ES3040071T3 - Apparatus and method for testing circuit board included in battery management system - Google Patents
Apparatus and method for testing circuit board included in battery management systemInfo
- Publication number
- ES3040071T3 ES3040071T3 ES19825696T ES19825696T ES3040071T3 ES 3040071 T3 ES3040071 T3 ES 3040071T3 ES 19825696 T ES19825696 T ES 19825696T ES 19825696 T ES19825696 T ES 19825696T ES 3040071 T3 ES3040071 T3 ES 3040071T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- capacitor
- voltage
- test
- time point
- resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2803—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] by means of functional tests, e.g. logic-circuit-simulation or algorithms therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2812—Checking for open circuits or shorts, e.g. solder bridges; Testing conductivity, resistivity or impedance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2813—Checking the presence, location, orientation or value, e.g. resistance, of components or conductors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
- H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
- H01M10/4285—Testing apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
- H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
- H01M10/48—Accumulators combined with arrangements for measuring, testing or indicating the condition of cells, e.g. the level or density of the electrolyte
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/64—Testing of capacitors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/70—Testing of connections between components and printed circuit boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/70—Testing of connections between components and printed circuit boards
- G01R31/71—Testing of solder joints
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
- H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
- H01M10/425—Structural combination with electronic components, e.g. electronic circuits integrated to the outside of the casing
- H01M2010/4271—Battery management systems including electronic circuits, e.g. control of current or voltage to keep battery in healthy state, cell balancing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
- Secondary Cells (AREA)
Abstract
Se proporciona un aparato y un método para probar una placa de circuito impreso (PCB) de un sistema de gestión de baterías. La placa de circuito impreso comprende: un primer punto de prueba conectado a un extremo de un primer elemento de resistencia, un extremo de un primer condensador y un extremo de un segundo elemento de resistencia; un segundo punto de prueba conectado al otro extremo del segundo elemento de resistencia y a un extremo de un segundo condensador; un tercer punto de prueba conectado al otro extremo del primer elemento de resistencia; y un cuarto punto de prueba conectado al otro extremo del primer condensador y al otro extremo del segundo condensador. El aparato determina una falla abierta en al menos uno de los condensadores, basándose en una primera tensión de diagnóstico entre los puntos de prueba primero y cuarto, y una segunda tensión de diagnóstico entre los puntos de prueba segundo y cuarto. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)
Description
DESCRIPCIÓN
Aparato y método para someter a prueba una placa de circuito incluida en un sistema de gestión de baterías
Sector de la técnica
La presente divulgación se refiere a un aparato y a un método para someter a prueba si un condensador montado en una placa de circuito incluida en un sistema de gestión de baterías tiene un fallo de circuito abierto.
Antecedentes de la invención
Recientemente, hay una demanda notablemente creciente de productos electrónicos portátiles, tales como ordenadores portátiles, cámaras de vídeo y teléfonos móviles, y con el amplio desarrollo de vehículos eléctricos, los acumuladores para el almacenamiento de energía, los robots y los satélites, se están realizando muchos estudios sobre baterías de alto rendimiento que se puedan recargar repetidamente.
Actualmente, las baterías disponibles en el mercado incluyen baterías de níquel-cadmio, baterías de níquel-hidrógeno, baterías de níquel-zinc, baterías de litio y similares y, entre ellas, las baterías de litio tienen poco o ningún efecto de memoria y, por tanto, están generando más interés que las baterías de níquel debido a sus ventajas de carga y descarga libres, una tasa de autodescarga muy baja y una alta densidad energética.
Un sistema de gestión de baterías incluye una placa de circuito en la que se montan los componentes necesarios para controlar y proteger las baterías, como elementos pasivos o elementos activos. Normalmente, los elementos pasivos incluyen una resistencia y un condensador. La resistencia se utiliza principalmente para interrumpir una sobrecorriente a las baterías o circuitos periféricos de acuerdo con la ley de Ohm, y el condensador se utiliza principalmente para suavizar la tensión aplicada a las baterías o circuitos periféricos.
La inspección óptica automatizada (AOI) puede inspeccionar el estado de montaje de los componentes montados en la placa de circuito en poco tiempo utilizando imágenes de la placa de circuito recogidas en 2 o 3 dimensiones, y se utiliza ampliamente debido a su ventaja, pero no puede detectar perfectamente un fallo de circuito abierto del condensador.
Otros antecedentes de la técnica se describen en el documento US 2012/150459 A1, que describe un dispositivo de prueba que incluye una unidad de detección de señales y una unidad de procesamiento de señales. La unidad de detección de señales genera una señal de salida de prueba detectando una señal procedente de un dispositivo sometido a prueba que incluye una pluralidad de elementos pasivos que están conectados en paralelo. La unidad de procesamiento de señales detecta un fallo de tipo abierto de la pluralidad de elementos pasivos midiendo una impedancia del dispositivo sometido a prueba basándose en la información sobre las características de los elementos de la pluralidad de elementos pasivos.
Explicación de la invención
Problema técnico
La presente divulgación está diseñada para resolver el problema descrito anteriormente y, por lo tanto, la presente divulgación está dirigida a proporcionar un aparato y un método para probar un fallo de circuito abierto de un condensador montado en una placa de circuito incluida en un sistema de gestión de baterías como se define en las reivindicaciones independientes 1 y 7.
Estos/as y otros/as objetivos y ventajas de la presente divulgación se entenderán mediante la siguiente descripción y serán evidentes a partir de las realizaciones de la presente divulgación. Además, se entenderá fácilmente que los objetivos y ventajas de la presente divulgación pueden realizarse mediante los medios expuestos en las reivindicaciones adjuntas.
Solución técnica
Un aparato de acuerdo con un aspecto de la presente divulgación es para probar una placa de circuito de un sistema de gestión de baterías. La placa de circuito incluye una primera resistencia; un primer condensador; una segunda resistencia; un segundo condensador; un primer punto de prueba conectado en común a un extremo de la primera resistencia, un extremo del primer condensador y un extremo de la segunda resistencia; un segundo punto de prueba conectado en común al otro extremo de la segunda resistencia y a un extremo del segundo condensador; un tercer punto de prueba conectado al otro extremo de la primera resistencia; y un cuarto punto de prueba conectado en común al otro extremo del primer condensador y al otro extremo del segundo condensador. El aparato incluye una fuente de tensión configurada para generar selectivamente una tensión de prueba, un primer sensor de tensión configurado para detectar una primera tensión de diagnóstico generada entre el primer punto de prueba y el cuarto punto de prueba, un segundo sensor de tensión configurado para detectar una segunda tensión de diagnóstico generada entre el segundo punto de prueba y el cuarto punto de prueba, y una unidad de control operativamente acoplada a la fuente de tensión, al primer sensor de tensión y al segundo sensor de tensión. La unidad de control está configurada para ordenar a la fuente de tensión que aplique la tensión de prueba en el tercer punto de prueba. La unidad de control está configurada para determinar si al menos uno del primer condensador y del segundo condensador tiene un fallo de circuito abierto basado en al menos una de la primera tensión de diagnóstico y la segunda tensión de diagnóstico.
La unidad de control está configurada para registrar un primer punto temporal cuando la primera tensión de diagnóstico alcanza una tensión umbral que está preestablecida como inferior a la tensión de prueba. La unidad de control está configurada para determinar que tanto el primer condensador como el segundo condensador no tienen el fallo de circuito abierto, cuando un primer período transcurrido desde un punto temporal inicial hasta el primer punto temporal es igual o más largo que un primer período umbral preestablecido. El punto temporal inicial es un punto temporal cuando la tensión de prueba comienza a aplicarse sobre el tercer punto de prueba.
La unidad de control puede estar configurada para determinar que sólo el segundo condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el primer periodo transcurrido es más corto que el primer periodo umbral y es igual o más largo que un primer periodo de supervisión preestablecido.
La unidad de control puede estar configurada para determinar que sólo el primer condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el primer período transcurrido es más corto que el primer período de supervisión y es igual o más largo que un segundo período de supervisión preestablecido.
La unidad de control puede estar configurada para determinar que tanto el primer condensador como el segundo condensador tienen el fallo de circuito abierto, cuando el primer período transcurrido es más corto que el segundo período de supervisión.
La unidad de control registra un segundo punto temporal cuando la segunda tensión de diagnóstico alcanza la tensión umbral. La unidad de control está configurada para determinar que al menos el segundo condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el primer punto temporal y el segundo punto temporal son iguales entre sí.
La unidad de control puede registrar un segundo punto temporal cuando la segunda tensión de diagnóstico alcanza la tensión umbral. La unidad de control puede estar configurada para determinar que tanto el primer condensador como el segundo condensador no tienen el fallo de circuito abierto, cuando un segundo período transcurrido desde el punto temporal inicial hasta el segundo punto temporal es igual o más largo que un segundo período umbral que está preestablecido como más largo que el primer período umbral.
La unidad de control puede estar configurada para emitir un mensaje de diagnóstico que indica el resultado de la determinación.
Un método de acuerdo con otro aspecto de la presente divulgación es para probar una placa de circuito de un sistema de gestión de baterías. La placa de circuito incluye una primera resistencia; un primer condensador; una segunda resistencia; un segundo condensador; un primer punto de prueba conectado en común a un extremo de la primera resistencia, un extremo del primer condensador y un extremo de la segunda resistencia; un segundo punto de prueba conectado en común al otro extremo de la segunda resistencia y a un extremo del segundo condensador; un tercer punto de prueba conectado al otro extremo de la primera resistencia; y un cuarto punto de prueba conectado en común al otro extremo del primer condensador y al otro extremo del segundo condensador. El método incluye ordenar a una fuente de tensión que aplique una tensión de prueba en el tercer punto de prueba, registrar un punto temporal cuando una primera tensión de diagnóstico generada entre el primer punto de prueba y el cuarto punto de prueba alcanza una tensión umbral que está preestablecida como inferior a la tensión de prueba, y emitir un mensaje de diagnóstico indicando que tanto el primer condensador como el segundo condensador no tienen un fallo de circuito abierto, cuando un período transcurrido desde un punto temporal inicial hasta el punto temporal registrado es igual o más largo que un primer período umbral preestablecido. El punto temporal inicial es un punto temporal cuando la tensión de prueba comienza a aplicarse sobre el tercer punto de prueba. El método incluye además registrar un segundo punto temporal cuando una segunda tensión de diagnóstico generada entre el segundo punto de prueba y el cuarto punto de prueba alcanza la tensión umbral y determinar que al menos el segundo condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el primer punto temporal y el segundo punto temporal son iguales entre sí.
El método puede incluir además emitir un mensaje de diagnóstico indicando que sólo el segundo condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el periodo transcurrido es más corto que el primer periodo umbral y es igual o más largo que un primer periodo de supervisión preestablecido. El método puede incluir además emitir un mensaje de diagnóstico indicando que sólo el primer condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el período transcurrido es más corto que el primer período de supervisión y es igual o más largo que un segundo período de supervisión preestablecido.
El método puede incluir además emitir un mensaje de diagnóstico indicando que tanto el primer condensador como el segundo condensador tienen el fallo de circuito abierto, cuando el período transcurrido es más corto que el segundo período de supervisión.
Efectos ventajosos
Según al menos una de las realizaciones de la presente divulgación, es posible comprobar un fallo de circuito abierto de un condensador montado en una placa de circuito incluida en un sistema de gestión de baterías sin un proceso de captura y análisis de una imagen de la placa de circuito.
Adicionalmente, según al menos una de las realizaciones de la presente divulgación, es posible detectar un fallo de circuito abierto de al menos uno de los dos condensadores incluidos en un filtro RC de segundo orden aplicando una única señal de prueba.
Los efectos de la presente divulgación no se limitan a los efectos mencionados anteriormente y los expertos en la técnica entenderán claramente estos y otros efectos a partir de las reivindicaciones adjuntas.
Breve descripción de los dibujos
Los dibujos adjuntos ilustran una realización preferida de la presente divulgación y, junto con la descripción detallada de la presente divulgación que se describe a continuación, sirven para proporcionar una mayor comprensión de los aspectos técnicos de la presente divulgación y, por tanto, no se debe interpretar que la presente divulgación está limitada a los dibujos.
La figura 1 es un diagrama ilustrativo que muestra configuraciones de una placa de circuito incluida en un sistema de gestión de baterías y un aparato para someter a prueba la placa de circuito según una realización de la presente divulgación.
La figura 2 es un gráfico que muestra los cambios en una primera tensión de diagnóstico y una segunda tensión de diagnóstico a lo largo del tiempo cuando un fallo de circuito abierto no se produjo en un primer condensador y<un segundo condensador incluidos en la placa de circuito de la figura>1<.>
La figura 3 es un gráfico que muestra los cambios en una primera tensión de diagnóstico V1 y una segunda tensión de diagnóstico a lo largo del tiempo cuando se produjo un fallo de circuito abierto en sólo el segundo condensador<entre el primer condensador y el segundo condensador incluidos en la placa de circuito de la figura>1<.>
La figura 4 es un gráfico que muestra los cambios en una primera tensión de diagnóstico V1 y una segunda tensión de diagnóstico a lo largo del tiempo cuando se produjo un fallo de circuito abierto en solo el primer condensador<entre el primer condensador y el segundo condensador incluidos en la placa de circuito de la figura>1<.>
La figura 5 es un gráfico que muestra los cambios en una primera tensión de diagnóstico y una segunda tensión de diagnóstico a lo largo del tiempo cuando tanto el primer condensador como el segundo condensador incluidos<en la placa de circuito de la figura>1<tienen un fallo de circuito abierto.>
<La figura>6<es un diagrama de flujo que muestra un método para someter a prueba una placa de circuito incluida>en un sistema de gestión de baterías según otra realización de la presente divulgación. La figura 7 es un diagrama de flujo que muestra un método para someter a prueba una placa de circuito incluida en un sistema de gestión de baterías según todavía otra realización de la presente divulgación.
<La figura>8<es un diagrama de flujo que muestra un método para someter a prueba una placa de circuito incluida>en un sistema de gestión de baterías según aún otra realización de la presente divulgación.
Modo de divulgación
En lo sucesivo en el presente documento, se describirán las realizaciones preferidas de la presente divulgación en detalle con referencia a los dibujos adjuntos. Antes de la descripción, se debería entender que no se debe interpretar que los términos o las palabras que se usan en la memoria descriptiva y en las reivindicaciones adjuntas están limitados a significados generales y del diccionario, sino que se deben interpretar en función de los significados y conceptos correspondientes a los aspectos técnicos de la presente divulgación basándose en el principio de que el inventor puede definir los términos apropiadamente para una mejor explicación.
Por lo tanto, las realizaciones descritas en el presente documento y las ilustraciones que se muestran en los dibujos son únicamente una realización más preferente de la presente divulgación, pero no pretenden describir exhaustivamente los aspectos técnicos de la presente divulgación, por lo que se debe entender que, a la hora de presentar la solicitud, se podrían hacer en la misma una variedad de otros equivalentes y modificaciones.
Adicionalmente, al describir la presente divulgación, cuando se considere que determinada descripción detallada de elementos o funciones conocidos pertinentes hace que el tema principal de la presente divulgación sea ambiguo, la descripción detallada se omitirá en el presente documento.
Los términos que incluyen un número ordinal, como "primero", "segundo/a" y similares, se usan para distinguir un elemento de otro de entre diversos elementos, pero sin pretender limitar los elementos mediante dichos términos. A menos que el contexto indique claramente lo contrario, se entenderá que el término "comprende" o "incluye", cuando se utiliza en esta memoria descriptiva, especifica la presencia de elementos mencionados, pero no excluye la presencia o adición de uno o más otros elementos. Adicionalmente, la expresión <unidad de control>, como se utiliza en el presente documento, se refiere a una unidad de procesamiento de al menos una función u operación, y esta puede implementarse porhardwareosoftwarepor sí solos o combinados.
Además, a lo largo de la memoria descriptiva, se entenderá, además, que, cuando se hace referencia a un elemento "conectado a" otro elemento, este puede estar conectado directamente al otro elemento o pueden estar presentes elementos intermedios.
La figura 1 es un diagrama ilustrativo que muestra configuraciones de una placa de circuito 10 incluida en un sistema<de gestión de baterías y un aparato>100<para someter a prueba la placa de circuito>10<según una realización de la>presente divulgación.
Haciendo referencia a la figura 1, la placa de circuito 10 incluye una primera resistencia 21, una segunda resistencia 22, un primer condensador 31, un segundo condensador 32, un primer punto de prueba 41, un segundo punto de prueba 42, un tercer punto de prueba 43 y un cuarto punto de prueba 44. Cada uno de la primera resistencia 21, la segunda resistencia 22, el primer condensador 31, el segundo condensador 32, el primer punto de prueba 41, el segundo punto de prueba 42, el tercer punto de prueba 43 y el cuarto punto de prueba 44 está montado en la placa<de circuito>10<, por ejemplo, mediante soldadura, etc.>
El primer punto de prueba 41 se forma entre la primera resistencia 21, el primer condensador 31 y la segunda resistencia 22. En detalle, un extremo de la primera resistencia 21, un extremo del primer condensador 31 y un extremo de la segunda resistencia 22 están conectados al primer punto de prueba 41 en común.
El segundo punto de prueba 42 se forma entre la segunda resistencia 22 y el segundo condensador 32. En detalle, el otro extremo de la segunda resistencia 22 y un extremo del segundo condensador 32 están conectados al segundo punto de prueba 42 en común.
El tercer punto de prueba 43 está conectado al otro extremo de la primera resistencia 21. El tercer punto de prueba 43 es una ubicación designada en la placa de circuito 10 a la que se aplica una tensión de prueba como señal de prueba utilizada para detectar un fallo de circuito abierto del primer condensador 31 y el segundo condensador 32.
El cuarto punto de prueba 44 se forma entre el otro extremo del primer condensador 31 y el otro extremo del segundo condensador 32. En detalle, el otro extremo del primer condensador 31 y el otro extremo del segundo condensador 32 están conectados al cuarto punto de prueba 44 en común. El cuarto punto de prueba 44 puede conectarse al<terminal de tierra de la placa de circuito>10<.>
La primera resistencia 21, la segunda resistencia 22, el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 que están interconectados eléctricamente a través del primer punto de prueba 41, el segundo punto de prueba 42, el tercer punto de prueba 43 y el cuarto punto de prueba 44 como se describe anteriormente pueden actuar como un circuito<de filtro RC de segundo orden. Es decir, la primera resistencia>21<y el primer condensador 31 pueden actuar como un>filtro RC de primer orden, la segunda resistencia 22 y el segundo condensador 32 pueden actuar como otro filtro RC de primer orden, y los dos filtros RC de primer orden pueden conectarse a través del primer punto de prueba 41 para implementar un filtro RC de segundo orden.
El aparato 100 incluye una fuente de tensión 110, un primer sensor de tensión 121, un segundo sensor de tensión 122, una unidad de control 130 y una unidad de salida de información 140. Opcionalmente, el aparato 100 puede<incluir además una primera clavija de prueba>101<, una segunda clavija de prueba>102<, una tercera clavija de prueba>103 y una cuarta clavija de prueba 104. La primera clavija de prueba 101, la segunda clavija de prueba 102, la tercera clavija de prueba 103 y la cuarta clavija de prueba 104 están dispuestas de forma que puedan entrar en contacto con el primer punto de prueba 41, el segundo punto de prueba 42, el tercer punto de prueba 43 y el cuarto punto de prueba 44 al mismo tiempo, respectivamente.
La fuente de tensión 110 está configurada para generar selectivamente la tensión de prueba según una orden de la unidad de control 130. La tensión de prueba puede ser, por ejemplo, una tensión de pulso. La fuente de tensión 110 emite la tensión de prueba (por ejemplo, 2 V) en respuesta a una orden de ENCENDIDO de la unidad de control 130, y deja de emitir la tensión de prueba en respuesta a una orden de APAGADO de la unidad de control 130. La tercera clavija de prueba 103 está conectada al terminal de alto potencial de la fuente de tensión 110, y la cuarta clavija de prueba 104 puede estar conectada al terminal de bajo potencial de la fuente de tensión 110. Cuando la tensión de prueba se aplica al tercer punto de prueba 43 mediante la fuente de tensión 110, la corriente I0 que fluye desde el tercer punto de prueba 43 al primer punto de prueba 41 se bifurca en I1 e I2 en el primer punto de prueba 41. Es decir, la corriente I0 es mayor que la corriente I1 y la corriente I2, y es igual a la suma de la corriente I1 y la corriente I2.
Un extremo del primer sensor de tensión 121 puede entrar en contacto con el primer punto de prueba 41 directamente<o a través de la primera clavija de prueba>101<, y el otro extremo del primer sensor de tensión>121<puede entrar en>contacto con el cuarto punto de prueba 44 directamente o a través de la cuarta clavija de prueba 104. El primer sensor<de tensión>121<está configurado para detectar una primera tensión de diagnóstico V1 generada entre el primer punto>de prueba 41 y el cuarto punto de prueba 44, y emitir una señal de tensión indicando la primera tensión de diagnóstico V i detectada a la unidad de control 130.
Un extremo del segundo sensor de tensión 122 puede entrar en contacto con el segundo punto de prueba 42<directamente o a través de la segunda clavija de prueba>102<, y el otro extremo del segundo sensor de tensión>122 puede entrar en contacto con el cuarto punto de prueba 44 directamente o a través de la cuarta clavija de prueba 104. El otro extremo del primer sensor de tensión 121 y el otro extremo del segundo sensor de tensión 122 pueden conectarse a la cuarta clavija de prueba 104 en común. El segundo sensor de tensión 122 está configurado para detectar una segunda tensión de diagnóstico V<2>generada entre el segundo punto de prueba 42 y el cuarto punto de prueba 44, y emitir una señal de tensión indicando la segunda tensión de diagnóstico V<2>detectada a la unidad de control 130.
La unidad de control 130 está operativamente acoplada a la fuente de tensión 110, al primer sensor de tensión 121, al segundo sensor de tensión 122 y a la unidad de salida de información 140. La unidad de control 130 puede<comunicarse con cada uno de la fuente de tensión>110<, el primer sensor de tensión>121<, el segundo sensor de tensión>122 y la unidad de salida de información 140 a través de una red cableada, como una red de área local (LAN), red de área de controlador (CAN) y conexión en cadena, o una red inalámbrica de área local como Bluetooth, Zigbee y Wi-Fi.
La unidad de control 130 puede implementarse, en hardware, para incluir al menos uno de circuitos integrados específicos para aplicaciones (ASIC), procesadores de señales digitales (DSP), dispositivos de procesamiento de señales digitales (DSPD), dispositivos lógicos programables (PLD), matrices de puertas programables en campo (FPGA), microprocesadores y unidades eléctricas para realizar otras funciones. La unidad de control 130 puede tener un dispositivo de memoria embebido en la misma y el dispositivo de memoria puede ser, por ejemplo, RAM, ROM, un registro, disco duro, un medio de grabación óptica o un medio de grabación magnética. El dispositivo de memoria puede almacenar, actualizar y/o borrar programas que incluyen diversas lógicas de control que son ejecutadas por la unidad de control 130, y/o datos generados por las lógicas de control cuando se ejecutan.
La unidad de control 130 está configurada para emitir la orden de ENCENDIDO a la fuente de tensión 110 para inducir<a la fuente de tensión>110<a emitir la tensión de prueba, y recoger cada una de la señal de tensión del primer sensor de tensión>121<y la señal de tensión del segundo sensor de tensión>122<desde un punto temporal (en lo sucesivo en el presente documento denominado "punto temporal inicial") cuando la fuente de tensión>110<comenzó a emitir la>tensión de prueba en respuesta a la orden de ENCENDIDO. La unidad de control 130 determina si al menos uno del primer condensador 31 y del segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto basándose en al menos una<de la primera tensión de diagnóstico V1 indicada por la señal de tensión del primer sensor de tensión>121<y la segunda>tensión de diagnóstico V2 indicada por la señal de tensión del segundo sensor de tensión 122, a continuación transmite un mensaje de diagnóstico que indica el resultado de la determinación a la unidad de salida de información 140. Es decir, el mensaje de diagnóstico puede indicar que se ha producido un fallo de circuito abierto en el primer condensador 31 o en el segundo condensador 32 o en ambos, o que no se ha producido ningún fallo de circuito abierto en el primer condensador 31 ni en el segundo condensador 32.
La unidad de salida de información 140 puede implementarse utilizando un dispositivo conocido que emita información de forma visible o audible, tal como, por ejemplo, una pantalla y un altavoz. La unidad de salida de información 140 está configurada para emitir al menos una de la información visual y la información audible correspondientes al mensaje de diagnóstico transmitido por la unidad de control 130.
La unidad de control 130 supervisa los cambios en cada una de la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 a lo largo del tiempo mientras se aplica la tensión de prueba sobre el tercer punto de prueba 43 en tiempo real midiendo el tiempo transcurrido desde el punto temporal inicial.
La figura 2 es un gráfico que muestra los cambios en la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 a lo largo del tiempo cuando no se ha producido un fallo de circuito abierto en el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 incluidos en la placa de circuitos 10 de la figura 1.
Con referencia a las figuras 1 y 2, una curva 201 indicada como línea continua indica cambios en la primera tensión de diagnóstico V1 , y una curva 202 indicada como línea discontinua indica cambios en la segunda tensión de diagnóstico V2. Mientras la fuente de tensión 110 aplica la tensión de prueba VPRUEBA sobre el tercer punto de prueba 43, el primer condensador 31 se carga gradualmente mediante la corriente I1 , y el segundo condensador 32 se carga gradualmente mediante la corriente I2.
Por consiguiente, cada una de la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 aumenta gradualmente desde el punto temporal inicial T0 cuando la fuente de tensión 110 comienza a aplicar la tensión de prueba VPRUEBA sobre el tercer punto de prueba 43. La primera tensión de diagnóstico V1 es igual a la suma de la tensión generada a través de la segunda resistencia 22 y la segunda tensión de diagnóstico V2. Por consiguiente, desde el punto temporal inicial T0 hasta que la segunda tensión de diagnóstico V2 sea igual a la primera tensión de diagnóstico V1 (es decir, hasta que I2 = 0 A), la primera tensión de diagnóstico V1 es siempre superior a la segunda tensión de diagnóstico V2, y la segunda tensión de diagnóstico V2 aumenta en pos de la primera tensión de diagnóstico V1.
Con referencia a las figuras 1 y 2, la unidad de control 130 registra un punto temporal T1 cuando la primera tensión de diagnóstico V i alcanza una tensión umbral V<umbral>, y registra un punto temporal T2 cuando la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanza la tensión umbral V<umbral>. La tensión umbral V<umbral>se preajusta como superior a 0 V e inferior a la tensión de prueba V<prueba>. Por ejemplo, cuando la tensión de prueba V<prueba>es de 2 V, la tensión umbral V<umbral>puede ser de 1,8 V, es decir, el 90 % de la tensión de prueba V<prueba>.
La unidad de control 130 puede comparar un periodo transcurrido AT1 desde el punto temporal inicial T0 hasta el punto temporal T1 con un primer periodo umbral preestablecido. Opcionalmente, la unidad de control 130 puede comparar un periodo transcurrido AT<2>desde el punto temporal inicial T0 hasta el punto temporal T2 con un segundo periodo umbral preestablecido. Como se ha descrito anteriormente, debido a que la segunda tensión de diagnóstico V2 aumenta más lentamente que la primera tensión de diagnóstico V1 , el segundo período umbral se preestablece como más largo que el primer período umbral.
Como se muestra en la figura 2, cuando el período transcurrido A T es igual o más largo que el primer período umbral, o el período transcurrido AT<2>es igual o más largo que el segundo período umbral, la unidad de control 130 puede determinar que el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 no tienen un fallo de circuito abierto, y emitir un primer mensaje de diagnóstico. El primer mensaje de diagnóstico indica que ni el primer condensador 31 ni el segundo condensador 32 tienen un fallo de circuito abierto.
En lo sucesivo en el presente documento, la resistencia de la primera resistencia 21 se define como R1, la resistencia de la segunda resistencia 22 como R2, la capacitancia del primer condensador 31 como C1, y capacitancia del segundo condensador 32 como C2.
La figura 3 es un gráfico que muestra los cambios en la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 a lo largo del tiempo cuando se produjo un fallo de circuito abierto en sólo el segundo condensador 32 entre el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 incluidos en la placa de circuito 10 de la figura 1.
Con referencia a las figuras 1 y 3, una curva 301 indica los cambios en la primera tensión de diagnóstico V1. Cuando el segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto, la corriente no puede fluir por la segunda resistencia 22 y el segundo condensador 32 (es decir, I2 = 0 A), y por tanto no se genera tensión a través de la segunda resistencia 22. Es decir, la primera resistencia 21, la segunda resistencia 22, el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 mostrados en la figura 1 ya no pueden actuar como el filtro RC de segundo orden, y actúan como un filtro RC de primer orden incluyendo la primera resistencia 21 y el primer condensador 31. En este caso, el potencial del primer punto de prueba 41 y el potencial del segundo punto de prueba 42 se mantienen iguales, por lo que la curva 301 también indica cambios en la segunda tensión de diagnóstico V2. Es decir, la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 aumentan de acuerdo con la siguiente Ecuación 1 a partir del punto temporal inicial T0.
<Ecuación 1>
<V 1>=<V 2>= VPRUEBA — V<t - T 0>
PRUEBAe<T1>
En la Ecuación 1, T1 indica la constante de tiempo del filtro RC de primer orden que incluye la primera resistencia 21 y el primer condensador 31, y es igual a R1 * C1. ;;Al mismo tiempo, la corriente I2 de 0 A significa que la corriente I1 es igual a la corriente I0. Por consiguiente, cuando el segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto, el primer condensador 31 se carga más rápido que de otro modo (véase la figura 2), y por lo tanto, la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 aumentan rápidamente hacia la tensión de prueba V<prueba>. Como resultado, la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanzan simultáneamente la tensión umbral V<umbral>en un punto temporal T3 que es anterior al punto temporal T1. ;;La unidad de control 130 puede comparar el periodo transcurrido AT s desde el punto temporal inicial T0 hasta el punto temporal T3 con cada uno del primer periodo umbral y un primer periodo de supervisión. El primer periodo de supervisión puede preestablecerse como más corto que el primer periodo umbral. ;;Como se muestra en la figura 3, cuando el período transcurrido ATs es más corto que el primer período umbral y es igual o más largo que el primer período de supervisión, la unidad de control 130 puede determinar que sólo el segundo condensador 32 entre el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto, y emitir un segundo mensaje de diagnóstico. El segundo mensaje de diagnóstico indica que se ha producido un fallo de circuito abierto en el segundo condensador 32. ;;Adicionalmente, como se muestra en la figura 3, cuando el período transcurrido AT¡ es más corto que el primer período umbral y la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanzan la tensión umbral V<umbral>en el mismo punto temporal, la unidad de control 130 puede determinar que al menos el segundo condensador 32 entre el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto. ;La figura 4 es un gráfico que muestra los cambios en la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 a lo largo del tiempo cuando se produjo un fallo de circuito abierto en sólo el primer condensador 31 entre el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 incluidos en la placa de circuito 10 de la figura 1. ;Haciendo referencia a la figura 4, una curva 401 indicada como línea continua indica cambios en la primera tensión de diagnóstico V1 , y una curva 402 indicada como línea discontinua indica cambios en la segunda tensión de diagnóstico V2. Cuando el primer condensador 31 tiene un fallo de circuito abierto, la corriente I1 es 0 A, por lo que la corriente I2 es igual a la corriente I0. Es decir, la primera resistencia 21, la segunda resistencia 22, el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 mostrados en la figura 1 ya no pueden actuar como el filtro RC de segundo orden, y sólo actúan como un filtro RC de primer orden incluyendo la primera resistencia 21, la segunda resistencia 22 y el segundo condensador 32. Por consiguiente, la primera tensión de diagnóstico V1 cambia según la siguiente Ecuación 2, y la segunda tensión de diagnóstico V2 cambia según la siguiente Ecuación 3. ;;<Ecuación 2> ;;; ;;;
<Ecuación 3> ;;<V 2>= VPRUEBA VPRUEBAe<T2>;;En las Ecuaciones 2 y 3, T2 es la constante de tiempo del filtro RC de primer orden que incluye la primera resistencia 21, la segunda resistencia 22 y el segundo condensador 32, y es igual a (R1 R2) * C2. Los expertos en la materia comprenderán fácilmente que cuando T2 es menor que T1 , la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 aumentarán hacia la tensión de prueba V<prueba>rápidamente como se muestra en la figura 4 en comparación con cuando sólo el segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto (véase la figura 3). Es decir, un punto temporal T4 cuando la primera tensión de diagnóstico V1 alcanza la tensión umbral V<umbral>es anterior a un punto temporal T5 cuando la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanza la tensión umbral V<umbral>, y el punto temporal T5 es anterior al punto temporal T3 de la figura 2.
La unidad de control 130 puede comparar el periodo transcurrido AT<4>desde el punto temporal inicial T0 hasta el punto temporal T4 con cada uno del primer periodo de supervisión y un segundo periodo de supervisión. El segundo periodo de supervisión puede preestablecerse como más corto que el primer periodo de supervisión.
Cuando el período transcurrido AT<4>es más corto que el primer período de supervisión y es igual o más largo que el segundo período de supervisión, la unidad de control 130 puede determinar que sólo el primer condensador 31 entre el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto, y emitir un tercer mensaje de diagnóstico. El tercer mensaje de diagnóstico indica que se ha producido un fallo de circuito abierto del primer condensador 31.
La figura 5 es un gráfico que muestra los cambios en la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 a lo largo del tiempo cuando tanto el primer condensador 31 como el segundo condensador 32 incluidos<en la placa de circuitos>10<de la figura>1<tienen un fallo de circuito abierto.>
Haciendo referencia a la figura 5, una curva 501 indica los cambios en la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2. Cuando tanto el primer condensador 31 como el segundo condensador 32 tienen<un fallo de circuito abierto, la corriente no puede fluir por ninguno de la primera resistencia>21<, la segunda resistencia>22, el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 (es decir, I1 = I2 = 0 A), y por lo tanto no se genera tensión a través de la primera resistencia 21 y no se genera tensión a través de la segunda resistencia 22. Por consiguiente, la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanzan simultáneamente la tensión de prueba V<prueba>inmediatamente después del punto temporal inicial T0.
Cuando el periodo transcurrido desde el punto temporal inicial T0 hasta el punto temporal, cuando al menos una de la primera tensión de diagnóstico V1 y la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanza la tensión umbral V<umbral>o la tensión de prueba V<prueba>, es más corto que el segundo periodo de supervisión, la unidad de control 130 puede determinar que tanto el primer condensador 31 como el segundo condensador 32 tienen un fallo de circuito abierto, y emitir un cuarto mensaje de diagnóstico. El cuarto mensaje de diagnóstico indica que se ha producido un fallo de circuito abierto tanto en el primer condensador 31 como en el segundo condensador 32.
<La figura>6<es un diagrama de flujo que muestra un método para someter a prueba la placa de circuito 10 incluida en>un sistema de gestión de baterías según otra realización de la presente divulgación. Haciendo referencia a las figuras<1 a>6<, en la etapa S600, la unidad de control 130 transmite la orden de ENCENDIDO a la fuente de tensión 110. En>respuesta a la orden de ENCENDIDO, la fuente de tensión 110 aplica la tensión de prueba V<prueba>sobre el tercer punto de prueba 43 desde el punto temporal inicial.
En la etapa S610, la unidad de control 130 determina la primera tensión de diagnóstico Vi basándose en la señal de<tensión del primer sensor de tensión>121<.>
En la etapa S620, la unidad de control 130 determina la segunda tensión de diagnóstico V2 basándose en la señal de<tensión del segundo sensor de tensión>122<.>
En la etapa S630, la unidad de control 130 determina si la primera tensión de diagnóstico V1 ha alcanzado la tensión umbral V<umbral>. Cuando un valor de la etapa S630 es "SÍ", la unidad de control 130 registra el punto temporal cuando la primera tensión de diagnóstico V1 alcanzó la tensión umbral V<umbral>y, a continuación, puede realizar la etapa S640. Cuando el valor de la etapa S630 es "NO", el método puede volver a la etapa S610.
En la etapa S640, la unidad de control 130 determina si el período transcurrido desde el punto temporal inicial hasta el punto temporal cuando la primera tensión de diagnóstico V1 alcanzó la tensión umbral V<umbral>es igual o mayor que el primer período umbral. Cuando un valor de la etapa S640 es "SÍ", puede realizarse la etapa S670. Cuando el valor de la etapa S640 es "NO", puede realizarse la etapa S680.
En la etapa S650, la unidad de control 130 determina si la segunda tensión de diagnóstico V2 ha alcanzado la tensión umbral V<umbral>. Cuando un valor de la etapa S650 es "SÍ", la unidad de control 130 registra el punto temporal cuando la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanzó la tensión umbral V<umbral>y, a continuación, puede realizar la etapa S660. Cuando el valor de la etapa S650 es "NO", el método puede volver a la etapa S610.
En la etapa S660, la unidad de control 130 determina si el período transcurrido desde el punto temporal inicial hasta el punto temporal cuando la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanzó la tensión umbral V<umbral>es igual o mayor que el segundo período umbral. Cuando un valor de la etapa S660 es "SÍ", puede realizarse la etapa S670. Cuando el valor de la etapa S660 es "NO", puede realizarse la etapa S680.
En la etapa S670, la unidad de control 130 emite un mensaje de diagnóstico indicando que tanto el primer condensador 31 como el segundo condensador 32 no tienen un fallo de circuito abierto.
En la etapa S680, la unidad de control 130 emite un mensaje de diagnóstico indicando que al menos uno del primer condensador 31 y el segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto.
La figura 7 es un diagrama de flujo que muestra un método para someter a prueba la placa de circuito 10 incluida en un sistema de gestión de baterías según todavía otra realización de la presente divulgación.
Haciendo referencia a las figuras 1, 5 y 7, en la etapa S700, la unidad de control 130 transmite la orden de ENCENDIDO a la fuente de tensión 110. En respuesta a la orden de ENCENDIDO, la fuente de tensión 110 aplica la tensión de prueba V<prueba>sobre el tercer punto de prueba 43 desde el punto temporal inicial.
En la etapa S710, la unidad de control 130 determina la primera tensión de diagnóstico V1 basándose en la señal de<tensión del primer sensor de tensión>121<.>
En la etapa S720, la unidad de control 130 determina si la primera tensión de diagnóstico V1 ha alcanzado la tensión umbral V<umbral>. Cuando un valor de la etapa S720 es "SÍ", la unidad de control 130 registra el punto temporal cuando la primera tensión de diagnóstico V1 alcanzó la tensión umbral V<umbral>y, a continuación, puede realizar la etapa S730. Cuando el valor de la etapa S720 es "NO", el método puede volver a la etapa S710.
En la etapa S730, la unidad de control 130 determina si el periodo transcurrido desde el punto temporal inicial hasta el punto temporal cuando la primera tensión de diagnóstico V1 alcanzó la tensión umbral V<umrbal>es más corto que el primer periodo umbral y es igual o más largo que el primer periodo de supervisión. Cuando un valor de la etapa S730 es "SÍ", puede realizarse la etapa S740.
Cuando el valor de la etapa S730 es "NO", puede realizarse la etapa S750.
En la etapa S740, la unidad de control 130 emite un mensaje de diagnóstico indicando que sólo el segundo condensador 32 entre el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto.
En la etapa S750, la unidad de control 130 determina si el periodo transcurrido desde el punto temporal inicial hasta el punto temporal cuando la primera tensión de diagnóstico V1 alcanzó la tensión umbral V<umrbal>es más corto que el primer periodo de supervisión e igual o más largo que el segundo periodo de supervisión. Cuando un valor de la etapa S750 es "SÍ", puede realizarse la etapa S760. Cuando el valor de la etapa S750 es "NO", puede realizarse la etapa S770.
En la etapa S760, la unidad de control 130 emite un mensaje de diagnóstico indicando que sólo el primer condensador 31 entre el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto.
En la etapa S770, la unidad de control 130 determina si el período transcurrido desde el punto temporal inicial hasta el punto temporal cuando la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanzó la tensión umbral V<umbral>es más corto que el segundo período de supervisión. Cuando un valor de la etapa S770 es "SÍ", puede realizarse la etapa S780.
En la etapa S780, la unidad de control 130 emite un mensaje de diagnóstico indicando que tanto el primer condensador 31 como el segundo condensador 32 tienen un fallo de circuito abierto.
<La figura>8<es un diagrama de flujo que muestra un método para someter a prueba la placa de circuito 10 incluida en>un sistema de gestión de baterías según aún otra realización de la presente divulgación.
<Haciendo referencia a las figuras 1, 5 y>8<, en la etapa S800, la unidad de control 130 transmite la orden de ENCENDIDO>a la fuente de tensión 110. En respuesta a la orden de ENCENDIDO, la fuente de tensión 110 aplica la tensión de prueba V<prueba>sobre el tercer punto de prueba 43 desde el punto temporal inicial.
En la etapa S810, la unidad de control 130 determina la primera tensión de diagnóstico V1 basándose en la señal de<tensión del primer sensor de tensión>121<.>
En la etapa S820, la unidad de control 130 determina la segunda tensión de diagnóstico V2 basándose en la señal de<tensión del segundo sensor de tensión>122<.>
En la etapa S830, la unidad de control 130 determina si la primera tensión de diagnóstico V1 ha alcanzado la tensión umbral V<umbral>. Cuando un valor de la etapa S830 es "SÍ", la unidad de control 130 registra el punto temporal cuando la primera tensión de diagnóstico V1 alcanzó la tensión umbral V<umbral>y, a continuación, puede realizar la etapa S850. Cuando el valor de la etapa S830 es "NO", el método puede volver a la etapa S810.
En la etapa S840, la unidad de control 130 determina si la segunda tensión de diagnóstico V2 ha alcanzado la tensión umbral V<umbral>. Cuando un valor de la etapa S840 es "SÍ", la unidad de control 130 registra el punto temporal cuando la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanzó la tensión umbral V<umbral>y, a continuación, puede realizar la etapa S850. Cuando el valor de la etapa S840 es "NO", el método puede volver a la etapa S820.
En la etapa S850, la unidad de control 130 determina si el punto temporal cuando la primera tensión de diagnóstico V1 alcanzó la tensión umbral V<umbral>es igual al punto temporal cuando la segunda tensión de diagnóstico V2 alcanzó la tensión umbral V<umbral>. Cuando un valor de la etapa S850 es "SÍ", puede realizarse la etapa S860.
En la etapa S860, la unidad de control 130 emite un mensaje de diagnóstico indicando que al menos el segundo condensador 32 entre el primer condensador 31 y el segundo condensador 32 tiene un fallo de circuito abierto. Según la presente divulgación descrita anteriormente, es posible comprobar un fallo de circuito abierto de cada uno de los dos condensadores 31, 32 montados en la placa de circuito 10 sin un proceso de captura y análisis de una<imagen de la placa de circuito>10<incluida en el sistema de gestión de baterías. Adicionalmente, es posible detectar un>fallo de circuito abierto de al menos uno de los dos condensadores 31, 32 incluidos en el filtro RC de segundo orden aplicando una única señal de prueba (es decir, tensión de prueba).
Las realizaciones de la presente divulgación descritas anteriormente no se implementan solo a través del aparato y el método, y pueden implementarse a través de programas que realizan las funciones correspondientes a las configuraciones de las realizaciones de la presente divulgación o medios de grabación que tienen los programas grabados en ellos, y esta implementación pueden lograrla fácilmente los expertos en la técnica a partir de la divulgación de las realizaciones descritas anteriormente.
Si bien la presente divulgación se ha descrito anteriormente con respecto a un número limitado de realizaciones y dibujos, la presente divulgación no se limita a estos y es obvio para los expertos en la materia que se pueden realizar diversas modificaciones y diversos cambios en los mismos dentro de los aspectos técnicos de la presente divulgación.
Adicionalmente, los expertos en la materia pueden realizar otras tantas sustituciones, modificaciones y cambios en la presente divulgación descrita en lo que antecede sin apartarse de los aspectos técnicos de la presente divulgación, la presente divulgación no está limitada por las realizaciones descritas anteriormente y los dibujos adjuntos, y todas o algunas de las realizaciones se pueden combinar selectivamente para permitir diversas modificaciones.
Descripción de los números de referencia
10: Placa de circuito
21: Primera resistencia
22: Segunda resistencia
31: Primer condensador
32: Segundo condensador
100: Aparato
110: Fuente de tensión
121: Primer sensor de tensión
122: Segundo sensor de tensión
: Unidad de control
: Unidad de salida de información
Claims (10)
1. Un aparato (100) para someter a prueba una placa de circuito (10) de un sistema de gestión de baterías, en donde la placa de circuito incluye una primera resistencia (21); un primer condensador (31); una segunda resistencia (22); un segundo condensador (32); un primer punto de prueba (41) conectado en común a un extremo de la primera resistencia, un extremo del primer condensador y un extremo de la segunda resistencia; un segundo punto de prueba (42) conectado en común al otro extremo de la segunda resistencia y a un extremo del segundo condensador; un tercer punto de prueba (43) conectado al otro extremo de la primera resistencia; y un cuarto punto de prueba (44) conectado en común al otro extremo del primer condensador y al otro extremo del segundo condensador, comprendiendo el aparato:
<una fuente de tensión (>110<);>
<un primer sensor de tensión (>121<) configurado para detectar una primera tensión de diagnóstico generada entre el>primer punto de prueba y el cuarto punto de prueba; y
<un segundo sensor de tensión (>122<) configurado para detectar una segunda tensión de diagnóstico generada entre>el segundo punto de prueba y el cuarto punto de prueba; y
una unidad de control (130) operativamente acoplada a la fuente de tensión, al primer sensor de tensión y al segundo sensor de tensión y configurada para controlar la fuente de tensión para aplicar una tensión de prueba en el tercer punto de prueba, y registrar un primer punto temporal en el que la primera tensión de diagnóstico alcanza una tensión umbral que está preestablecida como inferior a la tensión de prueba, y registrar un segundo punto temporal cuando la segunda tensión de diagnóstico alcanza la tensión umbral,
para determinar que tanto el primer condensador como el segundo condensador no tienen un fallo de circuito abierto en respuesta a un primer período transcurrido desde un punto temporal inicial hasta el primer punto temporal que es igual o más largo que un primer período umbral preestablecido, en donde el punto temporal inicial es un punto temporal cuando la tensión de prueba comienza a aplicarse sobre el tercer punto de prueba, y para determinar que al menos el segundo condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el primer punto temporal y el segundo punto temporal son iguales entre sí.
2. El aparato de acuerdo con la reivindicación 1, en donde la unidad de control está configurada para determinar que sólo el segundo condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el primer periodo transcurrido es más corto que el primer periodo umbral y es igual o más largo que un primer periodo de supervisión preestablecido.
3. El aparato de acuerdo con la reivindicación 2, en donde la unidad de control está configurada para determinar que sólo el primer condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el primer período transcurrido es más corto que el primer período de supervisión y es igual o más largo que un segundo período de supervisión preestablecido.
4. El aparato de acuerdo con la reivindicación 3, en donde la unidad de control está configurada para determinar que tanto el primer condensador como el segundo condensador tienen el fallo de circuito abierto, cuando el primer período transcurrido es más corto que el segundo período de supervisión.
5. El aparato de acuerdo con la reivindicación 1, en donde la unidad de control está configurada para: determinar que tanto el primer condensador como el segundo condensador no tienen el fallo de circuito abierto, cuando un segundo período transcurrido desde el punto temporal inicial hasta el segundo punto temporal es igual o más largo que un segundo período umbral que está preestablecido como más largo que el primer período umbral.
6<. El aparato de acuerdo con la reivindicación 1, en donde la unidad de control está configurada para emitir un mensaje>de diagnóstico indicando un resultado de la determinación.
7. Un método para someter a prueba una placa de circuito (10) de un sistema de gestión de baterías, en donde la placa de circuito incluye una primera resistencia (21); un primer condensador (31); una segunda resistencia (22); un segundo condensador (32); un primer punto de prueba (41) conectado en común a un extremo de la primera resistencia, un extremo del primer condensador y un extremo de la segunda resistencia; un segundo punto de prueba (42) conectado en común al otro extremo de la segunda resistencia y a un extremo del segundo condensador; un tercer punto de prueba (43) conectado al otro extremo de la primera resistencia; y un cuarto punto de prueba (44) conectado en común al otro extremo del primer condensador y al otro extremo del segundo condensador, comprendiendo el método:
<controlar una fuente de tensión (>110<) para aplicar una tensión de prueba en el tercer punto de prueba;>registrar un primer punto temporal en el que una primera tensión de diagnóstico generada entre el primer punto de prueba y el cuarto punto de prueba alcanza una tensión umbral que se preestablece como inferior a la tensión de prueba;
registrar un segundo punto temporal cuando una segunda tensión de diagnóstico generada entre el segundo punto de prueba y el cuarto punto de prueba alcanza la tensión umbral;
determinar que tanto el primer condensador como el segundo condensador no tienen un fallo de circuito abierto en respuesta a un primer período transcurrido desde un punto temporal inicial hasta el primer punto temporal que es igual o más largo que un primer período umbral preestablecido, en donde el punto temporal inicial es un punto temporal cuando la tensión de prueba comienza a aplicarse sobre el tercer punto de prueba; y
determinar que al menos el segundo condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el primer punto temporal y el segundo punto temporal son iguales entre sí.
8<. El método de acuerdo con la reivindicación 7, que comprende además:>
emitir un mensaje de diagnóstico indicando que sólo el segundo condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el primer periodo transcurrido es más corto que el primer<periodo umbral y es igual o más largo que un primer periodo de supervisión preestablecido.>
<
9. El método de acuerdo con la reivindicación>8<, que comprende además:>
emitir un mensaje de diagnóstico indicando que sólo el primer condensador entre el primer condensador y el segundo condensador tiene el fallo de circuito abierto, cuando el primer período transcurrido es más corto que el primer período de supervisión y es igual o más largo que un segundo período de supervisión preestablecido.
10. El método de acuerdo con la reivindicación 9, que comprende además:
emitir un mensaje de diagnóstico indicando que tanto el primer condensador como el segundo condensador tienen el fallo de circuito abierto, cuando el primer período transcurrido es más corto que el segundo período de supervisión.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020180075764A KR102407454B1 (ko) | 2018-06-29 | 2018-06-29 | 배터리 관리 시스템에 포함된 회로 기판을 테스트하기 위한 장치 및 방법 |
| PCT/KR2019/003262 WO2020004774A1 (ko) | 2018-06-29 | 2019-03-20 | 배터리 관리 시스템에 포함된 회로 기판을 테스트하기 위한 장치 및 방법 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ES3040071T3 true ES3040071T3 (en) | 2025-10-28 |
Family
ID=68987109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| ES19825696T Active ES3040071T3 (en) | 2018-06-29 | 2019-03-20 | Apparatus and method for testing circuit board included in battery management system |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11262417B2 (es) |
| EP (1) | EP3702794B1 (es) |
| JP (1) | JP7020638B2 (es) |
| KR (1) | KR102407454B1 (es) |
| CN (1) | CN111344580B (es) |
| ES (1) | ES3040071T3 (es) |
| HU (1) | HUE072827T2 (es) |
| WO (1) | WO2020004774A1 (es) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11418041B2 (en) * | 2019-03-15 | 2022-08-16 | Lg Energy Solution, Ltd. | Battery system |
| US11031948B1 (en) * | 2020-09-28 | 2021-06-08 | Baker Hughes Oilfield Operations Llc | Diagnostic system |
| CN113447858B (zh) * | 2020-11-11 | 2022-11-11 | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 | 电路背板检测装置及检测方法 |
| WO2023214429A1 (en) * | 2022-05-05 | 2023-11-09 | Ultraviolette Automotive Private Limited | An unique test method for effectively detecting faults in electrical interconnection in a battery pack |
Family Cites Families (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04151571A (ja) | 1990-10-15 | 1992-05-25 | Toshiba Corp | コンデンサ異常検出回路 |
| DE4221196A1 (de) | 1992-06-27 | 1994-01-05 | Teves Gmbh Alfred | Schaltungsanordnung zur Überwachung einer induktiven Schaltung |
| US6737875B2 (en) * | 2000-05-22 | 2004-05-18 | Damerco, Inc. | Method and apparatus for in-circuit impedance measurement |
| US6624640B2 (en) * | 2001-02-07 | 2003-09-23 | Fluke Corporation | Capacitance measurement |
| US7183934B2 (en) * | 2005-03-23 | 2007-02-27 | Robertshaw Controls Company | Diagnostic circuit |
| KR20060029268A (ko) | 2006-03-15 | 2006-04-05 | 김진호 | 통합 회로검사장치 |
| KR100845252B1 (ko) | 2006-09-22 | 2008-07-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치의 테스트장치 |
| JP5242980B2 (ja) | 2007-10-09 | 2013-07-24 | ファナック株式会社 | コンデンサ故障検出回路および電源装置 |
| US8941394B2 (en) * | 2008-06-25 | 2015-01-27 | Silicon Laboratories Inc. | Capacitive sensor system with noise reduction |
| KR101112621B1 (ko) * | 2010-03-05 | 2012-02-16 | 삼성전기주식회사 | 수동소자가 내장된 인쇄회로기판의 이상 유무 판단 방법 |
| KR101085752B1 (ko) | 2010-05-10 | 2011-11-21 | 삼성전기주식회사 | 회로 기판 및 상기 회로 기판에 장착된 성분의 테스트 방법 |
| KR101711014B1 (ko) | 2010-12-10 | 2017-02-28 | 삼성전자주식회사 | 테스트 장치 및 이를 포함하는 테스트 시스템 |
| JP5687484B2 (ja) | 2010-12-20 | 2015-03-18 | 矢崎総業株式会社 | 絶縁状態検出ユニットのフライングキャパシタ故障検出装置 |
| US8872522B2 (en) | 2011-01-28 | 2014-10-28 | Hamilton Sundstrand Corporation | Frequency based fault detection |
| JP5736197B2 (ja) | 2011-03-09 | 2015-06-17 | 矢崎総業株式会社 | 絶縁状態検出ユニット |
| KR20120120706A (ko) | 2011-04-25 | 2012-11-02 | 삼성전자주식회사 | 보조 전원 장치 및 보조 전원 장치를 포함하는 사용자 장치 |
| KR101295182B1 (ko) | 2012-05-16 | 2013-08-09 | (주)미섬시스텍 | 배터리 보호 회로의 테스트 장치 및 그의 수동 소자 측정 방법 |
| DE102014200268A1 (de) | 2014-01-10 | 2015-07-16 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur Erkennung der Funktionsfähigkeit eines Lastschalters einer Batterie sowie eine Batterie mit einer Vorrichtung zur Erkennung der Funktionsfähigkeit eines Lastschalters der Batterie |
| KR102210985B1 (ko) * | 2014-01-14 | 2021-02-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 구동집적회로, 이를 포함하는 표시장치 및 결합저항 측정 방법 |
| US9442151B2 (en) | 2014-06-09 | 2016-09-13 | Sandisk Technologies Llc | Methods, systems, and computer readable media for detecting electrical disconnection between integrated circuit chip electrical connections and corresponding electrical contacts on a printed circuit board or chip socket during testing of the chip under environmental conditions |
| JP6015718B2 (ja) | 2014-07-14 | 2016-10-26 | トヨタ自動車株式会社 | 情報出力装置 |
| EP3270173B1 (en) | 2015-03-11 | 2022-08-10 | Hitachi Astemo, Ltd. | Battery management device, battery monitoring circuit, control system |
| KR20170059741A (ko) | 2015-11-23 | 2017-05-31 | 한국전기연구원 | 인버터 직류 입력단 커패시터 진단 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 기록 매체 |
| US9876369B2 (en) * | 2016-03-15 | 2018-01-23 | Lg Chem, Ltd. | Battery system and method for determining an open circuit fault condition in a battery module |
| KR101924904B1 (ko) | 2016-12-26 | 2018-12-05 | 전성훈 | 오토바이용 안전슈트 |
-
2018
- 2018-06-29 KR KR1020180075764A patent/KR102407454B1/ko active Active
-
2019
- 2019-03-20 JP JP2020522925A patent/JP7020638B2/ja active Active
- 2019-03-20 CN CN201980005698.7A patent/CN111344580B/zh active Active
- 2019-03-20 WO PCT/KR2019/003262 patent/WO2020004774A1/ko not_active Ceased
- 2019-03-20 HU HUE19825696A patent/HUE072827T2/hu unknown
- 2019-03-20 EP EP19825696.8A patent/EP3702794B1/en active Active
- 2019-03-20 US US16/771,734 patent/US11262417B2/en active Active
- 2019-03-20 ES ES19825696T patent/ES3040071T3/es active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2021500560A (ja) | 2021-01-07 |
| EP3702794A4 (en) | 2021-03-31 |
| KR20200002352A (ko) | 2020-01-08 |
| CN111344580A (zh) | 2020-06-26 |
| JP7020638B2 (ja) | 2022-02-16 |
| WO2020004774A1 (ko) | 2020-01-02 |
| EP3702794B1 (en) | 2025-08-13 |
| US20210156929A1 (en) | 2021-05-27 |
| EP3702794A1 (en) | 2020-09-02 |
| US11262417B2 (en) | 2022-03-01 |
| KR102407454B1 (ko) | 2022-06-10 |
| HUE072827T2 (hu) | 2025-12-28 |
| CN111344580B (zh) | 2022-06-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ES3040071T3 (en) | Apparatus and method for testing circuit board included in battery management system | |
| ES2953071T3 (es) | Sistema de gestión de batería, paquete de batería que lo incluye y método para determinar fallos en el circuito de detección de corriente | |
| ES3013296T3 (en) | Apparatus and method for diagnosing battery | |
| ES3058707T3 (en) | Battery management system, battery pack, electric vehicle and battery management method | |
| CN108713150B (zh) | 诊断装置和包括该诊断装置的电力系统 | |
| KR102247090B1 (ko) | 전류 검출 회로, 배터리 관리 시스템 및 배터리팩 | |
| JP5861954B2 (ja) | バッテリーの絶縁抵抗測定装置及び方法 | |
| ES3057701T3 (en) | Battery management system, battery pack, energy storage system, and battery management method | |
| ES2991598T3 (es) | Dispositivo de gestión de baterías, paquete de baterías, sistema de almacenamiento de energía y método de gestión de baterías | |
| ES2970633T3 (es) | Aparato de medición de corriente, método de medición de corriente y paquete de baterías que incluye el aparato de medición de corriente | |
| ES2946078T3 (es) | Aparato de diagnóstico de batería, método de diagnóstico de batería y sistema de almacenamiento de energía | |
| ES2977503T3 (es) | Sistema de diagnóstico de baterías, sistema de alimentación y método de diagnóstico de baterías | |
| ES2998808T3 (en) | Battery diagnosis device, battery pack, battery system, and battery diagnosis method | |
| ES2998450T3 (en) | Electric leakage detection apparatus, electric leakage detection method, and electric vehicle | |
| CN110709719A (zh) | 用于检测电池泄漏的方法和装置 | |
| ES3019908T3 (en) | Apparatus and method for diagnosing failure of switch unit included in multi battery pack | |
| ES3063148T3 (en) | Method for estimating parameter of equivalent circuit model for battery, and battery management system | |
| ES2959802T3 (es) | Aparato y método para someter a prueba una batería secundaria | |
| ES2989348T3 (es) | Dispositivo de diagnóstico de batería, método de diagnóstico de batería, bloque de baterías, y vehículo eléctrico | |
| KR20130112802A (ko) | 고장 자가 진단 기능을 구비한 절연 저항 측정 장치 및 이를 이용한 자가 진단 방법 | |
| KR20130110066A (ko) | 고장 자가 진단 기능을 구비한 절연 저항 측정 장치 및 이를 이용한 고장 자가 진단 방법 | |
| ES3036385T3 (en) | Battery diagnosis device, battery management system, battery pack, electric vehicle, and battery diagnosis method | |
| ES3014095T3 (en) | Overvoltage characteristics evaluation apparatus and method for battery | |
| JP6071089B2 (ja) | 高電圧供給遮断アセンブリー及びバッテリーパックの絶縁抵抗破壊有無の判断方法 | |
| KR20200127459A (ko) | 전도체의 불량을 검출하기 위한 장치, 방법 및 배터리 팩 |