ES2319644T3 - Aparato y metodo para analizar la resistencia mecanica de una superficie de un disco optico. - Google Patents

Aparato y metodo para analizar la resistencia mecanica de una superficie de un disco optico. Download PDF

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Tae Hee Jeong
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Abstract

Aparato para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico (30), que comprende: un plato giratorio (20), sobre el cual se carga un disco óptico (30) a ser rayado, para hacer girar el disco óptico cargado (30); y una pluralidad de ruedas abrasivas (10), dispuestas perpendicularmente al plato giratorio (20) para contactar el disco óptico (30) y generar el rayado, generándose el rayado cuando el disco óptico (30) gira como máximo 5 vueltas durante las cuales las ruedas abrasivas aplican una carga predeterminada en el disco óptico (30).

Description

Aparato y método para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico.
Campo técnico
La presente invención se refiere a un aparato y método para analizar la calidad de un disco óptico, y más particularmente, a un aparato y método para analizar la calidad de la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico.
Técnica anterior
Hasta la fecha, existen medios de grabación tales como una cinta de grabación magnética, un disco láser (LD) o un disco compacto (CD) como disco óptico, y un disco de video digital (DVD) creado recientemente con una enorme capacidad de grabación.
Debido a que el disco óptico entre los medios de grabación utiliza un sistema de grabación digital diferente del sistema de grabación convencional, es decir, sistema de grabación magnético, y tiene un volumen y peso muy pequeños de manera que es eficiente y conveniente para ser guardado y transportado, hay una tendencia reciente a que los consumidores prefieran el disco óptico.
Sin embargo, cualquier aparato debería ser usado sin defecto alguno, y si hubiera algún problema de calidad, entonces la confianza del usuario respecto al fabricante se vería reducida.
Esto causa un problema más serio en el disco óptico que tiene características de señal minúsculas y conlleva una calidad inferior originada por el error del grosor de un disco, rayado, deformidad, huella dactilar y fijación de material foráneo durante la fabricación del producto.
De esta manera, un disco óptico producido es sometido a una prueba de calidad como siguiente proceso y el disco óptico es transportado a un local de venta de discos ópticos.
Una prueba de calidad convencional para un disco óptico es realizada generalmente mediante cuatro unidades de medición.
Primero, bajo el supuesto de que las características de los discos ópticos fabricados por el mismo equipo son idénticas, el fabricante realiza una elección de un disco óptico arbitrario de entre todos los discos ópticos fabricados y carga el disco óptico seleccionado en un sistema de medición.
En la primera unidad de medición, se miden una señal ondulatoria de alta frecuencia y una fluctuación por medio de una señal reproducida del disco óptico.
En la segunda unidad de medición, se mide una señal servo (una señal de error de enfoque y una señal de error de seguimiento) en base a una señal reproducida del disco óptico.
En la tercera unidad de medición, se miden las características mecánicas del disco óptico, que está siendo sometido a la prueba de calidad.
Finalmente, en la cuarta unidad de medición, se miden las características ópticas del disco óptico.
Tal como se ha descrito anteriormente, según la prueba tradicional, se inspeccionan la exactitud de la grabación de información, las características mecánicas y las características ópticas del disco óptico.
A partir de las mismas, debido a que un daño mecánico que podría ocurrir en una superficie en la que incide un haz láser de grabación/reproducción de información durante el uso de un disco óptico de alta densidad, es decir, un rayado y similar, causaría el deterioro de una señal de un disco óptico así como pérdida de datos, y en los casos más graves, llevaría a la imposibilidad de grabar y/o reproducir información en el disco óptico, el daño afecta a la porción más importante de la prueba de calidad del disco óptico.
Por lo tanto, para prevenir esto, puede formarse un recubrimiento protector para mejorar la rigidez o dureza mecánica de la superficie del disco óptico.
Sin embargo, después de formar el recubrimiento protector sobre la superficie del disco para este propósito, las características mecánicas del recubrimiento protector deberían ser cuantificadas. Es decir, existe una necesidad de cuantificar durante cuánto tiempo el recubrimiento protector resistiría el rayado que ocurriría durante el uso del disco óptico.
Existen una prueba de dureza con lápices y una prueba de abrasión taber como una prueba para la cuantificación de la protección de superficie del disco óptico de alta densidad.
La prueba de dureza con lápices es un método de estimación para estimar el rayado a un valor de dureza correspondiente a la dureza del lápiz en un instante en el que se produce el rayado al contactar lápices de diferentes durezas con el disco óptico en un movimiento rectilíneo.
Sin embargo, debido a que la prueba de dureza con lápices es una prueba para generar el rayado mediante la cual una persona contacta el lápiz en la superficie del disco óptico, esta prueba tiene desventajas ya que es difícil no sólo mantener la misma carga continuamente, sino también generar la cantidad de rayado debido a que el rayado no ocurre tan frecuentemente como se desea.
La prueba de abrasión taber es una prueba para estimar el grado de resistencia mediante el desgaste uniforme de la superficie del disco óptico mientras se aplica una carga predeterminada por medio del método D1004 de un estándar de la American Society for Testing and Materials (ASTM) como un tipo de rueda abrasiva.
En el aparato de prueba de abrasión taber convencional, si un disco óptico a ser rayado es cargado y hecho girar, una pluralidad de ruedas abrasivas que tienen un peso predeterminado contactan el disco óptico en una posición perpendicular al disco óptico de manera que rayan la superficie del disco óptico mediante una carga uniforme durante al menos diez o más vueltas del disco óptico.
En ese momento, el ASTM define que la carga generada por la rueda abrasiva sea inferior a 9,8 N (1.000 gf), y hay varios tipos tales como CS-10F, CS-10 y CS-17 a usar.
El aparato de prueba de abrasión taber tal como se ha descrito anteriormente es un equipo que no está diseñado con el propósito de analizar la resistencia mecánica de la superficie del disco óptico mediante el rayado del disco óptico, sino para analizar un grado del rayado de artículos de plástico en general.
Por lo tanto, el rayado que se produce mediante el aparato de prueba de abrasión taber es notablemente diferente del rayado generado cuando el disco óptico es usado realmente en la vida real.
Concretamente, el aparato de prueba de abrasión taber determina la resistencia de la superficie del disco óptico mediante el desgaste de la superficie. Esto es notablemente diferente de la situación en la que un rayado es generado realmente en una unidad (por ejemplo, la unidad de disco óptico) durante el accionamiento del disco óptico en respuesta a la operación.
Por lo tanto, debido a que el fabricante determina la calidad del disco óptico mediante su determinación relativa con su clasificación no cuantitativa basada en su experiencia según un estándar de referencial actual al determinar la calidad del disco óptico como mala o buena mediante el aparato de prueba de abrasión taber, hay una gran cantidad de errores. Además, debido a que los rayados generados en el disco óptico en la vida real y mediante el aparato de prueba de abrasión taber tienen formas diferentes, un intento de determinar el disco óptico como de mala calidad o de buena calidad solamente mediante la experiencia y sin un valor de referencia absoluto genera una gran cantidad de errores.
Tal como se ha descrito anteriormente, debido a que hasta la fecha no existe un método especial para cuantificar el grado de generación del rayado con el fin de analizar la resistencia mecánica de la superficie del disco óptico, se demanda urgentemente una cuantificación del grado de rayado.
Descripción de la invención
Por consiguiente, la presente invención se refiere a un aparato y método para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico que evita sustancialmente uno o más problemas debidos a las limitaciones y desventajas de la técnica relacionada.
Un objeto de la presente invención es proporcionar un aparato de prueba óptimo para cuantificar las características de resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico con el propósito de mejorar las características mecánicas de la superficie y un método realizado mediante el aparato.
Otro objeto de la presente invención es proporcionar un aparato para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico, incrementando la fiabilidad y reduciendo el coste de prueba, y un método realizado por el aparato.
Todavía otro objeto de la presente invención es proporcionar un aparato para clasificar un producto de mala calidad y un producto de buena calidad fijando una referencia absoluta rápidamente y de manera precisa, y un método realizado por el aparato.
Todavía otro objeto de la presente invención es generar un rayado del tipo más parecido al rayado que se generará en la vida real de manera que se mejore la fiabilidad de la prueba para la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico.
Ventajas, objetos y características adicionales de la invención se expondrán en parte en la descripción siguiente y en parte se harán evidentes para las personas con conocimientos en la materia tras el examen de la descripción siguiente o pueden ser aprendidos a partir de la práctica de la invención. Los objetivos y otras ventajas de la invención pueden ser realizados y conseguidos mediante la estructura destacada particularmente en la descripción del texto de la presente memoria y las reivindicaciones de la misma así como los dibujos adjuntos.
Para conseguir estos objetos y otras ventajas y según el propósito de la invención, tal como se representa y se describe ampliamente en la presente memoria, un aparato para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico incluye un plato giratorio, sobre el cual se carga un disco óptico a rayar, para hacer girar el disco óptico cargado, y una pluralidad de ruedas abrasivas, dispuestas perpendicularmente al plato giratorio, para contactar el disco óptico y generar el rayado, generándose el rayado cuando el disco óptico gira menos de 5 vueltas durante las cuales las ruedas abrasivas aplican una carga predeterminada en el disco óptico.
En otro aspecto de la presente invención, la carga aplicada en el disco óptico mediante las ruedas abrasivas se encuentra en el intervalo de 0,5 N (50 gf) a 16,2 N (1.650 gf) y la profundidad del rayado en la superficie del disco óptico se encuentra en el intervalo de 0 \mum a 2 \mum.
La rueda abrasiva puede ser seleccionada de entre cualquiera de CS-10F, CS-10 y CS-17.
El rayado puede ser generado cuando el disco óptico gira una vuelta en la que se aplica en el disco óptico una carga de 0,5 N a 2,5 N (50 gf a 250 gf) mediante la rueda abrasiva CS-10F, cuando el disco óptico gira una vuelta en la que se aplica en el disco óptico una carga de 6,4 N a 8,3 N (650 gf a 850 gf) mediante la rueda abrasiva CS-10 y cuando el disco óptico gira una vuelta en la que se aplica en el disco óptico una carga de 11,8 N a 13,7 N (1.200 gf a 1.400 gf) mediante la rueda abrasiva CS-17.
En todavía otro aspecto de la presente invención, un método para analizar una resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico usando un aparato de prueba cuyo plato giratorio hace girar el disco óptico y una pluralidad de ruedas abrasivas generan rayados en el disco óptico, incluye las etapas de fijar el disco óptico en el plato giratorio, hacer girar el disco óptico mediante el plato giratorio, contactar las ruedas abrasivas con la superficie del disco óptico e incrementar una carga de contacto de las ruedas abrasivas y el disco óptico en una carga predeterminada, generar el rayado en la superficie del disco óptico manteniendo la carga de contacto en el disco óptico y las ruedas abrasivas mientras el disco óptico gira menos de cinco vueltas y separar del disco óptico las ruedas abrasivas que contactan con el disco óptico, y separar el disco óptico del plato giratorio y determinar si el disco óptico es de mala calidad o de buena calidad comparando una profundidad del rayado generado en la superficie del disco óptico con un valor de referencia absoluto predeterminado.
Según un aspecto de la presente invención, la etapa de determinación del disco óptico determina que el disco óptico es de buena calidad cuando la profundidad del rayado generado en la superficie del disco óptico es igual o superior a 0 \mum e inferior a 2 \mum, y que el disco óptico es de mala calidad cuando la profundidad del rayado generado en la superficie del disco óptico es mayor que 2 \mum.
El valor de referencia absoluto para determinar si el disco óptico es de mala calidad o de buena calidad se fija a
2 \mum.
Debe entenderse que tanto la descripción general anterior como la descripción detallada siguiente de la presente invención son ejemplares y explicativas y pretenden proporcionar una explicación adicional de la invención tal como se reivindica.
Breve descripción de los dibujos
Objetos y ventajas adicionales de la invención pueden ser comprendidos más completamente a partir de la descripción detallada siguiente tomada junto con los dibujos adjuntos, en los que:
La Fig. 1 ilustra una vista esquemática que muestra un aparato de prueba de abrasión taber según la presente invención;
La Fig. 2 ilustra un diagrama de flujo que muestra un método para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico según la presente invención;
La Fig. 3 ilustra una vista que explica la manera en la que un patrón de rayado predeterminado es generado en un disco óptico usando un analizador de micro-rayados según la presente invención;
La Fig. 4 ilustra un gráfico que muestra los valores experimentales de la profundidad de rayado generado según la presión aplicada en un disco óptico según la presente invención; y
La Fig. 5 ilustra un gráfico que explica un método para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico según la presente invención.
Mejor modo para realizar la invención
Ahora se hará referencia en detalle a las realizaciones preferentes de la presente invención, cuyos ejemplos se ilustran en los dibujos adjuntos. Siempre que sea posible, a lo largo de los dibujos se usarán los mismos números de referencia para hacer referencia a las mismas partes o a partes similares.
La Fig. 1 ilustra una vista esquemática que muestra un aparato de prueba de abrasión taber según la presente invención.
Tal como se ilustra en la Fig. 1, un aparato para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico incluye un plato giratorio 20, sobre el cual se carga un disco óptico 30 a ser rayado, para hacer girar el disco óptico 30 cargado, y una pluralidad de ruedas abrasivas 10, dispuestas en una perpendicular al plato giratorio 20, para contactar el disco óptico 30 y generar el rayado, generándose el rayado cuando el disco óptico 30 gira menos de 5 vueltas en las que las ruedas abrasivas 10 aplican una carga predeterminada en el disco óptico 30.
Mientras tanto, las ruedas abrasivas son seleccionadas de entre cualquiera de CS-10F, CS-10 y CS-17.
En adelante, el método para analizar la resistencia mecánica de la superficie del disco óptico de la presente invención se describirá mediante la referencia a los dibujos adjuntos.
La Fig. 2 ilustra un diagrama de flujo que muestra un método para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico según la presente invención.
Tal como se muestra en la Fig. 2, primero, el disco óptico 30 es fijado en el plato giratorio 20, y a continuación el plato giratorio 20 gira junto con el disco óptico (Etapa S10).
A continuación, las ruedas abrasivas 10 contactan el disco óptico 30 en rotación en un extremo superior en un movimiento normal (Etapa S20).
La carga predeterminada es aplicada en el disco óptico 30 en dirección normal según la prueba de rayado de manera que la carga de contacto entre el disco óptico 30 y las ruedas abrasivas 10 es incrementada (Etapa S30).
Después de mantener la carga de contacto entre el disco óptico 30 y las ruedas abrasivas 10 como máximo durante el número de vueltas predeterminadas del disco óptico 30, las ruedas abrasivas 10 son desplazadas en la dirección normal de manera que las ruedas abrasivas son separadas del disco óptico 30 (Etapa S40).
Tal como se ha descrito anteriormente, en la superficie del disco óptico 30 en rotación, la carga predeterminada y las ruedas abrasivas 10 que contactan el disco óptico 30 en base al número de vueltas predeterminado causan la generación de un patrón de rayado predeterminado en la superficie del disco óptico 30, tal como se ilustra en la Fig. 2.
Tal como se ilustra en la Fig. 3, usando el analizador de abrasión taber según la presente invención, el patrón de rayado predeterminado es generado en la superficie del disco óptico 30, de manera que puede obtenerse la profundidad del rayado.
La Fig. 4 ilustra un gráfico que muestra los valores experimentales de la profundidad del rayado generado según la presión aplicada en el disco óptico 30 según la presente invención. Aquí, un disco sin protección sin una capa de recubrimiento y un disco con recubrimiento duro son usados como materiales experimentales.
En el experimento tal como se ilustra en la Fig. 4, si se genera el rayado con una profundidad mayor que 2 \mum, se mide que se ha generado un servo-error al estimar unas características dinámicas del disco óptico 30.
Concretamente, cuando se realiza la prueba de resistencia de la superficie del disco óptico 30, el valor 2 \mum se define como el valor de referencia absoluto para determinar si el disco óptico 30 es de mala calidad o de buena calidad, y encontrando una condición de una prueba de lana de acero que cause la profundidad de rayado de 2 \mum, se define la resistencia mecánica de la superficie del disco óptico 30 bajo esa condición de manera que se cuantifica el grado de generación del rayado.
La Fig. 5 es un gráfico que explica un método para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico según la presente invención, y representa un gráfico de la profundidad del rayado generado en el disco óptico 30 para la carga aplicada en función del tipo de rueda abrasiva tal como CS-10F, CS-10 y CS-17.
Tal como se ilustra en la Fig. 5, la carga generada por las ruedas abrasivas 10 es cuantificada entre 0,5 N (50 gf) y 16,2 N (1.650 gf) y es fijada de manera diferente según el tipo de rueda abrasiva.
Concretamente, en la prueba de abrasión taber, bajo la condición de usar el CS-10F como rueda abrasiva 10 y girando el disco óptico 30 sólo una vuelta, se entiende que la carga que genera la profundidad de rayado de 2 \mum se encuentra en el intervalo de 0,5 N (50 gf) a 2,5 N (250 gf), preferentemente 1,5 N (150 gf).
Bajo la condición de usar la CS-10 como la rueda abrasiva 10 y girando el disco óptico 30 sólo una vuelta, se entiende que la carga que genera la profundidad de rayado de 2 \mum se encuentra en el intervalo de 6,4 N (650 gf) a 8,3 N (850 gf), más preferentemente 7,4 N (750 gf).
Además, bajo la condición de usar la CS-17 como la rueda abrasiva 10 y girando el disco óptico 30 sólo una vuelta, se entiende que la carga que genera la profundidad de rayado de 2 \mum se encuentra en el intervalo de 11,8 N
(1.200 gf) a 13,7 N (1.400 gf), más preferentemente 13,2 N (1.350 gf).
Por lo tanto, si la rueda abrasiva 10 fuese una blanda, concretamente CS-10F, la carga de la superficie del disco óptico 30 es cuantificada de 0,5 N (50 gf) a 2,5 N (250 gf), más preferentemente es cuantificada a 1,5 N (150 gf), si la rueda abrasiva 10 fuese una intermedia, concretamente CS-10, la carga de la superficie del disco óptico 30 es cuantificada de 6,4 N (650 gf) a 8,3 N (850 gf), más preferentemente es cuantificada a 7,4 N (750 gf), y si la rueda abrasiva 10 es una dura, concretamente CS-17, la carga de la superficie del disco óptico 30 es cuantificada de 11,8 N (1.200 gf) a 13,7 N (1.400 gf), más preferentemente es cuantificada a 13,2 N (1.350 gf).
La carga de contacto entre el disco óptico 30 y la rueda abrasiva 10 se mantiene a una carga correspondiente en proporción a los números de vueltas del disco óptico según la condición cuantificada de manera que el rayado es generado en el disco óptico 30.
En ese momento, reduciendo el grado de abrasión del disco óptico 30 debido a la rueda abrasiva 10 al mínimo reduciendo el número de vueltas del disco óptico por debajo de 5 vueltas, el rayado será muy similar al rayado que se generará en la vida real de manera que la fiabilidad de la prueba para la resistencia mecánica de la superficie del disco óptico 30 puede ser mejorada.
En otras palabras, el rayado en el disco óptico 20 en la vida real es generado rayándolo pocas veces; por el contrario, cuantas más veces se raye con las ruedas abrasivas 10, mayor es el rayado durante varias vueltas del disco óptico 30 usando el probador de abrasión taber y esto se diferencia del rayado en la vida real debido a la abrasión ambiental del disco óptico a rayar.
Por esta razón, existe un problema de fiabilidad para la prueba de resistencia mecánica de la superficie del disco óptico debido al rayado, y entonces éste es el problema más serio que ocurre en la prueba de resistencia mecánica de la superficie del disco óptico según la técnica convencional.
Según la presente invención, debido a que el número de vueltas del disco óptico puede reducirse a entre 1 vuelta como mínimo y 5 vueltas como valor máximo mediante el valor de referencia absoluto cuantificado, la fiabilidad de la prueba de resistencia mecánica de la superficie del disco óptico puede ser mejorada causando el rayado del tipo más parecido al rayado en la vida real.
Tal como se ha descrito anteriormente, solamente durante una vuelta del disco óptico, después de generar el rayado usando la condición de carga de 0,5 N (50 gf) a 16,2 N (1.650 gf) que causa el rayado con una profundidad de 2 \mum, la resistencia debe ser analizada mediante el rayado generado en la superficie del disco óptico 30 separando el disco rayado 30 del plato giratorio 20. A continuación, se determina si el disco óptico 30 es de mala calidad o de buena calidad (Etapa S50).
Después de ésto, otro disco óptico a analizar es cargado en el plato giratorio 20 y se repiten las operaciones de prueba tal como se ha descrito anteriormente de manera que se determina si una cantidad de discos ópticos son de mala calidad o de buena calidad.
Aplicabilidad industrial
Tal como se ha descrito anteriormente, el aparato para analizar la resistencia mecánica de la superficie del disco óptico y el método realizado mediante el aparato tienen las ventajas siguientes.
Primero, el grado de generación del rayado es cuantificado para mejorar las características mecánicas de la superficie de manera que pueda incrementarse la conservación de los datos según la consecución de la alta densidad del disco óptico.
Segundo, debido a que la calidad del disco óptico es analizada fácilmente y de manera precisa, la fiabilidad del disco óptico puede ser mejorada.
Tercero, el rayado puede ser formado en la cantidad que se desee en un corto espacio de tiempo de manera que el tiempo de prueba para la prueba de resistencia mecánica de la superficie del disco óptico puede ser también reducido y puede reducirse el coste de fabricación.
Será evidente para las personas con conocimientos en la materia que pueden realizarse diversas modificaciones y variaciones en la presente invención. Por lo tanto, se pretende que la presente invención abarque las modificaciones y variaciones de esta invención siempre que se encuentren dentro del alcance de las reivindicaciones adjuntas y sus equivalentes.

Claims (16)

1. Aparato para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico (30), que comprende:
un plato giratorio (20), sobre el cual se carga un disco óptico (30) a ser rayado, para hacer girar el disco óptico cargado (30); y
una pluralidad de ruedas abrasivas (10), dispuestas perpendicularmente al plato giratorio (20) para contactar el disco óptico (30) y generar el rayado, generándose el rayado cuando el disco óptico (30) gira como máximo 5 vueltas durante las cuales las ruedas abrasivas aplican una carga predeterminada en el disco óptico (30).
2. Aparato según la reivindicación 1, en el que la carga aplicada en el disco óptico mediante las ruedas abrasivas se encuentra en el intervalo de 0,5 N (50 gf) a 16,2 N (1.650 gf).
3. Aparato según la reivindicación 1, en el que la profundidad del rayado en la superficie del disco óptico se encuentra en el intervalo de 0 \mum a 2 \mum.
4. Aparato según la reivindicación 1, en el que la rueda abrasiva es cualquiera de entre CS-10F, CS-10 y CS17.
5. Aparato según la reivindicación 1, en el que el rayado es generado cuando el disco óptico gira una vuelta en la que se aplica en el disco óptico una carga de 0,5 N a 2,5 N (50 gf a 250 gf) mediante la rueda abrasiva CS-10F.
6. Aparato según la reivindicación 1, en el que el rayado es generado cuando el disco óptico gira una vuelta en la que se aplica en el disco óptico una carga de 6,4 N a 8,3 N (650 gf a 850 gf) mediante la rueda abrasiva CS-10.
7. Aparato según la reivindicación 1, en el que el rayado es generado cuando el disco óptico gira una vuelta en la que se aplica en el disco óptico una carga de 11,8 N a 13,7 N (1.200 gf a 1.400 gf) mediante la rueda abrasiva
CS-17.
8. Método para analizar la resistencia mecánica de una superficie de un disco óptico (30) usando un aparato de prueba cuyo plato giratorio (20) hace girar el disco óptico (30) y una pluralidad de ruedas abrasivas (10) generan el rayado en el disco óptico (30), que comprende las etapas de:
fijar el disco óptico (30) en el plato giratorio (20);
hacer girar el disco óptico (30) mediante el plato giratorio (20);
contactar las ruedas abrasivas (10) con la superficie del disco óptico (30) e incrementar una carga de contacto de las ruedas abrasivas (10) y el disco óptico (30) en una carga predeterminada;
generar el rayado en la superficie del disco óptico (30) manteniendo la carga de contacto en el disco óptico (30) y las ruedas abrasivas (10) mientras el disco óptico (30) gira como máximo 5 vueltas y separar del disco óptico (30) las ruedas abrasivas (10) que contactan con dicho disco óptico (30); y
separar el disco óptico (30) del plato giratorio (20) y determinar si el disco óptico (30) es de mala calidad o de buena calidad comparando un valor del rayado generado en la superficie del disco óptico (30) con un valor de referencia absoluto predeterminado.
9. Método según la reivindicación 8, en el que la carga aplicada en el disco óptico mediante las ruedas abrasivas durante la generación del rayado se encuentra en el intervalo de 0,5 N (50 gf) a 16,2 N (1.650 gf).
10. Método según la reivindicación 8, en el que la profundidad del rayado en la superficie del disco óptico se encuentra en el intervalo de 0 \mum a 2 \mum.
11. Método según la reivindicación 8, en el que la rueda abrasiva es cualquiera de entre CS-10F, CS-10 y CS-17.
12. Método según la reivindicación 8, en el que el rayado es generado cuando el disco óptico gira una vuelta en la que se aplica en el disco óptico una carga de 0,5 N a 2,5 N (50 gf a 250 gf) mediante la rueda abrasiva CS-10F.
13. Método según la reivindicación 8, en el que el rayado es generado cuando el disco óptico gira una vuelta en la que se aplica en el disco óptico una carga de 6,4 N a 8,3 N (650 gf a 850 gf) mediante la rueda abrasiva CS-10.
14. Método según la reivindicación 8, en el que el rayado es generado cuando el disco óptico gira una vuelta en la que se aplica en el disco óptico una carga de 11,8 N a 13,7 N (1.200 gf a 1.400 gf) mediante la rueda abrasiva
CS-17.
15. Método según la reivindicación 8, en el que la etapa de determinación del disco óptico determina que el disco óptico es de buena calidad cuando la profundidad del rayado generado en la superficie del disco óptico es igual o mayor que 0 \mum y menor que 2 \mum, y que el disco óptico es de mala calidad cuando la profundidad del rayado generado en la superficie del disco óptico es mayor que 2 \mum.
16. Método según la reivindicación 8, en el que el valor absoluto de referencia para determinar si el disco óptico es de mala calidad o de buena calidad se fija a 2 \mum.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100947227B1 (ko) * 2003-03-17 2010-03-11 엘지전자 주식회사 광디스크 표면의 기계적 내구성 검사 장치 및 방법
US20040226350A1 (en) * 2003-03-17 2004-11-18 Kim Jin Hong Apparatus and method for testing endurance of optical disc
KR100947230B1 (ko) * 2003-09-16 2010-03-11 엘지전자 주식회사 광디스크 표면의 기계적 내구성 검사 장치 및 방법
US20060109765A1 (en) * 2004-11-22 2006-05-25 Behavior Computer Tech Corp. Method for testing assembling quality of optical storage devices and optical storage device for using such method
RU2357230C1 (ru) * 2008-02-13 2009-05-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Орловский государственный технический университет" (ОрелГТУ) Устройство для испытаний на контактную выносливость
CN101738451B (zh) * 2008-11-12 2013-08-28 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 寿命测试系统及方法
RU2489703C2 (ru) * 2011-11-08 2013-08-10 Российская академия наук Учреждение Российской академии наук Институт систем обработки изображений РАН (ИСОИ РАН) Установка для измерения параметров оптически прозрачных поверхностей
RU186486U1 (ru) * 2018-10-03 2019-01-22 Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный научный агроинженерный центр ВИМ" (ФГБНУ ФНАЦ ВИМ) Устройство для ускоренных испытаний образцов на износостойкость

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1254548A1 (ru) * 1985-01-04 1986-08-30 Специальное Конструкторское Бюро Вычислительных Машин Устройство дл испытани износостойкости магнитных дисков
SU1578564A1 (ru) * 1988-01-11 1990-07-15 Ленинградское Производственное Электромашиностроительное Объединение "Электросила" Им.С.М.Кирова Способ испытани образцов в виде толстостенных дисков
SU1624518A1 (ru) * 1988-07-11 1991-01-30 Предприятие П/Я В-2867 Устройство дл испытани износостойкости магнитных дисков
JPH02156448A (ja) * 1988-12-08 1990-06-15 Daicel Chem Ind Ltd 光磁気記録媒体
US5074983A (en) * 1989-04-21 1991-12-24 Hmt Technology Corporation Thin film testing method
US4958511A (en) * 1989-12-21 1990-09-25 General Motors Corporation Method and apparatus for wear testing anodized surfaces
US5756130A (en) * 1993-05-20 1998-05-26 Hitaci Maxell, Ltd. Stamper for producing recording medium
US5557039A (en) * 1994-06-02 1996-09-17 University Of Georgia Research Foundation, Inc. Materials evaluator
JPH08106663A (ja) * 1994-08-10 1996-04-23 Tdk Corp 光磁気ディスク
JP2002260280A (ja) * 2000-06-28 2002-09-13 Tdk Corp 光情報媒体およびその評価方法
KR20010053357A (ko) * 2001-03-29 2001-06-25 구자홍 광디스크의 구조
US20040226350A1 (en) * 2003-03-17 2004-11-18 Kim Jin Hong Apparatus and method for testing endurance of optical disc
KR100947227B1 (ko) * 2003-03-17 2010-03-11 엘지전자 주식회사 광디스크 표면의 기계적 내구성 검사 장치 및 방법
KR100947230B1 (ko) * 2003-09-16 2010-03-11 엘지전자 주식회사 광디스크 표면의 기계적 내구성 검사 장치 및 방법

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