FI110893B - Menetelmä ja järjestelmä näytteiden ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi - Google Patents

Menetelmä ja järjestelmä näytteiden ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi Download PDF

Info

Publication number
FI110893B
FI110893B FI20010435A FI20010435A FI110893B FI 110893 B FI110893 B FI 110893B FI 20010435 A FI20010435 A FI 20010435A FI 20010435 A FI20010435 A FI 20010435A FI 110893 B FI110893 B FI 110893B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
signal
sampling
fourier transform
interferogram
frequency
Prior art date
Application number
FI20010435A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI20010435A (fi
FI20010435A0 (fi
Inventor
Jyrki Kauppinen
Ismo Kauppinen
Original Assignee
Jyrki Kauppinen
Ismo Kauppinen
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jyrki Kauppinen, Ismo Kauppinen filed Critical Jyrki Kauppinen
Priority to FI20010435A priority Critical patent/FI110893B/fi
Publication of FI20010435A0 publication Critical patent/FI20010435A0/fi
Priority to PCT/FI2002/000161 priority patent/WO2002071014A1/en
Publication of FI20010435A publication Critical patent/FI20010435A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI110893B publication Critical patent/FI110893B/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

110893
Menetelmä ja järjestelmä näytteiden ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi
Esillä olevan keksinnön kohteena on menetelmä ja järjestelmä näytteiden 5 ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi, erityisesti ultraviolettialueella, kuten on esitetty yksityiskohtaisemmin oheisen itsenäisen patenttivaatimuksen johdanto-osassa.
Fourier-muunnosspektri lasketaan mitattujen tietojen, interferogrammin, perusteella. 10 Tallennettaessa interferogrammi tarvitaan tarkka tieto liikkuvan peilin asemasta. Nykyisessä standardimenetelmässä peilin liikkeen ilmaisemiseksi käytetään vertailulaseria peilin sijaintien määrittämiseksi. Tällä menettelytavalla taataan se, että näytteenotto tapahtuu tasavälein olevista pisteistä, mikä on olennaisen tärkeätä käytettäessä nopeaa Fourier-muunnosrutiinia (FFT - Fast Fourier Transform).
15 , , Mikäli mitatusta interferogrammista otetaan yksi näyte vertailulasersignaalin • · • V jokaisen nollan ylityksen kohdalla, mikä esimerkiksi He-Ne laseria käytettäessä merkitsee kahta näytettä per 632.8 nm, saadaan spektri, joka kattaa aaltolukualueen nollasta tiettyyn aaltoluvun maksimiarvoon v . Nyquistin näytteenottoteoreeman < · * : *' · 20 mukaan tämä maksimi riippuu vastavuoroisesti näytteenottovälistä Δχ: i · · • · • · » ν^=ΤΓ (Yhtälöt) • · 2Ax * < » • * • a •: * *: Tämä tarkoittaa sitä, että käyttämällä He-Ne laseria saadaan valetoistumaton, 25 aaltolukujen 0-15800 cm-1 välillä oleva spektri, joka on riittävä ainoastaan infrapuna-alueelle. Mikäli kuitenkin halutaan mitata näkyvällä tai » · :. ’': ultraviolettialueella olevia spektrejä, on vmax saatava suuremmaksi ja siis 2 110893 näytteenottoväli Δχ pienemmäksi. Tähän tarkoitukseen on jo käytetty useita menetelmiä.
Erilaisia menetelmiä FT-UV spektroskopian toteuttamiseksi on esitetty useiden 5 tekijöiden toimesta. Erään varhaisimmista esittivät Horlik ja Yuen [1]. Heidän järjestelmänsä perustuu alinäytteenottoon ja spektrien taittumisen sallimiseen.
Connes ja Michel [2] käyttivät ratkaisussaan neljännesaaltolevyjä ja polaroijia interferometrin kahdessa varressa kahden lasersignaalin muodostamiseksi 90° 10 vaihe-erolla. Ottamalla näyte kunkin signaalin jokaisella nollan ylityksellä saadaan neljä näytettä laserin yhtä aallonpituutta kohti. He-Ne laserilla tällöin muodostuisi noin 31600 cm-kn vapaa spektrialue.
Vuonna 1983 Burton, Mok ja Parker julkaisivat selvityksen, jossa he esittelivät 15 näytteenottojärjestelmän, joka perustui vaihelukitun silmukan käyttöön [3]. Vaihelukittu silmukka (PLL - Phase-locked loop) on tekniikka, jolla seurataan • · !' .* tulosignaalin taajuutta, muodostetaan taajuuteen verrannollinen jännite ja käytetään • jänniteohjattua oskillaattoria, joka tuottaa tulokseksi taajuuden halutun monikerran. Sitä voidaan siis käyttää laserin reunavälin alajakamiseksi millä tahansa kahden ’·’ 20 potenssilla. Oletetaan, että jakaja on 23. Tämä tarkoittaa sitä, että laserin yksittäinen aallonpituus jakautuu kahdeksaan osaan, joista kukin muodostaa kellopulssin. Tämän seurauksena vapaa spektrialue on nyt välillä 0-63200 cm PLL:n käytöstä • · *... seuraa kuitenkin se, että on välttämättä käytettävä liikkuvan peilin erittäin vakiona • ·
I > I
‘ . pysyvää nopeutta näytteenottovirheiden välttämiseksi. Tähän on syynä se, että PLL
• I
25 käyttää aina edellisen jakson taajuutta meneillään olevan jakson kellotaajuuden
» I I
määrittelemiseksi. Mikäli tällöin peilin nopeus on erilainen peräkkäisten jaksojen ; välillä, tapahtuu näytteenotto väärällä taajuudella ja kellovirheet vääristävät • * > • * spektrin.
3 110893
Braun [4] ja Thome [5] ovat käyttäneet Zeemannin jaettua laseria liikkuvan peilin aseman mittaamisessa. Kyseiset kaksi Zeeman-komponenttia on järjestetty toisistaan erilleen interferometrin molemmissa varsissa olevilla polaroijilla. Liikkuvan peilin nopeus mitataan sitten Doppler-siirtymän avulla interferometrin kahdesta varresta 5 tulevien uudelleen yhdistettyjen signaalien taajuudesta. Tämän järjestelmän etuna on se, että juovat jaetaan signaalin vaiheen eikä intensiteetin perusteella.
Esillä olevan keksinnön tarkoituksena on saada aikaan uusi, luotettava ja rakenteeltaan yksinkertainen menetelmä ja järjestelmä näytteiden ottamiseksi 10 interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi edullisesti ultraviolettialueella.
Tämän keksinnön erityisenä tarkoituksena on saada aikaan menetelmä ja järjestelmä, jotka voidaan toteuttaa käyttämällä analogista piiriä tai digitaalista 15 signaalin käsittelyä (DSP - Digital Signal Processing) reaaliaikaisesti.
Yllä esitetyt tarkoitukset saavutetaan järjestelmillä ja menetelmillä, jotka ovat ;'V tunnettuja niistä seikoista, jotka on esitetty oheisten itsenäisten patenttivaatimusten .:. tunnusmerkkiosissa.
O 20
Keksinnön erään edullisen suoritusmuodon mukaisesti menetelmään näytteiden • ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi, edullisesti ultraviolettialueella, käyttämällä vertailulaserin interferenssisignaalia, . / kuuluu vaihe, jossa interferenssisignaali korotetaan neliöön ainakin kerran signaalin 25 taajuuden moninkertaistamiseksi.
. \ Keksinnön erään edullisen suoritusmuodon mukaisessa menetelmässä neliöön .*·. korottamisen aikana signaaliin lisätty vakiokomponentti poistetaan.
Vakiokomponentti poistetaan edullisesti käyttämällä esimerkiksi 30 ylipäästösuodatinta.
4 110893
Neliöön korottaminen suoritetaan edullisesti n kertaa ja vakiokomponentti poistetaan jokaisen neliöön korottamisen jälkeen.
Keksinnön erään edullisen suoritusmuodon mukaan järjestelmä näytteiden 5 ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi, edullisesti ultraviolettialueella, käyttämällä laserinterferenssisignaalia käsittää välineet interferenssisignaalin korottamiseksi neliöön ainakin kerran signaalin taajuuden moninkertaistamiseksi. Lisäksi keksinnön mukaiseen järjestelmään kuuluu edullisesti välineet neliöön korottamisen aikana signaaliin lisätyn 10 vakiokomponentin poistamiseksi.
Signaalin käsittely keksinnön mukaisessa menetelmässä voidaan tehdä reaaliaikaisesti, jolloin näytteenottosignaali seuraa tarkasti peilin liikettä.
15 Menetelmän etuja ovat voimakas ja tarkka näytteenottosignaali, rakenteen yksinkertaisuus ja toteutuksen alhaiset kustannukset. Tämä menetelmä ratkaisee PLL:n (Phase-locked loop) käytössä esiintyvän ongelman, joka on se, että peilin ,:, nopeuden muutokset ilmenevät vääristyminä spektrissä.
·:··: 20 Keksintöä selvitetään seuraavaksi yksityiskohtaisemmin viittaamalla oheiseen • · * piirustukseen, jossa • · · > · t • · *,.; kuvio 1 esittää kaaviomaisesti interferometrin optista järjestelyä, • » • t kuvio 2 esittää kaaviomaisesti interferogrammin näytteenoton periaatetta, ft 25 kuviot 3A-D esittävät kaaviomaisesti interferenssisignaalia, • i » •, kuvio 4 esittää kaaviomaisesti kuvan käsitellystä näytteenottosignaalista ja
I t I
kuvio 5 esittää kaaviomaisesti elohopeaspektrilampun emissiospektriä, joka on rekisteröity karuselli-interferometrillä käyttäen keksinnön mukaista näytteenottomenetelmää.
* * I
5 110893
Kuviossa 1 on esitetty yllämainitun interferometrin optinen järjestely, johon tyypillisesti kuuluu UV-lähde, laserlähde, liikkuva peili, kiinteä peili ja säteen jakaja ja jota käytetään tekniikan tason mukaisissa menetelmissä peilin liikkeen ilmaisemiseksi käyttämällä vertailulasersignaalia peilin aseman määrittämiseksi. 5 Interferometrin optisen radan ero x on 2d.
Interferogrammin näytteenotto suoritetaan ottamalla yksi näyte He-Ne lasersignaalin jokaisen nollan ylityksen kohdalla, kuten kuviossa 2 on esitetty. Näytteenottoväliä Δχ rajoittaa laserin aallonpituus.
10
Keksinnön eräs edullinen suoritusmuoto käsittelee interferometrian erottelukyvyltään alhaisia sovelluksia, esim. karuselli-interferometriä [6]. Tällaisia vähän tilaa vieviä välineitä hyödynnetään erityisesti siirrettävissä Fourier-analysaattoreissa. Tämä seikka asettaa erityisvaatimuksia kaikelle tekniikalle 15 spektrometriassa. UV-alueella laserin juovien näytteenotto ja alijakaminen vaatii erityistä huomiota, koska liikkuvan peilijärjestelmän nopeus voi vaihdella useista * · * t t ;; · syistä. Käytännössä se merkitsee sitä, että näytteenoton pitää seurata peilin liikettä ! reaaliaikaisesti.
• ( | • · :··· 20 Vertailulaserin interferenssisignaali on kosiniaalto, jolla on tietty amplitudi A ja aaltoluku v0 (katso kuvio 3a). Antamalla x:n olla optisen radan ero voidaan signaali ilmaista yhtälöllä • * * » ti» • /0(jc) = Acos 2πν0χ (Yhtälö 2) .···’ 25 • · · jossa aaltoluku on aallonpituuden käänteisluku, v0 = —. Havaitun signaalin taajuus
‘;' *. K
» · » • · · /„ riippuu aaltoluvusta ja liikkuvan peilin nopeudesta vm 6 110893 f0=v0vm (Yhtälö 3) Käyttämällä yhtälöä (3) voidaan yhtälö (2) nyt kirjoittaa muodossa, joka ilmaisee signaalin taajuuden.
5 70 (x) = A cos 2π f0 — (Yhtälö 4) vm
Mikäli yhtälön (2) mukainen signaali nyt kerrotaan itsellään tai toisin sanoen korotetaan se neliöön, saadaan uusi signaali 10 I\(x) = A2 cos2 2πν0χ (Yhtälö 5) joka voidaan ilmaista muodossa 15 7j(x)= A2 ~[cos2(27zv0x)+l] !!V =—42cos2^(2v0)x +—A2 (Yhtälö 6) * * 3 3 »*» *·*·* Sijoittamalla taas vQ yhtälöstä (3) saadaan yhtälö (6) muodossa 20 Il(x) = -A2cos2n(2f0)— + -A2. (Yhtälö 7) : 2 vm 2 . Nyt voidaan todeta, että taajuus yhtälössä (7) on kaksinkertaistunut verrattuna : ’ ‘ *: taajuuteen yhtälössä (4). Samoin voidaan todeta, että signaalin korottaminen neliöön i on tuottanut vakiotermin —A2 (katso kuvio 3b). Eliminoimalla vakiotermi —A2 2 2 25 7,(x):stä saadaan signaali, jolla on kaksinkertainen taajuus verrattuna 70(x):ään 7 110893 (katso kuvio 3c). Suorittamalla jälleen neliöön korottaminen ja vakion poistaminen saadaan näytteenottosignaali, jonka taajuus on nelinkertainen verrattuna alkuperäiseen He-Ne lasersignaaliin l0(x) (katso kuviot 3d ja 4). Tämä antaa valetoistumattoman spektrialueen aina 63200 cm-1 asti.
5
Olennaisen tärkeä seikka yllä esitetyissä kaavoissa on se, että korottamalla kosinisignaali neliöön saadaan uusi kosinisignaali, jonka taajuus on kaksi kertaa suurempi kuin ensimmäisen. Näin ollen, jos käytetään elektroniikkaa moninkertaistamisen suorittamiseksi, on mahdollista rakentaa vahvistin, joka 10 muuttaa vertailulaserin interferenssisignaalin signaaliksi, jolla on 2":llä monikertaistettu taajuus, jossa n on kertojapiirien lukumäärä.
Eräs esimerkki keksinnön mukaista näytteenottomenetelmää käyttämällä tallennetusta UV-spektristä on esitetty kuviossa 5.
15
Keksinnön mukainen järjestelmä voidaan rakentaa sähköisenä piirilevynä. Eräs keksinnöllisen ajatuksen testaamiseksi rakennettu piirilevy sisälsi kolme identtistä » I t I t :v. astetta, joista kukin korotti tulosignaalinsa neliöön. Moninkertaistuja piirilevyyn • » ·· tuotiin fotodiodin signaali, joka mittasi He-Ne laserin interferenssisignaalin.
: 20 Ulostulona järjestelmä antoi kolmanteen potenssiin korotetun He-Ne signaalin, * * ': jonka taajuus oli siis kolme kertaa suurempi kuin tulosignaalin.
1 t
) I
. , Elektroniikka toteutettiin kaupallisesti saatavissa olevilla integroiduilla piireillä.
, ·. Analoginen kerroinpiiri oli AD633, jota valmistaa Analog Devices, Inc.
’ t 25 Kerroinpiirien välissä oli oltava ulkopuolisia komponentteja vakiotason .··, poistamiseksi (katso yhtälö 7) ja signaalin vahvistamiseksi. DC:n poistamiseksi , käytettiin yksinkertaisia RC-suodattimia ja vahvistimet olivat yleiskäyttöön 5 I > tarkoitettuj a vahvistimia (TL081).
*» * 8 110893
Ennen ensimmäistä kerronta-astetta sijaitsee suodatin DC-tason poistamiseksi tulosignaalista. Tämän jälkeen signaali tuodaan AD633:n kumpaankin tulokanavaan, josta ulostuloksi muodostuu neliöön korotettu signaali, kuten yhtälössä (7) on esitetty. AD633:n ottosiirtymän eliminoimiseksi käytetään kunkin 5 kertojan negatiivisissa tulonavoissa siirtymän tasausta. Jokaisen AD633:n jälkeen on DC-taso suodatettava ja sen jälkeen signaali vahvistetaan TL081:llä.
Keksintö ei rajoitu yllä esitettyihin ja kuvattuihin suoritusmuotoihin, vaan sitä voidaan muunnella monin tavoin oheisissa patenttivaatimuksissa määritellyn 10 keksinnön suojapiirin rajoissa.
• · 9 110893
Viitteet:
[1] G. Horlick and W. K. Yuen, "Atomic spectrochemical measurements with a Fourier transform spectrometer", Anal. Chem. 47, 775A-781A
5 (1975).
[2] P. Connes and G. Michel, "Astronomical Fourier spectrometer", Appi. Opt. 14,2067-2084 (1975).
10 [3] N. J. Burton, C. L. Mok, and T. J. Parker, "Laser-controlled sampling in a
Fourier spectrometer for the visible and ultraviolet using a phase-locked loop", Opt. Commun. 45, 367-371 (1983).
[4] J. W. Brault, "Solar Fourier transform spectroscopy", Ossni. Mem. Oss.
15 Astrofis. Arcetri 106, 33-50 (1979).
[5] A.P. Thome, C. J. Harris, I. Wynne-Jones, R. C. M. Learner, and G. Cox, !;'. ’ "A Fourier transform spectrometer for the vacuum ultraviolet: design and .:. performance", J. Phys. E: Sci. Instrum. 20, 54-60 (1987).
f·’: 20 ·:·: [6] J. K. Kauppinen, I. K. Salomaa, and J. O. Partanen, "Carousel :..interferometer", Appi. Opt. 34, 6081-6085 (1995).
• i ·

Claims (6)

110893 ίο
1. Menetelmä näytteiden ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi, edullisesti ultraviolettialueella, käyttämällä 5 laserinterferenssisignaalia, tunnettu siitä, että interferenssisignaali korotetaan neliöön ainakin kerran signaalin taajuuden moninkertaistamiseksi.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että neliöön korottamisen aikana signaaliin lisätty vakiokomponentti poistetaan.
3. Patenttivaatimuksen 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että vakiokomponentti poistetaan käyttämällä ylipäästösuodatinta.
4. Jonkin edellä olevan patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, 15 että neliöön korottaminen suoritetaan n kertaa ja vakiokomponentti poistetaan jokaisen neliöön korottamisen jälkeen.
5. Järjestelmä näytteiden ottamiseksi Fourier-muunnosspektristä, edullisesti ultraviolettialueella, käyttämällä laserinterferenssisignaalia, tunnettu siitä, että 20 järjestelmään kuuluu välineet interferenssisignaalin korottamiseksi neliöön ainakin ':' ’: kerran signaalin taajuuden moninkertaistamiseksi.
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että järjestelmään kuuluu välineet neliöön korottamisen aikana signaaliin lisätyn vakiokomponentin 25 poistamiseksi. » · π 110893
FI20010435A 2001-03-05 2001-03-05 Menetelmä ja järjestelmä näytteiden ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi FI110893B (fi)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20010435A FI110893B (fi) 2001-03-05 2001-03-05 Menetelmä ja järjestelmä näytteiden ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi
PCT/FI2002/000161 WO2002071014A1 (en) 2001-03-05 2002-03-04 A method and a system for sampling an interferogram to obtain a fourier transform spectrum

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20010435 2001-03-05
FI20010435A FI110893B (fi) 2001-03-05 2001-03-05 Menetelmä ja järjestelmä näytteiden ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20010435A0 FI20010435A0 (fi) 2001-03-05
FI20010435A FI20010435A (fi) 2002-09-06
FI110893B true FI110893B (fi) 2003-04-15

Family

ID=8560622

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20010435A FI110893B (fi) 2001-03-05 2001-03-05 Menetelmä ja järjestelmä näytteiden ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi

Country Status (2)

Country Link
FI (1) FI110893B (fi)
WO (1) WO2002071014A1 (fi)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2078939A1 (en) * 2008-01-11 2009-07-15 FOSS Analytical A/S Interferometer
JP6885233B2 (ja) * 2017-07-07 2021-06-09 株式会社島津製作所 フーリエ変換赤外分光光度計

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4511986A (en) * 1982-08-30 1985-04-16 International Business Machines Method and apparatus for simultaneously recording multiple FT-IR signals
DE69631530T2 (de) * 1996-10-09 2004-07-08 Perkin-Elmer Ltd., Beaconsfield Interferogrammdigitalisierung für die Fouriertransformationsspektroskopie
US5838438A (en) * 1997-01-17 1998-11-17 University Of Central Florida Method of time-resolving fourier-transform spectroscopy to allow interferogram sampling at unevenly spaced path-length differences.

Also Published As

Publication number Publication date
WO2002071014A8 (en) 2003-12-04
FI20010435A (fi) 2002-09-06
WO2002071014A1 (en) 2002-09-12
FI20010435A0 (fi) 2001-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Marti et al. Imaging optical frequencies with 100 μ Hz precision and 1.1 μ m resolution
Iaconis et al. Self-referencing spectral interferometry for measuring ultrashort optical pulses
JP5711123B2 (ja) 周波数コム光源を有するフーリエ変換分光計
US7230711B1 (en) Envelope functions for modulation spectroscopy
Masutani et al. Asynchronous time-resolved Fourier transform infrared spectroscopy
CN110553993B (zh) 一种光谱测量系统及多外差拍频信号探测及数据处理方法
Anderson et al. SPIDER: A decade of measuring ultrashort pulses
CN108459040B (zh) 基于金刚石nv色心的磁悬浮加速度计的差分检测方法
Alorifi et al. Analysis and Detection of a Target Gas System Based on TDLAS & LabVIEW.
Searles et al. Searching for naphthalene cation absorption in the interstellar medium
CN105021904B (zh) 一种基于dds移相技术的快速相位噪声测量系统及测量方法
FI110893B (fi) Menetelmä ja järjestelmä näytteiden ottamiseksi interferogrammista Fourier-muunnosspektrin muodostamiseksi
Ade et al. An absolute dual beam emission spectrometer
Rubenstein et al. Search for off-diagonal density matrix elements for atoms in a supersonic beam
Wang Sensitive digital lock‐in amplifier using a personal computer
White et al. Noise in measurements obtained by sampling
US4907885A (en) Heterodyne laser diagnostic system
Lerner Fourier transform infrared spectrometery: an undergraduate experiment
JP3544901B2 (ja) 光信号電界の時間波形測定方法及び装置
Nafie et al. Differential Absorption At High Modulation Frequencies Using A Fourier Transform Infrared Spectrometer
Cummins Light beating spectroscopy
Liang et al. Simulation and experiment of the static FTIR based on micro multi-step mirrors
Wang et al. Removing baseline and apodization in process of data retrieval of Doppler asymmetric spatial heterodyne spectrometer
Pozhar et al. AOTF spectrometer for real-time differential spectroscopy
JP2970700B2 (ja) パルス光源を用いたフーリエ変換分光法

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed