ES2263756T3 - Instrumento avanzado para medicion optica de muestras. - Google Patents
Instrumento avanzado para medicion optica de muestras.Info
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Abstract
Instrumento óptico de medición destinado a medición de muestras, que comprende una fuente de iluminación (211) destinada a formar un rayo de excitación, un primer detector (231a) destinado a detectar un primer rayo de emisión recibido de una primera sustancia de la muestra, un módulo óptico cambiable (240) que dirige el rayo de excitación recibido de la interfaz (218, 223, 233a, 233b, 238) para una fuente de iluminación (211) en la muestra (281) y dirigir el primer rayo de emisión recibido de la primera sustancia de la muestra (281) hacia el primer detector (231a), comprendiendo la interfaz (218, 223, 233a, 233b, 238) además medios (238, 233b) destinado a recibir un segundo rayo de emisión de un modo sustancialmente simultáneo con la recepción del primer rayo de emisión, recibiéndose el segundo rayo de emisión desde una sustancia de la muestra, caracterizado por - un primer módulo óptico (1340) que comprende un primer reflector (1341) destinado a separar las trayectorias ópticas de un rayode emisión y un rayo de excitación, y un segundo reflector (1342) destinado a separar el rayo de emisión en un primer rayo de emisión y un segundo rayo de emisión, y medios destinados a dirigir el segundo rayo de emisión recibido desde la segunda sustancia de la muestra hacia un segundo detector, en el que el instrumento de medición óptica comprende además unos medios destinados a procesar las señales del primer y segundo detectores a fin de proporcionar los resultados de la medición presentando las cantidades de la primera y segunda sustancias de la muestra, - un segundo módulo óptico (1640) que comprende un primer reflector (1641) destinado a la separación de las trayectorias ópticas de un rayo de emisión y de un rayo de excitación y que no comprende un segundo reflector en la trayectoria del rayo de emisión, y - encontrándose el instrumento adaptado para seleccionar el primer módulo óptico cuando el módulo óptico se utiliza para determinar dos emisiones de la muestra, y para seleccionarel segundo módulo óptico cuando el módulo óptico se utiliza para determinar una emisión de la muestra.
Description
Instrumento avanzado para medición óptica de
muestras.
La presente invención se refiere en líneas
generales al campo de los instrumentos de laboratorio bioquímico
para diferentes aplicaciones en la medición de propiedades de
muestras en, por ejemplo, placas de microvaloración y los
correspondientes soportes de la muestra. Más particularmente, la
invención se refiere a las características instrumentales mejoradas
y más eficaces del equipo utilizado tal como, por ejemplo,
fluorómetros, fotómetros y luminómetros.
Las actividades ordinarias así como el trabajo
de investigación en los laboratorios de bioquímica analítica y en
los laboratorios clínicos con frecuencia se basan en distintas
marcas o etiquetas acopladas a las macromoléculas a analizar. Las
etiquetas habituales utilizan distintos isótopos radiactivos,
enzimas, diferentes moléculas fluorescentes y, por ejemplo,
quelatos o metales de tierras raras.
La detección de etiquetas enzimáticas puede
realizarse utilizando su función bioquímica natural, es decir, la
alteración de las propiedades físicas de las moléculas. En
inmunoanálisis enzimáticos las sustancias incoloras están
catalizadas por un enzima para sustancias coloreadas o las
sustancias no fluorescentes por un enzima para sustancias
fluorescentes.
Las sustancias coloreadas se analizan con la
absorción, es decir, un análisis fotométrico. En el análisis
fotométrico de la intensidad del rayo de luz filtrado y
estabilizado se analiza primero sin muestra alguna y a continuación
se analiza con la muestra en el interior en una placa. Tras ello se
calcula la absorbancia, es decir, los valores de la absorción.
La determinación de la fluorescencia en general
se utiliza para analizar las cantidades de la sustancia con el
marcador fluorescente en una muestra. La mayoría de etiquetas
fotoluminiscentes se basan en el proceso de fotoluminiscencia
molecular. En dicho proceso se absorbe la radiación óptica por
parte del estado fundamental de una molécula. Debido a la absorción
de energía el estado cuántico de la molécula alcanza el estado
excitado. Tras la rápida relajación vibracional la molécula vuelve
a su estado fundamental y se libera el excedente de energía en
forma de cuanto óptico. Debido a las pérdidas de dicho proceso, la
cantidad de energía absorbida media resulta superior a la cantidad
de energía emitida media.
Otro método de análisis consiste en la
determinación de la quimioluminiscencia en la que se analiza la
emisión de una sustancia a partir de una muestra sin excitación por
iluminación. De este modo puede utilizarse cualquier
fotoluminómetro así como un quimioluminómetro.
Los instrumentos habituales en los laboratorios
de investigación química analítica consisten en distintos
instrumentos espectroscópicos. Muchos de ellos utilizan la región
óptica del espectro electromagnético. Dos tipos comunes de
instrumentos son los espectrofotómetros y espectrofluorómetros.
Dichos instrumentos comprenden habitualmente unos dispositivos de
dispersión de una o dos longitudes de onda, tales como los
monocromáticos. Los dispositivos de dispersión les permiten
realizar los análisis fotométricos y fluorométricos a lo largo del
espectro óptico.
La Figura 1 ilustra un analizador óptico
avanzado según una técnica anterior, especialmente los componentes
ópticos y los distintos caminos ópticos. El instrumento presenta
dos fuentes de iluminación, una lámpara de onda continua (lámpara
cw) 112a y una lámpara de impulsos 112b. La lámpara cw puede
utilizarse en la excitación de fotoluminiscencia de onda continua y
en las determinaciones de la absorción.
La parte infrarroja de la radiación de la
lámpara cw 112a se absorbe mediante un filtro 104, y tras la
transmisión por una placa 105, con un orificio para la luz que no
interviene en la formación de la imagen, la radiación óptica se
alinea con una lente 115a mediante un filtro de interferencias
114a dispuesto en una rueda filtrante 114.
El rayo de luz se concentra mediante una lente
113a, similar a la lente 114a, en una guía de luz 118, que aísla
térmica y mecánicamente el cabezal medidor. También protege la
unidad de medición de la luz que no interviene en la formación de la
imagen procedente de la lámpara cw. La radiación óptica de la
placa de abertura de salida 106 de la guía de luz 118 se alinea con
una lente 107 similar a la lente 115 a. El rayo de radiación se
refleja mediante un reflector para la división del haz de luz 141
que se encuentra en el interior de un bloque especular 140, y pasa
a través del depósito con la muestra 181 y a través de una ventana
de entrada 122 de una unidad de detección fotométrica 132.
El bloque especular 140 se dispone en la zona
superior de la muestra. Su función consiste en reflejar el rayo de
luz horizontal de la lámpara seleccionada hacia abajo en dirección
a la muestra y reflejar una parte de dicho rayo mediante un
reflector 143 hacia un fotodiodo de referencia 119, y permitir
también que la emisión de la muestra viaje hacia arriba en
dirección del detector de contaje fotónico 132.
La unidad de emisión comprende unos componentes
ópticos, que consisten en las lentes 133, 135, un filtro 134a en la
tapa de filtro 134, una tapa deslizante de obturación y abertura
combinadas 136 y un detector 132, tal como un fotomultiplicador. El
fotomultiplicador 132 se utiliza en el modo de contaje fotónico
rápido cuando los impulsos del ánodo del fotomultiplicador se
amplifican primero y a continuación se transmiten a través de un
comparador rápido 191 y un contador 193 de entrada 192. El
comparador rechaza los impulsos inferiores al nivel de referencia
preajustado. La unidad electrónica de contaje rápido se encuentra
equipada con una entrada en la zona anterior del contador. Dicha
entrada se utiliza en las temporizaciones globales de las
determinaciones.
La unidad de lámpara de impulsos se utiliza en
el análisis de la fotoluminiscencia de resolución temporal en la
emisión de fotoluminiscencia de vida larga. Comprende una segunda
lámpara 112b, unas lentes 115b, 113b, y unos filtros ópticos 114b
en una tapa de filtro de aislamiento de longitud de onda. Cuando
se utiliza dicha segunda lámpara, el reflector 141 se ha de girar
90 grados a fin de reflejar la radiación hacia la muestra. Ello
puede conseguirse utilizando distintos módulos ópticos para las dos
lámparas.
Existen determinadas limitaciones relacionadas
con las técnicas anteriores. Se requiere a menudo realizar diversos
análisis de las mismas muestras, por ejemplo determinar dos o más
emisiones de fotoluminiscencia, así como pueden requerirse
análisis de absorción y quimioluminiscencia. Con los instrumentos
de las técnicas anteriores resulta necesario realizar distintos
análisis sucesivamente, y puede resultar necesario realizar cambios
en el sistema óptico del instrumento entre los distintos análisis.
Por lo tanto, la realización de dichos análisis a partir de un gran
número de muestras tiende a significar un período de mediciones muy
largo con los instrumentos de las técnicas anteriores, y la
fiabilidad de los resultados de las determinaciones no es
óptima.
También existen instrumentos que presentan dos
cabezales de medición: un cabezal de medición superior y un cabezal
de medición inferior. Dichos instrumentos se dan a conocer, por
ejemplo, en los documentos US 6.187.267 y US 5.933.232. Con dicho
tipo de instrumentos resulta posible realizar determinaciones
también desde la parte inferior de la muestra, de modo que dicho
tipo de instrumento resulta más versátil en la realización de
distintas determinaciones. Sin embargo, los instrumentos de las
técnicas anteriores no son capaces de realizar distintos análisis
simultáneamente ni resultan capaces de realizar determinaciones de
emisión dual. La realización de distintas determinaciones
sucesivamente a partir de un gran número de muestras tiende a
significar un período muy largo de tiempo.
El documento US 5.973.330 describe un aparato de
detección óptica en el que se detectan dos emisiones mediante
detectores separados. El instrumento presenta una construcción fija
con dos reflectores. A fin de cambiar los modos de medición el
usuario ha de cambiar varios componentes ópticos del instrumento.
Cuando se cambian los componentes ópticos del montaje resulta
necesario también tocar las superficies ópticas de dichos
componentes ópticos, lo que implica el riesgo de ensuciar dichas
superficies. Además, no resulta posible optimizar el instrumento
para diversos modos de medición simplemente al cambiar los
componentes ópticos. Por lo tanto, la utilización del instrumento
para diversos tipos de análisis también resultará dificultosa,
requerirá mucho tiempo e implicará el riesgo de obtener unos
resultados
inexactos.
inexactos.
El objetivo de la presente invención es
proporcionar un instrumento óptico destinado a mediciones de
laboratorio, en el que se evitan o se reducen las desventajas
descritas de las técnicas anteriores. Por lo tanto, el objetivo de
la invención es realizar un instrumento de medición con una mayor
eficacia en la realización de mediciones a partir de muestras.
El objetivo de la invención se consigue
proporcionando un instrumento óptico de medición en el que se
encuentra una interfaz para un módulo óptico cambiable,
encontrándose la interfaz adaptada para por lo menos un rayo de
excitación y por lo menos dos rayos de emisión. El objetivo se
consigue además mediante un módulo óptico cambiable para un
instrumento de medición, comprendiendo el módulo preferentemente un
espejo dicroico destinado a separar los caminos ópticos de los
rayos de emisión y los rayos de excitación. La invención permite
realizar diversos tipos de mediciones cambiando el módulo óptico.
El cambio de módulo y de los parámetros relacionados puede
realizarse de un modo automático mediante un software de control.
También resulta posible actualizar el instrumento para unos nuevos
tipos de mediciones simplemente proporcionando al instrumento
nuevos tipos de módulos ópticos y el software
correspondiente.
correspondiente.
Un instrumento óptico de medición según la
invención se encuentra descrito en la reivindicación 1.
La invención se aplica también en la utilización
de un instrumento óptico destinado a la medición de muestras tal
como se describe en la reivindicación 27.
Un método según la invención para la medición
óptica de muestras se describe en la reivindicación 31.
Algunas formas de realización preferidas se
describen en las reivindicaciones subordinadas.
Una ventaja importante de la invención se
refiere a alcanzar una elevada eficacia en las mediciones. La
medición de dos emisiones puede realizarse simultáneamente y el
tiempo necesario para dicha medición se ve reducido de este modo a
la mitad. La eficacia resulta incluso superior debido a la
atenuación mínima de los caminos ópticos.
Existen además otras ventajas importantes
relacionadas con la idea de disponer en el mismo módulo óptico
cambiable el reflector destinado a dividir la emisión en dos rayos
de emisión y el reflector destinado a separar los caminos ópticos
de los rayos de emisión y de excitación. Dicho modo de medición
puede utilizarse óptimamente tanto en mediciones de una emisión
como en mediciones de dos emisiones. Si no se realiza la medición
de una segunda emisión con el mismo cabezal de medición de la
primera emisión, el módulo óptico que se está utilizando puede
cambiarse con facilidad a un módulo que no comprende el reflector
destinado al segundo rayo de emisión. Ello hace posible tener una
única medición de emisión sin la atenuación innecesaria provocada
por el reflector.
Otra ventaja más se refiere a la capacidad de
presentar funciones opcionales en el equipo de medición. El equipo
con un cabezal de medición destinado a la medición de una emisión
puede actualizarse con facilidad en un equipo que presente un
cabezal de medición destinado a determinar una emisión o dos
emisiones. Para realizar dicha actualización únicamente resulta
necesario proporcionar al equipo un módulo óptico que comprenda un
reflector para la segunda emisión y proporcionar al equipo el
segundo detector, si no se encuentra ya disponible en el equipo. La
versión básica del equipo comprende la óptica requerida para guiar
el segundo rayo de emisión desde el módulo óptico hasta el segundo
detector.
Otra ventaja más se refiere a la posibilidad de
presentar un filtro combinado con el reflector; pueden optimizarse
distintos tipos de mediciones al seleccionar el reflector que
transmita sustancialmente la longitud de onda del primer rayo de
emisión y refleje sustancialmente la longitud de onda del segundo
rayo de emisión. De este modo, puede minimizarse la atenuación de
las emisiones y existe una menor necesidad de un filtrado adicional
de los rayos de emisión.
Otra ventaja más de la presente invención se
refiere al hecho de que dos emisiones pueden determinarse sin
cambiar las conexiones de las fibras ópticas. De esta manera, los
modos de medición pueden cambiarse mediante el software sin
necesidad de trabajo manual alguno tal como conectar y desconectar
los cables ópticos.
La invención permite también la utilización de
un acoplamiento óptico directo en la detección de la emisión en el
cabezal superior de medición; de este modo se evita la atenuación
provocada por las fibras ópticas.
Éstas y otras ventajas de la invención se
pondrán de manifiesto a partir de las siguientes descripciones
detalladas y haciendo referencia a los dibujos en los que:
la Figura 1 ilustra un esquema funcional de una
unidad óptica de un instrumento de medición según una técnica
anterior,
la Figura 2 es una ilustración esquemática de
los caminos ópticos y de los componentes principales de una unidad
óptica de ejemplo para un instrumento de medición,
la Figura 3 ilustra un esquema funcional de un
instrumento de medición de ejemplo,
la Figura 4 ilustra un esquema funcional de una
unidad óptica que presenta un primer ejemplo para la medición de
una emisión doble,
la Figura 5 ilustra un esquema funcional de una
unidad óptica que presenta un segundo ejemplo para la medición de
una emisión doble,
la Figura 6 ilustra un esquema funcional de una
unidad óptica que presenta un tercer ejemplo para la medición de una
emisión doble,
la Figura 7 ilustra un esquema funcional de una
unidad óptica que presenta un cuarto ejemplo para la medición de
una emisión doble,
la Figura 8 ilustra un esquema funcional de una
unidad óptica que presenta un quinto ejemplo para la medición de
una emisión doble,
la Figura 9 ilustra un esquema funcional de una
unidad óptica que presenta un sexto ejemplo para la determinación
de una emisión doble,
la Figura 10 ilustra una vista en perspectiva de
un módulo óptico superior de ejemplo según la invención,
la Figura 11 ilustra una vista en perspectiva de
un módulo óptico inferior de ejemplo según la invención,
la Figura 12 ilustra un carrete giratorio de
cuatro posiciones con cuatro módulos ópticos según la
invención,
la Figura 13 ilustra un primer módulo óptico con
cabezal superior de ejemplo para poner en práctica la
invención,
la Figura 14 ilustra un segundo módulo óptico
con cabezal superior de ejemplo para poner en práctica la
invención,
la Figura 15 ilustra un tercer módulo óptico con
cabezal superior de ejemplo para poner en práctica la
invención,
la Figura 16 ilustra un cuarto módulo óptico con
cabezal superior de ejemplo para poner en práctica la
invención,
la Figura 17 ilustra un quinto módulo óptico con
cabezal superior de ejemplo para poner en práctica la
invención,
la Figura 18 ilustra un primer módulo óptico con
cabezal inferior de ejemplo para poner en práctica la
invención,
la Figura 19 ilustra un segundo módulo óptico
con cabezal inferior de ejemplo para poner en práctica la
invención,
la Figura 20 ilustra un tercer módulo óptico con
cabezal inferior de ejemplo para poner en práctica la
invención,
la Figura 21 ilustra un cuarto módulo óptico con
cabezal inferior de ejemplo para poner en práctica la
invención,
la Figura 22 ilustra un quinto módulo óptico con
cabezal inferior de ejemplo para poner en práctica la
invención,
la Figura 23 ilustra un proceso de ejemplo para
realizar una medición con un instrumento óptico de medición,
la Figura 24 ilustra un método de ejemplo para
realizar una medición.
La Figura 1 se ha explicado anteriormente en la
descripción de las técnicas anteriores. En las siguientes, en
primer lugar se describe el principio de la invención haciendo
referencia a la Figura 2. A continuación se describe un ejemplo de
puesta en práctica más detallado haciendo referencia a la Figura
3, que consiste en un esquema funcional de un equipo analizador de
ejemplo. Después se encuentran algunos ejemplos descritos para
utilizar un analizador destinado a medición de emisión doble,
haciendo referencia a las Figuras 4 a 12. Después de ello, haciendo
referencia a las Figuras 13 a 22 se encuentra una descripción de
cubos ópticos de ejemplo que pueden utilizarse, por ejemplo, en las
mediciones a las que se ha hecho referencia en las Figuras 4 a 12.
Finalmente, se describen unos ejemplos de un proceso y un método de
realización de una medición haciendo referencia a los organigramas
de las Figuras 23 y 24.
La Figura 2 ilustra los componentes principales
y los caminos ópticos de un instrumento óptico analizador de
ejemplo. El instrumento comprende una fuente de iluminación 211
destinada a realizar la excitación de la muestra. La radiación de
la lámpara 211 se alinea con la lente 215 y se dirige a través de
un filtro de interferencias 214. Pueden seleccionarse distintos
filtros para distintas longitudes de onda. A continuación se
concentra el rayo de excitación hacia el extremo de una guía de
fibra óptica 218, que lo dirige hacia un orificio del módulo
óptico. La guía de fibra óptica consiste preferentemente en un haz
de fibras, tal como 200 fibras con un diámetro de 100 \mum. Un
propósito importante de la guía de fibra óptica es mezclar la luz
de la fuente de iluminación a fin de evitar una distribución
irregular del rayo de excitación en el volumen de la muestra a
realizar la medición. El rayo de excitación se refleja en un espejo
dicroico 241, que se encuentra en el interior de módulo óptico 240,
y se dirige hacia la muestra 281 con un sistema de lentes 223. Una
parte de la luz de iluminación se refleja mediante un reflector
para el haz de luz 243 hacia un detector de referencia a fin de
proporcionar una información de referencia sobre la intensidad de
iluminación real. Cuando el reflector de referencia se dispone en
el bloque especular cambiable, pueden compensarse las diferencias
del filtro de excitación modificando las propiedades del reflector
de referencia. De este modo se consigue una elevada precisión en
la retroalimentación. Puede realizarse un reflector para la
división del haz de luz por ejemplo disponiendo un recubrimiento
reflector para el espejo de franjas o puntos, que cubra únicamente
una parte de la superficie especular.
El rayo de emisión de la muestra 281 se dirige
con el sistema de lentes 223 hacia el módulo óptico 240, donde pasa
(preferentemente) por el espejo dicroico 241. El espejo dicroico se
diseña preferentemente para cada etiqueta de modo que refleja la
longitud de onda de excitación pero transmite las longitudes de
onda de emisión. A continuación se divide el rayo de emisión en el
interior del cubo óptico en dos rayos mediante un segundo espejo
dicroico 242. El espejo dicroico funciona preferentemente como
filtro de modo que se transmite un rayo con la longitud de onda de
la primera emisión hacia el primer detector 231a, y un rayo con la
longitud de onda de la segunda emisión se refleja hacia el segundo
detector 231b. Por lo tanto, el segundo espejo dicroico se diseña
preferentemente para cada nivel / par de niveles de modo que
transmita las longitudes de onda de la primera emisión pero refleje
las longitudes de onda de la segunda emisión.
El rayo de la primera emisión se alinea con una
lente 233a y se dirige a través de un filtro de interferencias 234a
a fin de evitar que la luz con una longitud de onda que no
corresponda a la primera emisión pase al primer detector. A
continuación se concentra el primer rayo de emisión con la lente
235a hacia el primer detector 231a. El segundo rayo de emisión se
refleja con un espejo 238 hacia una lente 233b en la que se alinea
el rayo y se dirige hacia un segundo filtro de interferencias 234b
a fin de evitar que la luz con una longitud de onda que no
corresponda a la segunda emisión pase al segundo detector. A
continuación se concentra el segundo rayo de emisión con una lente
235a hacia el primer detector 231a. Después de ello se amplifican
las señales recibidas de los detectores y se procesan para
conseguir un valor para las intensidades de la primera y la segunda
emisiones. Pueden utilizarse las zonas de excitación y de emisión
del instrumento, excepto en el caso de las medición de
fotoluminiscencia, también por ejemplo en las medición fotométricas
y de quimioluminiscencia.
Tal como ya se ha comentado anteriormente, una
característica esencial de la invención consiste en que el rayo de
excitación así como los dos rayos de emisión se adaptan para
conectarse con un único módulo óptico cambiable. Ello permite
realizar distintos tipos de mediciones cambiando solamente un
módulo óptico, y el cambio del módulo y de los parámetros
relacionados puede realizarse automáticamente controlándose
mediante el software. Dicha ventaja se pondrá mejor de manifiesto
en el siguiente ejemplo más completo de instrumento óptico.
La Figura 3 ilustra con un mayor detalle un
instrumento óptico de ejemplo. El instrumento presenta un cabezal
de medición superior 320, que comprende unos componentes destinados
a proporcionar un rayo de excitación y a detectar las emisiones de
la muestra anterior. El instrumento presenta también un cabezal 360
de medición inferior opcional, que comprende unos componentes
destinados a proporcionar un rayo de excitación y a detectar las
emisiones desde la parte inferior de la muestra. El instrumento
comprende además una plataforma 380 para la muestra, que presenta
un sistema de desplazamiento y una bandeja para la muestra 389 a
fin de colocar muestras sucesivas 381 en el volumen de medición.
También pueden encontrarse unos sistemas destinados a ajustar la
posición vertical de la plataforma de la muestra en relación con
los cabezales de medición superior e inferior.
El instrumento presenta una o dos fuentes de
iluminación. La fuente de iluminación principal 312a comprende una
lámpara de impulsos, y la energía óptica de cada impulso es
preferentemente igual. El rayo de excitación generado por la
lámpara de impulsos se alinea con una lente 315 y se dirige a
través de un filtro de interferencias 314. El filtro se dispone en
una tapa de filtro, de modo que el filtro de excitación a utilizar
en una medición pueda seleccionarse de entre diversos filtros. A
continuación se concentra el filtro de excitación hacia un extremo
de una guía de fibra óptica 318, que mezcla el rayo de excitación y
lo dirige hacia un orificio de un módulo óptico 340 según la
invención. El módulo óptico 340 y el sistema de lentes 323 dirigen
el rayo de excitación hacia la muestra 391. El módulo óptico no se
describe ahora con un mayor detalle debido a que se explicará
haciendo referencia a otras Figuras.
El equipo puede comprender también una segunda
lámpara de impulsos 312b, 311b, que puede ser una lámpara de baja
energía, por ejemplo, para mediciones fotométricas simultáneas. El
instrumento presenta una guía de fibra óptica 312a destinada a
dirigir la luz de la segunda lámpara. La luz puede distribuirse
para la medición fotométrica en tres filtros 314h, 314j y 314k con
las ramificaciones de fibra 377h, 377j y 377k.
Los rayos de luz se alinean con las lentes 375h,
375j y 375k antes de dirigir los rayos a través de los filtros.
Los filtros se pueden disponer en la misma tapa de filtro del
filtro 314e o en una distinta para la primera fuente de
iluminación. Si se utiliza la misma tapa de filtro para ambas
lámparas, los modos de medición simultánea se han de tomar en
consideración en el momento de planificar la disposición de los
filtros. Después del filtrado, los rayos se alinean con los
extremos de tres cables de fibra óptica 378, que se dirigen al
cabezal inferior de medición para la medición fotométrica. Los
rayos de luz de los cables ópticos 378 se concentran hacia tres
muestras 384 con un sistema de lentes 379 que comprende unas lentes
para cada uno de los tres rayos. Tras la transmisión a través de
las muestras, se miden los rayos con tres detectores 322d, 322e y
322f, que consisten, por ejemplo, en fotodiodos. Los tres extremos
de los cables ópticos, las tres lentes, las tres muestras medidas
simultáneamente y los tres detectores se encuentran en este caso
dispuestos en una fila perpendicular al plano del dibujo y por lo
tanto únicamente puede observarse uno de los mismos en el
dibujo.
Resulta preferible presentar un sistema óptico
separado para las mediciones fotométricas de modo que puedan
realizarse simultáneamente mediciones de luminiscencia y mediciones
fotométricas a partir de distintas muestras. Si se requieren
mediciones de fotoluminiscencia y fotométricas simultáneas, se
equipa preferentemente el analizador con dos lámparas de impulsos.
Sin embargo, resulta también posible utilizar un instrumento con
una lámpara destinada a las mediciones fotométricas. Por ejemplo,
un conmutador óptico 317 puede presentar una salida destinada a
una fibra óptica 378a, que dirige la luz de la lámpara 312a al
sistema óptico de medición fotométrica 379. Entonces resulta
posible controlar el conmutador óptico tanto para dirigir la luz
destinada a proporcionar la excitación para una medición de la
emisión como para guiar la luz en una medición fotométrica.
Se utiliza una fibra óptica 318T para dirigir el
rayo de excitación desde el conmutador óptico 317 hasta el módulo
óptico 340 del cabezal superior de medición. Se utiliza una fibra
óptica 318B para dirigir el rayo de excitación desde el conmutador
óptico 317 hasta el módulo óptico 350 del cabezal inferior de
medición. El instrumento puede presentar también otra lámpara de
modo que puedan seleccionarse distintas lámparas para proporcionar
el rayo de excitación del cabezal superior de medición y el
cabezal inferior de medición. En dicho caso, se requiere un sistema
de conmutación óptica más versátil.
El rayo de emisión de la muestra 381 se dirige
con el sistema de lentes 323 hacia el módulo óptico 340 en el que
el rayo de emisión se divide en dos rayos. Un espejo dicroico del
módulo óptico funciona preferentemente como filtro de modo que un
rayo de luz con la longitud de onda de la primera emisión se
transmite a través del primer detector 331a, y un rayo de luz con
la longitud de onda de la segunda emisión se refleja en el segundo
detector 331b. El detector puede consistir, por ejemplo, en un tubo
fotomultiplicador, que puede utilizarse en modo analógico o en
modo de contaje fotónico, o en ambos modos simultáneamente. Cuando
el equipo comprende dos detectores de fotoluminiscencia dichos
detectores pueden ser de distintos tipos y los modos de detección
pueden ser distintos durante una medición.
El primer rayo de emisión se alinea con una
lente 333a y se dirige a través del filtro de interferencias 334j a
fin de evitar que la luz con una longitud de onda que no
corresponda a la primera emisión pase hacia el primer detector. A
continuación se concentra el primer rayo de emisión con la lente
335a hacia el primer detector 331a. El segundo rayo de emisión se
refleja con un espejo 338 hacia la lente 333b en la que se alinea
el rayo de luz y se dirige a través de un segundo filtro de
interferencias 334k a fin de evitar que la luz con una longitud de
onda que no corresponda a la segunda emisión pase hacia el segundo
detector. A continuación se concentra el segundo rayo de emisión
con la lente 335a hacia el primer detector 331a. Los filtros 334j y
334k se colocan en la misma cara del filtro o puede colocarse en
caras distintas del filtro. La(s) tapa(s) del filtro
puede(n) moverse a fin de que los filtros utilizados en la
determinación puedan seleccionarse de entre un cierto número de
filtros con unas longitudes de onda con distintas bandas de
paso.
En un instrumento que comprenda también un
cabezal inferior de medición se encuentran los conmutadores ópticos
337a y 337b destinados a seleccionar el rayo de emisión detectado
del cabezal superior o inferior de medición. Se utiliza una fibra
óptica 338a para dirigir el primer rayo de emisión del módulo
óptico 350 del cabezal inferior de medición 360 al conmutador
óptico 337a. Otra fibra óptica 338b se utiliza para dirigir el
segundo rayos de emisión del módulo óptico 350 al cabezal inferior
de medición 360 hacia el conmutador óptico 337b.
A continuación se amplifican y se procesan las
señales recibidas desde los detectores para conseguir un valor de
las intensidades de la primera emisión y de la segunda emisión. Las
señales de medición y las señales de referencia se amplifican y se
leen tras cada uno de los impulsos de excitación y se calculan las
correcciones de señal. Se determinan las referencias básicas con
disolventes estándar una vez se ha montado el analizador. Si hay
más de un impulso de excitación utilizado para un pocillo, las
señales de emisión correspondientes se integran digitalmente.
El instrumento presenta también un detector
opcional 332c, 331c para mediciones de quimioluminiscencia. El
detector recibe la radiación de quimioluminiscencia de la muestra
mediante un haz grueso de fibras ópticas 318c. Se prefiere que
presente sistemas ópticos separados para las mediciones de
quimioluminiscencia de modo que las mediciones de fotoluminiscencia
y las mediciones de quimioluminiscencia puedan realizarse
simultáneamente a partir de muestras distintas. En la Figura 3 la
medición de quimioluminiscencia se realiza a partir de una muestra
situada detrás de la muestra 381. También puede utilizarse un tubo
fotomultiplicador como detector de la quimioluminiscencia. El
detector puede utilizarse en modo analógico o en modo digital, o
si las propiedades de la muestra lo permiten, pueden utilizarse
simultáneamente ambos modos.
El instrumento comprende un carrete giratorio
328 para unirse con los módulos ópticos 340a, 340b,... Puede hacerse
girar el carrete alrededor de su punto de fijación 329 y de este
modo puede seleccionarse el módulo óptico utilizado controlando la
posición del carrete. Según la presente invención, el equipo
presenta una interfaz óptica de por lo menos dos rayos de emisión y
por lo menos un rayo de excitación para un módulo óptico
individual.
Si el instrumento está equipado con un cabezal
inferior de medición, puede haber un módulo óptico similar 350
utilizado en el cabezal inferior de medición tal como en el cabezal
superior de medición. Los rayos de excitación y de emisión se
dirigen entre los dos cabezales con las fibras ópticas 338a, 338b y
318B. También existe un sistema de lentes 363 para concentrar los
rayos hacia la muestra y los extremos de las fibras ópticas. Debido
a que el módulo óptico del cabezal inferior de medición no necesita
cambiarse tan frecuentemente, puede ser cambiable manualmente.
Alternativamente, puede utilizarse también un carrete giratorio
controlado por un procesador en el cabezal inferior de
medición.
Los módulos ópticos se presentan esencialmente
ampliados en la Figura 3 a fin de ilustrar mejor los caminos
ópticos de los instrumentos. El tamaño real de los módulos ópticos
puede ser tan pequeño como 20 mm x 20 mm x 20 mm.
Los módulos ópticos pueden equiparse con unos
códigos que puedan leerse con una máquina, tal como unos códigos de
barras, de modo que el procesador del equipo pueda verificar con un
lector de códigos qué tipo de módulos ópticos se encuentran
instalados en cada ubicación. De este modo puede certificarse que
se utiliza el tipo correcto de módulo óptico en cada medición. En
la Figura 3 no se ilustra el lector de códigos de barras o el
dispositivo electrónico correspondiente.
El instrumento está equipado también con un
sistema electrónico destinado a amplificar y procesar las señales
de los detectores así como un sistema electrónico destinado a hacer
funcionar la(s) lámpara(s). Está equipado también con
un sistema electrónico de control destinado a controlar las
mediciones, tal como la selección de filtro(s), la selección
de módulo(s) óptico(s), el control de
conmutador(es) óptico(s), el control de la posición
de la bandeja con las muestras 389 a fin de seleccionar la muestra
a medir, y el control de las posiciones de los cabezales de
medición 320 y 360 en relación con la plataforma de las muestras
380. En la Figura 3 no se ilustra el sistema electrónico ya que
dicho sistema electrónico puede ser diseñado por un experto en la
materia.
En un ejemplo preferido el usuario puede ajustar
diversos parámetros de una medición. Se ajusta la energía del
impulso de excitación mediante el voltaje de descarga y mediante
los condensadores del suministro energético de la lámpara de
destellos. La energía total de excitación de una medición se
controla determinando cada impulso y comparando la suma con un
nivel de referencia del integrador. Los parámetros de las
mediciones son preferentemente ajustables por el usuario.
A continuación se describen algunos ejemplos de
posibles modos de medición haciendo referencia a las Figuras 4 a 9.
Dichos ejemplos ilustran como la interfaz de un módulo óptico con
dos salidas de emisión proporciona la posibilidad de una gran
variedad de modos de medición distintos. Dichos modos de medición
se encuentran disponibles con selección automática y control de
filtros, conmutadores ópticos y únicamente un módulo óptico
cambiable en cada cabezal de medición. Los modos de medición
descritos están relacionados con las mediciones de la
fotoluminiscencia pero no se limitan a las mismas.
La Figura 4 ilustra un primer ejemplo de
realización de una medición de fotoluminiscencia con un instrumento
de medición. En el presente ejemplo tanto la excitación como la
detección se realiza desde la parte superior de la muestra
utilizando el cabezal superior de medición del instrumento. Una de
las posibles fuentes de excitación alternativas 411 proporciona un
impulso de excitación, que se dirige a través del sistema óptico
413 hacia una fibra óptica 418. El sistema óptico puede comprender
filtros, lentes y componentes mecánicos tal como se ilustró en la
Figura 3. El rayo de excitación se mezcla en la fibra óptica y se
dirige al módulo óptico 450. El rayo de excitación se refleja desde
el reflector 441 y se alinea en el sistema óptico 423 en el
interior de la muestra 481 que se encuentra sobre la placa de
muestras 480 a medir. El rayo de excitación proporciona la
excitación para dos mediciones simultáneas.
La muestra excitada 481 proporciona dos
emisiones que se miden con los detectores A y B. Los rayos de
emisión se alinean primero con el sistema óptico 423 y seguidamente
los rayos se dirigen hacia el módulo óptico 440. Los rayos de
emisión se transmiten primero al espejo dicroico 441, tras lo que
el segundo espejo dicroico 442 separa los dos rayos de emisión. La
separación puede basarse en la longitud de onda de las emisiones,
la polarización, etc. El primer rayo de emisión se transmite
sustancialmente a través del segundo espejo dicroico 442 y se
alinea y se filtra también en el sistema óptico 433a para medirse
en el detector 431a. El segundo rayo de emisión se refleja
sustancialmente mediante el segundo espejo dicroico 442 y se
refleja además con el espejo 438. El rayo se alinea y se filtra en
el sistema óptico 433b para medirse en el detector 431b.
Una ventaja del primer ejemplo consiste en que
las emisiones se dirigen directamente hacia ambos detectores, es
decir, sin cables de fibra óptica. De este modo se alcanza una
sensibilidad óptima en la medición.
En el primer ejemplo ilustrado en la Figura 4 se
realiza toda la medición con el cabezal superior de medición y por
lo tanto no resulta necesario la existencia de un cabezal inferior
de medición en el instrumento para realizar la medición de la
emisión doble. La utilización de un módulo óptico según la
invención permite por lo tanto poder realizar mediciones versátiles
de un modo eficaz incluso con un instrumento básico, que no se
encuentre equipado con un cabezal inferior de medición. En otras
formas de realización descritas sobre la utilización del
instrumento según la invención, se utiliza también el cabezal
inferior de medición.
La Figura 5 ilustra un segundo ejemplo de
realización de medición de la fotoluminiscencia con un instrumento
de medición. En dicho ejemplo se realiza tanto la excitación como
la detección desde la parte inferior de la muestra utilizando el
cabezal inferior de medición del instrumento. Una de las posibles
fuentes de excitación alternativas 511 proporciona un impulso de
excitación, que se dirige hacia el módulo óptico del cabezal
inferior de medición con una fibra óptica (que no se ilustra en la
Figura 5), en el que se mezcla el rayo de excitación. El rayo de
excitación se refleja en el reflector 551 y se alinea en el sistema
óptico 563 en la muestra 581 que se encuentra en la placa de
muestras 580 a determinar. El rayo de excitación proporciona la
excitación para dos mediciones simultáneas o, alternativamente, dos
excitaciones sucesivas con distintas longitudes de onda se
realizan con impulsos de excitación sucesivos (se prefiere utilizar
las excitaciones sucesivas únicamente en las medición
inferiores).
inferiores).
La muestra excitada 581 proporciona dos
emisiones que se miden con los detectores A y B. Los rayos de
emisión se alinean primero en el sistema óptico 563 y los rayos se
dirigen hacia el módulo óptico 550. Los rayos de emisión se
transmiten primero al espejo dicroico 551, tras lo que el segundo
espejo dicroico 552 separa los dos rayos de emisión. La separación
puede basarse en la longitud de onda de las emisiones, la
polarización, etc. El primer rayo de emisión se transmite
sustancialmente a través del segundo espejo dicroico 552 y se
dirige al detector 531a a través de una fibra óptica (que no se
ilustra en la Figura 5). El segundo rayo de emisión se refleja
sustancialmente mediante el segundo espejo dicroico 552 y se dirige
hacia el segundo detector 531b a través de una fibra óptica (que no
se ilustra en la Figura 5). A continuación se determinan los rayos
de emisión en los detectores 531a y 531b.
En el segundo ejemplo ilustrado en la Figura 5
toda la medición se realiza con el cabezal inferior de medición.
Dicho ejemplo resulta útil en la realización de mediciones en las
que la sustancia de la que se desea realizar la medición reposa
esencialmente en el fondo del tubo con la muestra. Con el presente
ejemplo resulta posible medir simultáneamente dos emisiones desde
la superficie inferior de dicha sustancia y por lo tanto puede
realizarse la medición con una eficacia óptima. El presente ejemplo
posibilita también la utilización del cabezal superior de medición
en una medición de quimioluminiscencia. De este modo pueden
realizarse tanto la medición de fotoluminiscencia como la medición
de quimioluminiscencia de las muestras sin tener que cambiar las
ubicaciones de los módulos ópticos o de los cables entre las
medición. En los ejemplos que se describen a continuación se
utilizan tanto el cabezal superior de medición como el cabezal
inferior en la medición de la fotoluminiscencia.
La Figura 6 ilustra un tercer ejemplo de
realización de una medición de fotoluminiscencia con un instrumento
de medición. En el ejemplo se realiza la medición desde la parte
superior de la muestra utilizando el cabezal superior de medición,
y la medición se realiza desde la parte inferior de la mezcla
utilizando el cabezal inferior de medición del instrumento. Una de
las posibles fuentes de excitación alternativas 611 proporciona un
impulso de excitación, que se dirige a través de un sistema óptico
613 a una fibra óptica 618. El sistema óptico puede comprender
filtros, lentes y componentes mecánicos tal como se ilustró en la
Figura 3. El rayo de excitación se mezcla en la fibra óptica y se
dirige al módulo óptico 650. El rayo de excitación se refleja desde
el reflector 641 y se alinea en el sistema óptico 623 en el
interior de la muestra 681 que se encuentra sobre la placa de
muestras 680 a determinar. El rayo de excitación proporciona la
excitación para dos mediciones simultáneas.
La muestra excitada 681 proporciona dos
emisiones que se miden con los detectores A y B. Los rayos de
emisión se alinean primero en el sistema óptico 663 y seguidamente
los rayos se dirigen hacia el módulo óptico 650 del cabezal
inferior de medición. Los rayos de emisión se transmiten primero
al espejo dicroico 651, tras lo que el segundo espejo dicroico 652
separa los dos rayos de emisión. La separación puede basarse en la
longitud de onda de las emisiones, la polarización, etc. El primer
rayo de emisión se transmite sustancialmente a través del segundo
espejo dicroico 652 y se dirige hacia el detector 631a a través de
una fibra óptica (que no se ilustra en la Figura 6). El segundo
rayo de emisión se refleja sustancialmente mediante el segundo
espejo dicroico 652 y se dirige hacia el segundo detector 631b a
través de una fibra óptica (que no se ilustra en la Figura 6). A
continuación se determinan los rayos de emisión en los detectores
631a y 631b.
El tercer ejemplo ilustrado en la Figura 6
proporciona algunas ventajas en comparación con el segundo ejemplo
de la Figura 5. Cuando se expone el impulso de excitación desde el
cabezal superior de medición la longitud de la fibra óptica en el
camino óptico del impulso de excitación puede hacerse óptimamente
corto. Dicho modo de atenuación de la fibra óptica puede
minimizarse y, por consiguiente, puede conseguirse una intensidad
de iluminación máxima.
Otra ventaja del ejemplo de la Figura 6 consiste
en que resulta posible utilizar un módulo óptico en el que no hay
un primer espejo 651 en el módulo. Dicho modo de atenuación del
rayo de emisión provocado por el reflector de la excitación 651
puede evitarse
totalmente.
totalmente.
La Figura 7 ilustra un cuarto ejemplo de
realización de una medición de fotoluminiscencia con un instrumento
de medición. En el presente ejemplo se realiza la excitación desde
la parte inferior de la muestra utilizando el cabezal inferior de
medición, y la medición se realiza desde la parte superior de la
mezcla utilizando el cabezal superior de medición del instrumento.
Una de las posibles fuentes de excitación alternativas 711
proporciona un impulso de excitación, que se dirige hacia el módulo
óptico del cabezal inferior de medición con una fibra óptica (que
no se ilustra en la Figura 7), en la que se mezcla el rayo de
excitación. El rayo de excitación se refleja desde el reflector 751
y se alinea en el sistema óptico 763 en el interior de la muestra
781 que se encuentra sobre la placa de muestras 780 a determinar.
El rayo de excitación proporciona la excitación para dos
mediciones
simultáneas.
simultáneas.
La muestra excitada 781 proporciona dos
emisiones que se miden con los detectores A y B. Los rayos de
emisión se alinean primero en el sistema óptico 723 y seguidamente
los rayos se dirigen hacia el módulo óptico 740. Los rayos de
emisión se transmiten primero al espejo dicroico 741, tras lo que
el segundo espejo dicroico 742 separa los dos rayos de emisión. La
separación puede basarse en la longitud de onda de las emisiones,
la polarización, etc. El primer rayo de emisión se transmite
sustancialmente a través del segundo espejo dicroico 742 y también
se alinea y se filtra en el sistema óptico 733a para ser medido en
el detector 731a. El segundo rayo de emisión se refleja
sustancialmente mediante el segundo espejo dicroico 742 y se
refleja también mediante el reflector 738. El rayo se alinea y se
filtra en el sistema óptico 733b para ser medido en el detector
731b.
El cuarto ejemplo ilustrado en la Figura 7
proporciona algunas ventajas en comparación con el primer ejemplo
de la Figura 4. Cuando el rayo de excitación se expone desde el
cabezal inferior de medición resulta posible utilizar en el cabezal
superior de medición un módulo óptico en el que no exista el
primer reflector 741 del módulo. Dicho modo de atenuación del rayo
de emisión originado por el reflector de excitación 741 puede
evitarse totalmente.
La Figura 8 ilustra un quinto ejemplo de
realización de una medición de fotoluminiscencia con un instrumento
de medición. En el presente ejemplo la excitación se realiza desde
la parte superior de la muestra utilizando el cabezal superior de
medición. La determinación de la primera emisión se realiza desde
la parte superior de la muestra utilizando el cabezal superior de
medición, y la detección de la segunda emisión se realiza desde la
parte inferior de la muestra utilizando el cabezal inferior de
medición del instrumento.
Una de las posibles fuentes de excitación
alternativas 811 proporciona un impulso de excitación, que se
dirige a través del sistema óptico 813 hacia una fibra óptica 818.
El sistema óptico puede comprender filtros, lentes y componentes
mecánicos tal como se ilustró en la Figura 3. El rayo de excitación
se mezcla en la fibra óptica y se dirige al módulo óptico 850. El
rayo de excitación se refleja desde el reflector 841 y se alinea en
el sistema óptico 823 en el interior de la muestra 881 que se
encuentra sobre la placa de muestras 880 a determinar. El rayo de
excitación proporciona la excitación para dos mediciones
simultáneas.
La muestra excitada 881 proporciona dos
emisiones que se determinan con los detectores A y B. El primer
rayo de emisión se alinea primero con el sistema óptico 823 y se
dirige hacia el módulo óptico 840 del cabezal superior de medición.
El primer rayo de emisión se transmite sustancialmente por el
primer espejo dicroico 841 y por el segundo espejo dicroico 842. A
continuación se alinea el primer rayo de emisión y se filtra en el
sistema óptico 833a para medirse en el detector 831a.
El segundo rayo de emisión se alinea primero
con el sistema óptico 863 y seguidamente el rayo se dirige hacia el
módulo óptico 850 del cabezal inferior de medición. El rayo de
emisión se transmite primero hacia el espejo dicroico 651 tras lo
que se refleja sustancialmente en el segundo espejo dicroico 852.
El segundo rayo de emisión se dirige al segundo detector 831b a
través de la fibra óptica (que no se ilustra en la Figura 6). A
continuación se determinan los rayos de emisión en los detectores
831a y 831b.
Una ventaja del ejemplo de la Figura 8 consiste
en que resulta posible determinar simultáneamente las emisiones
desde la parte superior e inferior de la muestra
simultáneamente.
También hay otra ventaja en relación con el
ejemplo ilustrado en la Figura 8. Cuando se miden dos emisiones con
distintos cabezales de medición ello permite la utilización de
únicamente un espejo en el camino del rayo de emisión. En el
cabezal superior de medición resulta posible utilizar un módulo
óptico, que no presente un segundo reflector 842. En el cabezal
inferior de medición resulta posible utilizar un módulo óptico que
no presente un primer reflector 851. También resulta posible
utilizar un espejo no dicroico 852 en el cabezal inferior de
medición. De este modo se consigue una atenuación muy pequeña en
la medición de ambas emisiones. Especialmente la medición de la
primera emisión puede realizarse con una sensibilidad elevada,
debido al camino óptico directo entre la muestra y el detector
831a.
La Figura 9 ilustra un sexto ejemplo de
realización de una medición de fotoluminiscencia con un instrumento
de medición. En el presente ejemplo la excitación se realiza desde
la parte inferior de la muestra utilizando el cabezal inferior de
medición. La detección de la primera emisión se realiza desde la
parte inferior de la muestra utilizando el cabezal inferior de
medición, y la detección de la segunda emisión se realiza desde la
parte superior de la muestra utilizando el cabezal superior de
medición del instrumento.
Una de las posibles fuentes de excitación
alternativas 911 proporciona un impulso de excitación, que se
dirige hacia el módulo óptico del cabezal inferior de medición con
una fibra óptica (que no se ilustra en la Figura 9), en el que se
mezcla el rayo de excitación. El rayo de excitación se refleja
desde el reflector 951 y se alinea en el sistema óptico 963 en el
interior de la muestra 981 que se encuentra sobre la placa de
muestras 980 a medir. El rayo de excitación proporciona la
excitación para dos mediciones simultáneas.
La muestra excitada 981 proporciona dos
emisiones que se miden con los detectores A y B. El primer rayo de
emisión se alinea primero con el sistema óptico 963, y el rayo se
dirige hacia el módulo óptico 950 del cabezal inferior de medición.
El primer rayo de emisión se transmite sustancialmente por el
primer espejo dicroico 951 y por el segundo espejo dicroico 952. El
primer rayo de emisión se dirige hacia el detector 831a a través de
una fibra óptica (que no se ilustra en la Figura 9). El primer
rayo de emisión se mide finalmente en el detector 931a.
El segundo rayo de emisión se alinea primero con
el sistema óptico 923, y los rayos se dirigen hacia el módulo
óptico 940. El segundo rayo de emisión se transmite primero hacia
el espejo dicroico 941, tras lo que se refleja sustancialmente en
el segundo espejo dicroico 942, y se refleja también en el
reflector 938. El segundo rayo de emisión se alinea y se filtra en
el sistema óptico 933b y se determina en el detector 931b.
El ejemplo de la Figura 9 presenta también la
ventaja de que resulta posible medir simultáneamente las emisiones
desde la parte superior e inferior de la muestra
simultáneamente.
También hay otra ventaja en relación con el
ejemplo ilustrado en la Figura 9. Cuando se miden dos emisiones con
distintos cabezales de medición ello permite la utilización de
únicamente un espejo en el camino del rayo de emisión. En el
cabezal superior de medición resulta posible utilizar un módulo
óptico, que no presente un primer reflector 941. En el cabezal
inferior de medición resulta posible utilizar un módulo óptico que
no presente un segundo reflector 952. También resulta posible
utilizar un espejo no dicroico 941 en el cabezal superior de
medición. De este modo se consigue una atenuación muy pequeña en
la medición de ambas emisiones.
La Figura 10 ilustra una vista en perspectiva de
un ejemplo de un módulo óptico 1040 según la invención. Se
encuentra diseñado para un cabezal superior de medición, pero
resulta posible diseñar un cabezal inferior de medición que se
adapte a dicho módulo. La Figura ilustra un orificio 1046 para el
rayo de excitación de la lámpara, un orificio 1044 para el rayo de
emisión que se dirige al primer detector y un orificio para el rayo
de emisión que se dirige al segundo detector. También existe un
código de barras 1049 que se muestra en el cubo óptico para un
posible reconocimiento automático del tipo de módulo.
La Figura 11 ilustra una vista en perspectiva de
otro ejemplo de un módulo óptico 1150 según la invención. Se
encuentra diseñado para un cabezal inferior de medición, pero
resulta posible diseñar un cabezal superior de medición que se
adapte a módulos similares. La Figura ilustra un orificio 1156 para
el rayo de excitación de la lámpara, y un orificio 1158 para
proporcionar una interfaz óptica para la muestra. También existe un
código de barras 1159 que se muestra en el cubo óptico para un
posible reconocimiento automático del tipo de módulo.
La Figura 12 ilustra una vista superior de un
ejemplo de un montaje de cuatro módulos ópticos que se encuentran
unidos a un carrete giratorio 1228 en el cabezal superior de
medición. Los módulos ópticos son los citados 1240a, 1240b, 1240c y
1240d con sus orificios destinados a la emisión hacia el primer
detector citados como 1244a, 1244b, 1244c y 1244d. El instrumento
presenta preferentemente un sistema para hacer girar el carrete
alrededor de su eje 1229 de modo que se pueda seleccionar uno de
los cuatro módulos ópticos para utilizarlo con el programa del
instrumento. Si los módulos ópticos se encuentran equipados con un
código, tal como un código de barras, la unidad de control del
instrumento puede verificar qué módulos se encuentran disponibles
en cada posición del carrete giratorio. Resulta preferible que
exista una disposición de acoplamiento para los módulos ópticos,
que permita extraer y acoplar con facilidad dichos módulos ópticos
cuando resulte necesario. A pesar de que el carrete de la Figura
12 está diseñado para un cabezal superior de medición, por supuesto
puede equiparse un cabezal inferior de medición con dicho carrete
giratorio para controlar automáticamente el cambio de módulo
óptico. A pesar de que en la Figura 12 se ilustran cuatro módulos
ópticos, naturalmente puede haber un número distinto de módulos
ópticos. Considerando el tamaño pequeño preferible de los módulos
ópticos resulta posible proporcionar el carrete con por ejemplo 8 o
16 módulos ópticos.
También resulta posible utilizar otro tipo de
montaje mecánico para los módulos ópticos en vez del carrete
giratorio. Por ejemplo, puede utilizarse una guía deslizante para
los módulos ópticos, en la que los módulos ópticos se disponen en
paralelo en una hilera, y el módulo a utilizar puede cambiarse
desplazando la guía deslizante hasta la posición correspondiente.
Si se utiliza una guía deslizante, pueden existir guías deslizantes
de distintas longitudes con un número distinto de ubicaciones para
los módulos ópticos.
A continuación se describen algunas formas de
realización y algunos ejemplos de los posibles módulos ópticos
haciendo referencia a la Figuras 13 a 22. Dichas formas de
realización de ejemplo presentan unos módulos ópticos que pueden
utilizarse en un instrumento óptico según la invención que
comprenden una interfaz destinada a recibir dos emisiones de un
módulo óptico. Dichos módulos ópticos pueden utilizarse también
para poner en práctica los modos de medición descritos en las
Figuras 4 a 9 y, en líneas generales, para poner en práctica los
procesos y métodos según la invención.
La Figura 13 ilustra una vista en sección
transversal desde una cara de un módulo óptico como ejemplo para un
cabezal superior de medición. Dicho módulo óptico 1340 comprende
tres espejos dicroicos. El módulo recibe un rayo de excitación
desde el orificio 1346 y el reflector 1343 refleja una parte del
rayo de excitación hacia un sensor de referencia a través del
orificio 1347. La parte principal del rayo de excitación se refleja
en el reflector 1341 y de este modo se dirige a la muestra a través
del orificio 1348.
La emisión de la muestra se recibe en el módulo
a través del orificio 1348. Las emisiones se transmiten al espejo
dicroico 1341 y alcanzan el otro espejo dicroico 1342. El reflector
1342 divide el rayo de emisión en un primer rayo que se dirige al
primer detector a través del orificio 1344 y un segundo rayo que se
dirige al segundo detector a través del orificio 1345.
El módulo óptico que se ilustra en la Figura 13
resulta muy adecuado para la medición de emisión doble, que se ha
descrito en la Figura 4. Sin embargo, dicho módulo óptico puede
utilizarse también en muchos otros tipos de mediciones, tales como
las descritas en las Figuras 6 a 9, o en mediciones de emisión
simple, si no se requiere un funcionamiento
optimizado.
optimizado.
La Figura 14 ilustra una vista en sección
transversal desde otra cara de otro módulo óptico como ejemplo para
un cabezal superior de medición. Dicho módulo óptico 1440 comprende
un espejo dicroico 1443 y un reflector no dicroico 1441. El módulo
recibe un rayo de excitación desde el orificio 1446 y el reflector
1443 refleja una parte del rayo de excitación hacia un sensor de
referencia a través del orificio 1447. La parte principal del rayo
de excitación se refleja en el reflector 1441 y de este modo se
dirige a la muestra a través del orificio 1448.
Dicho módulo óptico está diseñado para
mediciones en las que la medición se realiza utilizando el cabezal
superior de medición. La medición ilustrada en la Figura 6
constituye un ejemplo de dicha medición. Por lo tanto dicho módulo
óptico destinado al cabezal superior de medición no presenta camino
óptico alguno para los rayos de emisión. Otra ventaja de dicho
módulo óptico consiste en que la atenuación del rayo de excitación
es mínima.
La Figura 15 ilustra una vista en sección
transversal desde una cara de un tercer módulo óptico como ejemplo
para un cabezal superior de medición. Dicho módulo óptico 1540
comprende un espejo dicroico. Dicho módulo óptico está diseñado
para mediciones en las que se utiliza el cabezal inferior de
medición para la excitación. Un ejemplo de dicho tipo de medición
se ilustra en la Figura 7. Por lo tanto, dicho módulo óptico no
presenta camino óptico alguno para los rayos de excitación.
La emisión de la muestra se recibe en el módulo
a través del orificio 1548. El reflector 1542 divide el rayo de
emisión en un primer rayo que se dirige al primer detector a través
del orificio 1544 y un segundo rayo que se dirige al segundo
detector a través del orificio 1545.
A pesar de que dicho módulo óptico que se
ilustra en la Figura 15 resulta muy adecuado para las mediciones de
emisión doble, que se han descrito en la Figura 7, dicho módulo
óptico puede utilizarse también en muchos otros tipos de
mediciones, tales como las mediciones de emisión simple, si no se
requiere un funcionamiento optimizado.
La Figura 16 ilustra una vista en sección
transversal desde una cara de un cuarto módulo óptico como ejemplo
para un cabezal superior de medición. Dicho módulo óptico 1640
comprende dos espejos dicroicos. El módulo recibe un rayo de
excitación desde el orificio 1646 y el reflector 1643 refleja una
parte del rayo de excitación hacia un sensor de referencia a través
del orificio 1647. La parte principal del rayo de excitación se
refleja en el reflector 1641 y de este modo se dirige a la muestra
a través del orificio 1648.
La emisión de la muestra se recibe en el módulo
a través del orificio 1648. La emisión se transmite al espejo
dicroico 1641 y se dirige hacia el primer detector a través del
orificio 1644.
El módulo óptico que se ilustra en la Figura 16
resulta muy adecuado para la medición de emisión doble, en la que
la primera emisión se determina con el cabezal superior de medición
y la segunda emisión se determina con el cabezal inferior de
medición. Dicho tipo de medición se ha descrito en la Figura 8.
Sin embargo, dicho módulo óptico puede utilizarse también en muchos
otros tipos de mediciones, tales como las mediciones de emisión
simple.
La Figura 17 ilustra una vista en sección
transversal desde una cara de un quinto módulo óptico como ejemplo
para un cabezal superior de medición. Dicho módulo óptico 1740
comprende un reflector no dicroico. Dicho módulo óptico está
diseñado para mediciones en las que se realiza la excitación
utilizando el cabezal superior de medición. Un ejemplo de dicho
tipo de medición se ilustra en la Figura 9. Por lo tanto, dicho
módulo óptico no presenta camino óptico alguno para el rayo de
excitación.
La emisión de la muestra se recibe en el módulo
a través del orificio 1748. El reflector 1742 refleja el rayo de
emisión, que después se dirige al segundo detector a través del
orificio 1745.
El módulo óptico que se ilustra en la Figura 17
resulta muy adecuado para la medición de emisión doble, en la que
la segunda emisión se determina con el cabezal superior de medición
y la primera emisión se determina con el cabezal inferior de
medición. Dicho tipo de medición se ha descrito en la Figura 9.
Sin embargo, dicho módulo óptico puede utilizarse también en muchos
otros tipos de mediciones, si no se requiere un
funcionamiento
optimizado.
optimizado.
A pesar de que los módulos ópticos ilustrados en
las Figuras 13 a 17 están diseñados para el cabezal superior de
medición, resulta posible diseñar el cabezal inferior de medición
para adaptarse a dichos módulos.
La Figura 18 ilustra una vista en sección
transversal desde una cara de un módulo óptico como ejemplo para un
cabezal inferior de medición. Dicho módulo óptico 1850 comprende
tres espejos. El módulo recibe un rayo de excitación desde el
orificio 1856 y el reflector 1853 refleja una parte del rayo de
excitación hacia un sensor de referencia a través del orificio
1857. La parte principal del rayo de excitación se refleja en el
reflector 1851 y de este modo se dirige a la muestra a través del
orificio 1858.
Las emisiones de la muestra se reciben en el
módulo a través del orificio 1858. Las emisiones se transmiten al
espejo dicroico 1851 y alcanzan el otro espejo dicroico 1852. El
reflector 1852 divide el rayo de emisión en un primer rayo que se
dirige al primer detector a través del orificio 1854 y un segundo
rayo que se dirige al segundo detector a través del orificio
1855.
El módulo óptico que se ilustra en la Figura 18
resulta muy adecuado para la medición de emisión doble, que se ha
descrito en la Figura 5. Sin embargo, dicho módulo óptico puede
utilizarse también en muchos otros tipos de mediciones, tales como
las descritas en las Figuras 6 a 9, o en mediciones de emisión
simple, si no se requiere un funcionamiento
optimizado.
optimizado.
La Figura 19 ilustra una vista en sección
transversal desde otra cara de otro módulo óptico como ejemplo para
un cabezal inferior de medición. Dicho módulo óptico 1950 comprende
un espejo dicroico. Dicho módulo óptico está diseñado para
mediciones en las que la medición se realiza utilizando el cabezal
superior de medición. Un ejemplo de dicho tipo de medición se
ilustra en la Figura 6. Por lo tanto dicho módulo óptico no
presenta camino óptico alguno para el rayo de excitación.
Las emisiones de la muestra se reciben en el
módulo a través del orificio 1958. El reflector 1952 divide el rayo
de emisión en un primer rayo que se dirige al primer detector a
través del orificio 1954 y un segundo rayo que se dirige al segundo
detector a través del orificio 1955.
A pesar de que dicho módulo óptico ilustrado en
la Figuras 19 resulta muy adecuado para la medición de emisión
doble, que se ha descrito en la Figura 6, dicho módulo óptico puede
utilizarse también en muchos otros tipos de mediciones, si no se
requiere un funcionamiento optimizado.
La Figura 20 ilustra una vista en sección
transversal desde una cara de un tercer módulo óptico como ejemplo
para un cabezal inferior de medición. Dicho módulo óptico 2050
comprende un espejo 2053 para la división del haz de luz y otro
reflector más 2051. El módulo recibe un rayo de excitación desde el
orificio 2056 y el reflector 2053 refleja una parte del rayo de
excitación hacia un sensor de referencia a través del orificio
2057. La parte principal del rayo de excitación se refleja en el
reflector 2051 y de este modo se dirige a la muestra a través del
orificio 2058.
Dicho módulo óptico está diseñado para
mediciones en las que se utiliza el cabezal superior de medición
para la excitación. Un ejemplo de dicho tipo de medición se ilustra
en la Figura 7. Por lo tanto, dicho módulo óptico diseñado para el
cabezal inferior de medición no presenta camino óptico alguno para
los rayos de emisión. Otra ventaja de dicho módulo óptico consiste
en que la atenuación del rayo de excitación es pequeña.
La Figura 21 ilustra una vista en sección
transversal desde una cara de un cuarto módulo óptico como ejemplo
para un cabezal inferior de medición. Dicho módulo óptico 2150
comprende un espejo no dicroico. Dicho módulo óptico está diseñado
para mediciones en las que la excitación se realiza utilizando el
cabezal superior de medición. Un ejemplo de dicho tipo de medición
se ilustra en la Figura 8. Por lo tanto, dicho módulo óptico no
presenta camino óptico alguno para los rayos de excitación.
La emisión de la muestra se recibe en el módulo
a través del orificio 2158. El reflector 2152 refleja el rayo de
emisión que a continuación se dirige hacia el segundo detector a
través del orificio 2155.
El módulo óptico que se ilustra en la Figura 21
resulta muy adecuado para la medición de emisión doble, en la que
la segunda emisión se determina con el cabezal inferior de medición
y la primera emisión se mide con el cabezal superior de medición.
Dicho tipo de medición se ha descrito en la Figura 8. Sin embargo,
dicho módulo óptico puede utilizarse también en muchos otros tipos
de mediciones, si no se requiere un funcionamiento optimizado.
La Figura 22 ilustra una vista en sección
transversal desde una cara de un quinto módulo óptico como ejemplo
para un cabezal inferior de medición. Dicho módulo óptico 2250
comprende dos espejos dicroicos. El módulo recibe un rayo de
excitación desde el orificio 2256 y el reflector 2253 refleja una
parte del rayo de excitación hacia un sensor de referencia a través
del orificio 2257. La parte principal del rayo de excitación se
refleja en el reflector 2251 y de este modo se dirige a la muestra
a través del orificio 2258.
La emisión de la muestra se recibe en el módulo
a través del orificio 2258. La emisión se transmite al espejo
dicroico 2251 y se dirige al primer detector a través del orificio
2254.
El módulo óptico que se ilustra en la Figura 22
resulta muy adecuado para la medición de emisión doble, en la que
la primera emisión se mide con el cabezal inferior de medición y la
segunda emisión se mide con el cabezal superior de medición. Dicho
tipo de medición se ha descrito en la Figura 9. Sin embargo, dicho
módulo óptico puede utilizarse también en muchos otros tipos de
mediciones, tal como las mediciones de emisión simple.
A pesar de que los módulos ópticos ilustrados en
las Figuras 18 a 22 están diseñados para el cabezal inferior de
medición, resulta posible diseñar tanto el cabezal superior de
medición como el cabezal inferior de medición para adaptarse a
dichos módulos.
La Figura 23 ilustra un organigrama de un
proceso de ejemplo para utilizar un instrumento óptico en una
medición de fotoluminiscencia. En la fase 11 se selecciona el tipo
de medición. A continuación se selecciona la fuente de excitación y
el filtro de interferencias según el tipo de medición de la fase
12. En la fase 13 se selecciona el cabezal superior de medición o
el cabezal inferior de medición para proporcionar el rayo de
excitación a la muestra. Ello se realiza mediante un conmutador
óptico.
En la fase 14 se selecciona el filtro de
emisiones para el detector A. A continuación se selecciona el
cabezal superior de medición o el cabezal inferior de medición para
proporcionar el rayo de excitación A la muestra en la fase 15 para
recibir la emisión A y para dirigir el rayo de emisión a hacia el
detector A. El camino óptico se conecta con el cabezal de medición
seleccionada por ejemplo controlando un conmutador óptico. Si se
determinan dos emisiones, el filtro de emisiones se selecciona
también para el detector B, fases 16 y 17, y en la etapa 18 se
selecciona el cabezal superior de medición o el cabezal inferior de
medición para recibir la emisión B y dirigir el rayo de emisión
hacia el detector B. El camino óptico puede conectarse al cabezal
de medición seleccionado controlando también un conmutador
óptico.
Si la excitación o la emisión de la medición se
realiza desde la parte superior de la muestra, es decir, se utiliza
en cabezal superior de medición, se selecciona el módulo óptico del
cabezal superior de medición y se dispone en la ubicación de
medición, en las fases 19 y 20. Si la excitación o la emisión de la
medición se realiza desde la parte inferior de la muestra, es
decir, se utiliza en cabezal inferior de medición, se selecciona el
módulo óptico del cabezal inferior de medición y se dispone en la
ubicación de medición, en las fases 21 y 22. Según la invención,
si dos emisiones se miden simultáneamente, se selecciona un módulo
óptico que proporcione un rayo de emisión para el segundo detector
B tanto para el cabezal superior de medición como para el inferior.
Especialmente, si se utiliza el mismo cabezal de medición para
recibir dos emisiones, se selecciona un módulo óptico con una
salida para ambos detectores en el cabezal de medición.
Una vez se han seleccionado los caminos ópticos,
se selecciona la primera muestra a medir en la fase 23. A
continuación se mide la muestra seleccionada, 24, y se procesan las
señales recibidas del / de los detec-
tor(es) para producir el / los resultado(s) de la medición de la muestra analizada, fase 25. Se analizan sucesivamente las muestras repitiendo las fases 23 a 26 hasta que se han analizado todas las muestras.
tor(es) para producir el / los resultado(s) de la medición de la muestra analizada, fase 25. Se analizan sucesivamente las muestras repitiendo las fases 23 a 26 hasta que se han analizado todas las muestras.
Se ha de hacer notar que pueden aplicarse
diversas variaciones al proceso de medición. Por ejemplo, a fin de
que las fases del proceso puedan ser distintas de la descrita
anteriormente. Además, si se utiliza un instrumento sin un cabezal
inferior de medición, no se requiere la selección entre el cabezal
superior e inferior de medición del módulo óptico para el cabezal
inferior de medición. Y si únicamente se dispone de una fuente de
excitación, no se requiere una selección entre fuentes de
excitación.
La Figura 24 ilustra un organigrama de un método
como ejemplo para realizar la medición óptica de una muestra. En
la fase 41 se forma un rayo de excitación en una fuente de
iluminación y el rayo de excitación se filtra con un filtro de
interferencias en la fase 42 para comprender la(s)
longitud(es) de onda para la excitación de las dos
sustancias de la muestra. El rayo de excitación filtrado se dirige
a un módulo óptico en el que se refleja el rayo, fase 43. A
continuación se concentra el rayo de excitación en la muestra en un
volumen que se ha de analizar, 44. El rayo de excitación puede
consistir en un impulso de excitación, una sucesión de impulsos o
un rayo de onda continua, en función del tipo de medición.
Después de la excitación de las sustancias
marcadas (fluorescentes) de la muestra, éstas liberan emisiones que
se reciben en el módulo óptico, fase 45. Las emisiones pueden
producirse en forma de ráfagas o en forma de emisiones continuas en
función de la excitación. En el módulo óptico, el rayo de emisión
puede transmitirse primero a un reflector de excitación y a
continuación los rayos de emisión se dividen con un espejo dicroico
en dos rayos de emisión, por ejemplo, en función de su longitud de
onda, en la fase 46. Puede realizarse la división, según la
invención, en el mismo módulo óptico.
El primer rayo de emisión recibido de la primera
sustancia de la muestra se filtra primero en la fase 47
transmitiendo el primer rayo de emisión y bloqueando el resto de la
luz, por ejemplo, la luz con una longitud de onda distinta. A
continuación se dirige el primer rayo de emisión hacia un primer
detector en la fase 48. Simultáneamente con la recepción de la
primera emisión, se recibe el segundo rayo de emisión de la segunda
sustancia de la muestra, se guía a través del módulo óptico y se
filtra en la fase 49 transmitiendo el segundo rayo de emisión y
bloqueando el resto de la luz, por ejemplo, la luz con una longitud
de onda distinta. A continuación se dirige el segundo rayo de
emisión hacia un segundo detector en la fase 50. Tras ello las
emisiones se convierten en señales eléctricas en los detectores,
fase 51, y las señales se procesan a fin de proporcionar los
resultados de la medición que ilustran la cantidad de la primera y
de la segunda sustancia que se encuentran en la muestra, fase
52.
Se ha de hacer notar que el método no se limita
a la medición de dos emisiones de dos sustancias, ya que pueden
existir otros sistemas para dividir la emisión en diversos rayos de
emisión y más detectores para medir los rayos de emisión.
Anteriormente se han descrito unos ejemplos de
unos procesos y métodos de análisis generales. A continuación se
describen unos análisis habituales con más detalle. En la presente
descripción se hace referencia a la utilización de un instrumento
óptico según la Figura 3.
En un análisis rápido de fotoluminiscencia, es
decir, una medición de Fl, se proporciona un impulso de excitación
para cada muestra a analizar. En una medición de Fl se selecciona
un filtro de excitación y un filtro de emisión tal como se ha
descrito anteriormente. También se selecciona un módulo óptico
adecuado; el módulo óptico puede consistir en un módulo de uso
general, o puede consistir en un módulo diseñado especialmente para
una sustancia marcada de un modo determinado.
Una vez se ha escogido una muestra para
analizar, se transmite un impulso de excitación y se lee la
referencia R_{1} siendo R_{i} la cantidad de luz que se ha
utilizado en la excitación de la marca. La referencia de la
iluminación se recibe desde un detector de referencia 319. A
continuación se leen las señales de emisión S1_{A} y S1_{B} de
los detectores. Se calcula un factor de corrección para las señales
basándose en el valor de referencia de la iluminación. Se ajusta
la estabilidad a largo plazo del equipo a dicha cantidad de luz
cuando se utiliza un determinado filtro de excitaciones y un bloque
especular.
Si se utilizan varios impulsos para una muestra,
se repite la secuencia y se suman los resultados o se realiza el
promedio de los mismos. De este modo se obtiene una mejor relación
entre la señal y el ruido de la medición.
Un análisis de la fotoluminiscencia de
resolución temporal, es decir, una medición de TRF, equivale a la
medición de la Fl excepto en el hecho de que se forman diversos
impulsos de excitación para cada muestra y se determinan las
emisiones correspondientes. Las señales de medición y las señales
de referencia se leen después de cada uno de los impulsos de
excitación y se calculan las correcciones de señal. Las referencias
básicas se determinan con disolventes estándar tras realizar el
montaje del analizador. Una vez se han recibido todas las señales
de emisión de una muestra, los resultados preferentemente se
integran digitalmente. Finalmente, puede realizarse una corrección
lineal de la señal digital utilizando una
referencia.
referencia.
En una medición de la quimioluminiscencia no se
proporciona un impulso de excitación. Puede utilizarse un detector
separado para la medición de quimioluminiscencia si se pretenden
realizar las mediciones de la quimioluminiscencia simultáneamente
con una medición de fotoluminiscencia. En dicho caso, las
mediciones simultáneas de quimioluminiscencia y fotoluminiscencia
se realizan de distintas muestras. Sin embargo, si no se requiere
una medición simultánea, puede utilizarse el mismo detector que
usó en las mediciones de fotoluminiscencia para la medición de
quimioluminiscencia.
No se necesita un filtro de emisiones en una
medición de quimioluminiscencia, de modo que puede retirarse la
guía deslizante del filtro fuera del rayo de medición. Se
selecciona un módulo óptico en función de la marca; puede
utilizarse un módulo TR, pero puede conseguirse una mejor calidad
en la medición con un bloque diseñado para la medición de
quimioluminiscencia. Se ajusta una entrada analógica o una ventana
digital para el período de medición. Una vez se ha escogido una
muestra empieza el primer período de iluminación para la medición.
La duración del período de medición es, por ejemplo, de 1 ms. Se
leen las señales detectadas, se empiezan nuevos períodos de
medición y se leen las señales correspondientes. Se repiten los
períodos de medición durante, por ejemplo, 1000 veces, lo que
proporciona 1 segundo para el período total de medición.
Finalmente se suman las señales medidas para obtener el resultado
de la medición total.
El proceso de la medición fotométrica se ha
descrito ya en relación con la Figura 3.
En la memoria de la presente patente la
estructura de los componentes del instrumento óptico de medición no
se describe con un mayor detalle de modo que puedan montarse
utilizando la descripción anterior y el conocimiento general de un
experto en la materia.
Un instrumento óptico comprende unos medios de
control para realizar el proceso de medición óptica. El control del
proceso de medición en un instrumento óptico de medición
generalmente tiene lugar en una disposición con capacidad de
proceso en forma de microprocesador(es) y una memoria en
forma de circuitos de memoria. Dicha disposición resulta conocida
a partir de la tecnología de los analizadores y equipos
relacionados. Para convertir un instrumento óptico en un equipo
según la invención resulta necesario, aparte de las modificaciones
en el hardware, almacenar en el sistema de memoria un conjunto de
instrucciones legibles por la máquina que proporcionen las
instrucciones al / a los microprocesador(es) para realizar
las operaciones descritas anteriormente. La composición y el
almacenamiento en la memoria de dichas instrucciones implican una
tecnología conocida que, cuando se combina con los conocimientos de
la presente solicitud de patente, está dentro de las capacidades
de un experto en la materia.
El principio según la invención puede
naturalmente modificarse dentro del ámbito definido por las
reivindicaciones, por ejemplo, mediante la modificación de los
detalles de la implementación y la variedad de utilizaciones.
Se ha de hacer hincapié en el hecho de que la
invención no se encuentra en modo alguna limitada a las
aplicaciones de la medición de la fotoluminiscencia. Un usuario
experto es capaz de utilizar la presente invención también en otras
tecnologías de medición de uso común en los laboratorios de
bioquímica. Por ejemplo, pueden realizarse utilizando una
tecnología de medición de la fluorescencia, análisis de la
reflectancia, trubidimétricos y nefelométricos con la excepción de
que el filtro de emisiones ha de ser un filtro gris.
En el campo de las mediciones fotométricas de
muestra la presente invención no está en modo alguno limitada a las
aplicaciones en las que se utiliza la excitación de la muestra,
sino que en la invención pueden realizarse también mediciones que
se basan, por ejemplo, en la quimioluminiscencia.
A pesar de que la invención se ha descrito
haciendo referencia a placas de microvaloración resulta aplicable
igualmente a cualquier forma de matriz de muestras tal como los
geles y los filtros.
A pesar de que la invención se ha descrito con
una disposición en la que las fuentes de iluminación y los
detectores se ubican en el cabezal superior de medición, no existe
razón alguna por la que su ubicación en el cabezal inferior de
medición no pueda funcionar.
Claims (40)
1. Instrumento óptico de medición destinado a
medición de muestras, que comprende una fuente de iluminación (211)
destinada a formar un rayo de excitación, un primer detector (231a)
destinado a detectar un primer rayo de emisión recibido de una
primera sustancia de la muestra, un módulo óptico cambiable (240)
que dirige el rayo de excitación recibido de la interfaz (218, 223,
233a, 233b, 238) para una fuente de iluminación (211) en la muestra
(281) y dirigir el primer rayo de emisión recibido de la primera
sustancia de la muestra (281) hacia el primer detector (231a),
comprendiendo la interfaz (218, 223, 233a, 233b, 238) además medios
(238, 233b) destinado a recibir un segundo rayo de emisión de un
modo sustancialmente simultáneo con la recepción del primer rayo de
emisión, recibiéndose el segundo rayo de emisión desde una
sustancia de la muestra, caracterizado por
- un primer módulo óptico (1340) que comprende
un primer reflector (1341) destinado a separar las trayectorias
ópticas de un rayo de emisión y un rayo de excitación, y un segundo
reflector (1342) destinado a separar el rayo de emisión en un
primer rayo de emisión y un segundo rayo de emisión, y medios
destinados a dirigir el segundo rayo de emisión recibido desde la
segunda sustancia de la muestra hacia un segundo detector, en el
que el instrumento de medición óptica comprende además unos medios
destinados a procesar las señales del primer y segundo detectores a
fin de proporcionar los resultados de la medición presentando las
cantidades de la primera y segunda sustancias de la muestra,
- un segundo módulo óptico (1640) que comprende
un primer reflector (1641) destinado a la separación de las
trayectorias ópticas de un rayo de emisión y de un rayo de
excitación y que no comprende un segundo reflector en la
trayectoria del rayo de emisión, y
- encontrándose el instrumento adaptado para
seleccionar el primer módulo óptico cuando el módulo óptico se
utiliza para determinar dos emisiones de la muestra, y para
seleccionar el segundo módulo óptico cuando el módulo óptico se
utiliza para determinar una emisión de la muestra.
2. Instrumento óptico según la reivindicación
1, caracterizado porque comprende un primer reflector (241)
destinado a reflejar el rayo de excitación recibido desde la fuente
de iluminación de la muestra y a transmitir un rayo de emisión
recibido desde la
muestra.
muestra.
3. Instrumento óptico según la reivindicación
1, caracterizado porque dicho segundo reflector (1342),
transmite el primer rayo de emisión y refleja el segundo rayo de
emisión.
4. Instrumento óptico según la reivindicación
1, caracterizado porque el instrumento comprende un primer
filtro óptico (234a) destinado a filtrar el primer rayo de emisión
siendo dicho primer filtro sustancialmente transparente a la luz
con una banda de longitud de onda, que se encuentra relacionada con
la primera emisión de la muestra, y dicho primer filtro es
sustancialmente no transparente a la luz con una longitud de onda
que no corresponde a dicha banda.
5. Instrumento óptico según la reivindicación
4, caracterizado porque el instrumento comprende un segundo
filtro óptico (234b) destinado a filtrar el segundo rayo de luz de
la muestra siendo dicho segundo filtro sustancialmente transparente
a la luz con una banda de longitud de onda, que se encuentra
relacionada con la segunda emisión de la muestra, y dicho segundo
filtro es sustancialmente no transparente a la luz con una longitud
de onda que no corresponde a dicha banda.
6. Instrumento óptico según la reivindicación
1, caracterizado porque dicha interfaz comprende además unos
medios (219) para recibir un rayo de iluminación de referencia del
módulo óptico.
7. Instrumento óptico según la reivindicación 6,
caracterizado porque un módulo óptico cambiable comprende un
tercer reflector de división (243) destinado a reflejar una parte
de la luz recibida de la fuente de iluminación (211), y el
instrumento comprende otro detector (219) destinado a medir la
parte de la luz de excitación reflejada, de referencia, a fin de
medir el efecto iluminante de la fuente de iluminación.
8. Instrumento óptico según la reivindicación 7,
caracterizado porque las propiedades de
transmisión/reflexión de dicho tercer reflector para la división
del haz de luz son específicas de la aplicación.
9. Instrumento óptico según la reivindicación
1, caracterizado porque comprende un cabezal superior de
medición (320) destinado a medir una muestra desde (320) la parte
superior de la muestra (381), en el que el cabezal superior de
medición comprende un módulo óptico superior (340).
10. Instrumento óptico según la reivindicación
9, caracterizado porque el módulo superior de medición (320)
comprende unos medios (318T), 340a, 323) destinados a proporcionar
un rayo de excitación a la muestra y unos medios (323, 340a, 337a)
destinados a medir un primer rayo de emisión de la muestra.
11. Instrumento óptico según la reivindicación
9, caracterizado porque el cabezal superior de medición
comprende unos medios (323, 340a, 338, 337a) destinados a medir un
segundo rayo de emisión de la muestra.
12. Instrumento óptico según la reivindicación
1, caracterizado porque comprende un cabezal inferior de
medición (360) destinado a medir una muestra desde la parte
inferior de la muestra (381), en el que dicho cabezal inferior de
medición (360) comprende un módulo óptico inferior cambiable (350)
y una interfaz óptica para el módulo óptico inferior.
13. Instrumento óptico según la reivindicación
12, caracterizado porque comprende una fibra óptica (318B)
destinada a dirigir el primer rayo de emisión entre la fuente de
iluminación y el módulo óptico inferior (350).
14. Instrumento óptico según la reivindicación
12, caracterizado porque comprende una fibra óptica (338a)
destinada a dirigir el primer rayo de emisión entre el módulo
óptico inferior (350) y el primer detector (332a).
15. Instrumento óptico según la reivindicación
12, caracterizado porque la interfaz óptica del módulo
óptico inferior comprende unos medios (338a) destinados a recibir
un segundo rayo de emisión desde el módulo óptico (350).
16. Instrumento óptico según la reivindicación
12, caracterizado porque comprende una fibra óptica (338b)
destinada a dirigir el segundo rayo de emisión entre el módulo
óptico inferior (350) y el segundo detector (332b).
17. Instrumento óptico según la reivindicación
12, caracterizado porque comprende un conmutador óptico
(337a) destinado a seleccionar que el primer rayo de emisión sea
recibido desde el módulo óptico superior (340a) o desde el módulo
óptico inferior (350) hasta el primer detector (332a).
18. Instrumento óptico según la reivindicación
12, caracterizado porque comprende un conmutador óptico
(337b) destinado a seleccionar que el segundo rayo de emisión sea
recibido desde el módulo óptico superior (340a) o desde el módulo
óptico inferior (350) hasta el segundo detector (332b).
19. Instrumento óptico según la reivindicación
12, caracterizado porque comprende un conmutador óptico
(317) destinado a seleccionar que el rayo de excitación sea
transmitido desde el módulo óptico superior (340a) o desde el módulo
óptico inferior (350).
20. Instrumento óptico según la reivindicación
1, caracterizado porque comprende una segunda fuente de
iluminación.
21. Instrumento óptico según la reivindicación
20, caracterizado porque comprende un conmutador óptico
destinado a seleccionar el rayo de excitación que sea recibido de
la primera fuente de iluminación o de la segunda fuente de
iluminación.
22. Instrumento óptico según la reivindicación
1, caracterizado porque comprende un tercer detector (332c)
destinado a medir la quimioluminiscencia de una muestra.
23. Instrumento óptico según la reivindicación
22, caracterizado porque comprende una fibra óptica (318c)
destinada a dirigir el rayo de quimioluminiscencia desde la muestra
hasta el tercer detector (332c).
24. Instrumento óptico según la reivindicación
22, caracterizado porque los medios para medir la
quimioluminiscencia están dispuestos para medir la
quimioluminiscencia de una muestra de un modo sustancialmente
simultáneo con la medición de la emisión de fotoluminiscencia de
otra muestra.
25. Instrumento óptico según la reivindicación
1, caracterizado porque comprende unos medios de iluminación
(312b, 312a, 314h, 314j, 314k, 373 - 379), y otro detector (332d)
destinado a medir la absorbancia de una muestra.
26. Instrumento óptico según la reivindicación
25, caracterizado porque los medios para medir la
absorbancia están dispuestos para medir la absorbancia de una
muestra de un modo sustancialmente simultáneo con la medición de la
emisión de fotoluminiscencia de otra muestra.
27. Uso de un instrumento de medición óptica
destinado a medición de muestras, comprendiendo el instrumento unos
medios para producir la excitación de una muestra (211) y unos
medios para medir las emisiones de la muestra, el uso comprende las
fases de medición de las emisiones de dos sustancias de la muestra
y comprende además las fases de:
- seleccionar un primer módulo óptico cambiable
(1340) destinado a dirigir el rayo de excitación hacia la muestra,
a dividir el rayo de emisión en un primer rayo de emisión y un
segundo rayo de emisión, a dirigir un primer rayo de emisión hacia
el primer detector (231a) y a guiar el segundo rayo de emisión
hacia el segundo detector (231b), en el que dicho primer módulo
óptico cambiable comprende un primer reflector (1341) destinado a
separar los caminos ópticos del rayo de emisión y un rayo de
excitación y un segundo reflector (1342) destinado a separar el
rayo de emisión en el primer rayo de emisión recibido de una
primera sustancia de la muestra y el segundo rayo de emisión
recibido de la segunda sustancia de la muestra,
- realizar la medición óptica (23 - 25), y
- procesar las señales recibidas del primer
detector (231a) y del segundo detector (231b) para proporcionar los
resultados de la medición que presentan las cantidades de la primera
sustancia y de la segunda sustancia de la muestra, en el que la
medición de los dos rayos de emisión es sustancialmente
simultánea,
y medir la emisión de una sustancia de la
muestra que comprende además las fases de:
- seleccionar un segundo módulo óptico cambiable
(1646) destinado a dirigir el rayo de excitación hacia la muestra
y 20 a dirigir el rayo de emisión hacia el primer detector (231a),
en el que dicho segundo módulo óptico cambiable comprende un primer
reflector (1641) destinado a separar los caminos ópticos del rayo
de emisión y no comprende un segundo reflector en la trayectoria
del rayo de emisión, recibiéndose el primer rayo de emisión de una
sustancia de la
muestra,
muestra,
- realizar la medición óptica (23 - 25), y
- procesar las señales recibidas del primer
detector y proporcionar los resultados de la medición que presentan
la cantidad de la sustancia de la muestra.
28. Uso según la reivindicación 27,
caracterizada porque el proceso comprende además la fase de
seleccionar la fuente de excitación (12).
29. Uso según la reivindicación 27,
caracterizado porque el proceso comprende además la fase de
seleccionar un cabezal superior de medición o un cabezal inferior
de medición para proporcionar la excitación de la muestra y para
recibir las emisiones de la muestra (15, 18, 21).
30. Uso según la reivindicación 27,
caracterizado porque el proceso comprende además la fase de
seleccionar la muestra a medir (23).
31. Método de medición óptica de muestras que
comprende las etapas de:
- -
- formar un rayo de excitación (41),
- -
- dirigir el rayo de excitación hacia una muestra con un módulo óptico cambiable (43),
- -
- recibir de un rayo de emisión de la muestra (45),
caracterizado porque el
método de medición de emisiones de la muestra comprende además las
etapas de medir las emisiones de dos sustancias de la muestra
comprendiendo además las fases
de:
- -
- seleccionar un primer módulo óptico cambiable (1340) destinado a dirigir el rayo de excitación hacia la muestra, a dividir el rayo de emisión en un primer rayo de emisión y un segundo rayo de emisión, a dirigir un primer rayo de emisión hacia el primer detector (231a) y a guiar el segundo rayo de emisión hacia el segundo detector (231b), en el que dicho primer módulo óptico cambiable comprende un primer reflector (1341) destinado a separar los caminos ópticos del rayo de emisión y un rayo de excitación y un segundo reflector (1342) destinado a separar el rayo de emisión en el primer rayo de emisión recibido de una primera sustancia de la muestra y el segundo rayo de emisión recibido de la segunda sustancia de la muestra,
- -
- realizar la medición óptica (23 - 25), y
- -
- procesar las señales recibidas del primer detector (231a) y del segundo detector (231b) para proporcionar los resultados de la medición que presentan las cantidades de la primera sustancia y de la segunda sustancia de la muestra, en la que la medición de los dos rayos de emisión es sustancialmente simultánea,
- y medir la emisión de una sustancia de la muestra que comprende además las fases de:
- -
- seleccionar un segundo módulo óptico cambiable (1646) destinado a dirigir el rayo de excitación hacia la muestra y 20 a dirigir el rayo de emisión hacia el primer detector (231a), en el que dicho segundo módulo óptico cambiable comprende un primer reflector (1641) destinado a separar los caminos ópticos del rayo de emisión y no comprende un segundo reflector en el camino del rayo de emisión, recibiéndose el primer rayo de emisión de una sustancia de la muestra,
- -
- realizar la medición óptica (23 - 25), y
- -
- procesar las señales recibidas del primer detector y proporcionar los resultados de la medición que presentan la cantidad de la sustancia de la muestra.
32. Método según la reivindicación 31,
caracterizado porque el primer rayo de emisión se filtra
para atenuar la luz con una longitud de onda distinta a la del
primer rayo de emisión a detectar.
33. Método según la reivindicación 31,
caracterizado porque el segundo rayo de emisión se filtra
para atenuar la luz con una longitud de onda distinta a la del
segundo rayo de emisión a detectar.
34. Método según la reivindicación 31,
caracterizado porque una parte de la luz de la fuente de
iluminación se refleja y se mide, y el efecto iluminante de la
fuente de iluminación se determina basándose en dicha medición.
35. Método según la reivindicación 34,
caracterizado porque la parte de la luz de la fuente de
iluminación se refleja con un reflector para la división del haz de
luz en el módulo óptico, en el que las propiedades de transmisión /
reflexión de dicho tercer reflector para la división del haz de
luz son específicas de la aplicación.
36. Método según la reivindicación 31,
caracterizado porque el rayo de excitación se dirige hacia
la muestra desde la parte superior de la muestra, y las emisiones
se determinan desde la parte superior de la muestra.
37. Método según la reivindicación 31,
caracterizado porque el rayo de excitación es dirigido hacia
la muestra desde la parte inferior de la muestra, y las emisiones
se determinan desde la parte inferior de la muestra.
38. Método según la reivindicación 31,
caracterizado porque el método comprende una medición de la
fotoluminiscencia.
39. Método según la reivindicación 31,
caracterizado porque además de dicha medición de una muestra
el método comprende una medición de la absorción de otra muestra
sustancialmente simul-
tánea.
tánea.
40. Método según la reivindicación 31,
caracterizado porque además de dicha medición de una muestra
el método comprende una medición de la quimioluminiscencia de otra
muestra sustancialmente
simultánea.
simultánea.
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