ES2353316T3 - Dispositivo de medición para medir las propiedades refractivas de lentes ópticas. - Google Patents

Abstract

Dispositivo de medición (01) para medir las propiedades refractivas de lentes ópticas (07), en especial cristales de gafas, con un detector de luz de medición (12) sobre el cual se proyectan haces de luz desviados (16) y que se captan allí de manera electrónica, y con un aparato de valoración en el que a partir de las señales de medición del detector de luz de medición (12) se determinan las propiedades refractivas de la lente (07), para lo cual entre la lente objeto de examen (07) y el detector de luz de medición (12) hay colocado un diafragma (10) con varios orificios de paso de luz (23, 24), caracterizado porque el dispositivo de medición (01) presenta una retícula de luz de medición (20), sirviendo la retícula de luz de medición (20) para producir varios haces de luz (16), que son desviados por la lente (07) por refracción, y proyectándose los haces de luz (16) producidos por la retícula de luz de medición (20) y desviados por refracción por la lente (07) sobre el detector de luz de medición (12) a través de los diversos orificios de paso de luz (23, 24) del diafragma (10) a través de corredores ópticos separados.

Description

La invención se refiere a un dispositivo de medición para medir las propiedades refractivas de lentes ópticas, especialmente cristales de gafas, según el preámbulo de la reivindicación 1.

Por el estado de la técnica se conocen dispositivos de estas características, también llamados refractómetros del ángulo vertical. Habitualmente estos refractómetros del ángulo vertical poseen una retícula de luz de medición para producir varios haces de luz. Esta retícula puede estar formada, por ejemplo, por cuatro diodos emisores de luz. Los haces de luz producidos por la retícula se desvían de la lente objeto de examen por refracción, siendo proyectados los haces de luz desviados a un detector de luz de medición donde son captados electrónicamente. Dependiendo de las propiedades refractivas de la lente, la retícula de luz de medición se proyectará de una manera característica sobre el detector de luz de medición, de manera que se pueden determinar las propiedades refractivas de la lente a partir de las señales de medición del detector de luz de medición. Esta determinación de las propiedades refractivas se produce en los dispositivos de medición habituales en un aparato de valoración en el que, por ejemplo mediante un procesamiento de imagen adecuado, se puede evaluar la muestra recogida por el detector de luz de medición.

La desventaja de los refractómetros del ángulo vertical es que las propiedades refractivas de la lente sólo pueden examinarse en un punto. A tal fin, el punto sometido a examen debe colocarse en el dispositivo de medición de manera que se encuentre en el eje de medición principal del dispositivo de medición. En esta zona concreta se pueden determinar las propiedades refractivas de la lente. En el caso de una lente cilíndrica regular, la determinación de las propiedades refractivas en un punto es suficiente, ya que estas no cambian en los distintos puntos de la lente.

No obstante, la medición de lentes irregulares es problemática, por ejemplo las lentes bifocales progresivas, ya que en dichas lentes irregulares las propiedades refractivas cambian dependiendo de las diversas partes de la lente. Para medir lentes irregulares de tales características, se necesita por ahora que el personal auxiliar deslice la lente a mano entre los distintos procedimientos de medición y de esta manera se obtengan los valores de medición sucesivos para las distintas partes de la lente. Este tipo de medición es extraordinariamente complicada, imprecisa y costosa.

Partiendo de este estado de la técnica, el objetivo de la presente invención es por tanto proponer un nuevo dispositivo de medición para medir las características refractivas de las lentes ópticas.

Este objetivo se consigue mediante un dispositivo de medición según la explicación de

la reivindicación 1.

Las formas ventajosas de realización son objeto de las reivindicaciones subordinadas.

El dispositivo de medición según la invención se basa en el concepto de que entre la lente objeto de examen y el detector de luz de medición se encuentra un diafragma con varios orificios de paso de luz para aumentar la exactitud de valoración de los resultados de medición del detector de luz de medición. Las aberturas de paso de la luz del diafragma hacen que los distintos haces de luz producidos por refracción sean proyectados a su vez de forma múltiple sobre el detector de luz de medición por recorridos ópticos separados. Esto a su vez da como resultado que al operar una sola fuente de luz de la retícula de luz de medición se proyecten varios puntos de luz sobre el detector de luz de medición, correspondientes al número de orificios de paso de la luz, de manera que cada punto de luz puede ser valorado individualmente respecto a las propiedades refractivas en el aparato de valoración.

Además, la valoración de los patrones luminosos en el detector de luz de medición se simplifica considerablemente si las aberturas de paso de la luz del diafragma se organizan según una retícula cartesiana o polar. Se ha comprobado que una retícula cartesiana de 6x6 con un total de 36 orificios de paso de la luz es especialmente apropiada.

Asimismo, un orificio de paso de luz del diafragma debería tener una sección diferente, especialmente mayor, que los demás orificios de paso de luz, para servir así como marca índice del patrón luminoso en la interpretación de imagen de las señales de medición del detector de luz de medición.

Las aberturas de paso de luz del diafragma deberían preferentemente tener una sección redonda, ya que las proyecciones luminosas circulares resultantes sobre el detector de luz de medición pueden ser valoradas de manera especialmente precisa y sencilla.

La manera constructiva en que se realicen las aberturas de paso de luz en el diafragma es, en principio, a discreción. Una forma de realización preferente es un diafragma no transparente en el que las aberturas de paso de luz se realizan practicando cavidades en el diafragma no transparente. Estas cavidades pueden realizarse por ejemplo taladrando con un rayo láser.

De manera alternativa, también puede emplearse un diafragma transparente en el que las aberturas de paso de la luz se realicen con cavidades en una capa no transparente que se coloque sobre el diafragma transparente. Por ejemplo, es sencillo y económico colocar una impresión sobre un diafragma transparente hecho por ejemplo de cristal.

Especialmente ventajoso es que el dispositivo de medición cuente con un sistema accesorio de medición para medir electrónicamente la geometría de la superficie anterior de la lente y/o de la superficie posterior de la lente. En otras palabras, con el sistema accesorio del dispositivo de medición según la invención se puede determinar la topografía de la lente objeto de examen. El sistema accesorio de medición proporciona datos sobre la geometría de la superficie de la lente, de manera que dichos datos se tengan en cuenta al determinar las propiedades refractivas de la lente en el aparato de valoración. Así se consigue que, enmascarando las retículas apropiadas de luz de medición, se puedan determinar las propiedades refractivas de la lente en todos sus puntos, sin que haya que desplazar la lente a tal fin en el dispositivo de medición. La colocación definida de un punto de medición de la lente en el dispositivo de medición se sustituye por el hecho de que al emplear el sistema accesorio se determina la topografía de toda la lente y tenerla en cuenta al explorar las propiedades refractivas en las distintas partes de la lente.

En la medida en la que se coloquen las lentes objeto de examen en una posición definida en el dispositivo de medición, puede tenerse en cuenta dicha posición definida relativa entre la lente y el dispositivo de medición como condición supletoria preestablecida de las mediciones. Sin embargo, puede que la colocación definida de la lente en el dispositivo de medición sea difícil o imposible, de manera que se produzcan fallos en la medición por las variaciones de localización resultantes. Por tanto, es especialmente ventajoso que con el sistema accesorio se pueda determinar también la posición relativa de la lente en el dispositivo de medición. También este resultado adicional de medición se tiene en cuenta en la determinación de las propiedades refractivas de la lente en el aparato de valoración.

En principio se puede construir a discreción el sistema accesorio para determinar la geometría o topografía de la lentilla y/o la posición relativa entre la lente y el dispositivo de medición. Según una realización preferente, se emplea un sistema de medición de luz de reflexión para medir la geometría o la posición de la lente. Este sistema de medición de luz de reflexión incluye al menos una fuente de luz de medición de reflexión y un detector de luz de medición de reflexión. El haz de luz producido por la fuente de luz de medición de reflexión se refleja en la superficie anterior de la lente y/o en la superficie posterior de la lente al menos en parte, de manera que la porción reflejada del haz de luz se proyecta sobre el detector de luz de medición de reflexión y allí se capta electrónicamente. Las señales de medición captadas con el detector de luz de medición de reflexión se valoran en el aparato de valoración y de ahí se determina la superficie de la lente así como la posición de la lente en el dispositivo de medición.

De manera adicional a la determinación de la topografía de la lente así como la posición de la lente se puede determinar a partir de las señales de medición del detector de luz de medición de reflexión también el índice de antirreflexión de la superficie de la lente, para poder hacer declaraciones sobre la bonificación de las mismas.

Asimismo, la valoración de las distintas señales de medición del detector de luz de medición de reflexión así como del detector de luz de medición posibilita la determinación del índice de refracción del material del que está hecha la lente.

Además es especialmente ventajoso si al menos dos fuentes de luz de la retícula de luz de medición así como al menos dos fuentes de luz de medición de reflexión arrojan haces de luz de distintos colores. Estos colores distintos posibilitan que, a partir de las señales de medición del detector de luz de medición de reflexión así como de las señales de medición del detector de luz de medición, se determine como coeficiente del material la permeabilidad espectral del material del que está hecha la lente.

En principio se pueden emplear diferentes fuentes de luz para la retícula de luz de medición y la luz de medición de reflexión. No obstante, el dispositivo de medición se puede elaborar de manera especialmente económica si las fuentes de luz de la retícula de luz de medición también sirven como fuentes de luz de medición de reflexión del sistema accesorio. De este modo, se puede prescindir de fuentes de luz de medición de reflexión adicionales de manera que el sistema accesorio puede realizarse simplemente colocando un detector de luz de medición de reflexión adicional.

En principio se puede elegir a discreción en qué lugar del aparato se coloca el detector de luz de medición de reflexión. Según una forma de realización preferente, el detector de luz de medición de reflexión se coloca en mitad de la retícula de luz de medición.

Asimismo es especialmente ventajoso que el detector de luz de medición de reflexión esté opuesto al detector de luz de medición en el eje óptico principal del dispositivo de medición, de manera que se obtenga un sistema de medición simétrico al eje principal del dispositivo de medición.

En principio, el tipo de fuente de luz para la retícula de luz de medición así como para la retícula de luz de medición de reflexión se puede elegir a discreción. Por ejemplo, se pueden emplear fuentes de luz en combinación con diafragmas de columna o puntos correspondientemente instalados. La construcción del dispositivo de medición es especialmente económica y sencilla si se emplean fuentes de luz con forma de puntos, especialmente diodos emisores de luz, para producir la luz de medición así como la luz de medición de reflexión. Los diodos emisores de luz deberían emitir preferentemente luz blanca.

La valoración de las señales de medición del detector de luz de medición de reflexión así como del detector de luz de medición se simplifica enormemente si las fuentes de luz de medición de reflexión así como las fuentes de luz de la retícula de luz de medición se distribuyen según una retícula cartesiana o polar. Especialmente preferente es la disposición de 64 fuentes de luz en una retícula polar de 16 recorridos y 4 círculos concéntricos en la construcción de la retícula de luz de medición así como la retícula de luz de medición de reflexión.

El detector de luz de medición de reflexión y/o detector de luz de medición se construyen preferentemente en forma de un sensor de video. Se pueden emplear especialmente para ello chips CCD o CMOS.

Para la colocación de la lente en el dispositivo de medición, este debería disponer preferentemente de un alojamiento de múltiples puntos con tres puntos de apoyo preferentemente. El espacio entre los puntos de apoyo debería poder modificarse, para poder alojar de forma óptima diferentes tamaños de lente en el dispositivo de medición.

En principio se puede determinar a discreción la manera en la que los resultados de valoración del aparato de valoración se presentan. Preferentemente debería conectarse una unidad de representación, como una pantalla o una impresora, con el aparato de valoración. Los resultados de valoración, especialmente la geometría de la superficie anterior o posterior de la lente, así como las propiedades refractivas, pueden mostrarse bidimensionalmente de manera gráfica en la unidad de representación.

Una forma de realización de la invención se representa esquemáticamente en las ilustraciones y se explica a continuación con ejemplos.

Se muestra: Fig. 1 un dispositivo de medición para medir las propiedades refractivas de lentes ópticas, vista en perspectiva; Fig. 2 el dispositivo de medición según la Fig. 1, vista lateral; Fig. 3 el principio de funcionamiento del dispositivo de medición según la vista lateral esquematizada en la Fig. 1; Fig. 4 la construcción de la retícula de luz de medición del dispositivo de medición según la Fig. 1, vista desde arriba; Fig. 5 la construcción del diafragma colocado ante el detector de medición del dispositivo de medición según la Fig. 1.

En la Fig. 1 se representa un dispositivo de medición 01 para medir las propiedades refractivas de lentes ópticas con una vista en perspectiva. Para la colocación de una lente 07 en el dispositivo de medición 01 durante la medición se dispone de un alojamiento 02 con una apertura de entrada de tamaño correspondiente. Sobre este alojamiento 02 se coloca la lente 07 durante la medición desde arriba.

Sobre una placa base 03 hay dos placas electrónicas 04 y 05 fijadas con pernos de fijación. La placa electrónica 04 tiene un número de diodos emisores de luz 06, que emiten luz blanca y están dispuestos según una retícula polar en los puntos de cruce de 16 recorridos con 4 círculos concéntricos. La construcción de la retícula para la disposición de los diodos emisores de luz 06 se ve en la Fig. 4.

A su vez, la placa electrónica 04 soporta los componentes de dirección electrónicos para orientar los diodos emisores de luz 06. Los diodos emisores de luz 06 constituyen una retícula de luz de medición con cuya ayuda se pueden determinar las propiedades refractivas de la lente 07. Asimismo, los diodos emisores de luz 06 sirven de fuentes de luz de medición de reflexión, con cuya ayuda se puede determinar la geometría de la lente objeto de examen 07 y su posición relativa en el dispositivo de medición 01.

En un soporte 08, que también soporta el alojamiento 02, hay fijada una placa de soporte 09 de altura ajustable. En una muesca de la placa de soporte 09 hay un diafragma 10 que presenta 36 orificios de paso de luz 23 y un orificio índice de paso de luz 24. Por encima del diafragma 10 hay otra placa electrónica 11 fijada a la placa de soporte 09, en cuya cara inferior dirigida al diafragma 10 se encuentra un detector de luz de medición 12, que está constituido por ejemplo en forma de un chip CMOS o chip CCD. Sobre la placa electrónica 05, por debajo de una muesca13 en la placa electrónica 4, hay un detector de luz de medición de reflexión 14 en el que se puede captar la luz que se refleja en la lente 07.

Las placas electrónicas 04, 05 y 11 están conectadas, con cables no representados en la Fig. 1 y Fig. 2, con otra placa electrónica 15, sobre la que se encuentra la microelectrónica que sirve de aparato de valoración y la electrónica de potencia necesaria para operar el dispositivo de medición 01.

El principio de medición del dispositivo de medición 01 se ilustrará a continuación a partir del esquema de principio en la Fig. 3. Para determinar las propiedades refractivas de la lente 07 se coloca esta en primer lugar en el alojamiento 02. En lugar del alojamiento fijo 02 representado en la Fig 1 se puede emplear un alojamiento de tres apoyos en el que la distancia entre los puntos de apoyo se puede ajustar. En la medición de la lente 07 se conectan de manera individual y consecutiva los diodos emisores de luz 06 que emiten un haz de luz blanca

16. Este haz de luz de la lente 07 se desvía por refracción y se arroja sobre el reverso de la lente 07 con un ángulo de refracción determinado, que representa las características refractivas de la lente 07 en el punto en cuestión, en dirección al detector de luz de medición 12.

Dado que ante el detector de luz de medición 12 está colocado el diafragma 10 con una retícula con 37 orificios de paso de luz, el haz de luz desviado por refracción 16 se proyecta sobre el detector de luz de medición 12 a lo largo de 37 corredores ópticos diferentes y allí constituye una retícula luminosa característica en el punto de paso de luz para las propiedades refractivas de la lente 07. En otras palabras, al conectar los diodos emisores de luz 06 el haz de luz 16 forma una retícula de puntos luminosos de 37 puntos de luz sobre el detector de luz de medición 12 tras pasar por la lente 07 y el diafragma 10. Esta retícula de puntos luminosos es captada por el detector de luz de medición 12 de forma electrónica y comparada en la electrónica de valoración con la retícula de puntos luminosos que resulta al operar los diodos emisores de luz 06 sin interposición de la lente 07. Por la diferencia entre ambas retículas de puntos luminosos se pueden determinar las propiedades refractivas de la lente 07 en el punto correspondiente.

Como se ve en la Fig. 3, el haz de luz 16 de los diodos emisores de luz 06 pasan por la lente 07 en un punto, que no se encuentra en el punto de paso del eje óptico principal 17 del dispositivo de medición 01. Para poder determinar la posición relativa del punto de paso y la geometría de la superficie anterior de la lente 18 así como de la superficie posterior de la lente 19, se emplea el detector de luz de medición de reflexión 14. Con el detector de luz de medición de reflexión 14 se captan las cantidades de luz del haz de luz 16 que se reflejan en los puntos de paso de luz de las superficies 18 y 19 y se valoran convenientemente en la electrónica de valoración.

La medición de la luz de paso y la luz de reflexión anteriormente descrita con el detector de luz de medición 12 y el detector de luz de medición de reflexión 14 se lleva a cabo de manera consecutiva conectando el total de 64 diodos emisores de luz 06. Para averiguar las propiedades refractivas de la lente 07 se obtienen en la electrónica de valoración un total de 64 retículas de puntos luminosos con 37 puntos de luz cada una. A partir de los valores de medición del detector de luz de medición de reflexión 14 se determina al mismo tiempo la geometría de la lente 07 y su posición en el dispositivo de medición 01, los resultados de valoración del sistema de medición accesorio se tienen en cuenta en la investigación de las propiedades refractivas. Como resultado, no es necesario desplazar la lente 07 por el dispositivo de medición 01 para la completa determinación de las propiedades refractivas diferentes en cada punto.

La construcción esquemática de la retícula de luz de medición 20, cuyos diodos emisores de luz 06 sirven al mismo tiempo como fuentes de luz de medición de reflexión, se ve en la Fig. 4. Los diodos emisores de luz 06 están dispuestos en una retícula polar, para constituir la retícula de medición 20, que resulta de los puntos de cruce de 16 corredores ópticos de retícula 21 distribuidos homogéneamente con 4 círculos de retícula 22 dispuestos concéntricamente. En medio de la retícula de luz de medición 20 se encuentra la muesca 13, bajo la que se encuentra el detector de luz de medición de reflexión 14.

En la Fig. 5 se ve la construcción del diafragma 10 con las aberturas de paso de luz 23 y 24 en una vista desde arriba. Las aberturas de paso de luz 23 presentan una sección pequeña y redonda y están distribuidos en los 36 puntos de cruce de una retícula cartesiana 6x6. En mitad de esa retícula cartesiana se encuentra el orificio de paso de luz 24, que tiene una sección mayor y por tanto sirve como marca índice en la proyección sobre el detector de luz de medición 12. Para obtener las aberturas de paso de luz 23 y 24 se trabaja una plaquita de metal con un rayo láser, realizando cavidades. De manera alternativa, se puede colocar una impresión no transparente sobre una plaquita de cristal, que presente cavidades en los puntos correspondientes.

Claims (24)

1. REIVINDICACIONES

   1. Dispositivo de medición (01) para medir las propiedades refractivas de lentes ópticas (07), en especial cristales de gafas, con un detector de luz de medición (12) sobre el cual se proyectan haces de luz desviados (16) y que se captan allí de manera electrónica, y con un aparato de valoración en el que a partir de las señales de medición del detector de luz de medición (12) se determinan las propiedades refractivas de la lente (07), para lo cual entre la lente objeto de examen (07) y el detector de luz de medición (12) hay colocado un diafragma

   (10) con varios orificios de paso de luz (23, 24),

   caracterizado porque

   el dispositivo de medición (01) presenta una retícula de luz de medición (20), sirviendo la retícula de luz de medición (20) para producir varios haces de luz (16), que son desviados por la lente (07) por refracción, y proyectándose los haces de luz (16) producidos por la retícula de luz de medición (20) y desviados por refracción por la lente (07) sobre el detector de luz de medición (12) a través de los diversos orificios de paso de luz (23, 24) del diafragma (10) a través de corredores ópticos separados.
2. 2. Dispositivo de medición según la reivindicación 1,

   caracterizado porque

   las aberturas de paso de luz (23, 24) del diafragma (10) presentan una sección redonda.
3. 3. Dispositivo de medición según la reivindicación 1 ó 2,

   caracterizado porque

   las aberturas de paso de luz (23) del diafragma (10) están dispuestos en retícula cartesiana o polar.
4. 4. Dispositivo de medición según la reivindicación 3,

   caracterizado porque

   36 orificios de paso de luz (23) están dispuestos en una retícula cartesiana 6x6.
5. 5. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 1 a 4,

   caracterizado porque

   un orificio de paso de luz (24) del diafragma (10) sirve de marca índice y presenta una sección diferente, especialmente una sección mayor, que todos los demás orificios de paso de luz (23).
6. 6. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 1 a 5,

   caracterizado porque

   las aberturas de paso de luz (23, 24) se forman como cavidades en un diafragma no transparente.
7. 7. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 1 a 6,

   caracterizado porque

   las aberturas de paso de luz se forman como cavidades en una capa no transparente, especialmente una impresión, sobre un diafragma transparente.
8. 8. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 1 a 7,

   caracterizado porque

   el dispositivo dispone de un sistema de medición accesorio (14, 20) para la medición electrónica de la geometría de la superficie anterior de la lente (18) y/o de la superficie posterior de la lente (19), incluyéndose el resultado de medición del sistema de medición accesorio (14) en la determinación de las propiedades refractivas de la lente (07) en el aparato de valoración.
9. 9. Dispositivo de medición según la reivindicación 8,

   caracterizado porque

   con el sistema de medición adicional (06, 14, 20) es posible medir la posición relativa de la lente (07) en el dispositivo de medición (01), incluyéndose este resultado de medición adicional del sistema de medición accesorio (14) en la determinación de las propiedades refractivas de la lente (07) en el aparato de valoración.
10. 10. Dispositivo de medición según la reivindicación 8 ó 9,

    caracterizado porque

    el sistema de medición accesorio (06, 14, 20) comprende una fuente de luz de medición de reflexión (06, 20) y un detector de luz de medición de reflexión (14), en el que los haces de luz

    (16) producidos por la fuente de luz de medición de reflexión (06, 20) se reflejan, al menos parcialmente, en la superficie anterior de la lente (18) y/o en la superficie posterior de la lente (19), y en el que los haces de luz reflejados son proyectados sobre el detector de luz de medición de reflexión (14) y allí son captados electrónicamente, y en el que en el aparato de valoración, a partir de las señales de medición del detector de luz de medición de reflexión (14), se determina la geometría de la superficie anterior de la lente (18) y/o de la superficie posterior de la lente (19) y/o la posición relativa de la lente (07) en el dispositivo de medición (01).
11. 11. Dispositivo de medición según la reivindicación 10,

    caracterizado porque

    en el aparato de valoración se determina, a partir de las señales de medición del detector de luz de medición de reflexión (14), el índice de antirreflexión de las superficies de la lente (18, 19).
12. 12. Dispositivo de medición según la reivindicación 10 u 11,

    caracterizado porque

    en el aparato de valoración, a partir de las señales de medición del detector de luz de medición de reflexión (14) y/o de las señales de medición del detector de luz de medición (12), se determina el índice de refracción n como coeficiente del material que constituye la lente objeto de examen (7).
13. 13. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 10 a 13,

    caracterizado porque

    las fuentes de luz (06) de la retícula de luz de medición (20) del dispositivo de medición también sirven como fuentes de luz de medición de reflexión del sistema de medición accesorio.
14. 14. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 10 a 13,

    caracterizado porque

    el detector de luz de medición de reflexión (14) está colocado en mitad de la retícula de luz de medición (20).
15. 15. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 10 a 14,

    caracterizado porque

    el detector de luz de medición de reflexión (14) está opuesto al detector de luz de medición (12) en el eje óptico principal (17) del dispositivo de medición (01).
16. 16. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 10 a 15,

    caracterizado porque

    varias fuentes de luz esencialmente en forma de puntos (06) sirven como fuentes de luz de medición de reflexión y/o como fuentes de luz en la retícula de luz de medición (20).
17. 17. Dispositivo de medición según la reivindicación 16,

    caracterizado porque

    las fuentes de luz en forma de puntos se forman por diodos emisores de luz (06), especialmente diodos emisores de luz blanca.
18. 18. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 10 a 17,

    caracterizado porque

    al menos dos fuentes de luz (06) de la retícula de luz de medición (20) y/o al menos dos fuentes de luz de medición de reflexión producen haces de luz de color diferente, determinándose en el aparato de valoración a partir de las señales de medición del detector de luz de medición de reflexión (14) y/o de las señales de medición del detector de luz de medición (12) la permeabilidad espectral como coeficiente del material que constituye la lente objeto de examen (07).
19. 19. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 10 a 18,

    caracterizado porque

    las fuentes de luz de medición de reflexión y/o las fuentes de luz (06) en la retícula de luz de medición (20) están dispuestas en una retícula cartesiana o polar.
20. 20. Dispositivo de medición según la reivindicación 19,

    caracterizado porque

    64 fuentes de luz (06) están dispuestas en una retícula polar en los puntos de cruce de 16 recorridos ópticos (21) y cuatro círculos de retícula concéntricos (22).
21. 21. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 10 a 20,

    caracterizado porque

    el detector de luz de medición de reflexión (14) y/o el detector de luz de medición (12) se construyen en forma de un sensor de video, especialmente en forma de un chip CCD o un chip CMOS.
22. 22. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 1 a 21,

    caracterizado porque

    para la colocación de la lente en el dispositivo de medición se dispone de un alojamiento con múltiples puntos con especialmente tres puntos de apoyo.
23. 23. Dispositivo de medición según la reivindicación 22,

    caracterizado porque

    el espacio entre los puntos de apoyo del alojamiento con múltiples puntos de apoyo es ajustable.

    5
24. 24. Dispositivo de medición según una de las reivindicaciones 1 a 23,

    caracterizado porque

    el aparato de valoración está conectado con una unidad de representación, especialmente una pantalla y/o una impresora, en la que los resultados de valoración del aparato de valoración,

    10 especialmente la geometría de las superficies de la lente y/o las propiedades refractivas de la lente se pueden representar gráficamente mediante la unidad de representación.