ES2209163T3 - Metodo y aparato para el perfilado superficial de materiales y calibracion de laseres de ablacion. - Google Patents
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Abstract
La invención se refiere a un procedimiento de medición del perfil superficial de una muestra (8), que consiste en dirigir un haz luminoso procedente de una fuente luminosa (2), a través de un divisor de haz (6) de manera que se formen dos haces divididos, en dirigir respectivamente dicho haz sobre una superficie de muestra (8) y una superficie de referencia (10), en reenviar los haces divididos a través del divisor de haz (6), y en dirigir los haces divididos hacia un sistema de formación de imagen (12). La invención se refiere también a un aparato de perfilado superficial para la medición del perfil superficial de una muestra (8), que comprende una fuente luminosa (2) para generar un haz fuente, un medio de división de haz (6) colocado sobre el trayecto del haz fuente, para dividir este último en haces divididos, una superficie de referencia (10), una superficie de muestra que permite a los haces divididos atravesar trayectos separados y ser reenviados mediante división de haz (6), un medio de posicionamiento de superficie de referencia (14) para posicionar la superficie de referencia, y un medio de proyección (12) para la formación de imágenes de haces combinados. La invención se refiere también a un aparato de calibración de un láser para la ablación de una sustancia, que comprende el aparato de perfilado superficial de la invención.
Description
Método y aparato para el perfilado superficial de
materiales y calibración de láseres de ablación.
El presente invento hace referencia al perfilado
superficial de materiales, por ejemplo como en el procesamiento o
ablación de materiales por láser, o tal como se requiere en el
calibrado y verificación del rendimiento en el aparato de láser
empleado en operaciones sobre el tejido corneal de los ojos para
corregir errores refractivos. También se refiere a un método para
la calibración de aparatos de ablación por láser y el
correspondiente aparato.
Se describirá el invento haciendo referencia a
dos operaciones para la corrección de errores refractivos,
queractomía fotorrefractiva (PRK) y queratomeleusis con láser
in-situ (LASIK), pero el invento puede
utilizarse para medir el perfil superficial de un amplio abanico de
materiales o para calibrar láseres para una variedad de aplicaciones
médicas e industriales.
Para estar seguros de que se traza el perfil
correcto sobre la cornea de un paciente durante PRK o LASIK,
primero hay que calibrar el láser quirúrgico. Dicho proceso
proporciona una imagen precisa del modo cómo el láser efectuará la
ablación de la córnea. La superficie corneal puede ser ablacionada
para efectuar una corrección miópica, hiperópica o astigmática. Las
correcciones miópicas producirán una nueva curvatura, más plana,
mientras que las correcciones hiperópicas deben eliminar material
alrededor del borde del área a ablacionar.
Uno de los métodos utilizados habitualmente para
llevar a cabo el procedimiento de calibración comprende el trazado
de la superficie de un polímero plástico, tal como
polimetil-metacrilato (PMMA). La superficie trazada
se examina mediante un instrumento conocido, tal como un lensómetro.
Dicho instrumento determina la potencia de la "lente"
resultante en dioptrías. Luego puede compararse la lectura con la
corrección refractiva deseada. Las discrepancias entre la lectura
deseada y la alcanzada indican que el láser debe ser ajustado,
aplicando un factor proporcional a la diferencia entre la lectura
del lensómetro y la corrección quirúrgica deseada (véase la patente
estadounidense núm. 5.261.822).
Se describe otro método de calibración en la
patente estadounidense núm. 5.261.822. Esta patente explica el uso
de un bloque de calibración que puede examinarse mediante
inspección visual. Enseña el uso de una serie de delgados
recubrimientos de PMMA de un espesor progresivamente mayor,
aplicados sobre un substrato sólido del mismo material. Cada capa
puede estar cubierta con un material de diferente color o
fluorescente. Cuando la cavidad del material ablacionado por el
láser es observada desde encima, puede verse un modelo de círculos.
Un láser correctamente calibrado debe producir modelos de círculos
concéntricos, mientras que los modelos de círculos excéntricos
indican que el láser no ha sido correctamente calibrado. Sin
embargo, el resultado suele juzgarse subjetivamente y esta técnica
tan solo proporciona una burda predicción de la forma creada
durante una corrección refractiva.
Los anteriores métodos de calibración por láser
presentan una serie de inconvenientes. No es necesario que el PMMA
imite las características de ablación del tejido corneal, y las
diferentes marcas de PMMA ablacionan a diferentes velocidades (P.P.
van Saarloos e I.J. Constable, J. Appl. Phys. 68(1) (1990)
377). Además, diferentes marcas de láseres producen la ablación a
diferencias fluencias, de manera que la relación entre las
velocidades de ablación del tejido y del plástico son distintas. Ni
siquiera el lensómetro proporciona una lectura precisa de la
superficie de ablación. La forma que se desea trazar en la córnea
no necesariamente produce una forma de lente precisa cuando es
ablacionada en plástico. La superficie ablacionada suele ser
asférica, y puede ser leída de modo impreciso. Esto significa que
una lectura del lensómetro no tiene porque proporcionar una medida
absoluta del rendimiento del láser, y en algunos casos la medición
no tiene sentido. Por consiguiente, este método tan solo puede
proporcionar una lectura aproximada de la curvatura superficial.
Las lecturas del lensómetro también requieren tiempo.
Otros conocidos métodos para medir los perfiles
de superficies ablacionadas incluyen el uso de interferometría, o
bien incluyen el escaneado de la superficie ablacionada con un
microscopio electrónico de escaneado, o un microscopio confocal o
agujas de contacto superficial.
Sin embargo, los dispositivos de acuerdo con
estos conocidos métodos son caros y de tamaño prohibitivo, y no
sirven prácticamente para cubrir la amplitud de formas producidas
por los láseres refractivos. Por tanto existe una demanda de un
dispositivo preciso de bajo coste para el análisis del rendimiento y
la calibración de láseres refractivos, para asegurar el trazado de
formas apropiadas sobre la superficie a ablacionar. En la patente
US-A-5.493.109 se indica un
dispositivo de monitorización interferométrica con un microscopio
oftalmológico quirúrgico.
Un objeto del presente invento es proporcionar un
nuevo y perfeccionado método y aparato para la calibración de
láseres de ablación que puedan examinar de manera más precisa y
fiable la superficie de una ablación.
Por consiguiente, de acuerdo con el presente
invento, se proporciona un método para calibrar aparatos de
ablación por láser, incluyendo:
- -
- la ablación de una muestra;
- -
- la medición del perfil superficial de dicha muestra mediante:
- -
- la dirección de la luz de una fuente luminosa a través de un divisor de haz a fin de formar dos haces partidos;
- -
- la dirección de dichos haces partidos, respectivamente sobre la superficie ablacionado de dicha muestra y también sobre una superficie de referencia;
- -
- reflejar los haces partidos desde dichas superficie ablacionada y la citada superficie de referencia, respectivamente, y formar una señal de interferencia desde dichos haces partidos reflejados; y
- -
- la detección de dicha señal de interferencia y así determinar el perfil de superficie de dicha superficie de muestra; y
- -
- la calibración de dicho aparato de ablación de láser sobre la base de dicho perfil superficial determinado.
El método puede incluir la reflexión de dicha luz
desde un espejo y/o el enfocado de dicha luz para reducir el
espacio necesario.
Preferiblemente, la fuente luminosa incluye un
diodo emisor de luz.
Alternativamente, la fuente luminosa es una
fuente de luz blanca o casi infrarroja.
Preferiblemente, la superficie de muestra es un
polímero plástico que ablaciona a una fracción sustancialmente
constante de la velocidad de ablación de dicho material en toda la
serie de fluencias empleadas para ablacionar dicho material, y
preferentemente la fracción es igual a 1,0.
El material puede ser material biológico.
El tejido biológico puede ser tejido corneal, y
el método incluye la ablación de dicho material en un procedimiento
quirúrgico, en cuyo caso las fluencias son preferiblemente del
orden de 50 a 800 mJ/cm^{2}, y más preferiblemente del orden de
120 a 250 mJ/cm^{2}.
Preferiblemente, la superficie de referencia es
un espejo plano o una superficie plana.
La superficie de referencia puede estar montada
en un péndulo que incluya una serie de hojas sustancialmente
paralelas de material flexible.
El método puede incluir el movimiento de la
superficie de referencia por medio de un altavoz o bobina de
voz.
Preferiblemente, el sistema de imagen incluye una
cámara de vídeo CCD.
El método puede incluir la medición de dicho
perfil superficial, la comparación de la citada medición con un
perfil previsto, y la determinación de un indicador de seguridad o
predicción de la ablación realizada sobre dicha muestra para usar en
un procedimiento quirúrgico.
Preferiblemente, los medios para posicionar la
superficie de referencia incluyen un activador de bobina de voz y
un sensor de posición.
El método puede incluir la transferencia de la
información del perfil de calibración determinado con dicho método
en un ordenador de control del sistema láser, para permitir la
autocorreción de la calibración y control de forma del sistema
láser.
El método también puede incluir la comunicación
con un dispositivo de medición topográfica para medir la topografía
de la superficie frontal de un ojo humano o de animal a fin de
combinar los resultados de una medición de calibración en plástico y
los resultados de una medición topográfica, y la predicción de
dicha calibración y topografía resultante de la forma del ojo
después del tratamiento láser.
El presente invento también proporciona aparatos
de calibración para láser de ablación, incluyendo:
- -
- una fuente luminosa para generar una fuente de luz;
- -
- medios divisores del haz colocados en el recorrido del haz de la fuente para dividir dicho haz de la fuente en haces partidos;
- -
- una superficie de referencia colocada para reflejar uno de dichos haces partidos para formar una señal de interferencia con otro de dichos haces partidos reflejado por una superficie de una muestra ablacionada por el citado aparato de ablación por láser;
- -
- medios de posicionamiento de la superficie de referencia para colocar en posición la superficie de referencia;
- -
- medios para plasmar la imagen de dicha señal de referencia; y
- -
- medios para determinar, a partir de dicha señal de interferencia plasmada en imagen, el perfil superficial de dicha superficie de muestra y calibrar el citado aparato de ablación por láser sobre la base de dicho perfil superficial determinado.
El aparato puede incluir elementos ópticos de
enfoque para concentrar la intensidad de dicha luz, y un espejo,
estando dichos elementos ópticos y el citado espejo colocados entre
dicha fuente luminosa y los mencionados medios de partición del
haz.
Preferiblemente, la luz es una luz blanca o
cercana a la luz infrarroja.
La fuente luminosa puede incluir una bombilla
halógena, o un diodo emisor de luz (LED).
Preferiblemente, dicho LED tiene una máxima
intensidad en la porción roja a infrarroja del espectro.
La superficie de referencia puede ser un espejo
plano o una superficie plana.
El sistema de imagen incluye preferiblemente una
cámara de vídeo CCD.
Preferiblemente, los medios de posicionamiento de
la superficie de referencia incluyen un activador de bobina de voz y
un sensor de posición.
Preferiblemente, el sensor de posición incluye
una muestra conocida.
Preferentemente, el sensor de posición incluye un
espejo o elemento óptico que permite visionar simultánea o
alternativamente tanto la muestra conocida como la muestra plástica
que está siendo medida por medio de un sistema de plasmación de
imágenes.
En una forma de realización del invento, el
sensor de posición es un sensor de posición de capacitancia o
inductancia.
Preferiblemente, el activador de bobina de voz es
similar al utilizado en un altavoz.
El sensor de posición puede ser un sensor
opto-eléctrico que incluye un fotodiodo con un
sistema de amplificación y un LED adicional, en que el sensor
utiliza la intensidad del LED adicional, y dicho LED adicional es
colocado en posición para reflejar luz en un ángulo desde la
superficie de referencia, o cualquier superficie que se mueva con
la superficie de referencia, al fotodiodo.
Preferiblemente, el sensor de posición es uno de
una serie de sensores de posición.
Preferiblemente, la serie de sensores de posición
incluye una cantidad de tipos de sensores de posición.
En una forma de realización, los medios de
posicionamiento de la superficie de referencia incluyen un
altavoz.
Preferiblemente, el altavoz se utiliza como, o
constituye, un activador de desplazamiento para la superficie de
referencia.
Preferiblemente la superficie de referencia va
montada en un péndulo que incluye una serie de láminas
sustancialmente paralelas de material flexible.
La superficie de plástico puede comprender un
polímero plástico que ablaciona a una fracción sustancialmente
constante de la velocidad de ablación de dicho material sobre una
serie de fluencias utilizadas para ablacionar dicho material, y
preferiblemente la fracción es igual de 1,0.
El material puede ser material biológico,
incluyendo por ejemplo tejido corneal, y el aparato puede ser para
ablacionar el material en un procedimiento quirúrgico (tal como PRK
o LASIK). En este caso, las fluencias son preferiblemente del orden
de 50 a 800 mJ/cm^{2} y más preferiblemente del orden de 120 a
250 mJ/cm^{2}.
En una forma de realización particular, el
aparato incluye medios láser, en que el aparato sirve para calibrar
y/o verificar los medios láser, e incluye medios de comunicación
para comunicar con medios láser controlados por ordenador, de modo
que los medios láser pueden utilizar información del perfil de
calibración obtenida por el aparato de calibración a fin de
autocorregir la calibración y los controles de forma de dichos
medios láser. En esta forma de realización, los medios láser pueden
utilizarse en operaciones PRK o LASTK de la córnea del ojo para
corregir errores refractivos.
El aparato puede incluir medios topográficos de
medición corneal para medir la topografía de la superficie frontal
de un ojo humano o animal, y medios de comunicación para
comunicarse con dichos medios topográficos de medición, para
predecir la topografía del ojo después del tratamiento con láser a
partir de las medidas de calibración en plástico y las mediciones
topográficas del ojo, e incluir además medios de presentación para
presentar la topografía corneal prevista después del tratamiento
láser por medio del aparato.
A fin de poder explicar el invento de manera más
completa, se describirán algunas formas de realización preferidas,
a modo de ejemplo, haciendo referencia a los dibujos adjuntos, en
los cuales:
La figura 1A es una vista esquemática en planta
de un modelo de ablación formado por una fuente láser dirigida sobre
la superficie de una muestra de plástico;
La figura 1B es una sección transversal a través
de A-A de la figura 1A; y
La figura 2 es una vista esquemática de un
aparato de calibración de acuerdo con una forma de realización
preferida del presente invento.
Las figuras 1A y 1B muestra un modelo
convencional de ablación mióptica o mióptica/astigmática trazada
sobre la superficie de una muestra de plástico. El modelo de
ablación puede haber sido trazada por un láser excimer, de estado
sólido o de otro tipo adecuado para la corrección refractiva.
Haciendo referencia a la figura 2, la primera
disposición del aparato incluye una fuente de luz roja en forma de
un diodo emisor de luz 2. Alternativamente, la fuente luminosa
puede ser una bombilla halógena de uso general. La luz 4 pasa a
través de un divisor de haz 6 donde se forman dos haces separados.
Parte de la luz es dirigida sobre la muestra ablacionada 8, que es
un polímero plástico que ablaciona a la misma velocidad que el
tejido corneal en la gama de fluencias láser empleadas en los
procedimientos de ablación corneal, de 120 a 250 mJ/cm^{2}. El
resto de la luz es dirigida sobre una superficie de referencia 10
comprendiendo un espejo u otra superficie plana que es escaneada
adelante y atrás. Tanto la muestra de plástico ablacionada 8 como la
superficie de referencia 10 reflejan o esparcen la luz atrás hacia
al divisor de haz 6. Algunos de los reflejos de la muestra 8 y de
la superficie de referencia 10 rebotan fuera del divisor de haz 6 y
desaparecen. El haz combinado restante es dirigido a través del
divisor de haz 6 hacia una cámara de vídeo CC 12, por ejemplo una
videocámara COHO 1100 o similar. Se escanéa la superficie de
referencia 10 para ajustar la longitud del recorrido del haz de la
luz que vuelve a la cámara 12. Cuando la longitud del recorrido del
haz luminoso desde la superficie de muestra 8 coincide con la
longitud del recorrido de la superficie de referencia 10, se
formarán modelos de interferencia.
Para una muestra ablacionada, como la de la
figura 1, cuando se observa a través de la cámara 12, aparecen
imágenes de modelos circulares de interferencia para buenas
ablaciones miópticas, no astigmáticas. Se produce un modelo circular
más pequeño en el punto más profundo de la superficie ablacionada,
cuando la superficie de referencia 10 está más alejada del divisor
de haz 6. Progresivamente, se producen modelos circulares mayores
cuanto menos profundas sean las ablaciones encontradas.
Sin embargo, tan sólo pueden producirse modelos
de interferencia cuando la superficie de referencia 10 y un punto de
la muestra ablacionada 8 se encuentran en la misma distancia del
recorrido óptico de la cámara de vídeo 12. Por tanto, la superficie
de referencia 10 debe poder moverse para permitir la presentación de
imágenes de diferentes profundidades de ablación. Un activador de
bobina de voz 14 mueve la superficie de referencia 10 atrás y
adelante, mientras que un sensor optoelecrónic 16 (o, en otras
formas de realización, un sensor de posición por capacitancia o
inductancia), tal como un fotodiodo con un sistema de
amplificación, detecta la posición espacial de la superficie de
referencia 10. Así pues, el activador de bobina de voz 14 y el
sensor de posición permiten el posicionamiento, con
retroalimetnación desde la superficie de referencia 10 con relación
a la muestra ablacionada 8.
Una forma de realización alternativa comprende el
uso de una medición de la posición óptica en lugar de mecánica, se
utiliza una conocida muestra con forma de un objeto conformado como
cuña 18, y un pequeño espejo 20, para detectar la posición de la
superficie de referencia 10. Vuelve a usarse la bobina de voz 14
para accionar la superficie de referencia 10. En esta forma de
realización, la conocida muestra 18 presenta una superficie
inclinada 22 que refleja el movimiento mínimo y máximo de la
superficie de referencia 10. No obstante, en esta forma de
realización puede usarse adicionalmente el sensor de posición.
Preferiblemente, el dispositivo de calibración
arriba descrito está conectado a un ordenador 24. Dicho ordenador
24 puede calcular las formas de la superficie de la muestra
ablacionada 8, presentar la forma de manera tridimensional, comparar
la forma actual con la deseada y emitir un mensaje de "ir/no
ir", indicativo de que se ha detectado una buena calibración o
un problema con el láser, respectivamente. El ordenador también
puede unirse a un sistema de láser o dispositivo de topografía
corneal 26. Por consiguiente, el dispositivo de calibración puede
intercambiar información referente al perfil ablacionado con el
sistema láser. Entonces puede interpretarse la información
proporcionada respecto al perfil medido producido, y utilizarlo
para modificar los parámetros del sistema láser de modo que se
produzca el perfil corneal deseado en su próxima ablación.
En una forma de realización preferida también
puede incluirse el aparato para llevar a cabo el perfilado
topográfico de la córnea. Dicho aparato puede utilizarse para medir
el perfil original de una superficie corneal y luego importar el
perfil de ablación medido desde el aparato de calibración del
presente invento. Luego puede ser calculada y representada la
topografía corneal que puede esperarse si el procedimiento de
ablación por láser se llevara a cabo en una córnea, basada en los
datos de calibración. Alternativamente, el aparato de calibración
puede leer los datos topográficos corneales, calculando y presentado
en el ordenador 24 la forma corneal resultante que se crearía de
usar el láser en el ojo.
Así pues, el presente invento puede usarse para
calibrar los láseres utilizados, por ejemplo, en la mejora de la
visión u otros procedimientos médicos, dentales o cosméticos donde
se requiere una precisa ablación del tejido.
Claims (30)
1. Un método para calibrar aparatos de ablación
por láser, incluyendo:
- -
- la ablación de una muestra (8)
- -
- la medición del perfil superficial de dicha muestra, mediante:
- -
- la dirección de la luz procedente de una fuente luminosa (2) a través de un divisor de haz (6) para formar dos haces partidos;
- -
- la dirección de dichos haces partidos respectivamente sobre la superficie ablacionada de la citada muestra (8) y también sobre una superficie de referencia (10);
- -
- reflejar los haces partidos desde dicha superficie ablacionada y la citada superficie de referencia, respectivamente, para formar una señal de interferencia desde dichos haces partidos reflejados; y
- -
- detectar dicha señal de interferencia y determinar con ello el perfil superficial de dicha superficie de muestra; y
- -
- la calibración de dicho aparato de ablación por láser sobre la base de dicho perfil superficial determinado.
2. Un método de acuerdo con la reivindicación 1,
en que dicha superficie de muestra (8) es un polímero plástico.
3. Un método de acuerdo con una cualquiera de las
reivindicaciones 1 ó 2, en que dicha fuente luminosa incluye un
diodo emisor de luz (2).
4. Un método de acuerdo con una cualquiera de las
reivindicaciones precedentes para calibrar dicho aparato para usar
en ablacionar un material predeterminado, de modo que dicha muestra
tiene una velocidad de ablación que es sustancialmente una fracción
constante de la velocidad de ablación de dicho material a ablacionar
sobre la serie de fluencias empleadas para ablacionar dicho
material.
5. Un método de acuerdo con la reivindicación 4,
en que dicha fracción es igual a 1,0.
6. Un método de acuerdo con las reivindicaciones
4 ó 5, en que dicho material es tejido biológico, por ejemplo tejido
corneal.
7. Un método de acuerdo con una cualquiera de las
reivindicaciones precedentes, incluyendo el movimiento de dicha
superficie de referencia por medio de un altavoz o bobina de voz
(14).
8. Un método de acuerdo con una cualquiera de las
reivindicaciones precedentes, incluyendo la medición de dicho perfil
superficial, comparar dicha medición con un perfil previsto, y
determinar un indicador de la seguridad o predicción de la ablación
llevada a cabo sobre dicha muestra para usar en un procedimiento
quirúrgico.
9. Un método de acuerdo con una cualquiera de las
reivindicaciones precedentes, incluyendo la transferencia del perfil
de calibración para permitir la autocorrección de la calibración y
control de forma del sistema láser.
10. Un método de acuerdo con una cualquiera de
las reivindicaciones precedentes, incluyendo la comunicación con un
dispositivo de medición topográfica para medir la topografía de la
superficie frontal de un ojo humano o animal a fin de combinar los
resultados de una medida de calibración en plástico y los resultados
de una medición topográfica, y predecir de dichas calibración y
topografía los resultados de la forma del ojo después del
tratamiento láser.
11. Aparato de calibración de láser de ablación,
incluyendo:
- -
- una fuente luminosa (2) para generar un haz de fuente;
- -
- medios de división del haz (6) dispuestos en el recorrido del haz de fuente para dividir dicho haz de fuente en haces partidos;
- -
- una superficie de referencia (10) colocada para reflejar uno de dichos hacer partidos a fin de formar una señal de interferencia con el otro de dichos haces partidos reflejado por una superficie de una muestra ablacionado por dicho aparato de ablación por láser;
- -
- medios de posicionamiento de la superficie de referencia (14) para colocar en posición la superficie de referencia;
- -
- medios (12) para formar una imagen de dicha señal de interferencia; y
- -
- medios (24) para determinar, a partir de dicha señal de interferencia plasmada en imagen, el perfil superficial de dicha superficie de muestra y para calibrar el citado aparato de ablación por láser sobre la base del mencionado perfil superficial determinado.
12. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
11, en que dicha fuente luminosa (2) es luz blanca o cerca de la luz
infrarroja.
13. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
11 ó 12, en que dicha fuente luminosa (2) incluye una bombilla
halógena o un LED.
14. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
11, 12 ó 13, en que dichos medios de posicionamiento de la
superficie de referencia incluyen asimismo un sensor de posición
(16).
15. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
14, en que dicho sensor de posición incluye una muestra conocida
(18).
16. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
15, en que dicho sensor de posición incluye un espejo o elemento
óptico (20) que permite ver simultánea o alternativamente tanto la
muestra conocida (18) como la citada muestra (8) que está siendo
medida, por medio de un sistema de presentación de imagen.
17. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
14, 15 ó 16, en que dichos medios de posicionamiento de la
superficie de referencia incluyen además un activador de bobina de
voz (14) para posicionar dicha superficie de referencia en respuesta
de dicho sensor de posición (16).
18. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
17, en que dicho activador de bobina de voz (14) es similar el usado
en un altavoz.
19. Un aparato de acuerdo con una cualquiera de
las reivindicaciones 11 a 16, en que dichos medios de
posicionamiento de la superficie de referencia incluyen un
altavoz.
20. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
19, en que dicho altavoz se utiliza como, o constituye, un
accionador de desplazamiento para la superficie de referencia.
21. Un aparato de acuerdo con una cualquiera de
las reivindicaciones 1 a 20, incluyendo además dicha muestra, de
modo que la citada superficie de muestra comprende un polímero
plástico.
22. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
21, para calibrar dicho aparato de ablación por láser a utilizar en
la ablación de un material predeterminado, en que dicha muestra
tiene una velocidad de ablación que es sustancialmente una fracción
constante de la velocidad de ablación de dicho material a ablacionar
sobre una serie de fluencias utilizadas en dicho material de
ablación.
23. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
22, en que dicha fracción es igual a 1,0.
24. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
22 ó 23, en que dicho material es tejido biológico, por ejemplo
tejido corneal.
25. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
24, en combinación con aparatos para la ablación por láser de dicho
tejido biológico en un procedimiento quirúrgico, por ejemplo PRK o
LASIK.
26. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
24 ó 25, en que dichas fluencias son del orden de 50 a 800
mJ/cm^{2}.
27. Un aparato de acuerdo con una cualquiera de
las reivindicaciones 11 a 26, en que los medios de fuente láser son
para utilizar en operaciones PRK o LASIK de córnea de ojo a fin de
corregir errores refractivos.
28. Un aparato de acuerdo con una cualquiera de
las reivindicaciones 11 a 27, incluyendo medios de medición
topográfica de la córnea para medir la topografía de la superficie
frontal del ojo humano o animal y medios de comunicación para
comunicar con dichos medios de medición topográfica, para predecir
la topografía del ojo después del tratamiento por láser a partir de
las mediciones de calibración en plástico y las mediciones
topográfica del ojo.
29. Un aparato de acuerdo con una cualquiera de
las reivindicaciones 11 a 28, incluyendo un aparato de ablación por
láser, estando dichos medios para determinar el citado perfil
superficial y para calibrar dicho aparato de ablación por láser en
comunicación con el mencionado aparato de ablación por láser para
ajustar la calibración y controles de forma del mismo.
30. Un aparato de acuerdo con la reivindicación
29, en que el aparato de ablación por láser sirve para usar en
operaciones PRK o LASIK de la córnea del ojo a fin de corregir
errores refractivos.
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