EP2745279A1 - Sensor und verfahren zum betreiben des sensors - Google Patents

Sensor und verfahren zum betreiben des sensors

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EP2745279A1
EP2745279A1 EP12751261.4A EP12751261A EP2745279A1 EP 2745279 A1 EP2745279 A1 EP 2745279A1 EP 12751261 A EP12751261 A EP 12751261A EP 2745279 A1 EP2745279 A1 EP 2745279A1
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EP
European Patent Office
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sensor
value
documents
malfunction
test
Prior art date
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Application number
EP12751261.4A
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English (en)
French (fr)
Other versions
EP2745279B1 (de
Inventor
Jörg Frankenberger
Michael Bloss
Erich KERST
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Giesecke and Devrient Currency Technology GmbH
Original Assignee
Giesecke and Devrient GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Giesecke and Devrient GmbH filed Critical Giesecke and Devrient GmbH
Publication of EP2745279A1 publication Critical patent/EP2745279A1/de
Application granted granted Critical
Publication of EP2745279B1 publication Critical patent/EP2745279B1/de
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Anticipated expiration legal-status Critical

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    • G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
    • G07D7/06—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency using wave or particle radiation
    • G07D7/12—Visible light, infrared or ultraviolet radiation
    • G07D7/128—Viewing devices
    • G—PHYSICS
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    • G07D11/00—Devices accepting coins; Devices accepting, dispensing, sorting or counting valuable papers
    • G07D11/20—Controlling or monitoring the operation of devices; Data handling
    • G07D11/22—Means for sensing or detection
    • G07D11/235—Means for sensing or detection for monitoring or indicating operating conditions; for detecting malfunctions
    • G—PHYSICS
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    • G07D7/1205—Testing spectral properties
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    • G07D7/12—Visible light, infrared or ultraviolet radiation
    • G07D7/121—Apparatus characterised by sensor details
    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
    • G07D7/20—Testing patterns thereon
    • G07D7/2075—Setting acceptance levels or parameters

Definitions

  • the invention relates to a method for operating a sensor, which is designed to test documents of value and a sensor which is designed to carry out this method.
  • sensors are usually used with which the type of value documents is determined and / or with which the value documents are checked for authenticity and / or their condition.
  • Such sensors are e.g. used for checking banknotes, checks, ID cards, credit cards, check cards, tickets, vouchers and the like.
  • the value documents are usually checked in a device for value document processing, in which, depending on the value-document properties to be tested, one or more sensors are included. To check the value documents, they are transported by means of a transport system individually along a transport path on the sensor.
  • a test medium is usually introduced into the detection range of the sensor in order to detect a measured value of the test medium with the sensor.
  • the value document check is interrupted and, instead of a value document, the test medium is introduced into the detection range of the sensor.
  • the disadvantage of this method is that a test medium must be provided and its assignment to the sensor must be ensured. In the case of multiple sensors or renewal of the test medium, eg due to degradation of the test medium, it can easily be confused, which can lead to incorrect test results. It has also been proposed to install a test medium in the sensor itself, for example in the housing of the sensor. To check the sensor function, the Checking the value documents is interrupted and the test medium is pivoted into the detection range of the sensor in order to detect measured values. Another disadvantage here is that the examination of the value documents for checking the sensor function must be interrupted.
  • the method according to the invention relates to a sensor which is designed to test value documents.
  • the sensor may be a sensor for testing optical or magnetic or electrical or mechanical properties.
  • Shanks of value documents to check the value documents on their authenticity, their nature, their condition or their quality.
  • For checking the value documents at least one operating mode of the sensor is provided in the sensor, in which it is determined which measured values the sensor should detect for checking the value documents and how the detected ones
  • Measured values are to be evaluated.
  • the sensor has e.g. a data memory in which the intended operating mode or information on the intended operating mode are stored, which the sensor uses to check the value documents.
  • One or more modes of operation may be provided in the sensor, e.g. for checking one or more value document types.
  • the senor performs a self-test, by which it independently checks its functionality.
  • the sensor may be designed to carry out one or more self-tests. If no malfunction is detected in the self-test performed by the sensor, the sensor for checking the value documents uses the operating mode which is provided for checking the value documents and carries out a check of the value documents in the intended operating mode.
  • the sensor responds to at least one malfunction identified in the context of the self-test, which would hinder the examination of the value documents, by the sensor for checking the value documents being replaced by a modified operating mode instead of the operating mode provided for checking the value documents Operating mode used.
  • the modified operating mode at least one other measured value of the sensor is used for checking the value documents than the operating mode provided for in the check of the value documents. in the Contrary to the usual function failure of the sensor, the sensor can therefore be operated despite the malfunction continue to check the value documents. Although the malfunction would interfere with the verification of the value documents, the sensor fails only if there is no possibility for the sensor to bypass the malfunction using the modified operating mode.
  • the senor will be able to bypass the malfunction so that, instead of failing, it can continue to operate and, despite the malfunction, can check the value documents.
  • Using a modified operating mode that uses a different reading will reduce the number of sensor failures.
  • the use of another measured value also has the advantage that the evaluation of the measured values only needs to be changed slightly, since only the provided measured value needs to be replaced by the other measured value, but the evaluation can otherwise remain the same.
  • the other measured value is for example a measured value which is derived from measured values of the sensor which are used in the intended operating mode but are not affected by the malfunction.
  • the other measured value may be a measured value that is interpolated or extrapolated from the detected measured values.
  • the other measured value can also be a measured value of the sensor which is not intended at all for checking the value documents in the intended operating mode.
  • the other measured value may, for example, be an additionally detected measured value which is not detected in the intended operating mode but which is detected and evaluated in the modified operating mode, or it may be an additionally evaluated measured value which, although detected in the intended operating mode, is not evaluated becomes.
  • Using an additional metric has the advantage that a measurement information lost due to the malfunction can be at least partially compensated by the additional measured value.
  • a measurement-related measurement value that should be used in the intended operating mode may be omitted.
  • the affected measured value is also detected in a modified operating mode, it is not taken into account in the evaluation of the measured values and the evaluation is carried out on the basis of the other measured values which are not affected by the malfunction. Or the measured value affected by the malfunction is not detected at all in the modified operating mode.
  • the relevant light source can be omitted in a lighting sequence, or the relevant measured value can not be detected or taken into account in the evaluation.
  • the measured value of the relevant measuring track can be omitted, eg ignored during the evaluation.
  • the value documents in the modified operating mode are preferably tested exclusively on the basis of measured values of the sensor whose generation is not dependent on the radio frequency. disorder is affected.
  • the examination of the value documents is carried out, for example, on the basis of previously provided measured values which are not affected by the malfunction and on the basis of one or more additional measured values which are not affected by the malfunction.
  • the modified operating mode differs eg by an im Compared to the intended operating mode modified excitation, in an optical sensor, for example by using a different light source.
  • the senor responds to one or more malfunctions in this way.
  • the sensor may respond in the same or different ways.
  • there may be other malfunctions of the sensor resulting in a malfunction of the sensor, e.g. if the sensor does not have a modified operating mode for this malfunction to avoid the malfunction.
  • the sensor can save information about the detected malfunction to a fault memory so that information about the detected malfunction is available later. If the sensor detects a malfunction and the malfunction detected would not hinder the checking of the value documents, the sensor carries out the verification of the value documents in the intended operating mode. In this case, no workaround is necessary and the detected malfunction can be ignored when checking the value documents.
  • the sensor If, in the course of its self-test, the sensor detects a malfunction that would impede the checking of the value documents and the malfunction can be bypassed, the sensor responds by replacing the intended operating mode by the modified operating mode or the intended operating mode to check the value documents suitably modified, and performs the examination of the value documents in the modified mode of operation.
  • the sensor on the same malfunction in certain other cases, when malfunction is not bypassable, it responds by the sensor issuing an error message that indicates a malfunction of the sensor or a specific function of the sensor.
  • the error message can be displayed by the sensor itself and / or sent via the Karlurükationsterrorism to the device to display the error message and / or further processed.
  • the self-test is carried out in particular by a sensor already installed in a device for documentary value verification.
  • the sensor carries out the self-test e.g. in the meantime between the examination successively to be examined value documents. Additionally or alternatively, however, the sensor may also perform the self-test prior to starting the value-document check, e.g.
  • the information about how the sensor can react to the detected malfunction can be found, for example, in FIG. stored in the data memory of the sensor. It is advantageous that the sensor can perform its self-test completely independently and the sensor, for example. no data exchange with its environment needed. Alternatively, the information on the different reactions can also be supplied to the sensor from outside, e.g. through the above device.
  • the self-test includes, for example, a check of the function of at least one light source of the sensor and / or at least one photodetector of the sensor.
  • a portion of the light of the light source reflected at a window of the sensor is detected by the photodetector, while no value document is present in the detection range of the sensor.
  • this self-test no test medium and no value document is required, the self-test of the sensor is possible even before the beginning of the value document check.
  • this self-test can also be used to check measuring tracks of the sensor which lie outside the value document to be checked.
  • the self-test in each of these gaps or regularly after a certain time or number of value documents or the self-test can be performed before switching to other value documents. If the self-test of the sensor is carried out in this way, this not only includes a check of the function of the light sources, but automatically also a check of the function of the photodetector. With the aid of logical analyzes, it can be determined which of the light source and / or the photodetectors are affected by the malfunction. If, for example, the light of several light sources is detected in succession with a specific photodetector, and the photodetector detects an insufficient signal when each of these light sources is switched on, it can be concluded that there is a malfunction of the photodetector or the electronic circuit connected thereto.
  • the photodetector When the photodetector On the other hand, if only one of these light sources detects an insufficient signal, a malfunction of this light source or its power supply or activation is inferred. A malfunction can already be detected due to an insufficient measured value or first through several measured values that indicate a malfunction. In addition or as an alternative, the sensor can perform other self-tests and identify malfunctions using other methods. Depending on which malfunction is detected and whether or not it can be bypassed, the sensor may use one of its modified operating modes to check the value documents.
  • the sensor is an optical sensor which detects the light emanating from the value documents at several wavelengths, in the modified operating mode for checking the value documents at least one measured value which is detected at a different wavelength than the measured values which are the are provided in the intended operating mode for checking the value documents.
  • the measured value detected when lighting with a different wavelength can be used.
  • this can be achieved, for example, by a spectrally different illumination and, if appropriate, a correspondingly adapted evaluation.
  • spectrally different photodetectors a measured value at a different wavelength can be detected and evaluated with the same illumination.
  • the functional failure of a light source or of a photodetector can be avoided if a spectrally adjacent light source or a spectrally adjacent photodetector is also suitable for testing the feature.
  • the sensor is an optical sensor which detects the light emanating from the value documents at several wavelengths
  • at least one derived measured value can be used in the modified operating mode for checking the value documents, for example instead of the measured value affected by the functional disturbance.
  • the use of a derived measured value, eg interpolated or extrapolated measured value has the advantage that the evaluation can remain substantially the same, since only the step of deriving needs to be inserted before the evaluation, but otherwise the evaluation can remain the same.
  • the interpolated measured value is interpolated, for example, from the detected measured values, which are detected spectrally on both sides adjacent to the measured value affected by the malfunction.
  • one of the light sources instead of the measured value detected when illuminated by the malfunctioning light source, will use an interpolated reading interpolated from readings obtained by illumination
  • An optical sensor having a plurality of light sources may, in the modified mode of operation, in the event of a malfunction of one of the light sources, use one or more light sources other than the intended mode of operation to test the value documents.
  • the lighting can be switched to one or more other light sources.
  • the examination of the value documents is carried out, for example, exclusively on the basis of those light sources which are not affected by the malfunction. Instead of the light source affected by the malfunction, the spectrally identical wavelength can be used if present in the sensor.
  • one or more light sources be used sources of another wavelength, the spectrum of which differs from the intended in the intended operating mode light source.
  • the sensor is a sensor with a plurality of measuring tracks transverse to a transport direction of the documents of value along which the documents of value are transported past the sensor for their testing, in the modified operating mode, in the event of a malfunction, one of the measuring tracks can be used to check the documents of value Measured value of the functionally faulty measuring track, a derived measured value can be used. This can be interpolated from the measured values of the measuring tracks adjacent to the malfunctioning measuring track. In this case too, the evaluation can advantageously remain essentially the same since only one interpolation step is necessary before the evaluation.
  • the senor in the case of a malfunction of one of the measuring tracks, can use the measured value of another measuring track, which is closest to the malfunctioning measuring track, instead of the measured value of the malfunctioning measuring track instead of the measured value of the malfunctioning measuring track.
  • the sensor can use the measured value of another measuring track, which is closest to the malfunctioning measuring track, instead of the measured value of the malfunctioning measuring track instead of the measured value of the malfunctioning measuring track.
  • the invention also relates to a sensor which is designed to test value documents and which is designed to carry out the self-test according to the invention, for example, is programmed, in which the sensor checks its functionality.
  • the sensor responds to a malfunction identified in the context of the self-test which would hinder the examination of the value documents by using a modified operating mode for checking the value documents instead of the intended operating mode at least one other measured value of the sensor is used for checking the value documents than is determined in the operating mode provided for checking the value documents.
  • the sensor is also programmed to subsequently test the value documents in the modified operating mode.
  • a data memory of the sensor In a data memory of the sensor, one or more intended operating modes or information about these and one or more modified operating modes or information about them can be stored, from which the sensor can extract or deduce how to react to the respective malfunction.
  • the data memory can be integrated in the housing of the sensor or the data memory is an external data memory, eg data memory of the device to which the sensor is connected.
  • different operating modes can be provided in the sensor.
  • stored in the data memory of the sensor for each of the various features in each case a designated operating mode or information on the respective intended operating mode, which the sensor used to test the respective feature.
  • a designated operating mode or information on the respective intended operating mode which the sensor used to test the respective feature.
  • the sensor Before the sensor performs its self-test, at least one of the features to be tested by the sensor can be selected. In the self-test of the sensor, it can be provided that the sensor evaluates differently a malfunction detected in the self-test as a function of the selected feature and that the sensor reacts differently to the malfunction detected in the self-test as a function of the selected feature.
  • the sensor can differently evaluate the malfunction as a function of the spectral properties of the selected feature and react differently to the malfunction, in particular as a function of the spectral position and / or the spectral profile of the feature. If the sensor is a sensor having a plurality of measuring tracks transverse to a transport direction of the value documents, the sensor can differently assess the detected malfunction depending on the position of the respective feature on the value document and react differently to the detected malfunction.
  • the information about the different reactions that the sensor, depending on the selected feature, to perform in the detected malfunction for example, stored in the data memory of the sensor. From this information, the sensor can derive or extract the different reactions.
  • the senor evaluates differently a malfunction detected as part of its self-test as a function of the selected value document type and that the sensor reacts differently to the malfunction detected as part of the self-test as a function of the selected value document type.
  • value document types For example, banknotes, checks, ID cards, credit cards, check cards, tickets, vouchers or a particular type or version thereof are referred to as value document types.
  • the value document type can also be a selection of several different types of value documents, for example value documents with specific characteristics or value documents with specific size specifications.
  • the value document type may be the denomination, the currency, the issue, or an indication of a selection of different denominations and / or currencies.
  • Figure a shows a sensor for checking value documents, the one
  • FIG. 1b shows a value document type W equipped with two features
  • FIG. 2 a shows a spectral distribution of the light emanating from a feature of a value document for two features
  • FIG. 2b shows four malfunctions and associated different reactions of the sensor for two different features
  • FIG. 3 Flow chart for the sequence of the self-test.
  • FIG. 1 shows a sensor which carries out a self-test according to the invention.
  • an optical sensor 100 has been selected which has measuring elements 4, including one or more light sources 41 and one or more photodetectors 43, and optionally further optical elements such as lenses, filters, etc ..
  • a document of value 10 to be tested is checked while this is transported past the sensor 100 along a transport direction T.
  • the value document 10 when it is within the detection range of the sensor, it is illuminated by the light emitted by the light source (s) 41 and the light emitted by the value document as a result of the illumination is detected by the photodetector (s). en) 43 detected.
  • the luminescent light or remission light of the value document 10 is detected.
  • the optical sensor 100 is designed to detect the light emitted by the value documents at several different wavelengths ⁇ 1 to ⁇ 7, cf. see Figure 2a.
  • the detector has, for example, several light sources with different emission spectra or several re photodetectors with spectrally different sensitivity, eg equipped with different filters photodetectors.
  • Figure 2a shows for two features M1 and M2 of value documents, e.g. Authenticity features, the respective spectral intensity distribution of the light emitted by a value document with the respective feature.
  • FIG. 1b above shows by way of example a value document type W which is equipped with the two features M1, M2.
  • Figure 1b center shows another value document type Wl, which has only the feature Ml and
  • Figure 1b below shows another other value document type W2, which is equipped only with the feature M2. Since the two features M1, M2 are present at different positions on the respective value document, different measurement tracks are relevant for the examination of the two features M1 and M2.
  • the sensor 100 has a control device 3, e.g. a processor which controls the measuring elements 4 both for carrying out the self-test and for checking the features and evaluates the measured values detected in accordance with the respective operating mode.
  • the information on the operating modes from Table 6 are included, cf. FIG. 2b, by which the operating modes B1, B2 are assigned to the features M1, M2, which the sensor during the test should use the respective feature.
  • the information on the operating mode here include the wavelengths and measuring tracks to be evaluated during the test of the respective feature and the evaluation to be used.
  • the wavelengths ⁇ ,% 3, ⁇ , ⁇ 6 and ⁇ 7 are provided for evaluation, specifically in the measuring tracks L8 to L10.
  • Table 6 also contains information on the reactions Rl, R2,... Of the sensor for detected malfunctions.
  • the information of table 9 can be contained in the data memory 5, by means of which the sensor can determine the associated features Mn from a selected value-document type Wn.
  • further information for checking the features may be stored in the data memory 5, for example reference data of the respective feature, with which the detected measured values are compared during the examination of the feature.
  • the sensor 100 also has a communication interface 2, via which it can receive and output information.
  • information about which of the various features Mn or which of the value-document types Wn is to be tested by the sensor can be supplied to the sensor 100 before the value-document check via the correlation interface 2.
  • the sensor is supplied to the sensor via the Kornmunikationssammlungstelle 2 that he should check the feature Ml.
  • the value document types W1 and W2 it is sufficient for the value document types W1 and W2 to communicate to the sensor only the value document type.
  • the sensor is informed that the value document type Wl should be checked.
  • the sensor can unambiguously determine the feature M 1 to be tested from this value-document type W 1, analogously to M 2 from W 2.
  • the sensor may perform the value-document check without prior selection of a feature Mn or a value-document type Wn, e.g. if only one operating mode is provided in the sensor 100, in which the sensor checks one or more specific features Mn. For example, only the operation mode Bl is provided, so that the selection of the feature Ml is omitted. For certain malfunctions for which a bypass is provided, then a modified operating mode Bl 'is used, cf. FIG. 2b.
  • the function of the light sources 41 of the sensor is checked as part of the self-test.
  • the light sources 41 in the gap between two documents of value 10 are switched on one after the other and in each case the light of the light sources partially reflected back on the window 8 of the sensor is detected with the aid of the photodetector 43.
  • the sensor 100 determines whether a malfunction of the respective light source 41 is present or not. A malfunction of a light source is detected, for example, when the detected light intensity of the light source falls below a certain minimum value.
  • the self-test may additionally or alternatively comprise a check of electronic components of the sensor, eg by testing an electrical voltage. Even with a malfunction of a component, the function of which depends on the light source or the photodetector, the sensor can use the respective modified operating mode.
  • the sensor Mn or the value-document type Wn to be tested can be informed via the communication interface 2 of the self-test. This can be done before or during the value document check.
  • the sensor 100 then performs the self-test before or during the value document check, for example in the gap between two value documents.
  • the sensor decides the result of the self-test: If the sensor passes the self-test, the test of the selected feature Mn is performed on the respective value documents having the feature Mn. However, if the sensor detects a malfunction F, the self-test will fail.
  • test step S20 the sensor checks whether the detected malfunction F for checking the selected feature Mn is relevant or not.
  • Corresponding information 6 is stored in the data memory 5, cf. Figures la and 2b. If the malfunction F does not hinder the test of the feature Mn, the test of the selected feature is carried out as intended. However, a corresponding entry is written in the error memory 7 of the sensor. If, in the test step S20, the sensor determines that the detected malfunction F hinders the test of the selected feature Mn, the sensor distinguishes between the two cases, whether the malfunction F in the selected feature Mn is bypassed or not (test step S30).
  • the sensor 100 checks whether its data memory 5 for the selected feature Mn contains information about how to deal with the detected malfunction F in the case of the feature Mn, for example, whether for the selected feature Mn information for a modified Operating mode to bypass the detected malfunction F are included. If no modified operating mode is provided for the selected feature Mn, with which the malfunction F is to be avoided, the sensor determines that it is not functional for checking the feature Mn and outputs a corresponding error message, eg via the communication interface 2 to the outside and writes a corresponding entry in the error memory 7. For example, the examination of the value documents is then stopped.
  • the value documents for which this feature Mn is to be checked can also be rejected during the check (reject filing), while the remaining value document types are checked as intended.
  • the sensor 100 finds in Table 6 information on a modified mode of operation by which the detected malfunction F is bypassable for the selected feature Mn, it selects that modified mode of operation. In this way, the sensor bypasses the detected malfunction F and the check of the selected feature Mn is performed in the modified mode of operation.
  • FIG. 2b shows four examples of malfunctions F1-F4 and, in each case, information on how the sensor evaluates one and the same malfunction differently depending on the characteristic M1 or M2 and reacts differently to each of them:
  • a malfunction Fl of the light source X3 is detected. If the feature M1 has been selected, the sensor determines, based on the information on the operating mode B1, that this malfunction F1 would hinder the functioning of the sensor. On the basis of the information in Table 6, however, the sensor determines that the malfunction Fl for the feature M1 can be circumvented by the fact that - instead of the measured value detected when lighting with the functionally defective light source ⁇ 3 - another measured value for checking the feature Ml is used, namely the detected during illumination with the functional light source X measured value, see. FIG. 2a. In the case of feature M2, the sensor of table 6 deduces that the malfunction Fl is relevant for the examination of this feature M2 and can not be bypassed. The sensor then gives an error message that it is not functional for checking the feature M2 or the relevant value documents due to the malfunction F of the light source ⁇ 3 .
  • a malfunction F2 of the light source X5 is detected. If the feature Ml has been selected, the sensor determines from the information on the operating mode Bl that this malfunction F2 would hinder the functioning of the sensor. Based on the information in Table 6, the sensor also notes that the func- disturbance for this feature Ml is not bypassable. The sensor then gives an error message that it is not functional due to the malfunction F2 of the light source Xs for testing the feature Ml or the relevant value documents. However, in the case of the feature M2, the malfunction F2 can be bypassed by not using the measured value for checking the feature M2 detected in lighting with the malfunctioning light source s, as is provided in the operating mode B2, but instead dispensing with the relevant measured value , see. FIG. 2a.
  • a malfunction F3 of the light source ⁇ is detected. If the feature Ml has been selected, the sensor determines from the information on the operating mode Bl that this malfunction F3 would hinder the functioning of the sensor. However, based on the information in Table 6, the sensor determines that the malfunction for this feature M1 can be bypassed by using another measurement, by interpolating the measurements detected at ⁇ 5 and ⁇ 7. The measured value detected at illumination with ⁇ 6 is then replaced by the measured value ⁇ calculated by means of interpolation for the evaluation. In the case of the feature M2, the sensor takes the information to the operating mode B2 that the check of the feature M2 by the malfunction F3 is not hindered. The examination of the feature M2 or the relevant value documents can be carried out with the intended operating mode B2.
  • a malfunction F4 of the measuring track L5 is detected, eg a malfunction of the photodetector of the measuring track L5. If the feature Ml has been selected, the sensor determines from the information on the operating mode Bl that this malfunction F4 does not hinder the test of the feature Ml. The examination of the feature Ml or the relevant value documents can be carried out with the intended operating mode Bl. In the case of Feature M2, the sensor of Table 6 deduces that the malfunction F4 would hamper the functioning of the sensor, but for this feature M2, it can be bypassed by using another measurement, by interpolating the measurements made in measurement lane L4 and in measurement lane L6 are detected. The measured value from measuring track L5 is then replaced by the measured value L5 * calculated by means of interpolation for the evaluation.
  • the self-test e.g. in each case only those light sources or photodetectors are checked, which are provided for testing the respectively selected feature. If the feature Ml has been selected, the self-test can be limited to the light sources of the wavelengths ⁇ , ⁇ 3, ⁇ , ⁇ and ⁇ in the measuring tracks L8 to L10. And if the feature M2 was selected, the self-test can be limited to the light sources of the wavelengths ⁇ to ⁇ in the measuring tracks L3 to L10.

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Abstract

Die Erfindung betrifft einen Sensor zur Prüfung von Wertdokumenten, der einen Selbsttest zur Überprüfung seiner Funktionsfähigkeit durchführt. Bei dem Selbsttest ist vorgesehen, dass der Sensor auf zumindest eine im Rahmen des Selbsttests festgestellte Funktionsstörung, die die Prüfung der Wertdokumente behindern würde, dadurch reagiert, dass der Sensor zur Prüfung der Wertdokumente, an Stelle des zur Prüfung der Wertdokumente vorgesehenen Betriebsmodus, automatisch einen modifizierten Betriebsmodus verwendet, in dem zur Prüfung der Wertdokumente zumindest ein anderer Messwert des Sensors verwendet wird als in dem zur Prüfung der Wertdokumente vorgesehenen Betriebsmodus bestimmt ist. Im Gegensatz zum bisher üblichen Funktionsausfall des Sensors, kann der Sensor, trotzt der Funktionsstörung, zur Prüfung der Wertdokumente weiter betrieben werden.

Description

Sensor und Verfahren zum Betreiben des Sensors
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben eines Sensors, der zur Prüfung von Wertdokumenten ausgebildet ist und einen Sensor, der zur Durchführung dieses Verfahrens ausgebildet ist. Zur Prüfung von Wertdokumenten werden üblicherweise Sensoren verwendet, mit denen die Art der Wertdokumente bestimmt wird und/ oder mit denen die Wertdokumente auf Echtheit und/ oder auf ihren Zustand geprüft werden. Derartige Sensoren werden z.B. zur Prüfung von Banknoten, Schecks, Ausweisen, Kreditkarten, Scheckkarten, Tickets, Gutscheinen und dergleichen verwendet. Die Wertdokumente werden üblicherweise in einer Vorrichtung zur Wertdokumentbearbeitung geprüft, in der, je nach den zu prüfenden Wertdokumenteigenschaften, einer oder mehrere Sensoren enthalten sind. Zur Prüfung der Wertdokumente werden diese mit Hilfe eines Transportsystems einzeln entlang eines Transportwegs an dem Sensor vor- beitransportiert.
Zur Überprüfung der Funktion eines Sensors, der entlang des Transportwegs der Wertdokumente angeordnet ist, wird üblicherweise ein Testmedium in den Erfassungsbereich des Sensors eingebracht, um mit dem Sensor einen Messwert des Testmediums zu detektieren. Zu diesem Zweck wird die Wertdokumentprüfung unterbrochen und - an Stelle eines Wertdokuments - das Testmedium in den Erfassungsbereich des Sensors eingebracht. Nachteilig ist bei diesem Verfahren, dass ein Testmedium bereit gestellt werden muss und dessen Zuordnung zu dem Sensor sicher gestellt werden muss. Im Fall mehrerer Sensoren oder bei Erneuerung des Testmediums, z.B. aufgrund von Degradation des Testmediums, kann es dabei leicht zu Verwechslungen kommen, die zu falschen Testergebnissen führen können. Ferner wurde vorgeschlagen, ein Testmedium in den Sensor selbst einzubauen, z.B. in das Gehäuse des Sensors. Zur Überprüfung der Sensorfunktion wird die Prüfung der Wertdokumente unterbrochen und das Testmedium wird in den Erfassungsbereich des Sensors eingeschwenkt, um davon Messwerte zu detektieren. Nachteilig ist auch hier, dass die Prüfung der Wertdokumente zur Überprüfung der Sensorfunktion unterbrochen werden muss.
Bei der Funktionsprüfung eines Sensors wird bisher überprüft, ob Messwerte, die der Sensor von dem in seinen Erfassungsbereich eingebrachten Testmedium detektiert, vorbestimmte Mindestwerte überschreiten. Solange die tatsächlichen Messwerte über dem Mindestwert liegen, ist der Sensor funkti- onsfähig. Wird jedoch ein Unterschreiten eines Mindestwerts festgestellt, resultiert daraus ein Funktionsausfall des Sensors. Derartige Funktionsausfälle führen zu Betriebsunterbrechungen des Sensors und der zugehörigen Vorrichtung, die die Wertdokumente prüft, so dass der Durchsatz der Wertdokumentprüfung reduziert wird. Funktionsausfälle erfordern üblicherwei- se eine intensive Überprüfung des Sensors und/ oder haben manuelle Eingriffe, z.B. durch Servicemitarbeiter, zur Folge und Erhöhen dadurch den Aufwand zum Betreiben des Sensors.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, den Aufwand zum Betreiben eines zur Wertdokumentprüfung ausgebildeten Sensors zu reduzieren.
Diese Aufgabe wird durch die Gegenstände der unabhängigen Ansprüche gelöst. In davon abhängigen Ansprüchen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Ausgestaltungen der Erfindung angegeben.
Das erfindungsgemäße Verfahren betrifft einen Sensor, der zur Prüfung von Wertdokumenten ausgebildet ist. Der Sensor kann ein Sensor zur Prüfung optischer oder magnetischer oder elektrischer oder mechanischer Eigen- Schäften der Wertdokumente sein, um die Wertdokumente auf deren Echtheit, deren Art, deren Zustand oder deren Qualität zu prüfen. Zur Prüfung der Wertdokumente ist in dem Sensor mindestens ein Betriebsmodus des Sensors vorgesehen, in dem bestimmt ist, welche Messwerte der Sensor zur Prüfung der Wertdokumente detektieren soll und wie die detektierten
Messwerte auszuwerten sind. Der Sensor weist z.B. einen Datenspeicher auf, in dem der vorgesehenen Betriebsmodus oder Informationen zu dem vorgesehenen Betriebsmodus abgespeichert sind, den der Sensor zur Prüfung, der Wertdokumente verwendet. In dem Sensor kann einer oder auch mehrere Betriebsmodi vorgesehen sein, z.B. zur Prüfung einer oder mehrerer Wertdokumentarten.
Zur Feststellung etwaiger Funktionsstörungen führt der Sensor einen Selbsttest durch, durch den er seine Funktionsfähigkeit selbstständig überprüft. Der Sensor kann zu Durchführung eines oder mehrerer Selbsttests ausgebildet sein. Falls in dem durchgeführten Selbsttest des Sensors keine Funktionsstörung festgestellt wird, verwendet der Sensor zur Prüfung der Wertdokumente den Betriebsmodus, der zur Prüfung der Wertdokumente vorgesehen ist, und führt eine Prüfung der Wertdokumente in dem vorgesehenen Be- triebsmodus durch.
Bei dem Selbsttest ist vorgesehen, dass der Sensor auf zumindest eine im Rahmen des Selbsttests festgestellte Funktionsstörung, die die Prüfung der Wertdokumente behindern würde, dadurch reagiert, dass der Sensor zur Prüfung der Wertdokumente, an Stelle des zur Prüfung der Wertdokumente vorgesehenen Betriebsmodus, einen modifizierten Betriebsmodus verwendet. In dem modifizierten Betriebsmodus wird zur Prüfung der Wertdokumente zumindest ein anderer Messwert des Sensors verwendet als in dem Prüfung der Wertdokumente vorgesehenen Betriebsmodus bestimmt ist. Im Gegensatz zum bisher üblichen Funktionsausfall des Sensors, kann der Sensor daher trotzt der Funktionsstörung weiter zur Prüfung der Wertdokumente betrieben werden. Obwohl die Funktionsstörung die Prüfung der Wertdokumente behindern würde, fällt der Sensor nur dann aus, wenn es für den Sensor keine Möglichkeit zur Umgehung der Funktionsstörung mit Hilfe des modifizierten Betriebsmodus gibt. In vielen Fällen wird der Sensor die Funktionsstörung umgehen können, so dass er - anstatt auszufallen - weiter zur betrieben werden kann und trotz der Funktionsstörung eine Prüfung der Wertdokumente durchführen kann. Durch das Verwenden eines modifizierten Betriebsmodus, in dem ein anderer Messwerts verwendet wird, wird erreicht, dass die Anzahl der Funktionsausfälle des Sensors reduziert wird. Das Verwenden eines anderen Messwerts hat außerdem den Vorteil, dass die Auswertung der Messwerte nur geringfügig verändert werden muss, da lediglich der vorgesehen Messwert durch den anderen Messwert ersetzt zu werden braucht, die Auswertung ansonsten aber gleich bleiben kann.
Der andere Messwert ist z.B. ein Messwert, der aus Messwerten des Sensors abgeleitet wird, die in dem vorgesehenen Betriebsmodus verwendet werden, aber nicht von der Funktionsstörung betroffen sind. Beispielsweise kann der andere Messwert einer aus den detektierten Messwerten interpolierter oder extrapolierter Messwert sein. Der andere Messwert kann auch ein Messwert des Sensors sein, der in dem vorgesehenen Betriebsmodus überhaupt nicht zur Prüfung der Wertdokumente bestimmt ist. Der andere Messwert kann z.B. ein zusätzlich detektierter Messwert sein, der in dem vorgesehenen Betriebsmodus nicht detektiert wird, in dem modifizierten Betriebsmodus aber detektiert und ausgewertet wird, oder es kann ein zusätzlich ausgewerteter Messwert werden, der in dem vorgesehenen Betriebsmodus zwar detektiert, aber nicht ausgewertet wird. Das Verwenden eines zusätzlichen Messwerts hat den Vorteil, dass eine durch die Funktionsstörung verlorene Messinformation durch den zusätzlichen Messwert zumindest teilweise kompensiert werden kann. In dem modifizierten Betriebsmodus kann ein von der Funktionsstörung betroffener Messwert, der in dem vorgesehenen Betriebmodus verwendet werden sollte, wegelassen werden. Zum Beispiel wird der betroffene Messwert zwar auch in modifizierten Betriebsmodus detektiert, aber bei der Auswertung der Messwerte nicht berücksichtigt und die Auswertung auf Basis der übrigen Messwerte durchgeführt, die nicht von der Funktionsstörung betroffen sind. Oder der von der Funktionsstörung betroffene Messwert wird in dem modifizierten Betriebmodus überhaupt nicht detektiert. Im Fall eines optischen Sensors kann z.B. die betreffende Lichtquelle in einer Beleuchtungssequenz weggelassen werden bzw. der betreffende Messwert nicht detektiert werden bzw. in der Auswertung nicht berücksichtigt werden. Bei einem Sensor mit mehreren Messspuren quer zu einer Transportrichtung der Wertdokumente kann der Messwert der betreffenden Messspur weggelassen werden, z.B. bei der Auswertung ignoriert werden. Während in dem vorgesehenen Betriebsmodus die Prüfung der Wertdokumente anhand von einem oder mehreren Messewerten erfolgen würde, die von der Funktionsstörung betroffen sind, werden die Wertdokumente in dem modifizierten Betriebsmodus vorzugsweise ausschließlich auf der Basis von Messwerten des Sensors geprüft, deren Erzeugung nicht von der Funk- tionsstörung betroffen ist. Die Prüfung der Wertdokumente wird z.B. anhand derjenigen bereits bisher vorgesehenen Messwerte durchgeführt, die nicht von der Funktionsstörung betroffen sind, und anhand eines oder mehrerer zusätzlicher Messwerte, die nicht von der Funktionsstörung betroffen sind. Der modifizierte Betriebsmodus unterscheidet sich z.B. durch eine im Vergleich zum vorgesehenen Betriebsmodus modifizierte Anregung, bei einem optischen Sensor z.B. durch das Verwenden einer anderen Lichtquelle.
Bei dem Selbsttest kann vorgesehen sein, dass der Sensor auf eine oder meh- rere Funktionsstörungen auf diese Weise reagiert. Bei verschiedenen solchen Funktionsstörungen kann der Sensor in derselben oder in unterschiedlicher Weise reagieren. Darüber hinaus kann es aber auch weitere Funktionsstörungen des Sensors geben, die einen Funktionsausfall des Sensors zur Folge haben, z.B. wenn der Sensor für diese Funktionsstörung keinen modifizier- ten Betriebsmodus zur Verfügung hat, um die Funktionsstörung zu umgehen.
Bei Feststellung einer Funktionsstörung kann der Sensor Informationen über die festgestellte Funktionsstörung in einen Fehlerspeicher abspeichern, da- mit die Informationen zu der festgestellten Funktionsstörung später verfügbar sind. Falls der Sensor eine Funktionsstörung feststellt und die festgestellte Funktionsstörung die Prüfung der Wertdokumente nicht behindern würde, führt der Sensor die Prüfung der Wertdokumente in dem vorgesehenen Betriebsmodus durch. In diesem Fall ist keine Umgehung der Funktionsstö- rung notwendig und die festgestellte Funktionsstörung kann bei der Prüfung der Wertdokumente ignoriert werden.
Falls der Sensor im Rahmen seines Selbsttest eine Funktionsstörung feststellt, die die Prüfung der Wertdokumente behindern würde, und die Funktions- Störung umgehbar ist, reagiert der Sensor dadurch, dass er zur Prüfung der Wertdokumente den vorgesehenen Betriebsmodus durch den modifizierten Betriebmodus ersetzt oder den vorgesehenen Betriebsmodus geeignet modifiziert, und die Prüfung der Wertdokumente in dem modifizierten Betriebsmodus durchführt. Außerdem kann vorgesehen sein, dass der Sensor auf dieselbe Funktionsstörung in bestimmten anderen Fällen, wenn Funktionsstörung nicht umgehbar ist, dadurch reagiert, dass der Sensor eine Fehlermeldung ausgibt, welche auf eine Funktionsunfähigkeit des Sensors oder einer bestimmten Funktion des Sensors hinweist. Die Fehlermeldung kann der Sensor selbst anzeigen und/ oder über die Kommurükationsschnittstelle zu der Vorrichtung senden, um die Fehlermeldung anzuzeigen und/ oder weiter zu verarbeiten.
Der Selbsttest wird insbesondere durch einen bereits in einer Vorrichtung zur Wertdokumentprüfung installierten Sensor durchgeführt. Der Sensor führt den Selbsttest z.B. in der Zwischenzeit zwischen der Prüfung aufeinanderfolgend zu prüfender Wertdokumente durch. Zusätzlich oder alternativ kann der Sensor den Selbsttest aber auch vor Beginn der Wertdokumentprüfung, z.B. beim Hochfahren des Sensors oder der Vorrichtung durchfüh- ren. Die Informationen dazu, wie der Sensor auf die jeweils festgestellte Funktionsstörung reagieren kann, sind z.B. in dem Datenspeicher des Sensors abgespeichert. Vorteilhaft ist dabei, dass der Sensor seinen Selbsttest völlig selbstständig ausführen kann und der Sensor z.B. dafür keinen Datenaustausch mit seiner Umgebung benötigt. Alternativ können die Inf ormatio- nen zu den unterschiedlichen Reaktionen dem Sensor aber auch von außen zugeführt werden, z.B. durch die oben genannte Vorrichtung.
Wenn der Sensor ein optischer Sensor ist, umfasst der Selbsttest z.B. eine Überprüfung der Funktion mindestens einer Lichtquelle des Sensors und/ oder mindestens eines Photodetektors des Sensors. Zur Überprüfung der Funktion der Lichtquelle und/ oder des Photodetektors, wird ein Anteil des an einem Fenster des Sensors reflektierten Lichts der Lichtquelle durch den Photodetektor detektiert, während kein Wertdokument im Erfassungsbereich des Sensors vorhanden ist. Da für diesen Selbsttest kein Testmedium und kein Wertdokument benötigt wird, ist der Selbsttest des Sensors bereits vor Beginn der Wertdokumentprüfung möglich. Außerdem können durch diesen Selbsttest auch Messspuren des Sensors überprüft werden, die außerhalb des zu prüfenden Wertdokuments liegen. Bei der bisher üblichen Ver- wendung eines Testmediums können solche Rand-Messspuren dagegen nicht überprüft werden. Zur Überprüfung der Funktion der Lichtquellen wird der Anteil des an einem Fenster des Sensors reflektierten Lichts der Lichtquelle durch denjenigen Photodetektor detektiert wird, der auch zur Prüfung der Wertdokumente das von dem Wertdokument ausgehende Licht detektiert. Daher braucht zum Zweck der Lichtquellen-Prüfung im Rahmen des Selbsttest kein zusätzlicher Detektor vorgesehen werden. Der Selbsttest des Sensors, durch den die Funktion der Lichtquellen und/ oder der Photodetektoren überprüft wird, kann in der Lücke zwischen zwei nacheinander an dem Sensor vorbeitransportierten Wertdokumenten durchgeführt wer- den. Insbesondere kann der Selbsttest in jeder dieser Lücken oder regelmäßig nach einer bestimmten Zeit oder Anzahl an Wertdokumenten oder der Selbsttest kann vor einem Wechsel zu anderen Wertdokumenten durchgeführt werden. Wird der Selbsttest des Sensors auf diese Weise durchgeführt, umf asst dieser nicht nur eine Überprüfung der Funktion der Lichtquellen, sondern automatisch auch eine Überprüfung der Funktion des Photodetektors. Mit Hilfe logischer Analysen kann herausgefunden werden, welche der Lichtquelle und/ oder der Photodetektoren von der Funktionsstörung betroffen sind. Wenn z.B. mit einem bestimmten Photodetektor das Licht mehrerer Lichtquellen nacheinander detektiert wird, und der Photodetektor bei Einschalten jeder dieser Lichtquellen ein unzureichendes Signal detektiert, kann daraus auf eine Funktionsstörung des Photodetektors oder der daran angeschlossenen elektronischen Schaltung geschlossen werden. Wenn der Photodetektor dagegen nur bei einer dieser Lichtquellen ein unzureichendes Signal detektiert, so wird auf eine Funktionsstörung dieser Lichtquelle oder deren Stromversorgung oder Ansteuerung geschlossen. Eine Funktionsstörung kann bereits aufgrund eines unzureichenden Messwerts festgestellt werden oder erste durch mehrere Messwerte, die auf eine Funktionsstörung schließen lassen. Der Sensor kann zusätzlich oder alternativ auch andersartige Selbsttests durchführen und Funktionsstörungen mit Hilfe anderer Methoden identifizieren. Abhängig davon, welche Funktionsstörung festgestellt wird und ob diese umgehbar ist oder nicht, verwendet der Sensor gegebe- nenfalls einen seiner modifizierten Betriebsmodi zum Prüfen der Wertdokumente.
Wenn der Sensor ein optischer Sensor ist, der das von den Wertdokumenten ausgehende Licht bei mehreren Wellenlängen detektiert, kann in dem modi- fizierten Betriebsmodus zur Prüfung der Wertdokumente zumindest ein Messwert verwendet werden, der bei einer anderen Wellenlänge detektiert wird als die Messwerte, die die in dem vorgesehenen Betriebsmodus zur Prüfung der Wertdokumente vorgesehen sind. Insbesondere kann der bei Beleuchtung mit einer anderen Wellenlänge detektierte Messwert verwendet werden. Im Fall spektral verschiedener Lichtquellen kann dies z.B. durch eine spektral andere Beleuchtung erreicht werden und gegebenenfalls eine entsprechend angepasste Auswertung. Im Fall spektral verschiedener Photodetektoren kann bei gleicher Beleuchtung ein Messwert bei einer anderen Wellenlänge detektiert und ausgewertet werden. Vorteilhaft kann bei der Prüfung eines spektral breitbandigen Merkmals der Wertdokumente der Funktionsausfall einer Lichtquelle bzw. eines Photodetektors vermieden werden, wenn zur Prüfung des Merkmals auch eine spektral benachbarte Lichtquelle bzw. eine spektral benachbarter Photodetektor geeignet ist. Wenn der Sensor ein optischer Sensor ist, der das von den Wertdokumenten ausgehende Licht bei mehreren Wellenlängen detektiert, kann in dem modifizierten Betriebsmodus zur Prüfung der Wertdokumente zumindest ein abgeleiteter Messwert verwendet werden, z.B. an Stelle des durch die Funkti- onsstörung betroffenen Messwerts. Die Verwendung eines abgeleiteten Messwerts, z.B. interpolierten oder extrapolierten Messwerts, hat den Vorteil, dass die Auswertung im Wesentlichen gleich bleiben kann, da nur der Schritt des Ableitens vor der Auswertung eingefügt werden braucht, die Auswertung ansonsten aber gleich bleiben kann. Der interpolierte Messwert wird z.B. aus den detektierten Messwerten interpoliert, die die beidseitig spektral benachbart zu dem von Funktionsstörung betroffenen Messwert detektiert werden. Zum Beispiel wird im Fall einer Funktionsstörung einer der Lichtquellen, an Stelle des Messwerts, der bei Beleuchtung mit der funktionsgestörten Lichtquelle detektiert wird, ein interpolierter Messwert ver- wendet, der aus Messwerten interpoliert wird, die bei Beleuchtung mit
Lichtquellen detektiert werden, die spektral benachbart zu der funktionsgestörten Lichtquelle sind. Bei spektral aufgelöster Detektion werden entsprechend die Messwerte spektral benachbarter Photodetektoren interpoliert. Ein optischer Sensor, der mehrere Lichtquellen aufweist, kann in dem modifizierten Betriebsmodus, im Fall einer Funktionsstörung einer der Lichtquellen, zur Prüfung der Wertdokumente eine oder mehrere andere Lichtquellen verwenden als in dem vorgesehenen Betriebsmodus bestimmt ist. Die Beleuchtung kann dazu auf eine oder mehrere andere Lichtquellen umgestellt werden. Die Prüfung der Wertdokumente wird z.B. ausschließlich anhand derjenigen Lichtquellen durchgeführt, die nicht von der Funktionsstörung betroffen sind. An Stelle der von der Funktionsstörung betroffenen Lichtquelle kann, sofern in dem Sensor vorhanden, die spektral gleiche Wellenlänge verwendet werden. Ansonsten kann auch eine oder mehrere Licht- quellen einer anderen Wellenlänge verwendet werden, deren Spektrum sich von der in dem vorgesehenen Betriebsmodus vorgesehenen Lichtquelle unterscheidet. Falls der Sensor ein Sensor mit mehreren Messspuren quer zu einer Transportrichtung der Wertdokumente ist, entlang der die Wertdokumente zur deren Prüfung an dem Sensor vorbeitransportiert werden, kann in dem modifizierten Betriebsmodus, im Fall einer Funktionsstörung einer der Messspuren, zur Prüfung der Wertdokumente an Stelle des Messwerts der funk- tionsgestörten Messspur, ein abgeleiteter Messwert verwendet werden. Dieser kann aus den Messwerten der zu der funktionsgestörten Messspur benachbarten Messspuren interpoliert werden. Vorteilhaft kann auch in diesem Fall die Auswertung im Wesentlichen gleichbleiben, da nur ein Interpolationsschritt vor der Auswertung nötig ist. Der Sensor kann in dem modifizier- ten Betriebsmodus, im Fall einer Funktionsstörung einer der Messspuren, zur Prüfung der Wertdokumente an Stelle des Messwerts der funktionsgestörten Messspur, den Messwert einer anderen Messspur verwenden, die zu der funktionsgestörten Messspur am nächsten benachbart ist. Dadurch können Funktionsausfälle des Sensors bei der Prüfung räumlich ausgedehnter Merkmale der Wertdokumente vermieden werden.
Die Erfindung betrifft auch einen Sensor, der zur Prüfung von Wertdokumenten ausgebildet ist und der zur Durchführung des erfindungsgemäßen Selbsttests ausgebildet ist, z.B. programmiert ist, in dem der Sensor seine Funktionsfähigkeit überprüft. Bei dem Selbsttest des Sensors ist vorgesehen, dass der Sensor eine im Rahmen des Selbsttest festgestellte Funktionsstörung, die die Prüfung der Wertdokumente behindern würde, dadurch reagiert, dass der Sensor zur Prüfung der Wertdokumente, an Stelle des vorgesehenen Betriebsmodus, einen modifizierten Betriebsmodus verwendet, in dem zur Prüfung der Wertdokumente zumindest ein anderer Messwert des Sensors verwendet wird als in dem zur Prüfung der Wertdokumente vorgesehenen Betriebsmodus bestimmt ist. Der Sensor ist außerdem so programmiert, anschließend die Prüfung der Wertdokumente in dem modifizierten Betriebsmodus durchzuführen. In einem Datenspeicher des Sensors können einer oder mehrere vorgesehene Betriebsmodi oder Informationen zu diesen sowie einer oder mehrere modifizierte Betriebsmodi oder Informationen zu diesen abgespeichert sein, aus denen der Sensor entnehmen oder ableiten kann, wie er auf die jeweilige Funktionsstörung reagieren soll. Der Daten- Speicher kann in dem Gehäuse des Sensors integriert sein oder der Datenspeicher ist ein außerhalb vorhandenen Datenspeicher, z.B. Datenspeicher der Vorrichtung, mit dem der Sensor verbunden ist.
Um verschiedene Merkmale, z.B. Echtheitsmerkmale, von Wertdokumenten bzw. um verschiedene Wertdokumentarten prüfen zu können, können in dem Sensor verschiedene Betriebsmodi vorgesehen sein. Dazu sind zum Beispiel in dem Datenspeicher des Sensors für jedes der verschiedenen Merkmale jeweils ein vorgesehener Betriebsmodus oder Informationen zu dem jeweils vorgesehenen Betriebsmodus abgespeichert, den der Sensor zur Prüfung des jeweiligen Merkmals verwendet. Bevor der Sensor seinen Selbsttest durchführt, kann mindestens eines der Merkmale ausgewählt werden, das durch den Sensor geprüft werden soll. Bei dem Selbsttest des Sensors kann vorgesehen sein, dass der Sensor eine bei dem Selbsttest feststellte Funktionsstörung in Abhängigkeit des ausgewählten Merkmals unterschiedlich bewertet und dass der Sensor auf die bei dem Selbsttest festgestellte Funktionsstörung in Abhängigkeit des ausgewählten Merkmals unterschiedlich reagiert. Es kann darüber hinaus aber auch Funktionsstörungen geben, für die bestimmt ist, dass der Sensor, unabhängig von dem ausgewählten Merkmal, immer in der gleichen Weise reagiert. Im Fall eines optischen Sen- sors kann der Sensor die Funktionsstörung beispielsweise in Abhängigkeit der spektralen Eigenschaften des ausgewählten Merkmals unterschiedlich bewerten und unterschiedlich auf die Funktionsstörung reagieren, insbesondere in Abhängigkeit der spektralen Lage und/ oder des spektralen Verlaufs des Merkmals. Falls der Sensor ein Sensor mit mehreren Messspuren quer zu einer Transportrichtung der Wertdokumente ist, kann der Sensor die festgestellte Funktionsstörung in Abhängigkeit der Position des jeweiligen Merkmals auf dem Wertdokument unterschiedlich bewerten und unterschiedlich auf die festgestellte Funktionsstörung reagieren. Die Informationen zu den unterschiedlichen Reaktionen, die der Sensor, in Abhängigkeit des ausgewählten Merkmals, bei der festgestellten Funktionsstörung ausführen soll, sind z.B. in dem Datenspeicher des Sensors abgespeichert. Aus diesen Informationen kann der Sensor die unterschiedlichen Reaktionen ableiten oder entnehmen.
Bei dem Selbsttest des Sensors kann vorgesehen sein, dass der Sensor eine im Rahmen seines Selbsttests feststellte Funktionsstörung in Abhängigkeit der ausgewählten Wertdokumentart unterschiedlich bewertet und dass der Sensor auf die im Rahmen des Selbsttests festgestellte Funktionsstörung in Ab- hängigkeit der ausgewählten Wertdokumentart unterschiedlich reagiert.
Als Wertdokumentarten werden z.B. Banknoten, Schecks, Ausweise, Kreditkarten, Scheckkarten, Tickets, Gutscheine oder eine bestimmte Sorte oder Version derselben bezeichnet. Die Wertdokumentart kann aber auch eine Auswahl mehrerer verschiedener Sorten von Wertdokumenten sein z.B. Wertdokumente mit bestimmten Merkmalen oder Wertdokumente mit bestimmten Größenvorgaben. Im Fall von Banknoten kann die Wertdokumentart die Stückelung, die Währung, die Emission oder eine Angabe über eine Auswahl verschiedener Stückelungen und/ oder Währungen sein. Nachfolgend wird die Erfindung beispielhaft anhand der folgenden Figuren erläutert. Es zeigen:
Figur a Einen Sensor zur Prüfung von Wertdokumenten, der einen
Selbsttest durchführt,
Figur lb eine mit zwei Merkmalen ausgestattete Wertdokumentart W
und zweier Wertdokumentarten Wl, W2, die mit jeweils einem Merkmal ausgestattet sind,
Figur 2a spektrale Verteilung des von einem Merkmal eines Wertdokuments ausgehenden Lichts für zwei Merkmale,
Figur 2b vier Funktionsstörungen und zugehörige unterschiedliche Reaktionen des Sensors für zwei verschiedene Merkmale,
Figur 3 Flussdiagramm zum Ablauf des Selbsttests.
Figur 1 zeigt einen Sensor, der einen erfindungsgemäßen Selbsttest durch- führt. Als Beispiel wurde ein optischer Sensor 100 gewählt, der Messelemente 4 aufweist, darunter eine oder mehrere Lichtquellen 41 und einen oder mehrere Photodetektoren 43, sowie gegebenenfalls weitere optische Elemente wie z.B. Linsen, Filter, etc.. Ein zu prüfendes Wertdokument 10 wird geprüft, während dieses entlang einer Transportrichtung T an dem Sensor 100 vorbeitransportiert wird. Zur Prüfung des Wertdokuments 10 wird dieses, wenn es sich im Erfassungsbereich des Sensors befindet, durch das von der/ den Lichtquellen 41 emittierte Licht beleuchtet und das Licht, das von dem Wertdokument als Folge der Beleuchtung ausgesendet wird, mit Hilfe des/ der Photodetektor(en) 43 detektiert. Detektiert wird z.B. das Lumines- zenzlicht oder Remissionslicht des Wertdokuments 10. Der optische Sensor 100 ist in diesem Beispiel zur Detektion des von den Wertdokumenten ausgesendeten Lichts bei mehreren verschiedenen Wellenlängen λι bis λ7 ausgebildet, vgl. dazu Figur 2a. Zu diesem Zweck weist der Detektor z.B. mehrere Lichtquellen mit unterschiedlichem Emissionsspektrum auf oder mehre- re Photodetektoren mit spektral unterschiedlicher Empfindlichkeit, z.B. mit unterschiedlichen Filtern ausgestattete Photodetektoren.
Figur 2a zeigt für zwei Merkmale Ml und M2 von Wertdokumenten, z.B. Echtheitsmerkmale, die jeweilige spektrale Intensitätsverteilung des Lichts, das von einem Wertdokument mit dem jeweiligen Merkmal ausgesendet wird. Figur lb oben zeigt beispielhaft eine Wertdokumentart W, die mit den beiden Merkmalen Ml, M2 ausgestattet ist. Figur lb Mitte zeigt eine andere Wertdokumentart Wl, welche nur das Merkmal Ml aufweist und Figur lb unten zeigt eine weitere andere Wertdokumentart W2, die nur mit dem Merkmal M2 ausgestattet ist. Da die beiden Merkmale Ml, M2 an unterschiedlichen Positionen auf dem jeweiligen Wertdokument vorhanden sind, sind für die Prüfung der beiden Merkmale Ml und M2 unterschiedliche Messspuren relevant.
Der Sensor 100 weist eine Steuereinrichtung 3 auf, z.B. einen Prozessor, welche die Messelemente 4 sowohl zur Durchführung des Selbsttests als auch zur Prüfung der Merkmale steuert und die dabei detektierten Messwerte gemäß dem jeweiligen Betriebmodus auswertet. Die Steuereinrichtung 3 ist mit einem Datenspeicher 5 des Sensors verbunden, in dem Informationen zu den verschiedenen Betriebmodi des Sensors 100 für eines oder mehrere Merkmale Μη=Μ1, M2,... abgespeichert sind. Dazu gehören die für die Prüfung des jeweiligen Merkmals Mn vorgesehenen Wellenlängen und Messspuren sowie Informationen zu der Auswertung, die zur Prüfung des jewei- ligen Merkmals anzuwenden ist.
In dem Datenspeicher 5 sind zum Beispiel die Informationen zu den Betriebsmodi aus Tabelle 6 enthalten, vgl. Figur 2b, durch die den Merkmalen Ml, M2 die Betriebsmodi Bl, B2 zugeordnet sind, die der Sensor bei der Prü- fung des jeweiligen Merkmals verwenden soll. Die Informationen zum Betriebsmodus umfassen hier die bei der Prüfung des jeweiligen Merkmals auszuwertenden Wellenlängen und Messspuren und die zu verwendende Auswertung. In diesem Beispiel sollen in beiden Betriebsmodi Bl und B2 Messwerte für dieselben Wellenlängen λι - λ/und Messspuren L1-L10 detek- tiert werden, jedoch unterschiedliche Auswertungen durchgeführt werden. Im Betriebsmodus Bl zur Prüfung des Merkmals Ml sind die Wellenlängen λι, %3, λδ, λ6 und λ7 zur Auswertung vorgesehen, und zwar in den Messspuren L8 bis L10. Und im Betriebsmodus B2 zur Prüfung der Merkmals M2 sind die Wellenlängen λι bis Xs zur Auswertung vorgesehen, und zwar in den Messspuren L3 bis L10. Ferner sind in Tabelle 6 auch Informationen zu den Reaktionen Rl, R2, ... des Sensors auf festgestellte Funktionsstörungen enthalten. Des weiteren können in dem Datenspeicher 5 die Informationen der Tabelle 9 enthalten sein, durch welche der Sensor aus einer ausgewähl- ten Wertdokumentart Wn die zugehörigen Merkmale Mn ermitteln kann. Darüber hinaus können in dem Datenspeicher 5 auch weitere Informationen zur Prüfung der Merkmale abgespeichert sein, z.B. Referenzdaten des jeweiligen Merkmals, mit denen die detektierten Messwerte bei der Prüfung des Merkmals verglichen werden.
Der Sensor 100 weist ferner eine Kommunikationsschnittstelle 2 auf, über die er Informationen erhalten und ausgeben kann. Um die Prüfung eines bestimmten Merkmals zu veranlassen können dem Sensor 100 vor der Wertdokumentprüfung über die Korrtmunikationsschnittstelle 2 Informationen darüber zugeführt werden, welches der verschiedenen Merkmale Mn bzw. welche der Wertdokumentarten Wn durch den Sensor geprüft werden soll. Beispielsweise wird dem Sensor über die Kornmunikationsschnittstelle 2 zugeführt, dass er das Merkmal Ml prüfen soll. Um dem Sensor die zu prüfende Merkmal mitzuteilen, reicht es bei den Wertdokumentarten Wl und W2 aus, dem Sensor nur die Wertdokumentart mitzuteilen. Zu diesem Zweck wird dem Sensor z.B. nur die Information zugeführt, welche Wertdokumentart Wn dieser prüfen soll. Beispielsweise wird dem Sensor mitgeteilt, dass die Wertdokumentart Wl geprüft werden soll. Mit Hilfe der im Daten- Speicher hinterlegten Informationen 9 kann der Sensor aus dieser Wertdokumentart Wl eindeutig das zu prüfende Merkmal Ml ermitteln, analog M2 aus W2.
Alternativ kann der Sensor die Wertdokumentprüfung auch ohne vorherige Auswahl eines Merkmals Mn bzw. einer Wertdokumentart Wn durchführen, z.B. wenn in dem Sensor 100 auch nur ein Betriebsmodus vorgesehen sein, in dem der Sensor eines oder mehrere bestimmte Merkmale Mn prüft. Zum Beispiel ist nur der Betriebsmodus Bl vorgesehen, so dass das Auswählen des Merkmals Ml entfällt. Bei bestimmten Funktionsstörungen, für die eine Umgehung vorgesehen ist, wird dann ein modifizierter Betriebsmodus Bl' verwendet, vgl. Figur 2b.
Zu dem in Figur la dargestellten Zeitpunkt befindet sich kein Wertdokument 10 im Erfassungsbereich des Sensors 100. In dieser Lücke zwischen den Wertdokumenten 10 wird im Rahmen des Selbsttests z.B. die Funktion der Lichtquellen 41 des Sensors überprüft. Dazu werden die Lichtquellen 41 in der Lücke zwischen zwei Wertdokumenten 10 einzeln nacheinander eingeschaltet und jeweils das an dem Fenster 8 des Sensors teilweise zurückreflektierte Licht der Lichtquellen mit Hilfe des Photodetektors 43 detektiert. An- hand der von den einzelnen Lichtquellen detektierten Lichtintensität stellt der Sensor 100 fest, ob eine Funktionsstörung der jeweiligen Lichtquelle 41 vorliegt oder nicht. Eine Funktionsstörung einer Lichtquelle wird z.B. dann festgestellt, wenn die detektierte Lichtintensität der Lichtquelle einen bestimmten Mindestwert unterschreitet. Analog kann auch die Funktion der Photodetektoren 43 überprüft werden. Der Selbsttest kann zusätzlich oder alternativ eine Überprüfung elektronischen Bauelementen des Sensors umfassen, z.B. durch Prüfung einer elektrischen Spannung. Auch bei einer Funktionsstörung eines Bauelements, von dessen Funktion die Lichtquelle oder der Photodetektor abhängt, kann der Sensor den jeweiligen modifizierten Betriebsmodus verwenden.
Zur Durchführung des Selbsttests des Sensors 100 kann z.B. gemäß dem in Figur 3 dargestellten Ablaufdiagramm vorgegangen werden. Vor der Durch- führung des Selbsttests kann dem Sensor, sofern dies vorgesehen ist, das zu prüfende Merkmal Mn bzw. die zu prüfende Wertdokumentart Wn über die Konrimunikationsschnittstelle 2 mitgeteilt werden. Dies kann vor oder während der Wertdokumentprüfung erfolgen. Der Sensor 100 führt dann vor oder während der Wertdokumentprüfung, z.B. in der Lücke zwischen zwei Wertdokumenten, den Selbsttest durch. Im Prüfschritt S10 entscheidet der Sensor über das Ergebnis des Selbsttests: Falls der Sensor den Selbsttest besteht, wird die Prüfung des ausgewählten Merkmals Mn bei den betreffenden Wertdokumenten, die das Merkmal Mn aufweisen, durchgeführt. Falls der Sensor jedoch eine Funktionsstörung F feststellt, wird der Selbsttest nicht bestanden. Ein Nichtbestehen des Selbsttests führt jedoch nicht automatisch zu einer Funktionsunfähigkeit des Sensors. Denn der Sensor prüft, ob die festgestellte Funktionsstörung F zur Prüfung des ausgewählten Merkmals Mn relevant ist oder nicht (Prüf schritt S20). Entsprechende Informationen 6 sind im Datenspeicher 5 abgelegt, vgl. Figuren la und 2b. Falls die Funkti- onsstörung F die Prüfung des Merkmals Mn nicht behindert, wird die Prüfung des ausgewählten Merkmals wie vorgesehen durchgeführt. Allerdings wird ein entsprechender Eintrag in den Fehlerspeicher 7 des Sensors geschrieben. Falls der Sensor im Prüfschritt S20 feststellt, dass die festgestellte Funktionsstörung F die Prüfung des ausgewählten Merkmals Mn behindert, unterscheidet der Sensor zwischen den beiden Fällen, ob die Funktionsstörung F bei dem ausgewählten Merkmal Mn umgehbar ist oder nicht (Prüfschritt S30). Zu diesem Zweck überprüft der Sensor 100, ob in seinen Datenspeicher 5 für das ausgewählte Merkmal Mn Informationen darüber enthal- ten sind, wie im Fall des Merkmals Mn mit der festgestellten Funktionsstörung F umzugehen ist, z.B. ob für das ausgewählte Merkmal Mn Informationen für einen modifizierter Betriebsmodus zur Umgehung der festgestellten Funktionsstörung F enthalten sind. Falls für das ausgewählte Merkmal Mn kein modifizierter Betriebsmodus vorgesehen sind, mit dem die Funktions- Störung F zu umgehen ist, stellt der Sensor fest, dass er zur Prüfung des Merkmals Mn nicht funktionsfähig ist und gibt eine entsprechende Fehlermeldung ab, z.B. über die Kommunikatiorisschnittstelle 2 nach außen und schreibt einen entsprechenden Eintrag in den Fehlerspeicher 7. Zum Beispiel wird die Prüfung der Wertdokumente daraufhin angehalten. Bei der Prü- fung verschiedener Wertdokumentarten können aber auch die Wertdokumente, bei denen dieses Merkmal Mn zu prüfen ist, bei der Prüfung zurückgewiesen werden (Reject- Ablage), während die übrigen Wertdokumentarten wie vorgesehen geprüft werden. Falls der Sensor 100 jedoch in der Tabelle 6 Informationen zu einem modifizierten Betriebsmodus findet, durch welchen die festgestellte Funktionsstörung F für das ausgewählte Merkmal Mn umgehbar ist, wählt er diesen modifizierten Betriebsmodus. Auf diese Weise umgeht der Sensor die festgestellte Funktionsstörung F und die Prüfung des ausgewählten Merkmals Mn wird in dem modifizierten Betriebsmodus durchgeführt.
Im Datenspeicher 5 des Sensors sind z.B. die in Tabelle 6 angegebenen Informationen zu den Reaktionen des Sensors auf eine im Rahmen des Selbsttest festgestellten Funktionsstörung enthalten, vgl. Figur 2b. Anhand dieser Informationen entscheidet der Sensor, wie er auf die festgestellte Funktions- Störung bei dem jeweils ausgewählten Merkmal Mn reagiert. In Figur 2b sind vier Beispiele für Funktionsstörungen F1-F4 aufgeführt und jeweils dazu Informationen, wie der Sensor ein und dieselbe Funktionsstörung in Abhängigkeit des Merkmals Ml oder M2 unterschiedlich bewerten und jeweils unterschiedlich darauf reagieren soll:
Funktionsstörung Fl:
Im Selbsttest des Sensors wird eine Funktionsstörung Fl der Lichtquelle X3 festgestellt. Falls das Merkmal Ml ausgewählt wurde, stellt der Sensor an- hand der Informationen zum Betriebsmodus Bl fest, dass diese Funktionsstörung Fl die Funktionsfähigkeit des Sensors behindern würde. Anhand der Informationen der Tabelle 6 stellt der Sensor jedoch fest, dass die Funktionsstörung Fl für das Merkmal Ml dadurch umgangen werden kann, dass - an Stelle des bei Beleuchtung mit der funktionsgestörten Lichtquelle λ3 de- tektierten Messwerts - ein anderer Messwert zum Prüfen des Merkmals Ml verwendet wird, und zwar der bei Beleuchtung mit der funktionsfähigen Lichtquelle X detektierte Messwert, vgl. Figur 2a. Im Fall des Merkmals M2 entnimmt der Sensor der Tabelle 6, dass die Funktionsstörung Fl für die Prüfung dieses Merkmals M2 relevant und nicht umgehbar ist. Der Sensor gibt daraufhin eine Fehlermeldung ab, dass er zur Prüfung des Merkmals M2 bzw. der betreffenden Wertdokumente aufgrund der Funktionsstörung F der Lichtquelle λ3 nicht funktionsfähig ist.
Funktionsstörung F2:
Im Selbsttest des Sensors wird eine Funktionsstörung F2 der Lichtquelle X5 festgestellt. Falls das Merkmal Ml ausgewählt wurde, stellt der Sensor anhand der Informationen zum Betriebsmodus Bl fest, dass diese Funktionsstörung F2 die Funktionsfähigkeit des Sensors behindern würde. Anhand der Informationen der Tabelle 6 stellt der Sensor ferner fest, dass die Funkti- onsstörung für dieses Merkmal Ml nicht umgehbar ist. Der Sensor gibt daraufhin eine Fehlermeldung ab, dass er aufgrund der Funktionsstörung F2 der Lichtquelle Xs zur Prüfung des Merkmals Ml bzw. der betreffenden Wertdokumente nicht funktionsfähig ist. Im Fall des Merkmals M2 kann die Funktionsstörung F2 jedoch dadurch umgangen werden, dass der bei Beleuchtung mit der funktionsgestörten Lichtquelle s detektierte Messwert zum Prüfen des Merkmals M2 nicht verwendet wird, wie es im Betriebsmodus B2 vorgesehen ist, sondern auf den betreffenden Messwert verzichtet werden kann, vgl. Figur 2a.
Funktionsstörung F3:
Im Selbsttest des Sensors wird eine Funktionsstörung F3 der Lichtquelle λβ festgestellt. Falls das Merkmal Ml ausgewählt wurde, stellt der Sensor anhand der Informationen zum Betriebsmodus Bl fest, dass diese Funktions- Störung F3 die Funktionsfähigkeit des Sensors behindern würde. Anhand der Informationen der Tabelle 6 stellt der Sensor jedoch fest, dass die Funktionsstörung für dieses Merkmal Ml durch Verwenden eines anderen Messwerts umgehbar ist, und zwar durch Interpolieren der Messwerte, die bei λ5 und λ7 detektiert werden. Der bei Beleuchtung mit λ6 detektierte Messwert wird für die Auswertung dann durch den mittels Interpolation berechneten Messwert λβ ersetzt. Im Fall des Merkmals M2 entnimmt der Sensor den Informationen zum Betriebsmodus B2, dass die Prüfung des Merkmals M2 durch die Funktionsstörung F3 nicht behindert wird. Die Prüfung des Merkmals M2 bzw. der betreffenden Wertdokumente kann mit dem vorge- sehenen Betriebsmodus B2 durchgeführt werden.
Funktionsstörung F4:
Im Selbsttest des Sensors wird eine Funktionsstörung F4 der Messspur L5 festgestellt, z.B. eine Funktionsstörung des Photodetektors der Messspur L5. Falls das Merkmal Ml ausgewählt wurde, stellt der Sensor anhand der Informationen zum Betriebsmodus Bl fest, dass diese Funktionsstörung F4 die Prüfung des Merkmals Ml nicht behindert. Die Prüfung des Merkmals Ml bzw. der betreffenden Wertdokumente kann mit dem vorgesehenen Be- triebsmodus Bl durchgeführt werden. Im Fall des Merkmals M2 entnimmt der Sensor der Tabelle 6, dass die Funktionsstörung F4 die Funktionsfähigkeit des Sensors behindern würde, aber für dieses Merkmal M2 durch Verwenden eines anderen Messwerts umgehbar ist, und zwar durch Interpolieren der Messwerte, die in Messspur L4 und in Messspur L6 detektiert wer- den. Der Messwert aus Messspur L5 wird für die Auswertung dann durch den mittels Interpolation berechneten Messwert L5* ersetzt.
Im Rahmen des Selbsttests werden beispielsweise, unabhängig von dem ausgewählten Merkmal, immer alle Lichtquellen bzw. Photodetektoren des Sensors überprüft. Die Ergebnisse des Selbsttests werden jedoch in Abhängigkeit der Wertdokumentart unterschiedlich bewertet, vgl. Figur 2b. Um den Selbsttest zu beschleunigen, können aber auch in Abhängigkeit des ausgewählten Merkmals unterschiedliche Selbsttest durchgeführt werden.
Durch den Selbsttest können z.B. jeweils nur diejenigen Lichtquellen bzw. Photodetektoren überprüft werden, die zur Prüfung des jeweils ausgewählten Merkmals vorgesehen sind. Falls das Merkmal Ml ausgewählt wurde, kann der Selbsttest auf die Lichtquellen der Wellenlängen λι, λ3, λδ, λό und λγ in den Messspuren L8 bis L10 beschränkt werden. Und falls das Merkmal M2 ausgewählt wurde, kann der Selbsttest auf die Lichtquellen der Wellen- längen λι bis λδ in den Messspuren L3 bis L10 beschränkt werden.

Claims

P a t e n t a n s p r ü c h e
1. Verfahren zum Betreiben eines Sensors, der zur Prüfung von Wertdokumenten (10) ausgebildet ist und in dem mindestens ein Betriebsmodus (Bl, B2) zur Prüfung der Wertdokumente vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor zur Überprüfung seiner Funktionsfähigkeit einen Selbsttest durchführt, bei dem vorgesehen ist, dass der Sensor auf zumindest eine im Rahmen des Selbsttests festgestellte Funktionsstörung (Fl, F2, F3, F4), die die Prüfung der Wertdokumente in dem vorgesehenen Betriebsmodus (Bl, B2) behindern würde, dadurch reagiert, dass der Sensor zur Prüfung der Wertdokumente, an Stelle des vorgesehenen Betriebsmodus (Bl, B2), einen modifizierten Betriebsmodus (ΒΙ', Β2') verwendet, in dem zur Prüfung der Wertdokumente zumindest ein anderer Messwert des Sensors verwendet wird als in dem zur Prüfung der Wertdokumente vorgesehenen Betriebsmo- dus (Bl, B2) bestimmt ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der andere Messwert aus Messwerten des Sensors abgeleitet wird, die in dem vorgesehenen Betriebsmodus (Bl, B2) zur Prüfung der Wertdokumente bestimmt sind und die nicht von der festgestellten Funktionsstörung betroffen sind.
3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der andere Messwert ein Messwert des Sensors ist, der in dem vorgesehenen Betriebsmodus (Bl, B2) nicht zur Prüfung der Wertdokumen- te bestimmt ist.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor ein optischer Sensor (100) mit mehreren Lichtquellen (41) ist, der das von den Wertdokumenten ausgehende Licht bei mehreren Wellenlängen detektieren kann, und dass der optische Sensor in dem modifizierten Betriebsmodus (ΒΙ', Β2'), im Fall einer Funktionsstörung, die eine der Lichtquellen betrifft, zur Prüfung der Wertdokumente (10) mindestens eine andere Lichtquelle verwendet als in dem vorgesehenen Be- triebsmodus (Bl, B2) bestimmt ist.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor ein optischer Sensor (100) ist, der das von den Wertdokumenten (10) ausgehende Licht bei mehreren Wellenlängen detek- tieren kann, und dass der optische Sensor in dem modifizierten Betriebsmodus (ΒΙ', Β2') zur Prüfung der Wertdokumente zumindest einen Messwert verwendet, der bei einer anderen Wellenlänge detektiert wird als die Messwerte, die die in dem vorgesehenen Betriebsmodus (Bl, B2) zur Prüfung der Wertdokumente bestimmt sind.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet dass der Sensor ein optischer Sensor (100) ist, der das von den Wertdokumenten (10) ausgehende Licht bei mehreren Wellenlängen detektieren kann, und dass der optische Sensor in dem modifizierten Betriebsmodus (ΒΙ', Β2') zur Prüfung der Wertdokumente, an Stelle eines durch die Funktionsstörung betroffenen Messwerts, einen abgeleiteten Messwert verwendet, der aus Messwerten abgeleitet wird, die spektral benachbart zu dem durch die Funktionsstörung betroffen Messwert detektiert werden.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor ein optischer Sensor (100) ist und der Selbsttest ein Überprüfen der Funktion mindestens einer Lichtquelle (41) des Sensors und/ oder mindestens eines Photodetektors (43) des Sensors umfasst, während kein Wertdokument (10) im Erfassungsbereich des Sensors vorhanden ist, wobei, zum Überprüfen der Funktion der Lichtquelle und/ oder des Photodetektors, ein Anteil des an einem Fenster (8) des Sensors reflektierten Lichts der Lichtquelle (41) durch den Photodetektor (43) detektiert wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass der Selbsttest des Sensors, durch den die Funktion der Lichtquelle (41) und/ oder des Photodetektors (43) überprüft wird, in der Lücke zwischen zwei nacheinander an dem Sensor vorbeitransportierten Wertdokumenten (10) durchgeführt wird.
9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor mehrere Messspuren (L1-L12) quer zu einer Transportrichtung (T) der Wertdokumente (10) aufweist, entlang der die Wertdokumente zur deren Prüfung an dem Sensor vorbeitransportiert wer- den, und dass der Sensor in dem modifizierten Betriebsmodus (ΒΙ', Β2') zur Prüfung der Wertdokumente, im Fall einer Funktionsstörung einer der Messspuren, an Stelle des Messwerts einer von der Funktionsstörung betroffenen Messspur, einen abgeleiteten Messwert verwendet, der aus den Messwerten von Messspuren abgeleitet wird, die zu der von der Funktionsstö- rung betroffenen Messspur benachbart sind.
10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor mehrere Messspuren (LI -LI 2) quer zu einer Transportrichtung (T) der Wertdokumente (10) aufweist, entlang der die Wertdokumente zur deren Prüfung an dem Sensor vorbeitransportiert werden, und dass der Sensor in dem modifizierten Betriebsmodus (ΒΙ', Β2'), im Fall einer Funktionsstörung einer der Messspuren, zur Prüfung der Wertdokumente, an Stelle des Messwerts einer von der Funktionsstörung betroffe- nen Messspur, der Messwert einer anderen Messspur verwendet, die zu der von der Funktionsstörung betroffenen Messspur benachbart ist.
11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge- kennzeichnet, dass der Sensor zur Prüfung verschiedener Merkmale (Ml,
M2) von Wertdokumenten ausgebildet ist, und
- dass, bevor der Sensor den Selbsttest durchführt, mindestens eines der Merkmale (Ml, M2) ausgewählt wird, das durch den Sensor geprüft werden soll, und
- dass bei dem Selbsttest des Sensors vorgesehen ist, dass der Sensor eine bei dem Selbsttest festgestellte Funktionsstörung in Abhängigkeit des ausgewählten Merkmals (Ml, M2) unterschiedlich bewertet und auf die festgestellte Funktionsstörung (Fl, F2, F3, F4) in Abhängigkeit des ausgewählten Merkmals (Ml, M2) unterschiedlich reagiert.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor ein optischer Sensor (100) ist und der Sensor die festgestellte Funktionsstörung (Fl, F2, F3, F4) in Abhängigkeit der spektralen Eigenschaften des ausgewählten Merkmals (Ml, M2) unterschiedlich bewertet und unterschiedlich auf die festgestellte Funktionsstörung reagiert.
13. Verfahren nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor mehrere Messspuren (LI -LI 2) quer zu einer Transportrichtung (T) der Wertdokumente (10) aufweist, entlang der die Wertdokumente zur deren Prüfung an dem Sensor vorbeitransportiert werden, und dass der Sensor die festgestellte Funktionsstörung (Fl, F2, F3, F4), in Abhängigkeit der Position des ausgewählten Merkmals (Ml, M2) auf dem Wertdokument, unterschiedlich bewertet und, in Abhängigkeit der Position des ausgewählten Merkmals auf dem Wertdokument, unterschiedlich auf die festgestellte Funktionsstörung reagiert.
14. Sensor zur Prüfung von Wertdokumenten, in dem mindestens ein Be- triebsmodus zur Prüfung der Wertdokumente vorgesehen ist, wobei der Sensor zur Durchführung mindestens eines Selbsttests zur Überprüfung seiner Funktionsfähigkeit ausgebildet ist, insbesondere eines Selbsttests gemäß einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Sensor zur Überprüfung seiner Funktionsfähigkeit einen Selbsttest durchführt, bei dem vorgesehen ist, dass der Sensor auf zumindest eine im Rahmen des Selbsttests festgestellte Funktionsstörung (Fl, F2, F3, F4), die die Prüfung der Wertdokumente behindern würde, dadurch reagiert, dass der Sensor zur Prüfung der Wertdokumente, an Stelle des vorgesehenen Betriebsmodus (Bl, B2), einen modifizierten Betriebsmodus (Β , B2') verwendet, in dem der Sensor zur Prüfung der Wertdokumente zumindest einen anderen Messwert verwendet als in dem zur Prüfung der Wertdokumente vorgesehenen Betriebsmodus (Bl, B2) bestimmt ist.
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