EP1100742B1 - Messvorrichtung für fadenförmige prüfkörper - Google Patents

Messvorrichtung für fadenförmige prüfkörper Download PDF

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EP1100742B1
EP1100742B1 EP99930974A EP99930974A EP1100742B1 EP 1100742 B1 EP1100742 B1 EP 1100742B1 EP 99930974 A EP99930974 A EP 99930974A EP 99930974 A EP99930974 A EP 99930974A EP 1100742 B1 EP1100742 B1 EP 1100742B1
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measuring
measuring device
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gap
slit
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Cyrill Bucher
Roger Pidoux
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Uster Technologies AG
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Zellweger Luwa AG
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H63/00—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package
    • B65H63/06—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package responsive to presence of irregularities in running material, e.g. for severing the material at irregularities ; Control of the correct working of the yarn cleaner
    • B65H63/062—Electronic slub detector
    • B65H63/065—Electronic slub detector using photo-electric sensing means, i.e. the defect signal is a variation of light energy
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H2701/00—Handled material; Storage means
    • B65H2701/30—Handled filamentary material
    • B65H2701/31—Textiles threads or artificial strands of filaments

Definitions

  • the invention relates to a measuring device for a filiform test specimen, with a Measuring gap with measuring zones, for measuring properties on a moving test specimen, have the elements of a measuring device and are assigned to a measuring device.
  • Such a measuring device for yarn is known for example from US-A-3,377,852.
  • two electrodes are like this in a gap in a plastic block let in that these together form a measuring capacitor, the measuring field of which Gap crossed.
  • the surface of this gap is made of a thin layer of one Material coated, whose electrical conductivity is lower than that of the electrodes is. This is to ensure that locally occurring static charges caused by touch arise with the moving yarn, spread over this layer and break down.
  • a disadvantage of such a known measuring device is the fact that the dimensioning the conductivity of the thin layer is very difficult because it should be avoided that the layer causes the surface of the electrodes to expand.
  • Measuring gaps in optically operating yarn measuring devices can be Yarn become dirty, which affects the optical measurement. This pollution can counteract a certain self-cleaning by the moving yarn. To pollution To be able to fight effectively through self-cleaning must favorable coordination of the dimensions of the measuring gap are taken into account. That stands contrary to that with narrow measuring gaps with an impermissible wear of the side surfaces or the elements built into it, but this limits the freedom of design generally in the area of such measuring gaps and in yarn measuring devices.
  • the problem to be solved by the invention is now to find the possibilities in devices for measuring filiform test specimens, in particular in the Increase the formation of the measuring gap.
  • This coating preferably covers electrodes, Lenses or windows of optical devices embedded in the side walls of the measuring gap are or parts thereof, as well as gaps or joints between the above Devices or electrodes and the remaining parts of the measuring gap.
  • the coating is done by printing, immersing, steaming, sputtering or spraying the Measuring gap with a material, preferably with the surface of the parts mentioned a chemical bond is formed in the gap and a layer thickness of e.g. 20-30 nm remains applied.
  • the advantages that can be achieved in this way can be seen in particular in the fact that the service life of the measuring gap can be increased.
  • the measuring field ie the space in which the beam path of an optical system or the electrical field of a capacitive system extends, can be reduced. This can be achieved on the one hand by a reduced gap width and on the other hand by a smaller surface area of the electrodes or of the optical elements which adjoin the measuring gap.
  • Another advantage is that the effect of self-cleaning the measuring gap can be better exploited. This can be done by reducing the gap width. Soiling or deposits are removed more safely by the test specimen itself. This effect is stronger the narrower the measuring gap and the more likely the test specimen or protruding parts thereof to touch the side walls.
  • a narrower gap also has the advantage that the influence of the shape, ie the fact that the cross section of the test specimen is not circular but possibly oval, on the measurement of the mass of the test specimen is significantly reduced. This is because in a narrow gap, the yarn no longer appears as a flat body as in a very wide gap for the electrodes or the optical elements.
  • the design of a measuring gap according to the invention also creates better conditions for installing an optical and a capacitive measuring system together in one measuring gap.
  • part 1 of a measuring device with a measuring gap or gap 2 for a test specimen 3, here for example a yarn, is shown schematically and in simplified form.
  • Elements 6 and 7 of measuring devices are fastened to side walls 4 and 5 of the gap 2 or embedded in the side walls 4, 5.
  • These elements 6, 7 can be electrodes of a capacitively operating measuring system or windows, surfaces of prisms, lenses or other components of an optically operating measuring system.
  • Corresponding elements 6 'and 7' can be found in the opposite side wall.
  • the elements 6, 6 'and 7, 7' define on the side walls 4, 5 measuring zones of a measuring device known per se and therefore not shown here for measuring yarn properties such as mass, diameter, hairiness, color, foreign fiber content, etc.
  • a coating 8 here partially covers the side wall 4 with the elements 6 and 7.
  • This coating can only the elements 6, 6 ', 7, 7' or only the base 9 or the entire side wall 4 and 5 and possibly also the base 9 of the gap 2 cover and consists of an abrasion-resistant material that is preferably transparent for optical measuring systems or conductive for capacitive measuring systems.
  • the coating preferably has glass-like properties, ie it is transparent, hard and smooth, so that it presents little resistance to the test piece when touched.
  • the coating can be obtained, for example, by an inorganic material synthesis and form a so-called nanocomposite, with which, for example, a glass-like, scratch-resistant but not brittle or brittle surface can be created.
  • the coating can be applied by immersing part 1 in the material of the coating or by spraying it on.
  • the coating can consist of a so-called sol, which forms a chemical connection with the material on the surface of the measuring gap.
  • sol Such brines are known from sol-gel technology.
  • the coating makes it possible, for example, to reduce the width B of the gap 2 to one Limit value that corresponds to 4 to 10 times the diameter of the test specimen 3 or to provide novel slit forms, such as the figures described below demonstrate.
  • FIG. 2 shows part of a measuring device with a coated measuring gap 10, the can be divided into an inlet part 11 and a measuring part 12. Located for measuring there is a test specimen 13 in the measuring part 12. Another arrangement of an inlet part can also be seen 11 ', which is not arranged as usual in one axis with the measuring part 12, but opens out laterally. Both inlet parts 11 and 11 'shield due to their narrow cross section the measuring part 12 against extraneous light, which is advantageous in optical measuring systems is. This is more the case with the inlet part 11 '.
  • the coating according to the invention also makes it possible to measure the measuring part 12 with three dimensions form curved side surfaces 17, which also act as thread guides, such as this can be seen from FIG. 3.
  • FIG. 3 shows a view of the measuring part 12 starting from a cut surface as shown in FIG 2 is indicated by the arrows A-A.
  • the bottom is in the middle of the gap deeper than at the ends. So it is possible, for example, only the end areas 14, 15 to be provided with a layer 17, 18 according to the invention, so that this function can take a tour of the test material. With that are many other forms conceivable for the measuring part 12.
  • the area 16 may be better Protection with a layer. If the gap 2 is continuous at its base, i.e. without discontinuities such as paragraphs, deposits become continuous removed or taken along by the test material. This is particularly the case with test specimens important, which consist of fibers like yarns.

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Messvorrichtung für fadenförmige Prüfkörper (3) mit einem Messspalt (2) mit Messzonen (6, 7) zur Messung von Eigenschaften an einem längsbewegten Prüfkörper, die einer Messvorrichtung zugeordnet sind. Um die Abmessungen des Messspaltes freier gestalten zu können, und um den Messspalt insbesondere enger ausbilden zu können, ist eine Beschichtung (8) aus einem abriebfesten Material vorgesehen, die den gesamten Messspalt mit den Messzonen (6, 7) überdeckt.

Description

Die Erfindung betrifft eine Messvorrichtung für einen fadenförmigen Prüfkörper, mit einem Messspalt mit Messzonen, zur Messung von Eigenschaften an einem bewegten Prüfkörper, die Elemente einer Messeinrichtung aufweisen und einer Messvorrichtung zugeordnet sind.
Eine solche Messvorrichtung ist für Garn beispielsweise aus der US-A-3,377,852 bekannt. Bei dieser Messvorrichtung sind zwei Elektroden in einem Spalt in einem Kunststoffblock so eingelassen, dass diese zusammen einen Messkondensator bilden, dessen Messfeld den Spalt überquert. Die Oberfläche dieses Spaltes ist mit einer dünnen Schicht aus einem Material überzogen, dessen elektrische Leitfähigkeit geringer als diejenige der Elektroden ist. Damit soll erreicht werden, dass lokal auftretende statische Aufladungen, die durch Berührung mit dem bewegten Garn entstehen, sich auf dieser Schicht verteilen und abbauen.
Ein Nachteil einer solchen bekannten Messvorrichtung ist darin zu sehen, dass die Bemessung der Leitfähigkeit der dünnen Schicht sehr schwierig ist, da vermieden werden soll, dass die Schicht eine Ausdehnung der Fläche der Elektroden bewirkt. Ausserdem ist diese Schicht nur sinnvoll, wenn das zu messende Garn statisch aufgeladen ist und die Seitenwände des Spaltes oft berührt oder berühren könnte. Zudem kann sich diese Schicht abnützen, was auch bedeutet, dass die elektrischen Eigenschaften des Spaltes sich dann wieder verändern.
Es ist weiter bekannt, dass es auch optisch arbeitende Vorrichtungen zur Messung von Garn gibt, die ebenfalls einen Spalt für das Garn bilden. Über diesen Spalt erstreckt Sich der Strahlengang einer Optik, die in die Seitenwände des Spaltes mündet.
Eine solche Vorrichtung ist aus der EP 0 401 600 bekannt. Diese weist aber zusätzliche Kondensatorplatten auf, mit denen das Garn kapazitiv abgetastet werden kann. Diese Kondensatorplatten können dabei als Schicht ausgebildet sein, die Streuscheiben eines optischen Systems überziehen.
Messspalte in optisch arbeitenden Garnmessvorrichtungen können durch das zu messende Garn verschmutzt werden, was die optische Messung beeinträchtigt. Dieser Verschmutzung kann eine gewisse Selbstreinigung durch das bewegte Garn entgegenwirken. Um die Verschmutzung durch die Selbstreinigung wirksam bekämpfen zu können, muss auf eine günstige Abstimmung der Abmessungen des Messspaltes geachtet werden. Dem steht entgegen, dass bei engen Messspalten mit einer unzulässigen Abnützung der Seitenflächen oder der darin eingebauten Elemente zu rechnen ist Dies aber schränkt die Gestaltungsfreiheit im Bereiche solcher Messspalte und bei Garnmesseinrichtungen allgemein ein.
Die durch die Erfindung zu lösende Aufgabe besteht nun darin, die Gestaitungsmöglichkeiten bei Vorrichtungen zur Messung von fadenförmigen Prüfkörpern insbesondere bei der Ausbildung des Messspaltes zu erhöhen.
Dies soll erfindungsgemäss dadurch geschehen, dass mindestens ein Teil des Messspaltes mit einer abriebfesten Beschichtung überdeckt wird, die gegen Abnützung durch das bewegte Garn unempfindlich ist. Diese Beschichtung überdeckt vorzugsweise Elektroden, Linsen oder Fenster optischer Einrichtungen, die in die Seitenwände des Messspaltes eingelassen sind oder Teile davon, sowie Zwischenräume oder Fugen zwischen den genannten Einrichtungen oder Elektroden und den übrigen Teilen des Messspaltes. Die Beschichtung erfolgt durch Bedrucken, Eintauchen, Bedampfen, Besputtern oder Bespritzen des Messspaltes mit einem Werkstoff, der vorzugsweise mit der Oberfläche der genannten Teile im Spalt eine chemische Verbindung eingeht und in einer Schichtdicke von z.B. 20 - 30 nm aufgetragen bleibt.
Die dadurch erreichbaren Vorteile sind insbesondere darin zu sehen, dass die Lebensdauer des Messspaltes erhöht werden kann. Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass das Messfeld, also der Raum in dem sich der Strahlengang eines optischen Systems oder das elektrische Feld eines kapazitiven Systems erstreckt, verkleinert werden kann. Dies kann einerseits durch eine verringerte Spaltbreite und andererseits durch eine kleinere Oberfläche der Elektroden oder der optischen Elemente, die an den Messspalt angrenzen erreicht werden. Ein weiterer Vorteil ist darin zu sehen, dass der Effekt der Selbstreinigung des Messspaltes besser ausgenützt werden kann. Das kann durch eine verringerte Spaltbreite geschehen. Dabei werden Verschmutzungen oder Ablagerungen sicherer durch den Prüfkörper selbst entfernt. Diese Wirkung ist umso stärker je enger der Messspalt ist und je wahrscheinlicher eine Berührung des Prüfkörpers oder abstehender Teile davon mit den Seitenwänden ist. Oder, es ist möglich auf eine Seitenführung zu verzichten, wenn die Position des Prüfkörpers im Spalt bedeutungslos wird.
Ein engerer Spalt hat auch den Vorteil, dass der Einfluss der Form, d.h. der Umstand, dass der Querschnitt des Prüfkörpers nicht kreisrund sondern möglicherweise oval ist, auf die Messung der Masse des Prüfkörpers wesentlich verringert wird. Dies deshalb, weil in einem engen Spalt, das Garn nicht mehr wie in einem sehr breiten Spalt für die Elektroden oder die optischen Elemente als flacher Körper erscheint.
Durch die erfindungsgemässe Ausbildung eines Messspaltes sind auch bessere Bedingungen geschaffen, um ein optisches und ein kapazitives Messsystem zusammen in einem Messspalt einzubauen.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Beispiels und mit bezug auf die beiliegenden Figuren näher erläutert. Es zeigen:
Figur 1
einen Messspalt in schematischer Darstellung,
Figur 2
einen Teil einer Messvorrichtung mit einem Messspalt und
Figur 3
eine schematische Darstellung eines Teils eines Messspaltes.
In der Figur ist ein Teil 1 einer Messvorrichtung mit einem Messspalt oder Spalt 2 für einen Prüfkörper 3, hier beispielsweise ein Garn, schematisch und vereinfacht dargestellt. An Seitenwänden 4 und 5 des Spaltes 2 sind Elemente 6 und 7 von Messeinrichtungen befestigt oder in die Seitenwände 4, 5 eingelassen. Diese Elemente 6, 7 können Elektroden eines kapazitiv arbeitenden Messsystems oder Fenster, Flächen von Prismen, Linsen oder anderer Bestandteile eines optisch arbeitenden Messsystems sein. Entsprechende Elemente 6' und 7' sind in der gegenüberliegenden Seitenwand zu finden. Die Elemente 6, 6' bzw. 7, 7' definieren an den Seitenwänden 4, 5 Messzonen einer an sich bekannten und deshalb hier nicht näher dargestellten Messvorrichtung zur Messung von Garneigenschaften wie Masse, Durchmesser, Haarigkeit, Farbe, Fremdfasergehalt usw. Eine Beschichtung 8 überdeckt hier teilweise die Seitenwand 4 mit den Elementen 6 und 7. Diese Beschichtung kann nur die Elemente 6, 6', 7, 7' oder nur den Grund 9 oder auch die ganze Seitenwand 4 und 5 und eventuell auch den Grund 9 des Spaltes 2 überdecken und besteht aus einem abriebfesten Material, das vorzugsweise durchsichtig für optische Messsysteme oder leitfähig für kapazitive Messsysteme ist. Vorzugsweise hat die Beschichtung glasähnliche Eigenschaften, d.h. sie ist durchsichtig, hart und glatt, so dass sie dem Prüfkörper bei einer Berührung wenig Widerstand entgegensetzt.
Die Beschichtung kann beispielsweise durch eine anorganische Werkstoffsynthese gewonnen werden und ein sogenanntes Nanokomposit bilden, mit dem beispielsweise eine glasähnliche, kratzfeste aber nicht brüchige oder spröde Oberfläche geschaffen werden kann. Das Aufbringen der Beschichtung kann durch Eintauchen des Teils 1 in den Werkstoff der Beschichtung oder durch Aufsprühen desselben erfolgen. Die Beschichtung kann aus einem sogenannten Sol bestehen, das mit dem Material an der Oberfläche des Messspaltes eine chemische Verbindung eingeht. Solche Sole sind aus der Sol-Gel-Technologie bekannt.
Durch die Beschichtung wird es beispielsweise möglich, die Breite B des Spaltes 2 auf einen Wert zu beschränken, der dem 4 bis 10 fachen Durchmesser des Prüfkörpers 3 entspricht oder neuartige Spaltformen vorzusehen, wie dies die nachfolgend beschriebenen Figuren zeigen.
Fig. 2 zeigt einen Teil einer Messvorrichtung mit einem beschichteten Messspalt 10, der sich in einen Einlaufteil 11 und einen Messteil 12 unterteilen lässt. Zum Messen befindet sich ein Prüfkörper 13 im Messteil 12. Man erkennt auch eine weitere Anordung eines Einlaufteiles 11', der nicht wie üblich in einer Achse mit dem Messteil 12 angeordnet ist, sondern seitlich ausmündet. Beide Einlaufteile 11 und 11' schirmen durch ihren engen Querschnitt den Messteil 12 gegen Fremdlicht ab, was bei optischen Messsystemen vorteilhaft ist. Beim Einlaufteil 11' ist dies in stärkerem Masse der Fall.
Durch die erfindungsgemässe Beschichtung ist es möglich den Messteil 12 auch mit dreidimensional gewölbten Seitenflächen 17 auszubilden, die auch als Fadenführer wirken, wie dies aus der Fig. 3 ersichtlich ist.
Fig. 3 zeigt eine Ansicht des Messteiles 12 ausgehend von einer Schnittfläche, wie sie in der Fig. 2 durch die Pfeile A-A angegeben ist. Man erkennt dabei die Endbereiche 14 und 15 sowie einen mittleren Bereich 16, wobei der mittlere Bereich 16 einen grösseren Querschnitt aufweist als die Endbereiche 14, 15. Das bedeutet hier auch, dass der Grund, d.h. jener Teil des Spaltes der gemäss Fig. 1 mit 9 bezeichnet ist, nicht mehr parallel zum Prüfkörper verläuft und nicht eben ist. In der gezeigten Ausführung ist der Grund in der Mitte des Spaltes tiefer als an den Enden. So ist es beispielsweise möglich, nur die Endbereiche 14, 15 mit einer erfindungsgemässen Schicht 17, 18 zu versehen, so dass diese die Funktion einer Führung für das Prüfgut übernehmen können. Damit sind auch viele andere Formen für den Messteil 12 denkbar. Trotzdem kann der Bereich 16 zu seinem besseren Schutz mit einer Schicht versehen sein. Wird der Spalt 2 an seinem Grund kontinierlich, d.h. ohne Unstetigkeiten wie Absätzen ausgebildet, so werden Ablagerungen auch kontinuierlich entfernt oder durch das Prüfgut mitgenommen. Dies ist besonders bei Prüfkörpern wichtig, die wie Garne aus Fasern bestehen.

Claims (9)

  1. Messvorrichtung für fadenförmige Prüfkörper mit einem Messspalt (2) mit Messzonen (6, 7), zur Messung von Eigenschaften an einem bewegten Prüfkörper, die Elemente einer Messeinrichtung aufweisen und einer Messvorrichtung zugeordnet sind, gekennzeichnet durch eine Beschichtung (8), aus einem abriebfesten Material, die gegen Abnützung durch den bewegten Prüfkörper unempfindlich ist und die Messzone im Messspalt mindestens teilweise überdeckt.
  2. Messvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung aus Material besteht, das glasähnliche Eigenschaften aufweist.
  3. Messvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung durch ein aus einer anorganischen Werkstoffsynthese gewonnenes Nanokomposit gebildet ist.
  4. Messvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung eine Dicke von 20-30 nm aufweist.
  5. Messvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Messspalt mit der Beschichtung eine Breite (B) aufweist, die dem 4 bis 10 fachen Durchmesser des Prüfkörpers entspricht.
  6. Messvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der beschichtete Messspalt einen Einlaufteil (11) und einen Messteil (12) aufweist.
  7. Messvorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Einlaufteil einen engeren Querschnitt aufweist als der Messteil (12).
  8. Messvorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Messteil dreidimensional gewölbte Seitenflächen (17) aufweist.
  9. Verfahren zur Erzeugung einer Messvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Beschichtung mindestens auf Teile des Messspaltes mit Elementen einer Messeinrichtung aufgebracht wird, wobei die Beschichtung mit dem Material an der Oberfläche des Messspaltes eine chemische Verbindung eingeht.
EP99930974A 1998-07-31 1999-07-23 Messvorrichtung für fadenförmige prüfkörper Expired - Lifetime EP1100742B1 (de)

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DE (1) DE59905211D1 (de)
WO (1) WO2000007921A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004053735A1 (de) * 2004-11-06 2006-05-11 Saurer Gmbh & Co. Kg Garnsensor
DE102018111648A1 (de) * 2018-05-15 2019-11-21 Saurer Spinning Solutions Gmbh & Co. Kg Garnsensor zum optischen Erfassen eines in seiner Längsrichtung bewegten Garns

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19909703A1 (de) * 1999-03-05 2000-09-07 Schlafhorst & Co W Vorrichtung zur optischen Garnüberwachung
CN101168874B (zh) * 2006-10-27 2011-07-27 马国富 带测速的纱线信号检测装置
CH699070A1 (de) * 2008-07-02 2010-01-15 Uster Technologies Ag Vorrichtung zur Erfassung von Parametern an einem fadenförmigen Prüfgut.
CH700087A2 (de) * 2008-12-05 2010-06-15 Uster Technologies Ag Gehäuse für einen garnreinigermesskopf.
CN102442585A (zh) * 2011-09-16 2012-05-09 江苏华宇机械有限公司 一种用于络筒并捻设备的检测装置
CN109073352B (zh) * 2016-04-01 2020-12-08 施洛伊尼格股份公司 组合传感器

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US541529A (en) * 1895-06-25 genese
NL6406359A (de) 1964-06-05 1965-12-06
CH563021A5 (de) * 1973-09-26 1975-06-13 Zellweger Uster Ag
CH651528A5 (de) * 1981-02-13 1985-09-30 Peyer Siegfried Fotoelektrische messeinrichtung fuer elektronische garnreiniger.
CH661586A5 (de) * 1983-10-04 1987-07-31 Zellweger Uster Ag Optisches messorgan fuer die querschnittsmessung textiler garne, sowie verwendung desselben.
IT1179098B (it) * 1984-09-06 1987-09-16 Cselt Centro Studi Lab Telecom Perfezionamenti alle apparecchiature a condensatore per la misura del diametro di fibre dielettriche
JPH0273136A (ja) 1988-09-07 1990-03-13 Akira Ito 繊度測定装置
CH678172A5 (de) * 1989-06-07 1991-08-15 Zellweger Uster Ag
DE4140952A1 (de) 1991-12-12 1993-06-17 Rieter Ingolstadt Spinnerei Verfahren und vorrichtung zur reinigung der sensorflaechen einer garnueberwachung
CH683294A5 (de) * 1992-01-31 1994-02-15 Loepfe Ag Geb Vorrichtung zur Detektion von Verunreinigungen, insbesondere Fremdfasern in einem langgestreckten, textilen Gebilde.
CH684550A5 (de) 1992-10-01 1994-10-14 Zellweger Uster Ag Kapazitiver Sensor zur Erfassung von Masse- und/oder Durchmesserschwankungen von langgestrecktem textilem Prüfgut.
GB9222082D0 (en) * 1992-10-21 1992-12-02 Davy Mckee Poole A radiation pyrometer assembly for sensing the temperature of an elongate body moving longitudinally
FR2698962B1 (fr) * 1992-12-07 1995-02-10 Commissariat Energie Atomique Procédé et dispositif de mesure sans contact de la tension et de la vitesse de défilement d'un fil.
DE59604359D1 (de) * 1995-09-06 2000-03-09 Luwa Ag Zellweger Garnsensor
DE29519501U1 (de) * 1995-12-08 1996-01-25 Stein Herbert Textechno Vorrichtung zum Prüfen von Einzelfasern
US5926267A (en) * 1997-06-11 1999-07-20 Zellweger Luwa Ag Process and device for detecting extraneous substances and extraneous fibers in a fibrous composite

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004053735A1 (de) * 2004-11-06 2006-05-11 Saurer Gmbh & Co. Kg Garnsensor
US7324201B2 (en) 2004-11-06 2008-01-29 Oerlikon Textile Gmbh & Co. Kg Yarn sensor
DE102018111648A1 (de) * 2018-05-15 2019-11-21 Saurer Spinning Solutions Gmbh & Co. Kg Garnsensor zum optischen Erfassen eines in seiner Längsrichtung bewegten Garns

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002522322A (ja) 2002-07-23
CN1311752A (zh) 2001-09-05
WO2000007921A1 (de) 2000-02-17
DE59905211D1 (de) 2003-05-28
EP1100742A1 (de) 2001-05-23
CN1098799C (zh) 2003-01-15
US6499345B1 (en) 2002-12-31

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