DOMAINE TECHNIQUE
L'invention concerne une structure de
cathode à couche émissive formée sur une couche
résistive, cette structure de cathode étant utilisable
dans un écran plat à émission de champ.
ETAT DE LA TECHNIQUE ANTERIEURE
Un dispositif de visualisation par cathodo-luminescence
excité par émission de champ comprend une
cathode ou structure émettrice d'électrons et une anode
en regard recouverte d'une couche luminescente. L'anode
et la cathode sont séparées par un espace où le vide a
été fait.
La cathode est soit une source à base de
micro-pointes, soit une source à base d'une couche
émissive à faible champ seuil. La couche émissive peut
être une couche de nanotubes de carbone ou d'autres
structures à base de carbone ou encore à base d'autres
matériaux ou de multicouches (AlN, BN).
La structure de la cathode peut être de
type diode ou de type triode. Les structures triodes
possèdent une électrode supplémentaire appelée grille
et facilitant l'extraction des électrons de la source
émissive. Plusieurs structures triodes ont déjà été
envisagées. On peut les classer en deux grandes
familles en fonction de la position de la grille par
rapport à la cathode.
Une première famille de structures triodes
regroupe les structures où le conducteur cathodique est
déposé au fond de trous réalisés dans une couche
isolante et où la grille est située sur la couche
isolante. Ces structures triodes seront appelées par la
suite structures de type I. Une telle structure triode
est décrite dans le document FR-A-2 593 953
(correspondant au brevet américain N° 4 857 161) qui
divulgue un procédé de fabrication d'un dispositif de
visualisation par cathodo-luminescence excité par
émission de champ. Le matériau émetteur d'électrons est
déposé sur une couche conductrice apparente au fond de
trous réalisés dans une couche isolante qui supporte
une grille d'extraction des électrons.
La figure 1 représente, vue en coupe et de
façon schématique, une structure de cathode de type I
selon l'art connu, pour un dispositif de visualisation
par cathodo-luminescence excité par émission de champ.
Un seul dispositif d'émission est représenté sur cette
figure. Une couche 1 en matériau électriquement isolant
est percée d'un trou circulaire 2. Au fond du trou 2
est disposée une couche conductrice 3 formant cathode
et supportant une couche 4 de matériau émetteur
d'électrons. La face supérieure de la couche d'isolant
1 supporte une couche métallique 5 formant grille
d'extraction et entourant le trou 2.
Une deuxième famille de structures triodes
regroupe des structures où le conducteur cathodique est
déposé sur une couche isolante et où la grille est
située sous la couche isolante. Ces structures triodes
seront appelées par la suite structures de type II. De
telles structures triodes sont décrites dans les
documents FR-A-2 798 507 et FR-A-2 798 508.
La figure 2 représente, vue en coupe et de
façon schématique, une structure de cathode de type II
selon l'art connu, pour un dispositif de visualisation
par cathodo-luminescence excité par émission de champ.
Un seul dispositif d'émission est représenté sur cette
figure. Une couche 11 en matériau électriquement
isolant supporte sur sa face inférieure une électrode
de grille 15 constituée de deux parties encadrant une
cathode 13 disposée sur la face supérieure de la couche
11 et supportant une couche 14 de matériau émetteur
d'électrons.
Pour que les structures de cathodes de type
I et II fonctionnent correctement au niveau de
l'émission électronique, il est nécessaire de
complexifier l'empilement au niveau de la cathode en
rajoutant, entre le conducteur de cathode et la couche
émissive, une couche résistive dont l'objectif est de
limiter le courant émis par les émetteurs individuels
afin de rendre l'émission uniforme comme l'enseigne le
document EP-A-0 316 214 (correspondant au brevet
américain N° 4 940 916).
La localisation d'une couche émettrice en
des zones précises d'un écran nécessite le dépôt sur
ces zones d'une couche de catalyseur (typiquement Fe,
Co, Ni ou des alliages de ces matériaux), ce qui permet
ensuite la croissance sélective de la couche émettrice.
Ces zones sont appelées zones de croissance.
L'empilement complet au-dessus du
conducteur cathodique pour les structures de cathodes
de type I et II, après croissance de la couche
émettrice est représenté à la figure 3. Cette figure,
qui est une vue en coupe transversale, montre un
conducteur de cathode 23 supportant successivement une
couche résistive 26, une couche de catalyseur 27 et une
couche émissive 24.
Les problèmes rencontrés lors de
l'élaboration de ces dispositifs sont liés à la
croissance de la couche émissive qui se fait à haute
température (de 500°C à 700°C). Cette étape conduit à
la diffusion d'une partie du catalyseur métallique dans
la couche résistive qui est généralement en silicium.
Cette diffusion rend la couche résistive très
conductrice, ce qui supprime son rôle fondamental de
régulateur de l'émission. La figure 4 montre, pour le
dispositif de la figure 3, un volume 28 de diffusion du
catalyseur métallique dans la couche résistive 26 à
l'issue de l'étape de croissance de la couche émissive
24. Ce problème est commun aux structures de cathodes
de type I et II.
EXPOSÉ DE L'INVENTION
Pour remédier à ce problème, il est proposé
par la présente invention une structure dans laquelle
l'intégrité de la couche résistive est maintenue après
la croissance de la couche émissive, ce qui permet
d'assurer une émission électronique uniforme.
L'invention a pour objet une structure de
cathode de type triode comprenant un ensemble
cathodique constitué d'une électrode de cathode, d'une
couche de matériau émetteur d'électrons formée à partir
d'une zone de croissance et destinée à émettre des
électrons à partir d'une face d'émission, et d'une
couche résistive interposée entre l'électrode de
cathode et la couche de matériau émetteur d'électrons
pour les relier électriquement, la structure comprenant
aussi une électrode de grille séparée dudit ensemble
cathodique par une couche d'isolant électrique,
caractérisée en ce que l'électrode de cathode et la
couche de matériau émetteur d'électrons sont disposées
latéralement l'une par rapport à l'autre.
Selon un mode particulier de réalisation,
la zone de croissance étant constituée de plusieurs
plots de croissance séparés les uns des autres, la
couche de matériau émetteur d'électrons est répartie
sur ces plots. La couche résistive peut alors être
éliminée entre les plots de croissance.
La structure de cathode peut être de type
I, auquel cas l'électrode de grille est située, par
rapport audit ensemble cathodique, du côté de la face
d'émission de la couche de matériau émetteur
d'électrons. Si une ouverture est pratiquée dans
l'électrode de grille et dans la couche d'isolant
électrique pour exposer la couche de matériau émetteur
d'électrons, la couche de matériau émetteur d'électrons
peut être située dans la partie centrale de
l'ouverture. Elle peut aussi occuper toute la largeur
de l'ouverture, l'électrode de cathode étant en retrait
latéral par rapport à l'ouverture. Avantageusement,
l'ouverture formant une tranchée rectangulaire, la
couche de matériau émetteur d'électrons a également une
forme rectangulaire. Si, comme il est dit plus haut, la
zone de croissance est constituée de plusieurs plots de
croissance séparés les uns des autres et que les plots
de croissance sont ronds, l'ouverture peut comprendre
autant de trous cylindriques, tangents ou non, centrés
sur les plots.
Avantageusement, l'électrode de cathode
comprend deux parties encadrant la couche de matériau
émetteur d'électrons.
La structure de cathode peut être de type
II, auquel cas l'électrode de grille est située, par
rapport audit ensemble cathodique, du côté opposé à la
face d'émission de la couche de matériau émetteur
d'électrons.
Avantageusement, l'électrode de grille
comprend deux parties encadrant l'ensemble cathodique.
De préférence, l'électrode de cathode est centrée entre
les deux parties de l'électrode de grille, la zone de
croissance étant constituée d'au moins un groupe de
deux plots de croissance situés de part et d'autre de
l'électrode de cathode.
Quel que soit le type de structure de
cathode, la zone de croissance peut être un multicouche
de croissance. Ce multicouche de croissance peut être
connecté électriquement à la couche résistive par
l'intermédiaire d'un conducteur métallique.
L'invention a aussi pour objet un écran
plat à émission de champ comportant une pluralité de
structures de cathode telles que définies ci-dessus.
BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS
L'invention sera mieux comprise et d'autres
avantages et particularités apparaítront à la lecture
de la description qui va suivre, donnée à titre
d'exemple non limitatif, accompagnée des dessins
annexés parmi lesquels :
- la figure 1, déjà décrite, est une vue en
coupe transversale d'une structure de cathode à couche
émissive, de type triode selon l'art connu,
- la figure 2, déjà décrite, est une vue en
coupe transversale d'une structure de cathode à couche
émissive de type triode selon l'art connu,
- les figures 3 et 4, déjà décrites, sont
des vues en coupe transversale d'un ensemble cathodique
comportant en superposition un conducteur de cathode,
une couche résistive, une couche de catalyseur et une
couche émissive, selon l'art connu,
- la figure 5 est une vue en coupe
transversale d'une structure de cathode à couche
émissive, de type I, selon la présente invention,
- les figures 6 et 7 sont des vues de
dessus d'une structure de cathode à couche émissive, de
type I, selon la présente invention,
- la figure 8 est une vue en coupe
transversale d'une autre structure de cathode à couche
émissive, de type I, selon la présente invention,
- la figure 9 est une vue de dessus
d'encore une autre structure de cathode à couche
émissive, de type I, selon la présente invention,
- les figures 10 et 11 sont respectivement
des vues en coupe transversale et de dessus d'une
structure de cathode à couche émissive, de type II,
selon la présente invention,
- la figure 12 est une vue en coupe
transversale et explicative d'une partie d'ensemble
cathodique selon la présente invention,
- la figure 13 est une vue en coupe
transversale d'une variante d'un ensemble cathodique
selon la présente invention,
- les figures 14A à 14I illustrent des
procédés de réalisation d'une structure de cathode à
couche émissive, de type I, selon la présente
invention.
DESCRIPTION DETAILLEE DE MODES DE REALISATION DE
L'INVENTION
La figure 5 est une vue en coupe
transversale d'une structure de cathode à couche
émissive, de type I, selon la présente invention. Cette
structure de cathode comprend, en superposition sur un
support 30, une électrode de cathode 33 en deux
parties, une couche résistive 36 recouvrant les deux
parties de l'électrode de cathode 33 et la surface du
support 30 située entre ces deux parties, une couche
isolante 31 et une couche métallique 35 formant grille
d'extraction des électrons. Un trou 32 expose la couche
résistive 36. Au centre du trou 32, une couche de
matériau émissif 34, formée à partir d'une zone de
croissance, repose sur la couche résistive 36.
Le trou 32 est par exemple une tranchée de
largeur L réalisée dans la couche isolante 31 et la
grille d'extraction 35. La largeur d de la zone de
croissance de la couche de matériau émissif 34 est
faible par rapport à la largeur L. Cette zone de
croissance est située à une distance S des parties de
l'électrode de cathode 33. Elle est reliée
électriquement à ces parties par l'intermédiaire de la
couche résistive 36 d'épaisseur e. Les parties de
l'électrode de cathode 33 sont situées à l'aplomb de la
grille d'extraction 35. Elles pourraient également être
en retrait par rapport à l'aplomb de la grille.
La zone de croissance peut être discontinue
et structurée en plots comme le montre la figure 6 qui
est une vue de dessus possible de la structure de
cathode de la figure 5. Elle montre que la couche de
matériau émissif 34 est répartie sur deux plots de
croissance séparés d'une distance U qui est du même
ordre de grandeur que la distance S.
Une autre vue de dessus possible de la
structure de cathode de la figure 5 est celle montrée à
la figure 7. Dans cette variante de réalisation, la
couche résistive 36 est gravée entre les plots de
croissance de la couche de matériau émissif 34.
La figure 8 est une vue en coupe
transversale d'une structure de cathode à couche
émissive, de type I, selon la présente invention. Cette
structure de cathode comprend en superposition sur un
support 40, une électrode de cathode 43 en deux
parties, une couche résistive 46 recouvrant les deux
parties de l'électrode de cathode 43 et la surface du
support 40 située entre ces deux parties, une couche
isolante 41 et une couche métallique 45 formant grille
d'extraction des électrons. Un trou 42, par exemple une
tranchée de largeur L, est réalisé dans la couche
isolante 41 et la grille d'extraction 45.
La couche de matériau émissif 44 est formée
à partir d'une zone de croissance déposée sur la couche
résistive 46 et qui occupe tout le fond de la tranchée
42. Elle est donc de même largeur que la largeur de la
tranchée. L'électrode de cathode est en retrait d'une
distance S par rapport à la tranchée.
La figure 9 est une vue de dessus d'encore
une autre structure de cathode à couche émissive, de
type I, selon la présente invention. Dans cette
variante, la couche émissive 54 est formée sur des
plots de croissance ronds et est située au fond de
trous cylindriques 52, tangents ou non, centrés sur ces
plots. Cette figure montre également la couche
résistive 56 sur laquelle sont formés les plots de
croissance, la grille d'extraction 55 et l'électrode de
cathode 53 en deux parties.
Les figures 10 et 11 sont respectivement
des vues en coupe transversale et de dessus d'une
structure de cathode à couche émissive, de type II,
selon la présente invention. La figure 10 est une vue
selon la coupe X-X de la figure 11.
En se référant aux figures 10 et 11, un
support 60 supporte successivement, une électrode de
grille 65 en deux parties, une couche isolante 61 et un
ensemble cathodique centré sur l'électrode de grille
65. L'ensemble cathodique comprend une électrode de
cathode 63, une couche résistive 66 de largeur L
déposée sur l'électrode de cathode 63 et débordant de
part et d'autre de cette électrode, et une couche
émissive 64 formée sur plusieurs plots déposés sur les
parties débordantes de l'électrode de cathode 63. Comme
le montre la figure 11, la couche résistive 66 est
distribuée en deux groupes supportant chacun deux plots
de croissance.
Les plots de croissance sont de largeur d
et sont situés à une distance S de l'électrode de
cathode 63.
Une variante de l'invention dans ce cas
consisterait à avoir une couche résistive continue et
non pas gravée en bandes.
Les difficultés rencontrées par l'art
antérieur pour les structures de type I et II sont
résolues par l'invention. Le court-circuit de la couche
résistive qui se produisait dans les structures de
l'art antérieur, par diffusion du catalyseur dans cette
couche résistive, est supprimé grâce au déport de
l'électrode de cathode. En effet, la diffusion se fait
préférentiellement dans l'épaisseur de la couche
résistive et ne détruit donc pas la résistance
latérale, le déport étant tel qu'il subsiste une
résistance satisfaisante. La répartition de la couche
émissive en des plots séparés assure en outre
l'indépendance électrique des zones émettrices les unes
par rapport aux autres et donc une action indépendante
de la couche résistive pour chaque plot, ce qui assure
l'uniformité de l'émission.
Il est possible de donner empiriquement une
distance minimum à S, c'est-à-dire à la distance
séparant la zone de croissance de l'électrode de
cathode. Cette distance doit être supérieure à la
diffusion latérale du catalyseur.
La figure 12 est une vue en coupe
transversale d'une partie d'ensemble cathodique selon
l'invention. Elle montre une couche résistive 76
déposée sur un support 70 et une couche de catalyseur
77 située sur la couche résistive et destinée à servir
de zone de croissance. Lors de la croissance de la
couche émissive, la diffusion du catalyseur se fait
dans un volume de diffusion 28 s'étalant sur une
distance voisine de l'épaisseur e de la couche
résistive 76. On peut estimer que S doit être de
l'ordre de plusieurs fois l'épaisseur e, soit
typiquement de 3 à 5 µm. Cette valeur est purement
indicative et non limitative.
Dans les exemples de réalisation décrits
précédemment, la zone de croissance est simplement
constituée par une couche de catalyseur. En fait, la
zone de croissance peut être constituée d'un empilement
de matériaux choisis pour favoriser la croissance de
structures carbonées émettrices d'électrons. Il est
également possible de ne pas réaliser la zone de
croissance directement sur la couche résistive, mais de
la connecter à la couche résistive par l'intermédiaire
d'un conducteur métallique faisant partie de la
structure de croissance.
C'est ce que montre la figure 13 qui est
une vue en coupe d'une partie d'un ensemble cathodique
pour une structure de cathode de type II, conformément
à l'invention. Une couche isolante 81 supporte une
électrode de cathode 83 et une couche résistive 86
chevauchant l'électrode de cathode 83. La couche
résistive 86 est, latéralement, en contact électrique
avec un conducteur métallique 89 sur lequel a été formé
un multicouche de croissance 87. Le multicouche de
croissance peut être par exemple un empilement
comprenant du TiN et un matériau catalyseur tel que Fe,
Co, Ni et Pt. Le conducteur métallique 89 peut être un
métal tel que Cr, Mo et Nb.
Les figures 14A à 14F illustrent un procédé
de réalisation d'une structure de cathode de type I
selon l'invention, ce procédé mettant en oeuvre des
techniques de dépôt sous vide et de photolithographie.
Le conducteur cathodique est obtenu par
dépôt d'un matériau conducteur, par exemple le
molybdène, le niobium, le cuivre ou l'ITO, sur un
support 100 (voir la figure 14A). Le dépôt de matériau
conducteur est gravé en bandes, typiquement de 10 µm de
largeur et de pas égal à 25 µm. La figure 14A montre
deux bandes qui seront associées pour former une
électrode de cathode 103.
Plusieurs dépôts sont ensuite réalisés
comme le montre la figure 14B : une couche résistive
106 de 1,5 µm d'épaisseur en silicium amorphe, puis une
couche isolante 101 de 1 µm d'épaisseur en silice ou en
nitrure de silicium, enfin une couche métallique 105 en
niobium ou en molybdène destinée à former la grille
d'extraction des électrons.
La couche métallique 105 et la couche
isolante 101 sont ensuite gravées simultanément d'un
trou ou tranchée 102 de 15 µm de largeur jusqu'à
exposer la couche résistive 106. C'est ce que montre la
figure 14C.
La figure 14D montre la structure obtenue
après le dépôt d'une couche sacrificielle 107 en résine
et la formation dans la couche 107 d'une ouverture 108,
de 6 um de largeur et de 10 à 15 um de longueur,
exposant la couche résistive 106. L'ouverture 108 a une
largeur correspondant à la largeur de la couche
émissive à réaliser.
Un dépôt catalytique de fer, de cobalt ou
de nickel est ensuite réalisé sur la structure. Comme
le montre la figure 14E, ce dépôt catalytique provoque
la formation d'une couche discontinue de croissance 109
sur la couche sacrificielle 107 et sur la partie
exposée de la couche résistive 106.
La couche sacrificielle est ensuite
éliminée par une technique de "lift-off", ce qui
provoque l'élimination des parties de la couche de
croissance situées sur cette couche sacrificielle. Il
subsiste une partie de couche de croissance dans la
partie centrale de la couche résistive 106. Ceci permet
la croissance de la couche émissive 104 comme le montre
la figure 14F.
Une variante de cette structure de cathode
comporte un multicouche à la place du catalyseur, par
exemple un bicouche constitué d'une couche barrière
comme du TiN et ensuite un catalyseur. Le multicouche
peut aussi être plus complexe afin de favoriser la
croissance de la couche émettrice.
Le procédé de réalisation d'une structure
de cathode où la zone de croissance est connectée à la
couche résistive par l'intermédiaire d'un conducteur
métallique débute par les mêmes étapes 14A à 14D que le
procédé décrit précédemment. Ces étapes sont alors
suivies des étapes illustrées par les figures 14G à
14I.
La figure 14G montre que la couche
résistive 106 a été gravée dans le prolongement du trou
108 jusqu'à révéler le support 100.
Ensuite, comme le montre la figure 14H, une
couche métallique 119 est déposée pour assurer le
contact électrique entre la zone de croissance et la
couche résistive 106. On dépose ensuite une couche 117
de catalyseur ou une structure multicouche sur la
couche métallique 119.
La couche sacrificielle 107 est ensuite
éliminée par une technique de "lift-off", ce qui
provoque l'élimination des parties de la couche
métallique 119 et de la couche de catalyseur 117
situées sur cette couche sacrificielle. Il subsiste une
partie de la couche métallique 119 sur le support 100
pour relier la couche résistive 106 au plot de
catalyseur 117 déposé sur cette partie de couche
métallique 119 comme le montre la figure 14I. La
croissance de la couche émissive peut alors
s'effectuer.