FI108889B - Förfarande för mätning av temperatur på ett vidsträckt område med hjälp av en tunnelanslutning - Google Patents

Förfarande för mätning av temperatur på ett vidsträckt område med hjälp av en tunnelanslutning Download PDF

Info

Publication number
FI108889B
FI108889B FI20000982A FI20000982A FI108889B FI 108889 B FI108889 B FI 108889B FI 20000982 A FI20000982 A FI 20000982A FI 20000982 A FI20000982 A FI 20000982A FI 108889 B FI108889 B FI 108889B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
tunnel
temperature
resistance
constant
calibrated
Prior art date
Application number
FI20000982A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20000982A (sv
FI20000982A0 (sv
Inventor
Jukka Pekola
Kurt Gloos
Original Assignee
Jukka Pekola
Kurt Gloos
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jukka Pekola, Kurt Gloos filed Critical Jukka Pekola
Priority to FI20000982A priority Critical patent/FI108889B/sv
Publication of FI20000982A0 publication Critical patent/FI20000982A0/sv
Priority to AU2001256394A priority patent/AU2001256394A1/en
Priority to EP01929688A priority patent/EP1295094A1/en
Priority to US10/258,629 priority patent/US6784012B2/en
Priority to PCT/FI2001/000395 priority patent/WO2001081881A1/en
Publication of FI20000982A publication Critical patent/FI20000982A/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI108889B publication Critical patent/FI108889B/sv

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
    • G01K7/226—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor using microstructures, e.g. silicon spreading resistance

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Claims (7)

1. Ett förfarande för mätning av temperaturen T över ett stort omräde med hjälp av tunnelkopplingen (10), där tunnelkopplingen (10) utgörs av tvä metalliska ledare (7, 8) ooh en tunn isole-ring (9) mellan dessa, med vilken den befintliga resistansen R kan mätäs, kännetecknad av att resistansen R mäts pä 15 spänning/strömkruvans linjära del, och temperaturen T bestäms med hjälp av formeln: !__L f_d\ R~ &/1+Ιτν '' där R0 är en i förväg kalibrerad konstant och T0 en material-konstant. I 20
2. Ett förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att isolermaterialet (9) är den ena av ledarnas oxid.
3. Ett förfarande enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknat av 25 att minst en ledare (7, 8) är framställd av ett material som hör till gruppen aluminium (Ai), krom (Cr), niobium (Nb) och koppar (Cu).
4. Ett förfarande enligt nägot av patentkraven 1-3, känne-30 tecknat av att mätningen utförs med användning av en kedja (4) av flera tunnelkopplingar (10), eller flera sädana kedjor (4.1 - 4.10) kopplade parallellt. 108889
5. Ett förfarande enligt patentkrav 4, kännetecknat av att den resistans R som skall mätäs är anordnad i omrädet 10 kQ - 1000 kQ.
6. Ett förfarande enligt nägot av patentkraven 1-5, kännetecknat av att mätningen utförs med en lägfrekvent växelspän-ning, vars amplitud ligger inom omrädet 0,1 - 10 mV, för varje tunnelkoppling i kedjan .
7. Ett förfarande enligt nägot av patentkraven 1-6, kännetecknat av att mätningen kalibreras genom att avkyla den tunnelkoppling som skall mätäs tili en mycket läg temperatur, varvid den kalibrerbara konstanten R0 direkt erhälls med god nogrannhet ur den uppmätta resistansen R. 15 1
FI20000982A 2000-04-27 2000-04-27 Förfarande för mätning av temperatur på ett vidsträckt område med hjälp av en tunnelanslutning FI108889B (sv)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20000982A FI108889B (sv) 2000-04-27 2000-04-27 Förfarande för mätning av temperatur på ett vidsträckt område med hjälp av en tunnelanslutning
AU2001256394A AU2001256394A1 (en) 2000-04-27 2001-04-25 Method for measuring temperature in a wide range using a tunnel junction
EP01929688A EP1295094A1 (en) 2000-04-27 2001-04-25 Method for measuring temperature in a wide range using a tunnel junction
US10/258,629 US6784012B2 (en) 2000-04-27 2001-04-25 Method for measuring temperature in a wide range using a tunnel junction
PCT/FI2001/000395 WO2001081881A1 (en) 2000-04-27 2001-04-25 Method for measuring temperature in a wide range using a tunnel junction

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20000982A FI108889B (sv) 2000-04-27 2000-04-27 Förfarande för mätning av temperatur på ett vidsträckt område med hjälp av en tunnelanslutning
FI20000982 2000-04-27

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20000982A0 FI20000982A0 (sv) 2000-04-27
FI20000982A FI20000982A (sv) 2001-10-28
FI108889B true FI108889B (sv) 2002-04-15

Family

ID=8558286

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20000982A FI108889B (sv) 2000-04-27 2000-04-27 Förfarande för mätning av temperatur på ett vidsträckt område med hjälp av en tunnelanslutning

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6784012B2 (sv)
EP (1) EP1295094A1 (sv)
AU (1) AU2001256394A1 (sv)
FI (1) FI108889B (sv)
WO (1) WO2001081881A1 (sv)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE0004334D0 (sv) * 2000-11-24 2000-11-24 Sahltech Ab Electron spectroscopy
JP4009520B2 (ja) * 2002-11-05 2007-11-14 日東電工株式会社 温度測定用フレキシブル配線回路基板
US9267851B2 (en) * 2012-06-29 2016-02-23 Ut-Battelle, Llc Single-contact tunneling thermometry
US9285279B2 (en) * 2012-09-06 2016-03-15 Ut-Battelle, Llc Electronic thermometry in tunable tunnel junction

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0375465B1 (en) 1988-12-23 1996-02-14 Nippon Steel Corporation Superconducting tunnel junction radiation sensing device and Josephson device
JP2799036B2 (ja) * 1990-03-26 1998-09-17 新日本製鐵株式会社 放射線検出素子および放射線検出器
US5634718A (en) 1994-07-27 1997-06-03 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Particle calorimeter with normal metal base layer
FI102695B1 (sv) 1996-06-11 1999-01-29 Nanoway Oy Temperaturmätare baserad på CB-tunneling
US6104045A (en) 1998-05-13 2000-08-15 Micron Technology, Inc. High density planar SRAM cell using bipolar latch-up and gated diode breakdown
US6225165B1 (en) 1998-05-13 2001-05-01 Micron Technology, Inc. High density SRAM cell with latched vertical transistors
US6229161B1 (en) 1998-06-05 2001-05-08 Stanford University Semiconductor capacitively-coupled NDR device and its applications in high-density high-speed memories and in power switches

Also Published As

Publication number Publication date
US6784012B2 (en) 2004-08-31
FI20000982A (sv) 2001-10-28
FI20000982A0 (sv) 2000-04-27
WO2001081881A1 (en) 2001-11-01
EP1295094A1 (en) 2003-03-26
US20030094655A1 (en) 2003-05-22
AU2001256394A1 (en) 2001-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5739686A (en) Electrically insulating cantilever magnetometer with mutually isolated and integrated thermometry, background elimination and null detection
Clement et al. The Low Temperature Characteristics of Carbon‐Composition Thermometers
KR100204872B1 (ko) 횡형 홀소자
US11175190B2 (en) Device and method for the in-situ calibration of a thermometer
US6727563B1 (en) Offset-reduced hall element
FI108889B (sv) Förfarande för mätning av temperatur på ett vidsträckt område med hjälp av en tunnelanslutning
Kimling et al. Field-dependent thermal conductivity and Lorenz number in Co/Cu multilayers
Herin et al. Measurements on the thermoelectric properties of thin layers of two metals in electrical contact. Application for designing new heat-flow sensors
Reisdorffer et al. Thermal conductivity of organic semi-conducting materials using 3omega and photothermal radiometry techniques
FI102695B (sv) Temperaturmätare baserad på CB-tunneling
Adamschik et al. Analysis of piezoresistive properties of CVD-diamond films on silicon
Elmquist et al. Direct resistance comparisons from the QHR to100 M/spl Omega/using a cryogenic current comparator
US8727609B2 (en) Method for the thermal characterization of a portion of material
Cabassi et al. Dielectric properties of doping-free Na Mn 7 O 12: Origin of the observed colossal dielectric constant
US6771083B1 (en) Poole-frenkel piezoconductive element and sensor
RU2390879C1 (ru) Полевой датчик холла
Ihas et al. Low temperature thermometry in high magnetic fields
He et al. Exceptionally accurate large graphene quantum Hall arrays for the new SI
JPH03273122A (ja) 強磁界用温度センサ
JPS5924999Y2 (ja) 導電率計
Ding et al. Measurement Techniques of Thermoelectric‐related Performance
Prakash et al. An apparatus for the measurement of thermal expansion of solids at low temperatures
Snyder et al. A precision capacitance cell for measurement of thin film out-of-plane expansion. III. Conducting and semiconducting materials
CN117147009A (zh) 一种热电势指零法校准固态量子温度计的装置及方法
SU1064158A1 (ru) Способ измерени температуры поверхности электронагревател посто нного тока

Legal Events

Date Code Title Description
MA Patent expired