FI108889B - Menetelmä lämpötilan mittaamiseksi laajalla alueella tunneliliitosta hyväksikäyttäen - Google Patents

Menetelmä lämpötilan mittaamiseksi laajalla alueella tunneliliitosta hyväksikäyttäen Download PDF

Info

Publication number
FI108889B
FI108889B FI20000982A FI20000982A FI108889B FI 108889 B FI108889 B FI 108889B FI 20000982 A FI20000982 A FI 20000982A FI 20000982 A FI20000982 A FI 20000982A FI 108889 B FI108889 B FI 108889B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
tunnel
temperature
resistance
constant
calibrated
Prior art date
Application number
FI20000982A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI20000982A0 (fi
FI20000982A (fi
Inventor
Jukka Pekola
Kurt Gloos
Original Assignee
Jukka Pekola
Kurt Gloos
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jukka Pekola, Kurt Gloos filed Critical Jukka Pekola
Priority to FI20000982A priority Critical patent/FI108889B/fi
Publication of FI20000982A0 publication Critical patent/FI20000982A0/fi
Priority to US10/258,629 priority patent/US6784012B2/en
Priority to EP01929688A priority patent/EP1295094A1/en
Priority to AU2001256394A priority patent/AU2001256394A1/en
Priority to PCT/FI2001/000395 priority patent/WO2001081881A1/en
Publication of FI20000982A publication Critical patent/FI20000982A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI108889B publication Critical patent/FI108889B/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/22Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
    • G01K7/226Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor using microstructures, e.g. silicon spreading resistance

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

108889
MENETELMÄ LÄMPÖTILAN MITTAAMISEKSI LAAJALLA ALUEELLA TUNNELI-LIITOSTA HYVÄKSIKÄYTTÄEN
Keksinnön kohteena on menetelmä lämpötilan mittaamiseksi laa-5 jalla alueella tunneliliitosta hyväksikäyttäen, jossa tunneli-liitos käsittää kaksi metallista johdetta ja niiden välisen ohuen eristeen, jolla on mitattavissa oleva resistanssi.
Suomalaisesta patentista nro 102695 (vastaava US-patentti nro 10 5,947,601) tunnetaan Coulombin saartoon perustuva lämpömittari. Tämä Coulombin saartona (Coulomb blockade) tunnettu ilmiö aiheuttaa bias-jännitteen nollakohdassa konduktanssikuopan, jonka karakteriset suureet ovat riippuvaisia lämpötilasta. Tällaisen konduktanssikuopan havaitseminen on kuitenkin mahdollista vain 15 alhaisissa lämpötiloissa ja menetelmää on vaikea soveltaa yli 20 K lämpötilassa. Edellä mainitussa patentissa esitetään pienimmän tunneliliitoskoon avulla päästävän mittausalueelle 1 -100 K, mutta käytännössä tämä on erittäin vaikea toteuttaa. Niinpä on etsitty läheistä tekniikkaa, jolla päästäisiin aina 20 huonelämpötila-alueelle saakka.
Keksinnön mukaisen menetelmän tunnusmerkilliset piirteet on esitetty oheisissa patenttivaatimuksissa. Keksintö perustuu paljolti siihen oivallukseen, että tunneliliitoksen konduktans-25 sin suhteellinen muutos on verrannollinen absoluuttisen lämpötilan neliöön ja verrannollisuuskerroin on riippumaton tunneli-liitoksen eristeen paksuudesta. Vaikka aiemmin tunnetun teorian mukaan neliöllinen riippuvuus oli odotettu, samalla ennustettiin riippuvuus eristeen paksuudesta, mikä ei havaintojen mu-30 kaan pidä paikkaansa. Keksinnön mukainen menetelmä lämpötilan mittaamiseksi vaatii ainoastaan yhden kalibrointipisteen, joka on mahdollista saada jäähdyttämällä anturi yksinkertaisesti hyvin alhaiseen lämpötilaan. Muut keksinnön edut ja sovellukset selviävät jäljempänä sovellusesimerkkien yhteydessä.
35 108889 2
Seuraavassa keksintöä kuvataan viittaamalla oheisiin kuviin, jotka esittävät keksinnön mukaisen menetelmän perusteita ja sovellusesimerkkej a.
5 Kuva 1 esittää tunneliliitoksen symbolia,
Kuva 2 esittää tunneliliitoksen rakennetta,
Kuva 3 esittää tunneliliitoksen konduktanssin mi tattua riippuvuutta lämpötilan neliöstä,
Kuva 4 esittää parannettua anturia, 10 Kuva 5 esittää kolmella anturilla varustettua mik ropiiriä .
Kuvan 1 mukaisella anturilla, joka käsittää vain yhden tunneli-liitoksen 10, on mahdollista mitata lämpötila laajalla alueella la, alarajan ollessa kymmenen Kelvinin luokkaa. Osoittautuu, että tunneliliitoksen lämpötilavaste ei ole lainkaan riippuvainen sen paksuudesta vaan ainoastaan materiaalista seuraavan kcisvcin mukaisesti.
11 f T)2 — = —-(1+ — ) R Roy \To) r 20 jossa R0 on ennalta kalibroitava vakio ja T3 on materiaalivakio. Tn on siten vakio kaikille antureille, joissa on käytetty samoja materiaaleja. Esimerkiksi Al-O-Al-liitokselle Tc= 725 K ±10 K.
Tunneliliitos 10 ja sen tarvitsemat johteet 7 ja 8 muodostetaan 25 puhtaalle piialustalle 1, kuva 2. Perusmateriaalin 1' pinnalle muodostetaan eristekerros 1" (oksidi- tai nitridikerros), jotta anturia voidaan käyttää myös huonelämpötilassa. Elektronisuih-kulitografiän avulla muodostetaan vaiheittain johdekerros 8, eristekerros 9 ja toinen johdekerros 7. Tunneliliitos 10 muo-30 dostuu johteiden 7 ja 8 yhtymäkohtaan, jossa niiden välissä on noin 1 nm paksuinen eristekerros. Kuvassa eristekerroksen 9 paksuutta on liioiteltu. Johteiden 7 ja 8 paksuus on nimittäin noin 100 nm. Alumiinioksidinen eristekerros luo 2 eV:n korkui- 108889 3 sen potentiaalivallin, jota johdeaineen elektronit eivät klassisen fysiikan mukaan pysty ylittämään. Kvanttimekaanisen tunneli-ilmiön johdosta voidaan kuitenkin havaita jännitteen funktiona virta, joka on verrannollinen lämpötilan neliöön.
5 Mittausjännite on tyypillisesti 1 mV:n (AC) luokkaa ketjun liitosta kohden ja mitattava resistanssi on alueella 10 kQ -1000 kQ.
Kuvassa 3 on esitetty erään Al-O-Al-rakenteisen lämpötila-antu-10 rin konduktanssin ja lämpötilan välinen riippuvuus. Konduk- tanssi on varsin tarkoin lineaarinen lämpötilan neliön suhteen. Tässä tapauksessa suora noudattaa yhtälöä: 1 1 1,1
W) = n222 m +6l3m T W
- 32.222(1 +(0>725[*k-], Jälkimmäinen vastaa yleistä muotoa: 11 f T)2 — =—(1+ — ) ΊΚ Roy V7V 7 15 , jossa R.: on ennalta kalibroitu vakio riippuen tunneliliitoksen mitoista ja T0 on materiaalivakio. Kalibroitava vakio voidaan mitata esimerkiksi veden kolmoispisteen avulla tai yksinkertaisesti vain jäähdyttämällä anturi oleellisesti alempaan lämpöti-20 laan kuin alin mittauslämpötila, jolloin lämpötilatermi häviää merkityksettömäksi ja mittaus kertoo suoraan R0:n arvon. Jos primäärinen CB- anturi on käytettävissä ja mittausalueet limittyvät keskenään, kalibrointipiste saadaan tätä kautta.
4 1 n 8 8 8 9
Osoittautuu, että vakio T, riippuu johdemateriaalista, joina voidaan käyttää alumiinia, kromia, niobiumia ja kuparia tai näiden yhdistelmiä. Kromi ja niobium ovat tässä erityisen edullisia, koska piiri on nykytekniikalla valmistettavissa ja ne 5 antavat voimakkaamman lämpötilavasteen kuin alumiini. Oksidi-kerros on yleensä ensimmäiseksi höyrystetyn johdemateriaalin oksidi.
Mittausteknisistä syistä mitattava resistanssi sovitetaan, 10 kuten edellä selostettiin, edullisimmin alueelle 10 kQ - 1000 kQ ja käytetään matalataajuista (f = 10 - 100 Hz), pientä AC-jännitettä (V = 0,1 - 10 mV jokaista ketjussa olevaa tunneli-liitosta kohden). Tällöin käytetään edullisesti kuvan 4 mukaista anturia, joka voi olla sama kuin CB-lampömittarissa käytet-15 tävä anturi. Mittaustapa muutetaan vastaamaan uutta menetelmää. Mittauspiiri 4 käsittää 10 rinnakkain kytkettyä identtistä tunneliliitosketjua 4.1 ... 4.10, kussakin 20 tunneliliitosta. Kun yhden ketjun resistanssi on 400 kQ, koko piirin resistanssi on enää 40 kQ. Maksimissaan kokonaisresistanssi saa olla CB-20 lämpömittarissa korkeintaan 150 kQ. Edullisimmin ketjuja on rinnakkain 4 tai 5, jolloin valmistus ei tule kohtuuttoman vaikeaksi, mutta piirin resistanssi putoaa alle 100 kQ:n. Tällainen anturi soveltuu hyvin myös tässä esitettyyn uuteen käyttöön .
25
Useimmiten tavoitteena on aikaansaada mittauslaitteisto, jolla voidaan mitata lämpötiloja erittäin laajalla alueella. Tämä saavutetaan edullisesti kuvan 5 mukaisella anturilla, jossa on esimerkiksi kaksi anturia 4', , jotka toimivat tunnetulla 30 CB-tunnelointiin perustuvina lämpömittareina ja yksi tämän keksinnön mukainen anturi 4, jolla ulotetaan lämpötila-alue aina huonelämpötila-alueelle tai jopa korkeammalle. Eri antureilla voi olla yksi yhteinen elektrodi 2 ja kullakin yksi oma elektrodi 3, 3' ja 3’'. Luonnollisesti kaikki anturit voivat 35 toimia jopa molemmissa moodeissa, mutta lienee optimaalista sovittaa useimmat anturit yhteen moodiin.

Claims (7)

108889 s
1. Menetelmä lämpötilan T mittaamiseksi laajalla alueella tunneliliitosta (10) hyväksikäyttäen, jossa tunneliliitos (10) 5 käsittää kaksi metallista johdetta (7, 8) ja niiden välisen ohuen eristeen (9), jolla on mitattavissa oleva resistanssi R, tunnettu siitä, että mitataan resistanssi R jännite-virtakäyrän lineaarisella osalla, ja määritetään lämpötila T kaavalla: 1 1 ( T)\ R ~ ϊ?ο^1+ v ToJ ^ 10 jossa R0 on ennalta kalibroitu vakio ja T0 on materiaalivakio.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että eristemateriaali (9) on yhden johdemateriaalin oksidi.
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ainakin yksi johde (7, 8) on valmistettu materiaalista, joka kuuluu ryhmään alumiini (AI), kromi (Cr), niobium (Nb), kupari (Cu).
4. Jonkin patenttivaatimuksen 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittaus suoritetaan käyttämällä yhtä usean tun-neliliitoksen (10) ketjua (4) tai useampaa tällaista ketjua i (4.1 - 4.10) rinnakkain kytkettynä. i
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitattava resistanssi R on sovitettu alueelle 10 kQ - 1000 kQ.
6. Jonkin patenttivaatimuksen 1-5 mukainen menetelmä, tunnet-30 tu siitä, että mittaus suoritetaan matalataajuisella vaihtojännitteellä, jonka amplitudi on alueella 0,1 - 10 mV jokaista ketjussa olevaa tunneliliitosta kohden. j 108889
7. Jonkin patenttivaatimuksen 1-6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittaus kalibroidaan jäähdyttämällä mitattava tunneliliitos hyvin alhaiseen lämpötilaan, jolloin kalibroitava vakio R0 saadaan suoraan hyvällä tarkkuudella mitatusta resis-5 tanssista R.
FI20000982A 2000-04-27 2000-04-27 Menetelmä lämpötilan mittaamiseksi laajalla alueella tunneliliitosta hyväksikäyttäen FI108889B (fi)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20000982A FI108889B (fi) 2000-04-27 2000-04-27 Menetelmä lämpötilan mittaamiseksi laajalla alueella tunneliliitosta hyväksikäyttäen
US10/258,629 US6784012B2 (en) 2000-04-27 2001-04-25 Method for measuring temperature in a wide range using a tunnel junction
EP01929688A EP1295094A1 (en) 2000-04-27 2001-04-25 Method for measuring temperature in a wide range using a tunnel junction
AU2001256394A AU2001256394A1 (en) 2000-04-27 2001-04-25 Method for measuring temperature in a wide range using a tunnel junction
PCT/FI2001/000395 WO2001081881A1 (en) 2000-04-27 2001-04-25 Method for measuring temperature in a wide range using a tunnel junction

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20000982A FI108889B (fi) 2000-04-27 2000-04-27 Menetelmä lämpötilan mittaamiseksi laajalla alueella tunneliliitosta hyväksikäyttäen
FI20000982 2000-04-27

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20000982A0 FI20000982A0 (fi) 2000-04-27
FI20000982A FI20000982A (fi) 2001-10-28
FI108889B true FI108889B (fi) 2002-04-15

Family

ID=8558286

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20000982A FI108889B (fi) 2000-04-27 2000-04-27 Menetelmä lämpötilan mittaamiseksi laajalla alueella tunneliliitosta hyväksikäyttäen

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6784012B2 (fi)
EP (1) EP1295094A1 (fi)
AU (1) AU2001256394A1 (fi)
FI (1) FI108889B (fi)
WO (1) WO2001081881A1 (fi)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE0004334D0 (sv) * 2000-11-24 2000-11-24 Sahltech Ab Electron spectroscopy
JP4009520B2 (ja) * 2002-11-05 2007-11-14 日東電工株式会社 温度測定用フレキシブル配線回路基板
US9267851B2 (en) * 2012-06-29 2016-02-23 Ut-Battelle, Llc Single-contact tunneling thermometry
US9285279B2 (en) * 2012-09-06 2016-03-15 Ut-Battelle, Llc Electronic thermometry in tunable tunnel junction

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE68925684T2 (de) * 1988-12-23 1996-06-13 Nippon Steel Corp Supraleitende strahlungsempfindliche Vorrichtung mit Tunnelübergang, und Josephson Element
JP2799036B2 (ja) * 1990-03-26 1998-09-17 新日本製鐵株式会社 放射線検出素子および放射線検出器
US5634718A (en) 1994-07-27 1997-06-03 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Particle calorimeter with normal metal base layer
FI102695B1 (fi) * 1996-06-11 1999-01-29 Nanoway Oy CB-Tunnelointiin perustuva lämpömittari
US6225165B1 (en) 1998-05-13 2001-05-01 Micron Technology, Inc. High density SRAM cell with latched vertical transistors
US6104045A (en) 1998-05-13 2000-08-15 Micron Technology, Inc. High density planar SRAM cell using bipolar latch-up and gated diode breakdown
US6229161B1 (en) 1998-06-05 2001-05-08 Stanford University Semiconductor capacitively-coupled NDR device and its applications in high-density high-speed memories and in power switches

Also Published As

Publication number Publication date
US20030094655A1 (en) 2003-05-22
EP1295094A1 (en) 2003-03-26
FI20000982A0 (fi) 2000-04-27
US6784012B2 (en) 2004-08-31
FI20000982A (fi) 2001-10-28
WO2001081881A1 (en) 2001-11-01
AU2001256394A1 (en) 2001-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5739686A (en) Electrically insulating cantilever magnetometer with mutually isolated and integrated thermometry, background elimination and null detection
Clement et al. The Low Temperature Characteristics of Carbon‐Composition Thermometers
KR100204872B1 (ko) 횡형 홀소자
CA3049707C (en) Device and method for the in-situ calibration of a thermometer
JP3787644B2 (ja) シリコンウエファ素子の処理条件の検出装置、モニター用素子及び検出方法
US6727563B1 (en) Offset-reduced hall element
FI108889B (fi) Menetelmä lämpötilan mittaamiseksi laajalla alueella tunneliliitosta hyväksikäyttäen
Kimling et al. Field-dependent thermal conductivity and Lorenz number in Co/Cu multilayers
Herin et al. Measurements on the thermoelectric properties of thin layers of two metals in electrical contact. Application for designing new heat-flow sensors
CN104900557A (zh) 赛贝克系数测量结构、测量结构制备方法及测量方法
Reisdorffer et al. Thermal conductivity of organic semi-conducting materials using 3omega and photothermal radiometry techniques
FI102695B (fi) CB-Tunnelointiin perustuva lämpömittari
Elmquist et al. Direct resistance comparisons from the QHR to100 M/spl Omega/using a cryogenic current comparator
US7199435B2 (en) Semiconductor devices containing on-chip current sensor and methods for making such devices
US8727609B2 (en) Method for the thermal characterization of a portion of material
Cabassi et al. Dielectric properties of doping-free Na Mn 7 O 12: Origin of the observed colossal dielectric constant
US6771083B1 (en) Poole-frenkel piezoconductive element and sensor
RU2768987C1 (ru) Криогенный анализатор СВЧ-диапазона
RU2390879C1 (ru) Полевой датчик холла
He et al. Exceptionally accurate large graphene quantum Hall arrays for the new SI
JPS5924999Y2 (ja) 導電率計
Snyder et al. A precision capacitance cell for measurement of thin film out-of-plane expansion. III. Conducting and semiconducting materials
Bachmair Electrical metrology
JP2003075502A (ja) 熱電気測定装置及び熱電気測定方法
André et al. AC Nanocalorimeter on Self‐Standing Parylene Membrane

Legal Events

Date Code Title Description
MA Patent expired