EP1492679B1 - Sicherheitselement mit mikro- und makrostrukturen - Google Patents
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- EP1492679B1 EP1492679B1 EP03714917A EP03714917A EP1492679B1 EP 1492679 B1 EP1492679 B1 EP 1492679B1 EP 03714917 A EP03714917 A EP 03714917A EP 03714917 A EP03714917 A EP 03714917A EP 1492679 B1 EP1492679 B1 EP 1492679B1
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- diffraction
- security element
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- relief profile
- diffraction structure
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B42—BOOKBINDING; ALBUMS; FILES; SPECIAL PRINTED MATTER
- B42D—BOOKS; BOOK COVERS; LOOSE LEAVES; PRINTED MATTER CHARACTERISED BY IDENTIFICATION OR SECURITY FEATURES; PRINTED MATTER OF SPECIAL FORMAT OR STYLE NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; DEVICES FOR USE THEREWITH AND NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; MOVABLE-STRIP WRITING OR READING APPARATUS
- B42D25/00—Information-bearing cards or sheet-like structures characterised by identification or security features; Manufacture thereof
- B42D25/30—Identification or security features, e.g. for preventing forgery
- B42D25/328—Diffraction gratings; Holograms
Definitions
- the invention relates to a security element according to the preamble of claim 1.
- Such security elements consist of a thin composite layer of plastic, wherein at least relief structures from the group of diffraction structures, light-scattering structures and planar mirror surfaces are embedded in the layer composite.
- the cut from the thin layer composite security elements are glued to objects to authenticate the authenticity of the objects.
- the structure of the thin layer composite and the materials used for this purpose are, for example, in US 4,856,857 described. From the GB 2 129 739 A is also known to apply the thin layer composite with the aid of a carrier film on the object.
- An arrangement of the type mentioned is from the EP 0 429 782 B1 known.
- the glued on a document security element has a example of the EP 0 105 099 A1 known, optically variable surface pattern of mosaic-like arranged surface parts with known diffraction structures. So that a forged document can not be provided with a counterfeit document cut out of a genuine document or detached from a genuine document in order to simulate an apparent authenticity, security profiles are embossed in the security element and in adjacent parts of the document.
- the real document is distinguished by the security profiles that extend seamlessly from the security element to adjacent parts of the document.
- the imprint of the Security profiles interfere with the recognition of the optically variable surface pattern. In particular, the position of the die on the security element varies from copy to copy of the document.
- the WO 01/80175 A1 describes a diffractive surface pattern formed as a visible mosaic composed of surface parts in a laminate of plastic. At least in one surface part, a "zero order microstructure" with a modulated lattice profile is formed whose spatial frequency f multiplied by a predetermined cutoff wavelength of the visible spectrum yields a product greater than or equal to one.
- the invention has for its object to provide a cost-effective, novel security element, which has a high resistance to counterfeiting attempts, e.g. by means of a holographic copying method.
- a security element comprising a layer composite with microscopically fine optically active structures of a surface pattern embedded between layers of the layer composite, wherein the optically active structures are molded in surface parts of a security feature in a plane of the surface pattern spanned by coordinate axes into a reflective interface between the layers are and at least one surface part with dimensions greater than 0.4 mm one has a diffraction structure formed by additive or subtractive superimposition of a superposition function describing a macroscopic structure with a microscopic relief profile, wherein the superimposition function, the
- Relief profile and the diffraction structure function of the coordinates and the relief profile describes a light-diffractive or light-scattering optically effective structure that follows the overlay function following the predetermined relief profile, and the at least piecewise continuous overlay function is curved at least in partial areas, no periodic triangular or rectangular function is and slowly changes compared to the relief profile.
- FIG. 1 1 denotes a layer composite, 2 a security element, 3 a substrate, 4 a cover layer, 5 a molding layer, 6 a protective layer, 7 an adhesive layer, 8 a reflective interface, 9 an optically active structure and 10 a transparent location in the reflective interface 8.
- the composite layer 1 consists of several layers of different, successively applied to a support film not shown here plastic layers and comprises in the order listed typically the cover layer 4, the impression layer 5, the protective layer 6 and the adhesive layer 7.
- the cover layer 4 and the impression layer 5 are transparent to incident light 11. If the protective layer 6 and the adhesive layer 7 are also transparent, indicia (not shown here, attached to the surface of the substrate 3) can be seen through the transparent location 10.
- the common contact area between the impression layer 5 and the protective layer 6 is the interface 8.
- the optically active structures 9 having a structure height H St of an optically variable pattern are formed in the impression layer 5. Since the protective layer 6 fills the valleys of the optically active structures 9, the interface 8 has the shape of the optically active structures 9.
- the interface 8 is provided with a metal coating, preferably from the elements of Table 5 of the aforementioned US 4,856,857 , in particular aluminum, silver, gold, copper, chromium, tantalum, etc., which separates the impression layer 5 and the protective layer 6 as a reflection layer.
- the electrical conductivity of the metal coating causes a high reflectivity for visible incident light 11 at the interface 8.
- one or more layers of one of the known, transparent inorganic dielectrics are suitable instead of Metallbelags US 4,856,857 or the reflective layer has a multi-layered interference layer, such as a two-layered metal-dielectric combination or a metal-dielectric-metal combination.
- the Reflection layer is structured in one embodiment, ie it covers the interface 8 only partially and in predetermined zones of the interface 8.
- the composite layer 1 is produced as a plastic laminate in the form of a long film web with a multiplicity of juxtaposed copies of the optically variable pattern.
- the security elements 2 are cut out of the film web and joined to a substrate 3 by means of the adhesive layer 7.
- the substrate 3 usually in the form of a document, a banknote, a bank card, a passport or other important or valuable object, is provided with the security element 2 in order to authenticate the authenticity of the object.
- FIG. 2 shows a section of the substrate 3 with the security element 2.
- cover layer 4 FIG. Fig. 1
- impression layer 5 Fig. 1
- the surface pattern 12 lies in a plane spanned by the coordinate axes x, y and contains a security feature 16 of at least one surface part 13, 14, 15 easily recognizable in the contour with the naked eye, ie the dimensions of the surface part are greater than in at least one direction 0.4 mm.
- the security feature 16 is in the drawing of FIG. 2 double framed for illustrative reasons.
- the optically active structures 9 such as microscopically fine diffractive gratings, microscopically fine, light-scattering relief structures or even mirror surfaces in the interface 8 (FIG. Fig. 1 ) molded.
- incident light 11 is reflected by the optically active structure 9 and deflected in a predetermined manner.
- the incident light 11 falls in the diffraction plane 20 which is perpendicular to the surface of the layer composite 1 with the security element 2 (FIG. Fig. 1 ) and contains a surface normal 21, on the optically active structure 9 in the composite layer 1 a.
- the incident light 11 is a parallel bundle of light rays and closes with the surface normal 21 the angle of incidence ⁇ .
- the optically effective structure 9 is one of the known grids, the grating deflects the incident light 11 into different diffraction orders 23 to 25 determined by the spatial frequency f of the grating, provided that the grating vector describing the grating lies in the diffraction plane 20 , The wavelengths ⁇ contained in the incident light 11 are deflected at the predetermined angles into the different diffraction orders 23 to 25.
- the polychromatic incident light 11 is fanned out due to the diffraction at the grating in the light rays of the different wavelengths ⁇ of the incident light 11, ie the visible part of the spectrum extends in the region between the violet light beam (arrow 26 and 27 and 28) and the red light beam (arrow 29 or 30 or 31) in each diffraction order 23, 24 and 25, respectively.
- the light diffracted into the zeroth diffraction order is the light 22 reflected by the angle of reflection ⁇ .
- FIG. 4 shows a in the surface elements 17 ( Fig. 2 ) until 19 ( Fig. 2 ) shaped diffraction grating 32, the microscopically fine relief profile R (x, y), for example, has a sinusoidal, periodic profile cross section of constant profile height h and with the spatial frequency f.
- the averaged relief of the diffraction grating 32 defines a central surface 33 arranged parallel to the cover layer 4.
- the parallel incident light 11 penetrates the cover layer 4 and the impression layer 5 and is applied to the optically effective structure 9 (FIG. Fig. 1 ) of the diffraction grating 32 deflected.
- the parallel diffracted light beams 34 of the wavelength ⁇ leave the security element 2 in the line of sight of an observer 35, who in the illumination of the surface pattern 12 (FIG. Fig. 2 ) with the parallel incident light 11, the colored, bright-radiating surface elements 17, 18, 19 sees.
- FIG. 5 lies the diffraction plane 20 in the plane of the drawing.
- a diffraction structure S (x, y) is formed, the central surface 33 of which is arched or inclined locally to the surface of the layer composite 1.
- the diffraction structure S (x, y) is a function of the coordinates x and y in the plane of the surface pattern 12 parallel to the surface of the layer composite 1 (FIG. Fig. 2 ), in which the surface parts 13, 14 ( Fig. 2 ), 15 lie.
- the relief profile R (x, y) generates the periodic diffraction grating 32 with the profile of one of the known sinusoidal, asymmetrical or symmetrical sawtooth or rectangular shapes.
- the microscopically fine relief profile R (x, y) of the diffraction structure S (x, y) is a matte structure instead of the periodic diffraction grating 32.
- the matte structure is a microscopically fine stochastic structure having a predetermined scattering characteristic for the incident light 11, wherein in an anisotropic matt structure instead of the grid vector, a preferred direction occurs.
- the matte structures scatter the perpendicularly incident light into a scattering cone having an aperture angle predetermined by the scattering power of the matte structure and the direction of the reflected light 22 as the cone axis.
- the intensity of the scattered light is greatest, for example, on the cone axis and decreases with increasing distance to the cone axis, wherein the deflected in the direction of the generatrices of the scattering cone light is barely visible to an observer.
- the cross section of the scattering cone perpendicular to the cone axis is rotationally symmetric in a matt structure referred to here as "isotropic". If the cross-section in the preferred direction, however, compressed, that is elliptically deformed with the short major axis of the ellipse parallel to the preferred direction, the matte structure is here called "anisotropic".
- the profile height h ( Fig. 4 ) of the relief profile R (x, y) in the region of the overlay function M (x, y) is not changed, ie the relief profile R (x; y) follows the overlay function M (x, y).
- the uniquely defined superimposition function M (x, y) is at least piecewise differentiable and curved at least in partial areas, ie ⁇ M (x, y) ⁇ 0, periodic or aperiodic and is not a periodic triangular or rectangular function.
- the periodic superposition functions M (x, y) have a spatial frequency F of at most 20 lines / mm.
- links between two adjacent extreme values of the overlay functions M (x, y) are at least 0.025 mm long.
- the preferred values for the spatial frequency F are limited to at most 10 lines / mm and the preferred values for the distance between adjacent extreme values are at least 0.05 mm.
- the superimposition function M (x, y) thus varies as a macroscopic function in the continuous range slowly compared to the relief profile R (x, y).
- the superimposition function M (x, y) has a gradient 38, grad (M (x, y)) at each point P (x, y) on the sections lying parallel to the track 36 with continuous sections.
- the gradient 38 means the component of the degree (M (x, y)) in the diffraction plane 20, since the observer 35 defines the optically effective diffraction plane 20.
- the diffraction grating 32 has, in each point of the surface part 13, 14, 15, a gradient ⁇ predetermined by the gradient 38 of the superposition function M (x, y).
- the deformation of the central surface 33 causes a new, advantageous optical effect. This effect is explained by the diffraction behavior at transmission points A, B, C of the surface normal 21 and normal 21 ', 21 "to the central surface 33, eg along the track 36.
- the refraction of the incident light 11, the reflected light 22 and the diffracted light Light rays 34 at the boundary surfaces of the layer composite 1 is the sake of simplicity in the drawing of FIG. 5 not shown and not in the following calculations considered.
- the inclination ⁇ is determined by the gradient 38.
- the normals 21 'and 21 ", the grating vector of the diffraction grating 32 ( Fig.
- the angle of incidence ⁇ ( Fig. 3 ), which are enclosed by the dashed lines 21, 21 ', 21 "and the white, parallel incident light 11.
- This also changes the wavelength ⁇ of the diffracted light beams 34 deflected in a predetermined viewing direction 39 to the observer 35. If the normal 21' tilted away by the viewer 35, the wavelength ⁇ of the diffracted light beams 34 is greater than when the normal 21 "to the observer 35 is tilted.
- a distance of at least 2 mm or more must be selected for the distance between the throughput points A and C.
- the surface of the surface part 13, 14, 15 has a faint gray.
- the color of the diffracted light beam 34 changes in the piercing point A ins Yellow-green, the color of the diffracted light beam 34 in the piercing point B to the blue and the color of the diffracted light beam 34 in the piercing point C in violet.
- the change of the colors of the diffracted light 34 perceives the observer 35 as walking of the ribbons in a continuous manner over the surface part 13, 14, 15th
- the number of color bands of how many diffraction orders the observer sees on the surface part 13, 14, 15 simultaneously depends on the spatial frequency of the diffraction grating 32 and the number of periods and the amplitude of the superposition function M (x, y) within the surface part 13, 14, 15 from.
- the observer 35 sees in the direction of the reflected light 22 only a bright, white-gray band instead of the ribbons.
- the bright, whitish-gray band is visible to the observer 35 as a function of the scattering power of the matt structure, even if the color band is flat over the surface of the surface part 13, 14, 15 Viewing direction 39 is oblique to the diffraction plane 20.
- strip 40 ( Fig. 6a ) meant both the color bands of a diffraction order 23, 24, 25 and the bright white-gray band produced by the matt structure.
- Fig. 6a is the displacement of the strip from the observer 35 (FIG. Fig. 5 ) easier to recognize when a reference to the security feature 16 is present.
- a reference to the security feature 16 Serve as a reference on the surface portion 13, 14, 15, for example, on the central surface portion 14, arranged identification marks 37 ( Fig. 2 ) and / or a predetermined boundary shape of the surface part 13, 14, 15.
- the reference specifies a predetermined viewing condition, which is determined by tilting the layer composite 1 (FIG. Fig. 1 ) is adjustable so that the strip 40 is positioned predetermined against the reference.
- the optically active structure 9 (FIG. Fig. 1 ) of the interface 8 ( Fig.
- a light-absorbing imprint on the security feature 16 can also be used as a reference for the movement of the strip 40, or the identification mark 37 is produced by means of the structured reflection layer.
- the security feature 16 serve the adjacent on both sides of the central surface portion 14, adjacent surface portions 13 and 15 as a mutual reference.
- the adjacent surface parts 13 and 15 both have a diffraction structure S * (x, y).
- the security feature 16 along the coordinate axis y or the track 36 has a dimension of at least 5 mm, preferably more than 10 mm.
- the dimensions along the coordinate axis x are more than 0.25 mm, but preferably at least 1 mm.
- the oval surface part 14 has the diffraction structure S (y) dependent only on the coordinate y, while the surface parts 13 and 15 with the diffraction structure S * (y) dependent only on the coordinate y on both sides of the oval surface part 14 along the coordinate y extend.
- the gradient 38 ( Fig. 5 ) and the grating vector of the diffraction grating 32 (FIG. Fig. 4 ) or the preferred direction of the "anisotropic" matt structure are aligned substantially parallel or anti-parallel to the direction of the coordinate y.
- the azimuth ⁇ of the grating vector or the preferred direction of the matt structure is related to a gradient plane which is determined by the gradient 38 and the surface normal 21.
- the azimuth ⁇ is not limited to the said preferred values.
- the strip 40 is in the drawing of FIGS. 6a to 6c Narrow drawn to clearly show the movement effect.
- the width of the strips 40 in the direction of the unsigned arrows depends on the diffraction structure S (y). Particularly in the case of the color bands, the spectral color gradient extends over a larger part of the surface part 13, 14, 15, so that the movement of the strips 40 can be observed on the basis of the wandering of a detail in the visible spectrum, for example the red color band.
- FIG. 6b shows the security feature 16 after rotation about the tilting axis 41 in a predetermined tilt angle, below which the strips 40 of the two outer surface portions 13, 15 and the central surface portion 14 lie on a line parallel to the tilting axis 41.
- This predetermined tilt angle is determined by the choice of the overlay structure M (x, y).
- the security element 2 ( Fig. 2 ) is on the surface pattern 12 ( Fig. 2 ) to see a predetermined pattern only when in the security feature 16, the strip or strips 40 occupy a predetermined position, ie when the observer 35 views the security element 2 under the viewing conditions determined by the predetermined tilt angle.
- the superposition function M (y) on a discontinuity point at which on the side remote from the point P 0 the value of the overlay function M (y) is reduced by the value H to the height z 0 , that is in the diffraction structure
- the function C (x; y) is limited in terms of amount to a range of values, for example to half the value of the structure height H ST .
- the discontinuities of the function ⁇ M (x; y) + C (x; y) ⁇ modulo Hub H-C (x; y) generated for technical reasons are not to be counted as extreme values of the superposition function M (x; y).
- the values for the hub H may be locally smaller.
- the locally varying stroke H is determined by the distance between two consecutive points of discontinuity P n not exceeding a predetermined value in the range from 40 ⁇ m to 300 ⁇ m.
- the diffraction structure S (x, y) extends on both sides of the coordinate axis z and not only as in the drawing of FIG FIG. 7 is shown, to the right of the coordinate axis z.
- the structure height H St is the sum of the stroke H and the profile height h (FIG. Fig. 4 ) and equal to the value of the diffraction structure S (x, y) at point P (x; y).
- the structure height H St is advantageously less than 40 ⁇ m, preferred values of the structure height H St being ⁇ 5 ⁇ m.
- M x y 0 . 5 • x 2 + y 2 • K .
- M x y a • 1 + sin 2 ⁇ ⁇ F x • x • sin 2 ⁇ ⁇ F y • y .
- the overlay functions M (x, y) are periodically composed of a predetermined section of another function and have one or more periods along the track 36.
- the observer 35 detects in daylight according to the viewing direction 39 ( Fig. 5 ), a bright white-gray spot 42 against a dark gray background 43, wherein the position of the spot 42 in the surface part 14 with respect to the identification mark 37 and the contrast between the spot 42 and the background 43 are dependent on the viewing direction 39.
- the extent of the stain 42 is determined by the scattering power of the matte structure and the curvature of the superposition function M (x, y).
- the security element 2 ( Fig. 2 ) is, for example, by tilting about the tilting axis 41 (FIG. Fig. 5 ) and / or turning around the Surface normal 21 ( Fig. 5 ) of the layer composite 1 ( Fig. 5 ) like in the FIG. 8b in such a way to align the predetermined viewing direction 39, that the spot 42 is located within the identification mark 37, which is arranged for example in the center of the circularly surrounded surface portion 14.
- the FIG. 9 shows the diffractive effect of the diffraction structure S (x, y) ( Fig. 7 ) in the diffraction plane 20.
- the relief structure R (x, y) ( Fig. 4 ) is the diffraction grating 32 (FIG. Fig. 4 ) with an eg sinusoidal profile and with a spatial frequency f less than 2400 lines / mm.
- the grating vector of the relief structure R (x, y) lies in the diffraction plane 20.
- first beams 44 having the wavelength ⁇ 1 with the incident light 11 include the viewing angle ⁇ and second beams 45 having the wavelength ⁇ 2 include the viewing angle - ⁇ .
- the observer 35 sees the surface portion 13, 14, 15 at the viewing angle ⁇ in the color with the wavelength ⁇ 1 .
- the observer 35 sees the surface part 13, 14, 15 at the viewing angle - ⁇ in the color of the wavelength ⁇ 2 .
- FIG. 10a and 10b is an example of an embodiment of the security feature 16, wherein in the FIG. 10a the security element 2 against the security element 2 in the FIG. 10b rotated in its plane by 180 °.
- the diffraction plane 20 ( Fig. 9 ) is shown with its track 36.
- a background field 46 adjoins at least one surface part 13, 14, 15 and has the diffraction grating 32 (FIG. Fig. 4 ) with the same relief profile R (x, y) and the background field 46 own Spatialfrequenz f.
- the grating vector of the relief profile R (x, y) is aligned parallel to the track 36 in the surface parts 13, 14, 15 and in the background field 46.
- white light 11 shine in the security feature 16 in the orientation of the FIG. 10a under the viewing angle + ⁇
- the surface parts 13, 14, 15 and the background field 46 in the same color
- the observer 35 (FIG. Fig. 5 ) the security feature 16 appears to illuminate without contrast in a uniform color, for example, the deflected first beams 44 (FIG. Fig. 9 ) the wavelength ⁇ 1 , eg 680 nm (red), on.
- the entire security feature 16 is observed under the viewing angle - ⁇ .
- the advantage of this embodiment is the conspicuous optical behavior of the security feature 16, namely the color contrast visible under a single predetermined orientation of the security element 2 after a 180 ° rotation of the security element 2 about the surface normal 21 (FIG. Fig. 3 ) changes or disappears.
- the security feature 16 thus serves to define a predetermined orientation of the security element 2 with the non-holographically copied security feature 16.
- each surface part 13, 14, 15 has a section of the superimposition function M (x, y), so that the inclination ⁇ in the surface part 13, 14, 15 continuously changes in a predetermined direction and the wavelengths of the second rays 45 out an area on both sides of the wavelength ⁇ k originate.
- the similarly limited surface portions 13, 14, 15 form a plurality of arranged on the background field 46 surface portions 13, 14, 15 a logo, a lettering, etc.
- the eg rectangular surface part 13, 14 (FIG. Fig. 10 ), 15 ( Fig. 10 ) is aligned with its longitudinal side parallel to the coordinate x and divided into narrow sub-areas 47 of the width b, whose longitudinal sides are aligned parallel to the coordinate axis y.
- Each period 1 / F x of the overlay structure M (x; y) extends over a number t of the partial surfaces 47, eg the number t is in the value range from 5 to 10.
- the width b should not fall below 10 ⁇ m, since otherwise the diffraction structure S (x, y) is not defined enough on the partial surface 47.
- the diffraction structures S (x, y) of the adjacent sub-areas 47 differ in the summands, the relief profile R (x, y) and the section of the superimposition function M (x, y) assigned to the subarea 47.
- the Relief profile R i (x, y) of the i-th partial surface 47 differs from the two relief profiles R i + 1 (x, y) and R i-1 (x, y) of the adjacent partial surfaces 47 by at least one grating parameter, such as azimuth , Spatial frequency, profile height h ( Fig. 4 ), etc. If the spatial frequency F x or F y is at most 10 lines / mm but not less than 2.5 lines / mm, the observer 35 (FIG.
- the relief profile R (x, y) changes continuously as a function of the phase angle of the periodic overlay function M (x, y).
- the in the FIG. 11 shown diffraction structures S (x, y) are in the embodiment of the in Figures 12 shown security feature 16 deployed, which unfolds a novel, optical effect in the illumination with white light 11 when the security feature 16 is tilted about the coordinate axis y parallel to the tilting axis 41.
- the security feature 16 comprises the triangular first surface part 14, which is arranged in the rectangular second surface part 13.
- the diffraction structure S (x, y) is characterized in that the spatial frequency f of the relief profile R (x, y) in the direction of the coordinate axis x within each period of the superposition function M (x, y) is gradual or continuous a predetermined Spatialfrequenz- area changed ⁇ f, wherein the spatial frequency f i in the ith subarea 47 ( Fig. 7 ) is greater than the spatial frequency f i-1 in the preceding (i-1) -th sub-area 47.
- the first sub-area 47 has the spatial frequency f with the value f A.
- the diffraction structure S (x, y) is characterized in that the spatial frequency f of the relief profile R (x, y) in the direction of the coordinate axis x within a period of the superimposition function M (x, y) of the one face 47 to the next stepwise or continuously reduced.
- the diffraction structure S ** (x, y) R (-x, y) + M (-x, y) of the second Surface part 13, the diffraction structure S (x, y) of the first surface part 14 mirrored at the plane spanned by the coordinate axes y, z.
- the grating vectors and the track 36 (FIG. Fig. 11 ) of the diffraction plane 20 ( Fig. 9 ) are aligned in two surface portions 13, 14 substantially parallel to the tilting axis 41.
- the gradient 38 is substantially parallel to the plane spanned by the coordinate axes x and z.
- the security feature 16 lies in the x - y plane spanned by the coordinate axes x and y, the viewing direction 39 (FIG. Fig. 5 ) forms a right angle with the coordinate axis x.
- the partial areas 47 are illuminated in the region of the minima of the superposition function M (x, y). Since these partial surfaces 47 in both diffraction structures S (x, y), S ** (x, y) have the same relief profile R (x, y) and the same inclination ⁇ ⁇ 0 °, the two surface parts 13, 14 in the viewing direction 39 diffracted light beams 34 ( Fig.
- FIG. 12c is the security feature 1 of the in the FIG. 12a shown tilted position about the tilting axis 41 to the right. Even when tilting to the right, the color contrast is clear, but with reversed colors.
- the color of the first surface part 14 shifts in the direction of blue, since the partial surfaces 47 become effective, in which the spatial frequency f of the relief profile R (x, y) is greater than the value f M , while the color of the second surface part 13 in the direction Red shifts because the faces 47 ( Fig. 11 ), in which the Spatialfrequenz f of the relief profile R (x, y) of the diffraction structure S ** (x, y) relative to the value f M decreases.
- the relief profile R (x, y) in the sub-areas 47 of each period 1 / F x has the same spatial frequency f, but the relief profile R (x, y) differs from sub-area 47 to sub-area 47 by its azimuth angle ⁇ of the grid vector relative to the coordinate axis y.
- the azimuth angle ⁇ is dependent on the local inclination ⁇ ( Fig.
- the second surface part 13 (12a) in which the mirrored diffraction structure S ** (x, y) is formed is ejected only at a single predetermined tilt angle in the predetermined color, for example, in a mixed color generated from the green region. lights. At other angles of tilt, the second surface part 13 is dark gray.
- the overlay function M (x, y) employed in the diffraction structure S (x, y) is an asymmetric function in the coordinate axis x direction.
- the spatial frequency F x or F y is in the range of 2.5 lines / mm to and 10 lines / mm. Not shown are the points of discontinuity caused by Operation Modulo Hub H ( Fig. 7 ) arise.
- the above-described "anisotropic" matt structure with the preferred direction substantially parallel to the coordinate axis x is used as a relief profile R (x, y).
- the incident light 11 ( Fig. 5 ) is therefore scattered mainly parallel to the coordinate axis y fanned out.
- the diffraction structure S (x, y) R (x, y) + M (x, y)
- the diffraction structure S ** (x, y) R (-x, y) + M (-x, y) is formed.
- FIGS. 12a to 12c For example, instead of a single triangular first surface part 14 on the second surface part 13, a plurality of the first surface parts 14 may be arranged, which form a logo, a lettering, etc.
- relief images are also used as at least piecewise continuous superimposition function M (x, y) in the diffraction structure S (x, y), wherein advantageously the relief profile R (x, y) is an "isotropic" matte structure.
- the observer of the security element 2 in this embodiment receives the impression of a three-dimensional image with a characteristic surface structure. When rotating and tilting the security element 2, the brightness distribution in the image changes according to the expectation in a true relief image, but projecting elements do not cast a shadow.
- all diffraction structures S are in their structural height to the value H St ( Fig. 1 ), as indicated by the FIG. 7 was explained.
- the relief profiles R (x, y) and overlay functions M (x, y) used in the special embodiments described above can be combined as desired to form other diffraction structures S (x, y).
- the use of the security features 16 described above in the security element 2 has the advantage that the security feature 16 forms an effective barrier against attempts to holographically copy the security element 2.
- the positional shifts or color shifts on the surface of the security feature 16 can be recognized only in a modified form.
Description
- Die Erfindung bezieht sich auf ein Sicherheitselement gemäss dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
- Solche Sicherheitselemente bestehen aus einem dünnen Schichtverbund aus Kunststoff, wobei in den Schichtverbund wenigstens Reliefstrukturen aus der Gruppe Beugungsstrukturen, Licht streuende Strukturen und ebene Spiegelflächen eingebettet sind. Die aus dem dünnen Schichtverbund geschnittenen Sicherheitselemente werden auf Gegenstände geklebt zum Beglaubigen der Echtheit der Gegenstände.
- Der Aufbau des dünnen Schichtverbunds und die dazu verwendbaren Materialien sind beispielsweise in der
US 4,856,857 beschrieben. Aus derGB 2 129 739 A - Eine Anordnung der eingangs genannten Art ist aus der
EP 0 429 782 B1 bekannt. Das auf ein Dokument aufgeklebte Sicherheitselement weist ein z.B. aus derEP 0 105 099 A1 bekanntes, optisch variables Flächenmuster aus mosaikartig angeordneten Flächenteilen mit bekannten Beugungsstrukturen auf. Damit ein gefälschtes Dokument zum Vortäuschen einer scheinbaren Echtheit nicht ohne deutliche Spuren mit einem nachgemachten, aus einem echten Dokument ausgeschnittenen oder von einem echten Dokument abgelösten Sicherheitselement versehen werden kann, werden in das Sicherheitselement und in angrenzende Teile des Dokuments Sicherheitsprofile eingeprägt. Das echte Dokument unterscheidet sich durch die sich nahtlos vom Sicherheitselement in angrenzende Teile des Dokuments erstreckenden Sicherheitsprofile. Das Einprägen der Sicherheitsprofile stört das Erkennen des optisch variablen Flächenmusters. Insbesondere variiert die Position des Prägestempels auf dem Sicherheitselement von Exemplar zu Exemplar des Dokuments. - Es ist auch bekannt, die Sicherheitselemente mit Merkmalen auszurüsten, die ein Nachmachen bzw. ein Kopieren mit üblichen holographischen Mitteln erschweren oder gar verunmöglichen. Beispielsweise sind aus der
EP 0 360 969 A1 undWO 99/38038 WO 98/26373 - Die
WO 01/80175 A1 - Die in den beispielhaft genannten Dokumenten
EP 0 360 969 A1 ,WO 98/26373 WO 99/38038 - Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein kostengünstiges, neuartiges Sicherheitselement zu schaffen, das eine hohe Resistenz gegen Fälschungsversuche, z.B. mittels eines holographischen Kopierverfahrens aufweisen soll.
- Diese Aufgabe wird durch ein Sicherheitselement aus einem Schichtverbund mit zwischen Schichten des Schichtverbunds eingebetteten, mikroskopisch feinen optisch wirksamen Strukturen eines Flächenmusters gelöst, wobei die optisch wirksamen Strukturen in Flächenteilen eines Sicherheitsmerkmals in einer von Koordinatenachsen aufgespannten Ebene des Flächenmusters in eine reflektierende Grenzfläche zwischen den Schichten abgeformt sind und wenigstens ein Flächenteil mit Abmessungen grösser als 0,4 mm eine durch additive bzw. subtraktive Überlagerung einer eine makroskopische Struktur beschreibenden Überlagerungsfunktion mit einem mikroskopischen Reliefprofil gebildete Beugungsstruktur aufweist, wobei die Überlagerungsfunktion, das
- Reliefprofil und die Beugungsstruktur Funktion der Koordinaten sind und das Reliefprofil eine lichtbeugende oder lichtstreuende optisch wirksame Struktur beschreibt, die der Überlagerungsfunktion folgend das vorbestimmte Reliefprofil beibehält, und die wenigstens stückweise stetige Überlagerungfunktion wenigstens in Teilbereichen gekrümmt ist, keine periodische Dreieck- oder Rechteckfunktion ist und sich im Vergleich zum Reliefprofil langsam ändert.
- Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
- Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben.
- Es zeigen:
- Figur 1
- ein Sicherheitselement im Querschnitt,
- Figur 2
- das Sicherheitselement in Draufsicht,
- Figur 3
- Reflexion und Beugung an einem Gitter,
- Figur 4
- Beleuchtung und Beobachtung des Sicherheitselements,
- Figur 5
- Reflexion und Beugung an einer Beugungsstruktur,
- Figuren 6
- das Sicherheitsmerkmal unter verschiedenen Kippwinkeln,
- Figur 7
- eine Überlagerungsfunktion und die Beugungsstruktur im Querschnitt,
- Figuren 8
- das Ausrichten des Sicherheitselements mittels Kennmarken,
- Figur 9
- einen lokalen Neigungswinkel der Überlagerungsfunktion,
- Figuren 10
- das Ausrichten des Sicherheitselements mittels Farbkontrast im Sicherheitsmerkmal,
- Figur 11
- die Beugungsstruktur mit symmetrischer Überlagerungsfunktion,
- Figuren 12
- das Sicherheitsmerkmal mit Farbumschlag und
- Figur 13
- eine asymmetrische Überlagerungsfunktion.
- In der
Figur 1 bedeutet 1 einen Schichtverbund, 2 ein Sicherheitselement, 3 ein Substrat, 4 eine Deckschicht, 5 eine Abformschicht, 6 eine Schutzschicht, 7 eine Kleberschicht, 8 eine reflektierende Grenzfläche, 9 eine optisch wirksame Struktur und 10 eine transparente Stelle in der reflektierenden Grenzfläche 8. Der Schichtverbund 1 besteht aus mehreren Lagen von verschiedenen, nacheinander auf eine hier nicht gezeigte Trägerfolie aufgebrachten Kunststoffschichten und umfasst in der angegebenen Reihenfolge typisch die Deckschicht 4, die Abformschicht 5, die Schutzschicht 6 und die Kleberschicht 7. Die Deckschicht 4 und die Abformschicht 5 sind für einfallendes Licht 11 transparent. Falls auch die Schutzschicht 6 und die Kleberschicht 7 transparent sind, werden hier nicht gezeigte, auf der Oberfläche des Substrats 3 angebrachte Indicia durch die transparente Stelle 10 erkennbar. Als Trägerfolie dient in einer Ausführung die Deckschicht 4 selbst, in einer anderen Ausführung dient eine Trägerfolie zum Applizieren des dünnen Schichtverbunds 1 auf das Substrat 3 und wird danach vom Schichtverbund 1 entfernt, wie dies z.B. in der eingangs erwähntenGB 2 129 739 A - Die gemeinsame Berührungsfläche zwischen der Abformschicht 5 und der Schutzschicht 6 ist die Grenzfläche 8. In die Abformschicht 5 sind die optisch wirksamen Strukturen 9 mit einer Strukturhöhe HSt eines optisch variablen Musters abgeformt. Da die Schutzschicht 6 die Täler der optisch wirksamen Strukturen 9 verfüllt, weist die Grenzfläche 8 die Form der optisch wirksamen Strukturen 9 auf. Um eine hohe Wirksamkeit der optisch wirksamen Strukturen 9 zu erhalten, ist die Grenzfläche 8 mit einem Metallbelag versehen, vorzugsweise aus den Elementen der Tabelle 5 der eingangs erwähnten
US 4,856,857 , insbesondere Aluminium, Silber, Gold, Kupfer, Chrom, Tantal usw., der als Reflexionsschicht die Abformschicht 5 und die Schutzschicht 6 trennt. Die elektrische Leitfähigkeit des Metallbelags bewirkt ein hohes Reflektionsvermögen für sichtbares einfallendes Licht 11 an der Grenzfläche 8. Jedoch eignen sich anstelle des Metallbelags auch eine oder mehrere Schichten eines der bekannten, transparenten, anorganischen Dielektrika, die z.B. in der Tabellen 1 und 4 der eingangs erwähntenUS 4,856,857 aufgeführt sind, oder die Reflexionsschicht weist eine mehrschichtige Interferenzschicht auf, wie z.B. eine zweischichtige Metall- Dielektrikum-Kombination oder eine Metall- Dielektrikum- Metall- Kombination. Die Reflexionsschicht ist in einer Ausführung strukturiert, d.h. sie bedeckt die Grenzfläche 8 nur teilweise und in vorbestimmten Zonen der Grenzfläche 8. - Der Schichtverbund 1 wird als Kunststofflaminat in Form einer langen Folienbahn mit einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten Kopien des optisch variablen Musters hergestellt. Aus der Folienbahn werden die Sicherheitselemente 2 beispielsweise ausgeschnitten und mittels der Kleberschicht 7 mit einem Substrat 3 verbunden. Das Substrat 3, meist in Form eines Dokuments, einer Banknote, einer Bankkarte, eines Ausweises oder eines anderen wichtigen bzw. wertvollen Gegenstandes, wird mit dem Sicherheitselement 2 versehen, um die Echtheit des Gegenstandes zu beglaubigen.
- Die
Figur 2 zeigt einen Ausschnitt des Substrats 3 mit dem Sicherheitselement 2. Durch die Deckschicht 4 (Fig. 1 ) und die Abformschicht 5 (Fig. 1 ) hindurch ist ein Flächenmuster 12 sichtbar. Das Flächenmuster 12 liegt in einer von den Koordinatenachsen x, y aufgespannten Ebene und enthält ein Sicherheitsmerkmal 16 aus wenigstens einem mit dem blossen Auge in der Kontur gut erkennbaren Flächenteil 13, 14, 15, d.h. die Abmessungen des Flächenteils sind zumindest in einer Richtung grösser als 0.4 mm. Das Sicherheitsmerkmal 16 ist in der Zeichnung derFigur 2 aus darstellerischen Gründen doppelt umrahmt. In einer anderen Ausführung ist das Sicherheitsmerkmal 16 von einem Mosaik aus Flächenelementen 17 bis 19 des in der eingangs erwähntenEP 0 105 099 A1 beschriebenen Mosaiks umgeben. In den Flächenteilen 13 bis 15 und gegebenenfalls in den Flächenelementen 17 bis 19 sind die optisch wirksamen Strukturen 9 (Fig. 1 ), wie mikroskopisch feine diffraktive Gitter, mikroskopisch feine, lichtstreuende Reliefstrukturen oder ebene Spiegelflächen in die Grenzfläche 8 (Fig. 1 ) abgeformt. - Anhand der
Figur 3 wird beschrieben, wie das auf die Grenzfläche 8 (Fig. 1 ) einfallende Licht 11 durch die optisch wirksame Struktur 9 reflektiert und vorbestimmt abgelenkt wird. Das einfallende Licht 11 fällt in der Beugungsebene 20, die senkrecht auf der Oberfläche des Schichtverbunds 1 mit dem Sicherheitselement 2 (Fig. 1 ) steht und eine Flächennormale 21 enthält, auf die optisch wirksame Struktur 9 im Schichtverbund 1 ein. Das einfallende Licht 11 ist ein paralleles Bündel von Lichtstrahlen und schliesst mit der Flächennormalen 21 den Einfallswinkel α ein. Ist die optisch wirksame Struktur 9 eine ebene Spiegelfläche parallel zur Oberfläche des Schichtverbunds 1, bilden die Flächennormale 21 und die Richtung des reflektierten Lichts 22 die Schenkel des Reflexionswinkels β, wobei β = -α. Falls die optisch wirksame Struktur 9 eines der bekannten Gitter ist, lenkt das Gitter das einfallende Licht 11 in verschiedene, durch die Spatialfrequenz f des Gitters bestimmte Beugungsordnungen 23 bis 25 ab, wobei vorausgesetzt ist, dass der das Gitter beschreibende Gittervektor in der Beugungsebene 20 liegt. Die im einfallenden Licht 11 enthaltenen Wellenlängen λ werden unter den vorbestimmten Winkeln in die verschiedenen Beugungsordnungen 23 bis 25 abgelenkt. Beispielsweise lenkt das Gitter violettes Licht (λ = 380 nm) gleichzeitig als Strahl 26 in die plus 1. Beugungsordnung 23 als Strahl 27, in die minus 1. Beugungsordnung 24 und als Strahl 28 in die minus 2. Beugungsordnung 25 ab. Lichtanteile mit längeren Wellenlängen λ des einfallenden Lichts 11 werden in Richtungen mit grösseren Beugungswinkeln zur Flächennormalen 21 austreten, beispielsweise rotes Licht (λ = 700 nm) in die mit den Pfeilen 29, 30, 31 bezeichneten Richtungen. Das polychromatische einfallende Licht 11 wird infolge der Beugung am Gitter in die Lichtstrahlen der verschiedenen Wellenlängen λ des einfallenden Lichts 11 aufgefächert, d.h. der sichtbare Teil des Spektrums erstreckt sich im Bereich zwischen dem violetten Lichtstrahl (Pfeil 26 bzw. 27 bzw. 28) und dem roten Lichtstrahl (Pfeil 29 bzw. 30 bzw. 31) in jeder Beugungsordnung 23 bzw. 24 bzw. 25. Das in die nullte Beugungsordnung gebeugte Licht ist das unter dem Ausfallwinkel β reflektierte Licht 22. - Die
Figur 4 zeigt ein in den Flächenelementen 17 (Fig. 2 ) bis 19 (Fig. 2 ) abgeformtes Beugungsgitter 32, dessen mikroskopisch feines Reliefprofil R(x, y) beispielsweise einen sinusförmigen, periodischen Profilquerschnitt von konstanter Profilhöhe h und mit der Spatialfrequenz f aufweist. Das ausgemittelte Relief des Beugungsgitters 32 legt eine parallel zur Deckschicht 4 angeordnete Mittelfläche 33 fest. Das parallel einfallende Licht 11 durchdringt die Deckschicht 4 und die Abformschicht 5 und wird an der optisch wirksamen Struktur 9 (Fig. 1 ) des Beugungsgitters 32 abgelenkt. Die parallelen gebeugten Lichtstrahlen 34 der Wellenlänge λ verlassen das Sicherheitselement 2 in die Blickrichtung eines Beobachters 35, der bei der Beleuchtung des Flächenmusters 12 (Fig. 2 ) mit dem parallel einfallenden Licht 11 die farbigen, hell erstrahlenden Flächenelemente 17, 18, 19 erblickt. - In der
Figur 5 liegt die Beugungsebene 20 in der Zeichnungsebene. In wenigstens einem der Flächenteile 13 (Fig. 2) bis 15 (Fig. 2 ) des Sicherheitsmerkmals 16 (Fig. 2 ) ist eine Beugungsstruktur S(x, y) abgeformt, deren Mittelfläche 33 gewölbt oder lokal zur Oberfläche des Schichtverbunds 1 geneigt ist. Die Beugungsstruktur S(x, y) ist eine Funktion der Koordinaten x und y in der zur Oberfläche des Schichtverbunds 1 parallelen Ebene des Flächenmusters 12 (Fig. 2 ), in der die Flächenteile 13, 14 (Fig. 2 ), 15 liegen. In jedem Punkt P(x, y) bestimmt die Beugungsstruktur S(x, y) einen zur Flächennormalen 21 parallelen Abstand z zur Ebene des Flächenmusters 12. Allgemeiner beschrieben, ist die Beugungsstruktur S(x, y) die Summe aus dem Reliefprofil R(x, y) (Fig. 4 ) des Beugungsgitters 32 (Fig. 4 ) und einer eindeutig definierten Überlagerungsfunktion M(x, y), der Mittelfläche 33, wobei S(x, y) = R(x, y) + M(x, y). Beispielsweise erzeugt das Reliefprofil R(x, y) das periodische Beugungsgitter 32 mit dem Profil einer der bekannten sinusförmigen, asymmetrisch bzw. symmetrisch sägezahnförmigen oder rechteckförmigen Formen. - In einer anderen Ausführung ist das mikroskopisch feine Reliefprofil R(x, y) der Beugungsstruktur S(x, y) eine Mattstruktur anstelle des periodischen Beugungsgitters 32. Die Mattstruktur ist eine mikroskopisch feine, stochastische Struktur mit einer vorbestimmten Streucharakteristik für das einfallende Licht 11, wobei bei einer anisotropen Mattstruktur anstelle des Gittervektors eine Vorzugsrichtung tritt. Die Mattstrukturen streuen das senkrecht einfallende Licht in einen Streukegel mit einem durch das Streuvermögen der Mattstruktur vorbestimmten Öffnungswinkel und mit der Richtung des reflektierten Lichts 22 als Kegelachse. Die Intensität des Streulichts ist z.B. auf der Kegelachse am grössten und nimmt mit zunehmendem Abstand zur Kegelachse ab, wobei das in Richtung der Mantellinien des Streukegels abgelenkte Licht für einen Beobachter gerade noch erkennbar ist. Der Querschnitt des Streukegels senkrecht zur Kegelachse ist rotationssymmetrisch bei einer hier "isotrop" genannten Mattstruktur. Ist der Querschnitt in der Vorzugsrichtung hingegen gestaucht d.h. elliptisch verformt mit der kurzen Hauptachse der Ellipse parallel zur Vorzugsrichtung, wird die Mattstruktur hier mit "anisotrop" bezeichnet.
- Wegen der additiven bzw. subtraktiven Überlagerung wird die Profilhöhe h (
Fig. 4 ) des Reliefprofils R(x, y) im Bereich der Überlagerungsfunktion M(x, y) nicht verändert, d.h. das Reliefprofil R(x; y) folgt der Überlagerungsfunktion M(x, y). Die eindeutig definierte Überlagerungsfunktion M(x, y) ist wenigstens stückweise differenzierbar und wenigstens in Teilbereichen gekrümmt, d.h. ΔM(x, y) ≠ 0, periodisch oder aperiodisch und ist keine periodische Dreieck- oder Rechteckfunktion. Die periodischen Überlagerungsfunktionen M(x, y) weisen eine Raumfrequenz F von höchstens 20 Linien/mm auf. Für eine gute Sichtbarkeit sind Verbindungsstrecken zwischen zwei benachbarten Extremwerten der Überlagerungsfunktionen M(x, y) wenigstens 0.025 mm lang. Die Vorzugswerte für die Raumfrequenz F sind auf höchstens 10 Linien/mm begrenzt und die Vorzugswerte für den Abstand benachbarter Extremwerte betragen wenigstens 0.05 mm. Die Überlagerungsfunktion M(x, y) variiert somit als makroskopische Funktion im stetigen Bereich langsam im Vergleich zum Reliefprofil R(x, y). - Eine auf die Ebene des Flächenmusters 12 (
Fig. 2 ) projizierte Schnittlinie der Beugungsebene 20 mit der Mittelebene 33 legt eine Spur 36 (Fig. 2 ) fest. Die Überlagerungsfunktion M(x, y) weist in jedem Punkt P(x, y) auf den parallel zur Spur 36 liegenden Verbindungsstrecken mit stetigen Abschnitten einen Gradienten 38, grad(M(x, y)), auf. Allgemein ist mit dem Gradient 38 die Komponente des grad(M(x, y)) in der Beugungsebene 20 gemeint, da der Beobachter 35 die optisch wirksame Beugungsebene 20 festlegt. Das Beugungsgitter 32 weist in jedem Punkt des Flächenteils 13, 14, 15 eine durch den Gradienten 38 der Überlagerungsfunktion M(x, y) vorbestimmte Neigung γ auf. - Die Deformation der Mittelfläche 33 bewirkt eine neue, vorteilhafte optische Wirkung. Diese Wirkung wird anhand des Beugungsverhaltens in Durchstosspunkten A, B, C der Flächennormale 21 und Normalen 21', 21" auf die Mittelfläche 33, z.B. längs der Spur 36, erklärt. Die Brechung des einfallenden Lichts 11, des reflektieren Lichts 22 und der gebeugten Lichtstrahlen 34 an den Grenzflächen des Schichtverbunds 1 ist der Einfachheit halber in der Zeichnung der
Figur 5 nicht dargestellt und in den nachfolgenden Rechnungen nicht berücksichtigt. In jedem Durchstosspunkt A, B, C ist die Neigung γ durch den Gradienten 38 bestimmt. Die Normalen 21' und 21", der Gittervektor des Beugungsgitters 32 (Fig. 4 ) und eine Betrachtungsrichtung 39 des Beobachters 35 liegen in der Beugungsebene 20. Entsprechend dem Neigungswinkel γ ändert sich der Einfallswinkel α (Fig. 3 ), den die gestrichelt gezeichneten Normalen 21, 21', 21" und das weisse, parallel einfallende Licht 11 einschliessen. Damit ändert sich auch die Wellenlänge λ der in einer vorbestimmten Betrachtungsrichtung 39 zum Beobachter 35 abgelenkten gebeugten Lichtstrahlen 34. Ist die Normale 21' vom Betrachter 35 weggeneigt, ist die Wellenlänge λ der gebeugten Lichtstrahlen 34 grösser, als wenn sich die Normale 21" zum Beobachter 35 hinneigt. In dem zur Illustration gezeigten Beispiel weisen für den Betrachter 35 die im Bereich des Durchstosspunktes A gebeugten Lichtstrahlen 34 eine rote Farbe (λ = 700 nm) auf. Die im Bereich des Durchstosspunktes B gebeugten Lichtstrahlen 34 sind von gelbgrüner Farbe (λ = 550 nm) und die im Bereich des Durchstosspunktes C gebeugten Lichtstrahlen 34 haben eine blaue Farbe (λ = 400 nm). Da sich im gezeigten Beispiel die Neigung γ kontinuierlich über die Wölbung der Mittelfläche 33 ändert, ist für den Beobachter 35 längs der Spur 36 das ganze sichtbare Spektrum auf dem Flächenteil 13, 14, 15 sichtbar, wobei sich Farbbänder des Spektrums auf dem Flächenteil 13, 14, 15 senkrecht zur Spur 36 erstrecken. Damit die Farbbänder des Spektrums für den Beobachter 35 in 30 cm Entfernung erkennbar sind, ist für den Abstand zwischen den Durchstosspunkten A und C wenigstens 2 mm Länge oder mehr zu wählen. Ausserhalb des sichtbaren Spektrums, weist die Oberfläche des Flächenteils 13, 14, 15 ein lichtschwaches Grau auf. Beim Kippen des Schichtverbunds 1 um eine Kippachse 41 senkrecht zur Zeichenebene derFigur 5 verändert sich der Einfallswinkel α. Die sichtbaren Farbbänder der Spektren verschieben sich im Bereich der Überlagerungsfunktion M(x, y) kontinuierlich längs der Spur 36. Bei einem Kippen, z.B. im Uhrzeigersinn um die Kippachse 41, des Schichtverbunds 1 ändert sich die Farbe des gebeugten Lichtstrahls 34 im Durchstosspunkt A ins Gelbgrüne, die Farbe des gebeugten Lichtstrahls 34 im Durchstosspunkt B ins Blaue und die Farbe des gebeugten Lichtstrahls 34 im Durchstosspunkt C ins Violette. Die Veränderung der Farben des gebeugten Lichts 34 empfindet der Beobachter 35 als Wandern der Farbbänder in kontinuierlichen Weise über den Flächenteil 13, 14, 15. - Diese Überlegung ist für jede Beugungsordnung zutreffend. Wie viele Farbbänder von wie vielen Beugungsordnungen der Beobachter auf dem Flächenteil 13, 14, 15 gleichzeitig erblickt, hängt von der Spatialfrequenz des Beugungsgitters 32 und der Anzahl Perioden und der Amplitude der Überlagerungsfunktion M(x, y) innerhalb des Flächenteils 13, 14, 15 ab.
- In einer anderen Ausführung, bei der eine der Mattstrukturen anstelle des Beugungsgitters 32 eingesetzt ist, erblickt der Beobachter 35 in der Richtung des reflektierten Lichts 22 nur ein helles, weissgraues Band anstelle der Farbbänder. Das helle, weissgraue Band wandert beim Kippen wie die Farbbänder kontinuierlich über die Fläche des Flächenteils 13, 14, 15. Im Gegensatz zu den Farbbänder ist das helle, weissgraue Band für den Beobachter 35 in Abhängigkeit vom Streuvermögen der Mattstruktur auch dann sichtbar, wenn seine Betrachtungsrichtung 39 schief zur Beugungsebene 20 ist. Nachstehend ist daher mit "Streifen 40" (
Fig. 6a ) sowohl die Farbbänder einer Beugungsordnung 23, 24, 25 als auch das durch die Mattstruktur erzeugte helle weissgraue Band gemeint. - In der
Fig. 6a ist die Verschiebung des Streifens vom Beobachter 35 (Fig. 5 ) leichter erkennbar, wenn eine Referenz auf dem Sicherheitsmerkmal 16 vorhanden ist. Als Referenz dienen auf dem Flächenteil 13, 14, 15, beispielsweise auf dem mittleren Flächenteil 14, angeordnete Kennmarken 37 (Fig. 2 ) und/oder eine vorbestimmte Begrenzungsform des Flächenteils 13, 14, 15. Mit Vorteil legt die Referenz eine vorbestimmte Betrachtungsbedingung fest, die mittels Kippen des Schichtverbunds 1 (Fig. 1 ) so einstellbar ist, dass der Streifen 40 vorbestimmt gegenüber der Referenz positioniert ist. Im Bereich der Kennmarken 37 ist die optisch wirksame Struktur 9 (Fig. 1 ) der Grenzfläche 8 (Fig. 1 ) mit Vorteil als eine optisch wirksame Struktur 9, eine diffraktive Struktur, Spiegelfläche oder lichtstreuende Reliefstruktur, ausgeführt, die beim Replizieren des Flächenmusters 12 im Register zu den Flächenteilen 13, 14, 15 abgeformt wird. Aber auch ein lichtabsorbierender Aufdruck auf das Sicherheitsmerkmal 16 ist als Referenz für die Bewegung des Streifens 40 verwendbar oder die Kennmarke 37 ist mittels der strukturierten Reflexionsschicht erzeugt. - In einer weiteren Ausführung des Sicherheitsmerkmals 16 nach den
Figuren 6 dienen die beiderseits an das mittlere Flächenteil 14 anschliessenden, benachbarten Flächenteile 13 und 15 als gegenseitige Referenz. Die benachbarten Flächenteile 13 und 15 weisen beide eine Beugungsstruktur S*(x, y) auf. Die Beugungsstruktur S*(x, y) ist im Gegensatz zur Beugungsstruktur S(x, y) die Differenz R-M aus der Relieffunktion R(x, y) und der Überlagerungsfunktion M(x, y), also S*(x, y) = R(x, y) - M(x, y). Die durch die Beugungsstruktur S*(x, y) erzeugten Farbbänder weisen einen umgekehrten Farbverlauf gegenüber den Farbbändern der Beugungsstruktur S(x, y) auf, wie dies in der Zeichnung derFigur 6a mittels einer fetten Längsberandung des Streifens 40 angedeutet ist. Für eine gute Sichtbarkeit der optischen Wirkung ohne Hilfsmittel weist das Sicherheitsmerkmal 16 längs der Koordinatenachse y bzw. der Spur 36 eine Abmessung von wenigstens 5 mm, vorzugsweise mehr als 10 mm auf. Die Abmessungen längs der Koordinatenachse x betragen mehr als 0.25 mm, vorzugsweise aber wenigstens 1 mm. - In der Ausführung des Sicherheitsmerkmals 16 gemäss den
Figuren 6a bis 6c weist das ovale Flächenteil 14 die nur von der Koordinate y abhängige Beugungsstruktur S(y) auf, während sich die Flächenteile 13 und 15 mit der nur von der Koordinate y abhängigen Beugungsstruktur S*(y) auf beiden Seiten des ovalen Flächenteils 14 längs der Koordinate y erstrecken. Die Überlagerungsfunktion ist M(y) = 0.5•y2•K, wobei K die Krümmung der Mittelfläche 33 ist. Der Gradient 38 (Fig. 5 ) und der Gittervektor des Beugungsgitters 32 (Fig. 4 ) bzw. die Vorzugsrichtung der "anisotropen" Mattstruktur sind im wesentlichen parallel bzw. antiparallel auf die Richtung der Koordinate y ausgerichtet. - Im allgemeinen ist der Azimut ϕ des Gittervektors bzw. der Vorzugsrichtung der Mattstruktur auf eine Gradientenebene bezogen, die durch den Gradienten 38 und die Flächennormale 21 bestimmt ist. Die Vorzugswerte des Azimuts ϕ sind 0° und 90°. Dabei sind Abweichungen im Azimutwinkel des Gittervektors bzw. der Vorzugsrichtung von δϕ = ±20° auf den Vorzugswert zulässig, um in diesem Bereich den Gittervektor bzw. die Vorzugsrichtung als im wesentlichen parallel bzw. senkrecht zur Gradientenebene zu betrachten. An sich ist der Azimut ϕ nicht auf die genannten Vorzugswerte beschränkt.
- Je kleiner die Krümmung K ist, desto höher ist die Geschwindigkeit der Bewegung der Streifen 40 in Richtung der in der Zeichnung der
Figuren 6 a und 6c nicht bezeichneten Pfeile pro Winkeleinheit der Drehung um die Kippachse 41. Der Streifen 40 ist in der Zeichnung derFiguren 6a bis 6c schmal gezeichnet, um den Bewegungseffekt deutlich darzustellen. Die Breite der Streifen 40 in Richtung der nicht bezeichneten Pfeile ist von der Beugungsstruktur S(y) abhängig. Insbesondere bei den Farbbändern erstreckt sich der spektrale Farbverlauf über einen grösseren Teil des Flächenteils 13, 14, 15, so dass die Bewegung der Streifen 40 anhand des Wanderns eines Ausschnitts im sichtbaren Spektrum, z.B. des Farbbands Rot, zu beobachten ist. - Die
Figur 6b zeigt das Sicherheitsmerkmal 16 nach einer Drehung um die Kippachse 41 in einen vorbestimmten Kippwinkel, unter dem die Streifen 40 der beiden äusseren Flächenteilen 13, 15 und des mittleren Flächenteils 14 auf einer Linie parallel zur Kippachse 41 liegen. Dieser vorbestimmte Kippwinkel ist durch die Wahl der Überlagerungsstruktur M(x, y) bestimmt. In einer Ausführung des Sicherheitselements 2 (Fig. 2 ) ist auf dem Flächenmuster 12 (Fig. 2 ) ein vorbestimmtes Muster nur zu sehen, wenn im Sicherheitsmerkmal 16 der oder die Streifen 40 eine vorbestimmte Lage einnehmen, d.h. wenn der Beobachter 35 das Sicherheitselement 2 unter den durch den vorbestimmten Kippwinkel bestimmten Betrachtungsbedingungen betrachtet. - In der
Figur 6c sind nach einer weiteren Drehung um die Kippachse 41 die Streifen 40 auf dem Sicherheitsmerkmal 16 wieder auseinandergewandert, wie dies die nicht bezeichneten Pfeile in derFigur 6c andeuten. - Selbstverständlich reichen für das Sicherheitsmerkmal 16 in einer anderen Ausführung eine benachbarte Anordnung aus dem mittleren Flächenteil 14 und einem der beiden Flächenteile 13, 15 aus.
- Die
Figur 7 zeigt einen Querschnitt längs der Spur 36 (Fig. 2 ) durch den Schichtverbund 1 z.B. im Bereich des Flächenteils 14 (Fig. 2 ). Damit der Schichtverbund 1 nicht zu dick und damit schlecht herstellbar bzw. verwendbar wird, ist die Strukturhöhe HSt (Fig. 1 ) der Beugungsstruktur S(x; y) beschränkt. In der nicht massstäblichen Zeichnung derFigur 7 ist beispielhaft die Überlagerungsfunktion M(y) = 0.5•y2•K links von der Koordinatenachse z, in der sich die Höhe des Schichtverbunds 1 ausdehnt, im Schnitt allein dargestellt. In jedem Punkt P(x, y) des Flächenteils 14 ist der Wert z = M(x, y) auf einen vorbestimmten Hub H = z1 - z0 begrenzt. Sobald die Überlagerungsfunktion M(y) an einem der Punkte P1, P2, ..., Pn den Wert z1 = M(Pj) für j = 1, 2, ..., n erreicht hat, tritt in der Überlagerungsfunktion M(y) eine Unstetigkeitsstelle auf, an der auf der vom Punkt P0 abgewandten Seite der Wert der Überlagerungsfunktion M(y) jeweils um den Wert H auf die Höhe z0 reduziert ist, d.h. der in der Beugungsstruktur S(x; y) eingesetzte Wert der Überlagerungsfunktion M(x; y) ist der Funktionswert - Die Funktion C(x; y) ist dabei betragsmässig auf einen Wertebereich beschränkt, beispielsweise auf den halben Wert der Strukturhöhe HST. Die aus technischen Gründen erzeugten Unstetigkeitsstellen der Funktion {M(x; y) + C(x; y)} modulo Hub H - C(x; y) sind nicht als Extremwerte der Überlagerungsfunktion M(x; y) zu zählen. Ebenso können in bestimmten Ausführungen die Werte für den Hub H lokal kleiner sein. In einer Ausführung der Beugungsstruktur S(x; y) ist der lokal variierende Hub H dadurch bestimmt, dass der Abstand zwischen zwei aufeinanderfolgenden Unstetigkeitsstellen Pn einen vorbestimmten Wert aus dem Bereich von 40 µm bis 300 µm nicht überschreitet.
- In den Flächenteilen 13 (
Fig. 2 ), 14, 15 (Fig. 2 ) erstreckt sich die Beugungsstruktur S(x, y) auf beiden Seiten der Koordinatenachse z und nicht nur, wie in der Zeichnung derFigur 7 gezeigt ist, rechts von der Koordinatenachse z. Wegen der Überlagerung ist die Strukturhöhe HSt die Summe aus dem Hub H und der Profilhöhe h (Fig. 4 ) und gleich dem Wert der Beugungsstruktur S(x, y) im Punkt P(x; y). Die Strukturhöhe HSt ist mit Vorteil kleiner als 40 µm, wobei bevorzugte Werte der Strukturhöhe HSt < 5 µm sind. Der Hub H der Überlagerungsfunktion M(x, y) beschränkt sich auf weniger als 30 µm und liegt vorzugsweise im Bereich H = 0.5 µm bis H = 4 µm. Die Mattstrukturen besitzen im mikroskopischen Massstab feine Reliefstrukturelemente, die das Streuvermögen bestimmen und nur mit statistischen Kenngrössen beschrieben werden können, wie z.B. Mittenrauhwert Ra, Korrelationslänge Ic usw., wobei die Werte für den Mittenrauhwert Ra im Bereich 200 nm bis 5 µm liegen mit Vorzugswerten von Ra = 150 nm bis Ra = 1,5 µm, während die Korrelationslängen Ic zumindest in einer Richtung im Bereich von 300 nm bis 300 µm liegen, vorzugsweise zwischen Ic = 500 nm bis Ic = 100 µm. Bei den "isotropen" Mattstrukturen sind die statistischen Kenngrössen unabhängig von einer Vorzugsrichtung, während bei den "anisotropen" Mattstrukturen Reliefelemente mit der Korrelationslänge Ic senkrecht zur Vorzugsrichtung ausgerichtet sind. Die Profilhöhe h des Beugungsgitters 32 (Fig. 4 ) weist einen Wert aus dem Bereich h = 0,05 µm bis h = 5 µm auf, wobei die Vorzugswerte im engeren Bereich von h = 0,6 ± 0,5 µm liegen. Die Spatialfrequenz f des Beugungsgitters 32 ist aus dem Bereich f = 300 Linien/mm bis 3300 Linien/mm gewählt. Ab etwa F = 2400 Linien/mm ist das gebeugte Licht 34 (Fig. 5 ) nur noch in der nullten Beugungsordnung, d.h. in Richtung des reflektierten Lichts 22 (Fig. 5 ), beobachtbar. -
- M(x, y) = a•x1,5 + b•x, M(x, y) = a•{1 + sin(2πFy•y)}, wobei Fx bzw. Fy die Raumfrequenz F der Überlagerungsfunktion M(x, y) in Richtung der Koordinatenachse x bzw. y ist. In einer anderen Ausführung des Sicherheitsmerkmals 16 ist die Überlagerungsfunktionen M(x, y) aus einem vorbestimmten Ausschnitt einer anderen Funktion periodisch zusammengesetzt und weist eine oder mehrere Perioden längs der Spur 36 auf.
- In der
Figur 8a bilden die Überlagerungsfunktion M(x, y) = 0,5•(x2 +y2)•K, d.h. eine Kugelkalotte, und die Reliefstruktur R(x, y), d.h. eine "isotrope" Mattstruktur, die Beugungsstruktur S(x, y) (Fig. 7 ) im z.B. kreisförmig berandeten Flächenteil 14. Der Beobachter 35 (Fig. 5 ) erkennt bei Tageslicht entsprechend der Betrachtungsrichtung 39 (Fig. 5 ) einen hellen, weissgrauen Fleck 42 vor einem dunkelgrauen Hintergrund 43, wobei die Position des Flecks 42 im Flächenteil 14 in Bezug auf die Kennmarke 37 und der Kontrast zwischen Fleck 42 und Hintergrund 43 von der Betrachtungsrichtung 39 abhängig sind. Die Ausdehnung des Flecks 42 wird durch das Streuvermögen der Mattstruktur und der Krümmung der Überlagerungsfunktion M(x, y) bestimmt. Das Sicherheitselement 2 (Fig. 2 ) ist beispielsweise durch Kippen um die Kippachse 41 (Fig. 5 ) und/oder Drehen um die Flächennormale 21 (Fig. 5 ) des Schichtverbunds 1 (Fig. 5 ) wie in derFigur 8b derart auf die vorbestimmte Betrachtungsrichtung 39 auszurichten, dass sich der Fleck 42 innerhalb der Kennmarke 37 befindet, die beispielsweise in der Mitte des kreisförmig berandeten Flächenteils 14 angeordnet ist. - Die
Figur 9 zeigt die lichtbeugende Wirkung der Beugungsstruktur S(x, y) (Fig. 7 ) in der Beugungsebene 20. Die Reliefstruktur R(x, y) (Fig. 4 ) ist das Beugungsgitter 32 (Fig. 4 ) mit einem z.B. sinusförmigen Profil und mit einer Spatialfrequenz f kleiner als 2400 Linien/mm. Der Gittervektor der Reliefstruktur R(x, y) liegt in der Beugungsebene 20. Die Überlagerungsfunktion M(x, y) im Flächenteil 13 (Fig. 2 ), 14 (Fig. 2 ), 15 (Fig. 2 ) des Sicherheitsmerkmals 16 ist durch die Wirkung der Beugungsstruktur S(x, y) bestimmt, wobei das senkrecht auf den Schichtverbund 1 einfallende Licht 11 unter einem vorbestimmten Betrachtungswinkel +ϑ bzw. - ϑ in die positive Beugungsordnung 23 (Fig. 3 ) bzw. in die negative Beugungsordnung 24 (Fig. 3 ) abgelenkt wird. In der Beugungsebene 20 schliessen erste Strahlen 44 mit der Wellenlänge λ1 mit dem einfallenden Licht 11 den Betrachtungswinkel ϑ ein und zweite Strahlen 45 mit der Wellenlänge λ2 den Betrachtungswinkel -ϑ. Der Beobachter 35 (Fig. 5 ) erblickt das Flächenteil 13, 14, 15 unter dem Betrachtungswinkel ϑ in der Farbe mit der Wellenlänge λ1. Nach einer Drehung des Schichtverbunds 1 in seiner Ebene um 180° erscheint dem Beobachter 35 das Flächenteil 13, 14, 15 unter dem Betrachtungswinkel -ϑ in der Farbe der Wellenlänge λ2. Wenn die Mittelfläche 33 die lokale Neigung γ = 0° aufweist, unterscheiden sich die Wellenlängen λ1 und λ2 nicht. Für andere Werte der lokalen Neigung γ unterscheiden sich die Wellenlängen λ1 und λ2. Die gepunktet gezeichnete Normale 21' auf die geneigte Mittelfläche 33 schliesst mit dem einfallenden Strahl 11 den Winkel α ein, wobei α = -β = γ. Die ersten Strahlen 44 und die Normale 21' schliessen den Beugungswinkel ξ1 ein, die zweiten Strahlen 45 und die Normale 21' den Beugungswinkel ξ2. - Wegen ξk = asin(sinα + mk•λk•f) und α = γ ergibt sich für die beiden ersten Beugungsordnungen 23, 24, d.h. für mk = ±1, die Beziehung
woraus folgt, dass für vorbestimmte Werte des Betrachtungswinkels ϑ und der Spatialfrequenz f die Summe der beiden Wellenlängen λ1, λ2 der Strahlen 44, 45 proportional zum Kosinus des lokalen Neigungswinkels γ ist. Die Gleichung (1) ist für andere Ordnungszahlen m leicht herzuleiten. Die Ordnungszahlen m und der Betrachtungswinkel ϑ für eine bestimmte, beobachtbare Farbe sind durch die Spatialfrequenz f bestimmt. - In den
Figuren 10a und 10b ist als Beispiel eine Ausführung des Sicherheitsmerkmals 16 dargestellt, wobei in derFigur 10a das Sicherheitselement 2 gegenüber dem Sicherheitselement 2 in derFigur 10b in seiner Ebene um 180° gedreht ist. Die Beugungsebene 20 (Fig. 9 ) ist mit ihrer Spur 36 dargestellt. In denFiguren 10a und 10b umfasst das Sicherheitsmerkmal 16 die drei Flächenteile 13, 14, 15 mit der Beugungsstruktur S(x, y) = R(x, y) + M(x, y), wobei sich in den drei Flächenteilen 13, 14, 15 die Beugungsstrukturen S(x, y) durch die mit Hilfe der Gleichung (1) bestimmten Werte der lokalen Neigungen γ der Überlagerungsfunktion M(x, y) und der Spatialfrequenz f der Reliefprofile R(x, y) unterscheiden. Ein Hintergrundfeld 46 grenzt an wenigstens ein Flächenteil 13, 14, 15 und weist das Beugungsgitter 32 (Fig. 4 ) mit dem gleichen Reliefprofil R(x, y) und der dem Hintergrundfeld 46 eigenen Spatialfrequenz f auf. Der Gittervektor des Reliefprofils R(x, y) ist in den Flächenteilen 13, 14, 15 und im Hintergrundfeld 46 parallel zur Spur 36 ausgerichtet. Bei senkrechter Beleuchtung des Sicherheitselements 2 mit weissem Licht 11 (Fig. 9 ) erstrahlen im Sicherheitsmerkmal 16 in der Ausrichtung derFigur 10a unter dem Betrachtungswinkel +ϑ die Flächenteile 13, 14, 15 und das Hintergrundfeld 46 in der gleichen Farbe, und dem Beobachter 35 (Fig. 5 ) scheint das Sicherheitsmerkmal 16 ohne Kontrast in einer einheitlichen Farbe zu leuchten, beispielsweise weisen die abgelenkten ersten Strahlen 44 (Fig. 9 ) die Wellenlänge λ1, z.B. 680 nm (rot), auf. In der in derFigur 10b gezeigten Ausrichtung wird das ganze Sicherheitsmerkmal 16 unter dem Betrachtungswinkel -ϑ beobachtet. Beispielsweise leuchtet das erste Flächenteil 13 in den zweiten Strahlen 45 (Fig. 9 ) der Wellenlänge λ2, z.B. λ2 = 570 nm (gelb), das zweite Flächenteil 14 in den zweiten Strahlen 45 der Wellenlänge λ3, z.B. λ3 = 510 nm (grün) und das dritte Flächenteil 15 in den zweiten Strahlen 45 der Wellenlänge λ4, z.B. λ4 = 400 nm (blau). Im Hintergrundfeld 46, in dem die Mittelfläche 33 (Fig. 9 ) des Beugungsgitters 32 (Fig. 4 ) die Neigung γ (Fig. 9 ) mit dem Wert γ = 0 aufweist, sind aus Symmetriegründen auch die zweiten Strahlen 45 von der Wellenlänge λ1, d.h. die Hintergrundfläche 46 erstrahlt wiederum in der roten Farbe. Der Vorteil dieser Ausführung ist das auffällige optische Verhalten des Sicherheitsmerkmals 16, nämlich der unter einer einzigen vorbestimmten Orientierung des Sicherheitselements 2 sichtbare Farbkontrast der nach einer 180°- Drehung des Sicherheitselements 2 um die Flächennormale 21 (Fig. 3 ) sich ändert bzw. verschwindet. Das Sicherheitsmerkmal 16 dient somit zum Festlegen einer vorbestimmten Orientierung des Sicherheitselements 2 mit dem nicht holographisch kopierbaren Sicherheitsmerkmal 16. - Nur der Einfachheit halber ist in jedem Flächenteil 13, 14, 15 eine einheitliche Farbe, d.h. eine konstante Neigung γ, als Beispiel angenommen worden. Im allgemeinen weist das Flächenteil 13, 14, 15 einen Ausschnitt aus der Überlagerungsfunktion M(x, y) auf, so dass sich die Neigung γ im Flächenteil 13, 14, 15 in einer vorbestimmten Richtung kontinuierlich ändert und die Wellenlängen der zweiten Strahlen 45 aus einem Bereich beiderseits der Wellenlänge λk stammen. Anstelle der gleichartig begrenzten Flächenteile 13, 14, 15 bilden eine Vielzahl der auf dem Hintergrundfeld 46 angeordneten Flächenteile 13, 14, 15 ein Logo, einen Schriftzug usw.
- In der
Figur 11 ist die Beugungsstruktur S(x, y) komplizierter aufgebaut. Die Überlagerungsfunktion M(x, y) ist eine symmetrische, stückweise stetige, periodische Funktion, deren Wert längs der Koordinatenachse x gemäss z = M(x, y) variiert, während M(x, y) längs der Koordinatenachse y einen konstanten Wert z aufweist. Das z.B. rechteckige Flächenteil 13, 14 (Fig. 10 ), 15 (Fig. 10 ) ist mit seiner Längsseite parallel zur Koordinate x ausgerichtet und in schmale Teilflächen 47 von der Breite b unterteilt, deren Längsseiten parallel zur Koordinatenachse y ausgerichtet sind. Jede Periode 1/Fx der Überlagerungsstruktur M(x; y) erstreckt sich über eine Anzahl t der Teilflächen 47, z.B. ist die Anzahl t im Wertebereich von 5 bis 10. Die Breite b soll 10 µm nicht unterschreiten, da sonst die Beugungsstruktur S(x, y) auf der Teilfläche 47 zuwenig definiert ist. - Die Beugungsstrukturen S(x, y) der benachbarten Teilflächen 47 unterscheiden sich in den Summanden, dem Reliefprofil R(x, y) und dem der Teilfläche 47 zugeordneten Ausschnitt der Überlagerungsfunktion M(x, y). Das Reliefprofil Ri(x, y) der i-ten Teilfläche 47 unterscheidet sich von den beiden Reliefprofilen Ri+1(x, y) und Ri-1(x, y) der benachbarten Teilflächen 47 um wenigstens einen Gitterparameter, wie Azimut, Spatialfrequenz, Profilhöhe h (
Fig. 4 ) usw. Beträgt die Raumfrequenz Fx bzw. Fy höchstens 10 Linien/mm aber nicht weniger als 2,5 Linien/mm, kann der Beobachter 35 (Fig. 5 ) auf dem Flächenteil 13, 14, 15 mit dem blossen Auge keine Unterteilung durch die Perioden der Überlagerungsfunktion M(x, y) mehr erkennen. Die Unterteilung und die Belegung der Teilflächen 47 mit der Beugungsstruktur S(x, y) wiederholt sich in jeder Periode der Überlagerungsfunktion M(x, y). In einer anderen Ausführung des Sicherheitsmerkmals 16 verändert sich das Reliefprofil R(x, y) kontinuierlich als Funktion des Phasenwinkels der periodischen Überlagerungsfunktion M(x, y). - Die in der
Figur 11 dargestellten Beugungsstrukturen S(x, y) sind in der Ausführung des in denFiguren 12 dargestellten Sicherheitsmerkmals 16 eingesetzt, das eine neuartige, optische Wirkung bei der Beleuchtung mit weissem Licht 11 entfaltet, wenn das Sicherheitsmerkmal 16 um die zur Koordinatenachse y parallele Kippachse 41 gekippt wird. Das Sicherheitsmerkmal 16 umfasst das dreieckförmige erste Flächenteil 14, das im rechteckigen zweiten Flächenteil 13 angeordnet ist. Im ersten Flächenteil 14 zeichnet sich die Beugungsstruktur S(x, y) dadurch aus, dass sich die Spatialfrequenz f des Reliefprofils R(x, y) in Richtung der Koordinatenachse x innerhalb jeder Periode der Überlagerungsfunktion M(x, y) schrittweise oder kontinuierlich in einem vorbestimmten Spatialfrequenz- Bereich δf verändert, wobei die Spatialfrequenz fi in der i-ten Teilfläche 47 (Fig. 7 ) grösser ist als die Spatialfrequenz fi-1 in der vorhergehenden (i-1)-ten Teilfläche 47. In jeder Periode weist somit die erste Teilfläche 47 die Spatialfrequenz f mit dem Wert fA auf. Für die Teilfläche 47 im Minimum der Periode ist die Spatialfrequenz f = fM und für die am Ende der Periode gelegenen Teilfläche 47 ist der Wert der Spatialfrequenz f = fE, wobei fA < fM < fE, wobei δf = fE - fA. Im zweiten Flächenteil 13 zeichnet sich die Beugungsstruktur S(x, y) dadurch aus, dass sich die Spatialfrequenz f des Reliefprofils R(x, y) in Richtung der Koordinatenachse x innerhalb einer Periode der Überlagerungsfunktion M(x, y) von der einen Teilfläche 47 zur nächsten schrittweise oder kontinuierlich verkleinert. In einer Ausführung ist als Beispiel die Beugungsstruktur S**(x, y) = R(-x, y) + M(-x, y) des zweiten Flächenteils 13 die an der von den Koordinatenachsen y, z aufgespannten Ebene gespiegelte Beugungsstruktur S(x, y) des ersten Flächenteils 14. Die Gittervektoren und die Spur 36 (Fig. 11 ) der Beugungsebene 20 (Fig. 9 ) sind in beiden Flächenteilen 13, 14 im wesentlichen parallel zur Kippachse 41 ausgerichtet. Der Gradient 38 liegt im wesentlichen parallel zu der von den Koordinatenachsen x und z aufgespannten Ebene. - In der
Figur 12a liegt das Sicherheitsmerkmal 16 in der von den Koordinatenachsen x und y aufgespannten x - y - Ebene, wobei die Betrachtungsrichtung 39 (Fig. 5 ) mit der Koordinatenachse x einen rechten Winkel bildet. Bei senkrecht einfallendem weissen Licht 11 (Fig. 1 ) werden die Teilflächen 47 im Bereich der Minima der Überlagerungsfunktion M(x, y) beleuchtet. Da diese Teilflächen 47 bei beiden Beugungsstrukturen S(x, y), S**(x, y) das gleiche Reliefprofil R(x, y) und dieselbe Neigung γ ≈ 0° aufweisen, stammen die an den beiden Flächenteilen 13, 14 in die Betrachtungsrichtung 39 gebeugten Lichtstrahlen 34 (Fig. 5 ) aus dem gleichen Bereich des sichtbaren Spektrums, z.B. grün, so dass der Farbkontrast auf dem Sicherheitsmerkmal 16 zwischen dem ersten Flächenteil 14 und dem zweiten Flächenteil 13 verschwindet. Beim Kippen des Sicherheitsmerkmals 16 um die Kippachse 41 tritt der Farbkontrast mit zunehmendem Kippwinkel deutlicher hervor, wie dies in derFigur 12b gezeigt ist. Beim Kippen nach links verschiebt sich die Farbe des ersten Flächenteils 14 in Richtung Rot, da die Teilflächen 47 (Fig. 11 ) mit den Reliefprofilen R(x, y) wirksam werden, bei denen die Spatialfrequenz f kleiner als fM ist. Die Farbe des zweiten Flächenteils 13 verschiebt sich in Richtung Blau, da die Teilflächen 47 wirksam werden, bei denen die Spatialfrequenz f des Reliefprofils R(x, y) grösser als fM ist. In derFigur 12c ist das Sicherheitsmerkmal 1 von der in derFigur 12a gezeigten Lage um die Kippachse 41 nach rechts gekippt. Auch beim Kippen nach rechts tritt der Farbkontrast deutlich hervor, jedoch mit vertauschten Farben. Die Farbe des ersten Flächenteils 14 verschiebt sich in Richtung Blau, da die Teilflächen 47 wirksam werden, bei denen die Spatialfrequenz f des Reliefprofils R(x, y) grösser als der Wert fM ist, während sich die Farbe des zweiten Flächenteils 13 in Richtung Rot verschiebt, da die Teilflächen 47 (Fig. 11 ) wirksam werden, bei denen die Spatialfrequenz f des Reliefprofils R(x, y) der Beugungsstruktur S**(x, y) gegenüber dem Wert fM abnimmt. - In einer anderen Ausführung der Beugungsstruktur S(x, y) der
Figur 11 weist das Reliefprofil R(x, y) in den Teilflächen 47 jeder Periode 1/Fx dieselbe Spatialfrequenz f auf, jedoch unterscheidet sich das Reliefprofil R(x, y) von Teilfläche 47 zu Teilfläche 47 durch seinen Azimutwinkel ϕ des Gittervektors relativ zur Koordinatenachse y. Innerhalb einer Periode 1/Fx ändert sich der Azimutwinkel ϕ beispielsweise im Bereich δϕ = ±40° mit ϕ ≈ 0° im Minimum jeder Periode schrittweise oder kontinuierlich. Der Azimutwinkel ϕ ist in Abhängigkeit von der lokalen Neigung γ (Fig. 5 ) der Mittelfläche 33 (Fig. 5 ) so aus dem Bereich δϕ gewählt, dass einerseits die Beugungsstruktur S(x, y) des ersten Flächenteils 14 (Fig. 12a ) bei allen Kippwinkeln um die Kippachse 41 (Fig. 12b, c ) gebeugte Lichtstrahlen 34 (Fig. 5 ) des mittels der Spatialfrequenz f vorbestimmten Farbbereichs, z.B. aus dem Grün - Bereich, in die Betrachtungsrichtung 39 (Fig. 5 ) aussendet und andererseits der zweite Flächenteil 13 (12a), in dem die gespiegelte Beugungsstruktur S**(x, y) abgeformt ist, nur unter einem einzigen vorbestimmten Kippwinkel in der vorbestimmten Farbe, z.B. in einer aus dem Grün - Bereich erzeugten Mischfarbe, aufleuchtet. Bei anderen Kippwinkeln ist das zweite Flächenteil 13 dunkelgrau. Für den hier beispielhaft angeführten Azimutwinkelbereich δϕ = ±20° erstreckt sich der Grün - Bereich von der Wellenlänge λ = 530 nm (ϕ ≈ 0°) bis zur Wellenlänge λ = 564 nm. - In der
Figur 13 ist die in der Beugungsstruktur S(x, y) eingesetzte Überlagerungsfunktion M(x, y) eine asymmetrische Funktion in Richtung der Koordinatenachse x. Die Überlagerungsfunktion M(x, y) steigt innerhalb der Periode 1/Fx aperiodisch von einem Minimalwert bis zu einem Maximalwert an, z.B. wie die Funktion y = const•x1,5. Die Raumfrequenz Fx bzw. Fy liegt im Bereich von 2,5 Linien/mm bis und mit 10 Linien/mm. Nicht gezeigt sind die Unstetigkeitsstellen, die durch die Operation Modulo Hub H (Fig. 7 ) entstehen. Die oben beschriebene "anisotrope" Mattstruktur mit der Vorzugsrichtung im wesentlichen parallel zur Koordinatenachse x ist als Reliefprofil R(x, y) eingesetzt. Das einfallende Licht 11 (Fig. 5 ) wird daher hauptsächlich parallel zur Koordinatenachse y aufgefächert gestreut. Im ersten Flächenteil 14 (Fig. 12a ) ist die Beugungsstruktur S(x, y) = R(x, y) + M(x, y) und im zweiten Flächenteil 13 (Fig. 12a ) ist die Beugungsstruktur S**(x, y) = R(-x, y) + M(-x, y) abgeformt. Anhand derFigur 12a ist die optische Wirkung des Sicherheitsmerkmals 16 bei senkrecht auf die x - y - Ebene einfallendem Licht 11 (Fig. 9 ) erklärt. Liegt das Sicherheitsmerkmal 16 in der x - y - Ebene, wird das einfallende Licht 11 mit grosser Intensität von der Mattstruktur im Bereich der Minima der Überlagerungsfunktion M(x, y) gestreut, die Streuwirkung der übrigen Flächenteile 47 der Beugungsstrukturen S(x, y), S**(x, y) ist zu vernachlässigen. Das von den Flächenteilen 13, 14 rückgestreute Licht weist die Farbe des einfallenden Lichts 11 (Fig. 5 ) auf und hat in beiden Flächenteilen 13, 14 die gleiche Flächenhelligkeit, so dass kein Kontrast zwischen den beiden Flächenteilen 13, 14 erkennbar ist. In derFigur 12 b trifft das einfallende Licht 11 (Fig. 5 ) unter einem Einfallswinkel α auf das Sicherheitsmerkmal 16, das nach links um die Kippachse 41 gekippt ist. Nur noch im zweiten Flächenteil 13 wird das einfallende Licht 11 (Fig. 5 ) gestreut. Bei dieser Beleuchtungsbedingung ist die Flächenhelligkeit des ersten Flächenteils 14 um Grössenordnungen kleiner als beim zweiten Flächenteil 13, so dass sich das erste Flächenteil 14 als dunkle Fläche gegen das helle zweite Flächenteil 13 abhebt. In derFigur 12c ist das Sicherheitsmerkmal 16 nach rechts weggekippt, wobei nun die Flächenhelligkeiten der beiden Flächenteile 13, 14 vertauscht sind. - In den
Figuren 12a bis 12c könnten anstelle eines einzigen dreieckförmigen ersten Flächenteils 14 auf dem zweiten Flächenteil 13 eine Vielzahl der ersten Flächenteile 14 angeordnet sein, die ein Logo, einen Schriftzug usw. bilden. - In einer weiteren Ausführung finden anstelle der einfachen mathematischen Funktionen auch Reliefbilder, wie sie auf Münzen und Medaillen verwendet werden, als wenigstens stückweise stetige Überlagerungsfunktion M(x, y) in der Beugungsstruktur S(x, y) Verwendung, wobei mit Vorteil das Reliefprofil R(x, y) eine "isotrope" Mattstruktur ist. Der Beobachter des Sicherheitselements 2 in dieser Ausführung erhält den Eindruck eines dreidimensionalen Bildes mit einer charakteristischen Oberflächenstruktur. Beim Drehen und Kippen des Sicherheitselements 2 verändert sich die Helligkeitsverteilung im Bild entsprechend der Erwartung bei einem echten Reliefbild, jedoch werfen vorragende Elemente keinen Schatten.
- Ohne von der Idee der Erfindung abzuweichen, sind alle Beugungsstrukturen S in ihrer Strukturhöhe auf den Wert HSt (
Fig. 1 ) beschränkt, wie dies anhand derFigur 7 erläutert wurde. Die in den oben beschriebenen, speziellen Ausführungen verwendeten Reliefprofile R(x, y) und Überlagerungsfunktionen M(x, y) sind beliebig zu anderen Beugungsstrukturen S(x, y) kombinierbar. - Die Verwendung der oben beschriebenen Sicherheitsmerkmale 16 im Sicherheitselement 2 weist den Vorteil auf, dass das Sicherheitsmerkmal 16 eine wirksame Barriere gegen Versuche bildet, das Sicherheitselement 2 holographisch zu kopieren. In einer holographischen Kopie sind die Lageverschiebungen bzw. Farbverschiebungen auf der Fläche des Sicherheitsmerkmals 16 nur in veränderter Form zu erkennen.
Claims (19)
- Sicherheitselement (2) aus einem Schichtverbund (1) mit zwischen transparenten Schichten (4, 5; 6) des Schichtverbunds (1) eingebetteten, mikroskopisch feinen optisch wirksamen Strukturen (9) eines Flächenmusters (12), wobei die optisch wirksamen Strukturen (9) in Flächenteilen (13; 14; 15; 46) eines Sicherheitsmerkmals (16) in einer von Koordinatenachsen (x; y) aufgespannten Ebene des Flächenmusters (12) in eine reflektierende Grenzfläche (8) zwischen den Schichten (5; 6) abgeformt sind,
dadurch gekennzeichnet,
dass wenigstens ein Flächenteil (13; 14; 15) mit Abmessungen grösser als 0,4 mm eine durch additive bzw. subtraktive Überlagerung einer eine makroskopische Struktur beschreibenden Überlagerungsfunktion (M) mit einem makroskopisch feinen Reliefprofil (R) gebildete Beugungsstruktur (S; S*; S**) aufweist, wobei die Überlagerungsfunktion (M), das Reliefprofil (R) und die Beugungsstruktur (S; S*; S**) Funktionen der Koordinaten (x; y) sind und das Reliefprofil (R) eine lichtbeugende oder lichtstreuende optisch wirksame Struktur (9) beschreibt, die der Überlagerungsfunktion (M) folgend das vorbestimmte Reliefprofil (R) beibehält,
und dass eine durch die wenigstens stückweise stetige Überlagerungsfunktion (M) definierte Mittelfläche (33) wenigstens in Teilbereichen gekrümmt ist und in jedem Punkt einen durch den Gradienten der Überlagerungsfunktion (M) vorbestimmten lokalen Neigungswinkel (γ) aufweist, keine periodische Dreieck- oder Rechteckfunktion ist und sich im Vergleich zum Reliefprofil (R) langsam ändert. - Sicherheitselement (2) nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Überlagerungsfunktion (M) eine stückweise stetige, periodische Funktion mit einer Raumfrequenz (F) von höchstens 20 Linien/mm ist. - Sicherheitselement (2) nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Überlagerungsfunktion (M) eine asymmetrische, stückweise stetige, periodische Funktion mit einer Raumfrequenz (F) im Bereich 2,5 Linien/mm bis 10 Linien/mm ist. - Sicherheitselement (2) nach Anspruch 1
dadurch gekennzeichnet,
dass im Flächenteil (13, 14, 15) benachbarte Extremwerte der Überlagerungsfunktion (M) um wenigstens 0.025 mm von einander entfernt sind. - Sicherheitselement (2) nach einem der Ansprüche 2 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Reliefprofil (R) ein Beugungsgitter (32) mit konstanter Profilhöhe (h) ist, das einen Gittervektor mit einem Azimutwinkel (ϕ) und eine Spatialfrequenz (f) grösser als 300 Linien/mm aufweist. - Sicherheitselement (2) nach einem der Ansprüche 2 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Reliefprofil (R) eine anisotrope Mattstruktur ist, die eine Vorzugsrichtung mit einem Azimutwinkel (ϕ) aufweist. - Sicherheitselement (2) nach Anspruch 5 oder 6,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Sicherheitsmerkmal (16; 16') wenigstens zwei benachbarte Flächenteile (13; 14; 15) aufweist, und dass im ersten Flächenteil (14) die erste Beugungsstruktur (S) und im zweiten Flächenteil (13; 15) die sich von der ersten Beugungsstruktur (S) unterscheidende zweite Beugungsstruktur (S*; S**) abgeformt sind, wobei der Gittervektor bzw. die Vorzugsrichtung des ersten Reliefprofils (R) im ersten Flächenteil (14) und der Gittervektor bzw. die Vorzugsrichtung des zweiten Reliefprofils (R) im zweiten Flächenteil (13; 15) im wesentlichen parallel gerichtet sind. - Sicherheitselement (2) nach einem der Ansprüche 5 bis 7,
dadurch gekennzeichnet,
dass in der Beugungsstruktur (S; S*; S**) der Gittervektor bzw. die Vorzugsrichtung des Reliefprofils (R) im wesentlichen parallel zu einer Gradientenebene liegt, die durch den Gradienten (38) der Überlagerungsfunktion (M) und einer senkrecht auf der Oberfläche des Schichtverbunds (1) stehenden Flächennormale (21) bestimmt ist. - Sicherheitselement (2) nach einem der Ansprüche 5 bis 8,
dadurch gekennzeichnet,
dass in einem ersten Flächenteil (14) die erste Beugungsstruktur (S) abgeformt ist, die als Summe aus dem Reliefprofil (R) und der Überlagerungsfunktion (M) gebildet ist, und dass in einem zweiten Flächenteil (13; 15) die zweite Beugungsstruktur (S*) abgeformt ist, die als Differenz (R - M) aus dem gleichen Reliefprofil (R) und der gleichen Überlagerungsfunktion (M) gebildet ist. - Sicherheitselement (2) nach einem der Ansprüche 5 bis 9,
dadurch gekennzeichnet,
dass in der Beugungsstruktur (S; S*; S**) der Gittervektor bzw. die Vorzugsrichtung des Reliefprofils (R) im wesentlichen senkrecht zu einer Gradientenebene liegt, die durch den Gradienten (38) der Überlagerungsfunktion (M) und einer senkrecht auf der Oberfläche des Schichtverbunds 1 stehenden Flächennormale (21) bestimmt ist. - Sicherheitselement (2) nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Reliefprofil (R) ein Beugungsgitter (32) ist, das einen Gittervektor mit einem Azimutwinkel (ϕ) und eine Spatialfrequenz (f) grösser als 300 Linien/mm aufweist, dass das Flächenteil (13; 14; 15) in jeder Periode (1/F) der Überlagerungsfunktion (M) in eine Anzahl t Teilflächen (47) von der Breite 1/(F•t) unterteilt ist, dass sich das der einen Teilfläche (47) zugeordnete Beugungsgitter (32) der Beugungsstruktur (S; S*; S**) in wenigstens einem der Gitterparameter von den Beugungsgittern (32) der benachbarten Teilflächen (47) unterscheidet, dass sich die Unterteilung und die Belegung der Teilflächen (47) mit der Beugungsstruktur (S; S*; S**) in jeder Periode (1/F) wiederholt, und dass das Beugungsgitter (32) den Azimutwinkel (ϕ) und/oder die Spatialfrequenz (f) entsprechend der lokalen Neigung (γ) in der Teilfläche (47) aufweist, und dass innerhalb jeder Periode (1/F) die Gitterparameter des Beugungsgitter (32) schrittweise oder kontinuierlich einen vorbestimmten Azimutwinkelbereich (δϕ) bzw. einen vorbestimmten Spatialfrequenz- Bereich (δf) durchmessen. - Sicherheitselement (2) nach einem der Ansprüche 5, 6 und 11,
dadurch gekennzeichnet,
dass im ersten Flächenteil (14) die erste Beugungsstruktur (S) aus der Summe aus dem Reliefprofil (R) und der Überlagerungsfunktion (M) gebildet ist, und dass im zweiten Flächenteil (13; 15) die Beugungsstruktur (S**) die an der Ebene des Flächenmusters (12) gespiegelte erste Beugungsstruktur (S) ist. - Sicherheitselement (2) nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet,
dass in wenigstens einem Flächenteil (13; 14; 15) die als Summe aus der Überlagerungsfunktion (M) und dem Reliefprofil (R) gebildete Beugungsstruktur (S) abgeformt ist, dass die Spatialfrequenz (f1) des Reliefprofils (R) kleiner als 2400 Linien/mm ist und die Überlagerungsfunktion (M) in der Beugungsebene (20) des Reliefprofils (R) gemessene lokale Neigung (γ) aufweist, dass das Flächenteil (13; 14; 15) an ein Hintergrundfeld (46) des Sicherheitsmerkmals (16) grenzt, dass das Hintergrundfeld (46) parallel zur Deckschicht (4) die Mittelfläche (33) mit der Neigung γ = 0° aufweist, in die ein sinusförmiges Beugungsgitter (32) mit einer zweiten Spatialfrequenz (f2) und mit einem in der Beugungsebene (20) des Reliefprofils (R) parallel ausgerichteten Gittervektor abgeformt ist,
dass die zweite Spatialfrequenz (f2) so gewählt ist, dass sich bei senkrechter Beleuchtung mit weissem Licht (11) in der einen Betrachtungsrichtung unter einem vorbestimmten positiven Betrachtungswinkel (+ϑ) das Flächenteil (13; 14; 15) und das Hintergrundfeld (46) in der Farbe des gebeugten Lichts nicht unterscheiden und dass sich nach einer 180° Drehung des Schichtverbunds (2) um die Flächennormale (21) unter dem negativen Betrachtungswinkel (-ϑ) der Flächenteil (13; 14; 15) und das Hintergrundfeld (46) in der Farbe des gebeugten Lichts unterscheiden. - Sicherheitselement (2) nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Reliefprofil (R) eine isotrope Mattstruktur ist. - Sicherheitselement (2) nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Überlagerungsfunktion (M) ein Reliefbild beschreibt. - Sicherheitselement (2) nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Überlagerungsfunktion (M) eine Kugelkalotte beschreibt. - Sicherheitselement (2) nach einem der Ansprüche 1 bis 16,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Beugungsstruktur (S; S*; S**) auf eine Strukturhöhe (HST) von weniger als 40 µm und die Überlagerungsfunktion (M) auf einen Hub (H) von weniger als 30 µm beschränkt sind, wobei der in der Beugungsstruktur (S; S*; S**) eingesetzte Wert (z) der Überlagerungsfunktion (M) gleich {(M) + C(x; y)} modulo Hub (H) - C(x; y) ist, wobei die Funktion C(x; y) betragsmässig auf die halbe Strukturhöhe (HST) beschränkt ist. - Sicherheitselement (2) nach einem der Ansprüche 1 bis 17,
dadurch gekennzeichnet,
dass weitere Flächenelemente (17; 18; 19) mit den optisch wirksamen Strukturen (9) Teile des Flächenmusters (12) sind und dass wenigstens eines der Flächenelemente (17; 18; 19) an das Sicherheitsmerkmal (16) angrenzt. - Sicherheitselement (2) nach einem der Ansprüche 1 bis 18,
dadurch gekennzeichnet,
dass auf wenigstens einem der Flächenteile (13; 14; 15) wenigstens eine Kennmarke (37) mit einer der sich von der Beugungsstruktur (S; S*; S**)
unterscheidenden optisch wirksamen Struktur (9) angeordnet ist und dass die als Referenz zum Ausrichten des Schichtverbunds (1) verwendbare Kennmarke (37)
eine der optisch wirksamen Strukturen (9) aus der Gruppe der diffraktiven oder lichtstreuenden Reliefstrukturen oder eine Spiegelfläche aufweist.
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