekventa bilder av nämnda beräknade panorama- 15 bild.
17. System för att definiera ett skarpt skikt sammansatt av en mängd projek-tionsbilder, innefattande ätminstone följande: .·. : - organ för definiering av panoramabildens struktur med ätminstone tvä kri- • ·· tiska parametrar, den första parametern gäller den centrala ytan S av det ** 20 skarpa skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) hos det skarpa skiktet, • · • * • φ · : - organ för att använda en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa alter- ··♦ ;***. nativet för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera • · * nämnda straffunktion F(S, t) över hela parameterrymden, varvid nämnda :·. 25 straffunktion (F(S, t) är summan av F2(t) och F3(S, t), varvid • ·· • · ·
1. F2(t) bestraffar förändringar i tjockleksfunktionen t(S), och * * \ 2) F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S : *: och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa bil- der mer än högfrekventa bilder av nämnda beräknade panorama- • · 30 bild. • * 119080
18. System för att definiera ett skarpt skikt sammansatt av en mängd projek-tionsbilder, innefattande ätminstone följande: - organ för definiering av panoramabildens struktur med ätminstone tvä kri-tiska parametrar, den första parametern gäller den centrala ytan S av det 5 skarpa skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) hos det skarpa skiktet, - organ för att använda en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa alternative! för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera nämnda straffunktion F(S, t) over hela parametern, varvid nämnda straff- 10 funktion (F(S, t) är summan av F1 (S), F2(t) och F3(S, t), varvid
1. F1 (S) bestraffar förändringar i ytan S,
2. F2(t) bestraffar förändringar i tjockleksfunktionen t(S), och
3. F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa bills der mer än högfrekventa bilder av nämnda beräknade panorama bild.
19. System enligt patentkrav 15, varvid panoramabilden är en röntgenbild av : tand- eller käkomrädet eller ätminstone av en del av omrädet. • »I • · • t · : V 20. System enligt patentkrav 15, varvid tjockleken t(s) varierar jämnt som en ·· : *·· 20 funktion av s av S, varvid de typiska värdena är inom intervallen 2 mm - 30 mm. • « · • ·
21. System enligt patentkrav 15, varvid ytan S avbildas i parameterform: S(p1, • · · p2, ..., pN), varvid p1, p2, pN är sädana parametrar med realvärden, att "** nämnda parametrar definierar formen av ytan S.
22. System enligt patentkrav 21, varvid nämnda parametrar är koordinaterna av 25 en mängd kontrollpunkter (x1, y1, z1), (x2, y2, z2).....(xM, yM, zM) i en tredimen- • · · | . sionell rymd, och ytan S bestär av en spline-funktion som gär igenom kontrollpunk- | terna. • · .·! · 23. System enligt patentkrav 21, varvid nämnda parametervärden är företrädes- · · t' m\ vis begränsade ovanifrän och nedanifrän sä att en motsvarande yta S kan utföras 30 för alla möjliga alternativ av parametrarna med en panoramaröntgenapparat, som används för att ta projektionsbilder. 119080
24. System enligt patentkrav 15, varvid tjockleksfunktionen t(s) parametriseras till parametriseringen av S: skrivs t(s1, s2,.... sK), varvid s1, s2.....sK är en mängd punkter pä ytan S.
25. System enligt patentkrav 15, varvid nämnda straffunktion F(S, t) skrivs i for- 5 men F(p1, p2.....pN, s1, s2.....sK).
26. System enligt patentkrav 15, varvid nämnda minimeringsproblem löses ge-nom att använda Poweril & Brent- eller Gauss-metoden.
27. System enligt patentkrav 15, varvid nämnda yta S och sälunda ocksä pano-ramabildskiktet är anpassat att följa geometrin av en anatomisk kroppsbyggnad, 10 säsom tändernas, käkens eller käkbenets form.
28. System enligt patentkrav 15, varvid nämnda yta S och sälunda ocksä pano-ramabildskiktet definieras pä en givet djup i riktningen t(s).
29. Dataprogramprodukt för att definiera en skarp bild utgäende frän en panora-mabild, som bildats av en mängd projektionsbilder, varvid: 15. nämnda dataprogramprodukt innefattar definierande kodorgan, som är anpassade att definiera konstruktionen av panoramabilden med ätminsto-ne tvä kritiska parametrar, den första parametern gäller den centrala ytan ,·. : S av det skarpa skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) hos det skarpa skiktet, dä nämnda definierande kodorgan körs i en data-** 20 behandlingsenhet, * ♦ i · · • - nämnda dataprogramsprodukt innefattar straffunktionskodorgan som är : anpassade att definiera en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa ai- ··· ·**·. ternativet för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minime- ra nämnda straffunktion F(S, t) över hela parameterrymden, varvid nämn- ··. 25 da straffunktion (F(S, t) är F3(S, t), och • * · « • · ·
1. F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa bil-der mer än högfrekventa bilder av nämnda beräknade panoramabild, • · • · · • ♦· 30 dä nämnda straffunktionskodorgan körs i databehandlingsenheten. 119080
30. Datorstyrt medium, innefattande en dataprogramprodukt enligt patentkrav 29, anpassat att definiera ett skarpt skikt av en panoramabild, dä nämnda dataprogramprodukt körs i databehandlingsenheten.
31. Dataprogramprodukt för att definiera en skarp bild utgäende frän en panora-5 mabild, som bildats av en mängd projektionsbilder, varvid: - nämnda dataprogramprodukt innefattar definierande kodorgan, som är anpassade att definiera konstruktionen av panoramabilden med ätminsto-ne tvä kritiska parametrar, den första parametem gäller den centrala ytan S av det skarpa skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) 10 hos det skarpa skiktet, dä nämnda definierande kodorgan körs i databe handlingsenheten, - nämnda dataprogramprodukt innefattar straffunktionskodorgan som är anpassade att definiera en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa alter-nativet för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera 15 nämnda straffunktion F(S, t) över hela parameterrymden, varvid nämnda straffunktion (F(S, t) är summan av F1(S) och F3(S, t), varvid
1. F1 (S) bestraffar förändringar i ytan S, och
2. F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa Μι··*: 20 der mer än högfrekventa bilder av nämnda beräknade panorama- • · :·. bild, • ·· 1 ··· dä nämnda straffunktionskodorgan körs i databehandlingsenheten. • · · • * * «·· .*·*. 32. Datorstyrt medium, innefattande en dataprogramprodukt enligt patentkrav 31, anpassat att definiera ett skarpt skikt av en panoramabild, dä nämnda datapro-··, 25 gramprodukt körs i databehandlingsenheten. • M • · ·
33. Dataprogramprodukt för att definiera ett skarpt skikt utgäende frän en pano-ramabild, som bildats av en mängd projektionsbilder, varvid: - nämnda dataprogramprodukt innefattar definierande kodorgan, som är :*·.· anpassade att definiera konstruktionen av panoramabilden med ätminsto- • · 30 ne tvä kritiska parametrar, den första parametern gäller den centrala ytan S av det skarpa skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) 119080 hos det skarpa skiktet, dä nämnda definierande kodorgan körs i databe-handlingsenheten, - nämnda dataprogramprodukt innefattar straffunktionskodorgan som är an-passade att definiera en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa alter-5 nativet för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera nämnda strafTunktion F(S, t) Over hela parameterrymden, varvid nämnda straffunktion (F(S, t) är summan av F2(t) och F3(S, t), varvid
1. F2(t) bestraffar förändringar i tjockleksfunktionen t(S), och
2. F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S 10 och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa bil- der mer än högfrekventa bilder av nämnda beräknade panoramabild, dä nämnda straffunktionskodorgan körs i databehandlingsenheten.
34. Datorstyrt medium, innefattande en dataprogramprodukt enligt patentkrav 33, 15 anpassat att definiera ett skarpt skikt av en panoramabild, dä nämnda dataprogramprodukt körs i databehandlingsenheten.
35. Dataprogramprodukt för att definiera ett skarpt skikt i en panoramabild, som .·. ; bildats av en mängd projektionsbilder, varvid: * ·· • * ·· φ : - nämnda dataprogramprodukt innefattar definierande kodorgan, som är · • *·· 20 anpassade att definiera konstruktionen av panoramabilden med ätminsto- (j ne tvä kritiska parametrar, den första parametern gäller den centrala ytan : S av det skarpa skiktet, och den andra parametern gäller tjockleken t(s) ««« .·*·. hos det skarpa skiktet, dä nämnda definierande kodorgan körs i databe handlingsenheten, ·· : *" 25 - nämnda dataprogramprodukt innefattar straffunktionskodorgan som är an- • · · passade att definiera en straffunktion F(S, t) för att erhälla det bästa alter-nativet för den centrala ytan och tjockleksfunktionen genom att minimera nämnda straffunktion F(S, t) över hela parameterrymden, varvid nämnda . straffunktion (F(S, t) är summan av F1 (S), F2(t) och F3(S, t), varvid φ · • ♦ « • #· • · 30 1) F1(S) bestraffar förändringar i ytan S,
2. F2(t) bestraffar förändringar i tjockleksfunktionen t(S), och 11 90.80
3. F3(S, t) beräknar först en panoramabild som motsvarar valen S och t(S) som getts som argument, och bestraffar lägfrekventa bil-der mer an högfrekventa bilder av nämnda beräknade panoramabild, 5 dä nämnda straffunktionskodorgan körs i databehandlingsenheten.
36. Datorstyrt medium, innefattande en dataprogramprodukt enligt patentkrav 35, anpassat att definiera ett skarpt skikt av en panoramabild som bildats av en mängd projektionsbilder, dä nämnda dataprogramprodukt körs i databehandlingsenheten. • · « · t • 1· • « • 1 « • · · * · • · ·« • · • ·· ··· • · • · ··· m • · « « 1 · *·1 • · · · • · ·« ·· • » • ·· * ·· • · • · • · · • · ® • Φ • · 1 ® ·· • · ·
FI20060732A 2005-08-18 2006-08-16 Metod och system för att fastställa en skarp panoramabild som är konstruerad från en grupp om projektionbilderna FI119080B (sv)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/207,165 US7860300B2 (en) 2005-08-18 2005-08-18 Method and system for determining a sharp panoramic image constructed from a group of projection images
US20716505 2005-08-18

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20060732A0 FI20060732A0 (sv) 2006-08-16
FI20060732L FI20060732L (sv) 2007-02-19
FI119080B true FI119080B (sv) 2008-07-15

Family

ID=36950636

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20060732A FI119080B (sv) 2005-08-18 2006-08-16 Metod och system för att fastställa en skarp panoramabild som är konstruerad från en grupp om projektionbilderna

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7860300B2 (sv)
KR (1) KR101299824B1 (sv)
DE (1) DE102006037423B4 (sv)
FI (1) FI119080B (sv)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI125008B (sv) * 2007-03-19 2015-04-30 Planmeca Oy Panoramaröntgenapparat och placering för panoramafotografering av ett skikt som ska avbildas
KR101021847B1 (ko) * 2008-12-17 2011-03-17 주식회사바텍 파노라마 영상획득 장치
EP2459070B1 (en) 2009-07-31 2020-03-25 Dental Imaging Technologies Corporation Panoramic dental imaging using segmentation and a master arch
US9091628B2 (en) 2012-12-21 2015-07-28 L-3 Communications Security And Detection Systems, Inc. 3D mapping with two orthogonal imaging views
DE102014223802A1 (de) * 2014-11-21 2016-05-25 Sirona Dental Systems Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bereitstellung von zwei digitalen Panoramaschichtbildern
US11443423B2 (en) * 2018-10-30 2022-09-13 Dgnct Llc System and method for constructing elements of interest (EoI)-focused panoramas of an oral complex
US11842484B2 (en) * 2021-01-04 2023-12-12 James R. Glidewell Dental Ceramics, Inc. Teeth segmentation using neural networks
US12136208B2 (en) 2021-03-31 2024-11-05 James R. Glidewell Dental Ceramics, Inc. Automatic clean up of jaw scans
US12210802B2 (en) 2021-04-30 2025-01-28 James R. Glidewell Dental Ceramics, Inc. Neural network margin proposal
US12295806B2 (en) 2022-01-10 2025-05-13 James R. Glidewell Dental Ceramics, Inc. Automatic determination of trim-line for aligners

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3007935A1 (de) * 1980-03-01 1981-09-17 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Dental-tomographiegeraet
JPS5894833A (ja) * 1981-12-01 1983-06-06 株式会社東芝 Ｘ線ｃｔ装置
JPS59155238A (ja) * 1983-02-24 1984-09-04 株式会社東芝 Ｘ線ｃｔ装置
DE3788184D1 (de) * 1986-09-26 1993-12-23 Siemens Ag Zahnärztliche Röntgendiagnostikeinrichtung zur Herstellung von Übersichtsaufnahmen von im Schädel verlaufenden Schichten.
JP2824602B2 (ja) 1990-10-05 1998-11-11 株式会社モリタ製作所 デジタルパノラマｘ線撮影装置
US7136452B2 (en) * 1995-05-31 2006-11-14 Goldpower Limited Radiation imaging system, device and method for scan imaging
FI104944B (sv) 1998-06-26 2000-05-15 Planmeca Oy Förfarande, anordningar och fotograferingsmod vid tomografisk avbildning
US6493415B1 (en) * 1999-03-25 2002-12-10 Nihon University X-ray computed tomography method and apparatus
JP3643745B2 (ja) * 2000-02-21 2005-04-27 株式会社モリタ製作所 Ｘ線撮影用検出器及びｘ線撮影装置
JP2002219879A (ja) * 2001-01-26 2002-08-06 Fuji Photo Film Co Ltd 画像形成材料、カラーフィルター形成材料、画像形成方法並びにカラーフィルター形成方法
JP3493021B2 (ja) * 2001-03-19 2004-02-03 富士写真フイルム株式会社 多色画像形成材料及び多色画像形成方法

Also Published As

Publication number Publication date
FI20060732A0 (sv) 2006-08-16
KR101299824B1 (ko) 2013-08-23
US20070041489A1 (en) 2007-02-22
FI20060732L (sv) 2007-02-19
KR20070021969A (ko) 2007-02-23
US7860300B2 (en) 2010-12-28
DE102006037423B4 (de) 2019-01-10
DE102006037423A1 (de) 2007-02-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US12478459B2 (en) Three-dimensional tooth modeling using an estimation of an imaging process of an x-ray imaging device
EP2258303B1 (en) System for creating an individual three-dimensional virtual tooth model
US7379584B2 (en) Methods for registration of three-dimensional frames to create three-dimensional virtual models of objects
US7740476B2 (en) Method and workstation for generating virtual tooth models from three-dimensional tooth data
US7068825B2 (en) Scanning system and calibration method for capturing precise three-dimensional information of objects
KR102725752B1 (ko) X-선 이미지를 보정하는 방법
FI119080B (sv) Metod och system för att fastställa en skarp panoramabild som är konstruerad från en grupp om projektionbilderna
US20020010568A1 (en) Orthodontic treatment planning with user-specified simulation of tooth movement
WO2019040927A1 (en) OPTIMIZATION METHOD IN ORTHODONTIC APPLICATIONS
US10478089B2 (en) Method for capturing a dental object
WO2020102479A1 (en) Methods and system for autonomous volumetric dental image segmentation
EP2833316B1 (en) Method and apparatus to generate a panoramic radiography
CN105326524B (zh) 可减少图像中的伪影的医学成像方法和装置
JP2019536605A (ja) 複数のｘ線画像から２ｄ画像を再構築する方法
KR102551167B1 (ko) 복수개의 치아에 대한 파노라마 이미지를 획득하는 방법, 디바이스 및 기록매체
US10531845B2 (en) Systems and methods for image correction in an X-ray device
JP7532379B2 (ja) パノラマ層画像を生成するための方法及び装置
Elshebiny et al. Intraoral Scanning
Kolokitha et al. Digital orthodontic systems
JP2003024320A (ja) 直線運動型ｘ線断層撮影装置
JP2019503743A (ja) 頭部計測画像を作成するための方法及びデバイス